[go: up one dir, main page]

RU2006142684A - Способ коррекции двухпараметрических спектров - Google Patents

Способ коррекции двухпараметрических спектров Download PDF

Info

Publication number
RU2006142684A
RU2006142684A RU2006142684/28A RU2006142684A RU2006142684A RU 2006142684 A RU2006142684 A RU 2006142684A RU 2006142684/28 A RU2006142684/28 A RU 2006142684/28A RU 2006142684 A RU2006142684 A RU 2006142684A RU 2006142684 A RU2006142684 A RU 2006142684A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
spectrum
parameter
profile
specified
correction function
Prior art date
Application number
RU2006142684/28A
Other languages
English (en)
Inventor
Гийом МОНТМОН (FR)
Гийом МОНТМОН
Original Assignee
Компани Женераль Де Матьер Нюклеэр (FR)
Компани Женераль де Матьер Нюклеэр
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Компани Женераль Де Матьер Нюклеэр (FR), Компани Женераль де Матьер Нюклеэр filed Critical Компани Женераль Де Матьер Нюклеэр (FR)
Publication of RU2006142684A publication Critical patent/RU2006142684A/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/17Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01TMEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
    • G01T1/00Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
    • G01T1/16Measuring radiation intensity
    • G01T1/24Measuring radiation intensity with semiconductor detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Molecular Biology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Claims (31)

1. Способ обработки двухпараметрического спектра, заключающийся в том, что:
выбирают параметр профиля для спектра и исходную функцию коррекции,
для любого профиля, выбранного в соответствии с этим параметром, выполняют, по меньшей мере, операцию коррекции путем умножения выбранного профиля на функцию коррекции, равную сумме, по меньшей мере, части уже скорректированных профилей.
2. Способ по п.1, в котором двухпараметрический спектр представляет собой спектр время нарастания - амплитуда, причем параметр профиля представляет собой время нарастания в спектре.
3. Способ по п.2, в котором профили выбирают в соответствии с порядком убывания значения времени нарастания.
4. Способ по п.2, дополнительно содержащий следующий этап:
все профили спектра классифицируют в соответствии с критерием качества разрешения, причем профили выбирают в соответствии с порядком снижения качества разрешения.
5. Способ по п.1, в котором двухпараметрический спектр представляет собой спектр, который ранее скорректирован путем гомотетии.
6. Способ по п.1, в котором исходная функция коррекции представляет собой равномерное распределение.
7. Способ по п.1, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации для функции коррекции, состоящий в делении на интеграл указанной функции коррекции.
8. Способ по п.1, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации, состоящий в другом умножении на отношение интеграла выбранного профиля к другому интегралу выбранного профиля, умноженного на указанную функцию коррекции.
9. Способ по п.2, в котором указанный спектр является представлением распределения количества фотонов, изменяющегося в разных каналах времени нарастания и различных каналах амплитуды, причем указанное распределение определяют близким к неопределенности измерения, а операция коррекции может дополнительно включать в себя этап локализованной нормализации, содержащий:
деление выбранного профиля на свертку функции коррекции и указанной функции неопределенности,
этап перераспределения каналов амплитуды по амплитудному каналу распределения количества фотонов в выбранном профиле с использованием, так называемой, функции неопределенности, зависящей от указанной неопределенности измерения.
10. Способ по п.9, в котором указанная функция представляет собой функцию Гауссова типа, стандартная девиация которой зависит от указанной неопределенности.
11. Устройство для обработки двухпараметрического, время-амплитуда, спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
средство для выполнения операции коррекции для любого профиля, выбранного в соответствии с этим параметром, путем умножения этого выбранного профиля на функцию коррекции, равную сумме, по меньшей мере, части уже скорректированных и нормализованных профилей.
12. Устройство по п.11, дополнительно содержащее:
средство для классификации всех профилей спектра в соответствии с критерием качества разрешения,
средство для выбора профилей спектра в соответствии с порядком повышения или снижения качества разрешения.
13. Устройство по п.11, дополнительно содержащее средство коррекции спектра путем гомотетии.
14. Устройство по п.12, дополнительно содержащие средство для коррекции спектра путем гомотетии.
15. Устройство формирования медицинского изображения, содержащее:
полупроводниковый детектор или матрицу детекторов,
средство для получения двухпараметрического спектра,
устройство для обработки двухпараметрического спектра по п.11,
средство для отображения информации, относящейся к обработке двухпараметрического спектра.
16. Устройство формирования медицинского изображения, содержащее:
полупроводниковый детектор или матрицу детекторов,
средство для получения двухпараметрического спектра,
устройство для обработки двухпараметрического спектра по п.13,
средство для отображения информации, относящееся к обработке двухпараметрического спектра.
17. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство, предназначенное для осуществления способа по п.1.
18. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство, предназначенное для осуществления способа обработки двухпараметрического, время нарастания-амплитуда, спектра, содержащего:
выбор параметра профиля для спектра, где параметр профиля представляет собой время нарастания спектра, и исходной функции коррекции,
для любого профиля, выбранного в соответствии с этим параметром, выполнение, по меньшей мере, операции коррекции, путем умножения этого выбранного профиля на функцию коррекции, равную сумме, по меньшей мере, части уже скорректированных профилей.
19. Способ по п.5, в котором исходная функция коррекции представляет собой равномерное распределение.
20. Способ по п.5, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации функции коррекции, состоящий в делении на интеграл указанной функции коррекции.
21. Способ по п.5, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации, состоящий из другого умножения на отношение интеграла выбранного профиля к другому интегралу выбранного профиля, умноженного на указанную функцию коррекции.
22. Способ по п.5, в котором указанный спектр является представлением распределения количества фотонов, изменяющегося в разных каналах времени нарастания и различных каналах амплитуды, причем указанное распределение определяют близким к неопределенности измерения, причем операция коррекции может дополнительно включать в себя этап локализованной нормализации, содержащий:
деление выбранного профиля на свертку указанной функции коррекции и указанной функции неопределенности,
этап перераспределения канала амплитуды по амплитудному каналу распределения количества фотонов в выбранном профиле с использованием, так называемой, функции неопределенности, зависящей от указанной неопределенности измерения.
23. Способ по п.22, в котором указанная функция представляет собой функцию Гауссова типа, стандартная девиация которой зависит от указанной неопределенности.
24. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство для осуществления способа по п.5.
25. Способ обработки двухпараметрического, время нарастания-амплитуда, спектра, заключающийся в том, что:
выбирают параметр профиля для спектра, причем параметр профиля представляет собой время нарастания спектра, и исходную функцию коррекции, которая представляет собой однородное распределение,
для любого профиля, выбранного в соответствии с этим параметром, выполняют, по меньшей мере, операцию коррекции путем умножения этого выбранного профиля на функцию коррекции, равную сумме, по меньшей мере, части уже скорректированных профилей.
26. Способ по п.25, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации для указанной функции коррекции, состоящий в делении на интеграл указанной функции коррекции.
27. Способ по п.25, в котором операция коррекции дополнительно включает в себя этап нормализации, состоящий в другом умножении на отношение интеграла выбранного профиля к другому интегралу выбранного профиля, умноженного на указанную функцию коррекции.
28. Способ по п.25, в котором спектр является представлением распределения количества фотонов, изменяющегося в разных каналах времени нарастания и различных каналах амплитуды, причем указанное распределение определяют близким к неопределенности измерения, причем операция коррекции может дополнительно включать в себя этап локализованной нормализации, содержащий:
деление выбранного профиля на свертку указанной функции коррекции и указанной функции неопределенности,
этап перераспределения канала амплитуды по амплитудному каналу распределения количества фотонов в выбранном профиле с использованием, так называемой, функции неопределенности, зависящей от указанной неопределенности измерения.
29. Способ по п.28, в котором указанная функция представляет собой функцию Гауссова типа, стандартная девиация которой зависит от указанной неопределенности.
30. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство, предназначенное для осуществления способа по п.26.
31. Устройство для обработки двухпараметрического спектра, содержащее:
средство для выбора параметра профиля для спектра и исходной функции коррекции,
запрограммированное средство для осуществления способа, по п.27.
RU2006142684/28A 2004-05-03 2005-04-21 Способ коррекции двухпараметрических спектров RU2006142684A (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0404763A FR2869692B1 (fr) 2004-05-03 2004-05-03 Procede de correction des spectres bi-parametriques
FR0404763 2004-05-03

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2006142684A true RU2006142684A (ru) 2008-06-10

Family

ID=34944969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2006142684/28A RU2006142684A (ru) 2004-05-03 2005-04-21 Способ коррекции двухпараметрических спектров

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7881893B2 (ru)
EP (1) EP1743192B1 (ru)
JP (1) JP4994225B2 (ru)
CN (1) CN1961220B (ru)
FR (1) FR2869692B1 (ru)
RU (1) RU2006142684A (ru)
WO (1) WO2005114257A1 (ru)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9797772B2 (en) 2013-02-22 2017-10-24 Areva Nc Method for controlling the gain and zero of a multi-pixel photon counter device, and light-measuring system implementing said method

