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KR101800065B1 - Cell Alignment Methods without Touching the Cell - Google Patents

Cell Alignment Methods without Touching the Cell Download PDF

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KR101800065B1
KR101800065B1 KR1020140017231A KR20140017231A KR101800065B1 KR 101800065 B1 KR101800065 B1 KR 101800065B1 KR 1020140017231 A KR1020140017231 A KR 1020140017231A KR 20140017231 A KR20140017231 A KR 20140017231A KR 101800065 B1 KR101800065 B1 KR 101800065B1
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cell
alignment
coordinates
respect
stage
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이한진
신균섭
지성근
김종현
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주식회사 엘지화학
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Abstract

본 발명은 셀 정렬 과정에서 셀에 접촉하지 않고 정렬을 실시하여 접촉에 따른 셀의 파손을 방지할 수 있는 비접촉식 셀 정렬방법에 관한 것이다.
본 발명은, 정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)을 로딩하는 로딩 단계; 로딩된 상기 셀(10)을 비젼으로 촬영하는 촬영 단계; 촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계; 및 상기 셀의 상대적인 위치가 제거되는 방향으로 정렬 스테이지(20)를 이동하는 정렬 단계;를 포함하고, 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치는 x,y 좌표 및 기울어진 각도(θ)로 계산되며, 상기 정렬 단계는, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계와, 정렬위치(P)를 향해 정렬 스테이지(20)가 x,y 방향으로 평행 이동하는 제2정렬단계로 이루어지고, 상기 제1정렬단계가 진행된 후 제2정렬단계가 진행되며, 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치인 x,y 좌표는 제1정렬단계가 진행된 후 촬영 단계와 인식 및 분석 단계를 한 번 더 거쳐 파악되는 비접촉식 셀 정렬방법이다.
The present invention relates to a non-contact type cell sorting method capable of preventing cell damage due to contact by performing alignment without contacting cells in the cell sorting process.
The invention comprises a loading step of loading a cell (10) on an alignment stage (20); A photographing step of photographing the loaded cell (10) with a vision; Recognizing and analyzing the relative position of the current cell with respect to the alignment position P based on the photographed image; And an alignment step of moving the alignment stage (20) in a direction in which the relative position of the cell is removed, wherein a relative position of the cell with respect to the alignment position is calculated as x, y coordinates and a tilted angle The alignment step includes a first alignment step in which the alignment stage 20 rotates in a direction to eliminate the tilted angle of the current cell with respect to the alignment position P, 20) are moved in parallel in the x and y directions, and the second alignment step is performed after the first alignment step, and the x, y coordinates, which are the relative positions of the cells with respect to the alignment position, 1 < / RTI > sorting step, the imaging step and the recognition and analysis step are performed once more.

Description

비접촉식 셀 정렬방법{Cell Alignment Methods without Touching the Cell}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to a non-

본 발명은 셀 정렬방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는, 정렬 과정에서 셀에 접촉하지 않고 정렬을 실시하여 접촉에 따른 셀의 파손을 방지할 수 있는 비접촉식 셀 정렬방법에 관한 것이다.The present invention relates to a cell alignment method, and more particularly, to a non-contact cell alignment method capable of preventing cell damage due to contact by performing alignment without contacting a cell in the alignment process.

이차전지를 패키징하는 공정에서, 적층된 셀의 위치를 정렬하는 과정이 선행된 후 이를 파우치와 같은 포장재에 수납하게 된다. 통상적으로 셀의 위치를 정렬하는 과정은 정렬 지그에 셀을 로딩하고 게이지 등으로 일정한 반발력이 생길 때까지 셀을 밀어 접촉식으로 셀을 정렬하는 방법이 사용되고 있다.In the process of packaging the secondary battery, the process of aligning the positions of the stacked cells is preceded and stored in a packaging material such as a pouch. Generally, a process of aligning a cell is performed by loading the cell into an alignment jig and aligning the cells by a contact type by pushing the cell until a certain repulsive force is generated by a gauge or the like.

도 1은 종래의 접촉식 정렬 방법을 나타낸 도면이다. 도 1의 (a)에 도시된 바와 같이 정렬 지그(70)에 셀(10)을 로딩한 상태에서 x축 방향으로 게이지(80)를 이동시켜 게이지(80)가 셀(10)을 도면 상 좌측으로 밀어 줌으로써, 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이 셀(10)의 좌측면이 정렬 지그(70)에 접촉하도록 한다.1 is a view showing a conventional contact type alignment method. The gauge 80 is moved in the x-axis direction in a state where the cell 10 is loaded in the alignment jig 70 as shown in FIG. 1 (a) So that the left side surface of the cell 10 comes into contact with the alignment jig 70 as shown in Fig. 1 (b).

셀(10)의 좌측면이 정렬 지그에 맞닿으면 도면 상 좌측으로 이동하던 게이지(80)에 일정 수준 이상의 부하가 걸리게 되고, 이러한 부하가 인식되면 게이지는 이동을 중단하게 된다. 또한 이러한 정렬 과정은 y축 방향으로도 이루어지게 된다.When the left side of the cell 10 comes into contact with the alignment jig, a certain level of load is applied to the gauge 80 that has moved to the left in the drawing. When the load is recognized, the gauge stops moving. This sorting process is also performed in the y-axis direction.

