TW202300907A - 具有流體裝置的感測晶片 - Google Patents
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Abstract
一種具有流體裝置的感測晶片，包括：具有第一區域及第二區域的基板；場效電晶體，設置在基板的第一區域。流體裝置設置在基板的第二區域且與場效電晶體電性連接。流體裝置包括：具有窗口的隔離層以暴露在第二區域的基板的表面；第二閘極，設置在隔離層的窗口內，第二閘極包括多晶矽層及一層或多層的金屬層；及參考電極，鄰近第二閘極。將待測流體容置流體裝置，使第二閘極與待測流體接觸，在金屬層上的接受器捕捉在待測流體內的目標物，金屬層的電壓值會隨接受器捕捉目標物的數量而改變，利用電壓值變化量可以得到目標物的濃度。
Description
本發明涉及一種檢測技術領域，特別是有關於一種可檢測蛋白質、細菌、病毒、懸浮微粒，且具有流體裝置的感測晶片。
生物感測器是根據電學、電化學、光學及機械檢測原理等基礎進行操作，用來感應及檢測生物分子的裝置。具有電晶體的生物感測器可以經由電性方式感應生物分子或是生物實體的電荷、光子及機械性質。此檢測行為可經由直接檢測感應，或經由特定反應物與生物分子/生物實體進行反應或是交互作用來達成。這些生物感測器可用半導體製程製造生產，可快速地轉換電子訊號，非常容易地應用於積體電路(integrated circuit; ICs)及微機電系統(microelectromechanical systems; MEMs)。
生物晶片實質上是一種微型實驗室，可以同時進行數百個或是數千個生化反應。生物晶片可以檢測特殊的生物分子、測量其性質、運算處理訊號，甚至是直接分析資料，故生物晶片使研究人員可以快速地篩選大量的生物分析物，應用於從疾病診斷到檢測生化恐怖攻擊等各種目的。先進的生物晶片利用流體通道邊許多生物感測器進行反應整合、感應及樣品管理。生物場效電晶體(biological field-effect transistors, or bio-organic field-effect transistors; BioFET)是一種含有電晶體的生物感測器，可經由電性方式感應生物分子或是生物實體。雖然生物場效電晶體在許多方面具有優勢，但在其製造及/或操作上也出現了一些挑戰，例如：基於與半導體製程相容性的課題，生物性的限制及/或極限，在大規模集成(Large scale integration; LSI)製程上出現許多挑戰，例如：電子訊號與生物應用的整合。
此外，現有技術的生物感測晶片僅能檢測到有/無細菌、病毒或是懸浮微粒，且檢測面積範圍有限，也無法估算其濃度。另外，晶片方式所設計的高靈敏度奈米線，容易有雜訊干擾，以致於容易有誤判的情況發生，且奈米線以多晶矽(polysilicon)暴露在外，此為特殊的製程，然而大多數的晶片廠不願意提供特殊且須要客製化的製程來配合生產製造，因此無法提高良率，而無法有效的生產。
聚合酶連鎖反應(PCR，polymerase chain reaction)須要提供較長的檢測反應時間或是需要標記之後才能被檢測出來，且須要昂貴的儀器來操作，無法普及化。
本發明主要目的是揭露一種具有流體裝置的感測晶片，可以依據目前晶片廠所提供的互補式金屬氧化半導體(CMOS，complementary metal oxide semiconductor)製程來設計出具有流體裝置的感測晶片。
本發明的另一目的在於利用具有流體裝置的感測晶片，可以檢測液體或是氣體的待測流體，除了可以快速的檢測出在待測流體內的目標物是否存在之外，還可以檢測出待測流體內的目標物的濃度。
本發明的更一目在於利用具有流體裝置的感測晶片對於溫度敏感性的目標物進行檢測，利用溫度調控單元對具有流體裝置的感測晶片提供溫度調控訊號，用以對具有流體裝置的感測晶片上的待測流體進行加熱並調控其溫度，使得待測流體內的目標物因溫度升高而增加其動能或是變化分解，金屬層上的接受器可以有效的捕捉目標物，藉由金屬層所產生的電壓值變化，量測在待測流體內的目標物在預設溫度下的數量或是濃度變化。
本發明的再一目的在於將多個具有流體裝置的感測晶片以分小區檢測方式形成一個感測元件，藉由提高待測流體本身的樣本體積量來提高檢測的準確度。
