RU2813632C2 - Method for assessing current state of ultrahigh frequency electrovacuum devices and complex for its implementation - Google Patents
Method for assessing current state of ultrahigh frequency electrovacuum devices and complex for its implementation Download PDFInfo
- Publication number
- RU2813632C2 RU2813632C2 RU2022119575A RU2022119575A RU2813632C2 RU 2813632 C2 RU2813632 C2 RU 2813632C2 RU 2022119575 A RU2022119575 A RU 2022119575A RU 2022119575 A RU2022119575 A RU 2022119575A RU 2813632 C2 RU2813632 C2 RU 2813632C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- values
- microwave
- currents
- voltages
- computing device
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004870 electrical engineering Methods 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 4
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000013213 extrapolation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
Abstract
Description
Изобретение относится к способу комплексной оценки параметров электровакуумных приборов (далее - ЭВП) сверхвысокой частоты (далее - СВЧ) при функционировании совместно с системами электрического питания на этапах производства (входной контроль, настройка, регулировка, технологический прогон, приемосдаточные испытания, периодические испытания, квалификационные испытания), эксплуатации.The invention relates to a method for comprehensive assessment of the parameters of electrovacuum devices (hereinafter referred to as EVP) of ultra-high frequency (hereinafter referred to as microwave) when operating together with electrical power systems at production stages (input control, setup, adjustment, technological run, acceptance tests, periodic tests, qualification tests ), operation.
В настоящее время действует ОСТ11-0354-86 «Магнетроны. Методы измерения электрических параметров», в пункте 12 которого указан метод измерения 2-е помощью специальных измерителей флуктуаций. Однако отсутствует конкретный способ измерения электрических параметров ЭВП СВЧ, в том числе магнетронов, и методика прогнозирования надежности ЭВП СВЧ.Currently, OST11-0354-86 “Magnetrons” is in effect. Methods for measuring electrical parameters”, in paragraph 12 of which the method of measurement 2 is indicated using special fluctuation meters. However, there is no specific method for measuring the electrical parameters of microwave electronic devices, including magnetrons, and a method for predicting the reliability of microwave electronic devices.
Цель данного изобретения состоит в разработке такого способа и реализующего его комплекса, которые обеспечивают технический результат в виде оценки текущего состояния ЭВП СВЧ.The purpose of this invention is to develop such a method and a complex that implements it, which provide a technical result in the form of assessing the current state of the microwave electronics.
Этот технический результат достигается благодаря первому объекту настоящего изобретения, предлагающему способ оценки текущего состояния ЭВП СВЧ, включающий этапы, на которых для включенного в измерительный СВЧ тракт ЭВП СВЧ измеряют входные и выходные напряжения и/или токи ЭВП СВЧ с помощью по меньшей мере одного датчика, оцифровывают мгновенные значения напряжений с датчиков в аналогово-цифровом преобразователе, передают оцифрованные значения вычислительному устройству с программным обеспечением, накапливают в вычислительном устройстве значения напряжений и/или токов, проводят в вычислительном устройстве математические операции с цифровыми значениями напряжений и/или токов, сравнивают значения напряжений и/или токов и результаты их математической обработки с заданными критериями для оценки характера изменения этих токов и напряжений во времени.This technical result is achieved thanks to the first object of the present invention, which proposes a method for assessing the current state of the microwave electronic device, including stages in which, for the microwave electronic device included in the microwave measuring path, the input and output voltages and/or currents of the microwave electronic device are measured using at least one sensor, digitize instantaneous voltage values from sensors in an analog-to-digital converter, transmit the digitized values to a computing device with software, accumulate voltage and/or current values in the computing device, carry out mathematical operations with digital values of voltages and/or currents in the computing device, compare voltage values and/or currents and the results of their mathematical processing with specified criteria for assessing the nature of changes in these currents and voltages over time.
