KR20010113536A - 곡면 구조물의 제조 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (16)
- 구조물 본체를 제공하는 단계; 및상기 구조물 본체의 일면상에 스퍼터링에 의해 박막을 형성하여 이 구조물 본체가 상기 박막내에 형성된 내부 응력에 의해 만곡되게 하여 상기 구조물 본체의 일면과 타면이 곡면으로 형성되게 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 박막은 40 이상 240 이하의 원자량을 갖는 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 구조물 본체 면들의 곡률은 스퍼터링에 의해 박막 형성시의 압력으로 조정되는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 제3항에 있어서, 상기 압력을 소정의 압력 이상으로 설정함으로써, 박막이 형성된 일면에 대향하는 타면이 볼록 곡면으로 되며,상기 압력을 소정의 압력 이하로 설정함으로써, 박막이 형성된 일면이 볼록 곡면으로 되는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 스퍼터링에 의한 박막의 형성은 진공실에서 실행되며,상기 구조물 본체 면들의 곡률은 박막의 형성이전에 진공실내의 초기압에 의해 조정되는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 제5항에 있어서, 상기 초기압을 소정의 압력 이상으로 설정함으로써, 박막이 형성된 일면에 대향하는 타면이 볼록 곡면으로 되며,상기 초기압을 소정의 압력 이하로 설정함으로써, 박막이 형성된 일면이 볼록 곡면으로 되는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 스퍼터링에 의한 박막의 형성은 상기 구조물 본체에 대향하는 타겟에 전압을 인가함으로써 실행되며,상기 구조물 본체 면들의 곡률은 타겟에 인가된 전압에 의해 조정되는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 제7항에 있어서, 상기 전압을 소정의 전압 이상으로 설정함으로써, 박막이 형성된 일면이 볼록 곡면으로 되며,상기 전압을 소정의 전압 이하로 설정함으로써, 박막이 형성된 일면에 대향하는 타면이 볼록 곡면으로 되는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 구조물 본체는 박막의 형성시 냉각되는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 구조물 본체는 Al2O3-TiC 기판이며, 스퍼터링시의 구조물 본체의 온도는 20℃ 이상 50℃ 이하이며, 스퍼터링시의 진공실내의 압력은 0.5 Pa 이상 5.0 Pa 이하이며, 박막은 탄탈 또는 크롬으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물의 제조 방법.
- 단일 또는 복수의 내장 장치(built-in device)를 구비한 자기헤드 기판을 제공하는 단계; 및상기 자기헤드 기판의 일면상에 스퍼터링에 의해 박막을 형성하여 이 자기헤드 기판이 상기 박막내에서 생성된 내부 응력에 의해 만곡하여 상기 자기헤드 기판의 일면과 타면이 곡면으로 형성되게 하고, 이 곡면중 볼록한 한 면이 헤드면으로 작용하게 하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 자기헤드 기판의 제조 방법.
- 제11항에 있어서, 상기 자기헤드 기판의 일면상에 박막을 형성한 후, 상기 자기헤드 기판을 절단하여 복수의 헤드로 분리하는 단계를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 자기헤드 기판의 제조 방법.
- 구조물 본체; 및상기 구조물 본체의 일면상에 스퍼터링에 의해 형성된 박막을 구비하며;상기 구조물 본체는 상기 박막의 내부 응력에 의해 만곡되어, 상기 구조물 본체의 일면과 이 일면에 대향하는 타면이 곡면으로 형성되는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물.
- 제13항에 있어서, 상기 박막은 40 이상 24 이하의 원자량을 갖는 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물.
- 제13항에 있어서, 상기 구조물 본체는 Al2O3-TiC 기판이며, 상기 박막은 탄탈 또는 크롬으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 곡면 구조물.
- 단일 또는 복수의 내장 장치를 구비한 자기헤드 기판; 및상기 자기헤드 기판의 일면상에 스퍼터링에 의해 형성된 박막을 구비하며;상기 자기헤드 기판이 상기 박막의 내부 응력에 의해 만곡되어, 상기 자기헤드 기판의 일면 또는 그에 대향하는 타면이 헤드면으로서 작용하는 볼록 곡면으로 형성되는 것을 특징으로 하는 자기헤드.
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Cited By (1)
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|---|---|---|---|---|
| KR20180028879A (ko) * | 2016-09-09 | 2018-03-19 | 삼성전자주식회사 | 기판 처리 장치 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조 방법 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20130288078A1 (en) * | 2012-04-30 | 2013-10-31 | Seagate Technology Llc | Thin Film with Reduced Stress Anisotropy |
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| US10640865B2 (en) * | 2016-09-09 | 2020-05-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Substrate processing apparatus and method for manufacturing semiconductor device using the same |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0765527A (ja) * | 1993-08-27 | 1995-03-10 | Fujitsu Ltd | 浮上型磁気ヘッドとその製造方法 |
| JPH0896322A (ja) * | 1994-09-22 | 1996-04-12 | Sony Corp | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
| JPH11158616A (ja) * | 1997-11-27 | 1999-06-15 | Sony Corp | スパッタリング装置及びスパッタリング方法 |
| JPH11328627A (ja) * | 1998-05-15 | 1999-11-30 | Sony Corp | スパッタリング装置及びスパッタリング方法 |
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|---|---|---|---|---|
| US5471721A (en) * | 1993-02-23 | 1995-12-05 | Research Corporation Technologies, Inc. | Method for making monolithic prestressed ceramic devices |
| JPH06280026A (ja) * | 1993-03-24 | 1994-10-04 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 成膜装置及び成膜方法 |
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Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0765527A (ja) * | 1993-08-27 | 1995-03-10 | Fujitsu Ltd | 浮上型磁気ヘッドとその製造方法 |
| JPH0896322A (ja) * | 1994-09-22 | 1996-04-12 | Sony Corp | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 |
| JPH11158616A (ja) * | 1997-11-27 | 1999-06-15 | Sony Corp | スパッタリング装置及びスパッタリング方法 |
| JPH11328627A (ja) * | 1998-05-15 | 1999-11-30 | Sony Corp | スパッタリング装置及びスパッタリング方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20180028879A (ko) * | 2016-09-09 | 2018-03-19 | 삼성전자주식회사 | 기판 처리 장치 및 이를 이용한 반도체 장치의 제조 방법 |
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Patent event date: 20031010 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20030624 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |