RU2256165C2 - Microwave method for confining heterogeneities and metal ferrite coatings, and for evaluating their relative amount - Google Patents
Microwave method for confining heterogeneities and metal ferrite coatings, and for evaluating their relative amount Download PDFInfo
- Publication number
- RU2256165C2 RU2256165C2 RU2002123468/09A RU2002123468A RU2256165C2 RU 2256165 C2 RU2256165 C2 RU 2256165C2 RU 2002123468/09 A RU2002123468/09 A RU 2002123468/09A RU 2002123468 A RU2002123468 A RU 2002123468A RU 2256165 C2 RU2256165 C2 RU 2256165C2
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- heterogeneity
- normal
- wave
- coatings
- max
- Prior art date
Links
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims abstract description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 title claims abstract description 13
- 229910000859 α-Fe Inorganic materials 0.000 title abstract 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 27
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 5
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 claims description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 abstract description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 abstract description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 abstract description 2
- 239000003973 paint Substances 0.000 abstract description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 abstract 1
- 239000013598 vector Substances 0.000 description 11
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 4
- 230000004807 localization Effects 0.000 description 4
- 238000011089 mechanical engineering Methods 0.000 description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 3
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 3
- 230000035699 permeability Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 244000052769 pathogen Species 0.000 description 1
- 230000001717 pathogenic effect Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 239000002966 varnish Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
Description
Предлагаемое изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств твердых покрытий на металле при разработке неотражающих и поглощающих покрытий, а также в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности.The present invention relates to methods for determining the heterogeneity of the electrophysical and geometric parameters of dielectric and magnetodielectric coatings on a metal surface and can be used to control the composition and properties of hard coatings on metal in the development of non-reflective and absorbing coatings, as well as in chemical, paint and varnish and other industries.
Известен СВЧ способ контроля нарушения сплошности, базирующийся на воздействии контролируемой среды или объекта на сигнал, прошедший через образец /см. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник под ред. Клюева. T.1. - М.: Машиностроение, 1976. С. 198/.There is a known microwave method for monitoring discontinuity, based on the effect of a controlled medium or object on a signal passing through a sample / cm. Devices for non-destructive testing of materials and products. Handbook Ed. Klyueva. T.1. - M.: Mechanical Engineering, 1976.P. 198 /.
Недостатками данного способа являются: низкая точность локализации и оценки геометрических и электрофизических параметров неоднородностей из-за влияния переотражений; необходимость согласования границы раздела с приемной и излучающей антеннами; невозможность измерения неоднородностей покрытий на металлической подложке; трудность реализации способа для объекта с большими геометрическими размерами.The disadvantages of this method are: low accuracy of localization and estimation of geometric and electrophysical parameters of inhomogeneities due to the influence of reflections; the need to coordinate the interface with the receiving and radiating antennas; the impossibility of measuring inhomogeneities of coatings on a metal substrate; the difficulty of implementing the method for an object with large geometric dimensions.
Известен СВЧ способ контроля внутреннего состояния объекта, в основе которого лежит воздействие контролируемой среды или объекта на сигнал, прошедший через образец, либо отраженный от него /см. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник под ред. Клюева. T.1. - М.: Машиностроение, 1976. С.201/.There is a known microwave method for monitoring the internal state of an object, which is based on the influence of a controlled environment or object on a signal transmitted through a sample or reflected from it / cm. Devices for non-destructive testing of materials and products. Handbook Ed. Klyueva. T.1. - M.: Mechanical Engineering, 1976. S.201 /.
Недостатками данного способа являются: низкая точность локализации и оценки геометрических и электрофизических параметров неоднородностей из-за влияния переотражений; необходимость начального согласования плоскостей поляризации приемной и передающей антенн, когда сигнал в приемной антенне равен нулю; трудность реализации способа для многослойных сред.The disadvantages of this method are: low accuracy of localization and estimation of geometric and electrophysical parameters of inhomogeneities due to the influence of reflections; the need for initial coordination of the polarization planes of the receiving and transmitting antennas when the signal in the receiving antenna is zero; the difficulty of implementing the method for multilayer environments.
