[go: up one dir, main page]

RU2002135289A - Способ определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллического материала - Google Patents

Способ определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллического материала

Info

Publication number
RU2002135289A
RU2002135289A RU2002135289/28A RU2002135289A RU2002135289A RU 2002135289 A RU2002135289 A RU 2002135289A RU 2002135289/28 A RU2002135289/28 A RU 2002135289/28A RU 2002135289 A RU2002135289 A RU 2002135289A RU 2002135289 A RU2002135289 A RU 2002135289A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
polycrystalline material
determining
crystal structure
determining parameters
thin crystal
Prior art date
Application number
RU2002135289/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2234076C1 (ru
Inventor
Анатолий Борисович Коршунов
Александр Николаевич Иванов
Original Assignee
Научно-исследовательский институт механики Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский институт механики Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова filed Critical Научно-исследовательский институт механики Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова
Priority to RU2002135289/28A priority Critical patent/RU2234076C1/ru
Priority claimed from RU2002135289/28A external-priority patent/RU2234076C1/ru
Publication of RU2002135289A publication Critical patent/RU2002135289A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2234076C1 publication Critical patent/RU2234076C1/ru

Links

Claims (1)

  1. Способ определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллического материала, включающий подготовку образцов без пластической деформации, воздействие на образец рентгеновского излучения для регистрации его дифракционного спектра, определение физических уширений (β) двух порядков отражения от одной совокупности кристаллографических плоскостей, т.е. β1 и β2, и угловых положений центров тяжести (θ) выбранных линий, т.е. θ1 и θ2, и определение размеров блоков D и величины микродеформаций кристаллической решетки ε по следующим формулам:
    Figure 00000001
    Figure 00000002
    где
    Figure 00000003
    Figure 00000004
    Figure 00000005
    λ - длина волны рентгеновского излучения, и последующее определение ошибок измерений по формулам
    Figure 00000006
    Figure 00000007
    где
    Figure 00000008
    Figure 00000009
    Δβ1, и Δβ2 - ошибки определения β1 и β2 соответственно.
RU2002135289/28A 2002-12-27 2002-12-27 Способ определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллического материала RU2234076C1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002135289/28A RU2234076C1 (ru) 2002-12-27 2002-12-27 Способ определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллического материала

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002135289/28A RU2234076C1 (ru) 2002-12-27 2002-12-27 Способ определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллического материала

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2002135289A true RU2002135289A (ru) 2004-06-20
RU2234076C1 RU2234076C1 (ru) 2004-08-10

Family

ID=33413645

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2002135289/28A RU2234076C1 (ru) 2002-12-27 2002-12-27 Способ определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллического материала

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2234076C1 (ru)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008052287A1 (en) * 2006-11-03 2008-05-08 Xrt Limited Formation of bragg diffraction images by simplified section topography
RU2383006C1 (ru) * 2008-12-11 2010-02-27 Министерство промышленности и торговли Российской Федерации (Минпромторг России) Способ определения критерия сопротивления металлов и сплавов хрупкому разрушению
RU2534719C1 (ru) * 2013-06-11 2014-12-10 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук Способ диагностики реальной структуры кристаллов
RU2617151C2 (ru) * 2015-07-20 2017-04-21 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт химии твердого тела Уральского отделения Российской академии наук Способ диагностики римановой кривизны решетки нанотонких кристаллов

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5332789A (en) * 1976-09-08 1978-03-28 Hitachi Ltd Method and apparatus for measuring of stress of white color x-ray
DE3139128A1 (de) * 1981-08-27 1983-03-17 Nippon Steel Corp., Tokyo Verfahren und vorrichtung zur roentgenbeugungsspektrokopie
RU2064707C1 (ru) * 1993-07-14 1996-07-27 Физико-технический институт им.А.Ф.Иоффе РАН Способ анализа количественного состава поверхности твердого тела
DE4407278A1 (de) * 1994-03-04 1995-09-07 Siemens Ag Röntgen-Analysegerät
RU2194272C2 (ru) * 1998-04-29 2002-12-10 Баранов Александр Михайлович Способ контроля параметров пленочных покрытий и поверхностей в реальном времени и устройство его осуществления

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Feret et al. Determination of alpha and beta alumina in ceramic alumina by X-ray diffraction
Cowley et al. X-ray scattering studies of thin films and surfaces: thermal oxides on silicon
CN111033246B (zh) 晶相定量分析装置、晶相定量分析方法及晶相定量分析程序
WO2000073773A1 (en) Combinatorial x-ray diffractor
JPH08184572A (ja) 全反射ｘ線分析装置
CN103411846A (zh) 基于高光谱技术的叶面降尘量测定方法
Govindan et al. Crystal growth and characterization of 1, 3, 5-triphenylbenzene organic scintillator crystal
Cisneros et al. Applications and limitations of elastic thermobarometry: Insights from elastic modeling of inclusion‐host pairs and example case studies
EP1540319B1 (en) Quantitative phase analysis of textured polycrystalline materials
Meseck et al. Variability in sediment-water carbonate chemistry and bivalve abundance after bivalve settlement in Long Island Sound, Milford, Connecticut
RU2002135289A (ru) Способ определения параметров тонкой кристаллической структуры поликристаллического материала
Trounova et al. Analytical possibilities of SRXRF station at VEPP-3 SR source
Durgababu et al. Effect of 2, 4-dinitrophenol dye doping on tristhioureazinc (II) sulfate single crystals: a potential nonlinear optical material
Xu et al. Determination of rice root density at the field level using visible and near-infrared reflectance spectroscopy
JP2003004671A (ja) 物質同定方法および物質同定システム
Smilgies et al. In-plane alignment of para-sexiphenyl films grown on KCl (0 0 1)
Selvarajan et al. Structural, mechanical, optical, dielectric and SHG studies of undoped and urea-doped γ-glycine crystals
Blache 4X-Ray Diffraction Methods for the Characterization of Solid Pharmaceutical Materials
RU2674584C1 (ru) Установка для топо-томографических исследований образцов
Hixon et al. Expedient Bayesian prediction of subfossil bone protein content using portable ATR-FTIR data
Doff et al. Determination of α-impurities in the β-polymorph of inosine using infrared spectroscopy and X-ray powder diffraction
Brachert et al. A 4.2 Million years record of interglacial paleoclimate from sclerochronological data of Florida carbonate platform (Early Pliocene to recent)
Esquerra et al. Chromophore reorientations in the early photolysis intermediates of bacteriorhodopsin
Tatchyn The Introduction and Development of a New Method for Measuring the Optical Constants of Metals in the Soft X-Ray Range.
RU2566399C1 (ru) Способ определения структуры молекулярных кристаллов