RU2574420C1 - Method and device for fault detection by eddy currents - Google Patents
Method and device for fault detection by eddy currents Download PDFInfo
- Publication number
- RU2574420C1 RU2574420C1 RU2014137927/28A RU2014137927A RU2574420C1 RU 2574420 C1 RU2574420 C1 RU 2574420C1 RU 2014137927/28 A RU2014137927/28 A RU 2014137927/28A RU 2014137927 A RU2014137927 A RU 2014137927A RU 2574420 C1 RU2574420 C1 RU 2574420C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- coil
- control means
- voltage
- eddy currents
- voltage applied
- Prior art date
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 55
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 114
- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 claims abstract description 87
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims abstract description 57
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims abstract description 23
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 claims description 14
- 230000005611 electricity Effects 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 7
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 7
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 6
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 5
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 4
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001200 Ferrotitanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
Images
Abstract
Description
ОБЛАСТЬ ТЕХНИКИFIELD OF TECHNOLOGY
[0001] Настоящее изобретение предлагает способ и устройство для обнаружения дефектов посредством вихревых токов, в частности способ и устройство для обнаружения дефектов посредством вихревых токов с использованием устройства на основе эффекта магнитного импеданса.[0001] The present invention provides a method and apparatus for detecting defects by eddy currents, in particular a method and apparatus for detecting defects by eddy currents using a device based on the effect of magnetic impedance.
ПРЕДШЕСТВУЮЩИЙ УРОВЕНЬ ТЕХНИКИBACKGROUND OF THE INVENTION
[0002] Традиционно, обнаружение дефектов посредством вихревых токов с использованием магнитного датчика выполняется для обнаружения дефектов, присутствующих в объеме и на поверхностях исследуемого объекта, такого как электрический проводник, например металлический материал. Примеры такого магнитного датчика, используемого при обнаружении дефектов посредством вихревых токов, включают в себя датчик неоднородностей магнитного поля, датчик гигантского магнитного сопротивления (датчик GMR) и датчик магнитного импеданса (далее называется «датчик MI»). Среди этих примеров датчик магнитного импеданса имеет особенно высокую чувствительность. Таким образом, оказывается возможным обнаружение мелких дефектов, присутствующих на поверхностях исследуемого предмета при осуществлении обнаружения дефектов посредством вихревых токов с использованием датчика магнитного импеданса.[0002] Conventionally, defect detection by eddy currents using a magnetic sensor is performed to detect defects present in the volume and on the surfaces of the test object, such as an electrical conductor, such as a metal material. Examples of such a magnetic sensor used to detect defects by eddy currents include a magnetic field discontinuity sensor, a giant magnetic resistance sensor (GMR sensor), and a magnetic impedance sensor (hereinafter referred to as “MI sensor”). Among these examples, the magnetic impedance sensor has a particularly high sensitivity. Thus, it is possible to detect small defects present on the surfaces of the investigated object when detecting defects by means of eddy currents using a magnetic impedance sensor.
[0003] Устройство на основе эффекта магнитного импеданса используется как датчик магнитного импеданса. Примеры такого устройства на основе эффекта магнитного импеданса включают в себя аморфную магнитную проволоку. Когда высокочастотный электрический ток проходит через аморфный магнитный провод, внешнее магнитное поле заставляет изменяться импеданс этого провода вследствие поверхностного эффекта. Такое явление называется термином «эффект магнитного импеданса», и аморфный магнитный провод, который обладает этим эффектом, называется термином «устройство на основе эффекта магнитного импеданса».[0003] A device based on the effect of magnetic impedance is used as a magnetic impedance sensor. Examples of such a device based on the effect of magnetic impedance include an amorphous magnetic wire. When a high-frequency electric current passes through an amorphous magnetic wire, an external magnetic field causes the impedance of this wire to change due to the surface effect. Such a phenomenon is called the term “magnetic impedance effect”, and an amorphous magnetic wire that has this effect is called the term “device based on the magnetic impedance effect”.
Способ проверки исследуемого объекта на наличие дефектов на его поверхностях осуществляется с использованием аморфного магнитного провода, обладающего таким эффектом магнитного импеданса (см. патентный документ 1).A method for checking an object under investigation for defects on its surfaces is carried out using an amorphous magnetic wire having such a magnetic impedance effect (see Patent Document 1).
ДОКУМЕНТ ПРЕДШЕСТВУЮЩЕГО УРОВНЯ ТЕХНИКИBACKGROUND OF THE PRIOR ART
ПАТЕНТНЫЙ ДОКУМЕНТPATENT DOCUMENT
[0004] Патентный документ 1: японский выложенный патент № 2001-183347[0004] Patent Document 1: Japanese Patent Laid-Open No. 2001-183347
КРАТКОЕ ИЗЛОЖЕНИЕ СУЩНОСТИ ИЗОБРЕТЕНИЯSUMMARY OF THE INVENTION
[0005] В связи с этим напряжения, имеющие заданные частоты, прикладываются к катушке возбуждения и аморфному магнитному проводу соответственно, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляется с использованием аморфного магнитного провода. В этом случае фаза напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу, может отклоняться в некоторых случаях от фазы напряжения, прикладываемого к катушке возбуждения. Это объясняется тем, что может возникать незначительное несоответствие между частотой напряжения, прикладываемого к катушке возбуждения, и частотой напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу. Такое отклонение фазы сохраняется как шум, когда измеряется изменение магнитного поля, и, таким образом, является неблагоприятным, поскольку отклонение фазы может становиться причиной ухудшения точности обнаружения дефектов в исследуемом объекте.[0005] In this regard, voltages having predetermined frequencies are applied to the excitation coil and the amorphous magnetic wire, respectively, when defects are detected by eddy currents using an amorphous magnetic wire. In this case, the phase of the voltage applied to the amorphous magnetic wire may deviate in some cases from the phase of the voltage applied to the excitation coil. This is because a slight mismatch may occur between the frequency of the voltage applied to the excitation coil and the frequency of the voltage applied to the amorphous magnetic wire. Such a phase deviation is saved as noise when a change in the magnetic field is measured, and thus is unfavorable, since the phase deviation can cause a deterioration in the accuracy of detection of defects in the test object.
