SU779822A1 - Способ измерени излучательной способности при низких температурах - Google Patents

Description

I

Изобретение относитс  к области теплофизики, в частности, к контролю теплофизических свойств поверхностей, контролю качества нанесени  покрытий, а также разделам науки и техники, 5 св занным с исследованием окружающей среды.

Дл  измерени  излучательной способности , интегральной или в широких спектральных диапазонах, например ок-Ю нах прозрачности атмосферы, известны и получили распространение радиационный и рефлексионный методы l . Измерение излучательной способности при низких температурах, близких к тем- пературе окружающей среды, делает непригодными рассматриваемые методы из-за сравнимости потоков излучени  от фона и объекта, их разделение путем использовани  модул ции потока 20 при низких температурах также сложно.

Основными пут ми снижени  вли ни  фоновых потоков  вл ютс  понижение температуры окружающей среды 2 и увеличение температуры источника под-25 светки (в рефлексионном методе).

Однако понижение температуры окру жающей среды не всегда возможно, а увеличение температуры источника подсветки приводит к значительным (де- ЗО

с тки процентов) погрешност м измерени  за счет сдвига спектра излучени  в коротковолновую облас ть.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому способу  вл етс  способ измерени  излучательной способности, включающий облучение поверхности объекта тепловым потоком от источника с заданной температурой и измерение величины суммарного полусферического потока собственного и отраженного излучени  з. Собственное и отраженное излучение от объекта собирает.с  на приемнике излучени  зеркальной полусферой.

Способ заключаетс  в сравнении отсчетов прибора kX при попадании на приемник потока излучени  подсветки, отраженного от образца, и kX2.-oTC4e .та при попадании на приемник потока излучени  подсветки, когда на приемник излучени  направл етс  непосредственно поток излучени  от источника подсветки.

р(е)(в))-8(0),

где р(0)-направленно-полусферическа  отражательна  способность объекта; 1(9)- по глотательна  способноЬть,

Claims (1)

1. Формула изобретения

   Способ измерения излучательной способности при низких температурах, включающий облучение поверхности объекта тепловым потоком от источника с заданной температурой и измерение величины суммарного полусферического потока собственного и отраженного излучения, отличающийс я тем, 'что, с целью повышения точности измерения излучательной способности, поверхность объекта облучают вторично тепловым потоком от источника с температурой, отличной от первоначальной, й,измеряют величину суммарного полусферического потока собственного и отраженного излучения .