KR101381360B1 - 나노결정 3차원 가공방법 및 표시장치 - Google Patents
나노결정 3차원 가공방법 및 표시장치 Download PDFInfo
- Publication number
- KR101381360B1 KR101381360B1 KR1020070094080A KR20070094080A KR101381360B1 KR 101381360 B1 KR101381360 B1 KR 101381360B1 KR 1020070094080 A KR1020070094080 A KR 1020070094080A KR 20070094080 A KR20070094080 A KR 20070094080A KR 101381360 B1 KR101381360 B1 KR 101381360B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- acid
- group
- compound
- trans
- carbon atoms
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82B—NANOSTRUCTURES FORMED BY MANIPULATION OF INDIVIDUAL ATOMS, MOLECULES, OR LIMITED COLLECTIONS OF ATOMS OR MOLECULES AS DISCRETE UNITS; MANUFACTURE OR TREATMENT THEREOF
- B82B3/00—Manufacture or treatment of nanostructures by manipulation of individual atoms or molecules, or limited collections of atoms or molecules as discrete units
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/0037—Production of three-dimensional images
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/0002—Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/0005—Production of optical devices or components in so far as characterised by the lithographic processes or materials used therefor
- G03F7/0007—Filters, e.g. additive colour filters; Components for display devices
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/0042—Photosensitive materials with inorganic or organometallic light-sensitive compounds not otherwise provided for, e.g. inorganic resists
- G03F7/0043—Chalcogenides; Silicon, germanium, arsenic or derivatives thereof; Metals, oxides or alloys thereof
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/20—Exposure; Apparatus therefor
- G03F7/2051—Exposure without an original mask, e.g. using a programmed deflection of a point source, by scanning, by drawing with a light beam, using an addressed light or corpuscular source
- G03F7/2053—Exposure without an original mask, e.g. using a programmed deflection of a point source, by scanning, by drawing with a light beam, using an addressed light or corpuscular source using a laser
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Luminescent Compositions (AREA)
- Materials For Photolithography (AREA)
Abstract
Description
Claims (29)
- 감광성 작용기를 가진 화합물로 표면 배위된 나노결정 및 광경화성 화합물을 포함하는 감광성 조성물을 준비하는 단계:기판 위에 상기 표면 배위된 나노결정 및 광경화성 화합물을 포함하는 감광성 조성물의 박막을 형성하는 단계;상기 박막을 3차원 가공하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 3차원 가공 단계는 나노 임프린트 리소그래피(nano-imprint lithography), 미세접촉 인쇄방법(microcontact printing), 복제 몰딩법(replica molding), 미세전달 몰딩법(microtransfer molding) 또는 마이크로 광조형법(microstereolithography)에 의해서 수행되는 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 2항에 있어서, 상기 마이크로 광조형법(microstereolithography)은 이광자 현상을 이용하는 마이크로 광조형법(microstereolithography)인 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 박막 형성 단계는 스핀코팅, 딥코팅, 롤코팅, 스크린 코팅, 분무코팅, 스핀 캐스팅, 흐름코팅, 스크린 인쇄, 잉크젯 또는 드롭캐스팅에 의해 수행되는 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 나노결정은 II-VI족 화합물, III-V족 화합물, IV-VI족 화합물, IV족 화합물 및 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 반도체 나노결정임을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 5항에 있어서, 상기 II-VI족 화합물은 CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnO, HgS, HgSe, HgTe의 이원소 화합물; CdSeS, CdSeTe, CdSTe, ZnSeS, ZnSeTe, ZnSTe, HgSeS, HgSeTe, HgSTe, CdZnS, CdZnSe, CdZnTe, CdHgS, CdHgSe, CdHgTe, HgZnS, HgZnSe의 삼원소 화합물; 및 HggZnTe, CdZnSeS, CdZnSeTe, CdZnSTe, CdHgSeS, CdHgSeTe, CdHgSTe, HgZnSeS, HgZnSeTe, HgZnSTe의 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택되는 물질이고,상기 III-V족 화합물 반도체는 GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb의 이원소 화합물; GaNP, GaNAs, GaNSb, GaPAs, GaPSb, AlNP, AlNAs, AlNSb, AlPAs, AlPSb, InNP, InNAs, InNSb, InPAs, InPSb, GaAlNP의 삼원소 화합물; 및 GaAlNAs, GaAlNSb, GaAlPAs, GaAlPSb, GaInNP, GaInNAs, GaInNSb, GaInPAs, GaInPSb, InAlNP, InAlNAs, InAlNSb, InAlPAs, InAlPSb의 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택되는 물질이고,상기 IV-VI족 화합물은 SnS, SnSe, SnTe, PbS, PbSe, PbTe의 이원소 화합물; SnSeS, SnSeTe, SnSTe, PbSeS, PbSeTe, PbSTe, SnPbS, SnPbSe, SnPbTe의 삼원소 화합물; 및 SnPbSSe, SnPbSeTe, SnPbSTe의 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택되는 물질이고,상기 IV족 화합물은 Si, Ge의 단일 원소 화합물 또는 SiC, SiGe의 이원소 화합물로 이루어진 군에서 선택되는 물질인 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 나노결정은 TiO2, ZnO, SiO2, SnO2, WO3, Ta2O3, BaTiO3, BaZrO3, ZrO2, HfO2, Al2O3, Y2O3, 및 ZrSiO4로 구성되는 군에서 선택되는 것임을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 감광성 작용기를 갖는 화합물은 하기 화학식 1에 의해 표시되는 화합물인 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법:[화학식 1]X-A-B상기 식에서, X는 NC-, HOOC-, HRN-, POOOH-, RS- 또는 RSS- (이 때, R는 수소이거나, 탄소수 1 내지 10 의 포화 또는 불포화 지방족 탄화수소기이고) 이고; A는 직접결합이거나, 지방족 유기기, 페닐렌기 또는 비페닐렌기이고; B는 중간 또는 말단에 -CN, -COOH, 할로겐기, 탄소수 1 내지 3의 할로겐화 알킬, 아민기, 탄소수 6 내지 15의 방향족 탄화수소기 또는 F, Cl, Br, 할로겐화 알킬, R'O- (이 때, R'은 수소 또는 탄소수 1 내지 5의 알킬임), -COOH, 아민기 또는 -NO2로 치환된 탄소수 6 내지 12의 방향족 탄화수소기를 가질 수 있는, 1 이상의 탄소-탄소 이중결합을 포함한 유기기이다].
