TWI291977B - Cationic photopolymerizable epoxy resin composition, minute structural member using the same and method for manufacturing minute structural member - Google Patents
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Description
1291977 (1) 九、發明說明 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於環氧樹脂組成物,特別係關於陽離子性 光可聚合之環氧樹脂組成物,其爲用以藉由使用光蝕刻法 形成微小結構元件(如:於欲處理的基材上之噴墨熱元件 )之較佳者。本發明亦係關於使用此環氧樹脂組成物之微 小結構元件及製造此微小結構元件之方法。 【先前技術】 近年來,隨著科技的發展,許多領域對於微小結構元 件存有強烈需求,並積極進行與裝置(如:微促動器、電 子裝置和光學裝置)相關之硏究。例如,許多小尺寸感應 器、微探針、薄膜磁頭、噴墨頭及類似物已被用於實際用 途。至於製造此微小結構元件之方法,已使用許多方法( 如:壓印法、乾蝕法和光蝕刻法),其中使用光敏性樹脂 Φ材料並藉由光蝕刻法以形成圖樣的優點係在於容易以高準 確性得到具所欲形狀的高縱橫比圖樣。光蝕刻法所用光阻 物主要分爲負型光阻物和正型光阻物,且特別地,形成的 結構元件在基材上作爲零件時,希望主要使用的係負型光 阻物。此外,就使用目的之觀點, * 此微小結構元件須具有抗化學品性時,及 * 此微小結構元件必須以範圍由數微米至數十微米 的較厚膜厚度使用時, 通常,陽離子可聚合的樹脂材料使用環氧樹脂、乙烯醚化
-5- (2) 1291977 合物之類作爲其基礎。 通常,使用以環氧物爲基礎的光敏性樹脂材料形成微 小結構兀件時’使用由陽離子可聚合之環氧樹脂或環氧基 1 低聚物或陽離子性光聚合反應引發劑(如:光酸生成物) 製得之陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物。於此陽離子 性光可聚合之環氧樹脂組成物中,因曝光而生成酸,藉由 曝光之後的加熱程序(PEB ),使用酸作爲觸媒,增進了 φ 環氧基之開環聚合反應。此處,許多環境因素(如:酸擴 散至未曝光部分、空氣中的鹼性組份及與樹脂接觸的面的 狀態)會損及形成圖樣之性質。因此,欲形成更微小的圖 樣,會發生解析度和尺寸控制性質降低的情況。 例如,關於化學放大型的負型電阻物,欲解決類似於 前述問題之問題,例如,提出一個方法,其中,具有使酸 鈍化之作用的物質預先含於光阻物中,以防止曝光部分生 成的酸之擴散超出所須程度(日本專利申請公告 參 H05- 1 27369、日本專利申請公告 H05-232706、日本專利 申請公告H09-325496)。 在噴墨頭的領域中,通常,於使用期間內,噴墨頭持 續與墨水接觸(即,通常,墨水主要由水組成且非中性) 。因此,噴墨頭具有大的記錄寬度時,對於吸水性低的材 料有強烈需求,此比噴墨頭之構成元件的抗墨水性、機械 性和與基材之黏合性更爲重要。爲解決前述問題,在日本 專利申請公告H0 8-2 90 5 72中,本發明之申請人曾揭示一 種製造噴墨頭之方法,其中,噴墨頭的構成元件係藉由樹 -6 - (3) 1291977 脂組成物(其含有可固化的環氧化合物、含有氟化碳的化 合物和固化劑,且含有氟化碳之化合物的含量在1至5 0 重量%範圍內)之固化物形成。前述專利案中,供墨口係 1 藉由使用氧電獎之乾蝕法形成。 欲進一步改善形成圖樣之性質及改善耐墨水性和與基 材之黏合性之類的性質,本發明的發明者進行圖樣形成法 ,其中,具有能夠鈍化酸和氟化碳之作用的物質含於具有 φ 陽離子性可聚合之環氧樹脂和陽離子性光聚合反應引發劑 之陽離子性光可聚合之環氧樹脂中。其結果發現,未得到 所欲性質,並於未曝光部分和曝光部分之間的界面(曝光 界面),於深度方向觀察到火山口形孔洞,其施予圖樣化 的性質進一步受損。 【發明內容】 基於前述新發現而設計出本發明,其目的是要提出一 #種新穎的陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物,其可進一 步改善施予圖樣化的性質,並亦可改善效能(如:抗墨水 性質和與基材之黏合性)。 此外,本發明的另一目的是要提出其他相關的發明, 例如,自前述樹脂組成物之固化的物質製得之微小結構元 件及此元件之製法。 爲達到前述目的,本發明之陽離子性光可聚合之環氧 樹脂組成物之特徵在於其包含環氧樹脂、陽離子性光聚合 反應引發劑、陽離子性聚合反應抑制劑、具有氟烷基且其 (5) 1291977 將詳細說明樹脂組成物中所含之材料。 環氧樹脂 關於形成基礎樹脂之環氧樹脂,可以使用,如:一般 所稱的雙酚A型環氧樹脂、清漆型環氧樹脂和具氧環己 烷骨架之環氧樹脂,這些揭示於日本專利申請公告 S60-161973、日本專利申請公告S63-221121、日本專利申 • 請公告S64-92 16和日本專利申請公告Η02·1 402 1 9,特別 地,以使用具有下列通式所示之氧環己烷骨架之多官能性 環氧樹脂爲佳。
(此式中,η代表正整數) 通式2
(此式中,m代表正整數) 相較於雙酚A型環氧樹脂和清漆型環氧樹脂,因爲 所得的環氧樹脂發揮高陽離子可聚合性質並簡便替提供高 (6) 1291977 交聯密度,所以其可得到抗化學品性和機械強度優良的固 化物質。此外,因爲所得的環氧樹脂之結構中不含芳族環 ,所以其透光性優良且適合作爲厚膜。 至於環氧樹脂的環氧基當量,所用之化合物的環氧基 當量以2000或低於2000爲佳,1000或低於1000更佳。 環氧基當量超過2000時,固化反應期間內的交聯密度降 低,此會降低固化物質的Tg或熱變形溫度,有時會引發 φ 其與基材之黏合性和抗化學品性方面的問題。此外,爲提 供良好之施予圖樣化的性質,環氧樹脂以於常溫維持於固 態爲佳。 陽離子性光聚合反應引發劑 至於光聚合反應引發劑,可以使用鑰鹽、硼酸鹽、三 嗪化合物、偶氮化合物、過氧化物之類,且就敏感性、安 定性、反應性和溶解性的觀點,以使用芳族毓鹽和芳族鐄 ϋ鹽爲佳。關於芳族毓鹽,可以使用,如,TPS-102、103、 105、MDS-103、105、205、305、DTS-102、103 (其爲 Midori Kagaku Co·,Ltd.之市售品)和 SP-170、172(其 爲Asahi Denka Co.,Ltd.之市售品),關於芳族鎮鹽,可 以使用,如,DPI-105、MPI-103、105、BBI-101、1〇2、 103、105 之類(其爲 Midori Kagaku Co·,Ltd·之市售品) 。其中,可視欲使用的曝光波長而定地選擇引發劑。此外 ’添加量可設定於所欲添加量,以達到目標敏感度和交聯 密度,特別地,希望添加量設定在相對於環氧樹脂之〇.;[ -10- (7) 1291977 至7重量%範圍內。此外,有須要時,例如 SP-100 之類(其爲 Asahi Denka Co·,Ltd·之市 波長增進劑。此外,這些之中的許多類型可以 陽離子性聚合反應抑制劑 陽離子性聚合反應抑制劑是指降低酸觸媒 質,通常使用鹼性化合物。關於此鹼性物質, φ 作爲質子之接受者的化合物,即,具有非共價 合物。更特定言之,含有原子(如··氮、硫和 化合物,其中,以使用含有氮的化合物爲佳。 關於含有氮的化合物,使用胺化合物特別 言之,其例子包括:三級胺,如:三苯基胺、 三異丙醇胺、N,N-二乙基一 3 -胺基酚、N 醇胺和2 —二乙基胺基乙醇胺;二級胺,如: 二異丙醇胺和N -甲基苯甲胺;嘧啶化合物和 φ如:嘧啶、2 -胺基嘧啶、4 一胺基嘧啶和5 -吡啶化合物和其衍生物,如:吡啶、甲基吡歧 二甲基吡啶;及胺基酚和其衍生物,如:2 -一胺基酚。 這些胺化合物導致之聚合反應抑制作用以 爲佳,以免損及曝光部分之聚合反應及足以降 •未曝光部分之影響。因此,所用胺化合物之鹼 以經過調整以提供目標敏感度和解析度爲佳。 爲鹼性相當弱的化合物(如:三級胺)更容易 ,可以添加 售品)作爲 混用。 之作用的物 可以使用可 電子對的化 磷原子)的 佳。更特定 三乙醇胺、 — 乙基二乙 二乙醇胺、 其衍生物, 胺基嘧啶; I 和 2,6 — 胺基酚和3 設定於低度 低酸觸媒於 性和添加量 特別地,因 調整,因此 •11 - (8) 1291977 以使用這些化合物爲佳。 至於這些鹼性物質的添加量,雖然因爲取決於化合物 之鹼性程度而未特別限制,但相對於陽離子性聚合反應抑 制劑含量,其量以0.1至20重量%爲佳,0.5至4重量% 更佳。鹼性物質的添加量太少時,未曝光部分未得到足夠 的影響。此外,其量過大時,於曝光部分發生固化抑制作 用。此處,雖然提高曝光量可解決此問題,但此方法會導 φ 致曝光合宜度降低,就產製觀點,因此無法成爲實用的方 法。 此外,較佳情況中,這些鹼性物質中之二或多個種類 可以相互混合及使用,以便以良好均衡的方式提供許多效 會g 〇 具有氟烷基且其末端具有取代且取代基能夠與環氧基 交聯之化合物 形成於欲藉由使用本發明之陽離子性光可聚合之環氧 • 樹脂組成物而加工之基材上的微小結構元件之製法不同於 慣用電阻物,所得元件以原形態作爲結構元件(如:零件 ):因此,取決於其使用目的,必須加諸性質(如:耐水 性、抗溶劑性和機械強度)。 本發明之陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物會抑制 曝光部分的之聚合反應,雖然抑制程度輕微,仍會降低耐 水性和抗溶劑性。因此,以藉由添加添加劑而改善耐水性 和抗溶劑性爲佳。 至於藉由在環氧樹脂中添加添加劑以改善耐水性之方 -12- (9) 1291977 法,日本專利申請公告H08-2905 72曾揭示一種方法,其 中,具有氟烷基且其末端具有取代基且取代基能夠與環氧 基發生交聯反應之化合物以1至50重量%的量加至可固 化的環氧化合物中,以降低樹脂的吸水性,本發明中,可 藉由使用相同方法而改善耐水性。至於具有氟烷基且其末 端具有取代基且取代基能夠與環氧基發生交聯反應之化合 物的例子爲下列化合物,但本發明之實施例不在此限。
F3C 一(CF2)n~CH2-〇H C2F5—{CH2)nT〇H
(式中,η代表1至20的正整數) 可根據目標耐水性和抗溶劑性而如所欲地設定添加量 ’特別地,就與樹脂之相容性的觀點,化合物用量以在1 至50重量%範圍內爲佳,範圍設定於1至3()重量%較佳 。此外,爲增進機械強度,以藉加熱此化合物而加速交聯 反應爲佳;因此’使用其末端具有具高交聯反應性之羥基 和環氧基之化合物更佳。更佳情況中,二或多個羥基被加 至化合物末端。 -13- (10) 1291977 陽離子性熱聚合反應觸媒 添加了具有氟烷基且其末端具有取代基且此取代基能 夠與環氧樹脂的環氧基發生交聯反應之化合物的系統中, 因爲環氧樹脂和具有氟烷基且其末端具有取代基且此取代 基能夠與環氧樹脂的環氧基發生交聯反應之化合物之間的 反應性不同,曝光部分的交聯密度會產生變化,此降低經 曝光界面之抗溶劑性和施予圖樣化的性質。