[go: up one dir, main page]

RU2015152045A - Дифракция в ближнем поле на основе эффекта тальбота для спектральной фильтрации - Google Patents

Дифракция в ближнем поле на основе эффекта тальбота для спектральной фильтрации Download PDF

Info

Publication number
RU2015152045A
RU2015152045A RU2015152045A RU2015152045A RU2015152045A RU 2015152045 A RU2015152045 A RU 2015152045A RU 2015152045 A RU2015152045 A RU 2015152045A RU 2015152045 A RU2015152045 A RU 2015152045A RU 2015152045 A RU2015152045 A RU 2015152045A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
diffraction pattern
component
arrangement
ray
grating
Prior art date
Application number
RU2015152045A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2666153C2 (ru
RU2015152045A3 (ru
Inventor
Эвальд РЕССЛЬ
Томас КЕЛЕР
Original Assignee
Конинклейке Филипс Н.В.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Конинклейке Филипс Н.В. filed Critical Конинклейке Филипс Н.В.
Publication of RU2015152045A publication Critical patent/RU2015152045A/ru
Publication of RU2015152045A3 publication Critical patent/RU2015152045A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2666153C2 publication Critical patent/RU2666153C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G21K1/065—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators using refraction, e.g. Tomie lenses
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
    • G21K1/06—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diffraction, refraction or reflection, e.g. monochromators
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K2207/00—Particular details of imaging devices or methods using ionizing electromagnetic radiation such as X-rays or gamma rays
    • G21K2207/005—Methods and devices obtaining contrast from non-absorbing interaction of the radiation with matter, e.g. phase contrast

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Claims (20)

1. Компоновка (100) на основе решетки для спектральной фильтрации рентгеновского пучка (В), содержащая:
дисперсионный элемент (10), содержащий призму, сконфигурированную для дифрагирования рентгеновского пучка (В) на первую компоненту (BC1) пучка, имеющую первое направление (D1), и вторую компоненту (BC2) пучка, имеющую второе направление (D2), отклоненное от первого направления;
первую решетку (20), сконфигурированную для создания первой дифракционной диаграммы (DP1) упомянутой первой компоненты (BC1) пучка и второй дифракционной диаграммы (DP2) упомянутой второй компоненты (BC2) пучка, при этом вторая дифракционная диаграмма (DP2) сдвинута относительно первой дифракционной диаграммы (DP1); и
вторую решетку (30), содержащую по меньшей мере одно отверстие (31), установленное на линии (d) от максимальной (MA) до минимальной (MI) интенсивности первой дифракционной диаграммы (DP1) или второй дифракционной диаграммы (DP2).
2. Компоновка (100) по п. 1, в которой первое направление (D1) и второе направление (D2) отклонены друг от друга, образуя угол отклонения (α+).
3. Компоновка (100) по п. 1 или 2, в которой первая решетка (20) сконфигурирована для сдвига второй дифракционной диаграммы (DP2) относительно первой дифракционной диаграммы (DP1) в направлении, соответствующем направлению упомянутой линии (d).
4. Компоновка (100) по п. 1 или 2, в которой первая компонента (BC1) пучка и/или вторая компонента (BC2) пучка содержат квазимонохроматическое рентгеновское излучение.
5. Компоновка (100) по п. 1 или 2, в которой первая решетка (20) сконфигурирована для создания первой дифракционной диаграммы (DP1) первой компоненты (BC1) пучка и второй дифракционной диаграммы (DP2) второй компоненты (BC2) пучка в качестве дифракционного эффекта в ближнем поле.
6. Компоновка (100) по п. 1 или 2, в которой вторая дифракционная диаграмма (DP2) сдвинута относительно первой дифракционной диаграммы (DP1) путем энергозависимого сдвига в поперечном направлении.
7. Компоновка (100) по п. 1 или 2, в которой первая решетка (20) и/или вторая решетка (30) содержат периодическую структуру.
8. Компоновка (100) по п. 1 или 2, в которой первая решетка (20) и/или вторая решетка (30) сконфигурирована с возможностью перемещения таким образом, чтобы по меньшей мере одно отверстие (31) могло перемещаться по линии (d) от максимальной (MA) до минимальной (MI) интенсивности первой дифракционной диаграммы (DP1) или второй дифракционной диаграммы (DP2).
9. Компоновка (100) по п. 1 или 2, в которой дисперсионный элемент (10) и первая решетка (20) интегрированы таким образом, что они образуют дисперсионную решетку (40).
10. Компоновка (100) по п. 1 или 2, в которой дисперсионный элемент (10) содержит периодическую структуру из призм (50), где каждая из указанных призм (50) сконфигурирована для дифрагирования рентгеновского пучка (B) на первую компоненту (BC1) пучка, имеющую первое направление (D1), и вторую компоненту (BC2) пучка, имеющую второе направление (D2), и при этом указанное второе направление отклонено относительно первого направления.
11. Компоновка (100) по п. 1 или 2, в которой первая решетка (20) представляет собой решетку из микролинз.
12. Рентгеновская система (200) с источником (210) рентгеновского излучения, который выполнен с возможностью создания полихроматического спектра рентгеновских лучей, детектором (220) и по меньшей мере одной компоновкой (100) на основе решетки согласно одному из предшествующих пунктов.
13. Способ спектральной фильтрации рентгеновского пучка (В), содержащий следующие этапы:
дифрагирование (S1) рентгеновского пучка (В) на первую компоненту (BC1) пучка, имеющую первое направление (D1), и вторую компоненту (BC2) пучка, имеющую второе направление (D2), отклоненное от первого направления (D1), посредством дисперсионного элемента (10), содержащего призму;
создание (S2) первой дифракционной диаграммы (DP1) упомянутой первой компоненты (BC1) пучка и второй дифракционной диаграммы (DP2) упомянутой второй компоненты (BC2) пучка посредством первой решетки (20), где вторая дифракционная диаграмма (DP2) сдвинута относительно первой дифракционной диаграммы (DP1); и
согласование (S3) второй решетки (30) по меньшей мере с одним отверстием (31) таким образом, чтобы упомянутое по меньшей мере одно отверстие (31) располагалось на линии (d) от максимальной (МА) до минимальной (MI) интенсивности первой дифракционной диаграммы (DP1) или второй дифракционной диаграммы (DP2).
14. Машиночитаемый носитель данных, на котором хранится компьютерная программа, которая, при исполнении ее процессором рентгеновской системы согласно п. 12 инициирует выполнение рентгеновской системой (200) этапов способа согласно п. 13.
RU2015152045A 2013-11-28 2014-11-12 Дифракция в ближнем поле на основе эффекта тальбота для спектральной фильтрации RU2666153C2 (ru)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP13194809.3 2013-11-28
EP13194809 2013-11-28
EP14163668 2014-04-07
EP14163668.8 2014-04-07
PCT/EP2014/074321 WO2015078690A1 (en) 2013-11-28 2014-11-12 Talbot effect based nearfield diffraction for spectral filtering

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2015152045A true RU2015152045A (ru) 2017-06-08
RU2015152045A3 RU2015152045A3 (ru) 2018-07-11
RU2666153C2 RU2666153C2 (ru) 2018-09-06

Family

ID=51905043

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2015152045A RU2666153C2 (ru) 2013-11-28 2014-11-12 Дифракция в ближнем поле на основе эффекта тальбота для спектральной фильтрации

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9640293B2 (ru)
EP (1) EP2951837B1 (ru)
JP (1) JP6074107B2 (ru)
CN (1) CN105103238B (ru)
BR (1) BR112015023962A2 (ru)
RU (1) RU2666153C2 (ru)
WO (1) WO2015078690A1 (ru)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108599870B (zh) * 2018-07-25 2020-06-19 中国科学院半导体研究所 基于时域泰伯效应的加密、解密通信装置和保密通信系统
US11813102B2 (en) * 2021-10-06 2023-11-14 Houxun Miao Interferometer for x-ray phase contrast imaging
EP4492145A1 (en) * 2023-07-11 2025-01-15 ASML Netherlands B.V. An illumination configuration module for a metrology device

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4578803A (en) 1981-12-07 1986-03-25 Albert Macovski Energy-selective x-ray recording and readout system
US5812629A (en) 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
DE102006017290B4 (de) * 2006-02-01 2017-06-22 Siemens Healthcare Gmbh Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur, Röntgen-System und Verfahren zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen
DE102006037256B4 (de) 2006-02-01 2017-03-30 Paul Scherer Institut Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen sowie Röntgensystem, Röntgen-C-Bogen-System und Röntgen-CT-System
DE102006037255A1 (de) * 2006-02-01 2007-08-02 Siemens Ag Fokus-Detektor-Anordnung einer Röntgenapparatur zur Erzeugung projektiver oder tomographischer Phasenkontrastaufnahmen
DE102006015358B4 (de) 2006-02-01 2019-08-22 Paul Scherer Institut Fokus/Detektor-System einer Röntgenapparatur zur Erzeugung von Phasenkontrastaufnahmen, zugehöriges Röntgen-System sowie Speichermedium und Verfahren zur Erzeugung tomographischer Aufnahmen
WO2007125833A1 (ja) 2006-04-24 2007-11-08 The University Of Tokyo Ｘ線撮像装置及びｘ線撮像方法
JP5095422B2 (ja) * 2008-01-16 2012-12-12 株式会社日立製作所 薄膜積層体の膜厚計測方法
JP5158699B2 (ja) 2008-02-20 2013-03-06 国立大学法人 東京大学 Ｘ線撮像装置、及び、これに用いるｘ線源
JP5586899B2 (ja) 2009-08-26 2014-09-10 キヤノン株式会社 Ｘ線用位相格子及びその製造方法
RU2452141C2 (ru) * 2010-05-19 2012-05-27 Закрытое Акционерное Общество "Рентгенпром" (Зао "Рентгенпром") Однопроекционный сканирующий рентгеновский аппарат с осциллирующим по энергии пучком пирамидальной формы (варианты)
JP2012187288A (ja) 2011-03-11 2012-10-04 Canon Inc Ｘ線撮像装置
US8767915B2 (en) 2011-07-29 2014-07-01 The Johns Hopkins University Differential phase contrast X-ray imaging system and components
US20130259194A1 (en) * 2012-03-30 2013-10-03 Kwok L. Yip Hybrid slot-scanning grating-based differential phase contrast imaging system for medical radiographic imaging
WO2014187885A1 (de) * 2013-05-22 2014-11-27 Siemens Aktiengesellschaft Phasenkontrast-rontgenbildgebungsvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
JP2016517008A (ja) 2016-06-09
JP6074107B2 (ja) 2017-02-01
US20160260515A1 (en) 2016-09-08
CN105103238A (zh) 2015-11-25
EP2951837B1 (en) 2016-08-03
RU2666153C2 (ru) 2018-09-06
RU2015152045A3 (ru) 2018-07-11
EP2951837A1 (en) 2015-12-09
BR112015023962A2 (pt) 2017-07-18
CN105103238B (zh) 2017-03-08
WO2015078690A1 (en) 2015-06-04
US9640293B2 (en) 2017-05-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
PH12013500042A1 (en) Optical tomographic imaging apparatus and imaging method therefor
JP6387964B2 (ja) 計測装置
JP2015099238A5 (ru)
JP2015519091A5 (ru)
JP2012108098A5 (ru)
JP2013160612A5 (ru)
JP2017506531A5 (ru)
RU2011151625A (ru) Дифракционная решетка для получения изображений методом фазового контраста
EA201690543A1 (ru) Собранное изделие и способ сборки собранного изделия
WO2009093228A3 (en) Optical designs for zero order reduction
EP2854075A3 (en) Vehicle control system and image sensor
RU2015152045A (ru) Дифракция в ближнем поле на основе эффекта тальбота для спектральной фильтрации
JP6789295B2 (ja) 偏光ターゲットおよび偏光照明を用いた回折光の振幅および位相の制御
WO2018071870A3 (en) High performance visible wavelength meta-axicons for generating bessel beams
PL426072A1 (pl) Soczewka wieloogniskowa i sposób jej wytwarzania
TR201818480T4 (tr) Bileşenlerin Yüzeylerinin Yapılandırılmasının Bir Lazer Işınıyla Oluşturulmasına Yönelik Yöntem Ve Yerleşim Düzeni
AR082535A1 (es) Dispositivo opticamente variable multicanal
WO2016083120A3 (en) Radiation beam apparatus
WO2008102632A1 (ja) Ｘ線バンドパスフィルタ、ｘ線照射システム及びｘ線撮影システム
WO2014012095A3 (en) Curved volume phase holographic (vph) diffraction grating with tilted fringes and spectrographs using same
EP3505991A3 (en) Image display optical apparatus and image generation method thereof
JP2013120126A5 (ru)
CY1123863T1 (el) Συναρμογη ηλιακης μοναδας και μια μεθοδος κατασκευης μιας τετοιας συναρμογης
RU2014123519A (ru) Детектор волос с множественными фокальными точками
TR201907010T4 (tr) Bir kırınım elemanı vasıtasıyla çıkış açıklığının büyütülmesine sahip optik objektif.

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A The patent is invalid due to non-payment of fees

Effective date: 20191113