[go: up one dir, main page]

RU2338295C1 - Электронный магнитный спектрометр - Google Patents

Электронный магнитный спектрометр Download PDF

Info

Publication number
RU2338295C1
RU2338295C1 RU2007103658/28A RU2007103658A RU2338295C1 RU 2338295 C1 RU2338295 C1 RU 2338295C1 RU 2007103658/28 A RU2007103658/28 A RU 2007103658/28A RU 2007103658 A RU2007103658 A RU 2007103658A RU 2338295 C1 RU2338295 C1 RU 2338295C1
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
magnetic field
energy analyzer
vacuum chamber
electrons
radius
Prior art date
Application number
RU2007103658/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Ирина Николаевна Шабанова (RU)
Ирина Николаевна Шабанова
Роза Анваровна Нуруллина (RU)
Роза Анваровна Нуруллина
Виктор Александрович Трапезников (RU)
Виктор Александрович Трапезников
Юрий Георгиевич Манаков (RU)
Юрий Георгиевич Манаков
Original Assignee
ЗАО "Торгово-промышленая компания "Удмуртия"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ЗАО "Торгово-промышленая компания "Удмуртия" filed Critical ЗАО "Торгово-промышленая компания "Удмуртия"
Priority to RU2007103658/28A priority Critical patent/RU2338295C1/ru
Priority to PCT/RU2008/000168 priority patent/WO2008147247A2/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2338295C1 publication Critical patent/RU2338295C1/ru

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/44Energy spectrometers, e.g. alpha-, beta-spectrometers
    • H01J49/46Static spectrometers
    • H01J49/463Static spectrometers using static magnetic fields

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Tubes For Measurement (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относится к области исследования и анализа материалов радиационными методами и может быть применено для диагностики структуры и состава поверхности и приповерхностных слоев твердых и жидких тел. Электронный магнитный спектрометр содержит вакуумную камеру, энергоанализатор в виде круговых электрических контуров, щелевую диафрагму и детектор электронов. Электрические контуры энергоанализатора выполнены с возможностью создания в вакуумной камере магнитного поля, зависящего от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением Н~ρ, где Н - напряженность магнитного поля, α=0,62-0,76. Кроме того, щелевая диафрагма и детектор электронов выполнены с возможностью перемещения в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении. Технический результат: упрощение устройства, снижение его габаритов и веса, расширение функциональных возможностей. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