Этот же технический результат достигается благодаря второму объекту настоящего изобретения, предлагающему комплекс для оценки текущего состояния ЭВП СВЧ, содержащий датчик тока, датчик напряжения, измеряющие значения тока и напряжения ЭВП СВЧ, детектор огибающей ВЧ колебаний на выходе ЭВП СВЧ, соединенные с аналого-цифровым преобразователем, соединенным с вычислительным устройством с программным обеспечением, выполненным с возможностью сбора и накопления измеренных цифровых значений напряжений и тока, проведения математических операций с указанными цифровыми значениями напряжений и тока и сравнения их с заданными критериями для оценки изменения этих напряжений и тока во времени.The same technical result is achieved thanks to the second object of the present invention, which offers a complex for assessing the current state of the microwave electronic device, containing a current sensor, a voltage sensor, measuring the current and voltage values of the microwave electronic device, an envelope detector of RF oscillations at the output of the microwave electronic device, connected to an analog-to-digital converter , connected to a computing device with software configured to collect and accumulate measured digital values of voltages and currents, carry out mathematical operations with the specified digital values of voltages and currents and compare them with specified criteria for assessing changes in these voltages and currents over time.
Заявленная цель изобретения достигается благодаря измерению электрических параметров функционирования ЭВП СВЧ, определению их стабильности, дисперсии, предельных значений, тенденции и скорости изменения, параметров их распределений, соотношений и корреляционных зависимостей друг от друга, а также от условий внешних факторов. Предлагаемый способ благодаря применению процедур математической обработки полученного массива информации позволяет в соответствии с разработанной моделью прогнозировать надежность ЭВП СВЧ путем анализа рассчитанных данных на основании измеренных и накопленных параметров - критериев соответствия установленным требованиям. В случае безнакального магнетрона такими параметрами является напряжение начала генерации, скос плоской части модулирующего импульса напряжения, флуктуации фронта радиоимпульса (конкретизация метода 2 пункта 12 ОСТ11-0354-86 «Магнетроны. Методы измерения электрических параметров»), выброс импульса напряжения на фронте, ток начала генерации.The stated purpose of the invention is achieved by measuring the electrical parameters of the functioning of the microwave electronic device, determining their stability, dispersion, limit values, trends and rates of change, parameters of their distributions, relationships and correlations with each other, as well as on the conditions of external factors. The proposed method, thanks to the use of procedures for mathematical processing of the resulting array of information, allows, in accordance with the developed model, to predict the reliability of microwave electronics by analyzing calculated data based on measured and accumulated parameters - criteria for compliance with established requirements. In the case of a non-heated magnetron, such parameters are the generation start voltage, the bevel of the flat part of the modulating voltage pulse, fluctuations of the front of the radio pulse (specification of method 2 of paragraph 12 OST11-0354-86 “Magnetrons. Methods for measuring electrical parameters”), surge of the voltage pulse at the front, start current generation.
Оценка текущего состояния проводится путем сравнения измеренных параметров и их изменения во времени в процессе измерения с заданными критериями качества ЭВП СВЧ. Сравнение производится в автоматическом режиме благодаря разработанному алгоритму вычислительного устройства.The assessment of the current state is carried out by comparing the measured parameters and their changes over time during the measurement process with the specified quality criteria of the microwave electronics. The comparison is made automatically thanks to the developed algorithm of the computing device.
Изобретение позволяет исключить человеческий фактор в процессе измерений параметров - критериев качества ЭВП СВЧ с возможностью оформления протокола испытаний в автоматическом режиме, сократить время испытания ЭВП СВЧ.The invention makes it possible to eliminate the human factor in the process of measuring parameters - quality criteria for microwave electronic devices with the ability to draw up a test report in automatic mode, and to reduce the testing time for microwave electronic devices.
На базе указанного изобретения разработан мобильный автоматизированный измерительный комплекс (далее - МАИК) для контроля параметров ЭВП СВЧ (для безнакальных магнетронов).On the basis of this invention, a mobile automated measuring complex (hereinafter referred to as MAIK) has been developed for monitoring the parameters of microwave EVP (for non-heated magnetrons).
На фиг. 1 представлена структурная схема комплекса для оценки текущего состояния ЭВП СВЧ в соответствии с настоящим изобретением.In fig. 1 shows a block diagram of the complex for assessing the current state of the microwave electronics in accordance with the present invention.
На фиг. 2 приведен алгоритм работы вычислительного устройства.In fig. Figure 2 shows the operating algorithm of the computing device.
На фиг. 3 показан пример реализации комплекса МАИК, изготовленный в АО «Плутон».In fig. Figure 3 shows an example of the implementation of the MAIK complex, manufactured at JSC Pluton.
На фиг. 4 приведен пример измеренной с помощью МАИК флуктуации фронта огибающей ВЧ импульса.In fig. Figure 4 shows an example of the fluctuation of the front of the RF pulse envelope measured using MAIK.
На фиг. 1 приведены следующие обозначения:In fig. 1 shows the following designations:
1. Источник питания;1. Power supply;
2. ЭВП СВЧ, подключенный к источнику питания 1;2. EVP microwave connected to power source 1;
3. СВЧ тракт, подключенный к ЭВП СВЧ 2;3. Microwave path connected to EVP microwave 2;
4. Нагрузка, подключенная к СВЧ тракту 3;4. Load connected to microwave path 3;
5. Датчики напряжения и тока, подключенные к ЭВП СВЧ 2 и аналого-цифровому преобразователю (АЦП) 7;5. Voltage and current sensors connected to EVP microwave 2 and analog-to-digital converter (ADC) 7;
6. Детектор огибающей, подключенный к АЦП 7 и СВЧ тракту 3;6. Envelope detector connected to ADC 7 and microwave path 3;
7. АЦП с несколькими входами, подключенный к датчикам напряжения и тока 5, детектору огибающей 6 и вычислительному устройству 8;7. ADC with multiple inputs, connected to voltage and current sensors 5, envelope detector 6 and computing device 8;
8. Вычислительное устройство с программным обеспечением 8, подключенное к АЦП 7;8. A computing device with software 8 connected to the ADC 7;
9. Устройство вывода информации 9, подключенное к вычислительному устройству 8.9. Information output device 9 connected to computing device 8.
Приведенный на фиг. 2 алгоритм работы вычислительного устройства 8 включает в себя следующие этапы:Shown in FIG. 2, the operating algorithm of the computing device 8 includes the following steps:
1. Получение значений токов и напряжений в цифровом виде от АЦП 7;1. Obtaining current and voltage values in digital form from ADC 7;
2. Накопление цифровых значений напряжений и токов в устройстве 8;2. Accumulation of digital values of voltages and currents in device 8;
3. Определение временных параметров импульсных сигналов (длительность импульса, длительность фронта импульса, длительность спада импульса и т.п.);3. Determination of the time parameters of pulse signals (pulse duration, pulse rise time, pulse decay duration, etc.);
4. Определение амплитудных параметров импульсных сигналов (амплитуда импульса, выброс на фронте импульса, скос плоской части импульса и т.п.);4. Determination of the amplitude parameters of pulse signals (pulse amplitude, surge at the pulse front, bevel of the flat part of the pulse, etc.);
5. Определение параметров непрерывных сигналов (среднее значение, пульсации и т.п.);5. Determination of parameters of continuous signals (average value, ripple, etc.);
6. Определение значений параметров критериев надежности (качества) ЭВП в соответствии с методиками из технических условий на ЭВП СВЧ, выдача информации о соответствии или несоответствии техническим условиям;6. Determination of the values of the parameters of the reliability (quality) criteria of the EVP in accordance with the methods from the technical specifications for the EVP microwave, issuing information on compliance or non-compliance with the technical conditions;
7. Накопление значений параметров критериев надежности (качества), построение характеристики изменения параметров критериев, экстраполяция характеристики изменения параметров критериев на время работы ЭВП СВЧ и выдача прогноза о соответствии или не соответствии ЭВП СВЧ техническим условиям через заданное время работы прибора.7. Accumulation of values of parameters of reliability (quality) criteria, construction of characteristics of changes in criteria parameters, extrapolation of characteristics of changes in criteria parameters for the operating time of the microwave electronic device and issuing a forecast about the compliance or non-compliance of the microwave electronic device with technical conditions after a given operating time of the device.
8. Вывод отчета на устройство 9 (дисплей или устройство печати).8. Output the report to device 9 (display or printing device).
В качестве датчика огибающей можно использовать детекторную головку или детекторный щуп.В качестве АЦП можно использовать цифровой запоминающий осциллограф или специальные микросхемы АЦП. В качестве вычислительного устройства можно использовать ноутбук или компьютер, или иное вычислительное устройство.A detector head or detector probe can be used as an envelope sensor. A digital storage oscilloscope or special ADC chips can be used as an ADC. A laptop or computer, or other computing device can be used as a computing device.
Работает МАИК следующим образом. Датчики напряжения и тока преобразуют величины напряжений, прикладываемых к ЭВП СВЧ или формируемых на выходе ЭВП СВЧ, и токов, проходящих через электроды ЭВП СВЧ, в напряжения с уровнями, лежащими в пределах возможности оцифровки АЦП с возможностью дальнейшей передачи полученных цифровых значений в компьютер или иное вычислительное средство. С помощью специального программного обеспечения, установленного в компьютере или ином вычислительном устройстве, происходит сбор, накопление и математическая обработка цифровых данных, поступивших с АЦП.MAIK works as follows. Voltage and current sensors convert voltages applied to the microwave electronic device or generated at the microwave electronic device output, and currents passing through the microwave electronic device electrodes, into voltages with levels that lie within the capabilities of the ADC digitization with the possibility of further transfer of the resulting digital values to a computer or other computing tool. Using special software installed on a computer or other computing device, digital data received from the ADC is collected, accumulated, and mathematically processed.
С помощью такой обработки данных можно, например, для ЭВП СВЧ типа магнетрон рассчитать величину флюктуации фронта огибающей выходных ВЧ колебаний относительно фронта модулирующего импульса. По характеристикам изменения величины флюктуации в процессе работы на разных этапах жизненного цикла этого ЭВП СВЧ можно сделать оценку надежности текущего состояния данного ЭВП СВЧ. Пример измеренной с помощью МАИК флуктуации фронта огибающей ВЧ импульса приведен на фиг. 4.Using such data processing, it is possible, for example, for a magnetron-type microwave electronic device to calculate the magnitude of the fluctuation of the front of the envelope of the output RF oscillations relative to the front of the modulating pulse. Based on the characteristics of changes in the magnitude of fluctuations during operation at different stages of the life cycle of this microwave electronic device, one can make an assessment of the reliability of the current state of this microwave electronic device. An example of the fluctuation of the front of the RF pulse envelope measured using MAIC is shown in Fig. 4.
Способ по настоящему изобретению реализуется в комплексе следующим образом.The method of the present invention is implemented in a complex as follows.
Измеряются значения напряжений и токов ЭВП СВЧ с последующей оцифровкой этих значений и расчетом в вычислительном устройстве параметров режима работы ЭВП СВЧ, определяются изменения во времени параметров режима работы ЭВП СВЧ, например флуктуаций фронта высокочастотного импульса.The values of voltages and currents of the microwave electronic device are measured, followed by digitization of these values and the calculation of the parameters of the microwave electronic device operating mode in a computing device; changes in time of the microwave electronic device operating mode parameters are determined, for example, fluctuations of the front of a high-frequency pulse.
Оценка измеряемых параметров режима работы ЭВП СВЧ проводится путем математической обработки единичных отсчетов величин измеряемых напряжений (токов), получаемых в дискретном виде от аналого-цифрового преобразователя. Вычислительное устройство с программным обеспечением позволяет проводить оценку следующих параметров импульсных сигналов: амплитуда, длительность, длительности фронта и спада, скос плоской части импульса, временных интервалов между отдельными сигналами, флюктуации фронта ВЧ импульса относительно фронта импульса модулирующего напряжения, количество пропущенных импульсов.Evaluation of the measured parameters of the microwave electronics operating mode is carried out by mathematical processing of single samples of the measured voltages (currents), received in discrete form from an analog-to-digital converter. A computing device with software makes it possible to evaluate the following parameters of pulse signals: amplitude, duration, rise and fall times, bevel of the flat part of the pulse, time intervals between individual signals, fluctuations of the front of the RF pulse relative to the front of the modulating voltage pulse, the number of missed pulses.
