[go: up one dir, main page]

RU2668344C1 - Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования - Google Patents

Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования Download PDF

Info

Publication number
RU2668344C1
RU2668344C1 RU2017142446A RU2017142446A RU2668344C1 RU 2668344 C1 RU2668344 C1 RU 2668344C1 RU 2017142446 A RU2017142446 A RU 2017142446A RU 2017142446 A RU2017142446 A RU 2017142446A RU 2668344 C1 RU2668344 C1 RU 2668344C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
coating
thickness
voltage
plasma
electrolytic oxidation
Prior art date
Application number
RU2017142446A
Other languages
English (en)
Inventor
Михаил Викторович Горбатков
Евгений Владимирович Парфенов
Павел Валерьевич Тарасов
Вета Робертовна Мукаева
Рузиль Галиевич Фаррахов
Original Assignee
федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский государственный авиационный технический университет"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" filed Critical федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский государственный авиационный технический университет"
Priority to RU2017142446A priority Critical patent/RU2668344C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2668344C1 publication Critical patent/RU2668344C1/ru

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

Использование: для измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования вентильных металлов. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения толщины покрытия включает измерение напряжения в процессе получения покрытия, где измеряют среднее и амплитудное значения напряжения обработки, затем находят их отношение, а толщину покрытия h определяют по формулегде kи k- эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым; Uи U- среднее и амплитудное значения напряжения обработки соответственно. Технический результат: повышение точности определения толщины оксидного покрытия для своевременного прекращения процесса плазменно-электролитического оксидирования. 5 ил., 1 табл.

Description

Изобретение относится к области электрохимической обработки, в частности, к плазменно-электролитическому оксидированию и может быть использовано для измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования вентильных металлов, например, алюминия, магния, титана, циркония и сплавов на их основе.
Известен способ контроля толщины покрытий в процессе осаждения, заключающийся в том, что объект контроля размещают в ванне с электролитом, на электроды, одним из которых является объект контроля, подают постоянное напряжение электроосаждения и определяют информативный параметр, по которому судят о толщине нарастающего покрытия, по которому в качестве электролита используют электропроводящий раствор лакокрасочного материала, одновременно с постоянным напряжением электроосаждения подают стабилизированное по амплитуде переменное напряжение, в качестве информативного параметра используют межэлектродную емкость, а в качестве второго электрода используют корпус ванны электроосаждения. (А.С. СССР №1578452 A1, G01B 7/06, 7/08, публ. 15.07.90).
Недостатком данного способа является его применимость только при работе на постоянном токе, а также необходимость наложения переменного напряжения, что может негативно сказываться на технологическом режиме обработки.
Известен способ определения момента окончания процесса плазменно-электролитического оксидирования на основе определения толщины покрытия по величине сдвига фаз, заключающийся в том, что измеряют переменную составляющую тока и анализируют ее изменение во времени, измеряют и анализируют переменную составляющую напряжения, которая периодически или постоянно изменяется с частотой 200-20000 Гц. При этом переменные составляющие тока и напряжения поступают на полосовые фильтры с граничными частотами 200-18000 и 500-20000 Гц, после которых измеряют сдвиг фаз между отфильтрованными сигналами тока и напряжения. Момент окончания процесса определяется по достижении значения сдвига фаз 20-80 градусов (патент РФ №2366765, C25D 11/00, публ. 10.09.2009).
Недостатком данного способа является сложность его практической реализации, которая заключается в необходимости использования дополнительных модуляторов частоты, фильтрации сигналов тока и напряжения, а также использования фазометров для измерения угла сдвига фаз между сигналами тока и напряжения.
Наиболее близким по технической сущности является способ определения толщины покрытия, заключающийся в том, что выполняют измерение амплитуды анодного импульсного поляризационного напряжения Uп, при этом определяют длительность т спада напряжения до порогового значения U1=(0,2…0,8)⋅Uп, а толщину покрытия рассчитывают по формуле:
h=k1+k2⋅τ,
где k1 и k2 - эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым;
τ - длительность спада поляризационного напряжения Uп до порогового значения U1 (патент РФ №2540239, G01B 7/06, публ. 10.02.2015).
Недостатком прототипа является необходимость выделять длительность спада поляризационного напряжения в быстроменяющемся сигнале, что требует значительной технической сложности системы измерения и управления.
Задачей, решаемой заявляемым изобретением, является снижение энергопотребления при плазменно-электролитическом оксидировании вследствие исключения передержки за счет своевременного отключения технологического источника тока при достижении заданной толщины покрытия.
Техническим результатом является повышение точности определения толщины оксидного покрытия для своевременного прекращения процесса плазменно-электролитического оксидирования.
Поставленная задача решается, а технический результат достигается тем, что в способе определения толщины покрытия, включающем измерение напряжения в процессе получения покрытия, согласно изобретению, измеряют среднее и амплитудное значение напряжения обработки, затем находят их отношение, а толщину покрытия h определяют по формуле:
Figure 00000001
где k1 и k2 - эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым;
Ucp и Umax - среднее и амплитудное значения напряжения обработки соответственно.
Сущность изобретения поясняется изображениями. На Фиг. 1 и Фиг. 2 представлены осциллограммы напряжения после 5 мин и 35 мин обработки соответственно, на которых наблюдается увеличение напряжения во время паузы между импульсами. На Фиг. 3 показан график изменения во времени для отношения среднего напряжения к амплитудному. На Фиг. 4 показан график изменения толщины покрытия во времени. На Фиг. 5 показана тарировочная кривая, построенная по этим зависимостям.
Физически сущность способа объясняется тем, что в начале процесса толщина оксидного покрытия мала, его активное сопротивление также сравнительно невелико и емкость двойного электрического слоя покрытия разряжается с малой постоянной времени (Фиг. 1). Далее, с ростом оксидной пленки, ее активное сопротивление растет и постоянная времени разряда емкости значительно увеличивается (Фиг. 2), что вызывает повышение среднего значения напряжения при постоянной амплитуде импульсов. Между указанными величинами наблюдается высокая степень корреляции (R2>0,95), что позволяет построить тарировочную кривую (Фиг. 5), которая может быть использована для определения толщины оксидного слоя в ходе процесса. Таким образом, предлагаемый способ имеет ясный физический смысл и простую реализацию, а также обладает высокой помехозащищенностью, так как измеряемые уровни напряжений имеют значительные величины и мало подвержены внешним искажениям.
Пример конкретной реализации способа.
Образцы из алюминия обрабатывали методом плазменно-электролитического оксидирования в растворе, содержащем 1 г/л КОН, 2 г/л Na4P2O7⋅10Н2О и 2 г/л Na2SiO3 при температуре 20°С в течение 45 минут в режиме импульсного напряжения с фиксированной амплитудой импульса 580 В и частотой 1 кГц. В процессе получения покрытия измеряли среднее и амплитудное значения напряжения, а толщину покрытия определяли по формуле:
Figure 00000002
где эмпирические коэффициенты
k1=80,87±0,94 мкм;
k2=51,44±0,67 мкм,
соответствующие обрабатываемому материалу и указанному составу электролита, были рассчитаны по тарировочной кривой (Фиг. 5).
После обработки толщину покрытия на образцах также измеряли вихретоковым толщиномером. Результаты приведены в таблице:
Figure 00000003
Как видно из таблицы, заявляемый способ позволяет определять толщину покрытия с разбросом, сравнимым с неравномерностью толщины покрытия по поверхности детали. Так, после 30 минут обработки толщина покрытия, измеренная вихретоковым толщиномером составила 18,1±1,4 мкм, а измеренная в соответствии с заявляемым способом - 17,6±1,2 мкм.
Итак, заявляемое изобретение позволяет измерять толщину покрытия в ходе плазменно-электролитического оксидирования вентильных металлов без вмешательства в ход технологического процесса за счет измерения напряжений, участвующих в формировании оксидного слоя.

Claims (4)

  1. Способ определения толщины покрытия, включающий измерение напряжения в процессе получения покрытия, отличающийся тем, что измеряют среднее и амплитудное значения напряжения обработки, затем находят их отношение, а толщину покрытия h определяют по формуле
  2. Figure 00000004
  3. где k1 и k2 - эмпирические коэффициенты, зависящие от природы обрабатываемого материала и состава электролита, определяемые по тарировочным кривым;
  4. Uср и Umax - среднее и амплитудное значения напряжения обработки соответственно.
RU2017142446A 2017-12-05 2017-12-05 Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования RU2668344C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017142446A RU2668344C1 (ru) 2017-12-05 2017-12-05 Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2017142446A RU2668344C1 (ru) 2017-12-05 2017-12-05 Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2668344C1 true RU2668344C1 (ru) 2018-09-28

Family

ID=63798139

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2017142446A RU2668344C1 (ru) 2017-12-05 2017-12-05 Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2668344C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2826163C1 (ru) * 2024-02-19 2024-09-05 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский университет науки и технологий" Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5485097A (en) * 1994-08-08 1996-01-16 Advanced Micro Devices, Inc. Method of electrically measuring a thin oxide thickness by tunnel voltage
RU2158897C1 (ru) * 1999-11-04 2000-11-10 Воронежская государственная технологическая академия Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения и устройство для его реализации
RU2366765C1 (ru) * 2008-10-02 2009-09-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уфимский государственный авиационный технический университет Способ определения момента окончания процесса плазменно-электролитического оксидирования
CN101975545A (zh) * 2010-09-14 2011-02-16 华南理工大学 一种检测金属表面膜层的方法及电解氧化装置
RU2435134C1 (ru) * 2010-07-15 2011-11-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" Способ определения толщины покрытия при плазменно-электролитическом оксидировании
RU2540239C1 (ru) * 2013-10-17 2015-02-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" Способ определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5485097A (en) * 1994-08-08 1996-01-16 Advanced Micro Devices, Inc. Method of electrically measuring a thin oxide thickness by tunnel voltage
RU2158897C1 (ru) * 1999-11-04 2000-11-10 Воронежская государственная технологическая академия Способ контроля толщины пленки в процессе ее нанесения и устройство для его реализации
RU2366765C1 (ru) * 2008-10-02 2009-09-10 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Уфимский государственный авиационный технический университет Способ определения момента окончания процесса плазменно-электролитического оксидирования
RU2435134C1 (ru) * 2010-07-15 2011-11-27 Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" Способ определения толщины покрытия при плазменно-электролитическом оксидировании
CN101975545A (zh) * 2010-09-14 2011-02-16 华南理工大学 一种检测金属表面膜层的方法及电解氧化装置
RU2540239C1 (ru) * 2013-10-17 2015-02-10 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Уфимский государственный авиационный технический университет" Способ определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2826163C1 (ru) * 2024-02-19 2024-09-05 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Уфимский университет науки и технологий" Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования
RU2837987C1 (ru) * 2024-12-17 2025-04-07 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Московский авиационный институт (национальный исследовательский университет)" Способ определения толщины оксидных покрытий деталей машин

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Parfenov et al. Frequency response studies for the plasma electrolytic oxidation process
CN105378492B (zh) 测量物质的电学性能的装置和方法
RU2011101550A (ru) Способ электрохимической обработки
RU2668344C1 (ru) Способ измерения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования
RU2366765C1 (ru) Способ определения момента окончания процесса плазменно-электролитического оксидирования
RU2540239C1 (ru) Способ определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования
EP2562784A3 (de) Sensoranordnung zur Charakterisierung von Plasmabeschichtungs-, Plasmaätz- und Plasmabehandlungsprozessen sowie Verfahren zur Ermittlung von Kenngrößen in diesen Prozessen
RU2692120C1 (ru) Способ определения толщины покрытия в ходе процесса плазменно-электролитического оксидирования
Parfenov et al. Methodology of data acquisition and signal processing for frequency response evaluation during plasma electrolytic surface treatments
CN104734824A (zh) 强噪声背景下混沌同步检测微弱周期信号的方法
Gurin et al. New equipment for high-accuracy laboratory measurements of spectral induced polarization of rock samples in the time-and frequency domains: testing of laboratory multifunction potentiostat-galvanostat
WO2022015266A3 (en) A measuring system
RU2119975C1 (ru) Способ определения момента окончания процесса электролитно-плазменного удаления покрытия
RU2440445C1 (ru) Способ плазменно-электролитического оксидирования металлов и сплавов
US4102771A (en) Measuring device and process for recording on electrodeposition parameters of throwing power
RU2807242C1 (ru) Способ мониторинга и управления процессом микродугового оксидирования с использованием метода акустической эмиссии
RU2240500C1 (ru) Способ измерения шероховатости поверхности
Ni et al. Interpreting impedance spectra in the time constant domain: Application to the characterization of passive films
RU2603970C1 (ru) Способ измерения концентрации ионов
Aubakirova et al. Electrochemical impedance and morphological studies into of initial stages of plasma electrolytic oxidation of magnesium alloy
RU2582886C2 (ru) Способ регистрации электронных зон заряженной поверхности твердого металла
RU2817066C1 (ru) Способ оценки толщины и пористости МДО-покрытия в электролитической ванне на основе измерения импеданса
RU2667688C2 (ru) Устройство для регистрации электропроводности жидкостей
RU2360045C1 (ru) Способ определения момента окончания процесса электролитно-плазменного удаления покрытия
US8409423B2 (en) Method for machining workpieces