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7480593B2 (en) * 2005-08-03 2009-01-20 Suresh Gopalan Methods and systems for high confidence utilization of datasets
US7518118B2 (en) * 2007-02-27 2009-04-14 California Institute Of Technology Depth sensing in CdZnTe pixel detectors
FR2950979B1 (fr) * 2009-10-07 2012-12-07 Commissariat Energie Atomique Procede de traitement de donnees issues d'un detecteur de rayonnements ionisants
JP5399938B2 (ja) * 2010-02-08 2014-01-29 アズビル株式会社 推定用多項式生成装置、推定装置、推定用多項式生成方法および推定方法
GB201408853D0 (en) * 2014-05-19 2014-07-02 Diamond Light Source Ltd Analysis of signals from pixellated detectors of ionizing radiation
US10152519B2 (en) * 2015-03-05 2018-12-11 Bio-Rad Laboratories, Inc. Optimized spectral matching and display

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5532122A (en) * 1993-10-12 1996-07-02 Biotraces, Inc. Quantitation of gamma and x-ray emitting isotopes
FR2734438B1 (fr) * 1995-05-18 1997-08-01 Optran Technologies Dispositif de transfert d'informations entre deux signaux numeriques et generateur de signaux utilisant un tel dispositif de transfert d'informations
FR2738693B1 (fr) * 1995-09-12 1997-10-10 Commissariat Energie Atomique Systeme de traitement d'impulsions provenant de l'interaction d'une particule gamma avec un detecteur de rayonnement cdte
FR2738919B1 (fr) 1995-09-15 1997-10-17 Commissariat Energie Atomique Procede et dispositif pour la correction de mesure spectrometrique dans le domaine de la detection de photons gamma
FR2790560B1 (fr) * 1999-03-05 2001-04-13 Commissariat Energie Atomique Procede et dispositif de tri en temps reel d'evenements de detection d'un detecteur de rayonnements gamma et de correction d'uniformite d'elements de detection du detecteur
EP1654563A2 (en) * 2003-06-27 2006-05-10 Koninklijke Philips Electronics N.V. Pmt signal correlation filter

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9797772B2 (en) 2013-02-22 2017-10-24 Areva Nc Method for controlling the gain and zero of a multi-pixel photon counter device, and light-measuring system implementing said method
RU2649607C2 (ru) * 2013-02-22 2018-04-04 Орано Сикль Способ контроля коэффициента усиления и установки в ноль многопиксельного счетчика фотонов и система измерения света, реализующая указанный способ

Also Published As

Publication number Publication date
JP4994225B2 (ja) 2012-08-08
WO2005114257A1 (fr) 2005-12-01
JP2007536549A (ja) 2007-12-13
US7881893B2 (en) 2011-02-01
CN1961220B (zh) 2011-05-25
FR2869692A1 (fr) 2005-11-04
FR2869692B1 (fr) 2006-06-23
US20080061224A1 (en) 2008-03-13
EP1743192A1 (fr) 2007-01-17
CN1961220A (zh) 2007-05-09
EP1743192B1 (fr) 2016-05-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6294333B2 (ja) 分光装置および分光法
Dhawan et al. The Zwicky Transient Facility Type Ia supernova survey: first data release and results
Nevalainen et al. Xmm-newton epic background modeling for extended sources
Baek et al. Baseline correction using asymmetrically reweighted penalized least squares smoothing
JP6023177B2 (ja) 多項式フィッティングによるスペクトルデータのバックグラウンド放射線推定
US6987564B2 (en) Automatic correction for continuum background in laser induced breakdown and Raman spectroscopy
JP2008511009A (ja) 核種同定システム
US10746658B1 (en) Method for material identification with laser induced breakdown spectroscopy (LIBS)
US8693625B2 (en) Dynamic shaping time modification in X-ray detectors
RU2006142684A (ru) Способ коррекции двухпараметрических спектров
US7003071B2 (en) X-ray CT apparatus, x-ray CT apparatus afterglow correction method, and afterglow correction program
CN107727676A (zh) 一种基于向前间隔偏最小二乘算法的土壤重金属含量建模方法
JPWO2018025361A1 (ja) 分析データ処理方法及び分析データ処理装置
US20230194344A1 (en) Method of analyzing a spectral peak
US20190033469A1 (en) Method for processing a pulse generated by a detector of ionizing radiation
Müller-Bravo et al. PISCOLA: a data-driven transient light-curve fitter
IL301033A (en) Fluorescence spectrometer based on X-ray total reflection and estimation method
US7529337B2 (en) Energy dispersion type radiation detecting system and method of measuring content of object element
CN110088605B (zh) X射线分析用信号处理装置及x射线分析用信号处理装置的调整方法
US5422925A (en) Contaminating-element analyzing method and apparatus of the same
US7274013B1 (en) Automatic gain adjust utility for radiation spectrometers
WO2012095648A1 (en) A method of deadtime correction in mass spectrometry
Plagnard et al. Metrological characterization of the ADONIS system used in gamma-ray spectrometry
CN112888919B (zh) 光谱装置和方法
US20060271308A1 (en) Identifying statistically linear data