RU2584066C1 - Device for energy-dispersive x-ray fluorescence analysis based on secondary emitters - Google Patents
Device for energy-dispersive x-ray fluorescence analysis based on secondary emitters Download PDFInfo
- Publication number
- RU2584066C1 RU2584066C1 RU2014151533/28A RU2014151533A RU2584066C1 RU 2584066 C1 RU2584066 C1 RU 2584066C1 RU 2014151533/28 A RU2014151533/28 A RU 2014151533/28A RU 2014151533 A RU2014151533 A RU 2014151533A RU 2584066 C1 RU2584066 C1 RU 2584066C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- radiation
- ray
- collimator
- sample
- emitters
- Prior art date
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Description
Изобретение относится к области аналитической химии и технической физики, а также к областям науки и техники, где применяется анализ объектов и потоков материалов, состоящих из малых содержаний ценного элемента или вредной примеси и высоких содержаний мешающего элемента, атомный номер которого Ζ на 1-5 единицы меньше атомного номера контролируемого элемента.The invention relates to the field of analytical chemistry and technical physics, as well as to the fields of science and technology, where the analysis of objects and flows of materials consisting of small contents of a valuable element or harmful impurity and high contents of an interfering element, the atomic number of which is 1-5 units, is applied less than the atomic number of the element being controlled.
Типичными примерами таких задач служит, например, анализ и контроль состава руд и хвостов обогащения цветных металлов на ленте транспортера или в вагонетках, содержание в которых Cu или Ni составляет десятые доли процента, а содержание мешающего элемента (Fe) доходит до десятков процентов. Другим характерным примером может быть сортировка лома и изделий из углеродистых и низколегированных сталей, отличающихся по содержанию никеля (<0.3 и 0.5-1.5%). Еще одним примером использования предложенного способа и устройства может служить обнаружение примесей с более высоким Ζ в высокочистых элементах и их соединениях. Трудности рентгенофлуоресцентного аналитического контроля подобных объектов с помощью анализаторов на основе полупроводниковых детекторов (ППД) высокого разрешения заключаются в перегрузке счетного тракта системы детектирования флуоресцентным излучением мешающего элемента. Так, например, при экспресс-анализе на ленте транспортера руд или изделий из сталей суммарная интенсивность линий железа может на 2 порядка и более превосходить интенсивность аналитической линии никеля. При этом для того, чтобы набрать за время прохождения контролируемым объектом зоны облучения нескольких тысяч импульсов линии Ni, обеспечивающих приемлемую статистическую погрешность, суммарная загрузка счетного тракта должна доходить до 106 имп/с.Typical examples of such tasks are, for example, analysis and control of the composition of ores and tailings of non-ferrous metal processing on a conveyor belt or in trolleys, the content of which is Cu or Ni, in tenths of a percent, and the content of the interfering element (Fe) reaches tens of percent. Another typical example is the sorting of scrap and products from carbon and low alloy steels that differ in nickel content (<0.3 and 0.5-1.5%). Another example of the use of the proposed method and device can be the detection of impurities with a higher Ζ in high-purity elements and their compounds. The difficulties of X-ray fluorescence analytical control of such objects using analyzers based on high-resolution semiconductor detectors (PDDs) are overloading the counting path of the system for detecting the interfering element with fluorescent radiation. So, for example, during express analysis on the conveyor belt of ores or steel products, the total intensity of iron lines can be 2 orders of magnitude or more higher than the intensity of the nickel analytical line. At the same time, in order to collect several thousand pulses of the Ni line during the passage of the irradiation zone by the controlled object, providing an acceptable statistical error, the total load of the counting path should reach 10 6 imp / s.
Такие высокие необходимые скорости счета исключают возможность применения рентгенофлуоресцентных сепараторов на основе ППД, выпускаемых, например, фирмой RADOS [1], являющихся аналогами предлагаемого изобретения.Such high necessary count rates exclude the possibility of using X-ray fluorescence separators based on PPD, produced, for example, by RADOS [1], which are analogues of the present invention.
Прототипом предлагаемого изобретения является патент [2] на энергодисперсионный рентгеновский спектрометр на основе ППД, включающий устройство подачи образцов, источники возбуждающего как первичного излучения, так и вторичные излучатели, представляющие собой мишени из различных химических элементов, возбуждаемых источником первичного излучения, и систему управления, обеспечивающую как обработку информации, так и поочередное облучение анализируемых образцов по заданной программе требуемыми источниками возбуждения.The prototype of the invention is a patent [2] for a PDD-based energy dispersive X-ray spectrometer, including a sample supply device, sources of exciting both primary radiation and secondary emitters, which are targets from various chemical elements excited by the primary radiation source, and a control system that provides both information processing and sequential irradiation of the analyzed samples according to a given program with the required excitation sources.
Таким образом, за счет выбора оптимального источника возбуждения прототип позволяет оптимизировать условия возбуждения для каждого из определяемых элементов.Thus, by choosing the optimal source of excitation, the prototype allows you to optimize the excitation conditions for each of the determined elements.
Основным недостатком прототипа, как и аналогов, является использование в нем ППД, перегрузка счетного тракта которых флуоресценцией мешающих элементов с меньшим атомным номером может затруднить надежное определение контролируемых примесей.The main disadvantage of the prototype, as well as analogues, is the use of PPD in it, overloading the counting path of which by fluorescence of interfering elements with a lower atomic number can complicate the reliable determination of controlled impurities.
Цель настоящего изобретения заключается в обеспечении высокого энергетического разрешения при замене ППД, с допустимой скоростью счета, не превышающей 5×104-1×105 имп/с, используемого в аналогах и прототипе, значительно более дешевым и надежным сцинтилляционным счетчиком с допустимой скоростью счета порядка 1×106 имп/с, что, кроме повышения экспрессности анализа, позволяет реализовать экспресс-контроль состава материала и его сепарацию на ленте транспортера или в свободном падении.The purpose of the present invention is to provide high energy resolution when replacing the PDP, with a permissible count rate not exceeding 5 × 10 4 -1 × 10 5 pulse / s, used in analogs and prototype, significantly cheaper and more reliable scintillation counter with an acceptable count rate about 1 × 10 6 pulses / s, which, in addition to increasing the expressness of analysis, allows you to implement express control of the composition of the material and its separation on the conveyor belt or in free fall.
Поставленная цель достигается тем, при анализе объекта с малым содержанием контролируемой примеси в основном материале с атомным номером на 1-5 единиц меньшим атомного номера контролируемой примеси исследуемый объект поочередно облучают флуоресцентным излучением 2-х вторичных излучателей (мишеней), выбранных таким образом, чтобы энергии характеристического излучение обоих излучателей лежало по обе стороны потенциала возбуждения контролируемой примеси и выше потенциала возбуждения основного компонента.This goal is achieved by the analysis of an object with a low content of controlled impurities in the main material with an atomic number 1-5 units lower than the atomic number of the controlled impurities, the studied object is alternately irradiated with fluorescent radiation of 2 secondary emitters (targets) selected in such a way that the energy the characteristic radiation of both emitters lay on both sides of the excitation potential of the controlled impurity and above the excitation potential of the main component.
На фиг. 1 проиллюстрирован пример выбора вторичных излучателей при определении малых содержаний никеля в железном ломе. Потенциал возбуждения К-серии железа (1) составляет 7.113 кэВ, и вторичные излучатели никель (3) с энергией Кα-линии 7.4720 кэВ и цинк (4) с энергией Кα-линии 8.6307 кэВ возбуждают флуоресценцию железа; потенциал возбуждения К-серии никеля (2) составляет 8.3328 кэВ, и вторичный излучатель никель (3) не возбуждает флуоресценцию никеля, а цинк (4) возбуждают флуоресценцию никеля.In FIG. 1 illustrates an example of the choice of secondary emitters in the determination of low nickel contents in scrap iron. The excitation potential of the K-series of iron (1) is 7.113 keV, and secondary emitters nickel (3) with an energy of the Kα line of 7.4720 keV and zinc (4) with an energy of the Kα line of 8.6307 keV excite iron fluorescence; The excitation potential of the nickel K-series (2) is 8.3328 keV, and the secondary emitter nickel (3) does not excite nickel fluorescence, and zinc (4) excite nickel fluorescence.
При этом в выходном сигнале детектора появляется переменная составляющая, частота которой равна частоте смены излучателей, а амплитуда непосредственно связана с концентрацией контролируемой примеси (никеля).In this case, an alternating component appears in the output signal of the detector, the frequency of which is equal to the frequency of the change of emitters, and the amplitude is directly related to the concentration of the controlled impurity (nickel).
Устройство, реализующее заявленный способ, представляет собой рентгенофлуоресцентный анализатор-сепаратор, включающий рентгеновскую трубку, возбуждающую через коллиматор расположенные на вращающемся устройстве чередующиеся полосы вторичных мишеней, отвечающих указанным требованиям.A device that implements the claimed method is an X-ray fluorescence analyzer-separator, including an X-ray tube, exciting through the collimator alternating strips of secondary targets located on a rotating device that meet the specified requirements.
При наличии в образце контролируемого компонента или примеси в попеременно возбуждаемой характеристическим излучением вторичных мишеней рентгеновской флуоресценции образца появляется переменная составляющая, регистрируемая сцинтилляционным детектором и поступающая на вход узкополосного усилителя. Выход усилителя может осуществляться на индикатор, регистрирующий среднее содержание за заданное время, самописец, или, при использовании предлагаемого устройства для сепарации, на исполнительный механизм.In the presence of a controlled component or impurity in the sample in the secondary X-ray fluorescence of the sample alternately excited by characteristic radiation of the sample, a variable component appears, recorded by a scintillation detector and fed to the input of a narrow-band amplifier. The output of the amplifier can be carried out on the indicator, recording the average content for a given time, the recorder, or, when using the proposed device for separation, on the actuator.
Выявленные отличительные признаки в предложенном решении, а также их взаимосвязь не обнаружены в известных в науке и технике решениях по дату подачи заявки, следовательно, заявленное техническое решение соответствует критерию "существенные отличия".Identified distinguishing features in the proposed solution, as well as their relationship were not found in the solutions known in science and technology by the filing date of the application, therefore, the claimed technical solution meets the criterion of "significant differences".
На фиг. 2 приведена принципиальная схема рентгеновского анализатора.In FIG. 2 is a schematic diagram of an x-ray analyzer.
Анализатор, приведенный на фиг. 2, включает острофокусную рентгеновскую трубку (1), коллиматор излучения рентгеновской трубки (2), вторичные излучатели с четным числом n чередующихся полос (3), электромотор (4), коллиматор излучения вторичных излучателей (5), устройство подачи контролируемого материала (6), кювету или транспортер с образцом (7), коллиматор флуоресцентного излучения образца (8), работающий в токовом режиме сцинтилляционный детектор (9), балластное сопротивление (10), разделительный конденсатор (11), узкополосный усилитель (12) и индикатор, самописец или исполнительный механизм (13).The analyzer shown in FIG. 2 includes a sharp-focus x-ray tube (1), an x-ray tube collimator (2), secondary emitters with an even number n of alternating bands (3), an electric motor (4), a secondary emitter radiation collimator (5), a controlled material supply device (6) , a cuvette or a conveyor with a sample (7), a fluorescent radiation collimator of a sample (8), a current-operating scintillation detector (9), a ballast resistance (10), a separation capacitor (11), a narrow-band amplifier (12) and an indicator, recorder or executive mechanism (13).
Работа анализатора осуществляется следующим образом.The analyzer is as follows.
Острофокусная рентгеновская трубка (1) через коллиматор (2) возбуждает характеристическое излучение четного числа n чередующихся вторичных излучателей (3). Электромотор (4) с постоянной скоростью ν оборотов в секунду вращает устройство с вторичными излучателями. Устройство подачи (6) подает под облучение в кювету или на транспортер (7) контролируемый материал. Таким образом, достигается поочередное облучение исследуемого материала через коллиматор излучения вторичных излучателей (5) с частотой nν/2 герц характеристическим излучением элементов, возбуждающим основной элемент объекта и расположенным по обе стороны скачка поглощения контролируемой примеси. На образце, состоящем из чистого мешающего элемента (основной элемент контролируемого материала), можно уравнять интенсивность его флуоресценции при возбуждении излучением обоих вторичных мишеней установкой соответствующего анодного напряжения рентгеновской трубки или нанесением на поверхность более эффективного излучателя фильтрующего слоя. Через коллиматор флуоресцентного излучения образца (8) излучение попадает на работающий в токовом режиме сцинтилляционный детектор (9). При этом на выходе работающего в токовом режиме сцинтилляционного детектора (9), регистрирующего вторичное излучение образца, возникает постоянный сигнал. При наличии контролируемого компонента на постоянный сигнал налагается переменная компонента сигнала с амплитудой, пропорциональной содержанию этого компонента, и частотой, равной частоте смены излучателей (3). Эта компонента, выделенная разделительным конденсатором (11), который не пропускает постоянную составляющую, которая через балластное сопротивление (10) стекает на землю, и переменная составляющая поступает на узкополосный усилитель (12) и далее на индикатор, самописец или исполнительный механизм (13).The sharp-focus X-ray tube (1) through the collimator (2) excites the characteristic radiation of an even number n of alternating secondary emitters (3). An electric motor (4) with a constant speed ν revolutions per second rotates the device with secondary emitters. The feeding device (6) delivers the controlled material to the cuvette or conveyor (7) under irradiation. Thus, alternating irradiation of the test material through the secondary emitter collimator (5) with a frequency of nν / 2 hertz by the characteristic radiation of the elements exciting the main element of the object and located on both sides of the absorption jump of the controlled impurity is achieved. On a sample consisting of a pure interfering element (the main element of the controlled material), it is possible to equalize the intensity of its fluorescence when excited by the radiation of both secondary targets by setting the corresponding anode voltage of the x-ray tube or by applying a more efficient filtering layer emitter to the surface. Through the fluorescent radiation collimator of the sample (8), the radiation enters the scintillation detector operating in the current mode (9). At the same time, at the output of the scintillation detector operating in the current mode (9), which registers the secondary radiation of the sample, a constant signal arises. In the presence of a controlled component, a variable signal component is superimposed on a constant signal with an amplitude proportional to the content of this component and a frequency equal to the emitter change frequency (3). This component, isolated by a separation capacitor (11), which does not pass a constant component, which flows through the ballast resistance (10) to the ground, and the variable component is fed to a narrow-band amplifier (12) and then to an indicator, recorder or actuator (13).
В качестве примера ниже приведены параметры, полученные с предложенным изобретением при разбраковке изделий из низколегированной стали с содержанием никеля 1% и облучаемой поверхности 100 см2. Параметры анализатора:As an example, below are the parameters obtained with the proposed invention when sorting products from low alloy steel with a nickel content of 1% and an irradiated surface of 100 cm 2 . Analyzer Parameters:
Рентгеновская трубка (1) прострельного типа БХ-7 с W анодом при анодной мощности 10 Вт. Вторичные излучатели (3)- Zn и Ni.X-ray tube (1) of the cross-sectional type BH-7 with a W anode at an anode power of 10 watts. Secondary emitters (3) - Zn and Ni.
Телесный угол излучения, пропускаемый коллиматором (2) - Ω1=0.643 ср.The solid angle of radiation transmitted by the collimator (2) is Ω 1 = 0.643 sr.
Размеры устройства с вторичными излучателями: диаметр - 40 мм, длина - 30 мм.Dimensions of the device with secondary emitters: diameter - 40 mm, length - 30 mm.
Расстояние от фокуса рентгеновской трубки до излучателей - 10 мм.The distance from the focus of the x-ray tube to the emitters is 10 mm.
Скорость вращения устройства с излучателями - ν=100 с-1.The rotation speed of the device with emitters is ν = 100 s -1 .
Число вторичных излучателей - n=10The number of secondary emitters - n = 10
Средние углы падения излучения трубки на мишень и отбора с мишени -φ=40°, ψ=60°.The average angles of incidence of the tube radiation on the target and selection from the target are -φ = 40 °, ψ = 60 °.
Площадь образца - 100 см2.The area of the sample is 100 cm 2 .
Телесный угол излучения мишеней, попадающих на образец через коллиматор (5) Ω2=0.32 ср.The solid angle of radiation of targets incident on the sample through the collimator (5) Ω 2 = 0.32 sr.
Расстояние от вторичных излучателей до центра образца - 10 см.The distance from the secondary emitters to the center of the sample is 10 cm.
Размеры кристалла-сцинтиллятора детектора - диаметр 40 мм.The dimensions of the crystal-scintillator of the detector are 40 mm in diameter.
Расстояние от центра образца до центра кристалла-сцинтиллятора - 10 см.The distance from the center of the sample to the center of the scintillator crystal is 10 cm.
Телесный угол отбора излучения образца сцинтилляционным счетчиком через коллиматор (8) - Ω3=0.04 ср.The solid angle of sampling the radiation of the sample by a scintillation counter through the collimator (8) - Ω 3 = 0.04 sr.
Суммарная светосила анализатора Ω=Ω1×Ω2×Ω3=0.008 ср.The total aperture ratio of the analyzer is Ω = Ω 1 × Ω 2 × Ω 3 = 0.008 sr.
Скорость счета от образца железа армко одинакова для обоих излучателей при анодном напряжении 28.53 кВ и равна 1.100×106 имп/с.The counting speed from the Armco iron sample is the same for both emitters at an anode voltage of 28.53 kV and is equal to 1.100 × 10 6 pulses / s.
При том же анодном напряжении для никеля в стали разность скоростей счета цинкового и никелевого излучателей составляет около 104 имп/с на 1%, т.е. переменная составляющая сигнала детектора в токовом режиме, поступающая на вход узкополосного усилителя, примерно соответствует концентрации контролируемого элемента.At the same anode voltage for nickel in steel, the difference in count rates of zinc and nickel emitters is about 10 4 imp / s per 1%, i.e. the variable component of the detector signal in the current mode, supplied to the input of a narrow-band amplifier, approximately corresponds to the concentration of the element under control.
Как показывают приведенные данные, технико-экономическая эффективность заявленного изобретения заключается в возможности высокоточного рентгенофлуоресцентного определения малых содержаний ценного элемента или вредной примеси на рентгеновских спектрометрах при проведении анализа объектов или потоков материалов, содержащих высокие содержания мешающего элемента, атомный номер которого Ζ на 1-5 единицы меньше атомного номера контролируемого ценного элемента или вредной примеси.As the above data show, the technical and economic efficiency of the claimed invention lies in the possibility of high-precision X-ray fluorescence determination of small contents of a valuable element or harmful impurity on X-ray spectrometers when analyzing objects or flows of materials containing high contents of an interfering element, the atomic number of which is 1-5 units less than the atomic number of the monitored valuable element or harmful impurity.
Снижение стоимости применяемого оборудования осуществляется за счет замены ППД с допустимой скоростью счета, не превышающей 5×104-1×105 имп/с, используемого в аналогах и прототипе, на значительно более дешевый и надежный сцинтилляционный счетчик с допустимой скоростью счета порядка 1×106 имп/с, что, кроме снижения стоимости применяемого оборудования, позволяет повысить экспрессность анализа и позволяет реализовать экспресс-контроль состава материала и его сепарацию на ленте транспортера или в свободном падении.The cost of the equipment used is reduced by replacing the PDP with an allowable count rate not exceeding 5 × 10 4 -1 × 10 5 imp / s, used in the analogues and prototype, with a much cheaper and more reliable scintillation counter with an allowable count rate of about 1 × 10 6 imp / s, which, in addition to reducing the cost of the equipment used, allows you to increase the expressness of analysis and allows you to implement express control of the composition of the material and its separation on the conveyor belt or in free fall.
Источники информацииInformation sources
1. Рентгенорадиометрические сепараторы для покусковой сортировки руд полезных ископаемых и техногенного сырья, (СРФ). [Электронный ресурс]: http://www.rados.ru/equipment (дата обращения август 2014).1. X-ray radiometric separators for piecewise sorting of mineral ores and industrial raw materials, (SRF). [Electronic resource]: http://www.rados.ru/equipment (accessed August 2014).
2. CN 102128848 A. Energy dispersion X ray fluorescence spectrometer / ZHAOGUI LIU; BO ZHANG. Priority: 15.01.2010 CN 201010004423; publication 20.07.2011.2. CN 102128848 A. Energy dispersion X ray fluorescence spectrometer / ZHAOGUI LIU; BO ZHANG. Priority: 01/15/2010 CN 201010004423; publication 07/20/2011.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2014151533/28A RU2584066C1 (en) | 2014-12-18 | 2014-12-18 | Device for energy-dispersive x-ray fluorescence analysis based on secondary emitters |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2014151533/28A RU2584066C1 (en) | 2014-12-18 | 2014-12-18 | Device for energy-dispersive x-ray fluorescence analysis based on secondary emitters |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2584066C1 true RU2584066C1 (en) | 2016-05-20 |
Family
ID=56011955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2014151533/28A RU2584066C1 (en) | 2014-12-18 | 2014-12-18 | Device for energy-dispersive x-ray fluorescence analysis based on secondary emitters |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2584066C1 (en) |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2001023873A1 (en) * | 1999-09-29 | 2001-04-05 | Jordan Valley Applied Radiation Ltd. | X-ray microanalyzer for thin films |
| RU2199112C2 (en) * | 1997-06-26 | 2003-02-20 | Меторекс Интернешнел Ой | X-ray-fluorescent measurement plant using polarized exciting radiation and x-ray tube |
| JP2005321246A (en) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Shimadzu Corp | Polycapillary lens |
| CN102128848A (en) * | 2010-01-15 | 2011-07-20 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | Energy dispersion X ray fluorescence spectrometer |
| RU2486626C2 (en) * | 2010-04-29 | 2013-06-27 | ЗАО "Нанотехнологии и инновации" | Low-divergence radiation flux former |
-
2014
- 2014-12-18 RU RU2014151533/28A patent/RU2584066C1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2199112C2 (en) * | 1997-06-26 | 2003-02-20 | Меторекс Интернешнел Ой | X-ray-fluorescent measurement plant using polarized exciting radiation and x-ray tube |
| WO2001023873A1 (en) * | 1999-09-29 | 2001-04-05 | Jordan Valley Applied Radiation Ltd. | X-ray microanalyzer for thin films |
| JP2005321246A (en) * | 2004-05-07 | 2005-11-17 | Shimadzu Corp | Polycapillary lens |
| CN102128848A (en) * | 2010-01-15 | 2011-07-20 | 江苏天瑞仪器股份有限公司 | Energy dispersion X ray fluorescence spectrometer |
| RU2486626C2 (en) * | 2010-04-29 | 2013-06-27 | ЗАО "Нанотехнологии и инновации" | Low-divergence radiation flux former |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Szlachetko et al. | Communication: The electronic structure of matter probed with a single femtosecond hard x-ray pulse | |
| Sittner et al. | Spectral X‐ray computed micro tomography: 3‐dimensional chemical imaging | |
| Janssens | X‐Ray Fluorescence Analysis | |
| WO2006049051A1 (en) | Fluorescent x-ray analy sis device | |
| Nakai et al. | Use of highly energetic (116 keV) synchrotron radiation for X-ray fluorescence analysis of trace rare-earth and heavy elements | |
| EP3318339B1 (en) | Device and method for sorting aluminium scrap | |
| Heckel et al. | Multi‐element trace analysis of rocks and soils by EDXRF using polarized radiation | |
| US9070530B2 (en) | X-ray tube and X-ray fluorescence analyser utilizing selective excitation radiation | |
| RU2584066C1 (en) | Device for energy-dispersive x-ray fluorescence analysis based on secondary emitters | |
| Durocher et al. | PIXE and micro-PIXE analysis of minerals at Ep= 40 MeV | |
| Budak et al. | X-ray fluorescence analysis of malachite ore concentrates in the Narman region | |
| Marguí et al. | XRF spectrometry for trace element analysis of vegetation samples | |
| KR102708332B1 (en) | Scrap iron separation system using XRF | |
| Ghosh et al. | Determination of impurities in graphite using synchrotron radiation based X-ray fluorescence spectrometry | |
| Dittrich et al. | Analysis of trace metal particulates in atmospheric samples using x-ray fluorescence | |
| Ide-Ektessabi et al. | Chemical state imaging of iron in nerve cells from a patient with Parkinsonism-dementia complex | |
| Han et al. | Alloying effect on K to L shell vacancy transfer probabilities in 3d transition metals | |
| Jenkins | X-ray fluorescence analysis | |
| RU2614318C1 (en) | X-ray analyzer of gold and heavy elements | |
| Brown | X-ray fluorescence analysis. A review | |
| Redus et al. | Combining CdTe and Si detectors for energy‐dispersive X‐ray fluorescence | |
| Sokaras et al. | Proton induced quasi-monochromatic x-ray beams for soft x-ray spectroscopy studies and selective x-ray fluorescence analysis | |
| RU77973U1 (en) | ENERGY-DISPERSION X-RAY FLUORESCENT ANALYZER | |
| RU2536084C1 (en) | Method for x-ray spectrum separation at lump-by-lump supply of separated material, and device for its implementation | |
| Reuter et al. | Metal analysis in biological material by energy dispersive X-ray fluorescence spectroscopy |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20171219 |