KR20190113031A - Treatment chamber and handler comprising same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 처리 챔버 및 이를 포함하는 핸들러에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명의 일 실시예에 따르면, 기체가 유동할 수 있는 내부 공간이 형성된 처리 챔버로서, 상기 처리 챔버의 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하고, 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 유동 장치; 통로 바디, 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유출구 및 상기 내부 공간으로 기체를 공급하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유입구를 포함하는 통로부; 및 상기 통로부 내에서의 기체 유동 경로를 제어하는 유동 조절 유닛을 포함하고, 상기 유동 조절 유닛은, 상기 유입구와 상기 유출구 사이의 제1 유동 경로를 개방하고, 상기 처리 챔버의 외측과 상기 내부 공간 사이의 제2 유동 경로를 차단하는 제1 작동 모드; 및 상기 제2 유동 경로를 개방하는 제2 작동 모드를 갖고, 상기 유동 조절 유닛은 상기 제1 작동 모드 및 상기 제2 작동 모드 중 어느 하나의 작동 모드로 선택적으로 구동되는, 처리 챔버가 제공될 수 있다. The present invention relates to a processing chamber and a handler comprising the same. Specifically, according to an embodiment of the present invention, a processing chamber having an internal space through which gas can flow, comprising: a flow device for discharging gas from the internal space of the processing chamber and supplying gas to the internal space; A passage portion including a passage body, an outlet formed in the passage body for discharging gas from the inner space, and an inlet formed in the passage body for supplying gas to the inner space; And a flow regulating unit for controlling a gas flow path within the passage portion, wherein the flow regulating unit opens a first flow path between the inlet and the outlet, and forms an outer space and the inner space of the processing chamber. A first mode of operation intercepting a second flow path therebetween; And a second operating mode for opening the second flow path, wherein the flow regulating unit is selectively driven in any one of the first operating mode and the second operating mode. have.
Description
본 발명은 처리 챔버 및 이를 포함하는 핸들러에 대한 발명이다. The present invention relates to a process chamber and a handler comprising the same.
핸들러는 소정의 제조공정을 거쳐 제조된 반도체소자가 테스터에 의해 테스트될 수 있도록 지원하며, 테스트 결과에 따라 반도체소자를 등급별로 분류하여 고객트레이에 적재하는 기기이다.The handler supports a semiconductor device manufactured through a predetermined manufacturing process to be tested by a tester, and classifies the semiconductor device according to a test result and loads the semiconductor device into a customer tray.
이러한 핸들러에는 이송경로를 따라 순환하는 테스트트레이를 여러 장 구비하고 있다. 이러한 테스트트레이의 이송경로는 로딩장치, 소크 챔버, 테스트 챔버, 디소크 챔버 및 언로딩 장치를 경유할 수 있다. 소크 챔버는 테스트하기 전에 미리 반도체소자를 테스트 조건에 따른 온도로 맞추어 놓으며, 디소크 챔버는 테스트가 이루어진 후 언로딩에 앞서서 미리 반도체소자를 일정 수준의 온도로 회복시키게 된다. 이러한 소크 챔버와 디소크 챔버는 테스터(TESTER)와 언로딩장치의 가동률을 높임으로써 궁극적으로 장비의 처리용량을 향상시킬 수 있다. 또한, 핸들러에서는 다수개의 테스트트레이가 소크 챔버 또는 디소크 챔버에 함께 수용된 상태에서 병진 이송할 수 있으며, 이렇게 병진 이송하는 시간 동안 테스트트레이에 적재된 반도체소자는 소크 챔버와 디소크 챔버에 머무르면서 온도 조정이 이루어질 수 있게 된다.These handlers are equipped with several test trays that circulate along the feed path. The transfer path of the test tray may be via a loading device, a soak chamber, a test chamber, a desoak chamber, and an unloading device. Before the test, the soak chamber sets the semiconductor device to a temperature according to the test conditions, and the desock chamber restores the semiconductor device to a predetermined temperature before the unloading after the test is performed. These soak chambers and desock chambers can increase the operating capacity of the TESTER and the unloading device, ultimately improving the throughput of the equipment. In addition, in the handler, a plurality of test trays may be translated in a state where the test trays are housed together in the soak chamber or the desock chamber, and the semiconductor elements loaded in the test trays during the translational time stay in the soak chamber and the desock chamber to adjust the temperature. This can be done.
그런데, 최근 들어 단위시간당 처리되어야 할 전자부품이 수가 계속 증가하는 추세이고, 이에 따라 테스트 챔버에서의 테스트 시간도 점차 감소되고 있는 추세이다. 따라서, 테스트 시간이 감소에 상응하여 디소크 챔버와 같은 처리 챔버에서의 전자부품의 냉각, 가열 또는 상온으로의 온도 회복 공정에 대한 속도 및 효율도 매우 중요하게 부각되고 있다. However, in recent years, the number of electronic components to be processed per unit time continues to increase, and accordingly, the test time in the test chamber is also gradually decreasing. Accordingly, as the test time decreases, the speed and efficiency of the process of cooling, heating, or recovering the temperature to room temperature of electronic components in a processing chamber such as a desock chamber are also very important.
또한, 최근에는 다양한 테스트 조건 하에서 전자부품이 테스트 되는데, 온도 조건이 변화할 때마다 신속하게 변화된 테스트 조건에 맞추어 테스트를 진행할 것이 요구되고 있다. In addition, in recent years, electronic components are tested under various test conditions, and it is required to perform tests in accordance with rapidly changed test conditions whenever the temperature conditions change.
본 발명의 실시예들은 상기와 같은 종래기술에 착안하여 발명된 것으로서, 가 온도 조절의 대상이 되는 물체의 온도를 더욱 효과적이고 신속하게 조절할 수 있는 처리 챔버를 제공하고자 한다. Embodiments of the present invention have been invented in view of the prior art as described above, and it is intended to provide a processing chamber that can more effectively and quickly adjust the temperature of an object to be subjected to temperature control.
또한, 테스트의 온도 조건이 변하더라도, 처리 챔버의 설비나 구성의 교체 없이도 내부의 온도 환경 및 공기 흐름 경로를 변화시킬 수 있는 처리 챔버를 제공하고자 한다. It is also an object of the present invention to provide a processing chamber that can change the internal temperature environment and air flow path without changing the equipment or configuration of the processing chamber even if the temperature conditions of the test change.
본 발명의 일 측면에 따르면, 기체가 유동할 수 있는 내부 공간이 형성된 처리 챔버로서, 상기 처리 챔버의 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하고, 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 유동 장치; 통로 바디, 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유출구 및 상기 내부 공간으로 기체를 공급하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유입구를 포함하는 통로부; 및 상기 통로부 내에서의 기체 유동 경로를 제어하는 유동 조절 유닛을 포함하고, 상기 유동 조절 유닛은, 상기 유입구와 상기 유출구 사이의 제1 유동 경로를 개방하고, 상기 처리 챔버의 외측과 상기 내부 공간 사이의 제2 유동 경로를 차단하는 제1 작동 모드; 및 상기 제2 유동 경로를 개방하는 제2 작동 모드를 갖고, 상기 유동 조절 유닛은 상기 제1 작동 모드 및 상기 제2 작동 모드 중 어느 하나의 작동 모드로 선택적으로 구동되는, 처리 챔버가 제공될 수 있다. According to an aspect of the present invention, there is provided a processing chamber having an internal space through which gas can flow, comprising: a flow device for discharging gas from the internal space of the processing chamber and supplying gas to the internal space; A passage portion including a passage body, an outlet formed in the passage body for discharging gas from the inner space, and an inlet formed in the passage body for supplying gas to the inner space; And a flow regulating unit for controlling a gas flow path within the passage portion, wherein the flow regulating unit opens a first flow path between the inlet and the outlet, and forms an outer space and the inner space of the processing chamber. A first mode of operation intercepting a second flow path therebetween; And a second operating mode for opening the second flow path, wherein the flow regulating unit is selectively driven in any one of the first operating mode and the second operating mode. have.
또한, 상기 유동 장치는, 상기 유입구 측에 구비되고 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 기체 공급 유닛을 포함하고, 상기 기체 공급 유닛은, 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간 측으로 배치되는 제1 메인 공급팬; 및 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간의 반대측으로 상기 제1 메인 공급팬과 이격 배치되고, 상기 제1 메인 공급팬과 대향하는 제1 보조 공급팬을 포함하고, 상기 유동 조절 유닛은, 상기 제1 작동 모드에서 상기 제1 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 유입되는 것을 차단하고 상기 제2 작동 모드에서 상기 제1 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 안내하도록 작동하는 조절 부재를 포함하는, 처리 챔버가 제공될 수 있다.The flow apparatus may further include a gas supply unit provided at the inlet side and supplying gas to the internal space, wherein the gas supply unit comprises: a first main supply fan disposed at the passage body toward the internal space; And a first auxiliary supply fan spaced apart from the first main supply fan in the passage body and opposite to the inner space, and facing the first main supply fan, wherein the flow control unit is configured to perform the first operation. To prevent gas from the first auxiliary supply fan from entering the first main supply fan side in a mode and to direct gas from the first auxiliary supply fan to the first main supply fan side in the second operating mode A processing chamber may be provided that includes an adjusting member.
또한, 상기 통로 바디 및 상기 조절 부재는 기체가 유동할 수 있도록 상기 유출구 측으로부터 상기 유입구 측으로 연장되는 유동 공간을 제공하고, 상기 조절 부재는, 상기 제1 작동 모드일 때에 상기 유출구 측으로 이동함으로써 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 유동 공간을 통하여 상기 유입구 측으로 이동하도록 안내하고, 상기 제2 작동 모드일 때에 상기 유입구 측으로 이동함으로써 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 유입구 측으로 이동하는 것을 차단하는, 처리 챔버가 제공될 수 있다.Further, the passage body and the regulating member provide a flow space extending from the outlet side to the inlet side so that gas can flow, and the regulating member moves to the outlet side when in the first operating mode. Provides a processing chamber for guiding the gas supplied from the air to move to the inlet side through the flow space, and to move the gas supplied from the outlet to the inlet side by moving to the inlet side when in the second mode of operation. Can be.
또한, 상기 기체 공급 유닛은, 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간 측으로 배치되면서 상기 제1 메인 공급팬과 소정 거리 이격 배치되는 제2 메인 공급팬; 및 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간의 반대측에 배치되는 제2 보조 공급팬을 더 포함하고, 상기 유동 조절 유닛은 게이트 통로가 형성된 게이트 부재를 더 포함하고, 상기 게이트 부재는, 상기 제1 작동 모드에서는 상기 제1 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 유입되는 것과 상기 제2 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제2 메인 공급팬 측으로 유입되는 것을 차단하며, 상기 제2 작동 모드에서는 상기 게이트 통로가 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬 중 적어도 하나에 대향하게 되도록 이동함으로써 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬으로부터의 기체가 상기 제1 메인 공급팬 및 상기 제2 메인 공급팬으로 흐르는 것을 허용하도록 구성되는, 처리 챔버가 제공될 수 있다.The gas supply unit may further include a second main supply fan disposed from the passage body and spaced apart from the first main supply fan by a predetermined distance; And a second auxiliary supply fan disposed opposite the inner space in the passage body, wherein the flow control unit further includes a gate member having a gate passage formed therein, wherein the gate member includes: Prevents gas from the first auxiliary supply fan from flowing into the first main supply fan side and gas from the second auxiliary supply fan from flowing into the second main supply fan side, and in the second operation mode, The gate passage moves to face at least one of the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan such that gas from the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan is moved to the first main supply fan and the second auxiliary supply fan. A processing chamber may be provided that is configured to allow flow to the second main supply fan.
또한, 상기 유동 조절 유닛은 커버 관통홀이 형성된 커버 부재를 더 포함하고, 상기 게이트 부재는, 상기 제1 작동 모드에서는 상기 커버 관통홀을 차단하고, 상기 제2 작동 모드에서는 상기 커버 관통홀과 상기 게이트 통로를 서로 연통시키도록 구동되는, 처리 챔버가 제공될 수 있다.The flow regulating unit may further include a cover member having a cover through hole formed therein, and the gate member blocks the cover through hole in the first operation mode, and the cover through hole and the cover operation hole in the second operation mode. A processing chamber may be provided that is driven to communicate the gate passages with each other.
또한, 전자부품을 로딩하는 로딩장치; 로딩이 완료된 상기 전자부품을 테스트 설정 온도로 예열 또는 예냉하는 공정 챔버; 상기 예열 또는 상기 예냉된 상기 전자부품을 테스트하는 테스트 챔버; 상기 테스트가 완료된 상기 전자부품의 온도를 기설정된 수준으로 회복시키는 상기 처리 챔버; 및 상기 기설정된 수준의 온도로 회복된 상기 전자부품을 언로딩하는 언로딩장치를 포함하는 핸들러가 제공될 수 있다. In addition, a loading device for loading an electronic component; A process chamber for preheating or precooling the loaded electronic component to a test set temperature; A test chamber for testing the preheated or precooled electronic component; The processing chamber for restoring a temperature of the electronic component in which the test is completed to a predetermined level; And an unloading device for unloading the electronic component recovered to the predetermined level of temperature.
본 발명의 실시예들에 따르면, 처리 챔버는 원하는 온도 조절의 대상이 되는 물체의 온도를 더욱 효과적이고 신속하게 조절할 수 있게 된다. According to embodiments of the present invention, the processing chamber can more effectively and quickly adjust the temperature of an object that is the object of desired temperature control.
또한, 처리 챔버는 그 설비나 구성의 교체 없이도 공기 흐름 경로를 변화시킴으로써 변화된 테스트 온도 조건에 신속하게 대응할 수 있다는 효과가 있다. In addition, the processing chamber has the effect of being able to respond quickly to changed test temperature conditions by changing the air flow path without changing its equipment or configuration.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러를 나타내는 개념도이다.
도 2는 도 1의 핸들러에 구비되는 처리 챔버의 개념도이다.
도 3은 도 2의 처리 챔버에 구비되는 유동기의 사시도이다.
도 4은 도 3의 유동기의 배면 사시도이다.
도 5는 도 3의 유동기의 분해 사시도이다.
도 6은 도 5의 기체 배출 유닛의 분해 사시도이다.
도 7은 도 5의 기체 공급 유닛의 분해 사시도이다.
도 8은 유동 조절 유닛이 제1 작동 모드에 놓을 때의 처리 챔버의 유동기의 분해 사시도이다.
도 9는 유동 조절 유닛이 제2 작동 모드에 놓을 때의 처리 챔버의 유동기의 분해 사시도이다. 1 is a conceptual diagram illustrating a handler according to an embodiment of the present invention.
2 is a conceptual diagram of a processing chamber included in the handler of FIG. 1.
3 is a perspective view of a flower provided in the processing chamber of FIG. 2.
4 is a rear perspective view of the flower of FIG. 3.
5 is an exploded perspective view of the flower of FIG. 3.
6 is an exploded perspective view of the gas exhaust unit of FIG. 5.
7 is an exploded perspective view of the gas supply unit of FIG. 5.
8 is an exploded perspective view of the flower of the processing chamber when the flow control unit is in the first mode of operation.
9 is an exploded perspective view of the flower of the processing chamber when the flow control unit is in the second mode of operation.
이하에서는 본 발명의 사상을 구현하기 위한 구체적인 실시예에 대하여 도면을 참조하여 상세히 설명하도록 한다. Hereinafter, specific embodiments for implementing the spirit of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
아울러 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. In addition, in describing the present invention, when it is determined that the detailed description of the related well-known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.
또한, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 '연결', '공급'된다고 언급된 때에는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결, 공급될 수도 있지만 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, it is to be understood that when a component is referred to as being 'connected' or 'supplied' to another component, the component may be directly connected and supplied to the other component, but other components may be present in the middle.
본 명세서에서 사용된 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로 본 발명을 한정하려는 의도로 사용된 것은 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한 복수의 표현을 포함한다.The terminology used herein is for the purpose of describing particular embodiments only and is not intended to be limiting of the invention. A singular expression includes a plural expression unless the context clearly indicates otherwise.
또한, 본 명세서에서 상측, 하측 등의 표현은 도면에 도시를 기준으로 설명한 것이며 해당 대상의 방향이 변경되면 다르게 표현될 수 있음을 미리 밝혀둔다.In addition, the expressions of the upper side, the lower side, etc. in the present specification are described with reference to the drawings in the drawings, and it will be apparent that they may be expressed differently when the direction of the corresponding object is changed.
이하, 도 1을 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러(1)의 구체적인 구성에 대하여 설명한다. Hereinafter, a detailed configuration of a handler 1 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 1.
도 1을 참조하면, 핸들러(1)의 전자부품 테스트 트레이(T)에 적재된 상태로 공정 챔버(20), 테스트 챔버(30) 및 처리 챔버(40)를 거쳐 언로딩 위치와 로딩 위치를 순차적으로 지나 다시 공정 챔버(20)로 이어지는 이송경로(C)를 따라 순환할 수 있다. 이러한 이송경로(C)는 폐루프로 구성될 수 있다. Referring to FIG. 1, an unloading position and a loading position are sequentially performed through a
이러한 핸들러(1)는 로딩장치(10), 공정 챔버(20), 테스트 챔버(30), 처리 챔버(40), 언로딩 장치(50)를 포함할 수 있다. 공정 챔버(20)는 전자부품 테스트 과정에서 소크 챔버(soak chamber) 및 디소크 챔버(desoak chamber) 중 어느 하나의 역할을 할 수 있고, 처리 챔버(40)는 소크 챔버(soak chamber) 및 디소크 챔버(desoak chamber) 중 다른 하나의 역할을 할 수 있다. The handler 1 may include a
로딩장치(10)는 고객트레이(미도시)에 적재되어 있는 테스트되지 않은 전자부품을 로딩 위치에 있는 테스트 트레이(T)로 로딩시킨다. The
공정 챔버(20)는 내부에 테스트 트레이(T)가 수용될 수 있는 공간이 형성될 수 있고, 소크 챔버(soak chamber) 또는 디소크 챔버(desoak chamber)의 역할을 할 수 있다. 예를 들어 공정 챔버(20)가 소크 챔버인 경우, 공정 챔버(20)는 이송되어 온 테스트 트레이(T)에 적재되어 있는 전자부품을 테스트하기에 앞서 전자부품을 테스트 설정 온도로 예열(豫熱) 또는 예냉(豫冷)시킬 수 있다.The
테스트 챔버(30)는 공정 챔버(20)에서 예열 또는 예냉된 상태로 테스트 트레이(T)에 적재되어 있는 전자부품을 공급받게 된다. 테스트 챔버(30)에서는 이러한 전자부품의 테스트가 수행되고, 테스트된 전자부품은 처리 챔버(40)로 이송된다. The
처리 챔버(40)는 내부에 테스트 트레이(T)가 수용될 수 있는 공간이 형성될 수 있고, 소크 챔버 또는 디소크 챔버의 역할을 할 수 있다. 예를 들어 처리 챔버(40)가 디소크 챔버인 경우, 처리 챔버(40)는 테스트 챔버(30)로부터 이송되어 온 테스트 트레이(T)에 적재되어 있는 테스트 완료 상태의 전자부품을 냉각하여 전자부품이 실온 내지 언로딩시 문제가 없을 정도의 온도를 가지도록 할 수 있다. 또는, 처리 챔버(40)는 테스트 완료 상태의 전자부품을 가열하여 전자부품이 상온 혹은 결로(結露)가 생기지 않을 정도의 온도를 가지도록 할 수 있다.The
언로딩 장치(50)는 언로딩위치에 있는 테스트 트레이(T)로부터 전자부품을 테스트 결과에 따라 등급별로 분류하여 빈 고객트레이로 언로딩시킬 수 있다.The
이하에서는 도 2를 참조하여 서술한 처리 챔버(40)의 구성을 설명한다.Hereinafter, the configuration of the
도 2를 참조하면, 처리 챔버(40)는 내부에는 전자 부품을 수용할 수 있는 공간(내부 공간(S1))이 형성된 챔버 바디(41), 내부 공간(S1)의 기체를 이송시킬 수 있는 유동기(42), 및 기체를 가열할 수 있는 히터(43)를 포함할 수 있다. 내부 공간(S1)의 기체는 유동기(42)에 의해 유동하여 가열 또는 냉각된 전자부품의 온도를 상온 또는 일정 수준으로 회복시킬 수 있다. 한편, 처리 챔버(40)의 내부의 기체는 공기일 수 있다. Referring to FIG. 2, the
처리 챔버(40)의 유동기(42)는 하나의 모듈로 구성될 수 있다. 또한, 유동기(42)는 내부 공간(S1)을 개폐할 수 있도록 챔버 바디(41)에 연결된 도어로 구성될 수도 있다. 이러한 유동기(42)는 전자부품의 온도를 상온으로 회복하기 위해 전자부품을 냉각 또는 가열하도록 제1 작동 모드 및 제2 작동 모드로 동작할 수 있다. 예를 들어, 유동기(42)는 제1 작동 모드에서 전자부품을 가열시키고, 제2 작동 모드에서 전자부품을 냉각시킴으로써 전자부품의 온도를 상온으로 회복시킬 수 있다. 또한, 유동기(42)는 제2 작동 모드일 때에 처리 챔버(40) 내부와 외부 간에 공기를 연통시킬 수 있다. 한편, 본 명세서에서의 '상온'은 20℃라는 단일 온도값으로 정의되는 것은 아니며, 20℃보다 높거나 낮은 온도 범위(예를 들어 20±5℃)를 포함한다. 이하에서는 도 3 내지 도 9를 더 참조하여 서술한 유동기(42)의 구성을 설명한다.The
도 3 내지 도 9를 더 참조하면, 이러한 유동기(42)는 통로부(100), 유동 장치(200), 제1 작동 모드 또는 제2 작동 모드에 놓일 수 있는 유동 조절 유닛(300), 및 제어부(미도시)를 포함할 수 있다. With further reference to FIGS. 3-9, such a
통로부(100)는 처리 챔버(40)의 내부 공간(S1)의 기체가 외부로 배출되거나 처리 챔버(40) 외부의 기체가 내부 공간(S1)으로 유입될 수 있는 통로를 제공한다. 이러한 통로부(100)는 처리 챔버(40)의 외곽에 배치되어 하우징 역할을 할 수도 있다. The
이러한 통로부(100)는 기체가 흐를 수 있는 유로가 내부에 제공된 통로 바디(101), 내부 공간(S1)으로부터 기체를 배출하기 위해 통로 바디(101)에 형성된 유출구(111), 통로 바디(101) 내부의 기체를 처리 챔버(40)의 외부로 배출하기 위한 유출 보조 홀(115), 내부 공간(S1)으로 기체를 유입하기 위해 형성된 통로 바디(101)에 형성된 유입구(121), 및 처리 챔버(40)의 외부의 기체를 통로 바디(101) 내부로 유입하기 위한 유출 보조 홀(125)을 포함할 수 있다. The
통로 바디(101)는 내부 공간(S1)측에 배치된 내측 통로벽(102) 및 처리 챔버(40)의 외부 측에 배치된 외측 통로벽(103)을 포함할 수 있다. 내측 통로벽(102)에는 후술할 메인 공급팬(222)이 설치되고 내부 공간(S1)측으로 인입된 플레이트 형상을 가지는 설치부(102a)가 마련될 수 있다[도 3, 도 5]. 설치부(102a)에는 유입구(121)와 기체의 유입을 위한 설치부 관통홀(117)이 형성될 수 있다[도 3, 도 5]. 한편, 내측 통로벽(102)과 외측 통로벽(103)은 서로 대향하도록 배치될 수 있고, 플레이트 형상을 가질 수 있다. 내측 통로벽(102)과 외측 통로벽(103)의 사이에는 유동 공간(S2)이 제공될 수 있다. The
한편, 내부 공간(S1)의 기체는 제1 유동 경로(P1) 또는 제2 유동 경로(P2)를 통해 내부 공간(S1)의 외부로 배출될 수 있으며, 내부 공간(S1)의 외부의 기체는 제1 유동 경로(P1) 또는 제2 유동 경로(P2)를 통해 내부 공간(S1) 안쪽으로 유입될 수 있다. 제1 유동 경로(P1)는 유출구(111)로부터 유동 공간(S2)을 거쳐 유입구(121)로 이어지는 경로로 정의되고, 제2 유동 경로(P2)는 유출구(111)로부터 유입구(121) 및 유입 보조 홀(125)을 거치지 않고 유출 보조 홀(115)과 이어지는 경로 및 유입 보조 홀(125)로부터 유출구(111) 및 유출 보조 홀(115)을 거치지 않고 유입구(121)로 이어지는 경로를 포함하는 것으로 정의될 수 있다. 제2 유동 경로(P2)는 유출 보조 홀(115)로부터 처리 챔버(40)의 외부를 경유하여 유입 보조 홀(125)로 이어지는 경로를 선택적으로 포함할 수 있다. On the other hand, the gas in the interior space (S1) may be discharged to the outside of the interior space (S1) through the first flow path (P1) or the second flow path (P2), the gas outside of the interior space (S1) It may be introduced into the interior space (S1) through the first flow path (P1) or the second flow path (P2). The first flow path P1 is defined as a path from the
유출구(111)는 내부 공간(S1)과 통로 바디(101)의 유동 공간(S2)을 연통할 수 있다. 따라서, 내부 공간(S1)의 기체는 유출구(111)를 통해 유동 공간(S2)으로 유출될 수 있다. 이러한 유출구(111)는 내측 통로벽(102)에 형성될 수 있으며 원형의 형상을 가질 수 있다. 또한 유출구(111)는 처리 챔버(40)의 상측에 배치될 수 있으며 복수 개로 제공될 수 있다. The
유출 보조 홀(115)은 유동 공간(S2)과 처리 챔버(40)의 외부와 연통할 수 있다. 따라서, 유동 공간(S2)의 기체는 유출 보조 홀(115)을 통해 처리 챔버(40)의 외부로 유출될 수 있다. 이러한 유출 보조 홀(115)은 외측 통로벽(103)에 형성될 수 있으며 슬릿 형상을 가질 수 있다. 또한, 유출 보조 홀(115)은 처리 챔버(40)의 상측에 배치될 수 있다. 또한, 유출 보조 홀(115)은 유출구(111)와 대응하는 위치에 구비될 수 있다. 또한, 유출 보조 홀(115)은 횡방향으로 연장되는 슬릿일 수 있으며, 이러한 횡방향 슬릿에는 외측 상방으로 휘어진 가이드(116)가 제공될 수 있다[도 4]. 가이드(116)가 외측 상방으로 연장됨으로써 유동기(42)를 통해 방출된 기체가 작업자에게 직접 가해지지 않도록 상방으로 배출될 수 있다.The outlet
유입구(121)는 내부 공간(S1)과 통로 바디(101)의 유동 공간(S2)을 연통할 수 있다. 유동 공간(S2)의 기체는 유입구(121)를 통해 내부 공간(S1)으로 유입될 수 있다. 이러한 유입구(121)는 외측 통로벽(103)에 형성될 수 있으며, 원형의 형상을 가질 수 있다. 또한 유입구(121)는 처리 챔버(40)의 하측에 배치될 수 있으며 복수 개로 제공될 수 있다. The
이러한 유입구(121)는 제1 유입구(121-1) 및 제2 유입구(121-2)를 포함할 수 있다. 제1 유입구(121-1)는 제2 유입구(121-2) 보다 유출구(111)로부터 떨어진 위치에 배치될 수 있다. 예를 들어, 제1 유입구(121-1)는 제2 유입구(121-2)보다 상측에 배치될 수 있다. The
유입 보조 홀(125)은 외측 통로벽(103)에 형성될 수 있으며 유동 공간(S2)과 처리 챔버(40)의 외부와 연통할 수 있다. 따라서, 처리 챔버(40)의 외부의 기체는 유입 보조 홀(125)을 통해 유동 공간(S2)으로 유출될 수 있다. 이러한 유입 보조 홀(125)은 외측 통로벽(103)에 복수 개 형성될 수 있으며 상하 방향으로 연장되는 슬릿 형상을 가질 수 있다. 또한, 유입 보조 홀(125)은 내측 통로벽(102)의 설치부(102a)에 대응하는 외측 통로벽(103)의 영역에 형성될 수 있다. The inflow
유동 장치(200)는 처리 챔버(40)의 내부 공간(S1)으로부터 기체를 배출하고 공급할 수 있다. 이러한 유동 장치(200)는 기체 배출 유닛(210) 및 기체 공급 유닛(220)을 포함할 수 있다. The
기체 배출 유닛(210)은 내부 공간(S1)의 기체를 배출한다. 이러한 기체 배출 유닛(210)은 유출구(111)의 내부 공간(S1) 측에 배치될 수 있고, 유출구(111)와 대향하여 배치될 수 있다. 따라서, 기체는 유출구(111)로 빠져나기 전에 기체 배출 유닛(210)을 통과하게 된다. 이하, 도 6을 더 참조하여 기체 배출 유닛(210)의 구성을 설명한다. The
도 6을 참조하면, 기체 배출 유닛(210)은 배출팬(211) 및 스페이서(212)를 포함할 수 있다. 배출팬(211)은 배출 회전축(211a), 배출 회전축(211a)에 의해 회전 가능하게 지지되는 배출 블레이드(211b), 및 배출 회전축(211a)을 지지하고 배출 블레이드(211b)의 측면을 둘러싸는 배출 하우징(211c)을 포함할 수 있다. 배출 하우징(211c)은 파이프 형상을 가질 수 있으며, 이러한 파이프 형상의 단면은 원형일 수 있다. 또한 배출 하우징(211c)은 배출 블레이드(211b)의 측방향으로 기체가 유입되지 않도록 배출 블레이드(211b)를 커버할 수 있다. 따라서, 배출팬(211) 주변의 기체는 축방향(A)과 직교하는 방향으로 유입되지 않고 축방향(A)을 따라 유입되거나 축방향(A)과 실질적으로 나란한 방향으로 유입된다. Referring to FIG. 6, the
이러한 배출팬(211)은 내측 배출팬(211-1) 및 외측 배출팬(211-2)을 포함할 수 있다. 이러한 내측 배출팬(211-1)과 외측 배출팬(211-2)은 유동 조절 유닛(300)의 작동 모드에 관계 없이 함께 구동되거나 정지되도록 작동할 수 있다. 또한, 내측 배출팬(211-1)과 외측 배출팬(211-2)은 서로 대향하도록 직렬로 배치될 수 있다. 이처럼 복수 개의 배출팬(211)이 직렬로 구비됨으로써 협소한 공간에서도 배출팬(211)이 효율적으로 설치될 수 있으며, 내부 공간(S1)으로부터 기체를 보다 효과적으로 배출할 수 있게 된다.또한, 내측 배출팬(211-1)과 외측 배출팬(211-2)이 소정 간격 서로 이격되도록 내측 배출팬(211-1)과 외측 배출팬(211-2)의 사이에 스페이서(212)가 배치될 수 있다. 외측 배출팬(211-2)은 내측 배출팬(211-1)보다 유출구(111)로부터 더 떨어져 배치될 수 있다. 예를 들어, 내측 배출팬(211-1)은 유출구(111)의 내부 공간(S1)측에 배치될 수 있으며, 외측 배출팬(211-2)은 유출구(111)의 반대측에서 내측 배출팬(211-1)에 연결될 수 있다. 따라서, 내측 배출팬(211-1)에 의해 이송된 기체는 외측 배출팬(211-2)을 통과하여 내부 공간(S1)으로 유입된다. The
기체 공급 유닛(220)은 내부 공간(S1)에 기체를 공급한다. 제1 작동 모드일 때에 기체 공급 유닛(220)은 제1 유동 경로(P1)를 통하여 유동하는 기체를 공급하고, 제2 작동모드일 때에 기체 공급 유닛(220)은 제2 유동 경로(P2)를 통하여 유동하는 기체를 공급할 수 있다. 기체 공급 유닛(220)은 유입구(121) 및 유입 보조 홀(125) 측에 배치될 수 있다. 이하, 도 7을 더 참조하여 기체 배출 유닛(210)의 구성을 설명한다. The
도 7을 더 참조하면, 기체 공급 유닛(220)은 공급팬(221)을 포함할 수 있다. 공급팬(221)은 공급 회전축(221a), 공급 회전축(221a)에 의해 회전 가능하게 지지되는 공급 블레이드(221b), 및 공급 회전축(221a)을 지지하고 공급 블레이드(221b)의 측면을 둘러싸는 공급 하우징(221c)을 포함할 수 있다. 공급 하우징(221c)은 파이프 형상을 가질 수 있으며, 이러한 파이프 형상의 단면은 원형일 수 있다. 또한 공급 하우징(221c)은 공급 블레이드(221b)의 측방향으로 기체가 유입되지 않도록 공급 블레이드(221b)를 커버할 수 있다. 따라서, 공급팬(221) 주변의 기체는 축방향(A)과 직교하는 방향으로 유입되지 않고 축방향(A)을 따라 유입되거나 축방향(A)과 실질적으로 나란한 방향으로 유입된다. 한편, 이러한 공급팬(221)는 앞서 서술한 배출팬(211)과 반드시 동일하지는 않으므로, 배출팬(211)과 상이한 크기, 형상을 가질 수 있다.Referring further to FIG. 7, the
이러한 공급팬(221)은 메인 공급팬(222) 및 보조 공급팬(223)을 포함할 수 있다. The supply fan 221 may include a
메인 공급팬(222)은 유동 조절 유닛(300)의 작동 모드에 관계 없이 기체를 내부 공간(S1)으로 공급할 수 있다. 이러한 메인 공급팬(222)은 유입구(121)에 인접하게 구비될 수 있다. 예를 들어, 메인 공급팬(222)은 유입구(121)의 내부 공간(S1) 측에 구비될 수 있다. 다시 말해, 메인 공급팬(222)은 유입구(121)가 형성된 내측 통로벽(102)에 연결될 수 있다. The
메인 공급팬(222)은 복수 개로 제공될 수 있으며, 제1 메인 공급팬(222-1) 및 제2 메인 공급팬(222-2)을 포함할 수 있다. 제1 메인 공급팬(222-1)은 제1 유입구(121-1)에 인접하여 배치되고, 제2 메인 공급팬(222-2)은 제2 유입구(121-2)에 인접하여 배치될 수 있다. 또한, 제1 메인 공급팬(222-1)과 제2 메인 공급팬(222-2)은 병렬로 배치될 수 있다. 이처럼 메인 공급팬(222)이 복수 개로 병렬로 구비됨으로써 내부 공간(S1)에 보다 효과적으로 기체를 공급할 수 있게 된다. 제1 메인 공급팬(222-1)은 제2 메인 공급팬(222-2)과 이격 배치될 수 있고, 제2 메인 공급팬(222-2)보다 유출구(111)에 가까이 위치할 수 있다. 제1 메인 공급팬(222-1)과 제2 메인 공급팬(222-2) 간의 거리는 유입구(121)의 크기(직경)보다 더 크고, 제1 메인 공급팬(222-1)과 유출구(111) 간의 거리보다 더 작을 수 있다. The
보조 공급팬(223)은 유동 조절 유닛(300)이 제1 작동 모드일 때에 기체를 내부 공간(S1)으로 공급할 수 있으며, 제1 작동 모드일 때에만 구동되도록 제어될 수도 있다. 이러한 보조 공급팬(223)은 유입 보조 홀(125)에 인접하게 구비될 수 있다. 예를 들어, 메인 공급팬(222)은 유입 보조 홀(125)의 유동 공간(S2) 측에 구비될 수 있다. 다시 말해, 보조 공급팬(223)은 내측 통로벽(102)과 외측 통로벽(103)의 사이에 제공되되, 유입 보조 홀(125)이 형성된 외측 통로벽(103)에 연결될 수 있다. The
보조 공급팬(223)은 복수 개로 제공될 수 있으며, 제1 보조 공급팬(223-1) 및 제2 보조 공급팬(223-2)을 포함할 수 있다. 제1 보조 공급팬(223-1) 및 제2 보조 공급팬(223-2)은 각각 제1 메인 공급팬(222-1) 및 제2 메인 공급팬(222-2)에 대향하여 배치될 수 있다. 또한, 제1 보조 공급팬(223-1)과 제2 보조 공급팬(223-2)은 병렬로 배치될 수 있다. 제1 보조 공급팬(223-1)은 제2 보조 공급팬(223-2)과 이격 배치될 수 있고, 제2 보조 공급팬(223-2)보다 유출 보조 홀(115)에 가까이 위치할 수 있다. The
유동 조절 유닛(300)은 통로부(100) 내에서의 기체 유동 경로를 제어하기 위해 제공된다. 이를 위해, 유동 조절 유닛(300)은 기체가 제1 유동 경로로 흐르는 것을 허용하는 제1 작동 모드, 및 기체가 제2 유동 경로로 흐르는 것을 허용하는 제2 작동 모드에 놓일 수 있다. 이러한 유동 조절 유닛(300)은 조절 부재(320), 게이트 부재(340) 및 커버 부재(330)를 포함할 수 있다.
조절 부재(320)는 내부에서 기체가 유동할 수 있도록 유출구(111) 측으로부터 유입구(121)측으로 연장되는 유동 공간을 제공할 수 있으며, 보조 덕트의 기능을 수행할 수 있다. 또한, 조절 부재(320)는 상하 방향으로 이동함으로써 유출구(111)로부터 유동 공간(S2)으로 유입된 기체의 경로를 변경할 수 있다. 조절 부재(320)는 내측 조절부(321) 및 외측 조절부(322)를 포함할 수 있다. 제2 작동 모드일 때에 조절 부재(320)는 제1 작동 모드일 때보다 아래로 이동된다. The adjusting
내측 조절부(321)는 내측 통로벽(102)을 향해 일측이 제1 개구(321-1)를 통해 개방되어 있고, 타측이 제2 개구(321-2)를 통해 기체 공급 유닛(220)을 향해 개방되도록 구성될 수 있다[도 5]. 예를 들어, 내측 조절부(321)는 내부 공간(S1) 측으로 개방된 개구가 상부에 형성되고, 상측 개구의 상측으로부터 내부 공간(S1)의 바깥측으로 기울어져 연장되는 굴곡부가 형성되며, 하측 단부가 개방 형성된 덕트로 구성될 수 있다. 더욱 상세한 예시로, 내측 조절부(321)의 굴곡부는 측면에서 보았을 때 상측 단부에서 하측으로 연장되면서 그 내부 공간이 점점 넓어지다가, 다시 그 내부 공간이 점점 좁아지는 형상을 가질 수 있으며, 이러한 굴곡부는 제1 개구(321-1)에 대응하는 부분에 형성될 수 있다. 제1 작동 모드일 때에 조절 부재(320)의 내측 조절부(321)는 유출구(111)로부터 유동 공간(S2)으로 유입된 기체가 유동 공간(S2)을 통하여 유입구(121)를 향해 흐르도록 안내하면서, 유입된 기체가 유출 보조 홀(115)로 빠져나가는 것을 차단할 수 있다. 한편, 본 명세서에서의 '차단'은 기체가 흐르지 않도록 완전히 밀봉하는 것뿐만 아니라, 기체의 흐름을 막거나 커버하여 기체의 흐름을 방해하는 것까지 포함하는 것으로 정의된다.The
외측 조절부(322)는 내측 조절부(321)의 상측을 커버할 수 있다. 외측 조절부(322)는 내측 조절부(321)와 연결되어 함께 움직일 수 있다. 외측 조절부(322)는 제2 작동 모드에 놓일 때에 유출구(111)의 하단부로부터 유출 보조 홀(115)의 하단부로 연장되도록 구성될 수 있다. 또한, 외측 조절부(322)는 제2 작동 모드일 때에 유출구(111)로부터 유동 공간(S2)으로 유입된 기체가 유출 보조 홀(115)을 통해 외부로 빠져나가도록 안내하면서 유입된 기체가 유입구(121)로 흐르는 것을 차단할 수 있다. The
커버 부재(330)는 보조 공급팬(223)의 주위를 커버할 수 있다. 또한, 커버 부재(330)는 내측 통로벽(102) 또는 외측 통로벽(103)에 실질적으로 나란하게 연장되며 보조 공급팬(223)에 대향하는 지점 이외의 부분을 커버하도록 구성될 수 있다. 이러한 커버 부재(330)는 내측 통로벽(102)과 외측 통로벽(103) 사이에서 보조 공급팬(223)에 인접한 위치에 구비될 수 있다. The
또한, 커버 부재(330)는 보조 공급팬(223)에 대향하는 지점에 형성된 커버 관통홀(331)을 포함할 수 있다. 이러한 커버 관통홀(331)의 크기는 메인 공급팬(222)의 공급 블레이드(222b)의 크기와 실질적으로 동일한 크기를 가질 수 있다. 또한, 커버 관통홀(331)은 메인 공급팬(222)의 개수와 대응하는 개수로 제공될 수 있다. 커버 부재(330)는 외측 통로벽(103)에 고정 설치될 수 있으며, 유동 조절 유닛(300)의 작동 모드가 변경되더라도 이동하지 않는다.In addition, the
또한, 커버 관통홀(331)은 제1 커버 관통홀(331-1) 및 제2 커버 관통홀(331-2)을 포함할 수 있다. 제1 커버 관통홀(331-1)은 제1 유입구(121-1)가 형성된 위치에 대응하는 위치에 형성되고, 제2 커버 관통홀(331-2) 및 제2 유입구(121-2)에 대응되는 위치에 형성될 수 있다. In addition, the cover through
또한, 커버 부재(330)는 내측 통로벽(102) 또는 외측 통로벽(103)과 대응되는 크기를 가지는 것도 가능하다. 커버 부재(330)가 상기와 같이 구성될 경우, 제1 작동 모드에서 유출구(111)로 유입된 기체는 내측 통로벽(102)과 커버 부재(330)사이의 공간으로 흘러가서 유입구(121)로 빠져나갈 수 있다. 따라서, 이 경우 제1 작동 모드에서 유출구(111)로 유입된 기체는 외측 통로벽(103)과 커버 부재(330)사이의 공간으로 흘러가지 않도록 커버 부재(330)에 의해 차단될 수 있다. In addition, the
게이트 부재(340)는 제1 작동 모드일 때에 제2 유동 경로(P2)를 차단하는 위치에 놓이고 제2 작동 모드일 때에 제2 유동 경로(P2)를 개방하는 위치에 놓일 수 있으며, 양 위치 간에 이동 가능하게 구성된다. 게이트 부재(340)는 메인 공급팬(222)과 보조 공급팬(223)의 사이의 위치에서 커버 부재(330)에 인접하여 배치될 수 있다. 게이트 부재(340)는 내측 통로벽(102) 또는 외측 통로벽(103)에 나란하게 배치되는 플레이트일 수 있다. 또한, 게이트 부재(340)는 내측 통로벽(102) 또는 외측 통로벽(103)이 연장되는 방향과 나란한 방향으로 슬라이드 이동 가능하게 구성될 수도 있다. The
이러한 게이트 부재(340)에는 게이트 통로(341)가 형성될 수 있다. 게이트 통로(341)는 게이트 부재(340)를 관통하는 관통홀일 수 있으며, 유입 보조 홀(125)의 개수에 대응하는 개수로 제공될 수 있다. 또한, 게이트 통로(341)는 제2 작동 모드일 때에 유입 보조 홀(125)에 대향하는 위치에 놓이도록 형성될 수 있다. 또한, 게이트 통로(341)는 제1 유입구(121-1) 및 제2 유입구(121-2)에 대향하는 위치에 형성될 수 있다. 또한, 게이트 통로(341)는 제1 작동 모드일 때에 커버 부재(330)에 가려질 정도의 크기를 가질 수 있다. 다시 말해, 제1 작동 모드에 놓인 유동 조절 유닛(300)을 측면에서 보았을 때 게이트 통로(341)는 제1 커버 관통홀(331-1) 및 제2 커버 관통홀(331-2)의 사이에 배치될 수 있다. 다시 말해, 제1 작동 모드일 때에 제1 커버 관통홀(331-1) 및 제2 커버 관통홀(331-2)은 게이트 통로(341)에 노출되지 않고 게이트 부재(340)에 의해 폐쇄될 수 있다. A
액츄에이터(350)는 조절 부재(320) 및 게이트 부재(340)를 이동시킬 수 있다. 액츄에이터(350)는 제1 작동 모드일 때에 조절 부재(320)의 내부가 유출구(111)와 연통되도록 조절 부재(320)를 이동시키고, 유입구(121)와 유입 보조 홀(125)이 서로 연통하지 않도록 게이트 부재(340)를 이동시킬 수 있다. 또한, 액츄에이터(350)는 제2 작동 모드일 때에 조절 부재(320)의 내부가 유출구(111)와 연통하는 것을 차단하고 유출구(111)와 유출 보조 홀(115)이 서로 연통하도록 조절 부재(320)를 이동시키고, 유입구(121)와 유입 보조 홀(125)이 서로 연통하도록 게이트 부재(340)를 이동시킬 수 있다. 이러한 액츄에이터(350)는 예를 들어 조절 부재(320)에 연결된 제1 피스톤 및 게이트 부재(340)에 연결된 제2 피스톤을 포함할 수 있으나, 본 발명의 사상이 반드시 이에 한정되는 것은 아니다. The
제어부는 액츄에이터(350)의 구동을 제어할 수 있다. 제어부는 저온으로 테스트된 전자부품의 온도를 회복시키기 위하여 액츄에이터(350)를 구동시켜 유동 조절 유닛(300)이 제1 작동 모드에 놓이게 하고, 고온으로 테스트된 전자부품의 온도를 회복시키기 위하여 액츄에이터(350)를 구동시켜 유동 조절 유닛(300)이 제2 작동 모드에 놓이게 할 수 있다. 제1 작동 모드와 제2 작동 모드는 서로 다른 유동 경로를 가지므로, 처리 챔버(40)는 저온으로 테스트된 전자부품의 온도를 회복할 때와 고온으로 테스트된 전자부품의 온도를 회복할 때에 서로 다른 유동 경로를 제공할 수 있다. 이러한 제어부는 마이크로프로세서를 포함하는 연산 장치에 의해 구현될 수 있으며, 그 구현 방식은 당업자에게 자명한 사항이므로 더 이상의 자세한 설명을 생략한다. The controller may control the driving of the
이하에서는 도 8 및 도 9를 더 참조하여 상기와 같은 구성을 가지는 처리 챔버(40)의 작동방식에 대하여 설명한다. Hereinafter, an operation method of the
먼저, 도 8을 참조하여 처리 챔버(40)가 제1 작동 모드에 놓였을 때를 설명한다. 처리 챔버(40)는 내부 공간(S1)에 수용된 전자부품(온도 조절 대상물)을 가열시킴으로써 냉각된 전자부품의 온도를 상온으로 회복시킬 수 있으며, 이를 위해 제1 작동 모드로 내부 공간(S1)의 기체를 유동시킬 수 있다. 유동 조절 유닛(300)이 제1 작동 모드에 놓일 때, 조절 부재(320)는 상측으로 이동함으로써 유출구(111)와 연통하여 내부 공간(S1)의 기체가 유출구(111)를 통해 유동 공간(S2)으로 유입된다. First, a description will be given when the
한편, 유동 조절 유닛(300)의 게이트 부재(340)는 하측으로 이동함으로써 커버 관통홀(331)을 차단하여 유동 공간(S2) 내의 기체는 유입구(121)를 통해 내부 공간(S1)으로 유입될 수 있다. 제어부는 조절 부재(320)의 내부가 유출구(111)와 연통하고, 게이트 부재(340)의 게이트 통로(341) 및 커버 관통홀(331)을 차단하도록 액츄에이터(350)를 통하여 조절 부재(320) 및 게이트 부재(340)의 이동을 제어한다. Meanwhile, the
다음으로, 도 9를 참조하여 처리 챔버(40)가 제2 작동 모드에 놓였을 때를 설명한다. 처리 챔버(40)는 내부 공간(S1)에 수용된 전자부품(온도 조절 대상물)을 냉각함으로써 가열된 전자부품의 온도를 상온으로 회복시킬 수 있으며, 이를 위해 제2 작동 모드로 내부 공간(S1)의 기체를 유동시킬 수 있다. 유동 조절 유닛(300)이 제2 작동 모드에 놓일 때, 조절 부재(320)는 하측으로 이동함으로써 유출구(111)를 유출 보조 홀(115)로 연통시켜 내부 공간(S1)의 기체가 통로 바디(101)를 통하여 처리 챔버(40)의 외부로 배출한다[유출구(111) 측의 제2 유동 경로(P2)].Next, a description will be given when the
한편, 유동 조절 유닛(300)의 게이트 부재(340)는 상측으로 이동하여 커버 관통홀(331)과 게이트 통로(341)를 연통시키고 처리 챔버(40) 외부의 기체는 통로 바디(101)를 통해 내부 공간(S1)으로 유입될 수 있다[유입구(121) 측의 제2 유동 경로(P2)]. 제어부는 조절 부재(320)의 내부가 유출구(111)와 연통하지 않고, 게이트 부재(340)의 게이트 통로(341)와 커버 관통홀(331)가 서로 연통하도록 액츄에이터(350)를 통하여 조절 부재(320) 및 게이트 부재(340)의 이동을 제어한다. Meanwhile, the
이상 본 발명의 실시예들을 구체적인 실시 형태로서 설명하였으나, 이는 예시에 불과한 것으로서, 본 발명은 이에 한정되지 않는 것이며, 본 명세서에 개시된 기초 사상에 따르는 최광의 범위를 갖는 것으로 해석되어야 한다. 당업자는 개시된 실시형태들을 조합/치환하여 적시되지 않은 형상의 패턴을 실시할 수 있으나, 이 역시 본 발명의 범위를 벗어나지 않는 것이다. 이외에도 당업자는 본 명세서에 기초하여 개시된 실시형태를 용이하게 변경 또는 변형할 수 있으며, 이러한 변경 또는 변형도 본 발명의 권리범위에 속함은 명백하다.Although the embodiments of the present invention have been described as specific embodiments, these are only examples, and the present invention is not limited thereto and should be construed as having the broadest scope in accordance with the basic idea disclosed herein. Those skilled in the art can combine / substitute the disclosed embodiments to implement a pattern of a timeless shape, but this also does not depart from the scope of the present invention. In addition, those skilled in the art can easily change or modify the disclosed embodiments based on the present specification, it is apparent that such changes or modifications belong to the scope of the present invention.
1: 핸들러
10: 로딩장치
20: 공정 챔버
30: 테스트 챔버
40: 처리 챔버
41: 챔버 바디
42: 유동기
50: 언로딩 장치
100: 통로부
101: 통로 바디
102: 내측 통로벽
103: 외측 통로벽
111: 유출구
115: 유출 보조 홀
116: 가이드
117: 설치부
121: 유입구
125 유입 보조홀
200: 유동 장치
210: 기체 배출 유닛
211: 배출팬
211-1: 내측 배출 팬
211-2: 외측 배출 팬
212: 스페이서
220: 기체 공급 유닛
222: 공급팬
222-1: 제1 메인 공급팬
222-2: 제2 메인 공급팬
223-1: 제1 보조 공급팬
223-2: 제2 보조 공급팬
300: 유동 조절 유닛
320: 조절 부재
321: 내측 조절부
321-1: 제1 개구
321-2: 제2 개구
322: 외측 조절부
330: 커버 부재
331: 커버 관통홀
331-1: 제1 커버 관통홀
331-2: 제2 커버 관통홀
340: 게이트 부재
341: 게이트 통로
350: 액츄에이터
1: handler 10: loading device
20: process chamber 30: test chamber
40: process chamber 41: chamber body
42: fluidizer 50: unloading device
100: passage portion 101: passage body
102: inner passage wall 103: outer passage wall
111: outlet 115: outlet auxiliary hole
116: guide 117: mounting portion
121:
200: flow device 210: gas discharge unit
211: exhaust fan 211-1: inner exhaust fan
211-2: Outer exhaust fan 212: Spacer
220: gas supply unit 222: supply fan
222-1: first main supply fan 222-2: second main supply fan
223-1: first auxiliary supply fan 223-2: second auxiliary supply fan
300: flow control unit 320: adjustment member
321: Inner adjusting portion 321-1: First opening
321-2: second opening 322: outer adjustment portion
330: cover member 331: cover through hole
331-1: First cover through hole 331-2: Second cover through hole
340: gate member 341: gate passage
350: actuator
Claims (6)
상기 처리 챔버의 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하고, 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 유동 장치;
통로 바디, 상기 내부 공간으로부터 기체를 배출하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유출구 및 상기 내부 공간으로 기체를 공급하기 위해 상기 통로 바디에 형성된 유입구를 포함하는 통로부; 및
상기 통로부 내에서의 기체 유동 경로를 제어하는 유동 조절 유닛을 포함하고,
상기 유동 조절 유닛은,
상기 유입구와 상기 유출구 사이의 제1 유동 경로를 개방하고, 상기 처리 챔버의 외측과 상기 내부 공간 사이의 제2 유동 경로를 차단하는 제1 작동 모드; 및
상기 제2 유동 경로를 개방하는 제2 작동 모드를 갖고,
상기 유동 조절 유닛은 상기 제1 작동 모드 및 상기 제2 작동 모드 중 어느 하나의 작동 모드로 선택적으로 구동되는,
처리 챔버.A processing chamber in which an internal space in which gas can flow is formed,
A flow device for discharging gas from the internal space of the processing chamber and supplying gas to the internal space;
A passage portion including a passage body, an outlet formed in the passage body for discharging gas from the inner space, and an inlet formed in the passage body for supplying gas to the inner space; And
A flow control unit for controlling a gas flow path in the passage section,
The flow control unit,
A first mode of operation that opens a first flow path between the inlet and the outlet and blocks a second flow path between the outside of the processing chamber and the interior space; And
Has a second mode of operation for opening said second flow path,
The flow regulating unit is selectively driven in one of the first operating mode and the second operating mode,
Processing chamber.
상기 유동 장치는,
상기 유입구 측에 구비되고 상기 내부 공간으로 기체를 공급하는 기체 공급 유닛을 포함하고,
상기 기체 공급 유닛은,
상기 통로 바디에서 상기 내부 공간 측으로 배치되는 제1 메인 공급팬; 및 상기 통로 바디에서 상기 내부 공간의 반대측에 배치되고, 상기 제1 메인 공급팬과 대향하는 제1 보조 공급팬을 포함하고,
상기 유동 조절 유닛은,
상기 제1 작동 모드에서 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 유입되도록 안내하고 상기 제2 작동 모드에서 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 제1 메인 공급팬 측으로 유입되는 것을 차단하도록 작동하는 조절 부재를 포함하는,
처리 챔버.The method of claim 1,
The flow device,
A gas supply unit provided on the inlet side and supplying gas to the internal space,
The gas supply unit,
A first main supply fan disposed from the passage body toward the inner space; And a first auxiliary supply fan disposed on an opposite side of the inner space in the passage body and facing the first main supply fan.
The flow control unit,
Guide the gas supplied from the outlet in the first operating mode to flow into the first main supply fan side and prevent the gas supplied from the outlet in the second operating mode from entering the first main supply fan side. Including an adjustment member to make,
Processing chamber.
상기 통로 바디 및 상기 조절 부재는 기체가 유동할 수 있도록 상기 유출구 측으로부터 상기 유입구 측으로 연장되는 유동 공간을 제공하고,
상기 조절 부재는,
상기 제1 작동 모드일 때에 상기 유출구 측으로 이동함으로써 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 유동 공간을 통하여 상기 유입구 측으로 이동하도록 안내하고, 상기 제2 작동 모드일 때에 상기 유입구 측으로 이동함으로써 상기 유출구로부터 공급된 기체가 상기 유입구 측으로 이동하는 것을 차단하는,
처리 챔버.The method of claim 2,
The passage body and the regulating member provide a flow space extending from the outlet side to the inlet side to allow gas to flow;
The adjustment member,
Gas supplied from the outlet by moving to the outlet side when in the first operating mode guides the movement of gas from the outlet to the inlet side through the flow space, and gas supplied from the outlet by moving to the inlet side when in the second operating mode To prevent movement to the inlet side,
Processing chamber.
상기 기체 공급 유닛은,
상기 통로 바디에서 상기 내부 공간 측으로 배치되면서 상기 제1 메인 공급팬과 소정 거리 이격 배치되는 제2 메인 공급팬; 및
상기 통로 바디에서 상기 내부 공간의 반대측에 배치되는 제2 보조 공급팬을 더 포함하고,
상기 유동 조절 유닛은,
상기 제1 작동 모드에서는 기체가 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬으로부터 상기 제1 메인 공급팬 및 상기 제2 메인 공급팬으로 유동하는 것을 차단하며, 상기 제2 작동 모드에서는 기체가 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬으로부터 상기 제1 메인 공급팬 및 상기 제2 메인 공급팬으로 유동하는 것을 허용하도록 제공되는 게이트 부재를 더 포함하는,
처리 챔버.The method of claim 2,
The gas supply unit,
A second main supply fan disposed in the passage body and spaced apart from the first main supply fan by a predetermined distance; And
A second auxiliary supply fan disposed opposite the inner space in the passage body;
The flow control unit,
In the first operating mode, gas is prevented from flowing from the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan to the first main supply fan and the second main supply fan, and in the second operating mode, the gas And a gate member provided to allow flow from the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan to the first main supply fan and the second main supply fan,
Processing chamber.
상기 유동 조절 유닛은 커버 관통홀이 형성된 커버 부재를 더 포함하고,
상기 게이트 부재에는 상기 제2 작동 모드에서 상기 제1 보조 공급팬 및 상기 제2 보조 공급팬 중 적어도 어느 하나에 대향하게 배치되는 게이트 통로가 형성되며,
상기 게이트 부재는,
상기 제1 작동 모드에서는 상기 커버 관통홀을 차단하고, 상기 제2 작동 모드에서는 상기 커버 관통홀과 상기 게이트 통로를 서로 연통시키도록 구동되는,
처리 챔버.The method of claim 4, wherein
The flow control unit further includes a cover member formed with a cover through hole,
The gate member is formed with a gate passage disposed opposite to at least one of the first auxiliary supply fan and the second auxiliary supply fan in the second operating mode,
The gate member,
The cover through hole is blocked in the first operating mode, and the cover through hole and the gate passage are driven to communicate with each other in the second operating mode.
Processing chamber.
로딩이 완료된 상기 전자부품을 테스트 설정 온도로 예열 또는 예냉하는 공정 챔버;
상기 예열 또는 예냉된 상기 전자부품을 테스트하는 테스트 챔버;
상기 테스트가 완료된 상기 전자부품의 온도를 기 설정된 온도로 회복시키도록 제공되는 제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 따른 처리 챔버; 및
상기 처리 챔버에 의해 상기 기 설정된 온도로 회복된 상기 전자부품을 언로딩하는 언로딩장치를 포함하는 핸들러.A loading device for loading an electronic component;
A process chamber for preheating or precooling the loaded electronic component to a test set temperature;
A test chamber for testing the preheated or precooled electronic component;
The processing chamber according to any one of claims 1 to 5, which is provided to restore the temperature of the electronic component in which the test is completed to a predetermined temperature; And
And an unloading device for unloading the electronic component restored to the preset temperature by the processing chamber.
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20180327 |
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| PG1501 | Laying open of application | ||
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| PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20201216 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20180327 Comment text: Patent Application |
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| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20220217 Patent event code: PE09021S01D |
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| PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20220818 |
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| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20221118 Patent event code: PR07011E01D |
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Payment date: 20221121 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
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| PG1601 | Publication of registration |