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TWI780491B - 力量/力矩感測器的校正裝置 - Google Patents

力量/力矩感測器的校正裝置 Download PDF

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Publication number
TWI780491B
TWI780491B TW109133716A TW109133716A TWI780491B TW I780491 B TWI780491 B TW I780491B TW 109133716 A TW109133716 A TW 109133716A TW 109133716 A TW109133716 A TW 109133716A TW I780491 B TWI780491 B TW I780491B
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TW
Taiwan
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force
torque sensor
jig
electromagnet
calibration device
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Application number
TW109133716A
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English (en)
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TW202212792A (zh
Inventor
王郁仁
董哲維
Original Assignee
國立中山大學
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Abstract

一種力量/力矩感測器的校正裝置包含一具有至少一導磁塊的治具、一電磁鐵及一荷重元,該治具用以結合一設置於一載台的力量/力矩感測器,該電磁鐵用以磁吸該治具的該導磁塊,使該荷重元產生一受力數據,且當該電磁鐵磁吸該導磁塊時,該治具對該力量/力矩感測器施力,並使該力量/力矩感測器產生一受力數據,藉由該荷重元的該受力數據及該力量/力矩感測器的該受力數據,校正該力量/力矩感測器或調整該電磁鐵磁吸該導磁塊的一磁吸位置。

Description

力量/力矩感測器的校正裝置
本發明是關於一種力量/力矩感測器的校正裝置,用以校正一力量/力矩感測器或調整一電磁鐵的一磁吸位置的校正裝置。
以自動化機械(尤其機械手臂)進行零件加工或組裝時,必需依賴感測器感測自動化機械作動的力量,因此感測器是否能夠精密地感測機械手臂的施力或受力,將影響加工或組裝等作業。
為避免感測器感測不準確,在感測器裝設於自動化機械前,會以校正機構校正感測器,然而一般校正機構通常會因傳動元件間的間隙或摩擦力,而造成傳遞力量的損耗,當傳遞力量損耗時將造成校正誤差。
本發明的一種力量/力矩感測器的校正裝置,其主要目的用以校正一力量/力矩感測器及調整一電磁鐵的一磁吸位置。
本發明的一種力量/力矩感測器的校正裝置包含一治具、一電磁鐵及一荷重元,該治具用以結合一設置於一載台的力量/力矩感測器,該治具具有至少一導磁塊,該電磁鐵用以磁吸該治具的該導磁塊,該荷重元結合該電磁鐵, 當該電磁鐵提供一磁力磁吸該導磁塊,以推動該治具對該力量/力矩感測器施力時,該荷重元產生一受力數據,該力量/力矩感測器產生一受力數據,藉由該荷重元的該受力數據及該力量/力矩感測器的該受力數據,校正該力量/力矩感測器或調整該電磁鐵磁吸該導磁塊的一磁吸位置。
本發明的一種力量/力矩感測器的校正裝置的治具,其用以結合一設置於一載台的力量/力矩感測器,該治具包含一本體、至少一導磁塊、至少一支持樑及一結合座,該導磁塊設置於該本體,該支持樑用以設置至少一應變規,該結合座以該支持樑結合該本體,該結合座用以結合該力量/力矩感測器。
本發明的一種力量/力矩感測器的校正裝置包含一治具及一電磁鐵,該治具具有一本體、至少一導磁塊、一結合座、至少一支持樑及一容置槽,該導磁塊設置於該本體,該結合座及該支持樑位於該容置槽中,該結合座以該支持樑結合該本體,該支持樑設有至少一應變規,該結合座用以結合該力量/力矩感測器,該電磁鐵用以磁吸該治具的該導磁塊,當該電磁鐵提供一磁力磁吸該導磁塊時,該支持樑受力並產生形變,並使設置於該支持樑的該應變規產生一受力數據,藉由該受力數據調整該電磁鐵磁吸該導磁塊的一磁吸位置。
本發明以該電磁鐵磁吸該治具的該導磁塊,以避免在傳遞力量時,產生力量的損耗,其可增加該校正裝置的精準度,且當該電磁鐵磁吸該導磁塊時,該荷重元產生一受力數據,該力量/力矩感測器產生一受力數據,藉由該荷重元的該受力數據及該力量/力矩感測器的該受力數據,以校正該力量/力矩感測器或調整該電磁鐵磁吸該導磁塊的一磁吸位置。
10:載台
20:力量/力矩感測器
20a:待校正的力量/力矩感測器
100:校正裝置
110:治具
111:本體
112:導磁塊
112a:表面
113:結合座
114:支持樑
115:容置槽
116:補強板
117:轉接座
117a:結合柱
120:電磁鐵
130:荷重元
140:應變規
150:位移調整座組
151:縱向調整座
152:橫向調整座
153:垂直向調整座
D1:第一厚度
D2:第二厚度
X:縱向
Y:橫向
Z:垂直向
第1圖:本發明的校正裝置的立體圖。
第2圖:本發明的校正裝置的局部立體圖。
第3圖:本發明的校正裝置的局部分解立體圖。
第4圖:本發明的校正裝置的局部立體圖。
第5圖:本發明的校正裝置的局部剖視圖。
第6圖:本發明的校正裝置的局部立體圖。
第7圖:本發明的校正裝置的治具的立體圖。
第8圖:本發明的校正裝置的治具的立體剖視圖。
第9圖:本發明的校正裝置的治具的立體剖視圖。
第10圖:本發明的校正裝置的局部立體圖。
第11圖:本發明的校正裝置的局部側視圖。
第12圖:本發明的校正裝置的局部側視圖。
請參閱第1至3圖,本發明的一種力量/力矩感測器的校正裝置100能被運用於單軸或多軸校正,該校正裝置100包含一治具110、至少一電磁鐵120及至少一荷重元130,該治具110用以結合一設置於一載台10的力量/力矩感測器20,該治具110具有至少一導磁塊112,該電磁鐵120用以磁吸該治具110的該導磁塊112。
請參閱第1至3圖,在本實施例中,該校正裝置100揭示有6個電磁鐵120及6個荷重元130,該治具110具有6個導磁塊112,該些導磁塊112成對且對 稱地設置於該治具110,各該電磁鐵120用以分別磁吸各該導磁塊112,且設置於該治具110上方的各該電磁鐵120被裝設於一支架(圖未繪出)上,但本實施例並非用以限制電磁鐵、荷重元及導磁塊的數量。
請參閱第1至3圖,該荷重元130結合該電磁鐵120,在本實施例中,該電磁鐵120位於該導磁塊112與該荷重元130之間,該電磁鐵120提供一磁力磁吸該導磁塊112以推動該治具110,該導磁塊112具有一表面112a,該表面112a朝向該電磁鐵120,較佳地,該表面112a的面積不小於該電磁鐵120的磁吸面積。
請參閱第1至3圖,該校正裝置100另包含一位移調整座組150,該荷重元130設置於該電磁鐵120與該位移調整座組150之間,該位移調整座組150用以調整該電磁鐵120磁吸該治具110的該導磁塊112的一磁吸位置,在本實施例中,該位移調整座組150可選擇性地包含一縱向調整座151、一橫向調整座152及一垂直向調整座153的其中之一,或該縱向調整座151、該橫向調整座152及該垂直向調整座153的其中之二以上的組合,該縱向調整座151用以調整該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置在一縱向X的位移量,該橫向調整座152用以調整該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置在一橫向Y的位移量,該垂直向調整座153用以調整該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置在一垂直向Z的位移量。
請參閱第2至4圖,該治具110具有一本體111、一結合座113及至少一支持樑114,在本實施例中,揭示該治具110具有4個支持樑114,但本實施例並非用以限制支持樑的數量。
請參閱第2至5圖,該導磁塊112設置於該本體111,該結合座113以該支持樑114結合該本體111,該結合座113用以結合該力量/力矩感測器20,在本 實施例中,該本體111具有一容置槽115,該容置槽115貫穿該本體111,該結合座113位於該容置槽115中,較佳地,該支持樑114位於該容置槽115中,請參閱第5圖,該本體111具有一第一厚度D1,該支持樑114具有一第二厚度D2,該第二厚度D2不大於該第一厚度D1。
請參閱第4圖,該校正裝置100另包含至少一應變規140,該應變規140設置於該支持樑114,該應變規140用以校正該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置,且由於該支持樑114的該第二厚度D2不大於該本體111的該第一厚度D1,因此可增加該應變規140感測該支持樑114的靈敏度。
請參閱第4、5及6圖,當成對的二電磁鐵120或其中一電磁鐵120以該磁力磁吸該治具110的該導磁塊112並推動該治具110時,該支持樑114受力產生形變,並使設置於該支持樑114的該應變規140產生一受力數據(如電阻值等數據),當該受力數據未達到一標準受力數據時,即可判斷該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置未在一預定的區域,在本實施例中,可藉由該縱向調整座151、該橫向調整座152及該垂直向調整座153調整該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置,使該磁吸位置位於該預定的區域中。
請參閱第4及6圖,在本實施例中,當該校正裝置100包含複數個電磁鐵120,且該結合座113以複數個支持樑141結合該本體111時,各該電磁鐵120以鄰近各該電磁鐵120的各該支持樑141的形變量(即應變規140所產生的受力數據)為依據,以進行調整該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置。
請參閱第2、3、7至9圖,該治具110另包含一補強板116,該補強板116結合該本體111及該結合座113,且該補強板116罩蓋該容置槽115,較佳地,該治具110另包含一轉接座117,該結合座113結合該轉接座117,且該結合座113 以該轉接座117結合該力量/力矩感測器20,更佳地,該轉接座117結合該補強板116,使該結合座113被夾持並固定於該補強板116與該轉接座117之間,在本實施例中,該轉接座117具有至少一結合柱117a,該結合柱117a位於該容置槽115中,且該轉接座117以該結合柱117a結合該補強板116。
請參閱第1、2、3、7至9圖,該結合座113以該轉接座117結合設置於該載台10的該力量/力矩感測器20以調整該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置或校正該力量/力矩感測器20時,該補強板116及該轉接座117用以增加該治具110的結構強度。
請參閱第1、10及11圖,在一校正實施例中,將一合格的力量/力矩感測器20設置於該載台10,且該治具110結合該力量/力矩感測器20,在本實施例中,該結合座113以該轉接座117結合該力量/力矩感測器20,當該電磁鐵120提供一磁力磁吸該導磁塊112,以推動該治具110對該力量/力矩感測器20施力時,該荷重元130產生一受力數據,且該力量/力矩感測器20產生一受力數據,經由比對該荷重元130的該受力數據與該力量/力矩感測器20的該受力數據的差異,可判斷該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置是否位在該預定的區域中,當該磁吸位置是未在該預定的區域中時,相同地,可藉由該縱向調整座151、該橫向調整座152及該垂直向調整座153調整該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置,使該磁吸位置位於該預定的區域中。
請參閱第1及12圖,在另一校正實施例中,當該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置位於該預定的區域時,將一待校正的力量/力矩感測器20a設置於該載台10,且該治具110結合該待校正的力量/力矩感測器20a,在本實施例中,該結合座113以該轉接座117結合該待校正的力量/力矩感測器20a,當該 電磁鐵120提供一磁力磁吸該導磁塊112,以推動該治具110對該待校正的力量/力矩感測器20a施力時,該荷重元130產生一受力數據,該待校正的力量/力矩感測器20a產生一受力數據,經由比對該荷重元130的該受力數據與該待校正的力量/力矩感測器20a的該受力數據的差異,以對該待校正的力量/力矩感測器20a的該受力數據進行校正。
本發明是以該電磁鐵120磁吸該治具110的該導磁塊112,其可避免在傳遞力量時,產生力量的損耗,以增加該校正裝置100的精準度,且由於該治具110可在不同的表面設置成對且對稱的該些導磁塊112,以分別供各該電磁鐵120磁吸,因此可不翻轉該力量/力矩感測器20及該治具110,即可對該力量/力矩感測器20進行校正,或調整該電磁鐵120磁吸該導磁塊112的該磁吸位置。
本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準,任何熟知此項技藝者,在不脫離本發明之精神和範圍內所作之任何變化與修改,均屬於本發明之保護範圍。
10:載台
20:力量/力矩感測器
100:校正裝置
110:治具
112:導磁塊
113:結合座
120:電磁鐵
130:荷重元
150:位移調整座組
X:縱向
Y:橫向
Z:垂直向

