[go: up one dir, main page]

RU2013114414A - Диэлектрический слой затвора для электронных устройств - Google Patents

Диэлектрический слой затвора для электронных устройств Download PDF

Info

Publication number
RU2013114414A
RU2013114414A RU2013114414/04A RU2013114414A RU2013114414A RU 2013114414 A RU2013114414 A RU 2013114414A RU 2013114414/04 A RU2013114414/04 A RU 2013114414/04A RU 2013114414 A RU2013114414 A RU 2013114414A RU 2013114414 A RU2013114414 A RU 2013114414A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
dielectric layer
polymer
gate dielectric
group
polycycloolefin
Prior art date
Application number
RU2013114414/04A
Other languages
English (en)
Inventor
Давид Кристофер МЮЛЛЕР
Тоуби КАЛЛ
Павел МИСКЕВИЧ
Мигель КАРРАСКО-ОРОСКО
Эндрью БЕЛЛ
Эдмунд ЭЛС
Ларри Ф. РОУДЕС
Казуйоши ФУДЖИТА
Хендра НГ
Прамод КАНДАНАРАЧЧИ
Стивен СМИТ
Original Assignee
Мерк Патент Гмбх
Промерус Ллк
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Мерк Патент Гмбх, Промерус Ллк filed Critical Мерк Патент Гмбх
Publication of RU2013114414A publication Critical patent/RU2013114414A/ru

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F32/00Homopolymers and copolymers of cyclic compounds having no unsaturated aliphatic radicals in a side chain, and having one or more carbon-to-carbon double bonds in a carbocyclic ring system
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F232/00Copolymers of cyclic compounds containing no unsaturated aliphatic radicals in a side chain, and having one or more carbon-to-carbon double bonds in a carbocyclic ring system
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08FMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED BY REACTIONS ONLY INVOLVING CARBON-TO-CARBON UNSATURATED BONDS
    • C08F32/00Homopolymers and copolymers of cyclic compounds having no unsaturated aliphatic radicals in a side chain, and having one or more carbon-to-carbon double bonds in a carbocyclic ring system
    • C08F32/02Homopolymers and copolymers of cyclic compounds having no unsaturated aliphatic radicals in a side chain, and having one or more carbon-to-carbon double bonds in a carbocyclic ring system having no condensed rings
    • C08F32/04Homopolymers and copolymers of cyclic compounds having no unsaturated aliphatic radicals in a side chain, and having one or more carbon-to-carbon double bonds in a carbocyclic ring system having no condensed rings having one carbon-to-carbon double bond
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08LCOMPOSITIONS OF MACROMOLECULAR COMPOUNDS
    • C08L45/00Compositions of homopolymers or copolymers of compounds having no unsaturated aliphatic radicals in side chain, and having one or more carbon-to-carbon double bonds in a carbocyclic or in a heterocyclic ring system; Compositions of derivatives of such polymers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/468Insulated gate field-effect transistors [IGFETs] characterised by the gate dielectrics
    • H10K10/471Insulated gate field-effect transistors [IGFETs] characterised by the gate dielectrics the gate dielectric comprising only organic materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/468Insulated gate field-effect transistors [IGFETs] characterised by the gate dielectrics
    • H10K10/478Insulated gate field-effect transistors [IGFETs] characterised by the gate dielectrics the gate dielectric comprising a layer of composite material comprising interpenetrating or embedded materials, e.g. TiO2 particles in a polymer matrix
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/10Organic polymers or oligomers
    • H10K85/111Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/10Organic polymers or oligomers
    • H10K85/141Organic polymers or oligomers comprising aliphatic or olefinic chains, e.g. poly N-vinylcarbazol, PVC or PTFE
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/10Organic polymers or oligomers
    • H10K85/151Copolymers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/464Lateral top-gate IGFETs comprising only a single gate
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/466Lateral bottom-gate IGFETs comprising only a single gate
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/80Constructional details
    • H10K10/88Passivation; Containers; Encapsulations

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Polymers & Plastics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Composite Materials (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Addition Polymer Or Copolymer, Post-Treatments, Or Chemical Modifications (AREA)
  • Heterocyclic Carbon Compounds Containing A Hetero Ring Having Oxygen Or Sulfur (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Electrodes Of Semiconductors (AREA)
  • Formation Of Insulating Films (AREA)

