RU2668344C1 - Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования - Google Patents
Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования Download PDFInfo
- Publication number
- RU2668344C1 RU2668344C1 RU2017142446A RU2017142446A RU2668344C1 RU 2668344 C1 RU2668344 C1 RU 2668344C1 RU 2017142446 A RU2017142446 A RU 2017142446A RU 2017142446 A RU2017142446 A RU 2017142446A RU 2668344 C1 RU2668344 C1 RU 2668344C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- coating
- thickness
- voltage
- plasma
- electrolytic oxidation
- Prior art date
Links
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title claims abstract description 26
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000007745 plasma electrolytic oxidation reaction Methods 0.000 title abstract description 10
- 238000011088 calibration curve Methods 0.000 claims abstract description 7
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 claims abstract description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 6
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 5
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 abstract description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 3
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 abstract description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 3
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N Zirconium Chemical compound [Zr] QCWXUUIWCKQGHC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 230000007717 exclusion Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 230000036039 immunity Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B7/00—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
- G01B7/02—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
- G01B7/06—Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
Использование: для измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования вентильных металлов. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения толщины покрытия включает измерение напряжения в процессе получения покрытия, где измеряют среднее и амплитудное значения напряжения обработки, затем находят их отношение, а толщину покрытия h определяют по формулегде kи k- эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым; Uи U- среднее и амплитудное значения напряжения обработки соответственно. Технический результат: повышение точности определения толщины оксидного покрытия для своевременного прекращения процесса плазменно-электролитического оксидирования. 5 ил., 1 табл.
Description
Изобретение относится к области электрохимической обработки, в частности, к плазменно-электролитическому оксидированию и может быть использовано для измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования вентильных металлов, например, алюминия, магния, титана, циркония и сплавов на их основе.
Известен способ контроля толщины покрытий в процессе осаждения, заключающийся в том, что объект контроля размещают в ванне с электролитом, на электроды, одним из которых является объект контроля, подают постоянное напряжение электроосаждения и определяют информативный параметр, по которому судят о толщине нарастающего покрытия, по которому в качестве электролита используют электропроводящий раствор лакокрасочного материала, одновременно с постоянным напряжением электроосаждения подают стабилизированное по амплитуде переменное напряжение, в качестве информативного параметра используют межэлектродную емкость, а в качестве второго электрода используют корпус ванны электроосаждения. (А.С. СССР №1578452 A1, G01B 7/06, 7/08, публ. 15.07.90).
Недостатком данного способа является его применимость только при работе на постоянном токе, а также необходимость наложения переменного напряжения, что может негативно сказываться на технологическом режиме обработки.
Известен способ определения момента окончания процесса плазменно-электролитического оксидирования на основе определения толщины покрытия по величине сдвига фаз, заключающийся в том, что измеряют переменную составляющую тока и анализируют ее изменение во времени, измеряют и анализируют переменную составляющую напряжения, которая периодически или постоянно изменяется с частотой 200-20000 Гц. При этом переменные составляющие тока и напряжения поступают на полосовые фильтры с граничными частотами 200-18000 и 500-20000 Гц, после которых измеряют сдвиг фаз между отфильтрованными сигналами тока и напряжения. Момент окончания процесса определяется по достижении значения сдвига фаз 20-80 градусов (патент РФ №2366765, C25D 11/00, публ. 10.09.2009).
Недостатком данного способа является сложность его практической реализации, которая заключается в необходимости использования дополнительных модуляторов частоты, фильтрации сигналов тока и напряжения, а также использования фазометров для измерения угла сдвига фаз между сигналами тока и напряжения.
Наиболее близким по технической сущности является способ определения толщины покрытия, заключающийся в том, что выполняют измерение амплитуды анодного импульсного поляризационного напряжения Uп, при этом определяют длительность т спада напряжения до порогового значения U1=(0,2…0,8)⋅Uп, а толщину покрытия рассчитывают по формуле:
h=k1+k2⋅τ,
где k1 и k2 - эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым;
τ - длительность спада поляризационного напряжения Uп до порогового значения U1 (патент РФ №2540239, G01B 7/06, публ. 10.02.2015).
Недостатком прототипа является необходимость выделять длительность спада поляризационного напряжения в быстроменяющемся сигнале, что требует значительной технической сложности системы измерения и управления.
Задачей, решаемой заявляемым изобретением, является снижение энергопотребления при плазменно-электролитическом оксидировании вследствие исключения передержки за счет своевременного отключения технологического источника тока при достижении заданной толщины покрытия.
Техническим результатом является повышение точности определения толщины оксидного покрытия для своевременного прекращения процесса плазменно-электролитического оксидирования.
Поставленная задача решается, а технический результат достигается тем, что в способе определения толщины покрытия, включающем измерение напряжения в процессе получения покрытия, согласно изобретению, измеряют среднее и амплитудное значение напряжения обработки, затем находят их отношение, а толщину покрытия h определяют по формуле:
где k1 и k2 - эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым;
Ucp и Umax - среднее и амплитудное значения напряжения обработки соответственно.
Сущность изобретения поясняется изображениями. На Фиг. 1 и Фиг. 2 представлены осциллограммы напряжения после 5 мин и 35 мин обработки соответственно, на которых наблюдается увеличение напряжения во время паузы между импульсами. На Фиг. 3 показан график изменения во времени для отношения среднего напряжения к амплитудному. На Фиг. 4 показан график изменения толщины покрытия во времени. На Фиг. 5 показана тарировочная кривая, построенная по этим зависимостям.
Физически сущность способа объясняется тем, что в начале процесса толщина оксидного покрытия мала, его активное сопротивление также сравнительно невелико и емкость двойного электрического слоя покрытия разряжается с малой постоянной времени (Фиг. 1). Далее, с ростом оксидной пленки, ее активное сопротивление растет и постоянная времени разряда емкости значительно увеличивается (Фиг. 2), что вызывает повышение среднего значения напряжения при постоянной амплитуде импульсов. Между указанными величинами наблюдается высокая степень корреляции (R2>0,95), что позволяет построить тарировочную кривую (Фиг. 5), которая может быть использована для определения толщины оксидного слоя в ходе процесса. Таким образом, предлагаемый способ имеет ясный физический смысл и простую реализацию, а также обладает высокой помехозащищенностью, так как измеряемые уровни напряжений имеют значительные величины и мало подвержены внешним искажениям.
Пример конкретной реализации способа.
Образцы из алюминия обрабатывали методом плазменно-электролитического оксидирования в растворе, содержащем 1 г/л КОН, 2 г/л Na4P2O7⋅10Н2О и 2 г/л Na2SiO3 при температуре 20°С в течение 45 минут в режиме импульсного напряжения с фиксированной амплитудой импульса 580 В и частотой 1 кГц. В процессе получения покрытия измеряли среднее и амплитудное значения напряжения, а толщину покрытия определяли по формуле:
где эмпирические коэффициенты
k1=80,87±0,94 мкм;
k2=51,44±0,67 мкм,
соответствующие обрабатываемому материалу и указанному составу электролита, были рассчитаны по тарировочной кривой (Фиг. 5).
После обработки толщину покрытия на образцах также измеряли вихретоковым толщиномером. Результаты приведены в таблице:
Как видно из таблицы, заявляемый способ позволяет определять толщину покрытия с разбросом, сравнимым с неравномерностью толщины покрытия по поверхности детали. Так, после 30 минут обработки толщина покрытия, измеренная вихретоковым толщиномером составила 18,1±1,4 мкм, а измеренная в соответствии с заявляемым способом - 17,6±1,2 мкм.
Итак, заявляемое изобретение позволяет измерять толщину покрытия в ходе плазменно-электролитического оксидирования вентильных металлов без вмешательства в ход технологического процесса за счет измерения напряжений, участвующих в формировании оксидного слоя.
