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WO1999028839A1 - Method and device for computer assisted determination of an area of oscillation in an electric circuit - Google Patents

Method and device for computer assisted determination of an area of oscillation in an electric circuit Download PDF

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Publication number
WO1999028839A1
WO1999028839A1 PCT/EP1998/005600 EP9805600W WO9928839A1 WO 1999028839 A1 WO1999028839 A1 WO 1999028839A1 EP 9805600 W EP9805600 W EP 9805600W WO 9928839 A1 WO9928839 A1 WO 9928839A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
instance
circuit
carried out
analysis
instances
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
PCT/EP1998/005600
Other languages
German (de)
French (fr)
Inventor
Jürgen Peter
Rolf Neubert
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Siemens AG
Siemens Corp
Original Assignee
Siemens AG
Siemens Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to US09/555,204 priority Critical patent/US6320471B1/en
Application filed by Siemens AG, Siemens Corp filed Critical Siemens AG
Priority to DE59802274T priority patent/DE59802274D1/en
Priority to EP98951347A priority patent/EP1034494B1/en
Publication of WO1999028839A1 publication Critical patent/WO1999028839A1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Ceased legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/36Circuit design at the analogue level
    • G06F30/367Design verification, e.g. using simulation, simulation program with integrated circuit emphasis [SPICE], direct methods or relaxation methods

Definitions

  • the invention relates to the determination of an oscillation range of an electrical circuit.
  • an oscillator In an integrated digital semiconductor circuit, an oscillator is occasionally used to generate the internal work cycle.
  • An oscillator in the context of this document can in particular be a quartz oscillator or also a ceramic oscillator.
  • the following requirements are placed on an oscillator circuit which has at least one oscillator: 1.
  • the oscillator circuit should oscillate safely within a certain time and the oscillation must not suddenly stop again. 2.
  • the frequency of the oscillator circuit should only change within a predefinable range.
  • the current flowing through the oscillator must not exceed a specifiable value in order to avoid destruction or undesired changes in the behavior of the oscillator.
  • the other components cannot always be integrated into the semiconductor circuit.
  • the correct dimensioning of the additional components is a considerable problem. It is therefore necessary to determine on the one hand whether an oscillator circuit can oscillate at all and on the other hand to determine a dimensioning of the other components with which a safe start is guaranteed.
  • the circuits In order to determine a favorable dimensioning of the other components, the circuits have to be constructed with the different component values and the measurements have to be checked.
  • the component values and the information as to whether the circuit oscillates with the respective dimensions of the further components or not are recorded in a matrix from which the most favorable dimensions for the further components are determined.
  • a method for analyzing the stability of an electrical circuit is known from [1].
  • a Hopf bifurcation point is a point on a DC characteristic curve at which there is a change in the examined electrical circuit with regard to its stability behavior, i.e. the point at which the circuit changes from a stable steady state to an oscillating state.
  • [5] discloses a method for computer-aided iterative determination of the transient response of a quartz oscillator circuit.
  • a dynamic equilibrium state is alternately determined on a current source substituting the quartz oscillator circuit for a determined, predeterminable operating point and a transient analysis is carried out.
  • the transient analysis is carried out for the circuit with a back-substituted quartz oscillator circuit.
  • tracking methods from [4] are known with which further periodic solutions for describing the circuit can be determined from a periodic description of the state, in order to thus determine a periodic solution of the circuit at a predefinable operating point.
  • the tracking procedures are also referred to as the predictor-corrector procedure.
  • a method for designing oscillators with minimized noise is known from [8]. In this method, a linear subnetwork, which contains, for example, geometric data of the layout, values of passive electronic components
  • the invention is based on the problem of specifying, with the aid of computers, an oscillation region of an electrical circuit which has at least one quartz oscillator and further components which are connected to the quartz oscillator, the disadvantages of the prior art described above being avoided.
  • the following steps are carried out iteratively, varying the wiring parameters of the further components, for each instance of the wiring parameters: a stability analysis of the circuit is carried out for the respective instance,
  • a first value is assigned to the instance in a matrix, the first value indicating that the instance of the circuit is oscillating. All are examined in the matrix
  • the in- punch assigned a second value in the matrix, the second value indicating that the instance does not start,
  • the start-up range results from the instances to which the first value in the matrix has been assigned.
  • the device has a processor unit which is set up in such a way that the following steps are carried out iteratively, varying the wiring parameters of the further components, for each instance of the wiring parameters.
  • a stability analysis of the circuit is carried out for the respective instance. If it is determined for the instance of the circuit that the instance of the circuit is oscillating, a first value is assigned to the instance in a matrix, the first value indicating that the instance is oscillating. All examined instances are stored in the matrix. If it is determined for the instance of the circuit that it does not oscillate, a second value is assigned to the instance in the matrix, the second value indicating that the instance of the circuit does not oscillate. The start-up range results from the instances to which the first value in the matrix has been assigned.
  • An instance is to be understood as the oscillator circuit with certain dimensions of the further components and / or certain temperature conditions, operating conditions and / or certain tolerances of the further components.
  • the invention provides for the first time a very simple, automated determination of an oscillation range for an oscillator circuit. It is also possible with the invention to take into account components of different quality with different tolerance values. Extreme operating conditions can also be taken into account in the circuit simulation according to the invention. Advantageous developments of the invention result from the dependent claims.
  • the oscillator can be a quartz oscillator or a ceramic oscillator.
  • the other components can be electrical resistors, capacitors, inductors, amplifier components, etc.
  • the stability analysis of the electrical circuit can be carried out using different methods. It has proven to be advantageous to carry out the stability analysis by determining a Hopf bifurcation point for the respective instance. This is an extremely simple and therefore computing time-saving way of stability analysis.
  • the vibration state or dynamic equilibrium of the instance can be calculated at a predefinable operating point using one of the methods described in [2], [3], [4].
  • This further development also examines for the instance whether the circuit continues to oscillate at the specified operating point. This ensures that the circuit can continue to oscillate safely for the respective instance.
  • FIG. 1 shows a 2-dimensional matrix in which the start-up range of an electrical circuit is shown for different dimensions of two capacitors;
  • FIG. 2 shows a sketch of an electrical circuit for which the matrix in FIG. 1 was determined;
  • Figure 3 is a bifurcation diagram of an oscillator circuit.
  • an oscillator Q is shown, which is connected to a first terminal 201 on the one hand with a supply voltage VQ and on the other hand with a first capacitance C ⁇ .
  • the first capacitance C ⁇ is also connected to ground and to a second capacitance C ⁇ 2.
  • the second capacitance C ⁇ 2 is connected via a second connection 202 to the oscillator Q and an electrical resistor R ⁇ 2.
  • the second resistor R ⁇ 2 is connected via a third connection 203 to an output of an inverter 204 and a ballast resistance bias, both of which in turn are connected to the supply voltage via the first connection 201.
  • the oscillation range with the associated dimensions (instances) of the further components is to be determined for the oscillator circuit 200.
  • the following iterative method is carried out for different instances of the oscillator circuit 200.
  • an instance ie a dimensioning or a definition of the further components and the framework conditions (operating conditions, tolerances of the components) is specified.
  • the method is shown on the basis of a predetermined electrical resistance R 2 and predetermined boundary conditions, i.e. the first capacitance C] _ and the second capacitance C ⁇ 2 are each varied in a predeterminable dimensioning interval, which is in each case in a column of a table shown in FIG. 1 for the second capacitance C ⁇ 2 in picofarads (pF) and in one first line for the first capacitance C ⁇ is shown in pF.
  • a stability analysis of the oscillator circuit 200 is carried out for each instance.
  • a Hopf bifurcation point 301 is a point of an electrical circuit at which the electrical circuits see from a stable to an unstable, i.e. vibrating state passes.
  • the Hopf bifurcation point 301 is determined in accordance with one of the methods described in [2], [3], or [4].
  • the Hopf bifurcation point HP is described by a triple, which has an eigenvalue ⁇ g, the imaginary part of which is also referred to as the natural frequency of the circuit, a rest position yg of the Hopf bifurcation point HP and an eigenvector V Q.
  • the Hopf bifurcation point HP is given, for example, by the following triple:
  • the ⁇ o is the system parameter ⁇ for which the Hopf bifurcation point HP is obtained for the circuit.
  • bifurcation planes ⁇ are determined in a further step.
  • the eigenvalue ⁇ ( ⁇ ) and the eigenvector v ( ⁇ ) are determined for the system parameter ⁇ and the corresponding solution y ( ⁇ ) in an environment of the Hopf bifurcation point HP using the corresponding system parameter ⁇ o.
  • the Hopf bifurcation point HP results for the special system parameter ⁇ o.
  • One way of forming the bifurcation planes ⁇ is to use the eigenvectors v ( ⁇ ) to move through the real parts Re ⁇ v ( ⁇ ) ⁇ or the imaginary parts Im ⁇ v ( ⁇ ) ⁇ in the complex space C.
  • Eigenvectors v ( ⁇ ) span the bifurcation planes ⁇ .
  • a bifurcation level ⁇ results according to the following rule:
  • the IT bifurcation level group is based on the following rule:
  • a factor c is any complex number.
  • the bifurcation plane ⁇ is two-dimensional, when using complex numbers C, the bifurcation plane ⁇ is one-dimensional.
  • the bifurcation level ⁇ By using the bifurcation level ⁇ and thus a transformation of the entire possible state space, in a complex technical system, which is described by a higher number of differential algebraic equations, from a very high-dimensional state space to determine the periodic state description to a lower-dimensional space of a level , the bifurcation level ⁇ , the determination of the periodic state description is possible.
  • the factor c p is chosen such that CpV ( ⁇ ) gives the point P.
  • T is the time at which the technical system is described.
  • x can be viewed as a flow rate of a mechanical dynamic system.
  • An energy function E (t) can be determined from the power function P (t) by integrating the power function P (t) over a period of the respective oscillation:
  • a balanced energy function E (t) is a property of a periodic solution of a circuit. This property can also be used to determine a point with which it is possible to estimate a good periodic state description of the circuit.
  • the point is determined by determining the energy function E ( ⁇ ) for a point of the curve along the curve m freely definable interval steps. Since it can be shown that a zero of the real part of the energy function Re ⁇ E ( ⁇ ) ⁇ on the respective evaluated
  • any method for one-dimensional zero point analysis which is also referred to as a derivative-free zero point method, can be used.
  • the curve is a semi-open, circular curve around the Hopf bifurcation point.
  • the periodic state description x (t) belonging to the point is determined on the curve.
  • a periodic solution of the circuit is determined for the periodic state description x (t), e.g. using the procedure described in document [6].
  • the periodic description of the state x (t) of the circuit is the periodic solution of the circuit for the system parameter ⁇ .
  • the periodic status description is used as a starting solution for the determination of further periodic solutions, starting from the starting solution, that is, the periodic status description.
  • the method of harmonic balance can be used, for example, as a method for determining the periodic solution for a system parameter ⁇ .
  • the result of an iteration is therefore whether the instance of the oscillator circuit 200 is oscillating or not.
  • a second binary value 101 is inserted in the matrix 100 in each case in the field, which is clearly determined by the dimensions of the capacitances C ⁇ _, C ⁇ 2.
  • a first binary value 102 is assigned to the corresponding field m of the matrix 100.
  • a set of instances is selected for which the entire transient response of the quartz oscillator circuit is determined.
  • a method for determining the transient response of a quartz oscillator is carried out in accordance with the method described in [3].
  • a step-like procedure Starting from the first instance, which does not oscillate, a step-like procedure, the path of which is represented by an arrow 107 or 108 in the matrix 100, performed along the edge region of stable and unstable instances.
  • This procedure corresponds to a scanning of the edge area, so that it is not necessary to check a large partial area m of the entire matrix 100.
  • the dimensional act of the matrix 100 is arbitrary. Accordingly, the other components are basically arbitrary and, as described above, a wide variety of parameters can be taken into account in the circuit simulation.
  • the computer 400 has a memory 401, a processor unit 402, which is connected to the memory via a bus 403
  • the processor unit 401 is connected to.
  • the memory 401 is a description of the oscillator circuit 200 in a circuit description language, e.g. SPICE saved.
  • a screen 404 is provided for displaying the results, and a keyboard 405 and a mouse 406 for giving information to the computer 400.

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Abstract

The electric circuit has an oscillator and other components which are connected to the oscillator. The following steps are carried out in an iterative method whereby the protective circuit parameters of the other components are varied for one entity of said circuit parameters: a circuit stability analysis is carried out for the respective entity and a first value is allocated to said entity in a matrix (100) where all examined entities are stored if the circuit begins to oscillate. If not, a second value is allocated to the entity in the matrix.

Description

Beschreibungdescription

Verfahren und Vorrichtung zur rechnergestutzten Ermittlung eines Anschwingbereichs einer elektrischen SchaltungMethod and device for the computer-aided determination of an oscillation range of an electrical circuit

Die Erfindung betrifft die Ermittlung eines Anschwingbereichs einer elektrischen Schaltung.The invention relates to the determination of an oscillation range of an electrical circuit.

In einer integrierten digitalen Halbleiterschaltung wird ge- legentlich zur Erzeugung des internen Arbeitstakts ein Oszillator verwendet. Ein Oszillator im Rahmen dieses Dokuments kann insbesondere ein Quarzoszillator oder auch ein Kerami- koszillator sein.In an integrated digital semiconductor circuit, an oscillator is occasionally used to generate the internal work cycle. An oscillator in the context of this document can in particular be a quartz oscillator or also a ceramic oscillator.

An eine Oszillatorschaltung, die mindestens einen Oszillator aufweist, werden folgende Anforderungen gestellt: 1. Die Oszillatorschaltung soll innerhalb einer bestimmten Zeit sicher anschwingen und die Schwingung darf nicht plötzlich wieder abbrechen. 2. Die Frequenz der Oszillatorschaltung soll sich nur innerhalb eines vorgebbaren Bereichs andern.The following requirements are placed on an oscillator circuit which has at least one oscillator: 1. The oscillator circuit should oscillate safely within a certain time and the oscillation must not suddenly stop again. 2. The frequency of the oscillator circuit should only change within a predefinable range.

3. Der durch den Oszillator fließende Strom darf einen vorgebbaren Wert nicht überschreiten, um Zerstörungen oder unge- wunschte Änderungen im Verhalten des Ozillators zu vermeiden.3. The current flowing through the oscillator must not exceed a specifiable value in order to avoid destruction or undesired changes in the behavior of the oscillator.

Um diese Anforderungen zu gewährleisten ist es bekannt, in einer Oszillatorschaltung weitere Bauelemente zusätzlich zu dem Oszillator vorzusehen. Mögliche weitere Bauelemente sind beispielsweise elektrische Widerstände, elektrische Kapazita- ten, elektrische Induktivitäten, Verstarkerbausteme, etc.In order to ensure these requirements, it is known to provide additional components in addition to the oscillator in an oscillator circuit. Possible further components are, for example, electrical resistors, electrical capacitors, electrical inductors, amplifier systems, etc.

Die weiteren Bauelemente können nicht immer in die Halbleiterschaltung integriert werden. Ein erhebliches Problem stellt die korrekte Dimensionierung der zusatzlichen Bauele- ente dar. Es gilt also, zum einen zu ermitteln, ob eine Oszillatorschaltung überhaupt anschwingen kann, und zum anderen eine Dimensionierung der weiteren Bauelemente zu ermitteln, mit der ein sicheres Anschwingen gewährleistet wird.The other components cannot always be integrated into the semiconductor circuit. The correct dimensioning of the additional components is a considerable problem. It is therefore necessary to determine on the one hand whether an oscillator circuit can oscillate at all and on the other hand to determine a dimensioning of the other components with which a safe start is guaranteed.

Es ist bekannt, dieses Problem ausschließlich auf eßtechni- schem Wege zu lösen. Dazu wird eine integrierte Schaltung mit dem Oszillator und den erforderlichen weiteren Bauelementen aufgebaut. Die Schaltung wird daraufhin meßtechnisch überprüft, ob sie das gewünschte Verhalten bezüglich Anschwingsicherheit, Frequenzkonstanz und maximaler Strombelastung des Oszillators erfüllt.It is known that this problem can only be solved by technical means. For this purpose, an integrated circuit with the oscillator and the necessary additional components is built. The circuit is then checked by measurement technology to determine whether it fulfills the desired behavior with regard to start-up safety, frequency constancy and maximum current load of the oscillator.

Um eine günstige Dimensionierung der weiteren Bauelemente zu ermitteln, müssen die Schaltungen jeweils mit den unterschiedlichen Bauelementewerten aufgebaut und die Messungen jeweils überprüft werden. Die Bauelementewerte und die Information, ob die Schaltung mit den jeweiligen Dimensionierungen der weiteren Bauelemente anschwingt oder nicht, werden bei dem bekannten Verfahren in einer Matrix festgehalten, aus der die günstigsten Dimensionierungen für die weiteren Bauelemen- te ermittelt werden.In order to determine a favorable dimensioning of the other components, the circuits have to be constructed with the different component values and the measurements have to be checked. In the known method, the component values and the information as to whether the circuit oscillates with the respective dimensions of the further components or not are recorded in a matrix from which the most favorable dimensions for the further components are determined.

Diese Vorgehensweise birgt erhebliche Nachteile in sich:This procedure has considerable disadvantages:

1. Das bekannte Verfahren ist zeitaufwendig, da der Austausch der zu variierenden Bauelemente und die entsprechenden Mes- sungen nicht automatisierbar sind.1. The known method is time-consuming since the replacement of the components to be varied and the corresponding measurements cannot be automated.

2. Die Meßergebnisse sind ungenau, da Fertigungstoleranzen bei der Herstellung der integrierten Schaltungen oder beim Oszillator nicht berücksichtigt werden können. Somit ist eine Berücksichtigung der Ergebnisse hinsichtlich der unterschied- liehen Qualität der Bauelemente nicht möglich.2. The measurement results are inaccurate because manufacturing tolerances cannot be taken into account when manufacturing the integrated circuits or with the oscillator. It is therefore not possible to take the results into account with regard to the different quality of the components.

3. Es ist nur unter sehr aufwendigen und kostenintensiven Bemühungen überhaupt möglich, unterschiedliche Betriebsbedingungen wie beispielsweise sehr hohe oder sehr niedrige Temperatur, unter der die elektrische Schaltung arbeiten muß, her- zustellen. Dies führt zu einer sehr ungenauen und aufwendigen Ermittlung der Bauelementewerte und nur zu unzuverlässigen Aussagen hinsichtlich der Anschwingsicherheit für eine vorgegebene Dimensionierung der weiteren Bauelemente.3. It is only possible with very complex and cost-intensive efforts to produce different operating conditions such as, for example, very high or very low temperature at which the electrical circuit must operate. This leads to a very inaccurate and complex determination of the component values and only to unreliable statements regarding the start-up safety for a given dimensioning of the other components.

Aus [1] ist ein Verfahren zur Stabilitätsanalyse einer elektrischen Schaltung bekannt.A method for analyzing the stability of an electrical circuit is known from [1].

In [2], [3], [4] sind Verfahren zur Bestimmung eines Hopf- Bifurkations-Punktes beschrieben. Ein Hopf-Bifurkations-Punkt ist ein Punkt auf einer DC-Kennlinie, an dem eine Änderung der untersuchten elektrischen Schaltung hinsichtlich ihres Stabilitätsverhaltens stattfindet, d.h. der Punkt, an dem die Schaltung von einem stabilen stationären Zustand in einen schwingenden Zustand wechselt.Methods for determining a Hopf bifurcation point are described in [2], [3], [4]. A Hopf bifurcation point is a point on a DC characteristic curve at which there is a change in the examined electrical circuit with regard to its stability behavior, i.e. the point at which the circuit changes from a stable steady state to an oscillating state.

Aus [5] ist ein Verfahren zur rechnergestützten iterativen Bestimmung des Einschwingverhaltens einer Quarzoszillatorschaltung bekannt. Dabei wird auf eine die Quarzoszillator- Schaltung substituierende Stromquelle für einen ermittelten, vorgebbaren Arbeitspunkt abwechselnd ein dynamischer Gleichgewichtszustand ermittelt und eine Transientenanalyse durchgeführt. Die Transientenanalyse erfolgt für die Schaltung mit rücksubstituierter QuarzoszillatorSchaltung.[5] discloses a method for computer-aided iterative determination of the transient response of a quartz oscillator circuit. In this case, a dynamic equilibrium state is alternately determined on a current source substituting the quartz oscillator circuit for a determined, predeterminable operating point and a transient analysis is carried out. The transient analysis is carried out for the circuit with a back-substituted quartz oscillator circuit.

Weiterhin ist es aus [6] bekannt, ausgehend von einer qualitativ hochwertigen Startlösung eine periodische Zustandsbe- schreibung des technischen Systems zu ermitteln.Furthermore, it is known from [6] to determine a periodic description of the state of the technical system based on a high-quality starting solution.

Ferner sind sog. Verfolgungsverfahren aus [4] bekannt, mit denen aus einer periodischen Zustandsbeschreibung weitere periodische Lösungen zur Beschreibung der Schaltung ermittelt werden können, um somit eine periodische Lösung der Schaltung in einem vorgebbaren Arbeitspunkt zu ermitteln. Die Verfol- gungsverfahren werden auch als Prädiktor-Korrektor-Verfahren bezeichnet . Aus [8] ist ein Verfahren zum Entwurf von Oszillatoren mit minimiertem Rauschen bekannt. Bei diesem Verfahren wird ein lineares Teilnetzwerk, welches z.B. geometrische Daten des Layouts, Werte von passiven elektronischen BauteilenFurthermore, so-called tracking methods from [4] are known with which further periodic solutions for describing the circuit can be determined from a periodic description of the state, in order to thus determine a periodic solution of the circuit at a predefinable operating point. The tracking procedures are also referred to as the predictor-corrector procedure. A method for designing oscillators with minimized noise is known from [8]. In this method, a linear subnetwork, which contains, for example, geometric data of the layout, values of passive electronic components

(Kondensatoren, Induktivitäten, Widerstände) oder Parameter eines aktiven Elements des Oszillators (z.B. Parameter des Transistors) enthält, derart berechnet, daß das Phasenrauschen minimal wird. Dazu wird das Signal- und Rauschverhalten des Oszillators durch Diffentialgleichungen beschrieben. Unter der Nebenbedingung, daß die Diffentialgleichungen für das Signalverhalten erfüllt werden, wird ein Einseitenbandphasen- rauschen des Oszillators mit direkten Methoden der optimalen Steuerung optimiert.(Capacitors, inductors, resistors) or parameters of an active element of the oscillator (e.g. parameters of the transistor), calculated in such a way that the phase noise becomes minimal. For this purpose, the signal and noise behavior of the oscillator is described by differential equations. On the condition that the differential equations for the signal behavior are fulfilled, one-sideband phase noise of the oscillator is optimized with direct methods of optimal control.

Der Erfindung liegt das Problem zugrunde, rechnergestützt einen Anschwingbereich einer elektrischen Schaltung, die mindestens einen Quarzoszillator und weitere Bauelemente aufweist, die mit dem Quarzoszillator verbunden sind, anzugeben, wobei die oben beschriebenen Nachteile des Standes der Technik vermieden werden.The invention is based on the problem of specifying, with the aid of computers, an oscillation region of an electrical circuit which has at least one quartz oscillator and further components which are connected to the quartz oscillator, the disadvantages of the prior art described above being avoided.

Das Problem wird durch das Verfahren gemäß Patentanspruch 1 sowie durch die Vorrichtung gemäß Patentanspruch 6 gelöst.The problem is solved by the method according to claim 1 and by the device according to claim 6.

Bei dem Verfahren werden iterativ unter Variation von Beschaltungsparametem der weiteren Bauelemente jeweils für eine Instanz der Beschaltungsparameter folgende Schritte durchgeführt: - es wird für die jeweilige Instanz eine Stabilitätsanalyse der Schaltung durchgeführt,In the method, the following steps are carried out iteratively, varying the wiring parameters of the further components, for each instance of the wiring parameters: a stability analysis of the circuit is carried out for the respective instance,

- wird für die Instanz ermittelt, daß sie anschwingt, so wird der Instanz in einer Matrix ein erster Wert zugeordnet, wobei mit dem ersten Wert angegeben wird, daß die Instanz der Schaltung anschwingt. In der Matrix sind alle untersuchten- If the instance is determined to be oscillating, a first value is assigned to the instance in a matrix, the first value indicating that the instance of the circuit is oscillating. All are examined in the matrix

Instanzen gespeichert. Wird für die Instanz der Schaltung ermittelt, daß die Instanz nicht anschwingt, so wird der In- stanz in der Matrix ein zweiter Wert zugeordnet, wobei mit dem zweiten Wert angegeben wird, daß die Instanz nicht anschwingt,Instances saved. If it is determined for the instance of the circuit that the instance does not oscillate, the in- punch assigned a second value in the matrix, the second value indicating that the instance does not start,

- der Anschwingbereich ergibt sich aus den Instanzen, denen der erste Wert in der Matrix zugeordnet wurde.- The start-up range results from the instances to which the first value in the matrix has been assigned.

Die Vorrichtung weist eine Prozessoreinheit auf, die derart eingerichtet ist, daß iterativ unter Variation von Beschaltungsparametem der weiteren Bauelemente jeweils für eine In- stanz der Beschaltungsparameter folgende Schritte durchgeführt werden. Es wird für die jeweilige Instanz eine Stabilitätsanalyse der Schaltung durchgeführt. Wird für die Instanz der Schaltung ermittelt, daß die Instanz der Schaltung anschwingt, so wird der Instanz in einer Matrix ein erster Wert zugeordnet, wobei mit dem ersten Wert angegeben wird, daß die Instanz anschwingt. In der Matrix sind alle untersuchten Instanzen gespeichert. Wird für die Instanz der Schaltung ermittelt, daß sie nicht anschwingt, so wird der Instanz in der Matrix ein zweiter Wert zugeordnet, wobei mit dem zweiten Wert angegeben wird, daß die Instanz der Schaltung nicht anschwingt. Der Anschwingbereich ergibt sich aus den Instanzen, denen der erste Wert in der Matrix zugeordnet wurde.The device has a processor unit which is set up in such a way that the following steps are carried out iteratively, varying the wiring parameters of the further components, for each instance of the wiring parameters. A stability analysis of the circuit is carried out for the respective instance. If it is determined for the instance of the circuit that the instance of the circuit is oscillating, a first value is assigned to the instance in a matrix, the first value indicating that the instance is oscillating. All examined instances are stored in the matrix. If it is determined for the instance of the circuit that it does not oscillate, a second value is assigned to the instance in the matrix, the second value indicating that the instance of the circuit does not oscillate. The start-up range results from the instances to which the first value in the matrix has been assigned.

Unter einer Instanz ist jeweils die Oszillatorschaltung mit bestimmten Dimensionierungen der weiteren Bauelemente und/oder bestimmten Temperaturbedingungen, Betriebsbedingungen und/oder bestimmten Toleranzen der weiteren Bauelemente zu verstehen.An instance is to be understood as the oscillator circuit with certain dimensions of the further components and / or certain temperature conditions, operating conditions and / or certain tolerances of the further components.

Durch die Erfindung wird erstmals eine sehr einfache, automatisierte Ermittlung eines Anschwingbereichs für eine Oszillatorschaltung angegeben. Es ist mit der Erfindung ferner möglich, Bauelemente unterschiedlicher Qualität mit verschiedenen Toleranzwerten zu berücksichtigen. Auch extreme Betriebs- bedingungen können im Rahmen der Schaltungssimulation gemäß der Erfindung berücksichtigt werden. Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.The invention provides for the first time a very simple, automated determination of an oscillation range for an oscillator circuit. It is also possible with the invention to take into account components of different quality with different tolerance values. Extreme operating conditions can also be taken into account in the circuit simulation according to the invention. Advantageous developments of the invention result from the dependent claims.

Der Oszillator kann ein Quarzoszillator oder ein Keramikos- zillator sein.The oscillator can be a quartz oscillator or a ceramic oscillator.

Die weiteren Bauelemente können elektrische Widerstände, Kapazitäten, Induktivitäten, Verstärkerbauelemente, etc. sein.The other components can be electrical resistors, capacitors, inductors, amplifier components, etc.

Die Stabilitätsanalyse der elektrischen Schaltung kann nach unterschiedlichen Verfahren erfolgen. Es hat sich als vorteilhaft herausgestellt, die Stabilitätsanalayse unter Ermittlung eines Hopf-Bifurkations-Punktes für die jeweilige Instanz durchzuführen. Dies ist ein äußerst einfacher und so- mit Rechenzeit einsparender Weg zur Stabilitätsanalyse.The stability analysis of the electrical circuit can be carried out using different methods. It has proven to be advantageous to carry out the stability analysis by determining a Hopf bifurcation point for the respective instance. This is an extremely simple and therefore computing time-saving way of stability analysis.

Weitere Möglichkeiten zur Stabilitätsanalyse sind (während einer DC-Transfer-Analyse simultan) :Other options for stability analysis are (during a DC transfer analysis simultaneously):

• eine Pol-Nullstellen-Analyse, • eine AC-Analyse (Kleinsignal-Analyse) unter Verwendung des Bode-Kriteriums oder des Nyquist-Kriteriums,• a pole zero analysis, • an AC analysis (small signal analysis) using the Bode criterion or the Nyquist criterion,

• eine Transientenanalyse.• a transient analysis.

Für einen Teil der Instanzen kann eine Berechnung des Schwin- gungszustandes oder dynamischen Gleichgewichts der Instanz in einem vorgebbaren Arbeitspunkt nach einem der in [2], [3], [4] beschriebenen Verfahren erfolgen. Durch diese Weiterbildung wird für die Instanz auch noch untersucht, ob die Schaltung in dem vorgegebenen Arbeitspunkt weiterschwingt. Somit kann für die jeweilige Instanz auch das sichere Weiterschwingen der Schaltung gewährleistet werden.For some of the instances, the vibration state or dynamic equilibrium of the instance can be calculated at a predefinable operating point using one of the methods described in [2], [3], [4]. This further development also examines for the instance whether the circuit continues to oscillate at the specified operating point. This ensures that the circuit can continue to oscillate safely for the respective instance.

In einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung ist es vorgesehen, daß für mindestens einen Teil der Instanzen eine Bestim- mung des jeweiligen Einschwingverhaltens durchgeführt wird. Dies hat den Vorteil, daß nach erfolgter Bestimmung des Einschwingverhaltens alle interessanten Informationen für die Instanz mit der jeweiligen Dimensionierung bekannt sind. Somit sind alle gewünschten Informationen über die Schaltung verfügbar .In a further embodiment of the invention, provision is made for the respective transient behavior to be determined for at least some of the instances. This has the advantage that after the transient response has been determined, all the interesting information for the Instance with the respective dimensioning are known. All the desired information about the circuit is available.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in den Figuren dargstellt und wird im weiteren näher erläutert.An embodiment of the invention is shown in the figures and is explained in more detail below.

Es zeigenShow it

Figur 1 eine 2-dimensionale Matrix, in der für verschiedene Dimensionierungen zweier Kapazitäten der Anschwingbereich einer elektrischen Schaltung dargestellt ist; Figur 2 eine Skizze einer elektrischen Schaltung, für die die Matrix in Fig. 1 ermittelt wurde; Figur 3 ein Bifurkationsdiagramm einer Oszillatorschaltung.FIG. 1 shows a 2-dimensional matrix in which the start-up range of an electrical circuit is shown for different dimensions of two capacitors; FIG. 2 shows a sketch of an electrical circuit for which the matrix in FIG. 1 was determined; Figure 3 is a bifurcation diagram of an oscillator circuit.

In Fig. 2 ist ein Oszillator Q gezeigt, der mit einem ersten Anschluß 201 zum einen mit einer Versorgungsspannung VQ und zum anderen mit einer ersten Kapazität Cχι verbunden ist. Die erste Kapazität Cχι ist ferner mit Masse und mit einer zweiten Kapazität Cχ2 verbunden. Die zweite Kapazität Cχ2 ist über einen zweiten Anschluß 202 mit dem Oszillator Q und einem elektrischen Widerstand Rχ2 verbunden. Der zweite Widerstand Rχ2 ist über einen dritten Anschluß 203 mit einem Aus- gang eines Inverters 204 und eines Vorschaltwiderstands -Bias verbunden, die beide ihrerseits mit der Versorgungsspannung über den ersten Anschluß 201 verbunden sind.In Fig. 2, an oscillator Q is shown, which is connected to a first terminal 201 on the one hand with a supply voltage VQ and on the other hand with a first capacitance Cχι. The first capacitance Cχι is also connected to ground and to a second capacitance Cχ2. The second capacitance Cχ2 is connected via a second connection 202 to the oscillator Q and an electrical resistor Rχ2. The second resistor Rχ2 is connected via a third connection 203 to an output of an inverter 204 and a ballast resistance bias, both of which in turn are connected to the supply voltage via the first connection 201.

Es ist für die Oszillatorschaltung 200 der Anschwingbereich mit den zugehörigen Dimensionierungen (Instanzen) der weiteren Bauelemente (erste Kapazität Cχ , zweite Kapazität C 2 und elektrischer Widerstand χ2) zu ermitteln.The oscillation range with the associated dimensions (instances) of the further components (first capacitance Cχ, second capacitance C 2 and electrical resistance χ2) is to be determined for the oscillator circuit 200.

Zur Ermittlung des Anschwingbereichs der Oszillatorschaltung 200 wird folgendes iterative Verfahren für unterschiedliche Instanzen der Oszillatorschaltung 200 durchgeführt. Es wird in jedem Iterationsschritt eine Instanz, d.h. eine Dimensionierung bzw. eine Festlegung der weiteren Bauelemente sowie der Rahmenbedingungen (Betriebsbedingungen Toleranzen der Bauelemente) vorgegeben.To determine the oscillation range of the oscillator circuit 200, the following iterative method is carried out for different instances of the oscillator circuit 200. In each iteration step, an instance, ie a dimensioning or a definition of the further components and the framework conditions (operating conditions, tolerances of the components) is specified.

In diesem Ausführungsbeispiel wird zur einfacheren Darstellung das Verfahren anhand eines vorgegebenen elektrischen Widerstands R 2 und vorgegebenen Randbedingungen aufgezeigt, d.h. es werden die erste Kapazität C ]_ und die zweite Kapazi- t t Cχ2 jeweils in einem vorgebbaren Dimensionierungsinter- vall variiert, was jeweils in einer Spalte einer in Figur 1 dargestellten Tabelle für die zweite Kapazität Cχ2 in Pikofa- rad (pF) und in einer ersten Zeile für die erste Kapazität C ι in pF dargestellt ist. Für jede Instanz wird eine Stabi- litätsanalyse der Oszillatorschaltung 200 durchgeführt.In this exemplary embodiment, the method is shown on the basis of a predetermined electrical resistance R 2 and predetermined boundary conditions, i.e. the first capacitance C] _ and the second capacitance Cχ2 are each varied in a predeterminable dimensioning interval, which is in each case in a column of a table shown in FIG. 1 for the second capacitance Cχ2 in picofarads (pF) and in one first line for the first capacitance C ι is shown in pF. A stability analysis of the oscillator circuit 200 is carried out for each instance.

Dies erfolgt durch Ermittlung des Hopf-Bifurkations- Punkts 301 (vgl. Fig. 3). Ein Hopf-Bifurkations-Punkt 301 ist ein Punkt einer elektrischen Schaltung, an dem die elektri- sehen Schaltungen von einem stabilen in einen instabilen, d.h. schwingenden Zustand übergeht.This is done by determining the Hopf bifurcation point 301 (cf. FIG. 3). A Hopf bifurcation point 301 is a point of an electrical circuit at which the electrical circuits see from a stable to an unstable, i.e. vibrating state passes.

Die Ermittlung des Hopf-Bifurkations-Punkts 301 erfolgt gemäß einem der in [2], [3], oder [4] beschrieben Verfahren.The Hopf bifurcation point 301 is determined in accordance with one of the methods described in [2], [3], or [4].

Ferner wird für einen vorgebbaren Arbeitspunkt gemäß dem im weiteren beschriebenen Verfahren überprüft, ob die elektrische Schaltung auch in dem Arbeitspunkt der Schaltung stabil schwingt.Furthermore, it is checked for a specifiable operating point in accordance with the method described below whether the electrical circuit also oscillates stably in the operating point of the circuit.

Der Hopf-Bifurkationspunkt HP wird durch ein Tripel beschrieben, welches einen Eigenwert μg, dessen Imaginärteil auch als Eigenfrequenz der Schaltung bezeichnet wird, eine Ruhelage yg des Hopf-Bifurkationspunktes HP sowie einen Eigenvektor VQ aufweist. Der Hopf-Bifurkationspunkt HP ist also z.B. durch folgendes Tripel gegeben:The Hopf bifurcation point HP is described by a triple, which has an eigenvalue μg, the imaginary part of which is also referred to as the natural frequency of the circuit, a rest position yg of the Hopf bifurcation point HP and an eigenvector V Q. The Hopf bifurcation point HP is given, for example, by the following triple:

HP = (μo, yo o) := (μ(λo), y(λo), v(λo)) (1).HP = (μo, yo o): = (μ ( λo), y (λo), v (λo)) (1).

Mit λo wird jeweils der Systemparameter λ bezeichnet, für den man für die Schaltung den Hopf-Bifurkationspunkt HP erhält.The λo is the system parameter λ for which the Hopf bifurcation point HP is obtained for the circuit.

Ermittlung der Bifurkationsebenen πχ für den jeweiligen Sy- stemparaameter λ 102Determination of the bifurcation planes πχ for the respective system parameter λ 102

Ausgehend von dem Hopf-Bifurkationspunkt HP werden in einem weiteren Schritt Bifurkationsebenen πχ ermittelt.Starting from the Hopf bifurcation point HP, bifurcation planes πχ are determined in a further step.

Hierzu wird jeweils für den Systemparameter λ und der entsprechenden Lösung y(λ) in einer Umgebung des Hopf- Bifurkationspunktes HP mit dem entsprechenden Systemparameter λo der Eigenwert μ(λ) und der Eigenvektor v(λ) ermittelt. Für den speziellen Systemparameter λo ergibt sich der Hopf- Bifurkationspunkt HP.For this purpose, the eigenvalue μ (λ) and the eigenvector v (λ) are determined for the system parameter λ and the corresponding solution y (λ) in an environment of the Hopf bifurcation point HP using the corresponding system parameter λo. The Hopf bifurcation point HP results for the special system parameter λo.

Eine Möglichkeit, die Bifurkationsebenen πχ zu bilden, besteht darin, die Eigenvektoren v(λ) zu verwenden, um im komplexen Raum C durch die Realteile Re{v(λ)} bzw. die Imaginär- teile Im{v(λ)} der Eigenvektoren v(λ) die Bifurkationsebenen πχ aufzuspannen.One way of forming the bifurcation planes πχ is to use the eigenvectors v (λ) to move through the real parts Re {v (λ)} or the imaginary parts Im {v (λ)} in the complex space C. Eigenvectors v (λ) span the bifurcation planes πχ.

Eine Bifurkationsebene πχ ergibt sich nach folgender Vorschrift :A bifurcation level πχ results according to the following rule:

πχ = {z|z = c • v(λ), c e c} (2) .πχ = {z | z = c • v (λ), c e c} (2).

Die Bifurkationsebenenschar IT ergibt sich nach folgender Vorschrift:The IT bifurcation level group is based on the following rule:

Π = { πχ | λ e 9t } . Dabei ist ein Faktor c eine beliebige komplexe Zahl. Bei Verwendung von reellen Zahlen 9ϊ ist die Bifurkationsebene πχ zweidimensional, bei Verwendung komplexer Zahlen C ist die Bifurkationsebene πχ eindimensional.Π = {πχ | λ e 9t}. A factor c is any complex number. When using real numbers 9ϊ, the bifurcation plane πχ is two-dimensional, when using complex numbers C, the bifurcation plane πχ is one-dimensional.

Durch Verwendung der Bifurkationsebene πχ und somit einer Transformation des gesamten möglichen Zustandsraums, bei einem komplexen technischen System, welches durch eine höhere Anzahl von differential algebraischen Gleichungen beschrieben wird, aus einem sehr hochdimensionalen Zustandsraum zur Ermittlung der periodischen Zustandsbeschreibung auf einen nie- derdimensionalen Raum einer Ebene, der Bifurkationsebene πχ, wird die Ermittlung der periodische Zustandsbeschreibung mög- lieh.By using the bifurcation level πχ and thus a transformation of the entire possible state space, in a complex technical system, which is described by a higher number of differential algebraic equations, from a very high-dimensional state space to determine the periodic state description to a lower-dimensional space of a level , the bifurcation level πχ, the determination of the periodic state description is possible.

Ermittlung der periodischen ZustandsbeschreibungDetermination of the periodic description of the condition

Im weiteren wird eine frei vorgebbare Kurve gewählt, die sich jedoch in der Bifurkationsebenenschar II befindet.Furthermore, a freely definable curve is selected, which is, however, in the bifurcation plane family II.

Allgemein kann für jeden Punkt entlang der Kurve eine periodische Zustandsbeschreibung durch folgende Funktion beschrieben werden:In general, a periodic description of the state can be described for each point along the curve using the following function:

x c((tt)) == c cnDvv(λλ)eeiiaυJ^Wl- ++ ccDvv((λλ))ee" i ιωω(wλ)tL ++ y y((λλ)) ( 3 ) .xc ((tt)) == cc nD vv (λλ) ee iiaυJ ^ Wl - ++ cc D vv ((λλ)) ee " i ιω ω ( w λ) t L ++ yy ((λλ)) (3 ).

Dabei gilt :The following applies:

ω(λ) = Im(μ(λ)) .ω (λ) = Im (μ (λ)).

Der Faktor cp wird derart gewählt, daß CpV(λ) den Punkt P ergibt.The factor c p is chosen such that CpV (λ) gives the point P.

Dieser allgemeine Ansatz zur Beschreibung eines periodischen Zustandes aus der Gleichung (3) ist im allgemeinen keine Lösung des differential algebraischen Systems. Dies bedeutet, daß folgender Zusammenhang gilt:This general approach to describing a periodic state from equation (3) is generally not a solution to the differential algebraic system. This means that the following relationship applies:

f(x(t), x(t), λ) ≠ 0 ( 4 ) .f (x (t), x (t), λ) ≠ 0 (4).

Um innerhalb der Bifurkationsebenenschar II, entlang der Kurve eine Losung und somit eine periodische Zustandsbeschreibung zu ermitteln, ist es erforderlich, daß die Vorschrift (3) zu einer Losung des differential algebraischen Glei- chungssystems fuhrt.In order to determine a solution and thus a periodic description of the state within the bifurcation plane family II along the curve, it is necessary that regulation (3) leads to a solution of the differential algebraic equation system.

Dies kann in einer Weise gelost werden, daß ein zusatzlicher Strafterm F(t) berücksichtigt wird, der folgende Struktur aufweist:This can be solved in such a way that an additional penalty term F (t) is taken into account, which has the following structure:

F(t) = -f(x(t), x(t), λ) (5) .F (t) = -f (x (t), x (t), λ) (5).

Es ergibt sich folgende Leistungsfunktion P(t):The following power function P (t) results:

P(t) = x(t)τ f(x(t), x(t), λ) (6).P (t) = x (t) τ f (x (t), x (t), λ) (6).

Mit t wird jeweils die Zeit, zu dem das technische System beschrieben wird, bezeichnet. Anschaulich kann x als eine Stromungsgeschwindigkeit eines mechanischen dynamischen Systems betrachtet werden.T is the time at which the technical system is described. Clearly, x can be viewed as a flow rate of a mechanical dynamic system.

Aus der Leistungsfunktion P(t) kann eine Energiefunktion E(t) ermittelt werden durch Integration der Leistungsfunktion P(t) über eine Periode der jeweiligen Schwingung:An energy function E (t) can be determined from the power function P (t) by integrating the power function P (t) over a period of the respective oscillation:

E(λ) x(t)τ f(x(t), x(t), λ)dtE (λ) x (t) τ f (x (t), x (t), λ) dt

Für eine periodische Losung eines differential algebraischenFor a periodic solution of a differential algebraic

Gleichungssystems ist die Energiefunktion E(t) total balan- eiert, da für diese folgende Vorschrift gilt:The energy function E (t) is totally balanced, since the following rule applies to this:

f(x(t), x(t), λ) = 0 ( 8 ) . Dies gilt für alle Zeitpunkte t.f (x (t), x (t), λ) = 0 (8). This applies to all times t.

Mit anderen Worten bedeutet dies, daß eine balancierte Energiefunktion E(t) eine Eigenschaft einer periodischen Losung einer Schaltung ist. Diese Eigenschaft kann im weiteren dazu verwendet werden, einen Punkt zu ermitteln, mit dem es möglich ist, eine gute periodische Zustandsbeschreibung der Schaltung abzuschätzen.In other words, this means that a balanced energy function E (t) is a property of a periodic solution of a circuit. This property can also be used to determine a point with which it is possible to estimate a good periodic state description of the circuit.

Der Punkt wird dadurch ermittelt, daß entlang der Kurve m frei vorgebbaren Intervallschritten jeweils die Energiefunktion E(λ) für einen Punkt der Kurve ermittelt wird. Da gezeigt werden kann, daß eine Nullstelle des Realteils der Energiefunktion Re{E(λ)} an dem jeweiligen ausgewertetenThe point is determined by determining the energy function E (λ) for a point of the curve along the curve m freely definable interval steps. Since it can be shown that a zero of the real part of the energy function Re {E (λ)} on the respective evaluated

Punkt auf der Kurve einen sehr guten Punkt ergibt, mit dem eine sehr gute periodische Zustandsbeschreibung der Schaltung ermittelt werden kann, wird eine Nullstelle des Realteils der Energiefunktion Re{E(λ)} des technischen Systems ermittelt.If a point on the curve gives a very good point with which a very good periodic description of the state of the circuit can be determined, a zero of the real part of the energy function Re {E (λ)} of the technical system is determined.

Zur Ermittlung der Nullstelle des Realteils der Energiefunktion Re{E(λ)} kann ein beliebiges Verfahren zur eindimensionalen Nullstellen-Analyse, die auch als ableitungsfreie Nullstellen-Verfahren bezeichnet werden, eingesetzt werden.To determine the zero point of the real part of the energy function Re {E (λ)}, any method for one-dimensional zero point analysis, which is also referred to as a derivative-free zero point method, can be used.

Es ist vorteilhaft, daß die Kurve eine halboffene, kreisförmige Kurve um den Hopf-Bifurkationspunkt ist.It is advantageous that the curve is a semi-open, circular curve around the Hopf bifurcation point.

Als Anhaltspunkt f r die Große der Kurve abhangig von dem Hopf-Bifurkationspunkt und dem Eigenwert μo des Hopf-As a guide for the size of the curve depending on the Hopf bifurcation point and the eigenvalue μo of the Hopf

Bifurkationspunktes wird folgender Dimensionierungsvorschlag gegeben, der sich als vorteilhaft herausgestellt hat.Bifurcation point is given the following dimensioning proposal, which has proven to be advantageous.

Eine Ellipse um den Hopf-Bifurkationspunkt, auch als halbof- fene Kurve, deren Sekante entlang der ersten Losungskurve der stationären Losungen ungefähr max. 2% des zu untersuchenden Parameterbereichs, m dem der Systemparameter λ variiert wird, symmetrisch um den Hopf-Bifurkationspunkt, hat sich als vorteilhaft erwiesen. Als Höhe der Ellipse ist ein Wert zwischen 0,1 und 1 Volt geeignet.An ellipse around the Hopf bifurcation point, also as a half-open curve, whose secant along the first solution curve of the stationary solutions is approximately max. 2% of the parameter range to be examined, in which the system parameter λ varies symmetrical around the Hopf bifurcation point has proven to be advantageous. A value between 0.1 and 1 volt is suitable for the height of the ellipse.

Für die Nullstelle, also für den ermittelten Punkt auf derFor the zero point, i.e. for the determined point on the

Kurve wird die zu dem Punkt gehörende periodische Zustandsbeschreibung x(t) ermittelt.The periodic state description x (t) belonging to the point is determined on the curve.

Für die periodische Zustandsbeschreibung x(t) wird eine peri- odisehe Lösung der Schaltung ermittelt, z.B. mittels der in dem Dokument [6] beschriebenen Vorgehensweise.A periodic solution of the circuit is determined for the periodic state description x (t), e.g. using the procedure described in document [6].

Die periodische Zustandsbeschreibung x(t) der Schaltung ist die periodische Lösung der Schaltung für den Systemparame- ter λ.The periodic description of the state x (t) of the circuit is the periodic solution of the circuit for the system parameter λ.

Die periodische Zustandsbeschreibung wird als Startlösung für die Ermittlung weiterer periodischer Lösungen, ausgehend von der Startlösung, also der periodischen Zustandsbeschreibung, verwendet.The periodic status description is used as a starting solution for the determination of further periodic solutions, starting from the starting solution, that is, the periodic status description.

Da mit der Startlösung eine sehr gute Näherung für eine Lösung auf der zweiten Lösungskurve in der Nähe des Hopf- Bifurkationspunktes ermittelt wurde, ist es nunmehr möglich, durch Verwendung von den in [7] beschriebenen Verfolgungsverfahren, weitere periodische Lösungen der Schaltung, die sich auf der zweiten Lösungskurve befinden, zu ermitteln.Since a very good approximation for a solution on the second solution curve near the Hopf bifurcation point was determined with the starting solution, it is now possible, by using the tracking method described in [7], to perform other periodic solutions of the circuit that relate to one another the second solution curve.

Dies wird iterativ solange weitergeführt, bis eine periodi- sehe Lösung zu einem vorgebbaren Arbeitspunkt der Schaltung ermittelt wurde.This is continued iteratively until a periodic solution to a predefinable operating point of the circuit has been determined.

Als Verfahren zur Ermittlung der periodischen Lösung für einen Systemparameter λ kann beispielsweise das Verfahren der harmonischen Balance eingesetzt werden. Das Ergebnis einer Iteration ist also jeweils, ob die Instanz der Oszillatorschaltung 200 anschwingt oder nicht.The method of harmonic balance can be used, for example, as a method for determining the periodic solution for a system parameter λ. The result of an iteration is therefore whether the instance of the oscillator circuit 200 is oscillating or not.

Schwingt die Instanz der Schaltung an, so wird m der Matrix 100 jeweils m dem Feld, das eindeutig durch die Dimensionierungen der Kapazitäten Cχ_, Cχ2 bestimmt ist, ein zweiter binarer Wert 101 eingefugt. Schwingt die Instanz jedoch an, so wird ein erster binarer Wert 102 dem entsprechenden Feld m der Matrix 100 zugeordnet.If the instance of the circuit swings, a second binary value 101 is inserted in the matrix 100 in each case in the field, which is clearly determined by the dimensions of the capacitances Cχ_, Cχ2. However, if the instance swings, a first binary value 102 is assigned to the corresponding field m of the matrix 100.

Aus dem sich ergebenden Anschwingbereich 103, der durch die jeweiligen Instanzen, die anschwingen, begrenzt ist, wird eine Menge von Instanzen ausgewählt, für die das gesamte Einschwingverhalten der Quarzoszillatorschaltung ermittelt wird.From the resulting oscillation region 103, which is limited by the respective instances that oscillate, a set of instances is selected for which the entire transient response of the quartz oscillator circuit is determined.

Ein Verfahren zur Ermittlung des Einschwingverhaltens eines Quarzoszillators erfolgt gemäß dem Verfahren, das in [3] beschrieben ist.A method for determining the transient response of a quartz oscillator is carried out in accordance with the method described in [3].

Im weiteren werden einige Alternativen für das oben beschriebene Ausfuhrungsbeispiel aufgezeigt.In the following, some alternatives for the exemplary embodiment described above are shown.

Es ist nicht erforderlich, alle Instanzen der Oszillator- schaltung 200 zu untersuchen. Ausgehend von einem Startpunkt 104 werden Instanzen, anschaulich gesprochen, m einer Diagonale der 2-dιmensιonalen Matrix 100, bei einer hoherdimensio- nalen Matrix entsprechend einer Raum-Diagonale des durch die hoherdimensionale Matrix beschriebenen Hyperraums, die Instanzen der Stabilitatsanalyse unterzogen. In Figur 1 ist diese Vorgehensweise durch einen Pfeil 105 in der Matrix 100 dargestellt. Die Diagonale wird solange weiterverfolgt, bis eine Instanz der Schaltung nicht anschwingt. Diese Instanz ist in der Matrix 100 mit dem Bezugszeichen 106 bezeichnet.It is not necessary to examine all instances of the oscillator circuit 200. Starting from a starting point 104, instances are, clearly speaking, subjected to the stability analysis in a diagonal of the 2-dimensional matrix 100, in the case of a high-dimensional matrix corresponding to a space diagonal of the hyperspace described by the high-dimensional matrix. This procedure is shown in FIG. 1 by an arrow 105 in the matrix 100. The diagonal is followed until an instance of the circuit does not start. This instance is identified in the matrix 100 by the reference symbol 106.

Ausgehend von der ersten Instanz, die nicht anschwingt, wird in einem treppenformigen Vorgehen, dessen Weg jeweils durch einen Pfeil 107 bzw. 108 in der Matrix 100 dargestellt ist, entlang des Randbereichs stabiler und instabiler Instanzen durchgeführt .Starting from the first instance, which does not oscillate, a step-like procedure, the path of which is represented by an arrow 107 or 108 in the matrix 100, performed along the edge region of stable and unstable instances.

Dieses Vorgehen entspricht einer Abtastung des Randbereichs, wodurch eine Überprüfung eines großen Teilbereichs m der gesamten Matrix 100 nicht erforderlich ist.This procedure corresponds to a scanning of the edge area, so that it is not necessary to check a large partial area m of the entire matrix 100.

Wie oben beschrieben, ist die Dimensionalltat der Matrix 100 beliebig. Entsprechend sind auch die weiteren Bauelemente grundsätzlich beliebig und, wie oben beschrieben, können verschiedenste Parameter in der Schaltungssimulation berücksichtigt werden.As described above, the dimensional act of the matrix 100 is arbitrary. Accordingly, the other components are basically arbitrary and, as described above, a wide variety of parameters can be taken into account in the circuit simulation.

Generell ist zu dem Anschwingbereich 103 zu bemerken, daß je naher der Wert des ermittelten Hopf-Bifurkations-Punkts 301 für die Instanz an der Versorgungsspannung VQ ist, umso kritischer ist ein sicheres Anschwingen der Oszillatorschaltung 200.In general, it should be noted with respect to the start-up area 103 that the closer the value of the determined Hopf bifurcation point 301 for the instance to the supply voltage V Q , the more critical is the safe start-up of the oscillator circuit 200.

Fig. 4 zeigt einen Rechner 400, mit dem das Verfahren durchgeführt wird. Der Rechner 400 weist einen Speicher 401, eine Prozessoreinheit 402, die über einen Bus 403 mit dem Speicher4 shows a computer 400 with which the method is carried out. The computer 400 has a memory 401, a processor unit 402, which is connected to the memory via a bus 403

401 verbunden ist auf. In dem Speicher 401 ist eine Beschreibung der Oszillatorschaltung 200 in einer Schaltungsbeschrei- bungssprache, z.B. SPICE gespeichert. Die Prozessoreinheit401 is connected to. In the memory 401 is a description of the oscillator circuit 200 in a circuit description language, e.g. SPICE saved. The processor unit

402 ist derart eingerichtet, daß die oben beschriebenen Verfahrensschritte zur Schaltungssimulation durchfuhrbar sind. Ferner ist ein Bildschirm 404 vorgesehen zur Darstellung der Ergebnisse sowie eine Tastatur 405 und eine Maus 406 zur Em- gäbe von Information m den Rechner 400. In diesem Dokument sind folgende Veröffentlichungen zitiert:402 is set up in such a way that the method steps described above for circuit simulation can be carried out. Furthermore, a screen 404 is provided for displaying the results, and a keyboard 405 and a mouse 406 for giving information to the computer 400. The following publications are cited in this document:

[1] L. 0. Chua, C. A. Desor, E. S. Kuh, Linear and Nonlinear Circuits, Mc Graw Hill, ISBN 0-07-010898-6, New York, S. 644 - 687, 1987[1] L. 0. Chua, C. A. Desor, E. S. Kuh, Linear and Nonlinear Circuits, Mc Graw Hill, ISBN 0-07-010898-6, New York, pp. 644-687, 1987

[2] R. Neubert, An Effective Method for the Stability Ana- lyses of Steady States in the Simulation of Large Elec- trical Networks, 2. ITG-Diskussionssitzung, Neue Anwendungen theoretischer Konzepte in der Elektrotechnik, W. Mathis, P. Noll (ed.), VDE-Verlag, Berlin, ISBN 3-8007-2190-2, April 1995, S. 41-48 [3] Qinghua Zheg, Hopf Bifurcation in Diffential Algebraic Equations and Applications to Circuit Simulation, Internat. Series of Numerical Mathematics, Vol. 93, Birkhäuser Verlag Basel, ISBN 0-9176-2439-2, S. 45-58, 1989 [4] R. Neubert, Predictor-Corrector Techniques for[2] R. Neubert, An Effective Method for the Stability Analyzes of Steady States in the Simulation of Large Electronic Networks, 2nd ITG discussion session, New applications of theoretical concepts in electrical engineering, W. Mathis, P. Noll (ed.), VDE-Verlag, Berlin, ISBN 3-8007-2190-2, April 1995, pp. 41-48 [3] Qinghua Zheg, Hopf Bifurcation in Differential Algebraic Equations and Applications to Circuit Simulation, Internat. Series of Numerical Mathematics, Vol. 93, Birkhäuser Verlag Basel, ISBN 0-9176-2439-2, pp. 45-58, 1989 [4] R. Neubert, Predictor-Corrector Techniques for

Detecting Hopf Bifurcation Point, Internat. Journal of Bifurcation and Chaos, Vol. 3, Nr. 5, ISSN 0218-1274, World Scientific Company, S. 1311-1318, 1993 [5] EP 0 785 619 A2Detecting Hopf Bifurcation Point, boarding school. Journal of Bifurcation and Chaos, Vol. 3, No. 5, ISSN 0218-1274, World Scientific Company, pp. 1311-1318, 1993 [5] EP 0 785 619 A2

[6] U. Feldmann et al, Algorithms for Modern Circuit Simulation -AEÜ, Vol. 46, Nr. 4, ISSN 0001-1096, Hirzel- Verlag, Stuttgart, S. 274-285, 1992[6] U. Feldmann et al, Algorithms for Modern Circuit Simulation -AEÜ, Vol. 46, No. 4, ISSN 0001-1096, Hirzel-Verlag, Stuttgart, pp. 274-285, 1992

[7] R. Seydel, Numerical Computation of Periodic Orbits that Bifurcate from Stationary Solutions of Ordinary Differential Equations, Technische Universität München, Institut für Mathematik, TUM-MATH-12-81-M12-250/1-FMA, S. 1-43, 1981[7] R. Seydel, Numerical Computation of Periodic Orbits that Bifurcate from Stationary Solutions of Ordinary Differential Equations, Technical University of Munich, Department of Mathematics, TUM-MATH-12-81-M12-250 / 1-FMA, pp. 1- 43, 1981

[8] DE 44 11 765 AI [8] DE 44 11 765 AI

Claims

Patentansprüche claims 1. Verfahren zur Ermittlung eines Anschwingbereichs einer elektrischen Schaltung, die mindestens einen Oszillator und weitere Baulemente aufweist, die mit dem Oszillator verbunden sind, durch einen Rechner, bei dem in einem iterativen Verfahren unter Variation von Beschaltungsparametem der weiteren Baulemente jeweils für eine Instanz der Beschaltungsparameter folgende Schritte durchge- führt werden:1. Method for determining an oscillation range of an electrical circuit, which has at least one oscillator and further components that are connected to the oscillator, by a computer, in which, in an iterative process, varying the wiring parameters of the other components, each for an instance of the wiring parameters the following steps are carried out: - es wird für die jeweilige Instanz eine Stabilitätsanalyse der Schaltung durchgeführt,a stability analysis of the circuit is carried out for the respective instance, - wird für die Instanz der Schaltung ermittelt, daß die Instanz anschwingt, so wird der Instanz in einer Matrix, in der alle untersuchten Instanzen gespeichert sind, ein erster Wert zugeordnet, wobei mit dem ersten Wert angegeben wird, daß die Instanz anschwingt,- If it is determined for the instance of the circuit that the instance is swinging, a first value is assigned to the instance in a matrix in which all examined instances are stored, the first value indicating that the instance is swinging, - wird für die Instanz der Schaltung ermittelt, daß die Instanz nicht anschwingt, so wird der Instanz in der Matrix ein zweiter Wert zugeordnet, wobei mit dem zweiten Wert angegeben wird, daß die Instanz nicht anschwingt,If it is determined for the instance of the circuit that the instance does not oscillate, the instance is assigned a second value in the matrix, the second value indicating that the instance does not oscillate, - bei dem sich der Anschwingbereich ergibt aus den Instanzen, denen der erste Wert in der Matrix zugeordnet wurde.- in which the start-up range results from the instances to which the first value in the matrix has been assigned. 2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die Stabilitätsanalyse nach einem der folgenden Verfahren durchgeführt wird:2. The method of claim 1, wherein the stability analysis is carried out according to one of the following methods: - Ermittlung eines Hopf-Bifurkationspunkts für die jeweilige Instanz, - Pol-Nullstellen-Analyse,- Determination of a Hopf bifurcation point for the respective instance, - Pole zero analysis, - AC-Analyse (Kleinsignal-Analyse) unter Verwendung des Bode- Kriteriums oder des Nyquist-Kriteriums,- AC analysis (small signal analysis) using the Bode criterion or the Nyquist criterion, - Transientenanalyse.- transient analysis. 3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, bei dem die Beschaltungsparameter der weiteren Baulemente mindestens einen der folgende Parameter aufweisen: - unterschiedliche Temperaturen, denen die Schaltung ausgesetzt ist,3. The method of claim 1 or 2, wherein the wiring parameters of the further components have at least one of the following parameters: - different temperatures to which the circuit is exposed, - unterschiedliche Qualität der weiteren Bauelemente,- different quality of the other components, - unterschiedliche Dimensionierungswerte der weiteren Baulemente .- Different dimensioning values of the other building elements. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, bei dem mindestens für einen Teil der Instanzen eine Stabilitätsanalyse im Arbeitspunkt durchgeführt wird.4. The method according to any one of claims 1 to 3, in which a stability analysis is carried out at the working point for at least some of the instances. 5. Verfahren nach Anspruch 4, bei dem mindestens für einen Teil der Instanzen eine Bestimmung des Einschwingverhaltens der Instanz durchgeführt wird.5. The method according to claim 4, wherein a determination of the transient behavior of the instance is carried out for at least some of the instances. 6. Vorrichtung zur Ermittlung eines Anschwingbereichs einer elektrischen Schaltung, die mindestens einen Oszillator und weitere Baulemente aufweist, die mit dem Oszillator verbunden sind, mit einer Prozessoreinheit, die derart eingerichtet ist, daß in einem iterativen Verfahren unter Variation von Beschaltungsparametem der weiteren Baulemente jeweils für eine Instanz der Beschaltungsparameter folgende Schritte durchgeführt werden:6.Device for determining an oscillation range of an electrical circuit which has at least one oscillator and further components which are connected to the oscillator, with a processor unit which is set up in such a way that in an iterative process with variation of wiring parameters of the further components in each case the following steps are carried out for an instance of the wiring parameters: - es wird für die jeweilige Instanz eine Stabilitätsanalyse der Schaltung durchgeführt,a stability analysis of the circuit is carried out for the respective instance, - wird für die Instanz der Schaltung ermittelt, daß die Instanz anschwingt, so wird der Instanz in einer Matrix, in der alle untersuchten Instanzen gespeichert sind, ein erster Wert zugeordnet, wobei mit dem ersten Wert angegeben wird, daß die Instanz anschwingt,- If it is determined for the instance of the circuit that the instance is swinging, a first value is assigned to the instance in a matrix in which all examined instances are stored, the first value indicating that the instance is swinging, - wird für die Instanz der Schaltung ermittelt, daß die Instanz nicht anschwingt, so wird der Instanz in der Matrix ein zweiter Wert zugeordnet, wobei mit dem zweiten Wert angegeben wird, daß die Instanz nicht anschwingt, - der Anschwingbereich ergibt sich aus den Instanzen, denen der erste Wert in der Matrix zugeordnet wurde. - If it is determined for the instance of the circuit that the instance does not oscillate, a second value is assigned to the instance in the matrix, the second value indicating that the instance does not oscillate, - the oscillation range results from the instances, to which the first value in the matrix has been assigned. 7. Vorrichtung nach Anspruch 6, bei der die Prozessoreinheit derart eingerichtet ist, daß die Stabilitätsanalyse nach einem der folgenden Verfahren durchgeführt wird: - Ermittlung eines Hopf-Bifurkationspunkts für die jeweilige Instanz,7. The device according to claim 6, wherein the processor unit is set up such that the stability analysis is carried out according to one of the following methods: determination of a Hopf bifurcation point for the respective instance, - Pol-Nullstellen-Analyse,- pole zero analysis, - AC-Analyse (Kleinsignal-Analyse) unter Verwendung des Bode- Kriteriums oder des Nyquist-Kriteriums, - Transientenanalyse.- AC analysis (small signal analysis) using the Bode criterion or the Nyquist criterion, - transient analysis. 8. Vorrichtung nach Anspruch 6 oder 7, bei der die Prozessoreinheit derart eingerichtet ist, daß die Beschaltungsparameter der weiteren Baulemente mindestens ei- nen der folgende Parameter aufweisen:8. Apparatus according to claim 6 or 7, in which the processor unit is set up in such a way that the wiring parameters of the further components have at least one of the following parameters: - unterschiedliche Temperaturen, denen die Schaltung ausgesetzt ist,- different temperatures to which the circuit is exposed, - unterschiedliche Qualität der weiteren Bauelemente,- different quality of the other components, - unterschiedliche Dimensionierungswerte der weiteren Baule- ente.- Different dimensioning values of the other construction elements. 9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 6 bis 8, bei der die Prozessoreinheit derart eingerichtet ist, daß mindestens für einen Teil der Instanzen eine Stabilitätsana- lyse im Arbeitspunkt durchgeführt wird.9. Device according to one of claims 6 to 8, in which the processor unit is set up in such a way that a stability analysis is carried out at the operating point for at least some of the instances. 10. Vorrichtung nach Anspruch 9, bei der die Prozessoreinheit derart eingerichtet ist, daß mindestens für einen Teil der Instanzen eine Bestimmung des Einschwingverhaltens der Instanz durchgeführt wird. 10. The apparatus of claim 9, wherein the processor unit is set up such that a determination of the transient response of the instance is carried out for at least some of the instances.
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