KR20160071705A - Method for manufacturing Copper-Silver Alloy for Electrical Contact Material by Using diffusion bonding - Google Patents
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Abstract
본 발명은 (a) 은(Ag)과 제1금속을 포함하는 접점 소재를 용융시켜 제1빌릿을 주조하는 단계; (b) 상기 제1빌릿을 압출하여 와이어를 성형하는 단계; (c) 상기 와이어를 절단하여 칩(chip)을 성형하는 단계; (d) 상기 칩을 산화시킨 후, 산화에 의해 제1금속산화물이 포함된 은 합금(Ag alloy) 칩을 이용하여 제2빌릿을 주조하는 단계; (e) 상기 제2빌릿과 구리(Cu) 또는 구리 합금(alloy) 빌릿을 이용하여 절단 및 조립하여 제3빌릿을 형성하는 단계; (f) 제3빌릿을 확산접합하는 단계; 및 (g) 제3빌릿을 압출 및 압연하여 구리-은 합금판을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 구리-은 합금계 전기 접점의 제조방법의 제조방법을 제공한다.
본 발명에서는 접점 기능을 하는 은(Ag) 합금층과 구리층을 확산 접합 방식을 이용하여 직접적으로 접합함으로써, 건전한 접합계면을 형성할 뿐만 아니라 이들 계면 상에 발생하기 쉬운 구리 산화물층 형성을 제어하여 전기 접점의 수명을 향상시킬 수 있다. (A) melting a contact material comprising silver (Ag) and a first metal to cast a first billet; (b) extruding the first billet to form a wire; (c) cutting the wire to form a chip; (d) casting the second billet using a silver alloy chip containing the first metal oxide by oxidation after oxidizing the chip; (e) cutting and assembling the second billet with a copper (Cu) or copper alloy billet to form a third billet; (f) diffusion bonding the third billet; And (g) extruding and rolling the third billet to form a copper-silver alloy sheet. The method of manufacturing a copper-silver alloy-based electrical contact according to claim 1,
In the present invention, by directly bonding the silver (Ag) alloy layer serving as a contact point and the copper layer using the diffusion bonding method, not only a good bonding interface is formed but also the formation of a copper oxide layer, which is likely to occur on these interfaces, is controlled The life of the electrical contact can be improved.
Description
본 발명은 구리/은 합금계 전기 접점을 제조하는 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to a method of manufacturing a copper / silver alloy based electrical contact.
종래에 사용되는 은(Ag) 합금계 전기 접점은 용도에 따라 여러 대재에 접합하여 사용된다. 이때 사용되는 대재의 종류로는 Cu, Ni, 청동 등이 있으며, 특히 전기 전도도와 열전도도가 높은 구리(Cu)가 주로 사용된다. Conventionally used silver (Ag) alloy-based electrical contacts are used by being bonded to various materials in accordance with their use. Cu, Ni, bronze and the like are used as the material to be used at this time, and copper (Cu) having high electric conductivity and thermal conductivity is mainly used.
기존의 접합 방식은 Heading과 같은 냉간 가공 방식을 사용하여왔다. 최근에는 생산성 향상을 위해, 접점재를 스트립(Strip) 형태로 사용하는 경우가 많은데, 이러한 경우 주로 저항용접 등을 이용하여 대재와 접합하게 된다. Conventional joining methods have used cold working methods such as heading. In recent years, in order to improve the productivity, the contact material is often used in the form of a strip. In such a case, the material is mainly bonded to the material by resistance welding.
현재 사용되는 스트립(Strip)재는 은(Ag) 합금과 은(Ag)이 층을 이루고 있는데, 상기 은(Ag) 층을 구리(Cu)로 대체하려는 접점의 수요가 점점 증가하고 있는 상황이다. 상기와 같이 구리(Cu)층을 포함하는 스트립(Strip)재의 제조는 구리(Cu)의 산화 문제 때문에, 해외 선진사에서는 열간 분위기 접합 방식을 사용하고 있다. 그러나 고가의 장비 구축 등의 한계로 인해 생산비용이 비싸다는 단점이 있다.
Currently used strips are layers of silver (Ag) and silver (Ag), and there is a growing demand for contacts to replace the silver (Ag) layer with copper (Cu). As described above, the production of the strip material including the copper (Cu) layer uses the hot atmosphere bonding method in the overseas advanced company due to the oxidation problem of copper (Cu). However, there is a disadvantage that the production cost is expensive due to limitations such as expensive equipment construction.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 구리층과 은(Ag)층을 포함하여 구성되는 스트립재를 접합시, 확산접합 방식을 활용하여 건전한 접합계면을 지니도록 하는 전기 접점의 신규 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다. Disclosure of the Invention The present invention has been conceived to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a novel electrical contact which has a sound bonding interface by utilizing a diffusion bonding method when a strip material comprising a copper layer and a silver And a method for producing the same.
또한 전술한 확산접합 방식을 활용하여 제조된 다층(Multilayer) 스트립 형태의 전기 접점을 제공하는 것을 또 다른 목적으로 한다
Another object of the present invention is to provide a multilayer strip type electrical contact manufactured using the diffusion bonding method described above
상기한 목적을 달성하기 위해, 본 발명은 (a) 은(Ag)과 제1금속을 포함하는 접점 소재를 용융시켜 제1빌릿을 주조하는 단계; (b) 상기 제1빌릿을 압출하여 와이어를 성형하는 단계; (c) 상기 와이어를 절단하여 칩(chip)을 성형하는 단계; (d) 상기 칩을 산화시킨 후, 산화에 의해 제1금속산화물이 포함된 은 합금(Ag alloy) 칩을 이용하여 제2빌릿을 주조하는 단계; (e) 상기 제2빌릿과 구리(Cu) 또는 구리 합금(alloy) 빌릿을 이용하여 절단 및 조립하여 제3빌릿을 형성하는 단계; (f) 제3빌릿을 확산접합하는 단계; 및 (g) 제3빌릿을 압출 및 압연하여 구리-은 합금판을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 구리-은 합금계 전기 접점의 제조방법을 제공한다. In order to achieve the above object, the present invention provides a method of manufacturing a semiconductor device, comprising the steps of: (a) melting a contact material comprising silver (Ag) and a first metal to cast a first billet; (b) extruding the first billet to form a wire; (c) cutting the wire to form a chip; (d) casting the second billet using a silver alloy chip containing the first metal oxide by oxidation after oxidizing the chip; (e) cutting and assembling the second billet with a copper (Cu) or copper alloy billet to form a third billet; (f) diffusion bonding the third billet; And (g) extruding and rolling the third billet to form a copper-silver alloy sheet.
여기서, 상기 단계 (a)의 제1금속은 카드뮴(Cd), 주석(Sn), 인듐(In) 및 니켈(Ni)로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 이상일 수 있으며, 이때 제1금속의 함량은 당해 제1빌릿 100 중량%를 기준으로 20 중량% 이상인 것이 바람직하다. The first metal in step (a) may be at least one selected from the group consisting of cadmium (Cd), tin (Sn), indium (In), and nickel (Ni) It is preferably 20 wt% or more based on 100 wt% of the first billet.
본 발명의 바람직한 일례에 따르면, 상기 단계 (d)에서 산화단계는 산소 분위기 하에 650 내지 800℃에서 3 내지 24시간 동안 실시될 수 있다.According to a preferred embodiment of the present invention, in the step (d), the oxidation step may be carried out at 650 to 800 ° C for 3 to 24 hours under an oxygen atmosphere.
본 발명의 바람직한 다른 일례에 따르면, 상기 단계 (d)에서 제2빌릿 주조단계는 산화에 의해 제1금속산화물이 포함된 은 합금(Ag alloy) 칩을 금형에 투입한 후, 160 내지 180 kgf/cm2의 압력을 가해 제2빌릿을 주조하는 것일 수 있다. According to another preferred embodiment of the present invention, in the step (d), the second billet casting step is performed by injecting a silver alloy chip containing the first metal oxide into the metal mold by oxidation, cm < 2 > to cast the second billet.
본 발명의 바람직한 또 다른 일례에 따르면, 상기 단계 (d)는 (d-1) 상기 제2 빌릿을 풀림처리(annealing)하는 단계; 및 (d-2) 상기 풀림처리된 제2 빌릿을 냉간 압축, 열간압축, 또는 이들 모두를 실시하는 단계를 더 포함할 수 있다.According to another preferred embodiment of the present invention, the step (d) includes the steps of: (d-1) annealing the second billet; And (d-2) performing the cold compression, hot compression, or both of the annealed second billets.
본 발명의 바람직한 또 다른 일례에 따르면, 상기 단계 (f)는 600~730℃의 온도 및 40 ~ 130 MPa 압력 조건 하에서 1 ~ 10 시간 동안 유지함으로써, 은(Ag) 합금층과 구리층 계면 간의 확산을 통해 접합이 이루어지는 것일 수 있다. According to another preferred embodiment of the present invention, the step (f) is carried out at a temperature of 600 to 730 ° C and a pressure of 40 to 130 MPa for 1 to 10 hours, whereby the diffusion between the silver (Ag) As shown in Fig.
또한 본 발명의 바람직한 또 다른 일례에 따르면, 상기 제조방법은 (h) 상기 구리-은 합금판과 제2금속판을 접합하는 단계를 더 포함할 수 있다. 여기서, 상기 제2금속판은 은(Ag) 또는 은 합금일 수 있다. According to another preferred embodiment of the present invention, the manufacturing method may further include the step of (h) bonding the copper-silver alloy plate to the second metal plate. Here, the second metal plate may be silver (Ag) or a silver alloy.
한편 본 발명은 상기 제조방법으로 제조된 구리-은 합금계 전기 접점을 제공한다.
Meanwhile, the present invention provides a copper-silver alloy-based electrical contact manufactured by the above manufacturing method.
본 발명은 구리층과 은(Ag)층을 포함하여 구성되는 스트립재를 접합시, 확산 접합 방식을 활용하여 직접적으로 접합함으로써, 건전한 접합계면을 지닌 전기 접점을 제조할 수 있다. The present invention can manufacture an electrical contact having a sound bonding interface by directly bonding the strip material comprising a copper layer and a silver (Ag) layer using a diffusion bonding method.
또한 본 발명에서는 전술한 확산접합 방식을 활용하여 여러 층(Multi-layer)을 지닌 스트립 형태의 전기 접점을 제조할 수 있다. 이와 같이 본 발명의 전기접점 소재는 내구성 및 신뢰도가 우수하기 때문에 다양한 분야의 접점 재료로 유용하게 사용할 수 있다.
Further, in the present invention, it is possible to manufacture a strip-type electrical contact having a multi-layer by utilizing the diffusion bonding method described above. As described above, the electrical contact material of the present invention has excellent durability and reliability, and thus can be usefully used as a contact material in various fields.
도 1은 실시예 1에 따라 제조된 전기 접점의 단면을 확인한 FE-SEM 이미지이다.
도 2는 비교예 1에 따라 제조된 전기 접점의 단면을 확인한 FE-SEM 이미지이다.
도 3은 실시예 1에서 제조된 전기 접점의 FE-SEM 이미지이다.1 is an FE-SEM image of a cross section of an electrical contact prepared according to Example 1. Fig.
Fig. 2 is an FE-SEM image showing the cross-section of the electrical contact prepared according to Comparative Example 1. Fig.
3 is an FE-SEM image of the electrical contact prepared in Example 1. Fig.
이하, 본 발명을 상세히 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail.
본 발명에서는 구리-은 스트립재의 전기 접점을 제조함에 있어서, brazing 접합을 활용하는 대신, 접점 기능을 하는 은(Ag) 합금층과 구리층을 확산접합 방식을 활용하여 직접적으로 접합시키는 것을 특징으로 한다. In the present invention, in manufacturing the electrical contact of the copper-silver strip material, instead of utilizing the brazing junction, the silver (Ag) alloy layer serving as a contact point is directly bonded to the copper layer using a diffusion bonding method .
일반적으로 brazing은 스트립(strip)과 모재와의 접합을 의미하며, 용가재(filler metal)를 녹여서 접합하는 것이다. 이에 비해, 본 발명에서 적용하는 확산접합은 brazing을 포함하지 않는, 협의의 의미로서 스트립층(strip layer) 간의 접합을 지칭하며, 융점의 70~80% 수준에서 접합하게 된다. In general, brazing refers to the bonding between strip and base material, and melts and bonds filler metal. In contrast, the diffusion bonding applied in the present invention refers to a bonding between strip layers as a meaning of a negotiation, which does not include brazing, and bonds at a level of 70 to 80% of the melting point.
즉, 다른 종류의 물체끼리 접촉시키면 시간과 온도에 따라 각 물체의 원자들이 자신의 농도보다 낮은 상대 물체로 원자 이동하는 확산이 일어나게 된다. 특히 금속은 융점이 높기 때문에, 인위적으로 압력과 온도와 간격을 조절할 경우, 이종 금속소재 내에서 강제로 원자간 이동을 일으켜 접합이 일어나게 되는데, 이를 확산접합(diffusion bonding) 이라고 한다. That is, when different kinds of objects are brought into contact with each other, diffusion occurs in which atom of each object moves to a relative object lower than its own concentration according to time and temperature. Particularly, since the metal has a high melting point, when the pressure, the temperature and the gap are controlled by artificially, the bonding occurs due to the interatomic movement in the dissimilar metal material, which is called diffusion bonding.
상기와 같이 확산접합을 적용할 경우, 건전한 접합계면을 형성할 뿐만 아니라 이들의 접합계면 상에 발생하기 쉬운 구리 산화물층 형성을 제어하여 전기 접점의 수명을 향상시킬 수 있다. 특히, 본 발명에서는 Canning이라는 공정 및 탈가스 공정을 통해서 진공상태에서 접합을 함으로써, 산화물층을 형성할 산소 (O2)와의 접촉이 없게 되어 구리 산화물층 형성 자체를 억제하게 된다.
When the diffusion bonding is applied as described above, it is possible to improve the lifetime of the electrical contact by controlling the formation of a healthy bonding interface as well as the formation of a copper oxide layer, which is likely to occur on the bonding interface thereof. Particularly, in the present invention, bonding in a vacuum state through a process called canning and a degassing step prevents contact with oxygen (O 2 ) to form an oxide layer, thereby suppressing formation of a copper oxide layer itself.
<전기접점의 제조방법>≪ Manufacturing method of electrical contact >
이하, 본 발명에 따른 전기접점의 제조방법에 대해 설명한다. 그러나 하기 제조방법에 의해서만 한정되는 것은 아니며, 필요에 따라 각 공정의 단계가 변형되거나 또는 선택적으로 혼용되어 수행될 수 있다. Hereinafter, a method of manufacturing an electrical contact according to the present invention will be described. However, the present invention is not limited to the following production methods, and the steps of each process may be modified or optionally mixed as required.
상기 전기접점을 제조하는 방법의 바람직한 일 실시예를 들면, (a) 은(Ag)과 제1금속을 포함하는 접점 소재를 용융시켜 제1빌릿을 주조하는 단계('S10'); (b) 상기 제1빌릿을 압출하여 와이어를 성형하는 단계('S20'); (c) 상기 와이어를 절단하여 칩(chip)을 성형하는 단계('S30'); (d) 상기 칩을 산화시킨 후, 산화에 의해 제1금속산화물이 포함된 은 합금(Ag alloy) 칩을 이용하여 제2빌릿을 주조하는 단계('S40'); (e) 상기 제2빌릿과 구리(Cu) 또는 구리 합금(alloy) 빌릿을 이용하여 절단 및 조립하여 제3빌릿을 형성하는 단계('S50'); 및 (f) 제3빌릿을 확산접합하는 단계('S60'); (g) 제3빌릿을 압출 및 압연하여 구리-은 합금판을 형성하는 단계('S70')를 포함하여 구성될 수 있다. 이때 필요에 따라, (h) 상기 구리-은 합금판과 제2금속판을 접합하는 단계('S80')를 더 포함할 수 있다. In a preferred embodiment of the method for manufacturing the electrical contact, (a) a step ('S10') of melting a contact material containing silver (Ag) and a first metal to cast a first billet; (b) forming a wire by extruding the first billet ('S20'); (c) cutting the wire to form a chip (S30 '); (d) casting a second billet ('S40') using a silver alloy chip containing a first metal oxide by oxidation after oxidizing the chip; (e) cutting and assembling the second billet with copper (Cu) or a copper alloy billet to form a third billet ('S50'); And (f) diffusion bonding the third billet ('S60'); (g) extruding and rolling the third billet to form a copper-silver alloy sheet ('S70'). At this time, if necessary, (h) step (S80 ') of joining the copper-silver alloy plate and the second metal plate may be further included.
이하, 상기 제조방법을 각 공정 단계별로 나누어 설명하면 다음과 같다.
Hereinafter, the manufacturing method will be described separately for each process step as follows.
(a) 제1 빌릿 주조 (이하, 'S10 단계'라 함)(a) a first billet casting (hereinafter referred to as 'S10 step'),
먼저, 은(Ag)과 제1 금속을 포함하는 접점 소재를 이용하여 제1빌릿을 주조한다. First, a first billet is cast using a contact material containing silver (Ag) and a first metal.
보다 구체적으로, 은(Ag)을 주성분으로 하고, 여기에 제1금속이 포함되는 접점소재의 조성을 설계한 후 이러한 금속을 용해로에 투입하여 용해시킨 다음 금형에 부어 제1 빌릿을 주조한다. More specifically, after a composition of a contact material containing silver (Ag) as a main component and containing a first metal is designed, the metal is injected into a melting furnace to dissolve the molten metal and then poured into a mold to cast a first billet.
여기서, 주조는 용융된 소재를 이후 압출이 용이한 형태의 금속 덩어리인 빌릿(billet)으로 만드는 것을 의미한다. 이때 빌릿은 단면이 장방형으로 한 변이 160mm 이하, 단면적 25,600 이하의 각형 강편, 또는 소강편일 수 있다.Here, the casting means that the molten material is made into a billet, which is a metal ingot in a form that can be easily extruded later. At this time, the billet may be a square piece having a rectangular cross-section of 160 mm or less and a cross-sectional area of 25,600 or less, or a small-sized piece.
상기 제1 금속은 당 업계에서 은과 합금을 형성할 수 있는 접점소재라면 특별히 한정되지 않으며, 일례로 카드뮴(Cd), 주석(Sn), 인듐(In) 및 니켈(Ni)로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상인 것이 바람직하다. 이러한 제1 금속의 함유량은 상기 제1 빌릿 100 중량%를 기준으로 10 중량% 이상인 것이 바람직하며, 더욱 바람직하게는 15 내지 40 중량% 범위일 수 있다.The first metal may be selected from the group consisting of cadmium (Cd), tin (Sn), indium (In), and nickel (Ni), as long as it is a contact material capable of forming a silver- Or more. The content of the first metal is preferably 10% by weight or more, more preferably 15 to 40% by weight based on 100% by weight of the first billet.
(b) 와이어 성형 (이하, 'S20 단계'라 함)(b) Wire forming (hereinafter referred to as 'S20 step')
본 S20 단계에서는 주조된 제1 빌릿을 압출하여 와이어(wire)를 성형한다. In step S20, the cast billet is extruded to form a wire.
여기서, 성형되는 와이어의 직경은 특별히 한정되지 않으며, 일례로 1 내지 3Φ인 것이 바람직하다. Here, the diameter of the wire to be formed is not particularly limited, and for example, it is preferably 1 to 3Φ.
또한 상기 S2 단계에서, 와이어를 성형하는 방법도 특별히 한정되지 않으며, 일례로 제1 빌릿과, 와이어 성형을 위한 금형을 각각 500 내지 600℃로 예열한 후 금형에 제1 빌릿을 주입하고 120 내지 170kgf/㎠의 압력을 가해 와이어를 성형할 수 있다.
In addition, a method of forming the wire is not particularly limited in the step S2. For example, the first billet and the metal mold for wire forming are preheated at 500 to 600 DEG C, and then the first billet is injected into the metal mold, / Cm < 2 > to form a wire.
(c) 칩 성형 (이하, 'S30 단계'라 함)(c) Chip molding (hereinafter referred to as 'S30 step')
이전 단계(S20)에서 성형된 와이어를 절단하여 칩(Chip)을 성형한다. 이와 같이 작게 절단하는 이유는 내부산화를 균일하게 하고 빠른 시간 내에 내부산화가 완료될 수 있도록 하기 위해서이다. In the previous step S20, the formed wire is cut to form a chip. The reason for such a small cutting is to make the internal oxidation uniform and allow the internal oxidation to be completed in a short time.
여기서 성형되는 칩의 길이는 당 분야에 알려진 통상적인 범위 내에서 적절히 조절할 수 있으며, 일례로 1 내지 3㎜인 것이 바람직하다. The length of the chip to be formed here can be appropriately adjusted within the conventional range known in the art, and is preferably 1 to 3 mm, for example.
상기와 같이 칩(chip)을 성형한 후 산화과정을 거쳐 후술되는 제2 빌릿(billet)을 주조할 경우 제1금속 산화물이 균일하게 분포된 제2 빌릿을 주조할 수 있는데, 이에 대해서는 후술하기로 한다.
When a second billet, which will be described later, is cast through an oxidation process after forming a chip as described above, a second billet having a uniform distribution of the first metal oxide may be cast, do.
(d) 산화 및 제2 빌릿 주조 (이하, 'S40 단계'라 함)(d) oxidation and second billet casting (hereinafter referred to as 'S40 step'),
본 S40 단계에서는 성형된 칩을 내부산화 공정을 거쳐 산화물을 형성한 후, 상기 산화된 칩을 이용하여 제2 빌릿을 주조한다. In step S40, the formed chip is subjected to an internal oxidation process to form an oxide, and then the oxidized chip is used to cast the second billet.
상기 산화단계는 고압의 산소 분위기 하에서 가열을 통해 산소가 금속 내부로 침입하여 고용되게 하는 목적이 있다. 이와 같이 내부산화된 금속소재는 산화물이 형성되어, 내부산화 전 금속 소재보다 전기접점소재로서 전기적, 기계적 수명이 향상된 소재가 된다.The oxidation step has the purpose of allowing oxygen to enter into the metal through heating under a high-pressure oxygen atmosphere to be solidified. As described above, the inner oxidized metal material forms an oxide, and becomes an electrical contact material material having improved electrical and mechanical life as compared with a metal material before internal oxidation.
즉, 은(Ag)은 산화가 어렵기 때문에, Ag 합금계 전기 접점소재의 경우, '내부산화'라는 공정을 거치게 된다. 이러한 내부산화는 특정한 조건(고온 고압)에서 산화 친밀한 분위기를 형성했을 때, Ag 내부에 산화친화력이 높은 원소, 일례로 Cd, Sn, In 등의 원소가 선택적으로 산화되는 것을 의미한다. 전기 접점의 경우 이러한 산화층이 휘발되면서 개폐시 발생하는 아크(Arc)열을 흡수하여 접점의 역할을 수행하는 중요한 핵심이 된다. 이때 내부산화는, 산화방식에 따라 제품의 형태로 가공을 한 후 내부산화를 시키는 것을 후(後)산화, 내부산화를 시킨 후 제품 형태로 가공하는 것을 전(前)산화라고 통칭한다. 본 발명에서는 전(前)산화 방식에 의해 전기접점을 제조한다. That is, since silver (Ag) is difficult to oxidize, in the case of the Ag alloy electrical contact material, it is subjected to a process called 'internal oxidation'. This internal oxidation means that elements such as Cd, Sn, and In are selectively oxidized in the Ag with high affinity for oxidation when an intimate atmosphere of oxidation is formed under specific conditions (high temperature and high pressure). In the case of an electrical contact, this oxide layer is volatilized and absorbs the arc heat generated when opening and closing, which is an important point for performing the role of a contact. At this time, internal oxidation is referred to as pre-oxidation in which internal oxidation is performed after the product is processed according to the oxidation method, and after the internal oxidation and internal oxidation are performed, the product is processed into a product form. In the present invention, an electrical contact is manufactured by a pre-oxidation method.
이때, 상기 칩을 산화시키는 조건은 특별히 제한되지 않으며, 일례로 산소 분위기 하에서 650 내지 800℃의 온도에서 3 내지 24시간 동안 산화시키는 것이 바람직하다. 여기서 산소 분압은 4~10 kgf/cm2 조건일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다. At this time, the conditions for oxidizing the chip are not particularly limited. For example, it is preferable to oxidize the chip at a temperature of 650 to 800 ° C. for 3 to 24 hours in an oxygen atmosphere. Here, the oxygen partial pressure may be 4 to 10 kgf / cm 2 , but is not limited thereto.
이와 같이 성형된 칩(chip)을 산화시키면, 칩 내부 및/또는 칩 표면에 제1 금속이 산화되어 형성된 제1금속산화물을 포함하게 된다. 이러한 제1금속산화물을 포함하는 칩(chip)을 이용하여 제2 빌릿을 주조하게 되면, 주조되는 제2 빌릿에도 제1금속산화물이 균일하게 분포된다. 본 발명에서는 상기 제1금속산화물이 균일하게 분포된 제2빌릿을 이용함에 따라, 최종 제조되는 전기 접점에서 제1금속 산화물이 균일하게 분포되어 내구성 및 신뢰도가 높은 전기 접점을 제공할 수 있다.When the chip thus formed is oxidized, the first metal oxide is formed on the chip and / or the surface of the chip by oxidation of the first metal. When the second billet is cast using a chip including the first metal oxide, the first metal oxide is uniformly distributed in the second billet to be cast. According to the present invention, since the second billet having the first metal oxide is uniformly distributed, the first metal oxide is uniformly distributed in the final electrical contact, thereby providing an electrical contact having high durability and reliability.
한편 본 S40 단계에서 제2 빌릿을 주조하는 방법은 특별히 한정되지 않으며, 당 업계에 알려진 통상적인 방법에 따라 제조될 수 있다. 일례로, 산화된 칩을 원형의 금형에 투입한 후, 160 내지 180kgf/cm2의 압력을 가해 주조될 수 있다.On the other hand, the method of casting the second billet in this step S40 is not particularly limited, and can be produced according to a conventional method known in the art. For example, the oxidized chip may be cast into a circular mold and then subjected to a pressure of 160 to 180 kgf / cm 2 .
본 발명에서는 주조된 제2 빌릿의 응력을 제거하고 밀도를 조절하기 위해 풀림처리(annealing)와, 냉간 압축 또는 열간 압축하는 단계를 더 거칠 수 있다.In the present invention, annealing and cold compression or hot compression may be further performed to remove the stress of the cast billet and to control the density.
상기 풀림처리 단계는 압축응력을 제거해주고 잘게 절단되어 분리되었던 접점 소재 간 확산을 통해 접합시켜주어 내부의 결함을 제거하는 것을 목적으로 한다. 이러한 풀림처리 단계의 조건은 특별히 한정되지 않으며, 일례로 제2 빌릿을 대기열처리로에 투입한 후 400 내지 800℃에서 4 내지 8시간 동안 이루어질 수 있다. 이때 1회 또는 그 이상 실시될 수 있다. The annealing step removes the compressive stress and joins the material through the diffusion between the contact materials which have been cut and separated. The conditions of the annealing step are not particularly limited. For example, the annealing may be performed at 400 to 800 ° C for 4 to 8 hours after the second billet is introduced into the atmospheric heat treatment furnace. At this time, it may be performed once or more.
또한 상기 압축단계는 제2빌릿을 압축하여 밀도를 높이는 공정으로서, 크게 상온에서 압축하는 냉간압축과 가열된 상태에서 압축하는 열간압축으로 구분될 수 있다. 성형 완료 후 밀도를 높이기 위해서, 본 발명에서는 냉간압축, 열간압축 또는 이들 모두를 실시할 수 있다.Further, the compressing step is a step of compressing the second billet to increase the density, and can be roughly divided into cold compressing at room temperature and hot compression compressing in a heated state. In order to increase the density after completion of the molding, cold compression, hot compression or both of them can be carried out in the present invention.
상기 냉간압축 또는 열간압축 단계의 조건 역시 특별히 한정되지 않으며, 당 업계에 알려진 통상적인 범위 내에서 적절히 조절할 수 있다. 일례로, 냉간압축은 상온에서 150 내지 170kgf/cm2의 압력을 가해 이루어질 수 있으며, 열간압축은 600 내지 650℃에서 170 내지 190kgf/cm2의 압력을 가해 이루어질 수 있다. The conditions of the cold compression or hot compression step are also not particularly limited and can be appropriately adjusted within the ordinary range known in the art. For example, the cold compression may be performed at a pressure of 150 to 170 kgf / cm 2 at room temperature, and the hot compression may be performed at a pressure of 170 to 190 kgf / cm 2 at 600 to 650 ° C.
본 발명에서는 냉간압축 또는 열간압축을 선택적으로 실시하거나, 또는 냉간압축 및 열간압축을 모두 실시할 수 있다. 필요한 경우, 열처리를 실시한 후 다시 빌릿을 압축하는 공정을 원하는 압축밀도를 얻을 때까지 반복할 수 있다. 이때 제2빌릿을 충분한 온도(700 ~ 850℃)로 예열하게 되는데, 이때 예열은 특별히 제한되지 않으며, 분위기로 또는 고주파 예열 등의 다양한 방법이 수행될 수 있다.
In the present invention, either the cold compression or the hot compression can be selectively performed, or both the cold compression and the hot compression can be performed. If necessary, the process of pressing the billet again after the heat treatment can be repeated until a desired compression density is obtained. At this time, the second billet is preheated to a sufficient temperature (700 to 850 ° C). At this time, the preheating is not particularly limited, and various methods such as atmosphere or high frequency preheating can be performed.
(e) 제 3빌릿 제조 (이하, 'S50 단계'라 함)(e) Production of a third billet (hereinafter referred to as " S50 step &
제조된 제2 빌릿을 절단하고, 구리(Cu) 또는 구리 합금 빌릿(alloy billet)을 단면적 비에 맞추어 절단한 후, 제2빌릿과 구리계 빌릿을 조립하여 제 3 빌릿을 제조한다. The produced second billet is cut, and the copper (Cu) or copper alloy billet is cut according to the cross-sectional area ratio, and then the second billet and the copper-based billet are assembled to produce a third billet.
이때 구리 합금 빌렛에 사용된 성분은 당 분야에서 구리(Cu)와 합금을 형성할 수 있는 금속 성분이라면 특별히 한정되지 않는다. The component used in the copper alloy billet is not particularly limited as long as it is a metal component capable of forming an alloy with copper (Cu) in this field.
상기 제 3 빌릿 제조시, 필요에 따라 은(Ag) 층을 별도로 삽입할 수 있다.In the production of the third billet, a silver (Ag) layer may be separately inserted if necessary.
(f) 확산 접합 (이하, 'S60 단계'라 함)(f) diffusion bonding (hereinafter referred to as 'S60 step'),
본 S60 단계에서는, 제조된 제 3 빌릿을 등방향 확산 접합을 통해 은(Ag) 합금층과 구리(Cu) 또는 구리 합금층을 접합한다. In this step S60, a silver (Ag) alloy layer and a copper (Cu) or copper alloy layer are bonded to the produced third billet through equi-direction diffusion bonding.
상기 확산 접합시의 방법 및 조건은 각각 당 분야에 알려진 범위 내에서 적절히 조절할 수 있다. 상기 S60 단계의 바람직한 일례를 들면, 제3빌릿을 600~730℃의 온도 및 40~130 MPa 압력 조건 하에서 1~10 시간 동안 유지하는 것일 수 있다. The method and condition for the diffusion bonding can be appropriately adjusted within the range known in the art. As a preferred example of step S60, the third billet may be maintained at a temperature of 600 to 730 DEG C and a pressure of 40 to 130 MPa for 1 to 10 hours.
Ag-Cu 접점에 대해서 전술한 조건을 유지할 경우, 이들의 접촉면 전면(全面)에 걸쳐 합금 액체 상에 의한 습윤이 생겨 전면적인 접합이 형성된다. 즉, 은(Ag) 합금층과 구리층 계면 간의 확산을 통해 접합이 이루어지게 된다. 이때 상기 조건보다 낮을 경우 계면에서만 국부적인 합금층이 생기게 되며, 상기 조건 보다 높을 경우 접점의 침하가 커져서, 접점 성능을 해롭게 할 수 있다. When the above-described conditions are maintained for the Ag-Cu contacts, wetting by the alloy liquid phase occurs over the entire contact surface of the Ag-Cu contacts, and a full bonding is formed. That is, the bonding is performed through diffusion between the silver (Ag) alloy layer and the copper layer interface. At this time, if it is lower than the above condition, a local alloy layer is formed only at the interface, and if it is higher than the above condition, the settling of the contact becomes large, and the contact performance can be deteriorated.
상기 확산 접합에 의해 형성된 접합층은 주로 Ag과 Cu로 이루어지며, 접점이 합금인 경우 그 합금 성분이 더 포함된다. 이러한 접합층은 종래 사용되는 은납층에 비해 융점이 높고 고온 강도 역시 우수하므로, 대전류의 통전에 의한 온도 상승에 대해서도 박리가 생기가 어렵다. 또한 접합 강도는 납땜에 의한 접점 강도와 대등한 강도를 나타낼 수 있다. The bonding layer formed by the diffusion bonding is mainly composed of Ag and Cu, and when the contact is an alloy, the alloy component is further included. Such a bonding layer has a melting point higher than that of a conventionally used silver-containing layer and also has a high-temperature strength, so that it is difficult to peel off the temperature rise due to energization of a large current. The bonding strength can be equivalent to the contact strength by soldering.
아울러, 상기 접합층의 두께는 가열온도, 가열시간, 압력 등에 의해 조절할 수 있으므로, 접합부의 특성에 따라 원하는 값으로 제어하는 것이 가능하다. In addition, since the thickness of the bonding layer can be controlled by heating temperature, heating time, pressure, etc., it is possible to control to a desired value according to the characteristics of the bonding portion.
상기와 같이 확산 접합을 통해 제조된 제3빌릿은 열간 압축 등의 공정을 통해 추가적으로 접합강도를 향상시킬 수 있다.
The third billet produced through the diffusion bonding as described above can further improve the bonding strength through a process such as hot compression.
(g) 합금판 형성 (이하, 'S70 단계'라 함)(g) Alloy plate formation (hereinafter referred to as 'S70 step')
본 S70 단계에서는, 확산 접합된 제 3 빌릿을 압출 및 압연하여 구리-은 합금판 (또는 strip)을 형성한다. In this step S70, the diffusion-bonded third billet is extruded and rolled to form a copper-silver alloy plate (or strip).
상기 합금판을 형성하는 방법의 바람직한 일례를 들면, 제 3 빌릿을 스트립 형태의 금형에 투입한 후 600℃ 내지는 700℃의 온도에서 160 내지 180kgf/cm2의 압력을 가하여 열간 압출하는 방식으로 제조될 수 있다. As a preferable example of the method for forming the alloy plate, the third billet is put into a metal mold in a strip form and then hot extruded at a pressure of 160 to 180 kgf / cm 2 at a temperature of 600 ° C to 700 ° C .
본 S70 단계에서, 압출은 내부산화된 접점 소재를 압접하고자 하는 형태로 제조하는 단계이다. 이와 같이 압출시, 금형에 따라 표면이 거칠거나, 이물질, 산화물이 발생할 수 있으며, 필요시 브러쉬 또는 산처리 공정을 통해 표면을 면삭할 필요가 있다.In the present step S70, the extrusion is a step of manufacturing the internally oxidized contact material in a shape to press-contact. As such, when the extrusion is carried out, depending on the mold, the surface may be rough, foreign matter, and oxides may be generated, and it is necessary to finish the surface through a brush or an acid treatment process if necessary.
상기 압출공정에 의해 스트립 형태 또는 판 접점 형태의 접점 소재가 제조될 수 있다. 이와 같이 압출법을 실시하면, 결정립 및 접합면에 밀집되는 제1금속산화물의 분포를 제어할 수 있다. 따라서 이러한 방식으로 제조된 스트립재 (합금판)는 모재 내 크랙 및 결함의 발생 가능성이 적어 제품의 내구성 향상 및 신뢰성 향상을 기대할 수 있다.The contact material in the form of a strip or plate contact can be produced by the extrusion process. When the extrusion method is carried out in this manner, the distribution of the first metal oxide that is concentrated on the crystal grains and the bonding surfaces can be controlled. Therefore, the strip material (alloy plate) manufactured in this manner is less likely to cause cracks and defects in the base material, thereby improving the durability and reliability of the product.
이후 접점 소재를 원하는 두께에 맞추기 위해, 요구되는 두께로 압연을 실시한다. Then, the contact material is rolled to a desired thickness to match the desired thickness.
이때 압연은 당 분야에 알려진 통상적인 열간압연, 냉간압연 또는 이들 모두를 실시할 수 있으며, 보다 구체적으로 상기 스트립재를 300 내지 450℃의 온도에서 열간압연을 하거나, 냉간압연을 통해 목적된 치수로 제조될 수 있다. 또한 슬리팅 공정을 통해 원하는 폭으로 절단하여 제조될 수 있다.
The rolling may be performed by conventional hot rolling, cold rolling or both, which are known in the art. More specifically, the strip may be subjected to hot rolling at a temperature of 300 to 450 DEG C or by cold rolling to a desired dimension . And can be manufactured by cutting to a desired width through a slitting process.
(h) 이종 소재 금속판과 접합(이하, 'S80 단계'라 함)(h) bonding with a dissimilar metal sheet (hereinafter referred to as 'S80 step'),
필요에 따라, 본 발명의 S80 단계에서는 이전 S70 단계에서 형성된 구리-은 합금판과 제2 금속판을 접합하는 단계를 더 포함할 수 있다. 이를 통해 본 발명의 다층 구조의 전기 접점을 제조할 수 있다. If necessary, the step S80 of the present invention may further include bonding the copper-silver alloy plate formed in the previous step S70 to the second metal plate. Thus, the multi-layered electrical contact of the present invention can be manufactured.
본 발명은 구리-은 합금판과 이종(異種) 소재로 이루어진 제2 금속판을 접합시키되, 합금판과의 결합력을 높이기 위해서, 상기 제2 금속판으로 은(Ag) 또는 은 합금을 사용하며, 바람직하게는 은(Ag)을 사용한다. In the present invention, silver (Ag) or a silver alloy is used as the second metal plate in order to bond a copper-silver alloy plate to a second metal plate made of a dissimilar material, (Ag) is used.
본 발명에서, 상기 구리-은 합금판과 제2금속판을 접합시키는 방법은 당 분야에 알려진 통상적인 방법에 따라 이루어질 수 있다. 일례로 플라즈마 처리에 의한 접합법에 의해 접합될 수 있으며, 바람직하게는 플라즈마 접합 방식을 통한 용가재(filler metal)와의 접합을 통해 다층의 스트립 형태 또는 판 접점 형태가 제조되는 것이다. In the present invention, the method of bonding the copper-silver alloy sheet to the second metal sheet may be performed according to a conventional method known in the art. For example, they can be bonded by a plasma treatment, and preferably a multilayer strip or plate contact is produced through bonding with a filler metal through plasma bonding.
상기 플라즈마 접합방식의 바람직한 일례를 들면, 구리-은 합금판의 표면과 제2 금속판의 표면에 각각 플라즈마를 조사하여 표면 활성화처리한 후, 표면 활성화 처리된 합금판과 제2 금속판을 가열 및 압연하여 서로 접합시키는 것이다.As a preferable example of the plasma bonding method, the surface of the copper-silver alloy plate and the surface of the second metal plate are respectively irradiated with plasma to perform surface activation treatment, and then the surface-activated alloy plate and the second metal plate are heated and rolled Respectively.
이와 같이 플라즈마 처리에 의해 합금판과 제2금속판을 접합시킬 경우, 합금판과 제2 금속판과의 접합강도를 높일 수 있다. When the alloy plate and the second metal plate are joined together by the plasma treatment as described above, the bonding strength between the alloy plate and the second metal plate can be increased.
한편 상기 제조된 본 발명의 전기 접점은, 제2 금속판(A)과 용가재 역할을 하는 제3금속판(B)을 접합시키는 단계를 더 거칠 수 있다. On the other hand, the electrical contact of the present invention can be further bonded to the second metal plate (A) and the third metal plate (B) serving as a filler.
여기서, 용가재(filler material) 역할을 하는 제3금속판은 당 업계에 알려진 통상적인 필러 메탈 소재를 제한 없이 사용할 수 있으며, 일례로, 구리(Cu), 은(Ag) 및 인(P)으로 구성된 군으로부터 선택되는 2종 이상을 포함하는 합금 형태의 조성일 수 있다. Here, the third metal plate serving as a filler material may be any of conventional filler metal materials known in the art. For example, the third metal plate may be made of copper (Cu), silver (Ag), and phosphorus Or a combination thereof.
본 발명의 바람직한 일례에 따르면, 상기 제3금속판은 구리(Cu), 은(Ag) 및 인(P)의 합금이며, 은(Ag) 및 인(P)의 중량비로 은(Ag) : 인(P) = 14.5~15.5 : 4.8~5.3 범위로 용해되어 제조된 원형 빌렛(billet)을 열간 압출하여 제조된 판상 형태의 스트립재일 수 있다. 이때 전체 100 중량부를 기준으로 하여, 은(Ag)과 인(P)을 제외한 잔량은 구리의 함량으로, 79.2~80.7 중량부일 수 있다. According to a preferred embodiment of the present invention, the third metal plate is an alloy of copper (Cu), silver (Ag) and phosphorus (P), and silver (Ag) P) = 14.5 to 15.5: 4.8 to 5.3. The billet may be a plate-shaped strip material manufactured by hot extrusion. In this case, the remaining amount excluding silver (Ag) and phosphorus (P) based on 100 parts by weight of the total amount may be 79.2 to 80.7 parts by weight in terms of copper content.
상기 단계를 거치게 되면, 진공 조건 하에서 플라즈마 표면 활성화 처리 후 합금판과 제2금속판 과의 가열 및 저압압연을 통해 0.1 ~ 3.0mm 두께의 높은 접합강도를 가진 다층 전기접점을 얻을 수 있다.
Through the above steps, a multilayered electrical contact having a high bonding strength of 0.1 to 3.0 mm in thickness can be obtained through heating of the alloy plate and the second metal plate and low-pressure rolling under the plasma condition after the plasma surface activation treatment.
(i) 브러쉬 및 슬릿팅 (이하, 'S7 단계'라 함)(i) brush and slitting (hereinafter referred to as 'S7 step'),
이후, 접합이 완료된 전기접점 소재 표면의 Burr나 이물질을 제거하고, 양호한 표면조도를 얻기 위해 당 업계에 알려진 통상적인 방법에 따라 브러쉬 공정과 레벨링 공정을 실시한 후, 슬릿팅 공정을 수행한다. Thereafter, the burr and the foreign substance on the surface of the electrical contact material to be bonded are removed and a brushing process and a leveling process are performed according to a conventional method known in the art to obtain a good surface roughness, and then a slitting process is performed.
이때, 사용자가 요구하는 표면상태에 따라 표면의 가공 정도를 조절하여 가공할 수 있다.
At this time, depending on the surface condition required by the user, it is possible to adjust the degree of processing of the surface.
한편 본 발명은 전술한 방법에 의해 제조되는 전기 접점을 제공한다.On the other hand, the present invention provides an electrical contact manufactured by the above-described method.
이러한 본 발명의 전기 접점은 접점 소재층과 필요한 경우 용접재를 포함하여 2층 이상의 다층 이종소재가 서로 접합되어 있는 형태이다. 이러한 전기 접점의 내부에 제1금속산화물이 균일하게 분포되어 있기 때문에, 도전재로 적용할 경우 내구성 및 신뢰도가 우수하다. The electrical contact of the present invention is a form in which two or more multi-layer heterogeneous materials including a contact material layer and, if necessary, a welding material are bonded to each other. Since the first metal oxide is uniformly distributed within the electrical contact, it is excellent in durability and reliability when applied to a conductive material.
보다 구체적으로, 본 발명의 전기 접점은 은(Ag)과 제1금속이 혼합된 합금층, 은(Ag)과 구리의 합금 접합층(접합층), 구리 또는 구리 합금층으로 이루어질 수 있는데, 이중 합금층에 제1금속 산화물이 균일하게 분포되어 있기 때문에 내구성 및 신뢰도가 우수하다. 상기 전기 접점 소재는 2~4층의 구조를 가질 수 있으며, 필요에 따라 다른 이종소재를 더 삽입하여 구성될 수도 있다. More specifically, the electrical contact of the present invention may be composed of an alloy layer in which silver (Ag) and a first metal are mixed, an alloy bonding layer (bonding layer) of silver and copper, or a copper or copper alloy layer, Since the first metal oxide is uniformly distributed in the alloy layer, durability and reliability are excellent. The material of the electrical contact may have a structure of 2 to 4 layers, and may be formed by inserting other different materials as necessary.
본 발명의 전기 접점은 차단기, 개폐기, 릴레이, 스위치 등의 접점 재료로 사용될 수 있으며, 그 중에서도 개폐기에 유용하게 사용될 수 있다. 그 외 전기 접점 소재가 유용하게 적용될 수 있는 다른 기술분야에도 제한 없이 적용될 수 있다.
The electrical contact of the present invention can be used as a contact material for circuit breakers, switches, relays, switches, and the like, and can be usefully used for switches. And other technical fields in which other electrical contact materials can be usefully applied.
이하 본 발명을 실시예를 통해 구체적으로 설명하나, 하기 실시예는 본 발명의 한 형태를 예시하는 것일 뿐, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 의해 한정되는 것은 아니다.
Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples. However, the following Examples are intended to illustrate one embodiment of the present invention, but the scope of the present invention is not limited by the following Examples.
[실시예 1][Example 1]
은(Ag) 80.0wt%, 카드뮴(Cd) 18.8wt%, 주석(Sn) 1.0wt%, 니켈(Ni) 0.2wt%를 용해로에 투입하고 1200℃에서 용해한 후, 금형에 투입하여 원형의 제1 빌릿을 주조하였다. 주조된 제1 빌릿을 면삭처리하여 표면을 세정한 후 160kgf/mm2의 압력으로 가압하고, 이를 신선하여 2Φ의 와이어로 성형하였다. 순은(Pure Ag) 또한 동일한 방식으로 신선하여 2Φ의 와이어로 성형하였다.(Ag), 18.8wt% of cadmium (Cd), 1.0wt% of tin (Sn) and 0.2wt% of nickel (Ni) into a melting furnace and dissolving at 1200 ° C, Billets were cast. The casted first billet was subjected to a surface treatment to clean the surface, followed by pressing at a pressure of 160 kgf / mm 2 . Pure Ag was also drawn in the same manner and formed into 2Φ wire.
성형된 각각의 와이어를 2㎜ 길이로 절단하여 칩(Chip)으로 제조한 후, 은 합금 칩을 산소 분위기 하에 750℃에서 24시간 동안 산화시켜 은 합금 칩(Chip) 내에 제1금속산화물을 형성하였다. 이후 산화된 칩(Chip)을 원형의 금형에 투입한 후, 170kgf/cm2의 압력으로 가압하여 원형의 제2 빌렛을 주조하였다. 주조된 제2 빌렛을 대기열처리로에 투입하고, 600℃에서 8시간 동안 풀림 처리를 하였다. 풀림 처리 후 170kgf/cm2으로 냉간 압축하고, 다시 풀림처리한 후 600℃에서 170kgf/cm2으로 열간압축하여 제2 빌렛의 밀도를 99% 이상으로 조절하였다.Each formed wire was cut into a length of 2 mm to produce a chip, and then the silver alloy chip was oxidized at 750 ° C. for 24 hours in an oxygen atmosphere to form a first metal oxide in the silver alloy chip . Thereafter, the oxidized chip was put into a circular mold, and then pressed at a pressure of 170 kgf / cm 2 to cast a circular second billet. The casted second billet was put into a heat treatment furnace and annealed at 600 DEG C for 8 hours. After the annealing treatment, the resultant was cold-pressed at 170 kgf / cm 2 , annealed again, and then hot-compressed at 600 ° C at 170 kgf / cm 2 to adjust the density of the second billet to 99% or more.
밀도를 조절한 제2 빌렛을 와이어 절단을 통해 일부를 절단하고, 구리 빌렛을 크기에 맞춰 절단한 후 조립하여 제 3빌렛을 제조하였다. 제조된 상기 제 3 빌렛을 675℃에서 98 MPa로 4시간 동안 유지하였다. The second billet having the adjusted density was cut through a wire cut, a copper billet was cut to size, and then assembled to prepare a third billet. The prepared third billet was maintained at 675 DEG C at 98 MPa for 4 hours.
상기 제 3 빌렛을 700℃로 유도 가열한 후 190kgf/cm2으로 직접 압출하고, 1.2㎜ 두께로 압연하여 구리-은 합금판을 형성하였다. 이후 은합금/은 판에 은(Ag), 구리(Cu) 및 인(P)로 이루어진 은납판을 접합하여 전기 접점을 제조하였다.
The third billet was inductively heated to 700 캜, directly extruded at 190 kgf / cm 2 , and rolled to a thickness of 1.2 mm to form a copper-silver alloy plate. Thereafter, a silver / silver plate was bonded to a silver / silver plate made of silver (Ag), copper (Cu), and phosphorus (P) to prepare an electrical contact.
[비교예 1][Comparative Example 1]
은(Ag) 80.0wt%, 카드뮴(Cd) 18.8wt%, 주석(Sn) 1.0wt%, 니켈(Ni) 0.2wt%를 용해로에 투입하고 1200℃에서 용해한 후, 금형에 투입하여 원형의 제1 빌릿을 주조하였다. 주조된 제1 빌릿을 면삭처리하여 표면을 세정한 후 160kgf/mm2의 압력으로 가압하고, 이를 신선하여 2Φ의 와이어로 성형하였다. 순은(Pure Ag) 또한 동일한 방식으로 신선하여 2Φ의 와이어로 성형하였다.(Ag), 18.8wt% of cadmium (Cd), 1.0wt% of tin (Sn) and 0.2wt% of nickel (Ni) into a melting furnace and dissolving at 1200 ° C, Billets were cast. The casted first billet was subjected to a surface treatment to clean the surface, followed by pressing at a pressure of 160 kgf / mm 2 . Pure Ag was also drawn in the same manner and formed into 2Φ wire.
성형된 각각의 와이어를 2㎜ 길이로 절단하여 칩(Chip)으로 제조한 후, 은 합금 칩(Chip)을 산소 분위기 하에 750℃에서 24시간 동안 산화시켜 은 합금 칩(Chip) 내에 산화물을 형성하였다. 이후 산화된 칩(Chip) 및 순은 칩(Pure Ag Chip)을 원형의 금형에 투입한 후, 170kgf/cm2의 압력으로 가압하여 원형의 제2 빌렛을 주조하였다. 주조된 제2 빌렛을 대기열처리로에 투입하고, 600℃에서 8시간 동안 풀림 처리를 하였다. 풀림처리 후 170kgf/cm2으로 냉간 압축하고, 다시 풀림처리한 후 600℃에서 170kgf/cm2으로 열간압축하여 제2 빌렛의 밀도를 99% 이상으로 조절하였다.Each formed wire was cut into a length of 2 mm to produce a chip, and then a silver alloy chip was oxidized at 750 ° C for 24 hours in an oxygen atmosphere to form an oxide in a silver alloy chip . Thereafter, the oxidized chip and the pure Ag Chip were put into a circular mold, and then pressed at a pressure of 170 kgf / cm 2 to cast a circular second billet. The casted second billet was put into a heat treatment furnace and annealed at 600 DEG C for 8 hours. After the annealing treatment, the resultant was cold-pressed at 170 kgf / cm 2 , annealed again, and then hot-compressed at 600 ° C at 170 kgf / cm 2 to adjust the density of the second billet to 99% or more.
밀도를 조절한 제2 빌렛을 800℃로 가열한 후 190kgf/cm2으로 압출하고, 1.2㎜ 두께로 압연하여 은 합금판을 형성하였다. 은 합금판/은 판(제2금속판)에, 은(Ag), 구리(Cu) 및 인(P)로 이루어진 은납판을 접합하여 전기 접점을 제조하였다.
The second billet whose density was adjusted was heated to 800 DEG C, extruded at 190 kgf / cm < 2 > and rolled to a thickness of 1.2 mm to form a silver alloy plate. (Silver), copper (Cu), and phosphorus (P) were bonded to an alloy plate / silver plate (second metal plate).
[실험예 1][Experimental Example 1]
실시예 1과 비교예 1에서 각각 제조된 전기 접점의 FE-SEM으로 확인하였으며, 그 결과를 각각 도 1 및 도 2에 나타내었다.The FE-SEM of the electrical contacts prepared in Example 1 and Comparative Example 1 were confirmed, and the results are shown in Fig. 1 and Fig. 2, respectively.
실제로, 실시예 1에 의해 제조된 전기 접점은 건전한 접합계면이 형성되었으며, 이의 내부는 산화물이 수 ㎛ 수준으로 고르게 형성된 것을 확인할 수 있었다(도 1~2 참조). In fact, it was confirmed that the electrical junctions prepared in Example 1 had a sound bonding interface, and the inside thereof was uniformly formed with oxides in the order of several micrometers (see FIGS. 1 to 2).
아울러, 도 3은 실시예 1에서 제조된 전기접점을 나타낸 것이다.Fig. 3 shows the electrical contacts manufactured in Example 1. Fig.
Claims (10)
(b) 상기 제1빌릿을 압출하여 와이어를 성형하는 단계;
(c) 상기 와이어를 절단하여 칩(chip)을 성형하는 단계;
(d) 상기 칩을 산화시킨 후, 산화에 의해 제1금속산화물이 포함된 은 합금(Ag alloy) 칩을 이용하여 제2빌릿을 주조하는 단계;
(e) 상기 제2빌릿과 구리(Cu) 또는 구리 합금(alloy) 빌릿을 이용하여 절단 및 조립하여 제3빌릿을 형성하는 단계;
(f) 제3빌릿을 확산접합하는 단계; 및
(g) 제3빌릿을 압출 및 압연하여 구리-은 합금판을 형성하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 구리-은 합금계 전기 접점의 제조방법. (a) melting a contact material comprising silver (Ag) and a first metal to cast a first billet;
(b) extruding the first billet to form a wire;
(c) cutting the wire to form a chip;
(d) casting the second billet using a silver alloy chip containing the first metal oxide by oxidation after oxidizing the chip;
(e) cutting and assembling the second billet with a copper (Cu) or copper alloy billet to form a third billet;
(f) diffusion bonding the third billet; And
(g) extruding and rolling the third billet to form a copper-silver alloy sheet
Silver alloy based electrical contact.
상기 단계 (a)에서 제1금속은 카드뮴(Cd), 주석(Sn), 인듐(In) 및 니켈(Ni)로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 이상인 것을 특징으로 하는 구리-은 합금계 전기 접점의 제조방법. The method according to claim 1,
In the step (a), the first metal may be at least one selected from the group consisting of cadmium (Cd), tin (Sn), indium (In), and nickel (Ni) Gt;
상기 단계 (a)에서 제1금속의 함량은 당해 제1빌릿 100 중량%를 기준으로 20 중량% 이상인 것을 특징으로 하는 구리-은 합금계 전기 접점의 제조방법. The method according to claim 1,
Wherein the content of the first metal in step (a) is 20 wt% or more based on 100 wt% of the first billet.
상기 단계 (d)에서 산화는 산소 분위기 하에서 650 내지 800℃에서 3 내지 24시간 동안 실시하는 것을 특징으로 하는 구리-은 합금계 전기 접점의 제조방법. The method according to claim 1,
Wherein the oxidation in the step (d) is carried out at 650 to 800 ° C for 3 to 24 hours in an oxygen atmosphere.
상기 단계 (d)는 산화에 의해 제1금속산화물이 포함된 은 합금(Ag alloy) 칩을 금형에 투입한 후, 160 내지 180 kgf/cm2의 압력을 가해 제2빌릿을 주조하는 것을 특징으로 하는 구리-은 합금계 전기 접점의 제조방법. The method according to claim 1,
The step (d) is characterized in that a silver alloy chip containing a first metal oxide is injected into a metal by oxidation and then a second billet is cast by applying a pressure of 160 to 180 kgf / cm 2 Wherein the copper-silver alloy-based electrical contact is made of a copper alloy.
상기 단계 (d)는,
(d-1) 상기 제2 빌릿을 풀림처리(annealing) 하는 단계; 및
(d-2) 상기 풀림처리된 제2 빌릿을 냉간압축, 열간압축, 또는 이들 모두를 실시하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 구리-은 합금계 전기 접점의 제조방법.The method according to claim 1,
The step (d)
(d-1) annealing the second billet; And
(d-2) The method of manufacturing a copper-silver alloy-based electrical contact according to any one of the above (1) to (3), further comprising a step of cold-pressing the annealed second billet, hot compression, or both.
상기 단계 (f)는 600-730℃의 온도 및 40~130 MPa 압력 조건 하에서 1~10 시간 동안 유지함으로써, 은(Ag) 합금층과 구리층 계면 간의 확산을 통해 접합이 이루어지는 것을 특징으로 하는 구리-은 합금계 전기접점의 제조방법. The method according to claim 1,
Wherein the step (f) is carried out at a temperature of 600-730 ° C and a pressure of 40-130 MPa for 1 to 10 hours to effect bonding by diffusion between the silver (Ag) alloy layer and the copper layer interface. - Silver alloy electrical contact manufacturing method.
상기 제조방법은 (h)상기 구리-은 합금판과 제2금속판을 접합하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 구리-은 합금계 전기접점의 제조방법. The method according to claim 1,
(H) bonding the copper-silver alloy sheet and the second metal sheet to each other.
상기 단계 (h)에서 제2금속판은 은(Ag) 또는 은 합금인 것을 특징으로 하는 구리-은 합금계 전기 접점의 제조방법. 9. The method of claim 8,
Wherein the second metal plate in step (h) is silver (Ag) or a silver alloy.
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|---|---|---|---|---|
| KR20210157268A (en) * | 2020-06-19 | 2021-12-28 | 부산대학교 산학협력단 | Cu-Cr based electrical contact material, method of manufacturing the same, and electronic apparatus using Cu-Cr based electrical contact material |
| KR20230067934A (en) | 2021-11-10 | 2023-05-17 | 공주대학교 산학협력단 | Bonding material for diffusion bonding of dissimilar metal with hierarchical structure and diffusion bonding methode using the same |
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2014
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| KR20230067934A (en) | 2021-11-10 | 2023-05-17 | 공주대학교 산학협력단 | Bonding material for diffusion bonding of dissimilar metal with hierarchical structure and diffusion bonding methode using the same |
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