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TWI431280B - 接觸元件及電性連接裝置 - Google Patents

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TWI431280B
TWI431280B TW099113068A TW99113068A TWI431280B TW I431280 B TWI431280 B TW I431280B TW 099113068 A TW099113068 A TW 099113068A TW 99113068 A TW99113068 A TW 99113068A TW I431280 B TWI431280 B TW I431280B
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TW
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plugs
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joint
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TW099113068A
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Inventor
Ken Kimura
Katsuyuki Kakizaki
Original Assignee
Nihon Micronics Kk
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Publication of TW201111795A publication Critical patent/TW201111795A/zh
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Description

接觸元件及電性連接裝置
本發明，係有關於與在配線基板或是半導體積體電路等處所具備的電極相接觸之接觸元件、以及電性連接裝置。
將相對向地而被配設之配線基板的電性電路等相互作電性連接之接觸元件，係為一般所週知者，作為此種接觸元件之例，例如係存在有於專利文獻1或專利文獻2中所記載者。
專利文獻1之接觸元件1，係如圖2、3中所示一般，為由相同形狀之2個的接觸銷2和線圈彈簧3所構成者。
接觸銷2，主要係由卡止爪4和卡止孔5和凸緣部6以及銷前端部2A所構成。卡止爪4，係相對向地而被設置有2個，並藉由具有可撓性之支持棒部4A而被作支持。藉由此，2個的卡止爪4，係成為相互作近接分離。卡止孔5，係為卡止爪4作嵌合之孔，並與卡止爪4之寬幅相配合地而被形成為長方形狀。藉由此，經由將2個的接觸銷2偏移90度地而相互對向地作嵌合，在卡止孔5之開口處，2個的卡止爪4係分別作卡合並相互成為不會脫落。凸緣部6，係為線圈彈簧3作抵接之部分。藉由使2個的接觸銷2在分別被插入至線圈彈簧3中之狀態下而偏移90度地相互作嵌合，線圈彈簧3之兩端係與各凸緣部6相抵接，而接觸元件1係被作組裝。在2個的接觸銷2相互作了嵌合的狀態下而被作了組裝之接觸元件1的兩端部，係被作為與電極等相接觸並被作電性連接之銷前端部2A。
又，專利文獻2之接觸元件7，係如圖4中所示一般，由栓8和彈簧9所構成。
栓8，係被形成細長之板狀，於其之上部，係被設置有承受彈簧9之廣寬幅部8A，於此廣寬幅部8A之上部，係被形成有與電極作接觸之端子部8B。在廣寬幅部8A之下部，係被形成有可上下自由移動地而被插入至彈簧9內的芯棒部8C。彈簧9，係被形成為能夠將芯棒部C可上下自由移動地作插入之內徑。彈簧9之下端部，係被縮徑為較細，並與電極等相接觸。
又，亦存在有如同專利文獻3一般之構造者。專利文獻3之電性零件用插座，係具備有：與電性零件之端子相接觸之接觸構件、和由具備有導電性之板材所形成，並被與印刷電路基板相連接之基板導通構件、和被配設在該接觸構件以及前述基板導通構件之間，並將該兩者作導通之線圈彈簧。接觸構件與基板導通構件，係相互並不接觸，在此些之間，係藉由線圈彈簧而作了連接。
[專利文獻1]日本特表2008-516398號公報
[專利文獻2]日本特開2004-152495號公報
[專利文獻3]日本特開平11-317270號公報
然而，在上述專利文獻1之接觸元件1中，在其中一方之接觸銷2的卡止爪4與另外一方之接觸銷2的卡止孔5作了嵌合的狀態下，若是伴隨著接觸元件1之伸縮而使卡止爪4與卡止孔5之週緣作了多次的接觸，則會有卡止爪4或是支持棒部4A由於磨耗等而損傷的情形，而欠缺耐久性。
又，各接觸銷2，由於係僅使其之卡止爪4與他方側之卡止孔5相嵌合，而相互之接觸面積係為小，因此，主要擔任電性連接之責任者，係成為線圈彈簧3。但是，卡止爪4或是支持棒部4A之部分，由於係有必要在被插入於線圈彈簧3內的狀態下而擴廣並嵌合於他方側之卡止孔5中，因此，將線圈彈簧3設為能夠將接觸銷2鎖緊的內徑一事，係為困難。進而，由於線圈彈簧3係為壓縮彈簧，且其與接觸銷2間的接觸點亦為少，因此，各接觸銷2與線圈彈簧3之間的密著性係變弱。因此，各接觸銷2之凸緣部6與線圈彈簧3之間的接觸部分，係成為電所流動的中心通路，但是，其之接觸面積係為狹窄，且容易發生磨耗、腐蝕等，電性之接觸性係為差。故而，係容易引起接觸不良，而有著欠缺耐久性之問題。
又，在專利文獻2之接觸元件7中，彈簧9之內徑，由於係被設定為能夠將栓8之芯棒部8C上下自由移動地作插入之尺寸，因此，栓8與彈簧9會有時而接觸時而不接觸的情況，而電性之接觸性係為差。因此，將栓8與彈簧9之間作電性連接者，主要係成為栓8之廣寬幅部8A與彈簧9之上端部間的接點。故而，其接觸面積係為狹窄，並容易由於磨耗、腐蝕等而引起接觸不良，而有著電性接觸性為差並欠缺耐久性之問題。
又，在專利文獻3的情況時，由於並沒有栓彼此間的接觸，而僅係藉由彈簧來相互地作電性接觸，因此，係有著電性接觸性為差的問題。
本發明，係為有鑑於此種問題點而進行者，其目的，係在於提供一種：將電性接觸性作改善並將耐久性作了提升的低成本之接觸元件、以及使用有此接觸元件之電性連接裝置。
本發明之接觸元件，是為了解決前述課題而進行者，其構成係具備有：第1栓，係為板狀，並與其中一方之構件相接觸；和第2栓，係為板狀，並在與該第1栓重合了的狀態下，而與另外一方之構件相接觸，並與前述第1栓協同作用地而將前述其中一方之構件與另外一方之構件之間作電性導通；和壓縮線圈彈簧，係為將第1栓與第2栓相結合的構件，並將前述第1栓以及第2栓之結合部的外周作覆蓋，且分別與各栓之彈簧承受部相抵接，而將各栓以可相對性地作滑動的方式來作支持。
又，本發明之電性連接裝置，係為與被檢查體之電極相接觸並進行試驗之電性連接裝置，其特徵為：係具備有被配設在與前述被檢查體之各電極相對應的位置處並與該些各電極相接觸而通電的接觸元件，作為該接觸元件，係使用有上述之接觸元件。
在本發明之接觸元件以及電性連接裝置中，係在使第1栓之結合部與第2栓之結合部相重合並被電性導通的狀態下，使此些前述第1栓與第2栓協同動作地而將前述其中一方之構件與另外一方之構件之間作電性導通。藉由此，電性接觸性係改善，耐久性係提升。進而，零件數量係減少，而能夠謀求成本之降低。
