KR20080064918A - Temperature and voltage measuring device - Google Patents
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Abstract
본 발명은 전지의 온도와 전압을 동시에 측정할 수 있는 장치로서, 온도 센서가 부착되어 있는 한 쌍의 온도 측정 플레이트 부재들과, 상기 플레이트 부재에 장착되어 있는 전압 측정 프루브들로 구성된 측정장치를 제공한다. The present invention provides an apparatus capable of simultaneously measuring the temperature and voltage of a battery, the apparatus comprising a pair of temperature measuring plate members to which a temperature sensor is attached, and a voltage measuring probe mounted to the plate member. do.
상기 측정장치는 하부 플레이트 부재 상에 시편을 탑재한 상태에서 상부 플레이트 부재를 하강시켜 시편 상에 밀착시킬 때, 전압 측정 프루브들은 시편의 전극단자에 접촉되므로, 온도와 전압을 간단한 조작으로 한번에 측정할 수 있는 효과가 있다. When the measuring device is attached to the specimen by lowering the upper plate member while the specimen is mounted on the lower plate member, the voltage measuring probes contact the electrode terminals of the specimen, so that the temperature and voltage can be measured at a time by simple operation. It can be effective.
Description
도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 따른 온도 및 전압 측정장치의 사시도이다;1 is a perspective view of a temperature and voltage measuring device according to an embodiment of the present invention;
도 2는 전압 측정장치에 대한 부분 확대도이다;2 is a partially enlarged view of a voltage measuring device;
도 3은 온도 센서의 회로 배선을 나타낸 온도 측정용 플레이트의 모식도이다.It is a schematic diagram of the plate for temperature measurement which shows the circuit wiring of a temperature sensor.
본 발명은 테스트 시편의 온도 및 전압을 동시에 측정하는 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는, 온도 센서가 적어도 일측에 부착되어 있는 한 쌍의 온도 측정용 플레이트 부재들(A, B)과, 상기 플레이트 부재(A 및/또는 B)에 장착되어 있는 한 쌍의 전압 측정용 프루브들(a, b)을 포함하고 있고, 플레이트 부재(A) 상에 시편을 탑재한 상태에서 플레이트 부재(B)를 하강시켜 시편 상에 밀착시킬 때, 상기 프루브들(a, b)은 시편의 전극단자에 접촉되는 구조의 온도 및 전압 측정장치에 관 한 것이다.The present invention relates to a device for simultaneously measuring the temperature and voltage of a test specimen, and more particularly, a pair of temperature measuring plate members (A, B) having a temperature sensor attached to at least one side, and the plate It includes a pair of voltage measuring probes (a, b) attached to the member (A and / or B), the plate member (B) is lowered in the state of mounting the specimen on the plate member (A) In this case, the probes (a, b) relate to a temperature and voltage measuring device having a structure in contact with the electrode terminal of the specimen.
모바일 기기에 대한 기술 개발과 수요가 증가함에 따라 에너지원으로서의 전지의 수요가 급격히 증가하고 있고, 그에 따라 다양한 요구에 부응할 수 있는 전지에 대한 많은 연구가 행해지고 있다.As technology development and demand for mobile devices increase, the demand for batteries as energy sources is rapidly increasing, and accordingly, many studies on batteries that can meet various demands have been conducted.
대표적으로 전지의 형상 면에서는 얇은 두께로 휴대폰 등과 같은 제품들에 적용될 수 있는 각형 이차전지와 파우치형 이차전지에 대한 수요가 높고, 재료 면에서는 높은 에너지 밀도, 방전 전압, 출력 안정성의 리튬이온 전지, 리튬이온 폴리머 전지 등과 같은 리튬 이차전지에 대한 수요가 높다.Representatively, there is a high demand for rectangular secondary batteries and pouch secondary batteries, which can be applied to products such as mobile phones with a thin thickness in terms of shape of batteries, and lithium ion batteries with high energy density, discharge voltage, and output stability in terms of materials. There is a high demand for lithium secondary batteries such as lithium ion polymer batteries.
이차전지들은 작동 과정에서 계속적인 충방전을 반복하게 되고, 이 과정에서 다량의 열을 발생함과 동시에 전지의 출력 전압 상태가 변화될 수 있다. 이러한 발열로 인한 온도 상승과, 출력 전압의 변화는 해당 전지를 사용하는 소자의 오작동을 유발하고 작동 효율을 저하시킬 뿐만 아니라, 전지의 수명을 크게 단축시키는 원인이 된다. Secondary batteries are repeatedly charged and discharged during the operation, and in this process, a large amount of heat may be generated and the output voltage state of the battery may be changed. The increase in temperature and the change in the output voltage due to the heat generation not only cause malfunction of the device using the battery and reduce operating efficiency, but also cause a shortening of the battery life.
따라서, 전지에 대한 최적의 작동 상태 및 안전성을 확보하기 위하여 제품의 생산단계 이전에 많은 시험들이 행해지며, 그러한 시험 중에는 테스트 시편의 전압, 전류 등의 전기 화학적 작동 상태와 온도와 압력 등의 물리적 작동 상태를 측정하는 과정이 포함된다.Therefore, many tests are performed before the production stage of the product to ensure the optimum operating state and safety of the battery, during which the electrochemical operating state such as voltage and current of the test specimen and physical operation such as temperature and pressure The process of measuring the condition is included.
일반적으로 전지의 성능을 평가하기 대표적인 테스트는 온도 측정과 전압 측정을 들 수 있다. 일반적으로, 온도 변화는 전지의 상태를 변화시켜 필수적으로 전압의 변화를 수반하게 된다. 따라서, 전지 성능에 대한 정확한 테스트를 위해서 는 특정 온도에서의 전압 측정치가 요구되며, 이를 위해 온도 측정과 전압 측정은 동시에 이루어질 필요가 있다. In general, representative tests for evaluating battery performance include temperature measurements and voltage measurements. In general, a change in temperature changes the state of the cell, essentially accompanied by a change in voltage. Therefore, accurate measurements of battery performance require voltage measurements at specific temperatures, and temperature and voltage measurements need to be made at the same time.
온도 측정은 전지의 표면에 온도 센서를 부착하여 수행하며, 전압 측정은 양극 단자와 음극 단자에 각각 전압 측정 프루브를 접촉시켜 수행하게 된다. 따라서, 시편 전지의 온도와 전압을 동시에 측정하고자 하는 경우에는 이를 위한 다수의 측정 수단들을 해당 부위에 부착 내지 접촉시키는 과정을 거쳐야 하므로, 측정 과정이 매우 번거롭다.The temperature measurement is performed by attaching a temperature sensor to the surface of the battery, and the voltage measurement is performed by contacting the voltage measuring probes with the positive and negative terminals, respectively. Therefore, when the temperature and voltage of the specimen battery are to be measured at the same time, a plurality of measuring means must be attached or contacted to the corresponding site, so the measurement process is very cumbersome.
따라서, 테스트 시편의 다양한 온도 측정 부위에서의 효율적인 온도 측정 및, 온도와 전압을 간단한 조작을 통해 동시에 측정할 있는 기술에 대한 필요성이 높은 실정이다.Therefore, there is a high need for efficient temperature measurement at various temperature measurement sites of test specimens and a technique for simultaneously measuring temperature and voltage through simple operation.
본 발명은 종래기술의 문제점과 과거로부터 요청되어온 기술적 과제를 해결하는 것을 목적으로 한다.The present invention aims to solve the problems of the prior art and the technical problems that have been requested from the past.
