TW201108438A - Enhanced efficiency solar cells and method of manufacture - Google Patents
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Description
201108438 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明大體而言係關於太陽能電池,且更特定言之係 關於增強效率的太陽能電池及其製造方法。 【先前技術】 太陽能電池或光伏打電池係為將日光轉換為電能之元 件。此轉換係藉由光伏打效應來完成。當前,存在諸多 不同類型之太陽能電池;然而’所有太陽能電地皆需要 一包含於電池結構中之光吸收材料,以經由光伏打效應 來吸收光子並產生電子。通常使用該光吸收材料之多種 物理構形以利用其不同光吸收值及電荷分離機制。 在大多數狀況下’光伏打電池或太陽能電池係由矽電 池或薄膜電池製成。目前已被開發之各種薄膜技術減少 了製造太陽能電池中所需之光吸收材料之數量(或質 量)。如此可產生比塊材(例如’矽薄膜)之製造成本小 的製造成本且亦降低能量轉換效率(平均7%至10%之效 率)。薄膜電池可為(例如)沈積於支撐基板上之無機層、 有機染料及有機聚合物。另一類用於太陽能電池之材料 包含嵌入支撐基體中之奈米晶體(例如,電子約束之奈 米粒子)。 第一代電池由大面積、·高品質單晶、單接面元件組成。 然而’此代元件涉及尚能量及人力成本,如此使得其製 造極其昂貴。又,單接面矽元件正接近其效率限制。已
S 201108438 设计出第二代電池及其製造方法以解決太陽能電池之能 量需求及生產成本問題。舉例而言,已開發了替代性製 造技術(諸如,汽相沈積技術及電鍍技術)以降低製造 成本及人力成本。舉例而言,其中一種較成功之第二代 電池係使用碲化鎘(CdTe)、銅銦鎵硒、非晶矽及微晶矽。 將此等材料應用於一薄膜中作為其支撐基板(諸如玻璃 或陶瓷)上,此舉可降低材料質量且降低成本。第三代 技術旨在提高第二代技術(薄膜技術)之不良電氣效能, 同時維持極低之生產成本。 然而,無論第幾代,太陽能電池效率仍較低,其部分 歸因於缺少將可獲得之光能適當導引至太陽能電池之半 導體表面上。且當前,很少實用方法能在此等元件中達 到較高之效率。 因此’在此項技術中需要克服上文所描述之缺陷及限 制。 【發明内容】 在本發明之一態樣中,一種太陽能電池包含至少一或 多個聚光透鏡條,每一聚光透鏡條在前觸點之側面上延 伸且經安置於一或多個有效區域中之一個別有效區域 上。該聚光透鏡條經安置以將光引導至該一或多個有效 區域上。該太陽能電池亦包含覆蓋至少一或多個聚光透 鏡條之一保護層。 在本發明之另一態樣中,一太陽能電池包含:複數個 4 201108438 經由摻雜半導體材料所構成之有效區域;複數個位於該 複數個有效區域之側面上之前觸點;複數個聚光透鏡 條,每一聚光透鏡條與該複數個前觸點平行延伸且經安 置於沿著介於該複數個前觸點間之有效區域之整個長度 或實質上整個長度上;及覆蓋該複數個聚光透鏡條之一 保護層。 在本發明之另一態樣中,一種製造一太陽能電池之方 法包含以下步驟:在一半導體材料上形成一或多個有效 區域;在該半導體材料上形成一或多個前金屬觸點;藉 由沈積及回流(reflow)製程在該一或多個有效區域上且 在該一或多個前金屬觸點之間形成聚合物透鏡條;及在 該等聚合物透鏡條上沈積一保護層。 【實施方式】 本發明大體而言係關於太陽能電池,且更特定言之係 關於增強效率的太陽能電池及其製造方法《在實施例 中’本發明使用影像感測技術认在太陽能電池之表面上 建造或集成微透鏡。更有利地來說,該透鏡不需要附加 單元(add-on unit)即可擷取光並將光重定向至太陽能電 池之有效區域上。將添加透鏡作為製造程序之一部分可 降低成本’且在實施例中’藉由將光直接導引至太陽能 電池本身,可提高太陽能電池之整體效率。 在實施例中,根據前觸點之位置,可將透鏡置放於結 構表面上之任何位置。然而較佳地,透鏡之位置應經安 5 201108438 置在能提供一無阻礙光路徑至太陽能電池之有效區域 上。更有利地來說’透鏡將擷取更多光並將其重定向至 太1%能電池之有效區域上,進而增加太陽能電池之輸出。 在實施例中’本發明使用聚合物形式之透鏡來將光導 引至有效區域。在一組態中’該透鏡為安置於前金屬觸 點之間的區域中的條狀物。此位置及組態將使光直接匯 集至太陽能電池之有效區域。在實施例中,透鏡可為沿 著有效區域之整個長度或實質上整個長度之狹長形(而 非單個像素)^又’在實施例中,可將保護層直接置放於 聚合物形式之透鏡上。在其他實施例中,該保護層可完 全覆蓋聚合物形式之透鏡。在實施例中,保護層可使用 二氧化矽或SiNx。 在其他實施例中’仍可將附加單元與本發明之太陽能 電池結合使用’以進一步增加太陽能電池之輸出。又, 儘管本發明係參閱矽基太陽能電池來描述,但是熟習此 項技術者應瞭解’本發明亦涵蓋其他類型之太陽能電池。 第1圖展示根據本發明之態樣之初始結構。特定而言 之’第1圖展示沈積於一石夕基板層80上之一後觸點10, 其中該矽基板層80包含形成於基板80之底部部分上之 一 P型半導體20及形成於基板80之上部部分中之一 N 型半導體30。在實施例中,p型半導體2〇可為摻雜硼之 矽且N型半導體30可為摻雜磷之矽。 使用習知沈積及圖案化技術將複數個前(金屬)觸點 40沈積並圖案化於N型半導體30上。儘管在第i圓中 201108438 展示了四個前觸點40,但是熟f此項技術者將理解 發明涵蓋四個以上之觸點。在實施例令,該前觸 蓋電池之5%至45%之間的梦且係沿著有效區域•之長 度呈列狀排列。該前觸點及後觸點可為(例如)叙或其 他金屬或金屬合金。 在實施例中,在相鄰之前觸點4〇之間的間隔界定該有 效區域術’且其寬度可約為i微米至3公釐。舉:而 言,使用單晶石夕,則前觸·點4〇之間的典型間隔大致可為 3公釐。在另—實例中,使用多晶梦或非晶# ,則相鄰 前觸點40之間的間隔可約為2〇〇微米。在實施例中,前 觸點40之寬度可約為1微米至i公釐,典型寬度大致為 200微米以最小化電阻效應。在鋁上網版印製/漆塗之前 觸點40之平均厚度範圍約50微米至2微米之間,而沈 積/蒸鍍鋁之平均厚度為2微米。 第2圖展示根據本發明之態樣的最終結構。特定而言 之,第2圖展示複數個聚光透鏡條5〇與第丄圖之結構組 合之圖示。特定而言之’該聚光透鏡條5〇係提供(例如, 經沈積及圖案化)於曝露之N型半導體30上,係介於每 一前觸點40之間。在實施例中,該聚光透鏡條50相對 於刖觸點40平行延伸且係直接位於一或多個介於前觸 點40之間之有效區域4〇a上。在可選實施例中,可將抗 反射塗層65沈積於聚光透鏡條50上方或下方,以擷取 更多光並將其導引至太陽能電池之有效區域(非金屬化 區域)上。在實施例中,一或多個聚光透鏡條5〇係直接 201108438 位於抗反射塗層65上。 該聚光透鏡條50可具有一三角截面,以沿著其整個長 度將光有效地聚焦至前觸點40上》熟習此項技術者將理 解’如下文所描述之本發明亦涵蓋其他截面形狀。藉由 將光直接聚焦至有效區域40a上以彌補因前觸點40所造 成之表面積之損失,可將太陽能電池之效率提高大約 3 0%至45%。該聚光透鏡條5〇之間的間隔可在相距大約 0.4微米(對於1 um高之透鏡而言)至彼此接觸之範圍 内。 在實施例中,該聚光透鏡條50可由聚合物組成,該等 聚合物包括(例如)中紫外光(MUV)光阻劑、聚醯亞胺, 及/或苯并環丁烯。該透鏡條亦可由諸如Si〇2的無機材料 (亦即,具有高可見光透射率的材料)構成。另外,在 實施例中’該聚光透鏡條50之形狀及尺寸將視製造程序 所使用之遮罩及回流製程之類型而定。該聚光透鏡條5〇 之形狀及尺寸之特性包括(例如)該透鏡之高度及焦距。 在各種實施例中,使用遮罩及回流製程可獲得各種透鏡 形狀’該等透鏡形狀自稜柱至球形至三角形。在其他實 施例中,該聚光透鏡條50之高度視觸點本身(或參閱第 3圖,平坦化層70)之厚度而定。另外,在各種實施例 中’該聚光透鏡條50之特定透射率可為9〇%至99%或更 大。 仍參閱第2圖,將保護層6〇直接沈積於聚光透鏡條 50上。在實施例中,該保護層6〇之厚度可在約1〇〇埃 201108438 至約0.5微米之厚度範圍内,典型厚度為〇5微米。在實 施例中保6蒦層60之外部表面包覆聚光透鏡條5〇且通 吊與聚光透鏡條50之形狀一致。 熟習此項技術者將瞭解,保護層60(及抗反射塗層65 ) 可使用不同材料及尺寸。該抗反射塗層65可為參照保護 層60所論述之任何材料。在實施例中,該保護層6〇可 為(例如)使用習知化學氣相沉積(CVD)製程所沈積之
Si〇2。如其他實例,該保護層6〇可為使用低溫氧化物 (LTO )製程所沈積之Si〇2 ^在實施例中氧化物為保 護透鏡以及作為抗反射塗層之適當材料。舉例而言氧 化物之折射率大致為K46,該折射率介於空氣之折射率 (亦即,1.0 )與聚合物透鏡之折射率(亦即,} 6 )之間。 在任何實施例中,保護層60將不妨礙光到達聚光透鏡條 5 0上。 在其他實施例中,抗反射塗層65可為SiNx。SiNx為 適合之材料’因為其折射率為198,係介於聚合物透鏡 之折射率(亦即’ 1.6)與矽之折射率(亦即,2 〇)之間。 在其他實施例中’可將SiNx之變體(諸如,氮氧化矽或 富含矽之氮化物)用作保護塗層。在任何實施例中,抗 反射塗層65將不妨礙光到達有效區域4〇a上。 在一實施例中,抗反射塗層可在透鏡上方或下方(作 為平坦化層之一部分或一單獨層),且必須具有在空氣之 折射率(1.0)與矽之折射率(2.0)之間的一增加折射率。 嚴格而言,透鏡上方之抗反射塗層之折射率必須在空氣 9 201108438 之折射率(1.0)與透鏡之折射率(ι 6)之間,且透鏡下 方之抗反射塗層之折射率必須在透鏡之折射率(16)與 矽基板之折射率(2.0)之間。 第3圖展示根據本發明之態樣之替代性結構。特定而 言之,第3圖展示一平坦化層7〇,其係直接沈積於前觸 點40 (並與其接觸)及曝露之n型半導體3〇上。在實 施例中,該平坦化層70可為一光阻層,其厚度大致為下 層金屬層(例如,前觸點40)之兩倍。在實施例中,該 平坦化層70可為經沈積之SiNx,且可使用習知之化學氣 相沉積(CMP)製程來平坦化。 仍參閱第3圖,該聚光透鏡條5〇係直接形成於平坦化 層70上。在此實施例中,平坦化層7〇藉由(例如)允 許聚光透鏡條50完全覆蓋該表面(例如,在前觸點4〇 及N型半導體30間之(有效區域4〇a)上方),來允許 其改良覆蓋,進而增加光擷取且實質地聚焦至有效區域 40a (非金屬化區.域)上。更特定言之,#由使用平坦化 層70,所形成之聚光透鏡條5〇可彼此接觸每一聚光 透鏡條可大致位在相鄰前觸點4〇之間的中心處。又該 聚光透鏡條50之間的接觸可最小化穿過透鏡側面之漏 光。 該聚光透鏡條50係由保護層6〇 (諸如,、siN 或本文論述之其他材料)戶斤覆蓋。如在Μ實施例中,X 保護層60之外部表面包覆聚光透鏡條5〇且通常與聚光 透鏡條50之形狀一致。在—實施例中,保護層具有 10 201108438 沿著聚光透鏡條50之整個表面之保角塗層(c〇nf〇rmal coating) ° 在可選實施例中’該抗反射塗層65可沈積於透鏡50 之上方或下方,以擷取更多光並將其導引至太陽能電池 之有效區域40a上。在實施例中,一或多個聚光透鏡條 5〇係直接位於抗反射塗層65上。抗反射塗層65可為參 照保護層6 0所論述之任何材料。 第4圖展示根據本發明之態樣的示範性透鏡組態。更 特疋言之,第4圖展示具有特定尺寸之第3圖之實施例。 特定而言之’在矽基板層80上提供複數個前觸點4〇 , 接著平坦化層70係形成於複數個前觸點4〇及矽基板層 8〇之暴露區域(例如,有效區域4〇a)上。該聚光透鏡 條50係安置於平坦化層7〇上,與有效區域4〇a對準。 如圖所展示’該聚光透鏡條5〇在有效區域4〇a上之平坦 化層70上提供完全覆蓋。