[0006] В данном отношении технология, описанная в вышеупомянутом патентном документе 1, остается проблематичной, поскольку данная технология предназначена для обнаружения дефектов на поверхностях исследуемого объекта без намерения уменьшения шума посредством расположения аморфного магнитного провода в направлении, параллельном направлению намотки катушки возбуждения.[0006] In this regard, the technology described in the
[0007] Задача настоящего изобретения, которое было выполнено в целях решения описанной выше проблемы, заключается в том, чтобы предложить способ и устройство для обнаружения дефектов посредством вихревых токов со способностью точного измерения дефектов, присутствующих в исследуемом объекте, путем обнаружения дефектов посредством вихревых токов.[0007] An object of the present invention, which was carried out in order to solve the problem described above, is to provide a method and apparatus for detecting defects by eddy currents with the ability to accurately measure defects present in a test object by detecting defects by eddy currents.
[0008] Для решения описанной выше задачи предлагается способ обнаружения дефектов посредством вихревых токов, определенный в п. 1 формулы настоящего изобретения и включающий в себя этап синхронизации, на котором синхронизируют фазу напряжения возбуждения, прикладываемого средством управления катушкой к катушке возбуждения, чтобы производить вихревой ток в исследуемом объекте с фазой напряжения управления, имеющего более высокую частоту, чем напряжение возбуждения, прикладываемое средством управления устройством к устройству на основе эффекта магнитного импеданса для обнаружения изменения магнитного поля, возникающего в катушке возбуждения; и этап обнаружения магнитного поля, на котором обнаруживают изменение магнитного поля, возникающего в катушке возбуждения вследствие вихревого тока, сгенерированного в исследуемом объекте с использованием устройства на основе эффекта магнитного импеданса.[0008] To solve the above problem, there is provided a method for detecting defects by eddy currents as defined in
[0009] В способе обнаружения дефектов посредством вихревых токов, который определен в п. 2 формулы, этап синхронизации в способе обнаружения дефектов посредством вихревых токов по п. 1 формулы осуществляют в результате инициирующего сигнала, который подают из средства управления катушкой в средство управления устройством, причем при получении инициирующего сигнала напряжение управления выдают из средства управления устройством в форме пакетного сигнала.[0009] In the method for detecting defects by eddy currents, which is defined in
[0010] Устройство для обнаружения дефектов посредством вихревых токов, которое определено в п. 3 формулы, включает в себя катушку возбуждения для генерирования вихревого тока в исследуемом объекте; устройство на основе эффекта магнитного импеданса для обнаружения изменения магнитного поля катушки возбуждения; средство управления катушкой, которое возбуждает катушку возбуждения путем приложения напряжения возбуждения, имеющего заданную частоту, к катушке возбуждения; средство управления устройством для приложения напряжения управления, имеющего более высокую частоту, чем напряжение катушки возбуждения, к устройству на основе эффекта магнитного импеданса; и средство синхронизации, которое синхронизирует фазу напряжения возбуждения, прикладываемого средством управления катушкой, с фазой напряжения управления, прикладываемого средством управления устройством.[0010] A device for detecting defects by eddy currents, as defined in
[0011] В устройстве для обнаружения дефектов посредством вихревых токов, которое определено в п. 4 формулы, средство синхронизации в устройстве для обнаружения дефектов посредством вихревых токов по п. 3 формулы выводит напряжение управления из средства управления устройством в форме пакетного сигнала, когда инициирующий сигнал подается из средства управления катушкой в средство управления устройством.[0011] In the eddy current defect detection apparatus as defined in
[0012] Согласно способу обнаружения дефектов посредством вихревых токов, который определен в п. 1 формулы настоящего изобретения, момент времени, когда напряжение возбуждения прикладывается к катушке возбуждения, и момент времени, когда напряжение управления прикладывается к устройству на основе эффекта магнитного импеданса, синхронизируются, и, таким образом, не происходит отклонение фазы напряжения управления от фазы напряжения возбуждения в любой момент времени.[0012] According to the eddy current defect detection method as defined in
Следовательно, уменьшается шум, возникающий в результате отклонения фазы, и, таким образом, становится возможным точное обнаружение дефектов, присутствующих на поверхностях исследуемого объекта.Therefore, the noise resulting from phase deviation is reduced, and thus, it becomes possible to accurately detect defects present on the surfaces of the object under study.
[0013] Согласно устройству для обнаружения дефектов посредством вихревых токов, которое определено в п. 3 формулы, момент времени, в который возбуждающее напряжение прикладывается к катушке возбуждения, и момент времени, в который напряжение управления прикладывается к устройству на основе эффекта магнитного импеданса, синхронизируются в заданных временных интервалах. Следовательно, получается такой же полезный эффект, который обсуждается в п. 1 формулы настоящего изобретения.[0013] According to the device for detecting defects by eddy currents, which is defined in
КРАТКОЕ ОПИСАНИЕ ЧЕРТЕЖЕЙBRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS
[0014] Фиг. 1 представляет схематическую конфигурационную диаграмму устройства для обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению.[0014] FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an eddy current defect detection apparatus according to the present invention.
Фиг. 2 представляет блок-схему, иллюстрирующую способ обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению.FIG. 2 is a flowchart illustrating a method for detecting defects by eddy currents according to the present invention.
Фиг. 3 представляет пакетный сигнал, иллюстрирующий синхронизированный управляющий сигнал катушки возбуждения и управляющий сигнал провода.FIG. 3 is a burst signal illustrating a synchronized drive coil control signal and a wire control signal.
Фиг. 4A представляет вид сверху исследуемого объекта, в котором выполнен искусственный дефект.FIG. 4A is a plan view of a test subject in which an artificial defect is made.
Фиг. 4B представляет вид поперечного сечения, взятый вдоль линии IV-IV на фиг. 4A.FIG. 4B is a cross-sectional view taken along line IV-IV of FIG. 4A.
Фиг. 5A представляет чертеж, иллюстрирующий один пример результата обнаружения дефектов, полученного посредством осуществления способа обнаружения дефектов согласно настоящему изобретению.FIG. 5A is a drawing illustrating one example of a defect detection result obtained by implementing a defect detection method according to the present invention.
Фиг. 5B представляет чертеж, иллюстрирующий один пример результата обнаружения дефектов, полученного посредством осуществления традиционного способа обнаружения дефектов.FIG. 5B is a drawing illustrating one example of a defect detection result obtained by implementing a conventional defect detection method.
Фиг. 6A представляет чертеж, иллюстрирующий еще один пример результата обнаружения дефектов, полученного посредством осуществления способа обнаружения дефектов согласно настоящему изобретению.FIG. 6A is a drawing illustrating another example of a defect detection result obtained by implementing a defect detection method according to the present invention.
Фиг. 6B представляет чертеж, иллюстрирующий еще один пример результата обнаружения дефектов, полученного посредством осуществления традиционного способа обнаружения дефектов.FIG. 6B is a drawing illustrating another example of a defect detection result obtained by implementing a conventional defect detection method.
Фиг. 7A представляет чертеж, иллюстрирующий следующий пример результата обнаружения дефектов, полученного посредством осуществления способа обнаружения дефектов согласно настоящему изобретению.FIG. 7A is a drawing illustrating the following example of a defect detection result obtained by implementing a defect detection method according to the present invention.
Фиг. 7B представляет чертеж, иллюстрирующий следующий пример результата обнаружения дефектов, полученного посредством осуществления традиционного способа обнаружения дефектов.FIG. 7B is a drawing illustrating the following example of a defect detection result obtained by implementing a conventional defect detection method.
ОПИСАНИЕ ПРЕДПОЧТИТЕЛЬНЫХ ВАРИАНТОВ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ ИЗОБРЕТЕНИЯDESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS OF THE INVENTION
[0015] Далее варианты осуществления настоящего изобретения будут описаны со ссылкой на сопровождающие чертежи.[0015] Embodiments of the present invention will now be described with reference to the accompanying drawings.
