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KR20190113031A - Treatment chamber and handler comprising same - Google Patents

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KR20190113031A
KR20190113031A KR1020180035154A KR20180035154A KR20190113031A KR 20190113031 A KR20190113031 A KR 20190113031A KR 1020180035154 A KR1020180035154 A KR 1020180035154A KR 20180035154 A KR20180035154 A KR 20180035154A KR 20190113031 A KR20190113031 A KR 20190113031A
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gas
supply fan
flow
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outlet
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백승학
이진형
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(주)테크윙
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Abstract

본 발명은 처리 챔버 및 이를 포함하는 핸들러에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명의 일 실시예에 따르면, 기체가 유동할 수 있는 내부 공간이 형성된 처리 챔버로서, 상기 처리 챔버의 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하고, 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 유동 장치; 통로 바디, 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유출구 및 상기 내부 공간으로 기체를 공급하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유입구를 포함하는 통로부; 및 상기 통로부 내에서의 기체 유동 경로를 제어하는 유동 조절 유닛을 포함하고, 상기 유동 조절 유닛은, 상기 유입구와 상기 유출구 사이의 제1 유동 경로를 개방하고, 상기 처리 챔버의 외측과 상기 내부 공간 사이의 제2 유동 경로를 차단하는 제1 작동 모드; 및 상기 제2 유동 경로를 개방하는 제2 작동 모드를 갖고, 상기 유동 조절 유닛은 상기 제1 작동 모드 및 상기 제2 작동 모드 중 어느 하나의 작동 모드로 선택적으로 구동되는, 처리 챔버가 제공될 수 있다. The present invention relates to a processing chamber and a handler comprising the same. Specifically, according to an embodiment of the present invention, a processing chamber having an internal space through which gas can flow, comprising: a flow device for discharging gas from the internal space of the processing chamber and supplying gas to the internal space; A passage portion including a passage body, an outlet formed in the passage body for discharging gas from the inner space, and an inlet formed in the passage body for supplying gas to the inner space; And a flow regulating unit for controlling a gas flow path within the passage portion, wherein the flow regulating unit opens a first flow path between the inlet and the outlet, and forms an outer space and the inner space of the processing chamber. A first mode of operation intercepting a second flow path therebetween; And a second operating mode for opening the second flow path, wherein the flow regulating unit is selectively driven in any one of the first operating mode and the second operating mode. have.

Description

처리 챔버 및 이를 포함하는 핸들러 {TREATMENT CHAMBER AND HANDLER COMPRISING SAME}Processing Chambers and Handlers Containing the Same {TREATMENT CHAMBER AND HANDLER COMPRISING SAME}

본 발명은 처리 챔버 및 이를 포함하는 핸들러에 대한 발명이다. The present invention relates to a process chamber and a handler comprising the same.

핸들러는 소정의 제조공정을 거쳐 제조된 반도체소자가 테스터에 의해 테스트될 수 있도록 지원하며, 테스트 결과에 따라 반도체소자를 등급별로 분류하여 고객트레이에 적재하는 기기이다.The handler supports a semiconductor device manufactured through a predetermined manufacturing process to be tested by a tester, and classifies the semiconductor device according to a test result and loads the semiconductor device into a customer tray.

이러한 핸들러에는 이송경로를 따라 순환하는 테스트트레이를 여러 장 구비하고 있다. 이러한 테스트트레이의 이송경로는 로딩장치, 소크 챔버, 테스트 챔버, 디소크 챔버 및 언로딩 장치를 경유할 수 있다. 소크 챔버는 테스트하기 전에 미리 반도체소자를 테스트 조건에 따른 온도로 맞추어 놓으며, 디소크 챔버는 테스트가 이루어진 후 언로딩에 앞서서 미리 반도체소자를 일정 수준의 온도로 회복시키게 된다. 이러한 소크 챔버와 디소크 챔버는 테스터(TESTER)와 언로딩장치의 가동률을 높임으로써 궁극적으로 장비의 처리용량을 향상시킬 수 있다. 또한, 핸들러에서는 다수개의 테스트트레이가 소크 챔버 또는 디소크 챔버에 함께 수용된 상태에서 병진 이송할 수 있으며, 이렇게 병진 이송하는 시간 동안 테스트트레이에 적재된 반도체소자는 소크 챔버와 디소크 챔버에 머무르면서 온도 조정이 이루어질 수 있게 된다.These handlers are equipped with several test trays that circulate along the feed path. The transfer path of the test tray may be via a loading device, a soak chamber, a test chamber, a desoak chamber, and an unloading device. Before the test, the soak chamber sets the semiconductor device to a temperature according to the test conditions, and the desock chamber restores the semiconductor device to a predetermined temperature before the unloading after the test is performed. These soak chambers and desock chambers can increase the operating capacity of the TESTER and the unloading device, ultimately improving the throughput of the equipment. In addition, in the handler, a plurality of test trays may be translated in a state where the test trays are housed together in the soak chamber or the desock chamber, and the semiconductor elements loaded in the test trays during the translational time stay in the soak chamber and the desock chamber to adjust the temperature. This can be done.

그런데, 최근 들어 단위시간당 처리되어야 할 전자부품이 수가 계속 증가하는 추세이고, 이에 따라 테스트 챔버에서의 테스트 시간도 점차 감소되고 있는 추세이다. 따라서, 테스트 시간이 감소에 상응하여 디소크 챔버와 같은 처리 챔버에서의 전자부품의 냉각, 가열 또는 상온으로의 온도 회복 공정에 대한 속도 및 효율도 매우 중요하게 부각되고 있다. However, in recent years, the number of electronic components to be processed per unit time continues to increase, and accordingly, the test time in the test chamber is also gradually decreasing. Accordingly, as the test time decreases, the speed and efficiency of the process of cooling, heating, or recovering the temperature to room temperature of electronic components in a processing chamber such as a desock chamber are also very important.

또한, 최근에는 다양한 테스트 조건 하에서 전자부품이 테스트 되는데, 온도 조건이 변화할 때마다 신속하게 변화된 테스트 조건에 맞추어 테스트를 진행할 것이 요구되고 있다. In addition, in recent years, electronic components are tested under various test conditions, and it is required to perform tests in accordance with rapidly changed test conditions whenever the temperature conditions change.

본 발명의 실시예들은 상기와 같은 종래기술에 착안하여 발명된 것으로서, 가 온도 조절의 대상이 되는 물체의 온도를 더욱 효과적이고 신속하게 조절할 수 있는 처리 챔버를 제공하고자 한다. Embodiments of the present invention have been invented in view of the prior art as described above, and it is intended to provide a processing chamber that can more effectively and quickly adjust the temperature of an object to be subjected to temperature control.

또한, 테스트의 온도 조건이 변하더라도, 처리 챔버의 설비나 구성의 교체 없이도 내부의 온도 환경 및 공기 흐름 경로를 변화시킬 수 있는 처리 챔버를 제공하고자 한다. It is also an object of the present invention to provide a processing chamber that can change the internal temperature environment and air flow path without changing the equipment or configuration of the processing chamber even if the temperature conditions of the test change.

본 발명의 일 측면에 따르면, 기체가 유동할 수 있는 내부 공간이 형성된 처리 챔버로서, 상기 처리 챔버의 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하고, 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 유동 장치; 통로 바디, 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유출구 및 상기 내부 공간으로 기체를 공급하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유입구를 포함하는 통로부; 및 상기 통로부 내에서의 기체 유동 경로를 제어하는 유동 조절 유닛을 포함하고, 상기 유동 조절 유닛은, 상기 유입구와 상기 유출구 사이의 제1 유동 경로를 개방하고, 상기 처리 챔버의 외측과 상기 내부 공간 사이의 제2 유동 경로를 차단하는 제1 작동 모드; 및 상기 제2 유동 경로를 개방하는 제2 작동 모드를 갖고, 상기 유동 조절 유닛은 상기 제1 작동 모드 및 상기 제2 작동 모드 중 어느 하나의 작동 모드로 선택적으로 구동되는, 처리 챔버가 제공될 수 있다. According to an aspect of the present invention, there is provided a processing chamber having an internal space through which gas can flow, comprising: a flow device for discharging gas from the internal space of the processing chamber and supplying gas to the internal space; A passage portion including a passage body, an outlet formed in the passage body for discharging gas from the inner space, and an inlet formed in the passage body for supplying gas to the inner space; And a flow regulating unit for controlling a gas flow path within the passage portion, wherein the flow regulating unit opens a first flow path between the inlet and the outlet, and forms an outer space and the inner space of the processing chamber. A first mode of operation intercepting a second flow path therebetween; And a second operating mode for opening the second flow path, wherein the flow regulating unit is selectively driven in any one of the first operating mode and the second operating mode. have.

또한, 상기 유동 장치는, 상기 유입구 측에 구비되고 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 기체 공급 유닛을 포함하고, 상기 기체 공급 유닛은, 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간 측으로 배치되는 제1 메인 공급팬; 및 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간의 반대측으로 상기 제1 메인 공급팬과 이격 배치되고, 상기 제1 메인 공급팬과 대향하는 제1 보조 공급팬을 포함하고, 상기 유동 조절 유닛은, 상기 제1 작동 모드에서 상기 제1 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 유입되는 것을 차단하고 상기 제2 작동 모드에서 상기 제1 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 안내하도록 작동하는 조절 부재를 포함하는, 처리 챔버가 제공될 수 있다.The flow apparatus may further include a gas supply unit provided at the inlet side and supplying gas to the internal space, wherein the gas supply unit comprises: a first main supply fan disposed at the passage body toward the internal space; And a first auxiliary supply fan spaced apart from the first main supply fan in the passage body and opposite to the inner space, and facing the first main supply fan, wherein the flow control unit is configured to perform the first operation. To prevent gas from the first auxiliary supply fan from entering the first main supply fan side in a mode and to direct gas from the first auxiliary supply fan to the first main supply fan side in the second operating mode A processing chamber may be provided that includes an adjusting member.

또한, 상기 통로 바디 및 상기 조절 부재는 기체가 유동할 수 있도록 상기 유출구 측으로부터 상기 유입구 측으로 연장되는 유동 공간을 제공하고, 상기 조절 부재는, 상기 제1 작동 모드일 때에 상기 유출구 측으로 이동함으로써 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 유동 공간을 통하여 상기 유입구 측으로 이동하도록 안내하고, 상기 제2 작동 모드일 때에 상기 유입구 측으로 이동함으로써 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 유입구 측으로 이동하는 것을 차단하는, 처리 챔버가 제공될 수 있다.Further, the passage body and the regulating member provide a flow space extending from the outlet side to the inlet side so that gas can flow, and the regulating member moves to the outlet side when in the first operating mode. Provides a processing chamber for guiding the gas supplied from the air to move to the inlet side through the flow space, and to move the gas supplied from the outlet to the inlet side by moving to the inlet side when in the second mode of operation. Can be.

또한, 상기 기체 공급 유닛은, 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간 측으로 배치되면서 상기 제1 메인 공급팬과 소정 거리 이격 배치되는 제2 메인 공급팬; 및 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간의 반대측에 배치되는 제2 보조 공급팬을 더 포함하고, 상기 유동 조절 유닛은 게이트 통로가 형성된 게이트 부재를 더 포함하고, 상기 게이트 부재는, 상기 제1 작동 모드에서는 상기 제1 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 유입되는 것과 상기 제2 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제2 메인 공급팬 측으로 유입되는 것을 차단하며, 상기 제2 작동 모드에서는 상기 게이트 통로가 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬 중 적어도 하나에 대향하게 되도록 이동함으로써 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제1 메인 공급팬 및 상기 제2 메인 공급팬으로 흐르는 것을 허용하도록 구성되는, 처리 챔버가 제공될 수 있다.The gas supply unit may further include a second main supply fan disposed from the passage body and spaced apart from the first main supply fan by a predetermined distance; And a second auxiliary supply fan disposed opposite the inner space in the passage body, wherein the flow control unit further includes a gate member having a gate passage formed therein, wherein the gate member includes: Prevents gas from the first auxiliary supply fan from flowing into the first main supply fan side and gas from the second auxiliary supply fan from flowing into the second main supply fan side, and in the second operation mode, The gate passage moves to face at least one of the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan such that gas from the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan is moved to the first main supply fan and the second auxiliary supply fan. A processing chamber may be provided that is configured to allow flow to the second main supply fan.

또한, 상기 유동 조절 유닛은 커버 관통홀이 형성된 커버 부재를 더 포함하고, 상기 게이트 부재는, 상기 제1 작동 모드에서는 상기 커버 관통홀을 차단하고, 상기 제2 작동 모드에서는 상기 커버 관통홀과 상기 게이트 통로를 서로 연통시키도록 구동되는, 처리 챔버가 제공될 수 있다.The flow regulating unit may further include a cover member having a cover through hole formed therein, and the gate member blocks the cover through hole in the first operation mode, and the cover through hole and the cover operation hole in the second operation mode. A processing chamber may be provided that is driven to communicate the gate passages with each other.

또한, 전자부품을 로딩하는 로딩장치; 로딩이 완료된 상기 전자부품을 테스트 설정 온도로 예열 또는 예냉하는 공정 챔버; 상기 예열 또는 상기 예냉된 상기 전자부품을 테스트하는 테스트 챔버; 상기 테스트가 완료된 상기 전자부품의 온도를 기설정된 수준으로 회복시키는 상기 처리 챔버; 및 상기 기설정된 수준의 온도로 회복된 상기 전자부품을 언로딩하는 언로딩장치를 포함하는 핸들러가 제공될 수 있다. In addition, a loading device for loading an electronic component; A process chamber for preheating or precooling the loaded electronic component to a test set temperature; A test chamber for testing the preheated or precooled electronic component; The processing chamber for restoring a temperature of the electronic component in which the test is completed to a predetermined level; And an unloading device for unloading the electronic component recovered to the predetermined level of temperature.

본 발명의 실시예들에 따르면, 처리 챔버는 원하는 온도 조절의 대상이 되는 물체의 온도를 더욱 효과적이고 신속하게 조절할 수 있게 된다. According to embodiments of the present invention, the processing chamber can more effectively and quickly adjust the temperature of an object that is the object of desired temperature control.

또한, 처리 챔버는 그 설비나 구성의 교체 없이도 공기 흐름 경로를 변화시킴으로써 변화된 테스트 온도 조건에 신속하게 대응할 수 있다는 효과가 있다. In addition, the processing chamber has the effect of being able to respond quickly to changed test temperature conditions by changing the air flow path without changing its equipment or configuration.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러를 나타내는 개념도이다.
도 2는 도 1의 핸들러에 구비되는 처리 챔버의 개념도이다.
도 3은 도 2의 처리 챔버에 구비되는 유동기의 사시도이다.
도 4은 도 3의 유동기의 배면 사시도이다.
도 5는 도 3의 유동기의 분해 사시도이다.
도 6은 도 5의 기체 배출 유닛의 분해 사시도이다.
도 7은 도 5의 기체 공급 유닛의 분해 사시도이다.
도 8은 유동 조절 유닛이 제1 작동 모드에 놓을 때의 처리 챔버의 유동기의 분해 사시도이다.
도 9는 유동 조절 유닛이 제2 작동 모드에 놓을 때의 처리 챔버의 유동기의 분해 사시도이다.
1 is a conceptual diagram illustrating a handler according to an embodiment of the present invention.
2 is a conceptual diagram of a processing chamber included in the handler of FIG. 1.
3 is a perspective view of a flower provided in the processing chamber of FIG. 2.
4 is a rear perspective view of the flower of FIG. 3.
5 is an exploded perspective view of the flower of FIG. 3.
6 is an exploded perspective view of the gas exhaust unit of FIG. 5.
7 is an exploded perspective view of the gas supply unit of FIG. 5.
8 is an exploded perspective view of the flower of the processing chamber when the flow control unit is in the first mode of operation.
9 is an exploded perspective view of the flower of the processing chamber when the flow control unit is in the second mode of operation.

이하에서는 본 발명의 사상을 구현하기 위한 구체적인 실시예에 대하여 도면을 참조하여 상세히 설명하도록 한다. Hereinafter, specific embodiments for implementing the spirit of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

아울러 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. In addition, in describing the present invention, when it is determined that the detailed description of the related well-known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

또한, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 '연결', '공급'된다고 언급된 때에는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결, 공급될 수도 있지만 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, it is to be understood that when a component is referred to as being 'connected' or 'supplied' to another component, the component may be directly connected and supplied to the other component, but other components may be present in the middle.

본 명세서에서 사용된 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로 본 발명을 한정하려는 의도로 사용된 것은 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. A singular expression includes a plural expression unless the context clearly indicates otherwise.

또한, 본 명세서에서 상측, 하측 등의 표현은 도면에 도시를 기준으로 설명한 것이며 해당 대상의 방향이 변경되면 다르게 표현될 수 있음을 미리 밝혀둔다.In addition, the expressions of the upper side, the lower side, etc. in the present specification are described with reference to the drawings in the drawings, and it will be apparent that they may be expressed differently when the direction of the corresponding object is changed.

이하, 도 1을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러(1)의 구체적인 구성에 대하여 설명한다. Hereinafter, a detailed configuration of a handler 1 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1.

도 1을 참조하면, 핸들러(1)의 전자부품 테스트 트레이(T)에 적재된 상태로 공정 챔버(20), 테스트 챔버(30) 및 처리 챔버(40)를 거쳐 언로딩 위치와 로딩 위치를 순차적으로 지나 다시 공정 챔버(20)로 이어지는 이송경로(C)를 따라 순환할 수 있다. 이러한 이송경로(C)는 폐루프로 구성될 수 있다. Referring to FIG. 1, an unloading position and a loading position are sequentially performed through a process chamber 20, a test chamber 30, and a processing chamber 40 while being loaded on the electronic component test tray T of the handler 1. And may be circulated along the transfer path C leading back to the process chamber 20. This transport path (C) may be composed of a closed loop.

이러한 핸들러(1)는 로딩장치(10), 공정 챔버(20), 테스트 챔버(30), 처리 챔버(40), 언로딩 장치(50)를 포함할 수 있다. 공정 챔버(20)는 전자부품 테스트 과정에서 소크 챔버(soak chamber) 및 디소크 챔버(desoak chamber) 중 어느 하나의 역할을 할 수 있고, 처리 챔버(40)는 소크 챔버(soak chamber) 및 디소크 챔버(desoak chamber) 중 다른 하나의 역할을 할 수 있다. The handler 1 may include a loading device 10, a process chamber 20, a test chamber 30, a processing chamber 40, and an unloading device 50. The process chamber 20 may serve as one of a soak chamber and a desoak chamber in an electronic component test process, and the process chamber 40 may be a soak chamber and a desoak. It may serve as another one of the desoak chambers.

로딩장치(10)는 고객트레이(미도시)에 적재되어 있는 테스트되지 않은 전자부품을 로딩 위치에 있는 테스트 트레이(T)로 로딩시킨다. The loading device 10 loads an untested electronic component loaded in a customer tray (not shown) into a test tray T in a loading position.

공정 챔버(20)는 내부에 테스트 트레이(T)가 수용될 수 있는 공간이 형성될 수 있고, 소크 챔버(soak chamber) 또는 디소크 챔버(desoak chamber)의 역할을 할 수 있다. 예를 들어 공정 챔버(20)가 소크 챔버인 경우, 공정 챔버(20)는 이송되어 온 테스트 트레이(T)에 적재되어 있는 전자부품을 테스트하기에 앞서 전자부품을 테스트 설정 온도로 예열(豫熱) 또는 예냉(豫冷)시킬 수 있다.The process chamber 20 may have a space in which the test tray T may be accommodated, and may serve as a soak chamber or a desoak chamber. For example, when the process chamber 20 is a soak chamber, the process chamber 20 preheats the electronic components to the test set temperature before testing the electronic components loaded on the transferred test tray T. ) Or precooled.

테스트 챔버(30)는 공정 챔버(20)에서 예열 또는 예냉된 상태로 테스트 트레이(T)에 적재되어 있는 전자부품을 공급받게 된다. 테스트 챔버(30)에서는 이러한 전자부품의 테스트가 수행되고, 테스트된 전자부품은 처리 챔버(40)로 이송된다. The test chamber 30 receives an electronic component loaded on the test tray T in a preheated or precooled state in the process chamber 20. In the test chamber 30, the test of the electronic component is performed, and the tested electronic component is transferred to the processing chamber 40.

처리 챔버(40)는 내부에 테스트 트레이(T)가 수용될 수 있는 공간이 형성될 수 있고, 소크 챔버 또는 디소크 챔버의 역할을 할 수 있다. 예를 들어 처리 챔버(40)가 디소크 챔버인 경우, 처리 챔버(40)는 테스트 챔버(30)로부터 이송되어 온 테스트 트레이(T)에 적재되어 있는 테스트 완료 상태의 전자부품을 냉각하여 전자부품이 실온 내지 언로딩시 문제가 없을 정도의 온도를 가지도록 할 수 있다. 또는, 처리 챔버(40)는 테스트 완료 상태의 전자부품을 가열하여 전자부품이 상온 혹은 결로(結露)가 생기지 않을 정도의 온도를 가지도록 할 수 있다.The processing chamber 40 may have a space in which the test tray T may be accommodated, and may serve as a soak chamber or a desock chamber. For example, when the processing chamber 40 is a desock chamber, the processing chamber 40 cools the electronic component in a test completed state loaded on the test tray T transferred from the test chamber 30, and the electronic component. The temperature may be such that there is no problem during room temperature to unloading. Alternatively, the processing chamber 40 may heat the electronic component in a tested state so that the electronic component has a temperature at which room temperature or condensation does not occur.

언로딩 장치(50)는 언로딩위치에 있는 테스트 트레이(T)로부터 전자부품을 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 빈 고객트레이로 언로딩시킬 수 있다.The unloading device 50 may classify the electronic components into grades according to test results from the test tray T in the unloading position and unload them into the empty customer tray.

이하에서는 도 2를 참조하여 서술한 처리 챔버(40)의 구성을 설명한다.Hereinafter, the configuration of the processing chamber 40 described with reference to FIG. 2 will be described.

도 2를 참조하면, 처리 챔버(40)는 내부에는 전자 부품을 수용할 수 있는 공간(내부 공간(S1))이 형성된 챔버 바디(41), 내부 공간(S1)의 기체를 이송시킬 수 있는 유동기(42), 및 기체를 가열할 수 있는 히터(43)를 포함할 수 있다. 내부 공간(S1)의 기체는 유동기(42)에 의해 유동하여 가열 또는 냉각된 전자부품의 온도를 상온 또는 일정 수준으로 회복시킬 수 있다. 한편, 처리 챔버(40)의 내부의 기체는 공기일 수 있다. Referring to FIG. 2, the processing chamber 40 may include a chamber body 41 having a space (inner space S1) therein for accommodating electronic components therein, and a body capable of transferring gas in the inner space S1. It may include a synchronous 42 and a heater 43 capable of heating the gas. The gas in the internal space S1 may flow by the flower 42 to restore the temperature of the heated or cooled electronic component to room temperature or to a predetermined level. On the other hand, the gas inside the processing chamber 40 may be air.

처리 챔버(40)의 유동기(42)는 하나의 모듈로 구성될 수 있다. 또한, 유동기(42)는 내부 공간(S1)을 개폐할 수 있도록 챔버 바디(41)에 연결된 도어로 구성될 수도 있다. 이러한 유동기(42)는 전자부품의 온도를 상온으로 회복하기 위해 전자부품을 냉각 또는 가열하도록 제1 작동 모드 및 제2 작동 모드로 동작할 수 있다. 예를 들어, 유동기(42)는 제1 작동 모드에서 전자부품을 가열시키고, 제2 작동 모드에서 전자부품을 냉각시킴으로써 전자부품의 온도를 상온으로 회복시킬 수 있다. 또한, 유동기(42)는 제2 작동 모드일 때에 처리 챔버(40) 내부와 외부 간에 공기를 연통시킬 수 있다. 한편, 본 명세서에서의 '상온'은 20℃라는 단일 온도값으로 정의되는 것은 아니며, 20℃보다 높거나 낮은 온도 범위(예를 들어 20±5℃)를 포함한다. 이하에서는 도 3 내지 도 9를 더 참조하여 서술한 유동기(42)의 구성을 설명한다.The flower 42 of the processing chamber 40 may be composed of one module. In addition, the flower 42 may be configured as a door connected to the chamber body 41 to open and close the internal space S1. This fluid 42 may operate in a first mode of operation and a second mode of operation to cool or heat the electronic component to restore the temperature of the electronic component to room temperature. For example, the flower 42 may restore the temperature of the electronic component to room temperature by heating the electronic component in the first operating mode and cooling the electronic component in the second operating mode. The flower 42 can also communicate air between the interior and exterior of the processing chamber 40 when in the second mode of operation. On the other hand, the "room temperature" in this specification is not defined as a single temperature value of 20 ℃, it includes a temperature range higher or lower than 20 ℃ (for example 20 ± 5 ℃). Hereinafter, the configuration of the fluidizer 42 described above with reference to FIGS. 3 to 9 will be described.

도 3 내지 도 9를 더 참조하면, 이러한 유동기(42)는 통로부(100), 유동 장치(200), 제1 작동 모드 또는 제2 작동 모드에 놓일 수 있는 유동 조절 유닛(300), 및 제어부(미도시)를 포함할 수 있다. With further reference to FIGS. 3-9, such a flower 42 may include a passage portion 100, a flow apparatus 200, a flow regulation unit 300 that may be placed in a first or second operating mode, and It may include a controller (not shown).

통로부(100)는 처리 챔버(40)의 내부 공간(S1)의 기체가 외부로 배출되거나 처리 챔버(40) 외부의 기체가 내부 공간(S1)으로 유입될 수 있는 통로를 제공한다. 이러한 통로부(100)는 처리 챔버(40)의 외곽에 배치되어 하우징 역할을 할 수도 있다. The passage part 100 provides a passage through which gas in the internal space S1 of the processing chamber 40 may be discharged to the outside or gas outside the processing chamber 40 may enter the internal space S1. The passage part 100 may be disposed outside the processing chamber 40 to serve as a housing.

이러한 통로부(100)는 기체가 흐를 수 있는 유로가 내부에 제공된 통로 바디(101), 내부 공간(S1)으로부터 기체를 배출하기 위해 통로 바디(101)에 형성된 유출구(111), 통로 바디(101) 내부의 기체를 처리 챔버(40)의 외부로 배출하기 위한 유출 보조 홀(115), 내부 공간(S1)으로 기체를 유입하기 위해 형성된 통로 바디(101)에 형성된 유입구(121), 및 처리 챔버(40)의 외부의 기체를 통로 바디(101) 내부로 유입하기 위한 유출 보조 홀(125)을 포함할 수 있다. The passage part 100 includes a passage body 101 provided with a flow path through which gas can flow, an outlet 111 formed in the passage body 101 to discharge gas from the internal space S1, and the passage body 101. Outflow auxiliary hole 115 for discharging the gas inside the outside of the processing chamber 40, the inlet 121 formed in the passage body 101 for introducing the gas into the internal space (S1), and the processing chamber It may include an outlet auxiliary hole 125 for introducing a gas outside the 40 into the passage body 101.

통로 바디(101)는 내부 공간(S1)측에 배치된 내측 통로벽(102) 및 처리 챔버(40)의 외부 측에 배치된 외측 통로벽(103)을 포함할 수 있다. 내측 통로벽(102)에는 후술할 메인 공급팬(222)이 설치되고 내부 공간(S1)측으로 인입된 플레이트 형상을 가지는 설치부(102a)가 마련될 수 있다[도 3, 도 5]. 설치부(102a)에는 유입구(121)와 기체의 유입을 위한 설치부 관통홀(117)이 형성될 수 있다[도 3, 도 5]. 한편, 내측 통로벽(102)과 외측 통로벽(103)은 서로 대향하도록 배치될 수 있고, 플레이트 형상을 가질 수 있다. 내측 통로벽(102)과 외측 통로벽(103)의 사이에는 유동 공간(S2)이 제공될 수 있다. The passage body 101 may include an inner passage wall 102 disposed on the inner space S1 side and an outer passage wall 103 disposed on the outer side of the processing chamber 40. The inner passage wall 102 may be provided with a mounting portion 102a having a main shape supply fan 222 which will be described later and having a plate shape drawn into the inner space S1 (FIGS. 3 and 5). Installation portion 102a may be formed with the installation inlet 121 and the installation portion through-hole 117 for the inflow of gas [Fig. 3, 5]. Meanwhile, the inner passage wall 102 and the outer passage wall 103 may be disposed to face each other, and may have a plate shape. A flow space S2 may be provided between the inner passage wall 102 and the outer passage wall 103.

한편, 내부 공간(S1)의 기체는 제1 유동 경로(P1) 또는 제2 유동 경로(P2)를 통해 내부 공간(S1)의 외부로 배출될 수 있으며, 내부 공간(S1)의 외부의 기체는 제1 유동 경로(P1) 또는 제2 유동 경로(P2)를 통해 내부 공간(S1) 안쪽으로 유입될 수 있다. 제1 유동 경로(P1)는 유출구(111)로부터 유동 공간(S2)을 거쳐 유입구(121)로 이어지는 경로로 정의되고, 제2 유동 경로(P2)는 유출구(111)로부터 유입구(121) 및 유입 보조 홀(125)을 거치지 않고 유출 보조 홀(115)과 이어지는 경로 및 유입 보조 홀(125)로부터 유출구(111) 및 유출 보조 홀(115)을 거치지 않고 유입구(121)로 이어지는 경로를 포함하는 것으로 정의될 수 있다. 제2 유동 경로(P2)는 유출 보조 홀(115)로부터 처리 챔버(40)의 외부를 경유하여 유입 보조 홀(125)로 이어지는 경로를 선택적으로 포함할 수 있다. On the other hand, the gas in the interior space (S1) may be discharged to the outside of the interior space (S1) through the first flow path (P1) or the second flow path (P2), the gas outside of the interior space (S1) It may be introduced into the interior space (S1) through the first flow path (P1) or the second flow path (P2). The first flow path P1 is defined as a path from the outlet 111 through the flow space S2 to the inlet 121, and the second flow path P2 is the inlet 121 and the inlet from the outlet 111. A path leading to the outlet auxiliary hole 115 without passing through the auxiliary hole 125 and a path leading from the inlet auxiliary hole 125 to the inlet 121 without passing through the outlet 111 and the outlet auxiliary hole 115. Can be defined. The second flow path P2 may optionally include a path from the outlet auxiliary hole 115 to the inlet auxiliary hole 125 via the outside of the processing chamber 40.

유출구(111)는 내부 공간(S1)과 통로 바디(101)의 유동 공간(S2)을 연통할 수 있다. 따라서, 내부 공간(S1)의 기체는 유출구(111)를 통해 유동 공간(S2)으로 유출될 수 있다. 이러한 유출구(111)는 내측 통로벽(102)에 형성될 수 있으며 원형의 형상을 가질 수 있다. 또한 유출구(111)는 처리 챔버(40)의 상측에 배치될 수 있으며 복수 개로 제공될 수 있다. The outlet 111 may communicate the internal space S1 and the flow space S2 of the passage body 101. Therefore, the gas in the internal space S1 may flow out to the flow space S2 through the outlet 111. The outlet 111 may be formed in the inner passage wall 102 and may have a circular shape. In addition, the outlet 111 may be disposed above the processing chamber 40 and may be provided in plurality.

유출 보조 홀(115)은 유동 공간(S2)과 처리 챔버(40)의 외부와 연통할 수 있다. 따라서, 유동 공간(S2)의 기체는 유출 보조 홀(115)을 통해 처리 챔버(40)의 외부로 유출될 수 있다. 이러한 유출 보조 홀(115)은 외측 통로벽(103)에 형성될 수 있으며 슬릿 형상을 가질 수 있다. 또한, 유출 보조 홀(115)은 처리 챔버(40)의 상측에 배치될 수 있다. 또한, 유출 보조 홀(115)은 유출구(111)와 대응하는 위치에 구비될 수 있다. 또한, 유출 보조 홀(115)은 횡방향으로 연장되는 슬릿일 수 있으며, 이러한 횡방향 슬릿에는 외측 상방으로 휘어진 가이드(116)가 제공될 수 있다[도 4]. 가이드(116)가 외측 상방으로 연장됨으로써 유동기(42)를 통해 방출된 기체가 작업자에게 직접 가해지지 않도록 상방으로 배출될 수 있다.The outlet auxiliary hole 115 may communicate with the flow space S2 and the outside of the processing chamber 40. Therefore, the gas in the flow space S2 may flow out of the processing chamber 40 through the outflow auxiliary hole 115. The outflow auxiliary hole 115 may be formed in the outer passage wall 103 and may have a slit shape. In addition, the outlet auxiliary hole 115 may be disposed above the processing chamber 40. In addition, the outlet auxiliary hole 115 may be provided at a position corresponding to the outlet 111. In addition, the outflow assistance hole 115 may be a slit extending in the transverse direction, and the transverse slit may be provided with a guide 116 curved outwardly upward (FIG. 4). As the guide 116 extends outwardly, the gas discharged through the flower 42 may be discharged upwards so as not to be directly applied to the operator.

유입구(121)는 내부 공간(S1)과 통로 바디(101)의 유동 공간(S2)을 연통할 수 있다. 유동 공간(S2)의 기체는 유입구(121)를 통해 내부 공간(S1)으로 유입될 수 있다. 이러한 유입구(121)는 외측 통로벽(103)에 형성될 수 있으며, 원형의 형상을 가질 수 있다. 또한 유입구(121)는 처리 챔버(40)의 하측에 배치될 수 있으며 복수 개로 제공될 수 있다. The inlet 121 may communicate the internal space S1 and the flow space S2 of the passage body 101. The gas in the flow space S2 may be introduced into the internal space S1 through the inlet 121. The inlet 121 may be formed in the outer passage wall 103 and may have a circular shape. In addition, the inlet 121 may be disposed below the processing chamber 40 and may be provided in plurality.

이러한 유입구(121)는 제1 유입구(121-1) 및 제2 유입구(121-2)를 포함할 수 있다. 제1 유입구(121-1)는 제2 유입구(121-2) 보다 유출구(111)로부터 떨어진 위치에 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 유입구(121-1)는 제2 유입구(121-2)보다 상측에 배치될 수 있다. The inlet 121 may include a first inlet 121-1 and a second inlet 121-2. The first inlet 121-1 may be disposed at a position farther from the outlet 111 than the second inlet 121-2. For example, the first inlet 121-1 may be disposed above the second inlet 121-2.

유입 보조 홀(125)은 외측 통로벽(103)에 형성될 수 있으며 유동 공간(S2)과 처리 챔버(40)의 외부와 연통할 수 있다. 따라서, 처리 챔버(40)의 외부의 기체는 유입 보조 홀(125)을 통해 유동 공간(S2)으로 유출될 수 있다. 이러한 유입 보조 홀(125)은 외측 통로벽(103)에 복수 개 형성될 수 있으며 상하 방향으로 연장되는 슬릿 형상을 가질 수 있다. 또한, 유입 보조 홀(125)은 내측 통로벽(102)의 설치부(102a)에 대응하는 외측 통로벽(103)의 영역에 형성될 수 있다. The inflow auxiliary hole 125 may be formed in the outer passage wall 103 and may communicate with the flow space S2 and the outside of the processing chamber 40. Therefore, the gas outside the processing chamber 40 may flow out into the flow space S2 through the inlet auxiliary hole 125. The inlet auxiliary hole 125 may be formed in plural in the outer passage wall 103 and may have a slit shape extending in the vertical direction. In addition, the inflow auxiliary hole 125 may be formed in an area of the outer passage wall 103 corresponding to the installation portion 102a of the inner passage wall 102.

유동 장치(200)는 처리 챔버(40)의 내부 공간(S1)으로부터 기체를 배출하고 공급할 수 있다. 이러한 유동 장치(200)는 기체 배출 유닛(210) 및 기체 공급 유닛(220)을 포함할 수 있다. The flow apparatus 200 may discharge and supply gas from the internal space S1 of the processing chamber 40. This flow device 200 may include a gas discharge unit 210 and a gas supply unit 220.

기체 배출 유닛(210)은 내부 공간(S1)의 기체를 배출한다. 이러한 기체 배출 유닛(210)은 유출구(111)의 내부 공간(S1) 측에 배치될 수 있고, 유출구(111)와 대향하여 배치될 수 있다. 따라서, 기체는 유출구(111)로 빠져나기 전에 기체 배출 유닛(210)을 통과하게 된다. 이하, 도 6을 더 참조하여 기체 배출 유닛(210)의 구성을 설명한다. The gas discharge unit 210 discharges gas in the internal space S1. The gas discharge unit 210 may be disposed on the inner space S1 side of the outlet 111, and may be disposed to face the outlet 111. Thus, the gas passes through the gas discharge unit 210 before exiting to the outlet 111. Hereinafter, the configuration of the gas discharge unit 210 will be described further with reference to FIG. 6.

도 6을 참조하면, 기체 배출 유닛(210)은 배출팬(211) 및 스페이서(212)를 포함할 수 있다. 배출팬(211)은 배출 회전축(211a), 배출 회전축(211a)에 의해 회전 가능하게 지지되는 배출 블레이드(211b), 및 배출 회전축(211a)을 지지하고 배출 블레이드(211b)의 측면을 둘러싸는 배출 하우징(211c)을 포함할 수 있다. 배출 하우징(211c)은 파이프 형상을 가질 수 있으며, 이러한 파이프 형상의 단면은 원형일 수 있다. 또한 배출 하우징(211c)은 배출 블레이드(211b)의 측방향으로 기체가 유입되지 않도록 배출 블레이드(211b)를 커버할 수 있다. 따라서, 배출팬(211) 주변의 기체는 축방향(A)과 직교하는 방향으로 유입되지 않고 축방향(A)을 따라 유입되거나 축방향(A)과 실질적으로 나란한 방향으로 유입된다. Referring to FIG. 6, the gas discharge unit 210 may include a discharge fan 211 and a spacer 212. The discharge fan 211 supports the discharge rotating shaft 211a, the discharge blade 211b rotatably supported by the discharge rotating shaft 211a, and the discharge rotating shaft 211a, and discharges surrounding the side of the discharge blade 211b. It may include a housing 211c. The discharge housing 211c may have a pipe shape, and the cross section of the pipe shape may be circular. In addition, the discharge housing 211c may cover the discharge blade 211b so that gas does not flow in the lateral direction of the discharge blade 211b. Therefore, the gas around the discharge fan 211 does not flow in the direction orthogonal to the axial direction A, but flows along the axial direction A or in a direction substantially parallel to the axial direction A.

이러한 배출팬(211)은 내측 배출팬(211-1) 및 외측 배출팬(211-2)을 포함할 수 있다. 이러한 내측 배출팬(211-1)과 외측 배출팬(211-2)은 유동 조절 유닛(300)의 작동 모드에 관계 없이 함께 구동되거나 정지되도록 작동할 수 있다. 또한, 내측 배출팬(211-1)과 외측 배출팬(211-2)은 서로 대향하도록 직렬로 배치될 수 있다. 이처럼 복수 개의 배출팬(211)이 직렬로 구비됨으로써 협소한 공간에서도 배출팬(211)이 효율적으로 설치될 수 있으며, 내부 공간(S1)으로부터 기체를 보다 효과적으로 배출할 수 있게 된다.또한, 내측 배출팬(211-1)과 외측 배출팬(211-2)이 소정 간격 서로 이격되도록 내측 배출팬(211-1)과 외측 배출팬(211-2)의 사이에 스페이서(212)가 배치될 수 있다. 외측 배출팬(211-2)은 내측 배출팬(211-1)보다 유출구(111)로부터 더 떨어져 배치될 수 있다. 예를 들어, 내측 배출팬(211-1)은 유출구(111)의 내부 공간(S1)측에 배치될 수 있으며, 외측 배출팬(211-2)은 유출구(111)의 반대측에서 내측 배출팬(211-1)에 연결될 수 있다. 따라서, 내측 배출팬(211-1)에 의해 이송된 기체는 외측 배출팬(211-2)을 통과하여 내부 공간(S1)으로 유입된다. The discharge fan 211 may include an inner discharge fan 211-1 and an outer discharge fan 211-2. The inner discharge fan 211-1 and the outer discharge fan 211-2 may operate to be driven or stopped together regardless of the operation mode of the flow control unit 300. In addition, the inner discharge fan 211-1 and the outer discharge fan 211-2 may be disposed in series to face each other. As the plurality of discharge fans 211 are provided in series, the discharge fan 211 can be efficiently installed even in a narrow space, and the gas can be discharged more effectively from the internal space S1. The spacer 212 may be disposed between the inner discharge fan 211-1 and the outer discharge fan 211-2 so that the fan 211-1 and the outer discharge fan 211-2 are spaced apart from each other by a predetermined interval. . The outer discharge fan 211-2 may be disposed farther from the outlet 111 than the inner discharge fan 211-1. For example, the inner discharge fan 211-1 may be disposed at the inner space S1 side of the outlet 111, and the outer discharge fan 211-2 may be disposed at the opposite side of the outlet 111. 211-1). Therefore, the gas transferred by the inner discharge fan 211-1 flows into the inner space S1 through the outer discharge fan 211-2.