在一示範性實施例中, (0該聚光透鏡條50之高度(由箭頭r a」表示)係 約為13 1 um ; (11)該聚光透鏡條50在平坦化層70之界面上的高度 (由箭頭「B」表示)係約為4〇〇 um ; (iii )平坦化層70之高度(由箭頭r c」表示)可約 為 205 um ; (iv) 有效區域40a之寬度(由箭頭「〇」表示)可約 為200 um ;且 (v) 有效區域40a之高度(由箭頭「e」表示)可約 201108438 為 50 um。 然而應瞭解’本發明亦涵蓋其他尺寸。又,如第4圖 所展示’該聚光透鏡條50將光聚焦至有效區域上,並使 光遠離該金屬觸點40。 習知本項技術者應瞭解,第2圖與第3圖(及第4圖) 中所展示之配置皆使用透鏡條’該等透鏡條係架設在前 觸點之間的開放區域(有效區域40a)之整個長度或實 質上整個長度上。另外,第2圖與第3圖中之配置皆使 用透鏡’該等透鏡越寬越好以儘可能掏取更多的光,例 如’至少為有效區域40a之寬度。又,該透鏡條亦經組 態、經成形及經構造以將光導引至有效區域4〇上。 如熟習此項技術者將進一步瞭解,第2圖及第3圖(及 第4圖)中所展示之實施例可(例如)使用習知建造製 程舉例而s,建造並成形該等透鏡可包括光阻劑塗覆、 曝光及顯影之通用製程,繼之以回流製程以進一步成形 透鏡。在實施例中,若使用一平坦化層(如第3圖所展 不)’則將視用於平坦化層之材料而決定特定製程。舉例 而》,若使用聚合物(諸如光阻劑),則該製造之特定製 程流程可包括在光阻劑上使用紡絲。然而,若使用氮化 矽聖層,則可使用沈積製程(諸如,化學汽相沈積() 製程)。 在特定實施例中’ 一種製造太陽能電池之方法包括以 下步驟·在半導體材料上形成一或多個有效區域。此步 驟可藉由以下步驟來執行:用適合之摻雜劑(諸如,蝴 12 201108438 等)來摻雜半導體材料。可使用金屬製程之絲網印刷、 剝離圖案化或金屬蝕刻,在半導體材料上形成金屬觸點 40。藉由沈積及回流製程在一或多個有效區域上且在一 或多個前金屬觸點之間形成聚合物透鏡條。如上文所論 述’可用習知方式將保護層沈積於聚合物透鏡條上。可 藉由以下步驟來形成平坦化層:在一或多個有效區域及 前金屬觸點上沈積光阻劑層’隨後平坦化該光阻劑層。 本文使用之術語旨在描述特定實施例且不意欲為本發 明之限制。如本文所使用,單數形式「一( a)」、「一(时)」 及「該(the)」同樣意欲包括複數形式,除非本文另有 明確指示。應將進一步瞭解,當用於本說明書時,術語 「包含(comprises)」及/或「包含(comprising)」列舉 所述特徵結構、整數、步驟、操作、元件,及/或組件之 存在,而並不排除存在或添加一或多個其他特徵结構、 整數、步驟、操作、元件、組件,及/或其群組。 所有方法或步驟之相應結構、材料、行為及等效物以 及下文申請專利範圍中之功能元件(若有),欲包括以結 合其他經主張之元件作為其具體主張來執行其功能之任 何結構、材料或行為。本發明之描述為達說明及描述之 目的,故不欲視為全面,或對本發明所揭示之形式的限 制。在不脫離本發明之範疇及精神情況下,諸多修改及 變化可為一般技術者所瞭解。所選擇並描述之該等實施 例係為了對本發明之原則及其實際應用有更佳的解釋, 且使習知本項技術者能夠瞭解本發明之具有適於特定使 13 201108438 用構思之各種修改的各種實施例。 【圖式簡單說明】 本篇發明將描述於以下之【實施方式】中,並以本發 明之示範性實施例之非限制性實例的方式’來參閱所提 及之複數個圖式》 第1圖展示根據本發明之態樣之初始姑構; 第2圖展示根據本發明之態樣之具有透鏡組態的電 池; 第3圖展示根據本發明之態樣之具有透鏡組態的電池 之一實施例;及 第4圖展示根據本發明之態樣的示範性尺寸。 【主要元件符號說明】 1 〇 後觸點 20 Ρ型半導體 30 Ν型半導體 40 前觸點 40a有效區域 50 聚光透鏡條 60 保護層 70 平坦化層 80 層/基板層/基板 201108438 A 箭頭 B 箭頭 C 箭頭 D 箭頭 E 箭頭
A 15
Claims (1)
- 201108438 七、申請專利範圍: 1. 一種太陽能電池,其包含: 至少一或多個聚光透鏡條,每— 母&先透鏡條在前觸點之 側面上延伸且係安置於—戋多侗 次少個有效區域之一個別有效 區域,在該位置將仏丨導至該—或多個有效區域上;及 -保護層’其覆蓋至少該—或多個聚光透鏡條。 2.如申請專利範圍第丨項之太陽能電池,其中至少該 或多個聚光透鏡條係直接位於該一或多财效區域上 該等有效區域係介於該等前觸點與沿著該有效區域之 整個長度或實質上一整個長度之間。 3.如申請專利範圍第丨項之太陽能電池,其中至少該一 或多個聚光透鏡條係位於一抗反射塗層上,該抗反射塗 層係位於該一或多個有效區域上。 4.如申請專利範圍第1項之太陽能電池,其中該保護層 為' 抗反射塗層。 5·如申請專利範圍第1項之太陽能電池,其進一步包 含:一平坦化層’該平坦化層係覆蓋該一或多個有效區 域及該等前觸點,其中至少該一或多個聚光透鏡條係位 於該平坦化層上。 16 201108438 6·如申請專利範圍第5項之太陽能電池,其進一步包 含·一抗反射塗層,該抗反射塗層係在該一或多個聚光 透鏡條下。 7.如申請專利範圍第5項之太陽能電池,其中該一或多 個聚光透鏡條中之相鄰聚光透鏡條彼此接觸,以完全覆 蓋在該一或多個有效區域及相鄰前觸點上之該平坦化 層。 8·如申請專利範圍第1項之太陽能電池,其中該一或多 個聚光透鏡條由聚合物材料所組成。 9.如申請專利範圍第8項之太陽能電池,其中該聚合物 材料為以下材料中之至少一者:光阻劑、聚醯亞胺及苯 并環丁烯。 1〇.如申請專利範圍第i項之太陽能電池,其中該一或多 個聚光透鏡條為以下形狀中之一者:一三角形、一棱柱 及球形。 如申請專利範圍第丨項之太陽能電池,其中該保護層 為以下其中一者:Si〇2及SiNx。 S 17 201108438 12. 如申請專利範圍第i項之太陽能電池其中該一或多 個聚光透鏡條中相鄰透鏡之間的間隔約為〇 4微米至 0.0,且該保護層具有一厚度約在1〇〇埃至約〇 5微米的 一範圍内。 13. —種太陽能電池,其包含: 複數個有效區域,其係由一掺雜半導體材料構成; 複數個前觸點’其係安置於該複數個有效區域之側面上; 複數個聚光透鏡條,每一聚光透鏡條與該複數個前觸點 平行延伸且在該複數個前觸點之間係沿著該等有效區域 之一整個長度或實質上一整個長度來安置;及 一保護層,其覆蓋複數個該聚光透鏡條。 14. 如申請專利範圍第13項之太陽能電池,其進一步包 含:一平坦化層’該平坦化層係提供於該複數個聚光透 鏡條與該複數個前觸點及有效區域之間,其中該複數個 聚光透鏡條彼此接觸且完全覆蓋在該平坦化層之上,該 平坦化層係在至少該等有效區域及複數個該等前觸點之 相鄰前觸點之上。 15. 如申請專利範圍第14項之太陽能電池,其進一步包 含:一抗反射塗層,該抗反射塗層係在該複數個聚光透 鏡條下。 18 201108438 16.如申請專利範圍第13項之太陽能電池,其進一步包 含:一抗反射塗層’該抗反射塗層係在該複數個聚光透 鏡條下。 17. —種製造一太陽能電池之方法,其包含以下步驟: 在一半導體材料上形成一或多個有效區域; 在該半導體材料上形成一或多個前金屬觸點; 藉由沈積及回流製程在該一或多個有效區域上且在該一 或多個前金屬觸點之間形成聚合物透鏡條;及 在該等聚合物透鏡條上沈積一保護層。 18. 如申請專利範圍第17項之方法其進一步包含以下 步驟: 在該一或多個有效區域及前金屬觸點上沈積一光阻劑 層;及 平坦化該光阻劑層,其中 形成該等聚合物透鏡條之步驟係形成於平坦化光阻劑層 上0 19.如申請專利範圍第18項之方法,其中相鄰聚合物透 鏡條係與彼此接觸而形成。 W如申請專利範圍第17項之方法,其進一步包含以下 步驟·在料聚合物透鏡條下沈積—抗反射塗層。
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