본 출원의 발명자들은 심도 있는 연구와 다양한 실험을 거듭한 끝에, 온도 센서가 부착된 플레이트의 양 측면에 전압 측정 프루브를 장착함으로써, 다수의 측정 수단들을 해당 부위에 부착 내지 접촉시키는 복잡한 과정 없이, 테스트 시편에 대한 온도와 전압을 간단한 조작을 통해 한번에 측정할 수 있음을 확인하고, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.After extensive research and various experiments, the inventors of the present application have mounted voltage measuring probes on both sides of a plate on which a temperature sensor is attached, so that a plurality of measuring means can be attached or contacted to a corresponding site without testing. It was confirmed that the temperature and voltage with respect to the specimen can be measured at a time through a simple operation, and came to complete the present invention.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 측정 장치는 테스트 시편의 온도 및 전압을 동시에 측정하는 장치로서, 더욱 상세하게는 온도 센서가 적어도 일측에 부착되어 있는 한 쌍의 온도 측정용 플레이트 부재들(A, B)과, 상기 플레이트 부재(A 및/또는 B)에 장착되어 있는 한 쌍의 전압 측정용 프루브들(a, b)을 포함하고 있고, 플레이트 부재(A) 상에 시편을 탑재한 상태에서 플레이트 부재(B)를 하강시켜 시편 상에 밀착시킬 때, 상기 프루브들(a, b)은 시편의 전극단자에 접촉되는 것으로 구성되어 있다.The measuring device according to the present invention for achieving this object is a device for simultaneously measuring the temperature and voltage of the test specimen, more specifically, a pair of temperature measuring plate members (A) having a temperature sensor attached to at least one side (A , B) and a pair of voltage measuring probes (a, b) mounted on the plate members (A and / or B), with the specimen mounted on the plate member (A). When the plate member B is lowered and brought into close contact with the specimen, the probes a and b are configured to contact the electrode terminals of the specimen.
즉, 본원발명의 측정장치는 시편 전지의 온도와 전압을 측정하고자 하는 경우에 이를 위한 측정 수단들을 해당 부위에 부착 내지 접촉시키는 별도의 과정없이 한번의 간단한 조작에 의해 온도와 전압을 동시에 측정할 수 있도록 구성되어 있다. That is, the measuring device of the present invention can measure the temperature and voltage at the same time by one simple operation without any additional process of attaching or contacting the measuring means for this purpose when measuring the temperature and voltage of the specimen battery. It is configured to.
상기 플레이트 부재들(A, B)은 온도 센서와 전압 측정 프루브를 고정하는 지지대가 일측에 부착되어 있으며, 테스트 시편을 지지 및 고정하는 역할을 하게 된다. 정확한 온도 및 전압 측정을 위해서, 온도 센서가 테스트 시편 전면에 대하여 밀착되고, 전압 측정 프루브들(a, b)은 시편의 전극단자에 정확한 위치에 접촉될 것이 요구된다. 따라서, 플레이트 부재들(A, B)은 대칭형의 대략 동일한 판상 구조가 바람직하다.The plate members A and B have a support for fixing the temperature sensor and the voltage measuring probe to one side, and serve to support and fix the test specimen. For accurate temperature and voltage measurements, the temperature sensor is in close contact with the front surface of the test specimen, and the voltage measurement probes a and b are required to contact the electrode terminals of the specimen at the correct position. Therefore, the plate members A and B are preferably symmetrical substantially identical plate-like structures.
본원발명의 측정장치는 하부 플레이트 부재(A) 상에 테스트 시편을 위치시키고 상부 플레이트 부재(B)를 하강시켜 시편의 온도와 전압을 측정하게 되므로, 상 기 플레이트 부재들(A, B) 중에서 적어도 하나는 상하 왕복 운동이 가능한 구조로 구성된다. 바람직하게는 하부 플레이트 부재(A) 상에는 적어도 하나의 가이드 바가 상향으로 설치되어 있고, 상부 플레이드 부재(B)에는 상기 가이드 바가 삽입되어 움직일 수 있는 가이드 홀이 형성되어 있어서, 상기 가이드 바와 가이드 홀에 의해 상부 플레이트 부재(B)를 상하로 왕복 이동시킬 수 있는 구조일 수 있다. 특히, 상기 플레이트 부재들(A, B)은 사각형 판상 구조로 이루어져 있고, 4 곳의 모서리 부근에 가이드 바/홀이 위치하고 있는 구조가 바람직하다.Since the measuring device of the present invention places the test specimen on the lower plate member (A) and lowers the upper plate member (B) to measure the temperature and voltage of the specimen, at least among the plate members (A, B). One is composed of a structure capable of vertical reciprocating motion. Preferably, at least one guide bar is provided upward on the lower plate member A, and the guide plate is formed in the upper plate member B so that the guide bar can be inserted into and moved. It can be a structure capable of reciprocating the upper plate member (B) up and down by this. In particular, the plate members (A, B) has a rectangular plate-like structure, it is preferable that the guide bar / hole is located in the vicinity of the four corners.
상기 프루브들(a, b)은 상부 플레이트 부재(B)에 부착되어, 테스트 시편의 양 전극 단자에 접촉하여 전압을 측정하게 된다. 프루브들(a, b)의 위치는 시편의 전극 단자의 위치에 따라 달라질 수 있으며, 플레이트 부재(B)의 일 측면에 함께 장착되어 있거나 서로 대향하는 측면에 각각 형성되는 것으로 구성된다.The probes a and b are attached to the upper plate member B to measure voltage by contacting both electrode terminals of the test specimen. The positions of the probes (a, b) may vary depending on the position of the electrode terminal of the specimen, and are configured to be mounted together on one side of the plate member (B) or formed on opposite sides of each other.
바람직하게는 상부 플레이트 부재(B)에는 프루브가 삽입되어 고정될 수 있는 지지부가 형성되어 있는 구조일 수 있으며, 특히 상기 지지부는 플레이트 부재(B)의 측면에 일체로 형성되어 있거나 부착되어 있는 환형 링의 형상일 수 있다.Preferably, the upper plate member (B) may have a structure in which a support portion is formed to insert and fix the probe, and in particular, the support portion is an annular ring which is integrally formed or attached to the side of the plate member (B). It may be in the shape of.
상기 온도 센서는 테스트 시편에 대한 정확한 온도 측정을 위해 하나 이상의 온도 센서가 시편에 밀착되도록 구성된다. 다만, 테스트 시편의 비이상적인 작동으로 국부에 한정하여 온도의 변화가 있을 수 있으므로, 바람직하게는 상기 온도 센서는 등 간격으로 적어도 3 개 이상이 부착되어 있는 구조일 수 있다. The temperature sensor is configured such that one or more temperature sensors adhere to the specimen for accurate temperature measurement on the test specimen. However, since there may be a change in temperature limited to a local part by non-ideal operation of the test specimen, preferably, at least three or more temperature sensors are attached at equal intervals.
경우에 따라서, 상기 온도 센서는 양 플레이트 부재들(A, B) 중 어느 하나의 플레이트 부재에 부착되도록 구성되며, 보다 정밀한 온도 측정을 위하여 양 플레이 트 부재들(A, B) 모두에 각각 부착되어 있는 구조가 바람직하다.In some cases, the temperature sensor is configured to attach to either plate member of both plate members A and B, and is attached to both plate members A and B, respectively, for a more accurate temperature measurement. Preferred structures are preferred.
상기 온도센서의 연결회로는 커넥터에 연결되며, 바람직하게는 플레이트 부재의 일측에 하나의 커넥터가 설치되어 있고, 상기 다수의 온도 센서들은 상기 커넥터에 함께 연결되어 있는 구조일 수 있다.The connection circuit of the temperature sensor is connected to the connector, preferably one connector is provided on one side of the plate member, the plurality of temperature sensors may be a structure connected to the connector together.
본 발명에서, 상기 온도센서의 예로는, 써머커플 또는 써미스터 등을 들 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 바람직하게는 상기 온도 센서는 써머커플일 수 있다.In the present invention, an example of the temperature sensor may include a thermocouple or thermistor, but is not limited thereto. Preferably, the temperature sensor may be a thermocouple.
상기 써머커플(Thermocouple)이란, 서로 다른 두 가지 금속의 접합에서 온도에 따른 전위차를 측정하는 원리를 이용한 온도 측정용 센서를 총칭한다. 써머커플의 온도에 따른 전압 출력은 표준으로 정해져 있으므로, 써머커플을 통해 전위차를 측정하여 이를 환산하면 테스트 시편의 온도를 알 수 있다. 예를 들어, 니켈-크롬과 니켈-알루미늄으로 이루어진 써머커플(K 타입)의 경우, 접점의 전위차가 12.2 mV로 측정되면, 테스트 시편의 온도는 300℃가 된다.The thermocouple refers to a sensor for temperature measurement using a principle of measuring a potential difference according to temperature at a junction of two different metals. Since the voltage output according to the temperature of the thermocouple is set as standard, the temperature difference of the test specimen can be obtained by measuring the potential difference through the thermocouple. For example, in the case of a thermocouple (type K) consisting of nickel-chromium and nickel-aluminum, the temperature of the test specimen is 300 ° C. when the potential difference of the contact is measured at 12.2 mV.
본 발명에 따른 상기 시험 장치는 특별히 제한되지 않고 다양한 시편의 성능을 측정하는데 사용될 수 있으며, 그 중에서 테스트 시편으로 이차전지 셀이 바람직하게 사용될 수 있다.The test apparatus according to the present invention is not particularly limited and may be used to measure the performance of various specimens, and among them, a secondary battery cell may be preferably used as the test specimen.
또한, 상기 장치는 다수의 이차전지 셀들로 구성된 전지팩에서 작동중인 전지팩의 특정 셀에 대한 작동 상태를 측정하는데 사용될 수 있다. 이러한 구성을 통해, 다수의 전지셀들로 구성된 중대형 전지모듈에서 일부의 전지셀에 이상이 발생할 경우, 연쇄반응에 의해 전지모듈 전체의 안전성이 문제될 수 있으므로, 일부 전지셀의 작동상태에 이상이 생긴 경우에도 효율적인 제어가 가능하게 된다.In addition, the device can be used to measure the operating state for a particular cell of a battery pack operating in a battery pack consisting of a plurality of secondary battery cells. Through this configuration, in the case of abnormality in some battery cells in the medium-large battery module composed of a plurality of battery cells, the safety of the entire battery module may be a problem by the chain reaction, so that the abnormal operation state of some battery cells Even in the case of the control, efficient control is possible.
이하, 도면을 참조하여 본 발명을 더욱 자세히 설명하지만, 본 발명의 범주가 그것에 한정된 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the drawings, but the scope of the present invention is not limited thereto.
도 1에는 본 발명의 하나의 실시예에 따른 온도 및 전압 측정장치의 사시도가 모식적으로 도시되어 있다.1 is a perspective view schematically showing a temperature and voltage measuring apparatus according to an embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 측정장치는, 온도 센서가 일측에 부착되어 있는 한 쌍의 온도 측정용 플레이트 부재들(100, 200)과 상부 플레이트 부재(200)의 양측 단부에는 환형 링 형상의 지지부들(230)이 설치되어 있으며, 지지부들(230)에 삽입된 상태로 고정되어 있는 전압 측정용 프로브들(300a, 300b)로 구성되어 있다.Referring to Figure 1, the measuring device according to the present invention, a pair of temperature measuring plate member (100, 200) attached to one side and the annular ring shape at both ends of the
하부 플레이트 부재(100)는 사각형의 판상 구조로 이루어져 있으며, 4 곳의 모서리에는 각기 상향으로 가이드 바(110)가 설치되어 있고, 일측에는 다수의 온도 센서들이 연결되어 있는 커넥터(120)가 위치하고 있다. The
상부 플레이트 부재(200)는 하부 플레이트 부재(100)에 대응하는 형상으로 4 곳의 모서리에 가이드 홀(210)이 형성되어 있어서, 가이드 바(110)와 결합하여 상부 플레이트 부재(200)의 상하 운동시 위치가 벗어나는 것을 방지하게 된다. 상부 플레이트 부재(200)에 대향하는 양측 단부에는 환형 링 형상의 지지대(230a, 230b)가 설치되어 있으며, 상기 지지대(230a, 230b) 상에 전압 측정용 프루브들(300a, 300b)이 삽입되어 고정되게 된다.The
하부 플레이트 부재(100) 상에 테스트 시편으로 판상형의 이차전지 셀(400)이 놓이게 되고, 상부 플레이트 부재(200)가 가이드 바(110)를 따라 하강하게 되면, 이차전지 셀(400)은 온도 센서가 부착되어 있는 상/하부 플레이트 부재들(100, 200)과 밀착하게 되고, 상부 플레이트 부재(200)의 양측 단부의 지지대(230)에 삽입되어 있는 전압 측정용 프루브들(230a, 230b)은 각각 이차전지 셀(400)의 양극(410)과 음극(420) 단자와 접촉하게 된다.When the plate-shaped
따라서, 상부 플레이트(200)를 하강하는 한번의 작업 과정을 통해 하부 플레이트 부재(100) 상의 이차전지 셀(400)의 온도와 전압을 동시에 측정할 수 있다. Therefore, the temperature and voltage of the
도 2에는 전압 측정장치에 대한 부분 확대도가 도시되어 있다. 2 is a partially enlarged view of a voltage measuring device.
도 2를 참조하면, 상부 플레이트 부재(200)의 양측 단부에는 환형 링 구조의 지지대(230)가 설치되어 있으며, 상기 지지대(230)의 구멍을 통해 전압 측정장치의 프루브(300)가, 전압 검출선(310)에 연결된 상태로, 삽입되어 고정되어 있다. 즉, 상부 플레이트 부재(200)가 하강하게 되면, 양극 검출선의 프루브(230a)는 이차전지 셀(400)의 양극 단자(410)와, 음극 검출선의 프루브(230b)는 음극 단자(420)와 접촉하여 전압을 측정하게 된다. Referring to FIG. 2, supports 230 of an annular ring structure are installed at both ends of the
도 3에는 온도센서가 설치되어 있는 온도 측정 플레이트 부재의 정면도가 도시되어 있다.3 shows a front view of a temperature measuring plate member provided with a temperature sensor.
도 3을 참조하면, 하부 플레이트 부재(100)의 이차전지 셀(400)과 접촉하는 면에는 다수 개의 온도 센서로서 써머커플들(130)이 부착되어 있으며, 플레이트 부재(100)의 일측에는 하나의 커넥터(120)가 설치되어 있다. 다수의 써머커플 들(130)은 커넥터(120)에 함께 연결되어 있는 구조로 이루어져 있다. 상부 플레이트 부재(도 2의 200) 역시 하부 플레이트 부재(100)에 대향하는 방향으로 동일한 구성으로 이루어져 있다.Referring to FIG. 3, the
이상 본 발명의 실시예에 따른 도면을 참조하여 설명하였지만, 본 발명이 속한 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기 내용을 바탕으로 본 발명의 범주 내에서 다양한 응용 및 변형을 행하는 것이 가능할 것이다.Although described with reference to the drawings according to an embodiment of the present invention, those of ordinary skill in the art will be able to perform various applications and modifications within the scope of the present invention based on the above contents.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 측정 장치는, 종래 테스트 시편에 대한 온도와 전압 측정을 위해 별도의 측정 장치를 사용해야 하는 번거러움을 해결하고, 작업 능률의 향상과 편리성을 확보할 수 있다.As described above, the measuring device of the present invention can solve the trouble of using a separate measuring device for temperature and voltage measurement on a conventional test specimen, and can improve work efficiency and convenience.
Claims (13)
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| KR1020070001796A KR20080064918A (en) | 2007-01-06 | 2007-01-06 | Temperature and voltage measuring device |
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Family Applications (1)
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Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| KR101451731B1 (en) * | 2012-03-08 | 2014-10-16 | 주식회사 엘지화학 | Battery Cell Charge-Discharge Device with Novel Structure |
| CN109443435A (en) * | 2018-11-23 | 2019-03-08 | 浙江斯迈尔电子科技有限公司 | A kind of multinomial performance detection device of electrode slice |
| CN109655174A (en) * | 2018-11-30 | 2019-04-19 | 广东骏亚电子科技股份有限公司 | A kind of temperature testing method of PCB pressing plate |
-
2007
- 2007-01-06 KR KR1020070001796A patent/KR20080064918A/en not_active Ceased
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101451731B1 (en) * | 2012-03-08 | 2014-10-16 | 주식회사 엘지화학 | Battery Cell Charge-Discharge Device with Novel Structure |
| CN109443435A (en) * | 2018-11-23 | 2019-03-08 | 浙江斯迈尔电子科技有限公司 | A kind of multinomial performance detection device of electrode slice |
| CN109443435B (en) * | 2018-11-23 | 2020-12-01 | 深检数据科技(江苏)有限公司 | Multinomial performance detection device of electrode slice |
| CN109655174A (en) * | 2018-11-30 | 2019-04-19 | 广东骏亚电子科技股份有限公司 | A kind of temperature testing method of PCB pressing plate |
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