[go: up one dir, main page]

SU1177658A1 - Device for deformation measurements - Google Patents

Device for deformation measurements Download PDF

Info

Publication number
SU1177658A1
SU1177658A1 SU833647448A SU3647448A SU1177658A1 SU 1177658 A1 SU1177658 A1 SU 1177658A1 SU 833647448 A SU833647448 A SU 833647448A SU 3647448 A SU3647448 A SU 3647448A SU 1177658 A1 SU1177658 A1 SU 1177658A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
rectifier
strain
power source
sensitive diode
signal
Prior art date
Application number
SU833647448A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Вячеслав Павлович Бушланов
Original Assignee
Bushlanov Vyacheslav P
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Bushlanov Vyacheslav P filed Critical Bushlanov Vyacheslav P
Priority to SU833647448A priority Critical patent/SU1177658A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU1177658A1 publication Critical patent/SU1177658A1/en

Links

Landscapes

  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)

Abstract

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ, содержащее тензочувствительный диод, источник питани  и блок регистрации, отлич-ающ е е с   тем, что, с целью повышени  точности измерени  путем уменьшени  температурной погреши и кости в неравномерных нестацнонарнь1х температурных пол х, оно снабжено двум  однополупериодными выпр мител ми противоположной пол р- . ности, включенными параллельно тензочувствительному диоду, и блоком масштабировани  сигнала, соединенным с выходом первого указанного выпр мител , источник питани  вЬшол-, нен в виде бипол рного генератора импульсного тока стабилизированной амплитуды, а блок регистрации выполнен в виде измерител  разности напр жений , входы которого соединены с выходами блока масштабировани  @ сигнала и второго указанного выпр (Л мител .A DEVICE FOR MEASURING DEFORMATIONS, which contains a strain-sensitive diode, a power source and a recording unit, is different from the fact that, in order to improve the measurement accuracy by reducing the temperature error and the bone in uneven nonstandard temperature fields, it is equipped with two single-wavelength rectifiers opposite gender p-. connected in parallel with a strain-sensitive diode and a signal scaling unit connected to the output of the first specified rectifier, the power source is large in the form of a bipolar pulse current generator with a stabilized amplitude, and the registration unit is configured as a voltage difference meter whose inputs are connected with the outputs of the scaling unit @ signal and the second specified rectifier (L mitel.

Description

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к полупроводниковым нелинейным преобразователям деформации, и может быть использовано для измерения деформации 5 на объектах, отличающихся наличием существенных градиентов температур на контролируемой поверхности.The invention relates to measuring technique, namely to semiconductor nonlinear deformation transducers, and can be used to measure deformation 5 at objects characterized by the presence of significant temperature gradients on the controlled surface.

Цель изобретения - повышение точности измерения за счет уменьшения температурной погрешности в неравномерных нестационарных температурных полях. 15The purpose of the invention is to increase the measurement accuracy by reducing the temperature error in uneven non-stationary temperature fields. fifteen

На чертеже представлена электрическая схема устройства.The drawing shows an electrical diagram of the device.

Устройство для измерения деформации содержит тензочувствительный ди- 20 од 1, источник 2 питания, выполненный в виде биполярного генератора импульсного тока стабилизированной амплитуды и соединенный с тензочувствительным диодом 1, два однополу- 25 периодных выпрямителя 3 и 4 противоположной полярности, включенные параллельно тензочувствительному диоду 1, блок 5 масштабирования сигнала, соединенный с выходом первого выпрямителя, например выпрямителя 3, и блок 6 регистрации, выполненный в виде измерителя разности напряжений, входы которого соединены с выходами блока масштабирования сигнала и второго выпрямителя. ^5The deformation measuring device comprises a strain-sensitive diode 20 od 1, a power supply 2 made in the form of a bipolar pulse current generator of stabilized amplitude and connected to a strain-sensitive diode 1, two unipolar 25 periodical rectifiers 3 and 4 of opposite polarity, connected in parallel to the strain-sensitive diode 1, a signal scaling unit 5 connected to the output of the first rectifier, for example rectifier 3, and a recording unit 6, made in the form of a voltage difference meter, the inputs of which are common with the outputs of the signal scaling unit and the second rectifier. ^ 5

Устройство работает следующим образом.The device operates as follows.

В основу работы положена различ- 40 ная чувствительность любого нелинейного параметрическогс преобразователя к основному измеряемому параметру и влияющим факторам в зависимости от параметров потока энергии, питающей этот . 15 преобразователь.The basis of various put 40 Naja sensitivity parametricheskogs any nonlinear converter to the primary measured variable and influencing factors depending on the energy flow parameter, the feed. 15 converter.

Тензочувствительный диод 1 устанавливают на исследуемом объекте, характеризующемся наличием неравномерных нестационарных температурных полей. При прохождении через тензочувствительный диод 1 разнополярных импульсов тока стабилизированной амплитуды от источника 2 питания на диоде 1 выделяются два разных по напряжению и полярности сигнала, один из которых проходит на выход выпрямителя 3, а другой - на выход выпрямителя 4. Сигнал на выходе выпрямителя 3, имеющий температурную составляющую большей амплитуды, чем амплитуда температурной составляющей на : выходе выпрямителя 4, поступает на вход блока 5 масштабирования, настроенный так, чтобы на выходе этого блока температурная составляющая сигнала была равна температурной составляющей на выходе выпрямителя 4. Сигналы с блока 5 масштабирования и выпрямителя 4 поступают на входы блока 6 регистрации, в котором осуществляется вычитание амплитуд этих сигналов, что приводит к уменьшению температурной составляющей результирующего сигнала до значений разности двух исходных составляющих. Что касается возможного уменьшения амплитуды полезного сигнала при вычитании сигналов с блока 5 масштабирования и выпрямителя 4', то вследствие существенной нелинейности функции преобразования измеряемого параметра тензочувствительным диодом 1 это уменьшение несущественно и не влияет на точность измерения.The strain-sensitive diode 1 is installed on the studied object, characterized by the presence of non-uniform non-stationary temperature fields. When passing through a strain-sensitive diode 1 different-polar current pulses of a stabilized amplitude from a power source 2, two signals different in voltage and polarity are distinguished from diode 1, one of which passes to the output of rectifier 3, and the other to the output of rectifier 4. The signal at the output of rectifier 3, having a temperature component of a larger amplitude than the amplitude of the temperature component at: the output of the rectifier 4, is fed to the input of the scaling unit 5, configured so that the temperature component at the output of this unit The signal component was equal to the temperature component at the output of the rectifier 4. The signals from the scaling unit 5 and the rectifier 4 are fed to the inputs of the registration unit 6, in which the amplitudes of these signals are subtracted, which leads to a decrease in the temperature component of the resulting signal to the difference between the two initial components. As for the possible decrease in the amplitude of the useful signal when subtracting the signals from the scaling unit 5 and the rectifier 4 ', due to the significant nonlinearity of the conversion function of the measured parameter by the strain-sensitive diode 1, this decrease is insignificant and does not affect the measurement accuracy.

Использование предлагаемого устройства в условиях термоударов и градиентов температур позволяет получить более высокую точность измерения за счет исключения температурной погрешности от влияния этих факторов, которая другими методами подавляется не столь эффективно.Using the proposed device in conditions of thermal shock and temperature gradients allows to obtain a higher measurement accuracy by eliminating the temperature error from the influence of these factors, which is not so effectively suppressed by other methods.

Claims (1)

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ, содержащее тензочувствительный диод, источник питания и блок регистрации, отлич.ающ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения путем уменьшения температурной погреш- ности в неравномерных нестационарных температурных полях, оно снабжено двумя однополупериодными выпрямителями противоположной поляр- . ности, включенными параллельно тензочувствительному диоду, и блоком масштабирования сигнала, соединенным с выходом первого указанного выпрямителя, источник питания вЫпол-, нен в виде биполярного генератора импульсного тока стабилизированной амплитуды, а блок регистрации выполнен в виде измерителя разности напряжений, входы которого соединены л с выходами блока масштабирования <2 сигнала и второго указанного выпрямителя.DEVICE FOR MEASURING DEFORMATIONS, containing a strain-sensitive diode, a power source and a recording unit, characterized in that, in order to increase the measurement accuracy by reducing the temperature error in non-uniform non-stationary temperature fields, it is equipped with two half-wave rectifiers of the opposite polar -. NOSTA included tensosensitivity parallel diode, and signal scaling unit coupled to the output of said first rectifier, the power source is performed, nen a bipolar pulse generator stabilized current amplitude, and the recording unit is designed as a voltage difference meter having inputs connected to the outputs L block scaling <2 signals and the second specified rectifier. SU ,,,.1177658SU ,,,. 1177658 1 11776581 1177658
SU833647448A 1983-08-16 1983-08-16 Device for deformation measurements SU1177658A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833647448A SU1177658A1 (en) 1983-08-16 1983-08-16 Device for deformation measurements

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU833647448A SU1177658A1 (en) 1983-08-16 1983-08-16 Device for deformation measurements

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1177658A1 true SU1177658A1 (en) 1985-09-07

Family

ID=21083668

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU833647448A SU1177658A1 (en) 1983-08-16 1983-08-16 Device for deformation measurements

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1177658A1 (en)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Патент GB № 1285634. кл. Н 1 К, 1972. Авторское свидетельств.о СССР № 566128, кл. G 01 В 7/18, 1975. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5132608A (en) Current measuring method and apparatus therefor
SU1177658A1 (en) Device for deformation measurements
SU364885A1 (en) METHOD OF CONTROL MICROWIRES
ATE178994T1 (en) OPTICAL MEASURING METHOD AND OPTICAL MEASURING DEVICE FOR MEASURING AN ALTERNATING ELECTRICAL VOLTAGE OR AN ALTERNATING ELECTRICAL FIELD WITH TEMPERATURE COMPENSATION
US3397607A (en) Single faraday cell polarimeter
SU399775A1 (en) VARIABLE WAY OF POLAROGRAPHIC ANALYSIS
SU702325A1 (en) Electric to magnetic value transducer
SU1531031A1 (en) Method of measuring surface density of electret charge
SU1503028A1 (en) Method of measuring voltage levels in extreme points of transmission curve of electrooptical light modulator
SU1307358A1 (en) Method of measuring generalized parameters of periodic pulse sequence
SU461386A1 (en) Method for measuring small changes in phase shift
SU1061064A1 (en) Material electric conductivity non-linearity coefficient measuring method
SU150928A1 (en) Method for accurate measurement of quadrupole phase shifts
JPS61139766A (en) Apparatus for measuring multiplication dark current of avalanche photodiode
SU785810A1 (en) Device for measuring magnetic field azimuthal non-uniformity
SU1250931A1 (en) Method and apparatus for separate measuring magnetic permeability and electrical conductivity
SU993111A1 (en) Electroconductive material electromagnetic checking
SU505951A1 (en) Method for automatic measurement of fluid parameters
SU441535A1 (en) Device for calibration and calibration of voltmeters of pulse-modulated oscillations
SU1394154A2 (en) Device for measuring amplitude of voltage pulses
SU382979A1 (en) DEVICE FOR DETERMINATION OF DISTANCES TO THE DAMAGE OF CABLE
SU855553A1 (en) Method of determination of field effect relaxation time
JPS63103975A (en) Current effective value measurement circuit for cycle control power regulator
SU1427282A1 (en) Voltamperograph
SU1267300A1 (en) Device for checking voltages of negative phase-sequence of non-symmetric voltage system