KR20020069252A - 구성요소 검사용 소켓 및 구성요소의 검사 방법 - Google Patents

Abstract

몇개의 전기 커넥터(3)를 구비하는 구성요소(2)를 수용하여 검사하기 위한 소켓(1)이 개시되어 있으며, 상기 소켓은 공간(5)을 둘러싸는 실질적으로 직사각형 프레임(4)을 포함하며, 상기 프레임(4)은 서로 대향하여 배열된 전도체(8)의 제 1 열(6) 및 제 2 열(7)을 포함하며, 상기 전도체(8)는 구성요소(2)의 전기 커넥터(3)에 접촉시키기 위해 공간(5)내로 연장하는 단자(10)를 갖는 제 1 섹션(9)과, 프레임(4)으로부터 돌출하는 제 2 섹션(11)을 구비한다. 각 열(6, 7)에서 단자(10) 사이의 간격(12)은 조정가능하다. 소켓(1)내에서 구성요소(2)를 검사하는 방법에 있어서, 각 열(6, 7)에서의 단자 사이의 간격(12)은 구성요소(2)를 소켓(1)에 배치시킴으로써 구성요소(2)의 전기 커넥터(3)와 그에 대응하는 단자(10) 사이의 전기적 접촉을 달성하도록 조정된다.

Description

구성요소 검사용 소켓 및 구성요소의 검사 방법{SOCKET FOR TESTING A COMPONENT AND METHOD OF TESTING A COMPONENT}

그러한 소켓은 일본 특허 공개 공보 제 1989-263572 호에 개시되어 있다. 공지된 소켓의 경우에, 전도체의 제 1 열의 단부와 전도체의 제 2 열의 단부 사이의 거리는 단계적으로 조절될 수 있다. 거리를 조절하기 위해, 프레임의 공동에 위치된 브래킷이 사용된다. 상기 공동은 프레임내에 별개의 간격으로 위치된다. 전기 접속점의 열에 수직인 방향으로 상이한 치수를 갖는 상이한 유형의 구성요소는 동일 소켓에서 전기적으로 측정될 수 있다.

공지된 소켓의 단점은 전도체의 단부를 유사한 유형의 구성요소의 전기 접속점과 신뢰성있게 접촉시킬 수 없다는 것이다. 구성요소의 전기 접속점의 열은 구성요소의 몇몇 전기 접속점이 전도체의 단부와 자주 접촉하지 않을 정도로 큰 절대 허용 오차를 가지며, 그 결과 양호한 구성요소가 전기적 검사중 부당하게 불합격된다.

발명의 요약

본 발명의 제 1 목적은 서두에 설명된 유형의 소켓을 제공하여 유사한 유형의 구성요소가 허용 오차값의 차이에도 불구하고 전기적으로 검사될 수 있게 하는 것이다.

또한, 본 발명은 서두에 설명된 유형의 방법을 제공하여 유사한 유형의 구성요소를 신뢰성있게 전기적으로 검사될 수 있게 하는 것을 목적으로 한다.

제 1 목적은 각 열에서의 단부 사이의 간격이 조절가능한 본 발명에 따른 소켓에 의해 달성된다.

다양한 전기 접속점을 갖는 구성요소는, 예를 들어 접속점이 전기적으로 성장된 금속 트랙에 의해 또는 엔벌로프에 의해 형성되는 반도체 장치일 수 있다. 각 열에서의 단부 사이의 간격이 조정될 수 있기 때문에, 단부는 구성요소의 접속점에 대해 조정될 수 있으며, 그에 따라 전기적 접촉이 달성될 수 있다. 구성요소는 예를 들어 제조 공정에서의 상이한 단계 동안에 동일 소켓에서 전기적으로 측정될 수 있다.

구성요소는 전형적으로 수 미크론 정도의 특정 허용 오차값을 갖는 전기 접속점을 포함한다. 구성요소의 치수의 증가는 종종 전기 접속점의 개수를 증가시키며, 그에 따라 절대 허용 오차를 증가시킨다. 구성요소의 전기 접속점에 대한 허용 오차는 각 열에서의 단부 사이의 간격이 조절될 수 있다는 사실로 인해 보상될 수 있다. 단부 사이의 간격은 구성요소의 전기 접속점 사이의 간격에 적합하게 될 수 있다. 다른 허용 오차값을 갖는 동일 유형의 구성요소가 신뢰성있게 전기적으로 검사될 수 있다. 결과적으로, 전기적 검사 동안에 전기 접촉이 이루어지지 않는 것을 이유로 한 구성요소의 잘못된 불량은 배제된다.

바람직하게는, 각 열의 제 1 섹션은 탄성 재료에 의해 서로 접속되며, 탄성 재료를 신장하기 위한 수단이 존재한다. 탄성 재료를 신장함으로써, 단부 사이의 간격은 연속적으로 변화된다. 단부는 열내서 균등하게 이격되거나 실질적으로 균등하게 이격된다. 도체가 프레임에 고정되고, 도체의 제 1 섹션이 상기 공간내로 연장하기 때문에, 단부는 정확한 방식으로 이동할 수 있다. 예를 들면, 상기 수단은 탄성 재료에 연결된 조정 스크루일 수 있다.

유리하게, 탄성 재료는 전기 절연체인 것이 바람직한 탄성중합체와 같은 중합체를 포함한다. 탄성중합체는 비교적 높은 내열성을 갖는 것이 바람직하다.

유리하게, 상기 공간은, 탄성 재료가 그것의 일부를 형성하는 제 1의 한쌍의 대향 측면과, 제 2의 대향 강성 측면을 갖는 골조를 포함한다. 상기 골조는 구성요소를 수용하기 위한 착좌부를 구비할 수 있으며, 이 착좌부는 탄성 재료를 신장하기 위한 수단으로 작용한다. 상기 착좌부는 구성요소가 그 사이에 고정될 수 있는 다수의 캠을 포함할 수 있다. 구성요소를 수용할 때, 캠은 상기 구성요소에 의해 멀리 밀려지며, 그 결과 탄성 재료는 신장되고 골조는 팽창된다. 착좌부의 캠은 구성요소를 중심설정한다.

바람직하게, 프레임 및 골조는 상호작용 안내 수단을 구비하며, 상기 안내 수단은 골조가 팽창 및 수축의 경우에 안내되게 한다. 안내 수단에 의해, 골조는 전도체의 열에 실질적으로 평행한 방향으로 이동한다.

유리하게, 프레임은 스프링 수단을 포함하며, 그 결과 골조는 전도체의 제 1 및 제 2 열에 실질적으로 평행한 방향으로 스프링력에 대항하여 팽창될 수 있다. 예를 들면, 스프링 수단은 탄성 재료보다 탄성 계수가 작은 것이 바람직한 압축 스프링일 수 있다. 스프링 수단은 구성요소가 수용되거나 제거될 때에 발생하는 가장 큰 힘을 흡수한다. 스프링의 댐핑 효과에 의해, 탄성 재료는 절약되며, 그 탄성을 유지한다. 구성요소가 제거된 후에, 스프링 수단은 골조가 그 스타팅 위치로 복귀하게 한다.

바람직하게, 프레임은 공간내로 돌출하는 캠을 구비하며, 상기 캠은 그 수축시에 골조용 정지부로서 작용한다. 프레임의 캠은 구성요소를 수용하기 위한 골조의 최소 크기를 결정한다. 정지부가 없다면, 탄성 재료는 스프링 작용의 결과로 원래 상태로 갈 것이며, 이것은 골조의 크기를 부절하게 규정하게 한다.

바람직하게, 전도체는 금을 함유한다. 금은 낮은 고유 저항을 갖는 양호한 전도체이다. 적어도 단부가 금 또는 금 합금으로 제조되면, 그 단부는 내부식성을 갖는다. 전도체의 단부는 접속점과의 만족스러운 전기 접촉을 이룰 수 있으며, 그 결과 낮은 접촉 저항이 달성될 수 있다.

방법에 대한 발명의 목적은, 각 열에서의 단부 사이의 간격이 구성요소를 소켓에 배치시킴으로써 구성요소의 전기 접속점중 각 하나를 그 자신의 단부와 접촉하게 하도록 조정되는 것에 의해 달성된다. 구성요소의 치수는 용이하고 신속하게 조정될 수 있다. 접촉점에 대해 다른 허용 오차값을 갖는 동일한 유형의 구성요소는 구성요소를 소켓에 배치할 때 단부가 대응 접속점과 직접 접촉한다는 점 때문에 매우 신속하게 검사될 수 있다.

유리하게, 각 열의 제 1 섹션은 탄성 재료에 의해 서로 접속되며, 이 탄성 재료는 구성요소의 전기 접속점중 각 하나를 그 자신의 단부와 접촉하게 하도록 신장된다. 탄성 재료는 신장되어, 단부 사이의 간격이 구성요소의 접속점에 자동적으로 적합하게 된다.

선호적으로, 골조는 공간내에 존재하며, 상기 골조는 탄성 재료가 그것의 일부분을 형성하는 제 1의 한쌍의 대향 측면을 포함하고, 또한 제 2의 대향 강성 측면을 포함하며, 상기 골조는 또한 구성요소가 배치되는 착좌부를 포함하며, 그에 따라 탄성 재료를 신장시킨다.

선호적으로, 스프링 수단은 구성요소가 착좌부로부터 제거된 경우에 상기 골조가 스타팅 위치로 복귀되게 한다. 스프링 수단은 골조의 수축시에 골조와 안내 수단 사이의 마찰력을 극복할 정도로 충분히 강하다. 또한, 스프링 수단은 구성요소를 소켓내에 수용하기 위해 또는 구성요소를 소켓으로부터 제거하기 위해 큰 힘이 인가된 경우에 댐핑 효과를 갖는다.

본 발명에 따른 소켓의 이러한 특징 및 다른 특징은 하기에 설명되는 실시예를 참고함으로써 명백해질 것이다.

본 발명은, 구성요소를 수용하기 위한 소켓에 관한 것으로, 상기 구성요소는 이 구성요소를 시험하는 동안에 다양한 전기 접속점을 구비하며, 상기 소켓은 공간을 둘러싸는 본질적으로 직사각형의 프레임을 포함하며, 전도체의 제 1 열 및 제 2 열은 상기 프레임에 서로 대향하여 고정되며, 상기 전도체는, 공간내로 연장하고, 수용될 구성요소의 전기 접속점에 접촉하기 위한 단부를 갖는 제 1 섹션과, 상기 프레임으로부터 돌출하는 제 2 섹션을 구비하며, 단부 사이의 거리가 조정가능한, 구성요소 검사용 소켓에 관한 것이다.

또한, 본 발명은, 다양한 전기 접속점을 구비하는 구성요소를 검사하기 위한 방법에 관한 것으로, 상기 구성요소는 공간을 둘러싸는 본질적으로 직사각형의 프레임을 구비하는 소켓에 배치되며, 전도체의 제 1 열 및 전도체의 제 2 열은 상기 프레임에 서로 대향하여 고정되며, 상기 전도체는, 공간내로 연장하고, 구성요소의 전기 접속점이 그와 접촉하게 되는 단부를 갖는 제 1 섹션과, 상기 프레임으로부터 돌출하는 제 2 섹션을 구비하며, 상기 단부 사이의 거리가 조정가능하며, 상기 제 2 섹션은 측정 장비에 전기적으로 접속되는, 구성요소의 검사 방법에 관한 것이다.

도 1은 구성요소를 포함하는 소켓의 실시예의 평면도,

도 2는 상기 구성요소를 구비하지 않은 소켓의 동일 실시예의 평면도,

도 3은 도 2의 선 Ⅲ-Ⅲ을 따라 취한 소켓의 실시예의 단면도,

도 4는 도 2의 선 Ⅳ-Ⅳ을 따라 취한 소켓의 제 1 실시예의 단면도,

도 5a는 도 2에 도시된 소켓의 스타팅 위치의 상세 평면도,

도 5b는 도 2에 도시된 바와 같이 작동중의 소켓의 상세 평면도.

도 1에 도시된 소켓(1)의 실시예는 다양한 전기 접속점(3)을 구비한 구성요소(2)를 수용하는데 적합하게 사용될 수 있으며, 이 구성요소(2)는 전기 측정 장비에 의해 검사될 수 있다. 본 실시예에 있어서, 구성요소(2)는 엔벌로프(envelope)(23)내의 이미지 센서이다. 예를 들면, 상기 엔벌로프(23)는 레드리스(leadless) 칩 캐리어 또는 볼 그리드 어레이형의 엔벌로프이다. 상이한 구성요소는 칩 캐리어의 접속점(3)에 대해 상이한 허용 오차값을 갖는다. 도시된 실시예에서 구성요소(2)의 전형적인 치수는 1㎝ 정도이다. 구성요소(2)는 수십개의 접속점(3)을 갖는다. 접속점(3) 사이의 간격(12)은 전형적으로 100㎛이며, 허용 편차가 1%이다. 구성요소(2)의 최외측 접속점에 대한 절대 허용 오차는 100㎛ 정도이다. 공지된 소켓에 있어서, 최외측 접속점과 전기적 접촉을 동시에 이루는 것이 불가능하며, 신뢰성있는 전기적 검사가 불가능하다. 명확화를 위해, 구성요소(2)는 다른 도면에 도시되어 있지 않다.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 소켓(1)은 공간(5)을 둘러싸는 본질적으로 직사각형 프레임(4)을 포함한다. 전도체(8)의 제 1 열(6) 및 전도체(8)의 제 2 열(7)은 프레임(4)에 서로 대향하여 고정된다. 도체(8)는 공간(5)내로 연장하고 수용될 구성요소(2)의 전기 접속점(3)에 접촉하기 위한 단부(10)를 갖는 제 1 섹션(9)과, 프레임(4)으로부터 돌출하는 제 2 섹션(11)을 포함한다. 각 열(6, 7)의 단부(10) 사이의 간격(12)은 조절가능하다. 간격(12)이 조절가능하기 때문에, 단부(10)는 접속점(3)과 접촉하게 된다.

도 3은 소켓의 일 실시예의 단면도로서, 프레임(4)을 관통 연장하는 전도체(8)가 도시되어 있다. 대안적으로, 도체(8)가 프레임(4)을 따라 연장하는것이 가능하다. 도체(8)는 프레임(4)으로부터 돌출하고 도시된 실시예에서 핀(pin)인 제 2 섹션(11)을 포함한다. 소켓의 핀은 예를 들어 인쇄 회로 기판상에 고정될 수 있다. 각 열(6, 7)의 제 1 섹션(9)은 탄성 재료에 의해 서로 연결된다. 도 3 및 도 4에 도시된 소켓(1)의 실시예의 단면도에 있어서, 전도체(8)는 탄성 재료(14)로 전체적으로 밀폐되어 있다. 선택적으로, 탄성 재료(14)는 도체(8) 사이에만 위치될 수 있다.

탄성 재료(14)는 초메릭스(Chomerics)에 의해 제조된 탄성중합체 V-썸(V-therm)과 같은 중합체를 포함하는 것이 바람직하다. 이러한 탄성 중합체는 -60℃ 내지 150℃의 온도 범위에서 비교적 높은 내열성을 갖는 전기 절연체이다. 대안적으로, 고무 또는 아교질 등의 다른 탄성 재료가 사용될 수도 있다.

수단(15)은 탄성 재료(14)를 신장하도록 존재하고 있다. 도 4는 수단(15)을 갖는 소켓의 제 1 실시예의 단면도이다. 예를 들면, 수단(15)은 탄성 재료(14)를 신장하도록 힘을 인가할 수 있는 조정 스크루일 수 있다.

도 2에 도시된 실시예에 있어서, 공간(5)은, 탄성 재료(14)가 그것의 일부를 형성하는 제 1의 한쌍의 대향 측면(16)과, 제 2의 대향 강성 측면(17)을 갖는 골조(18)를 수용하며, 상기 골조(18)는 구성요소(2)를 수용하기 위한 착좌부(seating)를 포함하며, 이 착좌부는 탄성 재료(14)를 신장하기 위한 수단(15)으로 작용한다.

도 5a는 소켓의 실시예의 상세를 도시한다. 프레임(4) 및 골조(18)는 상호작용 안내 수단(20)을 구비하며, 이 안내 수단은 골조(18)가 팽창 및 수축시에 안내되게 한다. 예를 들면, 안내 수단(20)은 프레임(4)내에 부분적으로 그리고 골조(18)내에 부분적으로 삽입된 핀이다. 안내 수단(20)은 예를 들어 골조(18)를 지지하는 지지체일 수도 있으며, 그에 따라 골조(18)가 전도체(8)의 열(6, 7)에 평행한 방향의 평면에서 이동한다. 예를 들면, 이 지지체는 골조(18)의 이동을 허용하는 홈 또는 레일을 포함할 수 있다.

프레임(4)은 전도체(8)의 제 1 및 제 2 열(6, 7)에 실질적으로 평행한 방향으로 스프링력에 대항하여 골조(18)를 팽창하게 하는 스프링 수단(19)을 포함한다. 예를 들면, 스프링 수단(19)은 동일한 유형의 구성요소가 전기적으로 측정되기 전에 조정 스크루에 의해 조정될 수 있는 스프링일 수 있다. 본 실시예에 있어서, 스프링 수단(19)은 탄성 재료(14)를 스타팅 위치로 복귀시키기 위해 도체(8)의 열(6, 7)과 동축이다.

전도체(8)는 금을 포함하는 것이 바람직하다. 상기 금은 종종 도체(8)상에 전기적으로 제공된다. 구성요소의 접속점과 단부(10) 사이의 낮은 접촉 저항을 이루기 위해, 적어도 전도체의 단부(10)가 귀금속을 함유하는 것을 매우 선호한다. 금(Au)의 낮은 고유 저항 때문에, 고주파수에서 전기적 검사를 수행하기에 바람직한 저 임피던스 접촉을 달성할 수 있다.

다양한 전기 접속점(3)을 갖는 구성요소(2)를 검사하기 위해, 구성요소(2)는 소켓(1)내에 배치된다. 구성요소는 수동으로 또는 로보트 팔에 의해 소켓내에 배치될 수 있다. 구성요소(2)의 전기 접속점(3)은 전도체(8)의 단부(10)와 접촉하게 되며, 프레임(4)으로부터 돌출하는 제 2 섹션(11)은 측정 장비에 전기적으로 접속된다. 도 1은 구성요소(2)를 수용하는 소켓(1)의 실시예의 평면도이다. 도시된 실시예에 있어서, 구성요소(2)는 엔벌로프(23)내의 이미지 센서이다. 엔벌로프(23)내의 이미지 센서는 예를 들어 비교적 고온에서의 암전류(dark current)의 값 또는 화소의 기능에 대해 전기적으로 검사된다. 예를 들면, 소켓(1)은 검사용 전자 회로를 포함하는 인쇄 회로 기판상에 배치된다. 인쇄 회로 기판은 파라미터 분석기 등의 전기적 측정 장비에 전기적으로 접속된다. 최종 조립을 위해, 이미지 센서는 전도체(8)의 제 2 섹션(11)으로서 볼 그리드 어레이 또는 핀 그리드 어레이를 포함하는 엔벌로프(23)에 종종 배치된다. 소켓(1)내에 구성요소(2)를 배치함으로써, 각 열(6, 7)에서의 단부(10) 사이의 간격이 조정된다.

탄성 재료(14)는 구성요소(2)의 전기 접속점(3)중 각 하나가 그 자신의 단부(10)와 접촉하게 하도록 신장된다.

탄성 재료(14)는 구성요소(2)를 골조(18)의 착좌부(15)에 배치시킴으로써 신장될 수 있다. 구성요소(2)는 캠 사이에 고정된다. 구성요소의 치수가 골조(18)의 착좌부(15)의 최소 크기보다 크다면, 탄성 재료(14)는 신장되며, 골조(18)는 전도체(8)의 열(6, 7)에 평행한 방향으로 보다 크게 된다.

도 5a는 스타팅 위치(22)에 있는 소켓(1)의 상세를 도시하고 있다. 도 5b는 작동중인 소켓(1)의 상세를 도시하고 있다. 구성요소(2)를 착좌부에 배치시킴으로써, 골조(18)는 화살표로 표시된 방향으로 이동한다. 또한, 단부(10) 사이의 간격(12)은 증가한다. 구성요소(2)를 전기적으로 검사한 후에, 상기 구성요소는 착좌부(15)로부터 제거되며, 스프링 수단(19)은 골조(18)를 스타팅 위치(22)로 복귀시킨다. 소켓(1)은 다음 구성요소를 검사할 준비를 한다.

Claims (12)

1. 구성요소(2)를 수용하기 위한 소켓(1)으로서, 상기 구성요소(2)는 이 구성요소(2)를 시험하는 동안에 다양한 전기 접속점(3)을 구비하며, 상기 소켓은 공간(5)을 둘러싸는 본질적으로 직사각형의 프레임(4)을 포함하며, 전도체(8)의 제 1 열(6) 및 제 2 열(7)은 상기 프레임(4)에 서로 대향하여 고정되며, 상기 전도체(8)는, 공간(5)내로 연장하고, 수용될 구성요소(2)의 전기 접속점(3)에 접촉하기 위한 단부(10)를 갖는 제 1 섹션(9)과, 상기 프레임(4)으로부터 돌출하는 제 2 섹션(11)을 구비하며, 단부(10) 사이의 거리가 조정가능한, 구성요소 검사용 소켓에 있어서,

   각 열(6, 7)에서의 단부(10) 사이의 간격(12)이 조정가능한 것을 특징으로 하는

   구성요소 검사용 소켓.
2. 제 1 항에 있어서,

   각 열(6, 7)의 제 1 섹션(9)은 탄성 재료(14)에 의해 서로 접속되며, 탄성 재료(14)를 신장하기 위한 수단(15)이 존재하는 것을 특징으로 하는

   구성요소 검사용 소켓.
3. 제 2 항에 있어서,

   상기 탄성 재료(14)가 중합체를 포함하는 것을 특징으로 하는

   구성요소 검사용 소켓.
4. 제 2 항에 있어서,

   상기 공간(5)은, 탄성 재료(14)가 그것의 일부를 형성하는 제 1의 한쌍의 대향 측면(16)과, 제 2의 대향 강성 측면(17)을 갖는 골조(18)를 포함하며, 상기 골조(18)는 구성요소(2)를 수용하기 위한 착좌부를 구비하며, 상기 착좌부는 탄성 재료(14)를 신장하기 위한 수단(15)으로 작용하는 것을 특징으로 하는

   구성요소 검사용 소켓.
5. 제 4 항에 있어서,

   상기 프레임(4) 및 골조(18)는 상호작용 안내 수단(20)을 구비하며, 상기 안내 수단은 골조(18)가 팽창 및 수축의 경우에 안내되게 하는 것을 특징으로 하는

   구성요소 검사용 소켓.
6. 제 4 항 또는 제 5 항에 있어서,

   상기 프레임(4)은 스프링 수단(19)을 포함하며, 그 결과 상기 골조(18)는 전도체(8)의 제 1 및 제 2 열(6, 7)에 실질적으로 평행한 방향으로 스프링력에 대항하여 팽창될 수 있는 것을 특징으로 하는

   구성요소 검사용 소켓.
7. 제 5 항에 있어서,

   상기 프레임(4)은 공간(5)내로 연장하는 캠(21)을 구비하며, 상기 캠은 그 수축시에 골조(18)용 정지부로서 작용하는 것을 특징으로 하는

   구성요소 검사용 소켓.
8. 제 1 항에 있어서,

   상기 전도체(8)는 금을 함유하는 것을 특징으로 하는

   구성요소 검사용 소켓.
9. 다양한 전기 접속점(3)을 구비하는 구성요소(2)를 검사하기 위한 방법으로서, 상기 구성요소(2)는 공간(5)을 둘러싸는 본질적으로 직사각형의 프레임(4)을 구비하는 소켓(1)에 배치되며, 전도체(8)의 제 1 열(6) 및 전도체의 제 2 열(7)은 상기 프레임(4)에 서로 대향하여 고정되며, 상기 전도체(8)는, 공간(5)내로 연장하고, 구성요소(2)의 전기 접속점(3)이 그와 접촉하게 되는 단부(10)를 갖는 제 1 섹션(9)과, 상기 프레임(4)으로부터 돌출하는 제 2 섹션(11)을 구비하며, 상기 단부(10) 사이의 거리가 조정가능하며, 상기 제 2 섹션은 측정 장비에 전기적으로 접속되는, 구성요소의 검사 방법에 있어서,

   각 열(6, 7)에서의 단부(10) 사이의 간격(12)은 상기 구성요소(2)를 소켓(1)에 배치시킴으로써 구성요소(2)의 전기 접속점(3)중 각 하나를 그 자신의 단부(10)와 접촉하게 하도록 조정되는 것을 특징으로 하는

   구성요소의 검사 방법.
10. 제 9 항에 있어서,

    각 열(6, 7)의 제 1 섹션(9)은 탄성 재료(14)에 의해 서로 접속되며, 상기 탄성 재료(14)는 구성요소(2)의 전기 접속점(3)중 각 하나를 그 자신의 단부(10)와 접촉하게 하도록 신장되는 것을 특징으로 하는

    구성요소의 검사 방법.
11. 제 10 항에 있어서,

    골조(18)는 공간(5)내에 존재하며, 상기 골조는 탄성 재료(14)가 그것의 일부분을 형성하는 제 1의 한쌍의 대향 측면(16)을 포함하고, 또한 제 2의 대향 강성 측면(17)을 포함하며, 상기 골조(18)는 구성요소(2)가 배치되는 착좌부(15)를 더 포함하며, 그에 따라 탄성 재료(14)가 신장되게 하는 것을 특징으로 하는

    구성요소의 검사 방법.
12. 제 9 항에 있어서,

    스프링 수단(19)은 구성요소(2)가 착좌부(18)로부터 제거된 경우에 상기 골조(15)가 스타팅 위치(22)로 복귀되게 하는 것을 특징으로 하는

    구성요소의 검사 방법.