- 제 8항에 있어서, 상기 화학식 1 중 A의 지방족 유기기는 포화 지방족 탄화수소기, 지방족 에스테르기, 지방족 아마이드기, 지방족 옥시카르보닐기 또는 지방족 에테르기인 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 8항에 있어서, 상기 화학식 1 중 B는 하기 화학식 2로 표시되는 유기기인 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법:[화학식 2]-CR1=CR2R3상기 식에서, R1은 수소, -COOH, 할로겐기, 탄소수 1 내지 5의 알킬 또는 할로겐화 알킬기 이고, R2 및 R3는 각각 독립적으로, 수소, 탄소수 1 내지 30의 알킬, -CN, -COOH, 할로겐기, 탄소수 1 내지 5의 할로겐화 알킬기, 1 이상의 탄소-탄소 이중결합을 포함한 탄소수 2 내지 30의 불포화 지방족 탄화수소기, 탄소수 6 내지 12의 방향족 탄화수소기 또는 1 이상의 수소가 F, Cl, Br, 히드록시, 탄소수 1 내지 5의 할로겐화 알킬, 아민기, R'O- (이 때, R'은 탄소수 1 내지 5의 알킬임), -COOH 또는 -NO2로 치환된 탄소수 6 내지 12의 방향족 탄화수소기임.
- 제 8항에 있어서, 상기 감광성 작용기를 갖는 화합물은 아크릴산 화합물, 불포화 지방산 화합물, 신남산 화합물, 비닐 벤조산 화합물, 아크릴로 니트릴계 화합물 또는 불포화 니트릴계 화합물, 불포화 아민화합물, 불포화 설파이드 화합물 및 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 것임을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 11항에 있어서, 상기 감광성 작용기를 갖는 화합물은 메타크릴산(methacrylic acid), 크로톤산 (crotonic acid), 비닐아세트산 (vinylacetic acid), 티그린산 (tiglic acid), 3,3-디메틸메타크릴산 (3,3-dimethylacrylic acid), 트랜스-2-펜텐산 (trans-2-pentenoic acid), 4-펜텐산(4-pentenoic acid), 트랜스-2-메틸-2-펜텐산 (trans-2-methyl-2-pentenoic acid), 2,2-디메틸-4-펜텐산 (2,2-dimethyl-4-pentenoic acid), 트랜스-2-헥센산(trans-2-hexenoic acid), 트랜스-3-헥센산 (trans-3-hexenoic acid), 2-에틸-2-헥센산 (2-ethyl-2-hexenoic acid), 6-헵텐산 (6-heptenoic acid), 2-옥텐산 (2-octenoic acid), 시트로넬린산 (citronellic acid), 운데실렌산 (undecylenic acid), 미리스톨레산 (myristoleic acid), 팔미톨레산 (palmitoleic acid), 올레산 (oleic acid), 엘라이드산(elaidic acid), 시스-11-엘코센산(cis-11-elcosenoic acid), 유르산(euric acid), 너르본산 (nervonic acid), 트랜스-2,4-펜타디엔산 (trans-2,4-pentadienoic acid), 2,4-헥사디엔산 (2,4-hexadienoic acid), 2,6-헵타디엔산 (2,6-heptadienoic acid), 제란산 (geranic acid), 리놀레산 (linoleic acid), 11,14-에이코사디엔산 (11,14-eicosadienoic acid), 시스-8,11,14-에이코사트리엔산 (cis-8,11,14-eicosatrienoic acid), 아라키돈산 (arachidonic acid), 시스-5,8,11,14,17-에이코사펜타엔산 (cis-5,8,11,14,17-eicosapentaenoic acid), 시스-4,7,10,13,16,19-도코사헥사엔산 (cis-4,7,10,13,16,19-docosahexaenoic acid), 푸마르산 (fumaric acid), 말레산 (maleic acid), 이타콘산 (itaconic acid), 시라콘산 (ciraconic acid), 메사콘산 (mesaconic acid), 트랜스-글루타콘산 (trans-glutaconic acid), 트랜스-베타-히드로뮤콘산 (trans-beta-hydromuconic acid), 트랜스-트라우마트산 (trans-traumatic acid), 트랜스 뮤콘산 (trans-muconic acid), 시스-아코니트산 (cis-aconitic acid), 트랜스-아코니트산 (trans-aconitic acid), 시스-3-클로로아크릴산 (cis-3-chloroacrylic acid), 트랜스-3-클로로아크릴산 (trans-3-chloroacrylic acid), 2-브로모아크릴산 (2-bromoacrylic acid), 2-(트리플루오로메틸)아크릴산 (2-(trifluoromethyl)acrylic acid), 트랜스-스티릴아세트산 (trans-styrylacetic acid), 트랜스-신남산 (trans-cinnamic acid), 알파-메틸신남산 (alpha-methylcinnamic acid), 2-메틸신남산 (2-methylcinnamic acid), 2-플루오로신남산 (2-fluorocinnamic acid), 2-(트리플루오로메틸)신남산 (2-(trifluoromethyl)cinnamic acid), 2-클로로신남산 (2-chlorocinnamic acid), 2-메톡시신남산 (2-methoxycinnamic acid), 2-히드록시신남산 (2-hydroxycinnamic acid), 2-니트로신남산 (2-nitrocinnamic acid), 2-카르복시신남산 (2-carboxycinnamic acid), 트랜스-3-플루오로신남산 (trans-3-fluorocinnamic acid), 3-(트리플루오로메틸)신남산 (3-(trifluoromethyl)cinnamic acid), 3-클로로신남산 (3-chlorocinnamic acid), 3-브로모신남산 (3-bromocinnamic acid), 3-메톡시신남산 (3-methoxycinnamic acid), 3-히드록시신남산 (3-hydroxycinnamic acid), 3-니트로신남산 (3-nitrocinnamic acid), 4-메틸신남산 (4-methylcinnamic acid), 4-플루오로신남산 (4-fluorocinnamic acid), 트랜스-4-(트리플루오로메틸)-신남산 (trans-4-(trifluoromethyl)-cinnamic acid), 4-클로로신남산 (4-chlorocinnamic acid), 4-브로모신남산 (4-bromocinnamic acid), 4-메톡시신남산 (4-methoxycinnamic acid), 4-히드록시신남산 (4-hydroxycinnamic acid), 4-니트로신남산 (4-nitrocinnamic acid), 3,3-디메톡시신남산 (3,3-dimethoxycinnamic acid), 4-비닐벤조산 (4-vinylbenzoic acid), 알릴 메틸설파이드 (Allyl methyl sulfide), 알릴디설파이드 (allyl disulfide), 디알릴아민 (diallyl amine), 올레일아민 (oleylamine), 3-아미노-1-프로판올 비닐 에테르 (3-amino-1-propanol vinyl ether), 4-클로로신나모니트릴 (4-chlorocinnamonitrile), 4-메톡시신나모니트릴 (4-methoxycinnamonitrile), 3,4-디메톡시신나모니트릴 (3,4-dimethoxycinnamonitrile), 4-디메틸아미노신나모니트릴 (4-dimethylaminocinnamonitrile), 아크릴로니트릴 (acrylonitrile), 알릴시아나이드 (allyl cyanide), 크로토니트릴 (crotononitrile), 메타크릴로니트릴 (methacrylonitrile), 시스-2-펜텐니트릴 (cis-2-pentenenitrile), 트랜스-3-펜텐 니트릴 (trans-3-pentenenitrile), 3,7-디메틸-2,6-옥타디엔니트릴 (3,7-dimethyl-2,6-octadienenitrile), 1,4-디시아노-2-부텐 (1,4-dicyano-2-butene) 및 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 것임을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 1항에 있어서, 상기 광경화성 화합물은 1 이상의 아크릴기, 1 이상의 비닐기, 또는 1 이상의 아크릴기와 1 이상의 비닐기를 가진 고분자, 에스테르계 화합물, 에테르계 화합물, 및 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 것임을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 13항에 있어서, 상기 광경화성 화합물은 2 이상의 아크릴기, 2 이상의 비닐기, 또는 2 이상의 아크릴기와 2 이상의 비닐기를 포함하는 다관능성 아크릴레이트계 화합물 또는 다관능성 폴리알킬렌옥사이드 화합물, 1 이상의 아크릴기, 1 이상의 비닐기, 또는 1 이상의 아크릴기와 1 이상의 비닐기를 포함하는 폴리실록산계 중합체, 및 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 것임을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 14항에 있어서, 상기 광경화성 화합물은 아릴옥실레이티드 시클로헥실 디아크릴레이트 (Allyloxylated cyclohexyl diacrylate), 비스(아크릴옥시 에틸)히드록실 이소시아뉴레이트 [Bis(acryloxy ethyl)hydroxyl isocyanurate], 비스(아크릴옥시 네오펜틸글리콜)아디페이트 [Bis (acryloxy neopentylglycol) adipate], 비스페놀A 디아크릴레이트 (Bisphenol A diacrylate), 비스페놀A 디메타크릴레이트 (Bisphenyl A dimethacrylate), 1,4-부탄디올 디아크릴레이트 (1,4-butanediol diacrylate), 1,4-부탄디올 디메타크릴레이트 (1,4-butanediol dimethacrylate), 1,3-부틸렌글리콜 다아크릴레이트 (1,3-butyleneglycol diacrylate), 1,3-부틸렌글리콜 다메타크릴레이트 (1,3-butyleneglycol dimethacrylate), 디시클로펜타닐 디아크릴레이트 (dicyclopentanyl diacrylate), 디에틸렌글리콜디아크릴레이트 (diethyleneglycol diacrylate), 디에틸렌글리콜디메타크릴레이트 (diethyleneglycol dimethacrylate), 디펜타에리쓰롤헥사아크릴레이트 (dipentaerythirol hexaacrylate), 디펜타에리쓰롤모노히드록시헥사아크릴레이트 (dipentaerythirol monohydroxy pentacrylate), 디트리메틸올프로판 테트라아크릴레이트(ditrimethylolprpane tetraacrylate), 에틸렌글리콜 디메타크릴레이트 (ethyleneglycol dimethacrylate), 글리세롤메타크릴레이트 (glyceol methacrylate), 1,6-헥산디올 디아크릴레이트 (1,6-hexanediol diacrylate), 네오펜틸글리콜 디메타크릴레이트 (neopentylglycol dimethacrylate), 네오펜틸글리콜 히드록시피바레이트 디아크릴레이트 (neopentylglycol hydroxypivalate diacrylate), 펜타에리쓰롤 트리아크릴레이트 (pentaerythritol triacrylate), 펜타에리쓰롤 테트라아크릴레이트 (pentaerythritol tetraacrylate), 인산 디메타크릴레이트(phosphoric acid dimethacrylate), 폴리에틸렌글리콜 디아크릴레이트(polyetyleneglycol diacrylate), 폴리프로필렌글리콜 디아크릴레이트 (polypropyleneglycol diacrylate), 테트라에틸렌글리콜 디아크릴레이트 (tetraethyleneglycol diacrylate), 테트라브로모비스페놀 A 디아크릴레이트 (tetrabromobisphenol A diacrylate), 트리에틸렌글리콜 디비닐에테르 (triethyleneglycol divinylether), 트리글리세롤 디아크릴레이트 (triglycerol diacrylate), 트리메틸올 프로판 트리아크릴레이트 (trimethylolpropane triacrylate), 트리프로필렌글리콜 디아크릴레이트 (tripropyleneglycol diacrylate), 트리스(아크릴옥시에틸)이소시아뉴레이트 [tris(acryloxyethyl)isocyanurate], 인산 트리아크릴레이트 (phosphoric acid triacrylate), 인산 디아크릴레이트 (phosphoric acid diacrylate), 아크릴산 프로파르길 에스테르 (acrylic acid propargyl ester), 말단에 비닐기를 가진 폴리디메틸실록산 (Vinyl teminated Polydimethylsiloxane), 말단에 비닐기를 가진 디페닐실록산-디메틸실록산 공중합체 (Vinyl teminated diphenylsiloxane-dimethylsiloxane copolymer), 말단에 비닐기를 갖는 폴리페닐메틸실록산 (Vinyl teminated Polyphenylmethylsiloxane), 말단에 비닐기를 갖는 트리플루오로메틸실록산-디메틸실록산 공중합체 (Vinyl teminated trifluoromethylsiloxane-dimethylsiloxane copolymer), 말단에 비닐기를 갖는 디에틸실록산-디메틸실록산 공중합체 (Vinyl teminated diethylsiloxane-dimethylsiloxane copolymer), 비닐메틸실록산 (Vinylmethylsiloxane), 말단에 모노메타크릴옥시프로필기를 갖는 폴리디메틸실록산 (Monomethacryloyloxypropyl Terminated Polydimethyl siloxane), 말단에 모노비닐기를 가지는 폴리디메틸실록산 (Monovinyl Terminated Polydimethyl siloxane), 말단에 모노알릴기 또는 모노트리메틸실록시기를 갖는 폴리에틸렌 옥사이드 (Monoallyl-mono trimethylsiloxy terminated polyethylene oxide) 및 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 것임을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 13항에 있어서, 상기 감광성 조성물이 광개시제 및 이광자 흡수 효과를 제공하는 화합물을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 제 16항에 있어서, 상기 광개시제는 아세토페논계, 벤조인계, 벤조페논계, 티오크산톤계 및 트라아진계로 구성되는 군에서 선택된 1종 이상인 것을 특징으로 하는 나노결정 3차원 가공방법.
- 백라이트부, 구동부, 및 표시부를 포함하는 표시 장치로서, 상기 표시부는 감광성 작용기를 갖는 화합물 및 서로 다른 2 가지 이상의 색을 발광하는 광경화성 화합물에 의해 표면배위된 나노결정의 3차원 구조를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제 19항에 있어서, 상기 백라이트부의 광원은 발광 다이오드, 유기 발광 다이오드, 음극관 또는 면광원인 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제 19항에 있어서, 상기 나노결정은 II-VI족 화합물, III-V족 화합물, IV-VI족 화합물, IV족 화합물 및 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 반도체 나노결정임을 특징으로 하는 표시장치.
- 제 21항에 있어서, 상기 II-VI족 화합물은 CdSe, CdTe, ZnS, ZnSe, ZnTe, ZnO, HgS, HgSe, HgTe의 이원소 화합물; CdSeS, CdSeTe, CdSTe, ZnSeS, ZnSeTe, ZnSTe, HgSeS, HgSeTe, HgSTe, CdZnS, CdZnSe, CdZnTe, CdHgS, CdHgSe, CdHgTe, HgZnS, HgZnSe의 삼원소 화합물; 및 HggZnTe, CdZnSeS, CdZnSeTe, CdZnSTe, CdHgSeS, CdHgSeTe, CdHgSTe, HgZnSeS, HgZnSeTe, HgZnSTe의 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택되는 물질이고,상기 III-V족 화합물 반도체는 GaN, GaP, GaAs, GaSb, AlN, AlP, AlAs, AlSb, InN, InP, InAs, InSb의 이원소 화합물; GaNP, GaNAs, GaNSb, GaPAs, GaPSb, AlNP, AlNAs, AlNSb, AlPAs, AlPSb, InNP, InNAs, InNSb, InPAs, InPSb, GaAlNP의 삼원소 화합물; 및 GaAlNAs, GaAlNSb, GaAlPAs, GaAlPSb, GaInNP, GaInNAs, GaInNSb, GaInPAs, GaInPSb, InAlNP, InAlNAs, InAlNSb, InAlPAs, InAlPSb의 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택되는 물질이고,상기 IV-VI족 화합물은 SnS, SnSe, SnTe, PbS, PbSe, PbTe의 이원소 화합물; SnSeS, SnSeTe, SnSTe, PbSeS, PbSeTe, PbSTe, SnPbS, SnPbSe, SnPbTe의 삼원소 화합물; 및 SnPbSSe, SnPbSeTe, SnPbSTe의 사원소 화합물로 이루어진 군에서 선택되는 물질이고,상기 IV족 화합물은 Si, Ge의 단일 원소 화합물 또는 SiC, SiGe의 이원소 화 합물로 이루어진 군에서 선택되는 물질인 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제 19항에 있어서, 상기 나노결정은 TiO2, ZnO, SiO2, SnO2, WO3, Ta2O3, BaTiO3, BaZrO3, ZrO2, HfO2, Al2O3, Y2O3, 및 ZrSiO4로 구성되는 군에서 선택되는 것임을 특징으로 하는 표시장치.