그러나 도 1의 (a)에 도시된 바와 같이 셀(10)이 정상적인 위치에 대해 약간이라도 기울어진 상태로 로딩이 되어 있는 경우, 셀(10)의 모서리 부분과 게이지(80)가 점 접촉하며 응력이 집중됨으로 인해 전극이 파손되거나 변형되는 문제점이 있다.However, when the cell 10 is loaded with a slight inclination relative to the normal position as shown in Fig. 1 (a), the corner portion of the cell 10 and the gauge 80 are in point contact, There is a problem that the electrode is damaged or deformed.

또한 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이 셀(10)이 x축 방향으로 좌측으로 정렬 지그(70)에 밀착되면서 셀(10)의 좌측면에 충격이 가해지게 됨으로 인해 전극이 파손되거나 변형되는 문제점이 있으며, 이렇게 정렬된 상태에서도 게이지(80)에 걸리는 부하에 대한 인식이나 그러한 인식에 따라 게이지의 이동을 중단하는 것에 대한 응답이 즉각적이지 못하여 셀의 전극이 파손되거나 변형되는 문제점이 있다.1 (b), when the cell 10 is brought into close contact with the alignment jig 70 to the left in the x-axis direction, an impact is applied to the left side surface of the cell 10, There is a problem in that the electrode of the cell is damaged or deformed due to the recognition of the load on the gauge 80 and the response to stopping the movement of the gauge according to such recognition is not immediate.

아울러 도 1의 (b)에 도시된 바와 같이 셀(10)을 y축 방향으로 아래쪽으로 정렬시키는 과정에서도 셀(10)의 상부에 형성된 탭이 게이지와의 충격에 의해 변형되거나 그 주변이 파손되는 경우가 발생하고 있고, 도 1의 (c)에 도시된 바와 같이 셀(10)의 하부 역시 정렬 지그(70)에 부딪히며 파손되거나 변형되는 문제점이 있다.1 (b), even when the cell 10 is aligned downward in the y-axis direction, the tab formed on the cell 10 is deformed by the impact with the gauge or the periphery thereof is damaged As shown in FIG. 1 (c), the lower portion of the cell 10 also collides against the alignment jig 70 and is damaged or deformed.

위와 같은 접촉 방식으로 셀을 정렬하는 것은 촬영이나 인식 및 분석의 절차가 없어 정렬 장치를 간단하게 구성할 수 있다는 장점이 있으나, 앞서 살펴본 바와 같이 셀에 대해 접촉을 하면서 셀에 기계적인 충격이 전달됨으로써 정렬 과정에서 불량이 발생한다는 문제점이 있었다.
Aligning the cells by the above-mentioned contact method is advantageous in that the aligning device can be easily constructed because there is no procedure of photographing, recognition and analysis. However, as mentioned above, since the mechanical impact is transmitted to the cell while making contact with the cell There is a problem that defects occur in the alignment process.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 접촉식 정렬 과정을 생략하고 비접촉식으로 정렬을 할 수 있는 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a method of omitting a contact type alignment process and performing alignment in a non-contact manner.

또한 본 발명은 비접촉식으로 정렬을 함에 있어서 정렬의 기준이 되는 인자를 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide a factor that is a basis for alignment in the non-contact type alignment.

또한 본 발명은 비접촉식으로 정렬을 함에 있어서 알고리즘을 간단하게 구성할 수 있는 정렬 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide an alignment method which can easily form an algorithm in alignment in a non-contact manner.

또한 본 발명은 비접촉식으로 정렬을 함에 있어서, 정렬에 필요한 인자를 최소한으로 구성하고, 특히 이러한 인자가 정렬 장치 자체로부터 고려해야 되는 인자를 포함하지 않도록 함으로써, 정렬 장치의 특성에 영향을 받지 않고 범용적으로 적용할 수 있는 정렬 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention also provides a method for aligning in a non-contact manner by minimizing the factors required for alignment and, in particular, by preventing such factors from being included in the alignment device itself from consideration, It is an object of the present invention to provide an alignment method that can be applied.

또한 본 발명은 비접촉식으로 정렬을 하기 위해 셀의 위치를 인식함에 있어서, 가장 염가로 가장 정밀도 높은 인식 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to provide a method for recognizing the position of a cell in order to perform alignment in a non-contact manner, the most inexpensive and most accurate recognition method.

또한 본 발명은 정렬이 반복됨에 따라 반복되는 로딩 구조의 패턴을 보정함으로써 로딩 구조 자체를 수정할 수 있는 정렬 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.It is another object of the present invention to provide an alignment method capable of correcting the loading structure itself by correcting the pattern of the repeated loading structure as the alignment is repeated.

상기와 같은 과제를 해결하기 위해 본 발명은, 정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)을 로딩하는 로딩 단계; 로딩된 상기 셀(10)을 비젼으로 촬영하는 촬영 단계; 촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계; 및 상기 셀의 상대적인 위치가 제거되는 방향으로 정렬 스테이지(20)를 이동하는 정렬 단계;를 포함하는 비접촉식 셀 정렬방법을 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a semiconductor device, including: loading a cell (10) on an alignment stage (20); A photographing step of photographing the loaded cell (10) with a vision; Recognizing and analyzing the relative position of the current cell with respect to the alignment position P based on the photographed image; And an aligning step of moving the alignment stage (20) in a direction in which the relative position of the cell is removed.

여기서 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치는 x,y 좌표 및 기울어진 각도(θ)로 계산된다.Here, the relative position of the cell with respect to the alignment position is calculated by the x, y coordinates and the inclined angle [theta].

