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WO2006093011A1 - 発光装置 - Google Patents

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WO2006093011A1
WO2006093011A1 PCT/JP2006/303248 JP2006303248W WO2006093011A1 WO 2006093011 A1 WO2006093011 A1 WO 2006093011A1 JP 2006303248 W JP2006303248 W JP 2006303248W WO 2006093011 A1 WO2006093011 A1 WO 2006093011A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
light
light emitting
emitting device
phosphor
ceramic phosphor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2006/303248
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Masami Okamura
Masaaki Tamatani
Naomi Shida
Kazuaki Ootsuka
Yukihiro Fukuta
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Toshiba Materials Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Materials Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Materials Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
Priority to US11/817,504 priority Critical patent/US7923740B2/en
Priority to JP2007505871A priority patent/JP5288792B2/ja
Publication of WO2006093011A1 publication Critical patent/WO2006093011A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/80Constructional details
    • H10H20/85Packages
    • H10H20/851Wavelength conversion means
    • H10H20/8511Wavelength conversion means characterised by their material, e.g. binder
    • H10H20/8512Wavelength conversion materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/73Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
    • H01L2224/732Location after the connecting process
    • H01L2224/73251Location after the connecting process on different surfaces
    • H01L2224/73265Layer and wire connectors

Definitions

  • the present invention relates to a light-emitting device that converts the wavelength of light emitted from a light-emitting diode with a ceramic phosphor and emits the light to the outside. About.
  • a light emitting diode is a semiconductor diode that emits light, and converts electrical energy into visible light or infrared light.
  • LED light emitting diode
  • a semiconductor light-emitting device light-emitting chip
  • a light-emitting material such as GaP, GaAsP, or GaAlAs
  • a light-emitting device such as a display-type LED lamp in which a light-emitting material is fixed to the upper surface of a printed circuit board or metal lead and sealed with a grease case shaped with numbers and letters.
  • a light-emitting device capable of appropriately adjusting the color of emitted light by incorporating various phosphor powders into the surface of a semiconductor light-emitting element and / or light-emitting diode is also practical. It has been deceived. That is, a light emitting device that includes a gallium nitride-based light emitting diode that emits blue light or ultraviolet light and a phosphor that emits visible light having a different wavelength when excited by blue light or ultraviolet light, and generates white light by an appropriate color mixing operation Is also known. In this light emitting device, yttrium aluminum 'Garnet (YAG) system [(R, Sm) (Al, Ga) O] etc.
  • YAG yttrium aluminum 'Garnet
  • the light-emitting diode chip is fixed in an appropriate force cup, and a phosphor layer is injected by drying a slurry in which a predetermined phosphor powder and an appropriate resin are mixed and dried. Forming.
  • FIG. 4 shows another configuration of a conventional light emitting device including the semiconductor light emitting element (light emitting diode chip) as described above and a phosphor powder dispersed around the light emitting element via a resin material.
  • the light-emitting device 1 is a surface-mounted light-emitting device (SMD: Surface Mount Device) suitable for high-density mounting on a mounting substrate.
  • SMD Surface Mount Device
  • the child (LED chip) 2 is bonded onto the first lead 3 with an adhesive 4 or the like.
  • a first electrode provided on the upper surface of the semiconductor light emitting element 2 is connected to the first lead 3 by a bonding wire 5.
  • the second electrode provided on the upper surface of the semiconductor light emitting element 2 is connected to the second lead 7 by the bonding wire 6.
  • the first lead 3 and the second lead 7 are embedded and fixed by injection molding or the like using a thermoplastic resin 8 or the like in a state where they are connected to the lead frame in advance.
  • a thermoplastic resin 8 that forms a recess for housing the semiconductor light emitting element 2 is disposed on the first lead 3 and the second lead 7, a thermoplastic resin 8 that forms a recess for housing the semiconductor light emitting element 2 is disposed.
  • the semiconductor light emitting element 2 As a constituent material of the semiconductor light emitting element 2, for example, a GaN-based material or an InGaAlP-based material is used.
  • the GaN-based light emitting element emits ultraviolet light having a wavelength band of, for example, 330 to 400 nm, while the InGaAlP-based light emitting element emits visible light having a wavelength band of, for example, 400 to 700 nm.
  • the semiconductor light emitting device 2 is sealed with a transparent resin 9, and phosphor particles 10 are dispersed in the transparent resin 9. The primary light emitted from the semiconductor light emitting device 2 is absorbed by the phosphor particles 10 and converted in wavelength, and secondary light such as white light is emitted.
  • the light emission color of the light-emitting diode lamp or the light-emitting device can reproduce light emission in the visible light region according to each usage from blue to red.
  • light-emitting diodes are semiconductor elements, when used as a light source that has a long life and high reliability, replacement work due to the failure is reduced, so mobile communication devices, personal computer peripherals, It is widely used as a component of various display devices such as OA equipment, household electrical equipment, audio equipment, various switches, and light source display panels for knocklights.
  • Patent Document 1 JP-A-10-215001
  • the powdered phosphor used in the conventional light emitting device is opaque, the light emitted from the inside of the phosphor layer on which the phosphor powder is deposited is the opaque phosphor on the outside. It was difficult to take out effectively outside the light emitting element. Therefore, when the thickness of the phosphor layer is reduced in order to increase the external extraction efficiency of the light emitted from the phosphor, out of the total light emitted from the semiconductor light-emitting element, it is not effectively absorbed by the phosphor, and is external to the light-emitting element. The amount of light emitted increases, and the overall luminous efficiency decreases.
  • the phosphor layer is thickened so that light emitted from the semiconductor light emitting element is sufficiently absorbed by the phosphor layer, the efficiency of extracting light emitted from the phosphor is reduced, and the efficiency of the entire light emitting device is reduced. There was a problem that occurred.
  • the color tone of the luminescent color is determined by the concentration and the amount of the phosphor powder contained in the resin!
  • the specific gravity difference between the resin and the phosphor powder is so large that it is difficult to control the concentration of the phosphor, and the concentration of the phosphor becomes non-uniform every injection operation.
  • the injection amount of phosphor suspension of phosphor into the light emitting device is very small, less than 0. 1 lmcc, but it was extremely difficult to accurately control such a small amount at a mass production level. .
  • the injection amount and the phosphor content vary greatly, and the color tone of light emitted from the light emitting device becomes uneven.
  • the present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a light-emitting device that has particularly high emission efficiency of light emission with a phosphor power and excellent emission intensity.
  • a light emitting device is a light emitting device comprising a semiconductor light emitting element and a transparent ceramic phosphor that converts the wavelength of light emitted from the semiconductor light emitting element.
  • the element emits ultraviolet light
  • the ceramic phosphor corresponding to the semiconductor light emitting element that emits ultraviolet light has a minimum light transmittance of 0.1% to 40% at a wavelength of 350 to 420 nm.
  • the light transmittance of the ceramic phosphor at the main emission wavelength is 10% or more and 90% or less.
  • Another light emitting device is a light emitting device including a semiconductor light emitting element and a transparent ceramic phosphor that converts the wavelength of light emitted from the semiconductor light emitting element, and the semiconductor light emitting element is blue.
  • the above-mentioned corresponding to the semiconductor light emitting element that emits light and emits blue light Ceramic phosphors must have a minimum light transmittance of 20% to 80% at a wavelength of 420 to 500 nm, and a light transmittance of 10% to 90% at the main emission wavelength of the ceramic phosphor. It is characterized by.
  • the light emitting device of the present invention even if a phosphor having a thickness that can sufficiently absorb the light emitted from the semiconductor element is used by using a ceramic phosphor having a predetermined transparency with respect to the wavelength light to be used.
  • the light emitted inside the phosphor can be effectively extracted outside the light emitting device without being absorbed and scattered by the opaque phosphor powder.
  • all components including the phosphor without using the phosphor suspension can be solidified, the industrial production efficiency of the light-emitting device can be significantly improved.
  • the minimum value of the light transmittance of the ceramic phosphor at a wavelength of 350 to 420 nm is set in the range of 0.1% to 40%. Therefore, it is important to control the light transmittance at the main emission wavelength of the phosphor within a range of 10% or more and 90% or less, and when using a semiconductor light emitting device that emits blue light, the ceramic phosphor It is important to control the light transmittance at the main emission wavelength of the phosphor to the range of 10% to 90% at the same time as the minimum value of the light transmittance at the wavelength of 420 to 500 nm is in the range of 20% to 80%. It is.
  • the semiconductor light emitting device that emits ultraviolet light if the minimum value of the light transmittance of the ceramic phosphor in the light emission wavelength region of 350 to 420 nm is less than 0.1%, the semiconductor light emitting device However, since the number of portions that do not emit light effectively inside the phosphor layer also increases, the light emission efficiency of the entire device decreases. In addition, in the case of a semiconductor light emitting device that emits ultraviolet light, if the minimum value of the light transmittance at a wavelength of 350 to 420 nm exceeds 40%, the light absorbed by the ceramic phosphor is reduced and the light emission efficiency is lowered. .
  • the impurity amount In order to realize the transparent ceramic phosphor as described above, it is preferable to control the impurity amount to a low value and to use as little sintering aid as possible. It is also important to increase the density of the sintered body in order to reduce minute voids that cause scattering and the like.
  • an average surface roughness of at least a part of the surface of the ceramic phosphor is an arithmetic average roughness Ra in a range of 0.5 to 150 / zm.
  • Higher emission intensity can be obtained by controlling the average surface roughness of the outer surface of the ceramic phosphor in the range of 0.5 to 150 m.
  • the outer surface of the ceramic phosphor means a surface that emits light that can be substantially used as a light-emitting device.
  • the average surface roughness is less than 0.5 ⁇ m, the emitted light intensity of the ceramic phosphor force that is easily reflected at the interface with air is lowered.
  • the average surface roughness exceeds 150 / zm, the surface roughness is too loose and acts substantially like a mirror surface on the wavelength of light, and light scattering is increased.
  • the average surface roughness of the outer surface of the ceramic phosphor is 0.5 to 150 m in terms of arithmetic average roughness Ra.
  • the outer surface of the ceramic phosphor is the surface from which the wavelength-converted light is emitted.
  • the surface roughness described above can be realized by mechanical processing, for example, polishing using a tool having a surface having an appropriate roughness, and cutting with a blade surface having an appropriate roughness.
  • Another possible method is to roughen the surface by etching. In the case of ceramic phosphors, the presence of grain boundaries and Depending on the crystal orientation of each crystal grain, the etching rate varies from place to place, resulting in surface roughness.
  • a protrusion having a maximum height of 0.12 to 2 mm is formed on at least a part of the surface of the ceramic phosphor.
  • a protrusion having a maximum height of 0.15 to 2 mm is formed on the outer surface of the ceramic phosphor!
  • the protrusion having the predetermined height also produces the same working effect as the unevenness having the surface roughness in the predetermined range.
  • the height of the protrusion is less than 0.15 mm, As a result, the light emitted from the ceramic phosphor is easily totally reflected at the interface with the air, and the emission intensity decreases.
  • the height of the protrusion exceeds 2 mm, the protrusion is too large, and the protrusion surface acts substantially like a mirror surface on the wavelength of light, and light scattering increases.
  • the transparency of the ceramic phosphor may be reduced due to mechanical damage.
  • by applying an appropriate heat treatment after the mechanical force it is possible to relieve the distortion that causes the decrease in transparency and restore the transparency, which is effective.
  • the highly transparent ceramic phosphor as described above is manufactured as a sintered body by molding a phosphor powder that emits light of a predetermined wavelength and then firing it.
  • a ceramic phosphor with high transparency it is important to increase the density of the sintered body.
  • the relative density of the sintered body is desirably in the range of 99.50% or more and 99.98% or less. When the relative density of the sintered body is less than 99.50%, the transparency is lowered due to the scattering in the voids existing inside the sintered body.
  • the impurity control is severely reduced to significantly reduce the amount of impurities, or the sintering such as HIP (hot isostatic pressing) or hot press is performed. It is necessary to increase the sintering conditions, which is not industrially preferable.
  • a mixture of rosin having a large specific gravity difference with the phosphor powder and the phosphor powder is mixed.
  • a solid ceramic phosphor with sintered phosphor powder without using a rally, it becomes unnecessary to control the concentration and injection amount of the phosphor powder in the slurry, and to make the color of light emission uniform between the light emitting devices. Can do.
  • the composition of the ceramic phosphor is not particularly limited, but the matrix composition is silicate, aluminate, phosphate, halophosphate, borate, oxide, tungstate.
  • One or more of phosphors which are vanadate, oxysulfide, sulfide, nitride and oxynitride are preferably used. More specifically, yellow phosphors (Sr, Ba, Ca) SiO: Eu, (Y, Gd) (Al, Ga) O: Ce, SrGa2
  • BaMgAl 2 O Eu, Mn, blue-emitting (Sr, Ca) (PO 2) Cl: Eu, yellow-emitting (Sr, Ca) (PO 2)
  • Eu is preferably used.
  • the phosphor powder is obtained by a coprecipitation method, a solid phase reaction method, and a gas phase reaction method of various gases and solids. Further, the produced powder is fired at a high temperature according to the material to adjust the particle size, composition, uniformity, internal defects, and the like.
  • the activation in the phosphor composition is compared.
  • the concentration of the agent is V in the latter, there is an optimum value at which the light emission is maximum at the site.
  • a predetermined amount of a phosphor raw material consisting of indium, barium carbonate, calcium carbonate, acid europium and silica is weighed, and the salt-ammonium salt of the crystal growth agent is in a ratio of 2% by weight with respect to the phosphor raw material. Add and mix well. Next, the mixture is filled in an alumina crucible and calcined in air at a temperature of 600 ° C for 1 hour. After cooling, mix the ingredients in the crucible thoroughly. Next, this mixture is filled in an alumina crucible and fired at a temperature of 1200 ° C. for 2 hours in a reducing atmosphere consisting of hydrogen Z nitrogen.
  • the obtained fired product is pulverized, washed with water, dried, and passed through a sieve having an opening of 30 m to obtain the intended phosphor powder.
  • the molded body is filled and sealed in a metal container or the like, and subjected to HIP treatment to obtain a transparent cell.
  • a ramix phosphor is obtained.
  • the HIP temperature (sintering temperature) at this time varies depending on the target material, but there is an appropriate temperature range. In general, if the temperature is too low, the crystal grains are not sufficiently grown, and scattering due to voids having a low relative density increases, so that the transparency of the ceramic phosphor is impaired.
  • sintered ceramic phosphors can be made not only by HIP treatment but also by high-temperature firing alone.
  • the HIP temperature is preferably in the range of 1000-1500 ° C.
  • a more preferred HIP temperature is in the range of 1200-1300 ° C.
  • the HIP pressure should be 98MPa or more. If the HIP pressure force is less than 8 MPa, the densification effect by the HIP treatment cannot be obtained sufficiently.
  • the HIP time is a force depending on the HIP temperature and the HIP pressure. When the HIP temperature is 1200 to 1300 ° C and the HIP pressure is 98 MPa or more, the HIP time is preferably in the range of 5 to 7 hours.
  • the degree is preferably in the range of 1200-1500 ° C. More preferred! /, HIP temperature is in the range of 1300-1400 ° C. When the HIP temperature is 1300 to 1400 ° C and the HIP pressure is 98 MPa or more, the HIP time is preferably in the range of 5 to 7 hours.
  • the sintered body thus prepared is machined into a predetermined shape using, for example, dicing.
  • Ceramic phosphors can be obtained by machining and heat treatment in an inert gas atmosphere if necessary.
  • the ceramic phosphor Lib is preferably formed in a bullet shape whose diameter is reduced in the tip direction.
  • the light emitted from the semiconductor light-emitting element 2 is refracted in the central direction at the interface between the ceramic phosphor l ib and the external atmosphere and emitted, so that the light flux is aligned in the original light-emitting direction.
  • the intensity of emitted light in the front direction can be increased.
  • a portion other than the outer surface of the ceramic phosphor is covered with a reflecting material.
  • a reflecting material an aluminum (A1) or silver (Ag) thin film having a thickness of about a few zm is suitable.
  • the ceramic phosphor may be formed by laminating a plurality of ceramic phosphor layers having different compositions.
  • the ceramic phosphor used in the present invention may be an integral phosphor formed by sintering in a state where each of the emission colors of blue, green, and red is uniformly mixed.
  • the light-emitting device of the present invention it is possible to provide a light-emitting element with high luminous efficiency and excellent industrial productivity. In addition, since all the parts including the phosphor can be solidified, the industrial production efficiency of the light emitting device is remarkably improved.
  • the phosphor material was weighed, and 2% by mass of salt ammonium was added to the phosphor material and mixed well.
  • this mixture was filled in an alumina crucible and calcined in air at a temperature of 600 ° C. for 1 hour. After cooling, the raw materials in the crucible were mixed thoroughly. Further, this mixture was filled in an alumina crucible and fired in a reducing atmosphere consisting of 3% hydrogen Z nitrogen at a temperature of 1200 ° C for 2 hours.
  • the obtained fired product was pulverized, washed with water, dried, and passed through a sieve having an opening of 30 m to obtain a ceramic phosphor powder.
  • This phosphor powder was molded by a rubber press method, then filled in a nickel metal container and sealed with vacuum baking, and HIP treatment was performed at a temperature of 1200 ° C and a pressure of 150 MPa. After the completion of the HIP treatment, the metal container was broken to take out the ingot, and a sintered body of a disk-shaped ceramic phosphor 11 having a diameter of 2 mm and a thickness T of 0.4 mm was cut out by a die cinder.
  • the density of this sintered body was 99.8% of the true specific gravity, the light transmittance at a wavelength of 570 nm was 60%, and the light transmittance at a wavelength of 470 nm was 40%.
  • the surface roughness Ra of the upper and lower surfaces of the ceramic phosphor was 50 / zm.
  • a flip-chip type semiconductor light-emitting diode having an emission peak wavelength of 470 nm and a size of 200 ⁇ m ⁇ 200 ⁇ m is prepared, and a white reflective layer made of an A1 vapor deposition film with a thickness of 3 ⁇ m on the bottom and wall surfaces.
  • a 2 mm diameter metal / cage container having a material 12 was prepared.
  • the disk-shaped ceramic phosphor 11 was positioned at the center of the bottom surface of the package container, and adhered with an adhesive made of an epoxy resin so thin that no air was mixed in between.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view of a light emitting device la according to Example 1 having a flip chip structure prepared as described above.
  • the light emitting device la according to the present embodiment includes a light emitting diode as the semiconductor light emitting element 2 and a ceramic phosphor 11 fixed to the upper surface side of the semiconductor light emitting element 2 with, for example, a transparent adhesive.
  • the semiconductor light emitting element 2 is bonded to the first lead 3 with an adhesive 4 or the like.
  • a first electrode provided on the upper surface of the semiconductor light emitting element 2 is connected to the first lead 3 by a bonding wire 5.
  • the second electrode provided on the upper surface of the semiconductor light emitting element 2 is connected to the second lead 7 by a bonding wire 6.
  • the first lead 3 and the second lead 7 are embedded and fixed by injection molding or the like using a thermoplastic resin 8 or the like in a state where they are connected on the lead frame in advance.
  • a thermoplastic resin 8 that forms a recess for housing the semiconductor light emitting element 2 is arranged on the first lead 3 and the second lead 7.
  • the light emitted from the semiconductor light emitting element 2 is wavelength-converted when passing through the ceramic phosphor 11, and from the ceramic phosphor 11 as visible light or the like. Released.
  • the ceramic phosphor 11 having a predetermined transparency with respect to the wavelength light to be used is used, the light emitted inside the phosphor is absorbed by the opaque phosphor powder. It can be effectively taken out of the light emitting device without being scattered.
  • all the parts including the phosphor without using the phosphor suspension could be solidified, the industrial production efficiency of the light emitting device could be remarkably improved.
  • the disk-shaped ceramic phosphor 11 prepared in Example 1 was prepared under the same conditions as in Example 1 except that only the thickness of the sintered body was changed as shown in Table 1.
  • the light emitting devices according to Examples 2 to 4 having the same structure as Example 1 shown in FIG. 1 were prepared by preparing each ceramic phosphor 11 at the center of the bottom surface of the package container.
  • the light emitted inside the ceramic phosphor is opaque phosphor. It was found that it can be effectively taken out of the light emitting device with high light output without being absorbed or scattered by the powder, and the light emission chromaticity is also good.
  • Example 1 6 mg of the phosphor powder used in Example 1 was weighed. This amount is the same as the ceramic used in Example 1. It is the same as the amount of the Tas phosphor.
  • the raw material was mixed and molded and fired under the same conditions as in Example 1, and the disc-shaped ceramic phosphor was sintered. As produced.
  • the density (relative density) of this sintered body was 99.8% of the true specific gravity, the light transmittance at a wavelength of 570 nm was 40%, and the light transmittance at a wavelength of 395 nm was 2%.
  • the surface roughness Ra of the upper and lower surfaces of the disk-shaped ceramic phosphor was 50 ⁇ m.
  • Example 1 as shown in FIG. 1 is prepared by preparing a 2 mm diameter package container having a reflective material 12 and adhering the above disk-shaped ceramic phosphor with a thin silicone resin to the extent that air does not enter.
  • a light emitting device la according to 5 was prepared.
  • the ultraviolet output (ratio of radiated ultraviolet rays) from the apparatus was 2% with reference to the time without attaching a sintered body as a ceramic phosphor.
  • Example 5 since the ceramic phosphor 11 having a predetermined transparency with respect to the wavelength light to be used is used, light is emitted inside the phosphor as in Example 1. The light was effectively extracted outside the light emitting device without being absorbed and scattered by the opaque phosphor powder.
  • Examples 6 to 8 The disk-shaped ceramic phosphor 11 prepared in Example 5 was prepared under the same conditions as in Example 5 except that only the thickness of the sintered body was changed as shown in Table 2.
  • Each light emitting device according to Examples 6 to 8 having the same structure as Example 5 shown in FIG. 1 was prepared by attaching each ceramic phosphor 11 to the center of the bottom surface of the package container.
  • a comparative example was obtained by filling the phosphor powder in the light emitting diode package in the same manner as in Example 5 except that the content (filling amount) of the phosphor powder prepared in Example 5 was changed as shown in Table 3. Light emitting devices according to 2 to 4 were prepared.
  • Example 1 Except for the fact that the blending ratio of europium oxide as a phosphor raw material was 0.01 mol, Example 1 and The phosphor powder was prepared under the same conditions, and the filling amount was changed as shown in Table 4 to fill the light emitting diode package used in Example 5, thereby preparing the light emitting devices according to Comparative Examples 5 to 9. did.
  • the above filling amount was shown as a relative weight ratio with the filling amount in Example 5 as 100%.
  • Each oxide was weighed at a ratio of 0.98 mol of lanthanum oxide, 0.01 mol of europium oxide, and 0.01 mol of samarium oxide, and dissolved in nitric acid.
  • An oxalic acid solution was added to this solution to obtain a oxalate coprecipitate.
  • This precipitate was immersed in air and calcined at a temperature of 1000 ° C. to obtain an acid precipitate.
  • 50 g of sulfur, 50 g of sodium carbonate, and 14 g of potassium phosphate were mixed with 100 g of this acid.
  • the obtained mixture was filled in an alumina crucible, fitted with an airtight lid, and baked at a temperature of 1100 ° C. for 5 hours.
  • the resulting calcined product is thoroughly washed and dried, and then passed through a sieve with a composition of La O S: Eu, Sm.
  • the phosphor powder described above was molded with a rubber press, filled and sealed in a tantalum metal container, and subjected to HIP treatment under the conditions of a temperature of 1380 ° C and a pressure of 200 MPa. After the HIP treatment, the metal container was broken and the ingot was taken out, and as shown in Table 5, a disc-like sintered body having a diameter force of mm was cut as a ceramic phosphor as the thickness was changed. Of this sintered body The density was 99.9% of the true specific gravity, the light transmittance at a wavelength of 630 nm was 60%, and the light transmittance at a wavelength of 395 nm was 20% when the thickness was 0.5 mm.
  • the surface roughness Ra of the upper and lower surfaces of the disk-shaped ceramic phosphor was 50 m.
  • the sintered body was mounted on a package in the same manner as in Example 5 to prepare a light emitting device according to Example 9 to L1. Table 5 below shows the red output results of the obtained light emitting device.
  • a light emitting device in which a disk-shaped solid ceramic phosphor is mounted on a light emitting diode package in which a semiconductor light emitting element is arranged at the center will be described as an example.
  • the present invention is not limited to this.
  • a hemispherical ceramic phosphor 11a can be mounted on the top of a resin substrate 13 on which a semiconductor light emitting element 2 such as an LED element is disposed.
  • a semiconductor light emitting element 2 such as an LED element is disposed.
  • a ceramic phosphor 1 lb is formed on the top of a resin substrate 13 on which a semiconductor light emitting element 2 such as an LED element is disposed, and is formed in a gun shape that is reduced in diameter toward the tip. It can also be configured by mounting.
  • a shell-type ceramic phosphor l ib is used, the light emitted from the semiconductor light emitting element 2 is emitted at the interface between the ceramic phosphor 1 lb and the external atmosphere and bent in the center direction.
  • a so-called lens effect can be achieved by aligning the luminous flux in the original light emitting direction, and as a result, the emitted light intensity in the front direction can be increased.
  • the light emitting device of the present invention it is possible to provide a light emitting element having high luminous efficiency and excellent industrial productivity.
  • all components including phosphors can be solidified, the industrial production efficiency of light-emitting devices is significantly improved.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing an embodiment of a light emitting device according to the present invention.
  • FIG. 2 is a cross-sectional view showing an embodiment of a light-emitting device in which ceramic phosphors are formed in a hemispherical shape.
  • FIG. 3 is a cross-sectional view showing an embodiment of a light emitting device in which a ceramic phosphor is formed in a bullet shape.
  • FIG. 4 is a cross-sectional view showing a configuration example of a conventional light emitting device including a semiconductor light emitting element and a phosphor powder dispersed around the element through a resin material.

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Abstract

 半導体発光素子2と、この半導体発光素子2からの発光を波長変換する透明なセラミックス蛍光体11とを備えた発光装置1であり、上記半導体発光素子2は紫外光を発光し、この紫外光を発光する半導体発光素子2に対応した上記セラミックス蛍光体11は、波長350~420nmにおける光透過率の最低値が0.1%以上40%以下であり、かつセラミックス蛍光体11の主発光波長における光透過率が10%以上90%以下であることを特徴とする発光装置1である。

Description

明 細 書
発光装置
技術分野
[0001] 本発明は、発光ダイオードから照射される光をセラミックス蛍光体により波長変換し て外部に放出する発光装置に係り、特に蛍光体力 の発光の取り出し効率が高く発 光強度に優れた発光装置に関する。
背景技術
[0002] 発光ダイオード(LED : Light Emitting Diode)は光を放射する半導体ダイォー ドであり、電気エネルギーを可視光または赤外光に変換するものである。特に可視光 を利用するために GaPや GaAsP, GaAlAs等の発光材料で形成した半導体発光素 子 (発光チップ)を透明榭脂等で封止した LEDランプとして広く使用されている。また 発光材料をプリント基板や金属リードの上面に固定し、数字や文字を形取った榭脂 ケースで封止したディスプレイ型の LEDランプ等の発光装置としても多用されている
[0003] また、半導体発光素子の表面な!/、し発光ダイオードの榭脂中に各種の蛍光体粉末 を含有させることにより、放射光の色を適正に調整することも可能な発光装置も実用 ィ匕されている。すなわち、青色光または紫外光を発する窒化ガリウム系発光ダイォー ドと、青色光または紫外光で励起され波長の異なる可視光を発する蛍光体とを備え、 適当な混色操作によって白色光を発生する発光装置も知られている。この発光装置 では、イットリウム ·アルミニウム 'ガーネット (YAG)系 [ (R, Sm) (Al, Ga) O ]など
3 5 12 の蛍光体が用いられる。このような発光装置では、発光ダイオードチップが適当な力 ップ内に固着され、所定の蛍光体粉末と適当な榭脂とを混合したスラリーをカップ内 に注入し乾燥させることにより蛍光体層を形成している。
[0004] 図 4は上記のような半導体発光素子 (発光ダイオードチップ)と、この発光素子の周 囲に榭脂材を介して分散された蛍光体粉末とから成る従来の発光装置の他の構成 例を示す断面図である。この発光装置 1は、実装基板上に高密度実装を行うのに好 適な表面実装型発光装置(SMD : Surface Mount Device)である。半導体発光素 子 (LEDチップ) 2は、第 1リード 3上に接着剤 4などで接着されている。半導体発光 素子 2の上面に設けられた第 1の電極は、ボンディングワイヤ 5によって第 1リード 3に 接続されている。また、半導体発光素子 2の上面に設けられた第 2の電極は、ボンデ イングワイヤ 6によって第 2リード 7に接続されている。上記第 1リード 3および第 2リード 7は、予めリードフレーム上に連結された状態で、熱可塑性榭脂 8などを用いて射出 成形などにより埋め込まれて固定されている。第 1リード 3および第 2リード 7上には、 半導体発光素子 2を収容する凹部を形成する熱可塑性榭脂 8が配置される。
[0005] 半導体発光素子 2の構成材料としては、例えば GaN系材料や InGaAlP系材料が 用いられる。 GaN系発光素子からは、例えば 330〜400nmの波長帯の紫外線が放 出される一方、 InGaAlP系発光素子からは、例えば 400〜700nmの波長帯の可視 光が放出される。半導体発光素子 2は透明榭脂 9により封止されており、この透明榭 脂 9には蛍光体粒子 10が分散されている。半導体発光素子 2から放出された 1次光 は、蛍光体粒子 10に吸収され波長変換されて白色光等の 2次光が放出される。
[0006] 前記発光ダイオードランプや発光装置の発光色は、青色から赤色まで各使用用途 に応じた可視光領域の発光を再現することができる。また、発光ダイオードは半導体 素子であるため、寿命が長く信頼性も高ぐ光源として用いた場合には、その故障に よる交換作業も軽減化されることから、携帯通信機器,パーソナルコンピュータ周辺 機器, OA機器,家庭用電気機器,オーディオ機器,各種スィッチ,ノ ックライト用光 源表示板等の各種表示装置の構成部品として広く使用されている。
特許文献 1 :特開平 10— 215001号公報
[0007] し力しながら、上記従来の発光装置で使用する粉末状蛍光体は不透明であるため 、蛍光体粉末が堆積した蛍光体層の内部から発光した光は、その外側の不透明蛍 光体に吸収'散乱され、発光素子外部に有効に取り出すことが困難であった。そこで 蛍光体からの発光の外部取り出し効率を高めるために蛍光体層の厚さを薄くした場 合には、半導体発光素子からの全発光の内、蛍光体に有効に吸収されないで発光 素子外部に放出される光量が増カロし全体的な発光効率が低下する。一方、半導体 発光素子からの発光を十分に蛍光体層に吸収させるために蛍光体層を厚くすると、 蛍光体から発光の取り出し効率が低下してしまうために発光装置全体の効率が低下 する問題点が生起されていた。
[0008] また、紫外線を発光する半導体発光素子を用いた場合には、蛍光体粉末と混合さ れた榭脂が紫外線により劣化し発光装置の寿命が制限され発光装置の耐久性が低 下する問題もあった。さらに、ディップ法を用いた場合の発光装置の製造ラインでは、 榭脂が硬化するまでの工程が長く量産性が悪いという難点があった。
[0009] また、従来の発光ダイオード装置では、榭脂に含有して!/、る蛍光体粉末の濃度と注 入量によって発光色の色調が決定される。ところが、榭脂と蛍光体粉末との比重差が 大きく蛍光体の濃度管理が困難であり、注入操作毎に蛍光体の濃度が不均一になる 問題もあった。また発光装置に対する蛍光体の榭脂懸濁液の注入量は、 0. lmcc以 下と極めて少ないが、このような微少量を量産レベルで正確に一定値に制御すること は極めて困難であった。その結果、注入量および蛍光体含有量が大きくばらつき、 発光装置からの発光の色調が不均一になるという問題があった。
[0010] このような課題を解決する方法として、固体状の樹脂に蛍光体を含有させることも知 られているが、蛍光体の濃度が低ぐ十分な発光出力が得られな力つた。また、この 場合に蛍光体濃度を高くすると、蛍光体を含有した榭脂層の透明度が低下し、発光 出力が低くなるという技術上解決すべき課題があった。
[0011] 本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、特に蛍光体力 の発光 の取り出し効率が高く発光強度に優れた発光装置を提供することを目的とする。
[0012] 発明の開示
上記目的を達成するために、本発明に係る発光装置は、半導体発光素子と、この 半導体発光素子からの発光を波長変換する透明なセラミックス蛍光体とを備えた発 光装置であり、上記半導体発光素子は紫外光を発光し、この紫外光を発光する半導 体発光素子に対応した上記セラミックス蛍光体は、波長 350〜420nmにおける光透 過率の最低値が 0. 1%以上 40%以下であり、かつセラミックス蛍光体の主発光波長 における光透過率が 10%以上 90%以下であることを特徴とする。
[0013] 本発明に係る他の発光装置は、半導体発光素子と、この半導体発光素子からの発 光を波長変換する透明なセラミックス蛍光体を備えた発光装置であり、上記半導体発 光素子は青色光を発光し、この青色光を発光する半導体発光素子に対応した上記 セラミックス蛍光体は、波長 420〜500nmにおける光透過率の最低値が 20%以上 8 0%以下であり、かつセラミックス蛍光体の主発光波長における光透過率が 10%以 上 90%以下であることを特徴とることを特徴とする。
[0014] 本発明の発光装置においては、使用する波長光に対して所定の透明度を有する セラミックス蛍光体を用いることにより、半導体素子力 の発光を十分に吸収できる厚 さの蛍光体を用いても、蛍光体内部で発光した光が不透明蛍光体粉末により吸収- 散乱されることなく有効に発光装置外部に取り出すことができる。また、蛍光体の榭 脂懸濁液を用いることなぐ蛍光体を含むすべての部品を固体ィ匕できるため、発光装 置の工業的な生産効率を著しく向上させることができる。
[0015] ここで、紫外光を発光する半導体発光素子を使用する場合には、セラミックス蛍光 体の波長 350〜420nmにおける光透過率の最低値を 0. 1%以上 40%以下の範囲 にすると同時に、蛍光体の主発光波長における光透過率を 10%以上 90%以下の範 囲に制御することが重要であり、また青色光を発光する半導体発光素子を使用する 場合には、セラミックス蛍光体の波長 420〜500nmにおける光透過率の最低値を 2 0%以上 80%以下の範囲にすると同時に、蛍光体の主発光波長における光透過率 を 10%以上 90%以下の範囲に制御することが重要である。
[0016] 上記紫外光を発光する半導体発光素子の場合、発光波長領域である波長 350〜 420nmにおけるセラミクス蛍光体の光透過率の最低値が 0. 1%未満となると、半導 体発光素子からの発光の吸収効率は高まるが、同時に蛍光体層内部で有効に発光 しない部分も増加するために、装置全体の発光効率が低下する。また、紫外光を発 光する半導体発光素子の場合における波長 350〜420nmの光透過率の最低値が 40%を超えると、セラミックス蛍光体に吸収される光が少なくなり、発光効率が低下す る。
[0017] 一方、青色光を発光する半導体発光素子の場合、発光波長領域である波長 420 〜500nmにおけるセラミクス蛍光体の光透過率の最低値が 20%未満となると、半導 体素子からの発光の吸収効率は高まるが、素子の外部に透過する青色光成分が減 少し演色性が低下する。青色光を発光する半導体素子の場合における波長 420〜5 OOnmにおける光透過率の最低値が 80%を超えると蛍光体に吸収される光が少なく なり、発光効率が低下するとともに、発光素子の外部に透過する青色光成分が増加 し同様に演色性が低下する。
[0018] 上記各発光装置において、セラミクス蛍光体の主発光波長における光透過率が 10 %未満になると、セラミックス蛍光体内部で発光した光をセラミックス蛍光体外部に有 効に取り出せなくなり発光効率が低下する。一方、セラミクス蛍光体の主発光波長に おける光透過率を 90%より高くすることは可能ではある力 そのような非常に透明度 の高いセラミックスを製造するためには、蛍光体の不純物量を極めて少なくしなけれ ばならず工業的には適さない。
[0019] 上記のような透明なセラミックス蛍光体を実現するためには、不純物量を低い値に 制御すると共に、焼結助剤を可及的に用いない方が好ましい。また、散乱などの原 因となる微小な空隙を低減するために焼結体の密度を高めることが重要である。
[0020] また、上記発光装置において、前記セラミックス蛍光体の少なくとも一部の表面の 平均表面粗さが算術平均粗さ Raで 0. 5〜 150 /z mの範囲であることが好ましい。セ ラミックス蛍光体の外表面の平均表面粗さを 0. 5〜150 mの範囲の制御することに より、より高い発光強度が得られる。ここで、セラミックス蛍光体の外表面とは、発光装 置として実質的に利用できる光を放出する面を意味する。この平均表面粗さが 0. 5 μ m未満である場合には、セラミックス蛍光体力も放出された光が空気との界面で全 反射し易ぐ発光強度が低下する。一方、上記平均表面粗さが 150 /z mを超えると、 表面粗さが緩すぎて光の波長に対して実質的に鏡面のように作用し光の散乱が大き くなる。
[0021] さらに、上記発光装置において、前記セラミックス蛍光体の外表面の平均表面粗さ が算術平均粗さ Raで 0. 5〜 150 mであることが好ましい。セラミックス蛍光体の外 表面は、波長変換された光が放出される面であり、この外表面の表面粗さを上記所 定範囲に設定することにより、外表面での全反射や散乱を防止でき、発光強度を高 めることができる。
[0022] 上述の表面粗さは機械的な加工、例えば、適当な粗度を有する表面を有する工具 を用いた研磨、適当な粗度の刃面による切断などにより実現できる。また、エッチング により表面を荒らす方法も考えられる。セラミックス蛍光体の場合には、粒界の存在や 、結晶粒毎の結晶方位の違いにより、場所毎にエッチング速度が異なり表面に粗さ が生じる。
[0023] また上記発光装置において、前記セラミックス蛍光体の少なくとも一部の表面に最 大高さが 0. 15〜2mmである突起物が形成されて 、ることが好まし 、。
[0024] さらに上記発光装置において、前記セラミックス蛍光体の外表面に最大高さが 0. 1 5〜2mmである突起物が形成されて!、ることが好まし!/、。
[0025] 上記所定高さを有する突起物も前記所定範囲の表面粗さを有する凹凸と同様な作 用効果を生じるものであり、この突起物の高さが 0. 15mm未満である場合には、セラ ミックス蛍光体から放出された光が空気との界面で全反射し易ぐ発光強度が低下す る。一方、上記突起物の高さが 2mmを超えると、突起物が大き過ぎて光の波長に対 して突起物表面が実質的に鏡面のように作用し光の散乱が大きくなる。
[0026] また、前記表面粗さの作用と同様に、セラミックス蛍光体の外表面における突起物 の高さを上記所定範囲に設定することにより、外表面での全反射や散乱を防止でき、 発光強度を高めることができる。
[0027] 一般に、蛍光体に機械的加工をカ卩えるとメカ-カルダメージによりセラミックス蛍光 体の透明性が低下するおそれがある。このような場合には、機械力卩ェの後に適当な 熱処理を施すことにより、透明性低下の原因である歪を緩和させることが可能になり 透明性を回復させることができ有効である。
[0028] 前記のような透明度の高 、セラミックス蛍光体は所定の波長光を放出する蛍光体 粉末を成形した後に焼成して焼結体として製造される。特に、透明度が高いセラミツ タス蛍光体を得るためには、焼結体の密度を高くすることが重要である。具体的に焼 結体の相対密度は、 99. 50%以上 99. 98%以下の範囲が望ましい。焼結体の相対 密度が 99. 50%未満では、焼結体内部に存在する空隙での散乱などの影響で透明 度が低下してしまう。一方、相対密度が 99. 98%を超える焼結体を実現しょうとする と、不純物量を著しく低下させるために不純物管理を厳重にしたり、 HIP (熱間静水 圧プレス)やホットプレスなどの焼結条件を高温にしたりする必要が有り、工業的に好 ましくない。
[0029] 本発明のように、蛍光体粉末との比重差が大きい榭脂と蛍光体粉末とを混合したス ラリーを用いず、蛍光体粉末を焼結した固体のセラミック蛍光体を用いることにより、 スラリーにおける蛍光体粉末の濃度および注入量の管理が不要となり、発光装置間 における発光の色調を均一にすることができる。
[0030] 前記セラミックス蛍光体の組成は、特に限定されるものではな 、が、母体組成が、 珪酸塩、アルミン酸塩、リン酸塩、ハロリン酸塩、ホウ酸塩、酸化物、タングステン酸塩 、バナジン酸塩、酸硫化物、硫化物、窒化物、酸窒化物である蛍光体の 1種または 2 種以上が好適に用いられる。より具体的には、青色発光を吸収して発光する蛍光体 として、黄色発光の(Sr, Ba, Ca) SiO: Eu、 (Y, Gd) (Al, Ga) O : Ce、 SrGa2
2 4 3 5 12
S4 :Euがあり、赤色発光の 3. 5MgO -0. 5MgF -GeO: Mnがあげられる。また、
2 2
紫外線を吸収して発光する蛍光体として、赤色発光の La O S :Eu, Sm、緑色発光
2 2
の BaMgAl O : Eu, Mn、青色発光の(Sr, Ca) (PO ) Cl:Eu、黄色発光の(Sr
10 17 5 4 3
, Ba, Ca) SiO : Eu、が好適に用いられる。
2 4
[0031] 上述のセラミックス蛍光体の作製方法としては、例えば、以下に示す製造方法を適 用することができる。例えば、共沈法、固相反応法、および各種ガスと固体との気相 反応法などにより蛍光体粉末を得る。さらに、その作製した粉末を、その材料に応じ た高温で焼成し、粒径、組成、均一性、内部欠陥などを調整する。なお、粉体粒子を 榭脂中に分散させて半導体発光素子の周囲に配置する場合の蛍光体の組成と本発 明の焼結体をおく場合とを比較すると、蛍光体組成中の付活剤の濃度が、後者にお V、て少な 、部位に発光が最大になる最適値が存在する。
[0032] 例えば、黄色発光の(Sr, Ba, Ca) SiO: Euの作製に際しては、まず、炭酸スト口
2 4
ンチウム、炭酸バリウム、炭酸カルシウム、酸ィ匕ユーロピウムおよびシリカ力 成る蛍 光体原料を所定量秤量し、結晶成長剤の塩ィ匕アンモ-ゥムを蛍光体原料に対して 2 重量%の割合で添加して十分に混合する。次に、この混合物をアルミナ製るつぼに 充填し、空気中で温度 600°Cで 1時間の条件で仮焼する。冷却後、るつぼ中の原料 を十分に混合する。次に、この混合物をアルミナ製るつぼに充填し、水素 Z窒素から 成る還元雰囲気中で温度 1200°Cで 2時間の条件で焼成する。さらに、得られた焼成 物を粉砕し水洗した後に乾燥し、目開きが 30 mのふるいを通すことにより目的とす る蛍光体粉末が得られる。 [0033] また、赤色発光の La O S :Eu, Smの作製に際しては、まず、酸ィ匕ランタン、酸ィ匕
2 2
ユーロピウムおよび酸ィ匕サマリウムの適当量を硝酸に溶解し、この溶液にシユウ酸溶 液をカ卩えてシユウ酸塩共沈殿物を得る。これを空気中における温度 1000°Cの焼成 によって酸ィ匕物とする。この酸化物と硫黄と炭酸ナトリウムと燐酸アルカリ粉末との所 定量を混合する。得られた混合物を、アルミナ製るつぼに充填し、気密性が良好とな る蓋を装着して温度 1100°Cで 5時間焼成する。得られた焼成物を十分に水洗し、乾 燥した後にふるいを通すことにより目的とする蛍光体が得られる。
[0034] 上述したような蛍光体の混合粉末をラバープレスで適当な形に成形して成形体とし た後に、金属容器などに成形体を充填封入して HIP処理を施すことにより、透明なセ ラミックス蛍光体が得られる。この時の HIP温度 (焼結温度)は、対象とする材料により 異なるが、適当な温度範囲が存在する。一般に、その温度範囲より低すぎると結晶粒 の成長が不十分となり、相対密度も低ぐ空隙などによる散乱が多くなるため、セラミ ックス蛍光体の透明性が損なわれる。一方、 HIP温度が過度に高いと、結晶粒の成 長が急激に起こるため結晶粒が粗大化し、粒界の影響により同様にセラミックス蛍光 体の透明性が低下する。なお、 HIP処理でなく高温焼成のみによってもセラミックス 蛍光体の焼結体を作ることもできる。
[0035] (Sr, Ba, Ca) SiO: Euの組成を有するセラミックス蛍光体を調製する場合を例に
2 4
とって具体的に条件を説明すると、 HIP温度は 1000〜1500°Cの範囲とすることが 好ましい。より好ましい HIP温度は 1200〜1300°Cの範囲である。また、 HIP圧力は 98MPa以上とする。 HIP圧力力 8MPa未満であると、 HIP処理による緻密化効果 を十分に得ることができない。 HIP時間は HIP温度および HIP圧力にもよる力 HIP 温度が 1200〜1300°Cであると共に、 HIP圧力を 98MPa以上とした場合には、 HIP 時間は 5〜7時間の範囲とすることが好ましい。
[0036] La O S :Eu, Smの組成を有するセラミックス蛍光体を調製する場合には、 HIP温
2 2
度は 1200〜 1500°Cの範囲とすることが好まし 、。より好まし!/、HIP温度は 1300〜 1 400°Cの範囲である。 HIP温度が 1300〜1400°Cであり HIP圧力を 98MPa以上と した場合には、 HIP時間は 5〜7時間の範囲とすることが好ましい。
[0037] このように調製した焼結体を、例えばダイシング加工などを用いて所定の形状に機 械加工し、必要に応じて不活性ガス雰囲気中で熱処理を実施することによりセラミツ ク蛍光体が得られる。
[0038] また前記発光装置において、図 3に示すように前記セラミックス蛍光体 l ibが先端 方向に縮径する砲弾形状に形成されていることが好ましい。この場合、半導体発光 素子 2から放出された発光はセラミックス蛍光体 l ibと外部雰囲気との界面において 中心方向に屈折して放出されるために、本来の発光方向に光束を揃えられる、いわ ゆるレンズ効果が発揮される結果、正面方向への放射光強度を高めることができる。
[0039] さらに上記発光装置において、前記セラミックス蛍光体の外表面以外の部分が反 射材に被覆されていることが好ましい。反射材としては、厚さが数/ z m程度のアルミ- ゥム (A1)や銀 (Ag)の薄膜が好適である。このようにセラミックス蛍光体の外表面以外 の側面部等に上記反射材を形成することにより、セラミックス蛍光体の側面部から逸 散する発光を効果的に本来の照射方向に反射させることが可能になり、装置全体に おける発光強度を高めることができる。
[0040] また前記発光装置にお!、て、前記セラミックス蛍光体は、組成が異なる複数のセラ ミックス蛍光体層を積層して形成されるように構成することもできる。本発明で使用す るセラミックス蛍光体は、前記のように青色、緑色、赤色の各発光色のそれぞれを均 一に混合した状態で焼結して形成された一体の蛍光体としても良 、が、組成が異な る複数のセラミックス蛍光体層を積層して構成することにより、照射方向に対して直角 の方向における各蛍光体成分の配置割合を一定にすることができる。
[0041] 以上のように本発明に係る発光装置によれば、発光効率が高く工業的生産性に優 れた発光素子を提供することが可能となる。また蛍光体を含むすべての部品を固体 化することが可能になるために、発光装置の工業的な生産効率が著しく向上する。 発明を実施するための最良の形態
[0042] 次に本発明の実施形態について以下の実施例に基づいて、より具体的に説明する
[0043] [実施例 1]
炭酸ストロンチウムを 0. 9モルと、炭酸バリウムを 0. 08モルと、炭酸カルシウムを 0. 02モルと、酸化ユーロピウムを 0. 001モルと、シリカを 0. 5モルとの割合から成る蛍 光体原料を秤量し、この蛍光体原料に 2質量%の塩ィ匕アンモ-ゥムを添加して十分 に混合した。次に、この混合物をアルミナ製るつぼに充填し、空気中において温度 6 00°Cで 1時間の条件で仮焼した。冷却後、るつぼ中の原料を十分に混合した。さら に、この混合物をアルミナ製るつぼに充填し、 3%水素 Z窒素から成る還元雰囲気中 において温度 1200°Cで 2時間の条件で焼成した。得られた焼成物を粉砕 '水洗した 後に乾燥し、さらに目開きが 30 mのふるいを通すことによりセラミックス蛍光体粉末 を得た。この蛍光体粉末をラバープレス法により成形した後に、ニッケル金属容器に 充填し真空べ一キング封入し、温度が 1200°Cで加圧力が 150MPaの条件で HIP 処理を実施した。この HIP処理の完了後に金属容器を破ってインゴットを取り出し、 ダイシンダカ卩ェにより直径が 2mmで厚さ Tが 0. 4mmである円板状のセラミックス蛍 光体 11の焼結体を切り出した。この焼結体の密度は真比重に対して 99. 8%であり、 波長 570nmにおける光透過率は 60%であり、波長 470nmにおける光透過率は 40 %であった。また、セラミックス蛍光体の上下面の表面粗さ Raは 50 /z mであった。
[0044] 一方、発光ピーク波長が 470nmであり、寸法が 200 μ mx200 μ mのフリップチッ プ型半導体発光ダイオードを用意すると共に、底面と壁面に厚さ 3 μ mの A1蒸着膜 から成る白色の反射材 12を有する 2mm径のノ ¾ /ケージ容器を用意した。上記の円 板状のセラミックス蛍光体 11をパッケージ容器の底面の中心に位置決めし、間に空 気が混入しな 、程度に薄 、エポキシ榭脂から成る接着剤で接着した。
[0045] 図 1は、上記のように調製されたフリップチップ構造を有する実施例 1に係る発光装 置 laの断面図である。なお、図 4に示す従来の発光装置 1と同一の構成要素には同 一符号を付している。本実施例に係る発光装置 laは、半導体発光素子 2としての発 光ダイオードと、例えば透明な接着剤により半導体発光素子 2の上面側に固着され たセラミクス蛍光体 11とを備えている。半導体発光素子 2は、第 1リード 3上に接着剤 4などで接着されている。半導体発光素子 2の上面に設けられた第 1の電極は、ボン デイングワイヤ 5によって第 1リード 3に接続されている。また、半導体発光素子 2の上 面に設けられた第 2の電極は、ボンディングワイヤ 6によって第 2リード 7に接続されて いる。上記第 1リード 3および第 2リード 7は、予めリードフレーム上に連結された状態 で、熱可塑性榭脂 8などを用いて射出成形などにより埋め込まれて固定されている。 第 1リード 3および第 2リード 7上には、半導体発光素子 2を収容する凹部を形成する 熱可塑性榭脂 8が配置されて構成される。
[0046] 上記構成の実施例 1に係る発光装置 laにおいて、半導体発光素子 2から放射され た光は、セラミクス蛍光体 11を透過する際に波長変換されて可視光等としてセラミク ス蛍光体 11から放出される。この発光装置 laに 3. 5V、 20mAの電力を入力したと きの発光出力は 600mCdZm2であり、発光色度は x=0. 27、 y=0. 25であった。 以上のように、本実施例によれば、使用する波長光に対して所定の透明度を有する セラミックス蛍光体 11を用いて 、るため、蛍光体内部で発光した光が不透明蛍光体 粉末により吸収 ·散乱されることなく有効に発光装置外部に取り出すことができる。ま た、蛍光体の榭脂懸濁液を用いることなぐ蛍光体を含むすべての部品を固体化で きるため、発光装置の工業的な生産効率を著しく向上させることができた。
[0047] [実施例 2〜4]
実施例 1にお 、て調製した円板状のセラミックス蛍光体 11焼結体の厚さのみを表 1 に示すように変化させた点以外は実施例 1と同様な条件でセラミックス蛍光体 11を調 製し、各セラミックス蛍光体 11をパッケージ容器の底面の中心に装着して図 1に示す 実施例 1と同一構造を有する実施例 2〜4に係る発光装置を調製した。
[0048] このように調製した各発光装置 laについて、実施例 1と同一条件で電力を入力した 時の発光出力および発光色度を測定して下記表 1に示す結果を得た。
[0049] 【表 】
Figure imgf000013_0001
上記表 1に示す結果から明らかなように、所定の透明度を有するセラミックス蛍光体 11を用いた各実施例に係る発光装置にぉ 、ては、セラミックス蛍光体内部で発光し た光が不透明蛍光体粉末により吸収,散乱されることなく高い発光出力で有効に発 光装置外部に取り出すことができ、発光色度も良好であることが判明した。
[0050] [比較例 1]
実施例 1で用いた蛍光体粉末を 6mg秤量した。この量は実施例 1に用いたセラミツ タス蛍光体の量と同じである。この蛍光体粉末をエポキシ榭脂内に分散せしめた懸 濁液をパッケージ容器内に配置した半導体発光ダイオード 2の上に充填することによ り、比較例 1に係る従来の発光装置を調製した。この発光装置を実施例 1と同一の給 電条件で動作させた時の発光装置の発光出力(光度)は lOOmCdZm2であり、発光 色度は x=0. 48、 y=0. 51であった。各実施例 1〜4と比較して、発光出力が低下 し発光色度もほとんど蛍光体のみの発光色となり白色からはずれてしまうことが確認 された。
[0051] [実施例 5]
蛍光体原料における酸化ユーロピウムの割合を酸化ユーロピウムを 0. 004モルと した点以外は実施例 1と同一条件で原料混合'成形 ·焼成を実施して円板状のセラミ ックス蛍光体を焼結体として作製した。この焼結体の密度 (相対密度)は真比重に対 して 99. 8%であり、波長 570nmにおける光透過率は 40%であり、波長 395nmに おける光透過率は 2%であった。また、円板状セラミックス蛍光体の上下面の表面粗 さ Raは 50 μ mであった。
[0052] 一方、発光ピーク波長が 395nmであり、外径寸法が 200 μ mx200 μ mであるフリ ップチップ型半導体発光ダイオードを底面の中心に有し、底面と壁面に実施例 1と同 様の白色の反射材 12を有する 2mm径のパッケージ容器を用意し、上記の円板状の セラミックス蛍光体を空気が混入しない程度に薄いシリコーン榭脂で接着することに より、図 1に示すような実施例 5に係る発光装置 laを調製した。
[0053] この発光装置 laに 3. 5V、 20mAの電力を入力したときの発光出力は 350mCdZ m2であり、発光色度は x=0. 46、 y=0. 45であった。また、装置からの紫外線出力 (放射紫外線比)はセラミックス蛍光体としての焼結体を装着しな 、時を基準として 2 %であった。
[0054] 以上のように実施例 5によれば、使用する波長光に対して所定の透明度を有するセ ラミックス蛍光体 11を用いているため、実施例 1と同様に、蛍光体内部で発光した光 が不透明蛍光体粉末により吸収,散乱されることなく有効に発光装置外部に取り出す ことができた。