Известен принятый за прототип СВЧ способ контроля нарушения сплошности, заключающийся в создании электромагнитного поля в объеме контролируемого материала и последующей регистрации изменения параметров, характеризующих высокочастотный сигнал, отраженный от дефекта или поверхности образца /см. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник под ред. Клюева. T.1. - М.: Машиностроение, 1976.С.199/.Known adopted for the prototype microwave method for monitoring discontinuity, which consists in creating an electromagnetic field in the volume of the material being monitored and then recording changes in the parameters characterizing the high-frequency signal reflected from the defect or surface of the sample / cm. Devices for non-destructive testing of materials and products. Handbook Ed. Klyueva. T.1. - M.: Mechanical Engineering, 1976.P.199 /.
Недостатками данного способа являются: наличие непосредственной электромагнитной связи между приемной и передающей антеннами; влияние изменения зазора между поверхностью контролируемого материала и приемной антенной; малая чувствительность и низкая точность локализации и оценки геометрических и электрофизических параметров неоднородностей; наличие зон необнаружения дефекта из-за интерференции волн; большие габариты измерительной системы, реализующей данный способ.The disadvantages of this method are: the presence of direct electromagnetic coupling between the receiving and transmitting antennas; the effect of changing the gap between the surface of the material being monitored and the receiving antenna; low sensitivity and low accuracy of localization and estimation of geometric and electrophysical parameters of inhomogeneities; the presence of zones of non-detection of a defect due to wave interference; large dimensions of the measuring system that implements this method.
Техническим результатом изобретения является повышение точности определения и оценки неоднородностей геометрических и электрофизических параметров непроводящих покрытий на металлической подложке.The technical result of the invention is to improve the accuracy of determining and evaluating the heterogeneity of the geometric and electrophysical parameters of non-conductive coatings on a metal substrate.
Сущность изобретения состоит в том, что в СВЧ способе локализации неоднородностей в диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытиях на металле и оценки их относительной величины, заключающемся в создании электромагнитного поля в объеме контролируемого диэлектрического покрытия на электропроводящей подложке и последующей регистрации изменения параметров, характеризующих высокочастотное поле возбуждают медленную поверхностную Е-волну, измеряют в начальной точке с помощью системы приемных вибраторов затухание напряженности поля Е поверхностной волны в нормальной плоскости относительно ее направления распространения в разнесенных точках;The essence of the invention lies in the fact that in the microwave method of localizing inhomogeneities in dielectric and magnetodielectric coatings on a metal and estimating their relative magnitude, which consists in creating an electromagnetic field in the volume of a controlled dielectric coating on an electrically conductive substrate and then recording changes in parameters characterizing a high-frequency field, they excite a slow surface E-wave, measured at the starting point using a system of receiving vibrators attenuation of the floor i E is a surface wave in a normal plane relative to its propagation direction at spaced points;
рассчитывают коэффициент нормального затухания αj по формуле:the normal attenuation coefficient α j is calculated by the formula:
где E(yj-1) и E(yj) - напряженности поля поверхностной волны в нормальной плоскости относительно направления распространения в разнесенных точках измерений yj-1 и yj;where E (y j-1 ) and E (y j ) are the field strengths of the surface wave in the normal plane relative to the propagation direction at the spaced measurement points y j-1 and y j ;
d - расстояние (шаг) между точками измерений;d is the distance (step) between the measurement points;
- количество точек измерений по нормали к поверхности (по оси Y); - the number of measurement points along the normal to the surface (along the Y axis);
вычисляют среднее значение коэффициента нормального затухания αср напряженности поля поверхностной медленной волны:calculate the average value of the coefficient of normal attenuation α cf field strength of the surface slow wave:
определяют максимальное отклонение коэффициента затухания Δαмакс:determine the maximum deviation of the attenuation coefficient Δα max :
где αj макс - максимальное значение коэффициента нормального затухания из всех возможных измеренных значений;where α j max is the maximum value of the normal attenuation coefficient of all possible measured values;
