[go: up one dir, main page]

KR20060089968A - 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 - Google Patents

액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 Download PDF

Info

Publication number
KR20060089968A
KR20060089968A KR1020050010252A KR20050010252A KR20060089968A KR 20060089968 A KR20060089968 A KR 20060089968A KR 1020050010252 A KR1020050010252 A KR 1020050010252A KR 20050010252 A KR20050010252 A KR 20050010252A KR 20060089968 A KR20060089968 A KR 20060089968A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
probe
liquid crystal
crystal display
sheet
display panel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
KR1020050010252A
Other languages
English (en)
Inventor
안재일
Original Assignee
주식회사 코디에스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 코디에스 filed Critical 주식회사 코디에스
Priority to KR1020050010252A priority Critical patent/KR20060089968A/ko
Publication of KR20060089968A publication Critical patent/KR20060089968A/ko
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

본 발명은 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 관한 것으로, 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB(Tape Automated Bonding) IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접촉시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.
액정, 디스플레이, 프로브, 유니트, 접속

Description

액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 { Probe unit for inspecting liquid crytal display panel }
도 1은 종래 기술에 따른 정션-업(Junction-Up) 방식의 발광 다이오드의 단면도
도 2는 종래 기술에 따른 프로브유니트가 프로브장치의 프로브마운트에 조립된 상태의 조립단면도
도 3은 종래 기술에 따른 프로브유니트의 프로브시트에 대한 부분사시도
도 4는 도 2의 "A"부분에 대한 확대도
도 5는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트의 분해사시도
도 6은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트가 결합된 상태의 단면도
도 7은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 있는 구동시트의 평면도
도 8은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 있는 구동시트의 평면도
도 9는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트가 결합된 상태의 단면도
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
100 : 프로브 유니트 113 : 홈
120 : 프로브 블록 121a,121b : 결합홈
130 : 구동 시트 132 : TAB IC
135 : 전극라인 137a,137b,137c,137d : 결합공
150 : FPC 접속시트
본 발명은 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 관한 것으로, 보다 상세하게는 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB(Tape Automated Bonding) IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접촉시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소시킬 수 있는 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 관한 것이다.
일반적으로, 액정디스플레이 패널(Liquid Crystal Display Panel)이 제조되면, 제조된 패널의 전기적, 광학적 이상 여부를 검사하는 공정을 수행한다.
이러한, 검사를 수행하여 패널의 불량품을 가려내기 때문에, 검사 공정은 반드시 시행되고 있다.
도 1은 종래 기술에 따른 프로브 유니트의 분해사시도로서, 프로브 유니트(10)는 프로브블록(12)과; 상기 프로브블록(12)의 선단에 접합되어 피검사체와 접촉하는 프로브시트(20)와; 상기 프로브시트(20)의 후단에 클램프부재(40)로써 압착되어 프로브시트(20)와 서로 접속되는 연결시트(30)와; 상기 연결시트(30)의 후단에 접착되는 FPC(Flexible Printed Circuit) 접속시트(50)을 포함하여 구성된다.
이런 프로브유니트(10)는 도 2에 도시된 바와 같이, 프로브마운트(1)에 폭방향을 따라 일정한 간격을 두고 복수개가 탈착가능하게 설치되어 각각 액정 디스플레이 패널과 같은 피검사체(3)를 검사하는데 사용된다.
그리고, 프로브유니트(10)는 프로브마운트(1)에 고정나사(11)로써 고정되는 프로브블록(12)을 구비하고, 선단에는 프로브시트(20)가 부착된다.
상기 고정나사(11)는 프로브마운트(1)와 프로브블록(12)을 관통하여 하단에 고정블록(14)이 체결됨으로써 프로브블록(12)을 프로브마운트(1)에 탈착가능하게 고정된다.
그리고, 도면부호 13은 고정블록(14)이 안착하는 홈을 나타낸다.
또한, 상기 프로브시트(20)의 길이방향 뒤쪽 선단에는 연결시트(30)가 클램프부재(40)로써 압착되어 프로브시트(20)와 접속된다.
이 연결시트(30)는 프로브시트(20)의 각 배선(24)들에 대응하는 배선이 절연성 필름에 형성되고, 프로브시트(20)가 피검사체(3)로부터 검출한 신호를 입력받아서 구동신호를 출력하는 TAB IC(32)가 표면에 실장되어 있다.
그리고, 연결시트(30)와 프로브시트(20)는 양측 배선들이 서로 맞닿게 접촉한 상태에서 클램프부재(40)로써 압착되어 서로 접속된다.
더불어, 상기 클램프부재(40)는 상부 고정편(40a)과 하부 고정편(40b)으로 이루어지고, 이들 상부 고정편(40a)과 하부 고정편(40b)은 프로브블록(12)을 관통한 고정나사(42)에 의해 서로 체결되면서 그 사이에 포개어지는 프로브시트(20)의 선단과 연결시트(30)의 선단을 서로 압착하여 고정하고, 프로브블록(12)의 저면에 형성된 오목홈(15)안에 삽입된다.
상기 연결시트(30)의 후단에 FPC 접속시트(50)가 배선끼리 서로 접속되게 접합되어 프로브블록(12)의 후단에서 길게 연장되고, FPC 접속시트(50)의 후단에는 인쇄회로기판(60)과 접속하는 접촉부(52)를 구비한다.
그리고, 상기 접촉부(52)는 도 2 및 도 4에 도시된 바와 같이, FPC 접속시트(50)의 후단에 접합되는 블록(53)과, 상기 블록(53)에 접합되어 FPC 접속시트(50)의 표면을 돌출되게 지지하는 돌출부(54)로 이루어지고, 상기 돌출부(54)의 표면에는 환형의 돌기(54a)가 길이방향을 따라 배선과 동일한 간격으로 배치되어 있어 FPC 접속시트(50)의 배선(51)을 돌출되게 지지함으로써 인쇄회로기판(60)의 배선과 접속된다.
도 3은 종래 기술에 따른 프로브 유니트의 프로브시트에 대한 부분사시도로 서, 프로브시트(20)는 폴리아미드와 같은 절연성 필름(22)에 폭방향을 따라 일정한 간격을 둔 복수개의 배선(24)이 형성되고, 앞쪽 선단에 절연고무판(26)이 부착되어 있다.
이와 같은, 종래 기술의 프로브 유니트는 프로브 시트와 연결시트를 접속하고, 연결시트와 FPC 접속시트를 접속하는 공정을 수행하는 등 프로브 유니트를 결합하는 공정이 복잡하고, 클래프 부재 및 프로브 시트와 같은 구성부품이 필요하여 제조 경비가 높아지는 문제점이 있다.
또한, 프로브 시트와 연결시트의 접속과 연결시트와 FPC 접속시트의 접속 중 어느 하나에서 오류가 발생되는 경우, 검사 오류가 발생되는 문제점이 있었다.
더불어, 프로브 시트, TAB IC가 존재하는 연결시트와 FPC 접속시트 등이 구비됨으로, 검사를 수행하기 위한 전송라인이 길어지기 때문에 신호의 노이즈가 발생될 우려가 있다.
본 발명은 상기한 바와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접속시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소시킬 수 있는 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트를 제공하는 데 목적이 있다.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 양태(樣態)는, 하부에 홈(113)이 형성되어 있는 프로브블록(120)과;
복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들의 일부로 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC(132)가 구비되어 있고, 상기 프로브블록(120)의 홈(113)에 상기 TAB IC(132)가 삽입되어 상기 프로브블록(120)의 하부면에 접착되어 있는 구동시트(130)와;
상기 구동시트(130)와 본딩되고, 상기 구동시트(130)의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC 접속시트(150)를 포함하여 이루어진 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트가 제공된다.
상기한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 바람직한 다른 양태(樣態)는, 하부에 홈(113)이 형성되어 있는 프로브블록(120)과;
복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들의 일부로 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC(132)가 구비되어 있고, 상기 프로브블록(120)의 홈(113)에 상기 TAB IC(132)가 삽입되어 상기 프로브블록(120)의 하부면에 체결수단에 의해 체결되어 있는 구동시트(130)와;
상기 구동시트(130)와 본딩되고, 상기 구동시트(130)의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC 접속시트(150)를 포함하여 이루어어진 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트가 제공된다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같다.
도 5는 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트의 분해사시도로서, 프로브 유니트(100)는 하부에 홈(113)이 형성되어 있는 프로브블록(120)과; 복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들의 일부로 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC(132)가 구비되어 있고, 상기 프로브블록(120)의 홈(113)에 상기 TAB IC(132)가 삽입되어 상기 프로브블록(120)의 하부면에 접착되어 있는 구동시트(130)와; 상기 구동시트(130)와 본딩되고, 상기 구동시트(130)의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC(Flexible Printed Circuit) 접속시트(150)를 포함하여 구성된다.
여기서, 상기 구동시트(130)의 선단에 있는 전극라인은 피검사체인 액정 디스플레이 패널의 전극라인과 접속되어 검사를 수행한다.
따라서, 본 발명은 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접촉시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록(120)에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소시킬 수 있는 장점이 있다.
도 6은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트가 결합된 상태의 단면도로서, 프로브 블록(120)의 홈(113)에 구동시트(130) 의 TAB IC(132)가 삽입되면서, 구동시트(130)는 상기 프로브 블록(120)의 하부면에 에폭시에 의해 접합되어 있다.
그리고, 상기 구동시트(130)는 FPC 접속시트(150)와 탭(Tab)본딩되어 양자의 전극라인들은 전기적 연결 및 본딩된다.
도 7은 본 발명의 제 1 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 있는 구동시트의 평면도로서, 구동시트(130)는 중앙에 TAB IC(132)가 위치되어 있고, 일측과 타측에는 복수개의 전극라인들(135)이 노출되어 있다.
여기서, 일측에 노출된 전극라인들은 액정 디스플레이 패널의 전극라인들과 전기적으로 접촉되어 액정 디스플레이 패널을 동작시켜 각 픽셀의 동작상태를 검사하기 위한 것이고, 타측에 노출된 전극라인들은 FPC 접속시트(150)와 연결하기 위한 것이다.
도 8은 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트에 있는 구동시트의 평면도로서, 구동시트(130)의 가장자리에 복수개의 결합공(137a,137b,137c,137d)들이 형성되어 있어, 이 결합공(137a,137b,137c,137d)들을 이용하여 구동시트를 프로브 블록에 체결할 수 있다.
즉, 본 발명의 제 2 실시예에서는 구동시트(130)를 프로브 블록에 탈착이 가능하도록 구성하는 것이다.
도 9는 본 발명의 제 2 실시예에 따른 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트가 결합된 상태의 단면도로서, 구동시트(130)의 가장자리에는 도 8에 도시된 바와 같이, 복수개의 결합공(137a,137b)들이 형성되어 있고, 상기 구동시트(130)의 결합공(137a,137b)들과 대응되는 위치의 프로브 블록(120)에 결합홈(121a,121b)들이 형성되어 있는데, 상기 프로브 블록(120)의 홈(113)에 구동시트(130)의 TAB IC(132)가 삽입되면서, 구동시트(130)는 상기 프로브 블록(120)의 하부면에 접촉되어 있고, 상기 구동시트(130)의 결합공(137a,137b)들과 프로브 블록(120)의 결합홈(121a,121b)들로 고정나사(201,202)들이 삽입되어 체결되어 상기 구동시트(130)는 프로브 블록(120)에 고정된다.
즉, 상기 구동시트(130)의 복수개의 결합공(137a,137b)들, 상기 프로브 블록(120)에 결합홈(121a,121b)들과 고정나사(201,202)들은 체결수단으로, 상기 구동시트(130)와 프로브 블록(120)은 상기의 체결수단에 의해 체결되어 있다.
예를 들어, 상기 프로브 블록(120)의 결합홈(121a,121b)들 내부에 암나사홈이 형성되어 있고, 상기 고정나사(201,202)에 수나사홈이 형성되어 있는 경우, 상기 고정나사(201,202)로 상기 구동시트(130)와 프로브 블록(120)의 결합 및 결합 해제를 자유롭게 수행할 수 있다.
이상 상술한 바와 같이, 본 발명은 액정 디스플레이 패널을 구동시킬 수 있는 TAB IC가 존재하는 구동시트를 액정 디스플레이 패널에 접촉시켜 검사를 수행할 수 있도록, 구동시트를 프로브블록에 접합시킴으로써, 전송 라인이 짧아져 신호의 노이즈를 감소시켜 검사 오류를 방지할 수 있고, 프로브 유니트의 구성부품을 감소시킬 수 있는 효과가 있다.
본 발명은 구체적인 예에 대해서만 상세히 설명되었지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형 및 수정이 가능함은 당업자에게 있어서 명백한 것이며, 이러한 변형 및 수정이 첨부된 특허청구범위에 속함은 당연한 것이다.
















Claims (3)

  1. 하부에 홈(113)이 형성되어 있는 프로브블록(120)과;
    복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들의 일부로 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC(132)가 구비되어 있고, 상기 프로브블록(120)의 홈(113)에 상기 TAB IC(132)가 삽입되어 상기 프로브블록(120)의 하부면에 접착되어 있는 구동시트(130)와;
    상기 구동시트(130)와 본딩되고, 상기 구동시트(130)의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC 접속시트(150)를 포함하여 이루어진 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.
  2. 하부에 홈(113)이 형성되어 있는 프로브블록(120)과;
    복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들의 일부로 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC(132)가 구비되어 있고, 상기 프로브블록(120)의 홈(113)에 상기 TAB IC(132)가 삽입되어 상기 프로브블록(120)의 하부면에 체결수단에 의해 체결되어 있는 구동시트(130)와;
    상기 구동시트(130)와 본딩되고, 상기 구동시트(130)의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC 접속시트(150)를 포함하여 이루어어진 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 체결수단은,
    상기 구동시트(130)의 가장자리에는 형성되어 있는 복수개의 결합공(137a,137b)들과;
    상기 구동시트(130)의 결합공(137a,137b)들과 대응되는 위치의 프로브 블록(120)에 결합홈(121a,121b)들과;
    상기 구동시트(130)의 결합공(137a,137b)들과 프로브 블록(120)의 결합홈(121a,121b)들 내부로 삽입되어 고정되는 고정나사(201,202)들로 구성된 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.
KR1020050010252A 2005-02-03 2005-02-03 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 Ceased KR20060089968A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050010252A KR20060089968A (ko) 2005-02-03 2005-02-03 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020050010252A KR20060089968A (ko) 2005-02-03 2005-02-03 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20060089968A true KR20060089968A (ko) 2006-08-10

Family

ID=37571385

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020050010252A Ceased KR20060089968A (ko) 2005-02-03 2005-02-03 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20060089968A (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101043818B1 (ko) * 2010-08-18 2011-06-22 주식회사 프로이천 액정패널 테스트를 위한 프로브 유닛
KR101152181B1 (ko) * 2010-05-06 2012-06-15 주식회사디아이 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록 및 프로브 유닛
KR101289939B1 (ko) * 2006-09-28 2013-07-25 엘지디스플레이 주식회사 배선 필름용 커넥터 및 이를 이용한 액정표시장치용검사장치
US9196185B2 (en) 2012-08-29 2015-11-24 Samsung Display Co., Ltd. Testing apparatus for display device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101289939B1 (ko) * 2006-09-28 2013-07-25 엘지디스플레이 주식회사 배선 필름용 커넥터 및 이를 이용한 액정표시장치용검사장치
KR101152181B1 (ko) * 2010-05-06 2012-06-15 주식회사디아이 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록 및 프로브 유닛
KR101043818B1 (ko) * 2010-08-18 2011-06-22 주식회사 프로이천 액정패널 테스트를 위한 프로브 유닛
WO2012023792A3 (en) * 2010-08-18 2012-04-12 Pro-2000 Co. Ltd. Probe unit for testing lcd panel
CN103069281A (zh) * 2010-08-18 2013-04-24 普罗-2000有限公司 用于测试lcd面板的探测单元
US9196185B2 (en) 2012-08-29 2015-11-24 Samsung Display Co., Ltd. Testing apparatus for display device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100720378B1 (ko) 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트
US7708449B2 (en) Illumination device and liquid crystal display apparatus
KR102042923B1 (ko) 비젼 정렬을 위한 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록
US6300998B1 (en) Probe for inspecting liquid crystal display panel, and apparatus and method for inspecting liquid crystal display panel
KR200458537Y1 (ko) 패널 테스트를 위한 프로브블록
KR20060089968A (ko) 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트
JPH04184264A (ja) 表示パネル用プローバ
KR100533193B1 (ko) 평판표시패널 검사용 프로브 장치
KR20070051246A (ko) 액정디스플레이패널 검사용 프로브 유닛
KR20160048337A (ko) 필름형 프로브 유닛
KR100878432B1 (ko) 엘시디 검사용 일체형 프로브 유니트
KR100615907B1 (ko) 평판표시패널 검사용 프로브 장치
KR101970782B1 (ko) 유기 발광 다이오드 패널 검사용 프로브 장치
JPH0782032B2 (ja) 表示パネル用プローブとその組み立て方法
KR101000456B1 (ko) 유지 및 보수가 용이한 프로브유닛
KR200458562Y1 (ko) 필름 시트 형 프로브를 가진 액정 패널 테스트 프로브 장치
KR200340943Y1 (ko) 평판형 피검사체 검사용 프로브유니트
KR101020625B1 (ko) 필름타입 프로브유닛 및 그의 제조방법
JP4487519B2 (ja) 電子機器の機能検査装置
KR101039336B1 (ko) 필름타입 프로브유닛
KR101525443B1 (ko) 오토 프로브 유닛
KR200444681Y1 (ko) 프로브유닛
KR101046949B1 (ko) 노이즈 차폐를 위한 다층구조의 인쇄회로기판을 구비한 프로브유닛
KR200372710Y1 (ko) 소형의 평판표시소자 검사용 프로브
KR100899978B1 (ko) 프로브유닛과 니들

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

Patent event code: PA01091R01D

Comment text: Patent Application

Patent event date: 20050203

PA0201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event date: 20060713

Patent event code: PE09021S01D

PG1501 Laying open of application
E601 Decision to refuse application
PE0601 Decision on rejection of patent

Patent event date: 20070108

Comment text: Decision to Refuse Application

Patent event code: PE06012S01D

Patent event date: 20060713

Comment text: Notification of reason for refusal

Patent event code: PE06011S01I