KR20150037609A - Method for manufacturing glass substrate, apparatus for manufacturing glass substrate, and molten glass processing device - Google Patents
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- 239000006060 molten glass Substances 0.000 title claims abstract description 444
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims abstract description 210
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 138
- 238000012545 processing Methods 0.000 title claims abstract description 103
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 49
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 45
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical group [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 382
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 188
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 claims abstract description 123
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 87
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 87
- 238000000465 moulding Methods 0.000 claims abstract description 53
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims abstract description 45
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims abstract description 45
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims abstract description 30
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 23
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 claims abstract description 22
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 claims description 144
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 65
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 claims description 38
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 35
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 35
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 claims description 35
- 239000005357 flat glass Substances 0.000 claims description 31
- 238000007670 refining Methods 0.000 claims description 31
- 239000012071 phase Substances 0.000 claims description 20
- 239000000156 glass melt Substances 0.000 claims description 10
- 238000010128 melt processing Methods 0.000 claims description 10
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 claims description 7
- 229910001260 Pt alloy Inorganic materials 0.000 description 92
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 75
- 230000008569 process Effects 0.000 description 25
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 24
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 24
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 22
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 16
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 13
- 239000003039 volatile agent Substances 0.000 description 12
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 11
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 10
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 10
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 8
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 8
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 8
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 8
- 229910000272 alkali metal oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000010348 incorporation Methods 0.000 description 7
- 238000000265 homogenisation Methods 0.000 description 6
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 6
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 5
- 238000005352 clarification Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 239000006025 fining agent Substances 0.000 description 5
- 238000007500 overflow downdraw method Methods 0.000 description 5
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 4
- 238000006722 reduction reaction Methods 0.000 description 4
- 229910018068 Li 2 O Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000010583 slow cooling Methods 0.000 description 3
- 229910052708 sodium Inorganic materials 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 239000003638 chemical reducing agent Substances 0.000 description 2
- 238000010924 continuous production Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006124 Pilkington process Methods 0.000 description 1
- 229910052774 Proactinium Inorganic materials 0.000 description 1
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002585 base Substances 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000012459 cleaning agent Substances 0.000 description 1
- 230000015271 coagulation Effects 0.000 description 1
- 238000005345 coagulation Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 239000006059 cover glass Substances 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000007872 degassing Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 1
- GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N neon atom Chemical compound [Ne] GKAOGPIIYCISHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229910052762 osmium Inorganic materials 0.000 description 1
- SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N osmium atom Chemical compound [Os] SYQBFIAQOQZEGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000007800 oxidant agent Substances 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- -1 platinum group metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010948 rhodium Substances 0.000 description 1
- MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N rhodium atom Chemical compound [Rh] MHOVAHRLVXNVSD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C03—GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
- C03B—MANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
- C03B5/00—Melting in furnaces; Furnaces so far as specially adapted for glass manufacture
- C03B5/16—Special features of the melting process; Auxiliary means specially adapted for glass-melting furnaces
- C03B5/167—Means for preventing damage to equipment, e.g. by molten glass, hot gases, batches
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- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P40/00—Technologies relating to the processing of minerals
- Y02P40/50—Glass production, e.g. reusing waste heat during processing or shaping
- Y02P40/57—Improving the yield, e-g- reduction of reject rates
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- Glass Compositions (AREA)
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Abstract
본 발명의 과제는 유리 기판의 제조 과정에서 사용하는 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 유리 처리 장치에 있어서, 백금족 금속으로 구성된 내벽으로부터 백금족 금속의 휘발을 억제하여, 기상 공간 내에서 휘발한 백금 금속의 응집물의 일부가 이물이 되어서 용융 유리에 혼입되는 것을 억제하는 것이다.
본 발명의 해결 수단은 용융 유리를 성형하여 유리 기판을 만들기 전에, 유리의 원료를 용해시켜 얻어지는 용융 유리의 액상과, 상기 용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치를 사용하여 상기 용융 유리를 처리하는 것이다. 이때, 상기 용융 유리 처리 장치의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 내벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비, 또는 용융 유리 장치에 있어서의 용융 유리의 액면 수준을 제어한다.Disclosure of the Invention [0008] It is an object of the present invention to provide a glass processing apparatus, which is used at least in part in manufacturing a glass substrate, and which is made of a material containing a platinum group metal, which suppresses volatilization of the platinum group metal from the inner wall made of a platinum group metal, It is possible to prevent a part of the platinum metal agglomerates from being mixed into the molten glass.
The solution means of the present invention is characterized by comprising a liquid phase of a molten glass obtained by melting a raw material of glass and a vapor phase space formed by the liquid surface and the inner wall of the molten glass before forming the glass substrate by molding the molten glass, Is to treat the molten glass using a molten glass processing apparatus in which at least a part of the inner wall is made of a material containing a platinum group metal. At this time, in order to reduce volatilization of the platinum group metal in the molten glass processing apparatus, the ratio of the area of the platinum group metal on the inner wall contacting the vapor space to the volume of the vapor space, or the ratio of the volume of the molten glass To control the level of the liquid.
Description
본 발명은 유리 원료를 용융시켜 생성한 용융 유리를 성형함으로써 유리 기판을 제조하는 유리 기판의 제조 방법, 유리 기판 제조 장치, 및 용융 유리를 처리하는 용융 유리 처리 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a method of manufacturing a glass substrate for producing a glass substrate by molding a molten glass produced by melting a glass raw material, a glass substrate manufacturing apparatus, and a molten glass processing apparatus for processing molten glass.
유리 기판은 일반적으로, 유리 원료로부터 용융 유리를 생성한 후, 청징 공정, 균질화 공정을 거쳐, 용융 유리를 유리 기판으로 성형함으로써 제조된다.A glass substrate is generally manufactured by forming a molten glass from a glass raw material, and then molding the molten glass into a glass substrate through a refining process and a homogenizing process.
그런데, 고온의 용융 유리로부터 품위가 높은 유리 기판을 양산하기 위해서는, 유리 기판의 결함 요인이 되는 이물 등이, 유리 기판을 제조하는 어느 장치로부터도 용융 유리에 혼입되지 않도록 고려하는 것이 요망된다. 이로 인해, 유리 기판의 제조 과정에 있어서 용융 유리에 접하는 부재의 내벽은 그 부재에 접하는 용융 유리의 온도, 요구되는 유리 기판의 품질 등에 따라, 적절한 재료에 의해 구성할 필요가 있다. 예를 들어, 용융 유리를 생성한 후 성형 공정에 공급할 때까지의 사이에 용융 유리는 고온 상태가 되기 때문에, 청징 공정을 행하는 청징 장치, 균질화 공정을 행하는 교반 장치, 및 용융 유리를 이송하는 유리 공급관은 내열성이 높은 백금족 금속을 사용하여 구성되어 있다. 그러나, 백금족 금속은 용융 유리의 고온에 따라 휘발되기 쉽다. 그리고 백금족 금속의 휘발물이 기상 공간을 둘러싸는 내벽에 응집하여 응집물을 만들고, 이 응집물의 일부가 이탈하여 용융 유리 중에 이물이 되어서 혼입되어, 유리 기판의 품질 저하를 초래할 우려가 있었다.In order to mass-produce a glass substrate having a high quality from molten glass at a high temperature, it is desired to consider that foreign matter or the like which is a defective factor of the glass substrate is not mixed into the molten glass from any apparatus for manufacturing the glass substrate. For this reason, the inner wall of the member in contact with the molten glass in the process of manufacturing the glass substrate needs to be made of a suitable material depending on the temperature of the molten glass in contact with the member, the quality of the required glass substrate, and the like. For example, since the molten glass is in a high temperature state until the molten glass is produced and supplied to the molding process, it is necessary to use a cleaning device for performing a cleaning process, a stirring device for performing a homogenization process, Is made of a platinum group metal having high heat resistance. However, the platinum group metal is liable to volatilize due to the high temperature of the molten glass. Volatiles of the platinum group metal coagulate on the inner wall surrounding the vapor phase to form an aggregate, and a part of the aggregate is separated and becomes a foreign matter in the molten glass, which may cause deterioration of the quality of the glass substrate.
이에 비해, 백금 이물의 혼입 우려가 적고, 코드 맥리나 이물 결점 등의 광학 결함이 적은 고품질 유리를 얻을 수 있는 유리 용융로가 알려져 있다(특허문헌 1).On the other hand, there is known a glass melting furnace capable of obtaining high-quality glass with less risk of incorporation of foreign matter of platinum and less optical defects such as cracks and foreign matter defects (Patent Document 1).
당해 유리 용융로에서는, 천장부를 설치하여 폐색시킨 조 본체의 내벽면의 하부가, 백금 또는 백금 합금으로 이루어지는 백금면에 의해 형성되어 있고, 해당 백금면은 그의 상단부가 용융 유리의 조 상부 분위기 중에 노출되지 않는 위치가 되도록 형성되어 있다.In the glass melting furnace, the lower portion of the inner wall surface of the bath main body closed with a ceiling portion is formed of a platinum surface made of platinum or a platinum alloy, and the upper end of the platinum surface is exposed Is formed.
상기 특허문헌 1과 같이, 용융 유리의 액면 상부의 기상 공간의 분위기와 백금족 금속의 벽면의 접촉 면적을 없애면, 백금족 금속의 휘발이 발생하지 않는다. 또한, 기상 공간의 분위기와 접촉하는 백금족 금속의 내벽 접촉 면적을 작게 함으로써, 백금족 금속의 휘발을 저감시킬 수 있다고 생각된다. 그러나, 기상 공간의 분위기와 접촉하는 백금족 금속의 내벽 접촉 면적을 작게 한 경우에도, 백금족 금속을 벽면으로부터 충분히 휘발을 저감시킬 수 없었다.As in Patent Document 1, when the contact area between the atmosphere of the vapor phase space above the liquid surface of the molten glass and the wall surface of the platinum group metal is removed, the volatilization of the platinum group metal does not occur. It is also believed that volatilization of the platinum group metal can be reduced by reducing the inner wall contact area of the platinum group metal in contact with the atmosphere of the vapor phase space. However, even when the inner wall contact area of the platinum group metal in contact with the atmosphere of the gas phase space is made small, the platinum group metal can not sufficiently reduce volatilization from the wall surface.
따라서, 본 발명은 유리 기판의 제조 과정에서 사용하는 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치에서 용융 유리를 처리할 때, 백금족 금속으로 구성된 내벽으로부터 백금족 금속의 휘발을 억제하여, 기상 공간 내에서 휘발한 백금 금속의 응집물의 일부가 이물이 되어서 용융 유리에 혼입되는 것을 억제할 수 있는 유리 기판의 제조 방법, 유리 기판 제조 장치, 및 용융 유리의 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a process for producing a glass substrate, which is capable of suppressing the volatilization of the platinum group metal from the inner wall constituted of the platinum group metal when the molten glass is processed in a molten glass processing apparatus composed of a material containing at least a platinum group metal, It is another object of the present invention to provide a method of manufacturing a glass substrate, an apparatus for manufacturing a glass substrate, and an apparatus for processing a molten glass, wherein a part of agglomerates of platinum metal volatilized in the vapor phase space can be prevented from being mixed into molten glass .
본 발명은 이하의 형태를 갖는다.The present invention has the following aspects.
(형태 1)(Form 1)
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 공정과,A melting step of melting a glass raw material to produce a molten glass;
상기 용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치에 있어서 상기 용융 유리를 처리하는 처리 공정을 갖고,A molten glass processing apparatus composed of a material having a liquid phase of the molten glass and at least a part of the inner wall surrounding the gas phase being made of a material containing a platinum group metal, And a processing step of,
상기 처리 공정에 있어서, 상기 용융 유리 처리 장치의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 내벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비를 제어하는 것을 특징으로 하는 유리 기판의 제조 방법.The ratio of the area of the platinum group metal on the inner wall contacting the vapor phase space to the volume of the vapor phase space is controlled so as to reduce the volatilization of the platinum group metal in the molten glass processing apparatus. Wherein the glass substrate is a glass substrate.
(형태 2)(Form 2)
상기 용융 유리의 액면 수준을 제어함으로써, 상기 비를 제어하는, 형태 1에 기재된 유리 기판의 제조 방법.And controlling the liquid level of the molten glass to control the ratio.
(형태 3)(Form 3)
미리 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치에 있어서의 상기 용융 유리의 액면 수준과의 상관 관계를 구하고, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준을 기준 액면 수준으로서 결정하고, 상기 처리 공정에서는, 상기 기준 액면 수준에 기초하여 상기 액면 수준을 제어하는, 형태 2에 기재된 유리 기판의 제조 방법.A correlation between the number of platinum defects in advance and the level of the liquid surface of the molten glass in the molten glass processing apparatus is determined in advance and the level of the liquid surface of the molten glass processing apparatus corresponding to the tolerance of the number of platinum defects is determined as the reference liquid level, And the liquid level is controlled based on the reference liquid level in the processing step.
(형태 4)(Mode 4)
유리 기판의 제조 방법이며,A method of manufacturing a glass substrate,
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 공정과,A melting step of melting a glass raw material to produce a molten glass;
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치에 있어서 상기 용융 유리를 처리하는 처리 공정과,1. A molten glass treatment apparatus comprising a vapor phase space formed by a liquid surface and an inner wall of a molten glass and a liquid phase of the molten glass and at least a part of an inner wall surrounding the vapor phase is made of a material containing a platinum group metal, A processing step of processing the substrate,
상기 처리 공정에서 처리된 용융 유리를 시트 유리로 성형하는 성형 공정을 갖고,And a molding step of molding the molten glass processed in the processing step into a sheet glass,
미리 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준과의 상관 관계를 구하고, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준을 기준 액면 수준으로서 결정하고, 상기 처리 공정에서는, 상기 기준 액면 수준에 기초하여 상기 액면 수준을 제어하는 것을 특징으로 하는 유리 기판의 제조 방법.A correlation between the number of platinum defects in advance and the level of the liquid level of the molten glass processing apparatus is determined in advance and the level of the liquid level of the molten glass processing apparatus corresponding to the allowable value of the number of platinum defects is determined as the reference level level, Wherein the level of the liquid level is controlled based on the reference liquid level.
(형태 5)(Mode 5)
상기 처리 공정에서는, 상기 기준 액면 수준을 포함하도록 결정된 목표 액면 수준 범위에 기초하여 액면 수준을 제어하는, 형태 3 또는 4에 기재된 유리 기판의 제조 방법.Wherein the liquid level is controlled based on a target liquid level range determined to include the reference liquid level in the processing step.
(형태 6)(Form 6)
상기 용융 유리 처리 장치에 공급되는 상기 용융 유리의 양 및 상기 성형 공정에서 성형되는 상기 시트 유리의 성형량 중 적어도 한쪽을 제어함으로써, 상기 액면 수준을 제어하는, 형태 3 내지 5 중 어느 하나에 기재된 유리 기판의 제조 방법.Wherein the level of the liquid level is controlled by controlling at least one of an amount of the molten glass supplied to the molten glass processing apparatus and a molding amount of the sheet glass to be molded in the molding step, / RTI >
(형태 7)(Form 7)
상기 기상 공간의 부피를 S[㎥]로 하고, 상기 기상 공간과 접하는 상기 백금족 금속의 면적을 L[㎡]로 했을 때, 비 S/L은 17[m] 이상인, 형태 1 내지 6 중 어느 하나에 기재된 유리 기판의 제조 방법. 이때, 상기 기상 공간 중의 공간 전체의 50% 이상을 용융 유리가 차지하고 있으면 좋다.Wherein the volume of the vapor space is S [m 3] and the area of the platinum group metal in contact with the vapor space is L [m 2], the ratio S / L is 17 [m] Wherein the glass substrate is a glass substrate. At this time, it is sufficient that the molten glass occupies 50% or more of the entire space in the vapor phase space.
(형태 8)(Form 8)
상기 비는The ratio
(1) 상기 기상 공간 중의 산소 농도,(1) the oxygen concentration in the vapor phase space,
(2) 상기 용융 유리 처리 장치의 상기 내벽의 최고 온도,(2) the maximum temperature of the inner wall of the molten glass processing apparatus,
(3) 상기 용융 유리로부터 상기 기상 공간에 방출되는 산소 방출량,(3) an amount of oxygen released from the molten glass to the vapor phase space,
(4) 상기 용해 공정에서의 상기 용융 유리의 최고 온도와, 상기 처리 공정에서의 상기 용융 유리의 최고 온도와의 온도차, 및(4) a temperature difference between the maximum temperature of the molten glass in the dissolution step and the maximum temperature of the molten glass in the processing step, and
(5) 상기 기상 공간에 있어서의 상기 백금족 금속의 증기압(5) the vapor pressure of the platinum group metal in the vapor phase space
중 적어도 하나에 기초하여 결정되는 값인, 형태 1 내지 7 중 어느 하나에 기재된 유리 기판의 제조 방법.Of the glass substrate is a value determined on the basis of at least one of the following formulas (1) to (7).
(형태 9)(Mode 9)
상기 기상 공간 중의 상기 산소 농도는 상기 용융 유리에 함유되는 산화주석의 함유량에 의해 제어되는, 형태 8에 기재된 유리 기판의 제조 방법.Wherein the oxygen concentration in the vapor phase is controlled by the content of tin oxide contained in the molten glass.
(형태 10)(Mode 10)
상기 기상 공간과 접하는 상기 내벽의 상기 백금족 금속 부분의 최고 온도와 최저 온도와의 온도차가 50℃ 이상인, 형태 1 내지 9 중 어느 하나에 기재된 유리 기판의 제조 방법.Wherein the temperature difference between the maximum temperature and the minimum temperature of the platinum group metal portion of the inner wall contacting the vapor space is 50 DEG C or more.
(형태 11)(Mode 11)
상기 용융 유리 처리 장치는 상기 용융 유리의 청징을 행하는 청징 장치인, 형태 1 내지 10 중 어느 하나에 기재된 유리 기판의 제조 방법.10. The method of manufacturing a glass substrate according to any one of modes 1 to 10, wherein the molten glass processing apparatus is a refining apparatus for refining the molten glass.
(형태 12)(Form 12)
상기 처리 공정은 상기 용융 유리의 청징 공정이고, 상기 용융 유리로부터 상기 기상 공간에 산소를 방출시키는, 형태 1 내지 11 중 어느 하나에 기재된 유리 기판의 제조 방법.The method of manufacturing a glass substrate according to any one of modes 1 to 11, wherein the processing is a fining process of the molten glass, and oxygen is released from the molten glass to the vapor phase space.
(형태 13)(Form 13)
상기 액상에 있어서 상기 용융 유리가 흐르고, 상기 내벽에는 상기 용융 유리의 흐름 방향에 따라 온도 분포가 형성되어 있는, 형태 1 내지 12 중 어느 하나에 기재된 유리 기판의 제조 방법.The method for producing a glass substrate according to any one of Forms 1 to 12, wherein the molten glass flows in the liquid phase, and a temperature distribution is formed in the inner wall along the flow direction of the molten glass.
(형태 14)(Form 14)
상기 유리 기판은 디스플레이용 유리 기판인, 형태 1 내지 13 중 어느 한 항에 기재된 유리 기판의 제조 방법.The method for producing a glass substrate according to any one of the above-mentioned 13 to 13, wherein the glass substrate is a glass substrate for display.
(형태 15)(Form 15)
유리 기판의 제조 방법이며,A method of manufacturing a glass substrate,
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 공정과,A melting step of melting a glass raw material to produce a molten glass;
상기 용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치에 있어서 상기 용융 유리를 처리하는 처리 공정을 갖고,A molten glass processing apparatus composed of a material having a liquid phase of the molten glass and at least a part of the inner wall surrounding the gas phase being made of a material containing a platinum group metal, And a processing step of,
상기 처리 공정에 있어서, 상기 용융 유리 처리 장치의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 내벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비를 조정하는 것을 특징으로 하는 유리 기판의 제조 방법.The ratio of the area of the platinum group metal on the inner wall contacting with the vapor phase space to the volume of the vapor phase space is adjusted so as to reduce the volatilization of the platinum group metal in the molten glass processing apparatus. Wherein the glass substrate is a glass substrate.
(형태 16)(Form 16)
유리 기판의 제조 방법이며,A method of manufacturing a glass substrate,
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 공정과,A melting step of melting a glass raw material to produce a molten glass;
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치에 있어서 상기 용융 유리를 처리하는 처리 공정과,1. A molten glass treatment apparatus comprising a vapor phase space formed by a liquid surface and an inner wall of a molten glass and a liquid phase of the molten glass and at least a part of an inner wall surrounding the vapor phase is made of a material containing a platinum group metal, A processing step of processing the substrate,
상기 처리 공정에서 처리된 용융 유리를 시트 유리로 성형하는 성형 공정을 갖고,And a molding step of molding the molten glass processed in the processing step into a sheet glass,
미리 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준과의 상관 관계를 구하고, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준을 기준 액면 수준으로서 결정하고, 상기 처리 공정에서는, 상기 기준 액면 수준에 기초하여 상기 액면 수준을 조정하는 것을 특징으로 하는 유리 기판의 제조 방법.A correlation between the number of platinum defects in advance and the level of the liquid level of the molten glass processing apparatus is determined in advance and the level of the liquid level of the molten glass processing apparatus corresponding to the allowable value of the number of platinum defects is determined as the reference level level, Wherein the level of the liquid level is adjusted based on the reference liquid level.
(형태 17)(Mode 17)
상기 기상 공간에 있어서의 산소 농도는 1% 이하인, 형태 1 내지 16 중 어느 하나에 기재된 유리 기판의 제조 방법.And the oxygen concentration in the vapor phase space is 1% or less.
(형태 18)(Form 18)
상기 유리 기판에 있어서의 산화주석의 함유량은 0.01 내지 0.3몰%인, 형태 1 내지 17 중 어느 하나에 기재된 유리 기판의 제조 방법.And the content of tin oxide in the glass substrate is 0.01 to 0.3 mol%.
(형태 19)(Form 19)
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치이며,1. A molten glass processing apparatus comprising a vapor phase space formed by a liquid surface and an inner wall of a molten glass and a liquid phase of molten glass and at least a part of an inner wall surrounding the vapor phase comprises a platinum group metal,
상기 기상 공간 내의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비를 제어하는 제어부를 구비한 것을 특징으로 하는 용융 유리 처리 장치.And a control section for controlling a ratio of an area of the platinum group metal in the wall contacting the vapor space to a volume of the vapor space so as to reduce the volatilization of the platinum group metal in the vapor space. Device.
(형태 20)(Form 20)
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치이며,1. A molten glass processing apparatus comprising a vapor phase space formed by a liquid surface and an inner wall of a molten glass and a liquid phase of molten glass and at least a part of an inner wall surrounding the vapor phase comprises a platinum group metal,
상기 기상 공간 내의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비를 조정하는 조정부를 구비한 것을 특징으로 하는 용융 유리 처리 장치.And an adjusting section for adjusting a ratio of an area of the platinum group metal of the wall in contact with the vapor space to a volume of the vapor space so as to reduce volatilization of the platinum group metal in the vapor space, Device.
(형태 21)(Form 21)
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치이며,1. A molten glass processing apparatus comprising a vapor phase space formed by a liquid surface and an inner wall of a molten glass and a liquid phase of molten glass and at least a part of an inner wall surrounding the vapor phase comprises a platinum group metal,
상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준을 미리 결정된 기준 액면 수준이 되도록 제어하는 제어부를 갖고,And a control unit for controlling the liquid level of the molten glass processing apparatus to be a predetermined reference liquid level,
상기 제어부는 상기 기준 액면 수준을, 미리 구한 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준과의 상관 관계에 기초하여, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준으로서 결정하는 것을 특징으로 하는 용융 유리 처리 장치.The control unit determines the reference liquid level as the liquid level of the glass melt processing apparatus corresponding to the allowable value of the number of platinum defects based on the correlation between the number of platinum defects obtained in advance and the liquid level of the glass melt processing apparatus Wherein the molten glass is a molten glass.
(형태 22)(Form 22)
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치이며,1. A molten glass processing apparatus comprising a vapor phase space formed by a liquid surface and an inner wall of a molten glass and a liquid phase of molten glass and at least a part of an inner wall surrounding the vapor phase comprises a platinum group metal,
상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준을 미리 결정된 기준 액면 수준이 되도록 조정하는 조정부를 갖고,And an adjusting unit that adjusts the liquid level of the molten glass processing apparatus to a predetermined reference liquid level,
상기 조정부는 상기 기준 액면 수준을, 미리 구한 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준과의 상관 관계에 기초하여, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준으로서 결정하는 것을 특징으로 하는 용융 유리 처리 장치.The adjusting section determines the reference liquid level as the liquid level of the molten glass processing apparatus corresponding to the allowable value of the number of platinum defects based on the correlation between the number of platinum defects obtained in advance and the level of the liquid level of the glass melt processing apparatus Wherein the molten glass is a molten glass.
(형태 23)(Form 23)
유리 기판 제조 장치이며,A glass substrate manufacturing apparatus comprising:
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 장치와,A melting apparatus for melting glass raw materials to produce molten glass,
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된, 상기 용융 유리를 처리하는 용융 유리 처리 장치와,A vapor phase space formed by the liquid surface and the inner wall of the molten glass; a molten glass treatment for treating the molten glass, wherein the molten glass has a liquid phase and at least a part of the inner wall surrounding the vapor phase is made of a material containing a platinum group metal [0001]
상기 용융 유리 처리 장치에서 처리된 용융 유리를 시트 유리로 성형하는 성형 장치와,A molding apparatus for molding the molten glass processed in the molten glass processing apparatus into a sheet glass,
상기 용융 유리 처리 장치의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 내벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비를 제어하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 제조 장치.And a control section for controlling the ratio of the area of the platinum group metal on the inner wall contacting the vapor space to the volume of the vapor space so as to reduce volatilization of the platinum group metal of the molten glass processing apparatus Substrate manufacturing apparatus.
(형태 24)(Form 24)
유리 기판 제조 장치이며,A glass substrate manufacturing apparatus comprising:
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 장치와,A melting apparatus for melting glass raw materials to produce molten glass,
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된, 상기 용융 유리를 처리하는 용융 유리 처리 장치와,A vapor phase space formed by the liquid surface and the inner wall of the molten glass; a molten glass treatment for treating the molten glass, wherein the molten glass has a liquid phase and at least a part of the inner wall surrounding the vapor phase is made of a material containing a platinum group metal [0001]
상기 용융 유리 처리 장치에서 처리된 용융 유리를 시트 유리로 성형하는 성형 장치와,A molding apparatus for molding the molten glass processed in the molten glass processing apparatus into a sheet glass,
상기 용융 유리 처리 장치의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 내벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비를 조정하는 조정부를 구비하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 제조 장치.And an adjusting section for adjusting a ratio of an area of the platinum group metal on the inner wall contacting the vapor phase space to a volume of the vapor phase space so as to reduce volatilization of the platinum group metal in the molten glass processing apparatus Substrate manufacturing apparatus.
(형태 25)(Form 25)
유리 기판 제조 장치이며,A glass substrate manufacturing apparatus comprising:
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 장치와,A melting apparatus for melting glass raw materials to produce molten glass,
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된, 상기 용융 유리를 처리하는 용융 유리 처리 장치와,A vapor phase space formed by the liquid surface and the inner wall of the molten glass; a molten glass treatment for treating the molten glass, wherein the molten glass has a liquid phase and at least a part of the inner wall surrounding the vapor phase is made of a material containing a platinum group metal [0001]
상기 용융 유리 처리 장치에서 처리된 용융 유리를 시트 유리로 성형하는 성형 장치와,A molding apparatus for molding the molten glass processed in the molten glass processing apparatus into a sheet glass,
상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준은 미리 결정된 기준 액면 수준이 되도록 제어하는 제어부를 구비하고,And a control unit for controlling the liquid level of the molten glass processing apparatus to be a predetermined reference liquid level,
상기 제어부는 상기 기준 액면 수준을, 미리 구한 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준과의 상관 관계에 기초하여, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준으로서 결정하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 제조 장치.The control unit determines the reference liquid level as the liquid level of the glass melt processing apparatus corresponding to the allowable value of the number of platinum defects based on the correlation between the number of platinum defects obtained in advance and the liquid level of the glass melt processing apparatus Wherein the glass substrate is a glass substrate.
(형태 26)(Form 26)
유리 기판 제조 장치이며,A glass substrate manufacturing apparatus comprising:
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 장치와,A melting apparatus for melting glass raw materials to produce molten glass,
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된, 상기 용융 유리를 처리하는 용융 유리 처리 장치와,A vapor phase space formed by the liquid surface and the inner wall of the molten glass; a molten glass treatment for treating the molten glass, wherein the molten glass has a liquid phase and at least a part of the inner wall surrounding the vapor phase is made of a material containing a platinum group metal [0001]
상기 용융 유리 처리 장치에서 처리된 용융 유리를 시트 유리로 성형하는 성형 장치와,A molding apparatus for molding the molten glass processed in the molten glass processing apparatus into a sheet glass,
상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준은 미리 결정된 기준 액면 수준이 되도록 조정하는 조정부를 구비하고,Wherein the molten glass processing apparatus is provided with an adjusting section for adjusting the liquid level of the molten glass processing apparatus to a predetermined reference liquid level,
상기 조정부는 상기 기준 액면 수준을, 미리 구한 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준과의 상관 관계에 기초하여, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준으로서 결정하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 제조 장치.The adjusting section determines the reference liquid level as the liquid level of the molten glass processing apparatus corresponding to the allowable value of the number of platinum defects based on the correlation between the number of platinum defects obtained in advance and the level of the liquid level of the glass melt processing apparatus Wherein the glass substrate is a glass substrate.
상술한 형태의 유리 기판 제조 방법, 유리 기판 제조 장치, 및 용융 유리 처리 장치에 의하면, 백금족 금속의 휘발을 억제할 수 있고, 기상 공간 내에서 휘발된 백금 금속의 응집물의 일부가 이물이 되어서 용융 유리에 혼입되는 것을 억제할 수 있다.According to the glass substrate manufacturing method, the glass substrate manufacturing apparatus, and the molten glass processing apparatus described above, volatilization of the platinum group metal can be suppressed, and a part of the platinum metal agglomerates volatilized in the vapor phase space becomes foreign matter, Can be suppressed.
도 1은 본 실시 형태의 유리 기판의 제조 방법의 공정의 일례를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 실시 형태에 있어서의 용해 공정 내지 절단 공정을 행하는 장치의 일례를 모식적으로 나타내는 도면이다.
도 3의 (a), (b)는 본 실시 형태의 청징 장치의 액면과 청징 장치의 기상 공간 내의 기류의 흐름을 설명하는 도면이다.
도 4의 (a), (b)는 청징 장치 내의 용융 유리의 액면 수준의 변동을 설명하는 도면이다.
도 5는 본 실시 형태에서 사용되는 선 및 목표 액면 수준을 설명하는 도면이다.
도 6은 본 실시 형태에서 사용하는 비 S/L와 결점 밀도의 관계를 나타내는 도면이다.BRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS FIG. 1 is a view showing an example of a process of a manufacturing method of a glass substrate of the present embodiment. FIG.
Fig. 2 is a diagram schematically showing an example of a device for performing a dissolving process or a cutting process in the present embodiment.
3 (a) and 3 (b) are views for explaining the flow of the airflow in the vapor phase space of the clarifying apparatus and the liquid level of the clarifying apparatus of the present embodiment.
Figs. 4 (a) and 4 (b) are views for explaining variations in the level of the molten glass in the clarifying apparatus. Fig.
Fig. 5 is a diagram for explaining the line and target level levels used in the present embodiment. Fig.
6 is a diagram showing the relationship between the ratio S / L and the defect density used in the present embodiment.
이하, 본 실시 형태의 유리 기판의 제조 방법, 유리 기판의 제조 장치, 및 용융 유리 처리 장치에 대하여 설명한다. 도 1은 본 실시 형태의 유리 기판 제조 방법 공정의 일례를 나타내는 도면이다.Hereinafter, a method of manufacturing a glass substrate, a manufacturing apparatus of a glass substrate, and a molten glass processing apparatus according to the present embodiment will be described. Fig. 1 is a view showing an example of the process steps of the glass substrate manufacturing method according to the present embodiment.
이후에서 설명하는 백금 또는 백금 합금 등은 백금족 금속이고, 백금, 루테늄, 로듐, 팔라듐, 오스뮴, 이리듐 및 이들 금속의 합금을 포함한다.Platinum or platinum alloys described later are platinum group metals and include platinum, ruthenium, rhodium, palladium, osmium, iridium, and alloys of these metals.
또한, 응집된 백금 또는 백금 합금의 이물(백금 결함)은, 한 방향으로 가늘고 긴 선상물(線狀物)이다. 백금 결함의 최대 길이란, 백금족 금속의 이물(응집물)을 촬영했을 때의 이물의 상(像)에 외접하는 외접 직사각형의 최장이 되는 긴 변의 길이를 말한다. 백금 결함의 최소 길이란, 백금족 금속의 이물(응집물)을 촬영했을 때의 이물의 상에 외접하는 외접 직사각형의 최단이 되는 짧은 변의 길이를 말한다. 백금 결함이란, 최대 길이의 최소 길이에 대한 비인 종횡비가 100을 초과하는 백금족 금속의 이물을 가리킨다. 예를 들어, 백금족 금속의 이물(응집물)의 최대 길이가 50㎛ 내지 300㎛, 최소 길이가 0.5㎛ 내지 2㎛이다.Further, the foreign substance (platinum defect) of the plated or platinum alloy which is agglomerated is a linear substance which is elongated in one direction. The maximum length of the platinum defect refers to the length of the longest side of the circumscribed rectangle circumscribing the image of the foreign object when the foreign substance (aggregate) of the platinum group metal is imaged. The minimum length of the platinum defect refers to the length of the shortest side of the circumscribed rectangle circumscribing the foreign object on the image of the foreign substance (aggregate) of the platinum group metal. The platinum defect refers to a foreign substance of a platinum group metal having an aspect ratio of 100 or more that is the ratio of the maximum length to the minimum length. For example, the maximum length of the foreign substance (agglomerate) of the platinum group metal is 50 탆 to 300 탆, and the minimum length is 0.5 탆 to 2 탆.
본 명세서에 있어서의 제어는 조정을 포함한다. 조정은, 오퍼레이터의 입력 조작에 의해 장치를 통하여 대상물의 온도, 유량, 농도, 압력 등을 변경하는 조정 및 오퍼레이터에 의한 매뉴얼 조정을 적어도 포함한다.The control in this specification includes adjustment. The adjustment includes at least an adjustment for changing the temperature, a flow rate, a concentration, a pressure, and the like of the object through the apparatus by an operator's input operation and a manual adjustment by the operator.
유리 기판의 제조 방법은 용해 공정(ST1)과, 청징 공정(ST2)과, 균질화 공정(ST3)과, 성형 공정(ST4)과, 서냉 공정(ST5)과, 절단 공정(ST6)을 주로 갖는다.The glass substrate manufacturing method mainly has a melting step (ST1), a refining step (ST2), a homogenizing step (ST3), a molding step (ST4), a slow cooling step (ST5) and a cutting step (ST6).
용해 공정(ST1)은 용해조에서 행해진다. 용해 공정에서는, 용해조에 축적된 용융 유리의 액면에 유리 원료를 투입함으로써 용융 유리를 만든다. 또한, 유리 원료에는 청징제가 첨가되는 것이 바람직하다. 청징제에 대해서는, 환경 부하 저감의 관점에서, 산화주석이 적절하게 사용된다.The dissolving step (ST1) is carried out in the dissolving tank. In the melting step, molten glass is produced by injecting a glass raw material into the melt surface of the molten glass accumulated in the melting tank. It is preferable that the glass raw material is added with a refining agent. As for the fining agent, tin oxide is suitably used from the viewpoint of environmental load reduction.
청징 공정(ST2)은 청징 장치의, 백금 또는 백금 합금 등으로 구성되는 청징 관의 내부에서 행해진다. 청징 공정에서는, 청징 장치의 관내의 용융 유리가 승온된다. 이 과정에서, 청징제는 환원 반응에 의해 산소를 방출하고, 후에 환원제로서 작용하는 물질이 된다. 용융 유리 중에 포함되는 O2, CO2 또는 SO2를 포함한 기포는, 청징제의 환원 반응에 의해 발생한 O2와 합체하여 부피가 커지고, 용융 유리의 액면으로 부상하여 파포되어 소멸된다. 기포에 포함된 가스는 청징 장치에 설치된 기상 공간을 통하여 외기로 방출된다.The cleaning step ST2 is performed inside a cleaning tube of a cleaning device composed of platinum or a platinum alloy or the like. In the refining step, the molten glass in the tube of the refining apparatus is heated. In this process, the refining agent releases oxygen by a reduction reaction, and later becomes a substance acting as a reducing agent. The bubbles containing O 2 , CO 2 or SO 2 contained in the molten glass are combined with O 2 generated by the reduction reaction of the fining agent, become bulky, float on the surface of the molten glass, The gas contained in the bubbles is discharged to the outside air through a vapor space provided in the purifying device.
그 후, 청징 공정에서는, 용융 유리의 온도를 저하시킨다. 이 과정에서, 청징제의 환원 반응에 의해 얻어진 환원제가 산화 반응을 한다. 이에 의해, 용융 유리에 잔존하는 기포 중의 O2 등의 가스 성분이 용융 유리 중에 용해됨으로써, 기포가 소멸한다.Thereafter, in the refining step, the temperature of the molten glass is lowered. In this process, the reducing agent obtained by the reduction reaction of the fining agent performs the oxidation reaction. As a result, gas components such as O 2 in the bubbles remaining in the molten glass are dissolved in the molten glass, so that the bubbles disappear.
균질화 공정(ST3)에서는, 청징 장치로부터 연장하는 배관을 통하여 공급된 교반 장치 내의 용융 유리를, 교반기를 사용하여 교반함으로써, 용융 유리의 균질화를 행한다. 균질화 공정(ST3)은 청징 공정 전에 행해질 수도 있다.In the homogenization step (ST3), the molten glass in the stirring apparatus supplied through the pipe extending from the refining apparatus is agitated using a stirrer to homogenize the molten glass. The homogenization step (ST3) may be performed before the fining step.
성형 장치에서는, 성형 공정(ST4) 및 서냉 공정(ST5)이 행해진다.In the molding apparatus, the molding step (ST4) and the slow cooling step (ST5) are performed.
성형 공정(ST4)에서는, 용융 유리를 시트 유리로 성형하고, 시트 유리의 흐름을 만든다. 성형은 오버플로우 다운드로우법 또는 플로트법을 사용할 수 있다. 후술하는 본 실시 형태에서는, 오버플로우 다운드로우법이 사용되는 예를 들어서 설명한다.In the molding step (ST4), the molten glass is formed into a sheet glass, and a flow of the sheet glass is made. For the molding, an overflow down-draw method or a float method can be used. In the present embodiment to be described later, an example in which an overflow down-draw method is used will be described.
서냉 공정(ST5)에서는, 성형되어 흐르는 시트 유리가 원하는 두께가 되고, 내부 변형이 발생하지 않도록, 또한 휨이 발생하지 않도록 냉각된다.In the slow cooling step (ST5), the formed sheet glass is cooled to a desired thickness so that internal deformation does not occur and no warping occurs.
절단 공정(ST6)에서는, 절단 장치에 있어서, 성형 장치로부터 공급된 시트 유리를 소정의 길이로 절단함으로써, 판상의 유리판을 얻는다. 절단된 유리판은 추가로 소정의 크기로 절단되어, 목표 크기의 유리 기판이 만들어진다.In the cutting step (ST6), in the cutting apparatus, the sheet glass supplied from the molding apparatus is cut to a predetermined length to obtain a plate-like glass plate. The cut glass plate is further cut to a predetermined size to produce a glass substrate having a target size.
본 실시 형태의 유리 기판 제조 방법에서는, 청징 공정 내지 균질화 공정에 사용하는 장치에 있어서 이하의 방법이 실시된다.In the glass substrate manufacturing method of the present embodiment, the following methods are applied to the apparatus used for the clarifying step or the homogenizing step.
즉, 유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 공정 후, 용융 유리를 시트 유리로 성형하기 전에, 용융 유리를 처리하기 위한 용융 유리 처리 장치를 통과시킨다. 이 처리 장치는, 백금 또는 백금 합금 등을 포함하는 내벽을 갖는 금속제의 관 또는 조를 포함한다. 이 관 또는 조는 용융 유리의 액상과, 용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간을 갖고, 기상 공간을 둘러싸는 내벽이 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성되어 있다. 이 용융 유리 처리 장치에서는, 용융 유리 처리 장치 내의 기상 공간과 접하는 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 기상 공간과 접하는 용융 유리 처리 장치의 내벽의 백금족 금속의 면적과 기상 공간의 부피와의 비, 또는 용융 유리 처리 장치 내에 있어서의 용융 유리의 액면 수준이 제어(조정)되어 있다. 상기 비 또는 상기 액면 수준을 적절하게 제어(조정)함으로써, 용융 유리 처리 장치의 내벽으로부터 백금족 금속의 휘발을 억제할 수 있다. 이 점은, 후술한다. 이러한 용융 유리의 처리 장치는, 용해 공정과 성형 공정 사이의 공정에서 사용하는 장치에 적용된다. 청징 공정과 균질화 공정 사이의 공정에서 사용하는 장치에 적용된다. 예를 들어, 청징 공정을 행하는 청징 장치 및 균질화 공정을 행하는 교반 장치에 적용된다. 이후에서는, 대표하여 청징 장치에 적용한 형태로 설명한다.That is, the molten glass is passed through a molten glass processing apparatus for processing the molten glass, before the molten glass is formed into the sheet glass, after the dissolving step of dissolving the glass raw material to produce the molten glass. The treatment apparatus includes a metal tube or bath having an inner wall containing platinum or a platinum alloy or the like. The tube or bath has a liquid phase of the molten glass, a vapor phase space formed by the liquid surface and the inner wall of the molten glass, and the inner wall surrounding the vapor phase space is made of a material containing a platinum group metal. In this molten glass treatment apparatus, the ratio of the area of the platinum group metal on the inner wall of the molten glass treatment apparatus in contact with the vapor phase space to the volume of the vapor phase space, or the ratio of the volume of the vapor phase space in contact with the vapor phase space, The level of the molten glass in the molten glass processing apparatus is controlled (adjusted). By appropriately controlling (adjusting) the ratio or the level of the liquid level, the volatilization of the platinum group metal can be suppressed from the inner wall of the molten glass processing apparatus. This point will be described later. Such a processing apparatus for molten glass is applied to a device used in a process between a dissolving process and a forming process. It is applied to the apparatus used in the process between the fining process and the homogenization process. For example, the present invention is applied to a refining apparatus that performs a refining process and an agitating apparatus that performs a homogenization process. Hereinafter, this embodiment will be described in a form applied to a clarifying apparatus as a representative.
도 2는, 본 실시 형태에 있어서의 용해 공정(ST1) 내지 절단 공정(ST6)을 행하는 유리 기판 제조 장치의 일례를 모식적으로 나타내는 도면이다. 당해 장치는, 도 2에 나타내는 바와 같이, 주로 용융 유리 생성 장치(100)와, 성형 장치(200)와, 절단 장치(300)를 갖는다. 용융 유리 생성 장치(100)는 용해 장치(101)와, 청징 장치(102)와, 교반 장치(103)와, 유리 공급관(104, 105, 106)을 갖는다.Fig. 2 is a diagram schematically showing an example of a glass substrate producing apparatus for performing the dissolving step (ST1) to cutting step (ST6) in the present embodiment. As shown in Fig. 2, this apparatus mainly has a molten
도 2에 나타내는 예의 용해 장치(101)는, 유리 원료를 용해시켜 용융 유리를 만든다. 청징 장치(102)는, 백금 또는 백금 합금 등을 포함하는 청징관(102a)(도 3 참조)을 포함한다. 청징관(102a) 중에 있어서, 용융 유리(MG)가 액면을 갖도록 기상 공간이 형성된 상태에서 용융 유리(MG)를 통과시키는 사이, 청징 장치(102)에 설치된 전극판 간에 전류를 흘려서 청징관(102a)을 통전 가열하여 용융 유리(MG)를 기상 공간으로 기포를 방출시키는 탈포 처리를 적어도 행한다. 본 실시 형태에서는, 용융 유리의 탈포를 위하여 청징관(102a)을 통전 가열하는 방식을 사용하지만, 청징관(102a)의 가열은, 통전 가열로 한정되지 않는다. 예를 들어, 관의 주위에 히터 등의 열원을 설치하여, 청징관(102a)을 열 전도 또는 열 방사에 의해 간접적으로 가열하는 방식을 사용할 수도 있다.The
교반 장치(103)는, 교반기(103a)에 의해 용융 유리(MG)를 교반하여 균질화한다.The stirring
성형 장치(200)는 성형체(210)를 포함하고, 청징 장치(102), 교반 장치(103)로 처리된 용융 유리(MG)를, 성형체(210)를 사용한 오버플로우 다운드로우법에 의해 성형하여 시트 유리(SG)로 한다. 또한, 성형 장치(200)에 있어서, 판 두께 편차, 변형 및 휨이 시트 유리(SG)에 발생하지 않도록, 시트 유리(SG)가 서냉된다.The
절단 장치(300)는, 서냉한 시트 유리(SG)를 절단하여 유리 기판으로 한다.The
(청징 공정 및 청징 장치)(Clarification process and clarification device)
도 3의 (a), (b)는 본 실시 형태의 청징 장치(102)의 액면과 청징 장치(102) 내의 기상 공간 내의 기류의 흐름을 설명하는 도면이다. 도 3의 (a)는 기상 공간 내에 발생하는 기류(W1)가 빠른 경우를, 도 3의 (b)는 기상 공간 내에 발생하는 기류(W2)의 속도가 느린 경우를 나타내고 있다.3 (a) and 3 (b) are views for explaining the flow of the airflow in the vapor phase space in the
청징 공정은 탈포 처리와 흡수 처리를 포함한다. 이하의 설명에서는, 청징제로서 산화주석을 사용한 예로 설명한다. 산화주석은, 종래 보다 일반적으로 사용되고 있었던 아비산에 비하여 청징 기능은 낮지만, 환경 부하가 낮은 점에서 청징제로서 적절하게 사용할 수 있다. 그러나, 산화주석은 청징 기능이 아비산에 비하여 낮으므로, 산화주석을 사용한 경우, 용융 유리(MG)의 청징 공정시 용융 유리(MG)의 온도를 종래보다 높게 해야 한다. 이 경우, 예를 들어 청징 공정에서의 용융 유리의 온도 최고 온도는, 예를 들어 1630℃ 내지 1720℃이고, 바람직하게는 1670℃ 내지 1710℃이다.The refining process includes defoaming treatment and absorption treatment. In the following description, tin oxide is used as a fining agent. Although tin oxide has a lower refining ability than that of abiic acid generally used in the past, it can be suitably used as a refining agent in view of low environmental load. However, tin oxide has a lower refining function than that of avic acid, and therefore, when tin oxide is used, the temperature of the molten glass (MG) in the refining process of the molten glass (MG) must be higher than the conventional one. In this case, for example, the maximum temperature of the molten glass in the refining step is, for example, 1630 캜 to 1720 캜, preferably 1670 캜 to 1710 캜.
용해 장치(101)에서 용해된 용융 유리(MG)는, 유리 공급관(104)(도 2 참조)에 의해, 청징 장치(102)에 도입된다.The molten glass MG dissolved in the
청징 장치(102)는 도 3의 (a), (b)에 나타내는 바와 같이, 백금 또는 백금 합금 등을 포함하는 장척상의 청징관(102a)을 포함하고, 청징관(102a)의 정상부에 설치된 통기관(102b)을 구비한다.3 (a) and 3 (b), the
청징관(102a)은, 용해조(101)로부터 연장되는 유리 공급관(104)이 청징관(102a)의 한쪽 단의 벽면에 접속되고, 청징관(102a)의 다른 쪽 단의 벽면에서 유리 공급관(105)에 접속되어 있다. 따라서, 청징관(102a)의 한쪽의 벽면으로부터 대략 수평 방향으로 유입된 용융 유리(MG)는 다른 쪽의 벽면을 향하여 흐를 때에 청징되고, 다른 쪽의 벽면으로부터 대략 수평 방향으로 유출된다. 따라서, 청징관(102a)은 용해 장치(101)의 용융 유리의 액면 수준에 대하여 높은 액면 수준에 위치하기 때문에, 청징관에 대하여 수직 방향으로 연장되어 청징관에 접속된 수직 유리 공급관 및 수직 유리 배출관을 사용하는 감압 탈포 장치와 상이하다.The
청징관(102a) 내의 기상 공간의 압력은, 탈포에 의한 가스의 방출 등에 의해 대기압과 동등하거나 대기압에 비하여 약간 높다. 후술하는 바와 같이, 통기관(107)으로부터 배기 펌프에 접속시켜, 대기압보다 기압을 낮게 하기도 하는데, 이 경우에도 대기압과 기상 공간 내의 기압의 차는 0Pa보다 크고 10Pa 미만이다.The pressure of the vapor phase space in the
구체적으로는, 청징 장치(102)의 청징관(102a)은, 용융 유리(MG)의 액상과 이 용융 유리(MG)의 액면과 청징 장치(102a)의 내벽으로 형성되는 기상 공간을 갖는다. 기상 공간을 둘러싸는 청징 장치(102)의 내벽은 백금 또는 백금 합금 등의 재료로 구성되어 있다. 청징관(102a)의 기상 공간에서는, 용융 유리(MG)로부터 방출된 가스나 청징관(102a)의 내벽으로부터 휘발한 백금 또는 백금 합금 등의 가스가 존재하기 때문에, 통기관(107)을 통하여 대기와 연통되고 있다고 하더라도, 기상 공간 내의 압력은 대기압보다 높아져 있다. 이로 인해, 기상 공간으로부터 통기관(107)을 통하여 대기로 흐르는 기류(W1, W2)가 형성된다.Specifically, the
이러한 청징관(102a)에서는, 기상 공간 내의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 저감시키도록, 기상 공간과 접하는 청징관(102a)의 내벽의 백금족 금속의 면적 L[㎡]과 기상 공간의 부피 S[㎥]와의 비가 제어 또는 조정된다. 또는, 기상 공간 내의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 저감시키도록, 용융 유리의 액면 수준이 제어 또는 조정된다.In this
상술한 바와 같이, 기상 공간 내에서는 통기관(107)을 향하는 기류(W1, W2)가 흐르고 있다. 도 3의 (a)에 나타내는 바와 같이, 유속이 빠른 기류(W1)의 경우, 기상 공간 내에 포함되는 백금 또는 백금 합금 등의 휘발물도 빨리 배출된다. 이로 인해, 기상 공간 내의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발물의 농도는 낮으므로, 백금 또는 백금 합금 등의 분압은 포화 증기압을 하회하고, 청징관(102a)의 기상 공간과 접하는 내벽의 부분으로부터 백금 또는 백금 합금 등의 휘발이 계속된다. 반대로, 도 3의 (b)에 나타내는 바와 같이, 유속이 늦은 기류(W2)의 경우, 기상 공간 내에 포함되는 백금 또는 백금 합금 등의 휘발물의 배출은 늦다. 이로 인해, 기상 공간 내의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발물의 증기압은 포화 증기압에 도달하기 쉽고, 청징관(102a)의 기상 공간과 접하는 내벽의 부분으로부터 백금 또는 백금 합금 등의 휘발은 억제된다.As described above, the air flows W1 and W2 toward the
따라서, 기상 공간으로의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하는 데에는 기류의 유속을 낮추면 좋다. 기류의 유속을 낮게 하기 위해서는, 기상 공간의 부피를 크게 하고, 기상 공간과 대기 사이의 기압 차를 작게 하면 좋다. 또한, 청징관(102a) 내의 기상 공간의 부피를 크게 하면, 용융 유리(MG)의 액면의 수준을 내려 용융 유리(MG)의 청징관(102a)의 단위 시간에 흐르는 양을 적게 하게 되므로, 용융 유리(MG)로부터 탈포에 의해 방출되는 가스의 양이 적어진다. 이 결과, 기상 공간과 대기의 압력차는 작아져, 기류의 유속은 낮아진다.Therefore, in order to suppress the volatilization of platinum or platinum alloy into the vapor phase space, the flow velocity of the airflow may be lowered. In order to reduce the flow rate of the airflow, it is preferable to increase the volume of the vapor phase space and reduce the air pressure difference between the vapor phase space and the atmosphere. When the volume of the vapor phase space in the
한편, 기상 공간과 접하는 내벽의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발의 절대량을 줄이기 위해서는, 기상 공간과 접하는 백금 또는 백금 합금 등으로 구성되는 내벽의 면적을 작게 하면 좋다.On the other hand, in order to reduce the absolute amount of volatilization of platinum or platinum alloy on the inner wall in contact with the vapor space, the area of the inner wall made of platinum or platinum alloy in contact with the vapor space may be reduced.
따라서, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 위해서는, 상술한 기상 공간의 부피를 크게 하고, 기상 공간과 접하는 백금 또는 백금 합금 등으로 구성되는 내벽의 면적을 작게 하는 것이 바람직하다.Therefore, in order to suppress the volatilization of platinum or platinum alloy or the like, it is preferable to increase the volume of the above-mentioned vapor phase space and reduce the area of the inner wall constituted of platinum or platinum alloy and the like in contact with the vapor phase space.
또한, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하는 데에는, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제시키도록 하는 액면 수준이 되도록, 용융 유리(MG)의 액면 수준을 제어 또는 조정하는 것도 바람직하다.In order to suppress the volatilization of platinum or platinum alloy, it is also preferable to control or adjust the liquid level of the molten glass (MG) such that the level of the liquid surface is controlled so as to suppress the volatilization of platinum or platinum alloy.
이하, 기상 공간의 부피 및 내벽 면적의 조정과, 액면 수준의 조정에 대하여 설명한다.Hereinafter, the adjustment of the volume and the inner wall area of the vapor phase space and the adjustment of the level of the liquid level will be described.
(기상 공간의 부피 및 내벽 면적의 제어, 조정)(Control and adjustment of the volume and inner wall area of the meteorological space)
이상의 관점에서, 본 실시 형태에서는, 기상 공간 내의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 저감시키도록, 기상 공간과 접하는 청징관(102a)의 내벽의 백금족 금속의 면적 L[㎡]과 기상 공간의 부피 S[㎥]와의 비 S/L이 제어 또는 조정된다. 이에 의해, 백금족 금속으로 구성된 내벽으로부터 백금족 금속의 휘발을 억제하여, 기상 공간 내에서 휘발된 백금 금속의 응집물의 일부가 이물(백금 결함)이 되어서 용융 유리(MG)에 혼입되는 것을 억제할 수 있다. 이하, 제어를 중심으로 설명하지만, 조정도 제어와 동일하게 적용된다.In view of the above, in the present embodiment, in order to reduce volatilization of platinum or platinum alloy in the vapor phase space, the area L [m2] of the platinum group metal on the inner wall of the
비 S/L의 제어(조정)에 대해서는, 유리 기판을 연속 생산하고 있는 경우, 청징관(102a)의 용융 유리(MG)의 액면의 수준을 제어(조정)하는 것이 바람직하다. 예를 들어, 성형 장치(200)에서는, 용융 유리(MG)로부터 성형된 시트 유리를 도시되지 않은 반송 롤러에서 인장시키면서 서냉하므로, 청징관(102a) 내의 용융 유리(MG)의 양을 제어함으로써 청징관(102a) 내의 용융 유리(MG)의 액면의 수준을 제어(조정)할 수 있다. 청징관(102a) 내의 용융 유리(MG)의 양을 제어하는 방법으로서는, 예를 들어 용해 장치(101)에서 용융 유리(MG)를 만드는 유리 원료의 투입량을 조정하여 청징관(102a) 내로의 용융 유리의 도입량을 조정하는 것, 또는 용해 장치(101)로부터 청징관(102a)으로 용융 유리(MG)가 이동할 때에 용융 유리(MG)의 온도를 온도 조정 장치를 사용하여 조정하여 점도를 바꿈으로써 용융 유리(MG)의 이동 속도를 변화시켜서 청징관(102a) 내로의 용융 유리의 도입량을 조정하는 것, 또는 용해 장치(100)와 청징관(102a)과의 사이에 용융 유리(MG)의 유량을 줄이는 유량 제어부를 설치하여 청징관(102a) 내로의 용융 유리의 도입량을 조정하는 것, 성형 장치(200)에 의한 처리량을 조정함으로써 청징관(102a)으로부터 유출되는 용융 유리의 양을 조정하는 것 등이 포함된다. 이와 같이, 유리 원료의 투입량을 변경하는 스크루 피더(101d)나, 온도 조정 장치나, 유량 제어부, 나아가 성형 장치(200)의 처리량을 조정하는 처리량 조정 지시 장치 등이 비 S/L를 제어(조정)하는 제어부(조정부)가 될 수 있다.Regarding the control (adjustment) of the ratio S / L, it is preferable to control (adjust) the level of the liquid level of the molten glass MG of the
용융 유리(MG)의 청징관(102a) 내의 액면 수준을 제어(조정)하는 경우, 액면의 수준을 높게 하면, 부피 S와 면적 L은 동시에 작아진다. 이에 의해, 비 S/L에 바람직한 범위가 설정된다.In the case of controlling (adjusting) the level of the liquid level in the
비 S/L을 17[m] 이상으로 하는 것이 기상 공간 내의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 저감시키는 점에서 바람직하고, 25[m] 이상으로 하는 것이 보다 바람직하다. 그러나, 비 S/L을 과도하게 크게 하면, 청징관(102a)을 흐르는 용융 유리의 양은 적어지므로, 유리 기판의 생산 효율의 점에서 바람직하지 않다. 또한, 청징관(102a) 내의 액면 수준이 유리 공급관(105)의 최상부보다 내려가면, 유리 공급관(105)으로부터 청징관(102a)을 향하여 기류가 발생하여, 청징관(102a) 내의 기류 유속이 높아진다. 그 때문에, 액위(位) 레벨의 하한은 유리 공급관(105)의 최상부보다 높은 것이 바람직하다. 이상으로부터, 비 S/L은 17 내지 65[m]인 것이 바람직하다. 즉, 비 S/L은 청징관(102a)의 경우 17 내지 65[m]의 범위로 설정되는 것이 바람직하고, 25 내지 65[m]인 것이 보다 바람직하다. 이러한 비 S/L의 수치 범위는 단면이 원 형상 또는 타원 형상인 청징관에 있어서 실현된다.It is preferable that the ratio S / L is set to 17 [m] or more from the viewpoint of reducing volatilization of platinum or platinum alloy in the gas phase space, and more preferably 25 [m] or more. However, if the ratio S / L is excessively large, the amount of molten glass flowing through the
또한, 기류의 유속의 바람직한 범위는 5m/분 이하인 것이 바람직하고, 1m/분 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.5m/분 이하인 것이 보다 한층 바람직하다.The flow velocity of the airflow is preferably in the range of 5 m / min or less, more preferably 1 m / min or less, still more preferably 0.5 m / min or less.
또한, 청징관(102a) 내의 용융 유리(MG)의 액면의 수준은, 용해 장치(100)의 유리 원료의 투입시의 충격이 전달되거나, 또는 교반 장치(103)의 교반기(103a)의 회전 진동이 전달됨으로써, 변동하는 경우가 있다. 도 4의 (a), (b)는 청징관(102a) 내의 용융 유리의 액면의 수준 변동을 설명하는 도면이다. 청징관(102a) 내에는, 용융 유리(MG)가 청징관(102a)의 내부의 공간 전체에 50% 이상을 차지하는 것을 전제로 한다. 도 4의 (a)에 나타내는 바와 같이, 단면이 원관 형상인 청징관(102a)의 내부의 공간 전체에 70% 정도를 점유하여 용융 유리(MG)가 흐르고 있는 경우에 상기 진동에 의한 액면 수준의 변동은 도 4의 (b)에 나타내는 바와 같이, 청징관(102a)의 내부의 공간 전체에 55% 정도를 점유하여 용융 유리(MG)가 흐르고 있는 경우에 비하여 크다. 도 4의 (a)에 나타내는 바와 같은 경우, 액면 수준의 큰 변동에 의해, 내벽에 부착된 백금 또는 백금 합금 등의 응집물의 일부가 이탈하여 용융 유리(MG)에 이물로서 혼입되기 쉬워진다. 이 점에서, 청징관(102a) 내에 있어서 용융 유리(MG)이 기상 공간의 청징관(102a) 내부의 공간 전체에서 차지하는 비율은 작을수록 바람직하다. 이 점도 고려하여, 비 S/L은 적정한 수치 범위로 제어(조정)된다.The level of the molten glass MG in the
비 S/L을, 청징관(102a)의 용융 유리(MG)의 액면 수준으로 제어(조정)하는 경우, 후술하는 바와 같이, 미리 백금 결함수와 용융 유리 처리 장치에 있어서의 용융 유리의 액면 수준과의 상관 관계를 구하고, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 용융 유리 처리 장치의 액면 수준을 기준 액면 수준으로서 결정하고, 청징 공정 등의 처리 공정에서는, 이 기준 액면 수준에 기초하여 액면 수준을 제어(조정)하는 것이 바람직하다. 또한, 이때, 처리 공정에서는, 기준 액면 수준을 포함하도록 결정된 목표 액면 수준 범위에 기초하여 액면 수준을 제어(조정)하는 것이 바람직하다. 액면 수준은, 용융 유리 처리 장치에 공급되는 용융 유리의 양 및 성형 공정에서 성형되는 시트 유리의 성형량 중 적어도 한쪽을 제어 또는 조정함으로써, 제어(조정)되는 것이 바람직하다.In the case where the ratio S / L is controlled (adjusted) to the level of the molten glass MG of the
또한, 유리 기판의 연속 생산의 경우에 상기 비 S/L를 제어(조정)하는 경우, 절단 공정(ST6) 후에 행해지는 유리 기판의 결함 검사에 의해, 백금 또는 백금 금속 등의 응집물로서의 이물(백금 결함)을 검출하고, 이 이물의 검출 개수의 결과에 따라서 비 S/L를 제어(조정)하는 것이 바람직하다. 결함 검사에서는, 복수 종류의 이물 등의 결함을 식별하는데, 백금 또는 백금 금속 등의 응집물은, 다른 이물이나 결함 형상에 대하여 특이한 형상을 하고 있기 때문에, 용이하게 식별할 수 있다.In the case of controlling (adjusting) the above-mentioned S / L in the case of continuous production of the glass substrate, foreign matter as a coagulation product of platinum or platinum metal (platinum Defects) are detected, and it is preferable to control (adjust) the ratio S / L according to the result of detection of the number of foreign objects. In the defect inspection, defects such as a plurality of kinds of foreign matters are identified, and the aggregates such as platinum or platinum metal have a unique shape with respect to other foreign matters or defect shapes, so that they can be easily identified.
(액면 수준의 제어, 조정)(Level control, adjustment)
상술한 관점에서, 본 실시 형태에서는, 백금족 금속의 휘발을 억제하도록, 청징관(102a) 내의 용융 유리의 액면 수준을 제어(조정)하는 것도 가능하다. 이하, 제어를 중심으로 설명하지만, 조정도 제어와 동일하게 적용된다.From the above-described point of view, it is also possible in the present embodiment to control (adjust) the level of the molten glass in the
청징관(102a) 내의 용융 유리(MG)의 액면 수준은, 청징관(102a)에 공급되거나 또는 청징관(102a)으로부터 배출되는 용융 유리(MG) 양을 조정함으로써 제어(조정)할 수 있다. 예를 들어, 성형 장치(200)에서는 통상, 용융 유리 생성 장치(100)로부터 공급된 단위 시간당 일정량의 용융 유리(MG)로부터 시트 유리를 성형하므로, 청징관(102a)에 도입되는 용융 유리(MG)의 양을 조정함으로써 청징관(102a) 내의 용융 유리(MG)의 액면 수준을 제어(조정)할 수 있다. 청징관(102a)에 도입(공급)되는 용융 유리(MG)의 양을 조정하는 방법으로서는, 예를 들어 용해 장치(101)에서 용융 유리(MG)를 만드는 유리 원료의 투입량을 조정하는 것, 또는 용해 장치(101)로부터 청징관(102a)에 용융 유리(MG)가 이동할 때에, 용융 유리(MG)의 온도를 온도 조정 장치를 사용하여 조정하여 점도를 바꿈으로써 용융 유리(MG)의 이동 속도를 변화시키는 것, 또는 용해 장치(100)와 청징관(102a)의 사이에 용융 유리(MG)의 유량을 줄이는 유량 제어부를 설치하는 것 등이 포함된다. 이와 같이, 유리 원료의 투입량을 변경하는 원료 투입 장치(101d)나, 온도 조정 장치나, 유량 제어부가 용융 유리(MG)의 액면 수준을 제어(조정)하는 제어부(조정부)가 될 수 있다. 또한, 청징관(102a) 내의 용융 유리의 액면 수준은, 성형 장치(200)에 의한 시트 유리의 성형량(처리량)을 조정하여서도 제어(조정)할 수 있다. 또는, 청징관(102a) 내로부터 성형 장치(200)에 공급되는 용융 유리(MG)를 조정함으로써, 청징관(102a) 내의 용융 유리의 액면 수준을 제어(조정)할 수 있다. 성형 장치(200)에 의한 시트 유리의 성형량(처리량)을 조정하는 방법으로서는, 예를 들어 반송 롤러가 시트 유리를 반송하는 속도 제어, 시트 유리의 판 두께 제어 등이 포함된다. 한편, 청징관(102a) 내로부터 성형 장치(200)에 공급되는 용융 유리(MG) 양을 제어하는 방법으로서는, 청징관(102a)으로부터 성형 장치(200)에 용융 유리(MG)가 이동 할 때에 용융 유리(MG)의 온도를 온도 조정 장치를 사용하여 조정하여 점도를 바꿈으로써 용융 유리(MG)의 이동 속도를 변화시키는 것, 또는 청징관(102a)과 성형 장치(200)와의 사이에 용융 유리(MG)의 유량을 줄이는 유량 제어부를 설치하는 것 등이 포함된다. 이와 같이, 반송 롤러의 속도 조정 장치, 온도 조정 장치나, 유량 제어부가, 용융 유리(MG)의 액면 수준을 조정하는 제어부(조정부)가 될 수 있다.The level of the molten glass MG in the
상기한 제어부(조정부) 중에서도, 유리 원료의 투입량을 조정하는 것, 및 성형 장치(200)에 의한 시트 유리의 성형량을 조정하는 것 중 적어도 한쪽을 행하는 것이 바람직하다.It is preferable to perform at least one of the adjustment of the amount of the glass raw material and the adjustment of the molding amount of the sheet glass by the
또한, 본 실시 형태에 있어서 용융 유리(MG)의 액면 수준은, 예를 들어 청징 장치(102)에 설치된 액위 측정 장치를 사용하여 측정할 수 있다. 또한, 청징관(102a) 길이 방향의 어느 부분에 있어서도 대략 동일 값을 나타낸다. 따라서, 액면 수준은 청징관(102a)의 어느 부분에 주목하여 제어(조정)해도 된다.In the present embodiment, the level of the molten glass MG can be measured using a liquid level measuring apparatus provided in the
액면 수준의 제어(조정)는 청징관(102a)에서는, 미리 정한 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준이 되도록 행하는 것이 바람직하다. 기준 액면 수준은, 청징관(102a) 내에서 용융 유리(MG)의 액면 수준이 취할 수 있는 크기이다. 또한, 목표 액면 수준은, 청징관(102a) 내에서 용융 유리(MG)의 액면 수준이 취할 수 있는 크기의 범위이다. 기준 액면 수준 및 목표 액면 수준은, 주로 기상 공간 내에서 휘발된 백금 또는 백금 합금 등의 응집물의 일부가 이물이 되어서 용융 유리에 혼입되어, 유리 기판에 있어서 결함(이후, 백금 결함이라고도 함)이 되는 것을 억제하는 관점으로부터 정해진다. 또한, 목표 액면 수준은 유리 기판의 생산성을 저하시키지 않는 관점으로부터도 정해진다.It is preferable that the control (adjustment) of the level of the liquid level is performed at the predetermined reference liquid level or the target liquid level at the
기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A를 결정하기 위해서, 유리 기판의 제조 개시 전에, 용융 유리(MG)의 액면 수준과 백금 결함수와의 상관 관계를 구한다. 기준 액면 수준은, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 청징관(102a)의 액면 수준이고, 청징관(102a) 내에 있어서의 용융 유리(MG)의 액면 수준과 백금 결함수와의 상관 관계에 기초하여 결정된다. 목표 액면 수준은 상기 기준 액면 수준을 포함하도록 결정된다.In order to determine the reference liquid level or the target liquid level A, the correlation between the liquid level of the molten glass (MG) and the number of platinum defects is obtained before starting the production of the glass substrate. The reference liquid level is the liquid level of the
도 5를 참조하여, 선(S) 및 목표 액면 수준을 설명한다. 선(S)은 도 5에 나타내는 바와 같이, 용융 유리(MG)의 액면 수준과 백금 결함수와의 상관 관계를 나타내는 것이다. 또한, 액면 수준은 용융 유리(MG)의 액면과, 액면에 직교하는 방향의 기상 공간의 상단부(내벽의 천장 부분)과의 거리(mm)로 표시된다.Referring to Fig. 5, the line S and the target level level will be described. The line S shows the correlation between the level of the liquid surface of the molten glass MG and the number of platinum defects as shown in Fig. The liquid level is indicated by the distance (mm) between the liquid surface of the molten glass MG and the upper end of the vapor phase space (the ceiling portion of the inner wall) in the direction orthogonal to the liquid surface.
용융 유리(MG)의 액면 수준과 백금 결함수와의 상관 관계는, 과거에 사용되었던 유리 기판 제조시의 제조 조건, 측정 항목 등 중 청징 공정에서의 액면의 높이(액면 수준)와, 당해 제조 조건 등을 사용하여 제조된 유리 기판에 대하여 행한 검사 결과 중 백금 결함수에 기초하여 행해진다. 상기 상관 관계의 작성 시에, 이들 2개의 파라미터, 즉 액면 수준 및 백금 결함수 이외의 다른 조건은 일정하다고 여겨진다. 당해 다른 조건에는, 예를 들어 청징 장치(102)의 크기, 청징관(102a) 내의 용융 유리(MG)의 온도, 청징관(102a)의 온도, 청징관(102a)의 구성 재료의 종류, 유리의 종류, 후술하는 불활성 가스의 도입 유무, 불활성 가스의 도입량, 용융 유리(MG)의 청징제의 함유량 등이 포함된다.The correlation between the level of the liquid surface of the molten glass (MG) and the number of platinum defects is determined by the height (liquid level) of the liquid surface in the middle refining step such as manufacturing conditions and measurement items used in the past, And the like, based on the number of platinum defects among the inspection results made on the glass substrate manufactured using the above-described method. At the time of making the correlation, it is considered that these two parameters, that is, conditions other than the liquid level and the number of platinum defects are constant. Other conditions include the size of the clarifying
액면 수준의 값이 클(액면 높이가 낮을)수록, 백금 결함수가 적어지고 있는 것을 알 수 있다. 이것은, 액면 높이가 낮아지면 기상 공간의 부피가 커지기 때문에, 상기 설명한 바와 같이 청징관(102a) 내의 기류 속도가 느려져, 청징관(102a)의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발이 억제되는 결과, 백금 결함수가 적어지고 있기 때문이다.It can be seen that the larger the value of the liquid surface level (the liquid surface height is lower), the smaller the number of platinum defects. This is because, as described above, the airflow velocity in the
목표 액면 수준 A는 도시되는 바와 같이, 액면 수준의 범위로 표시된다(도면 중, 사선 부분). 목표 액면 수준 A는 선(S)에 기초하여 작성된다. 목표 액면 수준 A의 하한값은 선(S)과, 도 5에 나타내는 품질 기준선(Q)과의 교점인 기준 액면 수준으로 정해진다. 품질 기준선(Q)이란, 백금 결함수의 허용치가다. 품질 기준선(Q)은, 예를 들어 유리 기판의 구입자인 고객이 요구하는 품질상의 사양에 의해 정해지고, 소정의 백금 결함수를 나타낸다. 구체적인 백금 결함수는, 특별히 제한되지 않고 여러 가지로 정할 수 있지만, 예를 들어 0.001 내지 0.1개/kg의 사이에서 정할 수 있다. 도 5에서는, 품질 기준선(Q)(백금 결함수의 허용치)으로부터 좌측의 영역에서는, 제조된 유리 기판은 양품이라고 판단되고, 우측의 영역에서는 불량품이라고 판단된다. 이 하한값보다도, 액면 수준이 커지도록(액면 높이가 현재의 액면 수준보다도 하방에 위치함), 액면 수준이 제어(조정)됨으로써, 제조되는 유리 기판에 포함되는 백금 결함수를, 항상 소정값 이하로 억제할 수 있다.The target liquid level A is represented by a range of the liquid level as shown (the shaded portion in the figure). The target liquid level A is created based on the line S. The lower limit value of the target liquid level A is defined as the reference liquid level at the intersection of the line S and the quality reference line Q shown in Fig. The quality reference line (Q) is the allowable value of the number of platinum defects. The quality reference line Q is determined by a quality specification required by a customer who is a purchaser of a glass substrate, for example, and indicates a predetermined number of platinum defects. The specific number of platinum defects is not particularly limited and may be determined in various ways. For example, the number of platinum defects can be set between 0.001 and 0.1 pcs / kg. In Fig. 5, in the region on the left side from the quality reference line Q (tolerance of the number of platinum defects), it is judged that the manufactured glass substrate is good, and the region on the right side is judged as a defective product. The liquid surface level is controlled (adjusted) so that the liquid surface level becomes larger than the lower limit value (the liquid surface height is located lower than the current liquid surface level), so that the number of platinum defects contained in the glass substrate to be produced is always lower than the predetermined value .
한편, 목표 액면 수준 A의 상한값은, 유리 기판의 생산성을 저하시키지 않는 관점에서 정해진다. 용융 유리(MG)의 액면 수준이 커지면 기상 공간의 부피가 커지고, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발은 억제되지만, 한편으로 기상 공간의 부피가 증가한 만큼, 청징관(102a) 내의 액상(용융 유리(MG))의 양은 줄어들고, 당해량이 큰 경우에는, 유리 기판의 생산성이 저하된다. 이러한 관점에서, 목표 액면 수준 A의 상한값은 정해진다. 또한, 목표 액면 수준 A의 상한값의 설정은 필수는 아니지만, 설정되어 있는 것이 바람직하다.On the other hand, the upper limit value of the target liquid level A is determined from the viewpoint of not lowering the productivity of the glass substrate. When the liquid level of the molten glass MG is increased, the volume of the vapor phase space is increased and the volatilization of platinum or platinum alloy is suppressed. On the other hand, as the volume of the vapor phase space is increased, ) Is reduced, and when the amount is large, the productivity of the glass substrate is lowered. From this point of view, the upper limit value of the target liquid level A is determined. The setting of the upper limit value of the target liquid level A is not necessarily required, but is preferably set.
또한, 목표 액면 수준 A의 상한값은, 청징관(102a)과 접속된 유리 공급관(105)의 높이 위치에 기초하여 결정될 수도 있다. 예를 들어, 청징관(102a)의 액면 수준이 유리 공급관(105)의 최상부보다 하방이 되면, 유리 공급관(105)으로부터 청징관(102a)을 향하여 기류가 발생하여, 청징관(102a) 내의 기류의 유속이 높아져 버린다. 즉, 청징관(102a)의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 어려워진다. 따라서, 목표 액면 수준 A의 상한값은, 유리 공급관(105)의 최상부의 높이 위치에 대응하는 액면 수준보다 작게 설정되는 것이 바람직하다.Further, the upper limit value of the target liquid level A may be determined based on the height position of the
이상의 목표 액면 수준이 되도록, 청징관(102a) 내의 용융 유리(MG)의 액면 수준을 제어(조정)함으로써, 항상 백금 결함수를 소정수 이하로 하면서, 유리 기판의 생산성 저하를 억제할 수 있다. 또한, 용융 유리(MG)의 액면 수준을 상기와 같이 정해진 목표 액면 수준으로 하는 제어(조정)를 행함으로써, 예를 들어 고객이 요구하는 사양이 엄격해진 경우에도, 바로 대응하는 것이 가능해지고, 확실하게 그 사양을 충족시키는 유리 기판을 제조할 수 있다. 이 경우, 도 5의 지면에 있어서, 품질 기준선(Q)이 도 5에 나타내는 기준선(Q)에 대하여 보다 좌측으로 설정된다. 그러면, 선(S)과의 교점이 도 5에 나타나 있는 현재의 교점에 대하여 상방으로 이동하여, 액면 수준을 크게(액면 높이를 낮게) 할 필요가 있는 것을 알 수 있다.The level of the liquid level of the molten glass MG in the
또한, 본 실시 형태의 방법에 있어서의 제어(조정) 대상은 용융 유리(MG)의 액면 수준이지만, 액면 수준을 제어(조정)하는 것은 기상 공간의 부피를 제어(조정)하는 것도 된다. 상기 설명한 바와 같이, 기상 공간으로의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 위해서는 기류의 유속을 낮게 할 수 있고, 기류의 유속을 낮게 하기 위해서는, 기상 공간의 부피를 크게 할 수 있다.In the method of the present embodiment, the object to be controlled (adjusted) is the liquid level of the molten glass MG, but the liquid level control (adjustment) may also control (adjust) the volume of the vapor phase space. As described above, in order to suppress the volatilization of platinum or platinum alloy into the gas phase space, the flow velocity of the gas flow can be lowered and the volume of the gas phase space can be increased to lower the flow velocity of the gas flow.
상기 선 및 목표 액면 수준은, 상기 기타 조건을 여러 가지로 바꾸었을 경우에 대하여 각각 작성되는 것이 바람직하다. 이렇게 복수개 작성해 둠으로써, 유리 기판의 제조 개시 전에, 이제부터 행하는 제조 조건에 가장 가까운 것을 선택하여, 선택한 선, 목표 액면 수준에 따라서 액면의 제어(조정)를 함으로써, 어느 조건으로 유리 기판을 제조하는 경우에도, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하여, 응집물의 일부가 용융 유리에 혼입되어 백금 결함을 발생시키는 것을 억제할 수 있다.It is preferable that the above-mentioned line and target liquid level are prepared for each of the above-mentioned other conditions. By preparing a plurality of such films, the glass substrate closest to the manufacturing conditions to be performed is selected before starting the production of the glass substrate, and the liquid surface is controlled (adjusted) according to the selected line and target liquid level, It is possible to suppress the volatilization of platinum or platinum alloy or the like and to inhibit the part of the coagulated material from being mixed with the molten glass and generating platinum defects.
또한, 액면 수준은 용융 유리(MG)의 액면과, 이것에 직교하는 기상 공간의 상단부와의 거리 대신에, 청징관(102a)의 저부로부터의 액면의 높이에 의해 표시될 수도 있다.The level of the liquid level may be indicated by the height of the liquid level from the bottom of the
기류 유속의 바람직한 범위는 5m/분 이하인 것이 바람직하고, 1m/분 이하인 것이 보다 바람직하고, 0.5m/분 이하인 것이 보다 한층 바람직하다.The preferable range of the air flow rate is preferably 5 m / min or less, more preferably 1 m / min or less, still more preferably 0.5 m / min or less.
또한, 유리 기판의 연속 생산의 경우에 상기 용융 유리(MG)의 액면 수준을 제어(조정)하는 경우, 절단 공정(ST6) 후에 행해지는 유리 기판의 결함 검사에 의해, 백금 또는 백금 금속 등의 응집물로서의 이물을 검출하고, 이 이물의 검출 개수의 결과에 따라서 용융 유리(MG)의 액면 수준을 제어(조정)하는 것이 바람직하다. 결함 검사에서는, 복수의 종류의 이물 등의 결함을 식별하는데, 백금 또는 백금 금속 등의 응집물은, 다른 이물이나 결함 형상에 대하여 특이한 형상을 하고 있기 때문에, 용이하게 식별할 수 있다.In the case of controlling (adjusting) the level of the liquid surface of the molten glass (MG) in the case of continuous production of the glass substrate, aggregation of platinum or platinum metal or the like by defect inspection of the glass substrate performed after the cutting step (ST6) It is desirable to control (adjust) the level of the liquid surface of the molten glass MG in accordance with the result of detection of the foreign matter. In the defect inspection, defects such as foreign matters of a plurality of kinds are identified, and aggregates such as platinum or platinum metal have a unique shape with respect to other foreign matters or defects, so that they can be easily identified.
상술한 기상 공간의 부피 및 내벽의 면적 제어(조정)와, 액면 수준의 제어(조정) 중 어느 쪽의 실시 형태에 있어서도, 청징관(102a)의 온도에 대해서는, 기상 공간과 접하는 백금 또는 백금 합금 등의 내벽 부분의 최고 온도와 최저 온도와의 온도차는 50℃ 이상일 수도 있고, 150℃ 이상일 수도 있고, 250℃ 이상일 수도 있다. 상기 온도차가 50℃ 이상인 경우, 일반적으로 기상 공간 내에서, 백금 또는 백금 합금의 휘발물은 최저 온도의 내벽 근방에서 포화 증기압의 온도 의존성에 의해 용이하게 응집하기 쉬워진다. 그러나, 본 실시 형태와 같이, 용융 유리(MG)의 액면 수준을 제어(조정)함으로써, 백금 또는 백금 합금의 휘발물은 적어지고 응집량도 적어진다. 이 점에서, 상기 온도차가 50℃ 이상인 경우, 본 실시 형태의 청징관(102a)을 사용했을 때에 백금 또는 백금 합금 등의 응집물이 용융 유리(MG)에 혼입되는 것을 억제하는 효과는, 온도차가 50℃ 미만인 청징관에 비교하여 현저한 효과를 발휘한다.Regarding the temperature of the
또한, 청징관(102a)의 최고 온도는 1400℃ 이상일 수도 있고, 1600℃ 이상, 1630℃ 이상, 나아가 1650℃ 이상일 수도 있다. 이렇게 최고 온도가 높은 경우, 본 실시 형태에 있어서의 백금 또는 백금 합금 등의 응집물이 용융 유리(MG)에 혼입되는 것을 억제하는 효과는, 최고 온도가 1400℃ 미만인 청징관에 비교하여 크다. 또한, 청징관(102a)의 내벽의 최고 온도가 너무 낮으면, 예를 들어 산화주석의 청징제로서의 반응이 활발하지 않게 되어, 용융 유리의 청징이 충분하지 않게 된다. 그 때문에, 청징관(102a)의 내벽의 최고 온도는 1630℃ 내지 1720℃인 것이 바람직하고, 1650℃ 내지 1720℃인 것이 보다 바람직하다.Further, the maximum temperature of the
이러한 청징관(102a)의 온도 분포는 열전대 등의 온도 센서를 사용하여 계측하여 취득할 수도 있고, 또한 열 전도 시뮬레이션을 사용하여 취득할 수도 있다.The temperature distribution of the
상술한 비 S/L, 또는 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A의 바람직한 범위는 청징 공정에서의 처리 조건이 상이하면 변화한다. 그 때문에, 예를 들어 비 S/L, 또는 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A는The above-mentioned preferable range of the non-S / L, or the reference liquid level or the target liquid level A changes when the processing conditions in the cleaning process are different. Thus, for example, a non-S / L, or base face level or target face level A
(1) 기상 공간 중의 산소 농도,(1) oxygen concentration in the gas phase space,
(2) 용융 유리 처리 장치 내벽의 최고 온도,(2) the maximum temperature of the inner wall of the molten glass processing apparatus,
(3) 용융 유리로부터 기상 공간에 방출되는 산소 방출량,(3) the amount of oxygen released from the molten glass to the vapor phase space,
(4) 용해 공정에서의 용융 유리의 최고 온도와, 처리 공정에서의 용융 유리의 최고 온도와의 온도차, 및(4) the temperature difference between the maximum temperature of the molten glass in the dissolving step and the maximum temperature of the molten glass in the processing step, and
(5) 기상 공간에 있어서의 백금족 금속(백금 또는 백금 합금)의 증기압(5) Vapor pressure of the platinum group metal (platinum or platinum alloy) in the vapor phase space
중 적어도 하나에 기초하여 결정되는 값인 것이 바람직하다.The value of which is determined based on at least one of the following.
예를 들어, 상기 (1)의 기상 공간 중의 산소 농도의 경우, 기상 공간 중의 산소 농도가 변화하면, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 위한 바람직한 비 S/L, 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A는 변화된다. 기상 공간 중의 산소 농도가 높아지면 백금 또는 백금 합금 등의 휘발이 활발해지기 때문에, 면적 L은 작은 쪽이 바람직하다. 또한, 용융 유리의 액면 수준은 높은 쪽이 바람직하다. 그러나, 면적 L을 작게 하면, 또한 용융 유리의 액면 수준은 높게 하면, 부피 S도 작아져, 산소 농도가 점점 상승한다. 이로 인해, 기상 공간 중의 산소 농도는 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 위한 바람직한 비 S/L, 또는 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A를 결정하는 데 있어서, 큰 요인의 하나가 되고 있다.For example, in the case of the oxygen concentration in the vapor phase space of (1) above, when the oxygen concentration in the gas phase changes, a preferable ratio S / L for suppressing the volatilization of platinum or platinum alloy, A is changed. When the oxygen concentration in the gas phase becomes high, volatilization of platinum or platinum alloy becomes active, so that it is preferable that the area L is small. It is also preferable that the level of the molten glass is higher. However, when the area L is made smaller, the volume S of the molten glass becomes higher as the liquid level of the molten glass becomes higher, and the oxygen concentration gradually increases. Accordingly, the oxygen concentration in the gas phase space is one of the major factors in determining the desirable ratio S / L for suppressing the volatilization of platinum or platinum alloy, or the reference liquid level or the target liquid level A.
기상 공간 중의 산소 농도는, 용융 유리에 포함되는 청징제, 예를 들어 산화주석의 함유량, 용융 유리의 온도 또는 온도 이력, 기상 공간에 도입되는 불활성 가스의 양에 의해 제어(조정)할 수 있다. 용융 유리의 온도 또는 온도 이력은, 용융 유리 처리 장치의 내벽 최고 온도에 따라 변화한다. 따라서, 용융 유리 처리 장치의 내벽 최고 온도도 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 위한 바람직한 비 S/L, 또는 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A를 결정하는 데 있어서, 큰 요인의 하나가 되고 있다.The oxygen concentration in the gas phase space can be controlled (adjusted) by the amount of the fining agent contained in the molten glass, for example, the content of tin oxide, the temperature or temperature history of the molten glass, and the amount of inert gas introduced into the gas phase space. The temperature or temperature history of the molten glass varies depending on the maximum inner wall temperature of the molten glass processing apparatus. Therefore, the maximum inner wall temperature of the molten glass processing apparatus is also one of the major factors in determining the desirable non-S / L for suppressing the volatilization of platinum or platinum alloy, or the standard liquid level or the target liquid level A .
용융 유리에 포함되는 청징제, 예를 들어 산화주석의 함유량이 변화하면, 용융 유리로부터 기상 공간에 방출되는 산소의 방출량도 변화한다. 즉, 산화주석의 함유량이 많을수록 방출되는 산소량이 상승하고, 기상 공간의 산소 농도가 상승한다. 따라서, 용융 유리로부터 기상 공간에 방출되는 산소 방출량도, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 위한 바람직한 비 S/L, 또는 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A를 결정하는 데 있어서, 큰 요인의 하나가 되고 있다. 이 점으로부터, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하는 점에서, 기상 공간에 있어서의 산소 농도는, 산화주석의 함유량에 의해 제어(조정)되는 것이 바람직하다. 따라서 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하는 점에서, 산화주석의 함유량은 제한되고, 0.01 내지 0.3몰%, 바람직하게는 0.03 내지 0.2몰인 것이 바람직하다. 산화주석의 함유량이 많으면 산화주석에 2차 결정이 용융 유리 중에서 발생하는 문제가 발생하므로 바람직하지 않다. 산화주석의 함유량이 너무 적으면 용융 유리의 청징이 충분하지 않다.When the content of the refining agent, for example, tin oxide, contained in the molten glass changes, the amount of oxygen released from the molten glass into the vapor phase also changes. That is, as the content of tin oxide increases, the amount of oxygen released increases and the oxygen concentration in the vapor phase rises. Therefore, the amount of oxygen released from the molten glass to the vapor phase space is also one of the major factors in determining the desired ratio S / L for suppressing the volatilization of platinum or platinum alloy, or the reference liquid level or the target liquid level A . From this point, it is preferable that the oxygen concentration in the vapor phase space is controlled (adjusted) by the content of tin oxide, in view of suppressing volatilization of platinum or platinum alloy. Therefore, from the standpoint of suppressing the volatilization of platinum or platinum alloy, the content of tin oxide is limited to 0.01 to 0.3 mol%, preferably 0.03 to 0.2 mol. If the content of tin oxide is large, secondary crystals are generated in the molten glass in the tin oxide, which is not preferable. If the content of tin oxide is too small, refinement of the molten glass is not sufficient.
용융 유리의 온도 또는 온도 이력에 대해서는, 용융 유리의 온도가 변화하면, 이 온도 변화에 의해, 환원하는 산화제, 예를 들어 환원하는 산화주석의 양 및 용융 유리의 점도가 변화된다. 이에 의해, 용융 유리로부터 기상 공간에 방출되는 산소량도 변화된다.With respect to the temperature or the temperature history of the molten glass, when the temperature of the molten glass is changed, the amount of reducing oxidizing agent such as reducing tin oxide and the viscosity of the molten glass are changed by this temperature change. Thereby, the amount of oxygen released from the molten glass to the vapor phase space is also changed.
또한, 용융 유리 처리 장치에 유입되기 전의 용해 공정에서의 용융 유리와 용융 유리 처리 장치에 유입된 후의 처리 공정에서의 용융 유리의 온도차가 클수록 용융 유리 처리 장치에서 방출되는 산소의 양은 증가한다. 즉, 용융 유리 처리 장치의 유입 전부터 용융 유리 처리 장치에 있어서의 용융 유리의 온도 이력을 제어(조정)함으로써, 용융 유리로부터 기상 공간에 방출되는 산소의 방출량도 변화한다. 따라서, 용해 공정에서의 용융 유리의 최고 온도와, 처리 공정에서의 용융 유리의 최고 온도와의 온도차도, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 위한 바람직한 비 S/L, 또는 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A를 결정하는 데 있어서, 큰 요인의 하나가 되고 있다. 이 경우, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제와 청징 효과를 양립시키는 점에서, 상기 온도차는 50℃ 이상 200℃ 이하인 것이 바람직하고, 70℃ 이상 150℃ 이하인 것이 보다 바람직하다.Further, the larger the temperature difference between the molten glass in the dissolution step before entering the molten glass processing apparatus and the molten glass in the processing step after flowing into the molten glass processing apparatus, the greater the amount of oxygen released from the molten glass processing apparatus. That is, by controlling (adjusting) the temperature history of the molten glass in the molten glass treatment apparatus from before the molten glass treatment apparatus is introduced, the amount of oxygen released from the molten glass to the gas phase also changes. Therefore, the temperature difference between the maximum temperature of the molten glass in the melting step and the maximum temperature of the molten glass in the processing step is preferably set to a preferable value S / L for suppressing the volatilization of platinum or platinum alloy, This is one of the major factors in determining the level A of the face. In this case, the temperature difference is preferably not less than 50 ° C and not more than 200 ° C, more preferably not less than 70 ° C but not more than 150 ° C, in terms of both suppressing volatilization of platinum or platinum alloy and purifying effect.
또한, 기상 공간에 있어서의 백금족 금속(백금 또는 백금 합금)의 증기압도 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 위한 바람직한 비 S/L, 또는 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A를 결정하는 데 있어서, 큰 요인의 하나가 되고 있다. 기상 공간에 있어서의 백금족 금속(백금 또는 백금 합금)의 증기압은, 용융 유리 처리 장치의 내벽 온도에 따라서 휘발하는 백금족 금속(백금 또는 백금 합금)의 휘발량에 의해 정해진다. 따라서, 용융 유리 처리 장치의 내벽 온도는, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하기 위한 바람직한 비 S/L, 또는 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A를 결정하는 데 있어서, 큰 요인의 하나가 되고 있다. 내벽의 온도가 높고, 휘발량이 많고, 기상 공간에 있어서의 백금족 금속(백금 또는 백금 합금)의 증기압이 높은 경우, 도 3의 (a)에 나타내는 바와 같은 빠른 기류(W1)가 기상 공간 중에 있는 경우에도, 백금족 금속(백금 또는 백금 합금)의 증기압이 포화 증기압에 달하고 있는 상태가 유지된다. 이 경우, 휘발량의 절대량을 내리기 위해서, 비 S/L, 또는 기준 액면 수준 또는 목표 액면 수준 A를 제어(조정)할 수 있다. 백금 또는 백금 합금 등의 휘발 및 응집을 억제하는 점에서, 기상 공간에 있어서의 백금족 금속의 증기압은 1Pa 내지 10Pa인 것이 바람직하고, 3Pa 내지 10Pa인 것이 바람직하다.Further, in determining the vapor pressure of the platinum group metal (platinum or platinum alloy) in the vapor phase space and the preferable ratio S / L for suppressing the volatilization of platinum or platinum alloy or the reference liquid level or the target liquid level A, It is becoming one of the big factors. The vapor pressure of the platinum group metal (platinum or platinum alloy) in the vapor phase space is determined by the volatilization amount of the platinum group metal (platinum or platinum alloy) volatilizing in accordance with the inner wall temperature of the molten glass processing apparatus. Therefore, the inner wall temperature of the molten glass processing apparatus has become one of the major factors in determining the preferable non-S / L for suppressing the volatilization of platinum or platinum alloy, or the standard liquid level or the target liquid level A . In the case where the temperature of the inner wall is high and the amount of volatilization is large and the vapor pressure of the platinum group metal (platinum or platinum alloy) in the vapor phase space is high, when the fast air flow W1 as shown in Fig. , The state in which the vapor pressure of the platinum group metal (platinum or platinum alloy) reaches the saturated vapor pressure is maintained. In this case, it is possible to control (adjust) the non-S / L or the reference liquid level or the target liquid level A in order to reduce the absolute amount of the volatilized amount. The vapor pressure of the platinum group metal in the vapor phase space is preferably 1 Pa to 10 Pa, more preferably 3 Pa to 10 Pa, in view of suppressing volatilization and aggregation of platinum or platinum alloy.
기상 공간에 있어서의 백금족 금속의 증기압이 1Pa 내지 10Pa이고, 용융 유리 처리 장치의 내벽 최고 온도가 1630℃ 내지 1720℃이고, 기상 공간의 부피를 S[㎥]로 하고, 기상 공간과 접하는 백금족 금속의 면적을 L[㎡]로 했을 때, 비 S/L은 17[m] 이상으로 함으로써, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발 및 응집을 억제할 수 있다. 이때, 기상 공간의 산소 농도는 2% 이하인 것이 바람직하다. 또한, 제조되는 유리 기판의 산화주석의 함유량은 0.01 내지 0.3몰%인 것이 바람직하다.Wherein a vapor pressure of the platinum group metal in the vapor phase is 1 Pa to 10 Pa, a maximum temperature of the inner wall of the molten glass processing apparatus is 1630 to 1720 ° C, a volume of the vapor phase space is S [m 3] When the area is L [m < 2 >], by setting the ratio S / L to 17 [m] or more, volatilization and aggregation of platinum or platinum alloy can be suppressed. At this time, the oxygen concentration in the vapor phase space is preferably 2% or less. The content of tin oxide in the glass substrate to be produced is preferably 0.01 to 0.3 mol%.
본 실시 형태에서는, 용융 유리의 탈포를 위해 청징관(102a)을 통전 가열하는 방식을 사용한다. 통전 가열의 방식에서는, 청징관(102a)을 직접 가열하므로, 청징관의 주위에 히터 등의 열원을 설치하여 청징관을 간접적으로 가열하는 경우에 비하여, 기상 공간과 접하는 백금 또는 백금 합금 등의 내벽의 온도는 높아지고, 온도 구배도 높아지고, 최고 온도와 최저 온도와의 온도차는 커지기 쉽다. 이로 인해, 상술한 바와 같이, 종래의 청징관에서는, 백금 또는 백금 합금 등의 응집물이 많아지기 쉽다. 그러나, 본 실시 형태에서는, 백금 또는 백금 합금의 휘발을 억제하므로, 백금 또는 백금 합금의 응집물은 적다. 이 점에서, 청징관(102a)을 통전 가열하는 방식을 사용하는 경우, 백금 또는 백금 합금 등의 응집물이 용융 유리(MG)에 혼입되는 것을 억제하는 본 실시 형태의 효과는, 간접 가열 방식을 사용하는 청징관에 비교하여 크다.In the present embodiment, a method of energizing and heating the
또한, 청징관(102a)의 통전 가열의 방식의 경우, 청징관(102a)의 관 주위에 전류를 균일하게 흘리기 위해서, 플랜지가 청징관(102a)의 주위에 설치되는 경우가 있다. 플랜지는 열에 의한 파손을 방지하기 위하여 냉각된다. 또한, 플랜지가 냉각 핀으로서 기능한다. 이에 의해, 청징관(102a)의 플랜지가 설치된 부분의 내벽 온도는 저하되기 쉽다. 즉, 청징관(102a)의 플랜지가 설치된 부분의 내벽에서는 백금 또는 백금 합금의 응집이 발생하기 쉽다. 이러한 경우에 있어서도, 본 실시 형태에서는, 백금 또는 백금 합금의 휘발을 억제하므로, 백금 또는 백금 합금의 응집물은 적다. 이 때문에, 플랜지가 청징관(102a)에 사용되는 경우에도, 백금 또는 백금 합금 등의 응집물이 용융 유리(MG)에 혼입되는 것을 억제하는 본 실시 형태의 효과는, 종래의 청징관에 비교하여 크다.Further, in the case of the conduction heating method of the
또한, 본 실시 형태의 청징관(102a)의 기상 공간에는, 용융 유리 및 백금 또는 백금 합금 등과 불활성의 가스를 도입하도록, 가스 도입 장치가 설치될 수도 있다. 이 경우, 기상 공간에는, 예를 들어 불활성의 가스를 도입하는 노즐이 설치된다. 불활성의 가스를 기상 공간 내에 도입함으로써, 기상 공간 내의 산소 분압 또는 산소 농도를 저하시킬 수 있다. 산소는 백금 또는 백금 합금 등과 결합하여 휘발을 조장한다. 이 때문에, 산소 분압을 내림으로써, 청징관(102a)의 내벽으로부터 백금 또는 백금 합금의 휘발을 억제할 수 있다. 이때, 불활성의 가스를, 기상 공간과 접하는 청징관(102a)의 내벽 중 내벽의 온도가 낮은 부분으로부터 기상 공간으로 도입하고, 휘발된 백금 또는 백금 합금이 기상 공간 내의 온도가 낮은 영역으로부터 높은 영역을 향하여 기류를 만드는 것이, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발물의 응집을 억제하는 점에서 바람직하다. 예를 들어, 불활성의 가스는, 청징관(102a)의 내벽 중, 주위의 온도에 비하여 온도가 낮은 부분, 예를 들어 온도가 극소가 되고 있는 부분으로부터 기상 공간에 도입되는 것이 바람직하다. 특히 바람직하게는, 청징관(102a)의 내벽 중, 온도가 가장 낮아져 있는 부분으로부터 기상 공간에 도입된다. 청징관(102a) 중 휘발물이 응집하기 쉬운 내벽의 온도가 낮은 부분으로부터 불활성 가스를 도입하므로 산소 분압을 낮게 한다. 따라서, 휘발물 포화 증기압의 분압 의존성에 따라, 휘발물의 응집은 억제된다.Further, a gas introducing device may be provided in the vapor-phase space of the
불활성의 가스로서, 예를 들어 질소 가스 또는 아르곤 가스, 헬륨 가스, 네온 가스 등의 희가스 또는 이들 가스의 혼합 가스를 사용할 수 있다.As the inert gas, for example, a nitrogen gas or a rare gas such as argon gas, helium gas or neon gas or a mixed gas of these gases can be used.
