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KR20140003307U - Scanning device for measuring characteristics of a sheet of material - Google Patents

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KR20140003307U
KR20140003307U KR2020147000008U KR20147000008U KR20140003307U KR 20140003307 U KR20140003307 U KR 20140003307U KR 2020147000008 U KR2020147000008 U KR 2020147000008U KR 20147000008 U KR20147000008 U KR 20147000008U KR 20140003307 U KR20140003307 U KR 20140003307U
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South Korea
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measuring
scanning
heads
sheet material
measuring device
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KR2020147000008U
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Korean (ko)
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장-자끄 플로랑
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스캔테끄
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Abstract

본 발명은 시트 재료 (M) 의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 디바이스 (10) 에 관한 것이고, 스캐닝 디바이스 (10) 는 측방향 업라이트 (12, 13) 및 시트 재료 (M) 의 특성이 측정되게 허용하도록 상호 마주보는 제 1 및 제 2 측정 헤드들 (17, 18) 를 안내하도록 배열된 두개의 횡방향 안내 크로스피스들 (14, 15) 이 제공된 프레임 (11) 을 포함하고, 각각의 측정 헤드는 상기 특성을 측정할 수 있는 센서를 포함하고, 그 각각의 센서를 갖는 각각의 측정 헤드 (17, 18) 는 스캔 경로 (T) 를 따라 안내 크로스피스 (14, 15) 상에서 이동 가능하게 장착된다. 측방향 업라이트 (12, 13) 는 상기 측방향의 업라이트 (12, 13) 에 고정된 안내 크로스피스 (14, 15) 의 단부에 있을 때 측정 헤드 (17, 18) 의 적어도 하나의 부분에 수용할 수 있는 적어도 하나의 세트백들 (21, 22) 을 규정하도록 프로파일을 갖는다The present invention relates to a scanning device 10 for measuring the properties of a sheet material M and the scanning device 10 is adapted to allow the properties of the lateral upright 12,13 and sheet material M to be measured (11) provided with two transverse guiding crosspieces (14, 15) arranged to guide mutually opposing first and second measuring heads (17, 18), each measuring head Characterized in that each measuring head (17, 18) with its respective sensor is movably mounted on a guiding crosspiece (14, 15) along a scan path (T). The lateral upright 12,13 is received in at least one portion of the measuring head 17,18 when it is at the end of the guide crosspiece 14,15 fixed to the lateral upright 12,13 And has at least one set of bags (21, 22)

Description

시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스{SCANNING DEVICE FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF A SHEET OF MATERIAL}[0001] SCANNING DEVICE FOR MEASURING CHARACTERISTICS OF A SHEET OF MATERIAL [0002]

본 발명은 시트 (sheet) 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스에 관한 것이고, 상기 스캐닝 측정 디바이스는 적어도 하나의 측면 업라이트 및 서로에 대해 실질적으로 평행하고 상기 측면 업라이트에 고정된 각각의 단부들을 갖는 두개의 횡방향 안내 크로스피스들이 제공된 프레임을 포함하고, 안내 크로스피스들은 동일한 시트 재료의 특성을 측정하기 위해 서로 마주보도록 배열된 제 1 및 제 2 측정 헤드들 중 각각의 측정 헤드들을 안내하도록 배열되고, 상기 제 1 및 제 2 측정 헤드들의 각각은 적어도 하나의 센서를 포함하고, 센서들은 특성을 측정하기에 적절하고, 각각의 센서를 갖는 각각의 측정 헤드는 스캐닝 경로를 따라 안내 크로스피스 상에서 이동하도록 장착된다.The present invention relates to a scanning measuring device for measuring a characteristic of a sheet material, said scanning measuring device comprising at least one side upright and at least two side uprights having respective ends Two crosswise guide crosspieces are provided and the guide crosspieces are arranged to guide respective ones of the first and second measurement heads arranged to face each other to measure the characteristics of the same sheet material Each of the first and second measuring heads comprising at least one sensor, the sensors being suitable for measuring the characteristics, and each measuring head having each sensor moving along a scanning path on a guiding crosspiece Respectively.

본 발명은, 특히 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스에 관한 것이고, 상기 디바이스는 연속적으로 또는 불연속적으로 전진하는 실질적으로 평면 시트 재료를 제조하기 위한 생산 라인 상에 설치되기에 적절하고, 제조되는 동안에 재료의 물리적 또는 물리 화학적 특성 예를 들면, 재료의 두께, 단위 면적 당 중량, 밀도, 또는 임의의 다른 특성을 측정하는 것을 가능하게 한다. 그러한 스캐닝 측정 디바이스는 몇 밀리미터 내지 10 미터 이상의 범위로 변할 수 있는 폭을 갖는 시트의 형태의 재료의 특성을 측정하도록 되어 있다.The present invention relates in particular to a scanning measuring device for measuring the properties of a sheet material, said device being suitable for being installed on a production line for producing a substantially flat sheet material which continuously or discontinuously advances, It is possible to measure the physical or physicochemical properties of the material during manufacture, such as thickness of the material, weight per unit area, density, or any other characteristic. Such a scanning measuring device is adapted to measure the properties of a material in the form of a sheet having a width that can vary in the range of a few millimeters to 10 meters or more.

그러한 스캐닝 측정 디바이스는 재료의 폭의 전체 또는 일부분에 걸쳐 재료의 특성을 측정하도록 스캐닝 측정 디바이스에 대해 횡방향으로, 재료를 가로질러 왔다 갔다 진행하는 하나 이상의 이동하는 측정 헤드들을 일반적으로 포함한다. 재료가 어떤 전진 속도로 구동되므로, 측정 헤드의 측정 경로는 대각선으로 재료를 가로질러 통과하고 재료의 평면에서 지그 재그를 형성하는 일련의 라인들이다.Such a scanning measuring device generally comprises one or more moving measuring heads that travel back and forth across the material in a transverse direction relative to the scanning measuring device to measure the properties of the material over all or part of the width of the material. As the material is driven at some advancing speed, the measuring path of the measuring head is a series of lines that pass diagonally across the material and form jig jigs in the plane of the material.

신뢰성 있는 측정들을 얻도록, 측정 헤드가 재료의 폭을 가로질러 이동하는 동안에, 스캐닝 측정 디바이스의 형상이 보존되는 것이 중요하고, 즉 측정 헤드(들) 의 매우 양호한 정렬이 프레임에 대해 보존되는 것이 중요하다.It is important that the shape of the scanning measuring device be preserved while the measuring head is moving across the width of the material so as to obtain reliable measurements, that is to say that a very good alignment of the measuring head (s) Do.

예를 들면, 재료를 통한 투과에 의해 재료의 특성을 측정하기 위해, 재료의 시트의 양쪽에 배치되는 두개의 측정 헤드들이 사용될 때, 두개의 측정 헤드들은 일제히, 즉 동시에 이동하고, 서로에 대한 그 위치는 두개의 측정 헤드들이 이동하는 동안에 엄격하게 보존되는 것이 필수적이다. 특히, 측정 헤드들 사이의 거리 또는 "갭"이 일정하게 유지되는 것이 필수적이다. 바람직하게, 측정 헤드들은 재료의 평면에 대해 실질적으로 수직인 평면에서 이동한다. 생산 라인이 수평 평면 재료를 제작하기 위한 것일 때, 측정 헤드들은 특히 수직 평면에서 이동해야만 한다.For example, when two measurement heads placed on both sides of a sheet of material are used to measure the properties of a material by transmission through the material, the two measurement heads move simultaneously, i.e. simultaneously, It is essential that the position is strictly preserved while the two measuring heads are moving. In particular, it is essential that the distance or "gap" between the measuring heads is kept constant. Preferably, the measuring heads move in a plane substantially perpendicular to the plane of the material. When the production line is to produce a horizontal plane material, the measuring heads must move, especially in the vertical plane.

임의의 경우에서, 측정 헤드들이 정렬되어야만 하는 이러한 요구 조건을 만족시키도록, 그러한 스캐닝 측정 디바이스는 측정 헤드들을 상호 정렬로 유지하고 및/또는 프레임과 정렬되게 유지하면서 또한 측정 헤드들을 지지하도록 배열된 프레임을 갖는다. 일반적으로, 이는 스캐닝 경로를 따라 가능한 일정한 형상을 갖는 강성 및 중실 프레임을 구성함으로써 달성되고, 프레임은 측정 헤드들 사이에 기계적 연결부를 형성한다. 이를 위해, 크로스피스들의 증가하는 길이만큼 일반적으로 증가하는 크로스피스들의 직선 허용 공차를 보상하도록 필요에 따라 가공되기에 적합한 상대적으로 두꺼운 크로스피스를 갖는 프레임이 제공될 수 있는 것은 공지되어 있다. 또한 크로스피스들 상에 측정 헤드들의 위치들을 조절하기 위한 수단을 사용하여 측정 헤드들의 정렬을 보정하는 것이 가능하다. 그러한 해결책들은 부피가 큰 프레임을 요구하고 특히 부피가 큰 측면 업라이트들을 요구한다. 뿐만 아니라, 스캐닝 측정 디바이스의 측면 업라이트들은 일반적으로 측정 헤드들을 정렬하기 위한 수단을 수용하고, 그러한 수단은 예를 들면, 측정 헤드들을 제어하고, 구동하고 및/또는 동기화하기 위한 디바이스들의 형태이고, 따라서 일반적으로 부피가 큰 측면 업라이트들을 요구한다.In any case, such a scanning metrology device may be arranged to hold the measuring heads in alignment with each other and / or to keep the measuring heads aligned with the frame, Respectively. Generally, this is accomplished by constructing a rigid and solid frame with a constant shape as possible along the scanning path, and the frame forms a mechanical connection between the measurement heads. To this end, it is known that a frame with a relatively thick crosspiece suitable for being machined as required to compensate for the linear tolerance of the crosspieces which generally increases by an increasing length of crosspieces can be provided. It is also possible to correct the alignment of the measurement heads using means for adjusting the positions of the measurement heads on the crosspieces. Such solutions require bulky frames and require bulky side uplights in particular. In addition, the side uplights of the scanning measuring device generally accommodate means for aligning the measuring heads, such means being in the form of devices for controlling, driving and / or synchronizing the measuring heads, for example Generally, bulky side upgrades are required.

도 1 및 도 2 는 시트 재료 (M) 가 전진 방향 (D) 으로 통과할 수 있는 개구 (3) 를 규정하는 프레임 (2) 및 시트 재료 (M) 의 폭을 가로질러 이동하도록 장착된 두개의 측정 헤드들 (4, 5) 를 포함하는 그러한 공지된 스캐닝 측정 디바이스 또는 "0-형상의 스캐너" (1) 의 예를 도시한다. 측정 헤드들 (4, 5) 은 측면 업라이트들 (6, 7) 에 의해 그 단부들에 근접한 경로 (T) 를 따라 프레임 (1) 의 두개의 측면 업라이트들 (6, 7) 사이의 두개의 크로스피스들 (8, 9) 상에서 이동한다. 예를 들면, 특허 문헌 EP 1 039 262 에는 보다 구체적으로 시트 재료의 두께 및 스웰 (swell) 을 측정하는 것을 가능하게 하는 그러한 스캐닝 측정 디바이스가 개시되어 있다.Figures 1 and 2 show a frame 2 defining a opening 3 through which the sheet material M can pass in the advancing direction D and two sheets of sheet material M mounted to move across the width of the sheet material M Figure 1 shows an example of such a known scanning measuring device or "0-shaped scanner" 1 comprising measuring heads 4, 5. The measuring heads 4 and 5 are arranged in the form of two crosses between the two side uprights 6 and 7 of the frame 1 along the path T close to their ends by the side upright 6, Moves on the pieces (8, 9). For example, patent document EP 1 039 262 discloses, more specifically, such a scanning measuring device which makes it possible to measure the thickness and swell of the sheet material.

안전상 이유로 그리고 해당되는 법률에 따라, 스캐닝 측정 디바이스의 사용자의 사지가 측정 헤드들 (4, 5) 과 측면 업라이트들 (6, 7) 의 어느 한쪽 사이에 핀칭 (pinching) 되거나 또는 크러싱 (crushing) 되는 것을 방지하도록 측면 업라이트들 (6, 7) 의 각각과 측정 헤드들 (4, 5) 의 각각의 단부 측면 위치 (Pl, P2) 사이에 도 2 에 도면 부호 E 로 나타낸 빈 공간을 두는 것이 강제적일 수 있다.For safety reasons and in accordance with applicable law, the user's limb of the scanning measuring device is pinned or crushing between either of the measurement heads 4, 5 and the side upright 6, 7, Between the respective side end positions P1 and P2 of each of the side uprights 6 and 7 and of the measuring heads 4 and 5 in order to prevent it from being forced Lt; / RTI >

또한 다양한 작동들, 예를 들면, 측정 헤드들을 캘리브레이트 (calibrating) 하는 것과 같은, 측정을 수행하는 것과 관련된 또는 재료 자체가 아닌 기준 샘플의 보유기를 설치하기 위한 어떤 작동들을 수행하도록, 측면 업라이트와 재료 사이의 재료 없는 중간 구역, 즉 측정 헤드들이 그 행정의 단부 측면 위치들의 하나에 있을 때 재료가 측정 헤드들 사이에 맞물린 상태로 유지되지 않는 구역을 유지하는 것이 바람직하다. 뿐만 아니라, 재료가 파괴되는 경우에, 측정 헤드들이 손상받는 것을 방지하도록 그러한 재료-없는 중간 구역 내로 측방향으로 측정 헤드들을 이동시키는 것이 필수적일 수 있다.It is also possible to perform various operations such as calibrating the measurement heads, such as calibrating the side upright and material < RTI ID = 0.0 > It is desirable to maintain a zone in which the material is not held in engagement with the measurement heads when the materialless intermediate zone between the measurement heads, i.e., the measurement heads, is in one of the end side positions of the stroke. In addition, it may be necessary to move the measuring heads laterally into such a material-free intermediate zone to prevent the measuring heads from being damaged, in the event that the material is destroyed.

그러한 스캐닝 측정 디바이스가 갖는 단점은 스캐닝 방향으로 매우 큰 전체 크기를 갖는다는 점이다. 도 2 를 참조하면, 도면 부호 S 로 나타낸 스캐닝 측정 디바이스의 전체 폭은: 도면 부호 L 로 나타낸 측정될 평면 재료의 폭; 이동하는 측정 헤드들을 구동하기 위한 모터 및 이동하는 측정 헤드들을 제어하고 그리고/또한 동기화하기 위한 디바이스와 같은 측정 헤드들을 정렬하기 위한 수단을 업라이트들이 일반적으로 통합하므로 다양한 폭들을 가질 수 있는, 도면 부호 N 및 N' 으로 나타낸 업라이트들의 각각의 폭; 각각의 측정 헤드의 폭 (F) 들의 합이고, 즉 S = N + E + 2F + L + E' + N' 이고; 상기 합은 핀칭의 위험을 방지하기 위한 가변성 폭이고 도면 부호 E 및 E' 로 나타낸 상기 설명된 빈 공간들을 플러스한, 재료 (M) 로부터 오프셋된 측정 헤드들을 수용하기에 적절한 중간 구역을 포함한다.A disadvantage of such a scanning measuring device is that it has a very large overall size in the scanning direction. Referring to Figure 2, the overall width of the scanning measuring device, designated S, is: width of the planar material to be measured, denoted L; A motor for driving moving measuring heads, and a means for aligning the measuring heads, such as a device for controlling and / or synchronizing moving measuring heads, And the width of each of the uplights indicated by N '; Is the sum of the widths F of the respective measuring heads, i.e. S = N + E + 2F + L + E + N '; Said sum includes an intermediate zone suitable for receiving measurement heads offset from material M, plus a variable width to avoid the risk of pinching and plus the above-described void spaces denoted by E and E '.

특허 문헌들 US 4 631 834 및 US 6 628 322 의 각각에는 3 차원 좌표들을 측정하기 위한 디바이스가 개시되어 있고, 특허 문헌 US 5 285 579 에는 3 차원 도형기가 개시되어 있고, 특허 문헌 US 6 441 905 에는 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스가 개시되어 있다.Patent documents US 4 631 834 and US 6 628 322 each disclose a device for measuring three-dimensional coordinates, US 5 285 579 discloses a three-dimensional plotter, and patent document US 6 441 905 A scanning measuring device for measuring a characteristic of a material is disclosed.

상기 모든 이유들로 인해, 스캐닝 측정 디바이스들은 통상적으로 체적이 크고 큰 전체 폭들을 구비한 측면 업라이트들을 갖는다.For all of the above reasons, the scanning measuring devices typically have side elevations with large volumes and large overall widths.

본 발명의 목적은 스캐닝 측정 디바이스의 에지들에서 측정 헤드들에 대해 접근 가능한 재료-없는 중간 구역을 유지하면서도 그 전체 폭을 현저하게 감소시킬 수 있게 하는 형상을 갖는 프레임을 구비한 스캐닝 측정 디바이스를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide a scanning measuring device with a frame having a shape that allows the overall width to be significantly reduced while maintaining a material-free intermediate zone accessible to the measuring heads at the edges of the scanning measuring device .

이를 위해, 본 발명은 시트 (sheet) 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스를 제공하고, 상기 스캐닝 측정 디바이스는 적어도 하나의 측면 업라이트 및 서로에 대해 실질적으로 평행하고, 상기 측면 업라이트에 고정된 각각의 단부들을 갖는 두개의 횡방향 안내 크로스피스들이 제공된 프레임을 포함하고, 안내 크로스피스들은 동일한 시트 재료의 특성을 측정하기 위해 서로 마주보도록 배열된 제 1 및 제 2 측정 헤드들 중 각각의 측정 헤드들을 안내하도록 배열되고, 제 1 및 제 2 측정 헤드들의 각각은 적어도 하나의 센서를 포함하고, 센서들은 특성을 측정하기에 적절하고, 각각의 센서를 갖는 각각의 측정 헤드는 스캐닝 경로를 따라 안내 크로스피스 상에서 이동하도록 장착되고, 측면 업라이트는 측정 헤드의 스캐닝 경로 및 센서가 세트백에서 측면 업라이트를 가로질러 놓이는 방식으로 배치된 적어도 하나의 세트백을 규정하도록 형성되고, 세트백은 측정 헤드가 측면 업라이트에 고정된 안내 크로스피스의 단부에 있을 때 적어도 부분적으로 측정 헤드 및 센서를 수용하기에 적절하다.To this end, the present invention provides a scanning measuring device for measuring a characteristic of a sheet material, the scanning measuring device comprising at least one side upright and substantially parallel to each other, each of which is fixed to the side upright Wherein the guide crosspieces comprise respective ones of the first and second measurement heads arranged to face each other to measure the characteristics of the same sheet material, And each of the first and second measurement heads includes at least one sensor, the sensors are suitable for measuring the characteristics, and each of the measurement heads having the respective sensors is arranged to guide along the scanning path, And the side upright is mounted to move on the scanning path of the measuring head and the sensor Wherein the setback is configured to at least partially receive the measuring head and sensor when the measuring head is at the end of the guiding crosspiece fixed to the side upright, And is suitable for the following.

그러한 배열에 있어서, 스캐닝 측정 디바이스의 전체 폭은 측정 헤드들의 폭을 플러스한 측정될 평면 재료의 폭보다 크지 않도록 감소되고, 종래 기술의 스캐닝 측정 시스템들보다 더 컴팩트한 스캐닝 측정 디바이스가 얻어진다. 측면 업라이트의 세트백에 수용될 때, 측정 헤드들은 재료-없는 중간 구역에 위치됨으로써, 유리하게 캘리브레이션 또는 샘플링과 같은 모든 종류의 재료-없는 측정 작동을 수행하게 할 수 있다. 대안적으로, 더욱이 측면 업라이트의 세트백에 수용될 때 측정 헤드들 아래로 부분적으로 연장되도록 재료를 제공함으로써 스캐닝 측정 디바이스의 전체 폭을 추가로 감소시키는 것이 가능하다. 임의의 경우에, 측면 업라이트와 측정 헤드들 사이에 핀칭 또는 크러싱의 위험은 현저하게 감소된다.In such an arrangement, the overall width of the scanning measuring device is reduced so as not to be greater than the width of the planar material to be measured plus the width of the measuring heads, resulting in a more compact scanning measuring device than the prior art scanning measuring systems. When received in the set bag of the side upright, the measurement heads are positioned in the material-free intermediate zone, thereby advantageously allowing all kinds of material-free measurement operations, such as calibration or sampling. Alternatively, it is further possible to further reduce the overall width of the scanning measuring device by providing the material to partially extend under the measuring heads when received in the set back of the side upright. In any case, the risk of pinching or crushing between the side upright and the measuring heads is significantly reduced.

본 발명의 스캐닝 측정 디바이스는 유리하게 다음의 특징들을 가질 수 있다:The scanning measuring device of the present invention may advantageously have the following features:

· 세트백은 스캐닝 경로를 마주보는 관통 세트백 (through setback) 이다;Set back is a through setback facing the scanning path;

· 측정 헤드들의 센서들은 센서-이미터 타입 (sensor emitter)이고, 측정 헤드들의 하나는 센서를 포함하고, 측정 헤드들의 다른 하나는 이미터를 포함한다; The sensors of the measuring heads are sensor-emitter types, one of the measuring heads comprises a sensor and the other of the measuring heads comprises an emitter;

· 프레임은 횡방향 안내 크로스피스들의 단부들의 양쪽에 배치되는 두개의 측면 업라이트들을 포함한다;The frame comprises two side uplits arranged on both sides of the ends of the lateral guiding crosspieces;

· 측면 업라이트들은 상기 스캐닝 경로에 대해 실질적으로 수직인 대칭 평면에 관해 실질적으로 대칭적이다;The side uprights are substantially symmetrical about a plane of symmetry substantially perpendicular to the scanning path;

· 스캐닝 경로에 실질적으로 수직인 평면에서, 측면 업라이트는 중심 부분이 세트백을 형성하는 C-형상을 갖는다;In a plane substantially perpendicular to the scanning path, the side upright has a C-shape in which the central portion forms a set bag;

· C-형상은 단부들을 갖고 그 단부들의 각각의 내측 면들은 서로 V-형상을 형성하도록 베벨형 부분들을 갖고,The C-shape has beveled portions to have ends and the inner surfaces of each of the ends to form a V-shape with respect to each other,

· 각각의 안내 크로스피스는 측면 업라이트의 C-형상의 베벨형 부분들과 정렬된 베벨형 면을 갖는다;Each guiding crosspiece having beveled surfaces aligned with beveled portions of the C-shaped side upright;

· 각각의 안내 크로스피스는 안내 크로스피스가 직선으로 되는 것을 보장하도록 스캐닝 경로를 따라서 측정 헤드를 안내하기 위해 레일을 지지하는 폴드 (fold) 를 형성하는 적어도 하나의 금속 시트 (sheet) 로 구성된다;Each guide crosspiece consists of at least one sheet of metal forming a fold which supports the rails to guide the measuring head along the scanning path to ensure that the guide crosspiece is straight;

· 세트백은 스캐닝 경로에 대해 실질적으로 수직인 평면에서, 측정 헤드가 세트백 내에 놓이도록 배열되고; The set back is arranged to lie within the set bag in a plane substantially perpendicular to the scanning path;

· 측면 업라이트는 각각의 안내 크로스피스의 대향 단부로부터 멀어지게 그리고 스캐닝 경로로부터 멀어지게 진행하는 경사진 표면을 규정하도록 절두 형상을 갖는다.The side upright has a frustoconical shape to define a sloped surface that moves away from the opposite end of each guide crosspiece and goes away from the scanning path.

또한 본 발명은 시트 재료를 제조하기 위한 생산 라인을 제공하고, 상기 생산 라인은 본 발명의 시트 재료를 지지하기 위한 수단 및 적어도 하나의 스캐닝 측정 디바이스를 포함한다.The present invention also provides a production line for producing sheet material, the production line comprising means for supporting the sheet material of the present invention and at least one scanning measuring device.

