KR20000033534A - Diamond electrodeposition wire for cutting brittle material and manufacturing method thereof - Google Patents
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Abstract
본 발명은 실리콘 잉곳등과 같은 경질 취성재료의 절단용 공구로 사용되는 다이아몬드 전착 와이어에 관한 것이다.The present invention relates to a diamond electrodeposition wire used as a cutting tool for hard brittle materials such as silicon ingots and the like.
본 발명의 다이아몬드 전착 와이어는, 한가닥의 심선 주위에 일정한 피치로 나선상으로 감겨지는 적어도 한가닥의 스틸 소선으로 이루어진 랩핑소선과, 심선의 주위에 랩핑소선이 감겨져 이루어진 랩핑심선의 표면에 형성되는 다이아몬드 입자를 포함하는 2차 도금층으로 구성되며, 이때 상기 2차 도금층의 외면에는 나선상 요홈부로 이루어진 칩포켓이 형성된 구조로 이루어지며, 이러한 본 발명의 와이어는 한가닥의 심선 주위에 일정한 피치로 적어도 한가닥의 랩핑소선을 감아서 랩핑심선을 얻은 다음 랩핑심선의 표면을 금속도금액으로 도금하는 과정에서 금속의 석출과 함께 다이아몬드 입자의 전착이 이루어지도록 하는 일련의 공정을 통해서 제조된다.The diamond electrodeposition wire of the present invention is a diamond particle formed on the surface of the wrapping core wire formed of at least one strand of steel wire wound spirally around a core wire at a constant pitch, and the wrapping core wire wound around the core wire. Comprising a secondary plating layer comprising a, wherein the outer surface of the secondary plating layer is made of a structure in which a chip pocket consisting of a spiral groove portion is formed, the wire of the present invention is at least one strand of wrapping wire at a constant pitch around the core wire It is manufactured by a series of processes to obtain the lapping core wire by winding and then electrodeposition of diamond particles together with the precipitation of metal in the process of plating the surface of the wrapping core wire with a metal plating solution.
본 발명의 랩핑 다이아몬드 전착 와이어는 표면부에 나선상으로 요입된 칩포켓이 형성되어 있음에 따라 취성재료 절단시 절단 슬러리의 원활한 배출이 이루어져서 절단능율이 크게 향상되며 또한 큰 직경의 실리콘 잉곳등에 대해서도 와이어의 단선이 발생함이 없이 절단이 가능하다는 이점이 있으며, 절단면에 절단흔적을 최소화함으로써 연마공정에 소요되는 시간을 줄일 수 있는 효과가 있다.As the wrapping diamond electrodeposition wire of the present invention is formed with chip pockets spirally inserted into the surface portion, the cutting slurry is smoothly discharged when cutting brittle material, thereby greatly improving the cutting performance. There is an advantage that cutting is possible without disconnection, there is an effect that can reduce the time required for the polishing process by minimizing the cutting trace on the cutting surface.
Description
본 발명은 경질 취성재료의 절단에 사용되는 다이아몬드 전착 와이어에 관한 것으로, 보다 자세하게는 한가닥의 심선 주위에 적어도 한가닥의 랩핑심선을 나선상으로 감아서 형성되는 랩핑심선의 표면에 니켈등의 도금층 형성시 다이아몬드 입자의 전착이 함께 이루어지도록 함으로써 와이어의 외주면상에 형성된 나선요입부 형태의 칩포켓에 의해 취성재료의 절단시 피삭재의 절단면 오염이나 절단 슬러리의 막힘이 방지되고 우수한 절단능이 발휘되도록 한 취성재료 절단용 다이아몬드 전착 와이어 및 그 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a diamond electrodeposition wire used for cutting a hard brittle material, and more particularly, diamonds in the form of a plating layer such as nickel on the surface of a wrapping core wire formed by winding at least one strand of the wrapping core wire in a spiral around the core wire of one strand. By the electrodeposition of the particles together, the chip pocket in the shape of the spiral indentation formed on the outer circumferential surface of the wire prevents contamination of the cutting surface of the workpiece or blockage of the cutting slurry during cutting of the brittle material and exerts excellent cutting ability. A diamond electrodeposition wire and a manufacturing method thereof.
일반적으로, 반도체 재료로 사용되는 실리콘이나 갈륨-비소 잉곳이나 유리와 같은 경질 취성재료(硬質 脆性材料)의 절단에 사용되는 종래의 공구로는 다이아몬드 입자가 고착된 원판상 블레이드 톱, 유리분말등의 절단용 슬러리를 절단부에 공급하면서 다수개의 와이어를 절단면에 통과시키는 멀티와이어 톱 및 피아노선등의 와이어 표면에 다이아몬드 입자를 전착(電着)시킨 다이아몬드 전착 와이어등이 알려져 있다.In general, conventional tools used for cutting hard brittle materials such as silicon, gallium-arsenide ingots, and glass, which are used as semiconductor materials, include disk-shaped blade saws, glass powders, etc. BACKGROUND ART Diamond electrodeposited wires, in which diamond particles are electrodeposited on wire surfaces such as multi-wire saws and piano wires, which allow a plurality of wires to pass through a cutting surface while supplying a cutting slurry to a cutting part, are known.