- 제 19항에 있어서, 상기 감광성 작용기를 갖는 화합물은 하기 화학식 1에 의해 표시되는 화합물인 것을 특징으로 하는 표시장치:[화학식 1]X-A-B상기 식에서,X는 NC-, HOOC-, HRN-, POOOH-, RS- 또는 RSS- (이 때, R는 수소이거나, 탄소수 1 내지 10 의 포화 지방족 탄화수소기, 또는 탄소수 2 내지 10의 불포화 지방족 탄화수소기이고)이고;A는 직접결합이거나, 지방족 유기기, 페닐렌기 또는 비페닐렌기이고;B는 중간 또는 말단에 -CN, -COOH, 할로겐기, 탄소수 1 내지 3의 할로겐화 알킬, 아민기, 탄소수 6 내지 15의 방향족 탄화수소기 또는 F, Cl, Br, 할로겐화 알킬, R'O- (이 때, R'은 수소 또는 탄소수 1 내지 5의 알킬임), -COOH, 아민기 또는 -NO2로 치환된 탄소수 6 내지 12의 방향족 탄화수소기를 가질 수 있는, 1 이상의 탄소-탄소 이중결합을 포함한 유기기이다].
- 제 24항에 있어서, 상기 화학식 1 중 A의 지방족 유기기는 포화 지방족 탄화수소기, 지방족 에스테르기, 지방족 아마이드기, 지방족 옥시카르보닐기 또는 지방족 에테르기인 것을 특징으로 하는 표시장치.
- 제 24항에 있어서, 상기 화학식 1 중 B는 하기 화학식 2를 가지는 유기기인 것을 특징으로 하는 표시장치:[화학식 2]-CR1=CR2R3상기 식에서,R1은 수소, -COOH, 할로겐기, 탄소수 1 내지 5의 알킬 또는 할로겐화 알킬기 이고,R2 및 R3는 각각 독립적으로, 수소, 탄소수 1 내지 30의 알킬, -CN, -COOH, 할로겐기, 탄소수 1 내지 5의 할로겐화 알킬기, 1 이상의 탄소-탄소 이중결합을 포함한 탄소수 2 내지 30의 불포화 지방족 탄화수소기, 탄소수 6 내지 12의 방향족 탄화수소기 또는 1 이상의 수소가 F, Cl, Br, 히드록시, 탄소수 1 내지 5의 할로겐화 알킬, 아민기, R'O- (이 때, R'은 탄소수 1 내지 5의 알킬임), -COOH 또는 -NO2로 치환된 탄소수 6 내지 12의 방향족 탄화수소기임.
- 제 24항에 있어서, 상기 광경화성 화합물은 아크릴산 화합물, 불포화 지방산 화합물, 신남산 화합물, 비닐 벤조산 화합물, 아크릴로 니트릴계 화합물 또는 불포화 니트릴계 화합물, 불포화 아민화합물, 불포화 설파이드 화합물 및 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 것임을 특징으로 하는 표시장치.
- 제 27항에 있어서, 상기 광경화성 화합물은 메타크릴산(methacrylic acid), 크로톤산 (crotonic acid), 비닐아세트산 (vinylacetic acid), 티그린산 (tiglic acid), 3,3-디메틸메타크릴산 (3,3-dimethylacrylic acid), 트랜스-2-펜텐산 (trans-2-pentenoic acid), 4-펜텐산(4-pentenoic acid), 트랜스-2-메틸-2-펜텐산 (trans-2-methyl-2-pentenoic acid), 2,2-디메틸-4-펜텐산 (2,2-dimethyl-4-pentenoic acid), 트랜스-2-헥센산(trans-2-hexenoic acid), 트랜스-3-헥센산 (trans-3-hexenoic acid), 2-에틸-2-헥센산 (2-ethyl-2-hexenoic acid), 6-헵텐산 (6-heptenoic acid), 2-옥텐산 (2-octenoic acid), 시트로넬린산 (citronellic acid), 운데실렌산 (undecylenic acid), 미리스톨레산 (myristoleic acid), 팔미톨레산 (palmitoleic acid), 올레산 (oleic acid), 엘라이드산(elaidic acid), 시스-11-엘코센산(cis-11-elcosenoic acid), 유르산(euric acid), 너르본산 (nervonic acid), 트랜스-2,4-펜타디엔산 (trans-2,4-pentadienoic acid), 2,4-헥사디엔산 (2,4-hexadienoic acid), 2,6-헵타디엔산 (2,6-heptadienoic acid), 제란산 (geranic acid), 리놀레산 (linoleic acid), 11,14-에이코사디엔산 (11,14-eicosadienoic acid), 시스-8,11,14-에이코사트리엔산 (cis-8,11,14- eicosatrienoic acid), 아라키돈산 (arachidonic acid), 시스-5,8,11,14,17-에이코사펜타엔산 (cis-5,8,11,14,17-eicosapentaenoic acid), 시스-4,7,10,13,16,19-도코사헥사엔산 (cis-4,7,10,13,16,19-docosahexaenoic acid), 푸마르산 (fumaric acid), 말레산 (maleic acid), 이타콘산 (itaconic acid), 시라콘산 (ciraconic acid), 메사콘산 (mesaconic acid), 트랜스-글루타콘산 (trans-glutaconic acid), 트랜스-베타-히드로뮤콘산 (trans-beta-hydromuconic acid), 트랜스-트라우마트산 (trans-traumatic acid), 트랜스 뮤콘산 (trans-muconic acid), 시스-아코니트산 (cis-aconitic acid), 트랜스-아코니트산 (trans-aconitic acid), 시스-3-클로로아크릴산 (cis-3-chloroacrylic acid), 트랜스-3-클로로아크릴산 (trans-3-chloroacrylic acid), 2-브로모아크릴산 (2-bromoacrylic acid), 2-(트리플루오로메틸)아크릴산 (2-(trifluoromethyl)acrylic acid), 트랜스-스티릴아세트산 (trans-styrylacetic acid), 트랜스-신남산 (trans-cinnamic acid), 알파-메틸신남산 (alpha-methylcinnamic acid), 2-메틸신남산 (2-methylcinnamic acid), 2-플루오로신남산 (2-fluorocinnamic acid), 2-(트리플루오로메틸)신남산 (2-(trifluoromethyl)cinnamic acid), 2-클로로신남산 (2-chlorocinnamic acid), 2-메톡시신남산 (2-methoxycinnamic acid), 2-히드록시신남산 (2-hydroxycinnamic acid), 2-니트로신남산 (2-nitrocinnamic acid), 2-카르복시신남산 (2-carboxycinnamic acid), 트랜스-3-플루오로신남산 (trans-3-fluorocinnamic acid), 3-(트리플루오로메틸)신남산 (3-(trifluoromethyl)cinnamic acid), 3-클로로신남산 (3-chlorocinnamic acid), 3-브로모신남산 (3-bromocinnamic acid), 3-메톡시신남 산 (3-methoxycinnamic acid), 3-히드록시신남산 (3-hydroxycinnamic acid), 3-니트로신남산 (3-nitrocinnamic acid), 4-메틸신남산 (4-methylcinnamic acid), 4-플루오로신남산 (4-fluorocinnamic acid), 트랜스-4-(트리플루오로메틸)-신남산 (trans-4-(trifluoromethyl)-cinnamic acid), 4-클로로신남산 (4-chlorocinnamic acid), 4-브로모신남산 (4-bromocinnamic acid), 4-메톡시신남산 (4-methoxycinnamic acid), 4-히드록시신남산 (4-hydroxycinnamic acid), 4-니트로신남산 (4-nitrocinnamic acid), 3,3-디메톡시신남산 (3,3-dimethoxycinnamic acid), 4-비닐벤조산 (4-vinylbenzoic acid), 알릴 메틸설파이드 (Allyl methyl sulfide), 알릴디설파이드 (allyl disulfide), 디알릴아민 (diallyl amine), 올레일아민 (oleylamine), 3-아미노-1-프로판올 비닐 에테르 (3-amino-1-propanol vinyl ether), 4-클로로신나모니트릴 (4-chlorocinnamonitrile), 4-메톡시신나모니트릴 (4-methoxycinnamonitrile), 3,4-디메톡시신나모니트릴 (3,4-dimethoxycinnamonitrile), 4-디메틸아미노신나모니트릴 (4-dimethylaminocinnamonitrile), 아크릴로니트릴 (acrylonitrile), 알릴시아나이드 (allyl cyanide), 크로토니트릴 (crotononitrile), 메타크릴로니트릴 (methacrylonitrile), 시스-2-펜텐니트릴 (cis-2-pentenenitrile), 트랜스-3-펜텐니트릴 (trans-3-pentenenitrile), 3,7-디메틸-2,6-옥타디엔니트릴 (3,7-dimethyl-2,6-octadienenitrile), 1,4-디시아노-2-부텐 (1,4-dicyano-2-butene) 및 이들의 혼합물로 구성되는 군에서 선택되는 것임을 특징으로 하는 표시장치.
- 제 20항 내지 제 28항 중 어느 한 항의 표시장치를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020070094080A KR101381360B1 (ko) | 2007-09-17 | 2007-09-17 | 나노결정 3차원 가공방법 및 표시장치 |
| US12/050,650 US20090073349A1 (en) | 2007-09-17 | 2008-03-18 | Three-dimensional microfabrication method using photosensitive nanocrystals and display device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020070094080A KR101381360B1 (ko) | 2007-09-17 | 2007-09-17 | 나노결정 3차원 가공방법 및 표시장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20090028928A KR20090028928A (ko) | 2009-03-20 |
| KR101381360B1 true KR101381360B1 (ko) | 2014-04-14 |
Family
ID=40454045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020070094080A Expired - Fee Related KR101381360B1 (ko) | 2007-09-17 | 2007-09-17 | 나노결정 3차원 가공방법 및 표시장치 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US20090073349A1 (ko) |
| KR (1) | KR101381360B1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017099532A1 (ko) * | 2015-12-09 | 2017-06-15 | 한국화학연구원 | 색변환 광결정 구조체 및 이를 이용한 색변환 광결정 센서 |
Families Citing this family (34)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008133660A2 (en) | 2006-11-21 | 2008-11-06 | Qd Vision, Inc. | Nanocrystals including a group iiia element and a group va element, method, composition, device and other prodcucts |
| DE102008011811B3 (de) * | 2008-02-29 | 2009-10-15 | Anton Dr. Kasenbacher | Dentales Laserbearbeitungsgerät zur Bearbeitung von Zahnmaterial |
| DE102009005194B4 (de) * | 2009-01-20 | 2016-09-08 | Anton Kasenbacher | Laserbearbeitungsgerät zur Bearbeitung eines Materials |
| US20110049442A1 (en) * | 2009-03-31 | 2011-03-03 | Schreuder Michael A | Surface structures for enhancement of quantum yield in broad spectrum emission nanocrystals |
| WO2011100023A1 (en) | 2010-02-10 | 2011-08-18 | Qd Vision, Inc. | Semiconductor nanocrystals and methods of preparation |
| US9382470B2 (en) | 2010-07-01 | 2016-07-05 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Thiol containing compositions for preparing a composite, polymeric composites prepared therefrom, and articles including the same |
| WO2012099653A2 (en) | 2010-12-08 | 2012-07-26 | Qd Vision, Inc. | Semiconductor nanocrystals and methods of preparation |
| WO2012112899A1 (en) * | 2011-02-17 | 2012-08-23 | Vanderbilt University | Enhancement of light emission quantum yield in treated broad spectrum nanocrystals |
| US20140093690A1 (en) * | 2011-05-31 | 2014-04-03 | Nanoptics, Incorporated | Method and apparatus for lithographic manufacture of multi-component polymeric fiber plates |
| WO2013028253A1 (en) | 2011-08-19 | 2013-02-28 | Qd Vision, Inc. | Semiconductor nanocrystals and methods |
| US10008631B2 (en) | 2011-11-22 | 2018-06-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Coated semiconductor nanocrystals and products including same |
| WO2013078247A1 (en) | 2011-11-22 | 2013-05-30 | Qd Vision, Inc. | Methods of coating semiconductor nanocrystals, semiconductor nanocrystals, and products including same |
| US9726928B2 (en) * | 2011-12-09 | 2017-08-08 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Backlight unit and liquid crystal display including the same |