Фиг. 1 представляет схематическую конфигурационную диаграмму устройства для обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению. Устройство для обнаружения дефектов посредством вихревых токов 1 обеспечено катушкой 2 возбуждения, аморфным магнитным проводом 3 (устройство на основе эффекта магнитного импеданса), генератор 4 управляющего сигнала катушки возбуждения (средство управления катушкой), сенсорная схема 5, детекторная схема 6 и персональный компьютер (далее называется PC) 7.FIG. 1 is a schematic configuration diagram of an eddy current defect detection apparatus according to the present invention. A device for detecting defects by
[0016] Катушка 2 возбуждения представляет собой катушку виткового типа, и аморфный магнитный провод 3 расположен таким образом, что он проходит от центра катушки 2 возбуждения по направлению к внешнему краю катушки возбуждения в ее радиальном направлении. Катушка 2 возбуждения и аморфный магнитный провод 3, которые имеют описанную выше конфигурацию, функционируют в качестве зонда 8. Зонд 8 расположен на исследуемой поверхности 11 исследуемого объекта 10 в целях исследования исследуемой поверхности 11 с помощью зонда 8. Следует отметить, что катушка 2 возбуждения может представлять собой катушку с воздушным сердечником. Исследуемый объект 10 изготовлен из электропроводного материала, и примеры такого материала представляют собой металлы, такие как железо, алюминий, титан и нержавеющая сталь, электропроводные материалы на основе углерода и металлические конструкции.[0016] The
[0017] Генератор 4 управляющего сигнала катушки возбуждения используется, чтобы подавать сигнал заданной частоты, т.е. напряжение, имеющее заданную частоту, к катушке 2 возбуждения. При приближении катушки 2 возбуждения, возбужденной генератором 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения, к исследуемой поверхности 11 исследуемого объекта 10 на исследуемой поверхности 11 генерируется вихревой ток.[0017] The drive coil
Сенсорная схема 5 включает в себя генератор 51 управляющего сигнала для провода (средство управления устройством) и схему 52 выделения сигнала отклика. Генератор 51 управляющего сигнала провода используется, чтобы подавать сигнал заданной частоты, т.е. напряжение, имеющее заданную частоту, к аморфному магнитному проводу 3. Схема 52 выделения сигнала отклика передает напряжение согласно изменению импеданса аморфного магнитного провода 3.The
[0018] Детекторная схема 6 синхронно обнаруживает напряжение, выделенное схемой 52 выделения сигнала отклика, т.е. сигнал отклика аморфного магнитного провода 3, используя напряжение генератора 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения в качестве базового сигнала, и передает информацию об амплитуде и фазе.[0018] The
Персональный компьютер PC 7 снабжен арифметическим устройством 71 и контрольно-измерительным устройством 72, арифметическое устройство 71 обрабатывает сигнал, подводимый от детекторной схемы 6, таким образом, что сигнал, который обусловлен поверхностным дефектом, можно легко отличать от шумового сигнала, и отображает сигнал на контрольно-измерительное устройство 72.The
[0019] Частота напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3, является выше, чем частота напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения. Чтобы обнаруживать дефекты, такие как дефекты, которые присутствуют на исследуемой поверхности 11 исследуемого объекта 10, оказывается предпочтительным повышение частоты напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3. В частности, частотный диапазон напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения генератором 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения, составляет предпочтительно от 100 кГц до 10 МГц, в то время как частотный диапазон напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3 генератором 51 управляющего сигнала для провода, составляет предпочтительно 10 МГц или более. Частота напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, и частота напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3, соответственно выбираются в зависимости от размера дефекта, который должен быть обнаружен.[0019] The frequency of the voltage applied to the amorphous
[0020] Генератор 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения присоединяется к генератору 51 управляющего сигнала для провода. Это соединение делает возможной передачу инициирующего сигнала от генератора 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения к генератору 51 управляющего сигнала для провода, как будет описано ниже.[0020] The
[0021] Исследование исследуемого объекта 10 в устройстве для обнаружения дефектов посредством вихревых токов 1 согласно настоящему изобретению осуществляется посредством приложения напряжений, имеющих заданные частоты, к катушке 2 возбуждения и аморфному магнитному проводу 3, соответственно приближения зонда 8 к исследуемому объекту 10 и перемещения зонда 8 вдоль исследуемого объекта 10 в процессе возбуждения катушки 2 возбуждения.[0021] The study of the
[0022] Далее представлено описание способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов для исследования исследуемой поверхности 11 исследуемого объекта 10 с использованием устройства для обнаружения дефектов посредством вихревых токов 1, которое имеет конфигурацию, описанную выше. Фиг. 2 иллюстрирует блок-схему способа использования вихревого тока для обнаружения дефектов на исследуемой поверхности 11. Далее данный способ будет описан согласно блок-схеме. Предусмотрено, что частота напряжения, прикладываемого генератором 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения, и частота напряжения, прикладываемого генератором 51 управляющего сигнала для провода, соответственно устанавливается заблаговременно.[0022] The following is a description of a method for detecting defects by eddy currents for examining a
[0023] На этапе S1 момент времени, в который производится инициирующий сигнал, передаваемый в генератор 51 управляющего сигнала для провода, устанавливается генератором 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения. Момент времени, в который генерируется инициирующий сигнал, устанавливается таким образом, чтобы наступать в синхронизации с частотой генератора 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения. Согласно настоящему варианту осуществления генератор 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения настроен таким образом, чтобы генерировать инициирующий сигнал для каждого установленного в нем периода частоты.[0023] In step S1, the point in time at which the initiating signal is transmitted to the
[0024] На этапе S2 волновое число пакетного сигнала устанавливается в генераторе 51 управляющего сигнала для провода. Пакетный сигнал означает пакетный сигнал, который сохраняет форму синусоидальной волны, прямоугольной волны, волны с линейно нарастающей амплитудой, импульсной волны и т.п. в течение заданного периода времени (т.е. волнового числа) в заданных временных интервалах. Волновое число пакетного сигнала, которое устанавливается на вышеупомянутом этапе, предпочтительно устанавливается таким образом, чтобы быть максимально возможным, но составлять не более чем соотношение частоты напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, и частоты напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3, в течение одного периода частоты напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения. Например, если частота напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3, составляет 15 МГц, и частота напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, составляет 1 МГц, то волновое число пакетного сигнала составляет предпочтительно 10 или более. Посредством увеличения волнового числа пакетного сигнала оказывается возможной обработка сигнала отклика от аморфного магнитного провода 3 в детекторной схеме 6. С другой стороны, малое волновое число пакетного сигнала в одном периоде частоты напряжения не является предпочтительным, поскольку может оказаться затруднительной обработка сигнала отклика от аморфного магнитного провода 3 в детекторной схеме 6.[0024] In step S2, the wave number of the burst signal is set in the
[0025] На этапе S3 возбуждаются соответственно катушка 2 возбуждения и аморфный магнитный провод 3, и когда фаза напряжения, прикладываемого от генератора 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения к катушке 2 возбуждения, согласуется с моментом времени, когда генерируется сигнал на этапе S1, описанном выше, инициирующий сигнал поступает от генератора 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения в генератор 51 управляющего сигнала для провода (этап синхронизации).[0025] In step S3, the
[0026] На этапе S4 пакетный сигнал прикладывается от генератора 51 управляющего сигнала для провода к аморфному магнитному проводу 3 при предварительно установленной частоте, когда инициирующий сигнал поступает в генератор 51 управляющего сигнала для провода (этап синхронизации).[0026] In step S4, a packet signal is applied from the
[0027] Что касается подробностей, фиг. 3 иллюстрирует пакетные сигналы напряжений, прикладываемых соответственно к катушке 2 возбуждения и аморфному магнитному проводу 3. Как проиллюстрировано на фиг. 3, инициирующий сигнал генерируется в момент времени, когда напряжение управления катушки возбуждения проходит через положение P, и пакетный сигнал напряжения управления провода выдается через время t с момента времени положения P. Следует отметить, что время t представляет собой заданный период времени. Однако время t может отсутствовать. В качестве альтернативы пакетный сигнал напряжения управления провода может передаваться, когда инициирующий сигнал поступает в генератор 51 управляющего сигнала для провода.[0027] As for the details, FIG. 3 illustrates bursts of voltages applied respectively to the
[0028] На этапе S5 изменение импеданса аморфного магнитного провода 3 обнаруживается детекторной схемой посредством схемы 52 выделения сигнала отклика (этап обнаружения магнитного поля).[0028] In step S5, a change in the impedance of the amorphous
[0029] Как описано выше, согласно настоящему варианту осуществления, инициирующий сигнал поступает от генератора 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения в генератор 51 управляющего сигнала для провода в заданный момент времени. При получении инициирующего сигнала генератор 51 управляющего сигнала для провода прикладывает напряжение заданной частоты к аморфному магнитному проводу 3.[0029] As described above, according to the present embodiment, the initiating signal is supplied from the
[0030] Следовательно, фаза частоты напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, и фаза частоты напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3, находятся в синхронизированном состоянии. Такое состояние делает возможным снижение шума, обусловленного отклонением фазы, и в результате этого дополнительно повышается точность обнаружения дефектов. Соответственно становится возможным более точное обнаружение даже мелких дефектов, размеры которых составляют 1 мм или менее, и которые присутствуют на исследуемой поверхности 11 исследуемого объекта 10.[0030] Therefore, the phase of the frequency of the voltage applied to the
[0031] Когда инициирующий сигнал поступает от генератора 4 управляющего сигнала для катушки возбуждения в генератор 51 управляющего сигнала для провода, напряжение прикладывается от генератора 51 управляющего сигнала для провода к аморфному магнитному проводу 3 в форме пакетного сигнала. Следовательно, фаза частоты напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, и фаза напряжения, прикладываемого в форме пакетного сигнала к аморфному магнитному проводу 3, всегда находятся в синхронизированном состоянии. Соответственно становится возможным снижение шума, обусловленного отклонением фазы этих частот, и, таким образом, более точное обнаружение дефектов, присутствующих на исследуемой поверхности 11.[0031] When the initiating signal is supplied from the
[0032] Следует отметить, что хотя аморфный магнитный провод используется в качестве устройства на основе эффекта магнитного импеданса, согласно описанному выше настоящему варианту осуществления вместо провода может быть использована аморфная магнитная лента или аналогичная деталь.[0032] It should be noted that although the amorphous magnetic wire is used as a device based on the magnetic impedance effect, according to the present embodiment described above, an amorphous magnetic tape or the like may be used instead of the wire.
ПРИМЕРЫEXAMPLES
[0033] Далее настоящее изобретение будет описано посредством представленных примеров. Следует отметить, однако, что настоящее изобретение не ограничивается примерами, которые описаны ниже.[0033] The present invention will now be described by way of the presented examples. It should be noted, however, that the present invention is not limited to the examples described below.
Поверхностные дефекты обнаруживали с использованием устройства для обнаружения дефектов посредством вихревых токов 1 и описанного выше способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению, причем в качестве исследуемого объекта 10 использовали титановый материал.Surface defects were detected using a device for detecting defects by
[0034] Фиг. 4A представляет вид сверху исследуемого объекта 10, используемого в каждом примере, который описан ниже, в то время как фиг. 4B представляет вид поперечного сечения, взятый вдоль линии IV-IV на фиг. 4A. Искусственный дефект 12 создавали в титановом материале, используемом в представленных примерах. Как проиллюстрировано на фиг. 4A и 4B, искусственный дефект 12 создается таким образом, что L представляет собой длину дефекта, W представляет собой ширину дефекта, и D представляет собой глубину дефекта. Соответственно эти длина дефекта L, ширина дефекта W и глубина дефекта D изменялись и обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием описанного выше способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов в процессе перемещения зонда 8 в направлении стрелки, как представлено на фиг. 4A. Следует отметить, что в представленных примерах использовали аморфный магнитный провод, имеющий 2 мм в длину и 20 мкм в диаметре. В каждом примере, обсуждаемом далее, в качестве сравнительного примера будет также представлен случай, в котором обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли без синхронизации фазы частоты сигнала, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, и фазы частоты сигнала, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3, как осуществляется традиционно.[0034] FIG. 4A is a top view of the
[0035] ПРИМЕР 1[0035] EXAMPLE 1
Для титанового материала, в котором был изготовлен искусственный дефект 12, имеющий длину дефекта L 0,6 мм, ширину дефекта W 0,08 мм и глубину дефекта D 0,3 мм, изменение импеданса измеряли, устанавливая частоту напряжения управления катушки возбуждения на уровне 1 МГц и частоту напряжения управления проволоки на уровне 15 МГц и прикладывая частоты сигнала к катушке 2 возбуждения и аморфному магнитному проводу 3 соответственно. Каждый из фиг. 5A и 5B представляет результаты измерения.For the titanium material in which the
[0036] Фиг. 5A представляет результаты измерения, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению, в то время как фиг. 5B представляет результаты измерения, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли в качестве сравнительного примера, без синхронизации фазы частоты напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, и фазы частоты напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3. Диапазон S, представленный на каждой из фиг. 5A и 5B, представляет собой диапазон изменения напряжения, когда зонд 8 проходил через искусственный дефект 12, изготовленный в титановом материале.[0036] FIG. 5A presents measurement results when defect detection by eddy currents was performed using the eddy current defect detection method of the present invention, while FIG. 5B presents measurement results when defect detection by eddy currents was performed as a comparative example, without synchronizing the phase of the frequency of the voltage applied to the
[0037] По результатам, представленным на фиг. 5A, которые были получены способом обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению, понятно, что шум снизился в значительной степени по сравнению с результатами, полученными с использованием традиционного способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов, как представлено на фиг. 5B. Соотношение сигнала и шума составляло 6,8, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению, как представлено на фиг. 5A. С другой стороны, соотношение сигнала и шума составляло 2,6, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием традиционного способа обнаружения дефектов, как представлено на фиг. 5B. Как описано выше, если обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляется с использованием способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению, как представлено на фиг. 5A, шум в целом может уменьшаться по сравнению с традиционным способом обнаружения дефектов. Таким образом, понятно, что даже мелкие дефекты можно обнаруживать с высокой степенью точности.[0037] According to the results shown in FIG. 5A, which were obtained by the eddy current defect detection method according to the present invention, it is understood that the noise has decreased significantly compared to the results obtained using the conventional eddy current defect detection method as shown in FIG. 5B. The signal to noise ratio was 6.8 when defect detection by eddy currents was carried out using the eddy current defect detection method according to the present invention, as shown in FIG. 5A. On the other hand, the signal-to-noise ratio was 2.6, when defects were detected by eddy currents using the traditional method for detecting defects, as shown in FIG. 5B. As described above, if defect detection by eddy currents is performed using the eddy current defect detection method of the present invention, as shown in FIG. 5A, overall noise can be reduced compared to the conventional defect detection method. Thus, it is understood that even small defects can be detected with a high degree of accuracy.
[0038] ПРИМЕР 2[0038] EXAMPLE 2
Для титанового материала, в котором был изготовлен искусственный дефект 12, имеющий длину дефекта L 0,6 мм, ширину дефекта W 0,08 мм и глубину дефекта D 0,3 мм, изменение импеданса измеряли, устанавливая частоту напряжения управления катушки возбуждения на уровне 2 МГц и частоту напряжения управления провода на уровне 25 МГц и прикладывая напряжения к катушке 2 возбуждения и аморфному магнитному проводу 3 соответственно. Каждый из фиг. 6A и 6B представляет результаты измерения.For the titanium material in which the
[0039] Фиг. 6A представляет результаты измерения, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению, в то время как фиг. 6B представляет результаты измерения, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли в качестве сравнительного примера без синхронизации фазы частоты напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, и фазы частоты напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3. Диапазон S, который представлен на каждом из фиг. 6A и 6B, является таким же, как диапазоны, обсуждаемые в примере 1, описанном выше.[0039] FIG. 6A presents measurement results when defect detection by eddy currents was performed using the eddy current defect detection method of the present invention, while FIG. 6B presents measurement results when defect detection by eddy currents was performed as a comparative example without synchronizing the phase of the frequency of the voltage applied to the
[0040] Как проиллюстрировано на фиг. 6A, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению, соотношение сигнала и шума составляло 3,4. С другой стороны, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием традиционного способа обнаружения дефектов, как представлено на фиг. 6B, соотношение сигнала и шума составляло 1,9. Таким образом, было подтверждено, что может быть получен такой же полезный эффект, как в примере 1, который описан выше.[0040] As illustrated in FIG. 6A, when defect detection by eddy currents was performed using the eddy current defect detection method of the present invention, the signal to noise ratio was 3.4. On the other hand, when defect detection by eddy currents was carried out using a conventional defect detection method, as shown in FIG. 6B, the signal to noise ratio was 1.9. Thus, it was confirmed that the same beneficial effect can be obtained as in Example 1, which is described above.
[0041] ПРИМЕР 3[0041] EXAMPLE 3
Для титанового материала, в котором был изготовлен искусственный дефект 12, имеющий длину дефекта L 3,0 мм, ширину дефекта W 0,3 мм и глубину дефекта D 0,8 мм, изменение импеданса измеряли, устанавливая частоту напряжения управления катушки возбуждения на уровне 100 кГц и частоту напряжения управления проволоки на уровне 25 МГц и прикладывая напряжения к катушке 2 возбуждения и аморфному магнитному проводу 3 соответственно. Каждый из фиг. 7A и 7B представляет результаты измерения.For a titanium material in which an
[0042] Фиг. 7A представляет результаты измерения, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению, в то время как фиг. 7B представляет результаты измерения, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли в качестве сравнительного примера без синхронизации фазы частоты напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, и фазы частоты напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу 3. Диапазон S, представленный на каждом из фиг. 7A и 7B, является таким же, как диапазоны, которые обсуждаются в примере 1, описанном выше.[0042] FIG. 7A represents measurement results when defect detection by eddy currents was performed using the eddy current defect detection method of the present invention, while FIG. 7B represents measurement results when defect detection by eddy currents was performed as a comparative example without synchronizing the phase of the frequency of the voltage applied to the
[0043] Как проиллюстрировано на фиг. 7A, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием способа обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему изобретению, соотношение сигнала и шума составляло 13,4. С другой стороны, когда обнаружение дефектов посредством вихревых токов осуществляли с использованием традиционного способа обнаружения дефектов, который представлен на фиг. 7B, соотношение сигнала и шума составляло 9,8. Таким образом, было подтверждено, что такой же полезный эффект, как в примере 1, который описан выше, может быть получен, даже если частота напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, является низкой, как в настоящем примере.[0043] As illustrated in FIG. 7A, when defect detection by eddy currents was performed using the eddy current defect detection method of the present invention, the signal to noise ratio was 13.4. On the other hand, when defect detection by eddy currents was carried out using the conventional defect detection method, which is shown in FIG. 7B, the signal to noise ratio was 9.8. Thus, it was confirmed that the same beneficial effect as in Example 1, which is described above, can be obtained even if the frequency of the voltage applied to the
[0044] Из вышеизложенного сделан вывод, что возможно точное обнаружение дефектов, присутствующих на исследуемой поверхности 11 исследуемого объекта 10 путем установления частоты напряжения, прикладываемого к катушке 2 возбуждения, в диапазоне от 100 кГц до 2 МГц и частоты напряжения, прикладываемого к аморфному магнитному проводу, в диапазоне от 3 до 10 МГц или выше в качестве частот, используемых в устройстве 1 для обнаружения дефектов посредством вихревых токов и способе обнаружения дефектов посредством вихревых токов согласно настоящему варианту осуществления. С учетом вышеизложенного, поскольку было показано, что благоприятные результаты могут быть получены при выборе частоты напряжения в диапазоне от 100 кГц до 2 МГц для катушки 2 возбуждения, такой же полезный эффект может быть получен посредством выбора частоты напряжения катушки 2 возбуждения в диапазоне от 100 кГц до 10 МГц.[0044] From the foregoing, it was concluded that it is possible to accurately detect defects present on the
СПИСОК УСЛОВНЫХ ОБОЗНАЧЕНИЙLIST OF CONVENTIONS
[0045] 1 - Устройство для обнаружения дефектов посредством вихревых токов[0045] 1 - Device for detecting defects by eddy currents
2 - Катушка возбуждения2 - Field coil
3 - Аморфный магнитный провод (устройство на основе эффекта магнитного импеданса)3 - Amorphous magnetic wire (device based on the effect of magnetic impedance)
4 - Генератор управляющего сигнала для катушки возбуждения (средство управления катушкой)4 - Control signal generator for the field coil (coil control means)
5 - Сенсорная схема5 - Sensor circuit
6 - Детекторная схема6 - Detector circuit
10 - Исследуемый объект10 - Object under investigation
51 - Генератор управляющего сигнала для провода (средство управления устройством)51 - Control signal generator for wire (device control)
52 - Схема выделения сигнала отклика52 - Response signal extraction circuit
Claims (4)
этап синхронизации, на котором синхронизируют фазу напряжения возбуждения, прикладываемого средством управления катушкой к катушке возбуждения, чтобы генерировать вихревой ток в исследуемом объекте, с фазой напряжения управления, имеющего более высокую частоту, чем напряжение возбуждения, прикладываемое средством управления устройством к устройству на основе эффекта магнитного импеданса, для обнаружения изменения магнитного поля, возникающего в катушке возбуждения; и
этап обнаружения магнитного поля, на котором обнаруживают изменение магнитного поля, возникающего в катушке возбуждения вследствие вихревого тока, сгенерированного в исследуемом объекте, с использованием устройства на основе эффекта магнитного импеданса.1. A method for detecting defects by eddy currents, including:
a synchronization step, in which the phase of the excitation voltage applied by the coil control means to the excitation coil is synchronized to generate an eddy current in the test object, with a control voltage phase having a higher frequency than the excitation voltage applied by the device control means to the device based on the magnetic effect impedance to detect changes in the magnetic field occurring in the excitation coil; and
a magnetic field detection step, in which a change in the magnetic field that occurs in the excitation coil due to the eddy current generated in the test object is detected using a device based on the magnetic impedance effect.
катушку возбуждения для генерирования вихревого тока в исследуемом объекте;
устройство на основе эффекта магнитного импеданса для обнаружения изменения магнитного поля катушки возбуждения;
средство управления катушкой для возбуждения катушки возбуждения путем приложения напряжения возбуждения, имеющего заданную частоту, к катушке возбуждения;
средство управления устройством для приложения напряжения управления, имеющего более высокую частоту, чем напряжение катушки возбуждения, к устройству на основе эффекта магнитного импеданса; и
средство синхронизации для синхронизации фазы напряжения возбуждения, прикладываемого средством управления катушкой, с фазой напряжения управления, прикладываемого средством управления устройством.3. A device for detecting defects by eddy currents, including:
an excitation coil for generating eddy current in the test object;
a device based on the effect of magnetic impedance for detecting changes in the magnetic field of the field coil;
coil control means for driving a drive coil by applying a drive voltage having a predetermined frequency to the drive coil;
device control means for applying a control voltage having a higher frequency than the voltage of the field coil to a device based on the effect of magnetic impedance; and
synchronization means for synchronizing the phase of the drive voltage applied by the coil control means to the phase of the control voltage applied by the device control means.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2012-033827 | 2012-02-20 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2574420C1 true RU2574420C1 (en) | 2016-02-10 |
Family
ID=
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN118482771A (en) * | 2024-07-15 | 2024-08-13 | 四川省林业科学研究院(四川省林产工业研究设计所) | Forestry environment information automatic monitoring device and method |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0990919A2 (en) * | 1998-10-01 | 2000-04-05 | Alps Electric Co., Ltd. | Magneto-Impedance effect element driving circuit |
| JP2001183347A (en) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Eddy current flaw detector |
| JP2006343300A (en) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Aec:Kk | Eddy current detector |
| RU2442151C2 (en) * | 2010-03-01 | 2012-02-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет приборостроения и информатики" | Method for subsurface flaw detection in ferromagnetic objects |
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0990919A2 (en) * | 1998-10-01 | 2000-04-05 | Alps Electric Co., Ltd. | Magneto-Impedance effect element driving circuit |
| JP2001183347A (en) * | 1999-12-24 | 2001-07-06 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Eddy current flaw detector |
| JP2006343300A (en) * | 2005-06-08 | 2006-12-21 | Aec:Kk | Eddy current detector |
| RU2442151C2 (en) * | 2010-03-01 | 2012-02-10 | Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет приборостроения и информатики" | Method for subsurface flaw detection in ferromagnetic objects |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN118482771A (en) * | 2024-07-15 | 2024-08-13 | 四川省林业科学研究院(四川省林产工业研究设计所) | Forestry environment information automatic monitoring device and method |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7705589B2 (en) | Sensor for detecting surface defects of metal tube using eddy current method | |
| JP2009115505A (en) | Winding inspection apparatus and inspection method | |
| US10048227B2 (en) | Surface property inspection method and apparatus | |
| CN103822967B (en) | Double-excitation-coil conductor defect automatic flaw detection device and flaw detection method | |
| US20140354274A1 (en) | Method and apparatus for eddy-current flaw detection | |
| JP5156432B2 (en) | Eddy current sample measurement method and eddy current sensor | |
| JP5138014B2 (en) | Nondestructive inspection equipment, nondestructive inspection method | |
| US9146279B2 (en) | Method for detection of interlaminar sheet short circuits in the stator sheet core of electromachines | |
| JP5177851B2 (en) | Insulation inspection method and insulation inspection apparatus | |
| CN105241951A (en) | Non-magnetic conductor material electromagnetic eddy current detection apparatus | |
| RU2574420C1 (en) | Method and device for fault detection by eddy currents | |
| KR101254300B1 (en) | Apparatus for detecting thickness of the conductor using dual core | |
| JP2008051566A (en) | Partial discharge measuring method for mold type instrument transformer by ae sensor | |
| RU2566416C1 (en) | Device for eddy-current magnetic examination of ferromagnetic objects | |
| KR101158411B1 (en) | Apparatus for detecting thickness of the conductor using differential pulsed eddy current probe | |
| CN214895021U (en) | A pulsed eddy current detection device for the lead seal part of a cable joint | |
| JP2012078349A (en) | Pulse excitation type inspection device, and pulse excitation type inspection method | |
| Malikov et al. | Experimental Studies of Conductive Paths of Printed Circuit Boards by Using Subminiature Eddy Current Transducers | |
| RU2564823C1 (en) | Device for detection of defects of small linear sizes | |
| RU2399870C1 (en) | Method for continuous control of thickness and continuity of bimetal layer joints | |
| JP2011252779A (en) | Detection method of partial discharge of electrical device using magnetic field probe | |
| RU2639592C2 (en) | Flaw detector for welds | |
| JP2011053160A (en) | Magnetic detection sensor | |
| JP3924626B1 (en) | Nondestructive inspection apparatus and inspection method using this apparatus | |
| KR20090119807A (en) | Probe structure of cylindrical steel pipe diagnostic eddy current tester |