SU1748114A1 - Интерференционное просветл ющее покрытие - Google Patents
Интерференционное просветл ющее покрытие Download PDFInfo
- Publication number
- SU1748114A1 SU1748114A1 SU904893822A SU4893822A SU1748114A1 SU 1748114 A1 SU1748114 A1 SU 1748114A1 SU 904893822 A SU904893822 A SU 904893822A SU 4893822 A SU4893822 A SU 4893822A SU 1748114 A1 SU1748114 A1 SU 1748114A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- refractive index
- interference
- layer
- coating
- layers
- Prior art date
Links
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title description 11
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 7
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 239000013068 control sample Substances 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 2
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 1
- 239000004606 Fillers/Extenders Substances 0.000 description 1
- 238000005352 clarification Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Glass Compositions (AREA)
- Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)
- Surface Treatment Of Glass (AREA)
Description
длин волн Ai и Аа определ етс следующей зависимостью 1,2 т S 2.
На фиг. 1 приведена конструкци покрыти ; на фиг, 2 - спектральные кривые отражени дл различных марок стекла.
На подложку 1 (фиг. 1) из стекла с показателем преломлени nt 1,46 - 1,62 нанесены три сло 2-4 Первый слой 2, прилегающий к подложке, имеет показатель преломлени пн 1,381 0,01 и оптическую толщину О.бАо ± 0,01 АО, второй слой 3 имеет показатель преломлени пе 1,63 + 0,01 и оптическую толщину 0,75Ао, 0,01Ао, а третий слой 4, граничащий с воздухом, имеет показатель преломлени пн 1,38 ± 0,01 и оптическую толщину 0,25 Ао+ O.OlAo .
Интерференционное просветл ющее покрытие работает следующим .
Луч 5 падает на подложку 1 в точке Ai, проход последовательно три сло 2-4, частично преломл етс частично отражаютс лучи 5, 5 и 5, границах слоев и выходит из системы луч 6. Толщины слоев, показатель их преломлени выбраны таким образом, что в результате интерференции лучей 5, 5, 51 интенсивность отраженного луча близка к нулю дл заданной длины волны Ai, в УФ области спектра.
Расчет конструкции просветл ющего покрыти производилс на ЭВМ с помощью специально разработанной программы с применением математического аппарата, с учетом дисперсии показателей преломлени примен емых материалов.
Пример . Реализаци покрыти осуществл лась вакуумным напылением на установке A700Q фирмы Lelbofd Heraeus, оборудованной системой безмасл ной откачки типа Turbovac 1500 прецизионным фотометрическим контролем ОМ-200 в комплекте с расширителем диапазона работы (дейтериева лампа, фотоумножитель и комплект интерференционных фильтров дл УФ-области спектра).
Контроль оптической толщины слоев в процессе напылени производилс по контрольному образцу с помощью ОМ-2000 регистрацией измерени величины отраженного сигнала. Контрольный образец представл ет собой плоскопараллельную пластину, полированную с одной стороны, диаметром 42 мм, толщиной 2 мм из стекла К8 с показателем преломлени 1,52. Все три диэлектрических сло наносились на подогретую до 350°С подложку за один цикл испарени , причем толщина первого сло составл ла 0,5А°+ O.OlAo, второго 0,75Ао± 0,01Ао и третьего 0,25 АО ± 0.0 lAg. где Ао 330нм.
В качестве испарител использовалс ESV-6 мощностью 6 кВт с двум четырехпо- зиционными тигл ми Каждый из трех слоев контролировалс по своему контрольному
образцу Свидетелю. Дл первого и третьего слоев в качестве материала с показателем преломлени 1,38+ 0,01 использовалс фтористый магний MgF2, который испар лс электронным лучом, расфокусированным
по размерам чейки тигл . Ток эмиссии 20 - 50 мА, скорость напылени 4-5 А/с. Дл второго сло с показателем преломлени 1,63 ± 0,01 использовали AlaOa, который испар лс электронным лучом, ток эмиссии
-4 00 мА. После нанесени слоев с оптическими толщинами 0,5Aot 0,01Ао, 0,75Ао+ 0.01 АО и 0,25Aoi O.OlAo детали охлаждались в каме ре до комнатной температуры, затеми проводились измерени спектральных
характеристик на спектрофотометре Perkin Elmer с приставкой на отражение.
При внедрении предлагаемого покрыти в серийном производстве были изготовлены и исследованы покрыти на оптических элементах с показател ми преломлени 1,46, 1.52 дл А 337 и 600 нм.
На фиг. 2 приведены кривые спектрального отражени , полученные экспериментальным путем на стеклах с показател ми преломлени п 1,46 (крива 1), п, 1,52 (крива 2).
Измерение коэффициента отражени проводились на спектрофотометре Perkin
Elmer.
Приведенные на фиг. 2 спектральные кривые показывают, что предлагаемое про- стветл ющее покрытие дл заданных длин волн А и А2 позвол ет получить коэффициенты отражени R 0,2% и R 0,5% дл различных марок стекла в диапазоне 1,46... 1,52. По результатам измерений коэффициентов отражени просветл ющих покрытий на разных стеклах установлено:
- остаточный коэффициент отражени дл любой пары длин волн At и Аа в диапазоне спектра 290 - 600 нм не превышает 0,2% в УФ и 0,5% в видимой област х спектра;
- покрытие устойчиво во второсодержа- щей среде и может быть использовано в резонаторах эксимерных лазеррв;
- покрытие технологично, носит универсальный характер и может быть использовано в серийном производстве при просветлении оптических систем, работающих с лазерными источниками на А 193 нм, А 248 нм, А 308 нм и системами фокусировки в видимой области спектра.
Claims (1)
- Формула изобретениИнтерференционное просветл ющее пбкрытие, дл оптических элементов с показателем преломлени 1,45 - 1,62, содержащее три сло , первый и третий из которых, счита от подложки, выполнены из материала с показателем преломлени 1,38 ± 0,01 и с оптической толщиной 0,5До+ 0,01 До и0,35До ± 0,0 соответственно, а второй слой выполнен из материала с показателем преломлени 1,63 + 0,01, отличающее с тем, что, с целью получени остаточного отражени не более 0,2% дл Ai и не более0,5% дл Аг при 1,2 S-}| :S2 второй слойвыполнен с оптической толщиной 0,75 АО+ 0,01/U.J S(Шг,1S s/300 338 376 414 432 490 528 566 804 642 680Фиг.1чL NH
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU904893822A SU1748114A1 (ru) | 1990-12-25 | 1990-12-25 | Интерференционное просветл ющее покрытие |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU904893822A SU1748114A1 (ru) | 1990-12-25 | 1990-12-25 | Интерференционное просветл ющее покрытие |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1748114A1 true SU1748114A1 (ru) | 1992-07-15 |
Family
ID=21551704
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU904893822A SU1748114A1 (ru) | 1990-12-25 | 1990-12-25 | Интерференционное просветл ющее покрытие |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1748114A1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2133049C1 (ru) * | 1997-12-16 | 1999-07-10 | Открытое акционерное общество "Компат" | Способ нанесения просветляющего многослойного покрытия на поверхность оптического элемента и установка для осуществления способа |
| RU2204153C2 (ru) * | 1997-01-27 | 2003-05-10 | Питер Д. ХААЛАНД | Покрытия, способы и устройство для уменьшения отражения от оптических подложек |
-
1990
- 1990-12-25 SU SU904893822A patent/SU1748114A1/ru active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2204153C2 (ru) * | 1997-01-27 | 2003-05-10 | Питер Д. ХААЛАНД | Покрытия, способы и устройство для уменьшения отражения от оптических подложек |
| RU2133049C1 (ru) * | 1997-12-16 | 1999-07-10 | Открытое акционерное общество "Компат" | Способ нанесения просветляющего многослойного покрытия на поверхность оптического элемента и установка для осуществления способа |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5169229A (en) | Enhanced metal filter/mirror coatings for use on engineering plastics | |
| Zoeller et al. | Substantial progress in optical monitoring by intermittent measurement technique | |
| US20060257669A1 (en) | Method of producing transparent titanium oxide coatings having a rutile structure | |
| Sahoo et al. | Process-parameter optimization of Sb2O3 films in the ultraviolet and visible region for interferometric applications | |
| SU1748114A1 (ru) | Интерференционное просветл ющее покрытие | |
| Zernike | Fabrication and measurement of passive components | |
| SU1704123A1 (ru) | Интерференционное просветл ющее покрытие | |
| SU1649485A1 (ru) | Просветл ющее покрытие дл ультрафиолетовой области спектра | |
| US7985489B2 (en) | Temperature-resistant layered system | |
| JPH0790583A (ja) | 薄膜形成方法 | |
| SU1645921A1 (ru) | Просветл ющее покрытие дл двух длин волн | |
| Pulker | Coatings on glass substrates | |
| Glebov et al. | Optical properties of complex fluoride films obtained using vacuum electron-beam evaporation | |
| Gu | Deposition of optical coatings | |
| ALARURI | Notes on Optical Thin Film Coating Technology, Standards and Specifications | |
| RU2799894C1 (ru) | Оптический интерференционный блокирующий фильтр | |
| Herrmann et al. | Automated control of optical layer fabrication processes | |
| Dubs et al. | Production of stable interference filters by low voltage reactive ion plating | |
| KR950000308B1 (ko) | 이산화티타늄(TiO₂)의 진공증착을 이용한 칼라 스테인레스 강판 및 그의 제조방법 | |
| McNally et al. | Properties of IAD single-and multi-layer oxide coatings | |
| Apparao et al. | Optical constants in the ultraviolet region of evaporated high index thin films | |
| Baumeister | Properties of multilayer filters | |
| SU970292A1 (ru) | Способ просветлени оптических элементов из селенида цинка | |
| Fulton et al. | Ion-Assisted-Deposition using a High-Output End-Hall Ion Source | |
| Zoeller et al. | Direct optical monitoring enables high performance applications in mass production |