| KR101960469B1 (ko) | 2012-02-05 | 2019-03-20 | 삼성전자주식회사 | 반도체 나노결정, 그의 제조 방법, 조성물 및 제품 |
| KR101546937B1 (ko) | 2012-04-04 | 2015-08-25 | 삼성전자 주식회사 | 백라이트 유닛용 필름 및 이를 포함하는 백라이트 유닛과 액정 디스플레이 장치 |
| WO2013173409A1 (en) | 2012-05-15 | 2013-11-21 | Qd Vision, Inc. | Semiconductor nanocrystals and methods of preparation |
| US9951272B2 (en) | 2013-04-19 | 2018-04-24 | Samsung Research America, Inc. | Method of making semiconductor nanocrystals |
| CN104914675B (zh) * | 2015-04-08 | 2019-04-23 | 乐道战略材料有限公司 | 一种用于三维快速成型的含光敏性硅氧烷和超支化聚醚多元醇的光敏树脂组合物 |
| CN105062462A (zh) * | 2015-07-13 | 2015-11-18 | 京东方科技集团股份有限公司 | 发光复合物、发光材料、显示用基板及制备方法、显示装置 |
| JP2017032918A (ja) * | 2015-08-05 | 2017-02-09 | Jsr株式会社 | 硬化膜形成用組成物、硬化膜、発光表示素子、フィルム及び硬化膜の形成方法 |
| US10745569B2 (en) * | 2016-10-23 | 2020-08-18 | Sepideh Pourhashem | Anti-corrosion nanocomposite coating |
| JP7395487B2 (ja) * | 2018-02-22 | 2023-12-11 | メルク パテント ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 半電導性ナノ粒子 |
| US11884002B2 (en) * | 2018-04-24 | 2024-01-30 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Additive manufacturing of hierarchical three- dimensional micro-architected aerogels |
| CN109782537B (zh) * | 2019-03-07 | 2022-05-20 | 中山职业技术学院 | 一种高精度半导体用3d打印式负性光刻胶的制备方法 |
| KR102121055B1 (ko) * | 2019-06-07 | 2020-06-11 | 주식회사 신아티앤씨 | 카르복시기를 포함하는 (메타)아크릴레이트 구조의 양자점 리간드용 화합물, 상기 화합물로 형성된 리간드를 포함하는 양자점 입자, 상기 양자점 입자를 포함하는 양자점 입자 조성물, 및 상기 화합물의 제조방법 |
| KR20210021897A (ko) * | 2019-08-19 | 2021-03-02 | 주식회사 앤아이씨연구소 | 광가교성 양자점리간드 |
| EP4028485A1 (en) * | 2019-09-13 | 2022-07-20 | Merck Patent GmbH | Semiconducting nanoparticle |
| CN110983423B (zh) * | 2019-12-31 | 2021-07-09 | 哈尔滨工业大学 | 一种弯折不变色的胶体光子晶体薄膜及图案化的胶体光子晶体薄膜的制备方法 |
| KR102207330B1 (ko) * | 2020-06-03 | 2021-01-28 | 주식회사 신아티앤씨 | 카르복시기를 포함하는 (메타)아크릴레이트 구조의 양자점 리간드용 화합물, 상기 화합물로 형성된 리간드를 포함하는 양자점 입자, 상기 양자점 입자를 포함하는 양자점 입자 조성물, 및 상기 화합물의 제조방법 |
| KR102207331B1 (ko) * | 2020-06-03 | 2021-01-28 | 주식회사 신아티앤씨 | 카르복시기를 포함하는 (메타)아크릴레이트 구조의 양자점 리간드용 화합물, 상기 화합물로 형성된 리간드를 포함하는 양자점 입자, 상기 양자점 입자를 포함하는 양자점 입자 조성물, 및 상기 화합물의 제조방법 |
| KR102174457B1 (ko) * | 2020-06-03 | 2020-11-04 | 주식회사 신아티앤씨 | 카르복시기를 포함하는 (메타)아크릴레이트 구조의 양자점 리간드용 화합물, 상기 화합물로 형성된 리간드를 포함하는 양자점 입자, 상기 양자점 입자를 포함하는 양자점 입자 조성물, 및 상기 화합물의 제조방법 |
| KR102574776B1 (ko) * | 2020-12-10 | 2023-09-06 | 성균관대학교산학협력단 | 광가교성 양자점 리간드용 화합물, 광가교성 양자점, 이를 포함하는 포토레지스트 조성물 및 이를 이용한 전자 소자 |
| CN114456334B (zh) * | 2021-09-30 | 2023-02-03 | 浙江大学 | 多孔微针的制备方法、多孔微针以及微针阵列给药系统 |
| CN118344871A (zh) * | 2023-09-19 | 2024-07-16 | 苏州星烁纳米科技有限公司 | 具有反应活性的纳米晶、纳米晶光刻液、电致发光纳米晶层及其制备方法、电致发光器件 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009051017A (ja) | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Fujifilm Corp | 光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物、及びパターン付き基板の製造方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20020127224A1 (en) * | 2001-03-02 | 2002-09-12 | James Chen | Use of photoluminescent nanoparticles for photodynamic therapy |
| KR20050031887A (ko) * | 2003-09-30 | 2005-04-06 | 교세라미타 가부시키가이샤 | 스틸벤 유도체, 그의 제조방법 및 전자사진 감광체 |
| KR100697511B1 (ko) * | 2003-10-21 | 2007-03-20 | 삼성전자주식회사 | 광경화성 반도체 나노결정, 반도체 나노결정 패턴형성용 조성물 및 이들을 이용한 반도체 나노결정의 패턴 형성 방법 |
| US20050250052A1 (en) * | 2004-05-10 | 2005-11-10 | Nguyen Khe C | Maskless lithography using UV absorbing nano particle |
-
2007
- 2007-09-17 KR KR1020070094080A patent/KR101381360B1/ko not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-03-18 US US12/050,650 patent/US20090073349A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009051017A (ja) | 2007-08-23 | 2009-03-12 | Fujifilm Corp | 光ナノインプリントリソグラフィ用光硬化性組成物、及びパターン付き基板の製造方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2017099532A1 (ko) * | 2015-12-09 | 2017-06-15 | 한국화학연구원 | 색변환 광결정 구조체 및 이를 이용한 색변환 광결정 센서 |