상기 종래의 취성재료 절단용 공구중에서 블레이드 톱은 절단능은 우수하나 다이아몬드 입자의 마모나 절단중 슬러리의 막힘이 심하게 일어나서 가공능율이 떨어지고 또한 절단면에 크랙의 흔적이 크다는 문제점이 있다. 이에 더하여 최근에는 실리콘 잉곳이 대형화 추세를 취하고 있음에 따라 블레이드 톱도 대형화(대직경화)되고 있으며 절단 로스의 감소를 위해 블레이드의 두께도 박판화되고 있는 바, 현재 실리콘 잉곳의 직경이 종래의 6인치에서 8인치로 변화되어 사용되고 있고 앞으로 12인치 이상이 예상되고 있는 실정이어서 이에 부합하는 블레이드의 박판화에는 한계가 따르고 있다.Among the conventional brittle material cutting tools, the blade saw has excellent cutting ability, but wear of the diamond particles or clogging of the slurry during the cutting occurs badly, resulting in a poor workability and a large trace of cracks on the cutting surface. In addition, as the silicon ingot has recently been enlarged, the blade saw has also been enlarged (larger diameter) and the thickness of the blade has been thinned to reduce cutting loss. Since it is being used with 8 inches and is expected to be 12 inches or more in the future, there is a limit to thinning of the blade corresponding thereto.
그리고, 절삭용 슬러리를 사용하는 멀티와이어 톱의 경우에는 슬러리 혼탁액에 경유를 혼합하여 사용하기 때문에 피삭재가 오염되기 쉬우며 절단과정에서 발생된 폐슬러리 혼탁액의 처리가 까다로워 환경오염을 일으키는 문제점과 함께 절단속도가 늦고 절단면이 거칠어지는 단점도 아울러 지적되고 있다.In addition, in the case of a multi-wire saw using a cutting slurry, it is easy to contaminate the workpiece due to the mixing of light oil with the slurry turbid liquid, and the waste slurry turbid liquid generated during the cutting process is difficult to cause environmental pollution. In addition, the disadvantage that the cutting speed is slow and the cutting surface is also pointed out.
한편, 다이아몬드 전착 와이어는 상기 여타의 취성재료 절단공구에 비해 피삭재의 절단면에 가공크랙을 덜 생성시키며 정밀도가 상대적으로 높다는 특성을 지님에 기인하여 특히 실리콘 잉곳등의 반도체 재료 절단용 공구로서 널리 사용되고 있는 바, 이러한 종래 다이아몬드 전착 와이어의 대표적인 몇가지를 살펴보면 다음과 같다.On the other hand, diamond electrodeposition wire is widely used as a tool for cutting semiconductor materials, such as silicon ingots, due to the fact that it produces less processing cracks on the cutting surface of the workpiece than the other brittle material cutting tools and has a relatively high precision. Bar, looking at some of the typical diamond electrodeposition wire as follows.
먼저, 일본국 특허공보 소62-260006호에는 피아노 선재의 표면을 열처리하여 연한 페라이트 조직으로 변환시킨 상태에서 그 표면에 다이아몬드 입자를 물리적으로 박아넣은 다이아몬드 전착 와이어가 개시되어 있는 바, 이는 와이어 표면에 흠(크랙이나 스크래치)이 많아 절단작업중에 단선이 발생하기 쉬워서 실제 사용상에 문제가 많은 것으로 알려지고 있다.First, Japanese Patent Laid-Open No. 62-260006 discloses a diamond electrodeposition wire in which diamond particles are physically embedded in the surface of a piano wire rod by heat-treating the surface of the piano wire into a soft ferrite structure. It is known that many defects (cracks and scratches) are likely to cause disconnection during cutting, which causes many problems in practical use.
다음, 피아노 선재의 표면에 도금층을 형성할 때 다이아몬드 입자가 동시에 전착되도록 한 형태의 다이아몬드 전착 와이어로서, 이같은 와이어는 두 개의 롤러 사이에서 엔드레스 와이어(endless wire) 형태로 설치되어 구동롤러의 회전에 의해서 와이어의 연속적인 이송이 이루어지도록 하는 가운데 피절단재를 와이어 이송로상에 접근시켜 피삭재의 절단이 이루어지도록 하고 있다. 상기 형태의 다이아몬드 전착 와이어는 비교적 손쉽게 제작이 가능하고 직경이 큰 피삭재의 절단도 가능하다는 장점을 지니고 있긴 하나, 절단중에 슬러리 막힘 현상이 발생되어 8인치 이상의 잉곳을 절단하는 때에는 절단 도중에 와이어의 파단이 일어나거나 도금층의 박리 및 다이아몬드 입자의 탈락이 발생되어 절단흔적이 크고 거칠은 절단면이 형성되어 절단후 실리콘 웨이퍼의 연마에 많음 시간이 소요되는 등의 문제점이 있다.Next, a diamond electrodeposition wire in which diamond particles are electrodeposited at the same time when the plating layer is formed on the surface of the piano wire, such a wire is provided in the form of an endless wire between two rollers, and is rotated by the driving roller. The cutting material is cut on the wire transfer path while the wire is continuously transferred. The diamond electrodeposited wire of this type has the advantage of being relatively easy to manufacture and cutting of large diameter workpieces, but the slurry breakage occurs during cutting, and when the ingot of 8 inches or more is cut, the wire breaks during cutting. It occurs, or the peeling of the plating layer and the falling off of the diamond particles are generated, there is a problem that the cutting traces are large and rough cut surface is formed to take a lot of time to polish the silicon wafer after cutting.
또한, 상기 다이아몬드 전착 와이어와는 또 다른 구조로서 일본국 공개특허공보 평7-96455호에는 피아노선에 니켈도금층을 형성한 후 그 위에 불소수지등의 수지층을 코팅한 다음 수지층을 일정폭의 나선상으로 제거하여 노출된 도금층위에 선택적으로 2차 도금층의 형성과 함께 다이아몬드 입자를 전착시킨 나선형 다이아몬드 전착 와이어가 개시되어 있다. 그러나, 상기 형태의 다이아몬드 전착 와이어는 그 제작공정중 수지코팅층을 형성하고 그 수지코팅층을 나선상으로 연삭제거하는 작업을 포함하고 있음에 따라 공정수가 많고 연속공정에서 생산성을 향상시키기가 곤란하여 제조비용이 많이 드는 문제점이 있다.In addition, as a structure different from the diamond electrodeposition wire, Japanese Laid-Open Patent Publication No. 7-96455 has a nickel plated layer formed on a piano wire, and then coated a resin layer such as fluorine resin on the piano wire. A helical diamond electrodeposition wire is disclosed in which spirally removed and electrodeposited diamond particles with the formation of a secondary plating layer selectively on an exposed plating layer. However, the diamond electrodeposition wire of the above-described form includes a process of forming a resin coating layer during the fabrication process and sequential removal of the resin coating layer in a spiral manner. There are a lot of problems.
따라서, 본 발명은 종래 경질 취성재료의 절단에 사용되는 다이아몬드 전착 와이어에서 지적되고 있는 상기의 제반 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 한가닥의 심선 주위에 적어도 한가닥의 랩핑심선을 나선상으로 감아서 형성되는 랩핑심선의 표면에 니켈등의 도금층 형성함에 있어 다이아몬드 미립자의 전착이 함께 이루어지도록 하여 와이어의 외주면상에 칩포켓이 형성되도록 함으로써 취성재료의 절단시 피삭재의 절단면 오염이나 절단 슬러리의 막힘이 방지되고 우수한 절단능이 발휘되도록 한 취성재료 절단용 다이아몬드 전착 와이어 및 그 제조방법을 제공하는 데 발명의 목적을 두고 있다.Accordingly, the present invention is to solve the above-mentioned problems pointed out in the diamond electrodeposition wire conventionally used for cutting the hard brittle material, the wrapping core is formed by winding at least one strand of the wrapping core in a spiral around the core of the strand In forming a plating layer of nickel or the like on the surface of the electrode, diamond particles are electrodeposited together to form chip pockets on the outer circumferential surface of the wire, thereby preventing contamination of the cutting surface of the workpiece or clogging of the cutting slurry when cutting brittle materials, and excellent cutting ability. An object of the present invention is to provide a diamond electrodeposition wire for cutting brittle material and a method for producing the same.
도1은 본 발명의 일실시예 다이아몬드 전착 와이어의 일부절결 정면도.1 is a partially cutaway front view of an embodiment diamond electrodeposition wire of the present invention.
도2의 A - E는 도1의 A-A선 내지 E-E선 단면도.2 is a sectional view taken along the line A-A to E-E of FIG.
도3은 본 발명의 일실시예 다이아몬드 전착 와이어의 외관을 보인 사시도.Figure 3 is a perspective view showing the appearance of one embodiment diamond electrodeposition wire of the present invention.
도4는 본 발명의 다른 실시예 다이아몬드 전착 와이어의 일부절결 정면도.Figure 4 is a partially cut away front view of another embodiment diamond electrodeposition wire of the present invention.
도5는 본 발명의 일실시예 래핑심선 제조과정을 보인 연선장치의 개략구조도.Figure 5 is a schematic structural diagram of a twisted pair apparatus showing an embodiment of the wrapping core wire manufacturing process of the present invention.
도6은 본 발명 다이아몬드 전착 와이어의 피치변화에 따른 절단능률을 종래 단선 다이아몬드 전착 와이어와 비교하여 보인 그래프.Figure 6 is a graph showing the cutting efficiency according to the pitch change of the diamond electrodeposition wire of the present invention compared with the conventional single-wire diamond electrodeposition wire.
도7은 본 발명 다이아몬드 전착 와이어의 피치와 절단횟수에 따른 절단능률 거동을 보인 그래프.7 is a graph showing the cutting efficiency behavior according to the pitch and the cutting frequency of the diamond electrodeposition wire of the present invention.
(( 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ))((Description of the code for the main part of the drawing))
1. 심선 2. 랩핑소선1. Core wire 2. Wrapping wire
3. 랩핑심선 4. 다이아몬드 입자3. Wrapping core 4. Diamond grain
5. 2차 도금층 6. 칩포켓5. Secondary plating layer 6. Chip pocket
본 발명의 상기 목적은, 한가닥의 피아노 선재로 이루어진 직선상의 심선과, 심선의 주위에 일정한 피치로 나선상으로 감겨지는 적어도 한가닥의 피아노선 또는 스틸 소선으로 이루어진 랩핑 소선과, 심선의 주위에 랩핑 소선이 감겨져 이루어진 랩핑심선의 표면에 형성되는 다이아몬드 입자를 포함하는 2차 도금층으로 구성된 다이아몬드 전착 와이어 구조에 의해서 달성된다.The object of the present invention is a straight core wire made of a single strand of piano wire, a wrapping element wire made of at least one strand of piano wire or steel wire wound in a spiral at a constant pitch around the core wire, and a wrapping element wire around the core wire It is achieved by a diamond electrodeposition wire structure composed of a secondary plating layer containing diamond particles formed on the surface of the wrapped core wire wound.
이때, 상기 심선은 주로 고강도의 피아노 와이어가 사용되며 그 직경은 0.05 - 2.0mm 범위가 바람직하고, 랩핑소선은 0.03 - 0.15mm의 직경을 갖는 피아노선이나 스틸 소선이 바람직하다.At this time, the core wire is mainly used high strength piano wire, the diameter is preferably in the range of 0.05-2.0mm, the wrapping wire is preferably a piano wire or steel wire having a diameter of 0.03-0.15mm.
그리고, 랩핑심선을 구성하는 랩핑소선은 한 가닥 또는 2 - 5가닥의 소선이 심선의 주위에 30° - 60°의 연입각도를 유지하면서 심선의 주위에 스파이럴상으로 권회되어 진다. 상기 랩핑소선이 스틸 소선인 경우에는 랩핑 전에 동이나 주석 또는 니켈도금으로 1차 하지도금이 행해지는 데, 이때 형성되는 도금층의 두께는 5μm 이하로 유지하는 것이 바람직하다.In the wrapping element wire constituting the wrapping core wire, one strand or two to five strands of wires are wound spirally around the core wire while maintaining a penetration angle of 30 ° to 60 ° around the core wire. When the wrapping element wire is a steel element wire, primary base plating is performed by copper, tin, or nickel plating before lapping, and the thickness of the plating layer formed at this time is preferably maintained at 5 μm or less.
그러나 랩핑소선이 스틸 소선이 아닌 경우에는 굳이 1차 하지도금을 행할 필요는 없으며, 경우에 따라서는 랩핑심선을 이루는 랩핑소선이 스틸소선인 경우라도 1차 하지도금은 랩핑후 2차 본도금을 수행하기 전에 행하여질 수도 있다.However, if the wrapping wire is not a steel wire, it is not necessary to carry out the first base plating.In some cases, even if the wrapping wire that forms the wrapping core wire is a steel wire, the first undercoating is carried out after lapping. It may be done before.
랩핑소선으로 사용되는 스틸 소선의 1차 도금방법으로서는 무전해 도금 혹은 전해도금등을 비롯한 여러 도금방법이 사용될 수 있으며, 특별히 도금방법에 대한 제한은 존재하지 않는다. 한편, 랩핑전에 1차 도금을 행하는 경우에는 발청이 없고 1차 도금한 다음 스풀에 권취하여 이후 공정으로서의 랩핑과 함께 2차 도금을 연속적으로 행할 수 있다.As the primary plating method of the steel element used as the wrapping element wire, various plating methods such as electroless plating or electroplating may be used, and there is no particular limitation on the plating method. On the other hand, when the primary plating is performed before lapping, there is no rust and the primary plating can be carried out, followed by winding on a spool, and the secondary plating can be performed continuously with lapping as a subsequent step.
그러나, 랩핑 후에 1차 도금과 2차 도금을 행하는 방식에서는 전 공정이 연속적으로 행해지게 된다. 따라서, 보다 우수한 도금의 밀착성이 요구되는 때에는 1차 도금하여 랩핑한 다음 2차 도금하는 것이 보다 효과적이다.However, in the method of performing the primary plating and the secondary plating after lapping, the whole process is performed continuously. Therefore, when better adhesion of plating is required, it is more effective to carry out primary plating, lapping, and then secondary plating.
상기 본 발명의 목적과 기술적 구성 및 그에 따른 작용효과를 비롯한 와이어 제조과정은 본 발명의 바람직한 실시예를 도시하고 있는 도면을 참조한 아래의 상세한 설명에 의해서 명확하게 이해될 것이다.The wire manufacturing process, including the object and technical configuration of the present invention and the effects thereof according to the present invention will be clearly understood by the following detailed description with reference to the drawings showing a preferred embodiment of the present invention.
먼저, 도1은 본 발명의 일실시예 다이아몬드 전착 와이어의 일부절결 정면도이고, 도2의 A - E는 도1의 A-A선 내지 E-E선 단면도이며, 도3은 본 발명의 일실시예 다이아몬드 전착 와이어의 외관을 보인 사시도이다.First, Figure 1 is a partially cutaway front view of an embodiment diamond electrodeposition wire of the present invention, A-E of Figure 2 is a cross-sectional view taken along line AA to EE of Figure 1, Figure 3 is an embodiment diamond electrodeposition wire of the present invention It is a perspective view showing the appearance of the.
도시된 바와같이, 본 발명의 다이아몬드 전착 와이어는, 한가닥의 피아노 선재로 이루어진 직선상의 심선(1)과, 심선(1)의 주위에 일정한 피치로 나선상으로 감겨지는 한가닥의 피아노선 또는 스틸 소선으로 이루어진 랩핑소선(2)과, 심선(1)의 주위에 랩핑소선(2)이 감겨져 이루어진 랩핑심선(3)의 표면에 형성되는 다이아몬드 입자(4)를 포함하는 2차 도금층(5)으로 구성되어 있다.As shown in the drawing, the diamond electrodeposition wire of the present invention comprises a straight core wire 1 made of a single strand of piano wire and a strand of piano wire or steel wire wound spirally at a constant pitch around the core wire 1. It consists of the lapping element wire 2 and the secondary plating layer 5 containing the diamond grains 4 formed in the surface of the lapping core wire 3 by which the lapping element wire 2 was wound around the core wire 1. .
이때, 상기 랩핑심선(3)을 구성하는 심선(1)의 직경(dc)은 0.05 -2.0mm이고, 랩핑소선(2)의 직경(dw)은 0.03-0.15mm 범위를 유지하는 바, 이와같은 랩핑심선(3)의 피치(Pwrap)는 아래의 식을 만족하도록 형성하는 것이 바람직하다.At this time, the diameter (dc) of the core wire 1 constituting the wrapping core wire (3) is 0.05 -2.0mm, the diameter (dw) of the wrapping wire 2 is maintained in the range 0.03-0.15mm, such a The pitch P wrap of the wrapping core wire 3 is preferably formed to satisfy the following equation.
Pwrap= dc × (1.5 ∼ 12.0)P wrap = dc × (1.5 to 12.0)
상기 랩핑심선(3)은 심선(1)의 주위로 나선상으로 감겨진 랩핑소선(2)에 의해서 그 외주면이 나선상 요홈부와 나선상 돌출부가 연속된 형상을 이룸에 따라 이러한 외주면에 형성되는 2차 도금층(5)의 외주면 형상 역시도 나선상 요홈부와 나선상 돌출부가 교호로 형성된 요철곡면을 이루게 되며, 그와같은 상기 2차 도금층(5)의 나선상 요홈부는 칩포켓(6)을 형성하게 된다.The lapping core 3 is a secondary plating layer formed on such an outer circumferential surface as the outer circumferential surface is formed by the wrapping element wires 2 spirally wound around the core wire 1 so that its outer circumferential surface is a spiral recess and a spiral protrusion. The outer circumferential shape of (5) also forms a concave-convex curved surface formed by alternating spiral convex portions and spiral convex portions, and such a spiral concave portion of the secondary plating layer 5 forms a chip pocket 6.
상기 2차 도금층(5)은 니켈이나 동등으로 구성되며 그 두께는 20 - 60μm 정도이고, 2차 도금층(5) 형성과정에서 도금층과 함께 전착되는 다이아몬드의 입자크기는 대략 20 - 60μm 이다. 따라서, 다이아몬드 입자(4)는 대개 일부가 2차 도금층(5) 내부에 매입되고 나머지는 2차 도금층(5)의 외부로 돌출된 형태를 취하게 된다.The secondary plating layer 5 is nickel or equivalent and its thickness is about 20-60 μm, and the particle size of the diamond electrodeposited together with the plating layer in the process of forming the secondary plating layer 5 is about 20-60 μm. Accordingly, the diamond particles 4 usually have a portion embedded in the secondary plating layer 5 and the remaining portions protrude out of the secondary plating layer 5.
