[go: up one dir, main page]

RU93003665A - MULTICHANNEL RENTGENOVSKY ELEMENT COMPOSITION ANALYZER - Google Patents

MULTICHANNEL RENTGENOVSKY ELEMENT COMPOSITION ANALYZER

Info

Publication number
RU93003665A
RU93003665A RU93003665/25A RU93003665A RU93003665A RU 93003665 A RU93003665 A RU 93003665A RU 93003665/25 A RU93003665/25 A RU 93003665/25A RU 93003665 A RU93003665 A RU 93003665A RU 93003665 A RU93003665 A RU 93003665A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
sample
crystal
detectors
elements
analyzers
Prior art date
Application number
RU93003665/25A
Other languages
Russian (ru)
Other versions
RU2072515C1 (en
Inventor
В.Ф. Столяров
М.А. Панов
Н.М. Коновалов
Original Assignee
Акционерное общество "Элскорт"
Filing date
Publication date
Application filed by Акционерное общество "Элскорт" filed Critical Акционерное общество "Элскорт"
Priority to RU93003665A priority Critical patent/RU2072515C1/en
Priority claimed from RU93003665A external-priority patent/RU2072515C1/en
Publication of RU93003665A publication Critical patent/RU93003665A/en
Application granted granted Critical
Publication of RU2072515C1 publication Critical patent/RU2072515C1/en

Links

Claims (1)

Устройство для анализа элементного состава вещества позволяет определить в одной и той же пробе вещества, находящегося в конденсированной фазе, до 16 элементов. Устройство состоит из прострельной рентгеновской трубки, держателя образца, расположенного напротив рентгеновской трубки, кристалл-анализаторов и детекторов рентгеновского излучения с измерительной аппаратурой. Между рентгеновской трубкой и облучаемым образцом поставлена капиллярная линза, позволяющая получить параллельный пучок рентгеновских лучей, падающих на образец. Плоские кристалл-анализаторы расположены в непосредственной близости от облучаемого образца и закреплены на турелли, при повороте которой они могут занимать два положения относительно детекторов (рабочее и нерабочее). Каждый кристалл-анализатор в рабочем состоянии имеет 2 фиксированных положения относительно плоской поверхности облучаемого образца. Это позволяет выбрать строго определенные брэгговские углы θ1 и θ2 для отбора флуоресцентного излучения от двух различных анализируемых элементов. Таким образом, каждый кристалл-анализатор настраивается на анализ 2-х различных элементов. Наличие в конструкции 4-х детекторов и 8-ми кристалл-анализаторов (число кристалл-анализаторов в 2 раза больше числа детекторов) обеспечивает анализ 16 элементов в одном и том же образце в течение нескольких минут. Одновременно происходит запись сигналов от 4-х анализируемых элементов по 4-м спектрометрическим каналам.A device for analyzing the elemental composition of a substance allows determining in the same sample of a substance in the condensed phase up to 16 elements. The device consists of a shooting X-ray tube, a sample holder located opposite the X-ray tube, crystal analyzers and X-ray detectors with measuring equipment. A capillary lens is placed between the X-ray tube and the irradiated sample, which allows to obtain a parallel beam of X-rays falling on the sample. Flat crystal analyzers are located in the immediate vicinity of the irradiated sample and are fixed on the turrell, at the turn of which they can occupy two positions relative to the detectors (working and non-working). Each analyzer crystal in working condition has 2 fixed positions relative to the flat surface of the irradiated sample. This allows you to choose strictly defined Bragg angles θ 1 and θ 2 for the selection of fluorescent radiation from two different elements being analyzed. Thus, each analyzer crystal is configured to analyze 2 different elements. The presence in the design of 4 detectors and 8 crystal analyzers (the number of crystal analyzers is 2 times the number of detectors) ensures the analysis of 16 elements in the same sample in a few minutes. At the same time, signals from 4 analyzed elements are recorded via 4 spectrometric channels.
RU93003665A 1993-01-26 1993-01-26 Multichannel x-ray element composition analyzer RU2072515C1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU93003665A RU2072515C1 (en) 1993-01-26 1993-01-26 Multichannel x-ray element composition analyzer

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU93003665A RU2072515C1 (en) 1993-01-26 1993-01-26 Multichannel x-ray element composition analyzer

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU93003665A true RU93003665A (en) 1995-01-27
RU2072515C1 RU2072515C1 (en) 1997-01-27

Family

ID=20136143

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU93003665A RU2072515C1 (en) 1993-01-26 1993-01-26 Multichannel x-ray element composition analyzer

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2072515C1 (en)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2180439C2 (en) 2000-02-11 2002-03-10 Кумахов Мурадин Абубекирович Process of generation of image of internal structure of object with use of x-rays and device for its realization
RU2216010C2 (en) * 2002-01-16 2003-11-10 Варламов Аркадий Владимирович Multichannel x-ray diffractometer
RU2231101C2 (en) * 2002-02-14 2004-06-20 Кумахов Мурадин Абубекирович Device presenting image of internal structure of object
AU2002304206A1 (en) * 2002-02-14 2003-09-04 Muradin Abubekirovich Kumakhov Device for imaging the internal structure of an object
RU2219529C1 (en) * 2002-04-15 2003-12-20 Общество с ограниченной ответственностью "Институт рентгеновской оптики" Device testing orientation of shear plane of monocrystalline wafer
RU2258202C2 (en) * 2003-08-07 2005-08-10 Российская Федерация, от имени которой выступает государственный заказчик - Министерство по атомной энергии - Минатом РФ NON-DESTRUCTIVE METHOD OF INSPECTION OF LATERAL CHARACTERISTICS OF CELLULAR STRUCTURE HAVING α-RADIOACTIVE LAYER MATERIAL LAYER
RU2242748C1 (en) * 2003-08-19 2004-12-20 Общество с ограниченной ответственностью "Институт рентгеновской оптики" Detecting assembly for x-ray diffraction measurements

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3729203B2 (en) X-ray fluorescence analyzer
JPWO2018211664A1 (en) X-ray spectrometer
DK252188A (en) DETECTOR DEVICE FOR ANALYSIS INSTRUMENTS
US4636074A (en) Optics system for emission spectrometer
JPS5814982B2 (en) spectrophotometer sample holder
RU93003665A (en) MULTICHANNEL RENTGENOVSKY ELEMENT COMPOSITION ANALYZER
RU2361194C2 (en) Multi-channel x-ray spectrometre
JP2002214165A (en) X-ray fluorescence spectroscopy method and apparatus
RU97104992A (en) X-RAY FLUORESCENT ANALYSIS DEVICE
EP0553911A1 (en) Position-sensitive X-ray analysis
RU2072515C1 (en) Multichannel x-ray element composition analyzer
JPH06123717A (en) Fluorescent x-ray qualitative analytical method under plurality of conditions
US3511989A (en) Device for x-ray radiometric determination of elements in test specimens
JPS58143254A (en) Substance identifying device
JPS5788354A (en) X-ray analysing apparatus
KR20000062938A (en) Fluorescent X-ray Analysis Apparatus
US6546069B1 (en) Combined wave dispersive and energy dispersive spectrometer
JP3860641B2 (en) X-ray fluorescence analyzer
JPH11502312A (en) X-ray analyzer including rotatable primary collimator
US20010014136A1 (en) X-ray analysis apparatus with an X-ray detector in the form of a CCD array
SU609080A1 (en) Device for dispersionless x-ray fluorescent analysis
JPH0219897B2 (en)
SU1689819A1 (en) Device for x-ray fluorescence analysis of substances
SU1383173A1 (en) Method of x-ray radiometric analysis of substance
SU911265A1 (en) Device for x-ray fluorescent analysis