여기서 상기 정렬 단계는, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계와, 정렬위치(P)를 향해 정렬 스테이지(20)가 x,y 방향으로 평행 이동하는 제2정렬단계로 이루어진다.Wherein the aligning step comprises a first aligning step in which the aligning stage (20) is rotated in a direction to eliminate the tilted angle (?) Of the current cell with respect to the aligning position (P) And a second aligning step in which the substrate 20 moves in parallel in the x and y directions.

여기서 상기 제1정렬단계가 진행된 후 제2정렬단계가 진행된다.After the first alignment step, the second alignment step is performed.

여기서 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치인 x,y 좌표는 제1정렬단계가 진행된 후 촬영 단계와 인식 및 분석 단계를 한 번 더 거쳐 파악된다.Here, the x, y coordinates, which are the relative positions of the cells with respect to the alignment position, are grasped after the imaging step and the recognition and analysis step once more after the first alignment step.

여기서 상기 비젼은 셀을 비추는 조명과, 상기 셀을 가시광선 영역에서 촬영하는 카메라를 포함한다.Wherein the vision includes illumination illuminating a cell and a camera imaging the cell in a visible light region.

여기서 상기 인식 및 분석 단계는, 촬영된 셀의 이미지에서 전극 탭(12,14)의 모서리(13,15) 좌표를 복수 개 인식하여 정렬위치(P)의 전극 탭의 모서리 좌표와 대응시킴으로써 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 분석한다.In the recognition and analysis step, a plurality of the coordinates (13, 15) of the edges (13, 15) of the electrode tabs (12, 14) are recognized in the image of the photographed cell to correspond to the corner coordinates of the electrode tab (P) of the current cell.

여기서 상기 인식 및 분석 단계는, 촬영된 셀의 이미지에서 분리막의 모서리(16,18) 좌표를 복수 개 인식하여 정렬위치(P)의 분리막의 모서리 좌표와 대응시킴으로써 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 분석한다.In the recognition and analysis step, a plurality of coordinates of the edges (16, 18) of the separation membrane are recognized in the image of the captured cell and correspond to the edge coordinates of the separation membrane at the alignment position (P) To analyze the relative position.

여기서 상기 분리막의 모서리 좌표는 분리막의 모서리에 형성된 라운딩(R) 부위를 제외하고 분리막의 양 변이 만나는 가상의 지점을 기준으로 모서리 좌표를 분석한다.Here, the corner coordinates of the separation membrane are analyzed based on a virtual point where both sides of the separation membrane meet except for a rounding (R) site formed at the edge of the separation membrane.

여기서 정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치가 로딩되는 셀의 정렬과정마다 일정 수준 이상 반복되는 경우, 셀의 로딩 구조 자체를 보정한다.In this case, if the relative position of the cell with respect to the alignment position is repeated more than a predetermined level for every alignment process of the loaded cell, the cell's loading structure itself is corrected.

본 발명에 의하면, 비접촉식으로 셀을 정렬할 수 있어 정렬과정에서 셀에 불량이 발생하는 현상을 미연에 방지할 수 있다.According to the present invention, it is possible to arrange the cells in a non-contact manner, thereby preventing defective cells from being generated during the alignment process.

또한 본 발명에 의하면, 비접촉식으로 셀을 정렬함에 있어서 정렬 인자를 최소화함으로써 간단한 알고리즘으로 정렬을 실시할 수 있다.According to the present invention, alignment can be performed with a simple algorithm by minimizing the alignment factor when aligning cells in a non-contact manner.

또한 본 발명에 의하면, 비접촉식으로 셀을 정렬함에 있어서 정렬 장치의 특성에 관계없이 동일한 알고리즘으로 정렬을 실시할 수 있어 범용적인 활용이 가능하다.In addition, according to the present invention, alignment can be performed using the same algorithm regardless of the characteristics of the alignment apparatus when aligning the cells in a non-contact manner, so that general utilization is possible.

또한 본 발명에 의하면, 셀의 위치 인식을 가장 염가로 정확하게 할 수 있어 정렬 정밀도를 쉽게 높일 수 있다.In addition, according to the present invention, it is possible to accurately recognize the position of the cell at the lowest cost, and to easily increase the alignment accuracy.

또한 본 발명에 의하면, 반복되는 정렬 패턴을 인식하여 이를 셀의 로딩 과정에서 보정하도록 함으로써 셀의 정렬 과정이 반복될수록 셀이 보다 정확하게 로딩이 이루어지도록 하여 비접촉식 정렬에 소요되는 시간과 공수를 최소화할 수 있다.According to the present invention, since the repeated alignment pattern is recognized and corrected in the cell loading process, as the cell alignment process is repeated, the cell is more accurately loaded, thereby minimizing the time and the amount of time required for the contactless alignment have.

상술한 효과와 더불어 본 발명의 구체적인 효과는 이하 발명을 실시하기 위한 구체적인 사항을 설명하면서 함께 기술한다.The above and other objects, features and advantages of the present invention will be more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings, in which: FIG.

도 1은 종래의 접촉식 정렬 방법을 나타낸 도면,
도 2는 본 발명에 따른 비접촉식 정렬 방법을 나타낸 도면,
도 3은 비젼으로 촬영된 셀의 이미지(전극탭이 있는 경우)를 나타낸 도면,
도 4는 도 3의 셀의 이미지에서 전극탭의 모서리를 인식하는 상태를 나타낸 도면,
도 5는 비젼으로 촬영된 셀의 이미지(전극탭이 없는 경우)를 나타낸 도면, 그리고
도 6는 도 5의 셀의 이미지에서 분리막의 모서리를 인식하는 상태를 나타낸 도면이다.
1 is a view showing a conventional contact type alignment method,
2 illustrates a non-contact alignment method according to the present invention,
3 is a view of an image of a cell photographed by vision (when an electrode tab is present)
FIG. 4 is a view showing a state of recognizing the edge of the electrode tab in the image of the cell of FIG. 3;
5 shows an image of a cell photographed with vision (in the absence of an electrode tab), and
FIG. 6 is a view showing a state of recognizing the edges of the separator in the image of the cell of FIG. 5;

이하 본 발명에 따른 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 2는 본 발명에 따른 비접촉식 정렬 방법을 나타낸 도면이다.2 is a view illustrating a non-contact sorting method according to the present invention.

본 발명에 따른 비접촉식 셀 정렬방법은, 정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)을 로딩하는 로딩 단계, 로딩된 상기 셀(10)을 비젼으로 촬영하는 촬영 단계, 촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계 및 상기 셀의 상대적인 위치가 제거되는 방향으로 정렬 스테이지(20)를 이동하는 정렬 단계를 포함한다.The method for aligning a non-contact type cell according to the present invention includes a loading step of loading a cell 10 on an alignment stage 20, a shooting step of photographing the loaded cell 10 with a vision, The recognition and analysis step of grasping the relative position of the current cell with respect to the reference point P and the alignment step of moving the alignment stage 20 in a direction in which the relative position of the cell is eliminated.

여기서 정렬 스테이지(20)는 자체적으로 회전이 가능함은 물론, x축과 y축 방향으로 병진 이동 가능하다. 정렬 스테이지 상에 셀을 로딩하는 방식은 로봇 암의 파지에 의한 로딩 방식, 흡착 및 흡착 해제 방식 등 다양한 방식이 적용될 수 있다.Here, the alignment stage 20 is not only rotatable but also translationally movable in the x-axis and y-axis directions. The method of loading the cells on the alignment stage can be implemented by various methods such as a loading method by gripping the robot arm, a suction and an adsorption releasing method, and the like.

상기 비젼은 셀을 비추는 조명(미도시)과, 상기 셀을 가시광선 영역에서 촬영하는 카메라(미도시)를 포함할 수 있다.The vision may include illumination (not shown) illuminating the cell and a camera (not shown) imaging the cell in the visible light region.

정렬위치(P)는 후속 공정에 들어가기 전, 셀이 정렬되어야 하는 위치를 의미하는 것으로, 가령 종래 기술에서 도 1의 (c)와 같은 위치이다.The alignment position P means a position at which the cell must be aligned before entering a subsequent process, for example, the position shown in FIG. 1 (c) in the prior art.

정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)이 로딩되어 얹어지면, 비젼으로 셀을 촬영하여 현재 셀의 위치를 파악한다. 이렇게 셀의 위치를 파악함에 있어서는, 정렬위치(P)에 대비하여 셀이 x,y축 방향으로 얼마나 이탈되어 있는지, 또 얼마나 기울어져 있는지(θ) 파악한다. 이는 카메라에 의해 촬영된 이미지에 나타난 셀의 위치가 이상적인 위치(P)에서 얼마나 벗어나 있는지를 기준으로 파악하게 된다.When the cell 10 is loaded and placed on the alignment stage 20, the cell is photographed by the vision to grasp the position of the current cell. In order to grasp the position of the cell, it is necessary to determine how far the cell is deviated in the x- and y-axis direction compared to the alignment position P and how much it is inclined ([theta]). This is based on how far the position of the cell in the image photographed by the camera deviates from the ideal position (P).

이상적인 위치(P)의 설정은, 카메라가 정렬 장치에 고정 설치된 후, 가령 그 상태에서 이상적인 위치(P)에 셀을 놓고 촬영을 함으로써 얻어지는 이미지에서 셀이 나타나는 위치를 이상적인 위치(P)로 설정하는 방식으로 이루어질 수 있다.The setting of the ideal position P is performed by setting the position where the cell appears in the image obtained by placing the cell at the ideal position P in the state after the camera is fixed to the aligning device to the ideal position P . ≪ / RTI >

이후 정렬 스테이지(20) 상에 정렬하고자 하는 셀이 로딩되면, 동일한 위치에 카메라가 고정된 상태에서 다시 촬영을 실시하여 이미지를 획득하고, 그 이미지에서 얻어지는 셀의 위치가 기 설정된 이상적인 위치(P)에서 얼마나 벗어나 있는지를 파악하게 된다도 2의 (a) 참조.When the cell to be aligned is loaded on the alignment stage 20, the camera is retaken while the camera is fixed at the same position to acquire an image, and the position of the cell obtained from the image is set at a predetermined ideal position P, (See Figure 2 (a)).

이렇게 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하게 되면, 현재 셀의 위치를 이동시켜 정렬위치(P)에 일치하도록 정렬 스테이지(20)를 이동하게 된다.When the relative position of the current cell with respect to the alignment position P is grasped, the alignment stage 20 is moved to match the alignment position P by moving the current cell position.

이러한 정렬 과정은, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계도 2의 (b) 참조와, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 x,y 좌표만큼 평행 이동하는 제2정렬단계도 2의 (c) 및 (d) 참조로 이루어지도록 할 수 있다.This alignment process is similar to the first alignment step in which the alignment stage 20 rotates in the direction of eliminating the tilted angle &thetas; of the current cell with respect to the alignment position P, P in parallel with the x and y coordinates of the current cell with reference to (c) and (d) of FIG. 2.

여기서 주의 깊게 고려하여야 할 것은 정렬 스테이지가 기울어진 각도를 제거하는 방향으로 회전할 때의 회전축의 좌표이다. 정렬 스테이지가 회전할 때 그 회전축의 위치에 따라 현재 셀의 x,y 좌표가 달라지는 위치 역시 달라지게 되기 때문에, 현재 셀의 위치를 정렬 위치(P)로 이동시킴에 있어서는 이러한 정렬 스테이지의 회전축의 위치 역시 고려하지 않으면 안 된다.Careful consideration here is the coordinate of the rotation axis when the alignment stage rotates in the direction of eliminating the tilted angle. When the alignment stage is rotated, the position where the x and y coordinates of the current cell are changed varies according to the position of the rotation axis. Therefore, in moving the current cell position to the alignment position P, You must also consider.

이처럼 촬영 단계를 통해 현재 셀의 위치(x,y,θ)를 파악한 후 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계를 거치면 셀의 x,y좌표에 변동이 생기게 되므로, 촬영 단계를 통해 파악된 현재 셀의 위치(x,y)로부터, 정렬 스테이지(20)의 회전축을 중심으로 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전한 후, 셀의 x,y 좌표가 어떻게 변화했는지에 대한 계산이 필요하다.The first stage in which the alignment stage 20 rotates in the direction of removing the tilt angle? Of the current cell with respect to the alignment position P after grasping the position (x, y, The x and y coordinates of the cell are varied when the alignment step is performed. Therefore, the angle (?) Inclined about the rotation axis of the alignment stage 20 from the position (x, y) After the alignment stage 20 rotates in the direction of removal, it is necessary to calculate how the x, y coordinates of the cell have changed.

그리고 이렇게 회전에 의해 변화된 부분이 계산된 x,y 좌표에 따라 정렬 스테이지(20)를 x,y 방향으로 평행 이동하면 정렬 스테이지 상에 놓여진 셀은 정렬위치(P)에 위치하게 된다.When the alignment stage 20 is moved in parallel to the x and y directions according to the x and y coordinates calculated by the rotation, the cells placed on the alignment stage are positioned at the alignment position P.

이러한 과정을 살펴보면, 상기 제1정렬단계가 진행된 후 제2정렬단계가 진행되는 것이 알고리즘을 간단하게 구성할 수 있어 편리하다. 만약 최초 촬영 후 위치를 인식하고 나서 정렬을 행하는 단계에서 x,y에 대한 이동이 먼저 이루어진다면, 추후 기울어진 각도를 보정하는 과정에서 x,y 좌표가 변하게 되어, 재차 x,y 이동을 해야 할 필요가 있다.In this process, it is convenient that the second alignment step is performed after the first alignment step is performed, because the algorithm can be easily configured. If the movement for x and y is performed first in the step of aligning after recognizing the position after the initial photographing, the x and y coordinates are changed in the process of correcting the inclined angle, There is a need.

따라서 본 발명에서는 촬영된 셀의 이미지에서 파악된 좌표(x,y,θ) 중 기울어진 각도를 먼저 보정하고 난 후, 변화된 x,y 좌표에 맞추어 평행이동으로 위치를 보정하는 방식을 적용하였다.Accordingly, in the present invention, a method of first correcting an inclined angle among coordinates (x, y,?) Detected in an image of a captured cell, and then correcting the position by parallel movement in accordance with the changed x and y coordinates is applied.

결국 위와 같은 정렬 과정을 따른다면, 최초 셀의 위치에 대한 촬영 후 셀의 위치(x,y,θ)를 파악하고, 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표를 활용하면, 기울어진 각도를 보정하는 제1정렬단계, 그리고 제1정렬 후 변경된 x,y좌표를 기준으로 정렬 스테이지(20)를 평행이동하는 제2정렬단계만으로 정렬을 완료할 수 있다.As a result, if the position (x, y, θ) of the cell after photographing is obtained with respect to the position of the first cell and the coordinates of the rotation axis of the alignment stage 20 are utilized, the tilted angle is corrected The alignment can be completed only by the second alignment step of translating the alignment stage 20 based on the first alignment step and the changed x, y coordinates after the first alignment.

또한 본 발명은 나아가, 상기 제1정렬 후 변경된 x,y좌표를 계산할 필요 없이 간단하게 제2정렬이 이루어지도록 할 수도 있다. 앞서 살펴본 정렬 방식은, 제1정렬 후 변경된 x,y좌표를 계산함에 있어서 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표값이 필수적으로 요구되는데, 만약 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표값 자체에 오차가 있다면, 이를 기준으로 변경된 x,y좌표를 계산할 때 오차가 누적될 수 있다.Further, the present invention can further simplify the second alignment without calculating the changed x, y coordinates after the first alignment. In the above-described alignment method, when calculating the changed x, y coordinates after the first alignment, the coordinate values of the rotation axis of the alignment stage 20 are essentially required. If the coordinate values of the rotation axis of the alignment stage 20 itself If so, errors may accumulate when calculating the modified x, y coordinates based on this.

