KR20120076406A - Internal clock generating circuit - Google Patents
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims abstract description 17
- 239000000872 buffer Substances 0.000 claims description 13
- 230000003139 buffering effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 5
- 101001043818 Mus musculus Interleukin-31 receptor subunit alpha Proteins 0.000 description 4
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 4
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
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Abstract
내부클럭생성회로는 리드동작구간 동안 인에이블되는 리드클럭 인에이블신호를 생성하고, 라이트 동작구간동안 인에이블되는 라이트클럭 인에이블신호를 생성하는 클럭인에이블 신호생성부 및 상기 리드클럭 인에이블신호에 응답하여 상기 리드동작구간 동안 인에이블되는 리드 클럭을 생성하고, 상기 라이트클럭 인에이블신호에 응답하여 상기 라이트동작구간동안 인에이블되는 라이트 클럭을 생성하는 내부클럭생성부를 포함한다.The internal clock generation circuit generates a read clock enable signal that is enabled during a read operation period, and a clock enable signal generation unit and a read clock enable signal that generate a light clock enable signal that is enabled during a write operation period. And an internal clock generator configured to generate a read clock that is enabled during the read operation period and to generate a write clock that is enabled during the write operation period in response to the light clock enable signal.
Description
본 발명은 내부클럭 생성회로에 관한 것이다.The present invention relates to an internal clock generation circuit.
기술발전에 의해 점차 대용량화하는 반도체 메모리장치의 동작속도를 더욱 고속화하기 위해, 메모리컨트롤러(Memory Controller)로부터 공급되는 클럭에 동기하여 동작하는 동기식(synchronous) 반도체 메모리장치가 제안되었다.In order to further speed up the operation speed of the semiconductor memory device, which is gradually increasing in size due to the development of technology, a synchronous semiconductor memory device which operates in synchronization with a clock supplied from a memory controller has been proposed.
비동기식 반도체 메모리장치의 경우 클럭의 입력이 필요없이 로우 어드레스 스트로브신호 및 컬럼 어드레스 스트로브신호에 따라 내부 회로들의 동작이 인에이블되어 리드/라이트동작을 수행하도록 되어 있었는데 반해, 동기식 반도체 메모리장치의 경우에는 클럭에 동기 되어 내부 회로들이 동작하여 비동기식보다 더욱 고속동작에 적합한 구조를 이루고 있다. 더욱이 중앙처리장치(CPU)의 초고속화는 동기식 반도체 메모리장치를 더욱 요구하게 되었고, 그 발전 추세는 현재 DDR(Double Data Rate)이나 Rambus DRAM과 같은 초고속 동기식 반도체메모리장치에까지 이르고 있다.In the case of the asynchronous semiconductor memory device, the internal circuits are enabled according to the row address strobe signal and the column address strobe signal to perform read / write operations without requiring a clock input. Internal circuits operate in synchronization with the module, making it suitable for high speed operation rather than asynchronous operation. In addition, the ultra-high speed of the central processing unit (CPU) has required more synchronous semiconductor memory device, the development trend is now reaching the ultra-fast synchronous semiconductor memory device such as Double Data Rate (DDR) or Rambus DRAM.
한편, 동기식 반도체 메모리장치는 클럭(Clock)에 동기 하여 동작하게 되는데, 클럭(Clock)은 반도체 메모리장치의 내부 회로들에 사용되도록 내부클럭으로 바뀌어 사용되며, 이를 위해 내부클럭생성회로(Internal clock generating circuit)를 구비하게 되었다.On the other hand, the synchronous semiconductor memory device operates in synchronization with a clock (Clock), the clock (Clock) is used by changing the internal clock to be used in the internal circuits of the semiconductor memory device, for this purpose an internal clock generating circuit (Internal clock generating circuit) circuit).
도 1은 종래기술에 따른 내부클럭 생성회로의 블럭도이다.1 is a block diagram of an internal clock generation circuit according to the prior art.
도 1에 도시된 바와 같이, 내부클럭 생성회로(1)는 스탠바이(Standby) 상태에서 디스에이블되는 라스아이들신호(RAS_IDLE)에 응답하여 내부클럭(ICLK)을 디스에이블시키고, 엑티브(Active) 상태에서 인에이블되는 라스아이들신호(RAS_IDLE)에 응답하여 외부클럭(CLK)을 버퍼링하여 내부클럭(ICLK)으로 사용한다. As shown in FIG. 1, the internal
하지만, 이와 같은 구성의 내부클럭 생성회로(1)는 엑티브(Active) 상태 이후 새로운 커맨드의 입력이 없이 엑티브(Active) 상태가 유지되는 엑티브-스탠바이(Active-standby) 상태로 동작하는 경우 내부클럭(ICLK)의 토글링 현상으로 불필요한 전류소모가 발생한다.
However, the internal
따라서, 본 발명은 리드동작구간 동안 리드클럭을 생성하고, 라이트 동작구간 동안 라이트클럭을 생성하여 불필요한 클럭 토글링에 의한 전류소모량을 줄이는 내부클럭 생성회로를 개시한다.Accordingly, the present invention discloses an internal clock generation circuit that generates a read clock during the read operation period and generates a write clock during the write operation period to reduce the current consumption due to unnecessary clock toggling.
이를 위해, 본 발명은 리드동작구간 동안 인에이블되는 리드클럭 인에이블신호를 생성하고, 라이트 동작구간동안 인에이블되는 라이트클럭 인에이블신호를 생성하는 클럭인에이블 신호생성부 및 상기 리드클럭 인에이블신호에 응답하여 상기 리드동작구간 동안 인에이블되는 리드 클럭을 생성하고, 상기 라이트클럭 인에이블신호에 응답하여 상기 라이트동작구간동안 인에이블되는 라이트 클럭을 생성하는 내부클럭생성부를 포함하는 내부클럭 생성회로를 제공한다.
To this end, the present invention generates a read clock enable signal that is enabled during a read operation period, and a clock enable signal generation unit and a read clock enable signal that generate a light clock enable signal that is enabled during a write operation period. An internal clock generation circuit including an internal clock generation unit configured to generate a read clock enabled during the read operation period in response to the read operation, and generate a write clock enabled during the write operation period in response to the write clock enable signal; to provide.
도 1 은 종래기술에 따른 내부클럭 생성회로의 구성을 도시한 블럭도이다.
도 2 는 본 발명의 일 실시예에 따른 내부클럭 생성회로를 도시한 블럭도이다.
도 3 은 도 2에 도시된 리드클럭인에이블 신호생성부의 회로도이다.
도 4 는 도 2에 도시된 라이트클럭인에이블 신호생성부의 회로도이다.
도 5 는 도 2에 도시된 리드클럭생성부의 회로도이다.
도 6 은 도 2에 도시된 라이트클럭생성부의 회로도이다.
도 7 은 리드동작구간 동안 인에이블되는 리드클럭의 타이밍도이다.
도 8 은 라이트동작구간 동안 인에이블되는 라이트클럭의 타이밍도이다.1 is a block diagram showing the configuration of an internal clock generation circuit according to the prior art.
2 is a block diagram illustrating an internal clock generation circuit according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a circuit diagram of the lead clock enable signal generation unit shown in FIG. 2.
FIG. 4 is a circuit diagram of the light clock enable signal generation unit shown in FIG. 2.
FIG. 5 is a circuit diagram of the lead clock generation unit shown in FIG. 2.
FIG. 6 is a circuit diagram of the light clock generation unit shown in FIG. 2.
7 is a timing diagram of a lead clock enabled during a read operation period.
8 is a timing diagram of the light clock enabled during the write operation period.
이하, 실시예를 통하여 본 발명을 더욱 상세히 설명하기로 한다. 이들 실시예는 단지 본 발명을 예시하기 위한 것이며, 본 발명의 권리 보호 범위가 이들 실시예에 의해 제한되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples. These embodiments are only for illustrating the present invention, and the scope of rights of the present invention is not limited by these embodiments.
도 2 는 본 발명의 일 실시예에 따른 내부클럭 생성회로를 도시한 블럭도이다.2 is a block diagram illustrating an internal clock generation circuit according to an embodiment of the present invention.
내부클럭 생성회로는, 도 2에 도시된 바와 같이, 클럭인에이블 신호생성부(10), 내부클럭생성부(20) 및 제어부(30)를 포함한다.As illustrated in FIG. 2, the internal clock generation circuit includes a clock enable
클럭인에이블 신호생성부(10)는, 리드클럭인에이블 신호생성부(11) 및 라이트클럭인에이블 신호생성부(12)를 포함한다.The clock enable
리드클럭인에이블 신호생성부(11)는, 도 3에 도시된 바와 같이, 리드커맨드(RD_CMD) 및 모드레지스터리드커맨드(MRR_CMD)를 입력받아 부정논리합 연산하여 출력하는 제1 논리소자(NR10), 리드데이터 인에이블신호(RD_DATA_EN)를 반전 버퍼링하여 출력하는 제1 버퍼(IV10) 및 제1 논리소자(NR10) 및 제1 버퍼(IV10)의 출력신호를 입력받아 부정 논리곱 연산을 수행하여 리드클럭인에이블신호(RD_CLK_EN)를 생성하는 제2 논리소자(ND10)를 포함한다. 리드클럭인에이블 신호생성부(11)는 리드커맨드(RD_CMD) 또는 모드레지스터리드커맨드(MRR_CMD)가 입력되는 경우 리드클럭인에이블신호(RD_CLK_EN)를 로직하이레벨로 인에이블시키고, 리드동작구간 동안 리드데이터인에이블신호(RD_DATA_EN)가 로직하이레벨로 인에이블되는 경우 리드클럭인에이블신호(RD_CLK_EN)를 로직하이레벨로 인에이블시킨다.As shown in FIG. 3, the read clock enable
라이트클럭인에이블 신호생성부(12)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 클럭시프팅부(120) 및 제1 논리부(121)를 포함한다.As illustrated in FIG. 4, the light clock enable
클럭시프팅부(120)는 라이트클럭(WT_CLK)에 응답하여 라이트데이터인에이블신호(WT_DATA_EN)를 소정구간 지연하여 클럭시프팅신호(CLK_SH)를 생성하고, 제1 논리부(121)는 클럭시프팅신호(CLK_SH), 라이트커맨드(WT_CMD) 및 라이트데이터 인에이블신호(WT_DATA_EN)를 입력받아 논리합 연산을 수행하여 라이트클럭인에이블신호(WT_CLK_EN)를 출력한다. 라이트클럭인에이블신호생성부(12)는 라이트커맨드(WT_CMD) 및 라이트데이터인에이블신호(WT_DATA_EN)가 입력되는 경우 라이트클럭인에이블신호(WT_CLK_EN)를 로직하이레벨로 인에이블시키고, 라이트동작구간 이후 로직하이레벨로 생성되는 클럭시프팅신호(CLK_SH)에 따라 라이트클럭인에이블신호(WT_CLK_EN)를 로직하이레벨로 인에이블시킨다. 여기서, 클럭시프팅신호(CLK_SH)가 인에이블되는 구간은 라이트동작구간 이후 tWR(Write Recovery time)보다 긴 구간 동안 설정되는 것이 바람직하다. 또한, 라이트데이터인에이블신호(WT_DATA_EN)는 라이트동작구간 동안 로직하이레벨로 인에이블되는 신호이다.The
내부클럭생성부(20)는 리드클럭 생성부(21) 및 라이트클럭 생성부(22)를 포함한다. The
리드클럭 생성부(21)는, 도 5에 도시된 바와 같이, 외부클럭(CLK)을 소정구간 지연하여 출력하는 제1 지연부(210) 및 리드클럭 인에이블신호(RD_CLK_EN)와 제1 지연부(210)의 출력신호를 논리곱 연산을 수행하여 리드클럭(RD_CLK)을 생성하는 제2 논리부(211)를 포함한다. 리드클럭 생성부(21)는 리드클럭인에이블신호(RD_CLK_EN)가 로직하이레벨로 인에이블되는 경우 외부클럭(CLK)을 버퍼링하여 리드클럭(RD_CLK)을 인에이블시키고, 리드클럭인에이블신호(RD_CLK_EN)가 로직로우레벨로 디스에이블되는 경우 리드클럭(RD_CLK)을 로직로우레벨로 디스에이블시킨다.As illustrated in FIG. 5, the
라이트클럭 생성부(22)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 외부클럭(CLK)을 소정구간 지연하여 출력하는 제2 지연부(220) 및 라이트클럭 인에이블신호(WT_CLK_EN)와 제2 지연부(220)의 출력신호를 논리곱 연산을 수행하여 라이트클럭(WT_CLK)을 생성하는 제3 논리부(221)를 포함한다. 라이트클럭생성부(22)는 라이트클럭인에이블신호(WT_CLK_EN)가 로직하이레벨로 인에이블되는 경우 외부클럭(CLK)을 버퍼링하여 라이트클럭(WT_CLK)을 인에이블시키고, 라이트클럭인에이블신호(WT_CLK_EN)가 로직로우레벨로 디스에이블되는 경우 라이트클럭(WT_CLK)을 로직로우레벨로 디스에이블시킨다.As illustrated in FIG. 6, the
제어부(30)는 리드제어부(31) 및 라이트제어부(32)를 포함한다.The
리드제어부(31)는 리드동작구간 동안 인에이블되는 리드클럭(RD_CLK)에 응답하여 제어되고, 라이트제어부(32)는 라이트동작구간 동안 인에이블되는 라이트클럭(WT_CLK)에 응답하여 제어된다.The
이상 살펴본 내부클럭 생성회로의 동작을 도 7 및 도 8을 통하여 리드동작구간 및 라이트동작구간을 구분하여 설명하면 다음과 같다.The operation of the internal clock generation circuit described above will be described with reference to the read operation section and the write operation section through FIGS. 7 and 8 as follows.
도 7은 리드동작구간 동안 인에이블되는 리드클럭의 타이밍도이다.7 is a timing diagram of a lead clock enabled during a read operation period.
우선, t1 시점에 리드커맨드(RD_CMD)가 입력되면, 리드클럭인에이블 신호생성부(11)의 제1 논리소자(NR10)는 리드커맨드(RD_CMD) 및 모드레지스터리드커맨드(MRR_CMD)를 입력받아 부정논리합 연산을 수행하여 출력신호를 로직로우레벨로 출력하고, 제1 버퍼(IV10)는 리드동작 구간에서 로직하이레벨로 인에이블되는 리드데이터인에이블신호(RD_DATA_EN)를 반전 버퍼링하여 로직로우레벨을 출력한다. 제2 논리소자(ND10)는 t1 시점에 제1 논리소자(NR10)와 제1 버퍼(IV10)의 출력을 입력받아 리드클럭인에이블신호(RD_CLK_EN)를 로직하이레벨로 출력하고, 리드커맨드(RD_CMD) 및 리드데이터 인에이블신호(RD_DATA_EN)가 로직로우레벨로 생성되는 t2시점에 리드클럭인에이블신호(RD_CLK_EN)를 로직로우레벨로 생성한다.First, when the lead command RD_CMD is input at the time t1, the first logic element NR10 of the lead clock enable
리드클럭생성부(21)의 제1 논리부(211)는 t1시점에 로직하이레벨로 생성되는 리드클럭인에이블신호(RD_CLK_EN)와 외부클럭(CLK)을 버퍼링하여 출력하는 제1 지연부(210)의 출력을 논리곱 연산을 수행하여 리드클럭(RD_CLK)을 인에이블시키고, t2 시점에 로직로우레벨로 생성되는 리드클럭인에이블신호(RD_CLK_EN)와 외부클럭(CLK)을 버퍼링하여 출력하는 제1 지연부(210)의 출력을 논리곱 연산을 수행하여 리드클럭(RD_CLK)을 디스에이블시킨다.The
또한, 모드레지스터리드커맨드(MRR_CMD)가 입력되어 모드레지스터리드동작으로 동작하는 경우, 모드레지스터리드동작 구간 동안 인에이블되는 리드클럭(RD_CLK)은 리드동작구간 동안 인에이블되는 리드클럭(RD_CLK)과 동일한 시점에 인에이블되고, 동일한 시점에 디스에이블되므로 구체적인 설명은 생략한다.In addition, when the mode register read command MRR_CMD is input to operate in the mode register read operation, the lead clock RD_CLK enabled during the mode register read operation period is the same as the lead clock RD_CLK enabled during the read operation period. Since it is enabled at the time point and disabled at the same time point, a detailed description thereof will be omitted.
즉, 리드클럭(RD_CLK)은 리드동작구간 또는 모드레지스터 리드구간인 t1 시점부터 t2시점까지 인에이블되어 제어부(30)의 리드제어부(31)의 동작을 제어한다.That is, the read clock RD_CLK is enabled from a time point t1 to a time point t2 which is a read operation period or a mode register lead period to control the operation of the
도 8은 라이트동작 구간동안 인에이블되는 라이트클럭의 타이밍도이다.8 is a timing diagram of a light clock enabled during the write operation period.
우선, t11 시점에 라이트커맨드(WT_CMD)가 입력되면, 라이트클럭인에이블 신호생성부(12)의 클럭시프팅부(120)는 라이트클럭(WT_CLK)에 응답하여 라이트데이터인에이블신호(WT_DATA_EN)를 지연하여 라이트동작구간 이후 tWR(Write Recovery Time)보다 긴 구간 동안 로직하이레벨로 인에이블되는 클럭시프팅신호(CLK_SH)를 생성한다. 제1 논리부(121)는 클럭시프팅신호(CLK_SH)와 라이트커맨드(WT_CMD) 및 라이트동작구간에서 로직하이레벨로 인에이블되는 라이트데이터인에이블신호(WT_DATA_EN)를 논리합 연산을 수행하여 라이트클럭인에이블신호(WT_CLK_EN)를 로직하이레벨로 생성한다. 제1 논리부(121)는 t12 시점에 라이트동작구간 이후 tWR(Write Recovery Time)이 지난 시점에서 로직로우레벨로 디스에이블되는 클럭시프팅신호(CLK_SH)와 로직로우레벨의 라이트커맨드(WT_CMD) 및 라이트동작 구간 이후 로직로우레벨로 디스에이블되는 라이트데이터 인에이블신호(WT_DATA_EN)를 논리합 연산을 수행하여 라이트클럭 인에이블신호(WT_CLK_EN)를 디스에이블시킨다.First, when the light command WT_CMD is input at the time t11, the
라이트클럭생성부(22)의 제2 논리부(221)는 t11시점에 로직하이레벨로 생성되는 라이트클럭인에이블신호(WT_CLK_EN)와 외부클럭(CLK)을 버퍼링하여 출력하는 제2 지연부(220)의 출력을 논리곱 연산을 수행하여 라이트클럭(WT_CLK)을 인에이블시키고, t12 시점에 로직로우레벨로 생성되는 라이트클럭인에이블신호(WT_CLK_EN)와 외부클럭(CLK)을 버퍼링하여 출력하는 제2 지연부(220)의 출력을 논리곱 연산을 수행하여 라이트클럭(WT_CLK)을 디스에이블시킨다.The
즉, 라이트클럭(WT_CLK)은 라이트동작구간과 tWR(Write Recovery Time)보다 긴 구간 동안인 t11 시점부터 t12시점까지 인에이블되어 제어부(30)의 라이트제어부(32)의 동작을 제어한다.That is, the light clock WT_CLK is enabled from the time t11 to the time t12 during the write operation period and the period longer than the write recovery time (tWR) to control the operation of the
이상 살펴본 바와 같이 본 실시예의 내부클럭 생성회로는 리드동작 구간 동안 인에이블되는 리드클럭(RD_CLK)과 라이트동작 구간과 tWR(Write Recovery Time)보다 긴 구간 동안 인에이블되는 라이트클럭(WT_CLK)을 생성하여 엑티브스탠바이(Active-standby) 상태에서 내부클럭이 토글링 되지않아 불필요한 전류소모량을 줄일 수 있다.
As described above, the internal clock generation circuit of the present embodiment generates the read clock RD_CLK enabled during the read operation period and the write clock WT_CLK enabled during the write operation period and longer than the write recovery time (tWR). In active-standby mode, the internal clock is not toggled, reducing unnecessary current consumption.
10. 클럭인에이블 신호생성부 11. 리드클럭인에이블 신호생성부
12. 라이트클럭인에이블 신호생성부 20. 내부클럭 생성부
21. 리드클럭 생성부 22. 라이트클럭 생성부
30.제어부 31. 리드제어부
32. 라이트제어부 120. 클럭시프팅부
121. 제1 논리부 210. 제1 지연부
211. 제2 논리부 220. 제2 지연부
221. 제3 논리부10. Clock enable
12. Light clock enable
21.
30.
32.
121. The
211.
221.The third logic part
Claims (11)
상기 리드클럭 인에이블신호에 응답하여 상기 리드동작구간 동안 인에이블되는 리드 클럭을 생성하고, 상기 라이트클럭 인에이블신호에 응답하여 상기 라이트동작구간동안 인에이블되는 라이트 클럭을 생성하는 내부클럭생성부를 포함하는 내부클럭 생성회로.
A clock enable signal generation unit configured to generate a read clock enable signal enabled during the read operation period and to generate a write clock enable signal enabled during the write operation period; And
An internal clock generation unit configured to generate a read clock enabled during the read operation period in response to the read clock enable signal, and generate a write clock enabled during the write operation period in response to the light clock enable signal. Internal clock generation circuit.
리드커맨드 또는 모드레지스터리드커맨드에 응답하여 리드데이터 인에이블신호를 버퍼링하여 상기 리드클럭 인에이블신호를 생성하는 리드클럭인에이블 신호생성부; 및
라이트커맨드 및 라이트클럭에 응답하여 라이트데이터 인에이블신호를 버퍼링하여 상기 라이트클럭 인에이블신호를 생성하는 라이트클럭인에이블 신호생성부를 포함하는 내부클럭 생성회로.
The method of claim 1, wherein the clock enable signal generator
A read clock enable signal generator configured to generate a read clock enable signal by buffering a read data enable signal in response to a read command or a mode register read command; And
And a light clock enable signal generation unit configured to buffer the write data enable signal and generate the light clock enable signal in response to a light command and a light clock.
The internal clock generation circuit of claim 2, wherein the read data enable signal is enabled from an input time point of the lead command to a time point when the read operation period ends.
The internal clock generation circuit of claim 2, wherein the write data enable signal is enabled from the write command input time until the write operation period ends.
상기 리드커맨드 및 상기 모드레지스터 리드커맨드를 부정논리합 연산을 수행하여 출력하는 제1 논리소자;
상기 리드데이터 인에이블신호를 반전 버퍼링하여 출력하는 제1 버퍼; 및
상기 제1 논리소자의 출력과 상기 제1 버퍼의 출력을 부정 논리곱 연산을 수행하여 리드클럭인에이블신호를 출력하는 제2 논리소자를 포함하는 내부클럭 생성회로.
The method of claim 2, wherein the lead clock enable signal generation unit
A first logic device configured to perform an NOR operation on the lead command and the mode register lead command;
A first buffer for inverting and buffering the read data enable signal; And
And a second logic element configured to perform a negative AND operation on the output of the first logic element and the output of the first buffer to output a read clock enable signal.
상기 라이트 클럭에 응답하여 상기 라이트데이터 인에이블신호를 소정구간 지연하여 클럭시프팅신호를 생성하는 클럭시프팅부; 및
상기 클럭시프팅신호와 상기 라이트커맨드 및 상기 라이트데이터 인에이블신호를 논리합 연산을 수행하여 라이트클럭 인에이블신호를 생성하는 제1 논리부를 포함하는 내부클럭 생성회로.
The method of claim 2, wherein the light clock enable signal generation unit
A clock shifting unit generating a clock shifting signal by delaying the write data enable signal by a predetermined period in response to the write clock; And
And a first logic unit configured to generate a light clock enable signal by performing a logical sum operation on the clock shifting signal, the write command, and the write data enable signal.
상기 리드클럭 인에이블신호에 응답하여 외부클럭을 버퍼링하여 상기 리드 클럭을 생성하는 리드클럭생성부; 및
상기 라이트클럭 인에이블신호에 응답하여 상기 외부클럭을 버퍼링하여 상기 라이트 클럭을 생성하는 라이트클럭생성부를 포함하는 내부클럭 생성회로.
The method of claim 1, wherein the internal clock generation unit
A read clock generator configured to generate the read clock by buffering an external clock in response to the read clock enable signal; And
And a light clock generation unit configured to generate the light clock by buffering the external clock in response to the light clock enable signal.
상기 외부클럭을 소정구간 지연하여 출력하는 제1 지연부; 및
상기 제1 지연부의 출력과 상기 리드클럭인에이블신호를 논리곱 연산을 수행하여 상기 리드 클럭을 생성하는 제2 논리부를 포함하는 내부클럭 생성회로.
The method of claim 7, wherein the lead clock generation unit
A first delay unit outputting the external clock by delaying a predetermined interval; And
And a second logic unit configured to generate the read clock by performing an AND operation on the output of the first delay unit and the read clock enable signal.
상기 외부클럭을 소정구간 지연하여 출력하는 제2 지연부; 및
상기 제2 지연부의 출력과 상기 라이트클럭 인에이블신호를 논리곱 연산을 수행하여 라이트 클럭을 생성하는 제3 논리부를 포함하는 내부클럭 생성회로.
The method of claim 7, wherein the light clock generating unit
A second delay unit outputting the external clock by delaying a predetermined interval; And
And a third logic unit configured to generate a write clock by performing an AND operation on the output of the second delay unit and the light clock enable signal.
The internal clock generation circuit of claim 1, further comprising a controller configured to control a read operation and a write operation in response to the read clock and the write clock.
상기 리드 클럭에 응답하여 상기 리드동작을 제어하는 리드제어부; 및
상기 라이트 클럭에 응답하여 상기 라이트동작을 제어하는 라이트제어부를 포함하는 내부클럭 생성회로.
The method of claim 10, wherein the control unit
A read control unit controlling the read operation in response to the read clock; And
And a light controller configured to control the write operation in response to the write clock.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020100137924A KR20120076406A (en) | 2010-12-29 | 2010-12-29 | Internal clock generating circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020100137924A KR20120076406A (en) | 2010-12-29 | 2010-12-29 | Internal clock generating circuit |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20120076406A true KR20120076406A (en) | 2012-07-09 |
Family
ID=46710050
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020100137924A Ceased KR20120076406A (en) | 2010-12-29 | 2010-12-29 | Internal clock generating circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20120076406A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11031068B2 (en) | 2019-08-05 | 2021-06-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory device receiving data clock signals and operation method thereof |
-
2010
- 2010-12-29 KR KR1020100137924A patent/KR20120076406A/en not_active Ceased
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11031068B2 (en) | 2019-08-05 | 2021-06-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory device receiving data clock signals and operation method thereof |
| US11423970B2 (en) | 2019-08-05 | 2022-08-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory device receiving data clock signals and operation method thereof |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20101229 |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20151229 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20101229 Comment text: Patent Application |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20170322 Patent event code: PE09021S01D |
|
| E601 | Decision to refuse application | ||
| PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20170728 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20170322 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |