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TW201416686A - 待測訊號搜尋系統及方法 - Google Patents

待測訊號搜尋系統及方法 Download PDF

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TW201416686A
TW201416686A TW101139668A TW101139668A TW201416686A TW 201416686 A TW201416686 A TW 201416686A TW 101139668 A TW101139668 A TW 101139668A TW 101139668 A TW101139668 A TW 101139668A TW 201416686 A TW201416686 A TW 201416686A
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circuit diagram
tested
sub
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sheng-wei Su
Po-Wei Wang
Bo-Hong Lin
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Hon Hai Prec Ind Co Ltd
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Abstract

一種待測訊號搜尋系統及方法，該系統載入電路板的硬體設計電路圖及電路測試程式。在硬體設計電路圖上搜尋電路板的各個待測訊號的圖面位置。根據各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置，從硬體設計電路圖中獲得各個待測訊號的子電路圖，並將各個待測訊號及對應的子電路圖儲存至儲存設備。當選擇電路測試程式中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測訊號，從儲存設備中搜索該確定的待測訊號所對應的子電路圖，並將搜索到的子電路圖顯示在顯示設備上。

Description

待測訊號搜尋系統及方法
本發明涉及一種電路板測試系統及方法，尤其關於一種搜尋電路板的待測訊號在硬體電路設計圖上的圖面位置的待測訊號搜尋系統及方法。
在電路板開發過程中，為了驗證電路板是否工作正常，測試人員需要運行電路測試程式對各個待測訊號進行測試。每個待測訊號在硬體電路設計圖上有對應的圖面位置，為了從電路圖上得到待測訊號的圖面位置，測試人員需要反復搜尋電路圖，因而耗費了大量的精力和時間。
鑒於以上內容，有必要提供一種待測訊號搜尋系統及方法，能夠快速準確地得到電路板的待測訊號在硬體電路設計圖上的圖面位置。
一種待測訊號搜尋系統，運行於資料處理設備中，該系統包括：第一載入模組，用於載入電路板的硬體設計電路圖；搜尋模組，用於搜尋電路板的各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置從硬體設計電路圖中獲得各個待測訊號的子電路圖；儲存模組，用於將各個待測訊號及對應的子電路圖儲存至儲存設備；第二載入模組，用於載入電路測試程式；確定模組，用於當選擇電路測試程式中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測訊號，並從儲存設備中搜索該確定的待測訊號所對應的子電路圖；及顯示模組，用於將搜索到的子電路圖顯示在顯示設備上。
一種待測訊號搜尋方法，應用於資料處理設備中，該方法包括：第一載入步驟，載入電路板的硬體設計電路圖；搜尋步驟，搜尋電路板的各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置從硬體設計電路圖中獲得各個待測訊號的子電路圖；儲存步驟，將各個待測訊號及對應的子電路圖儲存至儲存設備；第二載入步驟，載入電路測試程式；確定步驟，當選擇電路測試程式中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測訊號，並從儲存設備中搜索該確定的待測訊號所對應的子電路圖；及顯示步驟，將搜索到的子電路圖顯示在顯示設備上。
本發明在利用電路測試程式對電路板進行測試時能夠快速準確地得到待測訊號在硬體電路設計圖上的圖面位置，提高了測試效率，減少了測試時間。
參閱圖1所示，係本發明待測訊號搜尋系統較佳實施方式的應用環境示意圖。所述待測訊號搜尋系統10及電路測試程式11運行於資料處理設備12中。該資料處理設備12還包括儲存設備13、處理器14及顯示設備15。所述儲存設備13儲存電路測試程式11及待測訊號搜尋系統10的程式碼及運行過程中所需的資料。所述處理器14執行待測訊號搜尋系統10及電路測試程式11的程式碼，以在利用電路測試程式11對電路板進行測試時能夠快速準確地獲得電路板的待測訊號在硬體電路設計圖上的圖面位置。
參閱圖2所示，係圖1中待測訊號搜尋系統的功能模組圖。所述待測訊號搜尋系統10包括第一載入模組200、搜尋模組210、儲存模組220、第二載入模組230、確定模組240及顯示模組250。
所述第一載入模組200用於載入電路板的硬體設計電路圖。在本實施方式中，所述硬體設計電路圖包括原理圖和佈局佈線圖。原理圖表示電路板包含的電子元件及電子元件的連線關係。佈局佈線圖表示電子元件在電路板的實際位置及連線。
所述搜尋模組210用於搜尋電路板的各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置從硬體設計電路圖中獲得各個待測訊號的子電路圖。每個待測訊號對應至少一個子電路圖。每個待測訊號的子電路圖包含該待測訊號。在本實施方式中，所述硬體設計電路圖是數位圖像（例如JPG格式圖像），搜尋模組210利用習知的圖像匹配演算法搜尋各個待測訊號在電路圖上的圖面位置，獲得各個待測訊號的子電路圖。在本實施方式中，預先將所述硬體設計電路圖分割為多個子電路圖，若一個子電路圖包含指定待測訊號，則該子電路圖是該指定待測訊號的子電路圖。在分割硬體設計電路圖時，可以以電子元件為單位進行分割。
所述儲存模組220用於將各個待測訊號及對應的子電路圖儲存至儲存設備13。在本實施方式中，所述儲存模組220建立各個待測訊號及對應的子電路圖的資料庫，將該資料庫儲存到儲存設備13。
所述第二載入模組230用於載入電路測試程式11。所述電路測試程式11包括多個測試指令，每個測試指令對應一個待測訊號，用於對該待測訊號進行測試。例如，電路測試程式11包括測試指令“Set LOW PS_ON1”，表示將待測訊號PS_ON1設置為低電平。又如，電路測試程式11包括測試指令“Set HIGH PS_ON1”，表示將待測訊號PS_ON1設置為高電平。
所述確定模組240用於當用戶選擇電路測試程式11中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測訊號，並從儲存設備13中搜索該確定的待測訊號所對應的子電路圖。例如，當用戶選擇測試指令“Set LOW PS_ON1”時，確定該選擇的測試指令對應的待測訊號是PS_ON1，從儲存設備13中搜索到該待測訊號包括三個子電路圖FIG1_PS_ON1、FIG2_PS_ON1及FIG3_PS_ON1。
所述顯示模組250用於將搜索到的待測訊號的子電路圖顯示在顯示設備15上。例如，顯示模組250將待測訊號PS_ON1的三個子電路圖FIG1_PS_ON1、FIG2_PS_ON1及FIG3_PS_ON1顯示在顯示設備15上。參閱圖4所示，係在顯示設備15上顯示搜索到的待測訊號的子電路圖的示意圖。此時，選擇的測試指令為“Set LOW PS_ON1”，對應的待測訊號是PS_ON1，搜索到的子電路圖是FIG1_PS_ON1、FIG2_PS_ON1及FIG3_PS_ON1。
參閱圖3所示，係本發明待測訊號搜尋方法較佳實施方式的流程圖。
步驟S301，第一載入模組200載入電路板的硬體設計電路圖。在本實施方式中，所述硬體設計電路圖包括原理圖和佈局佈線圖。原理圖表示電路板包含的電子元件及電子元件的連線關係。佈局佈線圖表示電子元件在電路板的實際位置及連線。
步驟S302，搜尋模組210搜尋電路板的各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置從硬體設計電路圖中獲得各個待測訊號的子電路圖。每個待測訊號對應至少一個子電路圖。每個待測訊號的子電路圖包含該待測訊號。在本實施方式中，所述硬體設計電路圖是數位圖像（例如JPG格式圖像），搜尋模組210利用習知的圖像匹配演算法搜尋各個待測訊號在電路圖上的圖面位置，獲得各個待測訊號的子電路圖。在本實施方式中，預先將所述硬體設計電路圖分割為多個子電路圖，若一個子電路圖包含指定待測訊號，則該子電路圖是該指定待測訊號的子電路圖。在分割硬體設計電路圖時，可以以電子元件為單位進行分割。
步驟S303，儲存模組220將各個待測訊號及對應的子電路圖儲存至儲存設備13。在本實施方式中，所述儲存模組220建立各個待測訊號及對應的子電路圖的資料庫，將該資料庫儲存到儲存設備13。
步驟S304，第二載入模組230載入電路測試程式11。所述電路測試程式11包括多個測試指令，每個測試指令對應一個待測訊號，用於對該待測訊號進行測試。例如，電路測試程式包括測試指令“Set LOW PS_ON1”，表示將待測訊號PS_ON1設置為低電平。又如，電路測試程式包括測試指令“Set HIGH PS_ON1”，表示將待測訊號PS_ON1設置為高電平。
當用戶選擇電路測試程式11中的測試指令時，步驟S305，確定模組240確定該選擇的測試指令對應的待測訊號。例如，當用戶選擇測試指令“Set LOW PS_ON1”時，確定該選擇的測試指令對應的待測訊號是PS_ON1。
步驟S306，確定模組240從儲存設備13中搜索該確定的待測訊號所對應的子電路圖。例如，待測訊號是PS_ON1，從儲存設備13中搜索到該待測訊號包括三個子電路圖FIG1_PS_ON1、FIG2_PS_ON1及FIG3_PS_ON1。
步驟S307，顯示模組250將搜索到的待測訊號的子電路圖顯示在顯示設備15上。例如，顯示模組250將待測訊號PS_ON1的三個子電路圖FIG1_PS_ON1、FIG2_PS_ON1及FIG3_PS_ON1顯示在顯示設備15上。參閱圖4所示，係在顯示設備15上顯示搜索到的待測訊號的子電路圖的示意圖。此時，選擇的測試指令為“Set LOW PS_ON1”，對應的待測訊號是PS_ON1，搜索到的子電路圖是FIG1_PS_ON1、FIG2_PS_ON1及FIG3_PS_ON1。
利用本發明，當用戶需要執行電路測試程式11的測試指令對待測訊號進行測試時，該待測訊號相關的子電路圖自動顯示在顯示設備15上，該子電路圖顯示待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置，便於用戶檢查待測訊號在硬體設計電路圖上相關的電路，提高了測試效率，減少了測試時間。
綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施方式，本發明之範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟悉本案技藝之人士援依本發明之精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下申請專利範圍內。
10．．．待測訊號搜尋系統
11．．．電路測試程式
12．．．資料處理設備
13．．．儲存設備
14．．．處理器
15．．．顯示設備
200．．．第一載入模組
210．．．搜尋模組
220．．．儲存模組
230．．．第二載入模組
240．．．確定模組
250．．．顯示模組
圖1係本發明待測訊號搜尋系統較佳實施方式的應用環境示意圖。
圖2係圖1中待測訊號搜尋系統的功能模組圖。
圖3係本發明待測訊號搜尋方法較佳實施方式的流程圖。
圖4係在顯示設備上顯示搜索到的待測訊號的子電路圖的示意圖。
10．．．待測訊號搜尋系統
200．．．第一載入模組
210．．．搜尋模組
220．．．儲存模組
230．．．第二載入模組
240．．．確定模組
250．．．顯示模組

Claims (8)

  1. 一種待測訊號搜尋系統，運行於資料處理設備中，該系統包括：
    第一載入模組，用於載入電路板的硬體設計電路圖；
    搜尋模組，用於搜尋電路板的各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置從硬體設計電路圖中獲得各個待測訊號的子電路圖；
    儲存模組，用於將各個待測訊號及對應的子電路圖儲存至儲存設備；
    第二載入模組，用於載入電路測試程式；
    確定模組，用於當選擇電路測試程式中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測訊號，並從儲存設備中搜索該確定的待測訊號所對應的子電路圖；及
    顯示模組，用於將搜索到的子電路圖顯示在顯示設備上。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之待測訊號搜尋系統，其中所述硬體設計電路圖包括原理圖和佈局佈線圖。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之待測訊號搜尋系統，其中所述硬體設計電路圖被預先分割為多個子電路圖，若一個子電路圖包含指定待測訊號，則該子電路圖是該指定待測訊號的子電路圖。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之待測訊號搜尋系統，其中所述硬體設計電路圖以電子元件為單位進行分割。
  5. 一種待測訊號搜尋方法，應用於資料處理設備中，該方法包括：
    第一載入步驟，載入電路板的硬體設計電路圖；
    搜尋步驟，搜尋電路板的各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置，根據各個待測訊號在硬體設計電路圖上的圖面位置從硬體設計電路圖中獲得各個待測訊號的子電路圖；
    儲存步驟，將各個待測訊號及對應的子電路圖儲存至儲存設備；
    第二載入步驟，載入電路測試程式；
    確定步驟，當選擇電路測試程式中的測試指令時，確定該選擇的測試指令對應的待測訊號，並從儲存設備中搜索該確定的待測訊號所對應的子電路圖；及
    顯示步驟，將搜索到的子電路圖顯示在顯示設備上。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之待測訊號搜尋方法，其中所述硬體設計電路圖包括原理圖和佈局佈線圖。
  7. 如申請專利範圍第5項所述之待測訊號搜尋方法，其中所述硬體設計電路圖被預先分割為多個子電路圖，若一個子電路圖包含指定待測訊號，則該子電路圖是該指定待測訊號的子電路圖。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之待測訊號搜尋方法，其中所述硬體設計電路圖以電子元件為單位進行分割。
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