따라서 본 발명은 이러한 점까지 감안하여, 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표에 대한 정보 없이도 정확하게 제2정렬이 이루어지도록 할 수 있다.Therefore, in view of this point, the present invention can precisely make the second alignment without information on the coordinates of the axis of rotation of the alignment stage 20.

이를 위해 본 발명은, 제1정렬을 통해 정렬 위치(P)에 대해 정렬하고자 하는 셀의 기울어짐을 해소한 후 다시 셀에 대한 촬영을 실시한다. 이러한 촬영의 결과에 대한 이미지는 도 2의 (b)와 같이 기울기의 차이 없이 셀(10)이 x,y 방향으로만 벗어난 상태가 되고, 결국 이러한 이미지에서 얻어지는 셀의 위치가 기 설정된 이상적인 위치(P)에서 x,y 방향으로 얼마나 벗어나 있는지를 파악할 수 있다.To this end, the present invention solves the tilting of the cell to be aligned with respect to the alignment position P through the first alignment, and then photographs the cell again. 2 (b), the cell 10 is displaced only in the x and y directions without any difference in the slope. As a result, the position of the cell obtained from the image is shifted to the predetermined ideal position P) in the x and y directions.

따라서 정렬 장치는 이렇게 x,y 방향으로 벗어난 양만큼 정렬 스테이지(20)를 평행 이동시켜 셀이 정렬 위치(P)에 정확히 위치하도록 할 수 있다.Thus, the alignment device can thus move the alignment stage 20 in an amount that is out of the x, y direction so that the cell is correctly positioned at the alignment position P.

이러한 방식에 의하면 정렬 스테이지(20)의 회전축의 좌표에 대한 정보 없이도 비접촉식 정렬을 행할 수 있게 되는바, 복수 개의 정렬 스테이지에서 각각 정렬 과정을 수행함에 있어서도 동일한 알고리즘으로 간단하게 정렬을 실시할 수 있게 되며, 정렬과정에서 각 스테이지에서 발생하는 오차가 누적되는 것을 방지할 수 있다.According to this method, the contactless alignment can be performed without any information about the coordinates of the rotation axis of the alignment stage 20. Therefore, even when the alignment process is performed in each of the plurality of alignment stages, the alignment can be easily performed using the same algorithm , It is possible to prevent accumulation of errors occurring in each stage in the alignment process.

나아가 본 발명에서는, 정렬 스테이지 외의 다른 구성에서 위치 오차의 요인이 있는 경우 이를 제거할 수 있는 방법까지 제공한다.Furthermore, the present invention also provides a method of eliminating a factor of position error in another configuration other than the alignment stage.

가령 정렬 스테이지 상에 셀을 로딩하는 구성이 지속적으로 동일한 위치 오차를 부가하면서 정렬 스테이지 상에 셀을 로딩하는 경우, 본 발명의 정렬 장치에서는 이를 파악하여 로딩 과정 자체를 보정하도록 할 수 있다.For example, when a cell loading arrangement on an alignment stage continuously loads cells on an alignment stage with the same position error, the alignment apparatus of the present invention can grasp this and correct the loading process itself.

만약 촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계에서 정해진 횟수(가령 10회) 이상 유사한 범위 내의 오차가 반복적으로 인식되고 파악되면, 본 발명은 이러한 오차 수치를 운용자에게 정보로서 제공할 수 있다.If an error within a similar range over a predetermined number of times (for example, 10 times) is recognized and recognized in the recognition and analysis step of grasping the relative position of the current cell with respect to the alignment position P based on the photographed image, This error value can be provided to the operator as information.

장비 운용자는 이러한 정보가 제공되는 경우, 로딩 장치의 정렬을 통해 정렬 스테이지(20)에 셀(10)이 로딩되는 위치 자체를 보정함으로써, 로딩 과정에서 발생하는 위치 편차를 해소할 수 있다. 따라서 이러한 과정이 반복되면 로딩 과정에서 미리 정렬위치에 가까운 로딩이 가능하게 되므로, 비접촉식 정렬 양이 점차 줄어들도록 할 수 있어, 장비 운용을 더욱 효율적으로 할 수 있게 된다.When this information is provided, the equipment operator can correct the positional deviation occurring in the loading process by correcting the position where the cell 10 is loaded on the alignment stage 20 through alignment of the loading device. Therefore, if this process is repeated, loading close to the alignment position can be performed in advance during the loading process, so that the amount of non-contact alignment can be gradually reduced, and the apparatus operation can be more efficiently performed.

다음으로, 촬영된 셀의 이미지에서 셀의 위치를 인식하는 방법에 대해 설명한다.Next, a method of recognizing the position of the cell in the image of the photographed cell will be described.

도 3은 비젼으로 촬영된 셀의 이미지(전극탭이 있는 경우)를 나타낸 도면, 그리고 도 4는 도 3의 셀의 이미지에서 전극탭의 모서리를 인식하는 상태를 나타낸 도면이다.FIG. 3 is a view showing an image of a cell photographed by vision (when an electrode tab is present), and FIG. 4 is a view showing a state of recognizing an edge of an electrode tab in an image of the cell of FIG.

촬영된 셀의 이미지에 전극탭이 있는 경우, 도 3에 도시된 바와 같이 먼저 셀(10)의 이미지에서 셀의 모서리에 해당하는 패턴(

Figure 112014014679332-pat00001
,)을 찾고, 그 패턴 내에서 모서리(16,18)을 찾는다.When the image of the photographed cell has an electrode tab, as shown in FIG. 3, a pattern corresponding to the corner of the cell (for example,
Figure 112014014679332-pat00001
, ), And finds the edges (16, 18) in the pattern.

그리고 두 모서리를 잇는 가상의 선 상에서 음극탭(12)과 양극탭(14)이 셀과 연결되는 부분의 패턴(

Figure 112014014679332-pat00003
,
Figure 112014014679332-pat00004
)을 찾은 후, 그 패턴 내에서 모서리(13,15)를 찾는다.And the pattern of the portion where the negative electrode tab 12 and the positive electrode tab 14 are connected to the cell on a hypothetical line connecting the two corners
Figure 112014014679332-pat00003
,
Figure 112014014679332-pat00004
) And finds the corners (13, 15) in the pattern.

이렇게 인식된 모서리(13,15)의 좌표가, 정렬 위치(P)의 대응하는 모서리의 좌표에 대해 얼마나 벗어나 있는지 그 좌표(x,y,θ)를 확인하면, 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악할 수 있다.
한편, 상기 전극 탭(12,14)의 모서리(13,15) 좌표는 예를 들어 전극탭의 외곽선과 분리막의 외곽선이 만나는 지점일 수 있다.
Confirming the coordinates (x, y, [theta]) of the coordinates of the recognized edges 13 and 15 with respect to the coordinates of the corresponding edges of the alignment position P, The relative position of the cell can be grasped.
The coordinates of the edges 13 and 15 of the electrode tabs 12 and 14 may be, for example, a point where the outline of the electrode tab meets the outline of the separator.

도 5는 비젼으로 촬영된 셀의 이미지(전극탭이 없는 경우)를 나타낸 도면, 그리고 도 6는 도 5의 셀의 이미지에서 분리막의 모서리를 인식하는 상태를 나타낸 도면이다.Fig. 5 is a view showing an image of a cell photographed by vision (in the absence of an electrode tab), and Fig. 6 is a view showing a state of recognizing the edges of the separator in the image of the cell of Fig.

촬영된 셀의 이미지에 전극탭이 없는 경우에는, 도 5에 도시된 바와 같이 셀(10)의 이미지에서 분리막의 모서리에 해당하는 패턴(

Figure 112014014679332-pat00005
,
Figure 112014014679332-pat00006
)을 찾고, 그 패턴 내에서 모서리(16,18)을 찾는다.If there is no electrode tab in the image of the photographed cell, a pattern corresponding to the edge of the separator in the image of the cell 10
Figure 112014014679332-pat00005
,
Figure 112014014679332-pat00006
), And finds the edges (16, 18) in the pattern.

적층된 셀에서 가장 면적이 큰 부분은 분리막이 되므로, 분리막을 기준으로 패턴을 파악하는 것이 바람직하다.It is preferable that the pattern having the largest area in the stacked cells becomes a separation membrane, and therefore, it is preferable to grasp the pattern on the basis of the separation membrane.

이렇게 인식된 모서리(13,15)의 좌표가, 정렬 위치(P)의 대응하는 모서리의 좌표에 대해 얼마나 벗어나 있는지 그 좌표(x,y,θ)를 확인하면, 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악할 수 있다.Confirming the coordinates (x, y, [theta]) of the coordinates of the recognized edges 13 and 15 with respect to the coordinates of the corresponding edges of the alignment position P, The relative position of the cell can be grasped.

한편 분리막의 단부는 라운딩(R) 처리가 되어 있는 경우가 대부분이다. 라운딩 처리가 된 경우에는 라운딩 부위를 따라 일 지점을 설정하는 것이 모호하고 그 기준도 일정하게 하기 어렵다. 따라서 본 발명에서는 분리막의 모서리에 형성된 라운딩(R) 부위를 제외하고 분리막의 모서리를 이루는 양 변이 만나는 가상의 지점을 기준으로 모서리 좌표를 정하도록 하였다. 이는 정렬위치(P)에 대해서도 마찬가지로 적용할 수 있다.On the other hand, the end portion of the separation membrane is mostly subjected to rounding (R) treatment. When the rounding process is performed, it is difficult to set one point along the rounded portion and it is difficult to keep the standard constant. Therefore, in the present invention, the corner coordinates are determined based on a virtual point where both sides forming the edges of the separation membrane meet, except for the rounded portion (R) formed at the edge of the separation membrane. This is also applicable to the alignment position P as well.

이러한 방식으로 셀의 위치를 파악하여 정렬 위치(P)에 대해 현재 셀이 가지는 위치 편차를 파악하면, 상술한 바와 같은 정렬 스테이지의 이동에 의해 정렬을 하는 것이 가능하게 된다.When the position of the cell is grasped in this manner and the positional deviation of the current cell with respect to the alignment position P is grasped, alignment can be performed by the movement of the alignment stage as described above.

본 발명의 각 구성은 그 기능이 훼손되지 아니하는 범위 내에서 적절히 변경 가능함은 물론이며, 상술한 실시예에 한정되지 않고 특허청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상의 범위 안에서 자유롭게 변경될 수 있다.It is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, but is capable of modifications within the technical scope of the invention described in the claims.

10: 셀
12: 음극탭
13: 음극탭 모서리
14: 양극탭
15: 양극탭 모서리
16: 셀 제1모서리
18: 셀 제2모서리
20: 정렬 스테이지
70: 정렬 지그
80: 게이지
P: 정렬 위치
R: 라운딩
10: Cell
12: Negative electrode tab
13: cathode tab edge
14:
15: Positive tab edge
16: cell first corner
18: cell second corner
20: Alignment stage
70: alignment jig
80: Gauge
P: alignment position
R: Rounding

Claims (11)

정렬 스테이지(20) 상에 셀(10)을 로딩하는 로딩 단계;
로딩된 상기 셀(10)을 비젼으로 촬영하는 촬영 단계;
촬영된 이미지를 근거로 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 파악하는 인식 및 분석 단계; 및
상기 셀의 상대적인 위치가 제거되는 방향으로 정렬 스테이지(20)를 이동하는 정렬 단계;를 포함하고,
상기 인식 및 분석 단계는, 촬영된 셀의 이미지에서 분리막의 모서리(16,18) 좌표를 복수 개 인식하여 정렬위치(P)의 분리막의 모서리 좌표와 대응시킴으로써 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 분석하며,
상기 분리막의 모서리 좌표는 분리막의 모서리에 형성된 라운딩(R) 부위를 제외하고 분리막의 양 변이 만나는 가상의 지점을 기준으로 모서리 좌표를 분석하는 비접촉식 셀 정렬방법.
Loading a cell (10) on an alignment stage (20);
A photographing step of photographing the loaded cell (10) with a vision;
Recognizing and analyzing the relative position of the current cell with respect to the alignment position P based on the photographed image; And
And moving the alignment stage (20) in a direction in which the relative position of the cell is removed,
The recognizing and analyzing step recognizes a plurality of the coordinates of the edges 16,18 of the separated cell in the image of the captured cell and associates it with the corner coordinates of the separating film at the aligning position P, Analyze relative position,
Wherein the edge coordinates of the separation membrane are obtained by analyzing edge coordinates based on a virtual point at which both sides of the separation membrane meet except for a rounded portion formed at an edge of the separation membrane.
청구항 1에 있어서,
정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치는 x,y 좌표 및 기울어진 각도(θ)로 계산되는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
The method according to claim 1,
Wherein the relative position of the cell with respect to the alignment position is calculated as x, y coordinates and a tilted angle (?).
청구항 2에 있어서,
상기 정렬 단계는, 정렬위치(P)에 대해 현재 셀의 기울어진 각도(θ)를 제거하는 방향으로 정렬 스테이지(20)가 회전하는 제1정렬단계와, 정렬위치(P)를 향해 정렬 스테이지(20)가 x,y 방향으로 평행 이동하는 제2정렬단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
The method of claim 2,
The alignment step includes a first alignment step in which the alignment stage 20 rotates in a direction to eliminate the tilted angle of the current cell with respect to the alignment position P, 20) are moved in parallel in the x and y directions.
청구항 3에 있어서,
상기 제1정렬단계가 진행된 후 제2정렬단계가 진행되는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
The method of claim 3,
Wherein the second alignment step is performed after the first alignment step.
청구항 4에 있어서,
정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치인 x,y 좌표는 제1정렬단계가 진행된 후 촬영 단계와 인식 및 분석 단계를 한 번 더 거쳐 파악하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
The method of claim 4,
Wherein the x, y coordinates, which are relative positions of the cell with respect to the alignment position, are grasped through the imaging step and the recognition and analysis step once more after the first alignment step.
청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서,
상기 비젼은 셀을 비추는 조명과, 상기 셀을 가시광선 영역에서 촬영하는 카메라를 포함하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein the vision comprises illumination illuminating a cell and a camera imaging the cell in a visible light region.
청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서,
상기 인식 및 분석 단계는, 촬영된 셀의 이미지에서 전극 탭(12,14)의 모서리(13,15) 좌표를 복수 개 인식하여 정렬위치(P)의 전극 탭의 모서리 좌표와 대응시킴으로써 정렬위치(P)에 대한 현재 셀의 상대적인 위치를 분석하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
The method according to any one of claims 1 to 5,
The recognizing and analyzing step recognizes a plurality of the coordinates (13, 15) of the edges (13, 15) of the electrode tabs (12, 14) in the image of the photographed cell and associates them with the corner coordinates of the electrode tabs at the alignment position P) of the current cell is analyzed.
청구항 7에 있어서,
상기 전극 탭(12,14)의 모서리(13,15) 좌표는 전극탭의 외곽선과 분리막의 외곽선이 만나는 지점인 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
The method of claim 7,
Wherein the coordinates of the edges (13, 15) of the electrode tabs (12, 14) are the points where the outline of the electrode tab and the outline of the separation membrane meet.
삭제delete 삭제delete 청구항 1 내지 청구항 5 중 어느 한 항에 있어서,
정렬위치에 대한 셀의 상대적인 위치 편차가 로딩되는 셀의 정렬과정마다 일정 수준 이상 반복되는 것으로 인식되는 경우, 셀의 로딩되는 위치를 보정하여 상기 로딩 단계에서 발생하는 위치 편차를 해소하는 것을 특징으로 하는 비접촉식 셀 정렬방법.
The method according to any one of claims 1 to 5,
When the relative positional deviation of the cell with respect to the alignment position is recognized to be repeated a predetermined level or more in every alignment process of the loaded cell, the positional deviation occurring in the loading step is corrected by correcting the position of the cell to be loaded Contactless cell alignment method.
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