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WO2001075525A1 - Composition de resine polyimide photosensible positive - Google Patents

Composition de resine polyimide photosensible positive Download PDF

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Publication number
WO2001075525A1
WO2001075525A1 PCT/JP2001/002502 JP0102502W WO0175525A1 WO 2001075525 A1 WO2001075525 A1 WO 2001075525A1 JP 0102502 W JP0102502 W JP 0102502W WO 0175525 A1 WO0175525 A1 WO 0175525A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
acid
group
polyimide resin
resin composition
carboxylic acid
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/JP2001/002502
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Tomonari Nakayama
Takayasu Nihira
Hiroyoshi Fukuro
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissan Chemical Corp
Original Assignee
Nissan Chemical Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissan Chemical Corp filed Critical Nissan Chemical Corp
Publication of WO2001075525A1 publication Critical patent/WO2001075525A1/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G73/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a linkage containing nitrogen with or without oxygen or carbon in the main chain of the macromolecule, not provided for in groups C08G12/00 - C08G71/00
    • C08G73/06Polycondensates having nitrogen-containing heterocyclic rings in the main chain of the macromolecule
    • C08G73/10Polyimides; Polyester-imides; Polyamide-imides; Polyamide acids or similar polyimide precursors
    • C08G73/1003Preparatory processes
    • C08G73/1007Preparatory processes from tetracarboxylic acids or derivatives and diamines
    • C08G73/1025Preparatory processes from tetracarboxylic acids or derivatives and diamines polymerised by radiations
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/022Quinonediazides
    • G03F7/0226Quinonediazides characterised by the non-macromolecular additives
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/022Quinonediazides
    • G03F7/023Macromolecular quinonediazides; Macromolecular additives, e.g. binders
    • G03F7/0233Macromolecular quinonediazides; Macromolecular additives, e.g. binders characterised by the polymeric binders or the macromolecular additives other than the macromolecular quinonediazides

Definitions

  • the present invention relates to a photosensitive material suitable for use in an electric / electronic device, particularly a semiconductor device, and more particularly to a positive photosensitive polyimide resin composition excellent in adhesion to a substrate, developability, and the like.
  • JP-A-54-116162 and JP-A-54-116162 Techniques for imparting photosensitivity to the polyimide resin are described, for example, in JP-A-54-116162 and JP-A-54-116162.
  • a method of chemically linking a crosslinkable group to a soluble polyimide precursor, a method disclosed in JP-A-54-145794, and a method disclosed in JP-A-57-168942 is disclosed. There is a method of mixing the crosslinkable monomers described.
  • the above method is a negative type in which the exposed area is cross-linked and insolubilized by light.
  • there is a problem in safety because an organic solvent is used during development. It is difficult to process.
  • JP-A-64-66030 discloses a composition obtained by mixing an orthoquinonediazide compound with an organic solvent-soluble polyimide resin having a hydroxyl group introduced therein.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 2009-478 discloses a high-resolution photosensitive resin composition in which an orthoquinonediazide compound is mixed with a polyimide having extremely excellent transparency.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 08-221118 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 11-84653 disclose an aqueous solution, a polyamide or a solvent which is soluble in an organic solvent.
  • a photosensitive resin composition whose sensitivity has been increased by adding an alkali-soluble polyimide precursor to the polyimide is disclosed.
  • bisphenol is added to a soluble polyamide.
  • a photosensitive polyimide resin composition has been disclosed in which high sensitivity has been achieved by adding a low-molecular compound such as mono-tris-funol.However, high sensitivity can be achieved with a small amount of polyamic acid and phenol compound Poor effect. Of course, higher sensitivity can be achieved by increasing the amount of addition, but in the former case, the film thickness decreases during development, and in the latter case, the film thickness decreases during post-curing, resulting in a problem that the resolution decreases when the film is thick. become.
  • the conventional positive-type photosensitive heat-resistant resin achieves high sensitivity and high resolution at the time of thin film, but when trying to obtain a pattern with sufficient sensitivity at the time of thick film, a large amount of additives are added. Therefore, there is a problem that the film thickness is reduced. Disclosure of the invention
  • the present invention has been made in view of the above circumstances, and an alkali developing property is improved by arbitrarily adding a small amount of a low-molecular compound having a high alkali affinity to a soluble polyimide and a photosensitive agent.
  • a photosensitive polyimide resin composition that is excellent in sensitivity and resolution even in the case of a thick film, and that provides a heat-resistant resin pattern with a small decrease in film thickness after development and post-baking. It is assumed that.
  • the present inventors have conducted intensive studies to solve the above-mentioned problems, and as a result, have found the present invention.
  • the present invention provides a compound represented by the general formula (1):
  • the present invention relates to a positive-type photosensitive polyimide resin composition characterized by containing a) a photosensitive ortho-quinonediazide compound.
  • the present invention will be described in detail.
  • composition of the present invention can be easily etched with an aqueous alkali solution, and can easily form a polyimide resin coating film having a fine and highly dimensional accurate relief pattern by exposing using a mask having a predetermined pattern. Obtainable.
  • the method for obtaining the solvent-soluble polyimide of the present invention is not particularly limited. Usually, it is obtained by reacting and polymerizing a tetracarboxylic acid or a derivative thereof with a diamine. Particularly, it is possible to react and polymerize a tetracarboxylic dianhydride (hereinafter, abbreviated as an acid anhydride) with a diamine.
  • a tetracarboxylic dianhydride hereinafter, abbreviated as an acid anhydride
  • R 1 in the general formula (1) is a divalent organic group constituting diamine
  • R 2 is a tetravalent organic group constituting acid anhydride.
  • R 1 represents at least one group selected from the group consisting of a phenolic hydroxyl group, a hydroxyl group, a thiophenol group and a sulfonic acid group in an amount of 1 to 100 mol%.
  • the diamine having a phenolic hydroxyl group, a carboxyl group, a thiophenol group, and a sulfonic acid group used for obtaining the solvent-soluble polyimide of the present invention is not particularly limited, but specific examples thereof include:
  • diamines having a phenolic acid group examples include 2,4-diaminophenol, 3,5-diaminophenol, 2,5-diaminophenol, 4,6-diaminoresorcinol, and 2,5-diaminophenol.
  • Droquinone bis (3—Amino 4— Hydroxyphenyl ether, bis (4-amino-3-hydroxyphenyl ether, bis (4-amino-1,3,5-dihydroxyphenyl) ether, bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) methane, bis (4-amino-3) —Hydroxyphenyl) methane, Bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) methane, Bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) sulfone, Bis (4-amino3-Hydroxyphenyl) sulfone, Bis (4-amino-3,5-dihydroxyphenyl) sulfone, 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-amino-3-hydroxyphenyl) Nil) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-amino-3,5-dihydroxyphen
  • diamine having a carboxyl group examples include 2,4-diaminobenzoic acid, 2,5-diaminobenzoic acid, 3,5-diaminobenzoic acid, 4,6-diamino 1,3-monobenzenedicarboxylic acid, 2,5 —Diamino-1,4-benzenedicarboxylic acid, bis (4-amino-3_carboxyphenyl) ether, bis (4-amino-3,5-dicarboxyphenyl) ether, bis (4-amino-3-carboxyphenyl) ether Phenyl) sulfone, bis (4-amino-3,5-dicarboxyphenyl) sulfone, 4,4'diamino 3,3'-dicarboxybiphenyl, 4,4'diamino 3,3'-dicarboxy-5 , 5'-Dimethylbiphenyl, 4,4'-Diamino 3,3'-Dicarboxy-1,
  • diamines having a thiophenol group examples include 1,3-diamino-4-mercaptobenzene, 1,3-diamino-15-mercaptobenzene, 1,4 diamino-12-mercaptobenzene, and bis (4-amino-3-mercaptobenzene).
  • diamine having a sulfonic acid group examples include 1,3-diaminobenzene-14-sulfonic acid, 1,3-diaminobenzene-15-sulfonic acid, 1,4-diaminobenzene-2-sulfonic acid, bis ( 4—Aminobenzene-1,3-sulfonic acid) ether,, 4 'diamino biphenyl) 3,3'-disulfonic acid, 4, 4' diamino- 3,3'-dimethyl biphenyl 2,6'-disulfonic acid No.
  • To 5-Hydroxyphenyl) sulfone, 2,2-bis (4-amino-3 -carboxy-1-5-hydroxyphenyl) propane, 2,2-bis (4-amino-3 -carboxy-1-5-hydroxyphenyl) Xafluoropropane and the like are preferred, but not limited thereto.
  • diamine having a carboxyl group and a sulfonic acid group is preferable for obtaining a solvent-soluble polyimide resin that can be easily produced by catalyst imidization.
  • diamines having a phenolic hydroxyl group, a carboxyl group, a thiophenol group or a sulfonic acid group can be used alone or in combination of two or more.
  • Diamines having no phenolic hydroxyl group, carboxyl group, thiophenol group or sulfonic acid group used for obtaining the solvent-soluble polyimide of the present invention are particularly limited.
  • dare examples include 4,4,1-methylene-bis (2,61-ethylanilinine), 4,4,1-methylene-bis (2_isopropyl-16-methylaniline) 4, 4'-Methylene-bis (2,6-diisopropylpropylaniline), 2,4,6-trimethyl-1,3-phenylenediamine, 2,3,5,6-tetramethyl-1,4- Phenylenediamine, 0-trizine, m-trizine, 3,3 ', 5,5'-tetramethylbenzidine, bis [4- (3-aminophenol) phenyl] sulfone, 2,2-bis [ 4- (3-Aminophenoxy) phenyl] pu-pan, 2,2-bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl
  • siloxane-containing diamines are preferred from the viewpoint of polyimide adhesion.
  • siloxane-containing diamine component As the siloxane-containing diamine component,
  • diamines having no phenolic hydroxyl group, carboxyl group, thiophenol group or sulfonic acid group can be used alone or in combination of two or more.
  • diamines having no phenolic hydroxyl group, carboxyl group, thiophenol group, or sulfonic acid group cannot be used.
  • the acid anhydride used to obtain the solvent-soluble polyimide of the present invention is not particularly limited, but specific examples thereof include pyromellitic dianhydride, 3, 3 ′, 4, 4′-bif Enyltetracarboxylic dianhydride, 3, 3 ', 4, 4' benzophenone tetracarboxylic dianhydride, 3, 3 ', 4, 4' diphenyl tertetracarboxylic dianhydride, 3, 3 ', 4,4'diphenylsulfonetetracarponic acid 2,3,4-bis (3,4-dicarboxyphenyl) hexafluoropropane 2,3,3', Aromatic tetracarboxylic anhydrides such as 4,4'-diphenylsulfonetetracarboxylic acid anhydride can be mentioned.
  • 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride 1,2-di Methyl 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-tetramethyl-1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3, 4-cyclopentanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,4,5-cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 3,4-dicarboxy-1,2,3,4-tetrahydro-1-naphthalene succinic acid dianhydride Anhydride, 2,3,5-tricarboxylic acid ruboxyl-2-cyclopentaneacetic acid dianhydride, bicyclo [2.2.2] oct-1 7-ene-2,3,5,6—tetracarboxylic acid Anhydrides, 2,3,4,5-tetrahydrofurante tracarboxylic acid dianhydride;!
  • 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride 1,2-dimethyl-1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-Tetramethyl-1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1'2,3,4—Cyclopentanetetracarbonic dianhydride, 1,2,4,5— Cyclohexanetetracarboxylic dianhydride, 3,4-dicarboxy-1,2,3,4—tetrahidro 1-naphthalenesuccinic dianhydride, 2,3,5—tricarboxy-2-cyclopentaneacetic acid None; ⁇ Mate, bicyclo [2.2.2] oct-1-ene-1,2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride, 2,3,4,5-tetrahydrofurantetracarboxylic acid Acid dianhydride, 3, 5, 6-tric
  • 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride is preferred.
  • acid anhydrides can be used alone or in combination of two or more.
  • the polyimide is reacted with tetracarboxylic dianhydride and diamin in a polar solvent such as ⁇ -methylpyrrolidone and dimethylacetamide.
  • a polar solvent such as ⁇ -methylpyrrolidone and dimethylacetamide.
  • the reaction temperature of the tetracarboxylic acid dianhydride with the diamine can be selected from any temperature of from 120 to 150 ° (preferably from 15 to 100 ° C).
  • the polyimide precursor may be heated at 150 to 250 ° C in a solution state, and water generated by dehydration ring closure is removed. It is also possible to add toluene, xylene, or the like, and perform azeotropic dehydration.
  • Another simpler method for converting polyamic acid to polyimide is catalyst imidization.
  • acetic anhydride and a tertiary amine such as triethylamine, pyridine, isoquinoline, imidazole, etc. are added to the polyimide precursor solution, and imidization is performed at any temperature between 0 ° C and 250 ° C. be able to.
  • the diamine constituting R 1 in the general formula (1) has at least one or more groups selected from the group consisting of a carboxy group and a sulfonic acid group.
  • this method can be adopted only when it has neither a phenolic hydroxyl group nor a thiophenol group.
  • the repeating unit a in the general formula (1) of the polyimide in the present invention is an integer of 3 or more and 1000 or less, and if a is less than 3, the mechanical properties of a film formed from the obtained composition When the strength is reduced and a is larger than 1000, the viscosity of the obtained composition is remarkably increased, and the workability for use thereof is extremely reduced.
  • the carboxylic acid or carboxylic acid derivative represented by the above general formula (2) constituting the positive photosensitive resin composition of the present invention can be added from a small amount to the positive photosensitive resin by adding it to the soluble resin. Easier etching of resin with aqueous solution And has the effect of improving the sensitivity.
  • b and c are 0 or 1 or more, and are integers satisfying b + c ⁇ 1, and R 3 is composed of a b + 2c-valent organic group. It is not particularly limited as long as it is a carboxylic acid or a carboxylic acid derivative.
  • the carboxylic acid or carboxylic acid derivative represented by the general formula (2) of the present invention can be used alone or as a mixture of two or more.
  • carboxylic acid used in the present invention include benzoic acid, 4-hydroxybenzoic acid, 4-nitrobenzoic acid, biphenylcarboxylic acid, phthalic acid, 3-hydroxyphthalic acid, and 4-hydroxyphthalic acid.
  • propionic acid, valeric acid, hexanoic acid, malonic acid maleic acid, fumaric acid, succinic acid, butanetetracarboxylic acid, 1,2-cyclobutanedicarboxylic acid, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid 1,1,2-dimethyl-1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid, 1,2,3,4-tetramethyl-1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid, 1,2,3,6-tetrahi Drophthalic acid, 3,4,5,6-tetrahydrophthalic acid, 1,2-cyclopentanedicarboxylic acid, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic acid, 1,1-cyclopentanediacetic acid, 2,3,5-tricarboxy-2-cyclopentenoic acetic acid, 1-cyclopentene-1-1 carboxylic acid, 1-cyclopentene-1,2-dicarboxylic acid,
  • phthalic anhydride pyromellitic dianhydride, 3,34,4'-biphenyltetracarboxylic dianhydride, 3,3 ', 4,4'-benzophenonetetracarbonic acid dianhydride None;! K product, bis (3,4-dicarboxyphenyl) ether difree product, 2,2_bis (3,4-dicarboxyphenyl) hexafluoropropane 3,4-dicarboxyphenyl) sulfone dianhydride and aromatic tetracarboxylic acid derivatives such as trimellitic anhydride.
  • maleic anhydride glutaric anhydride, butanetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2-dimethyl-1,2,3 1,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-tetramethyl-1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,6-tetrahydrophthalic anhydride, 3 1,4,5,6-tetrahydrophthalic anhydride, 1,2-cyclopentanedicarboxylic anhydride, 1,2,3,4-cyclopentanetetracarboxylic anhydride, 1,1-cyclopentanedi Acetic anhydride, 1-cyclopentene-1,2-dicarboxylic anhydride, 1,2-cyclohexanedicarboxylic anhydride, 1,2,4-cyclohexanetricarboxylic acid, 1,2,, 5-cyclohexane He
  • 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid and 1,2,3,4-butanetetracarboxylic acid are required in order to obtain sufficient sensitivity as a photosensitive polyimide in terms of solubility and the like.
  • medium R 3 is aromatic
  • the compounding amount of the carboxylic acid or the carboxylic acid derivative is 0.5 to 50 parts by weight based on 100 parts by weight of the organic solvent-soluble polyimide, and when the compounding amount is less than 0.5 part by weight, No effect of improving sensitivity at the time of exposure of the obtained composition is observed. On the other hand, if the amount is more than 50 parts by weight, the film thickness of the unexposed portion during development is greatly reduced, and a favorable positive pattern cannot be obtained.
  • the orthoquinonediazide compound constituting the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention is not particularly limited as long as it is a compound containing an orthoquinonediazide group in a molecule.
  • Examples thereof include orthobenzoquinone diazide compounds, orthonaphthoquinone diazide compounds, and orthoquinoline quinone diazide compounds, which are used in the so-called phenol nopolak-based positive photosensitive composition. It is common to use
  • the above-mentioned orthoquinone diazide compound is usually used as an orthoquinone diazide sulfonyl compound.
  • orthoquinonediazidosulfonyl compounds are generally obtained by a condensation reaction of an orthoquinonediazidosulfonyl compound and a compound having a phenolic hydroxyl group or an amino group.
  • the orthoquinone diazide sulfonyl chloride constituting the orthoquinone diazide sulfonyl chloride includes, for example, 1,2-naphthoquinone-12-diazide-14-sulfonyl, 1,2-naphthoquinone-12-diazido 5-sulfonyl, 2-naphthoquinone-1-diazido 6-sulfonyl and the like.
  • orthoquinonediazidosulfonyl chloride are, for example, phenol, hydroquinone, resorcinol, catechol, phloroglucinol, 2, '4-dihydroxybenzophenone, 2,3,4-trihydroxybenzophenone, 2,2', 4 , 4'-tetrahydric mouth "xybenzophenone, 2,3,4,4'-tetrahydroxybenzophenone, 2,2 ', 3,4,4,1-pentahydroxybenzophenone , 2,, 4 'dihydroxyacetophenone, 2,, 5, dihydroxyacetophenone, 2,, 6' dihydroxyacetophenone, 3,, 5, dihydroxyacetophenone, 2,, 3 ', 4,- 2,4-, 6-bis (4-hydroxyphenyl) propane, 2,2-bis (4-hydroxy) 2,3-, 4-bis (4-hydroxyphenyl) propane (Ciphenyl) hexafluoropropane, bis (4-hydroxyphenyl)
  • aromatic amines such as aniline, m-phenylenediamine, p-phenylenediamine, 4,4, diaminodiphenyl ether and 4,4 ′ diaminodiphenyl methane can be mentioned.
  • 4-aminophenol 3-aminophenol, 1,3-diamino-4-hydroxybenzene, 1,3-diamino-15-hydroxybenzene, 1,3-diamino-4,6-dihydroxybenzene
  • aminophenols such as 2,2-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) hexafluoropropane.
  • orthoquinonediazide compounds include 1,2-naphthoquinone-2-diazide-14-sulfonic acid ester, 1,2-naphthoquinone-12-diazido-5-sulfonic acid ester, and 1,2— Naphthoquinone-12-diazide-16-sulfonate is preferred. These compounds may be used alone or in combination of two or more.
  • the amount of the orthoquinonediazide compound is 1 to 100 parts by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the organic solvent-soluble polyimide and the polyimide precursor, and the amount is less than 1 part by weight. And the sensitivity at the time of exposure of the resulting composition is extremely low. And the pattern cannot be formed. On the other hand, if the amount is more than 100 parts by weight, the mechanical properties, electrical properties, and the like of the film formed from the obtained composition are reduced.
  • the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention is used for an electric / electronic device or the like, it is used as a solution dissolved in an organic solvent.
  • the organic solvent is not particularly limited as long as it can uniformly dissolve the polyimide, carboxylic acid or carboxylic acid derivative, and orthoquinone diazide compound. Specific examples thereof include N, N-dimethylformamide, N, N-dimethylacetamide, N-methylpyrrolidone, N-vinylpyrrolidone, dimethylsulfoxide, m-cresol, 7 -Butyrolactone.
  • organic solvents may be mixed and used as long as the solubility of the composition is not inhibited according to the purpose.
  • organic solvents include ethyl sorb, butyl sorb, ethyl carbitol, butyl carbitol, ethyl carbitol acetate, butyl carbitol acetate, ethylene glycol, ethyl lactate, butyl lactate, and cyclohexane.
  • the method for obtaining the present composition is not particularly limited, but a carboxylic acid or a carboxylic acid derivative, an orthoquinone diazide compound may be dissolved in a solution obtained by reacting and polymerizing an organic solvent-soluble polyimide, and a poor solvent is used. It may be dissolved in the organic solvent together with the organic solvent-soluble polyimide resin, carboxylic acid or carboxylic acid derivative, or orthoquinone diazide compound recovered by precipitation.
  • the concentration of the above-mentioned positive photosensitive polyimide resin composition in the organic solvent is not particularly limited as long as the polyimide, the orthoquinone diazide compound, and the carboxylic acid or carboxylic acid derivative are uniformly dissolved in the organic solvent. Not done. Ease of working surface, the range of 1 to 5 0 wt 0/0 is common.
  • the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention can be spin-coated on a substrate such as a silicon wafer, and then pre-dried at 50 to 130 ° C. to form a film. At this time, it is of course preferable to use a substrate treated with a silane coupling agent or the like.
  • an ultra-high pressure mercury lamp is used as the light source.
  • the method of transferring the mask pattern to the photosensitive polyimide resin composition of the present invention can be adhesion exposure using a contact liner, proximity exposure, or reduced projection exposure using a stepper.
  • the developing solution used in the development may be any aqueous solution of alkali metal, such as aqueous solution of alkali metal hydroxide such as caustic lithium, caustic soda, tetramethylammonium hydroxide, Examples of quaternary ammonium hydroxides such as tetraethylammonium hydroxide and choline; 7 solutions and aqueous amine solutions such as ethanolamine, propylamine and ethylenediamine can be given as examples. Further, a surfactant or the like can be added to these developers.
  • alkali metal hydroxide such as caustic lithium, caustic soda, tetramethylammonium hydroxide
  • Examples of quaternary ammonium hydroxides such as tetraethylammonium hydroxide and choline
  • 7 solutions and aqueous amine solutions such as ethanolamine, propylamine and ethylenediamine can be given as examples.
  • a surfactant or the like can be
  • the composition has a high solubility of the exposed portion, the generic of two. 3 8 weight 0/0 tetraalkylammonium hydroxide ammonium Niu arm It can be easily developed at room temperature.
  • a polyimide having excellent heat resistance, chemical resistance, and electrical characteristics and having a good relief pattern is obtained.
  • a coated film can be obtained.
  • the composition of the present invention has high-sensitivity, high-resolution positive-type photosensitive characteristics, is easy to etch with an aqueous alkaline solution, and has a fine shape by being exposed using a mask having a predetermined pattern. Further, a polyimide resin coating film having a relief pattern with high dimensional accuracy can be easily obtained.
  • composition of the present invention has an improved development speed as compared with a mixture composition containing only a solvent-soluble polyimide and a perfor- quinone diazide compound, and can greatly improve the efficiency of the pattern forming process.
  • This positive photosensitive polyimide resin composition is an interlayer insulating film for semiconductor devices. It can be used as a substrate film, a buffer coat film, an insulating film for a multilayer printed circuit board, or the like.
  • DABA 1,3-diamino-5-benzoic acid
  • BAPS bis [4- (3-aminophenoxy) phenyl] sulfone
  • CB DA 1,22,3,4-Cyclobutanetetracarboxylic dianhydride
  • NMP N-methylpyrrolidone
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in a peptide lactone to form a solution having a resin concentration of 20%. 20 g of this solvent-soluble polyimide resin solution was mixed with 0.12 g of 1,2,3,4-butanetetracarboxylic acid and completely dissolved.
  • This photosensitive polyimide solution is directly coated on a silicon wafer using a spin coater.
  • the coating was applied and heated on a hot plate at 80 ° C. for 3 minutes to obtain a coating having a thickness of 5 / m.
  • Ultraviolet light (365 nm light extracted using a filter) was passed through a test mask through a test mask and irradiated with ultraviolet light (PLA-501, manufactured by Canon Inc.) at a wavelength of 40 to 800 mJ / cm 2 . Irradiated in range.
  • the film was developed by immersing it in an alkaline developer (NMD-3, manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.) at approximately 23 ° C for 120 seconds, and then rinsed with pure water for 20 seconds.
  • NMD-3 alkaline developer
  • pattern formation was confirmed in a portion irradiated with an exposure amount of 40 Om J / cm 2 or more.
  • the film thickness after development was about 4.7 m.
  • the pattern resolution was formed up to 8 m in line / space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a polyimide pattern having a film thickness of 3.6 m.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in 7 -butyrolactone to prepare a solution having a resin concentration of 20%.
  • 20 g of CBDA was mixed with 20 g of the solvent-soluble polyimide resin solution, and completely dissolved.
  • a naphthoquinone-based photosensitizer (4 moles of 1,2-naphthoquinone-12-diazido-4-sulfonic acid per mole of 2,3,4,4'-tetrahydroxybenzophenone).
  • a coating film having a thickness of 5 was obtained in accordance with Example 1.
  • pattern formation was confirmed exposure at 4 0 O m J Zc m 2 or more irradiated portion.
  • the film thickness after development was about 5 m.
  • the pattern resolution was formed up to 8 m in line / space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a polyimide film pattern having a film thickness of 3.8 m.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in y-butyrolactone to obtain a solution having a resin concentration of 20%.
  • 20 g of CB DA O was mixed with 20 g of the solvent-soluble polyimide resin solution, and completely dissolved.
  • a naphthoquinone-based positive photosensitive agent (2, 3 , 4,4'-Tetrahydroxybenzophenone (1 mol) is substituted with 1,2-naphthoquinone-12-diazido 4-sulfonic acid (4 mol).
  • a solution of the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention was obtained.
  • a coating film having a thickness of 5 / m was obtained in accordance with Example 1.
  • pattern formation was confirmed exposure at 2 8 O m J / cm 2 or more irradiated portion.
  • the film thickness after development was about 4.4 // m.
  • the pattern resolution was 8 ⁇ m / line / space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a 3.4-m thick polyimide pattern.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in y-butyrolactone to obtain a solution having a resin concentration of 20%. 0.20 g of 1,2,3,4-butanetetracarboxylic dianhydride was mixed with 20 g of this solvent-soluble polyimide resin solution, and completely dissolved. To this solution was added a naphthoquinone-based positive-type photosensitizer (an ester obtained by substituting 4 mol of 1,2-naphthoquinone-12-diazido-4-sulfonic acid per mol of 2,3,4,4'-tetrahydroxybenzophenone). Compound (1.0 g) was added, and the mixture was stirred at room temperature for 1 hour, and filtered through a 1.0 m filter to obtain a solution of the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention.
  • a naphthoquinone-based positive-type photosensitizer an ester obtained by substituting 4 mol of 1,2-naph
  • Example 2 Using the prepared positive photosensitive resin composition varnish, a coating film having a thickness of 5 / m was obtained in accordance with Example 1. As a result, pattern Ichin formation was confirmed in the portion irradiated with the exposure amount 5 2 O m JZ cm 2 or more. The film thickness after development was about 4.7 m. The pattern resolution was formed up to 8 / m in line space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a polyimide pattern having a thickness of 3.6 m.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in Arptyrolactone to prepare a solution having a resin concentration of 20%. 0.20 g of 1,3-dimethyl-1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic dianhydride was mixed with 20 g of this solvent-soluble polyimide resin solution,
  • a coating film having a thickness of 5 / m was obtained in accordance with Example 1.
  • pattern formation was confirmed in the portion where the exposure amount was irradiated at 400 mJ / cm 2 or more.
  • the film thickness after development was about 4.8 m.
  • the pattern resolution was formed without line peeling up to 8 m in line space.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a polyimide pattern having a film thickness of 3.7 m.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in y-butyrolactone to obtain a solution having a resin concentration of 2096.
  • a solution having a resin concentration of 2096 was obtained by g of this solvent-soluble polyimide resin solution.
  • 0.20 g of bicyclo [2.2.2] octane-7,2-ene-1,2,3,5,6-tetracarboxylic dianhydride was mixed and completely mixed. was dissolved.
  • a naphthoquinone-based positive photosensitive agent (4 moles of 1,2-naphthoquinone-12-diazido-4-sulfonic acid was replaced by 1 mole of 2,3,4,4, -tetrahydroxybenzophenone).
  • 1.0 Og was added, and the mixture was stirred at room temperature for 1 hour, and filtered through a 1.0 m filter to obtain a solution of the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention.
  • a coating film having a thickness of 5 / m was obtained in accordance with Example 1. As a result, it was confirmed that a pattern was formed in a portion irradiated with an exposure amount of 450 mJ / cm 2 or more. The film thickness after development was about 4.9 m. The pattern resolution was up to 8 m in line / space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a polyimide pattern having a film thickness of 3.7 m.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in y -butyrolactone to prepare a solution having a resin concentration of 20%. Add 3,5,6-tri to 20 g of this solvent-soluble polyimide resin solution. Carboxy-2-norbornaneacetic acid dianhydride (0.20 g) was mixed and completely dissolved. To this solution, add a naphthoquinone-based positive-type photosensitizer (1 mol of 2,3,4,4'-tetrahydroxybenzophenone to 4 mol of 1,2-naphthoquinone-12-diazido-4-sulfonic acid by adding 1 mol of ⁇ "). 1.0 g of the resulting ester compound was added, and the mixture was stirred at room temperature for 1 hour, and then filtered through a 1.0 m filter to obtain a solution of the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention.
  • a coating film having a thickness of 5 m was obtained in accordance with Example 1.
  • pattern formation was confirmed in a portion irradiated with an exposure amount of 450 mJ / cm 2 or more.
  • the film thickness after development was about 4.9 m.
  • the pattern resolution was 8 m in line / space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a polyimide pattern having a film thickness of 3.7 m.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in y-butyrolactone to prepare a solution having a resin concentration of 20%. 0.20 g of pyromellitic dianhydride was mixed with 20 g of the solvent-soluble polyimide resin solution and completely dissolved. To this solution was added a naphthoquinone-based positive photosensitive agent (1,2-naphthoquinone-12-diazido-4-sulfonic acid per mole of 2,3,4,4'-tetrahydroxybenzophenone). Addition of 1.0 g of a mole-substituted ester compound), stirring for 1 hour at room temperature, and filtration with a 1.0 m filter to obtain a solution of the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention. Was.
  • a coating film having a thickness of 5 m was obtained in accordance with Example 1.
  • pattern formation was confirmed in a portion irradiated with an exposure amount of 320 mJ / cm 2 or more.
  • the film thickness after development was about 4.5 m.
  • the pattern resolution was up to 8 m in line / space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a polyimide pattern having a thickness of 3.5 m.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in y-butyrolactone to obtain a solution having a resin concentration of 20%. 1, 2, 3, 4, and 20 g of this solvent-soluble polyimide resin solution 0.25 g of 5,6-cyclohexanetetracarboxylic trianhydride was mixed and completely dissolved.
  • a coating film having a thickness of 5 Zm was obtained in accordance with Example 1.
  • pattern formation was confirmed in a portion irradiated with an exposure amount of 320 mJZcm 2 or more.
  • the film thickness after development was about 4.8 / m.
  • the pattern resolution was formed up to 8 m in line Z space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a polyimide pattern having a film thickness of 3.7 m.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in Arptyrolactone to prepare a solution having a resin concentration of 20%.
  • a naphthoquinone-based positive photosensitive agent (1,2 to naphthoquinone 1-2-diazide 1-4 per mole of 2,3,4,4'-tetrahydroxybenzophenone) was added.
  • -20 g of an ester compound substituted with 3 moles of sulfonic acid stirred at room temperature for 1 hour, and filtered through a 1.0 m filter to obtain a solution of the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention.
  • Example 2 a coating film having a thickness of 5 m was obtained in accordance with Example 1. As a result, it was confirmed that pattern formation was observed in a portion irradiated with an exposure of 640 mJ / cm 2 or more. The film thickness after development was approximately 4.9 m. The pattern resolution was formed up to 10 m in line / space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a polyimide pattern having a thickness of 3.8 / m.
  • the polyimide powder obtained in Synthetic Example 1 was dissolved in rapture-open ratatone to prepare a solution having a resin concentration of 20%.
  • a solution having a resin concentration of 20% To 20 g of this solvent-soluble polyimide resin solution, 2, 2 ', 4, 4, -Tetrahydroxybenzophenone (hereinafter abbreviated as THBP) 0.12 g was mixed and completely dissolved.
  • THBP 2, 2 ', 4, 4, -Tetrahydroxybenzophenone
  • a coating film having a thickness of 5 / m was obtained in accordance with Example 1. As a result, it was confirmed that pattern formation was observed in a portion irradiated with an exposure amount of 6300 mJZcm 2 or more. The film thickness after development was about 4.9 m. The pattern resolution was up to 10 m in line space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C. for 60 minutes and at 350 ° C. for 30 minutes to obtain a 3.8-m-thick polyimide pattern.
  • the polyimide powder obtained in Synthesis Example 1 was dissolved in Arptyrolactone to prepare a solution having a resin concentration of 20%. 0.20 g of THB P was mixed with 20 g of the solvent-soluble polyimide resin solution, and completely dissolved. To this solution was added a naphthoquinone-based positive-type photosensitizer (4 moles of 1,2-naphthoquinone-12-diazido-4-sulfonic acid per mole of 2,3,4,4'-tetrahydroxybenzophenone). (Substituted ester compound) 1.0 g was added, and the mixture was stirred at room temperature for 1 hour, and then filtered through a 1.0 m filter to obtain a solution of the positive photosensitive polyimide resin composition of the present invention.
  • a naphthoquinone-based positive-type photosensitizer (4 moles of 1,2-naphthoquinone-12-diazido-4-sulfonic acid per mole
  • a coating film having a thickness of 5 / m was obtained in accordance with Example 1.
  • pattern formation was confirmed in a portion where the exposure amount was 680 mJ / cm 2 or more.
  • the thickness after development was about 4.8 / m.
  • the pattern resolution was 8 m in lines space without pattern peeling.
  • the obtained film was heated in a circulating drying oven at 170 ° C for 60 minutes and at 350 ° C for 30 minutes to obtain a polyimide pattern having a film thickness of 3.7 m.

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Description

明細書
ポジ型感光性ポリィミ ド樹脂組成物 技術分野
本発明は、 電気 ·電子デバイス、 特に半導体装置などに用いるのに好適な感光 性材料に係り、 特に基材との密着性、 現像性等に優れるポジ型感光性ポリイミ ド 樹脂組成物に関する。 背景技術
ポリィミ ド樹脂に感光性を付与する手法としては、 例えば特開昭 5 4 - 1 1 6 2 1 6号公報及ぴ、 特開昭 5 4— 1 1 6 2 1 7号公報に記載されている架橋性基 を可溶性ポリィミ ド前駆体に化学的に結合する方法や、 特開昭 5 4— 1 4 5 7 9 4号公報及ぴ、 特開昭 5 7— 1 6 8 9 4 2号公報に記載されている架橋性単量体 を混合する方法などがある。
上記の方法は、 露光部が光により架橋不溶化するネガ型であり、. 現像の際有機 溶媒を用いるため安全性に問題があるほか、 現像液により露光部の膨潤が起こる ため、 高解像度の微細加工を行うのが困難である。
それに対し、 最近ではアル力リ水溶液による現像が可能なポジ型の感光性樹脂 材料が開発され、 注目を集めている。 このような感光性樹脂組成物として特開昭 6 4 - 6 0 6 3 0号公報ではヒドロキシル基を導入した有機溶媒可溶性のポリィ ミ ド樹脂にオルトキノンジアジド化合物を混合した組成物が、 特開平 3— 2 0 9 4 7 8号公報では極めて透明性に優れるポリィミ ドにオルトキノンジアジド化合 物を混合した高解像度の感光性樹脂組成物が開示されている。
しかし、 これらのポジ型感光性ポリィミ ドの感度や現像性は未だ十分でなく、 厚膜時のポリイミ ドパターン形成は困難であった。これに対して、 特開平 0 8— 2 2 1 1 8号公報ゃ特開平 1 1 一 0 8 4 6 5 3号公報では、 アル力リ水溶液、有 機溶媒に対して可溶なポリアミ ドまたはポリイミ ドにアルカリ可溶性ポリイミ ド 前駆体を添加することで高感度化された感光性樹脂組成物が開示されている。 さ らに、 特開平 1 1一 1 4 3 0 7 0号公報では、 可溶性のポリアミ ドにビスフエノ 一ルゃトリスフユノールのような低分子化合物を添加することで高感度化が達成 された感光性ポリイミ ド樹脂組成物が開示されているが、 ポリアミック酸もフエ ノール化合物も少量では高感度化の効果に乏しい。 もちろん添加量を増すことで 高感度化は達成されるが、 前者は現像時の膜厚の減少、 後者はポストキュア時の 膜厚の減少が大き くなることで厚膜時の解像度低下が問題になる。
このように、 従来のポジ型感光性耐熱樹脂では薄膜時の高感度 ·高解像度が達 成されているが、 さらに厚膜時に充分な感度でパターンを得ようとすると、 大量 の添加剤を入れるための膜厚の減少が問題であった。 発明の開示
本発明は、 上記の事情に鑑みてなされたものであって、 アルカリ親和性の高い 低分子化合物をアル力リ可溶性ポリィミ ドと感光剤に対し任意かつ少量添加する ことによりアルカリ現像性が向上し、 その結果、 厚膜時でも感度、 解像度に優れ 、 現像後、 ポストべーク後の膜厚の減少も小さい耐熱樹脂パタ一ンが得られるポ ジ型感光性ポリィミ ド樹脂組成物を提供しょうとするものである。
本発明者は上記課題を解決するため鋭意検討を行った結果、 本発明を見出すに 至った。
すなわち本発明は、 一般式 ( 1 )
0 0
R 1— N ' . N 一 ( 1 )
0 0
(式中繰り返し単位 aは 3以上 1 0 0 0 0以下の整数であり、 一般式中 R 1の 1 〜 1 0 0モル0 /0がフヱノール性水酸基、 カルボキシル基、 チオフヱノール基、 ス ルホン酸基からなる群より選ばれた少なく とも一種以上の基を 1個または複数個 有する 2価の有機基であり、 9 9〜 0モル%がフヱノール性水酸基、 力ルボキシ ル基、 チォフエノール基、 スルホン酸基を有さない 2価の有機基であり、 R 2は 4価の有機基である。 ) で示される繰り返し単位を有する溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂および一般式 (2 )
Figure imgf000005_0001
で表された少なく とも一つのカルボン酸もしくはカルボン酸誘導体 (ただし式中 bと cは 0もしく は 1以上でかつ b + c≥ 1を満足する整数であり、 R 3は (b + 2 c ) 価の有機基である。 ) を含有し、 かつ感光性オルトキノンジアジド化合 物を含有することを特徴とするポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物に関する。 以下に本発明を詳細に説明する。
本発明の組成物は、 アルカリ水溶液によるエツチングが容易であり、 所定のパ ターンを有するマスクを用いて露光することにより、 微細かつ寸法精度の高いレ リーフパターンを有するポリィミ ド樹脂塗膜を容易に得ることができる。
本発明の溶媒可溶性ポリイミ ドを得る方法は、 特に限定されない。 通常は、 テ トラカルボン酸またはその誘導体とジアミンを反応、 重合することにより得られ 、 特にテトラカルボン酸二無水物 (以下、 酸無水物と略記する) とジァミ ンを反 応、 重合することが一般的である。 この場合、 一般式 ( 1 ) の R 1はジァミ ンを 構成する 2価の有機基、 R 2は酸無水物を構成する 4価の有機基となる。
本発明の一般式 ( 1 ) 中の R 1は 1〜 1 0 0モル%がフヱノール性水酸基、 力 ルポキシル基、 チオフヱノール基、 スルホン酸基からなる群より選ばれた少なく とも 1種類以上の基を 1個または複数個有する 2価の有機基であり、 残る 9 9〜 0モル0 /oがフエノール性水酸基、 力ルポキシル基、 チォフエノール基、 スルホン 酸基を有さない 2価の有機基である。
本発明の溶媒可溶性ポリイミ ドを得るのに用いられる、 フヱノール性水酸基、 カルボキシル基、 チオフヱノール基、 スルホン酸基を有するジァミンは特に限定 されないが、 あえてその具体例を挙げれば、
フエノール性 酸基を有するジァミ ンとしては、 2, 4ージァミノフエノール 、 3, 5—ジァミ ノフエノール、 2, 5—ジァミノフエノール、 4, 6—ジアミ ノ レゾルシノール、 2, 5—ジァミ ノハイ ドロキノン、 ビス ( 3 —アミ ノー 4— ヒ ドロキシフエニル) エーテル、 ビス (4一アミノー 3—ヒ ドロキシフエ二 エーテル、 ビス (4—ァミノ一 3 , 5—ジヒ ドロキシフエニル) エーテル、 ビス (3—アミノー 4ーヒ ドロキシフエニル) メタン、 ビス (4一アミノー 3—ヒ ド ロキシフエニル) メ タン、 ビス (4—アミ ノー 3, 5—ジヒドロキシフエニル) メタン、 ビス ( 3—アミノー 4—ヒ ドロキシフエニル) スルホン、 ビス (4—ァ ミノー 3—ヒ ドロキシフエニル) スルホン、 ビス (4—アミノー 3, 5—ジヒ ド ロキシフエニル) スルホン、 2, 2—ビス (3—アミノー 4—ヒ ドロキシフエ二 ル) へキサフルォロプロパン、 2 , 2—ビス (4一アミノー 3—ヒ ドロキシフエ ニル) へキサフルォロプロパン、 2, 2—ビス (4一アミ ノー 3, 5—ジヒ ドロ キシフエニル) へキサフルォロプロパン、 4, 4 'ージアミ ノー 3, 3 '—ジヒ ド 口キシビフエニル、 4, 4 '—ジァミノー 3, 3 '—ジヒ ドロキシ一 5, 5 '—ジ メチルビフエニル、 4, 4 'ージアミノー 3, 3 '—ジヒ ドロキシ一 5, 5 '—ジ メ トキシビフエニル、 1, 4—ビス (3—アミノー 4ーヒ ドロキシフエノキシ) ベンゼン、 1 , 3—ビス (3—ァミノ一 4ーヒ ドロキシフエノキシ) ベンゼン、 1, 4 _ビス (4一アミノー 3—ヒ ドロキシフエノキシ) ベンゼン、 1, 3—ビ ス (4 _アミノー 3—ヒ ドロキシフエノキシ) ベンゼン、 ビス [4一 (3—アミ ノー 4ーヒ ドロキシフエノキシ) フエニル] スルホン、 ビス [4一 (3—ァミ ノ 一 4—ヒ ドロキシフエノキシ) フエニル] プロノ、。ン、 2, 2—ビス [4— (3— アミノー 4ーヒ ドロキシフエノキシ) フエニル] へキサフルォロプロノ、。ン等が、挙 げられる。
カルボキシル基を有するジァミ ンとしては、 2, 4—ジァミノ安息香酸、 2 , 5—ジァミノ安息香酸、 3, 5—ジァミノ安息香酸、 4, 6—ジアミ ノー 1, 3 一ベンゼンジカルボン酸、 2, 5—ジアミノー 1 , 4一ベンゼンジカルボン酸、 ビス (4一アミ ノー 3 _カルポキシフエニル) エーテル、 ビス (4一アミノー 3 , 5—ジカルボキシフエニル) エーテル、 ビス (4一アミノー 3—カルボキシフ ェニル) スルホン、 ビス (4一アミノー 3, 5—ジカルポキシフエニル) スルホ ン、 4, 4 'ージアミ ノー 3, 3 '―ジカルボキシビフエニル、 4, 4 'ージアミ ノー 3, 3 '—ジカルボキシー 5 , 5 '—ジメチルビフエニル、 4, 4 '—ジアミ ノー 3, 3 '—ジカルポキシ一 5, 5 '—ジメ トキシビフエニル、 1, 4一ビス ( 4—アミノー 3 —カルボキシフエノキシ) ベンゼン、 1, 3 —ビス (4—ァミノ 一 3—力ルポキシフエノキシ) ベンゼン、 ビス [ 4— ( 4一アミノー 3—力ルポ キシフエノキシ) フエニル] スルホン、 ビス [ 4一 (4〜アミノー 3—カルボキ シフエノキシ) フヱニル] プロパン、 2 , 2 —ビス [ 4一 (4 一アミノー 3—力 ルボキシフエノキシ) フエニル] へキサフルォロプロパン等が挙げられる。 チォフエノール基を有するジァミ ンとしては、 1 , 3—ジアミ ノー 4—メルカ ブトベンゼン、 1, 3—ジァミノ一 5—メルカプトベンゼン、 1 , 4ージァミ ノ 一 2 —メルカプトベンゼン、 ビス ( 4一アミノー 3 —メルカプトフエニル) エー テル、 2, 2 —ビス ( 3 —アミノー 4 一メルカプトフエニル) へキサフルォロプ 口パン等が挙げられる。
スルホン酸基を有するジァミ ンと しては、 1 , 3—ジァミ ノベンゼン一 4ース ルホン酸、 1, 3—ジァミノベンゼン一 5 —スルホン酸、 1, 4—ジァミ ノベン ゼンー 2—スルホン酸、 ビス (4 —ァミノベンゼン一 3—スルホン酸) エーテル 、 , 4 'ージアミ ノ ビフエニル) 3, 3 '—ジスルホン酸、 4, 4 'ージァミ ノ — 3, 3 '―ジメチルビフエ二ルー 6, 6 '—ジスルホン酸等が挙げられる。
更にこれらの基を複数個有するビス (4—アミノー 4 一カルボキシー 5—ヒ ド ロキシフエニル) エーテル、 ビス (4一アミノー 3—カルボキシ一 5—ヒ ドロキ シフエニル) メ タン、 ビス (4 一アミノー 3—カルボキシー 5—ヒ ドロキシフエ ニル) スルホン、 2, 2—ビス (4一アミ ノー 3 —カルボキシ一 5—ヒ ドロキシ フエニル) プロパン、 2, 2 —ビス (4一アミノー 3 —カルポキシ一 5—ヒ ドロ キシフエニル) へキサフルォロプロパン等が好ましいが、 それらに限定されるも のではない。
特に、 触媒ィ ミ ド化により容易に製造しうる溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂を得る には、 カルボキシル基及ぴスルホン酸基を有するジアミ ンが好ましい。
これらフヱノール性水酸基、 カルボキシル基、 チオフヱノール基、 スルホン酸 基を有するジアミンは、 1種類もしくは 2種類以上混合して用いることができる
本発明の溶媒可溶性ポリイミ ドを得るのに用いられる、 フヱノール性水酸基、 カルボキシル基、 チォフエノール基、 スルホン酸基を有さないジァミ ンは特に限 定されないが、 あえてその具体例を挙げれば、 4, 4, 一メチレン-ビス (2, 6一ェチルァニリ ン) 、 4 , 4,一メチレン-ビス ( 2 _イソプロピル一 6—メチ ルァニリ ン) 4, 4 '—メチレン-ビス (2, 6—ジィソプロピルァニリ ン) 、 2 , 4 , 6— ト リメチルー 1, 3—フエ二レンジァミン、 2, 3 , 5, 6—テ トラ メチルー 1, 4一フエ二レンジァミ ン、 0— トリジン、 m— ト リジン、 3, 3 ' , 5, 5 ' ーテ トラメチルベンジジン、 ビス [4一 (3—アミ ノフエノキシ) フ ヱニル] スルホン、 2, 2—ビス [4— (3—アミ ノフエノキシ) フヱニル] プ 口パン、 2, 2一ビス [4― (3—アミノフエノキシ) フエニル] へキサフルォ 口プロパン、 4, 4 'ージアミノー 3, 3 ' -ジメチルジシクロへキシルメ タン、 4 , 4 '—ジアミ ノジフエニルエーテル、 3, 4ージアミ ノジフエニルエーテル 、 4 , 4 '—ジアミ ノジフヱニルメ タン、 2, 2一ビス (4ーァニリ ノ) へキサ フルォロプロノ、。ン、 2, 2—ビス (3—ァニリノ) へキサフルォロプロノヽ "ン、 2 , 2 -ビス ( 3—アミ ノー 4一 トルィル) へキサフルォロプロパン、 1, 4ービ ス (4—アミ ノフエノキシ) ベンゼン、 1, 3—ビス (4一アミノフエノキシ) ベンゼン、 ビス [4― (4一アミノフエノキシ) フエニル] スルホン、 2 , 2 - ビス [4一 (4一アミ ノフエノキシ) フヱニル] プロパン、 2 , 2一ビス [4― (4一アミノフエノキシ) フエニル] へキサフルォ口プロパンなどを挙げること ができる。
ポリイミ ドの溶解性の観点からは 4, 4 'ーメチレン-ビス (2, 6—ェチルァ 二リ ン) 、 4 , 4 '—メチレン-ビス ( 2—イソプロピル一 6—メチルァニリ ン) 、 4, 4 '—メチレン-ビス (2, 6—ジイソプロピルァニリン) 、 ビス [4一 ( 3 _アミノフエノキシ) フヱニル] スルホン、 2, 2—ビス [4一 (3—ァミノ フヱノキシ) フエニル] プロパン、 2, 2—ビス [4一 (3—アミノフヱノキシ ) フエニル] へキサフルォロプロパン等が好ましいが、 それらに限定されるもの ではない。
また、 ポリィミ ドの密着性の点からはシロキサン含有ジアミンが好ましい。 シロキサン含有ジアミン成分としては、
Figure imgf000009_0001
(式中、 dは 1から 0の整数を表す)
などを挙げることができるが、 これらに限定されるものではない。
これらフエノール性水酸基、 カルボキシル基、 チオフヱノール基、 スルホン酸 基を有さないジアミンは、 1種類もしくは 2種類以上混合して用いることができ る o
また、 一般式 ( 1 ) 中の R1の 1 00モル0 /0がフヱノール性水酸基、 カルボキ シル基、 チオフヱノール基、 スルホン酸基からなる群より選ばれた少なく とも 1 種類以上の基を 1個または複数個有する 2価の有機基である場合は、 これらフエ ノール性水酸基、 カルボキシル基、 チオフヱノール基、 スルホン酸基を有さない ジァミンは用いることができない。
本発明の溶媒可溶性ポリイミ ドを得るのに用いられる酸無水物は特に限定され ないが、 あえてその具体例を挙げれば、 ピロメリ ッ ト酸二無水物、 3, 3 ', 4 , 4 '—ビフエニルテトラカルボン酸二無水物、 3, 3 ', 4 , 4 ' 一べンゾフエ ノンテトラカルボン酸二無水物、 3, 3 ', 4, 4 'ージフエ二ルェ一テルテトラ カルボン酸二無水物、 3, 3 ', 4, 4 'ージフエニルスルホンテトラカルポン酸 二無^物 2, 2—ビス (3, 4—ジカルボキシフエニル) へキサフルォロプロパ ンニ無^物、 3, 3 ', 4, 4'ージフエニルスルホンテトラカルボン酸二無フ 物 の様な芳香族テトラカルボン酸無水物などを挙げることができる。
溶解性の観点からは 3, 3', 4 , 4'—ビフエ二ルテトラカルボン酸ニ無フ 物 、 3, 3', 4, 4,一べンゾフエノンテトラカルボン酸二無水物、 2, 2—ビス (3 , 4—ジカルボキシフエニル) へキサフルォロプロパン二無水物、 3, 3 ' , 4 , 4 '―ジフエニルスルホンテトラカルボン酸二無水物などが好ましい。 また、 1, 2, 3, 4—シクロブタンテトラカルボン酸二無水物、 1, 2—ジ メチル一 1, 2, 3, 4ーシクロブタンテトラカルボン酸ニ無水物、 1, 2, 3 , 4—テトラメチルー 1 , 2, 3, 4ーシクロブタンテトラカルボン酸ニ無 ^物 、 1 , 2, 3, 4ーシクロペンタンテ トラカルボン酸二無水物、 1 , 2, 4, 5 ーシクロへキサンテトラカルボン酸二無水物、 3, 4ージカルボキシー 1, 2, 3, 4—テ トラヒ ドロー 1 一ナフタレンコハク酸二無水物、 2 , 3, 5 —トリ力 ルボキシ一 2—シクロペンタン酢酸二無水物、 ビシクロ [ 2 . 2 . 2 ] ォク ト一 7 —ェンー 2, 3, 5 , 6 —テ トラカルボン酸ニ無水物、 2, 3, 4, 5—テト ラヒドロフランテ トラカルボン酸二無; !K物、 3, 5, 6 —トリ力ルポキシ一 2— ノルボルナン酢酸二無水物の様な脂環式テトラカルボン酸ニ無水物、 1, 2, 3 , 4一ブタンテ ト ラカルボン酸二無水物の様な脂肪族テ トラカルボン酸二無水物 を挙げることができる。
特に、 ポリイミ ドの溶解性の点からは、 1, 2, 3, 4ーシクロブタンテトラ カルボン酸二無水物、 1, 2—ジメチルー 1, 2, 3 , 4—シクロブタンテトラ カルボン酸二無水物、 1 , 2, 3, 4ーテトラメチルー 1, 2, 3 , 4—シクロ ブタンテトラカルボン酸ニ無水物、 1 ' 2, 3 , 4 —シクロペンタンテトラカル ボン酸ニ無水物、 1 , 2, 4 , 5—シクロへキサンテ トラカルボン酸ニ無水物、 3 , 4—ジカルボキシー 1 , 2 , 3, 4 —テ トラヒ ドロー 1 一ナフタレンコハク 酸二無水物、 2, 3 , 5 —トリカルボキシー 2—シクロペンタン酢酸二無;^物、 ビシクロ [ 2 . 2 . 2 ] ォク ト一 7—ェン一 2, 3, 5, 6—テトラカルボン酸 二無 物、 2, 3, 4 , 5—テトラヒ ドロフランテトラカルボン酸ニ無水物、 3 , 5, 6 —トリカルボキシー 2 —ノルボルナン酢酸二無水物などの一般式 ( 1 ) 中 R 2が芳香環に直接結合しない 4個のカルボニル基よりなるテトラカルボン酸 及びその誘導体を構成する 4価の有機基からなる酸無水物が好ましい。
更に、透明性の高いポリイミ ド樹脂を得るには、 1 , 2, 3, 4ーシクロブタン テトラカルボン酸二無水物が好ましい。
これら酸無水物は 1種類もしくは 2種類以上混合して用いることができる。 テトラカルボン酸二無水物とジァミンからポリイミ ドを合成するには、 Ν -メ チルピロリ ドン、 ジメチルァセトアミ ドなどの極性溶媒中でテトラカルボン酸二 無水物とジァミ ンとを反応させてポリイミ ド前駆体を合成し、 脱水閉環する方法 が一般的である。
テトラ力ルボン酸二無水物とジアミンの反応温度は一 2 0〜 1 5 0 ° ( 、 好まし くは一 5〜 1 0 0 °Cの任意の温度を選択することができる。
また、 ポリイミ ド前駆体をポリイミ ドに転化するには、 ポリイミ ド前駆体を溶 液状態のまま 1 5 0 °C〜 2 5 0 °Cで加熱すればよく、 脱水閉環で生成した水を取 り除くためトルエン、 またはキシレンなどを添加し共沸脱水すること等も可能で ある。
また、 ポリアミ ック酸をポリイミ ドに転化する更に簡便な方法として、 触媒ィ ミ ド化がある。
この場合はポリイミ ド前駆体溶液に無水酢酸と トリエチルァミ ン、 ピリジン、 イソキノリン、 イミダゾール等の三級アミンを^加し、 0 °C〜 2 5 0 °Cの任意の 温度でィミ ド化を行うことができる。
この方法は、 特に加熱を必要とせず、 脱水閉環で生成した水を取り除くための 煩雑な操作も必要としないため、 ポリアミ ック酸をポリイミ ドに転化するのには 有効な方法として知られている。 しかし、 ヒドロキシル基を含有するポリイミ ド 樹脂の場合には、 ヒドロキシル基が反応性の高い無水酢酸と反応してしまうため 、 この方法を採用することはできないという欠点があることが知られている (特 開昭 6 4— 3 3 1 3 3号公報) 。
本発明においては、 一般式 ( 1 ) 中の R 1を構成するジァミンが、 カルボキシ ル基、 スルホン酸基からなる群より選ばれた少なく とも 1種類以上の基を 1個ま たは複数個有し、 フヱノール性水酸基及ぴチオフヱノール基を有さない場合にの み、 この方法を採用できる。
また、 本発明におけるポリイミ ドの一般式 ( 1 ) 中繰り返し単位 aは 3以上 1 0 0 0 0以下の整数であり、 aが 3より小さいと、 得られる組成物より形成され る膜の機械的強度が低下し、 aが 1 0 0 0 0より大きいと、 得られる組成物の粘 度が著しく増加するため、 その使用に対し作業性が極端に低下する。
また、 本発明のポジ型感光性樹脂組成物を構成する前記の一般式 (2 ) で表さ れるカルボン酸もしくはカルボン酸誘導体はアル力リ可溶性樹脂に添加すること で、 少量からポジ型感光性樹脂のアル力リ水溶液によるエッチングをより容易に し、 感度を向上する効果がある。
本発明の一般式 (2 ) は、 式中 bと cは 0 もしくは 1以上でかつ b + c≥ 1 を 満足する整数であり、 R 3が b + 2 c価の有機基から構成されているカルボン酸 もしくはカルボン酸誘導体であれば特に限定されないが、 特に、 b及ぴ cは 1≤ b 4- c≤ 2 0であることが好ましい。
また、 本発明の一般式 (2 ) で表されるカルボン酸もしくはカルボン酸誘導体 は 1種類もしくは 2種類以上混合して用いることができる。
あえて本発明で用いられるカルボン酸の具体例を挙げれば、 安息香酸、 4 -ヒ ドロキシ安息香酸、 4 -ニトロ安息香酸、 ビフヱ二ルカルボン酸、 フタル酸、 3 —ヒ ドロキシフタル酸、 4ーヒ ドロキシフタル酸、 3—二トロフタル酸、 4—二 トロフタル酸、 3—フルオロフ夕ル酸、 4—フルオロフタル酸、 イソフタル酸、 テレフタル酸、 4, 4 '―ビフエニルジカルボン酸、 4, 4 'ービフエニルジカル ボン酸、 2, 2 —ビス (4一カルボキシフエニル) へキサフルォロプロパン、 ト リメリッ ト酸、 ピロメ リ ッ ト酸、 1, 2, 3, 4, 5, 6—ベンゼンへキサカル ボン酸など芳香族力ルポン酸が拳げられる。
また、 プロピオン酸、 吉草酸、 へキサン酸、 マロン酸、 マレイン酸、 フマル酸 、 コハク酸、 ブタンテトラカルボン酸、 1, 2—シクロブタンジカルボン酸、 1 , 2 , 3 , 4—シクロブタンテ トラカルボン酸、 1, 2 —ジメチルー 1, 2, 3 , 4ーシクロブタンテ トラカルボン酸、 1 , 2, 3, 4—テ トラメチルー 1, 2 , 3, 4ーシクロブタンテトラカルボン酸、 1, 2, 3 , 6—テトラヒ ドロフタ ル酸、 3 , 4 , 5 , 6 —テトラヒ ドロフタル酸、 1, 2—シクロペンタンジカル ボン酸、 1, 2, 3, 4—シクロペンタンテ トラカルボン酸、 1, 1—シクロべ ンタンジ酢酸、 2, 3, 5— トリカルボキシー 2—シクロペン夕ン酢酸、 1―シ クロペンテン一 1 一力ルボン酸、 1 ーシクロペンテン一 1, 2—ジカルボン酸、 シクロへキサンカルボン酸、 ビシクロへキサンカルボン酸、 1, 2—シクロへキ サンジカルボン酸、 1 , 3—シクロへキサンジカルボン酸、 1, 4ーシクロへキ サンジカルボン酸、 1, 2 , 4—シクロへキサント リカルボン酸、 1 , 2, 4, 5—シクロへキサンテトラカルボン酸、 1 , 2, 3, 4, 5 , 6—シクロへキサ ンへキサカルボン酸、 シクロへキシル酢酸、 1, 1 —シクロへキサンジ酢酸、 力 ンファン酸、 カンファー酸、 5—ノルボルネン一 2—力ルボン酸、 3, 5, 6 - ト リ力ルポキシ一 2 —ノルボルナン酢酸、 5 —ノルボルネン一 2, 3—ジカルボ ン酸、 ケトピン酸、 1ーァダマンタン力ルボン酸、 1 ―ァダマンタン酢酸、 1, 3—ァダマンタンジカルボン酸、 1, 3—ァダマンタンジ酢酸、 などの脂肪族お よび脂環族力ルポン酸等が挙げられる。
更に、 フタル酸無水物、 ピロメリッ ト酸二無水物、 3, 3 4 , 4 '一ビフヱ ニルテトラカルボン酸二無水物、 3, 3 ' , 4, 4 '一べンゾフエノンテトラカル ボン酸二無; !K物、 ビス (3, 4—ジカルボキシフエニル) エーテルニ無フ 物、 2 , 2 _ビス (3, 4ージカルポキシフエニル) へキサフルォロプロパン二無 τΚ物 、 ビス (3, 4ージカルボキシフエニル) スルホン二無水物、 トリメ リ ッ ト酸無 水物の様な芳香族テトラカルボン酸誘導体等が挙げられる。
更にまた、 マレイン酸無水物、 グルタル酸無水物、 ブタンテ トラカルボン酸二 無水物、 1, 2, 3, 4ーシクロブタンテトラカルボン酸ニ無 ^物、 1 , 2—ジ メチル一 1, 2, 3, 4ーシクロブタンテ トラカルボン酸二無水物、 1 , 2, 3 , 4ーテトラメチルー 1, 2 , 3 , 4—シクロブタンテトラカルボン酸二無 τΚ物 、 1, 2 , 3 , 6 —テトラヒ ドロフタル酸無水物、 3 , 4, 5, 6—テトラヒ ド ロフタル酸無水物、 1 , 2—シクロペンタンジカルボン酸無水物、 1, 2, 3 , 4ーシクロペンタンテ トラカルボン酸無^物、 1, 1 —シクロペンタンジ酢酸無 水物、 1 ーシクロペンテン一 1, 2—ジカルボン酸無水物、 1, 2—シクロへキ サンジカルボン酸無水物、 1, 2, 4ーシクロへキサントリカルボン酸、 1, 2 , , 5—シクロへキサンテ トラカルボン酸二無水物、 1, 2 , 3, 6—テトラ ヒドロフタル酸無水物、 3, 4, 5, 6—テトラヒドロフタル酸無水物、 1, 2 , 3, 4 , 5 , 6—シクロへキサンへキサカルボン酸三^水物、 3, 4—ジカル ボキシ一 1, 2, 3, 4ーテ トラヒ ドロ一 2 —ナフタレンコハク酸二無水物、 2 , 3, 5—トリカルボキシ一 2—シクロペンタン酢酸二無水物、 ビシクロ [ 2 . 2 . 2 ] ォク トー 7—ェンー 2, 3, 5 , 6—テ トラカルボン酸二無水物、 2, 3, 4 , 5—テ トラヒドロフランテトラ力ルボン酸二無水物、 3, 5, 6—トリ カルボキシー 2—ノルボルナン酢酸二無水物の様な脂肪族および脂環族テトラ力 ルボン酸誘導体が挙げられる。 これらの内、 感光性ポリイミ ドとして十分な感度を得るためには溶解性などの 点から、 1, 2, 3, 4ーシクロブタンテトラカルボン酸や 1, 2, 3, 4ーブ タンテトラカルボン酸、 1, 2, 3, 4ーシクロブタンテトラカルボン酸二無水 物、 1, 2 , 3 , 4 , 5, 6—シクロへキサンへキサカルボン酸三無水物などの 一般式 (2 ) 中 R 3が芳香環に直接結合しない b + 2 c個のカルボニル基よ りな る b + 2 c価の有機基で構成される力ルポ'ン酸もしくはカルボン酸誘導体が好ま しい。
上記カルボン酸もしくはカルボン酸誘導体の配合量は、 上記有機溶媒可溶性ポ リイミ ド 1 0 0重量部に対して 0 . 5〜 5 0重量部であり、 配合量が 0 . 5重量 部より少ないと、 得られる組成物の露光時の感度向上効果が見られない。 また、 5 0重量部より多いと、 現像時の未露光部の膜厚の減少が大きく、 良好なポジ型 パターンが得られない。
また、 本発明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物を構成するオルトキノンジ アジド化合物としては、 分子内にオルトキノンジアジド基を含有する化合物であ れば良く、 特に限定されない。 例えばオルトべンゾキノンジアジド化合物、 オル トナフ トキノンジァジド化合物、 オルトキノ リ ンキノンジァジド化合物などが挙 げられ、 これらはいわゆるフヱノールノポラック系ポジ型感光性組成物で用いら れるもので、 中でもオルトナフトキノンジアジド化合物を用いるのが一般的であ る。
上記ォルトキノンジァジド化合物は、 通常、 オルトキノンジァジドスルホ二ル 化合物として用いられる。
これらのオルトキノ ンジアジドスルホニル化合物は、 通常オルトキノンジアジ ドスルホニルク口ライ ドと、 フヱノール性水酸基もしくはアミノ基を有する化合 物との縮合反応によって得られる。
オルトキノンジアジドスルホニルクロライ ドを構成するオルトキノンジァジド スルホニル成分としては、 例えば、 1, 2—ナフトキノン一 2—ジアジド一 4一 スルホニル、 1, 2—ナフトキノン一 2—ジアジドー 5—スルホニル、 1, 2— ナフトキノン一 2—ジアジドー 6—スルホニルなどを挙げることができる。
また、 オルトキノンジアジドスルホニルクロライ ドと反応させる化合物として は、 例えば、 フエノール、 ハイ ドロキノン、 レゾルシノール、 カテコール、 フロ ログルシノール、 2, ' 4ージヒ ドロキシベンゾフエノ ン、 2 , 3, 4一 ト リ ヒ ド ロキシベンゾフエノン、 2, 2 ' , 4, 4 ' ーテトラヒ ド口.''キシベンゾフエノン 、 2 , 3, 4, 4 'ーテ トラヒ ドロキシベンゾフエノ ン、 2 , 2 ' , 3, 4, 4 , 一ペンタヒ ドロキシベンゾフエノン、 2, , 4 ' ージヒ ドロキシァセ トフエノ ン、 2, , 5, ージヒ ドロキシァセ トフエノ ン、 2, , 6 ' ージヒ ドロキシァセ トフエノン、 3, , 5, ージヒ ドロキシァセ トフエノ ン、 2, , 3 ' , 4, ー ト リ ヒ ドロキシァセ トフエノン、 2, , 4, , 6 ' 一 ト リ ヒ 'ドロキシァセ トフエノ ン、 2, 2—ビス (4ーヒ ドロキシフエニル) プロパン、 2, 2 —ビス (4 ーヒ ドロキシフエニル) へキサフルォロプロパン、 ビス (4ーヒ ドロキシフエニル) メタン、 ビス (4 ーヒ ドロキシフエニル) スルホン、 4, 4, ービフエ二ルジォ ール、 2, 2 —ビス (2, 3, 4— トリ ヒ ドロキシフエニル) プロパン、 4 , 4 , 一ジヒ ドロキシフエニルスルホンなどのフエノール化合物が挙げられる。
また、 ァニリ ン、 m—フエ二レンジァミ ン、 p—フエ二レンジァミ ン、 4 , 4 , ージアミノジフヱニルエーテル、 4, 4 ' ージアミノジフエニルメタンなどの 芳香族ァミンを挙げることができる。
更に、 4ーァミ ノフエノール、 3—ァミノフエノール、 1, 3—ジアミノー 4 ーヒ ドロキシベンゼン、 1 , 3—ジァミノ一 5—ヒ ドロキシベンゼン、 1, 3— ジァミノー 4, 6—ジヒ ドロキシベンゼン、 2, 2—ビス (3 —アミノー 4ーヒ ドロキシフエニル) へキサフルォロプロパンなどのアミノフエノールを挙げるこ とができる。
特に、 溶解性の点からオルトキノンジアジド化合物としては、 1, 2—ナフ ト キノンー 2—ジアジド一 4ースルホン酸エステル、 1, 2—ナフ トキノ ン一 2— ジアジドー 5—スルホン酸エステルまたは 1, 2 —ナフ トキノ ン一 2—ジアジド 一 6ースルホン酸エステルであることが好ましい。 これらの化合物は 1種類もし くは 2種類以上混合して用いても良い。
上記オルトキノンジアジド化合物の配合量は、 上記有機溶媒可溶性ポリイミ ド およぴポリイミ ド前駆体の総量 1 0 0重量部に対して 1〜 1 0 0重量部であり、 配合量が 1重量部より少ないと、 得られる組成物の露光時の感度が著しく低くな り、 パターン形成ができない。 また、 1 0 0重量部よ り多いと、 得られる組成物 より形成される膜の機械的性質、 電気的特性などが低下する。
本発明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物は、 電気 ·電子デバイスなどに用 いられる場合、 有機溶媒に溶解された溶液として用いられる。 この有機溶媒は、 ポリイミ ド、 カルボン酸もしくはカルポン酸誘導体、 オルトキノンジァジド化合 物を均一に溶解するものであれば、 特に限定されない。 その具体例としては、 例 えば、 N, N—ジメチルホルムアミ ド、 N, N—ジメチルァセ 'トアミ ド、 N—メ チルピロリ ドン、 N—ビニルピロリ ドン、 ジメチルスルホキシ ド、 m—クレゾ一 ル、 7 -ブチロラク トンなどが挙げられる。
その他、 目的に応じ本組成物の溶解性を阻害しない限りは、 他の有機溶媒を混 合して使用してもよい。 そのような有機溶媒の具体例としては、 ェチルセ口ソル ブ、 ブチルセ口ソルブ、 ェチルカルビトール、 ブチルカルビトール、 ェチルカル ビトールアセテート、 ブチルカルビトールアセテート、 エチレングリコール、 乳 酸ェチル、 乳酸ブチル、 シクロへキサノ ン、 シクロペンタノンなどが挙げられる o
本組成物を得る方法は特に限定されないが、 有機溶媒可溶性ポリイミ ドを反応 、 重合した溶液に、 カルボン酸もしくはカルボン酸誘導体、 オルトキノンジァジ ド化合物を溶解させても良く、 貧溶媒を使用して沈殿回収した有機溶媒可溶性ポ リイミ ド樹脂、 カルボン酸もしくは力ルボン酸誘導体、 オルトキノンジァジド化 合物と共に、 前記有機溶媒に溶解させてもよい。
上記のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物の有機溶媒溶液の濃度は、 ポリイミ ドとオルトキノンジァジド化合物とカルボン酸もしくはカルポン酸誘導体が有機 溶媒に均一に溶解している限りは、 特に限定されない。 加工面の容易さから、 1 〜 5 0重量0 /0の範囲が一般的である。
本発明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物は、 シリ コーンゥヱハーなどの基 材上に回転塗布した後、 5 0〜 1 3 0 °Cで予備乾燥して膜を形成することができ る。 この際、 シラン系のカップリング剤などを処理した基板を用いることはもち ろん好ましい。
上記の膜上に所定のパターンを有するマスクを装着し、 光を照射し、 アルカリ 現像液で現像することにより、 露光部が洗い出されて端面のシヤープなレリーフ パターンが得られる。
光源には超高圧水銀ランプが使用されるのが一般的であり、 光源とマスクの間 に分光フィルターを挟むことで、 i一線 (3 6 5 n m) 、 h—線 (4 0 5 n m) や g—線 (4 3 6 n m) などを分光照射することが可能であるが、 本発明のポジ 型感光性ポリイ ミ ド樹脂組成物はこれらいずれの波長の光を用いてもパターン形 成が可能である。
さらに、 マスクパターンを本発明の感光性ポリイミ ド樹脂組成物に転写する方 法はコンタク トァライナーを用いた密着露光やプロキシミティ露光、 ステツパを 用いた縮小投影露光が可能である。
現像の際使用される現像液はアル力リ水溶液であればどのようなものでもよく 、 苛性力リウム、 苛性ソ一ダなどのアルカリ金属水酸化物の水溶液、 水酸化テト ラメチルアンモニゥム、 水酸化テトラエチルアンモニゥム、 コリンなどの水酸化 四級アンモニゥムの; 7 溶液、 エタノールァミン、 プロピルァミン、 エチレンジァ ミンなどのアミン水溶液を例として挙げることができる。 さらに、 これらの現像 液に界面活性剤などを加えることもできる。
これらの現像液は 5〜 5 0 °Cで使用可能であるが、 本組成物は、 露光部の溶解 性が高く、 汎用の 2 . 3 8重量0 /0の水酸化テトラアルキルアンモニゥムを用いて 室温で容易に現像を行うことができる。
かく して得られたレリーフパターンを有する基板を 2 0 0〜4 0 0 °Cで熱処理 を行うことによ り、 耐熱性、 耐薬品性、 電気特性に優れ、 良好なレリーフパター ンを有するポリィミ ド塗膜を得ることができる。
本発明の組成物は、 高感度、 高解像度のポジ型感光特性を有し、 しかもアル力 リ水溶液によるエツチングが容易であり、 所定パタ一ンを有するマスクを用いて 露光することにより、 微細形状かつ寸法精度の高いレリーフパターンを有するポ リイミ ド樹脂塗膜を容易に得ることができる。
更に、 本発明の組成物は、 溶媒可溶性ポリイミ ドぉよぴォルトキノンジァジド 化合物のみの混合組成物に比べ現像速度の向上がなされ、 パターン形成プロセス の大幅な効率化が図れる。 本癸明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物は、 半導体素子用の層間絶縁膜、 ノヽ。ッシベーシヨン膜、 ノ ッファーコート膜、 多層プリント基板用絶縁膜などに用 いることができる。
発明を実施するための最良の形態
以下に実施例を挙げ、 本発明を更に詳しく説明するが、 本発明はこれらに限定 されるものではない。
(有機溶媒可溶性ポリィミ ドの合成)
合成例 1
1, 3—ジアミノー 5—安息香酸 (以下、 DABAと略記する) 4. 56 g、 ビス [4一 (3—アミノフエノキシ) フエニル] スルホン (以下、 BAP Sと略 記する) 30. 2 7 g、 1, 2, 3, 4ーシクロブタンテトラカルボン酸二無水 物 (以下、 CB D Aと略記する) 1 9. 22 gを N—メチルピロリ ドン (以下、 NMPと略記する) 305. 8 1 g中室温で 6時間反応した。
NMPで固形分 6. 0重量 %に希釈後、 無水酢酸、 ピリジンを加え 40 °Cで 3 時間、 脱水閉環反応を行った。 この溶液をメタノール中に投入後、 ろ別乾燥して 、 数平均分子量が 34, 000 (繰り返し単位換算で a = 62 ) のポリイミ ド粉 末を得た。
(感光性ポリィミ ド溶液の調製と感光特性の評価)
実施例 1
合成例 1で得たポリイミ ド粉末をァ一プチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 20 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂溶液 2 0 gに 1, 2, 3, 4一 ブタンテトラカルボン酸 0. 1 2 g混合し、 完全に溶解した。 この溶液に、 ナフ トキノン系ポジ型感光剤 ( 2, 3, 4, 4 '―テトラヒ ドロキシベンゾフエノン 1モルに ナして 1, 2—ナフトキノン一 2—ジアジドー 4一スルホン酸が 4モル 置換したエステル化合物) 1. 08 gを加え、 室温で 1時間攪拌後、 1. 0〃m のフィルタ一により濾過し、 本発明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物の溶液 を得た。
' この感光性ポリミ ド溶液をシリコンウェハー上にスピンコ一ターを用いて直接 塗布し、 ホッ トプレート上 8 0°Cで 3分間加熱することで膜厚 5 / mの塗膜を得 た。 この塗膜にテス トマスクを通して紫外線照射装置 (キャノン社製 P L A— 5 0 1 ) により、 紫外光 (フィルターを用いて取り出した 3 6 5 nm光) を 4 0 〜 8 0 0 m J/c m2の範囲で照射した。 露光後、 およそ 2 3 °Cのアル力リ現像 液 (東京応化社製、 NMD-3) に 1 2 0秒間浸漬することにより現像を行った 後、 純水で 2 0秒間リ ンスした。 その結果、 露光量を 4 0 Om J/c m2以上照 射した部分でパターン形成が確認された。 現像後の膜厚は約 4. 7 mであった 。 パターン解像度は、 ライン/スペースで 8 mまでパターン剥離なく形成され た。
得られたフィルムを 1 7 0 °C 6 0分間、 3 5 0 °C 3 0分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3. 6 mポリイミ ドパタ一ンを得た。
実施例 2
合成例 1で得たポリイミ ド粉末を 7—プチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 2 0 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂溶液 2 0 gに CBDA O . 1 2 g混合し、 完全に溶解した。 この溶液に、 ナフトキノン系ポジ型感光剤 (2, 3 , 4, 4 'ーテ ト ラヒ ドロキシベンゾフエノン 1モルに対して 1, 2—ナフ トキ ノン一 2—ジアジドー 4ースルホン酸が 4モル置換したエステル化合物) 1. 0 8 gを加え、 室温で 1時間攪拌後、 1. 0 /zmのフィルタ一により濾過し、 本発 明のポジ型感光性ポリィミ ド樹脂組成物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 の塗膜を得た。 その結果、 露光量を 4 0 O m J Zc m2以上照射した部分で パターン形成が確認された。 現像後の膜厚は約 5 mであった。 パターン解像度 は、 ライン /スペースで 8 mまでパターン剥離なく形成された。
得られたフィルムを 1 7 0 °C 6 0分間、 3 5 0 °C 3 0分間循環乾燥炉で加熱し 、―膜厚 3. 8 mポリイミ ドパターンを得た。
実施例 3
合成例 1で得たポリイミ ド粉末を y—プチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 2 0 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂溶液 2 0 gに CB DA O . 2 0 g混合し、 完全に溶解した。 この溶液に、 ナフトキノン系ポジ型感光剤 (2, 3 , 4, 4 'ーテ トラヒ ドロキシベンゾフエノン 1モルに対して 1 , 2 —ナフ トキ ノ ン一 2—ジアジドー 4ースルホン酸が 4モル置換したエステル化合物) 1 . 0 0 gを加え、 室温で 1時間攪拌後、 1 . 0〃 mのフィルタ一により濾過し、 本発 明のポジ型感光性ポリィミ ド樹脂組成物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 / mの塗膜を得た。 その結果、 露光量を 2 8 O m J / c m 2以上照射した部分で パターン形成が確認された。 現像後の膜厚は約 4 . 4 // mであった。 パターン解 像度は、 ライン/スペースで 8 ; mまでパターン剥離なく形成された。
得られたフィルムを 1 7 0 °C 6 0分間、 3 5 0 °C 3 0分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3 . 4 mポリイミ ドパタ一ンを得た。
実施例 4
合成例 1で得たポリイミ ド粉末を y —プチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 2 0 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリィミ ド樹脂溶液 2 0 gに 1, 2, 3, 4 一 ブタンテトラカルボン酸二無水物 0 . 2 0 g混合し、 完全に溶解した。 この溶液 に、 ナフ トキノン系ポジ型感光剤 (2, 3, 4, 4 'ーテ トラヒ ドロキシベンゾ フエノ ン 1モルに対して 1, 2—ナフ トキノン一 2—ジアジドー 4ースルホン酸 が 4モル置換したエステル化合物) 1 . 0 0 gを加え、 室温で 1時間攪拌後、 1 . 0 mのフィルタ一により濾過し、 本発明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成 物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 / mの塗膜を得た。 その結果、 露光量を 5 2 O m J Z c m 2以上照射した部分で パタ一ン形成が確認された。 現像後の膜厚は約 4 . 7 mであった。 パタ一ン解 像度は、 ライン スペースで 8 / mまでパターン剥離なく形成された。
得られたフィルムを 1 7 0 °C 6 0分間、 3 5 0 °C 3 0分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3 . 6 mポリイミ ドパタ一ンを得た。
実施例 5
合成例 1で得たポリイミ ド粉末をァープチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 2 0 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリィミ ド樹脂溶液 2 0 gに 1, 3—ジメチル - 1 , 2, 3 , 4—シクロブタンテ トラカルボン酸二無水物 0 . 2 0 g混合し、
- IS - 完全に溶解した。 この溶液に、 ナフ トキノ ン系ポジ型感光剤 (2, 3, 4, 4 ' ーテ トラヒ ドロキシベンゾフエノ ン 1モルに対して 1, 2—ナフ トキノ ン一 2— ジアジドー 4ースルホン酸が 4モル置換したエステル化合物) 1. 0 0 gを加え 、 室温で 1'時間攪拌後、 1. 0 mのフィルタ一により濾過し、 本発明のポジ型 感光性ポリイミ ド樹脂組成物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 / mの塗膜を得た。 その結果、 露光量を 4 0 0 m J /cm2以上照射した部分で パターン形成が確認された。 現像後の膜厚は約 4. 8 mであった。 パターン解 像度は、 ラインノスペースで 8 mまでパターン剥離なく形成された。
得られたフィルムを 1 70 °C 6 0分間、 3 5 0 °C 3 0分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3. 7 mポリイミ ドパタ一ンを得た。
実施例 6
合成例 1で得たポリイミ ド粉末を y—プチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 2 0 96の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂溶液 2 0 gにビシクロ [2. 2 . 2 ] ォク トー 7—ェン一 2 , 3, 5, 6—テトラカルボン酸二無水物 0. 2 0 g混合し、 完全に溶解した。 この溶液に、 ナフトキノン系ポジ型感光剤 (2, 3 , 4, 4,ーテ トラヒ ドロキシベンゾフエノン 1モルに対して 1, 2—ナフ トキ ノン一 2—ジアジドー 4ースルホン酸が 4モル置換したエステル化合物) 1. 0 O gを加え、 室温で 1時間攪拌後、 1. 0 mのフィルタ一により濾過し、 本発 明のポジ型感光性ポリィミ ド樹脂組成物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 / mの塗膜を得た。 その結果、 露光量を 4 4 0 m J /cm2以上照射した部分で パターン形成が確認された。 現像後の膜厚は約 4. 9 mであった。 パターン解 像度は、 ライン /スペースで 8 mまでパターン剥離なく形成された。
得られたフィルムを 1 7 0°C6 0分間、 3 5 0 °C 3 0分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3. 7 mポリイミ ドパタ一ンを得た。
実施例 7
合成例 1で得たポリイミ ド粉末を y—プチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 2 0 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリィミ ド樹脂溶液 2 0 gに 3, 5, 6—ト リ カルボキシー 2—ノルボルナン酢酸二無水物 0 . 2 0 g混合し、 完全に溶解した 。 この溶液に、 ナフトキノン系ポジ型感光剤 (2, 3, 4 , 4 'ーテトラヒ ドロ キシベンゾフェノ ン 1モルに ^"して 1, 2 _ナフ トキノン一 2—ジアジドー 4— スルホン酸が 4モル置換したエステル化合物) 1 . 0 0 gを加え、 室温で 1時間 攪拌後、 1 . 0 mのフィルタ一により濾過し、 本発明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 mの塗膜を得た。 その結果、 露光量を 4 4 0 m J / c m 2以上照射した部分で パタ一ン形成が確認された。 現像後の膜厚は約 4 . 9 mであった。 パターン解 像度は、 ライン/スペースで 8〃 mまでパターン剥離なく形成された。
得られたフィルムを 1 7 0 °C 6 0分間、 3 5 0 °C 3 0分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3 . 7 mポリイミ ドパターンを得た。
実施例 8
合成例 1で得たポリイミ ド粉末を y—プチロラク ト ンに溶解させ樹脂濃度 2 0 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリィミ ド樹脂溶液 2 0 gにピロメリ ッ ト酸ニ 無水物 0 . 2 0 g混合し、 完全に溶解した。 この溶液に、 ナフトキノン系ポジ型 感光剤 ( 2, 3, 4, 4 'ーテ トラヒ ドロキシベンゾフヱノ ン 1モルに対して 1 , 2—ナフ トキノ ン一 2—ジアジドー 4ースルホン酸が 4モル置換したエステル 化合物) 1 . 0 0 gを加え、 室温で 1時間攪拌後、 1 . 0 mのフィルタ一によ り濾過し、 本発明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 mの塗膜を得た。 その結果、 露光量を 3 2 0 m J / c m 2以上照射した部分で パターン形成が確認された。 現像後の膜厚は約 4 . 5 mであった。 パターン解 像度は、 ライン /スペースで 8〃mまでパターン剥離なく形成された。
得られたフィルムを 1 7 0 °C 6 0分間、 3 5 0 °C 3 0分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3 . 5 mポリイミ ドパターンを得た。
実施例 9
合成例 1で得たポリイミ ド粉末を y—プチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 2 0 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂溶液 2 0 gに 1, 2, 3 , 4, 5, 6—シクロへキサンテトラカルボン酸三無水物 0. 2 0 g混合し、 完全に溶 解した。 この溶液に、 ナフ トキノン系ポジ型感光剤 (2, 3, 4 , 4 'ーテトラ ヒ ドロキシベンゾフェノン 1モルに ¾ "して 1 , 2—ナフ トキノン一 2—ジアジド 一 4ースルホン酸が 4モル置換したエステル化合物) 1. 00 gを加え、 室温で 1時間攪拌後、 1. 0 / mのフィルタ—により濾過し、 本発明のポジ型感光性ポ リイミ ド樹脂組成物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 Z^mの塗膜を得た。 その結果、 露光量を 3 2 0 m JZcm2以上照射した部分で パターン形成が確認された。 現像後の膜厚は約 4. 8 / mであった。 パターン解 像度は、 ライン Zスペースで 8 mまでパターン剥離なく形成された。
得られたフィルムを 1 70 °C 6 0分間、 3 50 °C 30分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3. 7 mポリイミ ドパターンを得た。
比較例 1
合成例 1で得たポリィミ ド粉末をァープチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 2 0 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂溶液 2 0 gに、 ナフトキノン系 ポジ型感光剤 (2, 3, 4, 4 'ーテトラヒ ドロキシベンゾフエノン 1モルに対 して 1, 2〜ナフトキノン一 2—ジアジド一 4ースルホン酸が 3モル置換したェ ステル化合物) 1. 20 gを加え、 室温で 1時間攪拌後、 1. 0 mのフィルタ 一により濾過し、 本発明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物の溶液を得た。 調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 « mの塗膜を得た。 その結果、 パターン形成が確認されたのは露光量を 64 0 m J/cm2以上照射した部分であった。 現像後の膜厚は約 4. 9 ^ mであった。 パターン解像度は、 ライン/スペースで 1 0 mまでパターン剥離なく形成され た。
得られたフィルムを 1 70 °C 6 0分間、 3 50 °C 30分間循環乾燥炉で加熱し 、 胰厚 3. 8 / mポリイミ ドパターンを得た。
比軟例 2 .
合成例 1で得たポリイミ ド粉末をァ—プチ口ラタ トンに溶解させ樹脂濃度 20 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂溶液 2 0 gに 2, 2 ', 4, 4, ーテトラヒ ドロキシベンゾフエノン (以下 THBPと略記する) 0. 1 2 g混合 し、 完全に溶解した。 この溶液に、 ナフトキノ ン系ポジ型感光剤 (2, 3, 4, 4 'ーテ トラヒ ドロキシベンゾフエノン 1モルに対して 1, 2—ナフ トキノ ン一 2—ジアジドー 4ースルホン酸が 4モル置換したエステル化合物) 1. 0 8 gを 加え、 室温で 1時間攪拌後、 1. 0 mのフィルタ一により濾過し、 本発明のポ ジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 /^ mの塗膜を得た。 その結果、 パターン形成が確認されたのは露光量を 6 3 0 m JZcm2以上照射した部分であった。 現像後の膜厚は約 4. 9 mであった。 パターン解像度は、 ラインノスペースで 1 0 mまでパターン剥離なく形成され た。
得られたフィルムを 1 70 °C 6 0分間、 3 50 °C 30分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3. 8 mポリイミ ドパタ一ンを得た。
比較例 3
合成例 1で得たポリイミ ド粉末をァープチロラク トンに溶解させ樹脂濃度 2 0 %の溶液とした。 この溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂溶液 20 gに THB P 0. 2 0 g混合し、 完全に溶解した。 この溶液に、 ナフ トキノン系ポジ型感光剤 (2, 3 , 4, 4 'ーテト ラヒ ドロキシベンゾフエノン 1モルに対して 1 , 2—ナフ トキ ノン一 2—ジアジドー 4—スルホン酸が 4モル置換したエステル化合物) 1. 0 0 gを加え、 室温で 1時間攪拌後、 1. 0 mのフィルタ一により濾過し、 本発 明のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物の溶液を得た。
調製したポジ型感光性樹脂組成物ワニスを用いて、 実施例 1に準拠して膜厚 5 / mの塗膜を得た。 その結果、 露光量を 6 80 m J /c m2以上照射した部分で パターン形成が確認された。 現像後の腠厚は約 4. 8 / mであった。 パターン解 像度は、 ラインズスペースで 8〃 mまでパターン剥離なく形成された。 - . 得られたフィルムを 1 70 °C 6 0分間、 3 50 °C 30分間循環乾燥炉で加熱し 、 膜厚 3. 7 mポリイミ ドパターンを得た。 産業上の利用可能性 溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂と感光性ォルトキノンジァジド化合物からなる感光 性ポリィミ ドにカルボン酸もしくはカルボン酸誘導体を添加することによ り、 厚 膜時でも高残膜率を維持しながら優れた感度を示すポジ型感光性ポリィミ ド樹脂 組成物を得ることができる。

Claims

請求の範囲
1. 一般式 ( 1 )
Figure imgf000026_0001
(式中繰り返し単位 aは 3以上 1 0 0 0 0以下の整数であり、 一般式中 R 1の 1 〜 1 0 0モル 96がフヱノール性水酸基、 カルボキシル基、 チオフヱノール基、 ス ルホン酸基からなる群より選ばれた少なく とも一種以上の基を 1個または複数個 有する 2価の有機基であり、 9 9〜 0モル%がフヱノール性水酸基、 カルボキシ ル基、 チオフヱノール基、 スルホン酸基を有さない 2価の有機基であり、 R2は 4価の有機基である。 )
で表される繰り返し単位を有する溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂および一般式 (2)
(2)
Figure imgf000026_0002
で表された少なく とも一つの力ルボン酸もしくはカルボン酸誘導体
(ただし式中 bと cは 0もしくは 1以上でかつ b + c≥ 1 を満足する整数であり 、 R3は (b + 2 c) 価の有機基である。 )
を含有し、 かつ感光性オルトキノンジアジド化合物を含有することを特徴とする ポジ型感光性ポリィミ ド樹脂組成物。
2. 式 (2) で表されるカルボン酸もしくはカルボン酸誘導体が一般式 ( 1 ) で表される繰り返し単位 1 0 0重量部に対し 0. 5〜 5 0重量部を含有すること を特徴とする請求項 1記載のポジ型感光性ポリイミ ド樹脂組成物。
3. 感光性オルトキノンジアジド化合物を一般式 ( 1 ) で表される繰り返し単 位を有する溶媒可溶性ポリィミ ド樹脂 1 0 0重量部に対し 1〜 1 0 0重量部を含 有することを特徴とする請求項 1又は 2に記載のポジ型感光性ポリィミ ド樹脂組 成物。
4 . 一般式 ( 1 ) で表される繰り返し単位を有する溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂 において、 R 2が芳香環に直接結合しない 4個のカルボニル基よりなるテトラ力 ルボン酸及びその誘導体を構成する 4価の有機基であることを特徴とする請求項 1乃至 3のいずれかの請求項に記載のポジ型感光性ポリィミ ド樹脂組成物。
5 . 一般式 ( 1 ) で表される繰り返し単位を有する溶媒可溶性ポリイミ ド樹脂 において、 R 2がシクロブタン残基であることを特徴とする請求項 4記載のポジ 型感光性樹脂組成物。
6 . 一般式 (2 ) からなるカルボン酸もしくはカルボン酸誘導体において、 R 3が芳香環に直接結合しない b + 2 c個のカルポニル基よりなる b + 2 c価の有 機基であることを特徴とする請求項 1乃至 5記載のいずれかの請求項に記載のポ ジ型感光性ポリィミ ド樹脂組成物。
7 . 感光性オルトキノンジアジドが 1, 2—ナフ トキノンジアジド _ 4ースル ホン酸エステル、 1, 2 —ナフ トキノンジアジドー 5—スルホン酸エステルまた は 1 , 2 —ナフ トキノンジアジドー 6 —スルホン酸エステルの中から選ばれた少 なく とも 1種の化合物であることを特徴とする請求項 1乃至 6記載のいずれかの 請求項に記載のポジ型感光性樹脂組成物。
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