RU2338295C1 - Электронный магнитный спектрометр - Google Patents
Электронный магнитный спектрометр Download PDFInfo
- Publication number
- RU2338295C1 RU2338295C1 RU2007103658/28A RU2007103658A RU2338295C1 RU 2338295 C1 RU2338295 C1 RU 2338295C1 RU 2007103658/28 A RU2007103658/28 A RU 2007103658/28A RU 2007103658 A RU2007103658 A RU 2007103658A RU 2338295 C1 RU2338295 C1 RU 2338295C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- magnetic field
- energy analyzer
- vacuum chamber
- electrons
- radius
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/44—Energy spectrometers, e.g. alpha-, beta-spectrometers
- H01J49/46—Static spectrometers
- H01J49/463—Static spectrometers using static magnetic fields
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области исследования и анализа материалов радиационными методами и может быть применено для диагностики структуры и состава поверхности и приповерхностных слоев твердых и жидких тел. Электронный магнитный спектрометр содержит вакуумную камеру, энергоанализатор в виде круговых электрических контуров, щелевую диафрагму и детектор электронов. Электрические контуры энергоанализатора выполнены с возможностью создания в вакуумной камере магнитного поля, зависящего от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением Н~ρ-α, где Н - напряженность магнитного поля, α=0,62-0,76. Кроме того, щелевая диафрагма и детектор электронов выполнены с возможностью перемещения в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении. Технический результат: упрощение устройства, снижение его габаритов и веса, расширение функциональных возможностей. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.
Description
Изобретение относится к области исследования и анализа материалов радиационными методами и может быть применено для диагностики структуры и состава поверхности и приповерхностных слоев твердых и жидких тел.
Известны электронные спектрометры для измерения и анализа энергетического спектра электронов, испускаемых поверхностью твердого тела под действием тех или иных возбуждающих факторов, например рентгеновского излучения, электронного или ионного пучка. Они содержат энергоанализатор, в котором под воздействием электростатического или магнитного полей происходит разделение электронов по энергиям и фокусировка пучков электронов с одинаковой энергией на входную щель детектора.
Широко известны электронные спектрометры с различными видами электростатических энергоанализаторов [1-3]. Один из недостатков данного вида спектрометров связан с тем, что разделение электронов по энергиям происходит непосредственно внутри фокусирующих электродов. Это препятствует проведению различных технологических воздействий (например, нагрев, охлаждение) на объект в процессе исследования без ухудшения рабочих характеристик прибора (разрешение, светосила). Кроме того, в электростатических энергоанализаторах отсутствует фокусирующая плоскость, что препятствует использованию многоанодного детектора, позволяющего при измерении одновременно охватывать значительную энергетическую область и тем самым сокращать время получения спектров на несколько порядков. Эти приборы имеют низкую контрастность спектров из-за невозможности использования апертурных диафрагм определенной формы, позволяющих отсекать отраженные и другие шумовые электроны.
Наиболее близким техническим решением (прототипом) является электронный магнитный спектрометр [4], содержащий кольцевую вакуумную камеру, источник возбуждения электронов, держатель объекта, магнитный энергоанализатор с радиусом орбиты электронов 30 см, щелевую выходную диафрагму, детектор электронов и систему компенсации магнитного поля Земли. Магнитный энергоанализатор выполнен в виде двух пар круговых электрических контуров (катушек), соосных с кольцевой камерой, расположенных симметрично относительно нейтральной плоскости камеры и соединенных с блоком питания. Одна пара катушек расположена с внутренней стороны кольцевой камеры, а другая пара - с наружной стороны. Система компенсации магнитного поля Земли состоит из нескольких пар электрических контуров, соединенных с источником питания.
Недостатками известного устройства являются сложность, большие габариты, вес и стоимость прибора, а также ограниченные функциональные возможности. Это обусловлено большими размерами энергоанализатора, а также наличием крупногабаритных электрических контуров системы компенсации магнитного поля Земли. В известном устройстве энергоанализатор выполнен с возможностью получения магнитного поля в кольцевой камере, изменяющегося по радиусу в соответствии с формулой Н~ρ-0,5, где Н - напряженность магнитного поля, а ρ - радиус орбиты электронов. При таком законе распределения магнитного поля в энергоанализаторе дальнейшее уменьшение размеров последнего связано с заметным ухудшением параметров прибора (например, при уменьшении радиуса ρ0 центральной орбиты электронов до 10 см светосила уменьшается на порядок). С другой стороны, из-за малой величины напряженности магнитного поля в кольцевой камере с радиусом ρ0=30 см требуется тщательная компенсация стороннего магнитного поля, что обусловливает необходимость применения больших по размерам электрических контуров (колец Гельмгольца) для создания магнитного поля высокой однородности для компенсации магнитного поля Земли, причем как ее вертикальной составляющей, так и обеих горизонтальных компонент.
Предлагаемое изобретение направлено на упрощение устройства, снижение его габаритов, веса и стоимости прибора, расширение его функциональных возможностей.
Указанный технический результат достигается тем, что в электронном магнитном спектрометре, содержащем вакуумную камеру, энергоанализатор в виде круговых электрических контуров, щелевую диафрагму и детектор электронов, согласно изобретению электрические контуры энергоанализатора выполнены с возможностью создания в вакуумной камере магнитного поля, зависящего от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением
н~ρ-α,
где Н - напряженность магнитного поля, α=0,62-0,76.
Кроме того, щелевая диафрагма и детектор электронов выполнены с возможностью перемещения в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении.
Выполнение электрических контуров энергоанализатора с возможностью создания в вакуумной камере магнитного поля, напряженность поля Н которого зависит от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением Н~ρ-α, где α=0,62-0,76, позволяет существенно уменьшить радиус орбиты электронов без снижения основных параметров спектрометра (светосилы и разрешения). Соответственно, уменьшаются габариты энергоанализатора и расположенной внутри него вакуумной камеры, снижается вес аппаратуры и уменьшается стоимость прибора. Кроме того, расширяются функциональные возможности устройства (возможность установки в технологической линии, изготовления переносных приборов и т.д.). При выборе параметра α менее 0,62 и более 0,76 происходит ухудшение разрешения прибора на порядок.
Благодаря значительному (более чем на два порядка) увеличению напряженности магнитного поля при уменьшении радиуса орбиты электронов в рабочем пространстве энергоанализатора (вакуумной камеры) резко уменьшается зависимость параметров спектрометра от стороннего магнитного поля Земли. Это позволяет избавиться от специальных систем компенсации магнитного поля либо существенно их упростить, снизить габариты и вес ее электрических контуров.
Выполнение щелевой диафрагмы и детектора электронов с возможностью перемещения в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении позволяет полностью исключить систему компенсации составляющих магнитного поля Земли, параллельных нейтральной плоскости энергоанализатора. Это обусловлено тем, что указанные составляющие магнитного поля приводят лишь к смещению сфокусированного электронного пучка в радиальной плоскости энергоанализатора, которое может быть учтено путем соответствующего выбора положения щелевой диафрагмы и детектора в данной плоскости.
Изобретение поясняется чертежами, где на фиг.1 показан общий вид устройства в плане, на фиг.2 - в разрезе (по А-А).
Электронный магнитный спектрометр содержит (фиг.1, 2) вакуумную камеру (например, кольцевую) 1, источник 2 возбуждения (рентгеновская трубка, электронная или ионная пушка и т.п.) для воздействия на исследуемый образец 3, щелевую диафрагму 4, установленную перед детектором 5 электронов, и энергоанализатор, выполненный в виде двух пар 6 и 7 электрических круговых контуров (катушек), установленных снаружи вакуумной камеры 1. Ампервитки катушек и их размещение (диаметры и расстояния от нейтральной плоскости) выбраны таким образом, что напряженность Н магнитного поля в рабочей зоне энергоанализатора (вакуумной камеры) зависит от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением Н~ρ-α, где α=0,62-0,76. Катушки энергоанализатора соединены с блоком питания (не показан). Кроме того, щелевая диафрагма 4 и детектор 5 выполнены с возможностью перемещения (показано стрелками на фиг.1, 2) в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении.
Устройство работает следующим образом. Под действием источника 2 возбуждения (фиг.1, 2) из исследуемого объекта 3 эмитируют фото- или оже-электроны, которые в вакуумной камере 1 под влиянием неоднородного магнитного поля энергоанализатора (катушки 6, 7) подвергаются двойной фокусировке (по радиусу R и оси Z энергоанализатора), разделению по энергиям и попадают через щелевую диафрагму 4 на детектор 5 электронов и систему регистрации спектров (не показана). Влияние горизонтальных составляющих магнитного поля Земли устраняется за счет выбора положения щелевой диафрагмы 4 и детектора 5 в плоскости поперечного сечения энергоанализатора, при котором наблюдается максимальная интенсивность спектра, и фиксации в этом положении.
Благодаря выполнению энергоанализатора с возможностью создания в рабочем пространстве спектрометра магнитного поля, зависящего от радиуса ρ орбиты электронов (фиг.1) в соответствии с выражением Н~ρ-α, где α=0,62-0,76, радиус ρ0 центральной орбиты электронов может быть уменьшен без снижения основных показателей спектрометра (светосилы и разрешения) до 10 см и менее. По сравнению с известными устройствами это позволяет значительно снизить габариты, вес и стоимость прибора в целом, а отсутствие необходимости в системе компенсации внешних магнитных полей позволяет выполнить спектрометр компактным и переносным, что существенно расширяет его функциональные возможности.
Источники информации
1. Описание изобретения к патенту США №4593196, 03.06.1986 г.
2. Описание изобретения к патенту США №4949544, 25.09.1990 г.
3. Описание изобретения к патенту РФ №2086037, 27.07.1997 г.
4. Трапезников В.А., Шабанова И.Н., Варганов Д.В. и др. Новые автоматизированные магнитные спектрометры: спектрометры с технологическими приставками и манипуляторами и спектрометр для исследования расплавов. - Известия АН СССР. Сер. физическая, 1986, т.50, №9, с.1677-1682.
Claims (2)
1. Электронный магнитный спектрометр, содержащий вакуумную камеру, энергоанализатор в виде круговых электрических контуров, щелевую диафрагму и детектор электронов, отличающийся тем, что электрические контуры энергоанализатора выполнены с возможностью создания в вакуумной камере магнитного поля, зависящего от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением Н~ρ-α, где Н - напряженность магнитного поля, α=0,62-0,76.
2. Спектрометр по п.1, отличающийся тем, что щелевая диафрагма и детектор электронов выполнены с возможностью перемещения в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2007103658/28A RU2338295C1 (ru) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | Электронный магнитный спектрометр |
| PCT/RU2008/000168 WO2008147247A2 (ru) | 2007-01-30 | 2008-03-21 | Электронный магнитный спектрометр |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2007103658/28A RU2338295C1 (ru) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | Электронный магнитный спектрометр |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2338295C1 true RU2338295C1 (ru) | 2008-11-10 |
Family
ID=40075689
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2007103658/28A RU2338295C1 (ru) | 2007-01-30 | 2007-01-30 | Электронный магнитный спектрометр |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2338295C1 (ru) |
| WO (1) | WO2008147247A2 (ru) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2427056C1 (ru) * | 2010-05-28 | 2011-08-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ижевский государственный технический университет" | Фокусирующая система (варианты) |
| RU2531808C1 (ru) * | 2013-04-05 | 2014-10-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова | Ускоритель заряженных частиц |
| RU2551651C2 (ru) * | 2013-04-05 | 2015-05-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова | Высокочастотный электронно-ионный микроскоп |
| RU2559288C1 (ru) * | 2014-05-05 | 2015-08-10 | Общество с ограниченной ответственностью "ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ" | Способ аккумуляции энергии потока заряженных частиц |
| RU2624735C2 (ru) * | 2015-11-09 | 2017-07-06 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова" | Индукционный ускоритель |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN113075721B (zh) * | 2021-03-26 | 2022-09-30 | 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所 | 一种大量程便携式多功能电子磁谱仪 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1993016486A1 (en) * | 1992-02-17 | 1993-08-19 | Dca Instruments Oy | Method in the electron spectroscopy and an electron spectrometer |
| SU1814427A1 (ru) * | 1988-11-23 | 1995-04-20 | Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе | Электростатический спектрометр для энергетического и углового анализа заряженных частиц |
| RU2086037C1 (ru) * | 1991-06-17 | 1997-07-27 | Научно-исследовательский технологический институт | Электростатический анализатор энергии заряженных частиц |
| EP0617452B1 (en) * | 1993-03-26 | 1997-08-06 | Thermo Instrument Systems Inc | Charged particle analyser |
| RU2294579C1 (ru) * | 2005-06-17 | 2007-02-27 | Николай Алексеевич Холин | Анализатор энергий заряженных частиц |
-
2007
- 2007-01-30 RU RU2007103658/28A patent/RU2338295C1/ru not_active IP Right Cessation
-
2008
- 2008-03-21 WO PCT/RU2008/000168 patent/WO2008147247A2/ru not_active Ceased
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SU1814427A1 (ru) * | 1988-11-23 | 1995-04-20 | Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе | Электростатический спектрометр для энергетического и углового анализа заряженных частиц |
| RU2086037C1 (ru) * | 1991-06-17 | 1997-07-27 | Научно-исследовательский технологический институт | Электростатический анализатор энергии заряженных частиц |
| WO1993016486A1 (en) * | 1992-02-17 | 1993-08-19 | Dca Instruments Oy | Method in the electron spectroscopy and an electron spectrometer |
| EP0617452B1 (en) * | 1993-03-26 | 1997-08-06 | Thermo Instrument Systems Inc | Charged particle analyser |
| RU2294579C1 (ru) * | 2005-06-17 | 2007-02-27 | Николай Алексеевич Холин | Анализатор энергий заряженных частиц |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2427056C1 (ru) * | 2010-05-28 | 2011-08-20 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ижевский государственный технический университет" | Фокусирующая система (варианты) |
| RU2531808C1 (ru) * | 2013-04-05 | 2014-10-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова | Ускоритель заряженных частиц |
| RU2551651C2 (ru) * | 2013-04-05 | 2015-05-27 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова | Высокочастотный электронно-ионный микроскоп |
| RU2559288C1 (ru) * | 2014-05-05 | 2015-08-10 | Общество с ограниченной ответственностью "ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ" | Способ аккумуляции энергии потока заряженных частиц |
| RU2624735C2 (ru) * | 2015-11-09 | 2017-07-06 | федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова" | Индукционный ускоритель |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| WO2008147247A3 (ru) | 2009-02-12 |
| WO2008147247A2 (ru) | 2008-12-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4931640A (en) | Mass spectrometer with reduced static electric field | |
| RU2338295C1 (ru) | Электронный магнитный спектрометр | |
| JPH07508127A (ja) | 低速単色性電子を用いた質量分析方法及び装置 | |
| US4746802A (en) | Ion cyclotron resonance spectrometer | |
| Chouffani et al. | Determination of electron beam parameters by means of laser-Compton scattering | |
| US5389784A (en) | Ion cyclotron resonance cell | |
| JP5341900B2 (ja) | 荷電粒子エネルギー分析計 | |
| Mohr | First laser spectroscopy of Mg⁺ at CRYRINGESR and He-Like Boron at HITRAP | |
| Tchórz et al. | Capabilities of Thomson parabola spectrometer in various laser-plasma-and laser-fusion-related experiments | |
| Gavrilov et al. | Bunch shape monitors for modern ion linacs | |
| Mankos et al. | Design for a high resolution electron energy loss microscope | |
| JPH04505828A (ja) | 真空装置のリーク検出のための、冷陰極イオン源を用いる分圧ゲージ | |
| Jones et al. | Development of a pulsed, variable-energy positron beam for atomic scale defect studies | |
| US6617771B2 (en) | Electron ionization ion source | |
| JP7673609B2 (ja) | 質量分析装置 | |
| US10598754B2 (en) | Precision magnetic field monitoring in high radiation environments | |
| Buonomo et al. | Performance and upgrade of the DAFNE Beam Test Facility (BTF) | |
| JP2019102464A (ja) | 改善されたeels/eftemモジュールを有する透過型荷電粒子顕微鏡 | |
| Kato et al. | Pulse height analysis using Si-pin diode of x-ray irradiated from a 2.45 GHz electron cyclotron resonance multicharged ion source | |
| Uhlmann et al. | A new optical column for a scanning positron microscope | |
| Bondarenko et al. | Heavy ion beam injection systems for fusion plasma diagnostics | |
| US11906449B2 (en) | Mass spectrometer | |
| Müller et al. | A Simple Way to Upgrade a Compact Radiocarbon AMS Facility for 10Be | |
| Moe | DISSOCIATIVE ELECTRON ATTACHMENT IN THE HAIDGENS | |
| Hirsh et al. | Laboratory facility for ionospheric reaction studies |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20140131 |