Claims (23)
1. Кристаллическая форма А соединения формулы (I), отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 6,12±0,20°, 9,25±0,20° и 14,45±9,29°,1. Crystalline form A of the compound of formula (I), characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angles 2θ values of 6.12±0.20°, 9.25±0.20° and 14.45±9.29°,
. .
2. Кристаллическая форма А по п. 1, отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 6,12±0,20°, 7,98±0,20°, 9,25±0,20°, 14,45±0,20°, 16,02±0,20° и 24,52±0,20°.2. Crystalline form A according to claim 1, characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angle values 2θ of 6.12±0.20°, 7.98±0.20°, 9.25±0.20°, 14.45±0.20°, 16.02±0.20° and 24.52±0.20°.
3. Кристаллическая форма А по п. 2, отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 6,12±9,29°, 7,98±9,29°, 9,25±9,29°, 12,21±9,29°, 14,45±9,29°, 16,92±9,29°, 29,29±9,29° и 24,52±9,29°.3. Crystalline form A according to claim 2, characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angles 2θ values of 6.12±9.29°, 7.98±9.29°, 9.25±9.29°, 12.21±9.29°, 14.45±9.29°, 16.92±9.29°, 29.29±9.29° and 24.52±9.29°.
4. Кристаллическая форма А по п. 3, отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 6,12±9,29°, 7,98±0,20°, 9,25±0,20°, 19,08±0,29°, 12,21±0,20°, 14,45±0,20°, 15,13±0,20°, 16,02±0,20°, 20,20±0,20°, 21,35±0,20°, 21,96±0,20° и 24,52±9,20°.4. Crystalline form A according to claim 3, characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angles 2θ values of 6.12±9.29°, 7.98±0.20°, 9.25±0.20°, 19.08±0.29°, 12.21±0.20°, 14.45±0.20°, 15.13±0.20°, 16.02±0.20°, 20.20±0.20°, 21.35±0.20°, 21.96±0.20° and 24.52±9.20°.
5. Кристаллическая форма А по п. 4, отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 6,12°, 7,98°, 9,25°, 19,08°, 12,21°, 14,45°, 15,13°, 16,92°, 18,34°, 29,29°, 21,35°, 21,96°, 23,41°, 24,52°, 25,43°, 27,39°, 28,56°, 29,93°, 29,96°, 31,75° и 37,38°.5. Crystalline form A according to claim 4, characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angles 2θ values of 6.12°, 7.98°, 9.25°, 19.08°, 12.21°, 14.45°, 15.13°, 16.92°, 18.34°, 29.29°, 21.35°, 21.96°, 23.41°, 24.52°, 25.43°, 27.39°, 28.56°, 29.93°, 29.96°, 31.75° and 37.38°.
6. Кристаллическая форма А по п. 5, отличающаяся тем, что указанная кристаллическая форма А имеет порошковую рентгеновскую дифрактограмму, по существу показанную на фигуре 1.6. Crystalline form A according to claim 5, characterized in that said crystalline form A has a powder X-ray diffraction pattern essentially shown in Figure 1.
7. Кристаллическая форма А по любому из пп. 1-6, отличающаяся тем, что указанная кристаллическая форма А имеет кривую дифференциальной сканирующей калориметрии, содержащую эндотермический пик, начинающийся при 299,9±3,9°С.7. Crystalline form A according to any one of claims 1 to 6, characterized in that said crystalline form A has a differential scanning calorimetry curve containing an endothermic peak starting at 299.9±3.9°C.
8. Кристаллическая форма А по п. 7, отличающаяся тем, что указанная кристаллическая форма А имеет кривую дифференциальной сканирующей калориметрии, показанную на фигуре 2.8. Crystalline form A according to claim 7, characterized in that said crystalline form A has a differential scanning calorimetry curve shown in Figure 2.
9. Соединение формулы II:9. Compound of formula II:
. .
10. Кристаллическая форма В соединения формулы (II), отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 4,579±9,299°, 6,898±9,299° и 15,918±9,299°,10. Crystalline form B of the compound of formula (II), characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angles 2θ values of 4.579±9.299°, 6.898±9.299° and 15.918±9.299°,
. .
11. Кристаллическая форма В по п. 10, отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 4,579±0,200°, 6,898±0,200°, 13,019±0,200°, 15,918±0,200°, 19,697±0,200° и 25,200±0,200°.11. Crystalline form B according to claim 10, characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angles 2θ values of 4.579±0.200°, 6.898±0.200°, 13.019±0.200°, 15.918±0.200°, 19.697±0.200° and 25.200±0.200°.
12. Кристаллическая форма В по п. 11, отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 4,579±0,200°, 6,898±0,200°, 7,941±0,200°, 11,218±0,200°, 13,019±0,200°, 15,918±0,200°, 19,697±0,200° и 25,200±0,200°.12. Crystalline form B according to claim 11, characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angles 2θ values of 4.579±0.200°, 6.898±0.200°, 7.941±0.200°, 11.218±0.200°, 13.019±0.200°, 15.918±0.200°, 19.697±0.200° and 25.200±0.200°.
13. Кристаллическая форма В по п. 12, отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 4,579±0,200°, 6,898±0,200°, 7,941±0,200°, 11,218±0,200°, 13,019±0,200°, 14,701±0,200°, 15,918±0,200°, 17,338±0,200°, 19,697±0,200°, 22,540±0,200°, 25,200±0,200° и 27,798±0,200°.13. Crystalline form B according to claim 12, characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angles 2θ values of 4.579±0.200°, 6.898±0.200°, 7.941±0.200°, 11.218±0.200°, 13.019±0.200°, 14.701±0.200°, 15.918±0.200°, 17.338±0.200°, 19.697±0.200°, 22.540±0.200°, 25.200±0.200° and 27.798±0.200°.
14. Кристаллическая форма В по п. 13, отличающаяся тем, что ее порошковая рентгеновская дифрактограмма содержит характеристические дифракционные пики при значениях дифракционных углов 2θ 4,579°, 6,898°, 7,941°, 9,070°, 9,423°, 11,218°, 13,019°, 13,796°, 14,701°, 15,182°, 15,918°, 17,338°, 18,939°, 19,461°, 19,697°, 20,700°, 21,602°, 22,200°, 22,540°, 22,818°, 23,919°, 24,461°, 25,200°, 25,639°, 26,563°, 27,120°, 27,798°, 28,156°, 28,595°, 29,000°, 29,339°, 30,739°, 32,064°, 32,355°, 33,201°, 34,156°, 35,020°, 36,063° и 39,176°.14. Crystalline form B according to claim 13, characterized in that its powder X-ray diffraction pattern contains characteristic diffraction peaks at diffraction angles 2θ values of 4.579°, 6.898°, 7.941°, 9.070°, 9.423°, 11.218°, 13.019°, 13.796°, 14.701°, 15.182°, 15.918°, 17.338°, 18.939°, 19.461°, 19.697°, 20.700°, 21.602°, 22.200°, 22.540°, 22.818°, 23.919°, 24.461°, 25.200°, 25.639°, 26.563°, 27.120°, 27.798°, 28.156°, 28.595°, 29.000°, 29.339°, 30.739°, 32.064°, 32.355°, 33.201°, 34.156°, 35.020°, 36.063° and 39.176°.
15. Кристаллическая форма В по п. 14, отличающаяся тем, что указанная кристаллическая форма В имеет порошковую рентгеновскую дифрактограмму, по существу показанную на фигуре 3.15. Crystalline form B according to claim 14, characterized in that said crystalline form B has a powder X-ray diffraction pattern essentially shown in Figure 3.
16. Кристаллическая форма В по любому из пп. 10-15, отличающаяся тем, что указанная кристаллическая форма В имеет кривую дифференциальной сканирующей калориметрии с эндотермическим пиком, начинающимся при 240,16±3,0°С, и экзотермическим пиком с вершиной пика при 282,04±3,0°С.16. Crystalline form B according to any one of paragraphs. 10-15, characterized in that said crystalline form B has a differential scanning calorimetry curve with an endothermic peak starting at 240.16±3.0°C and an exothermic peak with a peak apex at 282.04±3.0°C.
17. Кристаллическая форма В по п. 16, отличающаяся тем, что указанная кристаллическая форма В имеет кривую дифференциальной сканирующей калориметрии, показанную на фигуре 4.17. Crystalline form B according to claim 16, characterized in that said crystalline form B has a differential scanning calorimetry curve shown in Figure 4.
18. Кристаллическая форма В по любому из пп. 10-15, отличающаяся тем, что потеря массы указанной кристаллической формы В составляет 0,3643% при 200,0±3°С согласно ее кривой термогравиметрического анализа.18. Crystalline form B according to any one of paragraphs 10-15, characterized in that the loss of mass of said crystalline form B is 0.3643% at 200.0±3°C according to its thermogravimetric analysis curve.
19. Кристаллическая форма В по п. 18, отличающаяся тем, что указанная кристаллическая форма В имеет кривую термогравиметрического анализа, показанную на фигуре 5.19. Crystalline form B according to claim 18, characterized in that said crystalline form B has a thermogravimetric analysis curve shown in Figure 5.
20. Применение кристаллической формы А по любому из пп. 1-8, соединения по п. 9 или кристаллической формы В по любому из пп. 10-19 для получения лекарственного средства, связанного с лечением теносиновиальной гиганте клеточной опухоли.20. The use of crystalline form A according to any one of claims 1-8, a compound according to claim 9 or crystalline form B according to any one of claims 10-19 for the preparation of a medicinal product associated with the treatment of tenosynovial giant cell tumor.