Claims (10)

  1. 一種力量/力矩感測器的校正裝置,包含:一治具,用以結合一設置於一載台的力量/力矩感測器,該治具具有至少一導磁塊;一電磁鐵,用以磁吸該治具的該導磁塊;以及一荷重元,結合該電磁鐵,當該電磁鐵提供一磁力磁吸該導磁塊,以推動該治具對該力量/力矩感測器施力時,該荷重元產生一受力數據,該力量/力矩感測器產生一受力數據。
  2. 如請求項1之力量/力矩感測器的校正裝置,其中該電磁鐵位於該導磁塊與該荷重元之間。
  3. 如請求項1之力量/力矩感測器的校正裝置,其中該治具具有一本體、一結合座及至少一支持樑,該導磁塊設置於該本體,該結合座以該支持樑結合該本體,該結合座用以結合該力量/力矩感測器。
  4. 如請求項3之力量/力矩感測器的校正裝置,其中該本體具有一容置槽,該容置槽貫穿該本體,該結合座位於該容置槽中。
  5. 如請求項4之力量/力矩感測器的校正裝置,其中該支持樑位於該容置槽中。
  6. 如請求項3之力量/力矩感測器的校正裝置,其另包含至少一應變規,該應變規設置於該支持樑。
  7. 如請求項4或5之力量/力矩感測器的校正裝置,其中該治具另包含一補強板,該補強板結合該本體及該結合座,且該補強板罩蓋該容置槽。
  8. 如請求項7之力量/力矩感測器的校正裝置,其中該治具另包含一 轉接座,該結合座結合該轉接座,該結合座以該轉接座結合該力量/力矩感測器。
  9. 如請求項8之力量/力矩感測器的校正裝置,其中該轉接座結合該補強板。
  10. 如請求項9之力量/力矩感測器的校正裝置,其中該轉接座具有至少一結合柱,該結合柱位於該容置槽中,且該轉接座以該結合柱結合該補強板。
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