본 발명의 스캐닝 측정 디바이스 및 본 발명의 생산 라인의 이점들 및 특성은 비제한적인 실시예로써 취해진 실시형태를 도시하는 첨부된 도면들을 참조하여 주어진 다음의 설명으로부터 보다 명확해질 것이다:Advantages and features of the scanning measuring device of the present invention and the production line of the present invention will become more apparent from the following description given with reference to the accompanying drawings, which show an embodiment taken as a non-limiting embodiment;

도 1 및 도 2 는 종래 기술의 스캐닝 측정 디바이스의 각각의 사시도 및 정면도이다;
도 3 및 도 4 는 본 발명의 스캐닝 측정 디바이스의 각각의 사시도 및 측면도이다;
도 5 는 도 3 의 스캐닝 측정 디바이스의 크로스피스들의 횡단면을 도시하는, 도 3 의 축 V-V 상의 횡단면의 도해도이다;
도 6 은 도 3 의 스캐닝 측정 디바이스의, 도 3 의 평면 (P) 상에서 종방향 단면의 도해도이다;
도 7 은 본 발명의 또 다른 스캐닝 측정 디바이스의 사시도이다;
도 8 은 도 7 의 스캐닝 측정 디바이스의 도 7 의 평면 (P) 상에서 종방향 단면의 도해도이다.
Figures 1 and 2 are perspective and front views, respectively, of a prior art scanning measuring device;
Figures 3 and 4 are perspective and side views, respectively, of the scanning measuring device of the present invention;
5 is a diagrammatic view of a cross-sectional view on the axis VV of Fig. 3, showing a cross-section of the crosspieces of the scanning measuring device of Fig. 3;
Figure 6 is a diagram of a longitudinal section on plane P of Figure 3 of the scanning measuring device of Figure 3;
7 is a perspective view of another scanning measuring device of the present invention;
Fig. 8 is a diagram of a longitudinal section on plane P of Fig. 7 of the scanning measuring device of Fig. 7;

도 3 은 시트 재료 (M) 의 물리적 특성 또는 물리 화학적 특성을 측정하도록 배열된 본 발명의 스캐닝 측정 디바이스 (10) 를 도시한다.Figure 3 shows a scanning measuring device 10 of the present invention arranged to measure the physical or physicochemical properties of the sheet material M.

스캐닝 측정 디바이스 (10) 는 본 실시예에서, 두개의 실질적으로 평행이고 수평인 안내 크로스피스들 (14, 15), 즉 시트 재료 (M) 가 전진 방향 (D) 으로 통과할 수 있는 횡방향 개구 (16) 를 규정하는 상부 크로스피스 (14) 및 하부 크로스피스 (15) 에 의해 상호 연결된 두개의 수직 측면 업라이트들 (12, 13) 를 규정하는 프레임 (11) 을 포함한다.The scanning measuring device 10 comprises, in the present embodiment, two substantially parallel and horizontal guide crosspieces 14,15, i.e. a transverse opening through which the sheet material M can pass in the advancing direction D, (11) defining two vertical side uprights (12, 13) interconnected by an upper crosspiece (14) and a lower crosspiece (15)

스캐닝 측정 디바이스 (10) 는 유리하게 시트 재료 (M) 를 생산하기 위한 생산 라인 (도시 생략) 의 일부일 수 있고, 상기 생산 라인은 평면 (P) 으로 시트 재료 (M) 를 지지하고 구동하기 위한 지지 및 구동 수단 (도시 생략) 을 포함하고, 평면 (P) 은 본 실시예에서 어떤 전진 속도에서 전진 방향 (D) 으로 수평이다. 스캐닝 측정 디바이스 (10) 의 프레임 (11) 이 평면 (P) 에 관해 실질적으로 대칭이라는 것이 이해될 수 있을 것이다.The scanning measurement device 10 may advantageously be part of a production line (not shown) for producing a sheet material M and the production line is supported by a support And a driving means (not shown), and the plane P is horizontal in the advancing direction D at a certain advancing speed in this embodiment. It will be understood that the frame 11 of the scanning measuring device 10 is substantially symmetrical with respect to the plane P. [

도 3 에서 알 수 있는 바와 같이, 안내 크로스피스들 (14, 15) 은 각각의 측정 헤드들 (17, 18), 즉 상부 측정 헤드 (17) 및 하부 측정 헤드 (18) 를 지지하고, 상기 측정 헤드들은 시트 재료 (M) 가 평면 (P) 으로 통과할 수 있는 통과 구역을 측정 헤드들 사이에서 규정하고, 시트 재료 (M) 의 특성을 측정하도록 배열된다. 측정 헤드들 (17, 18) 은 시트 재료 (M) 의 폭을 가로질러 연장되는 횡방향 스캐닝 경로 (T) 를 따라 두개의 측면 업라이트들 (12, 13) 사이로 이동하도록 장착된다. 보다 정확하게, 측정 헤드들 (17, 18) 은 아래에 보다 상세하게 설명되는 바와 같이 안내 크로스피스들 (14, 15) 상에서 구동되고 안내되는 각각의 운반대들 (19, 20) 에 의해 운반된다. 도 3 에 도시된 실시예에서, 측면 업라이트들 (12, 13) 에 대해, 시트 재료 (M) 가 프레임 (11) 으로부터 나가는 유출구를 측정 헤드들 (17, 18) 이 마주보도록 화살표 (D) 로 나타낸 재료의 전진 방향은 존재한다는 것이 보다 잘 이해될 수 있을 것이다.3, the guiding crosspieces 14, 15 support the respective measuring heads 17, 18, i.e. the upper measuring head 17 and the lower measuring head 18, The heads are arranged to define a passage area through which the sheet material M can pass in the plane P between the measuring heads and to measure the properties of the sheet material M. [ The measuring heads 17 and 18 are mounted to move between the two side uprights 12 and 13 along a transverse scanning path T extending across the width of the sheet material M. More precisely, the measuring heads 17, 18 are carried by respective carriages 19, 20 which are driven and guided on the guiding crosspieces 14, 15 as will be explained in more detail below. 3, with respect to the side upright 12,13, an outlet through which the sheet material M exits from the frame 11 is connected to the measurement heads 17,18 by an arrow D It will be appreciated that there is a forward direction of the indicated material.

바람직하게, 측정 헤드들 (17, 18) 의 각각은 하나 이상의 비접촉 센서들, 즉 재료와 접촉하지 않고 재료의 특성을 측정하기에 적절한 센서들을 포함한다. 물론, 측정 헤드들 (17, 18) 에 임의의 다른 타입의 센서를 제공하는 것이 가능할 수도 있다. 예를 들면, 측정 헤드들 (17, 18) 은 예를 들면, X-레이, 적외선, 또는 몇몇 다른 방사선을 방출하는 방사선 이미터 소스, 및 예를 들면, 재료의 두께, 단위 면적 당 중량, 밀도, 또는 다른 특성을 측정하도록 그러한 방사선의 검출기로 구성된 하나 이상의 센서 이미터 쌍들을 포함할 수 있다. 보다 구체적으로, 센서-이미터 쌍을 사용하는 것이 가능하고, 센서-이미터 쌍은 재료 (M) 를 통한 투과로 측정이 행해지거나, 상기 경우에는 하나의 측정 헤드 (17) 가 이미터를 포함하고, 다른 측정 헤드 (18) 가 센서를 포함하고, 또는 다르게 재료로부터의 반사로 측정이 행해지고, 상기 경우에는 각각의 측정 헤드 (17, 18) 가 센서-이미터 쌍을 포함한다. 바람직하게, 측정 헤드들 (17, 18) 은 측정의 신뢰성을 보장하도록 동기화 방식으로 그리고 시트 재료 (M) 의 양쪽에서 서로 마주보며 이동한다.Preferably, each of the measurement heads 17,18 includes one or more non-contact sensors, i. E. Sensors suitable for measuring the properties of the material without contacting the material. Of course, it may be possible to provide any other type of sensor to the measuring heads 17,18. For example, the measurement heads 17 and 18 may be a radiation emitter source that emits, for example, X-rays, infrared, or some other radiation, and may include, for example, a material thickness, , Or one or more pairs of sensor emitters comprised of detectors of such radiation to measure other characteristics. More specifically, it is possible to use a sensor-emitter pair, and the sensor-emitter pair is measured by transmission through the material M, or in this case one measuring head 17 includes an emitter And the other measuring head 18 comprises a sensor or alternatively a measurement is made with reflection from a material, in which case each measuring head 17, 18 comprises a sensor-emitter pair. Preferably, the measuring heads 17, 18 move in a synchronized manner and opposite each other on both sides of the sheet material M to ensure the reliability of the measurement.

도 3 에 도시된 바와 같이, 측면 업라이트들 (12, 13) 의 각각은 상기 측정 헤드들 (17, 18) 이 최외곽 측면 위치들에 있을 때 측정 헤드들 (17, 18) 의 스캐닝 경로 (T) 가 세트백들 (21, 22) 에서 측면 업라이트들 (12, 13) 을 가로질러 놓이는 방식으로 각각의 세트백 (21, 22) 을 규정하도록 형성된 횡단면을 갖고, 세트백들 (21, 22) 은 본 실시예에서, 측면 업라이트들 (12, 13) 에 고정된 안내 크로스피스들 (14, 15) 의 단부들에서 완전히 측정 헤드들 (17, 18) 을 수용하기에 적절하다. 유리하게, 세트백들은 스캐닝 경로 (T) 를 따르는 관통 세트백들이다. 이러한 방법으로, 측정 헤드들 (17, 18) 은 측면 업라이트들 (12, 13) 의 내측으로 연장될 수 있는 최대 경로들을 갖는다. 바람직하게, 측정 헤드들 (17, 18) 의 최외곽 측면 위치들은 측면 업라이트들 (12, 13) 의 외부 경계들 (12A, 13A) 과 일치한다.As shown in Figure 3, each of the side uplites 12,13 is positioned on the scanning path T of the measuring heads 17,18 when the measuring heads 17,18 are in their outermost lateral positions 22 have a cross section formed to define respective set bags 21, 22 in such a manner that the set bags 21, 22 are laid across the side uprights 12, 13 in the set bags 21, In the present embodiment is suitable to completely accommodate the measuring heads 17,18 at the ends of the guiding crosspieces 14,15 fixed to the side uprights 12,13. Advantageously, the setbacks are through setbacks along the scanning path T. In this way, the measurement heads 17,18 have maximum paths that can extend inside the side upright 12,13. Preferably, the outermost lateral positions of the measurement heads 17, 18 coincide with the outer perimeters 12A, 13A of the side uprights 12, 13.

측정 헤드들이 측면 업라이트들 (12, 13) 의 하나의 세트백 (21, 22) 에 수용될 때, 측정 헤드들 (17, 18) 은 캘리브레이션 또는 샘플링과 같은 임의의 종류의 재료-없는 측정 작동을 유리하게 수행하는 것을 가능하게 하는 재료-없는 중간 구역에 위치된다. 뿐만 아니라, 측면 업라이트 (12, 13) 와 측정 헤드들 (17, 18) 사이에는 핀칭 또는 크러싱의 임의의 위험이 더 이상 존재하지 않는다.When the measuring heads are received in one set bag 21, 22 of the side upright 12,13, the measuring heads 17,18 are capable of performing any kind of material-free measuring operation such as calibration or sampling And is located in a material-free intermediate zone that enables it to perform advantageously. In addition, there is no longer any risk of pinching or crushing between the side upright 12,13 and the measurement heads 17,18.

도 3 을 참조하면, 도면 부호 S' 로 나타낸 본 발명의 스캐닝 측정 디바이스 (10) 의 전체 폭은 도면 부호 L 로 나타낸 측정될 평면 재료 (M) 의 폭 및 도면 부호 F 로 나타낸 측정 헤드들 (17, 18) 의 폭을 포함하고, 즉 S' = 2F + L 이다.3, the overall width of the scanning measuring device 10 of the present invention, denoted by the reference character S ', is determined by the width of the planar material M to be measured, indicated by the reference character L, , 18), i.e., S '= 2F + L.

도 3 에서 알 수 있는 바와 같이, 각각의 세트백 (21, 22) 은 측면 업라이트 (12, 13) 가 스캐닝 경로 (T) 에 대해 실질적으로 수직인 평면에서 C-형상을 갖는 방식으로 각각의 측면 업라이트 (12, 13) 에 형성된다. 바람직하게, 측면 업라이트들 (12, 13) 의 각각의 C-형상은 V-형상 (도 4 에 보다 명료하게 도시됨) 을 형성하기 위해 서로와 상호 작용하도록 베벨형 부분들 (25, 26) 이 제공된 각각의 내측 면들을 구비한 단부들 (23, 24) 을 갖는다. 유리하게, 안내 크로스피스들 (14, 15) 의 각각도 측면 업라이트들 (12, 13) 의 각각의 C-형상의 베벨형 부분들 (25, 26) 의 각각의 하나와 정렬되도록 베벨형 면 (32, 33) 을 갖는다. 도 4 에서 보다 명료하게 알 수 있는 바와 같이, 안내 크로스피스들 (14, 15) 의 각각의 베벨형 면 (32, 33) 은 유리하게 안내 크로스피스들 (14, 15) 상에서 헤드들을 안내하기 위해 안내 운반대들 (19, 20) 의 각각의 하나의 적어도 일부를 수용하는 것을 가능하게 함으로써 스캐닝 측정 디바이스 (10) 의 전체 높이가 감소될 수 있게 한다.As can be seen in Figure 3, each set bag 21,22 is configured so that the side upright 12,13 has a C-shape in a plane that is substantially perpendicular to the scanning path T, Are formed in the uptites (12, 13). Preferably, each C-shape of the side uplites 12,13 is beveled portions 25,26 so as to interact with each other to form a V-shape (more clearly shown in Figure 4) And end portions 23, 24 with respective inner surfaces provided. Advantageously, each of the guiding crosspieces 14, 15 is also beveled so as to be aligned with a respective one of the C-shaped beveled portions 25, 26 of the respective side upright 12, 32, and 33, respectively. 4, each beveled face 32, 33 of the guiding crosspieces 14, 15 is advantageously used to guide the heads on the guiding crosspieces 14, 15 Enabling the overall height of the scanning measuring device 10 to be reduced by enabling to accommodate at least a portion of each one of the guiding carriers 19,20.

바람직하게, 측정 헤드들 (17, 18) 의 축들은 스캐닝 경로 (T) 를 따라 프레임 (11) 을 통해 연장되는 도 4 에서 도면 부호 A 로 나타낸 중앙 평면에 대해 오프셋되고, 측면 업라이트들 (12, 13) 의 각각의 부분 (27) 은 C-형상의 "업라이트" 를 형성하고, 측정 헤드들 (17, 18) 은 중앙 평면 (A) 의 양쪽에 배치된다. 측정 헤드들 (17, 18) 의 이러한 구성은 측정 헤드들이 전진 방향 (D) 에 있어서 C-형상들의 "업라이트들" 의 전방에, 측면 업라이트들 (12, 13) 의 그 최외곽 측면 위치들에 위치되게 하는 것을 가능하게 한다.The axes of the measurement heads 17 and 18 are offset with respect to the center plane indicated by reference A in Figure 4 extending through the frame 11 along the scanning path T and the axes of the side uplights 12, Each of the portions 27 of the measuring heads 17 and 18 forms a C-shaped "upright ", and the measuring heads 17 and 18 are disposed on both sides of the central plane A. This configuration of the measurement heads 17,18 is such that the measurement heads are positioned in front of the "uplights" of the C-shapes in the forward direction D, at their outermost lateral positions of the side up- .

도 5 는 안내 크로스피스들의 형상들의 상세를 보다 명료하게 나타낼 수 있도록 별개로 안내 크로스피스들 (14, 15) 의 횡단면을 보다 정확하게 도시한다. 바람직하게, 안내 크로스피스들 (14, 15) 의 각각은 운반대 (19, 20) 의 각각의 하나를 안내하기 위해 안내 레일 (28, 29) 을 포함하는 각각의 안내 디바이스를 지지하는 각각의 폴드형 금속 시트에 의해 형성된다. 안내 크로스피스 (14, 15) 의 금속 시트에 의해 형성된 폴드 (30, 31) 는 폴드 (30, 31) 의 인근에서 그 전체 길이를 걸쳐 그리고 몇몇 미터까지의 길이에 대해 안내 크로스피스 (14, 15) 의 직선성을 보장한다. 유리하게, 안내 레일 (28, 29) 은 폴드 (30, 31) 에서 안내 크로스피스 (14, 15) 에 고정되고 따라서 측정 헤드 (17, 18) 의 운반대 (19, 20) 가 폴드 (30, 31) 의 바로 인근에 배치됨으로써, 긴 거리 전체에 걸쳐 직선인 스캐닝 경로 (T) 를 얻는 것을 가능하게 한다. 이러한 방법으로 형성된 안내 크로스피스들 (14, 15) 은 측정 헤드들 (17, 18) 의 정렬을 얻도록, 본 실시예에서 수직이고 측정 헤드들 (17, 18) 이 이동될 수 있고 도 5 에서 라인 B 로 나타내어진 평면을 구성하는 방식으로 함께 조립되거나 함께 연결된다.Figure 5 shows the cross-section of the guide crosspieces 14, 15 more precisely so that the details of the shapes of the guide crosspieces can be more clearly shown. Each of the guiding crosspieces 14,15 preferably comprises a respective folding device 14,15 which supports respective guiding devices including guide rails 28,29 to guide each one of the pallets 19,20. Shaped metal sheet. The folds 30,31 formed by the metal sheets of the guide crosspieces 14,15 extend over the entire length of the folds 30,31 and around the guide crosspieces 14,15 ). Advantageously, the guide rails 28, 29 are fixed to the guide crosspieces 14, 15 at the folds 30, 31 so that the pallets 19 , 20 of the measuring heads 17, by being placed in the immediate vicinity of the 31), it makes it possible to obtain a linear scanning path (T) over the long distance. The guide crosspieces 14 and 15 formed in this way are vertical in this embodiment and the measuring heads 17 and 18 can be moved to obtain alignment of the measuring heads 17 and 18, Are assembled together or connected together in such a way as to constitute the plane represented by line B.

스캐닝 측정 디바이스 (10) 의 안내 크로스피스들 (14, 15) 을 장착하도록, 평면 (P) 에 대해 수직인 방향으로 서로로부터 소정 간격으로 이격된 안내 크로스피스들 (14, 15) 을 강성으로 연결하도록 배열된 임시의 운반대를 사용하는 것이 가능하다. 그 후 평면 (P) 에 대해 수직인 방향으로 측정 헤드들 (17, 18) 사이의 정확한 거리 또는 "갭" 은 고정 나사를 조임으로써 조정될 수 있다. 스캐닝 경로 (T) 를 따라 임시의 운반대를 이동시킴으로써, 그 후 동일한 갭은 스캐닝 측정 디바이스 (10) 의 전반적인 폭 전체에 걸쳐 조정된다. 또한 측정 헤드들 (17, 18) 사이의 거리를 측정함으로써 갭에서 임의의 동적 편차들을 보상하도록, 예를 들면 유도성 센서가 제공되는 것이 가능하다.The guide crosspieces 14 and 15 spaced apart from each other in a direction perpendicular to the plane P are rigidly connected to mount the guide crosspieces 14 and 15 of the scanning measuring device 10 It is possible to use a temporary carrier arranged to The exact distance or "gap" between the measuring heads 17,18 in a direction perpendicular to the plane P can then be adjusted by tightening the set screw. By moving the temporary carrier along the scanning path T, the same gap is then adjusted over the entire width of the scanning measuring device 10. [ It is also possible, for example, to provide an inductive sensor to compensate for any dynamic deviations in the gap by measuring the distance between the measuring heads 17,18.

뿐만 아니라, 도 6 은 측면 업라이트들 (12, 13) 의 직사각형 횡단면 구성이 보다 명료하게 나타나도록 시트 재료 (M) 에 대해 실질적으로 평행인 중앙 평면에서 종방향 단면으로 스캐닝 측정 디바이스 (10) 를 도시한다. 도시된 본 실시예에서, 측면 업라이트들 (12) 의 하나는 스캐닝 측정 디바이스 (10) 가 작동되는 데 필수적인 모든 또는 일부의 전기 요소들 및 특히 예를 들면 측정 헤드들 (17, 18) 을 제어하고, 구동하고 그리고/또는 동기화하기 위한 타입의 측정 헤드들을 정렬하기 위한 수단을 통합하고, 다른 측면 업라이트 (13) 는 단지 보유 플레이트이다. 측면 업라이트들 (12, 13) 의 이러한 비대칭적인 구성은 특히, 단지 보유 플레이트인 측면 업라이트 (13) 와 동일한 측면 상에서 스캐닝 측정 디바이스 (10) 의 시트 재료 (M) 에 대한 접근성을 용이하게 할 수 있다.In addition, Figure 6 shows the scanning measuring device 10 as a longitudinal cross section in a central plane that is substantially parallel to the sheet material M so that the rectangular cross-sectional configuration of the side upright 12,13 appears more clearly. do. In the illustrated embodiment, one of the side uplites 12 controls all or some of the electrical components and in particular the measuring heads 17,18, which are essential for the scanning measuring device 10 to operate, , Means for aligning the measuring heads of the type for driving and / or synchronizing, and the other side upright 13 is merely a retaining plate. This asymmetrical configuration of the side uprights 12 and 13 can facilitate accessibility of the scanning measurement device 10 to the sheet material M on the same side as the side upright 13 which is merely a retaining plate .

변형예로서, 도 7 및 도 8 은 스캐닝 측정 디바이스 (10) 와 유사하지만, 시트 재료 (M) 의 평면 (P) 에 대해 실질적으로 수직인 대칭 평면 (G) 에 관해 대칭적인 측면 업라이트들 (112, 113) 를 갖는 스캐닝 측정 디바이스 (100) 를 도시하고, 따라서 스캐닝 측정 디바이스 (100) 도 대칭 평면 (G) 에 관해 일반적으로 대칭적이다. 도 7 및 도 8 에 도시된 변형예에서, 동일한 도면 부호들은 도 3 의 스캐닝 측정 디바이스 (10) 의 것과 동일한 요소들에 상응한다. 보다 명료성을 위해, 측정 헤드들 (17, 18) 은 도 7 에서 도시되지 않는다.7 and 8 are schematic side elevations 112 (similar to the scanning measurement device 10) but symmetrical with respect to a symmetry plane G that is substantially perpendicular to the plane P of the sheet material M , 113, and thus the scanning measurement device 100 is also generally symmetrical about the symmetry plane G. The scanning measurement device 100 shown in Fig. In the variants shown in Figs. 7 and 8, the same reference numerals correspond to the same elements as those of the scanning measuring device 10 of Fig. For greater clarity, the measuring heads 17,18 are not shown in Fig.

측면 업라이트들 (112, 113) 의 대칭적인 구성은 스캐닝 측정 디바이스 (100) 가 위치되어야 할 주위 배향 (way round) 에 임의의 특정한 제약없이 생산 라인 상에 배치되는 것을 가능하게 하기 때문에 중요한 이점을 갖는다. 예를 들면, 시트 재료 (M) 가 닿는 측면 상에서, 시트 재료 (M) 가 스캐닝 측정 디바이스 (100) 로부터 나오는 방향으로 (도 7 에 도시된 바와 같음) 또는 그 반대로 마주보도록, 측면 업라이트들 (112, 113) 에 세트백들 (21, 22) 이 위치되는 것이 가능하다. 유리하게, 스캐닝 측정 디바이스 (100) 는 스캐닝 측정 디바이스 (10) 와 동일한 전체 크기를 갖는다. The symmetrical configuration of the side uplites 112 and 113 has significant advantages because it allows the scanning measuring device 100 to be placed on a production line without any specific constraints on the way round where it should be located . For example, on the side on which the sheet material M is contacted, the side uprights 112 (see Fig. 7) are arranged such that the sheet material M faces away from the scanning measuring device 100 (as shown in Fig. 7) , 113, the set bags 21, 22 are located. Advantageously, the scanning measuring device 100 has the same overall size as the scanning measuring device 10.

도 8 은 대칭적인 측면 업라이트들 (112, 113) 의 구성이 보다 명료하게 나타나도록 시트 재료 (M) 에 대해 실질적으로 평행한 중앙 평면에서 종방향 단면으로 스캐닝 측정 디바이스 (100) 를 도시한다. 각각의 측면 업라이트 (112, 113) 는 본 실시예에서 경사진 표면 (101, 102) 을 규정하도록 절두 형상을 가지며 경사진 표면 (101, 102) 은 첫번째로 상기 측면 업라이트 (112, 113) 에 대해 고정된 안내 크로스피스들 (14, 15) 의 단부로부터 프레임 (11) 에 의해 규정된 개구 (16) 를 향해, 그리고 두번째로 스캐닝 경로 (T) 로부터 헤드들 (17, 18) 로부터 멀어지게 연장되는 방향으로 멀어지게 진행하도록 경사진다. 유리하게, 도 3 에 도시된 스캐닝 측정 디바이스 (10) 의 측면 업라이트 (12) 와 비교하여, 사용 가능한 공간은 내부 요소들 (특히 스캐닝 측정 디바이스 (100) 를 작동시키는 데 필수적인 전기 요소들) 을 수용하기 위해 측면 업라이트들 (112, 113) 에서 얻어지고, 이러한 공간은 상기 헤드들이 행정의 종료에 있을 때 측정 헤드들 (17, 18) 뒤의 사용 가능한 공간 (34) 의 일부분에서 다시 확보된다. 그러나, 안전 여유부 (35) 는 바람직하게 재료 (M) 의 에지들이 측면 업라이트들 (112, 113) 에 대해 마찰 (rubbing) 되는 것을 방지하도록 측면 업라이트들 (112, 113) 과 재료 (M) 사이에 유지된다.Figure 8 shows the scanning measuring device 100 in a longitudinal plane in a central plane that is substantially parallel to the sheet material M such that the configuration of the symmetrical side uprights 112, 113 appears more clearly. Each side upright 112,113 has a frustoconical shape to define the inclined surfaces 101,102 in this embodiment and the inclined surfaces 101,102 are first oriented relative to the side upright 112,113 Extends from the end of the fixed guide crosspieces 14,15 towards the opening 16 defined by the frame 11 and secondly from the scanning path T and away from the heads 17,18 As shown in Fig. Advantageously, compared to the side upright 12 of the scanning measuring device 10 shown in Fig. 3, the usable space accommodates internal elements (in particular, electrical elements essential for operating the scanning measuring device 100) And this space is again reserved at a portion of the usable space 34 behind the measuring heads 17,18 when the heads are at the end of the stroke. However, the safety margin 35 is preferably between the side uptites 112, 113 and the material M to prevent the edges of the material M from rubbing against the side uptites 112, .

유리하게, 측면 업라이트들 (112, 113) 의 절두 형상은 오버리칭 (overreaching) 의 위험을 감소시킴으로써 스캐닝 측정 디바이스 (100) 의 안전을 개선시키는 것을 가능하게 하고, 측정 헤드들 (17, 18) 은 측정 헤드들 (17, 18) 과 측면 업라이트들 (112, 113) 사이에 배치되는 사용자의 사지 또는 임의의 물품이 경사진 표면들 (101, 102) 을 따라 외향으로 밀리게 하는 경향을 갖는다.Advantageously, the frustum shape of the side uplites 112, 113 makes it possible to improve the safety of the scanning measuring device 100 by reducing the risk of overreaching and the measuring heads 17, The user's limbs or any article placed between the measuring heads 17,18 and the side uprights 112,113 have a tendency to be pushed outwardly along the inclined surfaces 101,102.

물론, 스캐닝 측정 디바이스를 작동하는 데 필수적인 전기 요소와 같은 내부 요소들을 수용하는 도 8 을 참조하여 상기 설명된 것과 같은 절두형 구성을 갖는 단일한 업라이트, 및 도 6 을 참조하여 상기 설명된 것과 같은 단순한 보유 플레이트인 또 다른 업라이트를 포함하는 스캐닝 측정 디바이스 (도시 생략) 를 구성하는 것도 가능하다.Of course, a single upright with a two-piece configuration such as described above with reference to FIG. 8 that accommodates internal elements such as electrical elements that are essential to operating the scanning measurement device, and a simple upright as described above with reference to FIG. 6 It is also possible to construct a scanning measuring device (not shown) including another upright which is a holding plate.

물론, 본 발명은 실시형태의 상기 설명에 제한되지 않으며, 상기 실시형태는 본 발명의 범위를 벗어나지 않고 변경을 행할 수 있다.Of course, the present invention is not limited to the above description of the embodiment, and the above embodiment can make changes without departing from the scope of the present invention.

도 3 내지 도 8 에서 화살표 (D) 에 의해 나타낸 재료의 전진 방향은 도 3 내지 도 8 에서 도시된 방향에 대해 반대일 수 있고, 이 때 헤드들 (17, 18) 은 프레임 (11) 에 닿는 재료 (M) 를 마주본다.The direction of advance of the material indicated by arrow D in Figs. 3-8 may be reversed with respect to the orientation shown in Figs. 3-8, in which the heads 17,18 contact the frame 11 Face the material (M).

물론, 예를 들면 정사각형, 삼각형, 둥근 단면의, 도 3 내지 도 8 에 도시된 형상을 제외한 각각의 형상들의 측면 업라이트들을 갖는 것도 가능하다.Of course, it is also possible to have side uplights of respective shapes, for example, square, triangular, round cross-section, except for the shapes shown in Figs.

세트백은 각각의 측면 업라이트가 그 최외곽 측면 위치들에 있을 때 그 중심에 측정 헤드를 수용하기 위한 0-형상을 형성하도록 중심을 맞추는 방식으로 각각의 측면 업라이트에 형성될 수 있다.The set back may be formed in each side upright in such a manner as to center it so as to form a 0-shape for receiving the measurement head at its center when each side upright is in its outermost side positions.

뿐만 아니라, 생산 라인 프레임에 상부 안내 크로스피스를 고정하도록 제공하는 것도 가능하고 그 때 하부 안내 크로스피스는 어떤 특정한 재료 생산 라인 설치를 위해 플로어 또는 지면에 놓인다. 상기 경우에는, 이후에 하나의 측면 업라이트는 제거될 수 있고 이어서 다른 측면 업라이트만이 상기에서 구체적으로 설명한 바와 같이 세트백을 형성하도록 형성된다.It is also possible to provide the upper guide crosspiece to the production line frame for fixing, and then the lower guide crosspiece is placed on the floor or floor for any particular material production line installation. In this case, one later side upright can be removed and then only the other side upright is formed to form the set back as specifically described above.

마지막으로, 보다 구체적으로, 도 5 는 안내 크로스피스들을 위해 프리즘 형상을 도시하지만, 안내 크로스피스를 형성하는 금속 시트에서 접히도록 가능한 가깝게 운반대를 안내하기 위해 개조되는 임의의 다른 형상으로 구성될 수도 있다.Finally, more particularly, Fig. 5 shows the prism shape for the guiding crosspieces, but may also consist of any other shape that is adapted to guide the pallet as close as possible to fold in the metal sheet forming the guiding crosspiece have.

뿐만 아니라 본 발명의 스캐닝 측정 디바이스는 수직 평면 또는 기울어진 평면에서 제조된 재료를 생산하기 위한 생산 라인에서의 사용을 위해 용이하게 개조될 수 있다.In addition, the scanning measuring device of the present invention can be easily adapted for use in a production line to produce materials manufactured in a vertical plane or a tilted plane.

Claims (12)

시트 (sheet) 재료 (M) 의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스 (10; 100) 로서,
상기 스캐닝 측정 디바이스는 적어도 하나의 측면 업라이트 (12, 13; 112, 113) 및 서로에 대해 실질적으로 평행하고 상기 측면 업라이트 (12, 13; 112, 113) 에 고정된 각각의 단부들을 갖는 두개의 횡방향 안내 크로스피스들 (14, 15) 이 제공된 프레임 (11) 을 포함하고, 상기 횡방향 안내 크로스피스들 (14, 15) 은 동일한 시트 재료 (M) 의 상기 특성을 측정하기 위해 서로 마주보도록 배열된 제 1 및 제 2 측정 헤드들 (17, 18) 중 각각의 측정 헤드들을 안내하도록 배열되고, 상기 제 1 및 제 2 측정 헤드들 (17, 18) 의 각각은 적어도 하나의 센서를 포함하고, 센서들은 상기 특성을 측정하기에 적절하고, 각각의 상기 센서를 갖는 각각의 측정 헤드 (17, 18) 는 스캐닝 경로 (T) 를 따라 상기 안내 크로스피스 (14, 15) 상에서 이동하도록 장착되고,
상기 측면 업라이트 (12, 13; 112, 113) 는 상기 측정 헤드 (17, 18) 의 상기 스캐닝 경로 (T) 및 상기 센서가 세트백 (21, 22) 에서 상기 측면 업라이트 (12, 13; 112, 113) 를 가로질러 놓이는 방식으로 배치된 적어도 하나의 세트백 (21, 22) 을 규정하도록 형성되고, 상기 세트백 (21, 22) 은 상기 측정 헤드 (17, 18) 가 상기 측면 업라이트 (12, 13; 112, 113) 에 고정되는 상기 안내 크로스피스 (14, 15) 의 단부에 있을 때 적어도 부분적으로 상기 측정 헤드 (17, 18) 및 상기 센서를 수용하기에 적절한, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
A scanning measuring device (10; 100) for measuring a characteristic of a sheet material (M)
Wherein the scanning measurement device comprises at least one lateral upright (12,13; 112,113) and two transverse sides having respective ends fixed substantially parallel to each other and fixed to the side upright (12,13; 112,113) Characterized in that it comprises a frame (11) provided with direction guiding crosspieces (14,15) arranged such that the lateral guiding crosspieces (14,15) are opposed to each other to measure the characteristics of the same sheet material (M) Wherein each of the first and second measurement heads (17,18) comprises at least one sensor, and wherein the first and second measurement heads (17,18) are arranged to guide respective ones of the first and second measurement heads (17,18) Sensors are suitable for measuring said characteristics and each measuring head 17,18 with each said sensor is mounted to move on said guiding crosspieces 14,15 along a scanning path T,
The side upright 12,13,121,133 is positioned such that the scanning path T of the measuring head 17,18 and the sensor are positioned in the set bag 21,22 and the side upright 12,13; And wherein the setbacks (21,22) are arranged such that the measuring heads (17,18) are arranged to define at least one setback (21,22) (17, 18) and the sensor when at the end of the guide crosspiece (14, 15) which is fixed to the measuring head (13, 112, 113) ≪ / RTI >
제 1 항에 있어서,
상기 세트백 (21, 22) 은 상기 스캐닝 경로 (T) 를 마주보는 관통 세트백 (through setback) 인, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
The method according to claim 1,
Wherein the set back (21, 22) is a through setback facing the scanning path (T).
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 측정 헤드들 (17, 18) 의 상기 센서들은 센서-이미터 (sensor-emitter) 타입이고, 상기 측정 헤드들 (17, 18) 의 하나는 상기 센서를 포함하고, 상기 측정 헤드들 (17, 18) 의 다른 하나는 상기 이미터를 포함하는, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the sensors of the measurement heads 17 and 18 are of the sensor-emitter type and one of the measurement heads 17 and 18 comprises the sensor and the measurement heads 17, 18) comprises the emitter, and a scanning measuring device for measuring a characteristic of the sheet material.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 프레임 (11) 은 상기 횡방향 안내 크로스피스들 (14, 15) 의 단부들의 양쪽 (either side) 에 배치되는 두개의 측면 업라이트들 (12, 13; 112, 113) 을 포함하는, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
4. The method according to any one of claims 1 to 3,
Characterized in that the frame (11) comprises two side uprights (12, 13; 112, 113) arranged on either side of the ends of the lateral guide crosspieces (14, 15) A scanning measuring device for measuring a characteristic.
제 4 항에 있어서,
상기 측면 업라이트들 (112, 113) 은 상기 스캐닝 경로 (T) 에 대해 실질적으로 수직인 대칭 평면 (G) 에 관해 실질적으로 대칭인, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
5. The method of claim 4,
Wherein the side uplites (112, 113) are substantially symmetrical about a symmetry plane (G) substantially perpendicular to the scanning path (T).
제 1 항 내지 제 5 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 스캐닝 경로 (T) 에 대해 실질적으로 수직인 평면에서, 상기 측면 업라이트 (12, 13; 112, 113) 는 중심 부분이 상기 세트백 (21, 22) 을 형성하는 C-형상을 갖는, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
6. The method according to any one of claims 1 to 5,
In a plane substantially perpendicular to the scanning path (T), the side upright (12, 13; 112, 113) has a center portion in the form of a sheet material A scanning measuring device for measuring a characteristic of the scanning device.
제 6 항에 있어서,
상기 C-형상은 단부들 (23, 24) 을 갖고 그 단부들의 각각의 내측 면들은 서로 V-형상을 형성하도록 베벨형 부분들 (25, 26) 을 갖는, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
The method according to claim 6,
The C-shape has a beveled portion (25, 26) having ends (23, 24) and each inner surface of the ends forming a V-shape with respect to each other, Measuring device.
제 7 항에 있어서,
각각의 안내 크로스피스 (14, 15) 는 상기 측면 업라이트 (12, 13; 112, 113) 의 상기 C-형상의 상기 베벨형 부분들 (25, 26) 과 정렬된 베벨형 면 (32, 33) 을 갖는, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
8. The method of claim 7,
Each of the guide crosspieces 14 and 15 has beveled surfaces 32 and 33 aligned with the C-shaped beveled portions 25 and 26 of the side upright 12,13 112,113, And a scanning device for measuring the characteristics of the sheet material.
제 1 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
각각의 안내 크로스피스 (14, 15) 는 상기 스캐닝 경로 (T) 를 따라 상기 측정 헤드 (17, 18) 를 안내하기 위해 레일 (28, 29) 을 지지하는 폴드 (fold) 를 형성하는 적어도 하나의 금속 시트 (sheet) 로 구성되는, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
9. The method according to any one of claims 1 to 8,
Each of the guide crosspieces 14 and 15 includes at least one guide crosspiece 14 forming a fold which supports the rails 28 and 29 to guide the measuring heads 17 and 18 along the scanning path T. [ A scanning measuring device for measuring a characteristic of a sheet material, comprising a metal sheet.
제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 세트백 (21, 22) 은 상기 스캐닝 경로 (T) 에 대해 실질적으로 수직인 평면에서, 상기 측정 헤드 (17, 18) 가 상기 세트백 (21, 22) 내에 놓이도록 배열되는, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
10. The method according to any one of claims 1 to 9,
Characterized in that the set backs (21,22) are arranged such that the measuring heads (17,18) are arranged in the set bags (21,22) in a plane substantially perpendicular to the scanning path (T) A scanning measuring device for measuring a characteristic.
제 1 항 내지 제 10 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 측면 업라이트 (112, 113) 는 각각의 안내 크로스피스 (14, 15) 의 단부로부터 멀어지게 그리고 상기 스캐닝 경로 (T) 로부터 멀어지게 진행하는 경사진 표면 (101, 102) 을 규정하도록 절두 (truncated) 형상을 갖는, 시트 재료의 특성을 측정하기 위한 스캐닝 측정 디바이스.
11. The method according to any one of claims 1 to 10,
The side upright 112,113 is truncated to define a sloping surface 101,102 that moves away from the end of each guide crosspiece 14,15 and away from the scanning path T ) Shape of the sheet material.
시트 재료 (M) 를 제조하기 위한 생산 라인으로서,
상기 생산 라인은 상기 시트 재료 (M) 를 지지하기 위한 수단 및 제 1 항 내지 제 11 항 중 어느 한 항에 따른 적어도 하나의 스캐닝 측정 디바이스 (10; 100) 를 포함하는, 시트 재료 (M) 를 제조하기 위한 생산 라인.
A production line for producing a sheet material (M)
The production line comprises a sheet material (M), comprising means for supporting the sheet material (M) and at least one scanning measuring device (10; 100) according to any one of claims 1 to 11 Production line for manufacturing.
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