特別地,因爲 φ 陽離子性聚合反應抑制劑含於本發明之樹脂中,此系統更 容易受到交聯反應速率之間的差異之影響,此導致抗溶劑 性和施予圖樣化的性質降低。結果使得具有氟烷基且其末 端具有取代基且此取代基能夠與環氧樹脂的環氧基發生交 聯反應之化合物之反應不足且會澱積於界面上。因此,以 藉由實施事後處理(例如,與陽離子性熱聚合反應觸媒倂 用之方法)而改善交聯密度爲佳。藉由加熱程序,與陽離 子性熱聚合反應觸媒倂用,陽離子性光聚合反應抑制劑得 •以提高交聯密度。關於陽離子性熱聚合反應觸媒’可以添 加和使用三氟甲磺酸銅(Π)或抗壞血酸。特別地,就環 氧樹脂之溶解度和反應性之觀點,有效地添加三氟甲磺酸 銅(II ),並藉由在150 °C或以上實施加熱處理’使用本 發明之陽離子性光可聚合的環氧樹脂組成物處理而於基材 上形成之微小結構元件的交聯密度可獲大幅改善。 作爲陽離子性熱聚合反應抑制劑的三氟甲磺酸銅(11 )即使單獨使用時’其過量也會使得環氧樹脂於預先烘烤 程序或PEB程序期間內因熱而發生聚合反應。此外’推 -14- (11) 1291977 測其添加因爲與前述芳族毓鹽、芳族鎭鹽之類之交互作用 而加速了陽離子性熱聚合反應;但當其添加量過少時,提 供的效果不足。至於三氟甲磺酸銅(II )之添加量,雖然 效果因光聚合反應抑制劑的種類而有所不同而未特別限制 ,但以設定於相對於陽離子性光聚合反應抑制劑含量之 0.01至50重量%範圍內爲佳。 許多添加劑可以與本發明之陽離子性光可聚合之環氧 φ 樹脂組成物倂用,以便提高交聯密度、改善塗覆性質、耐 水性和抗溶劑性、增加柔軟性及亦改善與基材之黏合性。 例如,可以添加砂院偶合劑,以改善與基材之黏合性 (2 )微小結構元件及其製法 參考附圖1A至1 D及附圖2 A和2 B,以下列描述簡 短地說明本發明之微小結構單元及其製法。 附圖1 A至1 D所示者爲製造本發明之微小結構元件 之方法的截面圖。本發明中,首先,製得附圖1A中所示 之欲將微小結構元件形成於其上的基材1。藉由使用材料 (如:矽和玻璃)形成此基材。之後,如附圖1 b中所示 者,前述陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物以溶劑塗覆 於基材表面上,以形成陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成 物之樹脂層2。之後,如附圖1 C所示者,帶有樹脂層2 的基材1使用光罩3曝光並經顯影,以使樹脂層2施予圖 樣化。之後,所得基材於1 5(TC或以上進行熱處理,以便 (12) 1291977 ,如附圖1 D所示者,得到陽離子 組成物之固化物質形成的精細結構 此處,雖然外觀會因曝光條件 ,使用一般使用的負型光阻物藉附 法且未使用本發明之陽離子性光可 形成微小結構元件時,形成朝基材 ,當曝光量不足時)。此外,例如 φ 形成垂邊部分。使用微小結構圖樣 置(如:許多類型的噴墨記錄頭) 們的效能。更特定言之,基材的較 ,或酸藉PEB之擴散不足時,會 露部分5,此如附圖2A所示者, 圖樣。此處,提高曝光量以便得到 部分因爲自基材1反射的光而反應 此如附圖2B所示者。此外,在自 •內生成殘留物質時,也會因爲酸於 生成類似的垂邊部分。 但是,使用本發明之陽離子性 成物時,未發生與施予圖樣化和效 關的問題,並可改善與基材之黏合 下文中將藉特定實例和比較例 (實例) 本發明之實例如下: 性光可聚合之環氧樹脂 元件4。 和光阻物之組成而不同 圖1A至1D所示的方 聚合之環氧樹脂組成物 方向狹窄的楔形(例如 ,當曝光量過量時,會 以製造具微小結構的裝 時,這些現象會損及它 低部分之曝光量不足時 於圖樣較低部分出現裸 此使得圖樣具有倒梯形 矩形圖樣時,未曝光的 ,會形成垂邊部分6, PEB至顯影的方法期間 未曝光部分中之擴散而 光可聚合之環氧樹脂組 能(如:抗墨水性)有 性。 作說明。
-16- (13) 1291977 首先,製備下文所示之陽離子性光可聚合之環氧樹脂 組成物1。 樹脂組成物1 *環氧樹脂:EHPE-3150(Daicel Chemical Industries Ltd·製 造) 100重量份 *陽離子性光聚合反應抑制劑:SP-170(Asahi Denka Co., 0 Ltd·製造) 1重量份 *陽離子性聚合反應抑制劑:三乙醇胺 參照附表 *具有氟烷基且其末端具有取代基且此取代基能夠與環氧 樹脂的環氧基發生交聯反應之化合物:下文所示化合物1 參照附表 陽離子性熱聚合反應觸媒:三氟甲磺酸銅(II) 參照附表 化合物1
前述組成物溶解於甲基異丁基酮中,製得陽離子性光 可聚合之環氧樹脂組成物試樣(參考下列附表)。各樣品 藉旋轉塗覆法施用於S i基材上,於9 0 °C預烘烤1 8 0秒鐘 ,以形成20微米厚的膜。之後,使用 KrF步·進器( s t e p p e r ),於其上進行曝光程序,以形成線和空間圖樣( -17- (14) 1291977 長1公分,寬5微米),於120 °C 90秒鐘地3 序之後,所得圖樣藉甲基異丁基酮顯影,並以 沖洗程序。藉掃描式電子顯微鏡觀察所得線和 截面,以確認有或無垂邊存在和經曝光界面的 抗溶劑試驗並比較溶脹程度,此述於下文中。 下面的附表中。 此處,各個試驗的條件和評估如下: ·( 1 )關於垂邊和經曝光界面的狀態,於 間部分切割基材,檢視切割的截面。 (2 )關於經曝光界面,平坦界面評估爲 粗糙和觀察到孔洞者評估爲X。 (3 )關於抗溶劑性,於相同條件下,以 ,自先前用以評估垂邊和曝光界面之狀態的基 基材,各個基材進行下列試驗1和試驗2之後 光學顯微鏡檢視所得圖樣。 # 試驗1:基材於2·38重量% TMAH水溶液 時。 介於基材和圖樣之間之界面的一部分剝落 基材上可觀察到界面邊緣則評定爲△;介於基 間之整個界面上看得到界面邊緣則評定爲X ; 邊緣則將所得基材評定爲〇。 試驗2 :基材浸於維持於80°C的ΝΜΡ中。 介於基材和圖樣之間之界面的一部分剝落 到一部分基材上的界面邊緣時,將所得基材評 I行PEB程 異丙醇進行 空間圖樣的 狀態,進行 其結果示於 所得線和空 〇,界面上 不同的方式 材形成多個 ,藉由使用 中沸騰1小 ,在一部分 材和圖樣之 看不到界面 ,得以觀察 定爲△:可 -18- 1291977 (15) 觀察到基材和圖樣之間之整個界面的界面邊緣時,將所得 基材評定爲X ;看不到界面邊緣時,將所得基材評定爲〇 〇 (4 )關於溶脹度,完成前述試驗1之後,測量線和 空間之間的間距,以便得知圖樣寬度的改變率。就測得的 値,將圖樣寬度之變化率實質上與樣品1之圖樣寬度變化 率相同之樣品(溶脹程度大者)評定爲X ;將圖樣寬度之 φ 變化率比小於樣品1之圖樣寬度變化率低約30%之樣品 評定爲△;將圖樣寬度之變化率比小於樣品1之圖樣寬度 變化率低約3 0 %或以上之樣品評定爲〇。 (16) 1291977 • · 附表 溶脹 程度 1 〇 < 〇 <] 〇 〇 抗溶劑性 (試驗2) < 〇 X < 〇 〇 〇 抗溶劑性 (試驗1) < < < < 〇 〇 圖樣化性質 (界面狀態) 〇 〇 X X 〇 〇 〇 圖樣化性質 (垂邊) 耻 壊 #: 壊 壊 #: 曝光量 (焦硏方米) 300 〇 m 1000 1 1000 1000 1000 〇 00 三氟甲磺酸銅(Π) (重量份) 〇 〇 〇 〇 0.002 0.002 0.015 化合物1 (重量份) 〇 〇 〇 三乙醇胺 (重量份) 〇 〇 0.02 0.02 1 0.02 0.02 0.015 m m (N cn 寸 卜 -20- (17) 1291977 本實例中,觀察到下列情況。 (1 )已經證實添加三乙醇胺作爲陽離子性聚合反應 抑制劑可形成沒有垂邊的圖樣(樣品3至7)。 (2 )已經證實添將具有氟烷基且其末端具有取代基 且此取代基能夠與環氧樹脂的環氧基發生交聯反應之化合 物加至陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物中,能夠改善 抗溶脹性(樣品3至7)。 B ( 3 )同時添加作爲陽離子性聚合反應抑制劑的此化 合物和三乙醇胺時(樣品3和4 ),雖可改善抗溶脹性, 但在曝光界面會觀察到火山口形孔洞。反之,再於其中添 加三氟甲磺酸銅時(樣品5至7 ),未觀察到有孔洞,其 界面狀態較佳且抗溶劑性亦佳。 (4 )如前述者,樣品5至7係關於本發明,已經證 實將三氟甲磺酸銅加至具有氟烷基且其末端具有取代基且 此取代基能夠與環氧樹脂的環氧基發生交聯反應之化合物 馨和陽離子性聚合反應抑制劑中時,能夠得到任何性質(如 :耐水性、抗溶劑性和圖樣化性質)皆優良的固化物質。 認爲在樣品3和4中,在未曝光部分和曝光部分之間 的界面(曝光界面)上觀察到火山口形孔洞是因爲陽離子 性聚合反應抑制劑導致的固化抑制作用因具有氟烷基且其 末端具有取代基且此取代基能夠與環氧樹脂的環氧基發生 交聯反應之化合物而加速之缺點所造成。在噴墨頭的排放 處生成這樣的火山口形孔洞時,排放方向會改變,可能會 增加附屬品和水氣;但是,根據本發明,因爲形成平坦界 -21 - (18) 1291977 面,所以能夠使得噴墨頭維持所欲的排放狀態。此外,關 於溶脹性,假設在排放口處產生附表中所示的溶脹,排放 體積變化與其三次方成正比,使得排放量的偏差正比於溶 脹的1 .5次方;因此,因溶脹而導致的排放偏差(一般相 當於排放量的30%或以上)可降至約20%至10%。 因爲添加三氟甲磺酸銅而得到的此影響使得得以改善 具有氟烷基且其末端具有取代基且此取代基能夠與環氧樹 φ 脂的環氧基發生交聯反應之化合物與環氧樹脂之間的交聯 密度。 前述本發明之陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物以 施用於用於前述噴墨頭的流徑形成材料爲佳。至於製造使 用本發明之材料的噴墨頭之特定方法是,例如,曰本專利 案第3143307號和日本專利案第341433087號所揭示的製 法,其中,使用光敏性樹脂材料形成中空結構元件,以製 備墨水流徑。此外,本發明之陽離子性光可聚合之環氧樹 泰脂組成物具有優良的抗化學品性質和機械強度,除了前述 噴墨頭以外,可施用於許多其他領域。 此申請案主張2004年6月28日提出的曰本專利申請 案第2004-190478號之權利,茲將該申請案全數列入參考 【圖式簡單說明】 附圖1A、1B、1C和1D是說明圖,以圖示方式說明 製備根據本發明之微小結構元件之方法。 -22- (19) 1291977 附圖2A和2B是截面圖,用以解釋使用既有技巧形 成之微小結構元件中所發生的裸露(boring )和垂邊( skirting )情況。 【主要元件符號說明】 1 :基材 2 :樹脂層 3 :光罩 4 :精密結構元件 5 :裸露部分 6 :垂邊部分 -23-
Claims (1)
1291977 十、申請專利範圍 第94 1 2 1 65 8號專利申請案 中文申請專利範圍修正本 民國96年2月16日修正 1 · 一種陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物,其包 含環氧樹脂、陽離子性光聚合起始劑、胺化合物及具有氟 烷基且其端末亦具有取代基的化合物,此取代基可以與該 環氧樹脂的環氧基進行交聯反應,其中該陽離子性光可聚 合之環氧樹脂組成物更包括陽離子性熱聚合觸媒。 2·如申請專利範圍第1項之陽離子性光可聚合之環 氧樹脂組成物’其中該環氧樹脂是具有氧基環己烷骨架的 多官能環氧樹脂。 3 ·如申請專利範圍第2項之陽離子性光可聚合之環 氧樹脂組成物,其中該環氧樹脂具有通式1或通式2所示 的結構 通式1
(在上式中,η表示正整數) 1291977 通式2
(在上式中,m表示正整數) 4.如申請專利範圍第1項之陽離子性光 氧樹脂組成物,其中該環氧樹脂具有2000或 環氧當量。 5 .如申請專利範圍第4項之陽離子性光 氧樹脂組成物,其中該環氧樹脂在常溫下是固 6 .如申請專利範圍第1項之陽離子性光 氧樹脂組成物,其中該陽離子性光聚合起始劑 選自芳族鏡鹽或芳族碘鑰鹽的物質。 7 .如申請專利範圍第1項之陽離子性光 氧樹脂組成物,其中該胺化合物是三級胺化合 8 ·如申請專利範圍第1項之陽離子性光 氧樹脂組成物,其中該胺化合物相對於陽離子 始劑的含量爲0.1重量%至20重量%。 9 .如申請專利範圍第1項之陽離子性光 氧樹脂組成物,其中該具有氟烷基且其末端亦 且該取代基可與該環氧基進行交聯反應的化合 或多個作爲交聯基團之氫氧基的化合物。 1 〇·如申請專利範圍第1項之陽離子性光 -2- 可聚合之環 &於2 0 0 0的 可聚合之環 態物質。 可聚合之環 是至少一種 可聚合之環 物。 可聚合之環 性光聚合起 可聚合之環 具有取代基 物是具有兩 可聚合之環 1291977 氧樹脂組成物,其中該具有氟烷基且其末端亦具有取代基 且該取代基可與該環氧基進行交聯反應的化合物之添加量 係相對於該環氧樹脂的1重量%至5 0重量%。 1 1 ·如申請專利範圍第1項之陽離子性光可聚合之環 氧樹脂組成物,其中該陽離子性熱聚合觸媒是三氟甲烷磺 酸銅。 1 2 ·如申請專利範圍第!項之陽離子性光可聚合之環 氧樹脂組成物,其中該陽離子性熱聚合觸媒相對於該陽離 子性光聚合起始劑的含量爲〇.〇1重量%至50重量%。 1 3 · —種在基材上形成的微小結構元件,其係以申請 專利範圍第1項之陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物的 硬化體製得。 1 4 · 一種製造在基材上形成微小結構元件之方法,其 包含下述步驟: 溶劑塗佈陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物至基材 上’該陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物包括環氧樹脂 、陽離子性光聚合起始劑、胺化合物、具有氟烷基且其端 末亦具有取代基的化合物(其中此取代基可以與該環氧基 進行交聯反應)、及三氟甲烷磺酸銅; 將該陽離子性光可聚合之環氧樹脂組成物以光鈾刻法 施予圖樣化;及 在溫度150°C或高於150°C下對該已圖樣化之陽離子 性光可聚合之環氧樹脂組成物施予加熱製程以進行熱聚合 作用。 -3- 1291977 1 5 . —種噴墨頭,其包含 排放液體之排放口;及 與該排放口連接之流徑, 其中形成該排放口之元件係申請專利範圍第1 3項所 述之硬化體。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2004190478 | 2004-06-28 |
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