| CN108291984A (zh) * | 2015-12-09 | 2018-07-17 | 韩国化学研究院 | 颜色转换光子晶体结构体和使用其的颜色转换光子晶体传感器 |
| CN108291984B (zh) * | 2015-12-09 | 2021-01-22 | 韩国化学研究院 | 颜色转换光子晶体结构体和使用其的颜色转换光子晶体传感器 |
| US10919998B2 (en) | 2015-12-09 | 2021-02-16 | Korea Research Institute Of Chemical Technology | Color-conversion photonic crystal structure and color-conversion photonic crystal sensor using same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20090028928A (ko) | 2009-03-20 |
| US20090073349A1 (en) | 2009-03-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101381360B1 (ko) | 나노결정 3차원 가공방법 및 표시장치 | |
| CN107722184B (zh) | 量子点聚集体颗粒、其制造方法、以及包括其的组合物、复合物和电子装置 | |
| CN108102640B (zh) | 量子点、包括其的组合物或复合物、和包括其的电子装置 | |
| US20210240077A1 (en) | Photosensitive compositions, preparation methods thereof, and quantum dot polymer composite pattern produced therefrom | |
| KR102676263B1 (ko) | 감광성 조성물, 이를 제조하기 위한 방법, 및 이로부터 제조된 양자점-폴리머 복합체와 이를 포함하는 전자 소자 | |
| KR102687678B1 (ko) | 감광성 조성물, 이를 제조하기 위한 방법, 및 이로부터 제조된 양자점-폴리머 복합체와 이를 포함하는 전자 소자 | |
| KR102747574B1 (ko) | 고분자 외층을 가지는 양자점, 이를 포함하는 감광성 조성물, 및 이로부터 제조된 양자점-폴리머 복합체 패턴 | |
| KR102631400B1 (ko) | 감광성 조성물, 이로부터 제조된 양자점-폴리머 복합체 패턴, 및 이를 포함하는 전자 소자 | |
| CN105629661B (zh) | 自发光感光性树脂组合物、彩色滤光器和图像显示装置 | |
| KR102581926B1 (ko) | 감광성 조성물, 이를 제조하기 위한 방법, 및 이로부터 제조된 양자점-폴리머 복합체 패턴 | |
| KR102092165B1 (ko) | 감광성 수지 조성물 | |
| TWI688599B (zh) | 自發射型感光性樹脂組合物、由其製造的濾色器和具有該濾色器的圖像顯示裝置 | |
| KR102601102B1 (ko) | 조성물, 이로부터 제조된 양자점-폴리머 복합체 및 이를 포함하는 소자 | |
| US20180210335A1 (en) | Photosensitive compositions and quantum dot polymer composite patterns including the same | |
| US10983432B2 (en) | Photosensitive compositions, preparation methods thereof, quantum dot polymer composite prepared therefrom | |
| TWI676672B (zh) | 量子點分散物、包含其之自發光型光感樹脂組成物、使用其製備的彩色濾光件與影像顯示裝置 | |
| CN110291431B (zh) | 滤色器和图像显示装置 | |
| CN107880871B (zh) | 量子点分散液、自发光感光性树脂组合物及其用途 | |
| CN111752099B (zh) | 感光性树脂组合物及应用、彩色滤光片及图像显示装置 | |
| CN106842816B (zh) | 自发光感光树脂组合物、彩色滤光片及图像显示装置 | |
| TW201732017A (zh) | 自發光感光樹脂組合物、濾色器和包括濾色器的顯示設備 | |
| KR20230017624A (ko) | 양자점 조성물, 이로부터 형성된 경화 패턴, 및 이를 포함하는 화상 표시 장치 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PA0109 | Patent application |
St.27 status event code: A-0-1-A10-A12-nap-PA0109 |
|
| PG1501 | Laying open of application |
St.27 status event code: A-1-1-Q10-Q12-nap-PG1501 |
|
| R18-X000 | Changes to party contact information recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R18-oth-X000 |
|
| R17-X000 | Change to representative recorded |
St.27 status event code: A-3-3-R10-R17-oth-X000 |
|
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D11-exm-PA0201 |
|
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D21-exm-PE0902 |
|
| P11-X000 | Amendment of application requested |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P11-nap-X000 |
|
| P13-X000 | Application amended |
St.27 status event code: A-2-2-P10-P13-nap-X000 |
|
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| PE0701 | Decision of registration |
St.27 status event code: A-1-2-D10-D22-exm-PE0701 |
|
| PR0701 | Registration of establishment |
St.27 status event code: A-2-4-F10-F11-exm-PR0701 |
|
| PR1002 | Payment of registration fee |
St.27 status event code: A-2-2-U10-U11-oth-PR1002 Fee payment year number: 1 |
|
| PG1601 | Publication of registration |
St.27 status event code: A-4-4-Q10-Q13-nap-PG1601 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee | ||
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: A-4-4-U10-U13-oth-PC1903 Not in force date: 20170329 Payment event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE |
|
| PC1903 | Unpaid annual fee |
St.27 status event code: N-4-6-H10-H13-oth-PC1903 Ip right cessation event data comment text: Termination Category : DEFAULT_OF_REGISTRATION_FEE Not in force date: 20170329 |