Claims (4)
- Способ определения толщины покрытия, включающий измерение напряжения в процессе получения покрытия, отличающийся тем, что измеряют среднее и амплитудное значения напряжения обработки, затем находят их отношение, а толщину покрытия h определяют по формуле
- где k1 и k2 - эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым;
- Uср и Umax - среднее и амплитудное значения напряжения обработки соответственно.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2017142446A RU2668344C1 (ru) | 2017-12-05 | 2017-12-05 | Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2017142446A RU2668344C1 (ru) | 2017-12-05 | 2017-12-05 | Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2668344C1 true RU2668344C1 (ru) | 2018-09-28 |
Family
ID=63798139
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2017142446A RU2668344C1 (ru) | 2017-12-05 | 2017-12-05 | Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2668344C1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2826163C1 (ru) * | 2024-02-19 | 2024-09-05 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский университет науки и технологий" | Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5485097A (en) * | 1994-08-08 | 1996-01-16 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method of electrically measuring a thin oxide thickness by tunnel voltage |
| RU2158897C1 (ru) * | 1999-11-04 | 2000-11-10 | Воронежская государственная технологическая академия | Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения и устройство для его реализации |
| RU2366765C1 (ru) * | 2008-10-02 | 2009-09-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уфимский государственный авиационный технический университет | Способ определения момента окончания процесса плазменно-электролитического оксидирования |
| CN101975545A (zh) * | 2010-09-14 | 2011-02-16 | 华南理工大学 | 一种检测金属表面膜层的方法及电解氧化装置 |
| RU2435134C1 (ru) * | 2010-07-15 | 2011-11-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" | Способ определения толщины покрытия при плазменно-электролитическом оксидировании |
| RU2540239C1 (ru) * | 2013-10-17 | 2015-02-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" | Способ определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования |
-
2017
- 2017-12-05 RU RU2017142446A patent/RU2668344C1/ru active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5485097A (en) * | 1994-08-08 | 1996-01-16 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method of electrically measuring a thin oxide thickness by tunnel voltage |
| RU2158897C1 (ru) * | 1999-11-04 | 2000-11-10 | Воронежская государственная технологическая академия | Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения и устройство для его реализации |
| RU2366765C1 (ru) * | 2008-10-02 | 2009-09-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уфимский государственный авиационный технический университет | Способ определения момента окончания процесса плазменно-электролитического оксидирования |
| RU2435134C1 (ru) * | 2010-07-15 | 2011-11-27 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" | Способ определения толщины покрытия при плазменно-электролитическом оксидировании |
| CN101975545A (zh) * | 2010-09-14 | 2011-02-16 | 华南理工大学 | 一种检测金属表面膜层的方法及电解氧化装置 |
| RU2540239C1 (ru) * | 2013-10-17 | 2015-02-10 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" | Способ определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2826163C1 (ru) * | 2024-02-19 | 2024-09-05 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский университет науки и технологий" | Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования |
| RU2837987C1 (ru) * | 2024-12-17 | 2025-04-07 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет)" | Способ определения толщины оксидных покрытий деталей машин |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Parfenov et al. | Frequency response studies for the plasma electrolytic oxidation process | |
| CN105378492B (zh) | 测量物质的电学性能的装置和方法 | |
| RU2011101550A (ru) | Способ электрохимической обработки | |
| RU2668344C1 (ru) | Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования | |
| RU2366765C1 (ru) | Способ определения момента окончания процесса плазменно-электролитического оксидирования | |
| RU2540239C1 (ru) | Способ определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования | |
| EP2562784A3 (de) | Sensoranordnung zur Charakterisierung von Plasmabeschichtungs-, Plasmaätz- und Plasmabehandlungsprozessen sowie Verfahren zur Ermittlung von Kenngrößen in diesen Prozessen | |
| RU2692120C1 (ru) | Способ определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования | |
| Parfenov et al. | Methodology of data acquisition and signal processing for frequency response evaluation during plasma electrolytic surface treatments | |
| CN104734824A (zh) | 强噪声背景下混沌同步检测微弱周期信号的方法 | |
| Gurin et al. | New equipment for high-accuracy laboratory measurements of spectral induced polarization of rock samples in the time-and frequency domains: testing of laboratory multifunction potentiostat-galvanostat | |
| WO2022015266A3 (en) | A measuring system | |
| RU2119975C1 (ru) | Способ определения момента окончания процесса электролитно-плазменного удаления покрытия | |
| RU2440445C1 (ru) | Способ плазменно-электролитического оксидирования металлов и сплавов | |
| US4102771A (en) | Measuring device and process for recording on electrodeposition parameters of throwing power | |
| RU2807242C1 (ru) | Способ мониторинга и управления процессом микродугового оксидирования с использованием метода акустической эмиссии | |
| RU2240500C1 (ru) | Способ измерения шероховатости поверхности | |
| Ni et al. | Interpreting impedance spectra in the time constant domain: Application to the characterization of passive films | |
| RU2603970C1 (ru) | Способ измерения концентрации ионов | |
| Aubakirova et al. | Electrochemical impedance and morphological studies into of initial stages of plasma electrolytic oxidation of magnesium alloy | |
| RU2582886C2 (ru) | Способ регистрации электронных зон заряженной поверхности твердого металла | |
| RU2817066C1 (ru) | Способ оценки толщины и пористости МДО-покрытия в электролитической ванне на основе измерения импеданса | |
| RU2667688C2 (ru) | Устройство для регистрации электропроводности жидкостей | |
| RU2360045C1 (ru) | Способ определения момента окончания процесса электролитно-плазменного удаления покрытия | |
| US8409423B2 (en) | Method for machining workpieces |