以下，針對本發明之實施形態的接觸元件以及電性連接裝置，參考所添附之圖面來作說明。
[第1實施形態]
首先，根據圖5～9，針對本實施形態之電性連接裝置11作說明。電性連接裝置11，係為在被檢查體12之通電試驗等中所使用的裝置。被檢查體12，係為積體電路等之半導體裝置。被檢查體12，係於其之下側面處被設置有複數之突塊電極13(參考圖8)。此突塊電極13，係為被設置在被檢查體12之下側面處的電極。各突塊電極13，係在被檢查體12之下側面處，以一列、複數列、矩陣狀或是其他之配列的形態而被具備。
電性連接裝置11，其構成主要係具備有配線基板15、和下側殼體16、和上側殼體17、和框架18、和導引板19、和接觸元件20(參考圖8)。
配線基板15。係為將下側殼體16、上側殼體17等作支持之板狀的配線基板。此配線基板15之配線，係被與對於被檢查體作試驗之測試機本體(未圖示)的配線相連接。配線基板15，係為構成測試機本體側之電極的構件，接觸元件20之下端部，係與被設置在配線基板15之上面的接觸墊片22相接觸，並被作電性導通。
下側殼體16，係為用以在被與前述上側殼體17相配合的狀態下，而將接觸元件20作支持之構件。在下側殼體16處，係以較接觸元件20之外徑而更略大的口徑，而被設置有將接觸元件20之下端部作插入之第1支持孔16A。此第1支持孔16A，係分別被設置在與被檢查體12之下面的各突塊電極13相對應之位置處。在第1支持孔16A內，係被形成有承受接觸元件20並作支持之下側承受部16B。下側承受部16B，係將第1支持孔16A之下端部的內徑縮小而被形成。以使後述之接觸元件20的下側支持肩部73勾掛在此下側承受部16B處並使接觸元件20之下端部作貫通的方式，來設定下側承受部16B之內徑。藉由使接觸元件20的下側支持肩部73勾掛在此下側承受部16B處，接觸元件20係成為藉由下側承受部16B而被作支持。
下側殼體16，係被重疊在配線基板15之上側。在配線基板15之上側面處，係在與前述第1支持孔16A相對應的位置處，而被設置有藉由配線而與測試機本體相連接之接觸墊片22。在各接觸墊片22處，插入至第1支持孔16A中之接觸元件20的下端部係被作推壓，並作電性接觸。
在下側殼體16處，係被設置有銷頭部嵌合孔23(參考圖5)。此銷頭部嵌合孔23，係為用以與後述之導引銷37之頭部39作嵌合的孔。銷頭部嵌合孔23之內徑，係被設置為與此導引銷37之頭部39的外徑略相同之尺寸，導引銷37之頭部39，係成為無空隙地而作嵌合。
上側殼體17，係為用以與下側殼體16協同作用地而將接觸元件20之全體作支持之構件。上側殼體17，係被與下側殼體16相重合，藉由此下側殼體16與上側殼體17，而成為將接觸元件20以可自由伸縮的狀態來作支持。在上側殼體17處，係在與下側殼體16之第1支持孔16A相對應的位置處，而被設置有第2支持孔17A。此第2支持孔17A，係被形成為與第1支持孔16A之上側開口相同的內徑(較接觸元件20之外徑而略大的口徑)，並於內部而將接觸元件20可滑動地作收容並作支持。第2支持孔17A，係分別被設置在與在被檢查體12之下側面處所具備之各突塊電極13相對應的位置處，並成為使各接觸元件20之上端部與各突塊電極13作電性接觸。
在第2支持孔17A內，係被形成有將接觸元件20從上側來作支持之上側承受部17B。此上側承受部17B，係將第2支持孔17A之上端部的內徑縮小而被形成。以使後述之接觸元件20的上側支持肩部79勾掛在此上側承受部17B處並使接觸元件20之上端部作貫通而將接觸元件20藉由上側承受部17B來作支持的方式，而設定上側承受部17B之內徑。
而後，藉由前述第1支持孔16A與第2支持孔17A，而構成將接觸元件20全體納入並作支持的接觸元件支持孔27。接觸元件20，在被納入至接觸元件支持孔27中的狀態下，接觸元件20係為預先被施加有壓力的狀態(縮短狀態)，接觸元件20之下端部，係成為對於被設置在配線基板15之上面的接觸墊片22作推壓的狀態。
在上側殼體17處，係被設置有銷軸部嵌合孔28(參考圖5)。此銷軸部嵌合孔28，係為用以與後述之導引銷37之軸部40作嵌合的孔。銷軸部嵌合孔28之內徑，係被設置為與此導引銷37之軸部40的外徑略相同之尺寸，導引銷37之軸部40，係成為無空隙地而作嵌合。
框架18，係為用以將配線基板15、下側殼體16以及上側殼體17一體性地作固定而作支持，並且將導引板19可上下移動地作支持的構件。框架18，係由外框部31、和固定用凸緣部32、和上下移動支持用凸緣部33，而構成之。
外框部31，係以將下側殼體16、上側殼體17以及導引板19之週緣部作包圍的方式，而被形成為四角形之框體狀。在外框部31之下側面處，係被設置有定位用銷或是定位用孔(均未圖示)，在配線基板15之上側面處，係與外框部31側之定位用銷或是定位用孔相對應地，而被設置有定位用孔或是定位用銷(均未圖示)。藉由此，外框部31之下側面的定位用銷或是定位用孔，係嵌合於配線基板15之上側面的定位用孔或是定位用銷，外框部31與配線基板15，係成為被正確地作定位並作支持。在外框部31之四角隅處，係被安裝有固定螺桿35(參考圖7)。此固定螺桿35，係經介於外框部31之四角隅的貫通孔(未圖示)而被旋入至配線基板15之螺孔(未圖示)中，而將此些之外框部31與配線基板15作固定。
固定用凸緣部32，係在四角型之外框部31的開口部之相對向的邊(框)的內側面處，而相互對向地被設置有2個。各固定用凸緣部32，係被形成為相互朝向內側而水平延伸的略半圓板狀。各固定用凸緣部32之下面的高度(距離配線基板15之高度)，係被設定為與將下側殼體16以及上側殼體17作了重合後的高度略相同之值。藉由此，而成為將被重疊在配線基板15上的下側殼體16以及上側殼體17，藉由各固定用凸緣部32與配線基板15而作挾持並作支持。具體而言，當在固定用凸緣部32之下，而組入上側殼體17與下側殼體16時，下側殼體之下面，係成為與外框部31之下面相同。
在各固定用凸緣部32之中央處，係被形成有與導引銷37作嵌合之銷孔38。銷孔38之內徑，係被設置為與導引銷37之軸部40的外徑略相同之尺寸。
於此，導引銷37，係由頭部39與軸部40所構成。頭部39，係被形成為與下側殼體16之銷頭部嵌合孔23的內徑略相同之外徑的圓盤狀。軸部40，係被形成為與上側殼體17之銷軸部嵌合孔28以及固定用凸緣部32之銷孔38的內徑略相同之外徑的圓形棒狀。
前述下側殼體16之銷頭部嵌合孔23、和前述上側殼體17之銷軸部嵌合孔28、和前述各固定用凸緣部32之銷孔38，係為了使導引銷37通過此些孔，而被設置在同一軸心上。
藉由此，導引銷37之頭部39係與下側殼體16之銷頭部嵌合孔23相嵌合，而軸部40係與上側殼體17之銷軸部嵌合孔28以及固定用凸緣部32之銷孔38相嵌合，而進行此些之下側殼體16、上側殼體17以及框架18之定位。進而，藉由將下側殼體16以及上側殼體17以框架18之各固定用凸緣部32的下面與配線基板15來從上下而作挾持並支持於框架18之開口內，此些之配線基板15、下側殼體16、上側殼體17以及框架18，係相互被正確地作定位並成為被一體性地作固定。
上下移動支持用凸緣部33，係為用以將導引板19可上下移動地來在框架18之開口內作支持的部分。上下移動支持用凸緣部33，係分別被形成在四角形之框體狀的框架18之開口部的四角隅處。各上下移動支持用凸緣部33，係由板部42、和導引螺桿孔43、和彈簧孔44，而構成之。
板部42，係為被傾斜跨架在框架18之外框部31的四角隅處之板材。板部42之下側面的高度，係被設定為和固定用凸緣部32之下側面成為相同的高度。板部42之上側面的高度，係以使此板部42之上側面與導引板19之凸緣部54的下側面相互作抵接並藉由此來使被檢查體12之突塊電極13與接觸元件20之上端部作最適當之接觸的方式，而被作設定。具體而言，係以使被檢查體12之突塊電極13與接觸元件20之上端部作接觸，並使接觸元件20成為被推壓而縮短之狀態(圖9之狀態)的方式，來設定板部42之上側面的高度。
在板部42處，係被設置有導引螺桿孔43與彈簧孔44。導引螺桿孔43，係為用以將導引螺桿46作旋入的螺桿孔。此導引螺桿孔43，係於各板部42之中央(參考圖7)處而被設置有1個。彈簧孔44，係為用以將彈簧47作支持的孔。此彈簧孔44，係於各導引螺桿孔43之兩側處而分別被設置有2個。
導引螺桿46，係為用以進行導引板19之在框架18的開口內之定位，並且容許導引板19之上下移動的螺桿。導引螺桿46，係由頭部48、和導引部49、和螺桿棒部50，而構成之。
頭部48，係為壓制導引板19並防止其脫落的部分。在頭部48之上側面處，係被形成有使一字起子作嵌合之一字溝51。
導引部49，係為對於導引板19之上下移動作導引之部分。導引部49，係被設置在頭部48與螺桿棒部50之間，並嵌合於導引板19之導引孔59中，而對於導引板19之上下移動作導引。導引部49之長度(高度)，係以在前述頭部48之下面與導引板19相接觸並被作支持的狀態(導引板19被彈簧47而向上推壓的狀態)下，接觸元件20之上端部會被納入至導引板19之縮小部57中的方式(成為圖8一般之狀態的方式)，而被作設定。
螺桿棒部50，係為用以將導引螺桿46固定在板部42處之部分。螺桿棒部50，係被旋入至板部42之導引螺桿孔43中，並將導引螺桿46固定在板部42處。
彈簧47，係為用以將導引板19彈性地作支持之部分。彈簧47，係被裝著於板部42之彈簧孔44中，並抵接於導引板19之凸緣部54的背面處。藉由此，合計8根之彈簧47，係對於在4根的導引螺桿46之導引部49處而可上下移動地被作了支持的導引板19，而從下側來作推壓。藉由此，導引板19之凸緣部54係被朝向上方而推壓直到與導引螺桿46之頭部48的下面相接觸為止，並成為接觸前之待機狀態。
導引板19，係為在將被檢查體12裝著在電性連接裝置11處時，用以對於此被檢查體12作定位並作支持，並且，對於被檢查體12之各突塊電極13與各接觸元件20作整合的構件。導引板19，係由納入凹部53與凸緣部54所構成。
納入凹部53，係為將被檢查體12納入並作支持的部分。納入凹部53，係被形成為略四角型之凹盤狀。納入凹部53之內側底部，係被形成為四角形，其之尺寸係被設定為較被檢查體12而更些許大。另外，於此，由於被檢查體12係為四角形，因此，係將納入凹部53之內側底部亦形成為四角形，但是，當被檢查體12係為其他形狀的情況時，納入凹部53之內側底部，亦係成為與被檢查體12相合致的形狀。
藉由此，在將被檢查體12裝著於納入凹部53之內側底部的狀態下，被檢查體12之定位係被進行。在納入凹部53之底板部55處，係被設置有多數之導引孔56。此導引孔56，係為用以對於被檢查體12之各突塊電極13作導引並將其納入之開口。各導引孔56，係被形成為較突塊電極13而更些許大，並成為能夠容易地將突塊電極13納入。亦即是，藉由將被檢查體12納入至納入凹部53中，被檢查體12之各突塊電極13，係成為容易地從各導引孔56之上側而被嵌入至其中。
在導引孔56之下端部處，係被形成有並不使突塊電極13通過地而將接觸元件20之上端部作納入的縮小部57。此縮小部57，係將接觸元件20之上端部納入並允許其作貫通，而使接觸元件20與突塊電極13相接觸一事成為可能。
在納入凹部53之上側開口53A的下側處，係被形成有傾斜面53B。此傾斜面53B，係為用以對於被檢查體12作導引並將其導引至納入凹部53之底部處的面。
凸緣部54，係被形成於納入凹部53之4角的與框架18之上下移動支持用凸緣部33相對應的位置處。在各凸緣部54處，係被設置有與導引螺桿46之頭部48相抵接的魚眼部58。在此魚眼部58處，係被設置有與導引螺桿46之導引部49可上下移動地相嵌合之導引孔59。藉由此，納入凹部53之導引孔59，係與導引螺桿46之導引部49相嵌合並成為可上下移動，且藉由彈簧47而使導引板19被朝向上方而作推壓。在此狀態下，藉由將被檢查體12裝著於納入凹部53中並朝向下方作推壓，導引板19係被壓下，而被檢查體12之突塊電極13係與接觸元件20之上端部相接觸，並成為被進行檢查。
接觸元件20，係如圖1、10～15中所示一般，為由第1栓62、和2個的第2栓63、和壓縮線圈彈簧64，所構成者。
第1栓62，係為用以與作為其中一方之構件的電極等(於此，係為配線基板15之接觸墊片22)相接觸的板狀之栓，並藉由導電性之材料，而經由切削加工、衝壓加工等，或者是經由使用有光微影技術之電鍍等，而製作之。第1栓62，係被設置有1個。第1栓62，係由結合部66、和彈簧承受部67、和接觸片68，而構成之(參考圖13)。第1栓62之長度，係被設定為：當被組裝在電性連接裝置11處時，與從配線基板15之接觸墊片22起直到上側殼體17之上面為止的高度尺寸略相同。
結合部66，係為當第1栓62與2個的第2栓63相互被結合時而直接被重合，並用以使第1栓62與第2栓63作電性接觸之部分。結合部66，係由結合棒部69、和前端插入部70、和防脫落部71，而構成之。
結合部66，係被形成為長板狀，而能夠與第2栓63盡可能地以廣面積來安定地作接觸。結合棒部69，係為用以被支持於後述之壓縮線圈彈簧64處的部分，並被設定為較壓縮線圈彈簧64而更些許長的尺寸。
結合棒部69之寬幅尺寸，係被設置為與壓縮線圈彈簧64之密著小徑部84的內徑略相同之尺寸。亦即是，結合棒部69之剖面形狀的四角隅部分係成為與壓縮線圈彈簧64之密著小徑部84之內徑部相接的狀態，壓縮線圈彈簧64之密著小徑部84的內徑部，係成為結合棒部69之外接圓，並以僅些許地作鎖緊的狀態而被作組裝(參考圖11、12)。
前端插入部70，係為用以在組裝時而對於結合棒部69之朝向壓縮線圈彈簧64內的插入作導引之部分。前端插入部70，係被形成在結合棒部69之前端部(圖13中之上端部)處。前端插入部70，係具備有相對於插入方向而不會成為障礙地來平緩地作彎曲之傾斜面，並成為能夠容易地插入至壓縮線圈彈簧64內。進而，前端插入部70之厚度尺寸，係以在組裝時而使前端插入部70位置在後述之2個的第2栓63之接觸片77之間並使接觸片77之突 起77A的間隔成為安定的方式，而被作設定。
防脫落部71，係為當前端插入部70被插入至壓縮線圈彈簧64內時，用以使此前端插入部70不會從壓縮線圈彈簧64而脫落的部分。防脫落部71，係被設置在前端插入部70之基端部(結合棒部69與前端插入部70之邊界部分)處。亦即是，防脫落部71，係被形成於與彈簧承受部67相反之端部處。防脫落部71，係在前端插入部70之基端部而於兩側處突起地而形成之。此於兩側處作了突起的防脫落部71之寬幅，係被設定為較壓縮線圈彈簧64之端部的密著小徑部84之內徑而僅些許地突出(參考圖11)。