이와같은 2차 도금층(5)은, 20 - 60μm 크기의 다이아몬드 입자(4)를 전기도금조에 첨가한 상태에서 랩핑심선(3)에 음극을 연결하고 도금액에 양극을 연결하여 도금시간과 전류밀도를 적절하게 조절함으로써 얻어지게 된다. 이때, 다이아몬드 입자(3)의 전착은 2차 도금조의 제1번 혹은 제2번조에서 이루어지게 되는 데, 일예로 1번조에서 다이아몬드 입자를 도금액과 함께 전착시킨 후 2번조에서는 금속도금액으로부터 금속의 석출이 이루어지도록 함으로써 도금층의 두께를 30μm 이상으로 유지시키면서 다이아몬드 입자를 더욱 견고하게 고착시킬 수 있다.The secondary plating layer 5 is connected to the negative electrode to the wrapping core wire 3 and the positive electrode to the plating solution in the state in which the diamond particles 4 having the size of 20 to 60 μm are added to the electroplating bath, and thus the plating time and the current density are reduced. It is obtained by adjusting appropriately. At this time, the electrodeposition of the diamond particles (3) is made in the first or second tank of the secondary plating bath, for example, after the electrodeposited diamond particles together with the plating solution in the first bath, in the second bath, the metal is deposited from the metal plating solution. By allowing precipitation, diamond particles can be more firmly fixed while maintaining the thickness of the plating layer at 30 μm or more.
다음, 도4는 본 발명의 다른 실시예 다이아몬드 전착 와이어 구조를 보인 일부 절결 정면도로서, 도시된 바의 본 실시예 다이아몬드 전착 와이어는 앞서 살펴본 바의 도1 내지 3도의 실시예 구조에 비해 심선(1)의 주위에 감겨지는 랩핑소선(2a)(2b)이 두가닥인 구성을 제외하고는 그 외의 모든 구조가 동일하다.Next, FIG. 4 is a partially cutaway front view showing another embodiment diamond electrodeposition wire structure of the present invention, in which the diamond electrode wire of this embodiment as shown is a core wire (1) compared to the embodiment structure of FIGS. All other structures are the same except for the configuration in which the wrapping element wires 2a and 2b wound around) are two strands.
이와같은 본 발명 취성재료 절단용 다이아몬드 전착 와이어의 제조과정은 다음과 같다.The manufacturing process of the diamond electrodeposition wire for cutting the brittle material of the present invention is as follows.
본 발명의 다이아몬드 전착 와이어 제조과정은 크게 심선(1)의 주위에 랩핑소선(2)을 권회하여 랩핑심선(3)을 제작하는 단계와, 랩핑심선(3)의 전 표면에 대하여 2차 도금과 함께 다이아몬드 입자의 전착이 이루어 지도록 하는 단계의 2단계 공정으로 이루어진다.The diamond electrodeposition wire manufacturing process of the present invention comprises the steps of winding the wrapping wire 2 around the core wire 1 to produce the wrapping core wire 3, and the secondary plating on the entire surface of the wrapping core wire 3; It consists of a two-step process of the electrodeposition of the diamond particles together.
먼저, 1단계의 랩핑심선(3) 제작단계는, 심선용 소재 와이어와 랩핑소선용 소재 와이어를 전해탈지, 수세, 산세, 1차도금, 수세, 건조로 이어지는 일련의 공정을 행하여 심선(1)과 랩핑소선(2)을 마련한 다음 도5에 도시된 바와같이 심선(1)은 공급보빈(7)에 권취하고 랩핑소선(2)은 스풀(8)에 권취한 상태에서 공급보빈(7)으로부터 인출되어 다수개의 안내롤러(9a -9d) 및 캡스턴(10)을 거쳐 권취보빈(11)에 권취되는 심선(1)의 이동경로상에 상기 랩핑소선(2)이 감겨진 스풀(8)을 설치하여 그 스풀(8)을 이동중에 있는 심선(1)의 주위로 회전시키면서 심선(1)측으로 랩핑소선(2)을 공급함에 의해서 심선(1)의 주위에 일정한 랩핑 피치(Pwrap)를 갖는 랩핑심선(3)이 얻어지게 된다.First, the manufacturing step of the wrapping core wire (3) of the first step is a core wire (1) by performing a series of processes leading to electrolytic degreasing, washing, pickling, primary plating, washing, drying, the core wire and the wire for wrapping wire And a wrapping element wire 2, and then the core wire 1 is wound around the supply bobbin 7 and the wrapping element wire 2 is wound around the spool 8, as shown in FIG. The spool 8 on which the wrapping wire 2 is wound is installed on the moving path of the core wire 1 drawn out and wound around the winding bobbin 11 via a plurality of guide rollers 9a-9d and the capstan 10. Lapping having a constant wrapping pitch (P wrap ) around the core wire 1 by feeding the wrapping wire 2 toward the core wire 1 while rotating the spool 8 around the core wire 1 in motion. The core wire 3 is obtained.