Abstract

1. Диэлектрический слой затвора, находящийся в контакте с полупроводниковым слоем в электронном устройстве, где указанный диэлектрический слой затвора включает полициклоолефиновый полимер или полимерную композицию, содержащую полициклоолефиновый полимер.2. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полициклоолефиновый полимер является полимером норборненового типа.3. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полициклоолефиновый полимер содержит первый тип повторяющейся единицы, имеющей боковую, способную к сшиванию группу.4. Диэлектрический слой затвора по п. 3, в котором боковая, способная к сшиванию группа является латентной, способной к сшиванию группой.5. Диэлектрический слой затвора по п. 3, в котором боковая, способная к сшиванию группа является малеимидной, 3-моноалкилмалеимидной, 3,4-диалкилмалеимидной, эпоксидной, винильной, ацетильной, инденильной, циннаматной или кумариновой группой, или боковая способная к сшиванию группа содержит замещенный или незамещенный малеимидный фрагмент, эпоксидный фрагмент, винильный фрагмент, циннаматный фрагмент или кумариновый фрагмент.6. Диэлектрический слой затвора по п. 3, в котором первый тип повторяющейся единицы, имеющей боковую, способную к сшиванию группу, является производным какого-либо одного из следующих мономеров:где n является целым числом от 1 до 8, Qи Qкаждый независимо друг от друга является -H или -CH, и R′ является -H или -OCH.7. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полициклоолефиновый полимер содержит второй тип повторяющейся единицы, которая является отличной от повторяющейся единицы первого типа.8. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в

Claims (41)

1. Диэлектрический слой затвора, находящийся в контакте с полупроводниковым слоем в электронном устройстве, где указанный диэлектрический слой затвора включает полициклоолефиновый полимер или полимерную композицию, содержащую полициклоолефиновый полимер.
2. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полициклоолефиновый полимер является полимером норборненового типа.
3. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полициклоолефиновый полимер содержит первый тип повторяющейся единицы, имеющей боковую, способную к сшиванию группу.
4. Диэлектрический слой затвора по п. 3, в котором боковая, способная к сшиванию группа является латентной, способной к сшиванию группой.
5. Диэлектрический слой затвора по п. 3, в котором боковая, способная к сшиванию группа является малеимидной, 3-моноалкилмалеимидной, 3,4-диалкилмалеимидной, эпоксидной, винильной, ацетильной, инденильной, циннаматной или кумариновой группой, или боковая способная к сшиванию группа содержит замещенный или незамещенный малеимидный фрагмент, эпоксидный фрагмент, винильный фрагмент, циннаматный фрагмент или кумариновый фрагмент.
6. Диэлектрический слой затвора по п. 3, в котором первый тип повторяющейся единицы, имеющей боковую, способную к сшиванию группу, является производным какого-либо одного из следующих мономеров:
Figure 00000001
Figure 00000002
Figure 00000003
Figure 00000004
Figure 00000005
где n является целым числом от 1 до 8, Q1 и Q2 каждый независимо друг от друга является -H или -CH3, и R′ является -H или -OCH3.
7. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полициклоолефиновый полимер содержит второй тип повторяющейся единицы, которая является отличной от повторяющейся единицы первого типа.
8. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полициклоолефиновый полимер содержит один или более типов повторяющихся единиц формулы I
Figure 00000006
где Z выбирают из -CH2-, -CH2-CH2- или -O-, m является целым числом от 0 до 5, каждый из R1, R2, R3 и R4 независимо выбирают из H, C1-C25 гидрокарбильной, C1-C25 галогенгидрокарбильной или C1-C25 пергалогенкарбильной группы.
9. Диэлектрический слой затвора по п. 8, в котором полициклоолефиновый полимер содержит один или более типов повторяющихся единиц формулы I и один или более типов повторяющихся единиц формулы II
Figure 00000007
Figure 00000008
где Z выбирают из -CH2-, -CH2-CH2- или -O-, m является целым числом от 0 до 5, каждый из R1, R2, R3 и R4 и R5, R6, R7 и R8 независимо выбирают из H, C1-C25 гидрокарбильной, C1-C25 галогенгидрокарбильной или C1-C25 пергалогенкарбильной группы, и где повторяющиеся единицы формулы I отличаются от повторяющихся единиц формулы II.
10. Диэлектрический слой затвора по одному или более пп. 8 или 9, в котором повторяющиеся единицы формулы I и формулы II независимо друг от друга являются образованными мономерами норборненового типа, выбранными из групп, состоящих из следующих подформул:
Figure 00000009
NB 1
Figure 00000010
MeNB 2
Figure 00000011
BuNB 3
Figure 00000012
HexNB 4
Figure 00000013
OctNB 5
Figure 00000014
DecNB 6
Figure 00000015
PENB 7
Figure 00000016
TD 8
Figure 00000017
MeOAcNB 9
Figure 00000018
NBXOH 10
Figure 00000019
NBCH2GlyOAc 11
Figure 00000020
NBCH2GlyOH 12
Figure 00000021
NBTON 13
Figure 00000022
NBTODD 14
Figure 00000023
NBC4F9 15
Figure 00000024
NBCH2C6F5 16
Figure 00000025
NBC6F5 17
Figure 00000026
NBCH2C6F2 18
Figure 00000027
NBCH2C6H4CF3 19
Figure 00000028
NBалкилC6F5 20
Figure 00000029
FPCNB 21
Figure 00000030
FHCNB 22
Figure 00000031
FOCHNB 23
Figure 00000032
FPCHNB 24
Figure 00000033
C8PFAcNB 25
Figure 00000034
PPVENB 26
Figure 00000035
DCPD 27
Figure 00000036
EONB 28
Figure 00000037
MGENB 29
Figure 00000038
AkSiNB 30
Figure 00000039
ArSiNB 31
Figure 00000040
MCHMNB 32
Figure 00000041
NPCHMNB 33
Figure 00000042
DMMIMeNB 34
Figure 00000043
DMMIEtNB 35
Figure 00000044
DMMIPrNB 36
Figure 00000045
DMMIBuNB 37
Figure 00000046
DMMIHxNB 38
Figure 00000047
EtPhDMMINB 39
Figure 00000048
MMIMeNB 40
Figure 00000049
MINB 41
Figure 00000050
MIENB 42
Figure 00000051
DHNMINB 43
Figure 00000052
MeOCinnNB 44
Figure 00000053
CinnNB 45
Figure 00000054
EtMeOCinnNB 46
Figure 00000055
MeCoumNB 47
Figure 00000056
EtCoumNB 48
Figure 00000057
EtPhIndNB 49
Figure 00000058
PhIndNB 50
Figure 00000059
DiOxoTCNB 51
Figure 00000060
PFBTCNB 52
Figure 00000061
TESNB 53
Figure 00000062
PMNB 54
где "Me" означает метил, "Et" означает этил, "OMe-п" означает пара-метокси, "Ph" и "C6H5" означают фенил, "C6H4" означает фенилен, "C6F5" означает пентафторфенил, "OAc" означает ацетат, "PFAc" означает -OC(O)-C7F15, и для каждой из приведенных выше подформул, имеющих метиленовую мостиковую группу, такой метиленовый мостик включает ковалентную связь или -(CH2)p-, и p является целым числом от 1 до 6.
11. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полимерная композиция содержит смесь из первого полициклоолефинового полимера и второго полициклоолефинового полимера.
12. Диэлектрический слой затвора по п. 11, в котором первый полициклоолефиновый полимер содержит один или более типов повторяющихся единиц формулы I, и второй полициклоолефиновый полимер содержит один или более типов повторяющихся единиц формулы II:
Figure 00000007
Figure 00000008
где Z выбирают из -CH2-, -CH2-CH2- или -O-, m является целым числом от 0 до 5, каждый из R1, R2, R3 и R4 и R5, R6, R7 и R8 независимо выбирают из H, C1-C25 гидрокарбильной, C1-C25 галогенгидрокарбильной или C1-C25 пергалогенкарбильной группы, и где повторяющиеся единицы формулы I отличаются от повторяющихся единиц формулы II.
13. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полимер или полимерная композиция дополнительно содержит один или более растворителей, сшивающий агент, необязательный реакционноспособный растворитель, стабилизатор, УФ сенсибилизатор и термический сенсибилизатор.
14. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором указанный полимер или полимерная композиция содержит одну или более повторяющиеся единицы, содержащие способную к сшиванию группу, и диэлектрический слой затвора дополнительно содержит промотор адгезии, который является соединением, содержащим поверхностно-активную функциональную группу и способную к сшиванию функциональную группу, которая является способной к сшиванию со способной к сшиванию группой повторяющейся единицы полимера или полимерной композиции.
15. Диэлектрический слой затвора по п. 14, в котором промотор адгезии является соединением формулы III:
Figure 00000063
где G является поверхностно-активной группой, A′ является простой связью или спейсером, связывающей или мостиковой группой, и P является способной к сшиванию группой.
16. Диэлектрический слой затвора по п. 14, в котором поверхностно-активная группа промотора адгезии является силановой группой, предпочтительно формулы SiR12R13R14, или силазановой группой, предпочтительно формулы -NH-SiR12R13R14, где R12, R13 и R14 каждую независимо выбирают из галогена, силазана, C1-C12-алкокси, C1-C12-алкиламино, необязательно замещенного C5-C20-арилокси или необязательно замещенного C2-C20-гетероарилокси, и где один или два из R12, R13 и R14, кроме того, могут означать C1-C12-алкил, необязательно замещенный C5-C20-арил или необязательно замещенный C2-C20-гетероарил.
17. Диэлектрический слой затвора по п. 14, в котором способную к сшиванию группу промотора адгезии выбирают из малеимидной, 3-моноалкилмалеимидной, 3,4-диалкилмалеимидной, эпоксидной, винильной, ацетильной, инденильной, циннаматной или кумариновой группы, или способная к сшиванию группа содержит замещенный или незамещенный малеимидный фрагмент, эпоксидный фрагмент, винильный фрагмент, циннаматный фрагмент или кумариновый фрагмент.
18. Диэлектрический слой затвора по п. 17, в котором промотор адгезии является соединением, имеющим следующую структуру:
Figure 00000064
где SiR12R13R14 является таким, как определено по п. 16, A′ является таким, как определено в п. 16, и R10 и R11 каждый независимо является H или AC1-C6 алкильной группой.
19. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором указанный полимер или полимерная композиция содержит одну или более повторяющиеся единицы, имеющие способную к сшиванию группу, и диэлектрический слой затвора содержит сшивающий агент, который является соединением, содержащим две или более способных к сшиванию функциональные группы, которые являются способными к сшиванию со способной к сшиванию группой повторяющейся единицы полимера или полимерной композиции.
20. Диэлектрический слой затвора по п. 19, в котором сшивающий агент является соединением формулы IV1 или IV2:
Figure 00000065
,
Figure 00000066
,
где X является A″-X′-A″, X′ является O, S, NH или простой связью, A″ является простой связью или спейсером, связывающей или мостиковой группой, P имеет значение, как в п. 15, и m является 2, 3 или 4.
21. Диэлектрический слой затвора по п. 19, в котором способную к сшиванию группу сшивающего агента выбирают из малеимидной, 3-моноалкилмалеимидной, 3,4-диалкилмалеимидной, эпоксидной, винильной, ацетильной, инденильной, циннаматной или кумариновой группы, или способная к сшиванию группа содержит замещенный или незамещенный малеимидный фрагмент, эпоксидный фрагмент, винильный фрагмент, циннаматный фрагмент или кумариновый фрагмент.
22. Диэлектрический слой затвора по п. 21, в котором сшивающий агент является соединением следующей формулы:
Figure 00000067
где R10 и R11 независимо друг от друга являются H или C1-C6 алкильной группой, A″ имеет значение, как в п. 21, и ее предпочтительно выбирают из (CZ2)n, (CH2)n-(CH=CH)p-(CH2)n, (CH2)n-O, (CH2)n-O-(CH2)n, (CH2)n-C6Q10-(CH2)n или C(O)-O, где каждый n независимо является целым числом от 0 до 12, p является целым числом от 1 до 6, Z независимо является H или F, C6Q10 представляет собой циклогексил, который является замещенным Q, Q независимо является H, F, CH3, CF3 или OCH3.
23. Диэлектрический слой затвора по п. 1, в котором полимерная композиция дополнительно содержит растворитель, имеющий свойства ортогональной растворимости по отношению к органическому полупроводниковому слою.
24. Полициклоолефиновый полимер или полимерная композиция, содержащая полициклоолефиновый полимер, где полимер содержит одну или более повторяющиеся единицы, имеющие способную к сшиванию группу, и дополнительно содержащая промотор адгезии, как определено в одном или более из пунктов 14-18.
25. Полициклоолефиновый полимер или полимерная композиция, содержащая полициклоолефиновый полимер, где полимер содержит одну или более повторяющиеся единицы, имеющие способную к сшиванию группу, и дополнительно содержащая сшивающий агент, как определено в одном или более из пунктов 19-22.
26. Полимер или полимерная композиция по п. 24 или 25, где полициклоолефиновый полимер является таким, как определено в одном или более из пунктов 3-6.
27. Полимерная композиция, которая содержит растворитель, способный к сшиванию полимер норборненового типа и один или более сшивающих агентов, УФ сенсибилизатор и промотор адгезии.
28. Полимерная композиция по п. 27, где полимер норборненового типа содержит повторяющиеся единицы, производные мономера норборненового типа, выбранные из DMMIMeNB, DMMIEtNB, DMMIPrNB или DMMIBuNB.
29. Полимерная композиция по п. 27, где УФ сенсибилизатор является CPTX и растворитель является MAK, циклогексаноном или циклопентаноном.
30. Полимерная композиция по п. 27, где сшивающим агентом является DMMI-бутил-DMMI, DMMI-пентил-DMMI или DMMI-гексил-DMMI.
31. Полимерная композиция по п. 27, где промотором адгезии является DMMI-пропил-Si(OEt)3, DMMI-бутил-Si(OEt)3, DMMI-бутил-Si(OMe)3 или DMMI-гексил-Si(OMe)3.
32. Диэлектрический слой затвора, находящийся в контакте с полупроводниковым слоем в электронном устройстве, указанный диэлектрический слой затвора содержит или сформирован из полимера или полимерной композиции, как определено в одном или более из пп. 27-31.
33. Диэлектрический слой затвора или полимерная композиция, которая содержит полициклоолефиновый полимер, содержащий повторяющиеся единицы, производные мономера норборненового типа, выбранного из BuNB, HexNB, OctNB, DecNB, NBC4F9 или PPVENB.
34. Диэлектрический слой затвора или полимерная композиция, которая содержит полициклоолефиновый полимер, содержащий способную к сшиванию повторяющиеся единицы, производные мономера норборненового типа, выбранного из EONB, MGENB, DMMIMeNB, DMMIEtNB, DMMIPrNB, DMMIBuNB или DMMIHxNB,
35. Диэлектрический слой затвора или полимерная композиция по п. 33 или 34, которая содержит полициклоолефиновый полимер, содержащий повторяющиеся единицы, производные мономера норборненового типа, выбранного из BuNB, HexNB, OctNB, DecNB, и повторяющиеся единицы, производные мономера норборненового типа, выбранного из EONB, MGENB, DMMIMeNB, DMMIEtNB, DMMIPrNB, DMMIBuNB или DMMIHxNB.
36. Применение полициклоолефинового полимера или полимерной композиции, содержащей полициклоолефиновый полимер, как определено в одном или более из пп. 1-35, для формирования диэлектрического слоя затвора, находящийся в контакте с полупроводниковым слоем в электронном устройстве.
37. Электронное устройство, содержащее диэлектрический слой затвора, находящийся в контакте с органическим полупроводниковым слоем, в котором указанный диэлектрический слой затвора формируется из полимера или полимерной композиции, как определено в одном или более из пп. 1-35.
38. Электронное устройство по п. 37, которое является органическим полевым транзистором (OFET), тонко-пленочным транзистором (TFT), интегральной схемой (ИС) или меткой радиочастотной идентификации (RFID).
39. Электронное устройство по п. 37 или 38, которое является верхним затвором или нижним затвором OFET.
40. Способ изготовления нижнего затвора OFET по п. 39, который включает следующие стадии: a) нанесение электрода затвора (5) на подложку (1), b) нанесение слоя диэлектрического материала, содержащего полициклоолефиновый полимер, или содержащего полимерную композицию, содержащую полициклоолефиновый полимер, как определено в одном или более из пунктов 1-35, на электрод затвора (5) и подложку (1), чтобы сформировать диэлектрический слой затвора (4), c) нанесение слоя органического полупроводникового материала (3) на диэлектрический слой затвора (4), d) нанесение электродов (2) истока и стока на, по меньшей мере, часть органического полупроводникового слоя (3), e) необязательно нанесение другого слоя (6), который является, например, изоляционным и/или защитным, и/или стабилизирующим, и/или адгезивным слоем на электродах истока и стока (2) и на органическом полупроводниковом слое (3).
41. Способ изготовления верхнего затвора OFET по п. 39, который включает следующие стадии: a) нанесение электродов (2) истока и стока на подложку (1), b) нанесение слоя органического полупроводникового материала (3) на подложку (1) и электроды истока и стока (2), c) нанесение слоя диэлектрического материала, содержащего полициклоолефиновый полимер, или содержащего полимерную композицию, содержащую полициклоолефиновый полимер, как определено в одном или более из пп. 1-35, на OSC слой (3), чтобы сформировать диэлектрический слой затвора (4), d) нанесение электрода затвора (5) на, по меньшей мере, часть диэлектрического слоя затвора (4), e) необязательно нанесение другого слоя (6), который является, например, изоляционным, и/или защитным, и/или стабилизирующим, и/или адгезивным слоем, на электрод (5) затвора и на диэлектрический слой затвора (4).
RU2013114414/04A 2010-09-02 2011-08-26 Диэлектрический слой затвора для электронных устройств RU2013114414A (ru)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP10009118.0 2010-09-02
EP10009118 2010-09-02
US37979910P 2010-09-03 2010-09-03
US61/379,799 2010-09-03
PCT/EP2011/004282 WO2012028279A1 (en) 2010-09-02 2011-08-26 Gate insulator layer for electronic devices

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2013114414A true RU2013114414A (ru) 2014-10-10

Family

ID=44534260

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2013114414/04A RU2013114414A (ru) 2010-09-02 2011-08-26 Диэлектрический слой затвора для электронных устройств

Country Status (11)

Country Link
US (2) US9175123B2 (ru)
EP (2) EP2676979B1 (ru)
JP (2) JP6097216B2 (ru)
KR (1) KR101842735B1 (ru)
CN (3) CN104877292A (ru)
DE (1) DE112011102917T5 (ru)
GB (1) GB2497451A (ru)
RU (1) RU2013114414A (ru)
SG (1) SG187955A1 (ru)
TW (1) TWI618723B (ru)
WO (1) WO2012028279A1 (ru)

Families Citing this family (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8853820B2 (en) * 2009-05-25 2014-10-07 Basf Se Crosslinkable dielectrics and methods of preparation and use thereof
DE112011102917T5 (de) * 2010-09-02 2013-09-05 Merck Patent Gmbh Gate-Isolatorschicht für elektronische Vorrichtungen
WO2012028278A1 (en) 2010-09-02 2012-03-08 Merck Patent Gmbh Interlayer for electronic devices
US9082981B1 (en) 2012-01-16 2015-07-14 Polyera Corporation Curable polymeric materials and related electronic devices
EP2814855B1 (en) * 2012-02-15 2017-07-26 Merck Patent GmbH Planarization layer for organic electronic devices
CN104245783B (zh) * 2012-04-25 2017-12-12 默克专利股份有限公司 用于有机电子器件的堤岸结构
US9171961B2 (en) * 2012-07-11 2015-10-27 Polyera Corporation Coating materials for oxide thin film transistors
JP6297566B2 (ja) * 2012-09-04 2018-03-20 メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングMerck Patent Gesellschaft mit beschraenkter Haftung 有機電子デバイスにおける誘電体構造の表面改変方法
KR102112890B1 (ko) 2012-09-21 2020-05-19 메르크 파텐트 게엠베하 유기 반도체 제제
US9261782B2 (en) 2012-09-25 2016-02-16 Promerus, Llc Maleimide containing cycloolefinic polymers and applications thereof
EP2917948A1 (en) * 2012-11-08 2015-09-16 Merck Patent GmbH Method for producing organic electronic devices with bank structures, bank structures and electronic devices produced therewith
US9035287B2 (en) * 2013-02-01 2015-05-19 Polyera Corporation Polymeric materials for use in metal-oxide-semiconductor field-effect transistors
CN105324408B (zh) * 2013-06-27 2018-06-22 巴斯夫欧洲公司 作为电介质的复分解聚合物
US9356248B2 (en) * 2013-08-16 2016-05-31 Palo Alto Research Center Incorporated Organic thin-film transistor
KR101718941B1 (ko) 2013-09-30 2017-03-22 주식회사 엘지화학 광반응기를 갖는 고리형 올레핀 화합물 및 광반응성 중합체
KR102373812B1 (ko) * 2014-03-12 2022-03-11 메르크 파텐트 게엠베하 유기 전자 조성물 및 이의 장치
JP6118287B2 (ja) * 2014-03-26 2017-04-19 富士フイルム株式会社 半導体素子及び半導体素子の絶縁層形成用組成物
JP6204580B2 (ja) * 2014-05-08 2017-09-27 富士フイルム株式会社 薄膜トランジスタ及び絶縁層形成用組成物
TWI659046B (zh) 2015-05-06 2019-05-11 Sumitomo Bakelite Co., Ltd. 作爲永久介電材料的順丁烯二醯亞胺及環烯烴單體之聚合物
US10147895B2 (en) 2015-07-13 2018-12-04 Flexterra, Inc. Curable polymeric materials and their use for fabricating electronic devices
EP3345971A4 (en) * 2015-08-31 2019-04-17 Zeon Corporation RESIN COMPOSITION
DE102015119939A1 (de) 2015-11-18 2017-05-18 ALTANA Aktiengesellschaft Vernetzbare polymere Materialien für dielektrische Schichten in elektronischen Bauteilen
TWI684826B (zh) 2015-11-30 2020-02-11 日商住友電木股份有限公司 可光成像組成物、硬化產物形成方法、硬化產物及包含該硬化產物的光電子或微電子裝置
KR102465353B1 (ko) * 2015-12-02 2022-11-10 삼성전자주식회사 전계 효과 트랜지스터 및 이를 포함하는 반도체 소자
KR102776731B1 (ko) * 2016-02-17 2025-03-05 메르크 파텐트 게엠베하 유기 기능성 재료의 제형
WO2017165478A1 (en) 2016-03-22 2017-09-28 Promerus, Llc Diazirine containing organic electronic compositions and device thereof
WO2017198587A1 (en) 2016-05-18 2017-11-23 Merck Patent Gmbh Organic dielectric layer and organic electronic device
TWI732994B (zh) 2017-02-09 2021-07-11 日商住友電木股份有限公司 光配向膜形成用組成物及由其衍生之lcd器件
WO2019130337A1 (en) * 2017-12-27 2019-07-04 Indian Institute Of Technology, Guwahati Method for the fabrication of ultralow voltage operated, reduced bias stress, multi-layer dielectric system comprising n-type organic field effect transistors
WO2019130336A1 (en) * 2017-12-27 2019-07-04 Indian Institute Of Technology, Guwahati Method for the fabrication of solution process, ultra-low operating voltage, stable organic field effect transistor
EP3740523B1 (en) 2018-01-19 2024-07-31 Flexterra, Inc. Organic dielectric materials and devices including them
US20210284812A1 (en) 2018-06-28 2021-09-16 Merck Patent Gmbh Method for producing an electronic device
TWI794520B (zh) * 2018-06-29 2023-03-01 日商住友電木股份有限公司 作為 3d 列印材料之聚環烯烴單體及由能夠產生光酸之化合物活化之催化劑
US11059938B2 (en) 2018-10-05 2021-07-13 Industrial Technology Research Institute Film composition and a film prepared thereby
CN109698276A (zh) * 2018-12-27 2019-04-30 广州天极电子科技有限公司 一种薄膜晶体管器件及其制备方法
WO2020165270A1 (en) 2019-02-12 2020-08-20 The University Of Southampton Device comprising piezoelectrically active layer and method for producing such device
WO2020243381A1 (en) * 2019-05-31 2020-12-03 Promerus, Llc Fast photocurable polycycloolefin compositions as optical or 3d printing materials
CN111848930B (zh) * 2020-07-30 2021-07-13 清华大学 可溶性聚苯并呋喃及其制备方法与在合成5-取代苯并呋喃的应用
JP7547899B2 (ja) 2020-09-28 2024-09-10 住友ベークライト株式会社 ワニスおよび樹脂膜
KR102476024B1 (ko) * 2021-01-19 2022-12-08 한국화학연구원 유기절연체 형성용 조성물 및 이를 포함하는 유기 절연체 및 박막 트랜지스터
DE102021125407A1 (de) 2021-09-30 2023-03-30 Polymer Competence Center Leoben Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Dielektrikums für einen Kondensator und Verfahren zur Herstellung eines Kondensators und Kondensator
CN114316215B (zh) * 2022-01-27 2023-07-04 安徽建筑大学 一种自交联成炭本征阻燃聚双环戊二烯工程材料及其制备方法
JP2023116922A (ja) * 2022-02-10 2023-08-23 住友ベークライト株式会社 ポリノルボルネンの製造方法、ポリノルボルネン含有溶液、ポリノルボルネン粉末、感光性樹脂組成物、および半導体装置
TW202334271A (zh) * 2022-02-18 2023-09-01 美商普羅梅勒斯有限公司 Romp本體聚合及陽離子聚合型組成物用雙觸媒體系
CN116217805B (zh) * 2023-01-07 2024-08-02 中北大学 一种降冰片烯基三铵类阳离子聚合物及其制备方法和应用
TW202530282A (zh) * 2023-09-11 2025-08-01 美商普羅梅勒斯有限公司 微流體裝置用多環烯烴聚合物製uv-奈米壓印微影裝置

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1278780A (en) * 1968-12-24 1972-06-21 Agfa Gevaert Photodimerisation and photopolymerisation of bis-maleimides
US4565873A (en) 1978-08-30 1986-01-21 Ciba-Geigy Corporation Silanes containing imide groups
US5468819A (en) 1993-11-16 1995-11-21 The B.F. Goodrich Company Process for making polymers containing a norbornene repeating unit by addition polymerization using an organo (nickel or palladium) complex
US5789757A (en) 1996-09-10 1998-08-04 The Dexter Corporation Malemide containing formulations and uses therefor
US5861235A (en) 1996-06-26 1999-01-19 Dow Corning Asia, Ltd. Ultraviolet-curable composition and method for patterning the cured product therefrom
US6890847B1 (en) 2000-02-22 2005-05-10 Micron Technology, Inc. Polynorbornene foam insulation for integrated circuits
KR100804249B1 (ko) 2000-07-28 2008-02-20 굿리치 코포레이션 광 도파관 형성용 중합 조성물; 이로부터 형성된 광도파관; 및 그 제조방법
US6423780B1 (en) * 2001-02-07 2002-07-23 Loctite Heterobifunctional monomers and uses therefor
US6690029B1 (en) 2001-08-24 2004-02-10 University Of Kentucky Research Foundation Substituted pentacenes and electronic devices made with substituted pentacenes
GB0130321D0 (en) * 2001-12-19 2002-02-06 Avecia Ltd Electronic devices
EP2204861A1 (en) 2001-12-19 2010-07-07 Merck Patent GmbH Organic field effect transistor with an organic dielectric
US20060020068A1 (en) * 2004-07-07 2006-01-26 Edmund Elce Photosensitive compositions based on polycyclic polymers for low stress, high temperature films
US7674847B2 (en) 2003-02-21 2010-03-09 Promerus Llc Vinyl addition polycyclic olefin polymers prepared with non-olefinic chain transfer agents and uses thereof
US20070185012A1 (en) 2003-07-10 2007-08-09 Rajadhyaksha V J Glycopeptides for the treatment of als and other metabolic and autoimmune disorders
JP5089986B2 (ja) 2003-11-28 2012-12-05 メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング 有機半導体層およびその改善
US7378456B2 (en) * 2004-01-30 2008-05-27 Promerus Llc Directly photodefinable polymer compositions and methods thereof
US20050192409A1 (en) * 2004-02-13 2005-09-01 Rhodes Larry F. Polymers of polycyclic olefins having a polyhedral oligosilsesquioxane pendant group and uses thereof
US7385221B1 (en) 2005-03-08 2008-06-10 University Of Kentucky Research Foundation Silylethynylated heteroacenes and electronic devices made therewith
JP2007150246A (ja) 2005-11-02 2007-06-14 Ricoh Co Ltd 有機トランジスタ及び表示装置
JP2007251093A (ja) * 2006-03-20 2007-09-27 Nippon Zeon Co Ltd ゲート絶縁膜、有機薄膜トランジスタ、該トランジスタの製造方法及び表示装置
JP2008130910A (ja) * 2006-11-22 2008-06-05 Nippon Zeon Co Ltd 有機薄膜トランジスタ
CN101622289A (zh) * 2006-12-06 2010-01-06 普罗米鲁斯有限责任公司 可直接光限定的聚合物组合物及其方法
US8053515B2 (en) 2006-12-06 2011-11-08 Promerus Llc Directly photodefinable polymer compositions and methods thereof
TWI332284B (en) 2006-12-29 2010-10-21 Ind Tech Res Inst A battery electrode paste composition containing modified maleimides
JP4872735B2 (ja) * 2007-03-19 2012-02-08 住友ベークライト株式会社 マレイミド基含有ポリノルボルネンを用いた新規光導波路
JP2008244362A (ja) * 2007-03-28 2008-10-09 Seiko Epson Corp 半導体装置の製造方法、半導体装置、半導体回路、電気光学装置および電子機器
JP5657379B2 (ja) * 2007-04-25 2015-01-21 メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングMerck Patent Gesellschaft mit beschraenkter Haftung 電子装置の製造方法
US8309952B2 (en) * 2007-08-28 2012-11-13 Toppan Printing Co., Ltd. Thin film transistor and method for manufacturing the same
EP2277944A3 (en) 2009-07-24 2012-01-04 Electronics and Telecommunications Research Institute Composition for organic dielectric and organic thin film transistor formed using the same
DE112011102917T5 (de) * 2010-09-02 2013-09-05 Merck Patent Gmbh Gate-Isolatorschicht für elektronische Vorrichtungen
WO2012028278A1 (en) 2010-09-02 2012-03-08 Merck Patent Gmbh Interlayer for electronic devices

Also Published As

Publication number Publication date
GB2497451A (en) 2013-06-12
US20120056183A1 (en) 2012-03-08
CN105038069B (zh) 2017-10-17
CN103261250B (zh) 2016-11-09
JP6334020B2 (ja) 2018-05-30
CN104877292A (zh) 2015-09-02
SG187955A1 (en) 2013-03-28
CN103261250A (zh) 2013-08-21
TWI618723B (zh) 2018-03-21
KR101842735B1 (ko) 2018-03-27
KR20130114121A (ko) 2013-10-16
GB201303582D0 (en) 2013-04-10
US9175123B2 (en) 2015-11-03
CN105038069A (zh) 2015-11-11
JP6097216B2 (ja) 2017-03-15
US9647222B2 (en) 2017-05-09
JP2013541191A (ja) 2013-11-07
WO2012028279A1 (en) 2012-03-08
US20150372246A1 (en) 2015-12-24
DE112011102917T5 (de) 2013-09-05
JP2017141446A (ja) 2017-08-17
WO2012028279A9 (en) 2012-05-31
EP2676979A1 (en) 2013-12-25
TW201219432A (en) 2012-05-16
EP2611841A1 (en) 2013-07-10
EP2676979B1 (en) 2016-07-13
EP2611841B1 (en) 2015-10-28
GB2497451A8 (en) 2013-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2013114414A (ru) Диэлектрический слой затвора для электронных устройств
JP2013541191A5 (ru)
RU2014147079A (ru) Блочные структуры для органических электронных устройств
KR102172938B1 (ko) 광가교결합제로서의 다이아지린 화합물 및 이를 포함하는 광이미지화 가능한 조성물
EP1620885B1 (en) Organic polymers, electronic devices, and methods
JP2017522613A5 (ru)
JP2015509660A5 (ru)
CN103560206A (zh) 可光固化聚合物电介质及其制备方法和用途
CA2523346A1 (en) Organic polymers, laminates, and capacitors
KR101426236B1 (ko) 유기절연막 조성물 및 그를 이용한 박막 트랜지스터 기판 및 디스플레이 장치
KR101491046B1 (ko) 광배향막용 조성물 및 광배향막
KR20180061572A (ko) 네거티브 감광성 수지 조성물, 필름 및 전자장치
US12187850B2 (en) Polyimide precursor, polyimide precursor composition, polyimide film, method for preparing the same, and use thereof
Kim et al. Photocurable propyl-cinnamate-functionalized polyhedral oligomeric silsesquioxane as a gate dielectric for organic thin film transistors
JPWO2018043529A1 (ja) 水蒸気バリア性を有する位相差膜及びその製造方法
CN111095091B (zh) 液晶取向剂、液晶取向膜及液晶表示元件
TW201915037A (zh) 感放射線性樹脂組成物、半導體元件、顯示裝置、硬化膜及其製造方法
KR20130131663A (ko) 벤질리딘 프탈이미드 단량체, 이의 제조 방법, 이를 포함하는 중합체, 이를 포함하는 광배향막 및 이를 포함하는 위상차 필름
KR20220039405A (ko) 유기 절연층용 중합체 및 이를 포함하는 유기 박막 트랜지스터
US20220155683A1 (en) Photo-patternable cross-bred organic semiconductor polymers for organic thin-film transistors
US10879474B2 (en) Organic dielectric layer and organic electronic device
US8436068B2 (en) Composition and polymer
KR101702595B1 (ko) 박막 트랜지스터용 게이트 절연막 형성제
KR102375855B1 (ko) 광학 적층체 및 이를 포함하는 플렉서블 디스플레이 장치
EP4335894A1 (en) Method for manufacturing polymer resin film, polymer resin film and substrate for display device using same, and optical device

Legal Events

Date Code Title Description
FA93 Acknowledgement of application withdrawn (no request for examination)

Effective date: 20140827