и сравнивают его величину с пороговой: Δα=Δαпорог-Δαмакс;and compare its value with the threshold: Δα = Δα threshold -Δα max ;
в микропроцессорном устройстве запоминаются координаты начальной точки сканирования и значение Δα;in the microprocessor device, the coordinates of the starting point of the scan and the value of Δα are stored;
производят сканирование всей поверхности в пределах заданного изменения размера покрытия и по массиву значений Δα по всем дискретным точкам измерений определяют границы неоднородности и ее площадь и по соотношению S1/S, где S1 - площадь неоднородности; S - общая площадь поверхности сканирования, судят об относительных размерах локализованной области неоднородности;scanning the entire surface within a given change in the size of the coating and the array of Δα values for all discrete measurement points determine the boundaries of the heterogeneity and its area and the ratio S 1 / S, where S 1 is the area of heterogeneity; S is the total surface area of the scan, judge the relative size of the localized region of heterogeneity;
вычисляют "информативный" объем:calculate the "informative" volume:
где zn и Хн - начальные точки измерений; Zкон и Хкон - конечные точки измерений, Δх и Δz - расстояние (шаг) между соседними точками сканирования поверхности по осям Х и Z;where z n and X n are the starting points of the measurements; Z con and X con - end points of measurements, Δx and Δz - distance (step) between adjacent points of surface scanning along the axes X and Z;
и определяют интегральный параметр, характеризующий неоднородность:and determine the integral parameter characterizing the heterogeneity:
На фиг.1 представлена схема реализации предлагаемого СВЧ способа локализации неоднородностей в диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытиях на металле и оценки их относительной величины. С помощью устройства возбуждения медленных поверхностных волн, представляющего собой рупорную антенну 1, возбуждают медленную поверхностную Е - волну, длиной λ, вдоль расположенного на электропроводящей металлической подложке 2 диэлектрического покрытия 3 с неизвестными параметрами: толщиной слоя b, относительной диэлектрической проницаемостью ε, относительной магнитной проницаемостью μ, модулем волнового сопротивления zВ и фазовой скоростью Vф; при условии обеспечения режима ее одномодовости, т.е. отсутствия следующей моды волны Н, выбирая длину волны генератора λг из условия:Figure 1 presents a diagram of an implementation of the proposed microwave method for localizing inhomogeneities in dielectric and magnetodielectric coatings on a metal and estimating their relative magnitude. Using a slow surface wave excitation device, which is a horn antenna 1, a slow surface E wave of length λ is excited along a dielectric coating 3 located on an electrically conductive metal substrate 2 with unknown parameters: layer thickness b, relative permittivity ε, relative magnetic permeability μ, the modulus of the impedance z V and the phase velocity V f ; subject to the provision of its single-mode regime, i.e. the absence of the following wave mode H, choosing the wavelength of the generator λ g from the condition:
где εмакc, μмакc, bмакс - максимально возможные значения диэлектрической и магнитной проницаемостей и толщины покрытия.where ε max , μ max , b max are the maximum possible values of permittivity and permeability and coating thickness.
С помощью системы приемных вибраторов 4 в начальной точке поверхности (хi, zi) на линии максимума диаграммы направленности (ДН) устройства возбуждения медленной поверхностной волны, направленной вдоль оси Z, измеряют напряженность поля Е поверхностной волны в нормальной плоскости относительно направления ее распространения (в точке у). Делают первоначальный шаг Δy=d и измеряют напряженность поля поверхностной волны в точке y+d.Using a system of receiving vibrators 4 at the starting point of the surface (x i , z i ) on the maximum line of the radiation pattern (LH) of the excitation device of a slow surface wave directed along the Z axis, the field E of the surface wave is measured in the normal plane relative to its propagation direction ( at the point y). Take the initial step Δy = d and measure the field strength of the surface wave at the point y + d.
При этом существует два варианта реализации системы приемных вибраторов: вибратор, перемещаемый в нормальной плоскости относительно направления распространения поля поверхностной медленной волны, или набор приемных вибраторов с постоянным дискретным расстоянием d между ними.There are two options for implementing a system of receiving vibrators: a vibrator moving in a normal plane relative to the direction of propagation of the surface slow wave field, or a set of receiving vibrators with a constant discrete distance d between them.
Рассчитывают коэффициент нормального затухания αi из выражения:The normal attenuation coefficient α i is calculated from the expression:
где Е(у) и E(y+d) - напряженности поля поверхностной волны в нормальной плоскости относительно направления распространения в разнесенных точках измерений y и y+d;where E (y) and E (y + d) are the field strengths of the surface wave in the normal plane relative to the propagation direction at the spaced measurement points y and y + d;
d - расстояние (шаг) между точками измерений.d is the distance (step) between the measurement points.
Мерой параметров неоднородностей покрытия является отклонение распределения напряженности поля в зоне дифракции от экспоненциального Е(у)=Е0ехр[-α(y)y], характерного для зоны покрытия без неоднородностей или, что то же самое, непостоянство α(y), т.е. его зависимость от у в точке измерения. Отклонение напряженности поля от экспоненциального есть результат интерференции полей поверхностной медленной волны с рассеянно отраженной от неоднородности быстрой волны (являющейся результатом дифракции медленной поверхностной волны на неоднородности) вне слоя (y≥b) для геометрической неоднородности любого типа, т.к. она может быть аппроксимирована суммой клиновидных неоднородностей при малом шаге Δz или внутри слоя (y<b), причем любая электрофизическая неоднородность может быть сведена к геометрической неоднородности.A measure of the parameters of coating inhomogeneities is the deviation of the distribution of the field strength in the diffraction zone from the exponential E (y) = E 0 exp [-α (y) y] characteristic of the coating zone without inhomogeneities or, what is the same, the variability of α (y), those. its dependence on y at the measurement point. The deviation of the field strength from the exponential is the result of the interference of the fields of a surface slow wave scattered from the inhomogeneity of a fast wave (resulting from the diffraction of a slow surface wave by an inhomogeneity) outside the layer (y≥b) for any type of geometric heterogeneity, because it can be approximated by the sum of wedge-shaped inhomogeneities at a small step Δz or inside the layer (y <b), and any electrophysical inhomogeneity can be reduced to geometric heterogeneity.
На фиг.2 показана векторная картина дифракции неоднородной поверхностной волны длиной λ от топологической неоднородности с постоянными диэлектрической ε и магнитной μ проницаемостями и градиентом толщины покрытия gradzb, взятым в качестве примера параметра геометрической неоднородности (в принципе, зная связь a(b,ε), любую электрофизическую неоднородность можно привести к геометрической), гдеFigure 2 shows the vector diffraction pattern of an inhomogeneous surface wave of length λ from topological heterogeneity with dielectric constant ε and magnetic permeability μ and the coating thickness gradient grad z b taken as an example of the geometric heterogeneity parameter (in principle, knowing the relationship a (b, ε ), any electrophysical heterogeneity can be reduced to geometric), where
"- вектор затухания поверхностной электромагнитной волны в нормальной плоскости (недиссипативный вектор затухания); "is the attenuation vector of the surface electromagnetic wave in the normal plane (non-dissipative attenuation vector);
’- фазовый вектор, определяющий величину распространения поверхностной электромагнитной волны вдоль замедляющей структуры; 'is the phase vector that determines the magnitude of the propagation of a surface electromagnetic wave along the slowing structure;
- суммарный вектор распространения поверхностной электромагнитной волны; - the total propagation vector of the surface electromagnetic wave;
- вектор распространения отраженной (быстрой) волны; - the propagation vector of the reflected (fast) wave;
γн - угол наклона (начальный) вектора отраженной волны до топологической неоднородности;γ n - the slope (initial) of the vector of the reflected wave to topological heterogeneity;
γК - угол наклона (конечный) вектора отраженной волны на топологической неоднородности;γ K is the tilt angle (final) of the vector of the reflected wave on the topological heterogeneity;
b1 - толщина слоя диэлектрического покрытия до топологической неоднородности;b 1 is the thickness of the dielectric coating layer to a topological heterogeneity;
b2 - максимальная толщина слоя с топологической неоднородностью;b 2 - the maximum thickness of the layer with topological heterogeneity;
β - угол наклона топологической неоднородности покрытия.β is the angle of inclination of the topological heterogeneity of the coating.
Анализ векторной диаграммы показывает, что деформация экспоненциального распределения напряженности поля поверхностной волны (Фиг.3б) объясняется суперпозицией недиссипативного вектора затухания поверхностной волны ” и конуса векторов быстрой волны дифракции .The analysis of the vector diagram shows that the deformation of the exponential distribution of the surface wave field strength (Fig.3b) is explained by the superposition of the non-dissipative surface wave attenuation vector ”And the cone of the vectors of the fast diffraction wave .
Далее переводят приемный вибратор в следующую точку, делая постоянный, либо адаптивно изменяющийся относительно величины изменения коэффициента затухания шаг Δу и повторяют измерения.Next, the receiving vibrator is transferred to the next point, making a step Δy that is constant or adaptively changing relative to the magnitude of the attenuation coefficient change and the measurements are repeated.
Вычисляют все значения αj, где j∈[1,...n-1] - количество точек измерений, и рассчитывают среднее значение коэффициента затухания αcp:All values of αj are calculated, where j∈ [1, ... n-1] is the number of measurement points, and the average value of the attenuation coefficient α cp is calculated:
Определяют максимальное отклонение коэффициента затухания Δαмакс:Determine the maximum deviation of the attenuation coefficient Δα max :
и сравнивают его значение с пороговым Δαпорог, величина которого назначается по необходимой точности локализации неоднородности или по метрологическим соображениям, например, пороговой точности измерения Е, α и т.д. Можно также сравнивать счетную сумму по индексу j модулей всех отклонений, сравнивая ее с назначенной пороговой величиной.and compare its value with a threshold Δα threshold , the value of which is assigned according to the necessary accuracy of localization of heterogeneity or for metrological reasons, for example, threshold accuracy of measurement of E, α, etc. It is also possible to compare the calculated sum by the index j of the modules of all deviations, comparing it with the assigned threshold value.
В микропроцессорном устройстве (МПУ) запоминаются координаты этой точки сканирования и значение Δα=Δαпорог-Δαмакс.The coordinates of this scanning point and the value Δα = Δα threshold -Δα max . Are stored in a microprocessor device (MPU).
Делают шаг Δz1 в направлении максимума ДН и производят аналогичный цикл измерений коэффициента затухания в точке (хi, zi+Δz1). Если среднее значение коэффициента затухания αcp в точке (хi, zi) отличается от αcp в точке (хi, zi+Δz1), то следующий шаг в направлении максимума ДН (оси Z)-Δz выбирается адаптивно из условия:Make a step Δz 1 in the direction of the maximum of the beam and make a similar cycle of measurements of the attenuation coefficient at the point (x i , z i + Δz 1 ). If the average value of the attenuation coefficient α cp at the point (x i , z i ) differs from α cp at the point (x i , z i + Δz 1 ), then the next step in the direction of the maximum of the beam (Z axis) -Δz is adaptively selected from the condition :
где C1 и С2 - коэффициенты пропорциональности, имеющие постоянные значения.where C 1 and C 2 are proportionality coefficients having constant values.
Повторяют цикл измерения Δαмакс по направлению максимума ДН в пределах заданного изменения размера покрытия по оси Z от начального ZH до конечного Zкон.Repeat the measurement cycle Δα max in the direction of the maximum of the DN within the specified change in the size of the coating along the Z axis from the initial Z H to the final Z con .
Делают шаг Δх1, перемещая аппертуру излучателя и приемные вибраторы, и производят измерения Δαмакс по направлению максимума ДН по оси Z в обратном направлении от Zкон до ZH. Цикл измерения Δαмакс повторяется. При этом возможно адаптивное изменение Δxi и Δуj, подобно Δzn.Take a step Δx 1 , moving the aperture of the emitter and receiving vibrators, and measure Δα max in the direction of the maximum of the beam along the Z axis in the opposite direction from Z con to Z H. The measurement cycle Δα max is repeated. In this case, an adaptive change in Δx i and Δу j is possible, similar to Δz n .
В МПУ запоминается массив дискретных значений Δα по всем дискретным точкам измерений и строится график значений Δα по поверхности XZ. Определяют границы неоднородностей и площади поверхностей S1, где Δα≠0, и S2, где Δα=0, а по соотношению S1/(S1+S2) судят об относительных размерах локализованной в области S1 неоднородности (фиг.4).An array of discrete values of Δα for all discrete measurement points is stored in the MPU and a graph of values of Δα over the surface XZ is constructed. The boundaries of the inhomogeneities and the surface area S 1 , where Δα ≠ 0, and S 2 , where Δα = 0, and the ratio S 1 / (S 1 + S 2 ) are determined, the relative sizes of the heterogeneity localized in the region S 1 are determined (Fig. 4 )
Вычисляют “информативный” объем:The “informative " volume is calculated:
и определяют интегральный параметр, характеризующий неоднородность:and determine the integral parameter characterizing the heterogeneity:
Для устранения погрешности от влияния конечных размеров площади сканирования переводят излучатель и приемные вибраторы так, чтобы максимум ДН был направлен по оси Х, и определяют коэффициент затухания по алгоритму, как и для рассмотренного выше случая, когда максимум ДН был направлен по оси Z. Результаты измерений и вычислений усредняют в каждой дискрентной точке.To eliminate errors from the influence of the finite dimensions of the scanning area, the emitter and receiving vibrators are moved so that the maximum of the beam is directed along the X axis, and the attenuation coefficient is determined by the algorithm, as for the case considered above, when the maximum of the beam was directed along the Z axis. Measurement results and the calculations are averaged at each discrete point.
Таким образом, предлагаемый способ позволяет определить границы неоднородностей диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на металле и их относительные размеры и количественную относительную меру отклонения от однородности покрытия, а так как измерения относительные и не зависят от расстояния вибраторов до поверхности, то не требуется специальных мер отстройки от зазора, что повышает точность измерений и дает возможность быстрого сканирования поверхности без перемещения возбудителя поверхностной волны.Thus, the proposed method allows to determine the boundaries of the inhomogeneities of the dielectric and magnetodielectric coatings on the metal and their relative sizes and a quantitative relative measure of deviation from the uniformity of the coating, and since the measurements are relative and do not depend on the distance of the vibrators to the surface, no special measures of detuning from the gap are required , which increases the accuracy of measurements and makes it possible to quickly scan the surface without moving the surface wave pathogen.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2002123468/09A RU2256165C2 (en) | 2002-09-02 | 2002-09-02 | Microwave method for confining heterogeneities and metal ferrite coatings, and for evaluating their relative amount |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| RU2002123468/09A RU2256165C2 (en) | 2002-09-02 | 2002-09-02 | Microwave method for confining heterogeneities and metal ferrite coatings, and for evaluating their relative amount |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2002123468A RU2002123468A (en) | 2004-10-10 |
| RU2256165C2 true RU2256165C2 (en) | 2005-07-10 |
Family
ID=35838680
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2002123468/09A RU2256165C2 (en) | 2002-09-02 | 2002-09-02 | Microwave method for confining heterogeneities and metal ferrite coatings, and for evaluating their relative amount |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| RU (1) | RU2256165C2 (en) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2301987C1 (en) * | 2005-10-19 | 2007-06-27 | ГОУ ВПО Тамбовское высшее военное авиационное инженерное училище радиоэлектроники (Военный институт) | Uhf method for irregularity introscopy of dielectric and magneto-dielectric surfaces using a slow surface wave |
| RU2507506C2 (en) * | 2012-05-23 | 2014-02-20 | Федеральное государственное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный авиационный инженерный университет" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации | Microwave method of detecting and evaluating non-uniformities in dielectric coatings on metal |
| RU2604094C1 (en) * | 2015-11-23 | 2016-12-10 | Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации | Uhf method of irregularities detecting in dielectric coatings on metal substrate |
| RU2623668C1 (en) * | 2015-12-28 | 2017-06-28 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки "Морской гидрофизический институт РАН" | Method of remote determination of the relative dielectric permeability of the environment under the atmosphere-ocean border |
| RU2672759C1 (en) * | 2017-12-19 | 2018-11-19 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки "Морской гидрофизический институт РАН" | Method of remote determination of relative dielectric permeability of sea water under the ocean-atmosphere boundary |
-
2002
- 2002-09-02 RU RU2002123468/09A patent/RU2256165C2/en not_active IP Right Cessation
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| КЛЮЕВ В.В. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. М.: "Машиностроение", 1976, т.1, с.199. * |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2301987C1 (en) * | 2005-10-19 | 2007-06-27 | ГОУ ВПО Тамбовское высшее военное авиационное инженерное училище радиоэлектроники (Военный институт) | Uhf method for irregularity introscopy of dielectric and magneto-dielectric surfaces using a slow surface wave |
| RU2507506C2 (en) * | 2012-05-23 | 2014-02-20 | Федеральное государственное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный авиационный инженерный университет" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации | Microwave method of detecting and evaluating non-uniformities in dielectric coatings on metal |
| RU2604094C1 (en) * | 2015-11-23 | 2016-12-10 | Федеральное государственное казенное военное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Военный учебно-научный центр Военно-воздушных сил "Военно-воздушная академия имени профессора Н.Е. Жуковского и Ю.А. Гагарина" (г. Воронеж) Министерства обороны Российской Федерации | Uhf method of irregularities detecting in dielectric coatings on metal substrate |
| RU2623668C1 (en) * | 2015-12-28 | 2017-06-28 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки "Морской гидрофизический институт РАН" | Method of remote determination of the relative dielectric permeability of the environment under the atmosphere-ocean border |
| RU2672759C1 (en) * | 2017-12-19 | 2018-11-19 | Федеральное государственное бюджетное учреждение науки "Морской гидрофизический институт РАН" | Method of remote determination of relative dielectric permeability of sea water under the ocean-atmosphere boundary |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2507506C2 (en) | Microwave method of detecting and evaluating non-uniformities in dielectric coatings on metal | |
| JP6392331B2 (en) | Nondestructive absolute measurement of the thickness or depth of dielectric materials | |
| JP5554463B2 (en) | Specific absorption rate measuring device | |
| US8035400B2 (en) | High-resolution, nondestructive imaging of dielectric materials | |
| JP6620098B2 (en) | Nondestructive material characterization waveguide probe | |
| RU2256165C2 (en) | Microwave method for confining heterogeneities and metal ferrite coatings, and for evaluating their relative amount | |
| Mukherjee et al. | Enhancement of microwave time reversal imaging using metallic reflectors | |
| Guo et al. | Extraction of the pavement permittivity and thickness from measured ground-coupled GPR data using a ground-wave technique | |
| RU2301987C1 (en) | Uhf method for irregularity introscopy of dielectric and magneto-dielectric surfaces using a slow surface wave | |
| Li et al. | Noncontact detection of air voids under glass epoxy jackets using a microwave system | |
| Pieraccini et al. | Joint time-frequency analysis for investigation of layered masonry structures using penetrating radar | |
| US11733282B2 (en) | Probe for non-intrusively detecting imperfections in a test object | |
| Fedorov et al. | Comparison of the measurement accuracy of material sample specular reflection coefficient for two types of measuring facilities | |
| RU2421758C1 (en) | Method of determining geometrical and electrophysical parameters of plane layered medium | |
| RU2338179C1 (en) | Uhf method for defining surface moisture of dielectric coatings on metal, and device for implementation of method | |
| Ramzi et al. | Near-field microwave imaging using open-ended circular waveguides | |
| RU2249178C2 (en) | Super-high frequency method of measurement of dielectric permeability and thickness of dielectric plates | |
| RU2273839C2 (en) | Microwave method and device for measuring electromagnetic parameters of dielectric and magnetic-dielectric coatings applied onto metal | |
| Niimi et al. | Experimental Study on Dielectric Constant and Boundary Estimation Method for Double-Layered Dielectric Object for UWB Radars | |
| JP2003014658A (en) | Microwave non-destructive evaluation device | |
| Buday et al. | Practical implementation of hardware and software complex for planar measurements of antenna characteristics in the near zone | |
| Chang et al. | Radio acoustic sounding systems: part 2. Use of the Fresnel approximation concept for a received signal notation | |
| He et al. | Simulation of a multi-frequency continuous-wave reconstruction technique for subsurface conductivity and dielectric-constant profiles | |
| Schultz et al. | Near-field probe measurements of microwave scattering from discontinuities in planar surfaces | |
| RU2146046C1 (en) | Electromagnetic flaw detection method |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MM4A | The patent is invalid due to non-payment of fees |