RU2338284C1 - Сегнетоэлектрический элемент для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации - Google Patents
Сегнетоэлектрический элемент для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации Download PDFInfo
- Publication number
- RU2338284C1 RU2338284C1 RU2007117471/09A RU2007117471A RU2338284C1 RU 2338284 C1 RU2338284 C1 RU 2338284C1 RU 2007117471/09 A RU2007117471/09 A RU 2007117471/09A RU 2007117471 A RU2007117471 A RU 2007117471A RU 2338284 C1 RU2338284 C1 RU 2338284C1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- film
- ferroelectric
- lead
- ferroelectric element
- polycrystalline
- Prior art date
Links
Landscapes
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области электроники и может быть использовано при конструировании датчиков оптического излучения видимой области спектра и преобразователей солнечной энергии. Техническим результатом является повышение точности и надежности работы. Устройство содержит расположенную на подложке пленку на основе поляризованного сегнетоэлектрика - цирконата-титаната свинца с двухсторонним электродным покрытием, которое с внешней стороны пленки полупрозрачно. Для повышения надежности устройства путем обеспечения его работы в статическом режиме пленка цирконата-титаната свинца выполнена поликристаллической в матрице оксида свинца. 2 з.п. ф-лы, 1 ил., 2 табл.
Description
Изобретение относится к микроэлектронике и микросенсорике и может быть использовано при конструировании датчиков оптического излучения видимой области спектра и преобразователей солнечной энергии. Преимущественной областью использования является конструирование и технология производства запоминающих устройств (ЗУ) с оптическим считыванием информации.
Известен сегнетоэлектрический элемент с оптической записью информации, содержащий сэндвич-структуру сегнетоэлектрических и фотопроводящих слоев, заключенных между парами электродов с образованием многослойного конденсатора (US 4041477, G11В 7/24, G11C 11/22, 1977).
Однако данная конструкция обладает низкой чувствительностью и сложна в изготовлении.
Для повышения чувствительности и возможности выбора рабочей области спектра оптического излучения сегнетоэлектрический элемент с оптической записью информации, включающий подложку с последовательно нанесенными на нее слоем металла - электродом, слоем сегнетоэлектрика, выполненного из поляризованного нелегированного материала, и полупроводниковым слоем, выполненным из униполярного материала, где знак поверхностного заряда слоя сегнетоэлектрика совпадает со знаком заряда основных носителей полупроводникового слоя, и электроды к полупроводниковому слою для подключения сегнетоэлектрической пленки и участков полупроводниковой пленки к внешней электрической цепи (RU 2281585, H01L 31/10, 2006).
Известен также энергонезависимый сегнетоэлектрический элемент для ЗУ, содержащий сегнетоэлектрик или электрет с гистерезисной характеристикой поляризации, на базе которого сформирована одна или несколько ячеек памяти в виде конденсаторов (WO 03/021601, G11C 11/22, 2003; WO 03/052762, G11C 5/02, 2003; WO 03/088041, G06F 15/00, 2003; RU 2269830, G11C 11/22, H01L 27/115, H01L 23/532, 2006).
Однако данные устройства является энергозависимыми в отношении считывания выходного сигнала.
Для обеспечения высокоскоростного оптоэлектронного считывания информации сегнетоэлектрический элемент выполнен в виде конденсатора, между пластинами которого расположена пленка цирконата-титаната свинца (Thakoor, "High speed optoelectronic response from the edges of lead zirconatettanate or titanate thin films capacitors". Applied Physics Letters, Vol.63 No.23 pages 3233-3235, Dec.6, 1993). Этот принцип реализован в конструкции ближайшего аналога - сегнетоэлектрического элемента для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации, содержащего пленку на основе поляризованного сегнетоэлектрика - цирконата-титаната свинца (ЦТС) с двухсторонним электродным покрытием, выполненным полупрозрачным с внешней стороны пленки. При этом сегнетоэлектрическая пленка с указанным покрытием расположена на подложке, а для повышения надежности устройства его схема считывания информации оснащена амплитудным детектором, учитывающим амплитуды отклонений информационного сигнала при изменении полярности (US 6108111, G11C 11/22, H01G 7/06, 2000).
Однако выходной сигнал при освещении прототипного устройства видимой областью спектра является импульсным, что снижает точность и надежность измерений.
Техническая задача предлагаемого устройства состоит в повышении точности и надежности его работы.
Решение указанной технической задачи состоит в том, что в сегнетоэлектрическом элементе для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации, содержащем расположенную на подложке пленку на основе поляризованного сегнетоэлектрика - ЦТС с двухсторонним электродным покрытием, которое с внешней стороны пленки является полупрозрачным, используемая пленка ЦТС выполнена поликристаллической в матрице оксида свинца.
Причинно-следственная связь внесенного изменения с достигнутым техническим результатом состоит в том, что генерируемые под действием излучения видимого диапазона в полупроводниковой матрице носители заряда разделяются полем поляризации сегнетоэлектрических кристаллитов. Поэтому в короткозамкнутой цепи конденсатора с поликристаллической пленкой ЦТС в течение времени освещения протекает стационарный фототок, статическая характеристика которого зависит от интенсивности потока светового облучения.
На чертеже приведена конструкция предлагаемого устройства.
Сегнетоэлектрический элемент для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации содержит подложку 1, на которую нанесена пленка 2 поликристаллического поляризованного сегнетоэлектрика - ЦТС, выполненная в матрице PbO. На чертеже кристаллы ЦТС обозначены поз.2, а заполнение между ними (матрица PbO) - поз.26. Пленка 2 снабжена двухсторонним электродным покрытием (поз.3 и 4), причем внешнее покрытие 4, расположенное со стороны принимаемого светового потока, выполнено полупрозрачным. Во внешней электрической цепи установлен наноамперметр 5, подключенный к электродным покрытиям 3 и 4 с помощью выводов 6 и 7 соответственно для измерения тока в режиме короткого замыкания.
При освещении сегнетоэлектрического элемента с длиной волны в видимой области спектра, направленном со стороны электродного покрытия 4, возникает фототок, фиксируемый прибором 5. При этом значение и знак фототока изменяются в зависимости от степени и направления остаточной поляризации ЦТС соответственно. Это и обеспечивает возможность не только оптического считывания информации при использовании целевого изделия в составе запоминающих устройств, но и измерение освещенности.
Предлагаемый сегнетоэлектрический элемент может быть изготовлен, как описано в нижеследующих примерах.
ПРИМЕР 1. На кремниевую подложку 1 наносят 150-нм электродное покрытие 3 ионо-плазменным распылением платины. Далее наносят поликристаллическую пленку ЦТС высокочастотным магнетронным распылением мишени из PbZrxTi1-xO3. Для разных вариантов целевого изделия данную операцию выполняют согласно описанию изобретения US 6340621, С23С 14/08, H01L 21/316, 21/02, 2002 высокочастотным магнетронным распылением мишени из PbZrxTi1-xO3 со сверхстехиометрическим (1,15±0,05) содержанием Pb при температуре 350°С в течение 1 ч с последующим отжигом при 620°С в течение 30 мин, а также способом, предусматривающим низкотемпературное распыление мишени при 110÷150°С и прочих равных условиях.
По окончании операции отжига на внешнюю поверхность пленки ЦТС наносят полупрозрачное платиновое электродное покрытие 4 толщиной 20 нм с помощью установки ионо-плазменного распыления. К электродным покрытиям 3 и 4 присоединяют выводы 6 и 7 для подключения к внешней электрической цепи.
Для поляризации сегнетоэлектриков к выводам 6 и 7 прикладывают постоянное напряжение 3В.
Результаты 4-кратных испытаний полученных сегнетоэлектрических элементов в режиме короткого замыкания при освещении покрытия 4 галогенной лампой мощностью 20Вт с расстояния 20 см и различной направленности остаточной поляризации ЦТС приведены в табл.1. Как видно из табл., получение поликристаллической пленки ЦТС в матрице PbO с использованием данной технологии возможно только в режиме низкотемпературного (110÷150°С) распыления мишени. При высокотемпературном распылении мишени происходит интенсивное испарение Pb вследствие чего матрица PbO не образуется и целевое изделие оказывается нечувствительным к световому воздействию. Оптимальный вариант целевого изделия достигается при использовании пленки ЦТС, полученной высокочастотным магнетронным распылением мишени из PbZrxTi1-xO3 со сверхстехиометрическим содержанием Pb при температуре подложки 130°С. В этом случае наблюдается среднее значение фототока, равное 7,8 нА. В темновом режиме фототок отсутствует.
ПРИМЕР 2. На кремниевую подложку 1 наносят электродное покрытие 3, как в примере 1. Далее для разных вариантов целевого изделия наносят пленку ЦТС химическим осаждением из паров металлоорганических соединений с последующим отжигом. Основные процессы данной операции осуществляют согласно описанию патента KR 100438809, G11C 11/22, Н01L 21/20, 41/16, 2004 при избыточном соотношении Pb/(Zr+Ti), равном 1,08, как это указано в данном патенте, а также при соотношении Pb/(Zr+Ti)=0,95±0,025 в течение 1 ч при температуре подложки 545°С с последующим отжигом в течение 1 мин при 600°С. Возможно, что указанные значения режимных параметров технологии являются уникальными, поскольку в переводе указанного патента они отсутствуют. Это, по-видимому, обеспечивает получение требуемой поликристаллической структуры пленки ЦТС в матрице PbO, тогда как задачей способа по патентному описанию KR 100438809 является получение монокристаллической пленки ЦТС в отсутствие прослойки PbO. При этом имеет место парадоксальный факт, что предлагаемый режим, где, как указано выше, соотношение свинца к цирконию и титану меньше единицы, позволяет получить пленку ЦТС в матрице PbO, тогда как в прототипном способе даже избытке свинца в предшественнике пленку ЦТС получают без прослойки PbO. Причина этого явления неизвестна.
Остальные операции выполняют, как в примере 1.
Технические характеристики полученных целевых изделий указаны в табл.2. Как видно из табл., использование поликристаллической пленки ЦТС в матрице PbO, полученной описанным в данном примере способом, обеспечивает изготовление целевых изделий, обладающих фоточувствительностью в видимой части спектра, что подтверждается значением фототока от 6,6 до 7,2 нА при освещении покрытия 4 галогенной лампой мощностью 20 Вт с расстояния 20 см. В темновом режиме фототок отсутствует.
Как проиллюстрировано приведенными примерами, использование предлагаемого технического решения по сравнению с прототипом обеспечивает повышение точности и надежности работы целевого изделия, поскольку выходной сигнал является статическим, вследствие чего его значение не зависит от длительности измерений и погрешностей, вносимых в амплитудное значение, как это имело место при дифференциальном отклике на освещение изделия-прототипа.
Техническим результатом, производным от достигнутого, является расширение диапазона использования целевого изделия, поскольку оно в ключевом режиме может использоваться для оптического считывания двоичной информации в схемах запоминающих устройств, где входной сигнал управляет направлением поляризации ЦТС, а в непрерывном режиме - для измерения освещенности.
| Таблица 1 | |||
| Технические характеристики целевых изделий к примеру 1 | |||
| Температура подложки при нанесения пленки ЦТС, °С | Микроструктура пленки ЦТС | Остаточная поляризация пленки ЦТС, мКл/см2 | Фототок, нА |
| 350 (US 6340621) | Поликристаллическая без прослойки PbO | 41 | 0 |
| 250 | «-» | 37 | 0 |
| 150 | Поликристаллическая в матрице PbO | 35 | 2,3 |
| 130 | «-» | 33 | 7,8 |
| 110 | «-» | 32 | 4,5 |
| Таблица 2 | |||
| Технические характеристики целевых изделий к примеру 2 | |||
| Соотношение компонентов Pb/(Zr+Ti) в газе-предшественнике | Микроструктура пленки ЦТС | Остаточная поляризация пленки ЦТС, мКл/см2 | Фототок, нА |
| >1 (KR 100438809) | Моноблочная без прослоек PbO | Данных нет | 0 |
| 0,925 | Поликристаллическая в матрице PbO | 32 | 7,2 |
| 0,950 | «-» | 28 | 7,0 |
| 0,975 | «-» | 25 | 6,3 |
Claims (3)
1. Сегнетоэлектрический элемент для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации, содержащий расположенную на подложке пленку на основе поляризованного сегнетоэлектрика - цирконата-титаната свинца с двухсторонним электродным покрытием, которое с внешней стороны пленки выполнено полупрозрачным, отличающийся тем, что пленка цирконата-титаната свинца выполнена поликристаллической в матрице оксида свинца.
2. Сегнетоэлектрический элемент по п.1, отличающийся тем, что используют поликристаллическую пленку цирконата-титаната свинца в матрице оксида свинца, полученную высокочастотным магнетронным распылением мишени из PbZrxTi1-xO3 со сверхстехиометрическим содержанием Pb.
3. Сегнетоэлектрический элемент по п.1, отличающийся тем, что используют поликристаллическую пленку цирконата-титаната свинца в матрице оксида свинца, полученную химическим осаждением из паров металлоорганических соединений.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2007117471/09A RU2338284C1 (ru) | 2007-05-10 | 2007-05-10 | Сегнетоэлектрический элемент для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2007117471/09A RU2338284C1 (ru) | 2007-05-10 | 2007-05-10 | Сегнетоэлектрический элемент для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2338284C1 true RU2338284C1 (ru) | 2008-11-10 |
Family
ID=40230460
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2007117471/09A RU2338284C1 (ru) | 2007-05-10 | 2007-05-10 | Сегнетоэлектрический элемент для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2338284C1 (ru) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2649622C1 (ru) * | 2016-12-23 | 2018-04-04 | Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники" | Ячейка сегнетоэлектрической памяти |
| RU2728256C1 (ru) * | 2020-03-05 | 2020-07-28 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Северо-Кавказский горно-металлургический институт (государственный технологический университет) | Сегнетоэлектрический фотоприемник |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1177939A (en) * | 1966-02-14 | 1970-01-14 | Bliss E W Co | Method of Making a Memory Device |
| US4041477A (en) * | 1975-06-09 | 1977-08-09 | Jenoptik Jena G.M.B.H. | Ferroelectric-photoconductor optical storage |
| SU1496577A1 (ru) * | 1986-12-25 | 1995-07-20 | Ростовский государственный университет им.М.А.Суслова | Активный элемент преобразователя динамических деформаций |
| SU1128730A1 (ru) * | 1983-04-27 | 1996-05-10 | Конструкторское бюро "Шторм" при Киевском политехническом институте им.50-летия Великой Октябрьской социалистической революции | Фотоэлектрический преобразователь |
| US6108111A (en) * | 1994-04-18 | 2000-08-22 | California Institute Of Technology | Ferroelectric optical computing device with low optical power non-destructive read-out |
| US6340621B1 (en) * | 1996-10-30 | 2002-01-22 | The Research Foundation Of State University Of New York | Thin film capacitor and method of manufacture |
| RU2184400C2 (ru) * | 1997-08-15 | 2002-06-27 | Тин Филм Электроникс Аса | Сегнетоэлектрическое устройство обработки данных |
| KR100438809B1 (ko) * | 1997-11-21 | 2004-09-18 | 삼성전자주식회사 | 피제트티박막제조방법 |
| RU2281585C1 (ru) * | 2005-06-30 | 2006-08-10 | Петр Валентинович Афанасьев | Датчик оптического излучения и система контроля оптического излучения с его использованием |
-
2007
- 2007-05-10 RU RU2007117471/09A patent/RU2338284C1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1177939A (en) * | 1966-02-14 | 1970-01-14 | Bliss E W Co | Method of Making a Memory Device |
| US4041477A (en) * | 1975-06-09 | 1977-08-09 | Jenoptik Jena G.M.B.H. | Ferroelectric-photoconductor optical storage |
| SU1128730A1 (ru) * | 1983-04-27 | 1996-05-10 | Конструкторское бюро "Шторм" при Киевском политехническом институте им.50-летия Великой Октябрьской социалистической революции | Фотоэлектрический преобразователь |
| SU1496577A1 (ru) * | 1986-12-25 | 1995-07-20 | Ростовский государственный университет им.М.А.Суслова | Активный элемент преобразователя динамических деформаций |
| US6108111A (en) * | 1994-04-18 | 2000-08-22 | California Institute Of Technology | Ferroelectric optical computing device with low optical power non-destructive read-out |
| US6340621B1 (en) * | 1996-10-30 | 2002-01-22 | The Research Foundation Of State University Of New York | Thin film capacitor and method of manufacture |
| RU2184400C2 (ru) * | 1997-08-15 | 2002-06-27 | Тин Филм Электроникс Аса | Сегнетоэлектрическое устройство обработки данных |
| KR100438809B1 (ko) * | 1997-11-21 | 2004-09-18 | 삼성전자주식회사 | 피제트티박막제조방법 |
| RU2281585C1 (ru) * | 2005-06-30 | 2006-08-10 | Петр Валентинович Афанасьев | Датчик оптического излучения и система контроля оптического излучения с его использованием |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2649622C1 (ru) * | 2016-12-23 | 2018-04-04 | Акционерное общество "Научно-исследовательский институт молекулярной электроники" | Ячейка сегнетоэлектрической памяти |
| RU2728256C1 (ru) * | 2020-03-05 | 2020-07-28 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Северо-Кавказский горно-металлургический институт (государственный технологический университет) | Сегнетоэлектрический фотоприемник |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Ji et al. | Bulk photovoltaic effect at visible wavelength in epitaxial ferroelectric BiFeO3 thin films | |
| US20130026382A1 (en) | Photovoltaic uv detector | |
| Gödel et al. | Thin film synthesis of SbSI micro-crystals for self-powered photodetectors with rapid time response | |
| Iskandar et al. | Characterizations of electrical and optical properties on ferroelectric photodiode of barium strontium titanate (Ba0. 5Sr0. 5TiO3) films based on the annealing time differences and its development as light sensor on satellite technology | |
| Afanasjev et al. | Formation and properties of PZT-PbO thin heterophase films | |
| JP2002170938A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| RU2338284C1 (ru) | Сегнетоэлектрический элемент для запоминающего устройства с оптическим считыванием информации | |
| US10115456B2 (en) | Multi-states nonvolatile opto-ferroelectric memory material and process for preparing the same thereof | |
| RU71023U1 (ru) | Сегнетоэлектрическое устройство с оптическим считыванием | |
| Lin et al. | Superconducting Property and Structure Studies of YBa2Cu3O7–Ag2O Composites | |
| Shen et al. | Improved self-powered photodetection of ferroelectric PbZr0. 52Ti0. 48O3 Thin Films via Interfacial Engineering | |
| Yu et al. | Luminescent characteristics of ZnGa2O4: Mn phosphor thin films grown by radio-frequency magnetron sputtering | |
| Zomorrodian et al. | Micro photo detector fabricated of ferroelectric–metal heterostructure | |
| Wei et al. | Current distribution and vortex-vortex interaction in a superconducting film of finite thickness | |
| CN107681016B (zh) | 电压控制的、光电导呈正负可逆变化的薄膜器件及调控法 | |
| LEE et al. | A FEASIBILITY STUDY ON THE USE OF AMORPHOUS-SILICON AS OPTICAL-RECORDING MEDIUM | |
| Heh et al. | Preparation of Bi 0.7 Pb 0.3 Sr 1.0 Ca 1.0 Cu 1.8 O y High-T c Superconductor by the Citrate Method | |
| Bor-Wen et al. | Readout scheme by pulsed irradiation center aperture detection on magnetically induced super resolution magnetooptical disks | |
| Chao et al. | Ellipsometric measurements and its alignment-Using the intensity ratio technique | |
| Yin et al. | Fabrication and raman analysis of ZnSe quantum dots in glass matrix thin films by pulsed laser evaporation | |
| KR0152581B1 (ko) | 불휘발성 강유전체 박막 제조방법 | |
| Chen et al. | Raman and X-ray studies of InN films grown at different temperatures by metalorganic vapor phase epitaxy | |
| Wang et al. | EFFECT OF SN ON THE SUPERCONDUCTIVITY OF THE DYBA2CU3O7-DELTA SYSTEM | |
| Chen et al. | Electrical and optical characteristics of an a-Si: H/c-Si heterojunction switch | |
| JPH10270646A (ja) | 強誘電体薄膜素子の製造方法及び半導体装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |
Effective date: 20170511 |