기체 공급 유닛(220)은 내부 공간(S1)에 기체를 공급한다. 제1 작동 모드일 때에 기체 공급 유닛(220)은 제1 유동 경로(P1)를 통하여 유동하는 기체를 공급하고, 제2 작동모드일 때에 기체 공급 유닛(220)은 제2 유동 경로(P2)를 통하여 유동하는 기체를 공급할 수 있다. 기체 공급 유닛(220)은 유입구(121) 및 유입 보조 홀(125) 측에 배치될 수 있다. 이하, 도 7을 더 참조하여 기체 배출 유닛(210)의 구성을 설명한다. The gas supply unit 220 supplies gas to the internal space S1. The gas supply unit 220 supplies the gas flowing through the first flow path P1 in the first operating mode, and the gas supply unit 220 supplies the second flow path P2 in the second operating mode. It is possible to supply the gas flowing through. The gas supply unit 220 may be disposed at the inlet 121 and the inlet auxiliary hole 125. Hereinafter, the configuration of the gas discharge unit 210 will be described further with reference to FIG. 7.

도 7을 더 참조하면, 기체 공급 유닛(220)은 공급팬(221)을 포함할 수 있다. 공급팬(221)은 공급 회전축(221a), 공급 회전축(221a)에 의해 회전 가능하게 지지되는 공급 블레이드(221b), 및 공급 회전축(221a)을 지지하고 공급 블레이드(221b)의 측면을 둘러싸는 공급 하우징(221c)을 포함할 수 있다. 공급 하우징(221c)은 파이프 형상을 가질 수 있으며, 이러한 파이프 형상의 단면은 원형일 수 있다. 또한 공급 하우징(221c)은 공급 블레이드(221b)의 측방향으로 기체가 유입되지 않도록 공급 블레이드(221b)를 커버할 수 있다. 따라서, 공급팬(221) 주변의 기체는 축방향(A)과 직교하는 방향으로 유입되지 않고 축방향(A)을 따라 유입되거나 축방향(A)과 실질적으로 나란한 방향으로 유입된다. 한편, 이러한 공급팬(221)는 앞서 서술한 배출팬(211)과 반드시 동일하지는 않으므로, 배출팬(211)과 상이한 크기, 형상을 가질 수 있다.Referring further to FIG. 7, the gas supply unit 220 may include a supply fan 221. The supply fan 221 supports a supply rotation shaft 221a, a supply blade 221b rotatably supported by the supply rotation shaft 221a, and a supply that supports the supply rotation shaft 221a and surrounds the side of the supply blade 221b. It may include a housing 221c. Supply housing 221c may have a pipe shape, the cross section of the pipe shape may be circular. In addition, the supply housing 221c may cover the supply blade 221b so that gas does not flow in the lateral direction of the supply blade 221b. Therefore, the gas around the supply fan 221 does not flow in the direction orthogonal to the axial direction A, but flows along the axial direction A or in a direction substantially parallel to the axial direction A. On the other hand, since the supply fan 221 is not necessarily the same as the discharge fan 211 described above, it may have a different size, shape than the discharge fan 211.

이러한 공급팬(221)은 메인 공급팬(222) 및 보조 공급팬(223)을 포함할 수 있다. The supply fan 221 may include a main supply fan 222 and an auxiliary supply fan 223.

메인 공급팬(222)은 유동 조절 유닛(300)의 작동 모드에 관계 없이 기체를 내부 공간(S1)으로 공급할 수 있다. 이러한 메인 공급팬(222)은 유입구(121)에 인접하게 구비될 수 있다. 예를 들어, 메인 공급팬(222)은 유입구(121)의 내부 공간(S1) 측에 구비될 수 있다. 다시 말해, 메인 공급팬(222)은 유입구(121)가 형성된 내측 통로벽(102)에 연결될 수 있다. The main supply fan 222 may supply gas to the internal space S1 regardless of the operation mode of the flow control unit 300. The main supply fan 222 may be provided adjacent to the inlet 121. For example, the main supply fan 222 may be provided at the inner space S1 side of the inlet 121. In other words, the main supply fan 222 may be connected to the inner passage wall 102 in which the inlet 121 is formed.

메인 공급팬(222)은 복수 개로 제공될 수 있으며, 제1 메인 공급팬(222-1) 및 제2 메인 공급팬(222-2)을 포함할 수 있다. 제1 메인 공급팬(222-1)은 제1 유입구(121-1)에 인접하여 배치되고, 제2 메인 공급팬(222-2)은 제2 유입구(121-2)에 인접하여 배치될 수 있다. 또한, 제1 메인 공급팬(222-1)과 제2 메인 공급팬(222-2)은 병렬로 배치될 수 있다. 이처럼 메인 공급팬(222)이 복수 개로 병렬로 구비됨으로써 내부 공간(S1)에 보다 효과적으로 기체를 공급할 수 있게 된다. 제1 메인 공급팬(222-1)은 제2 메인 공급팬(222-2)과 이격 배치될 수 있고, 제2 메인 공급팬(222-2)보다 유출구(111)에 가까이 위치할 수 있다. 제1 메인 공급팬(222-1)과 제2 메인 공급팬(222-2) 간의 거리는 유입구(121)의 크기(직경)보다 더 크고, 제1 메인 공급팬(222-1)과 유출구(111) 간의 거리보다 더 작을 수 있다. The main supply fan 222 may be provided in plurality, and may include a first main supply fan 222-1 and a second main supply fan 222-2. The first main supply fan 222-1 may be disposed adjacent to the first inlet 121-1, and the second main supply fan 222-2 may be disposed adjacent to the second inlet 121-2. have. In addition, the first main supply fan 222-1 and the second main supply fan 222-2 may be arranged in parallel. As such, since the plurality of main supply fans 222 are provided in parallel, gas may be more effectively supplied to the internal space S1. The first main supply fan 222-1 may be spaced apart from the second main supply fan 222-2, and may be located closer to the outlet 111 than the second main supply fan 222-2. The distance between the first main supply fan 222-1 and the second main supply fan 222-2 is greater than the size (diameter) of the inlet 121 and the first main supply fan 222-1 and the outlet 111. May be smaller than the distance between

보조 공급팬(223)은 유동 조절 유닛(300)이 제1 작동 모드일 때에 기체를 내부 공간(S1)으로 공급할 수 있으며, 제1 작동 모드일 때에만 구동되도록 제어될 수도 있다. 이러한 보조 공급팬(223)은 유입 보조 홀(125)에 인접하게 구비될 수 있다. 예를 들어, 메인 공급팬(222)은 유입 보조 홀(125)의 유동 공간(S2) 측에 구비될 수 있다. 다시 말해, 보조 공급팬(223)은 내측 통로벽(102)과 외측 통로벽(103)의 사이에 제공되되, 유입 보조 홀(125)이 형성된 외측 통로벽(103)에 연결될 수 있다. The auxiliary supply fan 223 may supply gas to the internal space S1 when the flow regulating unit 300 is in the first operating mode, and may be controlled to be driven only when the first operating mode is in the first supply mode. The auxiliary supply fan 223 may be provided adjacent to the inlet auxiliary hole 125. For example, the main supply fan 222 may be provided at the flow space S2 side of the inlet auxiliary hole 125. In other words, the auxiliary supply fan 223 may be provided between the inner passage wall 102 and the outer passage wall 103, and may be connected to the outer passage wall 103 having the inflow auxiliary hole 125 formed therein.

보조 공급팬(223)은 복수 개로 제공될 수 있으며, 제1 보조 공급팬(223-1) 및 제2 보조 공급팬(223-2)을 포함할 수 있다. 제1 보조 공급팬(223-1) 및 제2 보조 공급팬(223-2)은 각각 제1 메인 공급팬(222-1) 및 제2 메인 공급팬(222-2)에 대향하여 배치될 수 있다. 또한, 제1 보조 공급팬(223-1)과 제2 보조 공급팬(223-2)은 병렬로 배치될 수 있다. 제1 보조 공급팬(223-1)은 제2 보조 공급팬(223-2)과 이격 배치될 수 있고, 제2 보조 공급팬(223-2)보다 유출 보조 홀(115)에 가까이 위치할 수 있다. The auxiliary supply fan 223 may be provided in plural and may include a first auxiliary supply fan 223-1 and a second auxiliary supply fan 223-2. The first auxiliary supply fan 223-1 and the second auxiliary supply fan 223-2 may be disposed to face the first main supply fan 222-1 and the second main supply fan 222-2, respectively. have. In addition, the first auxiliary supply fan 223-1 and the second auxiliary supply fan 223-2 may be disposed in parallel. The first auxiliary supply fan 223-1 may be spaced apart from the second auxiliary supply fan 223-2, and may be located closer to the outlet auxiliary hole 115 than the second auxiliary supply fan 223-2. have.

유동 조절 유닛(300)은 통로부(100) 내에서의 기체 유동 경로를 제어하기 위해 제공된다. 이를 위해, 유동 조절 유닛(300)은 기체가 제1 유동 경로로 흐르는 것을 허용하는 제1 작동 모드, 및 기체가 제2 유동 경로로 흐르는 것을 허용하는 제2 작동 모드에 놓일 수 있다. 이러한 유동 조절 유닛(300)은 조절 부재(320), 게이트 부재(340) 및 커버 부재(330)를 포함할 수 있다. Flow control unit 300 is provided to control the gas flow path within passageway 100. To this end, the flow control unit 300 can be placed in a first mode of operation that allows gas to flow in the first flow path and a second mode of operation that allows gas to flow in the second flow path. The flow control unit 300 may include an adjustment member 320, a gate member 340, and a cover member 330.

조절 부재(320)는 내부에서 기체가 유동할 수 있도록 유출구(111) 측으로부터 유입구(121)측으로 연장되는 유동 공간을 제공할 수 있으며, 보조 덕트의 기능을 수행할 수 있다. 또한, 조절 부재(320)는 상하 방향으로 이동함으로써 유출구(111)로부터 유동 공간(S2)으로 유입된 기체의 경로를 변경할 수 있다. 조절 부재(320)는 내측 조절부(321) 및 외측 조절부(322)를 포함할 수 있다. 제2 작동 모드일 때에 조절 부재(320)는 제1 작동 모드일 때보다 아래로 이동된다. The adjusting member 320 may provide a flow space extending from the outlet 111 side to the inlet 121 side to allow gas to flow therein, and may serve as an auxiliary duct. In addition, the adjustment member 320 may change the path of the gas introduced into the flow space (S2) from the outlet 111 by moving in the vertical direction. The adjusting member 320 may include an inner adjusting part 321 and an outer adjusting part 322. When in the second mode of operation the adjustment member 320 is moved downward than in the first mode of operation.

내측 조절부(321)는 내측 통로벽(102)을 향해 일측이 제1 개구(321-1)를 통해 개방되어 있고, 타측이 제2 개구(321-2)를 통해 기체 공급 유닛(220)을 향해 개방되도록 구성될 수 있다[도 5]. 예를 들어, 내측 조절부(321)는 내부 공간(S1) 측으로 개방된 개구가 상부에 형성되고, 상측 개구의 상측으로부터 내부 공간(S1)의 바깥측으로 기울어져 연장되는 굴곡부가 형성되며, 하측 단부가 개방 형성된 덕트로 구성될 수 있다. 더욱 상세한 예시로, 내측 조절부(321)의 굴곡부는 측면에서 보았을 때 상측 단부에서 하측으로 연장되면서 그 내부 공간이 점점 넓어지다가, 다시 그 내부 공간이 점점 좁아지는 형상을 가질 수 있으며, 이러한 굴곡부는 제1 개구(321-1)에 대응하는 부분에 형성될 수 있다. 제1 작동 모드일 때에 조절 부재(320)의 내측 조절부(321)는 유출구(111)로부터 유동 공간(S2)으로 유입된 기체가 유동 공간(S2)을 통하여 유입구(121)를 향해 흐르도록 안내하면서, 유입된 기체가 유출 보조 홀(115)로 빠져나가는 것을 차단할 수 있다. 한편, 본 명세서에서의 '차단'은 기체가 흐르지 않도록 완전히 밀봉하는 것뿐만 아니라, 기체의 흐름을 막거나 커버하여 기체의 흐름을 방해하는 것까지 포함하는 것으로 정의된다.The inner adjusting part 321 is open toward the inner passage wall 102 through one side of the first opening 321-1, and the other side of the inner adjusting part 321 through the second opening 321-2. Can be configured to open toward the side [FIG. 5]. For example, the inner adjustment part 321 has an opening that is open toward the inner space S1 at an upper portion thereof, and has a bent portion that is inclined outward from an upper side of the upper opening to an outer side of the inner space S1, and has a lower end portion. It may be composed of an open formed duct. In more detail, the bent portion of the inner adjuster 321 extends from the upper end to the lower side when viewed from the side, and the inner space becomes wider, and the inner space becomes narrower again. It may be formed in a portion corresponding to the first opening (321-1). In the first operating mode, the inner adjusting part 321 of the adjusting member 320 guides the gas introduced into the flow space S2 from the outlet 111 to flow through the flow space S2 toward the inlet 121. At the same time, it is possible to block the gas introduced into the outlet auxiliary hole 115. On the other hand, the term "blocking" in the present specification is defined to include not only to completely seal the gas flow, but also to block or cover the flow of the gas to hinder the flow of the gas.

외측 조절부(322)는 내측 조절부(321)의 상측을 커버할 수 있다. 외측 조절부(322)는 내측 조절부(321)와 연결되어 함께 움직일 수 있다. 외측 조절부(322)는 제2 작동 모드에 놓일 때에 유출구(111)의 하단부로부터 유출 보조 홀(115)의 하단부로 연장되도록 구성될 수 있다. 또한, 외측 조절부(322)는 제2 작동 모드일 때에 유출구(111)로부터 유동 공간(S2)으로 유입된 기체가 유출 보조 홀(115)을 통해 외부로 빠져나가도록 안내하면서 유입된 기체가 유입구(121)로 흐르는 것을 차단할 수 있다. The outer adjuster 322 may cover the upper side of the inner adjuster 321. The outer adjuster 322 may be connected to the inner adjuster 321 and move together. The outer adjuster 322 may be configured to extend from the lower end of the outlet 111 to the lower end of the outlet auxiliary hole 115 when placed in the second mode of operation. In addition, the outer adjuster 322 guides the gas introduced into the flow space S2 from the outlet 111 to the outside through the outlet auxiliary hole 115 when the second operation mode is in the inlet. It can block the flow to 121.

커버 부재(330)는 보조 공급팬(223)의 주위를 커버할 수 있다. 또한, 커버 부재(330)는 내측 통로벽(102) 또는 외측 통로벽(103)에 실질적으로 나란하게 연장되며 보조 공급팬(223)에 대향하는 지점 이외의 부분을 커버하도록 구성될 수 있다. 이러한 커버 부재(330)는 내측 통로벽(102)과 외측 통로벽(103) 사이에서 보조 공급팬(223)에 인접한 위치에 구비될 수 있다. The cover member 330 may cover the circumference of the auxiliary supply fan 223. In addition, the cover member 330 may be configured to cover a portion other than a point extending substantially parallel to the inner passage wall 102 or the outer passage wall 103 and facing the auxiliary supply fan 223. The cover member 330 may be provided at a position adjacent to the auxiliary supply fan 223 between the inner passage wall 102 and the outer passage wall 103.

또한, 커버 부재(330)는 보조 공급팬(223)에 대향하는 지점에 형성된 커버 관통홀(331)을 포함할 수 있다. 이러한 커버 관통홀(331)의 크기는 메인 공급팬(222)의 공급 블레이드(222b)의 크기와 실질적으로 동일한 크기를 가질 수 있다. 또한, 커버 관통홀(331)은 메인 공급팬(222)의 개수와 대응하는 개수로 제공될 수 있다. 커버 부재(330)는 외측 통로벽(103)에 고정 설치될 수 있으며, 유동 조절 유닛(300)의 작동 모드가 변경되더라도 이동하지 않는다.In addition, the cover member 330 may include a cover through hole 331 formed at a point facing the auxiliary supply fan 223. The cover through hole 331 may have a size substantially the same as that of the supply blade 222b of the main supply fan 222. In addition, the cover through hole 331 may be provided in a number corresponding to the number of the main supply fan 222. The cover member 330 may be fixed to the outer passage wall 103 and does not move even if the operation mode of the flow control unit 300 is changed.

또한, 커버 관통홀(331)은 제1 커버 관통홀(331-1) 및 제2 커버 관통홀(331-2)을 포함할 수 있다. 제1 커버 관통홀(331-1)은 제1 유입구(121-1)가 형성된 위치에 대응하는 위치에 형성되고, 제2 커버 관통홀(331-2) 및 제2 유입구(121-2)에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. In addition, the cover through hole 331 may include a first cover through hole 331-1 and a second cover through hole 331-2. The first cover through hole 331-1 is formed at a position corresponding to the position where the first inlet 121-1 is formed, and is formed in the second cover through hole 331-2 and the second inlet 121-2. It may be formed at a corresponding position.

또한, 커버 부재(330)는 내측 통로벽(102) 또는 외측 통로벽(103)과 대응되는 크기를 가지는 것도 가능하다. 커버 부재(330)가 상기와 같이 구성될 경우, 제1 작동 모드에서 유출구(111)로 유입된 기체는 내측 통로벽(102)과 커버 부재(330)사이의 공간으로 흘러가서 유입구(121)로 빠져나갈 수 있다. 따라서, 이 경우 제1 작동 모드에서 유출구(111)로 유입된 기체는 외측 통로벽(103)과 커버 부재(330)사이의 공간으로 흘러가지 않도록 커버 부재(330)에 의해 차단될 수 있다. In addition, the cover member 330 may have a size corresponding to the inner passage wall 102 or the outer passage wall 103. When the cover member 330 is configured as described above, the gas introduced into the outlet 111 in the first operation mode flows into the space between the inner passage wall 102 and the cover member 330 to the inlet 121. You can get out. Therefore, in this case, the gas introduced into the outlet 111 in the first operating mode may be blocked by the cover member 330 so as not to flow into the space between the outer passage wall 103 and the cover member 330.

게이트 부재(340)는 제1 작동 모드일 때에 제2 유동 경로(P2)를 차단하는 위치에 놓이고 제2 작동 모드일 때에 제2 유동 경로(P2)를 개방하는 위치에 놓일 수 있으며, 양 위치 간에 이동 가능하게 구성된다. 게이트 부재(340)는 메인 공급팬(222)과 보조 공급팬(223)의 사이의 위치에서 커버 부재(330)에 인접하여 배치될 수 있다. 게이트 부재(340)는 내측 통로벽(102) 또는 외측 통로벽(103)에 나란하게 배치되는 플레이트일 수 있다. 또한, 게이트 부재(340)는 내측 통로벽(102) 또는 외측 통로벽(103)이 연장되는 방향과 나란한 방향으로 슬라이드 이동 가능하게 구성될 수도 있다. The gate member 340 may be placed in a position to block the second flow path P2 in the first operation mode and in a position to open the second flow path P2 in the second operation mode, and both positions It is configured to be movable between. The gate member 340 may be disposed adjacent to the cover member 330 at a position between the main supply fan 222 and the auxiliary supply fan 223. The gate member 340 may be a plate disposed side by side with the inner passage wall 102 or the outer passage wall 103. In addition, the gate member 340 may be configured to be slidably movable in a direction parallel to a direction in which the inner passage wall 102 or the outer passage wall 103 extends.

이러한 게이트 부재(340)에는 게이트 통로(341)가 형성될 수 있다. 게이트 통로(341)는 게이트 부재(340)를 관통하는 관통홀일 수 있으며, 유입 보조 홀(125)의 개수에 대응하는 개수로 제공될 수 있다. 또한, 게이트 통로(341)는 제2 작동 모드일 때에 유입 보조 홀(125)에 대향하는 위치에 놓이도록 형성될 수 있다. 또한, 게이트 통로(341)는 제1 유입구(121-1) 및 제2 유입구(121-2)에 대향하는 위치에 형성될 수 있다. 또한, 게이트 통로(341)는 제1 작동 모드일 때에 커버 부재(330)에 가려질 정도의 크기를 가질 수 있다. 다시 말해, 제1 작동 모드에 놓인 유동 조절 유닛(300)을 측면에서 보았을 때 게이트 통로(341)는 제1 커버 관통홀(331-1) 및 제2 커버 관통홀(331-2)의 사이에 배치될 수 있다. 다시 말해, 제1 작동 모드일 때에 제1 커버 관통홀(331-1) 및 제2 커버 관통홀(331-2)은 게이트 통로(341)에 노출되지 않고 게이트 부재(340)에 의해 폐쇄될 수 있다. A gate passage 341 may be formed in the gate member 340. The gate passage 341 may be a through hole penetrating through the gate member 340, and may be provided in a number corresponding to the number of the inflow auxiliary holes 125. In addition, the gate passage 341 may be formed to be positioned at a position opposite to the inlet auxiliary hole 125 when in the second mode of operation. In addition, the gate passage 341 may be formed at a position opposite to the first inlet 121-1 and the second inlet 121-2. In addition, the gate passage 341 may have a size such that it is covered by the cover member 330 in the first operation mode. In other words, the gate passage 341 is disposed between the first cover through hole 331-1 and the second cover through hole 331-2 when the flow regulation unit 300 placed in the first operating mode is viewed from the side. Can be deployed. In other words, in the first operation mode, the first cover through hole 331-1 and the second cover through hole 331-2 may be closed by the gate member 340 without being exposed to the gate passage 341. have.

액츄에이터(350)는 조절 부재(320) 및 게이트 부재(340)를 이동시킬 수 있다. 액츄에이터(350)는 제1 작동 모드일 때에 조절 부재(320)의 내부가 유출구(111)와 연통되도록 조절 부재(320)를 이동시키고, 유입구(121)와 유입 보조 홀(125)이 서로 연통하지 않도록 게이트 부재(340)를 이동시킬 수 있다. 또한, 액츄에이터(350)는 제2 작동 모드일 때에 조절 부재(320)의 내부가 유출구(111)와 연통하는 것을 차단하고 유출구(111)와 유출 보조 홀(115)이 서로 연통하도록 조절 부재(320)를 이동시키고, 유입구(121)와 유입 보조 홀(125)이 서로 연통하도록 게이트 부재(340)를 이동시킬 수 있다. 이러한 액츄에이터(350)는 예를 들어 조절 부재(320)에 연결된 제1 피스톤 및 게이트 부재(340)에 연결된 제2 피스톤을 포함할 수 있으나, 본 발명의 사상이 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. The actuator 350 may move the adjustment member 320 and the gate member 340. The actuator 350 moves the adjusting member 320 so that the inside of the adjusting member 320 communicates with the outlet 111 in the first operation mode, and the inlet 121 and the inlet auxiliary hole 125 do not communicate with each other. The gate member 340 may be moved so as not to. In addition, the actuator 350 prevents the interior of the adjustment member 320 from communicating with the outlet 111 when the second operation mode is in operation, and adjusts the member 320 so that the outlet 111 and the outlet auxiliary hole 115 communicate with each other. ), And the gate member 340 may be moved so that the inlet 121 and the inlet auxiliary hole 125 communicate with each other. The actuator 350 may include, for example, a first piston connected to the adjustment member 320 and a second piston connected to the gate member 340, but the spirit of the present invention is not necessarily limited thereto.

제어부는 액츄에이터(350)의 구동을 제어할 수 있다. 제어부는 저온으로 테스트된 전자부품의 온도를 회복시키기 위하여 액츄에이터(350)를 구동시켜 유동 조절 유닛(300)이 제1 작동 모드에 놓이게 하고, 고온으로 테스트된 전자부품의 온도를 회복시키기 위하여 액츄에이터(350)를 구동시켜 유동 조절 유닛(300)이 제2 작동 모드에 놓이게 할 수 있다. 제1 작동 모드와 제2 작동 모드는 서로 다른 유동 경로를 가지므로, 처리 챔버(40)는 저온으로 테스트된 전자부품의 온도를 회복할 때와 고온으로 테스트된 전자부품의 온도를 회복할 때에 서로 다른 유동 경로를 제공할 수 있다. 이러한 제어부는 마이크로프로세서를 포함하는 연산 장치에 의해 구현될 수 있으며, 그 구현 방식은 당업자에게 자명한 사항이므로 더 이상의 자세한 설명을 생략한다. The controller may control the driving of the actuator 350. The control unit drives the actuator 350 to recover the temperature of the electronic component tested at a low temperature so that the flow control unit 300 is placed in the first operating mode, and the actuator (return the temperature of the electronic component tested at a high temperature) 350 may be driven to place the flow regulation unit 300 in a second mode of operation. Since the first mode of operation and the second mode of operation have different flow paths, the processing chamber 40 may be different from each other when restoring the temperature of the electronic component tested at low temperature and when restoring the temperature of the electronic component tested at high temperature. Other flow paths can be provided. Such a control unit may be implemented by a computing device including a microprocessor, and its implementation manner is obvious to those skilled in the art, and thus, further description thereof will be omitted.

이하에서는 도 8 및 도 9를 더 참조하여 상기와 같은 구성을 가지는 처리 챔버(40)의 작동방식에 대하여 설명한다. Hereinafter, an operation method of the processing chamber 40 having the above configuration will be described with reference to FIGS. 8 and 9.

먼저, 도 8을 참조하여 처리 챔버(40)가 제1 작동 모드에 놓였을 때를 설명한다. 처리 챔버(40)는 내부 공간(S1)에 수용된 전자부품(온도 조절 대상물)을 가열시킴으로써 냉각된 전자부품의 온도를 상온으로 회복시킬 수 있으며, 이를 위해 제1 작동 모드로 내부 공간(S1)의 기체를 유동시킬 수 있다. 유동 조절 유닛(300)이 제1 작동 모드에 놓일 때, 조절 부재(320)는 상측으로 이동함으로써 유출구(111)와 연통하여 내부 공간(S1)의 기체가 유출구(111)를 통해 유동 공간(S2)으로 유입된다. First, a description will be given when the processing chamber 40 is in the first mode of operation with reference to FIG. 8. The processing chamber 40 may recover the temperature of the cooled electronic component to room temperature by heating the electronic component (temperature control object) accommodated in the internal space S1. Gas can be flowed. When the flow regulating unit 300 is placed in the first operating mode, the adjusting member 320 moves upward to communicate with the outlet 111 so that the gas in the internal space S1 flows through the outlet 111 through the outlet 111. Inflow).

한편, 유동 조절 유닛(300)의 게이트 부재(340)는 하측으로 이동함으로써 커버 관통홀(331)을 차단하여 유동 공간(S2) 내의 기체는 유입구(121)를 통해 내부 공간(S1)으로 유입될 수 있다. 제어부는 조절 부재(320)의 내부가 유출구(111)와 연통하고, 게이트 부재(340)의 게이트 통로(341) 및 커버 관통홀(331)을 차단하도록 액츄에이터(350)를 통하여 조절 부재(320) 및 게이트 부재(340)의 이동을 제어한다. Meanwhile, the gate member 340 of the flow control unit 300 moves downward to block the cover through hole 331 so that gas in the flow space S2 may flow into the internal space S1 through the inlet 121. Can be. The controller may control the control member 320 through the actuator 350 so that the inside of the control member 320 communicates with the outlet 111 and blocks the gate passage 341 and the cover through hole 331 of the gate member 340. And movement of the gate member 340.

다음으로, 도 9를 참조하여 처리 챔버(40)가 제2 작동 모드에 놓였을 때를 설명한다. 처리 챔버(40)는 내부 공간(S1)에 수용된 전자부품(온도 조절 대상물)을 냉각함으로써 가열된 전자부품의 온도를 상온으로 회복시킬 수 있으며, 이를 위해 제2 작동 모드로 내부 공간(S1)의 기체를 유동시킬 수 있다. 유동 조절 유닛(300)이 제2 작동 모드에 놓일 때, 조절 부재(320)는 하측으로 이동함으로써 유출구(111)를 유출 보조 홀(115)로 연통시켜 내부 공간(S1)의 기체가 통로 바디(101)를 통하여 처리 챔버(40)의 외부로 배출한다[유출구(111) 측의 제2 유동 경로(P2)].Next, a description will be given when the processing chamber 40 is in the second mode of operation with reference to FIG. 9. The processing chamber 40 may recover the temperature of the heated electronic component to room temperature by cooling the electronic component (temperature control object) accommodated in the internal space S1. Gas can be flowed. When the flow regulating unit 300 is placed in the second operation mode, the adjusting member 320 moves downward to communicate the outlet 111 to the outlet auxiliary hole 115 so that the gas in the internal space S1 passes through the passage body ( Discharges to the outside of the processing chamber 40 through 101 (second flow path P2 on the outlet 111 side).

한편, 유동 조절 유닛(300)의 게이트 부재(340)는 상측으로 이동하여 커버 관통홀(331)과 게이트 통로(341)를 연통시키고 처리 챔버(40) 외부의 기체는 통로 바디(101)를 통해 내부 공간(S1)으로 유입될 수 있다[유입구(121) 측의 제2 유동 경로(P2)]. 제어부는 조절 부재(320)의 내부가 유출구(111)와 연통하지 않고, 게이트 부재(340)의 게이트 통로(341)와 커버 관통홀(331)가 서로 연통하도록 액츄에이터(350)를 통하여 조절 부재(320) 및 게이트 부재(340)의 이동을 제어한다. Meanwhile, the gate member 340 of the flow control unit 300 moves upward to communicate the cover through hole 331 and the gate passage 341, and the gas outside the processing chamber 40 passes through the passage body 101. It may flow into the internal space S1 (second flow path P2 on the inlet 121 side). The controller may control the adjustment member 320 through the actuator 350 such that the inside of the adjustment member 320 does not communicate with the outlet 111, and the gate passage 341 and the cover through hole 331 of the gate member 340 communicate with each other. 320 and the movement of the gate member 340 is controlled.

이상 본 발명의 실시예들을 구체적인 실시 형태로서 설명하였으나, 이는 예시에 불과한 것으로서, 본 발명은 이에 한정되지 않는 것이며, 본 명세서에 개시된 기초 사상에 따르는 최광의 범위를 갖는 것으로 해석되어야 한다. 당업자는 개시된 실시형태들을 조합/치환하여 적시되지 않은 형상의 패턴을 실시할 수 있으나, 이 역시 본 발명의 범위를 벗어나지 않는 것이다. 이외에도 당업자는 본 명세서에 기초하여 개시된 실시형태를 용이하게 변경 또는 변형할 수 있으며, 이러한 변경 또는 변형도 본 발명의 권리범위에 속함은 명백하다.Although the embodiments of the present invention have been described as specific embodiments, these are only examples, and the present invention is not limited thereto and should be construed as having the broadest scope in accordance with the basic idea disclosed herein. Those skilled in the art can combine / substitute the disclosed embodiments to implement a pattern of a timeless shape, but this also does not depart from the scope of the present invention. In addition, those skilled in the art can easily change or modify the disclosed embodiments based on the present specification, it is apparent that such changes or modifications belong to the scope of the present invention.

1: 핸들러 10: 로딩장치
20: 공정 챔버 30: 테스트 챔버
40: 처리 챔버 41: 챔버 바디
42: 유동기 50: 언로딩 장치
100: 통로부 101: 통로 바디
102: 내측 통로벽 103: 외측 통로벽
111: 유출구 115: 유출 보조 홀
116: 가이드 117: 설치부
121: 유입구 125 유입 보조홀
200: 유동 장치 210: 기체 배출 유닛
211: 배출팬 211-1: 내측 배출 팬
211-2: 외측 배출 팬 212: 스페이서
220: 기체 공급 유닛 222: 공급팬
222-1: 제1 메인 공급팬 222-2: 제2 메인 공급팬
223-1: 제1 보조 공급팬 223-2: 제2 보조 공급팬
300: 유동 조절 유닛 320: 조절 부재
321: 내측 조절부 321-1: 제1 개구
321-2: 제2 개구 322: 외측 조절부
330: 커버 부재 331: 커버 관통홀
331-1: 제1 커버 관통홀 331-2: 제2 커버 관통홀
340: 게이트 부재 341: 게이트 통로
350: 액츄에이터
1: handler 10: loading device
20: process chamber 30: test chamber
40: process chamber 41: chamber body
42: fluidizer 50: unloading device
100: passage portion 101: passage body
102: inner passage wall 103: outer passage wall
111: outlet 115: outlet auxiliary hole
116: guide 117: mounting portion
121: inlet 125 inlet auxiliary hole
200: flow device 210: gas discharge unit
211: exhaust fan 211-1: inner exhaust fan
211-2: Outer exhaust fan 212: Spacer
220: gas supply unit 222: supply fan
222-1: first main supply fan 222-2: second main supply fan
223-1: first auxiliary supply fan 223-2: second auxiliary supply fan
300: flow control unit 320: adjustment member
321: Inner adjusting portion 321-1: First opening
321-2: second opening 322: outer adjustment portion
330: cover member 331: cover through hole
331-1: First cover through hole 331-2: Second cover through hole
340: gate member 341: gate passage
350: actuator

Claims (6)

기체가 유동할 수 있는 내부 공간이 형성된 처리 챔버로서,
상기 처리 챔버의 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하고, 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 유동 장치;
통로 바디, 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유출구 및 상기 내부 공간으로 기체를 공급하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유입구를 포함하는 통로부; 및
상기 통로부 내에서의 기체 유동 경로를 제어하는 유동 조절 유닛을 포함하고,
상기 유동 조절 유닛은,
상기 유입구와 상기 유출구 사이의 제1 유동 경로를 개방하고, 상기 처리 챔버의 외측과 상기 내부 공간 사이의 제2 유동 경로를 차단하는 제1 작동 모드; 및
상기 제2 유동 경로를 개방하는 제2 작동 모드를 갖고,
상기 유동 조절 유닛은 상기 제1 작동 모드 및 상기 제2 작동 모드 중 어느 하나의 작동 모드로 선택적으로 구동되는,
처리 챔버.
A processing chamber in which an internal space in which gas can flow is formed,
A flow device for discharging gas from the internal space of the processing chamber and supplying gas to the internal space;
A passage portion including a passage body, an outlet formed in the passage body for discharging gas from the inner space, and an inlet formed in the passage body for supplying gas to the inner space; And
A flow control unit for controlling a gas flow path in the passage section,
The flow control unit,
A first mode of operation that opens a first flow path between the inlet and the outlet and blocks a second flow path between the outside of the processing chamber and the interior space; And
Has a second mode of operation for opening said second flow path,
The flow regulating unit is selectively driven in one of the first operating mode and the second operating mode,
Processing chamber.
제 1 항에 있어서,
상기 유동 장치는,
상기 유입구 측에 구비되고 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 기체 공급 유닛을 포함하고,
상기 기체 공급 유닛은,
상기 통로 바디에서 상기 내부 공간 측으로 배치되는 제1 메인 공급팬; 및 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간의 반대측에 배치되고, 상기 제1 메인 공급팬과 대향하는 제1 보조 공급팬을 포함하고,
상기 유동 조절 유닛은,
상기 제1 작동 모드에서 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 유입되도록 안내하고 상기 제2 작동 모드에서 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 유입되는 것을 차단하도록 작동하는 조절 부재를 포함하는,
처리 챔버.
The method of claim 1,
The flow device,
A gas supply unit provided on the inlet side and supplying gas to the internal space,
The gas supply unit,
A first main supply fan disposed from the passage body toward the inner space; And a first auxiliary supply fan disposed on an opposite side of the inner space in the passage body and facing the first main supply fan.
The flow control unit,
Guide the gas supplied from the outlet in the first operating mode to flow into the first main supply fan side and prevent the gas supplied from the outlet in the second operating mode from entering the first main supply fan side. Including an adjustment member to make,
Processing chamber.
제 2 항에 있어서,
상기 통로 바디 및 상기 조절 부재는 기체가 유동할 수 있도록 상기 유출구 측으로부터 상기 유입구 측으로 연장되는 유동 공간을 제공하고,
상기 조절 부재는,
상기 제1 작동 모드일 때에 상기 유출구 측으로 이동함으로써 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 유동 공간을 통하여 상기 유입구 측으로 이동하도록 안내하고, 상기 제2 작동 모드일 때에 상기 유입구 측으로 이동함으로써 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 유입구 측으로 이동하는 것을 차단하는,
처리 챔버.
The method of claim 2,
The passage body and the regulating member provide a flow space extending from the outlet side to the inlet side to allow gas to flow;
The adjustment member,
Gas supplied from the outlet by moving to the outlet side when in the first operating mode guides the movement of gas from the outlet to the inlet side through the flow space, and gas supplied from the outlet by moving to the inlet side when in the second operating mode To prevent movement to the inlet side,
Processing chamber.
제 2 항에 있어서,
상기 기체 공급 유닛은,
상기 통로 바디에서 상기 내부 공간 측으로 배치되면서 상기 제1 메인 공급팬과 소정 거리 이격 배치되는 제2 메인 공급팬; 및
상기 통로 바디에서 상기 내부 공간의 반대측에 배치되는 제2 보조 공급팬을 더 포함하고,
상기 유동 조절 유닛은,
상기 제1 작동 모드에서는 기체가 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬으로부터 상기 제1 메인 공급팬 및 상기 제2 메인 공급팬으로 유동하는 것을 차단하며, 상기 제2 작동 모드에서는 기체가 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬으로부터 상기 제1 메인 공급팬 및 상기 제2 메인 공급팬으로 유동하는 것을 허용하도록 제공되는 게이트 부재를 더 포함하는,
처리 챔버.
The method of claim 2,
The gas supply unit,
A second main supply fan disposed in the passage body and spaced apart from the first main supply fan by a predetermined distance; And
A second auxiliary supply fan disposed opposite the inner space in the passage body;
The flow control unit,
In the first operating mode, gas is prevented from flowing from the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan to the first main supply fan and the second main supply fan, and in the second operating mode, the gas And a gate member provided to allow flow from the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan to the first main supply fan and the second main supply fan,
Processing chamber.
제 4 항에 있어서,
상기 유동 조절 유닛은 커버 관통홀이 형성된 커버 부재를 더 포함하고,
상기 게이트 부재에는 상기 제2 작동 모드에서 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬 중 적어도 어느 하나에 대향하게 배치되는 게이트 통로가 형성되며,
상기 게이트 부재는,
상기 제1 작동 모드에서는 상기 커버 관통홀을 차단하고, 상기 제2 작동 모드에서는 상기 커버 관통홀과 상기 게이트 통로를 서로 연통시키도록 구동되는,
처리 챔버.
The method of claim 4, wherein
The flow control unit further includes a cover member formed with a cover through hole,
The gate member is formed with a gate passage disposed opposite to at least one of the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan in the second operating mode,
The gate member,
The cover through hole is blocked in the first operating mode, and the cover through hole and the gate passage are driven to communicate with each other in the second operating mode.
Processing chamber.
전자부품을 로딩하는 로딩장치;
로딩이 완료된 상기 전자부품을 테스트 설정 온도로 예열 또는 예냉하는 공정 챔버;
상기 예열 또는 예냉된 상기 전자부품을 테스트하는 테스트 챔버;
상기 테스트가 완료된 상기 전자부품의 온도를 기 설정된 온도로 회복시키도록 제공되는 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 따른 처리 챔버; 및
상기 처리 챔버에 의해 상기 기 설정된 온도로 회복된 상기 전자부품을 언로딩하는 언로딩장치를 포함하는 핸들러.
A loading device for loading an electronic component;
A process chamber for preheating or precooling the loaded electronic component to a test set temperature;
A test chamber for testing the preheated or precooled electronic component;
The processing chamber according to any one of claims 1 to 5, which is provided to restore the temperature of the electronic component in which the test is completed to a predetermined temperature; And
And an unloading device for unloading the electronic component restored to the preset temperature by the processing chamber.
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