KR20140112954A - Debugging connector for printed circuit board - Google Patents
Debugging connector for printed circuit board Download PDFInfo
- Publication number
- KR20140112954A KR20140112954A KR1020130027684A KR20130027684A KR20140112954A KR 20140112954 A KR20140112954 A KR 20140112954A KR 1020130027684 A KR1020130027684 A KR 1020130027684A KR 20130027684 A KR20130027684 A KR 20130027684A KR 20140112954 A KR20140112954 A KR 20140112954A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- circuit board
- body portion
- printed circuit
- connection pin
- socket housing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/02—Contact members
- H01R13/22—Contacts for co-operating by abutting
- H01R13/24—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted
- H01R13/2407—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means
- H01R13/2421—Contacts for co-operating by abutting resilient; resiliently-mounted characterized by the resilient means using coil springs
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
- H01R13/62—Means for facilitating engagement or disengagement of coupling parts or for holding them in engagement
- H01R13/623—Casing or ring with helicoidal groove
Landscapes
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
Abstract
인쇄회로기판용 디버깅 커넥터가 개시된다. 본 발명의 실시 예에 따른 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터는 시험을 위하여 외부 디버거장치와 전기적 접속을 위한 적어도 하나 이상의 단자를 갖는 회로기판과, 복수의 단자 주변을 감싸도록 회로기판에 설치되며 외주면에 나사산을 갖는 중공의 원통 형상의 소켓 하우징 및 적어도 하나 이상의 단자와 접속되는 적어도 하나 이상의 테스트 접속핀을 구비한 고정바디부와, 고정바디부 외측에 회전 가능하게 결합되며 소켓 하우징과 나사 체결되는 회전바디부를 포함한 원통 형상의 플러그 하우징을 포함한다.A debugging connector for a printed circuit board is disclosed. A debugging connector for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention includes a circuit board having at least one terminal for electrical connection with an external debugger for testing, a circuit board mounted on the circuit board to surround the plurality of terminals, And at least one test connection pin connected to at least one of the terminals, a rotating body part rotatably coupled to the outside of the fixed body part and screwed to the socket housing, The plug housing includes a cylindrical plug housing.
Description
본 발명은 테스트를 위해 사용되는 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터에 관한 것이다. The present invention relates to a debugging connector for a printed circuit board used for testing.
일반적으로 인쇄회로기판에 인쇄된 집적 회로는 고객에게 출하되기 전에 테스트(test)를 실시하여 정상 작동여부에 대한 검증을 실시한다. 이러한 테스트를 수행하기 위하여는 인쇄회로기판에 솔더링 타입의 별도의 디버깅 커넥터를 사용하여 디버깅용 샘플을 따로 제작하거나 이미 제작된 샘플의 경우에는 디버깅이 어려운 문제가 있었다.In general, an integrated circuit printed on a printed circuit board performs a test before it is shipped to the customer and verifies whether it is operating normally. In order to perform such a test, there is a problem that it is difficult to separately produce a debugging sample by using a soldering type of debugging connector on a printed circuit board, or to debug in the case of an already prepared sample.
본 발명의 실시 예들은 착탈이 간편한 디버깅 커넥터를 제공하고자 한다.Embodiments of the present invention are intended to provide a debugging connector that is easy to attach and detach.
본 발명의 해결하고자 하는 과제들은 이상에서 언급한 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The problems to be solved by the present invention are not limited to the above-mentioned problems, and other matters not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.
본 발명의 일 측면에 따르면, 시험을 위하여 외부 디버거장치와 전기적 접속을 위한 적어도 하나 이상의 단자를 갖는 회로기판과, 상기 복수의 단자 주변을 감싸도록 상기 회로기판에 설치되며 외주면에 나사산을 갖는 중공의 원통 형상의 소켓 하우징과, 상기 적어도 하나 이상의 단자와 접속되는 적어도 하나 이상의 테스트 접속핀을 구비한 고정바디부와, 상기 고정바디부 외측에 회전 가능하게 결합되며 상기 소켓 하우징과 나사 체결되는 회전바디부를 포함한 원통 형상의 플러그 하우징을 포함하는 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터를 제공하고자 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a circuit board comprising: a circuit board having at least one terminal for electrical connection with an external debugger device for testing; a hollow circuit board having a thread on the outer circumferential surface of the circuit board to surround the plurality of terminals; A fixed body portion having a cylindrical socket housing and at least one test connection pin connected to the at least one terminal; a rotating body portion rotatably coupled to the fixed body portion and screwed to the socket housing; The present invention also provides a debugging connector for a printed circuit board including a cylindrical plug housing.
또한 상기 고정바디부에는 상기 적어도 하나 이상의 테스트 접속핀과 평행하게 배치되며 상기 플러그 하우징이 상기 소켓 하우징에 체결시 상기 소켓하우징에 형성된 가이드홀에 삽입되는 가이드핀이 마련될 수 있다.The fixed body may be provided with a guide pin disposed parallel to the at least one test connection pin and inserted into a guide hole formed in the socket housing when the plug housing is fastened to the socket housing.
또한 상기 고정바디부에는 상기 적어도 하나 이상의 테스트 접속핀의 단부를 각각 수용하는 홀더가 마련되고, 상기 홀더에는 상기 테스트 접속핀이 상기 적어도 하나 이상의 단자를 가압하는 방향으로 탄성 지지하는 탄성부재가 구비될 수 있다.The fixing body may be provided with a holder for receiving the end portions of the at least one test connection pin, and the holder may include an elastic member elastically supporting the test connection pin in a direction to press the at least one terminal .
또한 상기 고정바디부와 상기 회전바디부 사이에 배치되는 베어링부재를 더 포함한다.And a bearing member disposed between the fixed body portion and the rotating body portion.
본 발명의 실시 예들은 착탈 가능한 디버깅 커넥터를 이용하여 디버깅을 용이하게 수행할 수 있게 된다. The embodiments of the present invention can easily perform debugging using a detachable debugging connector.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터가 분리된 상태를 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터의 플러그 하우징을 도시한 사시도이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터의 체결과정을 도시한 것이다.1 is a perspective view illustrating a state in which a debugging connector for a printed circuit board is detached according to an embodiment of the present invention.
2 is a perspective view illustrating a plug housing of a debugging connector for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 illustrates a fastening process of a debugging connector for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.
이하에서는 본 발명의 실시 예들을 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 이하에 소개되는 실시 예들은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 본 발명은 이하 설명되는 실시 예들에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 본 발명을 명확하게 설명하기 위하여 설명과 관계없는 부분은 도면에서 생략하였으며 도면들에 있어서, 구성요소의 폭, 길이, 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. The embodiments described below are provided by way of example so that those skilled in the art will be able to fully understand the spirit of the present invention. The present invention is not limited to the embodiments described below, but may be embodied in other forms. In order to clearly explain the present invention, parts not related to the description are omitted from the drawings, and the width, length, thickness, etc. of the components may be exaggerated for convenience. Like reference numerals designate like elements throughout the specification.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터가 분리된 상태를 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터의 플러그 하우징을 도시한 사시도이고, 도 3은 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터의 체결과정을 도시한 것이다.2 is a perspective view illustrating a plug housing of a debugging connector for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a perspective view showing a plug housing of a debugging connector for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is a view illustrating a process of fastening a debugging connector for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터는 회로기판(10)의 일측에 구비되는 소켓 하우징(20)과, 소켓 하우징(20)에 나사 결합되는 플러그 하우징(30)을 포함한다.1 to 3, a debugging connector for a printed circuit board according to an embodiment of the present invention includes a
회로기판(10)에는 차량용 게이터, 전방 카메라 등과 같은 동작 수행을 위한 집적회로(IC) 및 전자 어셈블리들이 실장되고, 회로기판(10)의 일측에는 외부 디버거장치(미도시)가 집적회로(IC)의 내부 컴포넌트들에 액세스하기 위한 적어도 하나 이상의 단자(13, 도3참조)가 구비될 수 있다.An integrated circuit (IC) and electronic assemblies for performing operations such as a vehicle gater and a front camera are mounted on the
디버거장치(미도시)는 집적회로(IC) 및 그것의 컴포넌트들의 다양한 유형의 테스트를 수행하도록 동작할 수 있는 컴퓨터 시스템 또는 다른 유형의 테스트 장비일 수 있다. 이러한 디버거장치는 집적회로(IC) 및 집적회로에서 실행되도록 작성된 소프트웨어를 디버그하는데에 이용될 수 있다. 여기서 디버그는 집적회로 내에 임의의 하드웨어 에러가 존재하는지를 결정하는 것을 포함하거나 소프트웨어가 집적회로 상에서 올바르게 실행되는지 여부를 결정하는 것을 포함한다.The debugger device (not shown) may be a computer system or other type of test equipment that is operable to perform various types of testing of the integrated circuit (IC) and its components. Such a debugger device may be used to debug software written to run on an integrated circuit (IC) and integrated circuit. Wherein the debug includes determining whether any hardware errors are present in the integrated circuit or determining whether the software is executed correctly on the integrated circuit.
소켓 하우징(20)은 적어도 하나 이상의 단자(13) 주변을 감싸도록 회로기판(10)에 설치되는 내부가 빈 중공의 원통 형상으로 형성될 수 있고, 그 외주면에는 나사산(23)이 형성될 수 있다.The
본 실시 예에서는 도시하지 않았으나 소켓 하우징(20)의 중공 부분은 차량용 부품 기구의 한 부분인 공기 유통 및 수분 차단을 위하여 이용되는 브레더 홀(breather hole)일 수 있다.Although not shown in the present embodiment, the hollow portion of the
플러그 하우징(30)은 외부 디버거장치와 전기적 접속을 위한 케이블(40)이 연결되는 대략 원통 형상의 고정바디부(31)와, 고정바디부(31)를 감싸며 고정바디부(31)의 외주면에 회전 가능하게 결합되는 원통 형상의 회전바디부(32)로 구성될 수 있다.The
고정바디부(31)와 회전바디부(32) 사이에는 회전바디부(32)의 원활한 회전을 위하여 베어링부재(36)가 배치될 수 있다.A
고정바디부(31)는 하측으로 갈수록 직경이 점진적으로 줄어드는 원통 형상으로 이루어질 수 있고, 케이블(40)과 전기적 연결되며 회로기판(10)에 구비된 적어도 하나 이상의 단자(13)와 접속되는 적어도 하나 이상의 테스트 접속핀(34)이 연장 형성될 수 있다.The
회전바디부(32)는 고정바디부(31)를 내부에 수용하며 하측이 개방된 중공의 원통 형상으로 이루어질 수 있고, 회전바디부(32)의 내주면에는 소켓하우징(20)의 나사산(23)과 나사 결합되기 위한 암나사부(35)가 형성될 수 있다.The
또 고정바디부(31)에는 플러그 하우징(30)이 소켓 하우징(20)에 나사 체결 방식으로 결합되는 경우 테스트 접속핀(34)과 단자(13)와의 접속 위치를 가이드 하기 위한 가이드핀(33)이 테스트 접속핀(34)과 평행하게 연장 형성될 수 있다.A
가이드핀(33)은 도 3에 도시된 바와 같이 플러그하우징(30)이 소켓하우징(20)에 나사 체결 방식으로 결합되는 경우 소켓하우징(20)에 형성된 가이드홀(21)에 삽입되어 고정바디부(31)의 회전을 구속함과 아울러 테스트 접속핀(34)이 회로기판(10)에 마련된 단자(13)와 정확히 접촉되도록 안내하게 된다.3, the
가이드홀(21)은 가이드핀(33)과 대응하는 위치의 소켓하우징(20)과 회로기판(10)에 관통되어 형성될 수 있고, 또는 소켓하우징(20) 내부가 가이드핀(33)과 간섭되지 않는 경우에는 회로기판(10)에만 형성될 수 있음은 물론이다.The
테스트 접속핀(34)은 회로기판(10)에 형성된 단자(13)와 대응하는 수를 가지고, 가공 오차 등에 따라 플러그하우징(30)과 소켓하우징(20)의 결합시 테스트 접속핀(34)이 구부러지는 것을 방지하기 위하여 상하방향으로 슬라이딩 이동 가능하게 구비될 수 있다. 즉 도 3(c)에 도시된 바와 같이 테스트 접속핀(34)의 상단은 탄성부재(38)에 지지된 상태로 고정바디부(31)의 하단에 연장 형성된 홀더(37)에 수용된 상태로 배치되어 테스트 접속핀(34)이 단자(13)와 접촉시 상방향으로 이동 가능하게 구비될 수 있다.The
탄성부재(38)는 테스트 접속핀(34)이 단자(13)를 가압하는 방향으로 테스트 접속핀(34)을 탄성 지지하는 압축 코일스프링으로 이루어질 수 있다.The
이러한 구성을 통하여, 회로기판(10)은 도 3에 도시한 바와 같이 플러그 하우징(30)이 소켓 하우징(20)에 나사 결합 방식으로 체결되는 경우 테스트 접속핀(34)과 단자(13)와의 접촉이 용이하게 이루어져 외부 디버거장치와 연결됨에 따라 별도의 디버깅용 샘플을 따로 제작할 필요 없이 테스트를 원활히 수행할 수 있게 된다..3, when the
이상에서는 특정의 실시 예에 대하여 도시하고 설명하였다. 그러나 상기한 실시 예에만 한정되지 않으며 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이하의 청구범위에 기재된 발명의 기술적 사상의 요지를 벗어남이 없이 얼마든지 다양하게 변경 실시할 수 있을 것이다.The foregoing has shown and described specific embodiments. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as defined in the appended claims.
10: 회로기판, 13: 단자,
20: 소켓 하우징, 21: 가이드홀,
23: 나사산, 30: 플러그 하우징,
31: 고정바디부, 32: 회전바디부,
33: 가이드핀, 34: 테스트 접속핀,
35: 암나사부, 36: 베어링부재,
40: 케이블. 10: circuit board, 13: terminal,
20: socket housing, 21: guide hole,
23: thread, 30: plug housing,
31: fixed body part, 32: rotating body part,
33: guide pin, 34: test connection pin,
35: female thread portion, 36: bearing member,
40: Cable.
Claims (4)
상기 복수의 단자 주변을 감싸도록 상기 회로기판에 설치되며 외주면에 나사산을 갖는 중공의 원통 형상의 소켓 하우징; 및
상기 적어도 하나 이상의 단자와 접속되는 적어도 하나 이상의 테스트 접속핀을 구비한 고정바디부와, 상기 고정바디부 외측에 회전 가능하게 결합되며 상기 소켓 하우징과 나사 체결되는 회전바디부를 포함한 원통 형상의 플러그 하우징;을 포함하는 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터.A circuit board having at least one terminal for electrical connection with an external debugger device for testing;
A hollow cylindrical socket housing provided on the circuit board to surround the plurality of terminals and having threads on an outer circumferential surface thereof; And
A tubular plug housing having a fixed body portion having at least one test connection pin connected to the at least one terminal and a rotating body portion rotatably coupled to the fixed body portion and screwed into the socket housing; And a connector for connecting the printed circuit board to the printed circuit board.
상기 고정바디부에는 상기 적어도 하나 이상의 테스트 접속핀과 평행하게 배치되며 상기 플러그 하우징이 상기 소켓 하우징에 체결시 상기 소켓하우징에 형성된 가이드홀에 삽입되는 가이드핀이 마련되는 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터.The method according to claim 1,
Wherein the fixed body portion is provided with a guide pin which is disposed in parallel with the at least one test connection pin and is inserted into a guide hole formed in the socket housing when the plug housing is fastened to the socket housing.
상기 고정바디부에는 상기 적어도 하나 이상의 테스트 접속핀의 단부를 각각 수용하는 홀더가 마련되고, 상기 홀더에는 상기 테스트 접속핀이 상기 적어도 하나 이상의 단자를 가압하는 방향으로 탄성 지지하는 탄성부재가 구비되는 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터. 3. The method of claim 2,
Wherein the fixing body portion is provided with a holder for receiving the ends of the at least one test connection pin, and the holder includes an elastic member elastically supporting the test connection pin in a direction to press the at least one terminal, Debugging connector for circuit board.
상기 고정바디부와 상기 회전바디부 사이에 배치되는 베어링부재를 더 포함하는 인쇄회로기판용 디버깅 커넥터.The method of claim 3,
And a bearing member disposed between the fixed body portion and the rotating body portion.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020130027684A KR20140112954A (en) | 2013-03-15 | 2013-03-15 | Debugging connector for printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020130027684A KR20140112954A (en) | 2013-03-15 | 2013-03-15 | Debugging connector for printed circuit board |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20140112954A true KR20140112954A (en) | 2014-09-24 |
Family
ID=51757648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020130027684A Withdrawn KR20140112954A (en) | 2013-03-15 | 2013-03-15 | Debugging connector for printed circuit board |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20140112954A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20200144749A (en) | 2019-06-19 | 2020-12-30 | 현대오트론 주식회사 | Overmolding electronic control unit having test pin module |
| US12431664B2 (en) | 2021-04-28 | 2025-09-30 | Lg Energy Solution, Ltd. | Connector |
-
2013
- 2013-03-15 KR KR1020130027684A patent/KR20140112954A/en not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20200144749A (en) | 2019-06-19 | 2020-12-30 | 현대오트론 주식회사 | Overmolding electronic control unit having test pin module |
| US12431664B2 (en) | 2021-04-28 | 2025-09-30 | Lg Energy Solution, Ltd. | Connector |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7714569B2 (en) | Adaptor for electrical connector | |
| TWI706138B (en) | Probe | |
| KR101741474B1 (en) | contacting device for testing | |
| US7466562B2 (en) | Toolless method for alignment, retention, connection, termination and test on printed circuit boards | |
| KR200471076Y1 (en) | Socket for testing electronics | |
| CN101562303B (en) | Quick-speed plug connector assembly for testing | |
| US10297961B2 (en) | Coaxial cable connector and coaxial connector device | |
| KR20140112954A (en) | Debugging connector for printed circuit board | |
| KR101444787B1 (en) | Socket for testing electronics | |
| US9088080B2 (en) | Frame ground connection | |
| CN102496810A (en) | Connector with reinforced shielding shell | |
| JP6082608B2 (en) | Terminal mounting base, speaker terminals, and audio equipment | |
| CN103674485B (en) | Photodetector parameter testing jig and method of testing | |
| CN204731401U (en) | A kind of electric energy meter Quick Connect Kit and checkout equipment | |
| JP2015184260A (en) | Physical quantity measuring device | |
| CN203365488U (en) | Probe type connector detection apparatus | |
| CN200976400Y (en) | Electrical connector | |
| KR20220011962A (en) | Pin block device for printed circuit board testing apparatus | |
| JP6459022B2 (en) | Connector guide structure and guide member | |
| CN106324298B (en) | A lighting test device | |
| KR200192613Y1 (en) | Connecting pin frame for connector inspecting device | |
| JP6054197B2 (en) | Connector module reinforcement device | |
| KR101280461B1 (en) | Memory module installing and separating jig | |
| CN202034626U (en) | Rectangular connector assembly with matched identification structure | |
| JP2020008387A (en) | Electrical continuity inspection jig |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| N231 | Notification of change of applicant | ||
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P22-nap-X000 |
|
| P22-X000 | Classification modified |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P22-nap-X000 |
|
| PC1203 | Withdrawal of no request for examination |
St.27 status event code: N-1-6-B10-B12-nap-PC1203 |
|
| WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid | ||
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| PN2301 | Change of applicant |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301 St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301 |
|
| R18 | Changes to party contact information recorded |
Free format text: ST27 STATUS EVENT CODE: A-3-3-R10-R18-OTH-X000 (AS PROVIDED BY THE NATIONAL OFFICE) |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |