KR20030046616A - 레이져 광 산란을 이용한 고순도 글래스 튜브의 미세 기포분석 장치 - Google Patents
레이져 광 산란을 이용한 고순도 글래스 튜브의 미세 기포분석 장치 Download PDFInfo
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Abstract
Description
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- 광섬유 모재용 글래스 튜브의 미소 기포 분석장치에 있어서,샘플 스테이지를 포함하는 광 테이블;상기 광 테이블에 수직방향으로 직립되게 장착되어 상기 샘플스테이지에 의해 일정한 주속으로 회전 및 상하운동하는 준비된 글래스 튜브;상기 글래스 튜브의 일측에 이격되게 배치되어 그의 외주면에 일정각으로 레이져 광을 조사하는 레이져; 및상기 준비된 글래스 튜브의 타측에 배치되어 상기 준비된 글래스 튜브에 조사된 레이져 광에 의해 발생된 글래스 튜브의 레이져 패스 라인의 산란광을 이용하여 상기 글래스 튜브의 미소 기포나 미소 기포의 분포 함량을 입체적으로 검출하는 검출기로 구성되어짐을 특징으로 하는 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 레이져는 헬륨-네온 레이져임을 특징으로 하는 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 검출기는 피엠티 검출기로 구성되어짐을 특징으로 하는 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 검출기는 씨씨디 검출기로 대체되어질 수 있는 구성임을 특징으로 하는 장치.
- 제3항에 있어서, 상기 피엠티 검출기는 상기 글래스 튜브의 미소 기포에 의한 직각 산란광을 검출하며, 특정 파장 영역의 빛만을 통과시키는 렌즈를 전단에 더 구비함을 특징으로 하는 장치.
- 제1항에 있어서, 상기 글래스 표면의 표면 상태를 분석할 수 있는 화상 검출기가 상기 글래스 튜브와 근접하게 더 제공되어지며, 상기 화상 검출기는 글래스 튜브의 표면 반사의 빛을 분석함을 특징으로 하는 장치.
- 광섬유 모재용 글래스 튜브의 미소 기포 분석장치에 있어서,샘플 스테이지를 포함하는 광 테이블;상기 광 테이블에 수직방향으로 직립되게 장착되어 상기 샘플 스테이지에 의해 일정한 주속으로 회전 및 상하운동하는 준비된 글래스 튜브;상기 글래스 튜브의 일측에 이격되게 배치되어 일정각으로 레이져 광을 조사하는 레이져;상기 준비된 글래스 튜브의 타측에 배치되어 상기 준비된 글래스 튜브에 조사되어 발생하는 레이져 패스 라인의 산란광을 이용하여 상기 글래스 튜브의 미소 기포를 검출하는 씨씨디 검출기; 및상기 레이져와 씨씨디 검출기 사이에 배치되어 상기 준비된 글래스 튜브에 조사되어 발생하는 레이져 패스 라인의 산란광의 세기를 검출하는 피엠티 검출기로구성되어짐을 특징으로 하는 장치.
- 제7항에 있어서, 상기 글래스 표면의 표면 상태를 분석할 수 있는 화상 검출기가 상기 글래스 튜브와 근접하게 더 제공되어지며, 상기 화상 검출기는 글래스 튜브의 표면 반사의 빛을 분석함을 특징으로 하는 장치.
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| JP2002350785A JP2003194727A (ja) | 2001-12-06 | 2002-12-03 | レーザー光散乱を用いた高純度グラスチューブの微小気泡分析装置 |
| EP02027306A EP1318391A1 (en) | 2001-12-06 | 2002-12-06 | Apparatus for the micro-bubble analysis of a high-purity glass tube, using the scattering of laser light |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030083210A (ko) * | 2002-04-19 | 2003-10-30 | 삼성전자주식회사 | 분광분석법을 이용한 실리카 튜브의 수산화기 함량 측정장치 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20040196454A1 (en) * | 2003-04-03 | 2004-10-07 | Takayuki Ishiguro | Optical system, detector and method for detecting peripheral surface defect of translucent disk |
| DE502004001661D1 (de) * | 2004-01-07 | 2006-11-16 | Schaft Volker | Verfahren und Einrichtung zum Überprüfen eines Glasschutzrohres für die Glühwendel einer Infrarotstrahlerwärmequelle auf Unversertheit |
| EP2278383A1 (en) * | 2004-11-24 | 2011-01-26 | Battelle Memorial Institute | A test tube handling apparatus |
| DE102005022271B3 (de) * | 2005-05-10 | 2006-08-17 | Schott Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren von Blasen in einem Glaskörper sowie zur Herstellung von Glaskörpern |
| US7480040B2 (en) * | 2005-11-22 | 2009-01-20 | Owens-Brockway Glass Container Inc. | Method and apparatus for inspecting container sidewall contour |
| JP4668354B1 (ja) * | 2010-07-20 | 2011-04-13 | トリオ・セラミックス株式会社 | 透明管の泡検出装置および泡検出方法 |
| US9643020B2 (en) | 2013-08-09 | 2017-05-09 | Medtronic, Inc. | Feedthrough assembly for an implantable medical device |
| CN111693547A (zh) * | 2020-06-19 | 2020-09-22 | 广东先导先进材料股份有限公司 | 一种晶片切割工具检测系统及方法 |
| CN114460008B (zh) * | 2022-02-16 | 2023-11-21 | 西南石油大学 | 一种井口泡沫检测装置和方法 |
| CN117074311B (zh) * | 2023-08-28 | 2025-10-03 | 复旦大学 | 液体浓度检测用微泡透镜传感芯片及制备方法和检测系统 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56107150A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-25 | Anritsu Corp | Defect detection device |
| JPS57104840A (en) * | 1980-12-20 | 1982-06-30 | Anritsu Corp | Fault detector |
| US4483615A (en) * | 1981-12-18 | 1984-11-20 | Owens-Illinois, Inc. | Method and apparatus for detecting checks in glass tubes |
| JPH1164231A (ja) * | 1997-08-27 | 1999-03-05 | Toshiba Glass Co Ltd | ガラス管の泡筋検出方法および装置 |
| JPH11258167A (ja) * | 1998-03-09 | 1999-09-24 | Asahi Techno Glass Corp | ガラス管の欠陥検査方法および装置 |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4168907A (en) | 1977-12-30 | 1979-09-25 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Method for inspecting transparent rods |
| US4171481A (en) * | 1978-03-20 | 1979-10-16 | Hitachi, Ltd. | Apparatus for inspecting bottles having elliptic light converging means |
| JPS5546172A (en) * | 1978-09-29 | 1980-03-31 | Kirin Brewery Co Ltd | Detector for foreign material |
| US4363966A (en) * | 1980-09-22 | 1982-12-14 | Electric Power Research Institute, Inc. | Detection system for distinguishing between voids and foreign particles in materials and method |
| US4492476A (en) * | 1981-02-20 | 1985-01-08 | Kirin Beer Kabushiki Kaisha | Defect detecting method and apparatus |
| ATE36194T1 (de) * | 1982-05-27 | 1988-08-15 | I2S | Verfahren und vorrichtung zur automatischen kontrolle von behaeltern durch transparenzvergleich. |
| US4500203A (en) * | 1982-09-30 | 1985-02-19 | Owens-Illinois, Inc. | Method and apparatus for inspecting articles |
| US4679075A (en) * | 1985-04-29 | 1987-07-07 | Emhart Industries, Inc. | Glassware inspection using optical streak detection |
| DE4022733C1 (en) * | 1989-12-19 | 1991-05-08 | Elpatronic Ag, Zug, Ch | Three=dimensional cavity inspection appts. - uses matrix or line camera to receive reflected light via gp. of four mirrors and deflecting mirror |
| JPH0743326B2 (ja) * | 1991-01-29 | 1995-05-15 | 東洋ガラス株式会社 | 物体端部の欠陥検査方法及びその装置 |
| FR2681429B1 (fr) * | 1991-09-13 | 1995-05-24 | Thomson Csf | Procede et dispositif d'inspection du verre. |
| JP3212373B2 (ja) | 1992-08-27 | 2001-09-25 | 信越化学工業株式会社 | 光ファイバプリフォーム中の気泡、異物の検査方法および検査装置 |
| US6294793B1 (en) * | 1992-12-03 | 2001-09-25 | Brown & Sharpe Surface Inspection Systems, Inc. | High speed optical inspection apparatus for a transparent disk using gaussian distribution analysis and method therefor |
| EP1553405B1 (de) * | 1993-07-30 | 2011-03-30 | Krones AG | Inspektionsmaschine |
| JPH08166356A (ja) | 1994-12-15 | 1996-06-25 | Fujikura Ltd | 光ファイバの異常検出方法 |
| JP2769797B2 (ja) * | 1995-03-15 | 1998-06-25 | 東洋ガラス株式会社 | 透明物体中の微小欠陥検出方法 |
| JP3384927B2 (ja) | 1996-04-25 | 2003-03-10 | 古河電気工業株式会社 | 透光性長尺体欠陥検出装置 |
| DE19651924A1 (de) * | 1996-12-13 | 1998-06-18 | Dieter Olschewski | Behälterglasprüfverfahren und -vorrichtungen |
| US6356346B1 (en) * | 2000-01-21 | 2002-03-12 | International Business Machines Corporation | Device and method for inspecting a disk for physical defects |
| US6424414B1 (en) * | 2000-10-16 | 2002-07-23 | Agr International, Inc. | Method and apparatus for detecting refractive defects in transparent containers |
-
2001
- 2001-12-06 KR KR1020010076818A patent/KR20030046616A/ko not_active Ceased
-
2002
- 2002-11-18 US US10/298,982 patent/US6822735B2/en not_active Expired - Lifetime
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Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56107150A (en) * | 1980-01-31 | 1981-08-25 | Anritsu Corp | Defect detection device |
| JPS57104840A (en) * | 1980-12-20 | 1982-06-30 | Anritsu Corp | Fault detector |
| US4483615A (en) * | 1981-12-18 | 1984-11-20 | Owens-Illinois, Inc. | Method and apparatus for detecting checks in glass tubes |
| JPH1164231A (ja) * | 1997-08-27 | 1999-03-05 | Toshiba Glass Co Ltd | ガラス管の泡筋検出方法および装置 |
| JPH11258167A (ja) * | 1998-03-09 | 1999-09-24 | Asahi Techno Glass Corp | ガラス管の欠陥検査方法および装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20030083210A (ko) * | 2002-04-19 | 2003-10-30 | 삼성전자주식회사 | 분광분석법을 이용한 실리카 튜브의 수산화기 함량 측정장치 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20030107730A1 (en) | 2003-06-12 |
| US6822735B2 (en) | 2004-11-23 |
| JP2003194727A (ja) | 2003-07-09 |
| EP1318391A1 (en) | 2003-06-11 |
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