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KR20220021676A - Stencil for printing process with fine patterns and manufacturing method of the same - Google Patents

Stencil for printing process with fine patterns and manufacturing method of the same Download PDF

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KR20220021676A
KR20220021676A KR1020200102541A KR20200102541A KR20220021676A KR 20220021676 A KR20220021676 A KR 20220021676A KR 1020200102541 A KR1020200102541 A KR 1020200102541A KR 20200102541 A KR20200102541 A KR 20200102541A KR 20220021676 A KR20220021676 A KR 20220021676A
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pattern
stencil
substrate
manufacturing
photoresist pattern
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정성일
김판겸
하태규
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한국전기연구원
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Abstract

미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 및 그 제조방법이 제공된다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 인쇄패턴에 대응되는 형태의 관통홀이 형성되고, 하면에는 기판과 밀착력을 감소시키는 미세패턴이 형성되는 것을 기술적 요지로 한다.A stencil for a printing process in which a fine pattern is formed and a method for manufacturing the same are provided. According to an embodiment of the present invention, a through hole having a shape corresponding to the printed pattern is formed, and a fine pattern for reducing adhesion to the substrate is formed on the lower surface.

Description

미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 및 그의 제조방법{Stencil for printing process with fine patterns and manufacturing method of the same}Stencil for printing process with fine patterns and manufacturing method of the same

본 발명은 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 및 그의 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 보다 미세한 패턴 구현이 가능하고, 기판과 스텐실과의 밀착력에 따른 품질 저하를 방지할 수 있는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 및 그의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a stencil for a printing process having a fine pattern formed therein and a method for manufacturing the same, and more particularly, to a stencil for a printing process having a fine pattern formed therein. It relates to a stencil for a printing process and a method for manufacturing the same.

최근 전자제품 생산 시장은 새로운 생산 공정의 도입을 통하여 생산 비용의 절감, 소재의 소비 효율 향상, 청정생산 환경을 구축하기 위한 다양한 시도들이 이어지고 있다. 대표적으로 인쇄전자 기술을 예로 들 수 있는데, 인쇄공정을 활용하여 전자회로, 센서, 소자 및 각종 전자제품을 인쇄하듯 만들어내는 차세대 인쇄기술을 의미한다. 인쇄전자 기술에는 잉크젯 프린팅, 스크린 프린팅, 롤투롤 프린팅, 임프린팅 등 다양한 인쇄공정을 포함하고 있다.Recently, in the electronic product production market, various attempts are being made to reduce production costs, improve material consumption efficiency, and establish a clean production environment through the introduction of a new production process. A typical example is printed electronic technology, which refers to a next-generation printing technology that uses a printing process to print electronic circuits, sensors, devices, and various electronic products. Printed electronic technology includes various printing processes such as inkjet printing, screen printing, roll-to-roll printing, and imprinting.

그 중에서도 미세패턴의 전도성 회로 인쇄는 금속잉크를 스크린 프린팅 방식 또는 스프레이 프린팅 방식으로 인쇄하는 방법이 주로 이용되고 있다.Among them, a method of printing metal ink by a screen printing method or a spray printing method is mainly used for printing a conductive circuit of a fine pattern.

하지만, 스크린메쉬가 결합된 스텐실을 이용하는 종래의 스크린 프린팅 방식은 일반적으로 40㎛ 내외의 직경을 갖는 스크린메쉬를 이용한다. 이때, 스크린메쉬의 직경보다 작은 크기의 패턴을 인쇄하는 경우, 스텐실에 형성된 인쇄패턴이 스크린메쉬에 가려져 위치에 따라 인쇄 불량 부분이 발생하여 패턴의 불균일이 발생되는 문제점이 있었다.However, the conventional screen printing method using a stencil combined with a screen mesh generally uses a screen mesh having a diameter of about 40 μm. In this case, when a pattern having a size smaller than the diameter of the screen mesh is printed, the printed pattern formed on the stencil is covered by the screen mesh, and a printing defect portion is generated depending on the position, thereby causing a problem of non-uniformity of the pattern.

또한, 종래의 스프레이 프린팅 방식은 스텐실을 제작할 때, 최소한의 강성 유지를 위해 일정 두께 이상으로 스텐실을 제작하게 된다. 따라서 인쇄하는 패턴이 미세할수록, 패턴의 선 폭 대비 높이가 커지게 되고, 스텐실을 통해 인쇄된 인쇄재료가 스텐실의 인쇄패턴 사이에 끼어, 스텐실을 제거하는 과정에서 함께 제거되어 인쇄 불량이 발생하는 문제점이 있었다.In addition, in the conventional spray printing method, when the stencil is manufactured, the stencil is manufactured to have a predetermined thickness or more to maintain minimum rigidity. Therefore, the finer the pattern to be printed, the greater the height compared to the line width of the pattern, and the printing material printed through the stencil is caught between the print patterns of the stencil and is removed together in the process of removing the stencil, resulting in poor printing. there was

이러한 문제점을 해결하기 위하여 '마이크로 스텐실 및 이의 제조방법(공개번호 : 10-2020-0043796)'에서는 인쇄패턴에 대응되는 형태의 관통홀이 형성되는 마스크부 및 상기 마스크부의 일면에 돌출 형성되며, 상기 관통홀이 형성되지 않는 부위에 구비되는 보강부를 포함하는 마이크로 스텐실을 개시하고 있다.In order to solve this problem, in the 'micro stencil and its manufacturing method (Publication No. 10-2020-0043796)', a through-hole having a shape corresponding to a printed pattern is formed and protruding from one surface of the mask part, Disclosed is a micro stencil including a reinforcing part provided in a portion where a through hole is not formed.

그러나, 상술한 방법에 의하면 마스크부가 보강부에 의해 지지되며 기판과 이격되어 있어, 마스크부가 인쇄된 금속잉크와 접촉되지 않아, 금속잉크가 관통홀에 끼는 현상을 방지하는 효과는 얻을 수 있으나, 패턴을 선명하게 인쇄하기에는 한계가 있으므로 이에 대한 새로운 기술 개발이 필요한 시점이다.However, according to the above method, since the mask part is supported by the reinforcing part and spaced apart from the substrate, the mask part does not come into contact with the printed metal ink, thereby preventing the metal ink from being caught in the through hole. Since there is a limit to print clearly, it is time to develop a new technology for this.

KRKR 10-2020-004379610-2020-0043796 AA

본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 미세 패턴의 균일성을 확보할 수 있고, 기판과 스텐실과의 밀착력에 따른 패턴 품질 저하를 방지할 수 있는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 및 그 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention is to solve the above problems, and it is possible to secure the uniformity of the fine pattern, and to prevent the deterioration of the pattern quality due to the adhesion between the substrate and the stencil, the stencil for the printing process in which the fine pattern is formed, and its manufacture The purpose is to provide a method.

상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실은, 인쇄패턴에 대응되는 형태의 관통홀이 형성되고, 하면에는 기판과 밀착력을 감소시키는 미세패턴이 형성되는 것을 기술적 요지로 한다.In order to achieve the above object, in the stencil for a printing process in which a fine pattern is formed according to an embodiment of the present invention, a through hole having a shape corresponding to the printing pattern is formed, and a fine pattern to reduce adhesion to the substrate is formed on the lower surface. to become a technical gist.

또한, 상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 일 실시예에 따른 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법은, 유리기판 상면에 인쇄패턴에 대응되는 형태의 제1크롬패턴과 투명전극층이 적층 형성된 노광 공정용 기판을 준비하는 제1단계; 상기 노광 공정용 기판의 투명전극층 위에 밀착력 감소용 감광제패턴을 제작하는 제2단계; 상기 밀착력 감소용 감광제패턴을 이용하여 스텐실용 감광제패턴을 제작하는 제3단계; 및 상기 스텐실용 감광제패턴을 이용하여 스텐실을 제작하는 제4단계;로 이루어지는 것을 기술적 요지로 한다.In addition, in order to achieve the above object, in the method for manufacturing a stencil for a printing process in which a fine pattern is formed according to an embodiment of the present invention, a first chrome pattern corresponding to the printed pattern and a transparent electrode layer are laminated on the upper surface of a glass substrate. A first step of preparing a substrate for an exposure process; a second step of manufacturing a photoresist pattern for reducing adhesion on the transparent electrode layer of the substrate for the exposure process; a third step of manufacturing a photoresist pattern for a stencil using the photoresist pattern for reducing adhesion; and a fourth step of manufacturing a stencil using the photoresist pattern for the stencil.

이러한 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법의 상기 노광 공정용 기판을 준비하는 제1단계는, 유리기판 상면에 인쇄패턴에 대응하도록 제1a크롬패턴이 형성된 제1a포토마스크를 형성시키는 제1-1(a)단계; 상기 제1a포토마스크 상면에 투명전극층을 형성시키는 제1-2(a)단계;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The first step of preparing the substrate for the exposure process of the stencil manufacturing method for the printing process on which the fine pattern is formed is the first- Step 1(a); and a step 1-2(a) of forming a transparent electrode layer on an upper surface of the first photomask.

이러한 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법의 상기 노광 공정용 기판을 준비하는 제1단계는, 유리기판에 투명전극층 및 크롬층을 차례로 형성시키고, 상기 크롬층 위에 감광제를 도포하는 제1-1(b)단계; 인쇄패턴에 대응하도록 제1크롬패턴이 형성된 제1b포토마스크를 상기 제1-1(b)단계의 감광제 상단에 배치하고, 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제1감광제패턴을 형성시키는 제1-2(b)단계; 상기 제1감광제패턴을 마스크로 하여 상기 크롬층을 식각하여 제1크롬패턴을 형성시키는 제1-3(b)단계;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The first step of preparing the substrate for the exposure process of the stencil manufacturing method for the printing process on which such a fine pattern is formed is Step 1-1, in which a transparent electrode layer and a chromium layer are sequentially formed on a glass substrate, and a photosensitizer is applied on the chromium layer. (b) step; A 1b photomask having a first chrome pattern formed thereon to correspond to the printed pattern is placed on top of the photosensitizer of step 1-1 (b), and a first 1-2 photoresist pattern is formed through ultraviolet irradiation and developing process. (b) step; and steps 1-3 (b) of forming a first chrome pattern by etching the chrome layer using the first photoresist pattern as a mask.

이러한 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법의 상기 밀착력 감소용 감광제패턴을 제작하는 제2단계는, 유리기판에 제2크롬패턴이 형성된 제2포토마스크를 형성시키는 제2-1(a)단계; 상기 노광 공정용 기판 상단에 상기 제2포토마스크를 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제2감광제패턴을 형성시키는 제2-2(a)단계; 상기 제2감광제패턴을 열처리하여 밀착력 감소용 마이크로 감광제패턴을 형성시키는 제2-3(a)단계;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The second step of manufacturing the photosensitive agent pattern for reducing the adhesion of the stencil manufacturing method for the printing process in which such a fine pattern is formed is a step 2-1 (a) of forming a second photomask having a second chrome pattern formed thereon on a glass substrate ; a step 2-2 (a) of arranging the second photomask on top of the substrate for the exposure process to form a second photoresist pattern through ultraviolet irradiation and developing process; and a step 2-3(a) of heat-treating the second photosensitive agent pattern to form a micro-photosensitive agent pattern for reducing adhesion.

이러한 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법의 상기 밀착력 감소용 감광제패턴을 제작하는 제2단계는, 유리기판에 제2크롬패턴이 형성된 제2포토마스크를 형성시키는 제2-1(b)단계; 감광제가 도포된 기판 상단에 상기 제2포토마스크를 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제2감광제패턴이 형성된 위상마스크 제작용 기판을 제작하는 제2-2(b)단계; 상기 위상마스크 제작용 기판의 상기 제2감광제패턴 위에 투명한 액상의 고분자를 부어 경화시킨 후 분리하여 위상마스크를 제작하는 제2-3(b)단계; 상기 노광 공정용 기판 상단에 상기 위상마스크를 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제3감광제패턴을 형성시키는 제2-4(b)단계; 상기 제3감광제패턴을 열처리하여 밀착력 감소용 나노 감광제패턴을 형성시키는 제2-5(b)단계;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The second step of manufacturing the photosensitive agent pattern for reducing the adhesion of the stencil manufacturing method for the printing process in which such a fine pattern is formed is a step 2-1 (b) of forming a second photomask having a second chrome pattern formed thereon on a glass substrate ; Step 2-2 (b) of arranging the second photomask on top of the substrate on which the photosensitive agent is applied, and manufacturing a substrate for producing a phase mask on which a second photosensitive agent pattern is formed through ultraviolet irradiation and developing process; a step 2-3(b) of pouring and curing a transparent liquid polymer on the second photoresist pattern of the substrate for preparing the phase mask, and separating it to prepare a phase mask; a step 2-4 (b) of arranging the phase mask on top of the substrate for the exposure process to form a third photoresist pattern through ultraviolet irradiation and developing process; and a second-5 (b) step of heat-treating the third photoresist pattern to form a nano photoresist pattern for reducing adhesion.

이러한 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법의 상기 스텐실용 패턴을 제작하는 제3단계는, 상기 노광 공정용 기판에 형성된 밀착력 감소용 감광제패턴의 상단에 감광제를 도포하는 제3-1단계; 상기 노광 공정용 기판의 하면에서 자외선을 조사하는 현상 공정을 통해 스텐실용 감광제패턴을 형성시키는 제3-2단계;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The third step of manufacturing the pattern for the stencil of the stencil manufacturing method for the printing process in which the fine pattern is formed includes: a 3-1 step of applying a photosensitive agent to the top of the photosensitive agent pattern for reducing adhesion formed on the substrate for the exposure process; and a step 3-2 of forming a photoresist pattern for a stencil through a developing process of irradiating ultraviolet rays on the lower surface of the substrate for the exposure process.

이러한 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법의 상기 스텐실을 제작하는 제4단계는, 상기 스텐실용 감광제패턴 위에 금속 전주 도금공정을 수행하여 상기 투명전극층으로부터 금속도금층을 형성시켜 스텐실을 제작하는 것을 특징으로 한다.In the fourth step of manufacturing the stencil of the stencil manufacturing method for the printing process in which such a fine pattern is formed, a metal electroplating process is performed on the photoresist pattern for the stencil to form a metal plating layer from the transparent electrode layer to manufacture the stencil. do it with

상기 과제의 해결수단에 의한 본 발명은, 스텐실의 하면에 구현된 미세패턴에 의하여 기판과 스텐실과의 밀착력에 따른 패턴 품질 저하를 방지할 수 있다.According to the present invention by means of a solution to the above problems, it is possible to prevent deterioration of pattern quality due to the adhesion between the substrate and the stencil by the fine pattern implemented on the lower surface of the stencil.

또한, 유리기판의 뒷면에서 자외선을 조사하여 노광 공정을 수행함으로써 포토마스크의 크롬패턴과 감광제 사이에 갭이 발생되는 현상을 방지하여 패턴 불균일을 해소할 수 있다.In addition, by performing an exposure process by irradiating ultraviolet rays from the back side of the glass substrate, a phenomenon in which a gap is generated between the chromium pattern of the photomask and the photosensitizer can be prevented, thereby solving the pattern non-uniformity.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법의 순서도.
도 2는 도 1의 노광 공정용 기판 준비 단계의 실시예를 나타내는 도면.
도 3은 도 1의 노광 공정용 기판 준비 단계의 또 다른 실시예를 나타내는 도면.
도 4 는 도 1의 밀착력 감소용 감광제패턴을 마이크로 패턴으로 구현하는 실시예를 나타내는 도면.
도 5 및 도 6은 도 1의 밀착력 감소용 감광제패턴을 나노 패턴으로 구현하는 실시예를 나타내는 도면.
도 7은 도 1의 스텐실용 감광제패턴을 구현하는 실시예를 나타내는 도면.
도 8은 도 1의 스텐실 제작을 구현하는 실시예를 나타내는 도면.
1 is a flowchart of a stencil manufacturing method for a printing process in which a fine pattern is formed according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a view showing an embodiment of a step of preparing a substrate for an exposure process of FIG. 1 ;
FIG. 3 is a view showing another embodiment of a step of preparing a substrate for an exposure process of FIG. 1 .
4 is a view showing an embodiment in which the photosensitive agent pattern for reducing adhesion of FIG. 1 is implemented as a micro pattern;
5 and 6 are views showing an embodiment in which the photosensitive agent pattern for reducing adhesion of FIG. 1 is implemented as a nano-pattern;
FIG. 7 is a view showing an embodiment of implementing the photoresist pattern for a stencil of FIG. 1;
Fig. 8 is a diagram illustrating an embodiment implementing the stencil fabrication of Fig. 1;

이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 8에 의거하여 상세히 설명한다. 한편, 도면과 상세한 설명에서 일반적인 포토마스크, 감광제, 투명전극, 노광 공정, 포토리소그래피 공정 등으로부터 이 분야의 종사자들이 용이하게 알 수 있는 구성 및 작용에 대한 도시 및 언급은 간략히 하거나 생략하였다. 특히 도면의 도시 및 상세한 설명에 있어서 본 발명의 기술적 특징과 직접적으로 연관되지 않는 요소의 구체적인 기술적 구성 및 작용에 대한 상세한 설명 및 도시는 생략하고, 본 발명과 관련되는 기술적 구성만을 간략하게 도시하거나 설명하였다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings 1 to 8. On the other hand, in the drawings and detailed description, a general photomask, a photosensitizer, a transparent electrode, an exposure process, a photolithography process Illustrations and references to configurations and actions that can be easily understood by those skilled in this field from others have been simplified or omitted. In particular, in the drawings and detailed descriptions, detailed descriptions and illustrations of specific technical configurations and actions of elements not directly related to the technical features of the present invention are omitted, and only the technical configurations related to the present invention are briefly illustrated or described. did

본 발명의 일 실시예에 따른 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실의 제조방법은 도 1에 도시된 바와 같이, 노광 공정용 기판을 준비하는 제1단계(S100), 밀착력감소 밀착력 감소용 감광제패턴을 제작하는 제2단계(S200), 스텐실용 감광제패턴을 제작하는 제3단계(S300), 스텐실을 제작하는 제4단계(S400)로 이루어진다.As shown in FIG. 1, the method of manufacturing a stencil for a printing process having a fine pattern according to an embodiment of the present invention includes a first step (S100) of preparing a substrate for an exposure process, a photoresist pattern for reducing adhesion and reducing adhesion. It consists of a second step (S200) of manufacturing, a third step (S300) of manufacturing the photoresist pattern for the stencil, and a fourth step (S400) of manufacturing the stencil.

먼저, 제1단계(a)는 노광 공정용 기판(200)을 준비한다.(S100)First, in the first step (a), a substrate 200 for an exposure process is prepared. (S100)

노광 공정용 기판(200)은 도 2와 같이, 유리기판에 제1크롬패턴(110)이 형성된 제1a포토마스크(100a)에 투명전극층(220)을 형성시킨다.In the exposure process substrate 200, as shown in FIG. 2, a transparent electrode layer 220 is formed on the 1a photomask 100a in which the first chrome pattern 110 is formed on the glass substrate.

이때, 제1크롬패턴(110)은 인쇄패턴에 대응하게 형성되도록 한다.At this time, the first chrome pattern 110 is formed to correspond to the printed pattern.

또한, 투명전극층(220)으로는 ITO(Indium Tin Oxide) 박막을 포함하는 금속 산화물층 또는 금속 산화물-금속-금속산화물 복합층이 사용될 수 있다. 투명전극층(220)의 박막의 두께는 자외선 영역의 광투과율이 70% 이상이고, 면저항이 20

Figure pat00001
이하의 값을 갖는 범위 내에서 선택될 수 있다.In addition, as the transparent electrode layer 220 , a metal oxide layer including an indium tin oxide (ITO) thin film or a metal oxide-metal-metal oxide composite layer may be used. The thickness of the thin film of the transparent electrode layer 220 has a light transmittance of 70% or more in the ultraviolet region, and a sheet resistance of 20
Figure pat00001
It may be selected within a range having the following values.

이는 투명전극층(220)의 광투과율이 70% 이하일 경우, 두꺼운 감광제 패턴에 대한 노광 공정을 적용함에 있어, 과도한 광을 필요로 하게 되고, 그로 인해 노광 패턴 품질의 저하가 발생할 수 있기 때문이다. 또한, 면저항이 20

Figure pat00002
이상일 경우, 추후 전주도금 공정 시 도금 두께의 균일도 저하를 유발할 수 있기 때문이다.This is because, when the light transmittance of the transparent electrode layer 220 is 70% or less, excessive light is required in applying the exposure process to the thick photoresist pattern, and thus the quality of the exposure pattern may be deteriorated. In addition, the sheet resistance is 20
Figure pat00002
This is because, in the case of abnormality, the uniformity of the plating thickness may be deteriorated during the subsequent electroplating process.

한편, 상술한 방법으로 노광 공정용 기판(200)을 형성시키면, 제1a포토마스크(100a)를 바로 기판으로 사용하기 때문에 파손 등의 문제로 인하여 제조비용이 상승하는 문제점이 있을 수 있다. 따라서, 이를 해결할 수 있는 노광 공정용 기판(200)을 제작하는 또 다른 실시예인 제1단계(b)를 살펴보면 다음과 같다.On the other hand, when the substrate 200 for the exposure process is formed by the above-described method, since the 1a photomask 100a is directly used as the substrate, there may be a problem in that the manufacturing cost increases due to problems such as damage. Accordingly, the first step (b), which is another embodiment of manufacturing the substrate 200 for the exposure process capable of solving this problem, will be described as follows.

도 3과 같이, 유리기판에 투명전극층(220)과 크롬층(230)을 차례로 형성시키고, 크롬층(230) 위에 감광제를 도포한다.3 , a transparent electrode layer 220 and a chromium layer 230 are sequentially formed on a glass substrate, and a photosensitizer is applied on the chromium layer 230 .

인쇄패턴에 대응하는 제1크롬패턴(110)이 형성된 제1b포토마스크(100b)를 감광제 상단에 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제1감광제패턴(240)을 형성시킨다.The 1b photomask 100b on which the first chrome pattern 110 corresponding to the printed pattern is formed is disposed on top of the photoresist, and the first photoresist pattern 240 is formed through ultraviolet irradiation and developing process.

제1감광제패턴(240)을 마스크로 하여 크롬층(230)을 식각하면 제1b포토마스크(100b)와 동일하게 제1크롬패턴(210)이 형성된 노광 공정용 기판(200)을 제작할 수 있는 것이다.When the chromium layer 230 is etched using the first photoresist pattern 240 as a mask, the substrate 200 for the exposure process on which the first chromium pattern 210 is formed can be manufactured in the same manner as the 1b photomask 100b. .

다음으로, 제2단계는 밀착력 감소용 감광제패턴(330,350)을 제작하는 단계이다.(S200)Next, the second step is a step of manufacturing the photoresist patterns 330 and 350 for reducing adhesion. (S200)

밀착력 감소용 감광제패턴(330,350)은 추후 스텐실(600)의 하면에 형성시킬 미세패턴(630)을 구현하기 위한 것으로, 마이크로 패턴 또는 나노 패턴으로 형성될 수 있다.The photoresist patterns 330 and 350 for reducing adhesion are for implementing a micro pattern 630 to be formed on the lower surface of the stencil 600 later, and may be formed in a micro pattern or a nano pattern.

먼저, 마이크로 패턴으로 형성되는 경우의 제2단계(a)를 도 4를 참조하여 살펴보면 다음과 같다.First, referring to FIG. 4, the second step (a) in the case of forming a micro-pattern is as follows.

유리기판에 제2크롬패턴(310)이 형성된 제2포토마스크(300)를 제작하고, 제1단계(S100)에서 제작된 노광 공정용 기판(200)의 투명전극층(220) 위에 감광제를 도포한다. 그 상단에 제2포토마스크(300)를 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제2감광제패턴(320)을 형성시킨다.A second photomask 300 having a second chrome pattern 310 formed thereon is manufactured on a glass substrate, and a photosensitizer is applied on the transparent electrode layer 220 of the substrate 200 for the exposure process prepared in the first step (S100). . A second photomask 300 is disposed on the upper end thereof to form a second photoresist pattern 320 through ultraviolet irradiation and development process.

여기서 감광제의 두께는 구현하고자 하는 제2감광제패턴(320) 선폭의 0.5 내지 5배 이내 범위로 되는 것이 바람직하다. 감광제의 선폭 대비 두께의 비가 0.5보다 작으면 마이크로 패턴이 너무 얇게 형성되어 밀착력 감소 효과를 얻기 어렵고, 감광제의 선폭 대비 두께의 비가 5보다 두꺼우면 노광 공정을 적용함에 있어, 노광 패턴 품질이 나빠지는 문제점이 있다.Here, the thickness of the photoresist is preferably within a range of 0.5 to 5 times the line width of the second photoresist pattern 320 to be implemented. If the ratio of the thickness to the line width of the photosensitive agent is less than 0.5, the micropattern is formed too thinly to obtain an effect of reducing adhesion, and if the ratio of the thickness to the line width of the photosensitive agent is thicker than 5, the exposure pattern quality deteriorates in applying the exposure process There is this.

이렇게 형성된 제2감광제패턴(320)을 열처리하는 리플로우(Reflow) 공정을 수행하여 밀착력 감소용 마이크로 감광제패턴(330)을 구현한다. 이때, 열처리 온도는 120 내지 160℃ 범위로 되는 것이 바람직하다.A reflow process of heat-treating the second photoresist pattern 320 thus formed is performed to implement the micro photoresist pattern 330 for reducing adhesion. At this time, the heat treatment temperature is preferably in the range of 120 to 160 ℃.

한편, 나노 패턴으로 형성되는 경우의 제2단계(b)를 도 5 및 도 6을 참조하여 살펴보면 다음과 같다.Meanwhile, the second step (b) in the case of forming a nano-pattern will be described with reference to FIGS. 5 and 6 .

유리기판에 제2크롬패턴(310)이 형성된 제2포토마스크(300)를 제작하고, 제1단계(S100)에서 제작된 노광 공정용 기판(200)의 투명전극층(220) 위에 감광제를 도포한다. 그 상단에 제2포토마스크(300)를 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제2감광제패턴(320)이 형성된 위상마스크 제작용 기판(400)을 형성시킨다.A second photomask 300 having a second chrome pattern 310 formed thereon is manufactured on a glass substrate, and a photosensitizer is applied on the transparent electrode layer 220 of the substrate 200 for the exposure process prepared in the first step (S100). . A second photomask 300 is disposed on the upper end thereof to form a substrate 400 for producing a phase mask on which the second photoresist pattern 320 is formed through ultraviolet irradiation and development process.

여기서 감광제의 두께는 1 내지 5㎛ 범위로 되는 것이 바람직하다. 감광제의 두께가 1㎛보다 얕으면 후술할 위상마스크(500)가 얇게 형성되어 나노 패턴이 나타나기 어렵고, 감광제의 두께가 5㎛보다 두꺼우면 이후에 수행되는 나노 패턴 노광 공정의 작업성이 나빠지는 문제점이 있다. Here, the thickness of the photosensitizer is preferably in the range of 1 to 5 μm. When the thickness of the photosensitizer is shallower than 1 μm, the phase mask 500 to be described later is thinly formed, so that the nano-pattern is difficult to appear. There is this.

상술한 방법으로 제작된 위상마스크 제작용 기판(400)의 제2감광제패턴(320) 위에 투명한 액상의 고분자를 부어 경화시킨 후, 제2감광제패턴(320)으로부터 분리하여 위상마스크(500)를 제작한다.A transparent liquid polymer is poured on the second photoresist pattern 320 of the substrate 400 for producing the phase mask prepared by the above method to cure, and then separated from the second photoresist pattern 320 to produce the phase mask 500 . do.

경화시키는 방법으로는 열 또는 자외선 경화 중 선택될 수 있다. 열경화 시킬 경우, 온도가 40 내지 100℃ 범위인 것, 자외선 경화 시킬 경우, 광조사량이 100 내지 2000 mJ/cm2 인 것이 바람직하다. 열경화 온도가 40℃보다 낮거나 자외선 조사량이 100 mJ/cm2 보다 낮으면 경화가 잘 일어나지 않는 문제점이 있고, 열경화 온도가 100℃보다 높거나 자외선 경화 온도가 2000 mJ/cm2 보다 높으면 과도한 수축이 발생하므로 위상마스크(500)의 패턴이 원하는 형상으로 나오지 않는 문제점이 있다.The curing method may be selected from heat or ultraviolet curing. In the case of thermosetting, the temperature is in the range of 40 to 100 ℃, in the case of UV curing, it is preferable that the amount of light irradiation is 100 to 2000 mJ/cm 2 . If the thermosetting temperature is lower than 40°C or the amount of UV irradiation is lower than 100 mJ/cm 2 , there is a problem that curing does not occur well, and if the thermosetting temperature is higher than 100°C or the UV curing temperature is higher than 2000 mJ/cm 2 Since the shrinkage occurs, there is a problem in that the pattern of the phase mask 500 does not come out in a desired shape.

또한, 여기서 사용되는 고분자로는 PDMS(Polydimethylsiloxane) 또는 Polyurethane이 주로 사용될 수 있으나, 이에 한정되지 않으며 열 또는 자외선 경화가 가능하고 패턴성형에 적합한 모든 재료를 적용할 수 있다.In addition, as the polymer used herein, PDMS (Polydimethylsiloxane) or Polyurethane may be mainly used, but the present invention is not limited thereto, and all materials that can be cured by heat or UV light and are suitable for pattern molding can be applied.

제1단계(S100)에서 제작된 노광 공정용 기판(200)의 투명전극층(220) 위에 감광제를 도포하고, 그 상단에 위상마스크(500)를 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제3감광제패턴(340)을 형성시킨다.A photosensitizer is applied on the transparent electrode layer 220 of the substrate 200 for the exposure process manufactured in the first step (S100), and a phase mask 500 is disposed on the upper part of the third photoresist pattern through ultraviolet irradiation and development process. (340) is formed.

이렇게 형성된 제3감광제패턴(340)은 열처리하는 리플로우(Reflow) 공정을 수행하여 밀착력 감소용 나노 감광제패턴(350)을 구현한다. 이때, 열처리 온도는 120 내지 160℃ 범위로 되는 것이 바람직하다.The third photoresist pattern 340 thus formed implements the nano photoresist pattern 350 for reducing adhesion by performing a reflow process of heat treatment. At this time, the heat treatment temperature is preferably in the range of 120 to 160 ℃.

상술한 바와 같이, 밀착력 감소용 감광제패턴(330,350)으로는 밀착력 감소용 마이크로 감광제패턴(330) 또는 밀착력 감소용 나노 감광제패턴(350) 중 선택된 어느 하나가 이용될 수 있는데, 후술할 미세패턴(630)이 밀착력 감소용 마이크로 감광제패턴(330)을 이용하여 구현되는 경우에는 공정이 간단하고 비용이 절감되는 반면, 미세패턴(630) 내에 공기가 갇혀 흡착되면 오히려 밀착력이 증가되는 문제점이 있을 수도 있다.As described above, as the photoresist patterns 330 and 350 for reducing adhesion, any one selected from the micro photosensitizer pattern 330 for reducing adhesion or the nano photoresist pattern 350 for reducing adhesion may be used, which will be described later with a fine pattern 630 . ) is implemented using the micro-photosensitizer pattern 330 for reducing adhesion, the process is simple and cost is reduced, whereas if air is trapped and adsorbed in the micro-pattern 630, there may be a problem in that adhesion is rather increased.

한편, 미세패턴(630)이 밀착력 감소용 나노 감광제패턴(350)을 이용하여 구현되는 경우에는 공정이 복잡하고 비용이 증가되는 반면, 미세패턴(630)에 의하여 기판과 스텐실(600) 사이의 밀착력이 확실하게 감소될 수 있다.On the other hand, when the micropattern 630 is implemented using the nanophotosensitizer pattern 350 for reducing adhesion, the process is complicated and the cost is increased, whereas the adhesion between the substrate and the stencil 600 is caused by the micropattern 630 . This can certainly be reduced.

따라서, 스텐실(600) 패턴과 사용자의 필요에 따라 밀착력 감소용 마이크로 감광제패턴(330) 또는 밀착력 감소용 나노 감광제패턴(350)을 선택적으로 이용할 수 있으며, 본 실시예에서는 밀착력 감소용 나노 감광제패턴(350)을 이용하는 경우를 선택하여 설명하기로 한다.Therefore, the stencil 600 pattern and the micro-photosensitizer pattern 330 for reducing adhesion or the nano-sensitizer pattern 350 for reducing adhesion can be selectively used according to the user's needs, and in this embodiment, the nano-sensitizer pattern for reducing adhesion ( 350) will be selected and described.

다음으로, 도 7에 도시된 바와 같이, 제3단계는 스텐실용 감광제패턴(610)을 제작한다.(S300)Next, as shown in FIG. 7 , in the third step, a photoresist pattern 610 for a stencil is manufactured. (S300)

먼저, 노광 공정용 기판(200)에 형성된 밀착력 감소용 나노 감광제패턴(350)의 상단에 감광제를 도포한다. 이때, 감광제의 두께는 구현하고자 하는 스텐실용 감광제패턴(610) 선폭의 0.5 내지 5배 이내 범위로 되는 것이 바람직하다. 감광제의 선폭 대비 두께의 비가 0.5보다 작으면 이후 수행되는 전주 도금의 두께가 너무 얇게 형성되어 스텐실(600) 제작이 불가하고, 감광제의 선폭 대비 두께의 비가 5보다 두꺼우면 노광 공정을 적용함에 있어, 노광 패턴 품질이 나빠지는 문제점이 있기 때문이다.First, a photosensitizer is applied to the upper end of the nanophotosensitizer pattern 350 for reducing adhesion formed on the substrate 200 for the exposure process. In this case, the thickness of the photoresist is preferably within a range of 0.5 to 5 times the line width of the photoresist pattern 610 for a stencil to be implemented. If the ratio of the thickness to the line width of the photosensitive agent is less than 0.5, the thickness of the electroplating performed thereafter is formed too thin, so that the stencil 600 cannot be manufactured. This is because there is a problem in that the quality of the exposure pattern is deteriorated.

여기서, 밀착력 감소용 나노 감광제패턴(350)은 리플로우 공정으로 열처리되어 솔벤트가 모두 휘발된 상태이므로 감광제(Photoresist)로서의 성능이 사라진 상태이며, 오직 패턴 형상으로만 작용할 수 있다.Here, the nano-photoresist pattern 350 for reducing adhesion is heat-treated through a reflow process, so that the solvent is all volatilized, so the performance as a photoresist is lost, and can only act as a pattern shape.

이렇게 감광제가 도포된 노광 공정용 기판(200)의 뒷면에서 자외선을 조사하고, 현상 공정을 거쳐 스텐실용 감광제패턴(610)을 구현한다. 즉, 스텐실용 감광제패턴(610)은 밀착력 감소용 나노 감광제패턴(350) 위에 제1크롬패턴(210)의 형상으로 감광제 패턴이 구현된 상태인 것이다.In this way, ultraviolet rays are irradiated from the back side of the substrate 200 for the exposure process to which the photosensitive agent is applied, and the photosensitive agent pattern 610 for a stencil is implemented through a developing process. That is, the photoresist pattern 610 for stencil is a state in which the photoresist pattern is implemented in the shape of the first chrome pattern 210 on the nano photoresist pattern 350 for reducing adhesion.

다음으로, 도 8에 도시된 바와 같이, 제4단계는 스텐실을 제작하는 단계이다.(S400)Next, as shown in FIG. 8 , the fourth step is a step of manufacturing a stencil. (S400)

스텐실용 감광제패턴(610) 위에 금속 전주 도금공정을 수행한다. 투명전극층(220)으로부터 금속도금층(620)이 형성되는 것이다. 이때 도금은 니켈, 니켈합금, 동, 동합금 등 전주 도금 공정이 가능한 모든 금속이 사용 가능하다. 앞서, 제1단계(S100)에서 전극 박막으로 투명전극층(220)을 사용한 이유가 현재 단계에서 도금 공정을 위한 시드 레이어로 활용하기 위함이다.A metal electropole plating process is performed on the photoresist pattern 610 for a stencil. The metal plating layer 620 is formed from the transparent electrode layer 220 . At this time, all metals capable of electroplating process such as nickel, nickel alloy, copper, and copper alloy can be used for plating. The reason for using the transparent electrode layer 220 as an electrode thin film in the first step (S100) is to use it as a seed layer for the plating process in the current step.

상술한 방법에 의하면 제1크롬패턴(210) 형상으로 관통홀(640)이 형성되고, 하면에는 미세패턴(630)이 형성된 스텐실(600)을 제작할 수 있게 되는 것이다.According to the above-described method, the stencil 600 in which the through hole 640 is formed in the shape of the first chrome pattern 210 and the fine pattern 630 is formed on the lower surface can be manufactured.

이러한 스텐실(600)은 하면에 구현된 미세패턴(630)에 의하여 기판과 스텐실(600) 사이의 밀착력에 따른 패턴 품질 저하를 방지할 수 있고, 유리기판의 뒷면에서 바로 자외선을 조사하여 노광 공정을 수행함으로써 포토마스크의 크롬패턴과 감광제 사이에 갭이 발생되는 현상을 방지하여 패턴 불균일을 해소할 수 있다.This stencil 600 can prevent the deterioration of the pattern quality due to the adhesion between the substrate and the stencil 600 by the micropattern 630 implemented on the lower surface, and the exposure process is performed by irradiating ultraviolet rays directly from the back side of the glass substrate. By doing so, a phenomenon in which a gap is generated between the chromium pattern of the photomask and the photosensitive agent can be prevented, thereby eliminating the pattern non-uniformity.

상술한 바와 같은, 본 발명의 실시예에 따른 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 및 그의 제조방법을 상기한 설명 및 도면에 따라 도시하였지만, 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능하다는 것을 이 분야의 통상적인 기술자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.As described above, although the stencil for the printing process in which the fine pattern is formed and the manufacturing method thereof according to the embodiment of the present invention is shown according to the above description and drawings, this is merely an example and does not depart from the technical spirit of the present invention. It will be well understood by those skilled in the art that various changes and modifications can be made without departing from the scope of the present invention.

100a: 제1a포토마스크
100b: 제1b포토마스크
110: 제1크롬패턴
200: 노광 공정용 기판
210: 제1크롬패턴
220: 투명전극층
230: 크롬층
240: 제1감광제패턴
300: 제2포토마스크
310: 제2크롬패턴
320: 제2감광제패턴
330: 밀착력 감소용 마이크로 감광제패턴
340: 제3감광제패턴
350: 밀착력 감소용 나노 감광제패턴
400: 위상마스크 제작용 기판
500: 위상마스크
600: 스텐실
610: 스텐실용 감광제패턴
620: 금속도금층
630: 미세패턴
640: 관통홀
100a: 1a photomask
100b: 1b photomask
110: first chrome pattern
200: substrate for exposure process
210: first chrome pattern
220: transparent electrode layer
230: chrome layer
240: first photoresist pattern
300: second photo mask
310: second chrome pattern
320: second photoresist pattern
330: micro photosensitizer pattern for reducing adhesion
340: third photosensitizer pattern
350: nano photoresist pattern for reducing adhesion
400: substrate for phase mask production
500: phase mask
600: stencil
610: photoresist pattern for stencil
620: metal plating layer
630: fine pattern
640: through hole

Claims (8)

인쇄패턴에 대응되는 형태의 관통홀이 형성되고,
하면에는 기판과 밀착력을 감소시키는 미세패턴이 형성되는 것을 특징으로 하는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실.
A through hole having a shape corresponding to the printed pattern is formed,
A stencil for a printing process with a fine pattern, characterized in that a fine pattern that reduces adhesion to the substrate is formed on the lower surface.
제1항에 따른 인쇄 공정용 스텐실 제조방법에 있어서,
유리기판 상면에 인쇄패턴에 대응되는 형태의 제1크롬패턴과 투명전극층이 적층 형성된 노광 공정용 기판을 준비하는 제1단계;
상기 노광 공정용 기판의 투명전극층 위에 밀착력 감소용 감광제패턴을 제작하는 제2단계;
상기 밀착력 감소용 감광제패턴을 이용하여 스텐실용 감광제패턴을 제작하는 제3단계; 및
상기 스텐실용 감광제패턴을 이용하여 스텐실을 제작하는 제4단계;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법.
The method for manufacturing a stencil for a printing process according to claim 1,
A first step of preparing a substrate for an exposure process in which a first chrome pattern corresponding to the printed pattern and a transparent electrode layer are laminated on an upper surface of a glass substrate;
a second step of manufacturing a photoresist pattern for reducing adhesion on the transparent electrode layer of the substrate for the exposure process;
a third step of manufacturing a photoresist pattern for a stencil using the photoresist pattern for reducing adhesion; and
A method of manufacturing a stencil for a printing process in which a fine pattern is formed, comprising: a fourth step of manufacturing a stencil using the photoresist pattern for the stencil.
제2항에 있어서,
상기 노광 공정용 기판을 준비하는 제1단계는,
유리기판 상면에 인쇄패턴에 대응하도록 제1a크롬패턴이 형성된 제1a포토마스크를 형성시키는 제1-1(a)단계;
상기 제1a포토마스크 상면에 투명전극층을 형성시키는 제1-2(a)단계;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법.
3. The method of claim 2,
The first step of preparing the substrate for the exposure process is,
a step 1-1 (a) of forming a 1a photomask having a 1a chrome pattern formed thereon to correspond to the printed pattern on the upper surface of the glass substrate;
A method of manufacturing a stencil for a printing process having a fine pattern formed therein, characterized in that it comprises; step 1-2 (a) of forming a transparent electrode layer on the top surface of the first photomask.
제2항에 있어서,
상기 노광 공정용 기판을 준비하는 제1단계는,
유리기판에 투명전극층 및 크롬층을 차례로 형성시키고, 상기 크롬층 위에 감광제를 도포하는 제1-1(b)단계;
인쇄패턴에 대응하도록 제1크롬패턴이 형성된 제1b포토마스크를 상기 제1-1(b)단계의 감광제 상단에 배치하고, 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제1감광제패턴을 형성시키는 제1-2(b)단계;
상기 제1감광제패턴을 마스크로 하여 상기 크롬층을 식각하여 제1크롬패턴을 형성시키는 제1-3(b)단계;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법.
3. The method of claim 2,
The first step of preparing the substrate for the exposure process is,
Step 1-1 (b) of sequentially forming a transparent electrode layer and a chromium layer on a glass substrate, and applying a photosensitizer on the chromium layer;
A 1b photomask having a first chrome pattern formed thereon to correspond to the printed pattern is placed on top of the photosensitizer of step 1-1 (b), and a first 1-2 photoresist pattern is formed through ultraviolet irradiation and developing process. (b) step;
Steps 1-3 (b) of forming a first chrome pattern by etching the chrome layer using the first photoresist pattern as a mask;
제2항에 있어서,
상기 밀착력 감소용 감광제패턴을 제작하는 제2단계는,
유리기판에 제2크롬패턴이 형성된 제2포토마스크를 형성시키는 제2-1(a)단계;
상기 노광 공정용 기판 상단에 감광제를 도포하고, 상기 제2포토마스크를 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제2감광제패턴을 형성시키는 제2-2(a)단계;
상기 제2감광제패턴을 열처리하여 밀착력 감소용 마이크로 감광제패턴을 형성시키는 제2-3(a)단계;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법.
3. The method of claim 2,
The second step of producing the photosensitive agent pattern for reducing the adhesion is,
Step 2-1 (a) of forming a second photomask having a second chrome pattern formed thereon on a glass substrate;
a 2-2 (a) step of applying a photosensitive agent on the upper surface of the substrate for the exposure process, arranging the second photomask, and forming a second photosensitive agent pattern through ultraviolet irradiation and developing process;
A method of manufacturing a stencil for a printing process with a fine pattern, characterized in that it comprises a; step 2-3 (a) of heat-treating the second photoresist pattern to form a micro photoresist pattern for reducing adhesion.
제2항에 있어서,
상기 밀착력 감소용 감광제패턴을 제작하는 제2단계는,
유리기판에 제2크롬패턴이 형성된 제2포토마스크를 형성시키는 제2-1(b)단계;
감광제가 도포된 기판 상단에 상기 제2포토마스크를 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제2감광제패턴이 형성된 위상마스크 제작용 기판을 제작하는 제2-2(b)단계;
상기 위상마스크 제작용 기판의 상기 제2감광제패턴 위에 투명한 액상의 고분자를 부어 경화시킨 후 분리하여 위상마스크를 제작하는 제2-3(b)단계;
상기 노광 공정용 기판 상단에 상기 위상마스크를 배치하여 자외선 조사 및 현상 공정을 통해 제3감광제패턴을 형성시키는 제2-4(b)단계;
상기 제3감광제패턴을 열처리하여 밀착력 감소용 나노 감광제패턴을 형성시키는 제2-5(b)단계;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법.
3. The method of claim 2,
The second step of producing the photosensitive agent pattern for reducing the adhesion is,
Step 2-1 (b) of forming a second photomask having a second chrome pattern formed thereon on a glass substrate;
Step 2-2 (b) of arranging the second photomask on top of the substrate on which the photosensitive agent is applied, and manufacturing a substrate for producing a phase mask on which a second photosensitive agent pattern is formed through ultraviolet irradiation and developing process;
a step 2-3(b) of pouring and curing a transparent liquid polymer on the second photoresist pattern of the substrate for producing the phase mask, then separating it to prepare a phase mask;
a step 2-4 (b) of arranging the phase mask on top of the substrate for the exposure process to form a third photoresist pattern through ultraviolet irradiation and developing process;
Step 2-5 (b) of heat-treating the third photoresist pattern to form a nano photoresist pattern for reducing adhesion.
제2항에 있어서,
상기 스텐실용 패턴을 제작하는 제3단계는,
상기 노광 공정용 기판에 형성된 밀착력 감소용 감광제패턴의 상단에 감광제를 도포하는 제3-1단계;
상기 노광 공정용 기판의 하면에서 자외선을 조사하는 현상 공정을 통해 스텐실용 감광제패턴을 형성시키는 제3-2단계;로 이루어지는 것을 특징으로 하는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법.
3. The method of claim 2,
The third step of producing the pattern for the stencil is,
a 3-1 step of applying a photosensitive agent to the upper end of the photosensitive agent pattern for reducing adhesion formed on the substrate for the exposure process;
A method for manufacturing a stencil for a printing process with a fine pattern, comprising: a step 3-2 of forming a photoresist pattern for a stencil through a developing process of irradiating ultraviolet rays on the lower surface of the substrate for the exposure process.
제2항에 있어서,
상기 스텐실을 제작하는 제4단계는,
상기 스텐실용 감광제패턴 위에 금속 전주 도금공정을 수행하여 상기 투명전극층으로부터 금속도금층을 형성시켜 스텐실을 제작하는 것을 특징으로 하는 미세 패턴이 형성된 인쇄 공정용 스텐실 제조방법.
3. The method of claim 2,
The fourth step of manufacturing the stencil is,
A method for manufacturing a stencil for a printing process with a fine pattern, characterized in that the stencil is manufactured by performing a metal electroplating process on the photoresist pattern for the stencil to form a metal plating layer from the transparent electrode layer.
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