RU2006142684A - Способ коррекции двухпараметрических спектров - Google Patents
Способ коррекции двухпараметрических спектров Download PDFInfo
- Publication number
- RU2006142684A RU2006142684A RU2006142684/28A RU2006142684A RU2006142684A RU 2006142684 A RU2006142684 A RU 2006142684A RU 2006142684/28 A RU2006142684/28 A RU 2006142684/28A RU 2006142684 A RU2006142684 A RU 2006142684A RU 2006142684 A RU2006142684 A RU 2006142684A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- spectrum
- parameter
- profile
- specified
- correction function
- Prior art date
Links
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 title claims 40
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims 25
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims 9
- 238000010606 normalization Methods 0.000 claims 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 6
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims 3
- 238000009827 uniform distribution Methods 0.000 claims 3
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 claims 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims 2
- 238000003672 processing method Methods 0.000 claims 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/24—Measuring radiation intensity with semiconductor detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Claims (31)
1. Способ обработки двухпараметрического спектра, заключающийся в том, что:
выбирают параметр профиля для спектра и исходную функцию коррекции,
для любого профиля, выбранного в соответствии с этим параметром, выполняют, по меньшей мере, операцию коррекции путем умножения выбранного профиля на функцию коррекции, равную сумме, по меньшей мере, части уже скорректированных профилей.
2. Способ по п.1, в котором двухпараметрический спектр представляет собой спектр время нарастания - амплитуда, причем параметр профиля представляет собой время нарастания в спектре.
3. Способ по п.2, в котором профили выбирают в соответствии с порядком убывания значения времени нарастания.
4. Способ по п.2, дополнительно содержащий следующий этап:
все профили спектра классифицируют в соответствии с критерием качества разрешения, причем профили выбирают в соответствии с порядком снижения качества разрешения.
5. Способ по п.1, в котором двухпараметрический спектр представляет собой спектр, который ранее скорректирован путем гомотетии.
6. Способ по п.1, в котором исходная функция коррекции представляет собой равномерное распределение.
7. Способ по п.1, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации для функции коррекции, состоящий в делении на интеграл указанной функции коррекции.
8. Способ по п.1, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации, состоящий в другом умножении на отношение интеграла выбранного профиля к другому интегралу выбранного профиля, умноженного на указанную функцию коррекции.
9. Способ по п.2, в котором указанный спектр является представлением распределения количества фотонов, изменяющегося в разных каналах времени нарастания и различных каналах амплитуды, причем указанное распределение определяют близким к неопределенности измерения, а операция коррекции может дополнительно включать в себя этап локализованной нормализации, содержащий:
деление выбранного профиля на свертку функции коррекции и указанной функции неопределенности,
этап перераспределения каналов амплитуды по амплитудному каналу распределения количества фотонов в выбранном профиле с использованием, так называемой, функции неопределенности, зависящей от указанной неопределенности измерения.
10. Способ по п.9, в котором указанная функция представляет собой функцию Гауссова типа, стандартная девиация которой зависит от указанной неопределенности.
11. Устройство для обработки двухпараметрического, время-амплитуда, спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
средство для выполнения операции коррекции для любого профиля, выбранного в соответствии с этим параметром, путем умножения этого выбранного профиля на функцию коррекции, равную сумме, по меньшей мере, части уже скорректированных и нормализованных профилей.
12. Устройство по п.11, дополнительно содержащее:
средство для классификации всех профилей спектра в соответствии с критерием качества разрешения,
средство для выбора профилей спектра в соответствии с порядком повышения или снижения качества разрешения.
13. Устройство по п.11, дополнительно содержащее средство коррекции спектра путем гомотетии.
14. Устройство по п.12, дополнительно содержащие средство для коррекции спектра путем гомотетии.
15. Устройство формирования медицинского изображения, содержащее:
полупроводниковый детектор или матрицу детекторов,
средство для получения двухпараметрического спектра,
устройство для обработки двухпараметрического спектра по п.11,
средство для отображения информации, относящейся к обработке двухпараметрического спектра.
16. Устройство формирования медицинского изображения, содержащее:
полупроводниковый детектор или матрицу детекторов,
средство для получения двухпараметрического спектра,
устройство для обработки двухпараметрического спектра по п.13,
средство для отображения информации, относящееся к обработке двухпараметрического спектра.
17. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство, предназначенное для осуществления способа по п.1.
18. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство, предназначенное для осуществления способа обработки двухпараметрического, время нарастания-амплитуда, спектра, содержащего:
выбор параметра профиля для спектра, где параметр профиля представляет собой время нарастания спектра, и исходной функции коррекции,
для любого профиля, выбранного в соответствии с этим параметром, выполнение, по меньшей мере, операции коррекции, путем умножения этого выбранного профиля на функцию коррекции, равную сумме, по меньшей мере, части уже скорректированных профилей.
19. Способ по п.5, в котором исходная функция коррекции представляет собой равномерное распределение.
20. Способ по п.5, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации функции коррекции, состоящий в делении на интеграл указанной функции коррекции.
21. Способ по п.5, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации, состоящий из другого умножения на отношение интеграла выбранного профиля к другому интегралу выбранного профиля, умноженного на указанную функцию коррекции.
22. Способ по п.5, в котором указанный спектр является представлением распределения количества фотонов, изменяющегося в разных каналах времени нарастания и различных каналах амплитуды, причем указанное распределение определяют близким к неопределенности измерения, причем операция коррекции может дополнительно включать в себя этап локализованной нормализации, содержащий:
деление выбранного профиля на свертку указанной функции коррекции и указанной функции неопределенности,
этап перераспределения канала амплитуды по амплитудному каналу распределения количества фотонов в выбранном профиле с использованием, так называемой, функции неопределенности, зависящей от указанной неопределенности измерения.
23. Способ по п.22, в котором указанная функция представляет собой функцию Гауссова типа, стандартная девиация которой зависит от указанной неопределенности.
24. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство для осуществления способа по п.5.
25. Способ обработки двухпараметрического, время нарастания-амплитуда, спектра, заключающийся в том, что:
выбирают параметр профиля для спектра, причем параметр профиля представляет собой время нарастания спектра, и исходную функцию коррекции, которая представляет собой однородное распределение,
для любого профиля, выбранного в соответствии с этим параметром, выполняют, по меньшей мере, операцию коррекции путем умножения этого выбранного профиля на функцию коррекции, равную сумме, по меньшей мере, части уже скорректированных профилей.
26. Способ по п.25, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации для указанной функции коррекции, состоящий в делении на интеграл указанной функции коррекции.
27. Способ по п.25, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации, состоящий в другом умножении на отношение интеграла выбранного профиля к другому интегралу выбранного профиля, умноженного на указанную функцию коррекции.
28. Способ по п.25, в котором спектр является представлением распределения количества фотонов, изменяющегося в разных каналах времени нарастания и различных каналах амплитуды, причем указанное распределение определяют близким к неопределенности измерения, причем операция коррекции может дополнительно включать в себя этап локализованной нормализации, содержащий:
деление выбранного профиля на свертку указанной функции коррекции и указанной функции неопределенности,
этап перераспределения канала амплитуды по амплитудному каналу распределения количества фотонов в выбранном профиле с использованием, так называемой, функции неопределенности, зависящей от указанной неопределенности измерения.
29. Способ по п.28, в котором указанная функция представляет собой функцию Гауссова типа, стандартная девиация которой зависит от указанной неопределенности.
30. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство, предназначенное для осуществления способа по п.26.
31. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство для осуществления способа, по п.27.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR0404763A FR2869692B1 (fr) | 2004-05-03 | 2004-05-03 | Procede de correction des spectres bi-parametriques |
| FR0404763 | 2004-05-03 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2006142684A true RU2006142684A (ru) | 2008-06-10 |
Family
ID=34944969
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2006142684/28A RU2006142684A (ru) | 2004-05-03 | 2005-04-21 | Способ коррекции двухпараметрических спектров |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7881893B2 (ru) |
| EP (1) | EP1743192B1 (ru) |
| JP (1) | JP4994225B2 (ru) |
| CN (1) | CN1961220B (ru) |
| FR (1) | FR2869692B1 (ru) |
| RU (1) | RU2006142684A (ru) |
| WO (1) | WO2005114257A1 (ru) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9797772B2 (en) | 2013-02-22 | 2017-10-24 | Areva Nc | Method for controlling the gain and zero of a multi-pixel photon counter device, and light-measuring system implementing said method |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7480593B2 (en) * | 2005-08-03 | 2009-01-20 | Suresh Gopalan | Methods and systems for high confidence utilization of datasets |
| US7518118B2 (en) * | 2007-02-27 | 2009-04-14 | California Institute Of Technology | Depth sensing in CdZnTe pixel detectors |
| FR2950979B1 (fr) * | 2009-10-07 | 2012-12-07 | Commissariat Energie Atomique | Procede de traitement de donnees issues d'un detecteur de rayonnements ionisants |
| JP5399938B2 (ja) * | 2010-02-08 | 2014-01-29 | アズビル株式会社 | 推定用多項式生成装置、推定装置、推定用多項式生成方法および推定方法 |
| GB201408853D0 (en) * | 2014-05-19 | 2014-07-02 | Diamond Light Source Ltd | Analysis of signals from pixellated detectors of ionizing radiation |
| US10152519B2 (en) * | 2015-03-05 | 2018-12-11 | Bio-Rad Laboratories, Inc. | Optimized spectral matching and display |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5532122A (en) * | 1993-10-12 | 1996-07-02 | Biotraces, Inc. | Quantitation of gamma and x-ray emitting isotopes |
| FR2734438B1 (fr) * | 1995-05-18 | 1997-08-01 | Optran Technologies | Dispositif de transfert d'informations entre deux signaux numeriques et generateur de signaux utilisant un tel dispositif de transfert d'informations |
| FR2738693B1 (fr) * | 1995-09-12 | 1997-10-10 | Commissariat Energie Atomique | Systeme de traitement d'impulsions provenant de l'interaction d'une particule gamma avec un detecteur de rayonnement cdte |
| FR2738919B1 (fr) | 1995-09-15 | 1997-10-17 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif pour la correction de mesure spectrometrique dans le domaine de la detection de photons gamma |
| FR2790560B1 (fr) * | 1999-03-05 | 2001-04-13 | Commissariat Energie Atomique | Procede et dispositif de tri en temps reel d'evenements de detection d'un detecteur de rayonnements gamma et de correction d'uniformite d'elements de detection du detecteur |
| EP1654563A2 (en) * | 2003-06-27 | 2006-05-10 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Pmt signal correlation filter |
-
2004
- 2004-05-03 FR FR0404763A patent/FR2869692B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
2005
- 2005-04-21 RU RU2006142684/28A patent/RU2006142684A/ru unknown
- 2005-04-21 WO PCT/FR2005/050270 patent/WO2005114257A1/fr not_active Ceased
- 2005-04-21 JP JP2007512297A patent/JP4994225B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-21 CN CN2005800140928A patent/CN1961220B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-04-21 EP EP05747061.9A patent/EP1743192B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 2005-04-21 US US11/587,645 patent/US7881893B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9797772B2 (en) | 2013-02-22 | 2017-10-24 | Areva Nc | Method for controlling the gain and zero of a multi-pixel photon counter device, and light-measuring system implementing said method |
| RU2649607C2 (ru) * | 2013-02-22 | 2018-04-04 | Орано Сикль | Способ контроля коэффициента усиления и установки в ноль многопиксельного счетчика фотонов и система измерения света, реализующая указанный способ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4994225B2 (ja) | 2012-08-08 |
| WO2005114257A1 (fr) | 2005-12-01 |
| JP2007536549A (ja) | 2007-12-13 |
| US7881893B2 (en) | 2011-02-01 |
| CN1961220B (zh) | 2011-05-25 |
| FR2869692A1 (fr) | 2005-11-04 |
| FR2869692B1 (fr) | 2006-06-23 |
| US20080061224A1 (en) | 2008-03-13 |
| EP1743192A1 (fr) | 2007-01-17 |
| CN1961220A (zh) | 2007-05-09 |
| EP1743192B1 (fr) | 2016-05-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6294333B2 (ja) | 分光装置および分光法 | |
| Dhawan et al. | The Zwicky Transient Facility Type Ia supernova survey: first data release and results | |
| Nevalainen et al. | Xmm-newton epic background modeling for extended sources | |
| Baek et al. | Baseline correction using asymmetrically reweighted penalized least squares smoothing | |
| JP6023177B2 (ja) | 多項式フィッティングによるスペクトルデータのバックグラウンド放射線推定 | |
| US6987564B2 (en) | Automatic correction for continuum background in laser induced breakdown and Raman spectroscopy | |
| JP2008511009A (ja) | 核種同定システム | |
| US10746658B1 (en) | Method for material identification with laser induced breakdown spectroscopy (LIBS) | |
| US8693625B2 (en) | Dynamic shaping time modification in X-ray detectors | |
| RU2006142684A (ru) | Способ коррекции двухпараметрических спектров | |
| US7003071B2 (en) | X-ray CT apparatus, x-ray CT apparatus afterglow correction method, and afterglow correction program | |
| CN107727676A (zh) | 一种基于向前间隔偏最小二乘算法的土壤重金属含量建模方法 | |
| JPWO2018025361A1 (ja) | 分析データ処理方法及び分析データ処理装置 | |
| US20230194344A1 (en) | Method of analyzing a spectral peak | |
| US20190033469A1 (en) | Method for processing a pulse generated by a detector of ionizing radiation | |
| Müller-Bravo et al. | PISCOLA: a data-driven transient light-curve fitter | |
| IL301033A (en) | Fluorescence spectrometer based on X-ray total reflection and estimation method | |
| US7529337B2 (en) | Energy dispersion type radiation detecting system and method of measuring content of object element | |
| CN110088605B (zh) | X射线分析用信号处理装置及x射线分析用信号处理装置的调整方法 | |
| US5422925A (en) | Contaminating-element analyzing method and apparatus of the same | |
| US7274013B1 (en) | Automatic gain adjust utility for radiation spectrometers | |
| WO2012095648A1 (en) | A method of deadtime correction in mass spectrometry | |
| Plagnard et al. | Metrological characterization of the ADONIS system used in gamma-ray spectrometry | |
| CN112888919B (zh) | 光谱装置和方法 | |
| US20060271308A1 (en) | Identifying statistically linear data |