이때, 상기 소선(1) 및 랩핑심선(2)에 대한 1차 도금은 랩핑심선(3)으로 성형이 완료된 이후에 수행될 수도 있다.At this time, the primary plating on the element wire 1 and the wrapping core wire 2 may be performed after the molding is completed to the wrapping core wire 3.
그리고, 랩핑 피치(Pwrap)의 조절은 심선(1)의 이동속도 및 스풀(8)의 회전속도를 조절함에 의해 조정이 가능하게 되며, 심선(1)의 주위에 감겨지는 랩핑소선(2)의 가닥수를 2개 이상으로 하고자 하는 때에는 그에 상응하는 갯수의 스풀(8)을 심선(1)의 이동로상에 설치하면 된다.And, the adjustment of the wrapping pitch (P wrap ) can be adjusted by adjusting the moving speed of the core wire 1 and the rotational speed of the spool 8, the wrapping element wire (2) wound around the core wire (1) If more than two strands are to be provided, a corresponding number of spools 8 may be installed on the moving path of the core wire 1.
이와같은 과정을 거쳐 랩핑심선(3)이 얻어지게 되면 2단계 공정으로서 랩핑심선(3)의 주위에 2차도금을 행하게 되는 데, 그 구체적인 공정은 다음과 같다.When the lapping core 3 is obtained through such a process, secondary plating is performed around the lapping core 3 as a two-step process. The specific process is as follows.
먼저, 공급대로부터 공급되는 랩핑심선(3)에 대하여 탈지, 수세 및 산세를 순차적으로 행한 후 다이아몬드 입자가 포함된 도금조에서 2차도금을 행하여 랩핑심선(3)의 주위에 2차 도금층의 형성과 함께 다이아몬드 입자(4)의 전착이 이루어지도록 한 다음 수세 및 건조 과정을 수행함에 의해서 본 발명의 취성재료 절단용 다이아몬드 전착 와이어의 제작이 완료된다.First, degreasing, rinsing, and pickling are sequentially performed on the lapping core wires 3 supplied from the supply table, followed by secondary plating in a plating bath containing diamond particles to form a secondary plating layer around the lapping core wires 3. In addition, the electrodeposition of the diamond particles 4 is carried out together, followed by washing and drying to prepare the diamond electrodeposition wire for cutting brittle material of the present invention.
상기 2차 도금은 전기도금이나 화학도금 모두 가능하나 도금밀착성 면에서 화학도금보다는 전기도금이 바람직하다.The secondary plating may be both electroplating or chemical plating, but electroplating is preferable to chemical plating in terms of plating adhesion.
본 발명의 실시예는 다음과 같다.Embodiments of the present invention are as follows.
선경 0.1mm의 심선과 선경 0.1mm의 랩핑소선에 대하여 랩핑 전에 전처리 공정을 거친 후 메칠설폰산욕으로 주석도금하고 설퍼민산욕으로 니켈도금을 행하여 일정한 간격으로 피치를 변화시켜 랩핑하여 랩핑심선을 제작하였다.Lapping core wire of 0.1mm wire diameter and 0.1mm wire diameter was subjected to pretreatment before lapping, and then tin-plated with methylsulfonic acid bath and nickel plating with sulfuric acid bath to change the pitch at regular intervals to make the wrapping core wire. .
이어서, 상기 랩핑심선에 대하여 2차 도금을 행하였는 데, 이때 도금욕은 상기 1차 도금과 동일한 설퍼민산욕으로 니켈도금을 행함에 있어 니켈 도금과 동시에 40μm의 입자 크기를 갖는 다이아몬드가 균일하게 전착되도록 하여 다이아몬드 입자가 전착된 와이어를 얻었다.Subsequently, secondary plating was performed on the lapping core wire, wherein the plating bath was nickel-plated with the same sulfuric acid bath as the primary plating so that diamond having a particle size of 40 μm was uniformly deposited at the same time as nickel plating. To obtain a wire on which diamond particles were electrodeposited.
이때, 상기의 제조과정과 동일한 공정으로 심선에 감기는 랩핑소선의 가닥수를 2가닥, 3가닥 및 4가닥으로 변화시켜 랩핑소선의 가닥수를 서로 달리하는 다수의 다이아몬드 전착 와이어를 제작하였다.At this time, the number of strands of the wrapping element wire wound on the core wire was changed to 2 strands, 3 strands and 4 strands in the same process as the above manufacturing process to produce a plurality of diamond electrodeposition wires different from each other.