本發明的又一目的在於將多個具有流體裝置的感測晶片以形成一個感測元件，依據具有流體裝置的感測晶片中的接受器材質相同或是不同，以捕捉在同一個待測流體內的相同目標物或是多個不同的目標物，以節省檢測時間，並且可以得到一個或是多個目標物的檢測結果，以提供後續判斷或是評估。
根據上述目的，本發明揭露一種具有流體裝置的感測晶片，包括：基板，具有第一區域及第二區域；場效電晶體，設置在基板的第一區域中，且場效電晶體包含：第一閘極、源極及汲極，且第一閘極設置在源極及汲極上；以及流體裝置，設置在基板的第二區域上且與場效電晶體電性連接，其中流體裝置包括：隔離層，具有窗口以暴露在第二區域的基板的表面，其中窗口所圍成的區域為容置空間；第二閘極，設置在隔離層的窗口內，第二閘極由基板向上依序包括多晶矽層及一層或多層的金屬層；以及參考電極，鄰近於第二閘極設置在基板的第二區域上，其中，將待測流體容置於容置空間內，使得第二閘極接觸到待測流體之後，在金屬層上的多個接受器用以捕捉在待測流體內的多個目標物，且第二閘極的金屬層的電壓值會隨著這些接受器捕捉這些目標物的數量而改變，及第二閘極將金屬層的電壓值變化經由場效電晶體傳送至外部處理單元以對電壓值變化進行處理，以計算目標物濃度。
在本發明的一較佳實施例中，參考電極是當待測流體容置於容置空間時，與待測流體接觸並供應量測第二閘極的金屬層的電壓值變化所需的電壓。
本發明揭露另一種具有流體裝置的感測晶片，包括：基板具有第一區域及一第二區域；場效電晶體，設置於基板的第一區域中，場效電晶體包含第一閘極、源極及汲極，第一閘極設置在源極及汲極之間且在基板上；以及流體裝置，設置在基板的第二區域且與場效電晶體電性連接，流體裝置包括：隔離層，具有窗口且暴露第二區域的基板的表面，其中窗口所圍成的區域為容置空間；第二閘極，設置於隔離層的窗口內，第二閘極由基板往上包括多晶矽層及一層或多層的金屬層；以及參考電極，鄰近於第二閘極且設置在基板的第二區域上，參考電極與待測流體接觸，其中，將待測流體容置於容置空間內，使得第二閘極的金屬層接觸到待測流體，將第二閘極中的多晶矽層的一端用以接地及多晶矽層的另一端與溫度調控單元電性連接，溫度調控單元提供溫度調控訊號，並透過多晶矽層利用溫度調控訊號對在容置空間內的待測流體進行加熱並調控其溫度，使得待測流體的溫度在達到預設溫度的過程中，在金屬層的表面上的多個接受器用以捕捉在待測流體內的多個目標物，且第二閘極的金屬層的電壓值會隨著多個接受器捕捉多個目標物的數量而改變，且第二閘極將金屬層的電壓值變化經由場效電晶體以對應的電流值變化傳送至外部處理單元，由外部處理單元處理以得到對應於金屬層的電壓值變化的待測流體內的多個目標物在預設溫度下的濃度值。
在本發明的一較佳實施例中，溫度調控單元為一脈衝寬度調變單元(PWM，pulse width modulation)。
在本發明的一較佳實施例中，預設溫度範圍為50℃－95℃。
根據上述目的，本發明還揭露另一種具有流體裝置的感測晶片，包括：基板，具有第一區域及第二區域；場效電晶體，設置於基板的第一區域中，場效電晶體包含第一閘極、源極及汲極，且第一閘極設置在源極及汲極上；以及流體裝置，設置在基板的第二區域且與場效電晶體電性連接，其中流體裝置包括：隔離層，具有窗口，且設置於基板的第二區域上以暴露在第二區域的基板的表面，其中窗口所圍成的區域為容置空間；第二閘極，設置於隔離層的窗口內，第二閘極由基板往上包括多晶矽層及一層或多層的金屬層，藉此，當將具有流體裝置的感測晶片置於具有待測流體的環境下，並使待測流體通過流體裝置的第二閘極，對流體裝置的第二閘極多晶矽層施加電壓時，第二閘極的金屬層及接受器的表面會產生多個電荷，在金屬層上的每一個電荷用以捕捉在待測流體內的目標物，且第二閘極的金屬層的電壓值會隨著這些電荷捕捉目標物的數量而改變，且第二閘極將金屬層的電壓值變化經由場效電晶體傳送至外部處理單元以進行處理，並進一步計算後得到待測液體內的目標物濃度。
在本發明的一較佳實施例中，電荷可以是正電荷或是負電荷。
在本發明的一較佳實施例中，施予第二閘極的定電壓小於30伏特。
在本發明的一較佳實施例中，待測流體為氣體。
在本發明的一較佳實施例中，目標物可以是細菌、病毒、懸浮微粒或是氣體分子。
首先請參考圖1A。圖1表示具有流體裝置的感測晶片的結構示意圖。在圖1A中，具有流體裝置的感測晶片1由場效電晶體(Field effect transistor; FET)20及流體裝置(fluid device)所構成。具有流體裝置的感測晶片1包含基板10，在基板10上設有虛線用以區分成第一區域10A及第二區域10B，在此，將基板10區分成第一區域10A及第二區域10B是為了後續說明容易理解，在實際的基板10上不會有虛線。在基板10的第一區域10A中設有場效電晶體20，場效電晶體20例如N型金屬氧化半導體(NMOS)，其結構至少包含閘極202、源極204及汲極206，閘極202介於源極204及汲極206之間、且設置於基板10上，源極204及汲極206設置於基板10的第一區域10A內，在基板10的第一區域10A上還設有隔離層(或可以稱為場氧化層(Field oxide layer))30。要說明的是，上述隔離層30、閘極202、源極204及汲極206是利用適合的互補式金屬氧化半導體(CMOS)製程來形成，其形成步驟不是本發明的主要技術特徵，不在此多加陳述。
流體裝置設置在基板10的第二區域10B上，且與場效電晶體20電性連接，其中流體裝置包含：隔離層30、第二閘極40及參考電極50。隔離層30具有窗口(window)302，此窗口302用以暴露出第二區域10B的基板10的表面，且窗口302所圍成的區域為容置空間。第二閘極40設置在隔離層30的窗口302內，由基板10向上依序為多晶矽層402及一層或多層的金屬層404。在金屬層404上還設有多個接受器406。另外，在鄰近於第二閘極40、且設置在基板10的第二區域10B上設有參考電極(reference electrode)50，此參考電極50與待測流體60接觸，並供應量測第二閘極40的金屬層404的電壓值變化時所需的電壓。
在本實施例中，在第二區域10B上的隔離層30的窗口302所圍成的區域作為容置待測流體60(如圖1B所示)的容置空間，因此當待測流體60放置於此容置空間302之後，讓待測流體60會與第二閘極40的金屬層404接觸一段時間之後，觀察金屬層404的電壓值產生變化，藉由電壓值變化來判斷待測流體60內是否有目標物602及目標物602的濃度，其詳細的操作在後續說明。
接著請參考圖1B。圖1B表示具有流體裝置的感測晶片的電路示意圖。在圖1B中，將場效電晶體20的源極204接地(GND)，汲極206與外部處理單元(未在圖中表示)電性連接，在進行操作時，將待測流體60放置於具有流體裝置的感測晶片1的容置空間302之後，讓待測流體60與流體裝置的第二閘極40的金屬層404上的多個接受器(receptor)406接觸並且靜置至少30分鐘，在靜置的過程中，這些接受器(receptor)406用以捕捉在待測流體60內的目標物(或目標分子)602，要說明的是，接受器406是在感測晶片1生產後的抗體加工過程中固定化在金屬層404上。
舉例來說，要進行檢測的待測流體60可以是含有未知目標物濃度的BTP緩衝液、全血或是血漿，其中當待測流體60為全血或是血漿時，可利用BTP緩衝液將待測流體60稀釋，接著將稀釋後的待測流體60放置在流體裝置的容置空間302(如圖1A所示)，即第二閘極40所在的位置，將稀釋後的待測流體60靜置一段時間，此靜置時間是除了讓第二閘極40的金屬層404與稀釋後的待測流體60有足夠的接觸時間，而讓金屬層404上的接受器406能夠有足夠的時間捕捉稀釋後的待測流體60內的目標物602，當第二閘極40的金屬層404的表面上的多個接受器406捕捉稀釋後的待測流體60內的目標物602時，金屬層404的電壓值會隨著接受器406所捕捉到的目標物602的數量而改變，再經由場效電晶體20將第二閘極40的金屬層404所改變的電流值輸出(即圖1B中的I
out)至外部處理單元(未在圖中表示)進行處理，來得到對應於金屬層404的電壓值的稀釋後的待測流體60內的目標物602的濃度值(或是數量)。在本實施例中，待測流體60內的目標物602可以是生物體，當待測流體60是緩衝液，則在緩衝液內的目標物602可以是酵母菌、細菌、病毒或蛋白質以及當待測流體60是血漿，則在血漿中的目標物602可以是細胞。
接著，請參考圖2。圖2是表示本發明所揭露的具有流體裝置的感測晶片的再一實施的示意圖。在圖2中，具有流體裝置的感測晶片1的各元件的結構、元件與元件之間的連接關係及功能與前述圖1A及圖1B相同，在此不多加陳述。圖2與前述圖1A及圖1B的區別在於：將第二閘極40中的多晶矽層402的一端用以接地(GND)(即圖2的左側)及多晶矽層402的另一端與溫度調控單元15電性連接及具有流體裝置的感測晶片1與溫度感知線路17電性連接。在此實施例中，溫度感知線路17用以量測具有流體裝置的感測晶片1的溫度，溫度調控單元15是用以提供溫度調控訊號，並以此溫度調控訊號的寬度來調控多晶矽層402的溫度，從而對在容置空間內的待測流體60進行加熱，由於待測流體60內的目標物602因為溫度升高而增加在待測流體60內的動能，使得目標物602更容易被金屬層404上的接受器406所捕捉，其詳細的檢測步驟如下所述。此外，圖2所表示的多晶矽層402與接地及溫度調控單元15的連接位置可以左右互換。
首先，將待測流體60具有流體裝置的感測晶片1內，具體來說是將待測流體60滴入容置空間內。接著，由溫度調控單元15提供溫度調控訊號透過多晶矽層402來對待測流體進行加熱，並且以溫度調控訊號的寬度調控多晶矽層402的溫度，從而進一步的控制待測流體60的溫度，使得待測流體60的溫度可以在經過一段加熱時間之後達到預設溫度，其中預設溫度範為50℃－95℃。於另一實施例中，如果是進行生物檢測，由於生物目標物有可能會因為溫度過高而被破壞，因此在進行生物檢測時，其預設溫度為90℃，較佳的溫度是小於90℃。
要說明的是，溫度調控單元15提供溫度調控訊號，並控制其寬度透過多晶矽層402來對待測流體60進行加熱的同時，溫度感知線路17持續的量測整個感測晶片1的溫度，用以將待測流體60及具有流體裝置的感測晶片1的溫度控制在固定的溫度下，據此，可以在待測流體60的溫度加熱到預設溫度的過程中，量測得到待測流體60的目標物602的濃度或是數量。具體來說，在利用溫度調控單元15對待測流體60進行加熱時，在待測流體60內的目標物602會因為溫度升高而產生動能的變化，此動能的變化會驅使目標物602在待測流體60中的移動或分解，更容易地被金屬層404的表面上的多個接受器406所捕捉。與圖1A及圖1B所述相同，在加熱升溫的過程中，第二閘極40的金屬層404的電壓值會隨著多個接受器406捕捉到目標物602的數量而改變，且第二閘極40將金屬層404的電壓值變化經由場效電晶體以對應的電流值變化傳送至外部處理單元(未在圖中表示)，由外部處理單元(未在圖中表示)進行處理，直到待測流體60的溫度到達了預設溫度之後，且電流值不再有變化時，此時可以得到在預設溫度下，對應於金屬層404的電壓值變化的待測流體60內的多個目標物602的濃度值。
在本上述的圖1A、圖1B及圖2的實施例中，待測流體60除了如上述的全血或血漿之外，亦可以是含有未知目標物濃度的BTP緩衝液。此外，第二閘極40中的金屬層404可以是一層或是多層，且金屬層404與參考電極50的材質可以是鋁-銅合金(Al-Cu)。
根據上述可以得到，本發明所揭露的具有流體裝置的感測晶片1可以檢測出待測流體60內的目標物602的濃度，但是為了避免待測流體60內的目標物602數量過多時，容易因為場效電晶體20輸出不足而造成誤差。因此，為了提高準確度，本發明還揭露另一種具有流體裝置的感測晶片1000，如圖3A所示。圖3A為具有多個流體裝置的感測晶片的另一實施例的俯視圖。在圖3A中，感測晶片1000同樣是由流體裝置和場效電晶體20所構成，與前述的感測晶片1的區別在於：在此實施例中的感測晶片1000的流體裝置同樣具有隔離層(未在圖中表示)、第二閘極4000及參考電極(未在圖中表示)。第二閘極4000同樣是設置在具有窗口(未在圖中表示)的隔離層內。由基板向上的第二閘極4000依序為多晶矽層4002及一層或多層的金屬層4004。在此實施例中，第二閘極4000中的多晶矽層4002是連續的一整層，只是將金屬層4004分小區的方式設置在多晶矽層4002上，每一個金屬層4004都與一個場效電晶體20電性連接，場效電晶體20再將這些輸出電流以並聯方式計算總輸出電流的變化量。
於另一實施例，在一個感測元件上具有多個感測晶片1000，每一個感測晶片1000同樣是由流體裝置和場效電晶體20所構成，流體裝置由隔離層(未在圖中表示)、參考電極(未在圖中表示)及第二閘極4000所構成，其中第二閘極4000是由一層多晶矽層4002與一層或多層的金屬層4004所構成，即一層多晶矽層4002對應一層或多層的金屬層4004，每一個感測晶片1000的流體裝置的第二閘極4000來對待測流體60的目標物602進行捕捉並進一步的檢測。藉由分別具有兩種不同結構設計的第二閘極4000的感測晶片1000，可以將目標物602數量較多的待測流體60由數個感測元件的第二閘極4000以分小區的方式檢測。同樣的，每一個具有流體裝置的感測晶片1000中的第二閘極4000與一個場效電晶體20電性連接，使得當具有流體裝置的感測晶片1000中的每一個第二閘極4000接觸待測流體60之後，其第二閘極4000的金屬層404所產生的電壓值變化都會經由與流體裝置連接的場效電晶體20輸出電流至外部處理單元(未在圖中表示) ，再以並聯方式計算總輸出電流的變化量。藉由此種分小區檢測的方式來判斷每一個分區面積的待測流體60內是否有目標物602之外，也同時可以得到一個分區面積的待測流體60內的目標物602的濃度，而這些單位面積的濃度目標物602的總和，即是整個待測流體60的目標物602的總和，據此，藉由具有多個具有流體裝置的感測晶片1000的感測元件以分小區偵測及輸出並聯方式提高檢測的靈敏度，同時提高相對應的待測流體60的樣本體積以及增加檢測結果的精確度。
接著請參考圖3B，圖3B是表示在感測元件中有多個感測晶片、且多個感測晶片以分區方式檢測在同一個待測流體內的不同目標物。在圖3B中，感測元件的結構與圖3A相同，在此只是將感測元件上的感測晶片畫分成Test A、Test B、Test C及Test D四個區塊，在這四個區塊中，同一個區塊上的感測晶片的流體裝置的第二閘極4000上的接受器4006相同，不同區塊的接受器則不相同，因此Test A、Test B、Test C及Test D四個區塊中的接受器分別為4006A、4006B、4006C及4006D。在本實施例中，分成不同區塊的目的是為了要捕捉在同一個待測流體60內的不同目標物602A、602B、602C及602D。因此，同樣的，將待測流體60容置於如上述圖1A及圖1B中的具有流體裝置的感測晶片1的容置空間302內，由於不同區塊Test A、Test B、Test C及Test D中的接受器4006A、4006B、4006C及4006D不同，因此所要捕捉在待測流體60內的目標物602A、602B、602C及602D也不同。因此，藉由上述的感測晶片，可以依據使用者欲檢測的目標物602來設置在每一個區塊Test A、Test B、Test C及Test D中的第二閘極4000的金屬層4004上的接受器4006A、4006B、4006C及4006D的種類，據此，可以在同一個檢測時間、由同一個待測流體60內捕捉到不同的目標物602A、602B、602C及602D，可以大幅的節省了使用者的操作時間及人力。
接著，請參考圖4A。圖4A是表示本發明所揭露的具有流體裝置的感測晶片的另一實施的示意圖。在圖4A中，具有流體裝置的感測晶片7同樣也是由場效電晶體20及流體裝置80所組成，具有流體裝置的感測晶片7包含基板70，在基板70上設有虛線用以區分成第一區域70A及第二區域70B，在基板70的第一區域70A中設有場效電晶體20，例如N型金屬氧化半導體(NMOS)，其結構及形成方法與圖1A相同，就不再多加陳述。在基板70的第二區域70B上設有隔離層30，此隔離層30具有窗口(window)302，此窗口302用以暴露出第二區域10B的基板10的表面。
流體裝置設置在基板70的第二區域70B上，且與場效電晶體20電性連接，其中流體裝置包括：隔離層30及第二閘極80。隔離層30具有窗口(window)302，此窗口302用以暴露出第二區域70B的基板70的表面，且窗口302所圍成的區域為容置空間。第二閘極80設置在隔離層30的窗口302內，此第二閘極80由基板70向上依序為多晶矽層802及一層或多層的金屬層804。
在本實施例中，在隔離層30的窗口302所圍成的區域作為容置空間，此容置空間用以容置待測流體90(如圖2B所示)，因此當待測流體90容置於此容置空間302之後，待測流體90會與第二閘極80的金屬層804接觸，使得金屬層804的電壓值產生變化，其詳細的操作在後續說明。在本實施例中的待測流體90為氣體。
接著請參考圖4B。圖4B表示具有流體裝置的感測晶片的電路示意圖。在圖4B中，將場效電晶體20的源極204接地，汲極206與外部處理單元(未在圖中表示)連接。在進行操作時，將具有流體裝置的感測晶片7置於具有待測流體90的環境中，並靜置一段時間後，對第二閘極80施加電壓，此電壓值小於30伏特(V)，較佳的電壓值範圍可以是5－7伏特。具體來說，當施加至第二閘極80的多晶矽層802的電壓為正電壓時，則在第二閘極80的金屬層804的表面會產生電性相反於多晶矽層802的多個負電荷8042，而這些負電荷8042會被待測流體90內帶有正電荷的細菌、病毒、懸浮微粒或是氣體分子影響其帶電量；同樣的，若施加至第二閘極80的多晶矽層802為負電壓，則在第二閘極80的金屬層804的表面會產生多個電性相反於多晶矽層802極性的正電荷(未在圖中表示)， 而這些正電荷8042會被待測流體90內帶有負電荷的細菌、病毒、懸浮微粒或是氣體分子影響帶電量。
舉例來說，當施加正電壓(V
in)於第二閘極80的多晶矽層802時，第二閘極80的金屬層804的表面及接受器806會產生多個負電荷8042，這些負電荷8042會被待測流體90內帶有正電荷的目標物902例如細菌、病毒、懸浮微粒或是氣體分子影響帶電量，第二閘極80的金屬層804的電壓值會隨著在金屬層804表面的這些目標物902而改變，再經由場效電晶體20將第二閘極80的金屬層804所產生的電流值傳送至外部處理單元(未在圖中表示)，可以得到對應於金屬層804的電壓值的待測流體90內的目標物902的濃度值(或是數量)。
於另一實施例中，若是為了要得到在單位體積下的待測流體90內各種目標物902的濃度，這些目標物902可以是細菌、病毒、懸浮微粒或是氣體分子，對應每一個不同的目標物902來改變具有流體裝置的感測晶片7的第二閘極80中的接受器806，如同前述，將以陣列設置的具有流體裝置的感測晶片7的感測元件(未在圖中表示)置於具有待測流體90的檢測環境中，並且施加電壓至每一個具有流體裝置的感測晶片7的第二閘極80，各個具有流體裝置的感測晶片7的第二閘極80的金屬層804的表面會產生負電荷(或正電荷)，而依據各個接受器806的特性來捕捉待測流體90中各種目標物902，再經由場效電晶體20輸出至外部處理單元(未在圖中表示)，藉此可以得到此待測流體90內各種目標物902的濃度。
接著請參考圖5。圖5是根據本發明所揭露的技術，表示具有流體裝置的感測晶片在進行檢測時的步驟流程圖。在說明圖5的步驟流程示意圖的同時，以圖1A－圖1B的具有流體裝置的感測晶片1來舉例說明。在圖5中，步驟S10：提供具有流體裝置的感測晶片。步驟S12：清洗具有流體裝置的感測晶片。在此步驟中，將具有流體裝置的感測晶片1利用去離子水進行清洗，以去除在具有流體裝置的感測晶片1上的一些雜質，以避免在進行檢測待測流體60時，產生雜訊而影響檢測結果的精準度。
接著，步驟S14：將具有流體裝置的感測晶片浸泡於緩衝溶液(buffer solution)中以測得基準線(base line)。在此步驟中，先將具有流體裝置的感測晶片1浸泡於緩衝溶液中，由於緩衝溶液中沒有任何的目標物，因此具有流體裝置的感測晶片1的第二閘極40的金屬層404表面及接受器406不會影響電壓，但是可以由參考電極50來供應具有流體裝置的感測晶片1在浸泡緩衝溶液之後電壓值，以及經由場效電晶體20所傳送至外部處理裝置(未在圖中表示)的電壓值，此電壓值為參考電極提供電壓經緩衝液至金屬層404本身的電壓值，而得到汲極電流與閘極電壓的基準線(baseline)，此基準線可以用來與後續檢測具有目標物的待測流體進行比對。
於步驟16：將待測流體容置於具有流體裝置的感測晶片，並且靜置30分鐘之後再清洗檢測。在此步驟中，將待測流體60容置於具有流體裝置的感測晶片1，並且靜置30分鐘，讓待測流體60可以與具有流體裝置的感測晶片1的第二閘極40的金屬層404充份地接觸。在靜置的過程中，於金屬層404的表面上的接受器406用以捕捉在待測流體60內的目標物602。如同前述，接受器406在捕捉到目標物602之後，會讓金屬層404在步驟20時的電壓值產生變化。
接下來，步驟S18：利用緩衝溶液清洗具有流體裝置的感測晶片。在此步驟中，將前述步驟18浸泡於緩衝溶液的具有流體裝置的感測晶片1用新的緩衝溶液清洗，為了檢測的準確度，對具有流體裝置的感測晶片1是須要進行清洗步驟。
步驟20：重複步驟14將檢測結果與原來的基準線比較來判斷待測流體內是否有目標物以及目標物的濃度。在此步驟中，是將前述步驟14得到的檢測結果與基準線來進行比較，除了可以由電壓值的變化來判斷待測流體60內是否有目標物602的存在之外，還可以藉由電電壓值來估算待測流體60內的目標物602的濃度。
基於上述步驟，圖6是表示利用基準線與含有三個不同濃度的大腸桿菌的待測流體的比較示意圖。在圖5中，基準線是利用緩衝溶液來得到。接著依據上述步驟18至步驟20，分別將具有不同濃度的大腸桿菌的待測流體容置於具有流體裝置的感測晶片1以進行檢測，其中大腸桿菌的濃度分別為10
2cells/ml、10
4/cells/ml及10
6cells/ml。由圖4除了可以得到具有流體裝置的感測晶片1可以檢測到待測流體內的大腸桿菌之外，還可以得到在相同電壓的條件下，不同的大腸桿菌濃度愈高，具有流體裝置的感測晶片1的第二閘極40的金屬層404的電流值變化亦有所有不同。
綜合上述，本發明所揭露的具有流體裝置的感測晶片1、7、1000可以檢測液體或是氣體形式的待測流體之外，還可以檢測出待測流體60的目標物602、602A、602B、602C、602D的濃度，並非僅是檢測有沒有目標物602、602A、602B、602C、602D的存在，而是可以在短時間內，得到待測流體內的目標物602、602A、602B、602C、602D的濃度，將所得到的結果可以提供給後續相關人員進行研究或是判斷，以解決了現有技術的感測晶片只能檢測有無目標物的存在，而無法對目標物來定量的技術問題。
此外，在本發明的實施例中，具有流體裝置的感測晶片1、7、1000中的第二閘極40、80、4000可相容於目前標準的CMOS(complementary metal oxide semiconductor)半導體製程，因此晶片廠不需要額外其他特殊或是需要客製化的製程即可完成，解決了現有技術中，感測晶片需要特殊的製程才能完成的技術問題。
1、1000:具有流體裝置的感測晶片
10:基板
10A:第一區域
10B:第二區域
15:溫度調控單元
17:溫度感知線路
20:場效電晶體
202:閘極
204:源極
206:汲極
30:隔離層
302:窗口
40、4000:第二閘極
402、4002:多晶矽層
404、4004:一層或多層的金屬層
406、4006、4006A、4006B、4006C、4006D:接受器
50:參考電極
60:待測流體
602、602A、602B、602C、602D:目標物
7:具有流體裝置的感測晶片
70:基板
70A:第一區域
70B:第二區域
80:第二閘極
802:多晶矽層
804:一層或多層的金屬層
804:2電荷
806:接受器
90:待測流體
902:目標物
Test A、Test B、Test C、Test D:區塊
步驟S10－步驟S20:具有流體裝置的感測晶片在進行檢測待測液體時的步驟流程圖
圖1A是根據本發明所揭露的技術，表示具有流體裝置的感測晶片的一實施例的示意圖。
圖1B是根據本發明所揭露的技術，表示具有流體裝置的感測晶片的電路示意圖。
圖2是根據本發明所揭露的技術，表示具有流體裝置的感測晶片的再一實施例的電路示意圖。
圖3A是根據本發明所揭露的技術，表示具有多個流體裝置的感測晶片的另一實施例的俯視圖。
圖3B是根據本發明所揭露的技術，表示在感測元件中有多個感測晶片、且多個感測晶片以分區方式檢測在同一個待測流體內的不同目標物的俯視圖。
圖4A是根據本發明所揭露的技術，表示本發明所揭露的具有流體裝置的感測晶片的另一實施的示意圖。
圖4B是根據本發明所揭露的技術，表示具有流體裝置的感測晶片的電路示意圖。
圖5是根據本發明所揭露的技術，表示具有流體裝置的感測晶片檢測待測流體內的目標物的步驟流程示意圖。
圖6是根據本發明所揭露的技術，表示具有流體裝置的感測晶片檢測具有大腸桿菌的待測流體的示意圖。
1:具有流體裝置的感測晶片
10:基板
10A:第一區域
10B:第二區域
20:場效電晶體
202:閘極
204:源極
206:汲極
30:隔離層
302:窗口
40:第二閘極
402:多晶矽層
404:一層或多層的金屬層
406:接受器
50:參考電極
60:待測流體
602:目標物
Claims (10)
- 一種具有流體裝置的感測晶片，包括： 一基板，該基板具有一第一區域及一第二區域； 一場效電晶體，設置於該基板的該第一區域中，該場效電晶體包含一第一閘極、一源極及一汲極，該第一閘極設置在該源極及該汲極之間且在該基板上；以及 一流體裝置，設置在該基板的該第二區域且與該場效電晶體電性連接，該流體裝置包括： 一隔離層，具有一窗口且暴露該第二區域的該基板的一表面，其中該窗口所圍成的一區域為一容置空間； 一第二閘極，設置於該隔離層的該窗口內，該第二閘極由該基板往上包括一多晶矽層及一層或多層的金屬層；以及 一參考電極，鄰近於該第二閘極且設置在該基板的該第二區域上，該參考電極與該待測流體接觸， 其中，將一待測流體容置於該容置空間內，使得該第二閘極的該金屬層接觸到該待測流體之後，在該金屬層的一表面上的多個接受器用以捕捉在該待測流體內的多個目標物，且該第二閘極的該金屬層的一電壓值會隨著該些接受器捕捉該些目標物的數量而改變，且該第二閘極將該金屬層的該電壓值變化經由該場效電晶體以對應的一電流值變化傳送至一外部處理單元，由該外部處理單元處理以得到對應於該金屬層的該電壓值變化的該待測流體內的該些目標物的一濃度值。
- 一種具有流體裝置的感測晶片，包括： 一基板，該基板具有一第一區域及一第二區域； 一場效電晶體，設置於該基板的該第一區域中，該場效電晶體包含一第一閘極、一源極及一汲極，該第一閘極設置在該源極及該汲極之間且在該基板上；以及 一流體裝置，設置在該基板的該第二區域且與該場效電晶體電性連接，該流體裝置包括： 一隔離層，具有一窗口且暴露該第二區域的該基板的一表面，其中該窗口所圍成的一區域為一容置空間； 一第二閘極，設置於該隔離層的該窗口內，該第二閘極由該基板往上包括一多晶矽層及一層或多層的一金屬層；以及 一參考電極，鄰近於該第二閘極且設置在該基板的該第二區域上，該參考電極與該待測流體接觸， 其中，將一待測流體容置於該容置空間內，使得該第二閘極的該金屬層接觸到該待測流體，將該第二閘極中的該多晶矽層的一端用以接地及該多晶矽層的另一端與一溫度調控單元電性連接，該溫度調控單元提供一溫度調控訊號，並透過該多晶矽層利用該溫度調控訊號對在該容置空間內的該待測流體進行加熱並調控該待測流體的一溫度，使得該待測流體的該溫度在達到一預設溫度的過程中，在該金屬層的一表面上的多個接受器用以捕捉在該待測流體內的多個目標物，且該第二閘極的該金屬層的一電壓值會隨著該些接受器捕捉該些目標物的數量而改變，且該第二閘極將該金屬層的該電壓值變化經由該場效電晶體以對應的一電流值變化傳送至一外部處理單元，由該外部處理單元處理以得到對應於該金屬層的該電壓值變化的該待測流體內的該些目標物在該預設溫度下的一濃度值。
- 如請求項1或2所述的具有流體裝置的感測晶片，其中該參考電極與該待測流體接觸，並用以提供量測該第二閘極的該金屬層的該電壓值變化時所需的一電壓。
- 如請求項2所述的具有流體裝置的感測晶片，其中該溫度調控單元為一脈衝寬度調變單元(PWM，pulse width modulation)。
- 如請求項2所述的具有流體裝置的感測晶片，其中該預設溫度範圍為50℃－95℃。
- 一種具有流體裝置的感測晶片，包括： 一基板，該基板具有一第一區域及一第二區域； 一場效電晶體，設置於該基板的該第一區域中，該場效電晶體包含一第一閘極、一源極及一汲極，該第一閘極設置在該源極及該汲極之間且在該基板上； 一流體裝置，設置在該基板的該第二區域且與該場效電晶體電性連接，該流體裝置包括： 一隔離層，具有一窗口，且設置於該基板的該第二區域上以暴露出該第二區域的該基板的一表面，其中該窗口所圍成的一區域為一容置空間；以及 一第二閘極，設置於該隔離層的該窗口內，該第二閘極由該基板往上包括一多晶矽層及一層或多層的金屬層， 藉此，當將具有該流體裝置的該感測晶片置於具有一待測流體的一環境下，並使該待測流體通過該流體裝置的該第二閘極，靜置後，對該流體裝置的該第二閘極施加一電壓時，該第二閘極的該金屬層的一表面會產生多個電荷，在該金屬層上的各該電荷的一帶電量會被在該待測流體內的一目標物影響，且該第二閘極的該金屬層的一電壓值會隨著該些電荷捕捉該些目標物的數量而改變，且該第二閘極將該金屬層的該電壓值經由該場效電晶體傳送至一外部處理單元以對該電壓電流值進行處理。
- 如請求項6所述的具有流體裝置的感測晶片，其中該感測元件是將具有該流體裝置的各該感測晶片以分小區檢測並將輸出電流進行並聯，以計算總輸出電流的變化值。
- 如請求項6所述的具有流體裝置的感測晶片，其中該電壓小於30伏特。
- 如請求項6所述的具有流體裝置的感測晶片，其中該待測流體為氣體。
- 如請求項6所述的具有流體裝置的感測晶片，其中該目標物可以是細菌、病毒、懸浮微粒或氣體分子。
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2022
- 2022-03-11 TW TW111109041A patent/TWI834132B/zh active
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