SU769323A1 - Device for determining roughness class of polished metallic surfaces of articles - Google Patents
Device for determining roughness class of polished metallic surfaces of articles Download PDFInfo
- Publication number
- SU769323A1 SU769323A1 SU782686788A SU2686788A SU769323A1 SU 769323 A1 SU769323 A1 SU 769323A1 SU 782686788 A SU782686788 A SU 782686788A SU 2686788 A SU2686788 A SU 2686788A SU 769323 A1 SU769323 A1 SU 769323A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- product
- illuminator
- roughness
- indicator
- class
- Prior art date
Links
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 11
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 claims description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 2
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 claims description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 claims 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims 1
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 7
- ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 7553-56-2 Chemical compound [I] ZCYVEMRRCGMTRW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 229910052740 iodine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011630 iodine Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Изобретение относится к контрольно измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения шероховатости в области высоких классов (10 —14 кл). 5The invention relates to a control and measuring technique and can be used, in particular, to determine the roughness in the field of high classes (10-14 cells). 5
Известно устройство для определения классов шероховатости полированных металлических поверхностей изделия, содержащее источник света, расположенный иод углом к поверхности, и фотоприемник, ю расположенный под углом к поверхности (1].A device is known for determining the roughness classes of polished metal surfaces of an article containing a light source located iodine angle to the surface, and a photodetector s located at an angle to the surface (1].
Определение класса шероховатости поверхности производят по эффекту отражения падающего на поверхность света. От- 15 раженный свет регистрируется фотоприемником, и по величине потока оценивают шероховатость поверхности.The definition of the class of surface roughness is produced by the effect of reflection of light incident on the surface. Reflected light is detected by a photodetector, and surface roughness is estimated by the magnitude of the flux.
Наиболее близким к изобретению по 20 технической сущности является устройство для определения класса шероховатости полированных металлических поверхностен изделия, содержащее фотометрический шар с тремя отверстиями, осветитель и 25 оптическую систему, последовательно установленные в одном из отверстий, узел установки изделия, расположенный в другом отверстии, фотоприемник, установленный в третьем отверстии [2]. зоClosest to the invention according to technical essence, 20 is a device for determining the roughness class of polished metal surfaces of a product, comprising a photometric ball with three holes, a illuminator and an optical system 25, sequentially installed in one of the holes, a product installation unit located in the other hole, a photodetector, installed in the third hole [2]. zo
Недостатком известных устройств является то обстоятельство, что для изделий с шероховатостью поверхности выше 10-го класса доля рассеянного света мала по сравнению с зеркально отраженным светом. При этом оказывается невозможным различать классы шероховатости поверхности друг от друга. Так как все поверхности, имеющие класс шероховатости выше 10-го, отражают свет примерно одинаково. Поэтому в области высоких классов шероховатости (10—14 кл.) известные устройства имеют низкую чувствительность.A disadvantage of the known devices is the fact that for products with a surface roughness above grade 10, the fraction of scattered light is small compared with specularly reflected light. In this case, it is impossible to distinguish between the surface roughness classes from each other. Since all surfaces having a roughness class above 10th reflect light approximately the same. Therefore, in the field of high roughness classes (10-14 cells), known devices have low sensitivity.
Целью изобретения является повышение чувствительности определения в области высоких (10—14) классов шероховатости поверхности.The aim of the invention is to increase the sensitivity of determination in the field of high (10-14) classes of surface roughness.
Это достигается за счет того, что устройство снабжено узлом, защищающим фотоприемник от прямого попадания испускаемого от осветителя и зеркально отраженного от испытуемой поверхности света, выполненным в виде трубки, расположенной между оптической системой и узлом установки изделия, и компенсирующим потенциометром, введенным в цепь фотоприемника.This is achieved due to the fact that the device is equipped with a unit that protects the photodetector from direct impact of light emitted from the illuminator and specularly reflected from the test surface, made in the form of a tube located between the optical system and the product installation unit, and a compensating potentiometer inserted into the photodetector circuit.
На чертеже изображена принципиальная схема описываемого устройства.The drawing shows a schematic diagram of the described device.
Устройство содержит фотометрический шар 1 с внутренней белой поверхностью и тремя отверстиями, осветитель 2 и опти вескую систему 3, последовательно установленные в одном из отверстий, узел 4 установки изделия, расположенный в другом отверстии, фотоприемник 5, установленный в третьем отверстии, узел 6, защищающий фотоприемник 5 от прямого по падания испускаемого от осветителя 2 и зеркально отраженного от испытуемой поверхности света, выполненный в виде трубки, расположенной между оптической системой 3 и узлом 4 установки изделия и компенсирующий потенциометр 7, введенный в цепь фотоприемника 5 и служащий для нейтрализации засветки фотоприемника 5, незначительной частью зеркально отраженного света, индикатор 8, стабилизированный источник 9, контролируемое изделие 10.The device comprises a photometric ball 1 with an internal white surface and three holes, a illuminator 2 and an optical system 3, sequentially installed in one of the holes, a product installation unit 4 located in the other hole, a photodetector 5 installed in the third hole, the protecting unit 6 photodetector 5 from direct incidence of light emitted from the illuminator 2 and specularly reflected from the test surface of light, made in the form of a tube located between the optical system 3 and the product installation unit 4 and compensating a potentiometer 7 introduced into the circuit of the photodetector 5 and used to neutralize the illumination of the photodetector 5, an insignificant part of the specularly reflected light, indicator 8, a stabilized source 9, a controlled product 10.
Работает описываемое устройство следующим образом.The described device operates as follows.
Лучи света от осветителя 2 проходят через оптическую систему 3 и узел 6, защищающий фотоприемник 5 от прямого попадания испускаемого от осветителя 2 и зеркально отраженного от испытуемой поверхности света. Таким образом, фотонриемник 5 регистрирует только диффузно отраженный свет.The rays of light from the illuminator 2 pass through the optical system 3 and the node 6, which protects the photodetector 5 from direct impact of light emitted from the illuminator 2 and specularly reflected from the test surface. Thus, the photodetector 5 detects only diffusely reflected light.
Перед началом измерения производят настройку устройства, для чего на узел 4 установки изделия устанавливают зеркало (на чертеже не показано) и потенциометром 7 устанавливают индикатор 8 на нулевое значение фототока. Затем на узел 4 установки изделия устанавливают эталонный образец (на чертеже не показан) с известным классом шероховатости поверхности для проверки градуировки индикато4 ра 8 и, в случае необходимости, производят коррекцию градуировки. После этого на узел установки изделия устанавливают испытуемое изделие 10 и по показанию 5 индикатора 8, отградуированного в классах шероховатости поверхности, определяют класс шероховатости полированной металлической поверхности испытуемого изделия 10.Before starting the measurement, the device is tuned, for which purpose a mirror is installed on the product installation node 4 (not shown in the drawing) and indicator 8 is set to indicator 8 on the photocurrent value zero. Then, a reference sample (not shown) is installed on the unit 4 of the product installation with a known surface roughness class for checking the calibration of indicator 8 and, if necessary, calibration is performed. After that, the test product 10 is installed on the product installation site, and according to the indication 5 of the indicator 8, graded in the surface roughness classes, the roughness class of the polished metal surface of the test product 10 is determined.
Claims (2)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU782686788A SU769323A1 (en) | 1978-11-17 | 1978-11-17 | Device for determining roughness class of polished metallic surfaces of articles |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU782686788A SU769323A1 (en) | 1978-11-17 | 1978-11-17 | Device for determining roughness class of polished metallic surfaces of articles |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU769323A1 true SU769323A1 (en) | 1980-10-07 |
Family
ID=20794483
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU782686788A SU769323A1 (en) | 1978-11-17 | 1978-11-17 | Device for determining roughness class of polished metallic surfaces of articles |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU769323A1 (en) |
-
1978
- 1978-11-17 SU SU782686788A patent/SU769323A1/en active
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0001178B1 (en) | An optical sensing instrument | |
| US4803470A (en) | Substance detector device | |
| US5073720A (en) | Liquid level and volume measurement device | |
| EP0129242B1 (en) | Tensile tester | |
| CN1170869A (en) | Optic position sensor | |
| EP0903572A3 (en) | Window contamination detector | |
| JP2004533627A (en) | Method and apparatus for removing electromagnetic background radiation in an image | |
| CN101726472A (en) | Surface measuring device with two measuring units | |
| FI78355B (en) | METHOD FOER MAETNING AV GLANS OCH APPARATUR FOER TILLAEMPNING AV METODEN. | |
| JPH038686B2 (en) | ||
| EP0032774B1 (en) | Optical reflection meter | |
| GB2147697A (en) | Level measurement method and apparatus | |
| US3947127A (en) | Optical component functional tester | |
| CA1284875C (en) | Method for detecting dripping droplet | |
| US4605314A (en) | Spectral discrimination pyrometer | |
| US9952150B2 (en) | Device for measuring the scattering of a sample | |
| SU769323A1 (en) | Device for determining roughness class of polished metallic surfaces of articles | |
| US3537306A (en) | Daytime winds detector | |
| GB2123139A (en) | A device for the fast measurement of the gloss of a surface | |
| US6084662A (en) | Light transmittance measuring device and process for separating transmittance and reflectance | |
| EP3737971B1 (en) | Method and system for real-time determination of characteristics of radio-chromic films | |
| US4140397A (en) | Method for sensing the pattern side of microcircuit chips | |
| US3322024A (en) | Optical method for the inspection of a transparent object for deffects including comparing light energy at two stations | |
| EP0447991A1 (en) | Apparatus for measuring the distribution of the size of diffraction-scattering type particles | |
| SE8602406D0 (en) | SET TO DETERMINE DENSITY FOR UNDERLYING STOCK |