KR20060089968A - 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 102
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 39
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 19
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 19
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 19
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 1
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
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Abstract
Description
Claims (3)
- 하부에 홈(113)이 형성되어 있는 프로브블록(120)과;복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들의 일부로 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC(132)가 구비되어 있고, 상기 프로브블록(120)의 홈(113)에 상기 TAB IC(132)가 삽입되어 상기 프로브블록(120)의 하부면에 접착되어 있는 구동시트(130)와;상기 구동시트(130)와 본딩되고, 상기 구동시트(130)의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC 접속시트(150)를 포함하여 이루어진 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.
- 하부에 홈(113)이 형성되어 있는 프로브블록(120)과;복수개의 전극라인들을 구비되어 있고, 상기 복수개의 전극라인들의 일부로 액정 디스플레이 패널로 구동신호를 출력하는 TAB IC(132)가 구비되어 있고, 상기 프로브블록(120)의 홈(113)에 상기 TAB IC(132)가 삽입되어 상기 프로브블록(120)의 하부면에 체결수단에 의해 체결되어 있는 구동시트(130)와;상기 구동시트(130)와 본딩되고, 상기 구동시트(130)의 복수개의 전극라인들과 전기적으로 연결되는 복수개의 전극라인들을 갖는 FPC 접속시트(150)를 포함하여 이루어어진 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.
- 제 2 항에 있어서,상기 체결수단은,상기 구동시트(130)의 가장자리에는 형성되어 있는 복수개의 결합공(137a,137b)들과;상기 구동시트(130)의 결합공(137a,137b)들과 대응되는 위치의 프로브 블록(120)에 결합홈(121a,121b)들과;상기 구동시트(130)의 결합공(137a,137b)들과 프로브 블록(120)의 결합홈(121a,121b)들 내부로 삽입되어 고정되는 고정나사(201,202)들로 구성된 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020050010252A KR20060089968A (ko) | 2005-02-03 | 2005-02-03 | 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020050010252A KR20060089968A (ko) | 2005-02-03 | 2005-02-03 | 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20060089968A true KR20060089968A (ko) | 2006-08-10 |
Family
ID=37571385
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020050010252A Ceased KR20060089968A (ko) | 2005-02-03 | 2005-02-03 | 액정 디스플레이 패널 검사용 프로브 유니트 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR20060089968A (ko) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR101043818B1 (ko) * | 2010-08-18 | 2011-06-22 | 주식회사 프로이천 | 액정패널 테스트를 위한 프로브 유닛 |
| KR101152181B1 (ko) * | 2010-05-06 | 2012-06-15 | 주식회사디아이 | 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록 및 프로브 유닛 |
| KR101289939B1 (ko) * | 2006-09-28 | 2013-07-25 | 엘지디스플레이 주식회사 | 배선 필름용 커넥터 및 이를 이용한 액정표시장치용검사장치 |
| US9196185B2 (en) | 2012-08-29 | 2015-11-24 | Samsung Display Co., Ltd. | Testing apparatus for display device |
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2005
- 2005-02-03 KR KR1020050010252A patent/KR20060089968A/ko not_active Ceased
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|---|---|---|---|---|
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20050203 |
|
| PA0201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20060713 Patent event code: PE09021S01D |
|
| PG1501 | Laying open of application | ||
| E601 | Decision to refuse application | ||
| PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20070108 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20060713 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |