KR20090011422U - Transducer of semiconductor for replacing a capillary automatically and capillary auto replacing system using the same - Google Patents
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Abstract
본 고안은 반도체용 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서 및 이를 이용한 캐필러리 자동 교체 시스템에 관한 것으로, 특히 캐필러리 교체 작업을 자동화함으로써 캐필러리 교체 시간 및 비용을 현저히 감소시킬 수 있고, 캐필러리의 장착 높이를 균등하게 함으로써 불량 발생율을 낮출 수 있으며, 캐필러리 고정 나사를 생략함으로써 고정 나사 교체 작업을 생략할 수 있는 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서에 관한 것이다.The present invention relates to a transducer for automatic replacement of a capillary for semiconductors and an automatic capillary replacement system using the same, and in particular, by automatically automating the capillary replacement, the capillary replacement time and cost can be significantly reduced. By equalizing the mounting height of the capillary it is possible to lower the failure rate, and by omitting the capillary fixing screw relates to a transducer for automatic replacement of the capillary, which can omit the fixing screw replacement work.
본 고안의 반도체용 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서는, 몸체부와; 상기 몸체부에 형성되어, 캐필러리의 장착 및 탈착이 가능한 장착공과; 상기 몸체부에 형성되어, 상기 장착공의 크기를 조절하는 제어부재를 포함하는 것을 특징으로 한다.Transducer for automatic replacement of the capillary for semiconductor of the present invention, the body portion; A mounting hole formed in the body part and capable of mounting and detaching the capillary; It is formed in the body portion, characterized in that it comprises a control member for adjusting the size of the mounting hole.
Description
본 고안은 반도체 패키지 공정 중 와이어 본드 공정에서 반도체용 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서 및 이를 이용한 캐필러리 자동 교체 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a transducer for automatic replacement of a capillary for a semiconductor in a wire bond process during a semiconductor package process and a capillary automatic replacement system using the same.
와이어 본드(wire bond) 공정이란 반도체 패키지(semiconductor package) 제작을 위해 거치는 공정 중의 하나이며, 반도체 칩(chip)과 기판(substrate)을 골드 와이어(gold wire)로 연결시킴으로써 전기적 신호가 흐를 수 있도록 하여 반도체가 전기적 특성을 갖도록 하는 공정을 말한다.The wire bond process is one of the processes to manufacture the semiconductor package. The wire bond process connects the semiconductor chip and the substrate with a gold wire to allow electrical signals to flow. It is the process of making a semiconductor have electrical characteristics.
이 와이어 본드 공정에 사용되는 캐필러리(Capillary; 도 2의 도면부호 20 참조)란, 상기 골드 와이어를 직접 접합하고 와이어 궤적(wire loop)을 만드는데 사용되는 도구이다. 옷을 만드는데 사용되는 미싱을 예로 들자면, 바늘과 같은 역할을 하는 것이 캐필러리이고, 실에 해당하는 것이 골드 와이어가 된다.Capillary (see
이 캐필러리는 소모품으로서 사용량에는 한도가 있고, 사용량의 한도에 따라 교체될 필요가 있는 부품이다. 종래의 캐필러리 교체 과정을 살펴보면, 와이어 본드 장비에 캐필러리 사용량의 한도 값을 입력한 후 그 사용량의 한도 값에 도달하면 와이어 본드 장비가 경고(alarm)를 발생시켜 작업자를 호출한다. 이후 작업자는 경고가 발생한 와이어 본드 장비에서 캐필러리의 사용량을 초기화시키고, 캐필러리를 고정하고 있는 고정 나사를 제거한 뒤 새로운 캐필러리를 장착한다. 즉, 종래의 캐필러리 교체는 작업자의 수작업이 상당 부분 포함되어 있는 공정이었다.This capillary is a consumable item, which has a limit on the amount of use, and is a part that needs to be replaced according to the limit of the amount of use. Looking at the conventional capillary replacement process, after entering the limit value of the capillary usage in the wire bond equipment, the wire bond equipment generates an alarm to call the worker when the limit value of the usage is reached. The operator then resets the capillary usage in the warned wire bond equipment, removes the captive screws that hold the capillary and installs the new capillary. That is, the conventional capillary replacement was a process in which a large amount of manual labor was included.
실제 반도체 패키징 공정 현장에서는 와이어 본드 공정의 특성상 와이어 본드 장비가 수백 대에 이르는 경우가 많기 때문에, 와이어 본드 과정에서 여러 장비의 캐필러리를 교체하여야 하므로 많은 작업자의 노력이 소요된다는 문제점이 있었다. 또한 캐필러리 고정용 고정 나사를 제거하고 재설치하는 과정에서도 많은 시간이 소요되기 때문에, 캐필러리 교체 공정에서 많은 시간과 비용의 손실이 있었다.In actual semiconductor packaging process, because of the nature of the wire bond process, the wire bond equipment is often hundreds of units, there is a problem that a lot of effort is required because the capillaries of the various equipment must be replaced during the wire bonding process. In addition, since the process of removing and reinstalling the capillary fixing screw takes a lot of time, the capillary replacement process has lost a lot of time and money.
아울러 캐필러리의 교체가 수작업으로 이루어지기 때문에 각 와이어 본드 장비에 캐필러리의 설치 위치를 정하는 고정 핀(benching pin) 등의 구성이 없는 경우에는, 캐필러리 장착 위치가 균일하지 않게 되어 작업 불량의 발생하는 인자로 작용하게 되는 문제점도 있었다. 마지막으로 캐필러리를 와이어 본드 장비에 고정시키는 고정 나사의 마모로 인해 정기적인 교체가 필요하다는 불편함도 있었다.In addition, since the capillary is manually replaced, when the wire bonding equipment does not have a configuration such as a fixing pin for determining the capillary installation position, the capillary mounting position becomes uneven, resulting in poor work. There was also a problem that acts as a factor that occurs. Finally, the wear and tear of fixing screws that secure the capillary to the wire bond equipment also has the inconvenience of requiring regular replacement.
본 고안은 상기한 바와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 캐필러리 교체 작업을 자동화함으로써 캐필러리 교체 시간 및 비용을 현저히 감소시킬 수 있고, 캐필러리의 장착 높이를 균등하게 함으로써 불량 발생율을 낮출 수 있으며, 캐필러리 고정 나사를 생략함으로써 고정 나사 교체 작업을 생략할 수 있는 반도체용 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서 및 이를 이용한 캐필러리 자동 교체 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention is to solve the conventional problems as described above, by reducing the capillary replacement time and cost by automating the capillary replacement operation, by equalizing the mounting height of the capillary to reduce the failure rate An object of the present invention is to provide a transducer for automatic replacement of a capillary for semiconductors, which can be lowered and can omit a fixing screw replacement operation by omitting a capillary fixing screw, and an automatic capillary replacement system using the same.
상기 목적을 달성하기 위해, 본 고안은 몸체부와; 상기 몸체부에 형성되어, 캐필러리의 장착 및 탈착이 가능한 장착공과; 상기 몸체부에 형성되어, 상기 장착공의 크기를 조절하는 제어부재를 포함하여, 캐필러리 교체 작업을 자동화함으로써 캐필러리 교체 시간 및 비용을 현저히 감소시킬 수 있는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention body portion; A mounting hole formed in the body part and capable of mounting and detaching the capillary; It is formed in the body portion, including a control member for adjusting the size of the mounting hole, characterized in that the capillary replacement time and cost can be significantly reduced by automating the capillary replacement operation.
나아가 상기 몸체부는 상호 분리된 제 1 몸체부 및 제 2 몸체부를 포함하고, 상기 장착공은 상기 제 1 몸체부 및 제 2 몸체부에 걸쳐 형성되고, 상기 제어부재는 상기 제 1 몸체부 및 제 2 몸체부 간의 이격 거리를 조절함으로써 장착공의 크기를 제어함으로써 상기 제 1 및 제 2 몸체부 사이의 크랙 폭이 조정되는 것을 특징으로 한다.Furthermore, the body portion includes a first body portion and a second body portion separated from each other, the mounting hole is formed over the first body portion and the second body portion, the control member is the first body portion and the second By controlling the size of the mounting hole by adjusting the separation distance between the body portion is characterized in that the crack width between the first and second body portion is adjusted.
나아가 상기 제어부재는 상기 제 1 및 제 2 몸체부에 전기적 압력을 인가하여, 상기 제 1 및 제 2 몸체부 간의 이격거리를 제어하는 전기적 압력장치인 것이 바람직하다.Furthermore, it is preferable that the control member is an electrical pressure device that applies electrical pressure to the first and second body parts to control the separation distance between the first and second body parts.
나아가 상기 몸체부는 단면이 직사각형인 직육면체 형상으로 이루어지고, 상기 장착공은 상기 몸체부의 일측 단부에 타원 형상으로 형성되는 것이 바람직하다.Furthermore, the body portion is formed in a rectangular parallelepiped shape having a rectangular cross section, and the mounting hole is preferably formed in an elliptic shape at one end of the body portion.
한편 상기 장착공은 중공의 원통 형상으로 형성되어, 상기 캐필러리에 대한 지지력을 충분히 확보하는 것을 특징으로 한다.On the other hand, the mounting hole is formed in a hollow cylindrical shape, characterized in that to ensure a sufficient bearing capacity for the capillary.
또한 본 고안에 따르는 캐필러리 자동 교체 시스템은, 몸체부와, 상기 몸체부에 형성되어 캐필러리의 장착 및 탈착이 가능한 장착공과, 상기 몸체부에 형성되어 상기 장착공의 크기를 조절하는 제어부재를 포함하는 반도체용 캐필러리 자동교체를 위한 트랜스듀서, 상기 캐필러리의 교체 시 새로운 캐필러리가 위치하여, 상기 트랜스듀서에 설치될 캐필러리의 교체가 이루어지는 캐필러리 교체부, 상기 캐필러리 및 상기 캐필러리 교체부의 위치 좌표가 입력 및 저장되는 와이어 본딩 프로그램을 포함하는 것을 특징으로 하는 캐필러리 자동 교체 시스템.In addition, the capillary automatic replacement system according to the present invention, the body portion, the mounting hole formed in the body portion and the capillary can be mounted and detached, and the control portion formed in the body portion to adjust the size of the mounting hole Transducer for automatic replacement of the capillary for semiconductor, including a new capillary is located when the replacement of the capillary, the capillary replacement unit made of replacement of the capillary to be installed in the transducer, the capillary And a wire bonding program in which position coordinates of the capillary replacement unit are input and stored.
나아가 상기 와이어 본딩 프로그램에 저장되는 캐필러리 또는 캐필러리 교체부의 위치 좌표는 가로, 세로 및 높이의 좌표로 입력되어, 정확한 위치를 좌표 데이터로 저장할 수 있는 것을 특징으로 한다.Further, the position coordinates of the capillary or capillary replacement unit stored in the wire bonding program may be input as coordinates of horizontal, vertical and height, so that the correct position may be stored as coordinate data.
나아가 상기 캐필러리 교체부에는, 교체할 새로운 캐필러리가 준비되었는지 여부를 감지하여 이 신호를 상기 와이어 본딩 프로그램으로 전달하는 캐필러리 감지부가 더 구비되어, 작업 효율을 높이며 불량 발생률을 감소시킬 수 있는 것을 특징으로 한다.Furthermore, the capillary replacement unit may further include a capillary detection unit that detects whether a new capillary to be replaced is prepared and transmits this signal to the wire bonding program, thereby increasing work efficiency and reducing a failure rate. It is characterized by being.
나아가 캐필러리 교체 과정에서 새로운 캐필러리가 상기 캐필러리 교체부에 그대로 남아있을 경우, 상기 캐필러리 감지부는 이 정보를 와이어 본딩 프로그램에 신호로 전달하고, 상기 와이어 본딩 프로그램은 상기 트랜스듀서의 이동을 다시 실시하거나 상기 캐필러리 교체부의 위치 좌표 보정을 실시하는 것이 바람직하다.Furthermore, if a new capillary remains in the capillary replacement unit during the capillary replacement process, the capillary detector transmits this information to a wire bonding program as a signal, and the wire bonding program is configured to It is preferable to perform the movement again or to perform the position coordinate correction of the capillary replacement unit.
또한 사용량의 한도에 이른 캐필러리를 폐기하기 위하여 소정 위치에 구비되는 폐기함이 더 구비되는 것이 바람직하다.In addition, it is preferable that a waste bin provided at a predetermined position is further provided to discard the capillary reaching the limit of usage.
나아가 상기 와이어 본딩 프로그램에는 상기 폐기함의 위치 좌표가 입력 및 저장되는 것이 바람직하다.Furthermore, it is preferable that the position coordinates of the waste bin are input and stored in the wire bonding program.
본 고안의 반도체용 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서 및 이를 이용한 캐필러리 자동 교체 시스템은, 캐필러리 교체 작업을 자동화함으로써 캐필러리 교체 시간 및 비용을 현저히 감소시킬 수 있고, 캐필러리의 장착 높이를 균등하게 함으로써 불량 발생율을 낮출 수 있으며, 캐필러리 고정 나사를 생략함으로써 고정 나사 교체 작업을 생략할 수 있는 효과를 제공한다.The transducer for the automatic replacement of the capillary for semiconductor and the capillary automatic replacement system using the same of the present invention can significantly reduce the capillary replacement time and cost by automating the capillary replacement operation, By making the mounting height even, the failure rate can be lowered, and by eliminating the capillary fixing screw, the fixing screw replacement operation can be omitted.
본 고안은 기재된 실시예에 한정하는 것이 아니고, 본 고안의 사상 및 범위를 벗어나지 않는 한 다양하게 수정 및 변형을 할 수 있음은 당업자에게 자명하다고 할 수 있는 바, 그러한 변형예 또는 수정예들은 본 고안의 실용신안등록청구범위에 속하는 것이다.The present invention is not limited to the embodiments described, it can be obvious to those skilled in the art that various modifications and variations can be made without departing from the spirit and scope of the present invention, such modifications or modifications are present invention It belongs to the scope of claims for utility model registration.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 고안에 따른 반도체용 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서 및 이를 이용한 캐필러리 자동 교체 시스템의 일실시예에 대 해 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, an embodiment of a transducer for automatic replacement of a capillary for semiconductors according to the present invention and a capillary automatic replacement system using the same will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 고안에 따르는 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서의 사시도이다. 여기서 트랜스듀서(transducer; 10)란, 와이어 본딩(wire bonding)을 하기 위해 사용되는 초음파 진동을 캐필러리로 전달하는 부분이다. 예를 들어 본 고안에 따르는 트랜스듀서(10)의 몸체부(11)는 대략 단면이 직사각형인 직육면체 형상으로 이루어지되, 일측 단부(도 1에서 좌측 단부)는 타원 형상으로 형성될 수 있다.1 is a perspective view of a transducer for automatic replacement of a capillary according to the present invention. Here, the
트랜스듀서(10)의 몸체부(11)에서 타원 형상으로 이루어진 단부 측에는, 캐필러리(20; 도 2 참조)가 장착 및 고정되기 위한 장착공(14)이 상하 방향을 관통하여 예컨대 중공의 원통 형상으로 형성된다. 또 상기 몸체부(11)는 상호 분리된 제 1 몸체부(11a) 및 제 2 몸체부(11b)를 포함하여, 트랜스듀서(10)의 길이 방향(도 1에서 좌측 하단에서 우측 상단을 따르는 방향)을 따라 상기 제 1 및 제 2 몸체부(11a, 11b) 사이로 소정 폭의 크랙(16)이 장착공(14)을 가로질러 형성된다.At the end side of the
한편 몸체부(11)의 타측 단부(도 1에서 우측 단부)에는 대략 직육면체 형상의 제어부재(12)가 구비되며, 이 제어부재(12)는 예컨대 압전(piezoelectric) 소자 등 전기 에너지에 의하여 기계적 압력을 가할 수 있는 전기적 압력장치를 포함하고, 이 전기적 압력장치가 몸체부(11)에 소정 압력을 가함으로써 상기 캐필러리(20)가 상기 장착공(14)에 장착 및 탈착 가능하도록 한다. 예를 들어, 이 제어부재(12)에 전기적 압력이 가해지면 크랙(16)의 폭이 감소하여 장착공(14)에 삽입된 캐필러리(20; 도 3 참조) 고정시킬 수 있게 된다.On the other hand, the other end (right end in Fig. 1) of the
그리고 도 2는 본 고안에 따르는 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서에 서 캐필러리를 교체하는 과정을 도시한 도면이다. 도 2를 참고하면 트랜스듀서(10)로부터 캐필러리(20)를 교체하는 과정에서, 새로운 캐필러리(20)를 보관하는 캐필러리 교체부(22)와, 이 캐필러리 교체부(22)에 새로운 캐필러리(20)가 준비되었는지 여부를 감지하는 캐필러리 감지부(24)가 구비된다. 또한 도면에는 도시되지 않았으나, 캐필러리(20)의 교체 과정에서 사용량의 한도에 이른 캐필러리(20)를 폐기하는 장소로서 폐기함(미도시)도 별도로 구비된다.And Figure 2 is a view showing a process of replacing the capillary in the transducer for automatic replacement of the capillary according to the present invention. Referring to Figure 2 in the process of replacing the
도 3은 본 고안에 따르는 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서(10)에 캐필러리(20)가 고정된 상태를 도시한 도면으로, 캐필러리(20)가 트랜스듀서(10)의 장착공(14)에 삽입되어 고정된 상태가 된다.3 is a view showing a state in which the
한편 와이어 본드 장치에는 와이어 본딩 프로그램(wire bonding program)이 구비되고, 이 와이어 본딩 프로그램에는 캐필러리(20)의 위치 정보가 가로 좌표(x), 세로 좌표(y) 및 높이 좌표(z)로 입력되어 저장된다. 그리고 이 캐필러리(20) 및 트랜스듀서(10)가 이동하는 경로로서, 캐필러리(20)가 폐기되는 폐기함(미도시)과 새로운 캐필러리(20)로 교체되는 캐필러리 교체부(22)의 위치 정보 또한 가로, 세로 및 높이 좌표로 입력되어 저장된다.On the other hand, the wire bonding apparatus is provided with a wire bonding program, and the wire bonding program includes the position information of the
이상의 설명을 참고하여 본 고안에 따르는 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서의 작동 과정을 살펴보면 다음과 같다.Looking at the operation of the transducer for the automatic replacement of the capillary according to the present invention with reference to the above description as follows.
설치되어 있던 캐필러리(20)가 사용량의 한도에 이르게 되면, 트랜스듀서(10)에 의하여 이 캐필러리(20)를 소정 위치의 폐기함(미도시)으로 이동시킨 후 자동으로 제거한다. 이 때 캐필러리(20)를 고정 지지하고 있는 트랜스듀서(10)가 이동하는 과정에서는 와이어 본딩 프래그램에 저장된 캐필러리(20)의 위치 좌표를 이용하고, 별도로 저장된 폐기함(미도시)의 위치 좌표로 트랜스듀서(10)가 직접 이동하게 된다. 또한 트랜스듀서(10)에서 캐필러리(20)를 자동으로 제거하는 과정에서는, 트랜스듀서(10)의 일단부에 구비된 제어부재(12)의 전기적 압력장치의 작동에 의하여 트랜스듀서(10)에 가하고 있던 압력을 해제함으로써, 트랜스듀서(10)의 크랙(16) 간격이 증가하고 중력에 의해 사용이 완료된 캐필러리(20)가 자동으로 폐기함(미도시)으로 떨어지게 된다.When the installed
이후 트랜스듀서(10)는 캐필러리 교체부(22)로 이동하고(도 2 참조), 교체할 새로운 캐필러리(20)가 트랜스듀서(10)에 설치된다. 이 때 와이어 본딩 프로그램에 저장된 캐필러리 교체부(22)의 위치 좌표를 이용하여 트랜스듀서(10)가 캐필러리 교체부(22)로 이동한 뒤, 미리 입력된 소정 높이 좌표(z)만큼 하강 이동하여 트랜스듀서(10)의 장착공(14)에 캐필러리(20)가 삽입되고, 제어부재(12)의 전기적 압력장치가 압력을 가함으로써 캐필러리(20)가 장착공(14)에 고정된다.The
이 때 캐필러리 교체부(22)에 설치된 캐필러리 감지부(24)는 캐필러리 교체부(22)에 캐필러리(20)가 위치하는지 여부를 감지하는 구성으로, 위와 같은 캐필러리(20) 교체 과정에서 캐필러리(20) 유무를 감지함으로써 트랜스듀서(10)에 캐필러리(20)가 설치되었는지 여부를 감지하여 와이어 본딩 프로그램에 전달하는 역할을 한다. 만일 캐필러리(20) 교체 과정에서 새로운 캐필러리(20)가 트랜스듀서(10)의 장착공(14)에 정상적으로 설치되지 않거나, 트랜스듀서(10)가 캐필러리 교체부(22)의 위치 좌표로 정확하게 이동하지 못하는 등의 이유로 새로운 캐필러리(20)가 캐 필러리 교체부(22)에 그대로 남아있을 경우, 캐필러리 감지부(24)는 이 정보를 와이어 본딩 프로그램에 신호로 전달하고, 와이어 본딩 프로그램은 트랜스듀서(10)의 이동을 다시 실시하거나 캐필러리 교체부(22)의 위치 좌표(가로, 세로 및 높이)의 보정을 실시하여 캐필러리(20) 교체 작업을 재실시하도록 할 수 있다.At this time, the
본 고안에 따르는 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서 및 이를 이용한 캐필러리 자동 교체 시스템은 이와 같은 구성에 의하여, 캐필러리 교체 작업을 자동화함으로써 캐필러리 교체 시간 및 비용을 현저히 감소시킬 수 있고, 캐필러리의 장착 높이를 균등하게 함으로써 불량 발생율을 낮출 수 있으며, 캐필러리 고정 나사를 생략함으로써 고정 나사 교체 작업을 생략할 수 있는 효과를 제공할 수 있다.The transducer for the automatic replacement of the capillary and the capillary automatic replacement system using the same according to the present invention can significantly reduce capillary replacement time and cost by automating the capillary replacement operation. By equalizing the mounting height of the capillary, the incidence of defects can be lowered, and by omitting the capillary fixing screw, the replacement of the fixing screw can be provided.
도 1은 본 고안에 따르는 반도체용 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서의 사시도;1 is a perspective view of a transducer for automatic replacement of a capillary for semiconductors according to the present invention;
도 2는 본 고안에 따르는 반도체용 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서에서 캐필러리를 교체하는 과정을 도시한 도면; 그리고,2 is a view showing a process of replacing the capillary in the transducer for automatic replacement of the capillary for semiconductors according to the present invention; And,
도 3은 본 고안에 따르는 반도체용 캐필러리의 자동 교체를 위한 트랜스듀서에서 캐필러리가 교체된 상태를 도시한 도면이다.3 is a view showing a state in which the capillary is replaced in the transducer for the automatic replacement of the capillary for semiconductor according to the present invention.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
10 : 트랜스듀서 11 : 몸체부10: transducer 11: body
11a : 제 1 몸체부 11b : 제 2 몸체부11a:
12 : 제어부재 14 : 장착공12: control member 14: mounting hole
16 : 크랙 20 : 캐필러리16: crack 20: capillary
22 : 캐필러리 교체부 24 : 캐필러러 감지부22: capillary replacement unit 24: capillary detection unit
Claims (11)
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| KR2020080005941U KR20090011422U (en) | 2008-05-06 | 2008-05-06 | Transducer of semiconductor for replacing a capillary automatically and capillary auto replacing system using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR2020080005941U KR20090011422U (en) | 2008-05-06 | 2008-05-06 | Transducer of semiconductor for replacing a capillary automatically and capillary auto replacing system using the same |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20090011422U true KR20090011422U (en) | 2009-11-11 |
Family
ID=42931558
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR2020080005941U Withdrawn KR20090011422U (en) | 2008-05-06 | 2008-05-06 | Transducer of semiconductor for replacing a capillary automatically and capillary auto replacing system using the same |
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|---|---|
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012176957A1 (en) * | 2011-06-22 | 2012-12-27 | 주식회사 일원 | Automatic capillary replacement system |
| KR101352586B1 (en) * | 2011-11-10 | 2014-01-20 | 주식회사 일원 | A system for exchanging capillary automatically |
| US8672210B2 (en) | 2012-02-28 | 2014-03-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Capillary exchange system of semiconductor wire bonding |
| US10692834B2 (en) | 2017-04-05 | 2020-06-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for replacing capillary |
-
2008
- 2008-05-06 KR KR2020080005941U patent/KR20090011422U/en not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012176957A1 (en) * | 2011-06-22 | 2012-12-27 | 주식회사 일원 | Automatic capillary replacement system |
| KR101352586B1 (en) * | 2011-11-10 | 2014-01-20 | 주식회사 일원 | A system for exchanging capillary automatically |
| US8672210B2 (en) | 2012-02-28 | 2014-03-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Capillary exchange system of semiconductor wire bonding |
| US10692834B2 (en) | 2017-04-05 | 2020-06-23 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method for replacing capillary |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| UA0108 | Application for utility model registration |
Comment text: Application for Utility Model Registration Patent event code: UA01011R08D Patent event date: 20080506 |
|
| UG1501 | Laying open of application | ||
| UC1204 | Withdrawal of no request for examination | ||
| WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |