[go: up one dir, main page]

KR20010005007A - Memory device and method for improving word line access time - Google Patents

Memory device and method for improving word line access time Download PDF

Info

Publication number
KR20010005007A
KR20010005007A KR1019990025787A KR19990025787A KR20010005007A KR 20010005007 A KR20010005007 A KR 20010005007A KR 1019990025787 A KR1019990025787 A KR 1019990025787A KR 19990025787 A KR19990025787 A KR 19990025787A KR 20010005007 A KR20010005007 A KR 20010005007A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
address
signal
word line
response
line access
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
KR1019990025787A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR100318439B1 (en
Inventor
은종오
양지운
Original Assignee
김영환
현대전자산업 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 김영환, 현대전자산업 주식회사 filed Critical 김영환
Priority to KR1019990025787A priority Critical patent/KR100318439B1/en
Publication of KR20010005007A publication Critical patent/KR20010005007A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100318439B1 publication Critical patent/KR100318439B1/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • AHUMAN NECESSITIES
    • A41WEARING APPAREL
    • A41DOUTERWEAR; PROTECTIVE GARMENTS; ACCESSORIES
    • A41D13/00Professional, industrial or sporting protective garments, e.g. surgeons' gowns or garments protecting against blows or punches
    • A41D13/05Professional, industrial or sporting protective garments, e.g. surgeons' gowns or garments protecting against blows or punches protecting only a particular body part
    • A41D13/11Protective face masks, e.g. for surgical use, or for use in foul atmospheres
    • A41D13/1107Protective face masks, e.g. for surgical use, or for use in foul atmospheres characterised by their shape
    • A41D13/1153Protective face masks, e.g. for surgical use, or for use in foul atmospheres characterised by their shape with a hood
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A62LIFE-SAVING; FIRE-FIGHTING
    • A62BDEVICES, APPARATUS OR METHODS FOR LIFE-SAVING
    • A62B18/00Breathing masks or helmets, e.g. affording protection against chemical agents or for use at high altitudes or incorporating a pump or compressor for reducing the inhalation effort
    • A62B18/02Masks
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A62LIFE-SAVING; FIRE-FIGHTING
    • A62BDEVICES, APPARATUS OR METHODS FOR LIFE-SAVING
    • A62B23/00Filters for breathing-protection purposes
    • AHUMAN NECESSITIES
    • A41WEARING APPAREL
    • A41DOUTERWEAR; PROTECTIVE GARMENTS; ACCESSORIES
    • A41D2600/00Uses of garments specially adapted for specific purposes
    • A41D2600/20Uses of garments specially adapted for specific purposes for working activities

Landscapes

  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Business, Economics & Management (AREA)
  • Emergency Management (AREA)
  • Physical Education & Sports Medicine (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Zoology (AREA)
  • Pulmonology (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

본 발명은 워드라인을 빠르게 활성화한 고속의 반도체 메모리 장치를 제공하기 위한 것으로서, 이를 위한 본 발명은 반도체메모리장치에 있어서, 라스, 카스, 라이트인에이블, 및 칩셀렉트신호와 어드레스 전달 시작을 알리는 어드레스플레그신호에 응답하여 워드라인억세스신호와 상기 워드라인억세스신호 보다 먼저 액티브되는 어드레스억세스신호를 생성하는 커맨드 디코더; 상기 어드레스억세스신호에 응답하여 어드레스 신호를 펄스신호로 생성하고 이를 프리디코딩 한 후 래치하는 수단; 상기 워드라인억세스신호에 응답하여 상기 수단으로 부터의 출력신호를 디코더로 전달하는 워드라인억세스 제어수단; 및 상기 워드라인억세스제어수단을 통해 프리디코딩된 신호를 전달받아 디코딩하는 어드레스디코더를 구비하고, 상기 워드라인억세스신호에 응답하여 읽기 또는 쓰기 동작이 액티브되기 이전에 어드레스를 디코딩하고, 상기 어드레스억세스신호에 응답하여 읽기 또는 쓰기 동작이 액티브되면 활성화되어 어드레스 디코딩을 활성화한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention provides a high speed semiconductor memory device that quickly activates a word line. The present invention provides an address indicating a start of a las, cas, write enable, and chip select signal and address transfer in a semiconductor memory device. A command decoder configured to generate a word line access signal and an address access signal that is activated before the word line access signal in response to a flag signal; Means for generating an address signal as a pulse signal in response to the address access signal, predecoding it, and then latching it; Word line access control means for transferring an output signal from the means to a decoder in response to the word line access signal; And an address decoder that receives and decodes a predecoded signal through the word line access control means, decodes an address before a read or write operation is activated in response to the word line access signal, and decodes the address access signal. In response, a read or write operation is activated to activate address decoding.

Description

워드라인 억세스 타임을 개선하기 위한 방법 및 그를 위한 반도체 메모리 장치{Memory device and method for improving word line access time}Memory device and method for improving word line access time

본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것으로, 특히 외부로부터 인가된 어드레스로 워드라인(Wordline)을 액티브(Active) 시키는 방법을 변형하여 동작속도를 증가시킨 반도체 메모리 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly, to a semiconductor memory device in which an operation speed is increased by modifying a method of activating a word line to an address applied from the outside.

