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WO1997001742A1 - System zur zweidimensionalen vermessung planer objekte - Google Patents

System zur zweidimensionalen vermessung planer objekte Download PDF

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WO1997001742A1
WO1997001742A1 PCT/EP1996/002774 EP9602774W WO9701742A1 WO 1997001742 A1 WO1997001742 A1 WO 1997001742A1 EP 9602774 W EP9602774 W EP 9602774W WO 9701742 A1 WO9701742 A1 WO 9701742A1
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PCT/EP1996/002774
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Inventor
Karl-Hermann Netzel
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Aqs Mess- und Prueftechnik GmbH
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Aqs Mess- und Prueftechnik GmbH
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/024Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by means of diode-array scanning

Definitions

  • Flat objects in the sense of the present invention are understood to mean all three-dimensional objects with at least one sufficiently flat surface.
  • the lighting is chosen in particular in such a way that the overall contour (projection contour) of the object to be measured is measured.

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Farming Of Fish And Shellfish (AREA)

Abstract

Vorrichtung bzw. Verfahren zur optischen Vermessung einer zweidimensionalen Kontur von dreidimensionalen Objekten. Die Vorrichtung umfasst wenigstens eine Bildaufnahmeeinrichtung, eine Auswerte- und Steuereinrichtung, eine Speichereinrichtung und eine Beleuchtungseinrichtung. Die Messung kann sowohl im Durchlichtverfahren als auch im Auflichtverfahren erfolgen. Eine Messung der der Bildeinrichtung zugewandten Kontur und der Projektionskontur sind möglich.

Description

System zur zweidimensionalen Vermessung planer Objekte
Auf verschiedenen Gebieten der Technik ist es notwendig, plane Objekte, wie Stanzteile, Dichtungen oder Leiterplat¬ ten, genau zu vermessen. Hinzu kommt, daß die Bedeutung der Produkthaftung ebenso wie der Kostendruck stetig wächst und somit die Ansprüche an den Nachweis der Qua¬ lität steigen.
Als plane Objekte im Sinne der vorliegenden Erfindung werden alle dreidimensionalen Objekte mit wenigstens einer ausreichend planen Fläche verstanden. Wie die folgende
Beschreibung zeigen wird, kommt es erfindungsgemäß nicht wesentlich darauf an, wie eben dies "plane" Fläche tat¬ sächlich ist. Wichtig ist nur, daß das Objekt sich zur Messung erfindungsgemäß positionieren läßt. Zweidimen- sionale Bild- oder Informationsdarstellungen, wie z.B.
Photographien, Karten, Chromatogramme oder DNA-Plots sind keine dreidimensionalen Objekte im Sinne der vorliegenden Erfindung, auch wenn diese auf einen Träger aufgebracht sind, der ihnen einen dreidimensional-körperlichen Charak- ter verleiht.
Die zur Vermessung obengenannter planer Objekte zur Zeit verwendeten Meßmaschinen sind häufig hochgenaue drei¬ dimensionale Meßmaschinen, die nicht nur sehr kostspielig, sondern auch sehr kompliziert in der Bedienung sind.
Da es für die obengenannten Objekte zum Nachweis der Fer¬ tigungsqualität völlig ausreichend ist, eine Toleranz- bzw. Dimensionskontrolle durch eine zweidimensionale Ver- messung durchzuführen, sind die dreidimensionalen Meß- maschinen zur Durchführung dieser Vermessung zwar geeig¬ net, weisen aber Anwendungsmöglichkeiten auf, die für die zweidimensionale Vermessung überhaupt nicht notwendig und daher nutzlos sind. Sie können daher bei der zweidimen¬ sionalen Vermessung planer Objekte nicht voll ausgelastet und somit nicht kostengünstig betrieben werden.
Auch sind zweidimensionale Meßmaschinen bekannt, die ent- weder mechanisch antastend oder optisch berührungslos
Teile wie dreidimensionale Koordinatenmaschinen vermessen. Meßmaschinen dieser Art sind im wesentlichen gekennzeich¬ net durch aufwendige Präzisionsmechanik in Verbindung mit hochgenauen Längenmaßstäben und genauen Antriebselementen.
Weiterhin sind auch Profilprojektoren und Meßmikroskope in der Meßtechnik zur Vermessung zweidimensionaler Konturen eingeführt. Diese manuellen, nicht reproduzierbaren Tech¬ niken, deren Präzision von der jeweiligen Tagesform des Maschinenbedieners abhängig sind, benötigen außergewöhn¬ lich hohe Meßzeiten im Stundenbereich für die Vermessung nur eines Werkstückes. Automatische, CNC-gesteuerte Pro¬ jektoren arbeiten ähnlich wie zweidimensionale Koordina- tenmeßmaschinen und repräsentieren ebenfalls den Stand einschlägiger Technologie.
Allen genannten Meßsystemen, die den Stand der gegenwär¬ tigen Technik repräsentieren, sind hohe Stückkosten gemein, die aus hohen Anschaffungskosten in Verbindung mit langen Ausricht- und Justierzeiten und langen Meßzeiten resultieren.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Vor¬ richtung zur zweidimensionalen Vermessung planer Objekte anzugeben, die hochgenau, für schnelle Vermessung insbe¬ sondere kleiner, komplizierter Objekte geeignet und gleichzeitig außergewöhnlich kostengünstig ist. Eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Bereitstellung eines Verfahrens zur zweidimensionalen Vermessung planer Objekte.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Vorrichtung gelöst, umfassend wenistens eine Bildaufnahmeeinrichtung zur Erfassung der Kontur des dreidimensionalen Objekts bzw. der damit korrespondierenden Meßpunkte, eine Aus¬ werte- und Steuereinrichtung zur Ansteuerung der Bildauf- nahmeeinrichtung und Aufnahme und Auswertung der von der Bildaufnahmeeinrichtung erzeugten Bildinformation, wobei die Einrichtung über eine Teach-in-Funktion verfügt, eine Einrichtung zur Speicherung und Bereitstellung von Me߬ werten, Kalibrier- und Korrekturparametern, Meßprogrammen sowie Sollwerten für die zu vermessende Kontur bzw. Me߬ punkte, eine Beleuchtungseinrichtung und optional eine Bildausgabeeinrichtung zur Kontrolle des Meßvorgangs und der Meßergebnisse.
Vorzugsweise liegt die zu vermessende zweidimensionale Kontur bzw. liegen die damit korrelierenden Meßpunkte in einer Ebene, die durch eine ausreichend plane Fläche des zu vermessenden dreidimensionalen Objektes gebildet wird. Dies kann natürlich auch eine gedachte Fläche sein, die teilweise im zu vermessenden Objekt liegt.
In einer bevorzugten Ausführungsform wird die Aufgabe erfindungsgemäß gelöst durch eine Vorrichtung zur opto¬ elektronischen, zweidimensionalen Vermessung planer Objekte, umfassend einen Rechner mit Betriebssoftware und Bildverarbeitungsleiterplatte, eine Bedieneroberfläche mit entsprechender Software, eine Tastatur und/oder eine Maus zur Bedienung des Systems, einen Bildschirm zur Darstel¬ lung des zu vermessenden, planen Objektes und zum Einlesen des Meßprogramms über Teach-in-Funktionen und eine oder mehrere Meßstationen mit jeweils einer entsprechenden analogen oder digitalen Kamera zur Erfassung des oder der zu vermessenden, planen Objekte und deren Konturen.
Grundsätzlich sind für die Optik der Bildaufnahmeeinrich¬ tung alle Arten von Objektiven für abbildende Vorrichtun- gen, wie z.B. Achromate, Apochromate oder Anastigmate geeignet. Derartige Objektive führen aber eventuell bau¬ artbedingt zu Abbildungsfehlern, wobei diese Aberrationen zu einer Verschlechterung der Meßgenauigkeit bzw. zu Meßfehlern führen.
Besonders vorteilhaft ist daher die Verwendung eines tele- zentrischen Objektivs, da dieses eine konstante Bildgröße für unterschiedliche Objektentfernungen sicherstellt und damit das Meßergebnis nicht durch die Tiefenausdehnung des Objektes oder seiner Positionsgenauigkeit beeinflußt wird.
Obwohl dieses System sowohl mit Auflicht als auch mit Durchlicht messen kann, hat sich die Messung im Durch¬ lichtverfahren als vorteilhaft erwiesen, was durch Ver- wendung einer Durchlichtbeleuchtungseinrichtung sicher¬ gestellt ist.
In diesen Ausfuhrungsformen wird die Beleuchtung insbeson¬ dere so gewählt, daß die Gesamtkontur (Projektionskontur) des zu vermessenden Objekts vermessen wird.
Dabei ist es besonders vorteilhaft, wenn die, die kontur¬ bildenden Seiten des Objektes parallel zu der optischen Achse einer telezentrischen Optik bzw. senkrecht zu der Auflage ausgerichtet sind.
Für die Beleuchtungseinrichtung können Diffuslicht- und Direktquellen verwendet werden. Bevorzugt ist eine tele- zentrische Beleuchtung.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung wird im Auflichtverfahren gemessen, wobei die der Bildaufnähmeein- richtung zugewandte Kontur vermessen wird. Dies kann vor¬ teilhafterweise erreicht werden, indem die Beleuchtungs¬ einrichtung das zu vermessende Objekt so beleuchtet, daß sich die der Bildaufnahmeeinrichtung zugewandte Fläche hell von dem dunklen Hintergrund und dem Rest des Objektes abhebt und so den zu Messung notwendigen Kontrast erzeugt.
In einer weiteren Ausführungsform werden die Durchlicht- messung und die Auflichtmessung so kombiniert, daß sie aufeinanderfolgend dasselbe Objekt vermessen. Dies ist besonders vorteilhaft bei der Vermessung von sich ver¬ jüngenden Objekten, die zwei gegenüberliegende plane Flächen mit unterschiedlichen Ausmaßen aufweisen, wie z.B. Kegel. Hierbei können in einem Arbeitsgang von dem Objekt sowohl die Basisfläche (Projektionsfläche) im Durchlicht als auch die Stirnfläche im Auflicht vermessen werden. Durch eine Rückkopplung der Beleuchtungseinrichtung mit der Auswerteeinrichtung wird die dabei gegebenenfalls auftretende Kontrastinversion bei der Auswertung berück- sichtigt.
Zur Darstellung eines Meßplatzes als "Stand-alone"-Lösung oder als in eine Fertigungsstraße integriertes und auto¬ matisches Hochgeschwindigkeits- und Hochpräzisionsmeß- system in Realtime ist es vorteilhaft, eine Vorrichtung zum Auflegen des planen Objektes und dessen automatischen Transport in die Meßebene zu verwenden, wobei die Vorrich¬ tung bevorzugt einen elektromotorischen Antrieb aufweist und die Vermessung der planen Objekte im Bildfeld der optoelektronischen Konstellation durchführbar ist.
Der Transport der zu vermessenden Objekte in die Meßebene erfolgt vorzugsweise über einen "Slider" .
Die Vorrichtung erlaubt Meßgeschwindigkeiten bis zu > 50 Messungen pro Sekunde. Die hohe Meßgeschwindigkeit ermög¬ licht auch in der Massenproduktion eine 100%ige Ausgangs- bzw. Zwischenkontrolle von Werkstücken, d.h. jedes Werk¬ stück wird einer Qualitätskontrolle unterzogen. Dies ist ein besonderer Vorteil gegenüber den Vorrichtungen nach dem Stand der Technik, die üblicherweise nur eine stich- probenartige Qualitätskontrolle zulassen.
Damit die Programmierung des Meßvorgangs über den Bild¬ schirm durch Teach-in erreicht wird, kann die Vorrichtung zusätzlich noch eine Scanfunktion zur Erfassung, Abspei- cherung, Verarbeitung und Wiederverwendung beliebiger Konturen aufweisen.
Die Verwendung eines vibrationsgedämpften und staubdichten Gehäuses für die Meßstation ist dann empfehlenswert, wenn diese Vorrichtung in nicht hochreinen Fertigungsstraßen verwendet wird, da Staubpartikel zu sehr großen Meßverfäl¬ schungen führen können, die bei einer Meßgenauigkeit von typischer Weise ≤ ± 2 μm sehr schnell gegeben ist.
Mit Hilfe der Erfindung ist die schnelle Vermessung kleiner und komplizierter, zweidimensionaler Objekte präzise, schnell und vor allen Dingen kostengünstig durchführbar.
Weitere Vorteile und Merkmale der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung einer bevorzugten Ausführungsform für die Vorrichtung und das damit durchführbare Verfahren.
Eine Ausführungsform der Vorrichtung zur zweidimensionalen Vermessung kleiner Objekte besteht aus einem Rechner, typischerweise einem PC mit Betriebssoftware und Bildver¬ arbeitungsleiterplatte, sowie mit Software für die Bedie¬ neroberfläche. Die Bedienung dieser Vorrichtung erfolgt über eine alphanumerische Tastatur und eine Maus. Die Dar- Stellung eines zu vermessenden Objektes erfolgt über einen Bildschirm. Über diesen Bildschirm kann die Programmierung des Meßvorgangs durch Teach-in erfolgen. Dabei werden alle notwendigen Merkmale für die zweidimensionale Meßtechnik programmiert. Weiterhin ist ein geeigneter, mechanischer Aufbau vorhanden zur Aufnahme eines vorzugsweise telezen- trischen Objektivs in Verbindung mit einer entsprechenden analogen oder digitalen Kamera zur Erfassung des Objektes und dessen Konturen. Diese Teile sind in einem vibrations- gedämpften und staubdichten Gehäuse angeordnet.
Die Vermessung des ebenen Objektes wird vorzugsweise im Durchlicht, typischerweise in Realtime, innerhalb dieses Gehäuses bzw. dieser Meßstation durchgeführt. Selbstver¬ ständlich können mehrere Meßstationen einem System zur Vermessung planer Objekte zugeordnet sein.
Pro Meßstation ist vorzugsweise eine Durchlichtbeleuch- tungseinrichtung, eine Vorrichtung zum Auflegen der Ob¬ jekte und deren automatischer Transport vorgesehen, wobei typischerweise diese Vorrichtung einen elektromotorischen Antrieb aufweist und das Objekt automatisch in die Meß- ebene hinein und wieder heraus transportiert.
Diese Vorrichtung ist für die Darstellung eines Meßplatzes als "Stand-alone"-Lösung oder als in eine Fertigungsstraße integriertes und automatisiertes Hochgeschwindigkeits- und Hochpräzisionsmeßsystem in Realtime geeignet.
Die Vermessung der Teile erfolgt im Bildfeld der optischen Konstellation, das heißt, Ausrüstung des Systems mit vor¬ zugsweise telezentrischen Objektiven unterschiedlichen Bildfeldes und in Kombination mit Kameras und deren CCD- Chips-Variationen ermöglichen eine Anpassung auf Kunden- meßerfordernisse εowie die Einstellung der Meßgenauigkeit.
Die Vorrichtung ist rechnergestützt und CNC-gesteuert und kann damit die Vermessung vollautomatisch durchführen. Der Bedienrechner besteht aus einem Monitor, einer Maus oder Joystick und einer alphanumerischen Tastatur. Im Bedien- rechner ist auch die meßsystemspezifische Software in¬ tegriert, wobei die graphische Bedieneroberfläche die Funktionalität des Systems bestimmt. Der Bedienrechner kann auch in ein EDV-Netzwerk integriert werden und den so entstehenden Datenverbund nutzen.
Einmal erstelle Meßprogramme können abgespeichert und jederzeit wieder aufgerufen werden, um gleichartige Teile ohne erneut zu erstellende Meßprogramme/Teach-in vermessen zu können.
Neben dem Betrieb als Meßsystem ist auch das Scannen unbe¬ kannter Konturen möglich, um so z.B. die Eingangsdaten einer CNC-gesteuerten Laserschneidemaschine zu gewinnen.
Das beschriebene System weist eine Meßgenauigkeit von typischerweise ≤ ± 2 μm auf.
Das Verfahren zur zweidimensionalen Vermessung planer Ob- jekte mit dieser Vorrichtung beginnt mit dem Auflegen des zu vermessenden Objektes auf die Objektauflage, wobei die Vorrichtung keinerlei spezielle Ausrichtung des zu vermes¬ senden Objektes benötigt. Anschließend wird die Lageer¬ kennung mit Hilfe einer geeigneten Einrichtung und/oder Software durchgeführt. Das Ergebnis kann als digitales Bild auf einem Display dargestellt werden.
Die anschließende Meßpunktaufnahme erfolgt entweder manuell, dann durch Ansteuern gewünschter Meßpunkte mit einer Maus, wobei der Fangbereich des Cursors lediglich in die Nähe der zu vermessenden Werkstück- bzw. Objektkante zu plazieren ist, oder auch automatisch mit Hilfe des Rechners, wenn dem Rechner bekannte Objekte vermessen werden sollen.
Sowohl die Meßpunktaufnahme als auch die sich daran an¬ schließende Messung kann unter Verwendung eines Kanten- findungs- (Edgefinding) und eines Unterrasterpunkt- Algorithmus (Subpixeling) durchgeführt werden.
Die eventuell auftretenden mechanischen und optischen Fehler der spezifischen Meßmaschine bzw. des spezifischen Meßsystems werden mit einem geeigneten Kalibrierverfahren ermittelt und entsprechend kompensiert. Dabei ist es vor¬ teilhaft, die ortsabhängigen Korrekturdaten in einer systemimmanenten Datenbank oder Speichereinrichtung abzu- legen, so daß die ortsspezifischen Daten der Objektkanten mit den in dieser Datenbank abgelegten Werten korrigiert werden können.
Mit Hilfe der erfindungsgemäßen Vorrichtung bzw. des er- findungsgemaßen Verfahrens können auch höchste Ansprüche an den Nachweis der Qualität befriedigt werden. Dabei wird das Erstellen neuer Meßprogramme durch die graphische Benutzeroberfläche auf Window-Basis optimal unterstützt. Die erfindungsgemäße Lösung bietet den Vorteil der voll- automatischen und berührungslosen Vermessung. So können auch CAD-Daten zur Erstellung eines Meßprogramms einge¬ lesen und SPC-Daten ausgegeben werden, wobei noch die zusätzliche Möglichkeit der Integration durch CAQ-Anwen- dungen besteht. Das erfindungsgemäß computergesteuerte Meßsystem bzw. Meßverfahren mit hoher Meßgenauigkeit in
Verbindung mit außergewöhnlicher Meßgeschwindigkeit garan¬ tiert reproduzier- und protokollierbare Messungen bei höchster Wirtschaftlichkeit.

Claims

ANSPRUCHE
1. Vorrichtung zur optischen Vermessung einer zwei¬ dimensionalen Kontur bzw. der damit korrelierenden Me߬ punkte von dreidimensionalen Objekten, bestehend aus wenigstens einer Bildaufnahmeeinrichtung zur Erfassung der Kontur bzw. der damit korrelierenden Meßpunkte, einer Auswerte- und Steuereinrichtung zur Ansteuerung der Bildaufnahmeeinrichtung und Aufnahme und Auswer¬ tung der von der Bildaufnahmeeinrichtung erzeugten Bildinformationen, wobei die Einrichtung über eine Teach-in-Funktion verfügt, einer Einrichtung zur Speicherung und Bereitstellung von Meßwerten, Kalibrier- und Korrekturparametern, Meßprogrammen sowie Soll-Werten für die zu vermes- sende Kontur, einer Beleuchtungseinrichtung zur Schaffung von hin¬ reichend kontrastreichen Beleuchtungsverhältnissen, sowie optional einer Bildausgabeeinrichtung zur Kon¬ trolle des Meßvorganges und der Meßergebnisse durch einen Bediener.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildaufnähmeeinrichtung über eine telezentrische Optik verfügt.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung weiterhin Einrichtungen zur automatischen Lageerkennung des zu vermessenden Objekts umfaßt.
4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An¬ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Beleuchtungseinrichtung zur Durchlichtmessung und/oder zur Auflichtmessung aus¬ gelegt ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß durch wahlweisen Einsatz einer Auflichtbeleuchtung die der Bildaufnahmeeinrichtung zuge¬ wandte Kontur des zu vermessenden Objekts vermessen wird und/oder durch Einsatz der Durchlichtbeleuchtung die Basis- bzw. Projektionskontur des zu vermessenden Objektes vermessen wird.
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An¬ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß sie eine oder mehrere Einrich¬ tungen zur manuellen, halbautomatischen oder vollautomati¬ schen Zuführung und/oder Abführung der zu vermessenden Objekte, sowie zur Einbringung der Objekte in die Meßebene umfaßt.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung ein Slider ist.
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An¬ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung weitere Ein¬ richtungen zur Übergabe von Meßwerten und/oder Steuersig¬ nalen an weitere Vorrichtungen, insbesondere zur Selek- tierung und/oder Weiterbearbeitung der zu vermessenden Objekte umfaßt.
9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An- sprüche, gekennzeichnet durch eine Scan-Funktion zur Erfassung, Abspeicherung, Verarbeitung und Wiedergabe beliebiger Konturen .
10. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An- sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Auswerteeinheit einen Kantenfindungs- (Edgefinding) und/oder Unterrasterpunkt- Algorithmus (Subpixeling) verwendet.
11. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An¬ sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Bildbereich der Bildauf¬ nahmeeinrichtung nur einen Teilbereich des zu vermessenden Objekts erfaßt.
12. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden An¬ sprüche, gekennzeichnet durch eine Meßgenauigkeit von typischer¬ weise > ± 2 μm.
13. Verwendung einer Vorrichtung nach einem der An¬ sprüche 1 bis 12 zur Vermessung von Werkstücken.
14. Verfahren zur optischen Vermessung einer zwei- dimensionalen Kontur bzw. der damit korrelierenden Me߬ punkte eines dreidimensionalen Objektes, umfassend die Schritte: die Auflage eines zu vermessenden Objekts auf eine Objektauflagefläche, - eine Bildaufnahme des Objektes durch eine Bildauf¬ nahmeeinrichtung, die Beleuchtung des Objekts durch eine Beleuchtungs- einrichtung während der Bildaufnahme, die Bestimmung der Objektkontur bzw. der Meßpunkte aus den von der Bildaufnahmeeinrichtung erzeugten
Bildinformationen und Erzeugung von digitalen Kontur¬ bzw. Meßpunktinformationen als Ist-Werte, den Vergleich der gewonnenen Ist-Werte mit vorgegebe¬ nen Soll-Werten, gegebenenfalls unter Hinzuziehung von Korrekturparametern, die Weitergabe des Vergleichsergebnisses an eine Ausgabeeinrichtung.
15. Verfahren nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Kontur- bzw. Meßpunktbe¬ stimmung unter Verwendung von Kantenfindungs- (Edgefin- ding) und/oder Unterrasterpunkt-Algorithmen (Subpixeling) durchgeführt wird.
16. Verfahren nach Anspruch 14 oder 15, gekennzeichnet durch die Verwendung einer telezentrischen Optik für die Bildaufnahmeeinrichtung.
17. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 16, dadurch gekennzeichnet, daß nach Auflage des Objektes auf die Objektauflage eine Lageerkennung durchgeführt wird.
18. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 17, gekennzeichnet durch die Verwendung einer Auflichtbe¬ leuchtung.
19. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 17, gekennzeichnet durch die Verwendung einer Durchlicht- beleuchtung.
20. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 17, dadurch gekennzeichnet, daß dasselbe Objekt sowohl mit einer Auflichtbeleuchtung als auch mit einer Durchlicht- beleuchtung vermessen wird.
21. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 17, 19 oder 20, dadurch gekennzeichnet, daß durch die Verwendung der Auf- lichtbeleuchtung nur die der Bildaufnahmeeinrichtung zu¬ gewandte Kontur vermessen wird.
22. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 21, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgabeeinrichtung weitere Vorrichtungen, insbesondere zur Auswahl oder Weiterbear¬ beitung der zu vermessenden Objekte ansteuert.
23. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 22, dadurch gekennzeichnet, daß die Bildufnahmeeinrichtung nur das Abbild eines Teils des Objektes erfaßt.
24. Verfahren nach einem der Ansprüche 14 bis 23, dadurch gekennzeichnet, daß ein Werkstück vermessen wird.
PCT/EP1996/002774 1995-06-26 1996-06-25 System zur zweidimensionalen vermessung planer objekte Ceased WO1997001742A1 (de)

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