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KR102164105B1 - 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법 - Google Patents

강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법 Download PDF

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KR102164105B1 KR1020180153051A KR20180153051A KR102164105B1 KR 102164105 B1 KR102164105 B1 KR 102164105B1 KR 1020180153051 A KR1020180153051 A KR 1020180153051A KR 20180153051 A KR20180153051 A KR 20180153051A KR 102164105 B1 KR102164105 B1 KR 102164105B1
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Abstract

본 발명은 스케일 영향을 최소화하여 강판의 표면 경도를 측정할 수 있는 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법에 관한 것으로, 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치는 전기 또는 자기 중 적어도 하나의 방식으로 강판의 표면을 스캔하는 센서부, 강판의 표면 중 사전에 설정된 영역의 경도를 측정하는 경도 측정부, 측정된 위치의 스캔 신호와 측정된 경도값 간의 상관성에 따라 고경도 부위를 판정하는 고경도 판정부를 포함할 수 있고, 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 방법은 센서부가 강판의 전체 표면을 전자기 방식으로 스캔하여 상기 강판의 전체 표면 중 각 구간별로 측정 신호를 취득하는 단계, 경도 측정부가 상기 각 구간 중 특정 기준값 선정을 위한 경도 측정 구간을 선정하는 단계, 상기 경도 측정부가 상기 경도 측정 구간의 경도값을 측정하고, 스케일 측정부가 해당 구간의 스케일 두께를 측정하며, 고경도 판정부가 특정 기준값 위치를 선정하여 스케일-프리 경도값을 산정하는 단계, 상기 고경도 판정부가 상기 센서부의 스캔 위치와 상기 경도 측정부의 경도값 간의 상관성을 분석하여 확정 판정된 기준값에 따라 고경도 부위를 판정하는 단계를 포함할 수 있다.

Description

강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR SENSING HIGH HARDNESS POSITION OF STEEL PLATE SHRFACE}
본 발명은 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법에 관한 것이다.
일반적인 경도 측정방법은 피측정체 표면 부위에 특정 하중으로 힘을 가해 그 형태에 따라서 경도의 세기를 측정하는 파괴적인 방법을 널리 사용된다. 이러한방법은 파괴되는 구간의 형상을 측정하여 경도값을 계산하는 방식이다. 그러나 일반적으로 사용되는 강판의 경우 길이가 수미터에서 십수미터, 폭이 수미터 정도이고, 이러한 강판의 전체 면적에 대한 경도를 측정하기 위해서는 기존의 방법으로는 전체 구간의 경도를 측정하는 것은 현실적으로 불가능한 문제점이 있다.
일본 공개특허공보 2003-035645호
본 발명의 일 실시예에 따르면, 스케일 영향을 최소화하여 강판의 표면의 고 경도 부위를 검출할 수 있는 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법이 제공된다.
상술한 본 발명의 과제를 해결하기 위해, 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치는 전기 또는 자기 중 적어도 하나의 방식으로 강판의 표면을 스캔하는 센서부, 강판의 표면 중 사전에 설정된 영역의 경도를 측정하는 경도 측정부, 측정된 위치의 스캔 신호와 측정된 경도값 간의 상관성에 따라 고경도 부위를 판정하는 고경도 판정부를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 방법은 센서부가 강판의 전체 표면을 전자기 방식으로 스캔하여 상기 강판의 전체 표면 중 각 구간별로 측정 신호를 취득하는 단계, 경도 측정부가 상기 각 구간 중 특정 기준값 선정을 위한 경도 측정 구간을 선정하는 단계, 상기 경도 측정부가 상기 경도 측정 구간의 경도값을 측정하고, 스케일 측정부가 해당 구간의 스케일 두께를 측정하며, 고경도 판정부가 특정 기준값 위치를 선정하여 스케일-프리 경도값을 산정하는 단계, 상기 고경도 판정부가 상기 센서부의 스캔 위치와 상기 경도 측정부의 경도값 간의 상관성을 분석하여 확정 판정된 기준값에 따라 고경도 부위를 판정하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 강판의 고경도 부위를 정확하게 검출할 수 있는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치의 개략적인 구성도이다.
도 2는 도 1에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치의 개략적인 실제 구성도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 방법의 개략적인 플로우챠트이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법에 따른 특성 그래프이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있도록 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치의 개략적인 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치(100)는 센서부(110), 경도 측정부(120) 및 고경도 판정부(130)을 포함할 수 있고, 스케일 측정부(140)를 더 포함할 수 있다.
센서부(110)는 강판의 전체 표면을 전기 또는 자기 중 적어도 하나의 방식으로 스캔할 수 있다. 스캔된 강판의 전체 표면의 스캔 신호는 상대적 신호일 수 있다.
경도 측정부(120)는 접촉 방식으로 강판의 표면 중 사전에 설정된 영역의 경도를 측정할 수 있다. 측정된 경도값은 절대값일 수 있다.
스케일 측정부(140)는 경도 측정부(120)가 강도를 측정한 영역의 스케일 두께를 측정할 수 있다.
고경도 판정부(130)는 경도 측정부(120)가 강도를 측정한 영역의 센서부(110)에 의해 스캔된 스캔 신호값과 경도 측정부(120)가 강도를 측정한 측정값 간의 상관성에 따라 해당 부위를 고경도로 판정할 수 있다.
이를 위해, 고경도 판정부(130)는 고경도를 판정하는 기준값을 설정할 수 있으며, 해당 위치에 스케일이 있는 경우 경도값이 왜곡되므로 스케일 영향이 가장 적은 위치의 경도값을 측정하고, 측정된 경도값과 해당 위치의 스캔 신호값 간의 상관성을 분석하여, 고경도를 판정하기 위한 최종 기준값을 확정할 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치의 개략적인 실제 구성도이다.
도 1과 함께, 도 2를 참조하면, 경도 측정부(120) 및 스케일 측정부(140)는 적어도 한쌍이 구비될 수 있으며, 예를 들어 복수개가 구비될 수도 있다.
이에 따라, 강판의 전체 표면 중 해당하는 영역의 각 경도 측정부(120) 및 스케일 측정부(140)가 강판의 경도 및 해당 영역의 스케일의 두께를 측정할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 방법의 개략적인 플로우챠트이고, 도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치 및 방법에 따른 특성 그래프이다.
도 1과 함께 도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 강판 표면의 고경도 부위 검출 방법은 먼저, 센서부(110)가 전자기 방식에 따라 강판의 전체 표면을 스캔하고, 전체 면적에 대한 구간별 스캔 신호를 획득할 수 있다(S10).
이때의 스캔 신호값은 도 4a와 같이 도시될 수 있다.
이후, 경도 측정부(120)는 기준값 선정을 위한 경도 측정 구간을 선정할 수 있다(S20).
다음으로, 경도 측정부(120) 및 스케일 측정부(140)가 각각 강판의 전체 표면 중 각 구간별로 경도를 측정하고, 스케일 두께를 측정하고 고경도 판정부(130)는 임의로 지정된 후보 위치에 따라서 스케일 영향이 최소화된 경도값을 획득할 수 있다(S30).
마지막으로, 고경도 판정부(130)는 측정된 스캔값이 확정 판정된 기준값 이상을 갖는 위치를 고경도 부위로 판정할 수 있다. 상술한 확정 판정된 기준값 및 측정된 스캔값은 도 4b와 같이 도시될 수 있다.
이때, 고경도 판정부(140)는 확정 판단된 기준값이 나올때까지 경도 측정 구간을 선정하는 단계(S20) 및 스케일-프리 경도값을 산정하는 단계(S30)를 반복할 수 있다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 기존의 쇼어(Shore)경도계를 이용하여 실제 후판 표면에 발생되는 문제점 해결을 해결할 수 있으며, 제조 조건에 따라 변동하는 스케일 조건에 따라 유동적으로 고경도 부위의 기준값 산정이 가능하다. 따라서 실제 후판의 전체 표면 경도를 측정하기 위한 스캔 신호를 효과적으로 이용하여 고경도 위치 산정을 용이하게 할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니고 후술하는 특허청구범위에 의해 한정되며, 본 발명의 구성은 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 그 구성을 다양하게 변경 및 개조할 수 있다는 것을 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자는 쉽게 알 수 있다.
100: 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치
110: 센서부
120: 경도 측정부
130: 고경도 판정부
140: 스케일 측정부

Claims (7)

  1. 전기 또는 자기 중 적어도 하나의 방식으로 강판의 표면 전체를 스캔하여, 강판 전체 표면의 상대적인 스캔 신호를 획득하는 센서부;
    상기 강판의 표면 중 사전에 설정된 영역의 경도를 측정하는 경도 측정부; 및
    상기 경도 측정부에 의해 경도가 측정된 위치의 스캔 신호와 측정된 경도값 간의 상관성에 따라 고경도 부위를 판정하는 고경도 판정부;
    상기 경도 측정부가 경도를 측정한 영역의 스케일 두께를 측정하는 스케일 측정부를 포함하고,
    상기 고경도 판정부는 측정된 위치 중 스케일의 영향이 최소화된 위치의 스캔 신호 및 경도값의 상관성에 따라 기준값을 확정하여 고경도 부위를 판정하는 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치.
  2. 삭제
  3. 제1항에 있어서,
    상기 경도 측정부는 접촉 방식으로 상기 강판의 표면 중 사전에 설정된 영역의 경도를 측정하는 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 경도 측정부 및 상기 스케일 측정부는 적어도 한쌍이 구비되는 강판 표면의 고경도 부위 검출 장치.
  5. 삭제
  6. 센서부가 강판의 전체 표면을 전자기 방식으로 스캔하여 상기 강판의 전체 표면 중 각 구간별로 상대적인 스캔 신호를 획득하는 단계;
    경도 측정부가 상기 각 구간 중 특정 기준값 선정을 위한 경도 측정 구간을 선정하는 단계;
    상기 경도 측정부가 상기 경도 측정 구간의 경도값을 측정하고, 스케일 측정부가 해당 구간의 스케일 두께를 측정하며, 고경도 판정부가 특정 기준값 위치를 선정하여 스케일-프리 경도값을 산정하는 단계; 및
    상기 고경도 판정부가 상기 센서부의 스캔 위치와 상기 경도 측정부의 경도값 간의 상관성을 분석하여 확정 판정된 기준값에 따라 고경도 부위를 판정하는 단계
    를 포함하는 강판 표면의 고경도 부위 검출 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 경도 측정 구간을 선정하는 단계 및 스케일-프리 경도값을 산정하는 단계는 상기 확정 판단된 기준값이 나올때까지 반복하는 강판 표면의 고경도 부위 검출 방법.

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