Description

Изобретение относится к области исследования и анализа материалов радиационными методами и может быть применено для диагностики структуры и состава поверхности и приповерхностных слоев твердых и жидких тел.
Известны электронные спектрометры для измерения и анализа энергетического спектра электронов, испускаемых поверхностью твердого тела под действием тех или иных возбуждающих факторов, например рентгеновского излучения, электронного или ионного пучка. Они содержат энергоанализатор, в котором под воздействием электростатического или магнитного полей происходит разделение электронов по энергиям и фокусировка пучков электронов с одинаковой энергией на входную щель детектора.
Широко известны электронные спектрометры с различными видами электростатических энергоанализаторов [1-3]. Один из недостатков данного вида спектрометров связан с тем, что разделение электронов по энергиям происходит непосредственно внутри фокусирующих электродов. Это препятствует проведению различных технологических воздействий (например, нагрев, охлаждение) на объект в процессе исследования без ухудшения рабочих характеристик прибора (разрешение, светосила). Кроме того, в электростатических энергоанализаторах отсутствует фокусирующая плоскость, что препятствует использованию многоанодного детектора, позволяющего при измерении одновременно охватывать значительную энергетическую область и тем самым сокращать время получения спектров на несколько порядков. Эти приборы имеют низкую контрастность спектров из-за невозможности использования апертурных диафрагм определенной формы, позволяющих отсекать отраженные и другие шумовые электроны.
Наиболее близким техническим решением (прототипом) является электронный магнитный спектрометр [4], содержащий кольцевую вакуумную камеру, источник возбуждения электронов, держатель объекта, магнитный энергоанализатор с радиусом орбиты электронов 30 см, щелевую выходную диафрагму, детектор электронов и систему компенсации магнитного поля Земли. Магнитный энергоанализатор выполнен в виде двух пар круговых электрических контуров (катушек), соосных с кольцевой камерой, расположенных симметрично относительно нейтральной плоскости камеры и соединенных с блоком питания. Одна пара катушек расположена с внутренней стороны кольцевой камеры, а другая пара - с наружной стороны. Система компенсации магнитного поля Земли состоит из нескольких пар электрических контуров, соединенных с источником питания.
Недостатками известного устройства являются сложность, большие габариты, вес и стоимость прибора, а также ограниченные функциональные возможности. Это обусловлено большими размерами энергоанализатора, а также наличием крупногабаритных электрических контуров системы компенсации магнитного поля Земли. В известном устройстве энергоанализатор выполнен с возможностью получения магнитного поля в кольцевой камере, изменяющегося по радиусу в соответствии с формулой Н~ρ-0,5, где Н - напряженность магнитного поля, а ρ - радиус орбиты электронов. При таком законе распределения магнитного поля в энергоанализаторе дальнейшее уменьшение размеров последнего связано с заметным ухудшением параметров прибора (например, при уменьшении радиуса ρ0 центральной орбиты электронов до 10 см светосила уменьшается на порядок). С другой стороны, из-за малой величины напряженности магнитного поля в кольцевой камере с радиусом ρ0=30 см требуется тщательная компенсация стороннего магнитного поля, что обусловливает необходимость применения больших по размерам электрических контуров (колец Гельмгольца) для создания магнитного поля высокой однородности для компенсации магнитного поля Земли, причем как ее вертикальной составляющей, так и обеих горизонтальных компонент.
Предлагаемое изобретение направлено на упрощение устройства, снижение его габаритов, веса и стоимости прибора, расширение его функциональных возможностей.
Указанный технический результат достигается тем, что в электронном магнитном спектрометре, содержащем вакуумную камеру, энергоанализатор в виде круговых электрических контуров, щелевую диафрагму и детектор электронов, согласно изобретению электрические контуры энергоанализатора выполнены с возможностью создания в вакуумной камере магнитного поля, зависящего от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением
н~ρ,
где Н - напряженность магнитного поля, α=0,62-0,76.
Кроме того, щелевая диафрагма и детектор электронов выполнены с возможностью перемещения в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении.
Выполнение электрических контуров энергоанализатора с возможностью создания в вакуумной камере магнитного поля, напряженность поля Н которого зависит от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением Н~ρ, где α=0,62-0,76, позволяет существенно уменьшить радиус орбиты электронов без снижения основных параметров спектрометра (светосилы и разрешения). Соответственно, уменьшаются габариты энергоанализатора и расположенной внутри него вакуумной камеры, снижается вес аппаратуры и уменьшается стоимость прибора. Кроме того, расширяются функциональные возможности устройства (возможность установки в технологической линии, изготовления переносных приборов и т.д.). При выборе параметра α менее 0,62 и более 0,76 происходит ухудшение разрешения прибора на порядок.
Благодаря значительному (более чем на два порядка) увеличению напряженности магнитного поля при уменьшении радиуса орбиты электронов в рабочем пространстве энергоанализатора (вакуумной камеры) резко уменьшается зависимость параметров спектрометра от стороннего магнитного поля Земли. Это позволяет избавиться от специальных систем компенсации магнитного поля либо существенно их упростить, снизить габариты и вес ее электрических контуров.
Выполнение щелевой диафрагмы и детектора электронов с возможностью перемещения в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении позволяет полностью исключить систему компенсации составляющих магнитного поля Земли, параллельных нейтральной плоскости энергоанализатора. Это обусловлено тем, что указанные составляющие магнитного поля приводят лишь к смещению сфокусированного электронного пучка в радиальной плоскости энергоанализатора, которое может быть учтено путем соответствующего выбора положения щелевой диафрагмы и детектора в данной плоскости.
Изобретение поясняется чертежами, где на фиг.1 показан общий вид устройства в плане, на фиг.2 - в разрезе (по А-А).
Электронный магнитный спектрометр содержит (фиг.1, 2) вакуумную камеру (например, кольцевую) 1, источник 2 возбуждения (рентгеновская трубка, электронная или ионная пушка и т.п.) для воздействия на исследуемый образец 3, щелевую диафрагму 4, установленную перед детектором 5 электронов, и энергоанализатор, выполненный в виде двух пар 6 и 7 электрических круговых контуров (катушек), установленных снаружи вакуумной камеры 1. Ампервитки катушек и их размещение (диаметры и расстояния от нейтральной плоскости) выбраны таким образом, что напряженность Н магнитного поля в рабочей зоне энергоанализатора (вакуумной камеры) зависит от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением Н~ρ, где α=0,62-0,76. Катушки энергоанализатора соединены с блоком питания (не показан). Кроме того, щелевая диафрагма 4 и детектор 5 выполнены с возможностью перемещения (показано стрелками на фиг.1, 2) в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении.
Устройство работает следующим образом. Под действием источника 2 возбуждения (фиг.1, 2) из исследуемого объекта 3 эмитируют фото- или оже-электроны, которые в вакуумной камере 1 под влиянием неоднородного магнитного поля энергоанализатора (катушки 6, 7) подвергаются двойной фокусировке (по радиусу R и оси Z энергоанализатора), разделению по энергиям и попадают через щелевую диафрагму 4 на детектор 5 электронов и систему регистрации спектров (не показана). Влияние горизонтальных составляющих магнитного поля Земли устраняется за счет выбора положения щелевой диафрагмы 4 и детектора 5 в плоскости поперечного сечения энергоанализатора, при котором наблюдается максимальная интенсивность спектра, и фиксации в этом положении.
Благодаря выполнению энергоанализатора с возможностью создания в рабочем пространстве спектрометра магнитного поля, зависящего от радиуса ρ орбиты электронов (фиг.1) в соответствии с выражением Н~ρ, где α=0,62-0,76, радиус ρ0 центральной орбиты электронов может быть уменьшен без снижения основных показателей спектрометра (светосилы и разрешения) до 10 см и менее. По сравнению с известными устройствами это позволяет значительно снизить габариты, вес и стоимость прибора в целом, а отсутствие необходимости в системе компенсации внешних магнитных полей позволяет выполнить спектрометр компактным и переносным, что существенно расширяет его функциональные возможности.
Источники информации
1. Описание изобретения к патенту США №4593196, 03.06.1986 г.
2. Описание изобретения к патенту США №4949544, 25.09.1990 г.
3. Описание изобретения к патенту РФ №2086037, 27.07.1997 г.
4. Трапезников В.А., Шабанова И.Н., Варганов Д.В. и др. Новые автоматизированные магнитные спектрометры: спектрометры с технологическими приставками и манипуляторами и спектрометр для исследования расплавов. - Известия АН СССР. Сер. физическая, 1986, т.50, №9, с.1677-1682.

Claims (2)

1. Электронный магнитный спектрометр, содержащий вакуумную камеру, энергоанализатор в виде круговых электрических контуров, щелевую диафрагму и детектор электронов, отличающийся тем, что электрические контуры энергоанализатора выполнены с возможностью создания в вакуумной камере магнитного поля, зависящего от радиуса ρ орбиты электронов в соответствии с выражением Н~ρ, где Н - напряженность магнитного поля, α=0,62-0,76.
2. Спектрометр по п.1, отличающийся тем, что щелевая диафрагма и детектор электронов выполнены с возможностью перемещения в плоскости поперечного сечения энергоанализатора и фиксации в заданном положении.
RU2007103658/28A 2007-01-30 2007-01-30 Электронный магнитный спектрометр RU2338295C1 (ru)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2007103658/28A RU2338295C1 (ru) 2007-01-30 2007-01-30 Электронный магнитный спектрометр
PCT/RU2008/000168 WO2008147247A2 (ru) 2007-01-30 2008-03-21 Электронный магнитный спектрометр

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2007103658/28A RU2338295C1 (ru) 2007-01-30 2007-01-30 Электронный магнитный спектрометр

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2338295C1 true RU2338295C1 (ru) 2008-11-10

Family

ID=40075689

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2007103658/28A RU2338295C1 (ru) 2007-01-30 2007-01-30 Электронный магнитный спектрометр

Country Status (2)

Country Link
RU (1) RU2338295C1 (ru)
WO (1) WO2008147247A2 (ru)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2427056C1 (ru) * 2010-05-28 2011-08-20 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ижевский государственный технический университет" Фокусирующая система (варианты)
RU2531808C1 (ru) * 2013-04-05 2014-10-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова Ускоритель заряженных частиц
RU2551651C2 (ru) * 2013-04-05 2015-05-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова Высокочастотный электронно-ионный микроскоп
RU2559288C1 (ru) * 2014-05-05 2015-08-10 Общество с ограниченной ответственностью "ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ" Способ аккумуляции энергии потока заряженных частиц
RU2624735C2 (ru) * 2015-11-09 2017-07-06 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова" Индукционный ускоритель

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113075721B (zh) * 2021-03-26 2022-09-30 中国工程物理研究院上海激光等离子体研究所 一种大量程便携式多功能电子磁谱仪

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1993016486A1 (en) * 1992-02-17 1993-08-19 Dca Instruments Oy Method in the electron spectroscopy and an electron spectrometer
SU1814427A1 (ru) * 1988-11-23 1995-04-20 Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе Электростатический спектрометр для энергетического и углового анализа заряженных частиц
RU2086037C1 (ru) * 1991-06-17 1997-07-27 Научно-исследовательский технологический институт Электростатический анализатор энергии заряженных частиц
EP0617452B1 (en) * 1993-03-26 1997-08-06 Thermo Instrument Systems Inc Charged particle analyser
RU2294579C1 (ru) * 2005-06-17 2007-02-27 Николай Алексеевич Холин Анализатор энергий заряженных частиц

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1814427A1 (ru) * 1988-11-23 1995-04-20 Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе Электростатический спектрометр для энергетического и углового анализа заряженных частиц
RU2086037C1 (ru) * 1991-06-17 1997-07-27 Научно-исследовательский технологический институт Электростатический анализатор энергии заряженных частиц
WO1993016486A1 (en) * 1992-02-17 1993-08-19 Dca Instruments Oy Method in the electron spectroscopy and an electron spectrometer
EP0617452B1 (en) * 1993-03-26 1997-08-06 Thermo Instrument Systems Inc Charged particle analyser
RU2294579C1 (ru) * 2005-06-17 2007-02-27 Николай Алексеевич Холин Анализатор энергий заряженных частиц

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2427056C1 (ru) * 2010-05-28 2011-08-20 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Ижевский государственный технический университет" Фокусирующая система (варианты)
RU2531808C1 (ru) * 2013-04-05 2014-10-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова Ускоритель заряженных частиц
RU2551651C2 (ru) * 2013-04-05 2015-05-27 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова Высокочастотный электронно-ионный микроскоп
RU2559288C1 (ru) * 2014-05-05 2015-08-10 Общество с ограниченной ответственностью "ИНФОРМАЦИОННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ" Способ аккумуляции энергии потока заряженных частиц
RU2624735C2 (ru) * 2015-11-09 2017-07-06 федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Ижевский государственный технический университет имени М.Т. Калашникова" Индукционный ускоритель

Also Published As

Publication number Publication date
WO2008147247A3 (ru) 2009-02-12
WO2008147247A2 (ru) 2008-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4931640A (en) Mass spectrometer with reduced static electric field
RU2338295C1 (ru) Электронный магнитный спектрометр
JPH07508127A (ja) 低速単色性電子を用いた質量分析方法及び装置
US4746802A (en) Ion cyclotron resonance spectrometer
Chouffani et al. Determination of electron beam parameters by means of laser-Compton scattering
US5389784A (en) Ion cyclotron resonance cell
JP5341900B2 (ja) 荷電粒子エネルギー分析計
Mohr First laser spectroscopy of Mg⁺ at CRYRINGESR and He-Like Boron at HITRAP
Tchórz et al. Capabilities of Thomson parabola spectrometer in various laser-plasma-and laser-fusion-related experiments
Gavrilov et al. Bunch shape monitors for modern ion linacs
Mankos et al. Design for a high resolution electron energy loss microscope
JPH04505828A (ja) 真空装置のリーク検出のための、冷陰極イオン源を用いる分圧ゲージ
Jones et al. Development of a pulsed, variable-energy positron beam for atomic scale defect studies
US6617771B2 (en) Electron ionization ion source
JP7673609B2 (ja) 質量分析装置
US10598754B2 (en) Precision magnetic field monitoring in high radiation environments
Buonomo et al. Performance and upgrade of the DAFNE Beam Test Facility (BTF)
JP2019102464A (ja) 改善されたeels/eftemモジュールを有する透過型荷電粒子顕微鏡
Kato et al. Pulse height analysis using Si-pin diode of x-ray irradiated from a 2.45 GHz electron cyclotron resonance multicharged ion source
Uhlmann et al. A new optical column for a scanning positron microscope
Bondarenko et al. Heavy ion beam injection systems for fusion plasma diagnostics
US11906449B2 (en) Mass spectrometer
Müller et al. A Simple Way to Upgrade a Compact Radiocarbon AMS Facility for 10Be
Moe DISSOCIATIVE ELECTRON ATTACHMENT IN THE HAIDGENS
Hirsh et al. Laboratory facility for ionospheric reaction studies

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20140131