메모리 소자의 셀 집적도가 세대를 지나면서 급격히 증가하여 셀 면적이 증가하고 있으며 셀 블록을 제어하기 위한 기능도 상당히 복잡해짐에 따라 제어 블록의 크기도 급격히 커지고 있어 결과적으로 칩의 크기가 큰 폭으로 증가하고 있다. 이 때문에 외부 입력 신호를 내부 셀 블록 쪽으로 전달하는 버스 라인의 길이도 급격히 증가하여 금속으로 만들어진 버스라인에서 생기는 지연도 이제는 무시할 수 없을 정도가 되었다. 더구나 클럭의 속도가 점점 빨라지고 있어 작은 양의 지연(delay)과 스큐(skew)도 클럭의 속도를 제한하는 요인으로 되고 있다.As the cell density of memory devices increases rapidly with generations, the cell area increases, and as the functions for controlling cell blocks become more complicated, the size of control blocks increases rapidly, resulting in a significant increase in chip size. Doing. Because of this, the length of bus lines that carry external input signals to internal cell blocks has also increased dramatically, and delays in metal bus lines are no longer negligible. In addition, the clock speed is getting faster, and a small amount of delay and skew are also limiting the clock speed.

도1은 종래 기술에 따른 어드레스 신호 전달의 블록 다이아그램에 대해서 도시한 것으로서, 외부에서 인가된 어드레스(Ai)가 외부 핀과 코어 블록의 회로를 연결시키는 어드레스 패드(Address Pad)(110)와, 상기 어드레스 패드(110)를 통해 불안정한 전압이 입력될때 이 불안정한 전압이 내부회로로 전달되는 것을 방지하기 위한 정전기 방지(Electro Static Discharge Protection)부(120)와, 상기 어드레스를 인터널 어드레스(Internal Address)로 변환하는 어드레스버퍼(Address Buffer)(130)와, 인터널 어드레스(gax_ABi, gax_CDi, gax_EFi)를 워드라인 액티브 신호(Wordline Active Pulse : WAC)의 제어하에 디코더 쪽으로 전달하는 어드레스 펄스 제너레이터(Address Pulse Generator)(140)와, 어드레스 신호를 증폭하는 구동 버퍼(Driving Buffer)(150)와, 버스라인을 거친 어드레스(baxAi, baxBi, baxCi, baxDi, baxEi, baxFi)를 프리디코딩하는 어드레스 프리디코더(Address Predecoder)(160)와, 프리디코딩된 신호(bax_ABi, bax_CDi, bax_EFi)를 어드레스 디코더로 구동하는 로컬 시그널 드라이버(Local Signal Driver)(170)와, 전달된 신호(lax_ABi, lax_CDi, lax_EFi)를 디코딩하는 어드레스 디코더(Address Decoder)(180)와, 디코딩된 어드레스에 의해 워드라인을 구동하는 워드라인 드라이버(Wordline Driver)(190), 및 상기 워드라인 액티브 신호(WAC)를 생성하는 커맨드 디코더(Command Decoder)(100)로 구성된다.1 shows a block diagram of address signal transfer according to the prior art, wherein an externally applied address Ai connects an external pin and a circuit of a core block to an address pad 110; When the unstable voltage is input through the address pad 110, an electrostatic discharge protection unit 120 for preventing the unstable voltage from being transferred to the internal circuit, and the address as an internal address. An address pulse generator (address pulse generator) for transmitting an address buffer 130 for converting a signal into a decoder and an internal address (gax_ABi, gax_CDi, gax_EFi) to a decoder under the control of a wordline active signal (WAC). 140, a driving buffer 150 for amplifying an address signal, and addresses (baxAi, baxBi, baxCi, baxDi, baxEi, baxFi) via bus lines An address predecoder 160 for predecoding, a local signal driver 170 for driving the predecoded signals bax_ABi, bax_CDi, bax_EFi as an address decoder, and the transmitted signal lax_ABi Address Decoder 180 for decoding lax_CDi and lax_EFi, a Wordline Driver 190 for driving a wordline by the decoded address, and the wordline active signal WAC. Command Decoder 100 is generated.

도2는 종래의 워드라인 액티브 신호 생성부의 회로도로서, 공급전원(VCC)과 접지전원(GND)사이에 직렬연결되고, 라스(RAS), 카스(CAS), 라이트인에이블 신호(WE)를 게이트의 입력으로 하는 엔모스트랜지스터(NM21, NM22, NM23)과 라이트인에이블 신호를 게이트의 입력으로 하는 피모스트랜지스터(PM21)와 상기 라스, 카스, 라이트인에이블 신호에 의한 신호를 반전하는 인버터(INV21)로 구성된다.FIG. 2 is a circuit diagram of a conventional word line active signal generator, and is connected in series between a supply power supply VCC and a ground power supply GND, and gates a RAS, a cas, and a write enable signal WE. NMOS21 (NM21, NM22, NM23) to be input as input signal and PMOS transistor (PM21) using the write enable signal as a gate, and inverter (INV21) which inverts the signal by the lath, cas, and write enable signal. It is composed of

도3은 종래기술에 따른 어드레스 신호 전달 과정의 타이밍 다이아그램을 나타내는 것으로, 도1과 함께 도3을 참조하면 외부에서 어드레스(Ai)가 인가된 상태에서 워드라인 액티브 신호(WAC)가 활성화 된 후 클럭이 "하이"로 액티브되면 상기 어드레스 펄스 제너레이터(140)에서 디코더 쪽으로 프리디코딩된 어드레스가(lax_EFi) 전달되어 디코딩된 후 워드라인(WL)을 활성화시킨다.FIG. 3 is a timing diagram of an address signal transfer process according to the prior art. Referring to FIG. 3 together with FIG. 1, after the word line active signal WAC is activated in the state where the address Ai is externally applied, FIG. When the clock is active "high", the pre-decoded address lax_EFi is transferred from the address pulse generator 140 toward the decoder to decode and activate the word line WL.

구체적으로 종래기술에 따른 어드레스 신호 전달 과정을 살펴본다.Specifically, the address signal transfer process according to the prior art will be described.

외부에서 인가된 어드레스(Ai)가 칩 외부의 핀과 내부의 코어 블록을 연결해주는 어드레스 패드(110)와 외부에서 핀을 통해 인체에서 생기는 정전기나 급격한 고전압이 코어 블록의 회로로 직접 인가되어 회로가 파괴되는 것을 막기 위한 정전기 방지회로(120)를 거쳐서 어드레스 버퍼(130)로 전달된다.Externally applied address Ai connects the pins on the outside of the chip to the core blocks inside, and static electricity or a sudden high voltage generated in the human body is directly applied to the core block circuit through the pins on the outside. It is transmitted to the address buffer 130 via the antistatic circuit 120 to prevent destruction.

전달된 어드레스(Ai)는 외부의 TTL(Transistor Transistor Logic) 신호를 메모리 내부 회로에서 사용되는 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor) 신호로 변환하는 어드레스 버퍼(130)에 의해 인터널 어드레스(gax_ABi, gax_CDi, gax_EFi)로 변환되어 어드레스 펄스 제너레이터(140)로 인가된다. 어드레스 펄스 제너레이터(140)로 인가된 인터널 어드레스(gax_ABi, gax_CDi, gax_EFi)는 커맨드 디코더(100)에서 생성된 워드라인 액티브 신호(WAC)에 의해 액티브되어 금속으로 이루어진 긴 시그널 버스 라인을 구동하기 위한 구동 버퍼(150)를 거쳐 버스 라인에 전달되고 버스라인에 존재하는 저항(Resistance)과 정전용량(Capacitance)에 의해서 지연이 된후, 어드레스 프리디코더(160)에서 프리디코딩 된 어드레스(bax_ABi, bax_CDi, bax_EFi)가 다시 단위 셀 블록의 어드레스 디코더(180) 앞단에서 로컬 시그널 드라이버(170)를 통해 버퍼링된 어드레스(lax_ABi, lax_CDi, lax_EFi)로서 어드레스 디코더(180)에 입력된다. 디코더에서 디코딩된 신호는 워드라인을 구동하기 위한 워드라인 드라이버(190)를 거쳐 워드라인(WL)을 활성화하여 리드(Read), 라이트(Write) 또는 리프레시(Refresh) 동작을 수행한다.The transferred address Ai is an internal address (gax_ABi, gax_CDi, gax_EFi) by an address buffer 130 that converts an external TTL (Transistor Transistor Logic) signal into a Complementary Metal Oxide Semiconductor (CMOS) signal used in an internal circuit of a memory. ) Is applied to the address pulse generator 140. The internal addresses gax_ABi, gax_CDi, and gax_EFi applied to the address pulse generator 140 are activated by the word line active signal WAC generated by the command decoder 100 to drive a long signal bus line made of metal. The address bax_ABi, bax_CDi, bax_EFi is transferred to the bus line through the driving buffer 150 and delayed by the resistance and capacitance present in the bus line, and then predecoded by the address predecoder 160. ) Is input to the address decoder 180 as the address lax_ABi, lax_CDi, lax_EFi buffered through the local signal driver 170 in front of the address decoder 180 of the unit cell block. The signal decoded by the decoder activates the word line WL via the word line driver 190 for driving the word line to perform a read, write, or refresh operation.

워드라인 액티브 신호(WAC)는 커맨드 디코더(100)에서 생성되며, 도2에 도시된 바와 같이 상기 라스, 상기 카스, 상기 라이트인에이블을 조합하여, 라이트 인에이블이 로직 "로우"일 때 워드라인 액티브 신호(WAC)는 로직 "로우"로 되며 워드라인 펄스 제너레이터(140)를 디스에이블 시킨다. 라이트인에이블(WE)이 로직 "하이"로 되고, 라스(RAS)와 카스(CAS)가 로직 "하이"로 인가되면 워드라인 액티브 신호(WAC)를 "하이"로 액티브시켜 어드레스 펄스 제너레이터(140)를 인에이블 시킨다.The word line active signal WAC is generated at the command decoder 100 and combines the las, the cas, and the write enable as shown in FIG. 2, so that the word line when the write enable is logic " low " The active signal WAC goes logic "low" and disables the wordline pulse generator 140. When the write enable WE is logic " high " and when the RAS and CAS are logic " high ", the word line active signal WAC is " high " to activate the address pulse generator 140. Enable).

이러한 종래 기술에 따른 어드레스 신호 전달 과정은 워드라인을 억세스 하기까지 버스라인 및 구동버퍼 등으로 인하여 발생하는 지연시간의 문제로 컬럼 억세스(Column Access) 동작 시작에 제약이 있었으며 라스신호에서 카스신호로의 전달 지연 때문에 결과적으로는 메모리 소자의 속도를 제한하는 큰 요인이 되어 왔다.The address signal transfer process according to the related art has a limitation in starting a column access operation due to a delay time caused by a bus line and a driving buffer to access a word line. Due to the propagation delay, it has become a big factor in limiting the speed of memory devices.

본 발명은 상술한 바와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로써, 워드라인을 빠르게 활성화하여 고속 동작을 구현할 수 있도록 한 반도체메모리장치를 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the problems of the prior art as described above, and an object of the present invention is to provide a semiconductor memory device capable of quickly activating a word line to implement high-speed operation.

도1은 종래의 메모리 장치의 어드레스 신호 전달 과정을 보여준 블록 다이아그램.1 is a block diagram showing an address signal transfer process of a conventional memory device.

도2는 종래의 워드라인 액티브 신호 생성부의 회로도.2 is a circuit diagram of a conventional word line active signal generation unit.

도3은 종래의 어드레스 신호 전달 동작 타이밍 다이아그램.3 is a timing diagram of a conventional address signal transfer operation.

도4는 본 발명의 일실시예에 따른 메모리 장치의 어드레스 신호 전달 과정을 보여준 블록 다이아그램.4 is a block diagram showing an address signal transmission process of a memory device according to an embodiment of the present invention.

도5a는 본 발명의 일실시예에 따른 어드레스 억세스 신호 생성부의 회로도.5A is a circuit diagram of an address access signal generation unit according to an embodiment of the present invention.

도5b는 본 발명의 일실시예에 따른 워드라인 억세스 제어부의 회로도.5B is a circuit diagram of a word line access control unit according to an embodiment of the present invention.

도5c는 본 발명의 일실시예에 따른 어드레스 디코더의 회로도.5C is a circuit diagram of an address decoder according to an embodiment of the present invention.

도6은 본 발명에 따른 어드레스 신호 전달 동작의 타이밍 다이아그램.Figure 6 is a timing diagram of an address signal transfer operation in accordance with the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings

200 : 커맨드 디코더 230 : 어드레스 버퍼200: command decoder 230: address buffer

240 : 어드레스 펄스 제너레이터 260 : 어드레스 프리디코더240: address pulse generator 260: address predecoder

270 : 펄스 래치부 280 : 워드라인 억세스 제어부270: pulse latch unit 280: word line access control unit

290 : 어드레스 디코더290: address decoder

WAC : 워드라인 액티브 신호 WAP : 워드라인 억세스 신호WAC: Wordline Active Signal WAP: Wordline Access Signal

AAP : 어드레스 억세스 신호 Af : 어드레스 플레그 신호AAP: address access signal Af: address flag signal

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 반도체메모리장치에 있어서, 라스, 카스, 라이트인에이블, 및 칩셀렉트신호와 어드레스 전달 시작을 알리는 어드레스플레그신호에 응답하여 워드라인억세스신호와 상기 워드라인억세스신호 보다 먼저 액티브되는 어드레스억세스신호를 생성하는 커맨드 디코더; 상기 어드레스억세스신호에 응답하여 어드레스 신호를 펄스신호로 생성하고 이를 프리디코딩 한 후 래치하는 수단; 상기 워드라인억세스신호에 응답하여 상기 수단으로 부터의 출력신호를 디코더로 전달하는 워드라인억세스 제어수단; 및 상기 워드라인억세스제어수단을 통해 프리디코딩된 신호를 전달받아 디코딩하는 어드레스디코더를 구비하고, 상기 워드라인억세스신호에 응답하여 읽기 또는 쓰기 동작이 액티브되기 이전에 어드레스를 디코딩하고, 상기 어드레스억세스신호에 응답하여 읽기 또는 쓰기 동작이 액티브되면 활성화되어 어드레스 디코딩을 활성화한다.In accordance with another aspect of the present invention, a semiconductor memory device includes a word line access signal and a word line access signal in response to a lath, a cas, a write enable, and an address flag signal indicating an address transfer start. A command decoder for generating an address access signal that is first activated; Means for generating an address signal as a pulse signal in response to the address access signal, predecoding it, and then latching it; Word line access control means for transferring an output signal from the means to a decoder in response to the word line access signal; And an address decoder that receives and decodes a predecoded signal through the word line access control means, decodes an address before a read or write operation is activated in response to the word line access signal, and decodes the address access signal. In response, a read or write operation is activated to activate address decoding.

이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 가장 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings so that those skilled in the art may easily implement the technical idea of the present invention. do.

도4는 본 발명의 일실시예에 따른 어드레스 신호 전달 블록 다이아그램이다.4 is an address signaling block diagram according to an embodiment of the present invention.

도면에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 실시예는, 외부 어드레스(Ai)를 입력으로 받는 어드레스 패드(Address Pad)(210), 패드와 어드레스 버퍼를 연결하는 정전기 방지(Electro Static Discharge Protection)부(220), 인가된 어드레스(Ai)를 인터널 어드레스(gax_ABi, gax_CDi, gax_EFi)로 바꾸는 어드레스버퍼(Address Buffer)(230), 어드레스 억세스 신호(Address Access Pulse : AAP)에 응답하여 상기 인터널 어드레스를 디코더 쪽으로 전달하는 어드레스 펄스 제너레이터(Address Pulse Generator)(240), 어드레스 신호를 증폭하는 구동 버퍼(Driving Buffer)부(250), 버스라인을 거친 어드레스(baxAi, baxBi, baxCi, baxDi, baxEi, baxFi)를 프리디코딩하는 어드레스 프리디코더(Address Predecoder)(260), 프리디코딩된 신호를 래치(Latch)시키기 위한 펄스 래치(Pulse Latch)부(270), 워드라인 억세스 신호(Wordline Access Pulse : WAP)에 응답하여 래치된 어드레스(bax_ABi, bax_CDi, bax_EFi)가 디코더로 입력되는 것을 제어하는 워드라인 억세스 제어부(Wordline Access Control Logic)(280), 전달된 어드레스 신호(lax_ABi, lax_CDi, lax_EFi_wap)를 디코딩하는 어드레스 디코더(Address Decoder)(290), 워드라인을 구동하기 위한 워드라인 드라이버(Wordline Driver)(300), 및 제어신호 라스, 카스, 라이트인에이블, 칩셀렉트 와 어드레스 플레그 신호(Address Flag : Af)를 조합하여 어드레스 억세스 신호(AAP)와 워드라인 억세스 신호(WAP)를 만드는 커맨드 디코더(Command Decoder)(200)로 구성된다.As shown in the drawing, an embodiment according to the present invention includes an address pad 210 for receiving an external address Ai as an input, an electrostatic discharge protection unit for connecting the pad and the address buffer ( In response to an address buffer 230 and an address access signal AAP, the internal address is converted into an internal address gax_ABi, gax_CDi, and gax_EFi. An address pulse generator 240 to be transmitted to the decoder, a driving buffer unit 250 to amplify the address signal, and an address (baxAi, baxBi, baxCi, baxDi, baxEi, baxFi) passing through the bus line Address predecoder 260 to predecode the signal, a pulse latch unit 270 to latch the predecoded signal, and a wordline access signal (WAP). A wordline access control logic 280 for controlling the latched addresses bax_ABi, bax_CDi, and bax_EFi to be input to the decoder, and an address decoder for decoding the transmitted address signals lax_ABi, lax_CDi, and lax_EFi_wap. Address Decoder 290, Wordline Driver 300 for driving the wordline, and control signal lath, cas, write enable, chip select and address flag signals (Af) in combination The command decoder 200 generates an address access signal AAP and a word line access signal WAP.

도4를 참조하여, 본 발명에서 제안한 어드레스 신호 전달 과정을 아래에서 살펴본다.Referring to Figure 4, the address signal transfer process proposed in the present invention will be described below.

외부에서 인가된 어드레스(Ai)가 상기 기술한 종래의 방법과 동일한 경로와 방법을 통해 어드레스 패드(210), 정전기 방지회로(220)와 어드레스 버퍼(230)를 거쳐 어드레스 펄스 제너레이터(240)로 인가되고, 워드라인을 활성화하기 전에 다른 동작을 수행하고 있는 경우에 다른 동작의 수행 중에 미리 외부 어드레스와 함께 어드레스 억세스 신호(Address Access Pulse : AAP)에 의해 어드레스 펄스 제너레이터(240)가 액티브되어 어드레스가 미리 디코더 쪽으로 전달된다. 다음 단의 회로를 구동시키기 위해 구동 버퍼(250)를 통해 증폭된 어드레스(baxAi, baxBi, baxCi, baxDi, baxEi, baxFi)가 긴 버스 라인에 전달되고 버스라인에 존재하는 저항(Resistance)과 정전용량(Capacitance)에 의해서 지연이 되며, 어드레스 프리디코더(260)에서 프리디코딩 되어 펄스 래치부(270)로 전달된다.The externally applied address Ai is applied to the address pulse generator 240 via the address pad 210, the antistatic circuit 220 and the address buffer 230 through the same path and method as the conventional method described above. When another operation is performed before activating the word line, the address pulse generator 240 is activated by an address access signal (AAP) together with an external address in advance during the operation of the other operation so that the address is pre-set. It is passed to the decoder. Addresses amplified through the driving buffer 250 (baxAi, baxBi, baxCi, baxDi, baxEi, baxFi) are transferred to the long bus line to drive the circuit of the next stage, and the resistance and capacitance present in the bus line. The delay is caused by the capacitance, and is predecoded by the address predecoder 260 to be transmitted to the pulse latch unit 270.

펄스 래치부(270)는 일반적인 크로스 커플드(Cross Coupled) 래치의 형태로 드라이버에 펄스를 입력하여 원하는 값을 출력시킨 후 즉시 "하이"레벨도 "로우"레벨도 아닌 플로우팅 상태가 되고 다만 출력 단에서 원하는 데이터 값을 래치한다. 즉 레벨 신호가 입력 될 때 생기는 드라이버 풀-업(Pull Up), 풀-다운(Pull-Down) 모스의 지속적인 턴-온(Turn-On)을 방지하고 드라이버단 보다 비교적 적은 크기의 래치 회로가 동작하므로 전력 소모가 적고 별도의 프리차지 과정이 필요치 않다는 장점이 있다.The pulse latch unit 270 inputs a pulse to the driver in the form of a general cross coupled latch and outputs a desired value, and immediately becomes a floating state that is neither a "high" nor a "low" level, but is output. Latch the desired data value. That is, it prevents the continuous pull-on of driver pull-up and pull-down morse generated when the level signal is input, and the latch circuit of relatively smaller size than the driver stage operates. As a result, it consumes less power and does not require a separate precharge process.

펄스 래치부(270)에서 래치된 어드레스(bax_ABi, bax_CDi, bax_EFi)가 워드라인 억세스 제어부(280)에서 버퍼링 된 어드레스(lax_ABi, lax_CDi, lax_EFi)중 lax_EFi가 워드라인 억세스 신호(WAP)에 의해 액티브되어 디코더로 전달되며, 액티브된 어드레스가 어드레스 디코더(290)에 입력되면 디코딩되어 워드라인 드라이버(300)를 거쳐 워드라인(WL)을 활성화한다.Among the addresses (lax_ABi, lax_CDi, lax_EFi) buffered by the word line access control unit 280, the latches (bax_ABi, bax_CDi, bax_EFi) latched by the pulse latch unit 270 are activated by the word line access signal WAP. When the active address is input to the address decoder 290, the decoded signal is decoded to activate the word line WL through the word line driver 300.

워드라인 억세스 신호(WAP)는 도2의 종래 기술에서 설명한 워드라인 액티브 신호(WAC)와 동일한 방법으로 만들어진다.The word line access signal WAP is made in the same manner as the word line active signal WAC described in the prior art of FIG.

또한 어드레스 억세스 신호(AAP)는 도5a와 같이 제어신호(RAS_aap, CAS_aap, WE_aap)와, 어드레스 억세스 신호를 제어하는 어드레스 플레그 신호(Address Flag : Af)의 조합으로 만들어진다. 어드레스 플레그 신호(Af)가 로직 "로우"인 경우 어드레스 억세스 신호를 "로우"로 되어 어드레스 펄스 제너레이터를 디스에이블시키다가, 어드레스 플레그 신호(Af)가 "하이" 레벨로 되고 제어신호(RAS_aap, CAS_aap, WE_aap)가 로직 "하이"로 되면 어드레스 억세스 신호(AAP)를 "하이"로 액티브시킨다.The address access signal AAP is made of a combination of control signals RAS_aap, CAS_aap, WE_aap and an address flag signal (Address Flag Af) for controlling the address access signal as shown in FIG. 5A. When the address flag signal Af is logic "low", the address access signal is "low" to disable the address pulse generator, and the address flag signal Af becomes the "high" level and the control signals RAS_aap and CAS_aap When WE_aap becomes logic "high", the address access signal AAP is activated "high".

도5b는 본 발명에 따른 워드라인 억세스 제어부(280)의 일실시 회로도로서' 프리디코딩되어 래치된 어드레스(bax_EFi)가 버퍼를 거쳐 생성된 어드레스(lax_EFi)와 워드라인 억세스 신호(WAP)를 조합하여 디코딩될 어드레스(lax_EFi_wap)를 만들어내는 것으로서, 어드레스(bax_EFi)가 "하이" 레벨로 인가된 상태에서 워드라인 억세스 신호(WAP)가 "하이"로 되면 로직 "하이" 레벨로 액티브되는 구조이다.FIG. 5B is a circuit diagram of the word line access control unit 280 according to the present invention. The address line lax_EFi generated by the predecoded and latched address bax_EFi through the buffer is combined with the word line access signal WAP. The address lax_EFi_wap to be decoded is generated. When the word bax_EFi is applied at the "high" level, the word line access signal WAP becomes "high" and is activated at a logic "high" level.

도5c는 본 발명에 따른 어드레스 디코더(290)의 일실시 회로도로서, 종래에는 워드라인의 프리차지를 위하여 피모스트랜지스터의 게이트단으로 로우디코더프리차지신호(Row Decoder Precharge : Rdp)만을 사용했는데, 본 발명에서는 로우디코더프리차지신호와 반전된 워드라인 억세스 신호(/WAP)를 이용하여 워드라인 억세스 신호가 "하이"로 되었을 때 워드라인을 접지전압(GND) 레벨로 프리차지하고 있다가, 워드라인 억세스 신호가 인에이블되어 프리차지가 끝나고 어드레스(lax_ABi, lax_CDi, lax_EFi_wap)가 로직 "하이" 레벨로 입력되면 액티브되어 디코딩을 수행한다.FIG. 5C is an exemplary circuit diagram of an address decoder 290 according to the present invention. In the related art, only a low decoder precharge signal (Rdp) is used as a gate terminal of a PMOS transistor for precharging a word line. In the present invention, the word line is precharged to the ground voltage (GND) level when the word line access signal becomes “high” using the low decoder precharge signal and the inverted word line access signal (/ WAP). When the access signal is enabled and the precharge ends and the addresses lax_ABi, lax_CDi, and lax_EFi_wap are input at a logic "high" level, they are activated to perform decoding.

참고적으로, 상기 도5a, 도5b 및 도5c에 도시된 회로 구성은 앞서 설명한 바와 같은 신호의 논리를 만족 시킬 수 있도록 설계된 일예시도로서, 당업자라면 상기 논리하에서 이들의 이해가 충분히 가능할 것이다.For reference, the circuit configuration shown in FIGS. 5A, 5B, and 5C is an exemplary design designed to satisfy the logic of the signal as described above, and those skilled in the art will fully understand them under the logic.

도6의 본발명에 따른 어드레스 신호 전달 과정의 타이밍 다이아그램이다. 도6을 참조하여 전체 동작을 간략히 정리하면 외부에서 어드레스(Ai)가 인가된 상태에서 어드레스 억세스 신호(AAP)가 활성화 된 후 클럭이 "하이"로 액티브되면 어드레스 펄스 제너레이터에서 디코더 쪽으로 프리디코딩된 어드레스가(lax_ABi) 펄스 래치부에서 래치하고 있다가 워드라인 억세스 신호(WAP)가 "하이"로 액티브 되면 디코더로 어드레스(lax_EFi_wap)가 입력되고 디코딩되어 워드라인(WL)을 활성화 시킨다.6 is a timing diagram of an address signal transfer process according to the present invention of FIG. Referring to FIG. 6, the entire operation is briefly summarized. When the clock is "high" after the address access signal AAP is activated while the address Ai is applied from the outside, the address pre-decoded from the address pulse generator toward the decoder When the latch is latched by the pulse latch unit and the word line access signal WAP is activated "high", the address lax_EFi_wap is input to the decoder and decoded to activate the word line WL.

어드레스 전달의 경우 다른 동작에서는 동작하지 않고 있으므로, 이러한 점을 활용하여 미리 프리디코딩된 어드레스를 래치하고 있다가 실제의 워드라인 억세스 신호가 입력되면 어드레스 디코더에서 디코딩이 시작하므로 앞에서 언급한 경로만큼 억세스 속도가 보상되는 것이다.In the case of address forwarding, it does not work in other operations. Therefore, this address is used to latch a pre-decoded address, and when the actual wordline access signal is input, the decoding starts at the address decoder. Will be compensated.

본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.Although the technical spirit of the present invention has been described in detail according to the above preferred embodiment, it should be noted that the above-described embodiment is for the purpose of description and not of limitation. In addition, those skilled in the art will understand that various embodiments are possible within the scope of the technical idea of the present invention.

상기와 같은 본 발명은, 다른 동작 시작 이전에 어드레스를 미리 어드레스 디코더 입력단까지 전달하고 있다가 동작 시작 시 워드라인 억세스 신호(WAP)에 의해 액티브되어 어드레스를 바로 디코더로 전달하여 어드레스 펄스 제너레이터에서 어드레스 디코더까지의 지연시간을 단축한다. 따라서 워드라인을 빠르게 활성화시켜 반도체 메모리 장치의 고속 동작을 얻을 수 있다.As described above, the present invention transfers the address to the address decoder input terminal before the start of another operation, and is activated by the word line access signal (WAP) at the start of the operation, and immediately transfers the address to the decoder to address the decoder in the address pulse generator. Reduce the delay time to Therefore, the word line can be quickly activated to obtain a high speed operation of the semiconductor memory device.

Claims (3)

반도체메모리장치에 있어서,In a semiconductor memory device, 라스, 카스, 라이트인에이블, 및 칩셀렉트신호와 어드레스 전달 시작을 알리는 어드레스플레그신호에 응답하여 워드라인억세스신호와 상기 워드라인억세스신호 보다 먼저 액티브되는 어드레스억세스신호를 생성하는 커맨드 디코더;A command decoder for generating a word line access signal and an address access signal that is activated before the word line access signal in response to a lath, a cas, a write enable, and an address flag signal indicating an address transfer start; 상기 어드레스억세스신호에 응답하여 어드레스 신호를 펄스신호로 생성하고 이를 프리디코딩 한 후 래치하는 수단;Means for generating an address signal as a pulse signal in response to the address access signal, predecoding it, and then latching it; 상기 워드라인억세스신호에 응답하여 상기 수단으로 부터의 출력신호를 디코더로 전달하는 워드라인억세스 제어수단; 및Word line access control means for transferring an output signal from the means to a decoder in response to the word line access signal; And 상기 워드라인억세스제어수단을 통해 프리디코딩된 신호를 전달받아 디코딩하는 어드레스디코더를 구비하고,An address decoder which receives and decodes the predecoded signal through the word line access control means, 상기 워드라인억세스신호에 응답하여 읽기 또는 쓰기 동작이 액티브되기 이전에 어드레스를 디코딩하고, 상기 어드레스억세스신호에 응답하여 읽기 또는 쓰기 동작이 액티브되면 활성화되어 어드레스 디코딩을 활성화하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리장치.And decoding an address before a read or write operation is activated in response to the word line access signal, and activated when a read or write operation is activated in response to the address access signal to activate address decoding. . 제1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 수단은,The means, 상기 어드레스억세스신호에 응답하여 입력 어드레스를 펄스 신호로 생성하는 어드레스펄스제너레이터;An address pulse generator for generating an input address as a pulse signal in response to the address access signal; 상기 어드레스펄스제너레이터로부터 출력된 어드레스 신호를 프리디코드하는 어드레스 프리디코더;An address predecoder to predecode the address signal output from the address pulse generator; 상기 프리디코딩된 어드레스 신호를 래치하는 래치부를 포함하여 이루어짐을 특징으로 하는 반도체메모리장치.And a latch unit for latching the predecoded address signal. 제2항에 있어서,The method of claim 2, 상기 디코더는 상기 워드라인억세스신호에 응답하여 비선택 워드라인을 프리차지하는 것을 특징으로 하는 반도체메모리장치.And the decoder precharges an unselected word line in response to the word line access signal.
KR1019990025787A 1999-06-30 1999-06-30 Memory device and method for improving word line access time Expired - Fee Related KR100318439B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990025787A KR100318439B1 (en) 1999-06-30 1999-06-30 Memory device and method for improving word line access time

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990025787A KR100318439B1 (en) 1999-06-30 1999-06-30 Memory device and method for improving word line access time

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010005007A true KR20010005007A (en) 2001-01-15
KR100318439B1 KR100318439B1 (en) 2001-12-24

Family

ID=19597726

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990025787A Expired - Fee Related KR100318439B1 (en) 1999-06-30 1999-06-30 Memory device and method for improving word line access time

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100318439B1 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100827657B1 (en) * 2006-09-05 2008-05-07 삼성전자주식회사 Semiconductor memory device.

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08293198A (en) * 1995-04-21 1996-11-05 Nec Ic Microcomput Syst Ltd Semiconductor memory
KR0172396B1 (en) * 1995-10-31 1999-03-30 김광호 Word line driving method of semiconductor memory device
KR100253292B1 (en) * 1997-05-12 2000-05-01 김영환 Word Line Driver Circuit in Semiconductor Memory Device
KR100274343B1 (en) * 1997-08-30 2001-01-15 김영환 Decode circuit for flash memory

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100827657B1 (en) * 2006-09-05 2008-05-07 삼성전자주식회사 Semiconductor memory device.
US7577047B2 (en) 2006-09-05 2009-08-18 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory device

Also Published As

Publication number Publication date
KR100318439B1 (en) 2001-12-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3322411B2 (en) Semiconductor memory with column balancing in data changes during write cycle
JP3322412B2 (en) Semiconductor memory
KR100507379B1 (en) Word line driving circuit
KR100261962B1 (en) Data output buffer
JP3894273B2 (en) Synchronous memory device
US6064622A (en) Column select line control circuit for synchronous semiconductor memory device and associated methods
GB2287112A (en) Auto-precharging semiconductor memory devices
US6130846A (en) Semiconductor memory device
KR100230415B1 (en) Column Selection Line Control Circuit and Control Method of Synchronous Semiconductor Memory Device
JP3953691B2 (en) Integrated circuit and synchronous semiconductor memory device
JPH09231767A (en) Static semiconductor memory device
JPH09219088A (en) Data high speed access device for memory
US6356473B1 (en) Static random access memory (SRAM)
KR0172345B1 (en) Data output control circuit of hyper page mode
US5751649A (en) High speed memory output circuitry and methods for implementing same
JP4164846B2 (en) Semiconductor memory device using a common address bus line between a plurality of address buffers and a column predecoder
KR100304709B1 (en) Semiconductor Memory Device Whose Data Input/Output Mode can be Controled outside
KR0184480B1 (en) Data output buffer control circuit
KR100318439B1 (en) Memory device and method for improving word line access time
US6219298B1 (en) High-speed address decoders and related address decoding methods
JP2003030991A (en) Memory
KR20030001964A (en) Data output buffer
US6580656B2 (en) Semiconductor memory device having memory cell block activation control circuit and method for controlling activation of memory cell blocks thereof
KR100390835B1 (en) Device for decoding row address of semiconductor memory device
KR100307638B1 (en) Column decoder for semiconductor memory device

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
PA0109 Patent application

St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109

PA0201 Request for examination

St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201

R17-X000 Change to representative recorded

St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000

D13-X000 Search requested

St.27 status event code: A-1-2-D10-D13-srh-X000

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301

PG1501 Laying open of application

St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501

D14-X000 Search report completed

St.27 status event code: A-1-2-D10-D14-srh-X000

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-3-3-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-3-3-R10-R11-asn-PN2301

E902 Notification of reason for refusal
PE0902 Notice of grounds for rejection

St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902

T11-X000 Administrative time limit extension requested

St.27 status event code: U-3-3-T10-T11-oth-X000

P11-X000 Amendment of application requested

St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000

P13-X000 Application amended

St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000

E701 Decision to grant or registration of patent right
PE0701 Decision of registration

St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701

GRNT Written decision to grant
PR0701 Registration of establishment

St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701

PR1002 Payment of registration fee

St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002

Fee payment year number: 1

PG1601 Publication of registration

St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 4

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 5

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 6

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 7

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 8

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 9

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20101125

Year of fee payment: 10

PR1001 Payment of annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U11-oth-PR1001

Fee payment year number: 10

LAPS Lapse due to unpaid annual fee
PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903

Not in force date: 20111211

Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301

PC1903 Unpaid annual fee

St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903

Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE

Not in force date: 20111211

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301

PN2301 Change of applicant

St.27 status event code: A-5-5-R10-R13-asn-PN2301

St.27 status event code: A-5-5-R10-R11-asn-PN2301

P22-X000 Classification modified

St.27 status event code: A-4-4-P10-P22-nap-X000