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KR20170005787A - Curable composition, electroconductive material, and connection structure - Google Patents

Curable composition, electroconductive material, and connection structure Download PDF

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KR20170005787A
KR20170005787A KR1020167012327A KR20167012327A KR20170005787A KR 20170005787 A KR20170005787 A KR 20170005787A KR 1020167012327 A KR1020167012327 A KR 1020167012327A KR 20167012327 A KR20167012327 A KR 20167012327A KR 20170005787 A KR20170005787 A KR 20170005787A
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KR
South Korea
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compound
curable composition
curable
group
electrode
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KR1020167012327A
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Korean (ko)
Inventor
히데아끼 이시자와
다까시 구보따
히데후미 야스이
다까시 신조우
Original Assignee
세키스이가가쿠 고교가부시키가이샤
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Publication date
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Abstract

접속 대상 부재의 접착성을 높일 수 있는 경화성 조성물을 제공한다. 본 발명에 따른 경화성 조성물은, 하기 식 (11)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 상기 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어지는 경화성 화합물과, 열경화제 및 광경화 개시제 중 적어도 1종을 포함한다. 상기 식 (11) 중, X는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 페닐렌기를 나타내고, R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다.

Figure pct00020
Provided is a curable composition capable of enhancing adhesiveness of a member to be connected. The curable composition according to the present invention is a curable composition comprising a first compound obtained by a reaction between a compound represented by the following formula (11) and a diol compound, and a second compound having an isocyanate group and an unsaturated double bond And at least one of a thermosetting agent and a photo-curing initiator. In the formula (11), X represents an alkylene group or a phenylene group having 2 to 10 carbon atoms, and R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.
Figure pct00020

Description

경화성 조성물, 도전 재료 및 접속 구조체 {CURABLE COMPOSITION, ELECTROCONDUCTIVE MATERIAL, AND CONNECTION STRUCTURE}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to a curable composition, a conductive material, and a connection structure,

본 발명은 접착성이 우수한 경화성 조성물에 관한 것이다. 또한 본 발명은 상기 경화성 조성물을 사용한 도전 재료 및 접속 구조체에 관한 것이다.The present invention relates to a curable composition having excellent adhesiveness. The present invention also relates to a conductive material and a connection structure using the curable composition.

경화성 화합물을 포함하는 경화성 조성물은, 전기, 전자, 건축 및 차량 등의 각종 용도에 널리 사용되고 있다.Curable compositions containing a curable compound are widely used in various applications such as electricity, electronics, construction, and vehicles.

상기 경화성 조성물의 일례로서, 하기 특허문헌 1에는, (A) 특정한 페녹시 수지와, (B) 무기 충전제와, (C) 실란 커플링제를 포함하는 경화성 조성물이 개시되어 있다. 해당 경화성 조성물 전체에 대하여, 상기 (C) 실란 커플링제의 함유량은 1질량% 이상 10질량% 이하이다.As an example of the curable composition, Patent Document 1 below discloses a curable composition comprising (A) a specific phenoxy resin, (B) an inorganic filler, and (C) a silane coupling agent. The content of the silane coupling agent (C) is 1% by mass or more and 10% by mass or less with respect to the entire curable composition.

상기 경화성 조성물에 도전성 입자가 배합되는 경우가 있다. 도전성 입자를 포함하는 경화성 조성물은 이방성 도전 재료라 불리고 있다. 상기 이방성 도전 재료는, 다양한 접속 대상 부재를 접속하여 각종 접속 구조체를 얻기 위하여 사용되고 있다.Conductive particles may be blended in the curable composition. The curable composition containing conductive particles is called an anisotropic conductive material. The anisotropic conductive material is used for connecting various connection target members to obtain various connection structures.

상기 이방성 도전 재료는, 예를 들어 플렉시블 프린트 기판과 유리 기판의 접속(FOG(Film on Glass)), 반도체 칩과 플렉시블 프린트 기판의 접속(COF(Chip on Film)), 반도체 칩과 유리 기판의 접속(COG(Chip on Glass)), 및 플렉시블 프린트 기판과 유리 에폭시 기판의 접속(FOB(Film on Board)) 등에 사용되고 있다.For example, the anisotropic conductive material can be used as a material for the connection between a flexible printed circuit board and a glass substrate (FOG (Film on Glass), a connection between a semiconductor chip and a flexible printed circuit (COF (Chip on Film) (COG (Chip on Glass)), and connection of a flexible printed board and a glass epoxy board (FOB (Film on Board)).

또한 최근 들어, 터치 패널을 탑재한 전자 기기의 사용이 증가하고 있다. 예를 들어 휴대 전화, 스마트폰, 카 내비게이션 및 퍼스널 컴퓨터 등의 전자 기기에 있어서는, 터치 패널이 사용되고 있다. 터치 패널 등에서는, 접속 대상 부재로서 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름이 사용되는 경우가 있다. 구체적으로는, 터치 패널에서는, 은 전극 등이 주위에 형성된 PET 필름과, 플렉시블 프린트 기판이 경화성 조성물에 의하여 접합되는 경우가 있다. 최근 들어, PET 필름을 사용한 접속 구조체의 시장 규모가 확대되고 있다.Recently, the use of electronic devices equipped with touch panels is increasing. For example, touch panels are used in electronic devices such as cellular phones, smart phones, car navigation systems, and personal computers. In a touch panel or the like, a polyethylene terephthalate (PET) film may be used as a member to be connected. Specifically, in a touch panel, a PET film in which a silver electrode or the like is formed around a flexible printed substrate may be bonded by a curable composition. Recently, the market size of connection structures using PET films is expanding.

상기 이방성 도전 재료의 일례로서, 하기 특허문헌 2에는, 가열에 의하여 유리 라디칼을 발생시키는 경화제와, 분자량 10000 이상의 수산기 함유 수지와, 인산에스테르와, 라디칼 중합성 물질과, 도전성 입자를 포함하는 이방성 도전 재료(경화성 조성물)가 개시되어 있다. 상기 수산기 함유 수지로서는, 구체적으로는, 폴리비닐부티랄 수지, 폴리비닐포르말, 폴리아미드, 폴리에스테르, 페놀 수지, 에폭시 수지 및 페녹시 수지 등의 중합체가 예시되어 있다.As an example of the anisotropic conductive material, Patent Document 2 discloses an anisotropic conductive material comprising a curing agent that generates free radicals by heating, a hydroxyl group-containing resin having a molecular weight of 10,000 or more, a phosphoric acid ester, a radical polymerizable material, (Curable composition) is disclosed. Specific examples of the hydroxyl group-containing resin include polymers such as polyvinyl butyral resin, polyvinyl formal, polyamide, polyester, phenol resin, epoxy resin and phenoxy resin.

일본 특허 공개 제2013-23503호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2013-23503 일본 특허 공개 제2005-314696호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2005-314696

특허문헌 1, 2에 기재된 바와 같은 종래의 경화성 조성물에서는, 접속 대상 부재의 접착성이 낮다는 문제가 있다. 특히 종래의 경화성 조성물에서는, PET 필름을 접착했을 때 PET 필름이 용이하게 박리되기 쉽다는 문제가 있다.In conventional curable compositions as described in Patent Documents 1 and 2, there is a problem that adhesiveness of a member to be connected is low. Particularly, in the conventional curable composition, there is a problem that the PET film is easily peeled off when the PET film is adhered.

본 발명의 목적은, 접속 대상 부재의 접착성을 높일 수 있는 경화성 조성물을 제공하는 것, 및 상기 경화성 조성물을 사용한 도전 재료 및 접속 구조체를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a curable composition which can increase the adhesiveness of members to be connected, and to provide a conductive material and a connection structure using the curable composition.

또한 본 발명의 한정적인 목적은, PET 필름의 접착성을 높일 수 있어, PET 필름을 접착했다고 하더라도 PET 필름의 박리를 억제할 수 있는 경화성 조성물을 제공하는 것, 및 상기 경화성 조성물을 사용한 도전 재료 및 접속 구조체를 제공하는 것이다. 또한 본 발명에 따른 경화성 조성물은 PET 필름의 접착에 적절히 사용되지만, 본 발명에 따른 경화성 조성물의 용도는 PET 필름의 접착에 한정되지 않는다.It is a further object of the present invention to provide a curable composition capable of improving adhesion of a PET film and capable of suppressing peeling of a PET film even when a PET film is adhered, To provide a connection structure. Also, the curable composition according to the present invention is suitably used for bonding PET film, but the use of the curable composition according to the present invention is not limited to adhesion of PET film.

본 발명의 넓은 국면에 따르면, 하기 식 (11)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 상기 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어지는 경화성 화합물과, 열경화제를 포함하는, 경화성 조성물이 제공된다.According to a broad aspect of the present invention, there is provided a process for producing a second compound having an isocyanate group and an unsaturated double bond by using a first compound obtained by a reaction between a compound represented by the following formula (11) And a thermosetting agent are provided.

Figure pct00001
Figure pct00001

상기 식 (11) 중, X는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 페닐렌기를 나타내고, R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다.In the formula (11), X represents an alkylene group or a phenylene group having 2 to 10 carbon atoms, and R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

본 발명에 따른 경화성 조성물의 어느 특정한 국면에서는, 상기 식 (11)로 표시되는 화합물이, 하기 식 (11A)로 표시되는 화합물이다.In a specific aspect of the curable composition according to the present invention, the compound represented by the formula (11) is a compound represented by the following formula (11A).

Figure pct00002
Figure pct00002

상기 식 (11A) 중, R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다.In the formula (11A), R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

본 발명에 따른 경화성 조성물의 어느 특정한 국면에서는, 상기 식 (11)로 표시되는 화합물이, 테레프탈산, 테레프탈산알킬에스테르, 이소프탈산 또는 이소프탈산알킬에스테르이다.In a specific aspect of the curable composition according to the present invention, the compound represented by the formula (11) is terephthalic acid, terephthalic acid alkyl ester, isophthalic acid or isophthalic acid alkyl ester.

본 발명에 따른 경화성 조성물의 어느 특정한 국면에서는, 상기 디올 화합물이 1,6-헥산디올을 포함하고, 다른 특정한 국면에서는, 상기 디올 화합물이 비스페놀 A 또는 비스페놀 F를 포함하며, 또 다른 특정한 국면에서는, 상기 디올 화합물이 1,6-헥산디올과, 비스페놀 A 또는 비스페놀 F를 포함한다.In a specific aspect of the curable composition according to the present invention, the diol compound comprises 1,6-hexanediol, and in another specific aspect, the diol compound comprises bisphenol A or bisphenol F, and in another specific aspect, The diol compound includes 1,6-hexanediol and bisphenol A or bisphenol F.

본 발명에 따른 경화성 조성물의 어느 특정한 국면에서는, 상기 제2 화합물이, 불포화 2중 결합을 포함하는 기로서 (메트)아크릴로일기를 갖고, 다른 특정한 국면에서는, 상기 제2 화합물이 (메트)아크릴로일옥시알킬옥시이소시아네이트이다.In a specific aspect of the curable composition according to the present invention, the second compound has a (meth) acryloyl group as a group containing an unsaturated double bond, and in another specific aspect, the second compound is a Butyloxy oxy isocyanate.

본 발명에 따른 경화성 조성물의 어느 특정한 국면에서는, 상기 경화성 화합물의 중량 평균 분자량이 8000 이상 50000 이하이다.In a specific aspect of the curable composition according to the present invention, the curable compound has a weight average molecular weight of 8000 to 50,000.

상기 경화성 조성물은, 4급 암모늄염 화합물 또는 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 상기 경화성 조성물은, 상기 4급 암모늄염 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 상기 경화성 조성물은, 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물을 포함하는 것이 바람직하다.The curable composition preferably contains a quaternary ammonium salt compound or a (meth) acrylic compound having a hydroxyl group. The curable composition preferably contains the quaternary ammonium salt compound. The curable composition preferably contains a (meth) acrylic compound having a hydroxyl group.

본 발명에 따른 경화성 조성물의 어느 특정한 국면에서는, 상기 열경화제가 열 라디칼 발생제이다.In a specific aspect of the curable composition according to the present invention, the thermosetting agent is a thermal radical generator.

본 발명에 따른 경화성 조성물의 어느 특정한 국면에서는, 상기 경화성 조성물을 140℃ 및 10초로 경화시켰을 때 얻어지는 경화물의 파단 신장이 500% 이상이다.In a specific aspect of the curable composition according to the present invention, the cured product obtained by curing the curable composition at 140 캜 and 10 seconds has a breaking elongation of 500% or more.

본 발명에 따른 경화성 조성물은, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름의 접착에 적절히 사용되고, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 접착용의 경화성 조성물인 것이 바람직하다. 본 발명에 따른 경화성 조성물은, 터치 패널에 있어서, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름의 접착에 적절히 사용되고, 터치 패널에 있어서의 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 접착용의 경화성 조성물인 것이 바람직하다.The curable composition according to the present invention is suitably used for bonding a polyethylene terephthalate film and is preferably a curable composition for bonding a polyethylene terephthalate film. The curable composition according to the present invention is suitably used for adhesion of a polyethylene terephthalate film in a touch panel and is preferably a curable composition for bonding a polyethylene terephthalate film in a touch panel.

본 발명의 넓은 국면에 따르면, 하기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물과, 열경화제를 포함하는, 경화성 조성물이 제공된다.According to a broad aspect of the present invention, there is provided a curable composition comprising a curable compound represented by the following formula (1) and a thermosetting agent.

Figure pct00003
Figure pct00003

상기 식 (1) 중, R1, R2는 각각 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, R3 및 R4는 각각 수소 원자, 메틸기 또는 페닐기를 나타내며, X는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 폴리에테르기를 나타내고, Y는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 페닐렌기를 나타내며, n1 및 n2는 각각 1 또는 2를 나타내고, m은, 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물의 중량 평균 분자량이 8000 이상 50000 이하가 되는 정수를 나타낸다.R 1 and R 2 are each a hydrogen atom or a methyl group, R 3 and R 4 are each a hydrogen atom, a methyl group or a phenyl group, X is an alkylene group or a polyether group having 2 to 10 carbon atoms, Y is N1 and n2 each represent 1 or 2, and m represents an integer in which the weight average molecular weight of the curable compound represented by the formula (1) is 8000 or more and 50000 or less .

본 발명의 넓은 국면에 따르면, 상술한 경화성 조성물과 도전성 입자를 포함하는, 도전 재료가 제공된다.According to a broad aspect of the present invention, there is provided a conductive material comprising the above-described curable composition and conductive particles.

본 발명에 따른 도전 재료의 어느 특정한 국면에서는, 상기 경화성 화합물의 함유량이 50중량% 이상이다.In a specific aspect of the conductive material according to the present invention, the content of the curable compound is 50% by weight or more.

본 발명에 따른 도전 재료의 어느 특정한 국면에서는, 상기 도전성 입자가 땜납을 도전성의 외표면에 갖는다.In a specific aspect of the conductive material according to the present invention, the conductive particles have solder on the conductive outer surface.

본 발명의 넓은 국면에 따르면, 제1 접속 대상 부재와, 제2 접속 대상 부재와, 상기 제1 접속 대상 부재와 상기 제2 접속 대상 부재를 접속하고 있는 접속부를 구비하며, 상기 접속부가, 상술한 경화성 조성물을 경화시킴으로써 형성되어 있는, 접속 구조체가 제공된다.According to a broad aspect of the present invention, there is provided a communication device including a first connection object member, a second connection object member, and a connection portion connecting the first connection object member and the second connection object member, Wherein the connecting structure is formed by curing the curable composition.

본 발명에 따른 접속 구조체의 어느 특정한 국면에서는, 상기 제1 접속 대상 부재가 제1 전극을 표면에 갖고, 상기 제2 접속 대상 부재가 제2 전극을 표면에 가지며, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극이 접촉함으로써 전기적으로 접속되어 있다.In a specific aspect of the connection structure according to the present invention, the first connection target member has the first electrode on the surface, the second connection target member has the second electrode on the surface, and the first electrode and the second The electrodes are electrically connected by contact.

본 발명의 넓은 국면에 따르면, 제1 전극을 표면에 갖는 제1 접속 대상 부재와, 제2 전극을 표면에 갖는 제2 접속 대상 부재와, 상기 제1 접속 대상 부재와 상기 제2 접속 대상 부재를 접속하고 있는 접속부를 구비하며, 상기 접속부가, 상술한 도전 재료를 경화시킴으로써 형성되어 있고, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극이 상기 도전성 입자에 의하여 전기적으로 접속되어 있는, 접속 구조체가 제공된다.According to a broad aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display device including a first connection target member having a first electrode on a surface thereof, a second connection target member having a second electrode on a surface thereof, And the connection portion is formed by curing the above-described conductive material, and the first electrode and the second electrode are electrically connected by the conductive particles.

본 발명에 따른 경화성 조성물은, 경화성 화합물과, 열경화제를 포함하고, 상기 경화성 화합물이, 식 (11)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 해당 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어지므로, 접속 대상 부재의 접착성을 높일 수 있다.The curable composition according to the present invention comprises a curable compound and a thermosetting agent, wherein the curable compound is a first compound obtained by a reaction between a compound represented by the formula (11) and a diol compound, Is reacted with a second compound having an isocyanate group and an unsaturated double bond, the adhesiveness of the member to be connected can be enhanced.

본 발명에 따른 경화성 조성물은, 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물과, 열경화제를 포함하므로, 접속 대상 부재의 접착성을 높일 수 있다.Since the curable composition according to the present invention contains the curable compound represented by the formula (1) and a heat curing agent, the adhesion of the member to be connected can be enhanced.

도 1은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 경화성 조성물과 도전성 입자를 포함하는 도전 재료를 사용하여 얻어지는 접속 구조체를 모식적으로 도시하는 정면 단면도이다.
도 2는 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 경화성 조성물을 사용하여 얻어지는 접속 구조체를 모식적으로 도시하는 정면 단면도이다.
도 3은 본 발명의 제3 실시 형태에 따른 경화성 조성물을 사용하여 얻어지는 접속 구조체를 모식적으로 도시하는 정면 단면도이다.
도 4는 도 1에 도시하는 접속 구조체에 있어서의 도전성 입자와 전극의 접속 부분을 확대하여 모식적으로 도시하는 정면 단면도이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시 형태에서 사용한 도전 재료에 사용 가능한 도전성 입자의 일례를 도시하는 단면도이다.
도 6은 도전성 입자의 변형예를 도시하는 단면도이다.
도 7은 도전성 입자의 다른 변형예를 도시하는 단면도이다.
1 is a front sectional view schematically showing a connection structure obtained by using a conductive material including a curable composition and conductive particles according to a first embodiment of the present invention.
2 is a front sectional view schematically showing a connection structure obtained by using the curable composition according to the second embodiment of the present invention.
3 is a front sectional view schematically showing a connection structure obtained using the curable composition according to the third embodiment of the present invention.
Fig. 4 is a front cross-sectional view schematically showing an enlarged connection portion between the conductive particles and the electrode in the connection structure shown in Fig. 1. Fig.
5 is a cross-sectional view showing an example of conductive particles usable in the conductive material used in the first embodiment of the present invention.
6 is a cross-sectional view showing a modified example of the conductive particle.
7 is a cross-sectional view showing another modification of the conductive particle.

이하, 본 발명의 상세를 설명한다.Hereinafter, the details of the present invention will be described.

(경화성 조성물)(Curable composition)

본 발명에 따른 경화성 조성물은, 하기 식 (11)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 해당 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어지는 경화성 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 이 경화성 화합물을 얻기 위한 반응에 의하여, 예를 들어 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물 등을 얻는 것이 가능하다. 본 발명에 따른 경화성 조성물은, 상기 경화성 화합물을 경화시키기 위하여 열경화제를 포함한다.The curable composition according to the present invention is a curable composition comprising a first compound obtained by a reaction between a compound represented by the following formula (11) and a diol compound, and a second compound having an isocyanate group and an unsaturated double bond And a curing compound which is obtained by reacting a curing compound. By the reaction for obtaining the curable compound, for example, the curable compound represented by the formula (1) can be obtained. The curable composition according to the present invention comprises a thermosetting agent for curing the curable compound.

Figure pct00004
Figure pct00004

상기 식 (11) 중, X는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 페닐렌기를 나타내고, R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다.In the formula (11), X represents an alkylene group or a phenylene group having 2 to 10 carbon atoms, and R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

또한 본 발명에 따른 경화성 조성물은, 하기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물은, 예를 들어 식 (11)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 해당 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시키는 방법 등에 의하여 얻는 것이 가능하다. 본 발명에 따른 경화성 조성물은, 상기 경화성 화합물을 경화시키기 위하여 열경화제를 포함한다.The curable composition according to the present invention preferably contains a curable compound represented by the following formula (1). The curable compound represented by the formula (1) can be obtained by, for example, using a first compound obtained by a reaction between a compound represented by the formula (11) and a diol compound, and adding an isocyanate group and an unsaturated double bond Or a method of reacting a second compound having a functional group represented by the formula The curable composition according to the present invention comprises a thermosetting agent for curing the curable compound.

Figure pct00005
Figure pct00005

상기 식 (1) 중, R1, R2는 각각 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, R3 및 R4는 각각 수소 원자, 메틸기 또는 페닐기를 나타내며, X는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 폴리에테르기를 나타내고, Y는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 페닐렌기를 나타내며, n1 및 n2는 각각 1 또는 2를 나타내고, m은, 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물의 중량 평균 분자량이 8000 이상 50000 이하가 되는 정수를 나타낸다.R 1 and R 2 are each a hydrogen atom or a methyl group, R 3 and R 4 are each a hydrogen atom, a methyl group or a phenyl group, X is an alkylene group or a polyether group having 2 to 10 carbon atoms, Y is N1 and n2 each represent 1 or 2, and m represents an integer in which the weight average molecular weight of the curable compound represented by the formula (1) is 8000 or more and 50000 or less .

본 발명에 따른 경화성 조성물에서는 상술한 조성이 채용되어 있으므로, 접속 대상 부재의 접착성을 높일 수 있다. 이는, 상기 경화성 화합물이, 적당한 유연성을 갖는 골격 구조를 갖기 때문인 것으로 생각된다.In the curable composition according to the present invention, since the above-mentioned composition is adopted, the adhesiveness of the member to be connected can be enhanced. This is thought to be due to the fact that the curable compound has a skeletal structure with suitable flexibility.

또한 본 발명에 따른 경화성 조성물에서는 상술한 조성이 채용되어 있으므로, 특히 상기 경화성 화합물의 구조에 기인하여 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET) 필름의 접착성을 높일 수 있다. 이는, 상기 경화성 화합물이, 적당한 유연성을 갖는 골격 구조를 가질 뿐만 아니라, PET와 유사한 구조를 갖기 때문인 것으로 생각된다.Further, since the above-mentioned composition is employed in the curable composition according to the present invention, the adhesion of the polyethylene terephthalate (PET) film can be enhanced, especially due to the structure of the curable compound. This is considered to be because the curable compound has not only a skeleton structure having suitable flexibility but also a structure similar to that of PET.

본 발명에 따른 경화성 조성물에서는 특히 PET 필름의 접착성의 향상 효과가 크게 얻어지지만, 다른 접속 대상 부재의 접착성의 향상 효과도 얻어진다.In the curable composition according to the present invention, particularly, the effect of improving the adhesiveness of the PET film is largely obtained, but the adhesiveness of other members to be connected can also be improved.

또한 본 발명에 따른 경화성 조성물을 사용하여 접속 대상 부재를 접속했을 때, 얻어지는 접속 구조체가 고온 하 또는 고습 하에 노출되더라도 박리가 발생하기 어려워진다.Further, when the connection target member is connected using the curable composition according to the present invention, the resulting connection structure is less prone to peeling even when exposed to high temperature or high humidity.

상기 경화성 조성물은 상기 열경화제를 포함한다. 상기 경화성 조성물을 가열에 의하여 경화시킴으로써 접속 대상 부재의 접착성이 높아진다. 상기 경화성 조성물은 상기 광경화 개시제를 포함하지 않거나 또는 포함한다. 광의 조사에 의하여 경화를 진행시킨 후에 가열에 의하여 경화시킴으로써 경화성 조성물의 과도한 유동을 억제하는 관점에서는, 상기 경화성 조성물은 상기 광경화 개시제를 포함하는 것이 바람직하다. 한편, 가열에 의한 경화의 비율을 증가시켜 접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 경화성 조성물은 상기 광경화 개시제를 포함하지 않을 수도 있다. 상기 광경화 개시제를 사용하지 않으면, 상기 경화성 조성물을 경화시키기 위하여, 광의 조사를 행하지 않고 가열만을 행할 수 있으므로, 접속 구조체의 제조 효율이 높아진다.The curable composition includes the thermosetting agent. By curing the curable composition by heating, adhesiveness of the member to be connected is enhanced. The curable composition does not contain or contain the photocurable initiator. From the standpoint of suppressing excessive flow of the curable composition by curing by irradiation of light and then curing by heating, it is preferable that the curable composition includes the photocurable initiator. On the other hand, from the viewpoint of increasing the rate of curing by heating to further increase the adhesiveness of the member to be connected, the curable composition may not contain the photo-curing initiator. If the photocuring initiator is not used, only the heating can be performed without light irradiation for curing the curable composition, so that the manufacturing efficiency of the connection structure is enhanced.

상기 경화성 조성물을 140℃ 및 10초로 경화시켰을 때 얻어지는 경화물의 파단 신장은, 바람직하게는 500% 이상, 보다 바람직하게는 700% 이상이다. 또한 후술하는 도전 재료에 포함되는 경화성 조성물을 140℃ 및 10초로 경화시켰을 때 얻어지는 경화물의 파단 신장은, 바람직하게는 500% 이상, 보다 바람직하게는 700% 이상이다. 상기 파단 신장이 상기 하한 이상이면, 접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높일 수 있다. 또한 상기 파단 신장의 측정에 있어서의 도전 재료에 포함되는 경화성 조성물에 대해서는, 도전 재료의 배합 시에 사용하는 경화성 조성물(도전성 입자를 제외한 각 배합 성분의 혼합물)을 사용할 수도 있고, 도전 재료로부터 도전성 입자를 제거한 경화성 조성물을 사용할 수도 있다.The cured product obtained by curing the curable composition at 140 캜 for 10 seconds has a breaking elongation of preferably 500% or more, and more preferably 700% or more. The cured composition contained in the conductive material to be described later, when cured at 140 占 폚 for 10 seconds, preferably has a breaking elongation of 500% or more, and more preferably 700% or more. When the breaking elongation is equal to or lower than the lower limit, the adhesiveness of the member to be connected is further increased, and in particular, the adhesion of the PET film can be further enhanced. As the curable composition contained in the conductive material in the measurement of the elongation at break, a curable composition (a mixture of the respective components other than the conductive particles) used for compounding the conductive material may be used, or conductive particles The curable composition may be used.

상기 파단 신장은, 인장 시험기를 사용하여 상기 경화물을 23℃ 및 인장 속도 1㎜/분 및 척 간 거리 40㎜의 조건에서 인장했을 때의, 파단되었을 때의 척 간 거리의 신장률의 값이다.The breaking elongation is a value of the elongation of the chuck when the cured product is broken when the cured product is stretched under conditions of 23 ° C and a tensile speed of 1 mm / min and a chuck distance of 40 mm using a tensile tester.

접착성을 한층 더 높이기 위하여, 본 발명에 따른 경화성 조성물은, 4급 암모늄염 화합물 또는 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 이 경우에 접착성을 효과적으로 높이기 위하여, 본 발명에 따른 경화성 조성물은, 상기 4급 암모늄염 화합물과, 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물의 양쪽을 포함하고 있을 수도 있다. 접착성을 한층 더 높이기 위하여, 또한 고온 하에서의 박리를 억제하기 위하여, 본 발명에 따른 경화성 조성물은 상기 4급 암모늄염 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 접착성을 한층 더 높이기 위하여, 본 발명에 따른 경화성 조성물은, 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물을 포함하는 것이 바람직하다.In order to further increase the adhesiveness, the curable composition according to the present invention preferably contains a quaternary ammonium salt compound or a (meth) acrylic compound having a hydroxyl group. In order to effectively increase the adhesiveness in this case, the curable composition according to the present invention may contain both the quaternary ammonium salt compound and the (meth) acrylic compound having the hydroxyl group. In order to further increase the adhesiveness and to suppress the peeling at a high temperature, the curable composition according to the present invention preferably contains the quaternary ammonium salt compound. In order to further increase the adhesiveness, the curable composition according to the present invention preferably contains a (meth) acrylic compound having a hydroxyl group.

이하, 본 발명에 따른 경화성 조성물에 사용할 수 있는 각 성분의 상세를 설명한다.Hereinafter, details of each component usable in the curable composition according to the present invention will be described.

[경화성 화합물][Curable compound]

상기 경화성 화합물은, 식 (11)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 해당 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어진다. 상기 반응은 탈수 축합 반응 또는 탈알코올 반응이다. 상기 식 (11)로 표시되는 화합물은 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다. 상기 디올 화합물은 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다. 상기 경화성 화합물을 얻기 위하여, 상기 제1 화합물은 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다. 상기 경화성 화합물을 얻기 위하여, 상기 제2 화합물은 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.The curable compound is obtained by reacting a first compound obtained by the reaction of a compound represented by the formula (11) with a diol compound and then reacting the first compound with a second compound having an isocyanate group and an unsaturated double bond Loses. The reaction is a dehydration condensation reaction or a deberalcohol reaction. The compound represented by the formula (11) may be used singly or two or more of them may be used in combination. The diol compound may be used alone, or two or more thereof may be used in combination. In order to obtain the curable compound, only one kind of the first compound may be used, or two or more kinds of the first compounds may be used in combination. In order to obtain the curable compound, only one kind of the second compound may be used, or two or more kinds of the second compounds may be used in combination.

상기 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은, 바람직하게는 8000 이상, 보다 바람직하게는 10000 이상, 바람직하게는 50000 이하, 보다 바람직하게는 30000 이하이다. 상기 중량 평균 분자량이 상기 하한 이상이면, 접속 대상 부재의 접착성이 한층 더 높아진다. 상기 중량 평균 분자량이 상기 상한 이하이면, 경화성 화합물의 다른 성분과의 상용성이 높아진다.The weight average molecular weight of the curable compound is preferably 8000 or more, more preferably 10000 or more, preferably 50000 or less, more preferably 30000 or less. When the weight average molecular weight is not lower than the lower limit, the adhesiveness of the member to be connected is further increased. When the weight average molecular weight is not more than the upper limit, compatibility with other components of the curable compound is enhanced.

상기 중량 평균 분자량은, 겔 투과 크로마토그래피(GPC)에 의하여 측정된, 폴리스티렌 환산으로의 중량 평균 분자량을 나타낸다. 상기 중량 평균 분자량은, 시마즈 세이사쿠쇼사 제조의 「프로미넌스(Prominence) GPC 시스템」으로, 용매 THF, 유량 1㎖/min, 검출기: 시차 굴절로 측정할 수 있다.The weight average molecular weight refers to the weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by gel permeation chromatography (GPC). The weight average molecular weight can be measured by "Prominence GPC system" manufactured by Shimadzu Corporation, solvent THF, flow rate 1 ml / min, and detector: differential refraction.

상기 식 (11) 중의 R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다. 상기 식 (11) 중의 R1 및 R2는 각각 수소 원자일 수도 있고, 탄소수 1 내지 4의 알킬기일 수도 있다.R1 and R2 in the formula (11) each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms. R 1 and R 2 in the formula (11) may be a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 식 (11) 중의 X는 페닐렌기인 것이 바람직하고, 상기 식 (11)로 표시되는 화합물은, 하기 식 (11A)로 표시되는 화합물인 것이 바람직하다. 접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 경화성 조성물은, 하기 식 (11A)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 해당 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어지는 경화성 화합물을 포함하는 것이 바람직하다.X is preferably a phenylene group in view of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesion of the PET film, and the compound represented by the formula (11) Is preferably a compound represented by the following formula (11A). From the viewpoint of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesiveness of the PET film, the curable composition can be obtained by reacting the first compound obtained by the reaction of the compound represented by the following formula (11A) , And a curing compound obtained by reacting the first compound with a second compound having an isocyanate group and an unsaturated double bond.

Figure pct00006
Figure pct00006

상기 식 (11A) 중, R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다.In the formula (11A), R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 식 (11)로 표시되는 화합물은, 테레프탈산, 테레프탈산알킬에스테르, 이소프탈산 또는 이소프탈산알킬에스테르인 것이 바람직하다. 즉, 상기 식 (11)로 표시되는 화합물은, 하기 식 (11AA) 또는 하기 식 (11AB)로 표시되는 화합물인 것이 바람직하다.From the viewpoint of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesion of the PET film, the compound represented by the formula (11) is terephthalic acid, terephthalic acid alkyl ester, isophthalic acid or isophthalic acid alkyl ester desirable. That is, the compound represented by the formula (11) is preferably a compound represented by the following formula (11AA) or the following formula (11AB).

Figure pct00007
Figure pct00007

상기 식 (11AA) 중, R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다.In the formula (11AA), R1 and R2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

Figure pct00008
Figure pct00008

상기 식 (11AB) 중, R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다.In the formula (11AB), R1 and R2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.

경화성 화합물을 얻을 때의 반응성이 우수한 점에서, 상기 식 (11), (11A), (11AA) 및 (11AB) 중의 R1 및 R2는 각각, 탄소수 1 내지 4의 알킬기인 경우에, 알킬기의 탄소수는, 바람직하게는 3 이하, 보다 바람직하게는 2 이하(메틸기 또는 에틸기), 더욱 바람직하게는 1(메틸기)이다.When R1 and R2 in the formulas (11), (11A), (11AA) and (11AB) are each an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, the number of carbon atoms of the alkyl group is , Preferably 3 or less, more preferably 2 or less (methyl group or ethyl group), and more preferably 1 (methyl group).

상기 제1 화합물을 얻기 위한 상기 디올 화합물로서는, 1,4-부탄디올, 1,5-펜탄디올, 1,6-헥산디올, 1,7-헵탄디올 및 1,8-옥탄디올 등을 들 수 있다.Examples of the diol compound for obtaining the first compound include 1,4-butanediol, 1,5-pentanediol, 1,6-hexanediol, 1,7-heptanediol and 1,8-octanediol .

또한 본 발명에 따른 경화성 조성물의 어느 특정한 국면에서는, 상기 경화성 조성물은, 하기 식 (11B)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제3 화합물을 함유하는 것이 바람직하다. 하기 식 (11B)로 표시되는 화합물은 디카르복실산 또는 디카르복실산에스테르이다. 상기 반응은 탈수 축합 반응 또는 탈알코올 반응이다. 또한 본 발명에 따른 경화성 조성물의 어느 특정한 국면에서는, 상기 경화성 조성물은, 상기 식 (11A)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 해당 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어지는 경화성 화합물과, 하기 식 (11B)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제3 화합물을 사용하여, 해당 제3 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제4 화합물(제2 화합물과 동종)을 반응시킴으로써 얻어지는 경화성 화합물을 함유하거나, 또는 상기 식 (11A)로 표시되는 화합물과 하기 식 (11B)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제5 화합물을 사용하여, 해당 제5 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제6 화합물(제2 화합물과 동종)을 반응시킴으로써 얻어지는 경화성 화합물을 함유하는 것이 바람직하다. 이들 2종의 경화성 화합물의 사용에 의하여 접속 대상 부재의 접착성을 효과적으로 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 효과적으로 높일 수 있다.In a specific aspect of the curable composition according to the present invention, the curable composition preferably contains a third compound obtained by reacting a compound represented by the following formula (11B) with a diol compound. The compound represented by the following formula (11B) is a dicarboxylic acid or a dicarboxylic acid ester. The reaction is a dehydration condensation reaction or a deberalcohol reaction. In a specific aspect of the curable composition according to the present invention, the curable composition is obtained by reacting a first compound obtained by the reaction of the compound represented by the formula (11A) with a diol compound, and adding an isocyanate group And a second compound having an unsaturated double bond are reacted with a curing compound obtained by reacting a compound represented by the following formula (11B) with a diol compound to obtain a second compound having an isocyanate group And a curing compound obtained by reacting a fourth compound having an unsaturated double bond (the same as the second compound), or a compound represented by the formula (11A) and a compound represented by the formula (11B) , The isocyanate group and the unsaturated 2 < RTI ID = 0.0 > Preferably it contains a curable compound obtained by reacting the sixth compound (the second compound and the same kind) having a coupling. By using these two kinds of curable compounds, the adhesion of the member to be connected can be effectively enhanced, and in particular, the adhesion of the PET film can be effectively increased.

R1OOC-X-COOR2 … 식 (11B)R1OOC-X-COOR2 ... Equation (11B)

상기 식 (11B) 중, R1 및 R2는 각각 수소 원자, 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타내고, X는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기를 나타낸다.In the formula (11B), R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and X represents an alkylene group having 2 to 10 carbon atoms.

제1 화합물 및 제3 화합물은 각각 합성하여 혼합할 수도 있고, 반응 시에 제3 화합물을 상기 식 (11A)로 표시되는 화합물과 함께 반응시킬 수도 있다. 반응 시에 상기 식 (11A)로 표시되는 화합물과 함께 반응시키는 편이 바람직하다.The first compound and the third compound may be synthesized and mixed respectively, or the third compound may be reacted with the compound represented by the formula (11A) at the time of the reaction. It is preferable to react with the compound represented by the formula (11A) at the time of the reaction.

상기 식 (11B)로 표시되는 화합물에 대하여, 보다 바람직한 화합물로서는, R1 및 R2가 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, X가 탄소수 3 내지 5의 알킬렌기를 나타내는 화합물이며, 더욱 바람직한 화합물로서는, R1 및 R2가 메틸기를 나타내고, X가 탄소수 4의 알킬렌기를 나타내는 화합물이다.More preferred examples of the compound represented by the formula (11B) include compounds wherein R 1 and R 2 represent a hydrogen atom or a methyl group, and X represents an alkylene group having 3 to 5 carbon atoms. More preferable compounds include R 1 and R 2 Represents a methyl group, and X represents an alkylene group having 4 carbon atoms.

접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 제1 화합물을 얻기 위한 상기 디올 화합물은, 하기 식 (12)로 표시되는 화합물, (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물, 폴리에스테르폴리올 화합물 또는 폴리에테르폴리올 화합물인 것이 바람직하고, 하기 식 (12)로 표시되는 화합물 또는 폴리에테르폴리올 화합물인 것이 보다 바람직하다. 접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 제1 화합물을 얻기 위한 상기 디올 화합물은, 하기 식 (12)로 표시되는 화합물을 포함하는 것이 바람직하다.The diol compound for obtaining the first compound is preferably a compound represented by the following formula (12), a compound represented by the following formula (12), a A polyester polyol compound or a polyether polyol compound, and more preferably a compound represented by the following formula (12) or a polyether polyol compound. From the viewpoint of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesiveness of the PET film, the diol compound for obtaining the first compound preferably contains a compound represented by the following formula (12) Do.

Figure pct00009
Figure pct00009

상기 식 (12) 중, R은 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 폴리에테르기를 나타낸다. 상기 식 (12) 중, R은 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기를 나타내고 있을 수도 있다. 상기 식 (12) 중의 R로서는, 에틸렌기, 프로필렌기, 부틸렌기, 펜틸렌 기, 헥실렌기, 헵틸렌기, 옥틸렌기, 노날렌기 및 데칼렌기 등을 들 수 있다. 접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 식 (12) 중의 R의 탄소수는 6인 것이 바람직하다. 즉, 상기 식 (12)로 표시되는 화합물은, 하기 식 (12A)로 표시되는 화합물인 것이 바람직하다. 즉, 상기 제1 화합물을 얻기 위한 상기 디올 화합물 및 상기 제3 화합물을 얻기 위한 상기 디올 화합물은, 1,6-헥산디올을 포함하는 것이 특히 바람직하다.In the formula (12), R represents an alkylene group or a polyether group having 2 to 10 carbon atoms. In the formula (12), R may represent an alkylene group having 2 to 10 carbon atoms. Examples of R in the formula (12) include ethylene, propylene, butylene, pentylene, hexylene, heptylene, octylene, nonylene and decylene. The carbon number of R in the formula (12) is preferably 6 from the viewpoint of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesion of the PET film. That is, the compound represented by the formula (12) is preferably a compound represented by the following formula (12A). That is, it is particularly preferable that the diol compound for obtaining the first compound and the diol compound for obtaining the third compound include 1,6-hexanediol.

Figure pct00010
Figure pct00010

접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 제2 화합물이, 불포화 2중 결합을 포함하는 기로서 (메트)아크릴로일기를 갖는 것이 바람직하다.It is preferable that the second compound has a (meth) acryloyl group as a group containing an unsaturated double bond from the viewpoint of further enhancing the adhesion of the member to be connected and further enhancing the adhesion of the PET film in particular .

상기 제1 화합물을 얻기 위한 상기 디올 화합물로서는 비스페놀 A 또는 비스페놀 F 등도 들 수 있다. 접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 디올 화합물은 비스페놀 A 또는 비스페놀 F를 포함하는 것이 바람직하다. 접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 디올 화합물은, 1,6-헥산디올과, 비스페놀 A 또는 비스페놀 F를 포함하는 것이 바람직하다. 이 바람직한 형태에 있어서, 비스페놀 A만이 사용될 수도 있고, 비스페놀 F만이 사용될 수도 있으며, 비스페놀 A와 비스페놀 F가 병용될 수도 있다.Examples of the diol compound for obtaining the first compound include bisphenol A, bisphenol F, and the like. From the viewpoint of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesion of the PET film, it is preferable that the diol compound includes bisphenol A or bisphenol F. From the viewpoint of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesiveness of the PET film, it is preferable that the diol compound includes 1,6-hexanediol and bisphenol A or bisphenol F. In this preferred form, only bisphenol A may be used, only bisphenol F may be used, and bisphenol A and bisphenol F may be used in combination.

상기 디올 화합물로서는 폴리에테르폴리올 화합물 등도 들 수 있다. 폴리에테르폴리올로서는, 프로필렌글리콜이나, 에틸렌글리콜 등의 2관능 알킬렌글리콜이 바람직하다. 또한 상기 폴리에테르폴리올 화합물의 분자량은, 바람직하게는 500 이상, 보다 바람직하게는 600 이상, 바람직하게는 2000 이하, 보다 바람직하게는 1500 이하이다.Examples of the diol compounds include polyether polyol compounds. As the polyether polyol, propylene glycol and bifunctional alkylene glycol such as ethylene glycol are preferable. The molecular weight of the polyether polyol compound is preferably 500 or more, more preferably 600 or more, preferably 2000 or less, more preferably 1500 or less.

상기 디올 화합물로서 폴리에스테르폴리올 화합물도 들 수 있다. 폴리에스테르폴리올 화합물은, 카르복실산과 다가 알코올을 탈수 축합시킴으로써 얻어진다. 카르복실산으로서는 아디프산, 프탈산이 바람직하다. 다가 알코올로서는 에틸렌글리콜, 1,4-부탄디올, 1,6-헥산디올이 바람직하다. 또한 폴리에스테르폴리올 화합물의 분자량은, 바람직하게는 500 이상, 보다 바람직하게는 600 이상, 바람직하게는 2000 이하, 보다 바람직하게는 1500 이하이다.As the diol compound, a polyester polyol compound is also exemplified. The polyester polyol compound is obtained by dehydration condensation of a carboxylic acid and a polyhydric alcohol. As the carboxylic acid, adipic acid and phthalic acid are preferable. As polyhydric alcohols, ethylene glycol, 1,4-butanediol, and 1,6-hexanediol are preferable. The molecular weight of the polyester polyol compound is preferably 500 or more, more preferably 600 or more, preferably 2000 or less, more preferably 1,500 or less.

상기 디올 화합물은, 각각 식 (11A)로 표시되는 화합물이나, 상기 식 (11B)로 표시되는 화합물과 반응시킬 수도 있고, 혼합하여 식 (11A)로 표시되는 화합물이나, 상기 식 (11B)로 표시되는 화합물과 반응시킬 수도 있다.The diol compound can be reacted with the compound represented by the formula (11A) or the compound represented by the formula (11B), and the compound represented by the formula (11B) ≪ / RTI >

상기 제1 화합물을 얻기 위한 상기 디올 화합물 100중량% 중, 상기 식 (12)로 표시되는 화합물 또는 1,6-헥산디올의 함유량은, 바람직하게는 0중량%(미사용) 이상, 보다 바람직하게는 10중량% 이상, 더욱 바람직하게는 20중량% 이상, 바람직하게는 100중량%(전체량) 이하, 보다 바람직하게는 80중량% 이하이다. 상기 제1 화합물을 얻기 위한 상기 디올 화합물 100중량% 중, 비스페놀 A 및 비스페놀 F의 함유량은, 바람직하게는 0중량%(미사용) 이상, 보다 바람직하게는 20중량% 이상, 바람직하게는 100중량%(전체량) 이하, 보다 바람직하게는 80중량% 이하이다.The content of the compound represented by the formula (12) or 1,6-hexanediol in 100 wt% of the diol compound for obtaining the first compound is preferably 0 wt% (unused) or more, More preferably not less than 10% by weight, more preferably not less than 20% by weight, preferably not more than 100% by weight (total amount), more preferably not more than 80% by weight. The content of bisphenol A and bisphenol F in 100 wt% of the diol compound for obtaining the first compound is preferably 0 wt% (unused) or more, more preferably 20 wt% or more, and preferably 100 wt% (Total amount), more preferably not more than 80 wt%.

상기 제2 화합물로서는, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖고 있으면 특별히 한정되지 않는다. 상기 제2 화합물의 구체예로서는, (메트)아크릴로일옥시알킬옥시이소시아네이트, 1,1-(비스아크릴로일옥시메틸)에틸이소시아네이트 및 2-(2-이소시아나토에틸옥시)에틸메타크릴레이트 등을 들 수 있다.The second compound is not particularly limited as long as it has an isocyanate group and an unsaturated double bond. Specific examples of the second compound include (meth) acryloyloxyalkyloxy isocyanate, 1,1- (bisacryloyloxymethyl) ethyl isocyanate and 2- (2-isocyanatoethyloxy) ethyl methacrylate .

접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 제2 화합물이, (메트)아크릴로일옥시알킬옥시이소시아네이트, 2-(2-이소시아나토에틸옥시)에틸메타크릴레이트인 것이 바람직하고, 2-(2-이소시아나토에틸옥시)에틸메타크릴레이트인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that the second compound is at least one member selected from the group consisting of (meth) acryloyloxyalkyloxyisocyanate, 2- (2-isocyanatoethyl Oxy) ethyl methacrylate, and more preferably 2- (2-isocyanatoethyloxy) ethyl methacrylate.

상기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물은, 예를 들어 식 (11)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 해당 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시키는 방법 등에 의하여 얻는 것이 가능하다. 이 경우에, 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물이 얻어지도록, 식 (11)로 표시되는 화합물, 디올 화합물 및 제2 반응물 등은 적절히 선택된다. 상기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물은, 예를 들어 식 (11)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 해당 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시키는 방법 이외의 방법으로 얻어지고 있을 수도 있다.The curable compound represented by the formula (1) can be obtained by, for example, using a first compound obtained by a reaction between a compound represented by the formula (11) and a diol compound, and adding an isocyanate group and an unsaturated double A method in which a second compound having a bond is reacted, or the like. In this case, the compound represented by the formula (11), the diol compound, the second reactant and the like are appropriately selected so as to obtain the curable compound represented by the formula (1). The curable compound represented by the formula (1) can be obtained by, for example, using a first compound obtained by a reaction between a compound represented by the formula (11) and a diol compound, and adding an isocyanate group and an unsaturated double May be obtained by a method other than a method of reacting a second compound having a bond.

상기 식 (1) 중의 X는 알킬렌기인 것이 바람직하고, 폴리에테르기인 것도 바람직하다. 상기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물은, 상기 식 (1) 중의 X로서 알킬렌기를 포함하는 것이 바람직하고, 폴리에테르기를 포함하는 것도 바람직하다.X in the above formula (1) is preferably an alkylene group, and is preferably a polyether group. The curable compound represented by the above formula (1) preferably contains an alkylene group as X in the above formula (1), and preferably contains a polyether group.

상기 식 (1) 중의 X의 알킬렌기로서는, 에틸렌기, 프로필렌기, 부틸렌기, 펜틸렌기, 헥실렌기, 헵틸렌기, 옥틸렌기, 노날렌기 또는 데칼렌기 등을 들 수 있다. 유연성을 높이는 관점에서는 헥실렌기가 바람직하다.Examples of the alkylene group represented by X in the above formula (1) include ethylene, propylene, butylene, pentylene, hexylene, heptylene, octylene, nonylene or decylene. From the viewpoint of enhancing flexibility, a hexylene group is preferable.

상기 식 (1) 중의 X의 폴리에테르기로서는, 하기 식 (2)로 표시되는 폴리에테르기를 들 수 있다.The polyether group represented by X in the formula (1) includes a polyether group represented by the following formula (2).

-(R3-O)q- … (2)- (R3-O) q- (2)

상기 식 (2) 중, R3은 탄소수 1 내지 6의 직쇄상 알킬렌기이고, q는, 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물의 중량 평균 분자량이 8000 이상 50000 이하가 되는 정수를 나타낸다. 상기 식 (2) 중의 q의 분자량은, 바람직하게는 650 이상, 보다 바람직하게는 1000 이상, 바람직하게는 2000 이하이다. 유연성을 높이는 관점에서, 상기 식 (2) 중의 R3이 직쇄상 알킬렌기인 경우에 R3의 탄소수는, 바람직하게는 2 이상, 바람직하게는 4 이하이다. 또한 복수의 -R3-0-기는 동일할 수도 있고, 상이할 수도 있다.In the formula (2), R3 is a straight chain alkylene group having 1 to 6 carbon atoms, and q is an integer in which the weight average molecular weight of the curable compound represented by the formula (1) is 8000 or more and 50000 or less. The molecular weight of q in the formula (2) is preferably 650 or more, more preferably 1000 or more, and preferably 2,000 or less. From the viewpoint of enhancing flexibility, when R3 in the formula (2) is a straight chain alkylene group, the carbon number of R3 is preferably 2 or more, and preferably 4 or less. The plural -R 3 -O- groups may be the same or different.

경화물의 유리 전이 온도를 한층 더 낮게 하고, 게다가 저온에서의 인장 탄성률을 충분히 낮게 하고, 또한 저온에서 한층 더 빠르게 경화시키는 관점에서는, 상기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물은, 상기 식 (1) 중의 X로서 폴리에테르기를 갖는 것이 바람직하다. 접속 구조체는 저온 하에 노출되는 경우가 있다. 저온에서의 인장 탄성률을 낮게 함으로써 저온에서의 경화물의 유연성이 높아져, 저온에서의 박리가 한층 더 발생하기 어려워진다.From the viewpoint of further lowering the glass transition temperature of the cured product and further sufficiently lowering the tensile elastic modulus at low temperature and further curing at a low temperature, the curable compound represented by the formula (1) , It is preferable that X has a polyether group. The connection structure may be exposed under low temperature. By lowering the tensile elastic modulus at low temperature, the flexibility of the cured product at low temperature is increased, and further less peeling at low temperatures is difficult to occur.

상기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물 100중량% 중, 상기 폴리에테르기 구조 부분의 비율(예를 들어 식 (2)로 표시되는 구조 부분의 비율)은, 바람직하게는 17중량% 이상, 바람직하게는 41중량% 이하, 보다 바람직하게는 23중량% 이하이다.The proportion of the polyether group structure moiety (for example, the proportion of the moiety represented by formula (2)) in 100 wt% of the curable compound represented by the formula (1) is preferably at least 17 wt% By weight is not more than 41% by weight, more preferably not more than 23% by weight.

상기 식 (1) 중의 Y는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 페닐렌기를 나타낸다. 복수의 Y는 동일할 수도 있고, 상이할 수도 있다. 내산성을 높이는 관점에서는, 상기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물은, 상기 식 (1) 중의 Y로서, 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기와 페닐기의 양쪽을 갖는 것이 바람직하다. 유연성을 높이는 관점에서는, 상기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물은, 상기 식 (1) 중의 Y로서 부틸렌기를 갖는 것이 바람직하다. 상기 식 (1) 중의 Y가 페닐렌기인 경우에, Y로서는, 하기 식 (3A) 또는 하기 식 (3B)로 표시되는 기를 들 수 있다. 상기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물은, 상기 식 (1) 중의 Y로서, 하기 식 (3A)로 표시되는 기를 갖는 것이 바람직하다.Y in the formula (1) represents an alkylene group or a phenylene group having 2 to 10 carbon atoms. The plural Ys may be the same or different. From the viewpoint of enhancing the acid resistance, the curable compound represented by the above formula (1) preferably has both of an alkylene group having 2 to 10 carbon atoms and a phenyl group as Y in the formula (1). From the viewpoint of enhancing flexibility, it is preferable that the curable compound represented by the formula (1) has a butylene group as Y in the formula (1). When Y in the formula (1) is a phenylene group, examples of Y include a group represented by the following formula (3A) or the following formula (3B). The curable compound represented by the formula (1) is preferably Y in the formula (1) and has a group represented by the following formula (3A).

Figure pct00011
Figure pct00011

Figure pct00012
Figure pct00012

[열경화제][Thermal curing agent]

상기 열경화제는, 상기 경화성 화합물을 열경화시키는 상기 열경화제로서는, 이미다졸 경화제, 아민 경화제, 페놀 경화제, 폴리티올 경화제, 산 무수물, 열 양이온 개시제 및 열 라디칼 발생제 등을 들 수 있다. 상기 열경화제는 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.Examples of the heat curing agent for thermally curing the curing compound include an imidazole curing agent, an amine curing agent, a phenol curing agent, a polythiol curing agent, an acid anhydride, a thermal cationic initiator, and a heat radical generator. The thermosetting agent may be used alone or in combination of two or more.

그 중에서도, 경화성 조성물을 저온에서 한층 더 빠르게 경화 가능하므로, 이미다졸 경화제, 폴리티올 경화제 또는 아민 경화제가 바람직하다. 또한 가열에 의하여 경화 가능한 경화성 화합물과 상기 열경화제를 혼합했을 때 보존 안정성이 높아지므로, 잠재성의 경화제가 바람직하다. 잠재성의 경화제는, 잠재성 이미다졸 경화제, 잠재성 폴리티올 경화제 또는 잠재성 아민 경화제인 것이 바람직하다. 또한 상기 열경화제는, 폴리우레탄 수지 또는 폴리에스테르 수지 등의 고분자 물질로 피복되어 있을 수도 있다.Among them, an imidazole curing agent, a polythiol curing agent or an amine curing agent is preferable because the curable composition can be cured at a lower temperature even more quickly. In addition, when the heat curing agent is mixed with the curable compound which can be cured by heating, the storage stability becomes high, and thus a latent curing agent is preferable. The latent curing agent is preferably a latent imidazole curing agent, a latent polythiol curing agent or a latent amine curing agent. The thermosetting agent may be coated with a high molecular substance such as a polyurethane resin or a polyester resin.

접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 열경화제는 열 라디칼 발생제인 것이 바람직하다. 열 라디칼 발생제의 사용에 의하여, 특히 PET 필름의 접착성이 효과적으로 높아진다.From the viewpoint of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesiveness of the PET film, the thermosetting agent is preferably a heat radical generator. By the use of the heat radical generator, in particular, the adhesion of the PET film is effectively increased.

열 라디칼 발생제의 1분 반감기 분해 온도는, 바람직하게는 100℃ 이상, 보다 바람직하게는 110℃ 이상, 바람직하게는 150℃ 이하, 보다 바람직하게는 130℃ 이하이다. 상기 1분 반감기 온도가 상기 하한 이상이면, 조성물의 저장 안정성이 한층 더 양호해진다. 상기 1분 반감기 온도가 상기 상한 이하이면, 피착체인 PET 필름이 경화 시의 온도에 의하여 변형 및 열화되기 어려워진다.The one-minute half-life decomposition temperature of the thermal radical generator is preferably 100 占 폚 or higher, more preferably 110 占 폚 or higher, preferably 150 占 폚 or lower, more preferably 130 占 폚 or lower. When the 1-minute half-life temperature is not lower than the lower limit, the storage stability of the composition is further improved. If the one-minute half-life temperature is not more than the upper limit, the PET film as the adherend is hardly deformed or deteriorated by the temperature at the time of curing.

상기 이미다졸 경화제로서는 특별히 한정되지 않으며, 2-메틸이미다졸, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸, 1-시아노에틸-2-페닐이미다졸륨 트리멜리테이트, 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진 및 2,4-디아미노-6-[2'-메틸이미다졸릴-(1')]-에틸-s-트리아진이소시아누르산 부가물 등을 들 수 있다.The imidazole curing agent is not particularly limited, and examples thereof include 2-methylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 1-cyanoethyl- Imidazolium trimellitate, 2,4-diamino-6- [2'-methylimidazolyl- (1 ')] - ethyl -s- triazine and 2,4- diamino- -Methylimidazolyl- (1 ')] - ethyl-s-triazine isocyanuric acid adduct.

상기 폴리티올 경화제로서는 특별히 한정되지 않으며, 트리메틸올프로판트리스-3-머캅토프로피오네이트, 펜타에리트리톨테트라키스-3-머캅토프로피오네이트 및 디펜타에리트리톨헥사-3-머캅토프로피오네이트 등을 들 수 있다.The polythiol curing agent is not particularly limited, and trimethylolpropane tris-3-mercaptopropionate, pentaerythritol tetrakis-3-mercaptopropionate and dipentaerythritol hexa-3-mercaptopropionate And the like.

상기 아민 경화제로서는 특별히 한정되지 않으며, 헥사메틸렌디아민, 옥타메틸렌디아민, 데카메틸렌디아민, 3,9-비스(3-아미노프로필)-2,4,8,10-테트라스피로[5.5]운데칸, 비스(4-아미노시클로헥실)메탄, 메타페닐렌디아민 및 디아미노디페닐술폰 등을 들 수 있다.The amine curing agent is not particularly limited and examples thereof include hexamethylenediamine, octamethylenediamine, decamethylenediamine, 3,9-bis (3-aminopropyl) -2,4,8,10-tetaspiro [5.5] undecane, bis (4-aminocyclohexyl) methane, metaphenylenediamine, and diaminodiphenylsulfone.

상기 열 양이온 경화제로서는, 요오도늄계 양이온 경화제, 옥소늄계 양이온 경화제 및 술포늄계 양이온 경화제 등을 들 수 있다. 상기 요오도늄계 양이온 경화제로서는, 비스(4-tert-부틸페닐)요오도늄헥사플루오로포스페이트 등을 들 수 있다. 상기 옥소늄계 양이온 경화제로서는, 트리메틸옥소늄테트라플루오로보레이트 등을 들 수 있다. 상기 술포늄계 양이온 경화제로서는 트리-p-톨릴술포늄헥사플루오로포스페이트 등을 들 수 있다.Examples of the thermal cationic curing agent include an iodonium-based cationic curing agent, an oxonium-based cationic curing agent, and a sulfonium-based cationic curing agent. Examples of the iodonium-based cationic curing agent include bis (4-tert-butylphenyl) iodonium hexafluorophosphate and the like. Examples of the oxonium-based cation curing agent include trimethyloxonium tetrafluoroborate and the like. Examples of the sulfonium cation-based curing agent include tri-p-tolylsulfonium hexafluorophosphate and the like.

상기 열 라디칼 발생제로서는 특별히 한정되지 않으며, 아조 화합물 및 유기 과산화물 등을 들 수 있다. 상기 열 라디칼 발생제는 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.The thermal radical generator is not particularly limited, and examples thereof include azo compounds and organic peroxides. The thermal radical generator may be used alone or in combination of two or more.

상기 아조 화합물로서는, 2,2'-아조비스이소부티로니트릴, 1,1'-(시클로헥산-1-카르보니트릴), 2,2'-아조비스(2-시클로프로필프로피오니트릴), 2,2'-아조비스(2,4-디메틸발레로니트릴) 및 디메틸-2,2'-아조비스(2-메틸프로피오네이트) 등을 들 수 있다.Examples of the azo compound include azo compounds such as 2,2'-azobisisobutyronitrile, 1,1 '- (cyclohexane-1-carbonitrile), 2,2'-azobis (2-cyclopropylpropionitrile) , 2'-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile), and dimethyl-2,2'-azobis (2-methylpropionate).

상기 유기 과산화물로서는, 하이드로퍼옥사이드 및 디알킬퍼옥사이드 등을 들 수 있다. 상기 하이드로퍼옥사이드로서는, 디이소프로필벤젠하이드로퍼옥사이드, 1,1,3,3-테트라메틸부틸하이드로퍼옥사이드, 쿠멘하이드로퍼옥사이드, tert-헥실하이드로퍼옥사이드 및 tert-부틸하이드로퍼옥사이드 등을 들 수 있다. 상기 디알킬퍼옥사이드로서는, α,α'-비스(tert-부틸퍼옥시-m-이소프로필)벤젠, 디쿠밀퍼옥사이드, 2,5-디메틸-2,5-비스(tert-부틸퍼옥시)헥산, tert-부틸쿠밀퍼옥사이드, 디-tert-부틸퍼옥사이드 및 2,5-디메틸-2,5-비스(tert-부틸퍼옥시)헥신-3 등을 들 수 있다.Examples of the organic peroxide include hydroperoxides and dialkyl peroxides. Examples of the hydroperoxide include diisopropylbenzene hydroperoxide, 1,1,3,3-tetramethylbutyl hydroperoxide, cumene hydroperoxide, tert-hexyl hydroperoxide and tert-butyl hydroperoxide. . Examples of the dialkyl peroxide include α, α'-bis (tert-butylperoxy-m-isopropyl) benzene, dicumyl peroxide, 2,5-dimethyl-2,5-bis (tert- butylperoxy) , tert-butylcumylperoxide, di-tert-butylperoxide and 2,5-dimethyl-2,5-bis (tert-butylperoxy) hexyne-3.

상기 열경화제의 함유량은 특별히 한정되지 않는다. 상기 경화성 화합물 100중량부에 대하여, 상기 열경화제 및 상기 열 라디칼 발생제의 각 함유량은, 바람직하게는 0.01중량부 이상, 보다 바람직하게는 1중량부 이상, 바람직하게는 200중량부 이하, 보다 바람직하게는 100중량부 이하, 더욱 바람직하게는 75중량부 이하이다. 상기 열경화제 및 상기 열 라디칼 발생제의 각 함유량이 상기 하한 이상이면, 경화성 조성물을 충분히 경화시키는 것이 용이하다. 상기 열경화제 및 상기 열 라디칼 발생제의 각 함유량이 상기 상한 이하이면, 경화 후에, 경화에 관여하지 않은 잉여의 열경화제가 잔존하기 어려워지고, 또한 경화물의 내열성이 한층 더 높아진다.The content of the thermosetting agent is not particularly limited. The content of each of the thermosetting agent and the heat radical generator is preferably 0.01 parts by weight or more, more preferably 1 part by weight or more, and preferably 200 parts by weight or less, more preferably 100 parts by weight or less Is not more than 100 parts by weight, more preferably not more than 75 parts by weight. If the content of each of the heat curing agent and the heat radical generator is lower than the lower limit, it is easy to sufficiently cure the curable composition. If the content of each of the heat curing agent and the heat radical generating agent is less than the upper limit, excess curing agent not involved in curing will hardly remain after curing, and the heat resistance of the cured article will be further increased.

[광경화 개시제][Photo-curing initiator]

상기 광경화 개시제로서는 특별히 한정되지 않으며, 아세토페논 광경화 개시제(아세토페논 광 라디칼 발생제), 벤조페논 광경화 개시제(벤조페논 광 라디칼 발생제), 티오크산톤, 케탈 광경화 개시제(케탈 광 라디칼 발생제), 할로겐화 케톤, 아실포스핀옥사이드 및 아실포스포나트 등을 들 수 있다. 상기 광경화 개시제는 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.The photocuring initiator is not particularly limited, and examples thereof include an acetophenone photo-curing initiator (acetophenone photo-radical generator), a benzophenone photo-curing initiator (benzophenone photo-radical generator), a thioxanthone, a ketal photo- Halogenated ketones, acylphosphine oxides, acylphosphonates, and the like. The photocuring initiator may be used alone or in combination of two or more.

상기 아세토페논 광경화 개시제의 구체예로서는, 4-(2-히드록시에톡시)페닐(2-히드록시-2-프로필)케톤, 2-히드록시-2-메틸-1-페닐프로판-1-온, 메톡시아세토페논, 2,2-디메톡시-1,2-디페닐에탄-1-온 및 2-히드록시-2-시클로헥실아세토페논 등을 들 수 있다. 상기 케탈 광경화 개시제의 구체예로서는 벤질디메틸케탈 등을 들 수 있다.Specific examples of the acetophenone photo-curing initiator include 4- (2-hydroxyethoxy) phenyl (2-hydroxy-2-propyl) ketone, 2-hydroxy- , Methoxyacetophenone, 2,2-dimethoxy-1,2-diphenylethane-1-one and 2-hydroxy-2-cyclohexyl acetophenone. Specific examples of the ketal photo-curing initiator include benzyl dimethyl ketal and the like.

상기 광경화 개시제의 함유량은 특별히 한정되지 않는다. 상기 경화성 화합물 100중량부에 대하여, 상기 광경화 개시제의 함유량은, 바람직하게는 0.1중량부 이상, 보다 바람직하게는 0.2중량부 이상, 바람직하게는 2중량부 이하, 보다 바람직하게는 1중량부 이하이다. 상기 광경화 개시제의 함유량이 상기 하한 이상이면, 경화성 조성물을 충분히 경화시키는 것이 용이하다. 또한 경화성 조성물에 광을 조사하여 B 스테이지화함으로써, 경화성 조성물의 유동을 억제할 수 있다. 상기 광경화 개시제의 함유량이 상기 상한 이하이면, 경화 후에, 경화에 관여하지 않은 잉여의 광경화 개시제가 잔존하기 어려워진다.The content of the photocuring initiator is not particularly limited. The content of the photocuring initiator is preferably 0.1 parts by weight or more, more preferably 0.2 parts by weight or more, preferably 2 parts by weight or less, more preferably 1 part by weight or less, based on 100 parts by weight of the curable compound to be. When the content of the photo-curing initiator is lower than the lower limit described above, it is easy to sufficiently cure the curable composition. Further, by irradiating the curable composition with light to form a B stage, the flow of the curable composition can be suppressed. If the content of the photo-curing initiator is not more than the upper limit, excess curing initiator not involved in curing will hardly remain after curing.

[4급 암모늄염 화합물][Quaternary ammonium salt compound]

상기 4급 암모늄염 화합물의 사용에 의하여, 접속 대상 부재의 접착성이 한층 더 높아진다. 또한 상기 4급 암모늄염 화합물의 사용에 의하여, 고온 하에 노출되더라도 박리가 한층 더 발생하기 어려워진다. 상기 4급 암모늄염 화합물은 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.By the use of the quaternary ammonium salt compound, the adhesiveness of the member to be connected is further increased. Further, by the use of the above quaternary ammonium salt compound, even if exposed at a high temperature, further peeling becomes less likely to occur. The quaternary ammonium salt compound may be used alone, or two or more quaternary ammonium salt compounds may be used in combination.

접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 4급 암모늄염 화합물은 탄소수 8 내지 18의 알킬기를 갖는 것이 바람직하다. 접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 4급 암모늄염 화합물은, 하기 식 (31)로 표시되는 화합물인 것이 바람직하다.The quaternary ammonium salt compound preferably has an alkyl group having 8 to 18 carbon atoms in order to further increase the adhesiveness of the member to be connected and particularly to further improve the adhesiveness of the PET film. From the viewpoint of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesiveness of the PET film, the quaternary ammonium salt compound is preferably a compound represented by the following formula (31).

R1R2R3R4N+X- … 식 (31)R1R2R3R4N + X - ... Equation (31)

상기 식 (31) 중, R1, R2 및 R3은 각각 메틸기 또는 에틸기를 나타내고, R4는 탄소수 8 내지 18의 알킬기를 나타내며, X는 브롬 원자 또는 염소 원자를 나타낸다.In the formula (31), R 1, R 2 and R 3 are each a methyl group or an ethyl group, R 4 is an alkyl group having a carbon number of 8 to 18, and X is a bromine atom or a chlorine atom.

상기 4급 암모늄염 화합물로서는, 예를 들어n-옥틸트리메틸클로라이드, n-옥틸트리메틸브로마이드, 노닐트리메틸브로마이드, 데실트리메틸브로마이드, 도데실트리메틸클로라이드, 도데실트리메틸브로마이드, 테트라데실트리메틸클로라이드, 헥사데실트리메틸클로라이드, 헥사데실트리메틸브로마이드, 에틸헥사데실디메틸브로마이드, 헵타데실트리메틸브로마이드, 옥타데실트리메틸클로라이드 및 옥타데실트리메틸브로마이드 등을 들 수 있다.Examples of the quaternary ammonium salt compound include n-octyl trimethyl chloride, n-octyl trimethyl bromide, nonyl trimethyl bromide, decyl trimethyl bromide, dodecyl trimethyl bromide, tetradecyl trimethyl chloride, hexadecyl trimethyl chloride, Hexadecyltrimethylbromide, ethylhexadecyldimethylbromide, heptadecyltrimethylbromide, octadecyltrimethylchloride and octadecyltrimethylbromide, and the like.

상기 경화성 화합물 및 상기 열경화제의 합계 100중량부에 대하여, 상기 4급 암모늄염 화합물과 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물과의 합계의 함유량은, 바람직하게는 0.1중량부 이상, 보다 바람직하게는 3중량부 이상, 더욱 바람직하게는 5중량부 이상, 바람직하게는 50중량부 이하, 보다 바람직하게는 40중량부 이하, 더욱 바람직하게는 30중량부 이하이며, 8중량부 이하일 수도 있고, 5중량부 이하일 수도 있다. 상기 4급 암모늄염 화합물과, 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물과의 합계의 함유량이 상기 하한 이상 및 상기 상한 이하이면, 접착 대상 부재의 접착성이 한층 더 높아진다.The total content of the quaternary ammonium salt compound and the (meth) acrylic compound having a hydroxyl group is preferably at least 0.1 part by weight, more preferably at least 3 parts by weight, more preferably at least 3 parts by weight, based on 100 parts by weight of the total amount of the curing compound and the heat curing agent. More preferably 5 parts by weight or more, preferably 50 parts by weight or less, more preferably 40 parts by weight or less, still more preferably 30 parts by weight or less, and 8 parts by weight or less, or 5 parts by weight Or less. If the total content of the quaternary ammonium salt compound and the (meth) acrylic compound having a hydroxyl group is lower than or equal to the lower limit and lower than or equal to the upper limit, the adhesiveness of the member to be bonded is further increased.

상기 경화성 화합물 및 상기 열경화제의 합계 100중량부에 대하여, 상기 4급 암모늄염 화합물의 함유량은 0중량부(미함유) 이상, 바람직하게는 0.1중량부 이상, 보다 바람직하게는 3중량부 이상, 바람직하게는 50중량부 이하, 보다 바람직하게는 8중량부 이하, 더욱 바람직하게는 5중량부 이하이다. 상기 4급 암모늄염 화합물이 사용되고, 또한 상기 4급 암모늄염 화합물의 함유량이 상기 하한 이상 및 상기 상한 이하이면, 접착 대상 부재의 접착성이 한층 더 높아져, 고온 하에서의 박리가 한층 더 억제된다.The content of the quaternary ammonium salt compound is preferably 0 part by weight (not contained) or more, preferably 0.1 parts by weight or more, more preferably 3 parts by weight or more, and more preferably 3 parts by weight or more based on 100 parts by weight of the total amount of the curing compound and the heat curing agent Preferably 50 parts by weight or less, more preferably 8 parts by weight or less, and further preferably 5 parts by weight or less. When the quaternary ammonium salt compound is used and the content of the quaternary ammonium salt compound is not less than the lower limit and not more than the upper limit, the adhesion of the member to be bonded is further enhanced, and the peeling at a high temperature is further suppressed.

[수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물][(Meth) acrylic compound having a hydroxyl group]

상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물의 사용에 의하여, 접속 대상 부재의 접착성이 한층 더 높아진다. 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물은 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.By the use of the (meth) acrylic compound having a hydroxyl group, adhesiveness of the member to be connected is further increased. The (meth) acrylic compound having a hydroxyl group may be used alone or in combination of two or more.

상기 수산기 함유 (메트)아크릴 화합물로서는, 예를 들어 히드록시에틸메타크릴레이트포스페이트, (메트)아크릴산4-히드록시부틸, (메트)아크릴산2-히드록시에틸, (메트)아크릴산히드록시프로필, N-(2-히드록시에틸)(메트)아크릴아미드, N-(히드록시메틸)(메트)아크릴아미드, N-(4-히드록시페닐)(메트)아크릴아미드 또는 에폭시(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다.Examples of the hydroxyl group-containing (meth) acrylic compound include hydroxyethyl methacrylate phosphate, 4-hydroxybutyl (meth) acrylate, 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth) (Meth) acrylamide, N- (hydroxymethyl) (meth) acrylamide, N- (4-hydroxyphenyl) (meth) acrylamide or epoxy .

상기 경화성 화합물을 사용한 경화성 조성물의 점도는 비교적 높아지기 쉽다. 경화성 조성물의 점도를 낮게 하는 관점에서는, 상기 경화성 화합물은 에폭시(메트)아크릴레이트를 포함하는 것이 바람직하다. 에폭시(메트)아크릴레이트는 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.The viscosity of the curable composition using the curable compound tends to be relatively high. From the viewpoint of lowering the viscosity of the curable composition, it is preferable that the curable compound includes an epoxy (meth) acrylate. The epoxy (meth) acrylate may be used alone or in combination of two or more.

에폭시(메트)아크릴레이트로서는, 구체적으로는 에베크릴(EBECRYL) 3701(다이셀·올넥스사 제조), 에베크릴 3703(다이셀·올넥스사 제조) 또는 에베크릴 3708(다이셀·올넥스사 제조) 등을 들 수 있다. 상기 에폭시아크릴레이트는, 2-히드록시에틸아크릴레이트가 카프로락톤에 부가된 구조를 분자 말단에 갖고, 또한 비스페놀 A의 디글리시딜기가 개환된 구조를 주 골격으로서 갖는 에폭시아크릴레이트일 수도 있다.Specific examples of the epoxy (meth) acrylate include EBECRYL 3701 (manufactured by Daicel Alnex), Ebecryl 3703 (manufactured by Daicel Alnex) or Ebecryl 3708 And the like. The epoxy acrylate may be an epoxy acrylate having a structure in which 2-hydroxyethyl acrylate is added to caprolactone at the molecular end and a diglycidyl group of bisphenol A is ring-opened as a main skeleton.

접착 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, (메트)아크릴산4-히드록시부틸, 에베크릴 3701(다이셀·올넥스사 제조) 또는 에베크릴 3708(다이셀·올넥스사 제조)이 바람직하다.(Meth) acrylate 4-hydroxybutyl, Ebecryl 3701 (manufactured by Daicel Alnex Co.) or Ebecryl 3708 (manufactured by Daicel Ornex Co., Ltd.) is preferable from the viewpoint of further improving the adhesion of the member to be bonded Do.

상기 경화성 화합물 및 상기 열경화제의 합계 100중량부에 대하여, 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물의 함유량은 0중량부(미함유) 이상, 바람직하게는 0.1중량부 이상, 보다 바람직하게는 3중량부 이상, 더욱 바람직하게는 5중량부 이상, 바람직하게는 50중량부 이하, 보다 바람직하게는 40중량부 이하, 더욱 바람직하게는 30중량부 이하이다. 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물이 사용되고, 또한 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물의 함유량이 상기 하한 이상 및 상기 상한 이하이면, 접착 대상 부재의 접착성이 한층 더 높아진다.The content of the (meth) acrylic compound having a hydroxyl group is preferably 0 part by weight (not contained) or more, preferably 0.1 parts by weight or more, more preferably 3 parts by weight More preferably not less than 5 parts by weight, preferably not more than 50 parts by weight, more preferably not more than 40 parts by weight, further preferably not more than 30 parts by weight. If the (meth) acrylic compound having a hydroxyl group is used and the content of the (meth) acrylic compound having a hydroxyl group is lower than or equal to the lower limit and below the upper limit, the adhesion of the member to be adhered is further enhanced.

[다른 성분][Other Ingredients]

접속 대상 부재가 유리, PET(폴리에틸렌테레프탈레이트)를 포함하는 경우에 유리, PET의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 경화성 화합물은 (메트)아크릴 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 상기 (메트)아크릴 화합물로서는, 아크릴로일모르폴린, 이미드(메트)아크릴레이트, 우레탄(메트)아크릴레이트 등의 인산에스테르형(메트)아크릴레이트 등을 들 수 있다. 상기 (메트)아크릴 화합물은 상술한 경화성 화합물 이외의 화합물이다. 상기 (메트)아크릴 화합물은 (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물이다. 상기 (메트)아크릴 화합물은 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.In the case where the member to be connected is made of glass or PET (polyethylene terephthalate), it is preferable that the curable compound includes glass (meth) acrylic compound from the viewpoint of further increasing the adhesiveness of PET. Examples of the (meth) acrylic compound include phosphoric ester type (meth) acrylates such as acryloylmorpholine, imide (meth) acrylate and urethane (meth) acrylate. The (meth) acrylic compound is a compound other than the above-mentioned curable compound. The (meth) acryl compound is a compound having a (meth) acryloyl group. The (meth) acrylic compound may be used alone or in combination of two or more.

상기 경화성 조성물은, 필요에 따라, 예를 들어 플럭스, 충전제, 증량제, 연화제, 가소제, 중합 촉매, 경화 촉매, 착색제, 산화 방지제, 열 안정제, 광 안정제, 자외선 흡수제, 활제, 대전 방지제 및 난연제 등의 각종 첨가제를 포함하고 있을 수도 있다.The curable composition may further contain additives such as fluxes, fillers, extenders, softeners, plasticizers, polymerization catalysts, curing catalysts, colorants, antioxidants, heat stabilizers, light stabilizers, ultraviolet absorbents, lubricants, antistatic agents and flame retardants It may contain various additives.

상기 경화성 조성물은 플럭스를 포함하는 것이 바람직하다. 플럭스의 사용에 의하여, 전극의 표면 산화막을 제거하여 전극 간의 도통 신뢰성을 높일 수 있다. 플럭스의 상세는 후술하는 도전 재료의 난에서 기재한다.The curable composition preferably comprises a flux. By using the flux, the surface oxide film of the electrode can be removed to improve the reliability of conduction between the electrodes. The details of the flux are described in the column of the conductive material to be described later.

상기 경화성 조성물은 충전제를 포함하는 것이 바람직하다. 충전제의 사용에 의하여 경화물의 열 선 팽창률이 낮아진다. 상기 충전제의 구체예로서는, 실리카, 질화알루미늄, 알루미나, 유리, 질화붕소, 질화규소, 실리콘, 카본, 그래파이트, 그래핀 및 탈크 등을 들 수 있다. 충전제는 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다. 열전도율이 높은 충전제를 사용하면 본 경화 시간이 짧아진다.The curable composition preferably comprises a filler. The thermal expansion coefficient of the cured product is lowered by the use of the filler. Specific examples of the filler include silica, aluminum nitride, alumina, glass, boron nitride, silicon nitride, silicon, carbon, graphite, graphene and talc. Only one type of filler may be used, or two or more types of fillers may be used in combination. Use of a filler having a high thermal conductivity will shorten the final curing time.

상기 경화성 조성물은 용제를 포함하고 있을 수도 있다. 해당 용제의 사용에 의하여 경화성 조성물의 점도를 용이하게 조정할 수 있다. 상기 용제로서는, 예를 들어 아세트산에틸, 메틸셀로솔브, 톨루엔, 아세톤, 메틸에틸케톤, 시클로헥산, n-헥산, 테트라히드로푸란 및 디에틸에테르 등을 들 수 있다.The curable composition may contain a solvent. The viscosity of the curable composition can be easily adjusted by using the solvent. Examples of the solvent include ethyl acetate, methyl cellosolve, toluene, acetone, methyl ethyl ketone, cyclohexane, n-hexane, tetrahydrofuran and diethyl ether.

(도전 재료)(Conductive material)

본 발명에 따른 도전 재료는, 상술한 경화성 조성물과 도전성 입자를 포함한다. 구체적으로는, 본 발명에 따른 도전 재료는, 상기 제1 화합물에 상기 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어지는 상기 경화성 화합물과, 상기 열경화제와, 도전성 입자를 포함한다. 본 명세서에서는, 도전성 입자를 포함하는 경화성 조성물을 도전 재료라 칭한다. 본 발명에 따른 도전 재료를 사용함으로써, 접속 대상 부재의 접착성, 및 전극 간의 도통 신뢰성을 높일 수 있다.The conductive material according to the present invention includes the above-mentioned curable composition and conductive particles. Specifically, the conductive material according to the present invention includes the curable compound obtained by reacting the first compound with the second compound, the heat curing agent, and the conductive particle. In the present specification, a curable composition containing conductive particles is referred to as a conductive material. By using the conductive material according to the present invention, the adhesiveness of the member to be connected and the reliability of conduction between the electrodes can be improved.

상기 도전 재료는 플럭스를 포함하는 것이 바람직하다. 플럭스의 사용에 의하여, 도전성 입자의 표면 및 전극의 표면 산화막을 제거하여 전극 간의 도통 신뢰성을 높일 수 있다.The conductive material preferably includes a flux. By using the flux, the surface of the conductive particles and the surface oxide film of the electrode can be removed to improve the reliability of the conduction between the electrodes.

도전성 입자를 전극 상에 한층 더 효율적으로 배치하는 관점에서는, 도전 재료의 25℃에서의 점도는, 바람직하게는 100㎩·s 이상, 보다 바람직하게는 200㎩·s 이상, 바람직하게는 800㎩·s 이하, 보다 바람직하게는 600㎩·s 이하이다.From the viewpoint of more efficiently arranging the conductive particles on the electrode, the viscosity of the conductive material at 25 캜 is preferably 100 Pa · s or more, more preferably 200 Pa · s or more, s or lower, more preferably 600 Pa s or lower.

상기 점도는, 배합 성분의 종류 및 배합량에 따라 용이하게 적절히 조정 가능하다. 또한 충전제의 사용에 의하여 점도를 비교적 높게 할 수 있다.The viscosity can be easily and appropriately adjusted depending on the type and blending amount of the compounding ingredients. Also, the viscosity can be made relatively high by the use of a filler.

상기 점도는, 예를 들어 E형 점도계 TVE-22 장치(도키 산교사 제조)를 사용하여 25℃ 및 2.5rpm의 조건에서 측정 가능하다.The viscosity can be measured at 25 캜 and 2.5 rpm using, for example, an E-type viscometer TVE-22 apparatus (manufactured by Toki Sangyo Co., Ltd.).

상기 도전 재료는 이방성 도전 재료인 것이 바람직하다. 상기 도전 재료는 도전 페이스트 및 도전 필름 등으로서 사용될 수 있다. 상기 도전 재료가 도전 필름인 경우에는, 도전성 입자를 포함하는 도전 필름에, 도전성 입자를 포함하지 않는 필름이 적층되어 있을 수도 있다. 접속 대상 부재의 접착성을 한층 더 높이고, 특히 PET 필름의 접착성을 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 도전 재료는 페이스트상의 도전 페이스트인 것이 바람직하다. 상기 도전 재료는 전극 간의 전기적인 접속에 사용되는 것이 바람직하다. 상기 도전 재료는 회로 접속 재료인 것이 바람직하다.The conductive material is preferably an anisotropic conductive material. The conductive material may be used as a conductive paste and a conductive film. When the conductive material is a conductive film, a film not containing conductive particles may be laminated on the conductive film containing conductive particles. From the viewpoint of further enhancing the adhesiveness of the member to be connected and particularly enhancing the adhesiveness of the PET film, the conductive material is preferably paste-like conductive paste. The conductive material is preferably used for electrical connection between the electrodes. The conductive material is preferably a circuit connecting material.

상기 도전 재료 100중량% 중, 상기 제1 화합물에 상기 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어지는 상기 경화성 화합물의 함유량은, 바람직하게는 50중량% 이상, 보다 바람직하게는 60중량% 이상, 더욱 바람직하게는 75중량% 이상, 바람직하게는 100중량% 이하, 보다 바람직하게는 95중량% 이하이다. 상기 경화성 화합물의 함유량이 상기 하한 이상이면, 접속 대상 부재의 접착성이 한층 더 높아지고, 특히 PET 필름의 접착성이 한층 더 높아진다. 상기 경화성 화합물의 함유량이 상기 상한 이하이면, 도전성 입자의 함유량을 상대적으로 많게 할 수 있어 전극 간의 도통 신뢰성이 한층 더 높아진다.The content of the curing compound obtained by reacting the first compound with the second compound in 100 wt% of the conductive material is preferably at least 50 wt%, more preferably at least 60 wt%, and still more preferably at least 75 wt% %, Preferably not more than 100 wt%, more preferably not more than 95 wt%. When the content of the curable compound is lower than the lower limit, the adhesiveness of the member to be connected is further increased, and in particular, the adhesion of the PET film is further enhanced. When the content of the curable compound is not more than the upper limit, the content of the conductive particles can be relatively increased, and the reliability of the conduction between the electrodes is further increased.

상기 도전 재료 100중량% 중 상기 도전성 입자의 함유량은, 바람직하게는 0.1중량% 이상, 보다 바람직하게는 1중량% 이상, 한층 더 바람직하게는 2중량% 이상, 더욱 바람직하게는 10중량% 이상, 보다 한층 더 바람직하게는 20중량% 이상, 특히 바람직하게는 25중량% 이상, 가장 바람직하게는 30중량% 이상, 바람직하게는 80중량% 이하, 보다 바람직하게는 60중량% 이하, 더욱 바람직하게는 50중량% 이하, 특히 바람직하게는 45중량% 이하, 가장 바람직하게는 35중량% 이하이다. 상기 도전성 입자의 함유량이 상기 하한 이상 및 상기 상한 이하이면, 전극 간에 도전성 입자를 많이 배치하는 것이 용이하여 도통 신뢰성이 한층 더 높아진다. 또한 경화성 화합물 등의 함유량이 적당해지는 점에서, 전극 간의 도통 신뢰성이 한층 더 높아진다.The content of the conductive particles in 100 wt% of the conductive material is preferably 0.1 wt% or more, more preferably 1 wt% or more, still more preferably 2 wt% or more, still more preferably 10 wt% Still more preferably not less than 20% by weight, particularly preferably not less than 25% by weight, most preferably not less than 30% by weight, preferably not more than 80% by weight, more preferably not more than 60% by weight, 50 wt% or less, particularly preferably 45 wt% or less, and most preferably 35 wt% or less. When the content of the conductive particles is not less than the lower limit and not more than the upper limit, it is easy to arrange a large number of conductive particles between the electrodes, thereby further enhancing the conduction reliability. In addition, since the content of the curable compound and the like becomes appropriate, the reliability of the conduction between the electrodes becomes even higher.

이하, 본 발명에 따른 도전 재료에 사용할 수 있는 각 성분의 상세를 설명한다.Hereinafter, details of each component usable in the conductive material according to the present invention will be described.

[도전성 입자][Conductive particle]

상기 도전성 입자로서는, 전체가 도전성을 갖는 재료에 의하여 형성되어 있는 도전성 입자, 및 기재 입자와 해당 기재 입자의 표면 상에 배치된 도전층을 갖는 도전성 입자를 들 수 있다.Examples of the conductive particles include conductive particles formed entirely of a conductive material and conductive particles having a base particle and a conductive layer disposed on the surface of the base particle.

상기 도전성 입자는, 적어도 외표면이 땜납인 도전성 입자인 것이 바람직하다. 도전성 부분의 외표면이 땜납인 것이 바람직하다. 이 경우에는, 땜납에 유래하여, 도전 재료를 경화시킴으로써 형성된 접속부와, 해당 접속부에 의하여 접속된 접속 대상 부재와의 접착성이 한층 더 높아진다.It is preferable that the above-mentioned conductive particles are conductive particles whose outer surface is solder. And the outer surface of the conductive portion is preferably solder. In this case, the adhesion between the connection portion formed by hardening the conductive material and the connection target member connected by the connection portion derived from the solder becomes even higher.

상기 적어도 외표면이 땜납인 도전성 입자로서, 땜납 입자나, 기재 입자와 해당 기재 입자의 표면 상에 배치된 땜납층을 구비하는 입자 등을 사용할 수 있다. 그 중에서도 땜납 입자를 사용하는 것이 바람직하다. 땜납 입자를 사용함으로써 고속 전송이나 금속 접합 강도를 한층 더 향상시킬 수 있다. 또한 적어도 외표면이 땜납인 도전성 입자를 사용하는 경우에, 제1 전극과 제2 전극과 전극 간에 땜납 입자를 모으게 할 수도 있다. 적어도 외표면이 땜납인 도전성 입자는, 가열 시에, 전극이 형성되어 있지 않은 영역에 존재하고 있던 도전성 입자가, 제1 전극과 제2 전극 사이에 모이는 성질을 갖고 있을 수도 있다.As the conductive particles at least the outer surface of which is solder, there can be used solder particles, particles having base particles and a solder layer disposed on the surface of the base particles, or the like. Among them, it is preferable to use solder particles. By using the solder particles, the high-speed transmission and the metal bonding strength can be further improved. Further, in the case of using the conductive particles whose outer surface is solder, the solder particles may be collected between the first electrode, the second electrode and the electrode. The conductive particles having at least the outer surface of the solder may have the property that the conductive particles existing in the region where the electrode is not formed gather at the time of heating between the first electrode and the second electrode.

도 5는, 본 발명의 제1 실시 형태에서 사용한 도전 재료에 사용 가능한 도전성 입자의 일례를 도시하는 단면도이다.5 is a cross-sectional view showing an example of conductive particles usable in the conductive material used in the first embodiment of the present invention.

상기 도전성 입자는, 도 5에 도시한 바와 같이, 땜납 입자인 도전성 입자(21)인 것이 바람직하다. 도전성 입자(21)는 땜납만에 의하여 형성되어 있다. 도전성 입자(21)는, 기재 입자를 코어에 갖지 않아 코어-쉘 입자는 아니다. 도전성 입자(21)는, 중심 부분 및 외표면 모두 땜납에 의하여 형성되어 있다.As shown in Fig. 5, the conductive particles are preferably conductive particles 21 that are solder particles. The conductive particles 21 are formed only by solder. The conductive particles 21 do not have the base particles in the core and are not core-shell particles. The conductive particles 21 are formed by solder on both the center portion and the outer surface.

접속 대상 부재 간의 접속 거리를 한층 더 균일하게 유지하는 관점에서는, 기재 입자와, 해당 기재 입자의 표면 상에 배치된 땜납층을 구비하는 입자를 사용할 수도 있다.Particles having base particles and a solder layer disposed on the surface of the base particles may be used from the viewpoint of maintaining the connection distance between the connection target members more uniformly.

도 6에 도시하는 변형예에서는, 도전성 입자(1)는, 기재 입자(2)와, 기재 입자(2)의 표면 상에 배치된 도전층(3)을 구비한다. 도전층(3)은 기재 입자(2)의 표면을 피복하고 있다. 도전성 입자(1)는, 기재 입자(2)의 표면이 도전층(3)에 의하여 피복된 피복 입자이다.6, the conductive particles 1 include base particles 2 and a conductive layer 3 disposed on the surface of the base particles 2. In the modified example shown in Fig. The conductive layer (3) covers the surface of the base particle (2). The conductive particles (1) are coated particles in which the surface of the base particles (2) is covered with the conductive layer (3).

도전층(3)은, 제2 도전층(3A)과, 제2 도전층(3A)의 표면 상에 배치된 땜납층(3B)(제1 도전층)을 갖는다. 도전성 입자(1)는, 기재 입자(2)와 땜납층(3B) 사이에 제2 도전층(3A)을 구비한다. 따라서 도전성 입자(1)는, 기재 입자(2)와, 기재 입자(2)의 표면 상에 배치된 제2 도전층(3A)과, 제2 도전층(3A)의 표면 상에 배치된 땜납층(3B)을 구비한다. 이와 같이, 도전층(3)은 다층 구조를 갖고 있을 수도 있고, 2층 이상의 적층 구조를 갖고 있을 수도 있다.The conductive layer 3 has a second conductive layer 3A and a solder layer 3B (first conductive layer) disposed on the surface of the second conductive layer 3A. The conductive particles 1 have a second conductive layer 3A between the base particles 2 and the solder layer 3B. Therefore, the conductive particles 1 include the base particles 2, the second conductive layer 3A disposed on the surface of the base particles 2, and the solder layer 3 disposed on the surface of the second conductive layer 3A, (3B). As described above, the conductive layer 3 may have a multilayer structure or a laminate structure of two or more layers.

상기와 같이, 도전성 입자(1)에 있어서의 도전층(3)은 2층 구조를 갖는다. 도 7에 도시하는 다른 변형예와 같이, 도전성 입자(11)는, 단층의 도전층으로서 땜납층(12)을 갖고 있을 수도 있다. 도전성 입자(11)는, 기재 입자(2)와, 기재 입자(2)의 표면 상에 배치된 땜납층(12)을 구비한다. 기재 입자(2)에 접촉하도록 기재 입자(2)의 표면 상에 땜납층(12)이 배치되어 있을 수도 있다.As described above, the conductive layer 3 in the conductive particle 1 has a two-layer structure. 7, the conductive particles 11 may have a solder layer 12 as a single-layer conductive layer. The conductive particles 11 include base particles 2 and a solder layer 12 disposed on the surface of the base particles 2. The solder layer 12 may be disposed on the surface of the base particle 2 so as to be in contact with the base particle 2.

도전 재료의 열전도율이 한층 더 낮아지기 쉬운 점에서, 도전성 입자(1, 11, 21) 중 도전성 입자(1, 11)가 보다 바람직하다. 기재 입자와, 해당 기재 입자의 표면 상에 배치된 땜납층을 구비하는 도전성 입자의 사용에 의하여, 도전 재료의 열전도율을 한층 더 낮게 하는 것이 용이하다. 접속 신뢰성 및 전극 간의 도통 신뢰성을 한층 더 높이는 관점에서는, 도전성 입자(21)가 바람직하다.The conductive particles (1, 11) among the conductive particles (1, 11, 21) are more preferable because the thermal conductivity of the conductive material tends to be further lowered. It is easy to further lower the thermal conductivity of the conductive material by using the conductive particles including the base particles and the solder layer disposed on the surface of the base particles. From the viewpoint of further improving connection reliability and conduction reliability between the electrodes, the conductive particles 21 are preferable.

상기 기재 입자로서는, 수지 입자, 금속 입자를 제외한 무기 입자, 유기 무기 혼성화 입자 및 금속 입자 등을 들 수 있다. 도전성 입자를 전극 상에 한층 더 효율적으로 배치하는 관점에서는, 상기 기재 입자는, 금속을 제외한 기재 입자인 것이 바람직하고, 수지 입자, 금속 입자를 제외한 무기 입자 또는 유기 무기 혼성화 입자인 것이 바람직하다. 상기 기재 입자는 구리 입자일 수도 있다. 상기 기재 입자는 금속 입자가 아닌 것이 바람직하다.Examples of the base particles include resin particles, inorganic particles other than metal particles, organic-inorganic hybridized particles, and metal particles. From the viewpoint of more efficiently arranging the conductive particles on the electrode, the base particles are preferably base particles except metal, and are preferably inorganic particles other than resin particles, metal particles, or organic-inorganic hybridized particles. The base particles may be copper particles. The base particles are preferably not metal particles.

상기 기재 입자는, 수지에 의하여 형성된 수지 입자인 것이 바람직하다. 도전성 입자를 사용하여 전극 간을 접속할 때는, 도전성 입자를 전극 간에 배치한 후, 압착함으로써 도전성 입자를 압축시킨다. 상기 기재 입자가 수지 입자이면, 상기 압착 시에 도전성 입자가 변형되기 쉬워, 도전성 입자와 전극의 접촉 면적이 커진다. 이로 인하여 전극 간의 도통 신뢰성이 한층 더 높아진다.The base particles are preferably resin particles formed by a resin. When the electrodes are connected using the conductive particles, the conductive particles are disposed between the electrodes and then pressed to compress the conductive particles. When the base particles are resin particles, the conductive particles are liable to be deformed at the time of pressing, and the contact area between the conductive particles and the electrode is increased. As a result, the reliability of conduction between the electrodes is further enhanced.

상기 수지 입자를 형성하기 위한 수지로서, 다양한 유기물이 적절히 사용된다. 상기 수지 입자를 형성하기 위한 수지로서는, 예를 들어 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 폴리스티렌, 폴리염화비닐, 폴리염화비닐리덴, 폴리이소부틸렌, 폴리부타디엔 등의 폴리올레핀 수지; 폴리메틸메타크릴레이트, 폴리메틸아크릴레이트 등의 아크릴 수지; 폴리알킬레테레프탈레이트, 폴리카르보네이트, 폴리아미드, 페놀포름알데히드 수지, 멜라민포름알데히드 수지, 벤조구아나민포름알데히드 수지, 요소포름알데히드 수지, 페놀 수지, 멜라민 수지, 벤조구아나민 수지, 요소 수지, 에폭시 수지, 불포화 폴리에스테르 수지, 포화 폴리에스테르 수지, 폴리에틸렌테레프탈레이트, 폴리술폰, 폴리페닐렌옥사이드, 폴리아세탈, 폴리이미드, 폴리아미드이미드, 폴리에테르에테르케톤, 폴리에테르술폰, 디비닐벤젠 중합체 및 디비닐벤젠계 공중합체 등을 들 수 있다. 상기 디비닐벤젠계 공중합체 등으로서는, 디비닐벤젠-스티렌 공중합체 및 디비닐벤젠-(메트)아크릴산에스테르 공중합체 등을 들 수 있다. 상기 수지 입자의 경도를 적합한 범위로 용이하게 제어할 수 있으므로, 상기 수지 입자를 형성하기 위한 수지는, 에틸렌성 불포화기를 갖는 중합성 단량체를 1종 또는 2종 이상 중합시킨 중합체인 것이 바람직하다.As the resin for forming the resin particles, various organic materials are suitably used. Examples of the resin for forming the resin particles include polyolefin resins such as polyethylene, polypropylene, polystyrene, polyvinyl chloride, polyvinylidene chloride, polyisobutylene, and polybutadiene; Acrylic resins such as polymethyl methacrylate and polymethyl acrylate; Phenol resin, melamine resin, urea resin, urea resin, urea resin, urea resin, urea resin, phenol resin, melamine resin, urea resin, urea resin, urea resin, And examples thereof include epoxy resins, unsaturated polyester resins, saturated polyester resins, polyethylene terephthalate, polysulfone, polyphenylene oxide, polyacetal, polyimide, polyamideimide, polyetheretherketone, polyether sulfone, Vinylbenzene-based copolymer, and the like. Examples of the divinylbenzene-based copolymer and the like include a divinylbenzene-styrene copolymer and a divinylbenzene- (meth) acrylate copolymer. It is preferable that the resin for forming the resin particles is a polymer obtained by polymerizing at least one polymerizable monomer having an ethylenic unsaturated group.

상기 수지 입자를, 에틸렌성 불포화기를 갖는 단량체를 중합시켜 얻는 경우에는, 해당 에틸렌성 불포화기를 갖는 단량체로서는, 비가교성의 단량체와 가교성의 단량체를 들 수 있다.When the resin particle is obtained by polymerizing a monomer having an ethylenic unsaturated group, examples of the monomer having the ethylenic unsaturated group include a monomer which is incompatible with the monomer and a monomer which is crosslinkable.

상기 비가교성의 단량체로서는, 예를 들어 스티렌, α-메틸스티렌 등의 스티렌계 단량체; (메트)아크릴산, 말레산, 무수 말레산 등의 카르복실기 함유 단량체; 메틸(메트)아크릴레이트, 에틸(메트)아크릴레이트, 프로필(메트)아크릴레이트, 부틸(메트)아크릴레이트, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트, 라우릴(메트)아크릴레이트, 세틸(메트)아크릴레이트, 스테아릴(메트)아크릴레이트, 시클로헥실(메트)아크릴레이트, 이소보르닐(메트)아크릴레이트 등의 알킬(메트)아크릴레이트류; 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트, 글리세롤(메트)아크릴레이트, 폴리옥시에틸렌(메트)아크릴레이트, 글리시딜(메트)아크릴레이트 등의 산소 원자 함유 (메트)아크릴레이트류; (메트)아크릴로니트릴 등의 니트릴 함유 단량체; 메틸비닐에테르, 에틸비닐에테르, 프로필비닐에테르 등의 비닐에테르류; 아세트산비닐, 부티르산비닐, 라우르산비닐, 스테아르산비닐 등의 산비닐에스테르류; 에틸렌, 프로필렌, 이소프렌, 부타디엔 등의 불포화 탄화수소; 트리플루오로메틸(메트)아크릴레이트, 펜타플루오로에틸(메트)아크릴레이트, 염화비닐, 불화비닐, 클로로스티렌 등의 할로겐 함유 단량체 등을 들 수 있다.Examples of the non-crosslinkable monomer include styrene-based monomers such as styrene and? -Methylstyrene; Carboxyl group-containing monomers such as (meth) acrylic acid, maleic acid, and maleic anhydride; (Meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, propyl (meth) acrylate, butyl Alkyl (meth) acrylates such as acrylate, stearyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate and isobornyl (meth) acrylate; (Meth) acrylates such as 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, glycerol (meth) acrylate, polyoxyethylene (meth) acrylate and glycidyl (meth) acrylate; Nitrile-containing monomers such as (meth) acrylonitrile; Vinyl ethers such as methyl vinyl ether, ethyl vinyl ether and propyl vinyl ether; Acid vinyl esters such as vinyl acetate, vinyl butyrate, vinyl laurate and vinyl stearate; Unsaturated hydrocarbons such as ethylene, propylene, isoprene and butadiene; Halogen-containing monomers such as trifluoromethyl (meth) acrylate, pentafluoroethyl (meth) acrylate, vinyl chloride, vinyl fluoride and chlorostyrene.

상기 가교성의 단량체로서는, 예를 들어 테트라메틸올메탄테트라(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄트리(메트)아크릴레이트, 테트라메틸올메탄디(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨펜타(메트)아크릴레이트, 글리세롤트리(메트)아크릴레이트, 글리세롤디(메트)아크릴레이트, (폴리)에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, (폴리)프로필렌글리콜디(메트)아크릴레이트, (폴리)테트라메틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 1,4-부탄디올디(메트)아크릴레이트 등의 다관능 (메트)아크릴레이트류; 트리알릴(이소)시아누레이트, 트리알릴트리멜리테이트, 디비닐벤젠, 디알릴프탈레이트, 디알릴아크릴아미드, 디알릴에테르, γ-(메트)아크릴옥시프로필트리메톡시실란, 트리메톡시실릴스티렌, 비닐트리메톡시실란 등의 실란 함유 단량체 등을 들 수 있다.Examples of the crosslinkable monomer include tetramethylolmethane tetra (meth) acrylate, tetramethylol methane tri (meth) acrylate, tetramethylol methane di (meth) acrylate, trimethylolpropane tri (meth) (Meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, glycerol tri (meth) acrylate, glycerol di (meth) acrylate, (poly) ethylene glycol di Polyfunctional (meth) acrylates such as (poly) propylene glycol di (meth) acrylate, (poly) tetramethylene glycol di (meth) acrylate and 1,4-butanediol di (meth) acrylate; (Meth) acryloxypropyltrimethoxysilane, trimethoxysilylstyrene, trimethylolpropane trimethoxysilane, triallyl trimellitate, divinyl benzene, diallyl phthalate, diallyl acrylamide, diallyl ether, , Silane-containing monomers such as vinyltrimethoxysilane, and the like.

상기 기재 입자가, 금속을 제외한 무기 입자 또는 유기 무기 혼성화 입자인 경우에는, 기재 입자를 형성하기 위한 무기물로서는, 실리카 및 카본 블랙 등을 들 수 있다. 상기 무기물은 금속이 아닌 것이 바람직하다. 상기 실리카에 의하여 형성된 입자로서는 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어 가수분해성의 알콕시실릴기를 2개 이상 갖는 규소 화합물을 가수분해하여 가교 중합체 입자를 형성한 후에, 필요에 따라 소성을 행함으로써 얻어지는 입자를 들 수 있다. 상기 유기 무기 혼성화 입자로서는, 예를 들어 가교된 알콕시실릴 중합체와 아크릴 수지에 의하여 형성된 유기 무기 혼성화 입자 등을 들 수 있다.When the base particles are inorganic particles other than metals or organic-inorganic hybridized particles, examples of inorganic substances for forming base particles include silica and carbon black. The inorganic material is preferably not a metal. The particles formed by the silica are not particularly limited. For example, particles obtained by hydrolyzing a silicon compound having two or more hydrolyzable alkoxysilyl groups to form crosslinked polymer particles, and then firing if necessary, . Examples of the organic-inorganic hybridized particles include crosslinked alkoxysilyl polymers and organic-inorganic hybridized particles formed by an acrylic resin.

상기 기재 입자가 금속 입자인 경우에, 해당 금속 입자를 형성하기 위한 금속으로서는, 은, 구리, 니켈, 규소, 금 및 티타늄 등을 들 수 있다. 상기 기재 입자가 금속 입자인 경우에, 해당 금속 입자는 구리 입자인 것이 바람직하다. 단, 상기 기재 입자는 금속 입자가 아닌 것이 바람직하다.In the case where the base particles are metal particles, silver, copper, nickel, silicon, gold, titanium and the like can be given as metals for forming the metal particles. When the base particles are metal particles, the metal particles are preferably copper particles. However, it is preferable that the base particles are not metal particles.

상기 기재 입자의 융점은, 상기 땜납층의 융점보다도 높은 것이 바람직하다. 상기 기재 입자의 융점은, 바람직하게는 160℃를 초과하고, 보다 바람직하게는 300℃를 초과하며, 더욱 바람직하게는 400℃를 초과하고, 특히 바람직하게는 450℃를 초과한다. 또한 상기 기재 입자의 융점은 400℃ 미만일 수도 있다. 상기 기재 입자의 융점은 160℃ 이하일 수도 있다. 상기 기재 입자의 연화점은 260℃ 이상인 것이 바람직하다. 상기 기재 입자의 연화점은 260℃ 미만일 수도 있다.The melting point of the base particles is preferably higher than the melting point of the solder layer. The melting point of the base particles preferably exceeds 160 캜, more preferably exceeds 300 캜, more preferably exceeds 400 캜, and particularly preferably exceeds 450 캜. The melting point of the base particles may be lower than 400 占 폚. The melting point of the base particles may be 160 캜 or lower. The base particles preferably have a softening point of 260 캜 or higher. The softening point of the base particles may be less than 260 캜.

상기 도전성 입자는 단층의 땜납층을 갖고 있을 수도 있다. 상기 도전성 입자는 복수의 층의 도전층(땜납층, 제2 도전층)을 갖고 있을 수도 있다. 즉, 상기 도전성 입자에서는, 도전층을 2층 이상 적층할 수도 있다. 경우에 따라서는, 땜납 입자도, 복수의 층에 의하여 형성되어 있는 입자일 수도 있다.The conductive particles may have a single-layered solder layer. The conductive particles may have a plurality of conductive layers (solder layer, second conductive layer). That is, in the conductive particles, two or more conductive layers may be laminated. In some cases, the solder particles may be particles formed by a plurality of layers.

상기 땜납층을 형성하는 땜납, 및 땜납 입자를 형성하는 땜납은, 융점이 450℃ 이하인 저융점 금속인 것이 바람직하다. 상기 땜납층은, 융점이 450℃ 이하인 저융점 금속층인 것이 바람직하다. 상기 저융점 금속층은, 저융점 금속을 포함하는 층이다. 상기 땜납 입자는, 융점이 450℃ 이하인 저융점 금속 입자인 것이 바람직하다. 상기 저융점 금속 입자는, 저융점 금속을 포함하는 입자이다. 해당 저융점 금속이란, 융점이 450℃ 이하인 금속을 나타낸다. 저융점 금속의 융점은, 바람직하게는 300℃ 이하, 보다 바람직하게는 160℃ 이하이다. 또한 상기 땜납층 및 상기 땜납 입자는 주석을 포함하는 것이 바람직하다. 상기 땜납층에 포함되는 금속 100중량% 중, 및 상기 땜납 입자에 포함되는 금속 100중량% 중, 주석의 함유량은, 바람직하게는 30중량% 이상, 보다 바람직하게는 40중량% 이상, 더욱 바람직하게는 70중량% 이상, 특히 바람직하게는 90중량% 이상이다. 상기 땜납층 및 상기 땜납 입자에 있어서의 주석의 함유량이 상기 하한 이상이면, 도전성 입자와 전극의 접속 신뢰성이 한층 더 높아진다.The solder for forming the solder layer and the solder for forming the solder particles are preferably a low melting point metal having a melting point of 450 캜 or lower. The solder layer is preferably a low melting point metal layer having a melting point of 450 캜 or lower. The low melting point metal layer is a layer containing a low melting point metal. The solder particles are preferably low melting point metal particles having a melting point of 450 캜 or lower. The low melting point metal particles are particles containing a low melting point metal. The low melting point metal means a metal having a melting point of 450 캜 or lower. The melting point of the low melting point metal is preferably 300 DEG C or lower, more preferably 160 DEG C or lower. It is also preferable that the solder layer and the solder particles contain tin. The content of tin in 100 wt% of the metal contained in the solder layer and 100 wt% of the metal contained in the solder particles is preferably 30 wt% or more, more preferably 40 wt% or more, Is at least 70% by weight, particularly preferably at least 90% by weight. When the content of tin in the solder layer and the solder particles is not lower than the lower limit, the connection reliability between the conductive particles and the electrode is further increased.

또한 상기 주석의 함유량은, 고주파 유도 결합 플라즈마 발광 분광 분석 장치(호리바 세이사쿠쇼사 제조의 「ICP-AES」), 또는 형광 X선 분석 장치(시마즈 세이사쿠쇼사 제조의 「EDX-800HS」) 등을 사용하여 측정 가능하다.The content of the tin may be determined by a high frequency inductively coupled plasma emission spectrochemical analyzer ("ICP-AES" manufactured by Horiba Seisakusho Co., Ltd.) or a fluorescent X-ray analyzer ("EDX-800HS" manufactured by Shimadzu Corporation) Can be measured using.

상기 땜납 입자, 및 땜납을 도전성의 표면에 갖는 도전성 입자를 사용함으로써, 땜납이 용융되어 전극에 접합하고, 땜납이 전극 간을 도통시킨다. 예를 들어 땜납과 전극이 점 접촉이 아니라 면 접촉하기 쉽기 때문에 접속 저항이 낮아진다. 또한 땜납을 도전성의 표면에 갖는 도전성 입자의 사용에 의하여, 땜납과 전극의 접합 강도가 높아지는 결과, 땜납과 전극의 박리가 한층 더 발생하기 어려워져, 도통 신뢰성 및 접속 신뢰성이 효과적으로 높아진다.By using the solder particles and the conductive particles having the solder on the conductive surface, the solder is melted and bonded to the electrodes, and the solder makes the electrodes conductive. For example, if the solder and the electrode are not in point contact, they are likely to come into contact with each other, thereby lowering the connection resistance. Further, by the use of the conductive particles having the solder on the conductive surface, the bonding strength between the solder and the electrode is increased. As a result, the solder and the electrode are less likely to be peeled off, and the conduction reliability and the connection reliability are effectively increased.

상기 땜납층 및 상기 땜납 입자를 구성하는 저융점 금속은 특별히 한정되지 않는다. 해당 저융점 금속은, 주석, 또는 주석을 포함하는 합금인 것이 바람직하다. 해당 합금은, 주석-은 합금, 주석-구리 합금, 주석-은-구리 합금, 주석-비스무트 합금, 주석-아연 합금, 주석-인듐 합금 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 전극에 대한 습윤성이 우수한 점에서, 상기 저융점 금속은, 주석, 주석-은 합금, 주석-은-구리 합금, 주석-비스무트 합금, 주석-인듐 합금인 것이 바람직하다. 주석-비스무트 합금, 주석-인듐 합금인 것이 보다 바람직하다.The solder layer and the low melting point metal constituting the solder particle are not particularly limited. The low melting point metal is preferably an alloy containing tin or tin. Examples of the alloy include tin-silver alloy, tin-copper alloy, tin-silver-copper alloy, tin-bismuth alloy, tin-zinc alloy and tin-indium alloy. Among them, it is preferable that the low melting point metal is tin, a tin-silver alloy, a tin-silver-copper alloy, a tin-bismuth alloy, and a tin-indium alloy from the viewpoint of excellent wettability to electrodes. Tin-bismuth alloy, and tin-indium alloy.

상기 땜납(땜납층 및 상기 땜납 입자)을 구성하는 재료는, JIS Z3001: 용접 용어에 기초하여, 액상선이 450℃ 이하인 용가재인 것이 바람직하다. 상기 땜납의 조성으로서는, 예를 들어 아연, 금, 은, 납, 구리, 주석, 비스무트, 인듐 등을 포함하는 금속 조성을 들 수 있다. 그 중에서도, 저융점이고 납 프리인 주석-인듐계(117℃ 공정(共晶)), 또는 주석-비스무트계(139℃ 공정)이 바람직하다. 즉, 상기 땜납은 납을 포함하지 않는 것이 바람직하고, 주석과 인듐을 포함하는 땜납, 또는 주석과 비스무트를 포함하는 땜납인 것이 바람직하다.The material constituting the solder (the solder layer and the solder particles) is preferably a filler material having a liquidus line of 450 DEG C or less based on JIS Z3001: welding terminology. Examples of the composition of the solder include a metal composition including zinc, gold, silver, lead, copper, tin, bismuth, indium and the like. Among them, tin-indium based (117 占 폚 eutectic), which is a low melting point and lead-free, or tin-bismuth system (139 占 폚) is preferable. That is, it is preferable that the solder does not contain lead, and is preferably solder containing tin and indium, or solder containing tin and bismuth.

상기 땜납과 전극의 접합 강도를 한층 더 높이기 위하여, 상기 땜납층 및 상기 땜납 입자는, 인, 텔루륨을 포함하고 있을 수도 있고, 니켈, 구리, 안티몬, 알루미늄, 아연, 철, 금, 티타늄, 게르마늄, 코발트, 비스무트, 망간, 크롬, 몰리브덴, 팔라듐 등의 금속을 포함하고 있을 수도 있다. 또한 땜납과 전극의 접합 강도를 한층 더 높이는 관점에서는, 상기 땜납층 및 상기 땜납 입자는, 니켈, 구리, 안티몬, 알루미늄 또는 아연을 포함하는 것이 바람직하다. 땜납층 또는 땜납 입자와 전극의 접합 강도를 한층 더 높이는 관점에서는, 접합 강도를 높이기 위한 이들 금속의 함유량은, 땜납층 100중량% 중 또는 땜납 입자 100중량% 중, 바람직하게는 0.0001중량% 이상, 바람직하게는 1중량% 이하이다.In order to further increase the bonding strength between the solder and the electrode, the solder layer and the solder particle may include phosphorus, tellurium, nickel, copper, antimony, aluminum, zinc, iron, gold, titanium, germanium , Cobalt, bismuth, manganese, chromium, molybdenum, palladium, and the like. From the viewpoint of further increasing the bonding strength between the solder and the electrode, it is preferable that the solder layer and the solder particle include nickel, copper, antimony, aluminum or zinc. From the viewpoint of further increasing the bonding strength between the solder layer or the solder particles and the electrode, the content of these metals for increasing the bonding strength is preferably 0.0001 wt% or more, more preferably 0.0001 wt% or more of 100 wt% of the solder layer or 100 wt% Preferably 1% by weight or less.

상기 제2 도전층의 융점은, 상기 땜납층의 융점보다도 높은 것이 바람직하다. 상기 제2 도전층의 융점은, 바람직하게는 160℃를 초과하고, 보다 바람직하게는 300℃를 초과하며, 더욱 바람직하게는 400℃를 초과하고, 한층 더 바람직하게는 450℃를 초과하고, 특히 바람직하게는 500℃를 초과하고, 가장 바람직하게는 600℃를 초과한다. 상기 땜납층은 융점이 낮기 때문에 도전 접속 시에 용융된다. 상기 제2 도전층은 도전 접속 시에 용융되지 않는 것이 바람직하다. 상기 도전성 입자는, 땜납을 용융시켜 사용되는 것이 바람직하고, 상기 땜납층을 용융시켜 사용되는 것이 바람직하며, 상기 땜납층을 용융시키고 또한 상기 제2 도전층을 용융시키지 않고 사용되는 것이 바람직하다. 상기 제2 도전층의 융점이 상기 땜납층의 융점보다도 높음으로써, 도전 접속 시에 상기 제2 도전층을 용융시키지 않고 상기 땜납층만을 용융시킬 수 있다.The melting point of the second conductive layer is preferably higher than the melting point of the solder layer. The melting point of the second conductive layer is preferably more than 160 DEG C, more preferably more than 300 DEG C, more preferably more than 400 DEG C, still more preferably more than 450 DEG C, Preferably greater than 500 캜, and most preferably greater than 600 캜. Since the solder layer has a low melting point, it is melted at the time of conductive connection. It is preferable that the second conductive layer is not melted at the time of conductive connection. It is preferable that the conductive particles are used by melting the solder. Preferably, the conductive particles are used by melting the solder layer. It is preferable that the conductive particles are used without melting the solder layer and melting the second conductive layer. The melting point of the second conductive layer is higher than the melting point of the solder layer so that only the solder layer can be melted without melting the second conductive layer at the time of conductive connection.

상기 땜납층의 융점과 상기 제2 도전층의 융점과의 차의 절댓값은 0℃ 초과, 바람직하게는 5℃ 이상, 보다 바람직하게는 10℃ 이상, 더욱 바람직하게는 30℃ 이상, 특히 바람직하게는 50℃ 이상, 가장 바람직하게는 100℃ 이상이다.The absolute value of the difference between the melting point of the solder layer and the melting point of the second conductive layer is more than 0 DEG C, preferably 5 DEG C or more, more preferably 10 DEG C or more, still more preferably 30 DEG C or more, 50 DEG C or higher, and most preferably 100 DEG C or higher.

상기 제2 도전층은 금속을 포함하는 것이 바람직하다. 상기 제2 도전층을 구성하는 금속은 특별히 한정되지 않는다. 해당 금속으로서는, 예를 들어 금, 은, 구리, 백금, 팔라듐, 아연, 납, 알루미늄, 코발트, 인듐, 니켈, 크롬, 티타늄, 안티몬, 비스무트, 게르마늄 및 카드뮴, 및 이들의 합금 등을 들 수 있다. 또한 상기 금속으로서, 주석 도핑 산화인듐(ITO)을 사용할 수도 있다. 상기 금속은 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.The second conductive layer preferably includes a metal. The metal constituting the second conductive layer is not particularly limited. As the metal, for example, gold, silver, copper, platinum, palladium, zinc, lead, aluminum, cobalt, indium, nickel, chromium, titanium, antimony, bismuth, germanium and cadmium, . As the metal, tin-doped indium oxide (ITO) may also be used. These metals may be used singly or two or more of them may be used in combination.

상기 제2 도전층은, 니켈층, 팔라듐층, 구리층 또는 금층인 것이 바람직하고, 니켈층 또는 금층인 것이 보다 바람직하며, 구리층인 것이 더욱 바람직하다. 도전성 입자는, 니켈층, 팔라듐층, 구리층 또는 금층을 갖는 것이 바람직하고, 니켈층 또는 금층을 갖는 것이 보다 바람직하며, 구리층을 갖는 것이 더욱 바람직하다. 이들 바람직한 도전층을 갖는 도전성 입자를 전극 간의 접속에 사용함으로써, 전극 간의 접속 저항이 한층 더 낮아진다. 또한 이들 바람직한 도전층의 표면에는 땜납층을 한층 더 용이하게 형성할 수 있다.The second conductive layer is preferably a nickel layer, a palladium layer, a copper layer or a gold layer, more preferably a nickel layer or a gold layer, and more preferably a copper layer. The conductive particles preferably have a nickel layer, a palladium layer, a copper layer or a gold layer, more preferably a nickel layer or a gold layer, and more preferably a copper layer. By using the conductive particles having these preferable conductive layers for connection between the electrodes, the connection resistance between the electrodes is further lowered. In addition, a solder layer can be formed more easily on the surface of these preferable conductive layers.

상기 도전성 입자의 평균 입자 직경은, 바람직하게는 0.1㎛ 이상, 보다 바람직하게는 1㎛ 이상, 바람직하게는 100㎛ 이하, 보다 바람직하게는 80㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 50㎛ 이하, 특히 바람직하게는 40㎛ 이하이다. 도전성 입자의 평균 입자 직경이 상기 하한 이상 및 상기 상한 이하이면, 도전성 입자와 전극의 접촉 면적이 충분히 커지고, 또한 도전층을 형성할 때 응집한 도전성 입자가 형성되기 어려워진다. 또한 도전 재료에 있어서의 도전성 입자에 적합한 크기가 되어, 도전성 입자를 개재하여 접속된 전극 간의 간격이 지나치게 커지지 않고, 또한 도전층이 기재 입자의 표면으로부터 박리되기 어려워진다.The average particle diameter of the conductive particles is preferably 0.1 mu m or more, more preferably 1 mu m or more, preferably 100 mu m or less, more preferably 80 mu m or less, further preferably 50 mu m or less, Is 40 mu m or less. When the average particle diameter of the conductive particles is not less than the lower limit and not more than the upper limit, the contact area between the conductive particles and the electrode becomes sufficiently large, and the conductive particles aggregated when the conductive layer is formed are difficult to form. In addition, the conductive particles become a size suitable for the conductive particles in the conductive material, the gap between the electrodes connected via the conductive particles does not become excessively large, and the conductive layer becomes difficult to peel off from the surface of the base particles.

상기 도전성 입자의 입자 직경은 수 평균 입자 직경을 나타낸다. 상기 도전성 입자의 평균 입자 직경은, 임의의 도전성 입자 50개를 전자 현미경 또는 광학 현미경으로 관찰하여, 평균값을 산출함으로써 구해진다.The particle diameter of the conductive particles indicates the number average particle diameter. The average particle diameter of the conductive particles is obtained by observing 50 conductive particles of any given type with an electron microscope or an optical microscope and calculating an average value.

상기 땜납층의 두께는, 바람직하게는 0.005㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 바람직하게는 10㎛ 이하, 보다 바람직하게는 1㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 0.3㎛ 이하이다. 땜납층의 두께가 상기 하한 이상 및 상기 상한 이하이면, 충분한 도전성이 얻어지고, 또한 도전성 입자가 지나치게 단단해지지 않아, 전극 간의 접속 시에 도전성 입자가 충분히 변형된다. 또한 상기 땜납층의 두께가 얇을수록 도전 재료의 열전도율을 낮게 하는 것이 용이하다. 도전 재료의 열전도율을 충분히 낮게 하는 관점에서는, 상기 땜납층의 두께는, 바람직하게는 4㎛ 이하, 보다 바람직하게는 2㎛ 이하이다.The thickness of the solder layer is preferably at least 0.005 탆, more preferably at least 0.01 탆, preferably at most 10 탆, more preferably at most 1 탆, further preferably at most 0.3 탆. When the thickness of the solder layer is not less than the lower limit and not more than the upper limit, sufficient conductivity is obtained and the conductive particles are not excessively hardened, and the conductive particles are sufficiently deformed at the time of connection between the electrodes. Further, the thinner the solder layer, the easier it is to lower the thermal conductivity of the conductive material. From the viewpoint of sufficiently lowering the thermal conductivity of the conductive material, the thickness of the solder layer is preferably 4 占 퐉 or less, and more preferably 2 占 퐉 or less.

상기 제2 도전층의 두께는, 바람직하게는 0.005㎛ 이상, 보다 바람직하게는 0.01㎛ 이상, 바람직하게는 10㎛ 이하, 보다 바람직하게는 1㎛ 이하, 더욱 바람직하게는 0.3㎛ 이하이다. 상기 제2 도전층의 두께가 상기 하한 이상 및 상기 상한 이하이면, 전극 간의 접속 저항이 한층 더 낮아진다. 또한 상기 제2 도전층의 두께가 얇을수록 도전 재료의 열전도율을 낮게 하는 것이 용이하다. 도전 재료의 열전도율을 충분히 낮게 하는 관점에서는, 상기 제2 도전층의 두께는, 바람직하게는 3㎛ 이하, 보다 바람직하게는 1㎛ 이하이다.The thickness of the second conductive layer is preferably at least 0.005 탆, more preferably at least 0.01 탆, preferably at most 10 탆, more preferably at most 1 탆, further preferably at most 0.3 탆. When the thickness of the second conductive layer is not less than the lower limit and not more than the upper limit, the connection resistance between the electrodes is further lowered. Also, the thinner the thickness of the second conductive layer, the easier it is to lower the thermal conductivity of the conductive material. From the viewpoint of sufficiently lowering the thermal conductivity of the conductive material, the thickness of the second conductive layer is preferably 3 占 퐉 or less, and more preferably 1 占 퐉 or less.

상기 도전성 입자가 도전층으로서 땜납층만을 갖는 경우에는, 상기 땜납층의 두께는, 바람직하게는 10㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5㎛ 이하이다. 상기 도전성 입자가 도전층으로서, 땜납층과, 땜납층과는 상이한 다른 도전층(제2 도전층 등)을 갖는 경우에는, 땜납층과, 땜납층과는 상이한 다른 도전층의 합계의 두께는, 바람직하게는 10㎛ 이하, 보다 바람직하게는 5㎛ 이하이다.When the conductive particles have only a solder layer as a conductive layer, the thickness of the solder layer is preferably 10 占 퐉 or less, and more preferably 5 占 퐉 or less. When the conductive particles have a conductive layer different from the solder layer and the solder layer (the second conductive layer or the like) as the conductive layer, the total thickness of the solder layer and the different conductive layers different from the solder layer, Preferably 10 mu m or less, more preferably 5 mu m or less.

[플럭스][Flux]

상기 도전 재료는 플럭스를 포함하는 것이 바람직하다. 해당 플럭스는 특별히 한정되지 않는다. 상기 플럭스로서, 땜납 접합 등에 일반적으로 사용되고 있는 플럭스를 사용할 수 있다. 상기 플럭스는 1종만이 사용될 수도 있고, 2종 이상이 병용될 수도 있다.The conductive material preferably includes a flux. The flux is not particularly limited. As the flux, a flux generally used for soldering or the like can be used. The flux may be used alone or in combination of two or more.

상기 플럭스로서는, 예를 들어 염화아연, 염화아연과 무기 할로겐화물의 혼합물, 염화아연과 무기산의 혼합물, 용융염, 인산, 인산의 유도체, 유기 할로겐화물, 히드라진, 유기산 및 송지 등을 들 수 있다. 상기 용융염으로서는, 염화암모늄 등을 들 수 있다. 상기 유기산으로서는, 락트산, 시트르산, 스테아르산, 글루탐산 및 글루타르산 등을 들 수 있다. 상기 송지로서는, 활성화 송지 및 비활성화송지 등을 들 수 있다. 상기 플럭스는, 카르복실기를 2개 이상 갖는 유기산, 송지인 것이 바람직하다. 상기 플럭스는, 카르복실기를 2개 이상 갖는 유기산일 수도 있고, 송지일 수도 있다. 카르복실기를 2개 이상 갖는 유기산, 송지의 사용에 의하여 전극 간의 도통 신뢰성이 한층 더 높아진다.Examples of the flux include zinc chloride, a mixture of zinc chloride and an inorganic halide, a mixture of zinc chloride and an inorganic acid, a molten salt, a phosphoric acid, a derivative of phosphoric acid, an organic halide, a hydrazine, an organic acid, Examples of the molten salt include ammonium chloride and the like. Examples of the organic acid include lactic acid, citric acid, stearic acid, glutamic acid and glutaric acid. Examples of the papermaking papers include activated papermaking and inactive papermaking. It is preferable that the flux is an organic acid having two or more carboxyl groups, and a feedstock. The flux may be an organic acid having two or more carboxyl groups, or may be tanned. The use of an organic acid having two or more carboxyl groups and a transfer paper makes the reliability of conduction between the electrodes even higher.

상기 송지는 아비에트산을 주성분으로 하는 로진류이다. 플럭스는 로진류인 것이 바람직하고, 아비에트산인 것이 보다 바람직하다. 이 바람직한 플럭스의 사용에 의하여 전극 간의 도통 신뢰성이 한층 더 높아진다.The above paper is a rosin mainly containing abietic acid. The flux is preferably rosin, more preferably abietic acid. By using this preferable flux, the reliability of conduction between the electrodes is further enhanced.

상기 플럭스의 융점은, 바람직하게는 50℃ 이상, 보다 바람직하게는 70℃ 이상, 더욱 바람직하게는 80℃ 이상, 바람직하게는 200℃ 이하, 보다 바람직하게는 160℃ 이하, 한층 더 바람직하게는 150℃ 이하, 더욱 바람직하게는 140℃ 이하이다. 상기 플럭스의 융점이 상기 하한 이상 및 상기 상한 이하이면, 플럭스 효과가 한층 더 효과적으로 발휘되어, 땜납 입자가 전극 상에 한층 더 효율적으로 배치된다. 상기 플럭스의 융점은 80℃ 이상 190℃ 이하인 것이 바람직하다. 상기 플럭스의 융점은 80℃ 이상 140℃ 이하인 것이 특히 바람직하다.The melting point of the flux is preferably 50 占 폚 or higher, more preferably 70 占 폚 or higher, even more preferably 80 占 폚 or higher, preferably 200 占 폚 or lower, more preferably 160 占 폚 or lower, even more preferably 150 Lt; 0 > C, more preferably 140 < 0 > C or less. When the melting point of the flux is higher than or equal to the lower limit and lower than or equal to the upper limit, the flux effect is more effectively exhibited, and the solder particles are more efficiently arranged on the electrode. The melting point of the flux is preferably 80 ° C or higher and 190 ° C or lower. The melting point of the flux is particularly preferably from 80 캜 to 140 캜.

융점이 80℃ 이상, 190℃ 이하인 상기 플럭스로서는, 숙신산(융점 186℃), 글루타르산(융점 96℃), 아디프산(융점 152℃), 피멜산(융점 104℃), 수베르산(융점 142℃) 등의 디카르복실산, 벤조산(융점 122℃), 말산(융점 130℃) 등을 들 수 있다.Examples of the flux having a melting point of 80 캜 to 190 캜 include succinic acid having a melting point of 186 캜, glutaric acid having a melting point of 96 캜, adipic acid having a melting point of 152 캜, pimelic acid having a melting point of 104 캜, (Melting point: 142 占 폚), benzoic acid (melting point: 122 占 폚) and malic acid (melting point: 130 占 폚).

땜납을 전극 상에 한층 더 효율적으로 배치하는 관점에서는, 상기 플럭스의 융점은 상기 땜납 입자에 있어서의 땜납의 융점보다도 낮은 것이 바람직하고, 5℃ 이상 낮은 것이 보다 바람직하며, 10℃ 이상 낮은 것이 더욱 바람직하다.From the viewpoint of more efficiently placing the solder on the electrode, the melting point of the flux is preferably lower than the melting point of the solder in the solder particle, more preferably 5 deg. C or lower, more preferably 10 deg. Do.

땜납을 전극 상에 한층 더 효율적으로 배치하는 관점에서는, 상기 플럭스의 융점은 상기 열경화제의 반응 개시 온도보다도 낮은 것이 바람직하고, 5℃ 이상 낮은 것이 보다 바람직하며, 10℃ 이상 낮은 것이 더욱 바람직하다.From the viewpoint of more efficiently placing the solder on the electrode, the melting point of the flux is preferably lower than the reaction initiation temperature of the thermosetting agent, more preferably 5 deg. C or lower, still more preferably 10 deg.

상기 플럭스는 상기 경화성 조성물 또는 상기 도전 재료 중에 분산되어 있을 수도 있고, 도전성 입자 또는 땜납 입자의 표면 상에 부착되어 있을 수도 있다.The flux may be dispersed in the curable composition or the conductive material, or may be attached on the surface of the conductive particles or the solder particles.

상기 도전 재료 100중량% 중, 상기 플럭스의 함유량은 0중량%(미사용) 이상, 바람직하게는 0.5중량% 이상, 바람직하게는 30중량% 이하, 보다 바람직하게는 25중량% 이하이다. 상기 도전 재료는 플럭스를 포함하고 있지 않을 수도 있다. 플럭스의 함유량이 상기 하한 이상 및 상기 상한 이하이면, 땜납 및 전극의 표면에 산화막이 한층 더 형성되기 어려워지고, 또한 땜납 및 전극의 표면에 형성된 산화막을 한층 더 효과적으로 제거할 수 있다.The content of the flux in 100 wt% of the conductive material is 0 wt% (unused) or more, preferably 0.5 wt% or more, preferably 30 wt% or less, and more preferably 25 wt% or less. The conductive material may not contain a flux. If the content of the flux is lower than or equal to the lower limit and lower than or equal to the upper limit described above, an oxide film is less likely to be formed on the surface of the solder and the electrode, and the oxide film formed on the surface of the solder and the electrode can be removed more effectively.

(접속 구조체)(Connection structure)

상술한 경화성 조성물 또는 상기 도전 재료를 사용하여 접속 대상 부재를 접속함으로써, 접속 구조체를 얻을 수 있다.The connection structure can be obtained by connecting the connection target members using the above-described curable composition or the conductive material.

상기 접속 구조체는, 제1 접속 대상 부재와, 제2 접속 대상 부재와, 상기 제1 접속 대상 부재와 상기 제2 접속 대상 부재를 접속하고 있는 접속부를 구비한다. 상기 접속부가 상술한 경화성 조성물을 경화시키거나 상기 도전 재료를 경화시키거나 함으로써 형성되어 있다.The connection structure includes a first connection target member, a second connection target member, and a connection unit connecting the first connection target member and the second connection target member. The connecting portion is formed by curing the above-mentioned curable composition or by curing the conductive material.

도 1은, 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 경화성 조성물과 도전성 입자를 포함하는 도전 재료를 사용하여 얻어지는 접속 구조체를 모식적으로 도시하는 정면 단면도이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a front sectional view schematically showing a connection structure obtained by using a conductive material including a conductive particle and a curable composition according to a first embodiment of the present invention. FIG.

도 1에 도시하는 접속 구조체(51)는, 제1 접속 대상 부재(52)와, 제2 접속 대상 부재(53)와, 제1 접속 대상 부재(52)와 제2 접속 대상 부재(53)를 접속하고 있는 접속부(54)를 구비한다. 접속부(54)는 경화물층이며, 도전성 입자(1)를 포함하는 도전 재료를 경화시킴으로써 형성되어 있다. 도전성 입자(1) 대신 도전성 입자(11) 또는 도전성 입자(21)를 사용할 수도 있다. 또한 도전성 입자(1, 11, 21) 이외의 도전성 입자를 사용할 수도 있다.The connection structure 51 shown in Fig. 1 has the first connection target member 52, the second connection target member 53, the first connection target member 52 and the second connection target member 53 And a connecting portion 54 connected thereto. The connecting portion 54 is a cured layer and is formed by curing a conductive material containing the conductive particles 1. [ Instead of the conductive particles 1, the conductive particles 11 or the conductive particles 21 may be used. Further, conductive particles other than the conductive particles (1, 11, 21) may be used.

제1 접속 대상 부재(52)는, 표면(상면)에 복수의 제1 전극(52a)을 갖는다. 제2 접속 대상 부재(53)는, 표면(하면)에 복수의 제2 전극(53a)을 갖는다. 제1 전극(52a)과 제2 전극(53a)이 1개 또는 복수의 도전성 입자(1)에 의하여 전기적으로 접속되어 있다. 따라서 제1, 제2 접속 대상 부재(52, 53)가 도전성 입자(1)에 의하여 전기적으로 접속되어 있다.The first connection target member 52 has a plurality of first electrodes 52a on its surface (upper surface). The second connection target member 53 has a plurality of second electrodes 53a on its surface (lower surface). The first electrode 52a and the second electrode 53a are electrically connected to each other by one or more conductive particles 1. [ Therefore, the first and second connection target members 52 and 53 are electrically connected by the conductive particles 1. [

도 4에, 도 1에 도시하는 접속 구조체(51)에 있어서의 도전성 입자(1)와 제1, 제2 전극(52a, 53a)의 접속 부분을 확대하여 정면 단면도로 도시한다. 도 4에 도시한 바와 같이, 접속 구조체(51)에서는, 도전성 입자(1)에 있어서의 땜납층(3B)이 용융된 후, 용융된 땜납층 부분(3Ba)이 제1, 제2 전극(52a, 53a)과 충분히 접촉한다. 즉, 표면층이 땜납층(3B)인 도전성 입자(1)를 사용함으로써, 도전층의 표면층이 니켈, 금 또는 구리 등의 금속인 도전성 입자를 사용했을 경우와 비교하여, 도전성 입자(1)와 제1, 제2 전극(52a, 53a)의 접촉 면적이 커진다. 이로 인하여, 접속 구조체(51)의 도통 신뢰성 및 접속 신뢰성을 높일 수 있다. 또한 플럭스를 사용했을 경우에는, 가열에 의하여 일반적으로 플럭스는 점차 실활한다. 또한 도통 신뢰성을 한층 더 높이는 관점에서는, 제2 도전층(3A)을 제1 전극(52a)에 접촉시키는 것이 바람직하고, 제2 도전층(3A)을 제2 전극(53a)에 접촉시키는 것이 바람직하다.Fig. 4 is an enlarged front sectional view of the connecting portion between the conductive particles 1 and the first and second electrodes 52a and 53a in the connection structure 51 shown in Fig. 4, in the connection structure 51, after the solder layer 3B in the conductive particles 1 is melted, the melted solder layer portion 3Ba contacts the first and second electrodes 52a , And 53a. That is, by using the conductive particles 1 whose surface layer is the solder layer 3B, compared with the case where the surface layer of the conductive layer is made of metal such as nickel, gold or copper, 1, the contact area of the second electrodes 52a, 53a is increased. Thus, the conduction reliability and the connection reliability of the connection structure 51 can be improved. Further, when flux is used, the flux generally gradually deactivates due to heating. It is preferable to bring the second conductive layer 3A into contact with the first electrode 52a and to bring the second conductive layer 3A into contact with the second electrode 53a from the viewpoint of further enhancing conduction reliability Do.

도 2는, 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 경화성 조성물을 사용하여 얻어지는 접속 구조체를 모식적으로 도시하는 정면 단면도이다.2 is a front sectional view schematically showing a connection structure obtained by using the curable composition according to the second embodiment of the present invention.

도 2에 도시하는 접속 구조체(61)는, 제1 접속 대상 부재(62)와, 제2 접속 대상 부재(63)와, 제1 접속 대상 부재(62)와 제2 접속 대상 부재(63)를 접속하고 있는 접속부(64)를 구비한다. 접속부(64)는 경화물층이며, 도전성 입자를 포함하지 않는 경화성 조성물을 경화시킴으로써 형성되어 있다.The connecting structure 61 shown in Fig. 2 has a first connecting object member 62, a second connecting object member 63, a first connecting object member 62 and a second connecting object member 63 And a connecting portion 64 connected thereto. The connection portion 64 is a cured layer, which is formed by curing a curable composition containing no conductive particles.

제1 접속 대상 부재(62)는, 표면(상면)에 복수의 제1 전극(62a)를 갖는다. 제2 접속 대상 부재(63)는, 표면(하면)에 복수의 제2 전극(63a)를 갖는다. 제1 전극(62a)과 제2 전극(63a)은, 예를 들어 범프 전극이다. 제1 전극(62a)과 제2 전극(63a)이 도전성 입자를 개재하지 않고 서로 접함으로써 전기적으로 접속되어 있다. 따라서 제1, 제2 접속 대상 부재(62, 63)가 전기적으로 접속되어 있다.The first connection target member 62 has a plurality of first electrodes 62a on its surface (upper surface). The second connection target member 63 has a plurality of second electrodes 63a on its surface (lower surface). The first electrode 62a and the second electrode 63a are, for example, bump electrodes. The first electrode 62a and the second electrode 63a are electrically connected by being in contact with each other without interposing the conductive particles. Therefore, the first and second connection target members 62 and 63 are electrically connected.

도 3은, 본 발명의 제3 실시 형태에 따른 경화성 조성물을 사용하여 얻어지는 접속 구조체를 모식적으로 도시하는 정면 단면도이다.3 is a front sectional view schematically showing a connection structure obtained by using the curable composition according to the third embodiment of the present invention.

도 3에 도시하는 접속 구조체(71)는, 제1 접속 대상 부재(72)와, 제2 접속 대상 부재(73)와, 제1 접속 대상 부재(72)와 제2 접속 대상 부재(73)를 접속하고 있는 접속부(74)를 구비한다. 접속부(74)는 경화물층이며, 도전성 입자를 포함하지 않는 경화성 조성물을 경화시킴으로써 형성되어 있다. 접속 구조체(71)에서는 전극이 전기적으로 접속되어 있지 않다. 상기 경화성 조성물의 용도는, 전극이 전기적으로 접속되는 용도에 한정되지 않는다.The connecting structure 71 shown in Fig. 3 has a first connecting object member 72, a second connecting object member 73, a first connecting object member 72 and a second connecting object member 73 And a connecting portion 74 connected thereto. The connection portion 74 is a cured layer, which is formed by curing a curable composition containing no conductive particles. In the connection structure 71, the electrodes are not electrically connected. The use of the curable composition is not limited to the use to which the electrodes are electrically connected.

상기 접속 구조체의 제조 방법은 특별히 한정되지 않는다. 해당 접속 구조체의 제조 방법의 일례로서는, 상기 제1 접속 대상 부재와 상기 제2 접속 대상 부재 사이에 상기 도전 재료 또는 상기 경화성 조성물을 배치하여 적층체를 얻은 후, 해당 적층체를 가열 및 가압하는 방법 등을 들 수 있다. 상기 가압의 압력은 9.8×104 내지 4.9×106㎩ 정도이다. 상기 가열의 온도는 120 내지 220℃ 정도이다.The manufacturing method of the connection structure is not particularly limited. As an example of a method of manufacturing the connection structure, a method of arranging the conductive material or the curable composition between the first connection target member and the second connection target member to obtain a laminate, heating and pressing the laminate And the like. The pressure for this pressurization is about 9.8 x 10 4 to 4.9 x 10 6 Pa. The temperature of the heating is about 120 to 220 占 폚.

상기 제1, 제2 접속 대상 부재는 특별히 한정되지 않는다. 상기 제1, 제2 접속 대상 부재로서는, 구체적으로는, 금속 부재, 수지 부재 및 막 부재 등의 전자·전기 부품, 전기 반도체 칩, 콘덴서 및 다이오드 등의 전자·전기 부품, 그리고 프린트 기판, 플렉시블 프린트 기판, 유리 에폭시 기판, FFC(플렉시블 플랫 케이블) 및 유리 기판 등의 회로 기판 등의 전자·전기 부품 등을 들 수 있다. 상기 제1, 제2 접속 대상 부재는 전자·전기 부품인 것이 바람직하다. 상기 전자·전기 부품은 전자·전기 기기를 구성하는 부재이다. 상기 접속 구조체는 전자·전기 부품 접속 구조체인 것이 바람직하다. 상기 접속 구조체는 전자·전기 기기인 것이 바람직하다.The first and second connection target members are not particularly limited. Specifically, examples of the first and second connection target members include electronic and electric parts such as a metal member, a resin member and a film member, electronic and electric parts such as an electric semiconductor chip, a capacitor and a diode, a printed board, And electronic and electric parts such as a substrate, a glass epoxy substrate, a flexible flat cable (FFC), and a circuit board such as a glass substrate. It is preferable that the first and second connection target members are electronic and electric parts. The electronic / electric component is a member constituting an electronic / electric device. The connection structure is preferably an electronic / electrical component connection structure. Preferably, the connection structure is an electronic or electric appliance.

상기 제1, 제2 접속 대상 부재는 터치 패널용 접속 대상 부재인 것이 바람직하다. 상기 경화성 조성물 및 상기 도전 재료의 사용에 의하여 접착성 향상 효과가 크게 얻어지는 점에서, 상기 제1, 제2 접속 대상 부재 중 적어도 한쪽이 PET 필름인 것이 바람직하다.The first and second connection target members are preferably touch panel connection target members. It is preferable that at least one of the first and second connection target members is a PET film in that the adhesive property improving effect can be largely obtained by use of the curable composition and the conductive material.

상기 경화성 조성물 및 상기 도전 재료는, PET 필름, FFC(플렉시블 플랫 케이블)의 접착에 적절히 사용되며, PET 필름, FFC(플렉시블 플랫 케이블) 접착용의 경화성 조성물인 것이 바람직하다. 상기 경화성 조성물 및 상기 도전 재료는, 터치 패널에 있어서 PET 필름의 접착에 적절히 사용되며, 터치 패널에 있어서의 PET 필름 접착용의 경화성 조성물인 것이 바람직하다.The curable composition and the conductive material are suitably used for bonding a PET film and an FFC (flexible flat cable), and are preferably a curable composition for bonding a PET film and an FFC (flexible flat cable). The curable composition and the conductive material are suitably used for bonding a PET film in a touch panel, and are preferably a curable composition for bonding a PET film in a touch panel.

또한 상기 경화성 조성물 및 상기 도전 재료는, PET 필름의 접착에 적절히 사용될 뿐만 아니라, 디스플레이용 수지 필름과 플렉시블 프린트 기판의 접착에도 적절히 사용된다.In addition, the curable composition and the conductive material are suitably used for adhesion of a PET film, and also for bonding a display resin film and a flexible printed substrate.

또한 상기 경화성 조성물 및 상기 도전 재료는, FFC(플렉시블 플랫 케이블)의 접착에 적절히 사용될 뿐만 아니라, 리지드 기판과 FFC(플렉시블 플랫 케이블)의 접착에도 적절히 사용된다.The curable composition and the conductive material are suitably used not only for bonding an FFC (flexible flat cable) but also for bonding a rigid substrate and an FFC (flexible flat cable).

상기 접속 대상 부재에 설치되어 있는 전극으로서는, 금 전극, 니켈 전극, 주석 전극, 알루미늄 전극, 구리 전극, 은 전극, 몰리브덴 전극 및 텅스텐 전극 등의 금속 전극을 들 수 있다. 상기 접속 대상 부재가 플렉시블 프린트 기판인 경우에는, 상기 전극은 금 전극, 니켈 전극, 주석 전극 또는 구리 전극인 것이 바람직하다. 상기 접속 대상 부재가 유리 기판인 경우에는, 상기 전극은 알루미늄 전극, 구리 전극, 몰리브덴 전극 또는 텅스텐 전극인 것이 바람직하다. 또한 상기 전극이 알루미늄 전극인 경우에는, 알루미늄만으로 형성된 전극일 수도 있고, 금속 산화물층의 표면에 알루미늄층이 적층된 전극일 수도 있다. 상기 금속 산화물층의 재료로서는, 3가의 금속 원소가 도핑된 산화인듐 및 3가의 금속 원소가 도핑된 산화아연 등을 들 수 있다. 상기 3가의 금속 원소로서는 Sn, Al 및 Ga 등을 들 수 있다.Examples of the electrode provided on the member to be connected include a metal electrode such as a gold electrode, a nickel electrode, a tin electrode, an aluminum electrode, a copper electrode, a silver electrode, a molybdenum electrode, and a tungsten electrode. When the connection target member is a flexible printed circuit board, the electrode is preferably a gold electrode, a nickel electrode, a tin electrode, or a copper electrode. When the connection target member is a glass substrate, the electrode is preferably an aluminum electrode, a copper electrode, a molybdenum electrode, or a tungsten electrode. When the electrode is an aluminum electrode, it may be an electrode formed only of aluminum, or an electrode in which an aluminum layer is laminated on the surface of the metal oxide layer. Examples of the material of the metal oxide layer include indium oxide doped with a trivalent metal element and zinc oxide doped with a trivalent metal element. Examples of the trivalent metal element include Sn, Al and Ga.

이하, 실시예 및 비교예를 들어 본 발명을 구체적으로 설명한다. 본 발명은 이하의 실시예만에 한정되지 않는다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples and comparative examples. The present invention is not limited to the following embodiments.

(제1 시험예)(First Test Example)

(합성예 1)(Synthesis Example 1)

경화성 화합물 (1)의 합성:Synthesis of Curable Compound (1):

디메틸이소프탈산 40g과, 1,6-헥산디올 100g과, 촉매로서 디부틸주석옥사이드 0.2g을 3구 플라스크에 칭량하고, 진공 조건 하에서 딘스타크 트랩에 의하여 탈수하면서 120℃에서 4시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트 9g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.05g을 첨가하고 120℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 15000이었다.40 g of dimethylisophthalic acid, 100 g of 1,6-hexanediol, and 0.2 g of dibutyltin oxide as a catalyst were weighed into a three-necked flask, and reacted at 120 DEG C for 4 hours while being dehydrated by a Dean Stark trap under a vacuum condition. Thereafter, 9 g of 2-isocyanatomethyl methacrylate and 0.05 g of dibutyl tin dibutyllaurate were added and reacted at 120 ° C for 4 hours to obtain a curable compound. The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 15,000.

(합성예 2)(Synthesis Example 2)

경화성 화합물 (2)의 합성:Synthesis of Curable Compound (2):

디메틸이소프탈산 37g 및 디메틸테레프탈산 3g과, 1,6-헥산디올 100g과, 촉매로서 디부틸주석옥사이드 0.2g을 3구 플라스크에 칭량하고, 진공 조건 하에서 딘스타크 트랩에 의하여 탈수하면서 120℃에서 4시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트 9g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.05g을 첨가하고 120℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 15000이었다.37 g of dimethylisophthalic acid, 3 g of dimethylterephthalic acid, 100 g of 1,6-hexanediol and 0.2 g of dibutyltin oxide as a catalyst were weighed into a three-necked flask and dehydrated under a vacuum condition by a Dean Stark trap at 120 DEG C for 4 hours Lt; / RTI > Thereafter, 9 g of 2-isocyanatomethyl methacrylate and 0.05 g of dibutyl tin dibutyllaurate were added and reacted at 120 ° C for 4 hours to obtain a curable compound. The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 15,000.

(합성예 3)(Synthesis Example 3)

경화성 화합물 (3)의 합성:Synthesis of Curable Compound (3):

디메틸이소프탈산 40g과, 1,6-헥산디올 20g과, 비스페놀 F 15g과, 촉매로서 디부틸주석옥사이드 0.2g을 3구 플라스크에 칭량하고, 진공 조건 하에서 딘스타크 트랩에 의하여 탈수하면서 120℃에서 4시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트 9g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.05g을 첨가하고 120℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 12000이었다.40 g of dimethylisophthalic acid, 20 g of 1,6-hexanediol, 15 g of bisphenol F and 0.2 g of dibutyl tin oxide as a catalyst were weighed in a three-necked flask and dehydrated by a Dean Stark trap under a vacuum condition. Lt; / RTI > Thereafter, 9 g of 2-isocyanatomethyl methacrylate and 0.05 g of dibutyl tin dibutyllaurate were added and reacted at 120 ° C for 4 hours to obtain a curable compound. The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 12,000.

(합성예 4)(Synthesis Example 4)

경화성 화합물 (4)의 합성:Synthesis of Curable Compound (4)

디메틸이소프탈산 15g과, 디메틸아디프산 25g과, 1,6-헥산디올 20g과, 비스페놀 F 15g과, 촉매로서 디부틸주석옥사이드 0.2g을 3구 플라스크에 칭량하고, 진공 조건 하에서 딘스타크 트랩에 의하여 탈수하면서 120℃에서 4시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트 9g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.05g을 첨가하고 120℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 16000이었다.15 g of dimethyl isophthalic acid, 25 g of dimethyladipic acid, 20 g of 1,6-hexanediol, 15 g of bisphenol F and 0.2 g of dibutyltin oxide as a catalyst were weighed into a three-necked flask, And then reacted at 120 ° C for 4 hours while dewatering. Thereafter, 9 g of 2-isocyanatomethyl methacrylate and 0.05 g of dibutyl tin dibutyllaurate were added and reacted at 120 ° C for 4 hours to obtain a curable compound. The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 16,000.

(합성예 5)(Synthesis Example 5)

경화성 화합물 (5)의 합성:Synthesis of Curable Compound (5)

디메틸이소프탈산 15g과, 디메틸아디프산 25g과, 1,6-헥산디올 20g과, 분자량 650의 폴리테트라메틸렌글리콜 15g과, 촉매로서 디부틸주석옥사이드 0.2g을 3구 플라스크에 칭량하고, 진공 조건 하에서 딘스타크 트랩에 의하여 탈수하면서 120℃에서 4시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸메타크릴레이트 9g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.05g을 첨가하고 120℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 20000이었다.15 g of dimethyl isophthalic acid, 25 g of dimethyladipic acid, 20 g of 1,6-hexanediol, 15 g of polytetramethylene glycol having a molecular weight of 650 and 0.2 g of dibutyltin oxide as a catalyst were weighed and placed in a vacuum condition , And reacted at 120 DEG C for 4 hours while being dehydrated by Dean Stark trap. Thereafter, 9 g of 2-isocyanatomethyl methacrylate and 0.05 g of dibutyl tin dibutyllaurate were added and reacted at 120 ° C for 4 hours to obtain a curable compound. The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 20,000.

(실시예 1)(Example 1)

(1) 도전 페이스트의 조제(1) Preparation of conductive paste

합성예 1에서 얻어진 경화성 화합물 (1) 90중량부와, 아크릴 화합물 (1)(고진 필름·케미컬사 제조의 「ACMO」) 10중량부와, 땜납 입자(미쓰이 긴조쿠 고교사 제조의 「DS-10」, SnBi 공정(共晶), 융점 139℃, 평균 입경 12㎛) 30중량부와, 열경화제(니치유사 제조의 「퍼옥타 O」, 1분 반감기 온도 124.3℃) 0.2중량부와, 실란 커플링제(신에쓰 가가꾸 고교사 제조, 중합체형 다관능 아미노실란 커플링제 「X-12-972A」) 0.2중량부를 배합하여, 이방성 도전 페이스트를 얻었다.90 parts by weight of the curing compound (1) obtained in Synthesis Example 1, 10 parts by weight of acrylic compound (1) ("ACMO" manufactured by Kojin Films Chemical Co., Ltd.) and 10 parts by weight of solder particles (DS- 30 parts by weight of a thermosetting agent ("perocta O" manufactured by Niche-like, 1 minute half-life temperature 124.3 ° C.), 30 parts by weight of a silane , And 0.2 part by weight of a coupling agent (X-12-972A polymer-type polyfunctional amino silane coupling agent, manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) were blended to obtain an anisotropic conductive paste.

(2) 접속 구조체 (1)의 제작(2) Fabrication of the connection structure 1

피착체 1로서, 기재 PET 필름 상에 L/S=200/200㎛의 알루미늄 배선을 40개 형성한 회로 기판을 준비하였다. 피착체 2로서, 기재 폴리이미드 필름 상에, L/S=200/200㎛의 Cu 배선 상에 하지 Ni로서 Au 무전해 도금에 의하여 배선을 40개 형성한 FPC를 준비하였다.As the adherend 1, a circuit board on which 40 aluminum wires with L / S = 200/200 占 퐉 were formed on the base PET film was prepared. As the adherend 2, on the base polyimide film, an FPC having 40 wires formed by electroless plating of Au as underlying Ni on a Cu wire of L / S = 200/200 mu m was prepared.

피착체 1 상에 에어 디스펜서로 이방성 도전 페이스트 3㎎을 도포하였다. 피착체 2를 중첩시켜 폭 3㎜로 하고, 피착체 1과 피착체 2의 전극 패턴이 맞도록 피착체 1과 피착체 2를 이방성 도전 페이스트를 개재하여 중첩시켰다. 그 후, 140℃에서 10초, 압력 1㎫로 접합하여, 접속 구조체 (1)을 얻었다.3 mg of anisotropic conductive paste was applied to the adherend 1 with an air dispenser. The adherend 2 and the adherend 2 were overlapped with each other with an anisotropic conductive paste interposed therebetween so that the electrode pattern of the adherend 1 and the adherend 2 fit with each other. Thereafter, the laminate was joined at 140 캜 for 10 seconds under a pressure of 1 MPa to obtain a connection structure (1).

(실시예 2)(Example 2)

합성예 1에서 얻어진 경화성 화합물 (1)을, 합성예 2에서 얻어진 경화성 화합물(2)로 변경한 것 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 하여, 이방성 도전 페이스트 및 접속 구조체 (1)을 얻었다.Anisotropic conductive paste and connection structure (1) were obtained in the same manner as in Example 1 except that the curable compound (1) obtained in Synthesis Example 1 was changed to the curable compound (2) obtained in Synthesis Example 2.

(실시예 3)(Example 3)

접속 구조체 (2)의 제작:Fabrication of the connection structure 2:

실시예 1에서 얻어진 이방성 도전 페이스트를 사용하여, 피착체 1로서, FFC(플렉시블 플랫 케이블), L/S=200/200㎛로 배선을 40개 형성한 피착체를 사용한 것 이외에는 접속 구조체 (1)과 마찬가지로 하여, 접속 구조체 (2)를 얻었다.The connection structure 1 was produced in the same manner as in Example 1 except that an anisotropic conductive paste obtained in Example 1 was used to form an adherend having an FFC (Flexible Flat Cable) and 40 lines of L / S = 200 / The connection structure 2 was obtained.

(실시예 4 내지 11)(Examples 4 to 11)

(1) 도전 페이스트의 조제(1) Preparation of conductive paste

배합 성분의 종류 및 배합량을 다음의 표 1에 나타낸 바와 같이 변경한 것 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 하여, 이방성 도전 페이스트를 얻었다.Anisotropic conductive paste was obtained in the same manner as in Example 1, except that the kinds and blending amounts of the blending components were changed as shown in Table 1 below.

또한 (메트)아크릴 화합물의 상세는 이하와 같다.Details of the (meth) acrylic compound are as follows.

(메트)아크릴 화합물 (2): 다이셀·올넥스사 제조의 「에베크릴 8413」, 지방족 우레탄아크릴레이트(Meth) acrylic compound (2): "Ebecryl 8413" manufactured by Daicel-Allenx, aliphatic urethane acrylate

(메트)아크릴 화합물 (3): 다이셀·올넥스사 제조의 「에베크릴 3708」, 2-히드록시에틸아크릴레이트가 카프로락톤에 부가된 구조를 분자 말단에 갖고, 또한 비스페놀 A의 디글리시딜기가 개환된 구조를 주 골격으로서 갖는 에폭시아크릴레이트(Meth) acrylic compound (3): "Ebecryl 3708" manufactured by Daicel Ornex Co., Ltd., a compound having a structure in which 2-hydroxyethyl acrylate is added to caprolactone at the molecular end and diglycidyl Epoxy acrylate having a structure in which a divalent group is ring-opened as a main skeleton

(메트)아크릴 화합물 (4): 다이셀·올넥스사 제조의 「에베크릴 168」, 히드록시에틸메타크릴레이트포스페이트 등의 인산에스테르형 (메트)아크릴레이트(Meth) acrylic compound (4): "Ebecryl 168" manufactured by Daicel-Allenx, phosphate ester type (meth) acrylate such as hydroxyethyl methacrylate phosphate

(메트)아크릴 화합물 (5): 도아 고세이사 제조의 「M-140」, 이미드(메트)아크릴레이트(Meth) acrylic compound (5): "M-140" manufactured by Toagosei Co., Ltd., imide (meth) acrylate

(2) 접속 구조체 (3)의 제작(2) Fabrication of the connection structure 3

얻어진 이방성 도전 페이스트를 사용하여, 140℃에서 5초, 압력 1㎫로 접합한 것 이외에는 접속 구조체 (1)과 마찬가지로 하여, 접속 구조체 (3)을 얻었다.The connection structure 3 was obtained in the same manner as the connection structure 1 except that the obtained anisotropic conductive paste was used for bonding at 140 占 폚 for 5 seconds and a pressure of 1 MPa.

(3) 접속 구조체 (4)의 제작(3) Fabrication of the connection structure 4

얻어진 이방성 도전 페이스트를 사용하여, 140℃에서 5초, 압력 1㎫로 접합한 것 이외에는 접속 구조체 (2)와 마찬가지로 하여, 접속 구조체 (4)를 얻었다.Using the resulting anisotropic conductive paste, the connection structure 4 was obtained in the same manner as the connection structure 2 except that the connection was performed at 140 캜 for 5 seconds and under a pressure of 1 MPa.

(비교예 1)(Comparative Example 1)

경화성 화합물의 종류를 비스페놀 A형 에폭시 화합물로 변경한 것 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 하여, 이방성 도전 페이스트를 얻었다. 얻어진 이방성 도전 페이스트를 사용하여, 실시예 1과 마찬가지로 하여 접속 구조체 (1)을 얻었고, 실시예 3과 마찬가지로 하여 접속 구조체 (2)를 얻었으며, 실시예 4 내지 11과 마찬가지로 하여 접속 구조체 (3) 및 접속 구조체 (4)를 얻었다.Anisotropic conductive paste was obtained in the same manner as in Example 1 except that the kind of the curable compound was changed to a bisphenol A type epoxy compound. Using the obtained anisotropic conductive paste, a connection structure 1 was obtained in the same manner as in Example 1, and a connection structure 2 was obtained in the same manner as in Example 3. The connection structure 3 was obtained in the same manner as in Examples 4 to 11, And the connection structure 4 were obtained.

(평가)(evaluation)

(1) 초기의 접착성(1) Initial adhesion

얻어진 접속 구조체를 사용하여, 시마즈 세이사쿠쇼사 제조의 「마이크로 오토그래프 MST-Ⅰ」을 사용하여 박리를 행함으로써, 90° 박리 강도 C를 인장 속도 50㎜/분으로 23℃ 분위기 하에서 측정하였다. 초기의 접착성을 하기 기준으로 판정하였다.The resulting connection structure was subjected to peeling using " Micro Autograph MST-I " manufactured by Shimadzu Seisakusho Co., Ltd., and 90 DEG peel strength C was measured at a tensile rate of 50 mm / min under an atmosphere of 23 캜. The initial adhesion was determined based on the following criteria.

[초기의 접착성의 판정 기준][Initial Adhesion Judgment Criteria]

○○: 90° 박리 강도 C가 20N/㎝ 이상OO: 90 DEG Peel strength C is 20 N / cm or more

○: 90° 박리 강도 C가 15N/㎝ 이상 20N/㎝ 미만?: 90 占 peel strength C of 15 N / cm or more and less than 20 N / cm

△: 90° 박리 강도 C가 10N/㎝ 이상 15N㎝ 미만DELTA: 90 DEG Peel strength C was 10 N / cm or more and less than 15 Ncm

×: 90° 박리 강도 C가 10N/㎝ 미만X: 90 DEG Peel strength C was less than 10 N / cm

(2) 고온 고습 하에서의 접착성(2) Adhesion under high temperature and high humidity

얻어진 접속 구조체를 85℃ 및 습도 85% 분위기 하에서 500시간 정치하였다. 방치 후의 접속 구조체에 대하여, 상기 (1) 접착성의 평가와 마찬가지로 하여 90° 박리 강도 D를 측정하였다. 고온 고습 하에서의 접착성을 하기 기준으로 판정하였다.The resulting connection structure was left to stand at 85 캜 and 85% humidity for 500 hours. The 90 ° peel strength D was measured for the connection structure after left standing in the same manner as in the above (1) evaluation of the adhesiveness. The adhesion under high temperature and high humidity was judged based on the following criteria.

[고온 고습 하에서의 접착성의 판정 기준][Judgment criteria of adhesiveness under high temperature and high humidity]

○○: 90° 박리 강도 C가 20N/㎝ 이상이고, 또한 박리 강도 D/박리 강도 C×100이 80% 이상OO: 90 DEG peel strength C is 20 N / cm or more, and peel strength D / peel strength C x 100 is 80% or more

○: 90° 박리 강도 C가 15N/㎝ 이상 20N/㎝ 미만이고, 또한 박리 강도 D/박리 강도 C×100이 80% 이상?: 90 占 peeling strength C was 15 N / cm or more and less than 20 N / cm, and peel strength D / peeling strength C 占 100 was 80% or more

△: 90° 박리 강도 C가 10N/㎝ 이상 15N㎝ 미만이고, 또한 박리 강도 D/박리 강도 C×100이 80% 이상DELTA: 90 DEG peel strength C is 10 N / cm or more and less than 15 Ncm, and peel strength D / peel strength C x 100 is 80% or more

×: 90° 박리 강도 C가 10N/㎝ 미만X: 90 DEG Peel strength C was less than 10 N / cm

(3) 상하의 전극 간의 도통 신뢰성(3) Reliability of conduction between the upper and lower electrodes

얻어진 접속 구조체(n=15개)에 있어서, 상하의 전극 간의 접속 저항을 각각 4단자법에 의하여 측정하였다. 접속 저항의 평균값을 산출하였다. 또한 전압=전류×저항의 관계로부터, 일정한 전류를 흐르게 했을 때의 전압을 측정함으로써 접속 저항을 구할 수 있다. 도통 신뢰성을 하기 기준으로 판정하였다. 구한 접속 저항은, 전극 1쌍이 중첩된 접속부의 저항으로 하였다.In the obtained connecting structures (n = 15), the connection resistances between the upper and lower electrodes were measured by the four-terminal method, respectively. And the average value of the connection resistance was calculated. From the relationship of voltage = current x resistance, the connection resistance can be obtained by measuring the voltage when a constant current flows. The conduction reliability was judged to be the criterion below. The obtained connection resistance was defined as the resistance of a connection portion in which one pair of electrodes overlapped.

[도통 신뢰성의 판정 기준][Criteria for reliability of conduction]

○○: 접속 저항의 평균값이 50mΩ 이하○○: Average value of connection resistance is less than 50mΩ

○: 접속 저항의 평균값이 50mΩ 초과 75mΩ 이하○: Average value of connection resistance is more than 50 mΩ and less than 75 mΩ

△: 접속 저항의 평균값이 75mΩ 초과 100mΩ 이하?: Average value of connection resistance is more than 75 m? And not more than 100 m?

×: 접속 저항의 평균값이 100mΩ 초과X: Average value of connection resistance exceeds 100m?

(4) 파단 신장(4) Elongation at break

실시예 및 비교예의 각 도전 페이스트의 조제에 있어서, 도전성 입자만을 배합하지 않은 것 이외에는 마찬가지로 하여, 도전성 입자를 포함하지 않는 경화성 조성물을 조제하였다. 얻어진 경화성 조성물을 140℃ 및 10초 경화시켜, 경화물을 얻었다. 얻어진 경화물을 23℃ 및 인장 속도 1㎜/분, 척 간 거리 40㎜의 조건에서 인장하고, 파단 신장을 측정하였다.A curable composition containing no conductive particles was prepared in the same manner as in the preparation of each of the conductive pastes of Examples and Comparative Examples except that only the conductive particles were not mixed. The obtained curable composition was cured at 140 캜 for 10 seconds to obtain a cured product. The obtained cured product was subjected to tensile elongation at a temperature of 23 캜 and a tensile speed of 1 mm / min and a chuck distance of 40 mm to measure the elongation at break.

조성 및 결과를 다음의 표 1에 나타낸다.The composition and results are shown in Table 1 below.

Figure pct00013
Figure pct00013

(제2 시험예)(Second Test Example)

(합성예 6)(Synthesis Example 6)

경화성 화합물 (6)의 합성:Synthesis of Curable Compound (6):

디메틸이소프탈산 64g과, 디메틸아디프산 19g과, 1,6-헥산디올 38g과, 분자량 650의 폴리테트라메틸렌글리콜 90g과, 촉매로서의 테트라부톡시티타늄 2g을 3구 플라스크에 칭량하고, 진공 조건 하에서 딘스타크 트랩에 의하여 탈메탄올하면서 120℃에서 4시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 6g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.6g을 첨가하고 120℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 27000이었다.A three-necked flask was charged with 64 g of dimethylisophthalic acid, 19 g of dimethyladipic acid, 38 g of 1,6-hexanediol, 90 g of polytetramethylene glycol having a molecular weight of 650 and 2 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst, The reaction was carried out at 120 DEG C for 4 hours while removing methanol by a Dean Stark trap. Thereafter, 6 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.6 g of dibutyl tin dibutyl taurate were added and reacted at 120 ° C. for 4 hours to obtain a curable compound. The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 27000.

(합성예 7)(Synthesis Example 7)

경화성 화합물 (7)의 합성:Synthesis of Curable Compound (7):

디메틸이소프탈산 58g과, 디메틸아디프산 17g과, 1,6-헥산디올 40g과, 분자량 650의 폴리테트라메틸렌글리콜 94g과, 촉매로서 테트라부톡시티타늄 2g을 3구 플라스크에 칭량하고, 진공 조건 하에서 딘스타크 트랩에 의하여 탈메탄올하면서 120℃에서 4시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 23g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.6g을 첨가하고 120℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 8300이었다.58 g of dimethylisophthalic acid, 17 g of dimethyl adipic acid, 40 g of 1,6-hexanediol, 94 g of polytetramethylene glycol having a molecular weight of 650 and 2 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst were weighed into a three-necked flask, The reaction was carried out at 120 DEG C for 4 hours while removing methanol by a Dean Stark trap. Thereafter, 23 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.6 g of dibutyl tin dibutyl taurate were added and reacted at 120 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound. The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 8300.

(실시예 12)(Example 12)

합성예 6에서 얻어진 경화성 화합물 (6) 88.5중량부와, 아크릴산4-히드록시부틸(도쿄 가세이 고교사 제조) 10중량부와, 열경화제(니치유사 제조의 「퍼옥타 O」, 1분 반감기 온도 124.3℃) 1.5중량부를 배합한 후, 유성식 교반 장치로 혼합 및 탈포함으로써 경화성 조성물을 얻었다.88.5 parts by weight of the curing compound (6) obtained in Synthesis Example 6, 10 parts by weight of 4-hydroxybutyl acrylate (manufactured by Tokyo Kasei Kogyo Co., Ltd.), 10 parts by weight of a thermosetting agent 124.3 占 폚) were mixed, followed by mixing and de-mixing with a planetary stirring apparatus to obtain a curable composition.

(실시예 13 내지 35)(Examples 13 to 35)

배합 성분의 종류 및 배합량을 다음의 표 2, 3에 나타내는 바와 같이 변경한 것 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 하여, 경화성 조성물을 얻었다.A curable composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that the kind and blending amount of the compounding ingredients were changed as shown in Tables 2 and 3 below.

(평가)(evaluation)

(1) 접착성(1) Adhesiveness

접착 시험편은 이하의 수순으로 제작하였다. SUS 기판(2㎝×7㎝) 상에 경화성 조성물을 도포하고, 그 위에 PET 필름을 얹고, 그 위로부터 평활한 플레이트로 가압하여 경화성 조성물이 일정한 두께(80㎛)가 되도록 하여, 적층체를 얻었다.The adhesive test pieces were produced by the following procedure. A curable composition was applied on an SUS substrate (2 cm x 7 cm), a PET film was placed thereon, and a flat plate was pressed thereon so that the curable composition had a constant thickness (80 mu m) to obtain a laminate .

얻어진 적층체에 대하여, 130℃에서 10초, 압력 1㎫의 조건에서 열경화시켜 접착 시험편을 얻었다.The obtained laminate was thermally cured at 130 DEG C for 10 seconds under a pressure of 1 MPa to obtain an adhesive test piece.

얻어진 접착 시험편을 사용하여, 시마즈 세이사쿠쇼사 제조의 「마이크로 오토그래프 MST-Ⅰ」에 의하여 박리를 행함으로써, 180° 박리 강도를 인장 속도 300㎜/분으로 23℃ 또는 100℃의 분위기 하에서 측정하였다. 초기의 접착성을 하기 기준으로 판정하였다.Using the obtained adhesive test piece, the 180 占 peel strength was measured at a tensile rate of 300 mm / min under an atmosphere of 23 占 폚 or 100 占 폚 by carrying out peeling by "Micro Autograph MST-I" manufactured by Shimadzu Seisakusho . The initial adhesion was determined based on the following criteria.

[초기의 접착성의 판정 기준][Initial Adhesion Judgment Criteria]

○○○: 180° 박리 강도가 1.5N/㎜ 이상OOX: 180 DEG peel strength is 1.5 N / mm or more

○○: 180° 박리 강도가 1.0/㎜ 이상 1.5N/㎜ 미만OO: 180 DEG peel strength is 1.0 / mm or more and less than 1.5N / mm

○: 180° 박리 강도가 0.5N/㎜ 이상 1.0N/㎜ 미만?: 180 占 peel strength was 0.5 N / mm or more and 1.0 N / mm or less

△: 180° 박리 강도가 0.25N/㎜ 이상 0.5N/㎜ 미만DELTA: 180 DEG peel strength is 0.25 N / mm or more and less than 0.5 N / mm

×: 180° 박리 강도가 0.25N/㎜ 미만X: 180 DEG peel strength is less than 0.25 N / mm

(2) 경화성(2) Curability

경화 시간을 10초와 30초의 2가지 조건에서 시험편을 제작한 것 이외에는 상기 접착성의 평가 방법과 마찬가지로 시험편을 제작하고, 180° 박리 강도를 측정하였다. 하기 식에 따라 경화성을 평가하였다.A test piece was prepared in the same manner as in the evaluation of the adhesiveness except that a test piece was produced under the two conditions of the curing time of 10 seconds and 30 seconds, and the 180 degree peel strength was measured. The curability was evaluated according to the following formula.

경화성(%)=(경화 시간 10초에서의 180° 박리 강도)×100/경화 시간 30초에서의 180° 박리 강도Curing property (%) = (180 占 peeling strength at 10 sec of curing time) 占 100/180 占 peeling strength at 30 sec of curing time

[경화성의 판정 기준][Criteria for determination of hardenability]

○○: 95% 이상○○: 95% or more

○: 90% 이상 95% 미만○: 90% or more and less than 95%

△: 85% 이상 90% 미만?: 85% or more and less than 90%

×: 85% 미만×: less than 85%

조성 및 결과를 하기 표 2, 3에 나타낸다.The composition and the results are shown in Tables 2 and 3 below.

Figure pct00014
Figure pct00014

Figure pct00015
Figure pct00015

(제3 시험예)(Third Test Example)

(합성예 8) 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물에 상당하지 않는 경화성 화합물의 합성(Synthesis Example 8) Synthesis of a curing compound which does not correspond to the curing compound represented by the formula (1)

경화성 화합물 (8)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (8) (Straight Polyester Compound)

디메틸아디프산 64.6g과, 디메틸이소프탈산 24.0g과, 1,6-헥산디올 61.4와, 촉매로서의 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 6.3g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.6g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 8000이었다.64.0 g of dimethyladipic acid, 24.0 g of dimethylisophthalic acid, 61.4 of 1,6-hexanediol and 0.05 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst were weighed in a three-necked flask and reacted at 140 DEG C for 4 hours while removing methanol , And then reacted at 140 DEG C for 12 hours under reduced pressure. Thereafter, 6.3 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.6 g of dibutyl tin dibutyl taurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 8,000.

(합성예 9)(Synthesis Example 9)

경화성 화합물 (9)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (9) (Straight Polyester Compound)

디메틸아디프산 56.7g과, 디메틸이소프탈산 21.1g과, 1,6-헥산디올 51.2와, 분자량 650의 폴리테트라메틸렌글리콜(PTMG650) 14.8g과, 촉매로서의 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 계 내에서 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 6.4g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.6g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 8500이었다.56.8 g of dimethyl adipic acid, 21.1 g of dimethylisophthalic acid, 51.2 of 1,6-hexanediol, 14.8 g of polytetramethylene glycol (PTMG650) having a molecular weight of 650 and 0.05 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst were charged into a three-necked flask , And reacted at 140 DEG C for 4 hours while removing methanol in the system, followed by reaction at 140 DEG C for 12 hours under reduced pressure. Thereafter, 6.4 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.6 g of dibutyl tin dibutyl taurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 8,500.

(합성예 10)(Synthesis Example 10)

경화성 화합물 (10)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (10) (straight chain polyester compound)

디메틸이소프탈산 56.1g과, 디메틸아디프산 20.1g과, 1,6-헥산디올 50.6g과, 분자량 1000의 폴리테트라메틸렌글리콜(PTMG1000) 22.5g과, 촉매로서 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 6.4g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.6g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 12000이었다.56.1 g of dimethylisophthalic acid, 20.1 g of dimethyladipic acid, 50.6 g of 1,6-hexanediol, 22.5 g of polytetramethylene glycol (PTMG1000) having a molecular weight of 1000, and 0.05 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst The flask was weighed and reacted at 140 DEG C for 4 hours while removing methanol, and then reacted at 140 DEG C for 12 hours under reduced pressure. Thereafter, 6.4 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.6 g of dibutyl tin dibutyl taurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 12,000.

(합성예 11)(Synthesis Example 11)

경화성 화합물 (11)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (11) (straight chain polyester compound)

디메틸이소프탈산 47.0g과, 디메틸아디프산 17.5g과, 1,6-헥산디올 42.4g과, 분자량 2000의 폴리테트라메틸렌글리콜(PTMG2000) 37.8g과, 촉매로서 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 5.3g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.65g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 18000이었다.47.0 g of dimethylisophthalic acid, 17.5 g of dimethyladipic acid, 42.4 g of 1,6-hexanediol, 37.8 g of polytetramethylene glycol (PTMG2000) having a molecular weight of 2000, and 0.05 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst The flask was weighed and reacted at 140 DEG C for 4 hours while removing methanol, and then reacted at 140 DEG C for 12 hours under reduced pressure. Thereafter, 5.3 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.65 g of dibutyl tin dilaurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 18,000.

(합성예 12)(Synthesis Example 12)

경화성 화합물 (12)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (12) (Straight Polyester Compound)

디메틸이소프탈산 41.8g과, 디메틸아디프산 15.5g과, 1,6-헥산디올 37.7g과, 분자량 3000의 폴리테트라메틸렌글리콜(PTMG3000) 50.3g과, 촉매로서 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 4.7g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.4g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 30000이었다.A mixture of 41.8 g of dimethylisophthalic acid, 15.5 g of dimethyladipic acid, 37.7 g of 1,6-hexanediol, 50.3 g of polytetramethylene glycol (PTMG3000) having a molecular weight of 3000, and 0.05 g of tetrabutoxy titanium The flask was weighed and reacted at 140 DEG C for 4 hours while removing methanol, and then reacted at 140 DEG C for 12 hours under reduced pressure. Thereafter, 4.7 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.4 g of dibutyl tin dilaurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 30000.

(합성예 13)(Synthesis Example 13)

경화성 화합물 (13)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (13) (Straight Polyester Compound)

디메틸이소프탈산 56.1g과, 디메틸아디프산 20.1g과, 1,6-헥산디올 50.6g과, 분자량 1000의 폴리에틸렌글리콜(PEG1000) 22.5g과, 촉매로서 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 6.4g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.6g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 12000이었다.56.1 g of dimethylisophthalic acid, 20.1 g of dimethyladipic acid, 50.6 g of 1,6-hexanediol, 22.5 g of polyethylene glycol (PEG1000) having a molecular weight of 1000, and 0.05 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst were placed in a three-necked flask The mixture was weighed and reacted at 140 DEG C for 4 hours while removing methanol, and then reacted at 140 DEG C for 12 hours under reduced pressure. Thereafter, 6.4 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.6 g of dibutyl tin dibutyl taurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 12,000.

(합성예 14)(Synthesis Example 14)

경화성 화합물 (14)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (14) (Straight Polyester Compound)

디메틸이소프탈산 51.9g과, 디메틸아디프산 19.3g과, 1,6-헥산디올 47.8g과, 분자량 2000의 폴리테트라메틸렌글리콜(PTMG2000) 25.0g과, 촉매로서 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 5.9g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.65g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 18000이었다., 51.9 g of dimethylisophthalic acid, 19.3 g of dimethyladipic acid, 47.8 g of 1,6-hexanediol, 25.0 g of polytetramethylene glycol (PTMG2000) having a molecular weight of 2000, and 0.05 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst The flask was weighed and reacted at 140 DEG C for 4 hours while removing methanol, and then reacted at 140 DEG C for 12 hours under reduced pressure. Then, 5.9 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.65 g of dibutyl tin dilaurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 18,000.

(합성예 15)(Synthesis Example 15)

경화성 화합물 (15)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (15) (Straight Polyester Compound)

디메틸이소프탈산 38.0g과, 디메틸아디프산 14.1g과, 1,6-헥산디올 32.5g과, 분자량 2000의 폴리테트라메틸렌글리콜(PTMG2000) 61.1g과, 촉매로서 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 4.3g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.4g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 18000이었다.38.0 g of dimethylisophthalic acid, 14.1 g of dimethyladipic acid, 32.5 g of 1,6-hexanediol, 61.1 g of polytetramethylene glycol (PTMG2000) having a molecular weight of 2000, and 0.05 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst The flask was weighed and reacted at 140 DEG C for 4 hours while removing methanol, and then reacted at 140 DEG C for 12 hours under reduced pressure. Then, 4.3 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.4 g of dibutyl tin dibutyl taurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 18,000.

(합성예 16)(Synthesis Example 16)

경화성 화합물 (16)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (16) (straight chain polyester compound)

디메틸테레프탈산 47.0g과, 디메틸아디프산 17.5g과, 1,6-헥산디올 42.4g과, 분자량 2000의 폴리테트라메틸렌글리콜(PTMG2000) 37.8g과, 촉매로서 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 5.3g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.65g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 18000이었다.47.5 g of dimethyl terephthalic acid, 17.5 g of dimethyladipic acid, 42.4 g of 1,6-hexanediol, 37.8 g of polytetramethylene glycol (PTMG2000) having a molecular weight of 2000, and 0.05 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst were charged into a three- And reacted at 140 DEG C for 4 hours while removing methanol, followed by reaction at 140 DEG C for 12 hours under reduced pressure. Thereafter, 5.3 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.65 g of dibutyl tin dilaurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 18,000.

(합성예 17)(Synthesis Example 17)

경화성 화합물 (17)(직쇄상 폴리에스테르 화합물)의 합성:Synthesis of Curable Compound (17) (Straight Polyester Compound):

디메틸아디프산 63.4g과, 1,6-헥산디올 42.9g과, 분자량 2000의 폴리테트라메틸렌글리콜(PTMG2000) 38.2g과, 촉매로서 테트라부톡시티타늄 0.05g을 3구 플라스크에 칭량하고, 메탄올을 제거하면서 140℃에서 4시간 반응 후, 감압 하에서 140℃에서 12시간 반응시켰다. 그 후, 2-이소시아나토에틸아크릴레이트 5.4g과, 디부틸라우르산디부틸주석 0.65g을 첨가하고 70℃에서 4시간 반응시킴으로써, 경화성 화합물(직쇄상 폴리에스테르 화합물)을 얻었다. 얻어진 경화성 화합물의 중량 평균 분자량은 18000이었다.63.4 g of dimethyladipic acid, 42.9 g of 1,6-hexanediol, 38.2 g of polytetramethylene glycol (PTMG2000) having a molecular weight of 2000 and 0.05 g of tetrabutoxy titanium as a catalyst were weighed into a three-necked flask, and methanol The reaction was carried out at 140 ° C for 4 hours, and then the reaction was carried out at 140 ° C for 12 hours under reduced pressure. Then, 5.4 g of 2-isocyanatoethyl acrylate and 0.65 g of dibutyl tin dilaurate were added and reacted at 70 DEG C for 4 hours to obtain a curable compound (linear polyester compound). The weight average molecular weight of the obtained curable compound was 18,000.

(실시예 36)(Example 36)

합성예 9에서 얻어진 경화성 화합물 (9) 98.5중량부와, 열경화제(니치유사 제조의 「퍼옥타 O」, 1분 반감기 온도 124.3℃) 1.5중량부를 배합한 후, 유성식 교반 장치로 혼합 및 탈포함으로써 경화성 조성물을 얻었다.98.5 parts by weight of the curing compound (9) obtained in Synthesis Example 9 and 1.5 parts by weight of a thermosetting agent (perocta O "produced by Nichiai Co., Ltd., 1 minute half life temperature 124.3 ° C) were mixed and then mixed and de- To obtain a curable composition.

(실시예 37 내지 45)(Examples 37 to 45)

배합 성분의 종류 및 배합량을 다음의 표 4에 나타낸 바와 같이 변경한 것 이외에는 실시예 1과 마찬가지로 하여, 경화성 조성물을 얻었다.A curable composition was obtained in the same manner as in Example 1 except that the kind and blending amount of the compounding ingredients were changed as shown in the following Table 4.

(평가)(evaluation)

(1) 유리 전이 온도(Tg)(1) Glass transition temperature (Tg)

0.5㎜의 스페이서 및 열 프레스기를 사용하여 두께 0.5㎜의 경화물을 제작하였다. 얻어진 경화물에 대하여, DMA(점탄성 측정 장치)에 의하여 10℃/min의 승온 조건 하에서 유리 전이 온도를 구하였다.A 0.5 mm thick spacer and a hot press machine were used to produce a cured product having a thickness of 0.5 mm. The glass transition temperature of the obtained cured product was determined by DMA (viscoelasticity measuring apparatus) under a temperature elevation condition of 10 ° C / min.

(2) -30℃에서의 인장 탄성률(2) Tensile modulus at -30 캜

0.5㎜의 스페이서 및 열 프레스기를 사용하여 두께 0.5㎜의 경화물을 제작하였다. 상기 경화물을 소정의 크기(5.0㎜×50㎜×0.5㎜t)로 커트하였다. -30℃ 하에서 만능 재료 시험기(AND사 제조의 「텐실론」)를 사용하여 인장 탄성률을 구하였다.A 0.5 mm thick spacer and a hot press machine were used to produce a cured product having a thickness of 0.5 mm. The cured product was cut into a predetermined size (5.0 mm x 50 mm x 0.5 mm t). The tensile modulus of elasticity was determined at -30 캜 by using a universal material tester ("Tensilon" manufactured by AND Co.).

(2) 접착성(2) Adhesiveness

접착 시험편은 이하의 수순으로 제작하였다. SUS 기판(2㎝×7㎝) 상에 경화성 조성물을 도포하고, 그 위에 PET 필름을 얹고, 그 위로부터 평활한 플레이트로 가압하여 경화성 조성물이 일정한 두께(80㎛)가 되도록 하여, 적층체를 얻었다.The adhesive test pieces were produced by the following procedure. A curable composition was applied on an SUS substrate (2 cm x 7 cm), a PET film was placed thereon, and a flat plate was pressed thereon so that the curable composition had a constant thickness (80 mu m) to obtain a laminate .

얻어진 적층체에 대하여, 130℃에서 10초, 압력 1㎫의 조건에서 열경화시켜 접착 시험편을 얻었다.The obtained laminate was thermally cured at 130 DEG C for 10 seconds under a pressure of 1 MPa to obtain an adhesive test piece.

얻어진 접착 시험편을 사용하여, 시마즈 세이사쿠쇼사 제조의 「마이크로 오토그래프 MST-Ⅰ」에 의하여 박리를 행함으로써, 180° 박리 강도를 인장 속도 300㎜/분으로 23℃의 분위기 하에서 측정하였다. 초기의 접착성을 하기 기준으로 판정하였다.The obtained adhesive test piece was peeled off by "Micro-Autograph MST-I" manufactured by Shimadzu Seisakusho Co., Ltd., and the 180 ° peel strength was measured at a tensile rate of 300 mm / min under an atmosphere of 23 ° C. The initial adhesion was determined based on the following criteria.

[초기의 접착성의 판정 기준][Initial Adhesion Judgment Criteria]

○○○: 180° 박리 강도가 1.5N/㎜ 이상OOX: 180 DEG peel strength is 1.5 N / mm or more

○○: 180° 박리 강도가 1.0/㎜ 이상 1.5N/㎜ 미만OO: 180 DEG peel strength is 1.0 / mm or more and less than 1.5N / mm

○: 180° 박리 강도가 0.5N/㎜ 이상 1.0N/㎜ 미만?: 180 占 peel strength was 0.5 N / mm or more and 1.0 N / mm or less

△: 180° 박리 강도가 0.25N/㎜ 이상 0.5N/㎜ 미만DELTA: 180 DEG peel strength is 0.25 N / mm or more and less than 0.5 N / mm

×: 180° 박리 강도가 0.25N/㎜ 미만X: 180 DEG peel strength is less than 0.25 N / mm

(4) 경화성(4) Curability

경화 시간을 10초와 30초의 2가지 조건에서 시험편을 제작한 것 이외에는 상기 접착성의 평가 방법과 마찬가지로 시험편을 제작하고, 180° 박리 강도를 측정하였다. 하기 식에 따라 경화성을 평가하였다.A test piece was prepared in the same manner as in the evaluation of the adhesiveness except that a test piece was produced under two conditions of a curing time of 10 seconds and 30 seconds, and the 180 占 peel strength was measured. The curability was evaluated according to the following formula.

경화성(%)=(경화 시간 10초에서의 180° 박리 강도)×100/경화 시간 30초에서의 180° 박리 강도Curing property (%) = (180 占 peeling strength at 10 sec of curing time) 占 100/180 占 peeling strength at 30 sec of curing time

[경화성의 판정 기준][Criteria for determination of hardenability]

○○: 95% 이상○○: 95% or more

○: 90% 이상 95% 미만○: 90% or more and less than 95%

△: 85% 이상 90% 미만?: 85% or more and less than 90%

×: 85% 미만×: less than 85%

조성 및 결과를 하기 표 4에 나타낸다.The composition and results are shown in Table 4 below.

Figure pct00016
Figure pct00016

1: 도전성 입자
2: 기재 입자
3: 도전층
3A: 제2 도전층
3B: 땜납층
3Ba: 용융된 땜납층 부분
11: 도전성 입자
12: 땜납층
21: 도전성 입자
51, 61, 71: 접속 구조체
52, 62, 72: 제1 접속 대상 부재
52a, 62a: 제1 전극
53, 63, 73: 제2 접속 대상 부재
53a, 63a: 제2 전극
54, 64, 74: 접속부
1: conductive particles
2: Base particles
3: conductive layer
3A: second conductive layer
3B: solder layer
3Ba: Melted solder layer portion
11: conductive particles
12: solder layer
21: conductive particles
51, 61, 71: connection structure
52, 62, 72: first connection object member
52a, 62a: a first electrode
53, 63, 73: second connection object member
53a, 63a:
54, 64, 74:

Claims (23)

하기 식 (11)로 표시되는 화합물과 디올 화합물의 반응에 의하여 얻어지는 제1 화합물을 사용하여, 상기 제1 화합물에, 이소시아네이트기 및 불포화 2중 결합을 갖는 제2 화합물을 반응시킴으로써 얻어지는 경화성 화합물과,
열경화제를 포함하는, 경화성 조성물.
Figure pct00017

상기 식 (11) 중, X는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 페닐렌기를 나타내고, R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다.
A curing compound obtained by reacting the first compound with a second compound having an isocyanate group and an unsaturated double bond using a first compound obtained by a reaction between a compound represented by the following formula (11) and a diol compound,
A curable composition comprising a thermosetting agent.
Figure pct00017

In the formula (11), X represents an alkylene group or a phenylene group having 2 to 10 carbon atoms, and R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.
제1항에 있어서, 상기 식 (11)로 표시되는 화합물이, 하기 식 (11A)로 표시되는 화합물인, 경화성 조성물.
Figure pct00018

상기 식 (11A) 중, R1 및 R2는 각각 수소 원자 또는 탄소수 1 내지 4의 알킬기를 나타낸다.
The curable composition according to claim 1, wherein the compound represented by the formula (11) is a compound represented by the following formula (11A).
Figure pct00018

In the formula (11A), R 1 and R 2 each represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms.
제1항에 있어서, 상기 식 (11)로 표시되는 화합물이, 테레프탈산, 테레프탈산알킬에스테르, 이소프탈산 또는 이소프탈산알킬에스테르인, 경화성 조성물.The curable composition according to claim 1, wherein the compound represented by the formula (11) is terephthalic acid, terephthalic acid alkyl ester, isophthalic acid or isophthalic acid alkyl ester. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 디올 화합물이 1,6-헥산디올을 포함하는, 경화성 조성물.4. The curable composition according to any one of claims 1 to 3, wherein the diol compound comprises 1,6-hexanediol. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 디올 화합물이 비스페놀 A 또는 비스페놀 F를 포함하는, 경화성 조성물.5. The curable composition according to any one of claims 1 to 4, wherein the diol compound comprises bisphenol A or bisphenol F. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 디올 화합물이 1,6-헥산디올과, 비스페놀 A 또는 비스페놀 F를 포함하는, 경화성 조성물.6. The curable composition according to any one of claims 1 to 5, wherein the diol compound comprises 1,6-hexanediol and bisphenol A or bisphenol F. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 제2 화합물이, 불포화 2중 결합을 포함하는 기로서 (메트)아크릴로일기를 갖는, 경화성 조성물.The curable composition according to any one of claims 1 to 6, wherein the second compound has a (meth) acryloyl group as a group containing an unsaturated double bond. 제7항에 있어서, 상기 제2 화합물이 (메트)아크릴로일옥시알킬옥시이소시아네이트인, 경화성 조성물.8. The curable composition of claim 7, wherein said second compound is (meth) acryloyloxyalkyloxyisocyanate. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 경화성 화합물의 중량 평균 분자량이 8000 이상 50000 이하인, 경화성 조성물.9. The curable composition according to any one of claims 1 to 8, wherein the curable compound has a weight average molecular weight of 8000 to 50,000. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서, 4급 암모늄염 화합물 또는 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물을 포함하는, 경화성 조성물.10. The curable composition according to any one of claims 1 to 9, comprising a quaternary ammonium salt compound or a (meth) acrylic compound having a hydroxyl group. 제10항에 있어서, 상기 4급 암모늄염 화합물을 포함하는, 경화성 조성물.11. The curable composition of claim 10, comprising the quaternary ammonium salt compound. 제10항 또는 제11항에 있어서, 상기 수산기를 갖는 (메트)아크릴 화합물을 포함하는, 경화성 조성물.12. The curable composition according to claim 10 or 11, which comprises a (meth) acrylic compound having a hydroxyl group. 제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 열경화제가 열 라디칼 발생제인, 경화성 조성물.13. The curable composition according to any one of claims 1 to 12, wherein the thermosetting agent is a thermal radical generator. 제1항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서, 140℃ 및 10초로 경화시켰을 때 얻어지는 경화물의 파단 신장이 500% 이상인, 경화성 조성물.14. The curable composition according to any one of claims 1 to 13, wherein the cured product obtained by curing at 140 DEG C and 10 seconds has a breaking elongation of 500% or more. 제1항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름의 접착에 사용되고,
폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 접착용의 경화성 조성물인, 경화성 조성물.
15. The film according to any one of claims 1 to 14, which is used for bonding of a polyethylene terephthalate film,
A curable composition which is a curable composition for bonding a polyethylene terephthalate film.
제15항에 있어서, 터치 패널에 있어서, 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름의 접착에 사용되고,
터치 패널에 있어서의 폴리에틸렌테레프탈레이트 필름 접착용의 경화성 조성물인, 경화성 조성물.
16. The touch panel according to claim 15, which is used for adhesion of a polyethylene terephthalate film,
A curable composition which is a curable composition for bonding a polyethylene terephthalate film in a touch panel.
하기 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물과,
열경화제를 포함하는, 경화성 조성물.
Figure pct00019

상기 식 (1) 중, R1, R2는 각각 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, R3 및 R4는 각각 수소 원자, 메틸기 또는 페닐기를 나타내며, X는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 폴리에테르기를 나타내고, Y는 탄소수 2 내지 10의 알킬렌기 또는 페닐렌기를 나타내며, n1 및 n2는 각각 1 또는 2를 나타내고, m은, 식 (1)로 표시되는 경화성 화합물의 중량 평균 분자량이 8000 이상 50000 이하가 되는 정수를 나타낸다.
A curable compound represented by the following formula (1)
A curable composition comprising a thermosetting agent.
Figure pct00019

R 1 and R 2 are each a hydrogen atom or a methyl group, R 3 and R 4 are each a hydrogen atom, a methyl group or a phenyl group, X is an alkylene group or a polyether group having 2 to 10 carbon atoms, Y is N1 and n2 each represent 1 or 2, and m represents an integer in which the weight average molecular weight of the curable compound represented by the formula (1) is 8000 or more and 50000 or less .
제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 기재된 경화성 조성물과,
도전성 입자를 포함하는, 도전 재료.
A curable composition as claimed in any one of claims 1 to 16,
A conductive material comprising conductive particles.
제18항에 있어서, 상기 경화성 화합물의 함유량이 50중량% 이상인, 도전 재료.19. The conductive material according to claim 18, wherein the content of the curable compound is 50% by weight or more. 제18항 또는 제19항에 있어서, 상기 도전성 입자가 땜납을 도전성의 외표면에 갖는, 도전 재료.The conductive material according to claim 18 or 19, wherein the conductive particles have solder on a conductive outer surface. 제1 접속 대상 부재와,
제2 접속 대상 부재와,
상기 제1 접속 대상 부재와 상기 제2 접속 대상 부재를 접속하고 있는 접속부를 구비하며,
상기 접속부가, 제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 기재된 경화성 조성물을 경화시킴으로써 형성되어 있는, 접속 구조체.
A first connection object member,
A second member to be connected,
And a connection unit connecting the first connection target member and the second connection target member,
Wherein the connecting portion is formed by curing the curable composition according to any one of claims 1 to 16.
제21항에 있어서,
상기 제1 접속 대상 부재가 제1 전극을 표면에 갖고,
상기 제2 접속 대상 부재가 제2 전극을 표면에 가지며,
상기 제1 전극과 상기 제2 전극이 접촉함으로써 전기적으로 접속되어 있는, 접속 구조체.
22. The method of claim 21,
The first connection target member has a first electrode on its surface,
The second connection target member has a second electrode on a surface thereof,
And the first electrode and the second electrode are electrically connected by being in contact with each other.
제1 전극을 표면에 갖는 제1 접속 대상 부재와,
제2 전극을 표면에 갖는 제2 접속 대상 부재와,
상기 제1 접속 대상 부재와 상기 제2 접속 대상 부재를 접속하고 있는 접속부를 구비하며,
상기 접속부가, 제18항 내지 제20항 중 어느 한 항에 기재된 도전 재료를 경화시킴으로써 형성되어 있고,
상기 제1 전극과 상기 제2 전극이 상기 도전성 입자에 의하여 전기적으로 접속되어 있는, 접속 구조체.
A first connection target member having a first electrode on its surface,
A second connection target member having a second electrode on its surface,
And a connection unit connecting the first connection target member and the second connection target member,
Wherein the connecting portion is formed by curing the conductive material according to any one of claims 18 to 20,
Wherein the first electrode and the second electrode are electrically connected by the conductive particles.
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