[go: up one dir, main page]

RU2519094C1 - Способ эксфолиации слоистых кристаллических материалов - Google Patents

Способ эксфолиации слоистых кристаллических материалов Download PDF

Info

Publication number
RU2519094C1
RU2519094C1 RU2013105833/05A RU2013105833A RU2519094C1 RU 2519094 C1 RU2519094 C1 RU 2519094C1 RU 2013105833/05 A RU2013105833/05 A RU 2013105833/05A RU 2013105833 A RU2013105833 A RU 2013105833A RU 2519094 C1 RU2519094 C1 RU 2519094C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
exfoliation
layers
suspension
thickness
crystalline materials
Prior art date
Application number
RU2013105833/05A
Other languages
English (en)
Inventor
Валерий Иванович Орлов
Николай Николаевич Колесников
Елена Борисовна Борисенко
Дмитрий Николаевич Борисенко
Original Assignee
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН) filed Critical Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела Российской академии наук (ИФТТ РАН)
Priority to RU2013105833/05A priority Critical patent/RU2519094C1/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2519094C1 publication Critical patent/RU2519094C1/ru

Links

Images

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

Изобретение относится к нанотехнологиям. Способ включает эксфолиацию заготовок из слоистых кристаллических материалов, закрепленных с одной стороны на опоре из глипталя, с использованием клейкой ленты, глипталь по окончании эксфолиации растворяют в ацетоне, где образуется взвесь кристаллических пластин (слоев) халькогенидов металлов, которые выделяют из взвеси путем осаждения их на подложку. Изобретение позволяет получать слои наноразмерной толщины из слоистых кристаллов с возможностью последующего осаждения на различные подложки. 3 ил., 2 пр.

Description

Развитие нанотехнологий стимулирует рост научного интереса к слоям и пленкам кристаллических материалов, имеющим наноразмерную толщину. С момента получения графена механическим отслаиванием слоев графита [K.S. Novoselov,
A.K. Geim, S.V. Morozov et al. Electric field effect in Atomically thin carbon films. Science, 2004, v. 306, p.666] ведутся интенсивные разработки методов эксфолиации слоистых материалов, структурно близких к графиту, а также поиски способов переноса слоев наноразмерной толщины на различные подложки для исследования свойств и для обеспечения практических применений таких слоев. В первую очередь это относится к кристаллам халькогенидов металлов, имеющих гексагональную структуру со слабыми связями между слоями в направлении оси<0001>(GaS, GaSe, GaTe, Bi2Se3, ВiТе3).
Известны способы лазерной и термической эксфолиации GaSe и GaS [U.K. Gautam,
S. R. С.Vivekchand, A. Govindaraj et al. Generation of onions and nanotubes of GaS and GaSe through laser and thermally induced exfoliation. J. Am. Chem. Soc., 2005, v. 127, 3658-3659] - аналог. Лазерная эксфолиация происходит при обработке взвеси порошка GaSe или GaS в органической жидкости, например в толуоле, лазерным излучением с длиной волны 532 нм. Термическая эксфолиация производится за счет нагрева порошков до 900°С в замкнутом объеме. Однако эти методы предназначены для получения нанотрубок и т.наз. «луковичных» наноструктур и технически не позволяют приготавливать слои наноразмерной толщины с последующим переносом их на подложки.
Известен способ механической эксфолиации графитовой заготовки, закрепленной с одной стороны на опоре из оптоволокна, с получением графена на поверхности оптоволокна [S.Y. Won. Method for manufacturing pulsed laser using graphene prepared by mechanical exfoliation. Application number KR 20100090781 20100915, 2012] - прототип. Метод состоит в том, что заготовку графита закрепляют с одной стороны на оптоволокне путем вдавливания оптоволокна в графит, а затем производят механическую эксфолиацию графита с противоположной стороны графитовой заготовки с помощью клейкой ленты. Так можно получать графеновые слои непосредственно на поверхности оптоволокна, но способ не позволяет переносить их на другие подложки.
Задачей данного изобретения является получение слоев наноразмерной толщины из слоистых кристаллов с возможностью последующего осаждения слоев на различные подложки.
Поставленная задача решается путем механической эксфолиации заготовок из слоистых кристаллов, закрепленных с одной стороны на опоре, с использованием клейкой ленты. При этом заготовка закрепляется на опоре из глипталя, а по окончании эксфолиации глипталь растворяется в ацетоне с образованием взвеси кристаллических слоев наноразмерной толщины, после чего слои выделяются из взвеси путем осаждения их на требуемую подложку.
Для удобства проведения процесса глипталь может быть нанесен тонким слоем на произвольное основание, например на полированное кварцевое стекло.
Предлагаемый способ эксфолиации позволяет получать слои наноразмерной толщины и переносить полученные слои на любую требуемую подложку.
Пример 1.
Монокристалл GaSe механически раскалывают по плоскости спайности (0001). Затем кристалл снова скалывают параллельно уже полученному сколу так, чтобы образовалась заготовка толщиной примерно 0,1 мм. Заготовку плотно прижимают к глипталю при температуре 60°С, затем охлаждают вместе с глипталем до комнатной температуры, после чего производят эксфолиацию со второй стороны заготовки при помощи клейкой ленты («скотча») на полимерной основе. Удаление GaSe клейкой лентой проводят до тех пор, пока селенид галлия продолжает отслаиваться. По окончании этого процесса на глиптале остаются тонкие, преимущественно наноразмерной толщины, пленки GaSe, которые уже не отслаиваются механически при помощи «скотча». Глипталь растворяют в ацетоне, что приводит к образованию взвеси кристаллических слоев наноразмерной толщины, т.к. слои большей толщины быстро оседают на дно. Слои выделяют из взвеси путем осаждения их на подложки из монокристаллического кремния. Получены слои GaSe наноразмерной толщины (примерно 10 нм) на кремниевых подложках. Такой слой показан на Фиг.1, где представлена оптическая микрофотография (поле зрения 635 мкм по горизонтали и 458 мкм по вертикали) слоя GaSe толщиной примерно 10 нм на подложке из монокристаллического кремния. На фотографии Фиг.1 свободная от GaSe поверхность подложки выглядит как темный фон.
Пример 2.
Монокристалл GaS механически раскалывают по плоскости спайности (0001). Затем кристалл снова скалывают параллельно уже полученному сколу так, чтобы образовалась заготовка толщиной примерно 0,2 мм. Заготовку плотно прижимают к глипталю при температуре 50°С, затем охлаждают вместе с глипталем до комнатной температуры, после чего производят эксфолиацию со второй стороны заготовки при помощи клейкой ленты («скотча») на полимерной основе. Удаление GaS клейкой лентой проводят до тех пор, пока сульфид галлия продолжает отслаиваться, затем глипталь, на поверхности которого остались тонкие, преимущественно наноразмерной толщины, слои сульфида галлия, растворяют в ацетоне, что приводит к образованию взвеси кристаллических слоев наноразмерной толщины. Слои выделяют из взвеси путем осаждения их на подложки из монокристаллического кремния, пассивированого окислением. Получены слои GaS наноразмерной толщины (около 15 нм) на окисленных кремниевых подложках. Такой слой показан на Фиг.2, где представлена оптическая микрофотография (поле зрения 635 мкм по горизонтали и 458 мкм по вертикали) слоя GaS толщиной около 15 нм на подложке из окисленного монокристаллического кремния. Поверх пластинки GaS (поз.1 на Фиг.2) нанолитографически нанесены золотые контакты (поз.2 на Фиг.2 обозначен один из 24 контактов), что позволяет измерять электрические характеристики нанослоя GaS. На Фиг.3 представлены результаты измерения толщины слоя GaS вблизи нанесенного контакта с помощью атомно-силовой микроскопии (по оси абсцисс показано расстояние в микронах, пройденное зондом микроскола, по оси ординат - высота в нм относительно плоскости подложки). Толщина слоя GaS без контакта - около 15 нм, толщина слоя сульфида галлия с контактом - примерно 24-25 нм.

Claims (1)

  1. Способ эксфолиации слоистых кристаллических материалов с использованием клейкой ленты, включающий эксфолиацию заготовок из слоистых кристаллических материалов, закрепленных с одной стороны на опоре, отличающийся тем, что в качестве опоры используется глипталь, который по окончании эксфолиации растворяют в ацетоне, где образуется взвесь кристаллических пластин наноразмерной толщины халькогенидов металлов, затем осаждаемых на подложку.
RU2013105833/05A 2013-02-12 2013-02-12 Способ эксфолиации слоистых кристаллических материалов RU2519094C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013105833/05A RU2519094C1 (ru) 2013-02-12 2013-02-12 Способ эксфолиации слоистых кристаллических материалов

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2013105833/05A RU2519094C1 (ru) 2013-02-12 2013-02-12 Способ эксфолиации слоистых кристаллических материалов

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2519094C1 true RU2519094C1 (ru) 2014-06-10

Family

ID=51216590

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2013105833/05A RU2519094C1 (ru) 2013-02-12 2013-02-12 Способ эксфолиации слоистых кристаллических материалов