[0055] [実施例 6〜8] 実施例 5において調製した円板状のセラミックス蛍光体 11焼結体の厚さのみを表 2 に示すように変化させた点以外は実施例 5と同様な条件でセラミックス蛍光体 11を調 製し、各セラミックス蛍光体 11をパッケージ容器の底面の中心に装着して図 1に示す 実施例 5と同一構造を有する実施例 6〜8に係る発光装置を調製した。
[0056] このように調製した各発光装置 laについて、実施例 5と同一条件で電力を入力した 時の発光出力および紫外線量を測定して下記表 2に示す結果を得た。
[0057] 【表 2
Figure imgf000015_0001
上記表 2に示す結果力も明らかなように、発光装置力も放出される紫外線 (UV)の 透過量が少ない方が、より高い発光出力を実現できることが判明した。
[0058] [比較例 2〜4]
実施例 5で調製した蛍光体粉末の含有量 (充填量)を表 3に示すように変化させた 点以外は実施例 5と同様に発光ダイオードパッケージに蛍光体粉末を充填すること により、比較例 2〜4に係る発光装置を調製した。
[0059] このように調製した各発光装置 laについて、実施例 5と同一条件で電力を入力した 時の発光出力および紫外線量を測定して下記表 3に示す結果を得た。
[0060] 【表 3
Figure imgf000015_0002
上記表 3に示す結果から明らかなように、蛍光体のパッケージへの充填量を、発光 装置での発光出力が高くなるように最適にした場合でも、発光装置力 放出される紫 外線量が多くなることが確認された。
[比較例 5〜9]
蛍光体原料の酸化ユーロピウムの配合割合を 0. 01モルとした点以外は実施例 1と 同様な条件で蛍光体粉末を作製し、その充填量を表 4に示すように変化させて実施 例 5で使用した発光ダイオードパッケージに充填することにより、比較例 5〜9に係る 発光装置を調製した。ここで上記充填量は実施例 5での充填量を 100%として相対 的な重量割合で示した。
[0062] このように調製した各発光装置 laについて、実施例 5と同一条件で電力を入力した 時の発光装置の発光出力および紫外線量を測定して下記表 4に示す結果を得た。
[0063] 【表4
Figure imgf000016_0001
上記表 4に示す結果から明らかなように、蛍光体粉末のパッケージへの充填量を最 適濃度にしても可視光出力が最大になる充填量で紫外線出力は相当大きぐ発光 素子力も放出される紫外線の利用効率が低くなることが判明した。
[0064] [実施例 9〜: L 1]
酸化ランタンを 0. 98モルと、酸化ユーロピウムを 0. 01モルと、酸化サマリウムを 0. 01モルとの割合で各酸ィ匕物を秤量して硝酸に溶解した。この溶液にシユウ酸溶液を 加えてシユウ酸塩共沈殿物を得た。この沈殿物を空気中にぉ 、て温度 1000°Cで焼 成することによって酸ィ匕物を得た。この酸ィ匕物 100gに対して硫黄を 50gと炭酸ナトリ ゥムを 50gと燐酸カリウムを 14gとを混合した。得られた混合物を、アルミナ製るつぼ に充填し、気密性を有する蓋を装着して温度 1100°Cで 5時間焼成した。得られた焼 成物を十分に水洗して乾燥した後に、ふるいを通して La O S :Eu, Smなる組成の
2 2
赤色発光蛍光体粉末を得た。
[0065] 上述した蛍光体粉末をラバープレスで成形した後、タンタル金属容器中に充填封 入し、温度が 1380°Cであり、加圧力が 200MPaの条件で HIP処理を実施した。 HIP 処理後に金属容器を破ってインゴットを取り出し、表 5に示すように厚さを変えて直径 力^ mmである円板状の焼結体をセラミックス蛍光体として切り出した。この焼結体の 密度は真比重に対して 99. 9%であり、波長 630nmにおける光透過率は 60%であり 、波長 395nmにおける光透過率は、厚さ 0. 5mmのとき 20%であった。また、円板 状セラミックス蛍光体の上下面の表面粗さ Raは 50 mであった。この焼結体を実施 例 5と同じようにしてパッケージにそれぞれ装着することにより、実施例 9〜: L 1に係る 発光装置を調製した。得られた発光装置の赤色出力結果を下記表 5に示す。
[0066] 【表 5
Figure imgf000017_0001
上記表 5に示す結果から明らかなように、紫外線量がゼロに近づくに伴って発光出 力が最大になる傾向が確認でき、発光素子から放出される紫外線の利用効率が高く なることが判明した。
[0067] 上記各実施例においては、図 1に示すように、半導体発光素子を中心部に配置し た発光ダイオードパッケージに円板型の固形セラミックス蛍光体を装着した発光装置 を例にとって説明しているが、本発明はこれに限定されない。例えば、図 2に示すよう に、 LED素子等の半導体発光素子 2を配置した榭脂基板 13の頂部に半球状のセラ ミックス蛍光体 11aを装着して構成することもできる。また、図 3に示すように、 LED素 子等の半導体発光素子 2を配置した榭脂基板 13の頂部に、先端方向に縮径する砲 弹形状に形成されて 、るセラミックス蛍光体 1 lbを装着して構成することもできる。特 に砲弾型のセラミックス蛍光体 l ibを使用した場合には、半導体発光素子 2から放出 された発光はセラミックス蛍光体 1 lbと外部雰囲気との界面にぉ 、て中心方向に屈 折して放出されるために、本来の発光方向に光束を揃えられる、いわゆるレンズ効果 が発揮される結果、正面方向への放射光強度を高めることができる。
産業上の利用可能性
[0068] 以上説明の通り、本発明に係る発光装置によれば、発光効率が高く工業的生産性 に優れた発光素子を提供することが可能となる。また蛍光体を含むすべての部品を 固体ィ匕することが可能になるために、発光装置の工業的な生産効率が著しく向上す る。
図面の簡単な説明
[図 1]本発明に係る発光装置の一実施例を示す断面図。
[図 2]セラミックス蛍光体を半球状に形成した発光装置の実施例を示す断面図。
[図 3]セラミックス蛍光体を砲弾状に形成した発光装置の実施例を示す断面図。
[図 4]半導体発光素子と、この素子の周囲に榭脂材を介して分散された蛍光体粉末 とを備える従来の発光装置の構成例を示す断面図。

Claims

請求の範囲
[1] 半導体発光素子と、この半導体発光素子力 の発光を波長変換する透明なセラミツ タス蛍光体とを備えた発光装置であり、上記半導体発光素子は紫外光を発光し、こ の紫外光を発光する半導体発光素子に対応した上記セラミックス蛍光体は、波長 35 0〜420nmにおける光透過率の最低値が 0. 1%以上 40%以下であり、かつセラミツ タス蛍光体の主発光波長における光透過率が 10%以上 90%以下であることを特徴 とする発光装置。
[2] 半導体発光素子と、この半導体発光素子力 の発光を波長変換する透明なセラミツ タス蛍光体を備えた発光装置であり、上記半導体発光素子は青色光を発光し、この 青色光を発光する半導体発光素子に対応した上記セラミックス蛍光体は、波長 420 〜500nmにおける光透過率の最低値が 20%以上 80%以下であり、かつセラミック ス蛍光体の主発光波長における光透過率が 10%以上 90%以下であることを特徴と する発光装置。
[3] 前記セラミックス蛍光体の少なくとも一部の表面の平均表面粗さが算術平均粗さ Ra で 0. 5〜150 mの範囲であることを特徴とする請求項 1または 2記載の発光装置。
[4] 前記セラミックス蛍光体の外表面の平均表面粗さが算術平均粗さ Raで 0. 5〜150 mであることを特徴とする請求項 1または 2記載の発光装置。
[5] 前記セラミックス蛍光体の少なくとも一部の表面に最大高さが 0. 15〜2mmである突 起物が形成されていることを特徴とする請求項 1または 2記載の発光装置。
[6] 前記セラミックス蛍光体の外表面に最大高さが 0. 15〜2mmである突起物が形成さ れていることを特徴とする請求項 1または 2記載の発光装置。
[7] 前記セラミックス蛍光体の相対密度が 99. 50%以上 99. 98%以下であることを特徴 とする請求項 1〜6の 、ずれかに記載の発光装置。
[8] 前記セラミックス蛍光体が先端方向に縮径する砲弾形状に形成されて ヽることを特徴 とする請求項 1〜7のいずれかに記載の発光装置。
[9] 前記セラミックス蛍光体の外表面以外の部分が反射材に被覆されていることを特徴と する請求項 1〜8のいずれかに記載の発光装置。
[10] 前記セラミックス蛍光体は、組成が異なる複数のセラミックス蛍光体層を積層して形 成されていることを特徴とする請求項 1〜9のいずれかに記載の発光装置。
前記セラミックス蛍光体の少なくとも一部の母体組成が、珪酸塩、アルミン酸塩、リン 酸塩、ハロリン酸塩、ホウ酸塩、酸化物、タングステン酸塩、バナジン酸塩、酸硫化物 、硫化物、窒化物、酸窒化物のいずれかであることを特徴とする請求項 1〜10のい ずれかに記載の発光装置。
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