본 실시 형태의 청징관(102a) 내의 기상 공간이 대기와 접속되는 부분은, 통기관(107)이다. 이 통기관(107)의 형태는, 굴뚝상으로 청징관(102a)의 천장부로부터 직선적으로 연장되는 형상인데, 통기관(107)은 이 형상에 제한되지 않고, 굴곡된 형상일 수도 있다. 통기관(107)은 백금 또는 백금 합금 등의 휘발물이 통기관(107)의 온도의 낮은 부분에 접촉하여 응집하는 경우가 없는 것과 같이, 통기관(107)에 온도 조정 장치가 설치되는 것이 바람직하다.The portion where the vapor phase space in the
또한, 용융 유리 처리 장치로서 청징 장치(102)를 사용하여 설명했지만, 용융 유리 처리 장치는 교반 장치(103)에도 적용할 수 있다. 그러나, 청징관(102)에 적용하는 것이 이하의 이유로부터 바람직하다.Although the clarifying
즉, 청징 장치(102)는, 청징으로부터 성형 직전까지의 백금 또는 백금 합금 등을 사용하는 복수종의 장치 중에서, 용융 유리의 온도를 가장 높게 가열하는 장치이다. 이로 인해, 청징관(102a)에 있어서, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발은 상기 장치 중에서 가장 심하다. 게다가, 청징관(102a)에서 행해지는 탈포에 의해 기상 공간에 방출되는 가스의 성분에는, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 조장하는 산소가 많이 포함되기 때문에, 기상 공간 내의 산소 분압은 대기에 비하여 높다. 이로 인해, 기상 공간에서는, 내벽으로부터 백금 또는 백금 합금 등이 보다 한층 휘발된다. 또한, 청징관(102a)은 교반 장치(103) 등의 다른 장치에 비하여, 내벽의 최고 온도와 최저 온도의 차가 크고, 휘발물의 포화 증기압의 차도 커지므로, 휘발물이 통기관(107)을 통하여 대기로 배출될 때까지, 휘발물의 응집이 발생하기 쉽다. 또한, 청징관(102a)에서는, 다른 장치에 비하여 기류의 흐름이 크다. 따라서, 휘발물의 응집을 억제하기 위해서, 비 S/L, 또는 액면 수준의 제어(조정)를 청징 장치(102)에 적용하는 것이 바람직하다.That is, the finishing
또한, 제조되는 유리 기판의 판 두께가 얇은 유리 기판, 예를 들어 0.5mm 이하, 나아가 0.3mm 이하, 나아가 0.1mm 이하인 유리 기판에 있어서도, 본 실시 형태의 백금 또는 백금 합금 등의 휘발물의 응집을 억제하는 효과는, 판 두께가 두꺼운 유리 기판에 비교하여 현저해진다. 청징관(102a) 등의 내벽에 응집한 백금 또는 백금 합금 등의 응집물의 일부가 미립자가 되어 용융 유리 중으로 낙하하고, 용융 유리 중에 혼입되어 유리 기판에 포함된다. 이 경우, 유리 기판의 판 두께가 얇을수록, 결함이 되는 미립자는 유리 기판의 표면에 위치하는 경우가 많다. 유리 기판의 표면에 위치하는 미립자는, 예를 들어 유리 기판을 사용한 패널 제조 공정에서 이탈하면, 이탈한 부분이 오목부가 되어, 유리 기판 상에 형성되는 박막이 균일하게 형성되지 않고, 화면의 표시 결함을 만든다. 따라서, 본 실시 형태와 같이 청징관(102a)에 있어서 백금 또는 백금 합금 등의 휘발을 억제하고, 백금 또는 백금 합금 등의 응집물의 일부가 이물이 되어서 용융 유리에 혼입되는 효과는, 판 두께가 얇은 유리 기판일수록 커진다.Further, even in a glass substrate having a thin glass substrate, for example, a glass substrate having a thickness of 0.5 mm or less, more preferably 0.3 mm or less, or even 0.1 mm or less, the aggregation of volatiles such as platinum or platinum alloy of the present embodiment is suppressed Is remarkable in comparison with a glass substrate having a large thickness. A part of the aggregate such as platinum or platinum alloy coagulated on the inner wall of the
(유리 조성) (Glass composition)
본 실시 형태에서는, 산화주석을 포함하는 무알칼리 유리 기판, 또는, 산화주석을 포함하는 미(微)알칼리 유리 기판이면, 본 실시 형태의 효과는 현저해진다. 무알칼리 유리 또는 미알칼리 유리는, 알칼리 유리와 비교하여 유리 점도가 높다. 그 때문에, 용해 공정에서 용융 온도를 높게 할 필요가 있고, 많은 산화주석이 용해 공정에서 환원되므로, 청징 효과를 얻기 위해서는 청징 공정에서의 용융 유리 온도를 높게 하여, 산화주석의 환원을 더욱 촉진하고, 또한 용융 유리 점도를 저하시킬 필요가 있다. 즉, 산화주석을 포함하는 무알칼리 유리 기판, 또는 산화주석을 포함하는 미알칼리 유리 기판을 제조하는 경우에는, 청징 공정에서의 용융 유리 온도를 높게 할 필요가 있으므로, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발이 발생하기 쉽다. 여기서, 본 명세서에 있어서, 무알칼리 유리 기판이란, 알칼리 금속 산화물(Li2O, K2O 및 Na2O)을 실질적으로 함유하지 않는 유리이다. 또한, 미알칼리 유리란, 알칼리 금속 산화물의 함유량(Li2O, K2O 및 Na2O의 합량)이 0 초과 0.8몰% 이하의 유리이다.In the present embodiment, the effect of the present embodiment becomes remarkable if the substrate is a non-alkali glass substrate containing tin oxide or a micro alkali glass substrate containing tin oxide. The alkali-free glass or the alkali-alkali glass has a higher glass viscosity than the alkali glass. Therefore, it is necessary to increase the melting temperature in the melting step, and since a large amount of tin oxide is reduced in the dissolving step, in order to obtain the clarifying effect, the temperature of the molten glass in the refining step is increased, It is also necessary to lower the viscosity of the molten glass. That is, when a non-alkali glass substrate containing tin oxide or a micro alkali glass substrate containing tin oxide is to be produced, it is necessary to raise the temperature of the molten glass in the refining step, so that volatilization of platinum or platinum alloy It is easy to occur. Herein, in the present specification, the alkali-free glass substrate is a glass substantially free of alkali metal oxides (Li 2 O, K 2 O and Na 2 O). The alkali alkali glass is a glass having an alkali metal oxide content (a total amount of Li 2 O, K 2 O and Na 2 O) of more than 0 and less than 0.8 mol%.
본 실시 형태에서 제조되는 유리 기판으로서, 이하의 유리 조성의 유리 기판이 예시된다. 따라서, 이하의 유리 조성을 유리 기판이 갖도록 유리 원료는 조합된다. 본 실시 형태에서 제조되는 유리 기판은, 예를 들어 SiO2 55 내지 75몰%, Al2O3 5 내지 20몰%, B2O3 0 내지 15몰%, RO 5 내지 20몰%(RO는 MgO, CaO, SrO 및 BaO의 합량), R'2O 0 내지 0.4몰%(R'은 Li2O, K2O 및 Na2O의 합량), SnO2 0.01 내지 0.4몰% 함유한다. As the glass substrate manufactured in the present embodiment, a glass substrate having the following glass composition is exemplified. Therefore, the glass raw materials are combined so that the following glass composition is contained in the glass substrate. The glass substrate to be produced in this embodiment is, for example, 55 to 75 mol% of SiO 2 , 5 to 20 mol% of Al 2 O 3 , 0 to 15 mol% of B 2 O 3 , 5 to 20 mol% of RO MgO, CaO, SrO and BaO), R ' 2
이때, SiO2, Al2O3, B2O3 및 RO(R은 Mg, Ca, Sr 및 Ba 중 상기 유리 기판에 함유되는 전체 원소) 중 적어도 어느 하나를 포함하고, 몰비((2×SiO2)+Al2O3)/((2×B2O3)+RO)는 4.0 이상일 수도 있고, 본 실시 형태의 효과인, 기포와 미(未)용해물의 발생을 저감시키는 효과를 달성할 수 있다. 즉, 몰비((2×SiO2)+Al2O3)/((2×B2O3)+RO)는 4.0 이상인 유리는, 고온 점성이 높은 유리의 일례이다. 고온 점성이 높은 유리는, 일반적으로 청징 공정에서의 용융 유리 온도를 높게 할 필요가 있으므로, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발이 발생하기 쉽다. 즉, 이러한 조성을 갖는 유리 기판을 제조하는 경우에는, 용융 유리 중에 백금 또는 백금 합금 등의 응집물이 이물로서 혼입되는 것을 억제한다고 하는 본 실시 형태의 효과는 현저해진다. 또한, 고온 점성이란, 용융 유리가 고온이 될 때의 유리 점성을 나타내고, 여기에서 말하는 고온이란, 예를 들어 1300℃ 이상을 나타낸다.At this time, the glass substrate contains at least any one of SiO 2 , Al 2 O 3 , B 2 O 3 and RO (R is an element contained in the glass substrate among Mg, Ca, Sr and Ba) 2 ) + Al 2 O 3 ) / ((2 x B 2 O 3 ) + RO) may be 4.0 or more, and the effect of reducing the generation of bubbles and non- can do. That is, the glass having a molar ratio ((2 x SiO 2 ) + Al 2 O 3 ) / ((2 x B 2 O 3 ) + RO) of 4.0 or more is an example of a glass having a high- Generally, in a glass having a high temperature viscosity, it is necessary to raise the temperature of the molten glass in the refining step, so that volatilization of platinum or a platinum alloy is likely to occur. That is, in the case of producing a glass substrate having such a composition, the effect of the present embodiment in suppressing the incorporation of aggregates such as platinum or platinum alloy into the molten glass as foreign matters becomes remarkable. The high-temperature viscosity refers to the glass viscosity at a high temperature of the molten glass, and the high temperature referred to herein means, for example, 1300 ° C or higher.
본 실시 형태에 따르면, 유리 기판에 있어서 알칼리 금속 산화물의 함유율이 0 내지 0.8몰%이더라도, 용융 유리 중에 백금 또는 백금 합금 등의 응집물이 이물로서 혼입되는 것을 억제할 수 있다. 알칼리 금속 산화물의 함유율이 작을수록, 고온 점성이 높아지므로, 알칼리 금속 산화물의 함유율이 0 내지 0.8몰%의 유리는, 알칼리 금속 산화물의 함유율이 0.8몰%를 초과하는 유리와 비교하여 고온 점성이 높다. 고온 점성이 높은 유리는, 일반적으로 청징 공정에서의 용융 유리 온도를 높게 할 필요가 있으므로, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발이 발생하기 쉽다. 즉, 이 고온 점성이 높은 유리를 사용할 때에는, 용융 유리 중에 백금 또는 백금 합금 등의 응집물이 이물로서 혼입되는 것을 억제하는 본 실시 형태의 효과는 현저해진다.According to the present embodiment, even if the content of the alkali metal oxide in the glass substrate is 0 to 0.8 mol%, it is possible to suppress the incorporation of aggregates such as platinum or platinum alloy into the molten glass as foreign matters. The lower the content of the alkali metal oxide, the higher the high-temperature viscosity. Thus, the glass having the alkali metal oxide content of 0 to 0.8 mol% has a higher high-temperature viscosity than the glass having the alkali metal oxide content exceeding 0.8 mol% . Generally, in a glass having a high temperature viscosity, it is necessary to raise the temperature of the molten glass in the refining step, so that volatilization of platinum or a platinum alloy is likely to occur. That is, when the glass having a high temperature viscosity is used, the effect of the present embodiment in suppressing the incorporation of aggregates such as platinum or platinum alloy into the molten glass as a foreign matter becomes remarkable.
본 실시 형태에서 사용하는 용융 유리는, 점도가 102.5 푸아즈일 때의 온도는 1500 내지 1700℃인 유리 조성일 수도 있다. 이와 같이, 고온 점성이 높은 유리는, 일반적으로 청징 공정에서의 용융 유리 온도를 높게 할 필요가 있으므로, 백금 또는 백금 합금 등의 휘발이 발생하기 쉽다. 즉, 고온 점성의 유리 조성이더라도, 본 실시 형태의 상기 효과는 현저해진다.The molten glass used in the present embodiment may be a glass composition having a viscosity of 1500 to 1700 占 폚 when the viscosity is 10 2.5 poise. As described above, glass having a high temperature viscosity generally needs to have a high molten glass temperature in the refining step, and therefore volatilization of platinum or a platinum alloy is likely to occur. That is, even if the glass composition has a high-temperature viscosity, the above effect of the present embodiment becomes remarkable.
본 실시 형태에서 사용하는 용융 유리의 변형점은 650℃ 이상일 수도 있고, 660℃ 이상인 것이 보다 바람직하고, 690℃ 이상인 것이 더욱 바람직하고, 730℃ 이상이 특히 바람직하다. 또한, 변형점이 높은 유리는, 점도가 102.5 푸아즈에 있어서 용융 유리의 온도가 높아지는 경향이 있다. 즉, 변형점이 높은 유리 기판을 제조하는 경우일수록, 본 실시 형태의 상기 효과는 현저해진다.The deformation point of the molten glass used in the present embodiment may be 650 ° C or higher, more preferably 660 ° C or higher, more preferably 690 ° C or higher, and particularly preferably 730 ° C or higher. In addition, a glass having a high strain point tends to have a high temperature of the molten glass at a viscosity of 10 2.5 poise. That is, the more the glass substrate having a high strain point is produced, the more remarkable the effect of the present embodiment becomes.
또한, 산화주석을 포함하고, 점도가 102.5 푸아즈일 때의 용융 유리의 온도가 1500℃ 이상이 되는 유리가 되도록 유리 원료를 용해시킨 경우, 보다 본 실시 형태의 상기 효과는 현저해지고, 점도가 102.5 푸아즈일 때의 용융 유리의 온도는, 예를 들어 1500℃ 내지 1700℃이고, 1550℃ 내지 1650℃일 수도 있다.Further, when the glass raw material is melted so as to be a glass containing tin oxide and having a viscosity of 10 2.5 poise and a molten glass temperature of 1500 ° C or higher, the above effect of the present embodiment becomes more remarkable and the viscosity becomes 10 2.5 The temperature of the molten glass in the case of Poisson is, for example, 1500 to 1700 占 폚, and may be 1550 to 1650 占 폚.
본 실시 형태에서 제조되는 유리 기판은, 플랫 패널 디스플레이용 유리 기판을 포함하는 디스플레이용 유리 기판에 적합하다. IGZO(인듐, 갈륨, 아연, 산소) 등의 산화물 반도체를 사용한 산화물 반도체 디스플레이용 유리 기판 및 LTPS(저온도 폴리실리콘) 반도체를 사용한 LTPS 디스플레이용 유리 기판에 적합하다. 또한, 본 실시 형태에서 제조되는 유리 기판은, 알칼리 금속 산화물의 함유량이 매우 적은 것이 요구되는 액정 디스플레이용 유리 기판에 적합하다. 또한, 유기 EL 디스플레이용 유리 기판에도 적합하다. 바꾸어 말하면, 본 실시 형태의 유리 기판의 제조 방법은, 디스플레이용 유리 기판의 제조에 적합하고, 특히 액정 디스플레이용 유리 기판의 제조에 적합하다.The glass substrate manufactured in this embodiment is suitable for a glass substrate for a display including a glass substrate for a flat panel display. It is suitable for glass substrates for oxide semiconductor displays using oxide semiconductors such as IGZO (indium, gallium, zinc, oxygen) and glass substrates for LTPS displays using LTPS (low temperature polysilicon) semiconductors. In addition, the glass substrate produced in this embodiment is suitable for a glass substrate for a liquid crystal display which requires a very small content of alkali metal oxide. It is also suitable for a glass substrate for an organic EL display. In other words, the method of manufacturing a glass substrate of the present embodiment is suitable for manufacturing a glass substrate for a display, and is particularly suitable for manufacturing a glass substrate for a liquid crystal display.
또한, 본 실시 형태에서 제조되는 유리 기판은, 커버 유리, 자기 디스크용 유리, 태양 전지용 유리 기판 등에도 적용하는 것이 가능하다.Further, the glass substrate manufactured in this embodiment can be applied to a cover glass, a glass for a magnetic disk, a glass substrate for a solar cell, and the like.
(실험예 1)(Experimental Example 1)
본 실시 형태의 비 S/L의 제어(조정)의 효과를 확인하기 위해서, 비 S/L를 여러가지로 변화시켜서 용융 유리 중에 혼입된, 백금 또는 백금 합금 등의 응집물을 포함하는 이물의 개수를 검사하는 것을 행하였다.In order to confirm the effect of the control (adjustment) of the non-S / L in the present embodiment, the number of foreign matters including aggregates such as platinum or platinum alloy mixed in the molten glass is checked by varying the ratio S / .
상세하게는, 제조되는 유리 기판이 상기한 유리 조성이 되도록, 용해 장치에 있어서 유리 원료를 용해시켜 용융 유리로 한 후, 청징 장치(102)에서 용융 유리의 청징을 행하였다. 이어서, 균질화, 오버플로우 다운드로우법에 의한 성형, 서냉, 절단을 행하여, 플랫 디스플레이용 유리 기판을 얻었다. 청징 장치(102)의 최고 온도는 1710℃이고, 청징 장치(102)의 최고 온도와 최저 온도와의 차는 250℃였다. 비 S/L를 시간과 함께 여러가지로 변화시킨 경우의 백금 또는 백금 합금 등의 응집물을 포함하는 이물의 관계를, 도 6에 나타내었다(도 6 중의 횡축은 시간임). 도 6은, 비 S/L와 결점 밀도의 관계를 나타내는 도면이다. 도면 중의 결점 밀도란, 단위 중량당의 백금 또는 백금 합금 등의 응집물 수를 나타내고 있다. 도 6에서는, 가장 결점 밀도가 큰 경우를 1로 하고, 그 밖의 경우에 대하여 결점 밀도를 비로 나타내고 있다. 도 6 중의 점선은 결함 밀도비의 근사 곡선이다. 도 6에 나타내는 바와 같이, 비 S/L를 17[m] 이상으로 하면, 결점 밀도비를 0.5 이하로 할 수 있었다. 또한, 비 S/L를 25[m] 이상으로 하면 결점 밀도비를 0.3 이하로 할 수 있었다.Specifically, the glass raw material in the dissolving apparatus was melted and made into molten glass so that the glass substrate to be produced had the above-mentioned glass composition, and then the molten glass was refined in the
(실험예 2)(Experimental Example 2)
본 실시 형태의 액면 수준의 제어(조정)의 효과를 확인하기 위해서, 용융 유리의 액면 수준을 여러 가지로 변화시켜서 용융 유리 중에 혼입된, 백금 또는 백금 합금 등의 응집물을 포함하는 이물의 개수를 검사하는 것을 행하였다.In order to confirm the effect of the level control (adjustment) of the liquid level in this embodiment, the liquid level of the molten glass is varied in various ways to check the number of foreign matters including aggregates such as platinum or platinum alloy incorporated in the molten glass .
상세하게는, 제조되는 유리 기판이 상기한 조성이 되도록, 용해 장치에 있어서 유리 원료를 용해시켜 용융 유리로 한 후, 청징 장치에서 용융 유리의 청징을 행하였다. 이어서, 교반, 오버플로우 다운드로우법에 의한 성형, 서냉, 절단을 행하여, 플랫 디스플레이용 유리 기판을 얻었다. 청징 장치의 최고 온도는 1710℃이고, 청징 장치의 최고 온도와 최저 온도와의 차는 250℃였다. 액면 수준이 목표 액면 수준 A의 범위가 되도록 제어(조정)하여 제조한 100장의 유리 기판을 검사한 바, 액면 수준이 목표 액면 수준 A의 범위 내가 되도록 제어(조정)하지 않아, 목표 액면 수준 A보다 작아진 경우로 제조된 100장의 유리 기판과 비교하여, 백금 결함수를 1/3 이하로 할 수 있었다.Specifically, the glass raw material in the dissolving apparatus was melted and made into molten glass so that the glass substrate to be produced had the above composition, and then the molten glass was refined in the refining apparatus. Subsequently, molding by stirring, overflow down-draw method, gradual cooling and cutting were carried out to obtain a glass substrate for a flat display. The maximum temperature of the clarifying apparatus was 1710 캜, and the difference between the maximum temperature and the minimum temperature of the purifying apparatus was 250 캜. (100) glass substrates manufactured by controlling (adjusting) the liquid level to a range of the target liquid level A, the liquid level is not controlled (adjusted) so as to be within the range of the target liquid level A, The number of platinum defects can be reduced to 1/3 or less as compared with that of 100 glass substrates produced in the case of smaller size.
이상, 본 발명의 유리 기판 제조 방법, 유리 기판 제조 장치 및 용융 유리 처리 장치에 대하여 상세하게 설명했지만, 본 발명은 상기 실시 형태로 한정되지 않고, 본 발명의 주지를 벗어나지 않는 범위에서, 다양한 개량이나 변경을 할 수도 있는 것은 물론이다.Although the glass substrate manufacturing method, the glass substrate manufacturing apparatus, and the molten glass processing apparatus of the present invention have been described in detail above, the present invention is not limited to the above-described embodiments, and various modifications and improvements can be made without departing from the gist of the present invention. It is of course possible to make changes.
100 용융 유리 생성 장치
101 용해 장치
101d 스크루 피더
102 청징 장치
102a 청징관
102b 통기관
103 교반 장치
103a 교반기
104, 105, 106 유리 공급관
200 성형 장치
210 성형체
300 절단 장치100 Melting Glass Generator
101 Dissolution apparatus
101d screw feeder
102 Clarification apparatus
102a purifying pipe
102b vent
103 Stirring apparatus
103a stirrer
104, 105, 106 Glass feed pipe
200 molding device
210 shaped body
300 cutting device
Claims (15)
상기 용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치에 있어서 상기 용융 유리를 처리하는 처리 공정을 갖고,
상기 처리 공정에 있어서, 상기 용융 유리 처리 장치의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 내벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비를 제어하는 것을 특징으로 하는 유리 기판의 제조 방법.A melting step of melting a glass raw material to produce a molten glass;
A molten glass processing apparatus composed of a material having a liquid phase of the molten glass and at least a part of the inner wall surrounding the gas phase being made of a material containing a platinum group metal, And a processing step of,
The ratio of the area of the platinum group metal on the inner wall contacting the vapor phase space to the volume of the vapor phase space is controlled so as to reduce the volatilization of the platinum group metal in the molten glass processing apparatus. Wherein the glass substrate is a glass substrate.
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 공정과,
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된 용융 유리 처리 장치에 있어서 상기 용융 유리를 처리하는 처리 공정과,
상기 처리 공정에서 처리된 용융 유리를 시트 유리로 성형하는 성형 공정을 갖고,
미리 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준과의 상관 관계를 구하고, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준을 기준 액면 수준으로서 결정하고, 상기 처리 공정에서는, 상기 기준 액면 수준에 기초하여 상기 액면 수준을 제어하는 것을 특징으로 하는 유리 기판의 제조 방법.A method of manufacturing a glass substrate,
A melting step of melting a glass raw material to produce a molten glass;
1. A molten glass treatment apparatus comprising a vapor phase space formed by a liquid surface and an inner wall of a molten glass and a liquid phase of the molten glass and at least a part of an inner wall surrounding the vapor phase is made of a material containing a platinum group metal, A processing step of processing the substrate,
And a molding step of molding the molten glass processed in the processing step into a sheet glass,
A correlation between the number of platinum defects in advance and the level of the liquid level of the molten glass processing apparatus is determined in advance and the level of the liquid level of the molten glass processing apparatus corresponding to the allowable value of the number of platinum defects is determined as the reference level level, Wherein the level of the liquid level is controlled based on the reference liquid level.
(1) 상기 기상 공간 중의 산소 농도,
(2) 상기 용융 유리 처리 장치의 상기 내벽의 최고 온도,
(3) 상기 용융 유리로부터 상기 기상 공간에 방출되는 산소 방출량,
(4) 상기 용해 공정에서의 상기 용융 유리의 최고 온도와, 상기 처리 공정에서의 상기 용융 유리의 최고 온도와의 온도차, 및
(5) 상기 기상 공간에 있어서의 상기 백금족 금속의 증기압
중 적어도 하나에 기초하여 결정되는 값인, 유리 기판의 제조 방법.The method of claim 1,
(1) the oxygen concentration in the vapor phase space,
(2) the maximum temperature of the inner wall of the molten glass processing apparatus,
(3) an amount of oxygen released from the molten glass to the vapor phase space,
(4) a temperature difference between the maximum temperature of the molten glass in the dissolution step and the maximum temperature of the molten glass in the processing step, and
(5) the vapor pressure of the platinum group metal in the vapor phase space
Wherein the glass substrate is a value determined based on at least one of the following.
(1) 상기 기상 공간 중의 산소 농도,
(2) 상기 용융 유리 처리 장치의 상기 내벽의 최고 온도,
(3) 상기 용융 유리로부터 상기 기상 공간에 방출되는 산소 방출량,
(4) 상기 용해 공정에서의 상기 용융 유리의 최고 온도와, 상기 처리 공정에서의 상기 용융 유리의 최고 온도와의 온도차, 및
(5) 상기 기상 공간에 있어서의 상기 백금족 금속의 증기압
중 적어도 하나에 기초하여 결정되는 값인, 유리 기판의 제조 방법.5. The method of claim 4, wherein the reference face level is
(1) the oxygen concentration in the vapor phase space,
(2) the maximum temperature of the inner wall of the molten glass processing apparatus,
(3) an amount of oxygen released from the molten glass to the vapor phase space,
(4) a temperature difference between the maximum temperature of the molten glass in the dissolution step and the maximum temperature of the molten glass in the processing step, and
(5) the vapor pressure of the platinum group metal in the vapor phase space
Wherein the glass substrate is a value determined based on at least one of the following.
상기 기상 공간 내의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비를 제어하는 제어부를 구비한 것을 특징으로 하는 용융 유리 처리 장치.1. A molten glass processing apparatus comprising a vapor phase space formed by a liquid surface and an inner wall of a molten glass and a liquid phase of molten glass and at least a part of an inner wall surrounding the vapor phase comprises a platinum group metal,
And a control section for controlling a ratio of an area of the platinum group metal in the wall contacting the vapor space to a volume of the vapor space so as to reduce the volatilization of the platinum group metal in the vapor space. Device.
상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준을 미리 결정된 기준 액면 수준이 되도록 제어하는 제어부를 갖고,
상기 제어부는 상기 기준 액면 수준을, 미리 구한 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준과의 상관 관계에 기초하여, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준으로서 결정하는 것을 특징으로 하는 용융 유리 처리 장치.1. A molten glass processing apparatus comprising a vapor phase space formed by a liquid surface and an inner wall of a molten glass and a liquid phase of molten glass and at least a part of an inner wall surrounding the vapor phase comprises a platinum group metal,
And a control unit for controlling the liquid level of the molten glass processing apparatus to be a predetermined reference liquid level,
The control unit determines the reference liquid level as the liquid level of the glass melt processing apparatus corresponding to the allowable value of the number of platinum defects based on the correlation between the number of platinum defects obtained in advance and the liquid level of the glass melt processing apparatus Wherein the molten glass is a molten glass.
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 장치와,
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된, 상기 용융 유리를 처리하는 용융 유리 처리 장치와,
상기 용융 유리 처리 장치에서 처리된 용융 유리를 시트 유리로 성형하는 성형 장치와,
상기 용융 유리 처리 장치의 상기 백금족 금속의 휘발을 저감시키도록, 상기 기상 공간과 접하는 상기 내벽의 상기 백금족 금속의 면적과 상기 기상 공간의 부피와의 비를 제어하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 제조 장치.A glass substrate manufacturing apparatus comprising:
A melting apparatus for melting glass raw materials to produce molten glass,
A vapor phase space formed by the liquid surface and the inner wall of the molten glass; a molten glass treatment for treating the molten glass, wherein the molten glass has a liquid phase and at least a part of the inner wall surrounding the vapor phase is made of a material containing a platinum group metal [0001]
A molding apparatus for molding the molten glass processed in the molten glass processing apparatus into a sheet glass,
And a control section for controlling the ratio of the area of the platinum group metal on the inner wall contacting the vapor space to the volume of the vapor space so as to reduce volatilization of the platinum group metal of the molten glass processing apparatus Substrate manufacturing apparatus.
유리의 원료를 용해시켜 용융 유리를 생성하는 용해 장치와,
용융 유리의 액면과 내벽으로 형성되는 기상 공간과, 상기 용융 유리의 액상을 갖고, 상기 기상 공간을 둘러싸는 내벽의 적어도 일부가 백금족 금속을 포함하는 재료로 구성된, 상기 용융 유리를 처리하는 용융 유리 처리 장치와,
상기 용융 유리 처리 장치에서 처리된 용융 유리를 시트 유리로 성형하는 성형 장치와,
상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준은 미리 결정된 기준 액면 수준이 되도록 제어하는 제어부를 구비하고,
상기 제어부는 상기 기준 액면 수준을, 미리 구한 백금 결함수와 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준과의 상관 관계에 기초하여, 백금 결함수의 허용치에 대응하는 상기 용융 유리 처리 장치의 액면 수준으로서 결정하는 것을 특징으로 하는 유리 기판 제조 장치.A glass substrate manufacturing apparatus comprising:
A melting apparatus for melting glass raw materials to produce molten glass,
A vapor phase space formed by the liquid surface and the inner wall of the molten glass; a molten glass treatment for treating the molten glass, wherein the molten glass has a liquid phase and at least a part of the inner wall surrounding the vapor phase is made of a material containing a platinum group metal [0001]
A molding apparatus for molding the molten glass processed in the molten glass processing apparatus into a sheet glass,
And a control unit for controlling the liquid level of the molten glass processing apparatus to be a predetermined reference liquid level,
The control unit determines the reference liquid level as the liquid level of the glass melt processing apparatus corresponding to the allowable value of the number of platinum defects based on the correlation between the number of platinum defects obtained in advance and the liquid level of the glass melt processing apparatus Wherein the glass substrate is a glass substrate.
Applications Claiming Priority (4)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2013205487 | 2013-09-30 | ||
| JP2013204617 | 2013-09-30 | ||
| JPJP-P-2013-205487 | 2013-09-30 | ||
| JPJP-P-2013-204617 | 2013-09-30 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20150037609A true KR20150037609A (en) | 2015-04-08 |
| KR101636147B1 KR101636147B1 (en) | 2016-07-04 |
Family
ID=52788914
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020140129952A Active KR101636147B1 (en) | 2013-09-30 | 2014-09-29 | Method for manufacturing glass substrate, apparatus for manufacturing glass substrate, and molten glass processing device |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP5864690B2 (en) |
| KR (1) | KR101636147B1 (en) |
| CN (1) | CN104512995B (en) |
| TW (1) | TWI545096B (en) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2016176073A1 (en) * | 2015-04-29 | 2016-11-03 | Corning Incorporated | Glass manufacturing apparatus and methods |
| JP6752036B2 (en) * | 2016-03-31 | 2020-09-09 | AvanStrate株式会社 | Glass substrate manufacturing method and glass substrate manufacturing equipment |
| JP6499250B2 (en) * | 2016-09-30 | 2019-04-10 | AvanStrate株式会社 | Glass substrate manufacturing method and glass substrate manufacturing apparatus |
| JP6975401B2 (en) * | 2017-09-13 | 2021-12-01 | 日本電気硝子株式会社 | Manufacturing method of glass articles |
| WO2020009143A1 (en) * | 2018-07-04 | 2020-01-09 | 日本電気硝子株式会社 | Method and device for manufacturing glass article, and glass substrate |
| US11919800B2 (en) | 2018-09-27 | 2024-03-05 | Corning Incorporated | Modular molten glass delivery apparatus |
| WO2020068569A1 (en) | 2018-09-27 | 2020-04-02 | Corning Incorporated | Glass forming apparatuses comprising modular glass fining systems |
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Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5769574B2 (en) * | 2011-09-30 | 2015-08-26 | AvanStrate株式会社 | Manufacturing method of glass plate |
| JP2013075756A (en) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Before After Group:Kk | Cable storage equipment and cable set provided with the same |
-
2014
- 2014-09-25 JP JP2014194684A patent/JP5864690B2/en active Active
- 2014-09-26 TW TW103133628A patent/TWI545096B/en active
- 2014-09-29 CN CN201410514398.0A patent/CN104512995B/en active Active
- 2014-09-29 KR KR1020140129952A patent/KR101636147B1/en active Active
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW201522255A (en) | 2015-06-16 |
| JP5864690B2 (en) | 2016-02-17 |
| JP2015091745A (en) | 2015-05-14 |
| KR101636147B1 (en) | 2016-07-04 |
| CN104512995B (en) | 2017-05-03 |
| TWI545096B (en) | 2016-08-11 |
| CN104512995A (en) | 2015-04-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20140929 |
|
| PA0201 | Request for examination | ||
| PG1501 | Laying open of application | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20151112 Patent event code: PE09021S01D |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20160525 |
|
| GRNT | Written decision to grant | ||
| PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20160628 Patent event code: PR07011E01D |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20160628 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190530 Year of fee payment: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20190530 Start annual number: 4 End annual number: 4 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20200528 Start annual number: 5 End annual number: 5 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20210527 Start annual number: 6 End annual number: 6 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20220517 Start annual number: 7 End annual number: 7 |
|
| PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20240617 Start annual number: 9 End annual number: 9 |