SU1177658A1 - Device for deformation measurements - Google Patents
Device for deformation measurements Download PDFInfo
- Publication number
- SU1177658A1 SU1177658A1 SU833647448A SU3647448A SU1177658A1 SU 1177658 A1 SU1177658 A1 SU 1177658A1 SU 833647448 A SU833647448 A SU 833647448A SU 3647448 A SU3647448 A SU 3647448A SU 1177658 A1 SU1177658 A1 SU 1177658A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- rectifier
- strain
- power source
- sensitive diode
- signal
- Prior art date
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 6
- 210000000988 bone and bone Anatomy 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 241000272041 Naja Species 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000035939 shock Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ, содержащее тензочувствительный диод, источник питани и блок регистрации, отлич-ающ е е с тем, что, с целью повышени точности измерени путем уменьшени температурной погреши и кости в неравномерных нестацнонарнь1х температурных пол х, оно снабжено двум однополупериодными выпр мител ми противоположной пол р- . ности, включенными параллельно тензочувствительному диоду, и блоком масштабировани сигнала, соединенным с выходом первого указанного выпр мител , источник питани вЬшол-, нен в виде бипол рного генератора импульсного тока стабилизированной амплитуды, а блок регистрации выполнен в виде измерител разности напр жений , входы которого соединены с выходами блока масштабировани @ сигнала и второго указанного выпр (Л мител .A DEVICE FOR MEASURING DEFORMATIONS, which contains a strain-sensitive diode, a power source and a recording unit, is different from the fact that, in order to improve the measurement accuracy by reducing the temperature error and the bone in uneven nonstandard temperature fields, it is equipped with two single-wavelength rectifiers opposite gender p-. connected in parallel with a strain-sensitive diode and a signal scaling unit connected to the output of the first specified rectifier, the power source is large in the form of a bipolar pulse current generator with a stabilized amplitude, and the registration unit is configured as a voltage difference meter whose inputs are connected with the outputs of the scaling unit @ signal and the second specified rectifier (L mitel.
Description
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к полупроводниковым нелинейным преобразователям деформации, и может быть использовано для измерения деформации 5 на объектах, отличающихся наличием существенных градиентов температур на контролируемой поверхности.The invention relates to measuring technique, namely to semiconductor nonlinear deformation transducers, and can be used to measure deformation 5 at objects characterized by the presence of significant temperature gradients on the controlled surface.
Цель изобретения - повышение точности измерения за счет уменьшения температурной погрешности в неравномерных нестационарных температурных полях. 15The purpose of the invention is to increase the measurement accuracy by reducing the temperature error in uneven non-stationary temperature fields. fifteen
На чертеже представлена электрическая схема устройства.The drawing shows an electrical diagram of the device.
Устройство для измерения деформации содержит тензочувствительный ди- 20 од 1, источник 2 питания, выполненный в виде биполярного генератора импульсного тока стабилизированной амплитуды и соединенный с тензочувствительным диодом 1, два однополу- 25 периодных выпрямителя 3 и 4 противоположной полярности, включенные параллельно тензочувствительному диоду 1, блок 5 масштабирования сигнала, соединенный с выходом первого выпрямителя, например выпрямителя 3, и блок 6 регистрации, выполненный в виде измерителя разности напряжений, входы которого соединены с выходами блока масштабирования сигнала и второго выпрямителя. ^5The deformation measuring device comprises a strain-sensitive diode 20 od 1, a power supply 2 made in the form of a bipolar pulse current generator of stabilized amplitude and connected to a strain-sensitive diode 1, two unipolar 25 periodical rectifiers 3 and 4 of opposite polarity, connected in parallel to the strain-sensitive diode 1, a signal scaling unit 5 connected to the output of the first rectifier, for example rectifier 3, and a recording unit 6, made in the form of a voltage difference meter, the inputs of which are common with the outputs of the signal scaling unit and the second rectifier. ^ 5
Устройство работает следующим образом.The device operates as follows.
В основу работы положена различ- 40 ная чувствительность любого нелинейного параметрическогс преобразователя к основному измеряемому параметру и влияющим факторам в зависимости от параметров потока энергии, питающей этот . 15 преобразователь.The basis of various put 40 Naja sensitivity parametricheskogs any nonlinear converter to the primary measured variable and influencing factors depending on the energy flow parameter, the feed. 15 converter.
Тензочувствительный диод 1 устанавливают на исследуемом объекте, характеризующемся наличием неравномерных нестационарных температурных полей. При прохождении через тензочувствительный диод 1 разнополярных импульсов тока стабилизированной амплитуды от источника 2 питания на диоде 1 выделяются два разных по напряжению и полярности сигнала, один из которых проходит на выход выпрямителя 3, а другой - на выход выпрямителя 4. Сигнал на выходе выпрямителя 3, имеющий температурную составляющую большей амплитуды, чем амплитуда температурной составляющей на : выходе выпрямителя 4, поступает на вход блока 5 масштабирования, настроенный так, чтобы на выходе этого блока температурная составляющая сигнала была равна температурной составляющей на выходе выпрямителя 4. Сигналы с блока 5 масштабирования и выпрямителя 4 поступают на входы блока 6 регистрации, в котором осуществляется вычитание амплитуд этих сигналов, что приводит к уменьшению температурной составляющей результирующего сигнала до значений разности двух исходных составляющих. Что касается возможного уменьшения амплитуды полезного сигнала при вычитании сигналов с блока 5 масштабирования и выпрямителя 4', то вследствие существенной нелинейности функции преобразования измеряемого параметра тензочувствительным диодом 1 это уменьшение несущественно и не влияет на точность измерения.The strain-sensitive diode 1 is installed on the studied object, characterized by the presence of non-uniform non-stationary temperature fields. When passing through a strain-sensitive diode 1 different-polar current pulses of a stabilized amplitude from a power source 2, two signals different in voltage and polarity are distinguished from diode 1, one of which passes to the output of rectifier 3, and the other to the output of rectifier 4. The signal at the output of rectifier 3, having a temperature component of a larger amplitude than the amplitude of the temperature component at: the output of the rectifier 4, is fed to the input of the scaling unit 5, configured so that the temperature component at the output of this unit The signal component was equal to the temperature component at the output of the rectifier 4. The signals from the scaling unit 5 and the rectifier 4 are fed to the inputs of the registration unit 6, in which the amplitudes of these signals are subtracted, which leads to a decrease in the temperature component of the resulting signal to the difference between the two initial components. As for the possible decrease in the amplitude of the useful signal when subtracting the signals from the scaling unit 5 and the rectifier 4 ', due to the significant nonlinearity of the conversion function of the measured parameter by the strain-sensitive diode 1, this decrease is insignificant and does not affect the measurement accuracy.
Использование предлагаемого устройства в условиях термоударов и градиентов температур позволяет получить более высокую точность измерения за счет исключения температурной погрешности от влияния этих факторов, которая другими методами подавляется не столь эффективно.Using the proposed device in conditions of thermal shock and temperature gradients allows to obtain a higher measurement accuracy by eliminating the temperature error from the influence of these factors, which is not so effectively suppressed by other methods.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU833647448A SU1177658A1 (en) | 1983-08-16 | 1983-08-16 | Device for deformation measurements |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| SU833647448A SU1177658A1 (en) | 1983-08-16 | 1983-08-16 | Device for deformation measurements |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU1177658A1 true SU1177658A1 (en) | 1985-09-07 |
Family
ID=21083668
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU833647448A SU1177658A1 (en) | 1983-08-16 | 1983-08-16 | Device for deformation measurements |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| SU (1) | SU1177658A1 (en) |
-
1983
- 1983-08-16 SU SU833647448A patent/SU1177658A1/en active
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| Патент GB № 1285634. кл. Н 1 К, 1972. Авторское свидетельств.о СССР № 566128, кл. G 01 В 7/18, 1975. * |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5132608A (en) | Current measuring method and apparatus therefor | |
| SU1177658A1 (en) | Device for deformation measurements | |
| SU364885A1 (en) | METHOD OF CONTROL MICROWIRES | |
| ATE178994T1 (en) | OPTICAL MEASURING METHOD AND OPTICAL MEASURING DEVICE FOR MEASURING AN ALTERNATING ELECTRICAL VOLTAGE OR AN ALTERNATING ELECTRICAL FIELD WITH TEMPERATURE COMPENSATION | |
| US3397607A (en) | Single faraday cell polarimeter | |
| SU399775A1 (en) | VARIABLE WAY OF POLAROGRAPHIC ANALYSIS | |
| SU702325A1 (en) | Electric to magnetic value transducer | |
| SU1531031A1 (en) | Method of measuring surface density of electret charge | |
| SU1503028A1 (en) | Method of measuring voltage levels in extreme points of transmission curve of electrooptical light modulator | |
| SU1307358A1 (en) | Method of measuring generalized parameters of periodic pulse sequence | |
| SU461386A1 (en) | Method for measuring small changes in phase shift | |
| SU1061064A1 (en) | Material electric conductivity non-linearity coefficient measuring method | |
| SU150928A1 (en) | Method for accurate measurement of quadrupole phase shifts | |
| JPS61139766A (en) | Apparatus for measuring multiplication dark current of avalanche photodiode | |
| SU785810A1 (en) | Device for measuring magnetic field azimuthal non-uniformity | |
| SU1250931A1 (en) | Method and apparatus for separate measuring magnetic permeability and electrical conductivity | |
| SU993111A1 (en) | Electroconductive material electromagnetic checking | |
| SU505951A1 (en) | Method for automatic measurement of fluid parameters | |
| SU441535A1 (en) | Device for calibration and calibration of voltmeters of pulse-modulated oscillations | |
| SU1394154A2 (en) | Device for measuring amplitude of voltage pulses | |
| SU382979A1 (en) | DEVICE FOR DETERMINATION OF DISTANCES TO THE DAMAGE OF CABLE | |
| SU855553A1 (en) | Method of determination of field effect relaxation time | |
| JPS63103975A (en) | Current effective value measurement circuit for cycle control power regulator | |
| SU1427282A1 (en) | Voltamperograph | |
| SU1267300A1 (en) | Device for checking voltages of negative phase-sequence of non-symmetric voltage system |