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2519094C1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2768954C1 (ru) * 2021-06-09 2022-03-25 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна Российской академии наук (ИФТТ РАН) Способ получения сульфида галлия (II)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1655633A2 (en) * 1996-08-27 2006-05-10 Seiko Epson Corporation Exfoliating method, transferring method of thin film device, and thin film device, thin film integrated circuit device, and liquid crystal display device produced by the same
RU2443728C2 (ru) * 2010-05-24 2012-02-27 Учреждение Российской Академии Наук Ордена Трудового Красного Знамени Институт Нефтехимического Синтеза Им. А.В. Топчиева Ран (Инхс Ран) Способ получения эксфолиированного нанокомпозита
US20120132357A1 (en) * 2008-06-12 2012-05-31 Samsung Electronics Co., Ltd. Method for exfoliating carbonization catalyst from graphene sheet, method for transferring graphene sheet from which carbonization catalyst is exfoliated to device, graphene sheet and device using the graphene sheet
KR101146560B1 (ko) * 2010-09-15 2012-07-11 한국과학기술연구원 기계적 박리로 제조된 그래핀을 이용하여 펄스 레이저를 제조하는 방법 및 그 펄스 레이저

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1655633A2 (en) * 1996-08-27 2006-05-10 Seiko Epson Corporation Exfoliating method, transferring method of thin film device, and thin film device, thin film integrated circuit device, and liquid crystal display device produced by the same
US20120132357A1 (en) * 2008-06-12 2012-05-31 Samsung Electronics Co., Ltd. Method for exfoliating carbonization catalyst from graphene sheet, method for transferring graphene sheet from which carbonization catalyst is exfoliated to device, graphene sheet and device using the graphene sheet
RU2443728C2 (ru) * 2010-05-24 2012-02-27 Учреждение Российской Академии Наук Ордена Трудового Красного Знамени Институт Нефтехимического Синтеза Им. А.В. Топчиева Ран (Инхс Ран) Способ получения эксфолиированного нанокомпозита
KR101146560B1 (ko) * 2010-09-15 2012-07-11 한국과학기술연구원 기계적 박리로 제조된 그래핀을 이용하여 펄스 레이저를 제조하는 방법 및 그 펄스 레이저

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
GAUTAM U K et al, Generation of onions and nanotubes of GaS and GaSe through laser and thermally induced exfoliation, "J. Am. Chem. Soc.", 2005, vol.127, p.p.3658-3659 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2768954C1 (ru) * 2021-06-09 2022-03-25 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физики твердого тела имени Ю.А. Осипьяна Российской академии наук (ИФТТ РАН) Способ получения сульфида галлия (II)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Li et al. Recent progress on the mechanical exfoliation of 2D transition metal dichalcogenides
Roy et al. Structure, properties and applications of two‐dimensional hexagonal boron nitride
Nie et al. Ultrafast growth of large-area monolayer MoS2 film via gold foil assistant CVD for a highly sensitive photodetector
Ni et al. Tunable stress and controlled thickness modification in graphene by annealing
Gan et al. Turning off hydrogen to realize seeded growth of subcentimeter single-crystal graphene grains on copper
Xia et al. CVD synthesis of large-area, highly crystalline MoSe 2 atomic layers on diverse substrates and application to photodetectors
Zhang et al. Shape-uniform, high-quality monolayered MoS2 crystals for gate-tunable photoluminescence
Sheng et al. Photoluminescence segmentation within individual hexagonal monolayer tungsten disulfide domains grown by chemical vapor deposition
Huang et al. An efficient route to prepare suspended monolayer for feasible optical and electronic characterizations of two‐dimensional materials
Wang et al. High-fidelity transfer of chemical vapor deposition grown 2D transition metal dichalcogenides via substrate decoupling and polymer/small molecule composite
Uralov et al. Analysis of graphene properties, production and application
Lu et al. Anomalous temperature-dependent Raman scattering of vapor-deposited two-dimensional Bi thin films
Nayak et al. Layer-dependent optical conductivity in atomic thin WS2 by reflection contrast spectroscopy
CN104233214A (zh) 一种二硒化铂晶体材料及其制备方法
Xue et al. High-temperature in situ investigation of chemical vapor deposition to reveal growth mechanisms of monolayer molybdenum disulfide
Juvaid et al. Direct growth of wafer-scale, transparent, p-type reduced-graphene-oxide-like thin films by pulsed laser deposition
Kanidi et al. Surface-enhanced Raman spectroscopy of graphene integrated in plasmonic silicon platforms with three-dimensional nanotopography
Zhou et al. Onion-structured spherical MoS2 nanoparticles induced by laser ablation in water and liquid droplets’ radial solidification/oriented growth mechanism
Gao et al. Layer-by-layer removal of insulating few-layer mica flakes for asymmetric ultra-thin nanopore fabrication
Jelken et al. The hidden flower in WS2 flakes: a combined nanomechanical and tip-enhanced Raman exploration
Pan et al. Ultrafast ion sputtering modulation of two-dimensional substrate for highly sensitive Raman detection
Safeer et al. Etching-free transfer and nanoimaging of CVD-grown MoS2 monolayers
RU2519094C1 (ru) Способ эксфолиации слоистых кристаллических материалов
Chang et al. Patterns of solution-processed graphene oxide produced by a transfer printing method
Patra et al. Advanced synthesis and unique properties of 2D transition metal dichalcogenides for realizing next-generation applications