[go: up one dir, main page]

SU266870A1 - PANORAMIC METER PARAMETER OF MICROWAVE TRACTS - Google Patents

PANORAMIC METER PARAMETER OF MICROWAVE TRACTS

Info

Publication number
SU266870A1
SU266870A1 SU1281597A SU1281597A SU266870A1 SU 266870 A1 SU266870 A1 SU 266870A1 SU 1281597 A SU1281597 A SU 1281597A SU 1281597 A SU1281597 A SU 1281597A SU 266870 A1 SU266870 A1 SU 266870A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
generator
microwave
voltage
tracts
frequency
Prior art date
Application number
SU1281597A
Other languages
Russian (ru)
Original Assignee
П. А. Свешников , К. И. Рекевичус
Publication of SU266870A1 publication Critical patent/SU266870A1/en

Links

Description

Изобретение относитс  к радиоизмерительной технике и может быть использовано в панорамных измерител х параметров СВЧ-трактов .The invention relates to a radio measuring technique and can be used in panoramic measuring parameters of the microwave paths.

Существующие панорамные измерители параметров СВЧ-трактов (измерители КСВ полного сопротивлени  и др.), как правило, построены по принципу выделени  падающей и отражающей волн с помощью направленных ответвителей. В таких измерител х существенную долю в общей погрещности измерени  составл ет систематическа  погрещность, обусловленна  неидентичностью амплитудно-частотных характеристик СВЧ-элементов канала отраженной и падающей волн (ответвители, детекторные или смесительные головки). Изготовление элементов с идентичными параметрами в диапазоне частот ограничено технологическими трудност ми производства и разбросом параметров СВЧ-детекторов.Existing panoramic meters of the parameters of the microwave paths (KSV impedance meters, etc.), as a rule, are constructed according to the principle of distinguishing incident and reflecting waves using directional taps. In such meters, a significant proportion of the total measurement error is systematic error, due to the non-identity of the amplitude-frequency characteristics of the microwave elements of the channel of the reflected and incident waves (taps, detector or mixing heads). The manufacture of elements with identical parameters in the frequency range is limited by the technological difficulties of production and the spread of the parameters of the microwave detectors.

Известны схемы компенсации систематических погрещностей, осуществл ющие дискретную коррекцию путем регулировани  усилени  в индикаторном блоке с помощью ступенчатого напр жени , по форме приближающегос  к характеру систематических погрещностей. Это ступенчатое напр жение сложной формы образуетс  программным устройством, которое запускаетс  синхроимпульсом в момент начала перестройки частоты свип-генератора. Корректирующее устройство осуществл ет компенсацию по заданной программе в установленной полосе частот свип-генератора.Known compensation schemes for systematic faults are performed by performing a discrete correction by adjusting the gain in the indicator unit using a stepwise voltage that approximates the pattern of systematic faults. This stepwise voltage of a complex shape is formed by a software device that is triggered by a sync pulse at the moment when the sweep generator frequency tuning begins. The correction device compensates for a given program in the set frequency band of the sweep generator.

Однако в панорамных измерител х с такимиHowever, in panoramic meters with such

корректирующими системами при изменении начальной частоты свип-генератора необходимо изменить программу корректирующего устройства , так как величина систематической погрешности св зана однозначно с частотойcorrective systems when changing the initial frequency of the sweep generator, it is necessary to change the program of the correction device, since the magnitude of the systematic error is uniquely related to the frequency

свип-генератора.sweep generator.

Предлагаемый панорамный измеритель отличаетс  от известных тем, что в программном устройстве ко входам фантастрона подключены выходы генератора тактовых импульсов иThe proposed panoramic meter differs from the known ones in that in the software device the outputs of the clock generator and

модул тора СВЧ-генератора; вход блокинг-генератора подключен к выходу фантасгрона и выходу генератора тактовых импульсов; выход блокинг-генератора соединен с декатроном, катоды которого подключены к общей нагрузке , соединенной со входом усилител  индикатора .microwave generator modulator; the input of the blocking generator is connected to the output of phantasgron and the output of the clock pulse generator; the output of the blocking generator is connected to a dekatron whose cathodes are connected to a common load connected to the input of the indicator amplifier.

Это позвол ет повысить точность изображени  характеристики на электроннолучевых трубках (ЭЛТ), уменьщить погрещность измерени  и исключить необходимость подбора элементов СВЧ-тракта с идентичными частотными характеристиками в каналах отраженной и падающей волн.This allows to increase the accuracy of the image characteristics on the electron beam tubes (CRT), to reduce the measurement error and eliminate the need to select elements of the microwave path with identical frequency characteristics in the channels of the reflected and incident waves.

Сигнал со свпп-генератора Д проход  через направленные ответвители 2 и 3, ностунает на исследуемый объект 4. Ответвитель 2 выдает . сигнал, пропорциональный падающей волне, а ответвитель 3 - пропорциональный отраженной . Усилителем 5 напр жение на выходе детектора 6 поддерживаетс  посто нной амплитуды , а напр жение с детектора 7 усиливаетс  усилителем 8 и регистрируетс  на экране ЭЛТ 9.The signal from the SVP generator D pass through the directional couplers 2 and 3, but the signal to the object under study 4. The coupler 2 outputs. the signal is proportional to the incident wave, and the coupler 3 is proportional to the reflected wave. The amplifier 5 maintains the voltage at the output of the detector 6 at a constant amplitude, and the voltage from the detector 7 is amplified by the amplifier 8 and is recorded on the screen of the CRT 9.

Систематическа  погрешность измерени  может быть обнаружена на экране ЭЛТ 9 в процессе калибровки в виде неравномерности уровн  калибровки, когда ответвители 2 и ориентированы на падающую волну, а тракт нагружен на согласованную нагрузку.The systematic error of measurement can be detected on the screen of a CRT 9 in the calibration process in the form of unevenness of the calibration level, when the taps 2 are focused on the incident wave and the path is loaded on a matched load.

Дл  компенсации систематических погрешностей регулируетс  коэффициент усиленн  усилител  8. Причем изменение величины регулирующего напр жени  в полосе частот свипгенератора должно происходить по такому же закону, что н изменение систематических погрешностей , только с противополол ным знаком.To compensate for systematic errors, the coefficient of amplified amplifier 8 is adjusted. Moreover, the change in the magnitude of the control voltage in the frequency band of the sweep generator should occur according to the same law that the change in the systematic errors is only with the opposite sign.

Дл  этого в схему панорамного измерител  вводитс  программирующее устройство, состо щее из генератора Ю тактовых импульсов, фантастрона И, блокннг-генератора 12 и декатрона 13.To do this, a programming device is introduced into the panoramic meter circuit consisting of a clock generator U, fadron I, a block generator 12 and a decatron 13.

Выдача регулирующего (корректирующего), напр жени  на усилитель 8 определенной величины в определенных участках диапазона частот происходит следующим образом.The output of the regulating (correcting) voltage to the amplifier 8 of a certain size in certain parts of the frequency range is as follows.

Генератор iO тактовых импульсов, синхронизируемый импульсами со свип-генератора, соответствующими началу перестройки частоты , запускает схему фантастрона 11, котора  вырабатывает пр моугольные импульсы.A clock iO generator, synchronized by pulses from the sweep generator, corresponding to the beginning of the frequency tuning, triggers the fadron 11 circuit, which produces rectangular pulses.

Длительность импульсов, вырабатываемых фантастроном, зависит от величины напр жени  перестройки генераторной лампы, которое также подаетс  на фантастрон. Так как определенному значению напр жений перестройки соответствует определенное значение частоты свип-генератора /, то длительность импульсов фантастрона // будет пропорциональна частоте генератора.The duration of the pulses produced by the phdron, depends on the magnitude of the voltage adjustment of the generator lamp, which is also fed to the fadron. Since a certain value of the tuning voltage corresponds to a certain value of the frequency of the sweep generator /, the fadron pulse duration // will be proportional to the generator frequency.

Импульсом фантастрона // включаетс  блокинг-генератор 12, который в зависимости отFadron impulse // turns on the blocking generator 12, which, depending on

длительности поступающего импульса выдает пачку импульсов количеством от 1 до 10. Эти импульсы поступают на декатрон, в катодах которого включены потенциометры, позвол ющие устанавливать требуемые величины составных частей напр лсени , которые после суммировани  образуют напр жение ступенчатой формы. Это напр жение н используетс  дл  регулировани  усилени  усилител  8.The duration of the incoming pulse produces a burst of 1 to 10 pulses. These pulses are sent to a decatron, in the cathodes of which potentiometers are included, allowing you to set the required values of the components of the voltage, which, after summation, form a stepwise voltage. This voltage is used to control the gain of the amplifier 8.

Каждый импульс тактового генератора осуществл ет сброс декатрона 13. При неизменном напр жении перестройки на входе фантастрона 11, т.е. при неизменной частоте свипгеператора I, в интервале между тактовымиEach pulse of the clock generator resets the decatron 13. With a constant adjustment voltage at the input of the fadron 11, i.e. at a constant frequency of the sweeper, I, in the interval between the clock

импульсами будет включен определенный катод декатрона, соответствующий по номеру числу импульсов, поступающих с блокинг-генератора . При изменении напр жени  перестройки на входе фантастрона /У, т. е. при изменении частоты свип-генератора 1, будет измен тьс  длительность импульса фантастрона, измен тьс  число имнульсов, выдаваемых блокинг-генератором в интервале между тактовыми импульсами, и соответственно нзмен тьс  номер включенного катода декатрона. Таким образом, за период перестройки сайг генератора на выходе схемы коррекции будет формироватьс  ступенчатое напр жение, амплитуду ступенек которого оператор молсетthe pulses will turn on a certain cathode of the decatron, corresponding in number to the number of pulses arriving from the blocking generator. When the voltage at the input of fadron / V changes, i.e., when the frequency of the sweep generator 1 changes, the fadron pulse will change, the number of pulses emitted by the blocking generator in the interval between clock pulses will change, and the number will change accordingly. included cathode decatron. Thus, during the period of restructuring of the saig generator, a step voltage will be generated at the output of the correction circuit, the amplitude of the steps of which the molset operator

устанавливать потенциометрами в катодах декатрона , измен   ее от О до требуемого значени .set with potentiometers in the cathodes of the decatron, changing it from 0 to the required value.

Предмет изобретени Subject invention

Панорамный измеритель параметров СВЧтрактов , состо щий из свип-генератора, СВЧузлов , индикатора и программного устройства, отличающийс , тем, что, с целью повышени A panoramic meter of microwave parameters, consisting of a sweep generator, microwave nodes, an indicator and a software device, characterized in that, in order to increase

точности измерений, в программном устройстве ко входам фантастрона подключены выходы генератора тактовых импульсов и модул тора СВЧ-генератора; вход блокинг-генератора подключен к выходу фантастрона и выходу генератора тактовых импульсов; выход блокинг-генератора соединен с декатроном, катоды которого подключены к общей нагрузке, соединенной со входом усилител  индикатора.measurement accuracy; in the software device, the outputs of a clock pulse generator and a microwave generator modulator are connected to the inputs of the fadron; the input of the blocking generator is connected to the output of the fadron and the output of the clock pulse generator; the output of the blocking generator is connected to a dekatron whose cathodes are connected to a common load connected to the input of the indicator amplifier.

SU1281597A PANORAMIC METER PARAMETER OF MICROWAVE TRACTS SU266870A1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU266870A1 true SU266870A1 (en)

Family

ID=

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2203966C (en) Active phased array adjustment using transmit amplitude adjustment range measurements
US7482976B2 (en) Antenna calibration method and apparatus
RU2107388C1 (en) Method for converting analog signals to train of digital signals and converter implementing it
US20100225301A1 (en) Device, method, program, and recording medium for error factor determination, and output correction device and reflection coefficient measurement device provided with the device
EP1204874B1 (en) Automated frequency stepping noise measurement test system
CN102891656A (en) Internal detection based automatic calibrating method for broadband signal open loop power
CN103891135B (en) Timing and Amplitude Adjustment in Envelope Tracking Amplification Stages
US4937535A (en) Calibration method and programmable phase-gain amplifier
SU266870A1 (en) PANORAMIC METER PARAMETER OF MICROWAVE TRACTS
US12130317B2 (en) Over the air calibration of an advanced antenna system
US4517526A (en) Digitally controlled AGC amplifier
US4335384A (en) Logarithmic amplifier calibration means
US4858208A (en) Apparatus and method for testing semiconductor devices
CN115421087B (en) A power adaptive closed-loop calibration method and system based on broadband frequency source
US4835606A (en) Swathe scanned imager
US5404743A (en) Pulsed phase locked loop strain monitor
US7038465B2 (en) System and method for calibrating balanced signals
US10422846B2 (en) Method for calibrating a radio frequency test instrument and radio frequency test instrument
WO2002042992A1 (en) Adaptive frequency touchscreen controller
RU2814484C2 (en) Method of calibrating active phased antenna array module
KR102387119B1 (en) Internal Calibration Method using Learning Algorithm with Gradient-Descent and System Therefor
US2419576A (en) Apparatus for measuring short time intervals
US4461983A (en) Stabilizing a transducer output
CN112051532A (en) Intermediate frequency calibration method based on vector network analyzer
US4891719A (en) Fast closure method for a data signal channel