彈簧承受部67，係為用以承受壓縮線圈彈簧64的部分。彈簧承受部67，係為被設置在結合部66與接觸片68之間的邊界部分處之階段差。相較於結合部66之寬幅，接觸片68係將寬幅形成為較廣，此些之邊界的階段差部分，係成為彈簧承受部67。藉由在此彈簧承受部67處而使壓縮線圈彈簧64之端部的密著小徑部84作抵接，而成為經由壓縮線圈彈簧64來將第1栓62在接觸元件20處而彈性地作支持。
接觸片68，係為用以與其中一方之構件(配線基板15之接觸墊片22)相接觸並作電性連接的構件。接觸片68，係接續於結合部66之基端側(圖13之下側)而被一體性地設置。接觸片68，係由寬幅尺寸為較下側殼體16之第1支持孔16A以及上側殼體17之第2支持孔17A的內徑而更些許小的尺寸之略長方形板部、和接續於該板部而將下側殼體16之下側承受部16B作貫通的相較長方形板狀部而寬幅為更小尺寸之前端部，而形成之。接觸片68之前端部，係被作彎曲形成，並成為與平坦面狀之配線基板15的接觸墊片22安定地作接觸。在接觸片68處，係在長方形板狀部與前端部之邊界處而被形成有下側支持肩部73。此下側支持肩部73，係勾掛於下側殼體16之下側承受部16B處，並成為使接觸片68不會從第1支持孔16A而脫落。在下側支持肩部73被下側殼體16之下側承受部16B所卡住的狀態下，接觸片68之端部(圖8、9之下端部)係成為從第1支持孔16A而朝向下方突出。
第2栓63，係為與第1栓62協同作用並用以將其中一方之構件(配線基板15之接觸墊片22)與另外一方之構件(突塊電極13)之間作電性導通的板狀之栓，並藉由導電性之材料，而經由切削加工、衝壓加工等，或者是經由使用有光微影技術之電鍍等，而製作之。第2栓63，係由結合部75、和彈簧承受部76、和接觸片77，而構成之(參考圖14)。
第2栓63，係被設置有2個，並挾持第1栓62地而藉由壓縮線圈彈簧64來被作組裝。在2個的第2栓63之各結合部75相對向的狀態下，而將第1栓62之結合部66作挾持。藉由此，在1個的第一栓62與2個的第2栓63作電性連接並被作了導通的狀態下，各栓62、63係分別與接觸墊片22和突塊電極13作接觸，並將此些之間作電性導通。
2個的第2栓63，係被構成為相同之形狀。藉由使相同形狀之栓相對向地而構成，能夠進行對於所接觸之構件(突塊電極13)的良好之接觸。各栓63，係成為在將前述第1栓62作了挾持的狀態下而相互獨立地作滑動。此係因為，當所接觸之構件(突塊電極13)的形狀係為不均一的情況時，或者是當所接觸之構件(突塊電極13)係為球形狀的情況時，為了對其之形狀作追隨並確實地進行電性接觸之故。
結合部75，係為當第1栓62與第2栓63相互被結合時，用以與第1栓62之結合部66作重合並作電性接觸之部分。亦即是，係成為使2個的第2栓63之結合部75從兩側來對於第1栓62之結合部66作挾持並作重合，而使此些之第1栓62與第2栓63作電性接觸。結合部75，係由結合棒部80、和前端插入部81、和防脫落部82，而構成之。
結合部75，係被形成為長板狀，而能夠與第1栓62之結合部66以廣面積來作接觸。
結合棒部80，係為用以與第1栓62之結合部66作重合並被支持於壓縮線圈彈簧64處的部分，並被設定為較壓縮線圈彈簧64而更些許長的尺寸。
結合棒部80之剖面尺寸(寬幅、厚度尺寸)，係被設為下述一般之尺寸：亦即是，在2個的結合棒部80將第1栓62之結合棒部69從兩側來作挾持的狀態下，1個的結合棒部69與將其作挾持之2個的結合棒部80之剖面形狀之8個的角隅部分(參考圖11)，會成為與壓縮線圈彈簧64之密著小徑部84之內徑部相接的狀態。亦即是，係被設定為會使壓縮線圈彈簧64之密著小徑部84之內徑成為將結合棒部80、69、80作了結合後之剖面形狀的外接圓一般之尺寸，並以僅些許地作鎖緊的狀態而被作組裝(參考圖11、12)。
其結果，結合棒部80之寬幅尺寸，係被設為較第1栓62之結合棒部69的寬幅尺寸為更狹窄之尺寸。
前端插入部81，係為用以對於結合棒部80之朝向壓縮線圈彈簧64內的插入作導引之部分。前端插入部81，係被形成在結合棒部80之前端部(圖14中之下端部)處。前端插入部81，係具備有相對於插入方向而不會成為障礙地來平緩地作彎曲之傾斜面，並成為能夠順暢地插入至壓縮線圈彈簧64內。藉由此，在使2個的結合棒部80重合於第1栓62之結合棒部69的兩側處之狀態下，各結合棒部80之前端插入部81係成為能夠順暢地插入至壓縮線圈彈簧64內。
防脫落部82，係為當前端插入部81被插入至壓縮線圈彈簧64內時，用以使此前端插入部81不會從壓縮線圈彈簧64而脫落的部分。防脫落部82，係被設置在前端插入部81之基端部(結合棒部80與前端插入部81之邊界部分)處。防脫落部82，係在前端插入部81之基端部而於兩側處突起地而形成之。此於兩側處作了突起的防脫落 部82之寬幅，係被設定為：在組裝時，而較壓縮線圈彈簧64之端部的密著小徑部84之內徑而僅些許地突出(參考圖12)。亦即是，當在第1栓62之結合棒部69的兩側處而重合有2個的結合棒部80之狀態下，位置於被重合在結合棒部69之兩側處之2個的防脫落部82之外側處之4個的角隅部(於圖12中所示之位置在防脫落部82的外側之各2個的角隅部)，係被設定為相較於壓縮線圈彈簧64之端部的密著小徑部84之內徑而僅些許地突出。
彈簧承受部76，係為用以承受壓縮線圈彈簧64的部分。彈簧承受部76，係為被設置在結合部75與接觸片77之間的邊界部分處之階段差。相較於結合部75之寬幅，接觸片77係將寬幅形成為較廣，此些之邊界的階段差部分，係成為彈簧承受部76。藉由在此彈簧承受部76處而使壓縮線圈彈簧64之端部的密著小徑部84作抵接，而成為經由壓縮線圈彈簧64來將第2栓63在接觸元件20處而彈性地作支持。
接觸片77，係為用以與另外一方之構件(突塊電極13)相接觸並作電性連接的構件。接觸片77，係接續於結合部75之基端側(圖14之上側)而被一體性地設置。接觸片77，係由寬幅尺寸為較上側殼體17之第2支持孔17A的內徑而更些許小的尺寸之略長方形板部、和相較於該板部而寬幅尺寸為更小之將上側殼體17之上側承受部17B作貫通並進入至導引板19之縮小部57中的寬幅尺寸之上端部，而形成之。在接觸片77處，係在長方形板狀部與前端部之邊界處而被形成有上側支持肩部79。此上側支持肩部79，係被上側殼體17之上側承受部17B所卡住，並成為使接觸片77不會從第2支持孔17A而脫落。在上側支持肩部79被上側殼體17之上側承受部17B所卡住的狀態下，接觸片77之上端部(參考圖14)係成為從第2支持孔17A而朝向上方突出。
各接觸片77之上端部前端，係被形成為2個的突起狀。亦即是，接觸片77之前端的中央，係凹陷為U字狀並形成凹部，於其兩側處，係被形成有2個的突起77A。進而，在突起77A處，係被形成有錐狀面77B(參考圖10)。藉由此，2個的突起77A，係被形成為2個的刀尖狀。與前述凹部相對向之2個的錐狀面77B所作出之空間，係作為納入突塊電極13之頂部的空間而起作用。藉由此，突塊電極13和第2栓63相接觸時，突塊電極13之頂部，係被納入至前述空間中，而防止其與第2栓63之前端面相接觸並被壓潰。此錐狀面77B，當2個的第2栓63挾持第1栓62並相對向時，係被配設在朝向上方而相互打開的方向上(參考圖10、16)。藉由此，被配設在朝向上方而相互打開的方向上之各2個的突起77A，係如圖16中所示一般，與突塊電極13確實地作接觸，並如圖17中所示一般，藉由4個的接觸點S而分別剌入突塊電極13中，而成為確實地作電性接觸。
進而，錐狀面77B，係成為發揮有以下之作用。若是欲使各2個的突起77A與突塊電極13相接觸，則突起77A係在突塊電極之球面上，而以在圓周方向上作滑動的方式而作用有朝向相互分離之方向作移動的力。該力，係作為使位置在與第2栓之突起77A相反側處的結合部75(特別是前端插入部81)被推壓至第1栓62上的力而起作用。此時，藉由各突起77A被推壓至突塊電極13處一事，第2栓63係偏移至下方。藉由此，第1栓62與第2栓63，係一面相互在結合部66、75處而被相對性地作推壓一面偏移滑動，並成為確實地作接觸。
壓縮線圈彈簧64，係如圖15中所示一般，為覆蓋前述第1栓62以及第2栓63之結合棒部69、80的外周，並且用以將分別抵接於各彈簧承受部67、76處的各栓62、63彈性地作支持，且將前述各栓62、63之間作電性導通的構件。在壓縮線圈彈簧64之兩端部處，前述第1栓62以及第2栓63之結合部66、75係成為重疊並被作支持。
壓縮線圈彈簧64，係將其之中間部形成為大口徑、亦即是形成為不會與由第1栓62之結合棒部69和將其作挾持之2個的第2栓63之結合棒部80所形成的剖面形狀相抵接之大小(參考圖11)，而構成壓縮線圈彈簧。中間部之外徑，係被設定為較第1栓62以及第2栓63之最大寬幅尺寸而更些許大。壓縮線圈彈簧64之兩端部，係被形成為小口徑之密著小徑部84。密著小徑部84之內徑，係被形成為較外接於由第1栓62之結合棒部69和將其作挾持之2個的第2栓63之結合棒部80所形成的剖面形狀之外接圓的直徑而更些許小。
藉由此，接觸元件20，係將1個的第1栓62與2個的第2栓63，在相互將其之接觸片68、77設為相反之方向的狀態下，而將結合部66、75之部分作重合，並藉由壓縮線圈彈簧64而將該些一體化，再於各彈簧承受部67、76之位置處而將壓縮線圈彈簧64作卡止而將其不可分離地作支持，而將該些可相互滑動地作組裝。
如同上述一般所構成之接觸元件20，係如同下述一般地而被使用。
首先，將被檢查體12裝著於電性連接裝置11處。此時，被檢查體12，係被裝著於導引板19之納入凹部53中。亦即是，被檢查體12，係一面沿著上側開口53A之傾斜面53B而被作定位，一面被裝著在底板部55處。藉由此，被檢查體12之突塊電極13係被納入至底板部55之導引孔56中。又，接觸元件20之接觸片77的上端部，係被納入至縮小部57中。
在此狀態下，若是被檢查體12被壓下，則係從圖8之狀態起而至圖9之狀態一般地，各突塊電極13係與各2個的第2栓63之突起77A相接觸，各接觸元件20係被推壓並縮短。
當2個的第2栓63之2個的接觸片77之前端的突起77A欲與突塊電極13相接觸時，在突起77A處係作用有欲在突塊電極之球面上而於圓周方向上作滑動且相互朝向相分離之方向而移動的力，且由於各結合棒部69、80係在壓縮線圈彈簧64之密著小徑部處而被作支持，因此，該力，係作為將第2栓之位置在與突起77A相反側處的結合部75(特別是前端插入部81)，朝向第1栓62而作推壓之力來起作用。藉由此，第1栓62與第2栓63之間，係一面被相對性地作推壓一面偏移滑動，並成為確實地作電性接觸。進而，此時，壓縮線圈彈簧64，係使其之兩端的密著小徑部84分別壓接於第1栓62之彈簧承受部67與第2栓63之彈簧承受部76處，並使此些之間亦確實地作電性接觸。
又，2個的第2栓63，由於係成為相互獨立地作滑動，因此，就算是在像是突塊電極13有所變形的情況等之2個的第2栓63的突起77A之接觸部分的高度有所相異的情況時，2個的第2栓63亦係一面追隨於該形狀一面作接觸。
藉由此，各構件(配線基板15與突塊電極13)間係藉由接觸元件20而被確實地作電性連接。在此狀態下，而經介於接觸元件20來在各構件間傳輸電性訊號等。
如同上述一般，由於係使第1栓62與第2栓63之間確實地作電性連接，並且將壓縮線圈彈簧64與各栓62、63之間亦保持在電性導通之狀態，因此，各構件(配線基板15與突塊電極13)之間的電性接觸性係大幅度的提升。
又，接觸元件20，由於零件數量係為少且構造係為簡單，因此，故障之原因亦為少，故而，耐久性係提升。各栓，由於係被構成為板狀，因此，能夠藉由衝壓加工等而容易地製作出來，進而，由於接觸元件20之構造係為簡單且零件數量係為少，因此，能夠謀求成本之降低。
又，由於能夠將被檢查體12容易地來正確裝著於電性連接裝置11處，並且不會有使被檢查體之電極破損的事態，因此，在能夠將檢查作業性提升的同時，亦能夠將檢查精確度提升。
接觸元件20，由於零件數量係為少且構造係為簡單，因此，能夠將電性接觸性涵蓋長期間地而維持在良好的狀態，並且，能夠將耐久性提升。其結果，對於接觸元件20以及電性連接裝置11之信賴性係提升。
[第2實施形態]
接下來，針對本發明之第2實施形態之接觸元件作說明。本實施形態之接觸元件，相對於前述第1實施形態之接觸元件20，係設置有2個的第1栓，並構成凱文接觸(Kelvin contact)。本實施形態之接觸元件的全體構成，係與前述第1實施形態之接觸元件20為略相同。亦即是，本實施形態之接觸元件86，係如圖18、19中所示一般，除了第1栓87為成為相異之構造，且壓縮線圈彈簧64之材質係具備有絕緣性之外，其他之構件係與前述第1實施形態相同。故而，對於同一構件，係附加相同之符號，並省略其說明。
在本實施形態之接觸元件86中，第1栓87，係與第2栓63同樣的而被設置有2個。2個的第1栓87，係具備有相同之形狀，在各第1栓87之間，係被設置有絕緣體88。絕緣體88，只要是能夠將2個的第1栓87之間作絕緣的板狀之構件即可。經由此絕緣體88，而將2個的第1栓87以及分別與各第1栓87相接觸之2個的第2栓63分別作絕緣。此些，係經由壓縮線圈彈簧64，而在被作了絕緣的狀態下來一體性地被作支持。第1栓87以及第2栓63之尺寸，係如圖19中所示一般，與第1實施形態之接觸片68或是防脫落部71相對應之部分，係為了防止脫落，而被設定為較壓縮線圈彈簧64之密著小徑部84更些許大。
密著小徑部84，係將其之內徑部，以在將絕緣體88和2個的第1栓87以及2個的第2栓63作了重合的狀態下而成為與此些作外接之外接圓的方式來作設定。密著小徑部84和第1栓87以及第2栓63，係相互被作絕緣。與此相配合地，而將配線基板15之接觸墊片89亦設為2個。
壓縮線圈彈簧64，係藉由陶瓷、工程塑膠等之絕緣材料而被製作。又，亦可在通常之金屬製的彈簧材上施加絕緣性之塗布。
藉由此，其中一方之第1栓87與其中一方之第2栓63係被作電性連接，另外一方之第1栓87與另外一方之第2栓63係被作電性連接，並成為以2系統來傳輸訊號。
藉由以各系統來與前述第1實施形態同樣的起作用，電性接觸性係大幅的提升。並且，能夠確實地進行凱文接觸。
[變形例]
在前述第1實施形態中，壓縮線圈彈簧64，係將中央部設為大口徑，並在其之兩端部處形成小口徑的密著小徑部84，但是，壓縮線圈彈簧64，係亦能夠以使中央部成為大口徑並朝向兩端而逐漸成為小口徑的方式來作形成，並在其之兩端部處形成最小口徑之密著小徑部84，而成為酒桶狀，亦或是，亦可設為其他的形狀。
在前述第1實施形態中，係將密著小徑部84之內徑，設為相較於與將第1栓62以及第2栓63之各結合部作了重合的狀態下之剖面形狀相外接之外接圓的直徑而更些許小，但是，係亦可設定為與外接圓之直徑相同。又，亦可將密著小徑部84之內徑，設定為相較於外接圓之直徑而大幅地縮小。只要是能夠將第1栓62以及第2栓63以保持有導電性且能夠相對地作滑動的方式來作支持之口徑即可。
在前述第1實施形態中，係將第2栓63設有2個，並將第1栓62設有1個，但是，亦可將第2栓63以及第1栓62各設有1個。於此情況，係藉由壓縮線圈彈簧64之兩端的密著小徑部84來將各1個的第2栓63以及第1栓62作支持，並構成接觸元件。又，亦可將第2栓63設置1個，並將第1栓62設置2個。在此些之情況中，亦能夠得到與前述第1實施形態相同之作用、效果。
[產業上之利用可能性]
本發明之接觸元件，係能夠使用於與在配線基板或是半導體積體電路等處所具備的電極相接觸之各種的裝置中。
電性連接裝置，係可適用於能夠使用本發明之接觸元件的所有之裝置中。
11．．．電性連接裝置
12．．．被檢查體
13．．．突塊電極
15．．．配線基板
16．．．下側殼體
16A．．．第1支持孔
16B．．．下側承受部
17．．．上側殼體
17A．．．第2支持孔
17B．．．上側承受部
18．．．框架
19．．．導引板
20．．．接觸元件
22．．．接觸墊片
23．．．銷頭部嵌合孔
27．．．接觸元件支持孔
28．．．銷軸部嵌合孔
31．．．外框部
32．．．固定用凸緣部
33．．．上下移動支持用凸緣部
35．．．固定螺桿
37．．．導引銷
38．．．銷孔
39．．．頭部
40．．．軸部
42．．．板部
43．．．導引螺桿孔
44．．．彈簧孔
46．．．導引螺桿
47．．．彈簧
48．．．頭部
49．．．導引部
50．．．螺桿棒部
51．．．一字溝
53．．．承受凹部
53A．．．上側開口
53B．．．傾斜面
54．．．凸緣部
55．．．底板部
56．．．導引孔
57‧‧‧縮小部
58‧‧‧魚眼
62‧‧‧第1栓
63‧‧‧第2栓
64‧‧‧壓縮線圈彈簧
66‧‧‧結合部
67‧‧‧彈簧承受部
68‧‧‧接觸片
69‧‧‧結合棒部
70‧‧‧前端插入部
71‧‧‧脫落防止部
73‧‧‧下側支持肩部
75‧‧‧結合部
76‧‧‧彈簧承受部
77‧‧‧接觸片
77A‧‧‧突起
77B‧‧‧錐狀面
79‧‧‧上側支持肩部
80‧‧‧結合棒部
81‧‧‧前端插入部
82‧‧‧脫落防止部
84‧‧‧密著小徑部
86‧‧‧接觸元件
87‧‧‧第1栓
88‧‧‧絕緣體
89‧‧‧接觸墊片
[圖1]對本發明之第1實施形態的接觸元件作展示之正面圖。
[圖2]對第1先前技術之接觸元件作展示的立體圖。
[圖3]對第1先前技術之接觸元件作展示的分解立體圖。
[圖4]對第2先前技術之接觸元件作展示的立體圖。
[圖5]對本發明之第1實施形態的電性連接裝置作展示之剖面圖(圖7之A-A線箭頭方向視剖面圖)。
[圖6]對本發明之第1實施形態的電性連接裝置作展示之剖面圖(圖7之B-B線箭頭方向視剖面圖)。
[圖7]對本發明之第1實施形態的電性連接裝置作展示之平面圖。
[圖8]係為對本發明之第1實施形態的電性連接裝置之接觸元件裝著部分作展示的重要部分擴大剖面圖，並為對於並未與被檢查體之電極相接觸的狀態作展示之正面剖面圖與側面剖面圖。
[圖9]係為對本發明之第1實施形態的電性連接裝置之接觸元件裝著部分作展示的重要部分擴大剖面圖，並為對於與被檢查體之電極相接觸的狀態作展示之正面剖面圖與側面剖面圖。
[圖10]對本發明之第1實施形態的接觸元件作展示之側面圖。
[圖11]圖1之C-C線箭頭方向視剖面圖。
[圖12]圖1之D-D線箭頭方向視剖面圖。
[圖13]對本發明之第1實施形態的接觸元件之第1栓作展示之正面圖。
[圖14]對本發明之第1實施形態的接觸元件之第2栓作展示之正面圖。
[圖15]對本發明之第1實施形態的接觸元件之壓縮線圈彈簧作展示之正面圖。
[圖16]對本發明之第1實施形態的接觸元件之接觸片的突起陷入至突塊電極中之狀態作展示之立體圖。
[圖17]對本發明之第1實施形態的接觸元件之接觸片的突起陷入至突塊電極中後的痕跡作展示之平面圖。
[圖18]對本發明之第2實施形態的電性連接裝置之接觸元件裝著部分作展示之重要部分擴大剖面圖。
[圖19]圖18之E-E線箭頭方向視剖面圖。
20．．．接觸元件
62．．．第1栓
63．．．第2栓
64．．．壓縮線圈彈簧
67．．．彈簧承受部
68．．．接觸片
69．．．結合棒部
70．．．前端插入部
71．．．脫落防止部
73．．．下側支持肩部
76．．．彈簧承受部
77．．．接觸片
77A．．．突起

Claims (9)

  1. 一種接觸元件，其特徵為，具備有：第1栓，係為板狀，並與其中一方之構件相接觸；和第2栓，係為板狀，並在與該第1栓重合了的狀態下，而與另外一方之構件相接觸，並與前述第1栓協同作用地而將前述其中一方之構件與另外一方之構件之間作電性導通；和壓縮線圈彈簧，係為將第1栓與第2栓相互地以使其之接觸片成為相反之方向的狀態的方式來作結合的構件，並將前述第1栓以及第2栓之結合部的外周作覆蓋，且分別與各栓之彈簧承受部相抵接，而將各栓以可相對性地作滑動的方式來作支持，將第1栓具備有1個，並將第2栓具備有2個，且將1個的第1栓之結合部藉由2個的第2栓之結合部來作挾持，而構成之，1個的第1栓之結合部的寬幅尺寸，係為較2個的第2栓之結合部的寬幅尺寸更大。
  2. 如申請專利範圍第1項所記載之接觸元件，其中，前述第1栓以及第2栓，係藉由前述結合部和寬幅尺寸較該結合部而更大之前述接觸片，而構成之，前述彈簧承受部，係為被設置在結合部與接觸片之邊界部分處的階段差。
  3. 如申請專利範圍第1項所記載之接觸元件，其 中，前述壓縮線圈彈簧，其之中間部係為大直徑之壓縮線圈彈簧，而兩端部係為藉由身為小直徑之密著線圈彈簧的密著小徑部所構成，兩端部之各密著小徑部的內徑，係被設定為與外接於將前述第1栓以及第2栓的各結合部作了重合的狀態下之剖面形狀的外接圓之直徑相同、或者是較小。
  4. 如申請專利範圍第1項所記載之接觸元件，其中，前述另外一方之2個的栓，係在將前述其中一方之1個的栓作了挾持的狀態下，而相互獨立地作滑動。
  5. 如申請專利範圍第1項所記載之接觸元件，其中，前述另外一方之2個的栓之接觸片的前端，係在相互打開的方向上，而具備有錐狀面。
  6. 如申請專利範圍第1項所記載之接觸元件，其中，在前述另外一方之2個的栓之接觸片的前端處，係被設置有凹部，並被形成有2個的刀尖狀。
  7. 如申請專利範圍第1項所記載之接觸元件，其中，前述第1栓以及第2栓之結合部，係在與彈簧承受部相反側之端部處，被形成有防脫落部。
  8. 一種電性連接裝置，係為與被檢查體之電極相接觸並進行試驗之電性連接裝置，其特徵為：係具備有被配設在與前述被檢查體之各電極相對應的 位置處並與該些各電極相接觸而通電的接觸元件，作為該接觸元件，係使用有如申請專利範圍第1項乃至第6項中之任一項所記載之接觸元件。
  9. 一種接觸元件，其特徵為，具備有：第1栓，係為板狀，並與其中一方之構件相接觸；和第2栓，係為板狀，並在與該第1栓重合了的狀態下，而與另外一方之構件相接觸，並與前述第1栓協同作用地而將前述其中一方之構件與另外一方之構件之間作電性導通；和壓縮線圈彈簧，係為將第1栓與第2栓相互地以使其之接觸片成為相反之方向的狀態的方式來作結合的構件，並將前述第1栓以及第2栓之結合部的外周作覆蓋，且分別與各栓之彈簧承受部相抵接，而將各栓以可相對性地作滑動的方式來作支持，將前述第1栓以及第2栓分別具備有2個，且將2個的第1栓之結合部藉由2個的第2栓之結合部來作挾持，而構成之，2個的第1栓之結合部的寬幅尺寸，係為較2個的第2栓之結合部的寬幅尺寸更大。
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Families Citing this family (58)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8324919B2 (en) * 2009-03-27 2012-12-04 Delaware Capital Formation, Inc. Scrub inducing compliant electrical contact
JP5726651B2 (ja) * 2011-06-22 2015-06-03 タイコエレクトロニクスジャパン合同会社 コンタクトおよびソケット
US9373900B2 (en) 2011-07-19 2016-06-21 Nhk Spring Co., Ltd. Contact structure unit
JPWO2013018809A1 (ja) * 2011-08-02 2015-03-05 日本発條株式会社 プローブユニット
JP5719933B2 (ja) * 2011-08-29 2015-05-20 株式会社日本マイクロニクス 接触子及び電気的接続装置
JPWO2013061486A1 (ja) * 2011-10-26 2015-04-02 ユニテクノ株式会社 コンタクトプローブおよびそれを備えた検査ソケット
TWD151640S (zh) 2011-10-31 2013-02-01 日本麥克隆尼股份有限公司 電接觸元件
PT2836847T (pt) 2012-04-13 2016-08-23 Capital Formation Inc Sonda de ensaio e processos relacionados
JP6029385B2 (ja) * 2012-08-29 2016-11-24 株式会社日本マイクロニクス プローブユニット、及び検査装置
WO2014042264A1 (ja) * 2012-09-14 2014-03-20 日本発條株式会社 パワーモジュール用接続端子
TWI607606B (zh) * 2012-10-12 2017-12-01 日本麥克隆尼股份有限公司 Contact element and electrical connection device
EP2770332A1 (en) * 2013-02-20 2014-08-27 Team Nanotec GmbH Contact probe
JP6297288B2 (ja) * 2013-09-18 2018-03-20 株式会社ヨコオ スプリングコネクタ
USD758970S1 (en) 2014-05-27 2016-06-14 Vishay Dale Electronics, Llc Edge-wound resistor
US9396847B2 (en) * 2014-05-27 2016-07-19 Vishay Dale Electronics, Llc Edge-wound resistor, resistor assembly, and method of making same
JP6269337B2 (ja) * 2014-06-16 2018-01-31 オムロン株式会社 プローブピン、および、これを用いた電子デバイス
JP6404008B2 (ja) * 2014-06-23 2018-10-10 株式会社日本マイクロニクス 電気的接触子及び電気的接続装置
KR101492242B1 (ko) * 2014-07-17 2015-02-13 주식회사 아이에스시 검사용 접촉장치 및 전기적 검사소켓
SG11201700936RA (en) 2014-08-08 2017-03-30 Nhk Spring Co Ltd Connecting terminal
KR101626073B1 (ko) * 2014-09-29 2016-06-01 주식회사 오킨스전자 와이어드 컨텍터
KR101620541B1 (ko) 2014-10-17 2016-05-12 주식회사 아이에스시 전기접속용 커넥터
JP6411169B2 (ja) * 2014-10-22 2018-10-24 株式会社日本マイクロニクス 電気的接触子及び電気的接続装置
JP1529603S (zh) * 2014-12-04 2015-07-27
JP1529604S (zh) * 2014-12-04 2015-07-27
JP1529602S (zh) * 2014-12-04 2015-07-27
JP1529606S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529608S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529605S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529609S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
JP1529607S (zh) * 2014-12-15 2015-07-27
TWD177827S (zh) * 2014-12-15 2016-08-21 歐姆龍股份有限公司 積體電路插座用探針引腳之部分
JP1529613S (zh) * 2014-12-19 2015-07-27
JP1529612S (zh) * 2014-12-19 2015-07-27
US9853385B1 (en) 2015-02-19 2017-12-26 Ohio Associated Enterprises, Llc Axial compliant compression electrical connector
US10074923B1 (en) * 2015-02-19 2018-09-11 Ohio Associated Enterprises, Llc Axial compliant compression electrical connector
USD775984S1 (en) * 2015-03-04 2017-01-10 Omron Corporation Probe pin
JP1554473S (zh) * 2015-09-15 2016-07-25
JP1554474S (zh) * 2015-09-15 2016-07-25
JP6515877B2 (ja) * 2016-06-17 2019-05-22 オムロン株式会社 プローブピン
WO2018101232A1 (ja) * 2016-11-30 2018-06-07 日本電産リード株式会社 接触端子、検査治具、及び検査装置
JP6744209B2 (ja) * 2016-12-27 2020-08-19 株式会社エンプラス 電気接触子及び電気部品用ソケット
JP6881972B2 (ja) * 2016-12-27 2021-06-02 株式会社エンプラス 電気接触子及び電気部品用ソケット
US10069257B1 (en) * 2017-09-06 2018-09-04 Carlisle Interconnect Technologies, Inc. Inline compression RF connector
US10476191B2 (en) 2018-02-28 2019-11-12 Ohio Associated Enterprises, Llc Forked electrical contact pair with elastic tail
WO2020026409A1 (ja) * 2018-08-02 2020-02-06 ユニテクノ株式会社 コンタクトプローブおよびそれを備えた検査ソケット
CN108957055A (zh) * 2018-09-08 2018-12-07 四川峰哲精密设备有限公司 一种测试针及其组成的测试接触片
KR102055773B1 (ko) * 2019-05-15 2019-12-13 황동원 스프링 콘택트 및 스프링 콘택트 내장 소켓
CN111951879A (zh) * 2019-05-16 2020-11-17 第一检测有限公司 检测设备
US11539167B2 (en) 2020-09-17 2022-12-27 Carlisle Interconnect Technologies, Inc. Adjustable push on connector/adaptor
US11802909B2 (en) 2020-10-06 2023-10-31 Johnstech International Corporation Compliant ground block and testing system having compliant ground block
US11502440B2 (en) 2020-10-23 2022-11-15 Carlisle Interconnect Technologies, Inc. Multiport connector interface system
USD1044751S1 (en) 2021-01-19 2024-10-01 Johnstech International Corporation Compliant ground block and testing system for testing integrated circuits
US11906576B1 (en) 2021-05-04 2024-02-20 Johnstech International Corporation Contact assembly array and testing system having contact assembly array
US11867752B1 (en) 2021-05-13 2024-01-09 Johnstech International Corporation Contact assembly and kelvin testing system having contact assembly
US12266878B2 (en) * 2021-09-24 2025-04-01 Intel Corporation Electrical interconnect with improved impedance
USD1015282S1 (en) 2022-02-01 2024-02-20 Johnstech International Corporation Spring pin tip
USD1090440S1 (en) 2023-01-12 2025-08-26 Johnstech International Corporation Spring probe contact assembly
US20240241153A1 (en) * 2023-01-12 2024-07-18 Johnstech International Corporation Spring probe contact assembly

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4029375A (en) * 1976-06-14 1977-06-14 Electronic Engineering Company Of California Miniature electrical connector
JP3979478B2 (ja) 1998-05-01 2007-09-19 株式会社エンプラス コンタクトピン及びこのコンタクトピンを用いた電気部品用ソケット
US6506082B1 (en) * 2001-12-21 2003-01-14 Interconnect Devices, Inc. Electrical contact interface
JP3768183B2 (ja) 2002-10-28 2006-04-19 山一電機株式会社 狭ピッチｉｃパッケージ用ｉｃソケット
JP4695337B2 (ja) * 2004-02-04 2011-06-08 日本発條株式会社 導電性接触子および導電性接触子ユニット
KR100584225B1 (ko) * 2004-10-06 2006-05-29 황동원 전자장치용 콘택트
JP4097647B2 (ja) * 2004-11-11 2008-06-11 株式会社センサータ・テクノロジーズジャパン Ｂｇａ用ケット
JP4585024B2 (ja) * 2005-06-10 2010-11-24 デラウェア キャピタル フォーメーション インコーポレイテッド 可撓性のある内部相互接続部を備えた電気コンタクトプローブ
CN201029131Y (zh) * 2007-03-02 2008-02-27 富士康(昆山)电脑接插件有限公司 电连接器端子
JP5067790B2 (ja) * 2007-04-27 2012-11-07 センサータ テクノロジーズ マサチューセッツ インコーポレーテッド プローブピンおよびそれを用いたソケット
CN101669034A (zh) * 2007-04-27 2010-03-10 日本发条株式会社 导电性接触器
JP4900843B2 (ja) * 2008-12-26 2012-03-21 山一電機株式会社 半導体装置用電気接続装置及びそれに使用されるコンタクト
US8373430B1 (en) * 2012-05-06 2013-02-12 Jerzy Roman Sochor Low inductance contact probe with conductively coupled plungers

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TW201111795A (en) 2011-04-01

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