Оценка значения величины флюктуации ВЧ импульса (среднеквадратичного значения и максимальный разброс) в вычислительном устройстве с программным обеспечением осуществляется путем математического расчета среднеквадратичного отклонения величины интервала времени (далее время задержки - Δτi) между фронтом модулирующего импульса и фронтом импульса огибающей. Объем выборки устанавливается оператором. Δτi измеряется между фронтом модулирующего импульса по уровню 0,5 от его амплитуды и фронтом импульса огибающей ВЧ колебаний по уровню 0,5. Получение сигнала происходит с помощью детектора огибающей через СВЧ тракт непосредственно от ЭВП СВЧ.Estimation of the value of fluctuation of the RF pulse (rms value and maximum spread) in a computing device with software is carried out by mathematically calculating the standard deviation of the time interval (hereinafter referred to as the delay time - Δτ i ) between the front of the modulating pulse and the front of the envelope pulse. The sample size is set by the operator. Δτ i is measured between the front of the modulating pulse at a level of 0.5 of its amplitude and the front of the pulse of the HF oscillation envelope at a level of 0.5. The signal is received using an envelope detector through the microwave path directly from the microwave electronic device.
Вычислительное устройство с программным обеспечением реализует алгоритм взаимодействия с АЦП, накопление полученных осциллограмм и их математическую обработку. При включении вычислительного устройства программному обеспечению в нем необходимо задать начальные установки: параметры входных сигналов; параметры синхронизации АЦП, параметры сбора информации - количество отсчетов за один цикл измерений и количество измерений. При этом на первый вход АЦП необходимо подать сигнал импульса модулирующего напряжения, на второй вход - сигнал датчика тока, на третий вход - сигнал с детектора ВЧ огибающей. Возможно использование входов как совместно, так и по отдельности. После подключения вычислительного устройства с программным обеспечением к АЦП и его конфигурирования (задания начальных установок) необходимо подать питание на ЭВП СВЧ с подключенными к нему соответствующими датчиками. Комплекс переходит в режим сбора данных. После окончания накопления заданного оператором количества измерений, на устройстве вывода информации отобразятся параметры соответствующих измерений с расчетом значения статистических параметров, например среднеквадратического значения флюктуации. Величина среднеквадратичного значения флюктуации рассчитывается по следующим формулам:A computing device with software implements an algorithm for interaction with the ADC, accumulation of the resulting oscillograms and their mathematical processing. When you turn on the computing device, the software in it must set the initial settings: input signal parameters; ADC synchronization parameters, information collection parameters - the number of samples per one measurement cycle and the number of measurements. In this case, it is necessary to apply a modulating voltage pulse signal to the first input of the ADC, a signal from the current sensor to the second input, and a signal from the RF envelope detector to the third input. It is possible to use the inputs both together and separately. After connecting the computing device with software to the ADC and configuring it (setting the initial settings), it is necessary to supply power to the microwave electronic device with the corresponding sensors connected to it. The complex switches to data collection mode. After the accumulation of the number of measurements specified by the operator is completed, the parameters of the corresponding measurements will be displayed on the information output device with the calculation of the value of statistical parameters, for example, the root mean square value of fluctuation. The value of the root-mean-square value of fluctuation is calculated using the following formulas:
- среднеквадратическое отклонение флюктуации фронта огибающей ВЧ импульса относительно фронта импульса модулирующего напряжения (времени задержки); - standard deviation of the fluctuation of the front of the RF pulse envelope relative to the front of the modulating voltage pulse (delay time);
- дисперсия времени задержки;- delay time dispersion;
- среднее значение времени задержки (математическое ожидание);- average value of the delay time (mathematical expectation);
Δτi - единичный отсчет времени задержки;Δτ i - single delay time count;
N - количество измерений времени задержки, (задается оператором вычислительного устройства с программным обеспечением).N is the number of delay time measurements (set by the operator of the computing device with software).
Накопленные и рассчитанные параметры можно сравнивать со значениями, установленными в конструкторской документации для ЭВП СВЧ конкретного вида. Например, на основе накопленного количества изменений задержки появления огибающей ВЧ импульса относительно фронта модулирующего импульса (то есть флюктуации переднего фронта огибающей) можно рассчитать среднеквадратическое отклонение (СКО) флюктуации для конкретного магнетрона и можно сравнить его со значением СКО флуктуации, установленным в технических условиях. Характер изменения (увеличение, уменьшение или стабилизация) измеренных и рассчитанных значений флуктуаций фронта ВЧ огибающей во времени, например в течении технологических операций регулировки, настройки, прогона и испытаний ЭВП СВЧ (например, для безнакального магнетрона, занимающие 10 и более часов), дает возможность провести оценку качества проведенных технологических операций и по накопленным статистическим данным прогнозировать дальнейшую надежность ЭВП СВЧ в течение срока эксплуатации.The accumulated and calculated parameters can be compared with the values established in the design documentation for a specific type of microwave electronics. For example, based on the accumulated number of changes in the delay of the appearance of the RF pulse envelope relative to the leading edge of the modulating pulse (i.e., fluctuations in the leading edge of the envelope), the standard deviation (RMSD) of the fluctuation for a particular magnetron can be calculated and can be compared with the value of the fluctuation RMSD specified in the specifications. The nature of the change (increase, decrease or stabilization) of the measured and calculated values of fluctuations of the front of the RF envelope over time, for example, during the technological operations of adjustment, tuning, running and testing of microwave electronic devices (for example, for a non-heated magnetron, which takes 10 hours or more), makes it possible assess the quality of the technological operations performed and, based on accumulated statistical data, predict the further reliability of the microwave electronics during its service life.
Комплекс позволяет конкретизировать метод 2 по п. 12 ОСТ11-0354-86 «Магнетроны. Методы измерения электрических параметров» и обеспечивает возможность оценки флюктуации переднего фронта огибающей ВЧ импульсов магнетрона относительно импульса модулирующего напряжения. Кроме того, указанный комплекс позволяет накапливать значения величины флюктуации, строить графики ее изменения, рассчитывать скорость ее изменения и направление изменения (увеличение или уменьшение) на всех этапах жизненного цикла магнетрона. Так как величина флюктуации является показателем качества работы для магнетронов, то по характеристикам изменения флюктуации во времени появляется возможность давать прогноз надежности данного ЭВП путем экстраполяции накопленных и рассчитанных параметров во времени.The complex allows you to specify method 2 according to clause 12 of OST11-0354-86 “Magnetrons. Methods for measuring electrical parameters" and provides the ability to estimate fluctuations of the leading edge of the magnetron RF pulse envelope relative to the modulating voltage pulse. In addition, this complex allows you to accumulate fluctuation values, plot graphs of its changes, calculate the rate of its change and the direction of change (increase or decrease) at all stages of the magnetron life cycle. Since the magnitude of fluctuation is an indicator of the quality of work for magnetrons, then based on the characteristics of changes in fluctuation over time, it becomes possible to predict the reliability of a given EVP by extrapolating the accumulated and calculated parameters over time.
Результаты сравнения значений и характер изменения измеренных значений параметров выводятся с помощью различных устройств вывода или на бумажный носитель информации.The results of comparison of values and the nature of changes in the measured values of parameters are displayed using various output devices or on paper.
Предложенный способ является универсальным и подходит для любых магнетронов и других ЭВП СВЧ.The proposed method is universal and suitable for any magnetrons and other microwave electronic devices.
Claims (2)
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2022119575A RU2022119575A (en) | 2024-01-18 |
| RU2813632C2 true RU2813632C2 (en) | 2024-02-14 |
Family
ID=
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU410483A1 (en) * | 1970-12-09 | 1974-01-05 | ||
| RU2181895C2 (en) * | 1997-07-23 | 2002-04-27 | ЛГ Информейшн энд Коммюникейшнс Лтд. | Circuit in shf equipment with self-testing |
| US7915827B2 (en) * | 2005-09-08 | 2011-03-29 | Tokyo Electron Limited | Magnetron control method, magnetron service life judgment method, microwave generation device, magnetron service life judgment device, processing device, computer program, and storage medium |
| RU2548577C1 (en) * | 2013-12-27 | 2015-04-20 | Публичное Акционерное Общество "Нижнекамскнефтехим" (ПАО "Нижнекамскнефтехим") | Stand for inspection, test and analysis of computer power supply units |
| RU2566647C1 (en) * | 2014-07-22 | 2015-10-27 | Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина (АО "НПП "Исток" им. Шокина") | Method for determining parameters of shf device |
| RU2722973C1 (en) * | 2018-12-06 | 2020-06-05 | Акционерное общество "Ордена Трудового Красного Знамени Всероссийский научно-исследовательский институт радиоаппаратуры" (АО "ВНИИРА") | Power and vswr of microwave transmitters circuits control device |
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU410483A1 (en) * | 1970-12-09 | 1974-01-05 | ||
| RU2181895C2 (en) * | 1997-07-23 | 2002-04-27 | ЛГ Информейшн энд Коммюникейшнс Лтд. | Circuit in shf equipment with self-testing |
| US7915827B2 (en) * | 2005-09-08 | 2011-03-29 | Tokyo Electron Limited | Magnetron control method, magnetron service life judgment method, microwave generation device, magnetron service life judgment device, processing device, computer program, and storage medium |
| RU2548577C1 (en) * | 2013-12-27 | 2015-04-20 | Публичное Акционерное Общество "Нижнекамскнефтехим" (ПАО "Нижнекамскнефтехим") | Stand for inspection, test and analysis of computer power supply units |
| RU2566647C1 (en) * | 2014-07-22 | 2015-10-27 | Акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Исток" имени А.И. Шокина (АО "НПП "Исток" им. Шокина") | Method for determining parameters of shf device |
| RU2722973C1 (en) * | 2018-12-06 | 2020-06-05 | Акционерное общество "Ордена Трудового Красного Знамени Всероссийский научно-исследовательский институт радиоаппаратуры" (АО "ВНИИРА") | Power and vswr of microwave transmitters circuits control device |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10900863B2 (en) | Identification of air leaks in a compressed air system using a plurality of current measurement sensors | |
| CN104730481B (en) | Dynamically determining measurement uncertainty of a measurement device | |
| CN101982792A (en) | Test system and method for measurement error and EMS frequency automatic matching of intelligent electric energy meter | |
| CN106093838A (en) | Remote online calibration method and system for gateway electric energy meters | |
| CN111934760B (en) | Signal processing transmission delay characteristic detection device and method and terminal equipment | |
| CN118642036B (en) | A remote calibration system and method for digital electric energy metering equipment | |
| CN118130997B (en) | Test method and system for operation of variable capacitance diode | |
| JP2014185971A (en) | Time series data processing device, time series data processing method, and time series data processing program | |
| RU2813632C2 (en) | Method for assessing current state of ultrahigh frequency electrovacuum devices and complex for its implementation | |
| CN117129829A (en) | Chip testing method and device, electronic equipment and storage medium | |
| CN112068067A (en) | On-load error detection system of surface isolation transformer of pipeline metrology verification device | |
| CN109085474B (en) | A method and system for detecting the performance of a 35kV and below cable oscillating wave partial discharge measuring instrument | |
| WO2023071421A1 (en) | Screening method and apparatus for cascade utilization of battery | |
| US20090089005A1 (en) | Generation of test specifications based on measured data points | |
| CN112345992A (en) | Calibration method and system for partial discharge composite parameter by pulse current method | |
| CN118688702A (en) | A method and related device for detecting output accuracy of a waveform playback type load identification detection device | |
| CN118938105A (en) | A method and system for testing a current transformer | |
| CN102354295A (en) | CPU (central processing unit) load testing method for equipment in DCS (distributed control system) | |
| CN118275781A (en) | Dielectric loss test method based on current collection by resistor divider | |
| CN117406090A (en) | Lithium ion battery power consumption detection method and device | |
| CN114137470A (en) | Bandwidth testing device and measuring method thereof | |
| CN119780626B (en) | A high-voltage cable shock wave partial discharge test system and device | |
| JPH01131467A (en) | Discrimination device for external noise in partial discharging measurement | |
| JP2022188710A (en) | Electric field measuring device and electric field measuring method | |
| CN111190134A (en) | Test method and calibration device for dynamic response time characteristics of electric energy meter |