이와같이 해서 얻어진 본 발명의 다이아몬드 전착 와이어를 이용하여 실리콘 잉곳에 대한 절단 시험을 행하였다.The cut test for the silicon ingot was performed using the diamond electrodeposition wire of this invention obtained in this way.
시험에 사용된 실리콘 잉곳의 직경은 6인치 및 8인치이고, 절단용 다이아몬드 전착 와이어 5본을 1mm의 간격으로 서로 평행되게 배치하여 350m/min의 이동속도로 와이어의 이동이 이루어지도록 함에 의해서 실리콘 잉곳의 절단이 이루어지도록 하였다.The silicon ingots used in the test were 6 inches and 8 inches in diameter, and 5 diamond electrodeposition wires for cutting were placed parallel to each other at intervals of 1 mm to move the wires at a movement speed of 350 m / min. Cutting was made.
이와같이 해서 얻어진 실리콘 웨이퍼의 절단면을 종래 다이아몬드 전착 와이어로 절단된 실리콘 웨이퍼와 비교하여 본 바, 본 발명의 다이아몬드 전착 와이어에 의해서 얻어진 웨이퍼는 절단흔적이 훨씬 적었고, 그에 따라 절단후 웨이퍼 표면에 대한 연마시간을 2배 이상 감소시킬 수 있었다.As a result of comparing the cut surface of the silicon wafer thus obtained with the silicon wafer cut with the conventional diamond electrodeposition wire, the wafer obtained by the diamond electrodeposition wire of the present invention had much less cutting traces, and thus the polishing time on the wafer surface after cutting. Could be reduced more than twice.
도6은 본 발명의 랩핑 다이아몬드 전착 와이어와 종래 단선 다이아몬드 전면 전착 와이어의 절단능율을 비교하여 나타낸 그래프로서, 본 발명의 랩핑 다이아몬드 전착 와이어는 종래의 단선 다이아몬드 전면전착 와이어에 비해 절단능이 약 3.5배 향상되었고, 본 발명의 실시예 와이어간에 있어서는 랩핑 피치가 적을수록 절단능율이 우수함을 알 수 있었다.6 is a graph showing the cutting ability of the lapping diamond electrodeposition wire of the present invention and the conventional single-wire diamond front electrodeposition wire, the lapping diamond electrodeposition wire of the present invention is about 3.5 times improved compared to the conventional single-wire diamond electrodeposition wire In the example wires of the present invention, the smaller the lapping pitch, the better the cutting performance.
한편, 도7은 본 발명 랩핑 다이아몬드 와이어의 랩핑 피치와 절단횟수에 따른 절단능률의 변화를 보인 그래프로서, 랩핑 피치가 적을수록 또한 절단횟수가 증가할수록 절단능률이 향상됨을 알 수 있다.On the other hand, Figure 7 is a graph showing the change in cutting efficiency according to the lapping pitch and the cutting frequency of the lapping diamond wire of the present invention, it can be seen that the cutting efficiency is improved as the lapping pitch is smaller and the cutting frequency is increased.
이상에서 살펴본 바와같이, 본 발명의 랩핑 다이아몬드 전착 와이어는 간단한 제조공정을 통해서 제작되므로 제조비용을 절감할 수 있고, 또한 표면부에 나선상으로 요입된 칩포켓이 형성되어 있음에 따라 실리콘 잉곳등의 취성재료 절단시 절단 슬러리의 원활한 배출이 이루어져서 종래의 칩포켓이 없는 전면전착 와이어에 비해 절단능율이 크게 향상되며 또한 큰 직경의 실리콘 잉곳등에 대해서도 와이어의 단선이 발생함이 없이 절단이 가능하다는 이점이 있다.As described above, since the wrapping diamond electrodeposition wire of the present invention is manufactured through a simple manufacturing process, the manufacturing cost can be reduced, and the chip pockets spirally recessed on the surface thereof form brittle silicon ingots. When cutting materials, the cutting slurry is smoothly discharged, which greatly improves the cutting performance compared to the conventional electrodeposited wires without chip pockets, and also enables cutting without large wire breakage even in large diameter silicon ingots. .
또한 본 발명의 랩핑 다이아몬드 전착 와이어를 이용한 취성재료의 절단시에는 절단면에 절단흔적을 최소화함으로써 이후의 연마공정에 소요되는 시간 및 노력을 줄일 수 있는 효과와 함께 절단시 경유 대신에 수계(水系)의 절삭유 사용이 가능하므로 피삭재의 오염을 피할 수 있음과 아울러 폐수처리를 용이하게 수행할 수 있는 이점도 아울러 지니고 있다.In addition, when cutting the brittle material using the lapping diamond electrodeposition wire of the present invention by minimizing the cutting traces on the cutting surface, it is possible to reduce the time and effort required in the subsequent polishing process, and the water-based instead of light oil when cutting Since the use of cutting oil can be used, the contamination of the workpiece can be avoided, and the waste water treatment can be easily performed.
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