KR100506287B1

KR100506287B1 - Short presence tester and method

Info

Publication number: KR100506287B1
Application number: KR1019980004017A
Authority: KR
Inventors: 장용석
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 1998-02-11
Filing date: 1998-02-11
Publication date: 2005-11-11
Anticipated expiration: 2018-02-11
Also published as: KR19990069636A

Abstract

본 발명은 PWB 또는 PWA 상에서 발생하는 패턴 쇼트나 내부 쇼트를 발생시킨 부품의 위치를 쉽게 발견할 수 있도록 하는 PWB 패턴의 쇼트 유무 검사기 및 방법 에 관한 것이다.The present invention relates to a short-circuit checker and method for the presence or absence of a PWB pattern to make it easy to find the position of the part that caused the pattern short or internal short generated on the PWB or PWA.

본 발명에 따른 검사기의 바람직한 일 실시예는, PWB 패턴상의 쇼트 유무를 검사하는 소정 행위에 따른 동작 상태를 디스플레이하기 위한 두 개의 LED(D1,D2), 상기 PWB 패턴상의 쇼트 위치를 찾기 위한 두 개 의 탐침, 상기 두 개의 탐침으로부터 받은 전압값을 증폭하는 OP-AMP, 상기 PWB 패턴에 흐르는 전류를 조정하는 두 개의 연동 3[] 가변저항 및 상기 PWB 패턴에 흐르는 전류를 제한하는 두 개의 전류 제한 저항을 포함한다.One preferred embodiment of the tester according to the present invention, two LEDs (D1, D2) for displaying the operation status according to a predetermined action of checking the presence or absence of a short on the PWB pattern, two for finding the short position on the PWB pattern A probe, an OP-AMP to amplify the voltage values received from the two probes, two interlocking 3 [] variable resistors to adjust the current flowing through the PWB pattern, and two current limiting resistors to limit the current flowing into the PWB pattern It includes.

본 발명에 따른 PWB 패턴상의 쇼트 유무 검사 방법의 바람직한 일 실시예는, PWB 패턴 쇼트가 발생한 패턴을 발견하는 단계, 상기 PWB 패턴에 대하여 두 개의 탐침을 이용하여 프로빙해 가는 단계, 상기 프로빙에 대한 두 개의 LED(D1, D2)의 동작 상태를 통해 쇼트가 발생한 지점을 판단하는 단계 및 상기 쇼트가 발생한 지점에 대하여 쇼트를 발견하고 상기 쇼트를 제거하는 단계를 포함한다.According to a preferred embodiment of the present invention, a method for checking a short presence on a PWB pattern includes: detecting a pattern in which a PWB pattern short has occurred, probing using two probes with respect to the PWB pattern, Determining a point at which a short occurs through operating states of the two LEDs D1 and D2; and detecting a short with respect to the point at which the short occurs and removing the short.

본 발명은, 단지 몇 번의 탐침 작업으로 쇼트된 패턴의 위치를 쉽고 정확하게 알 수 있으며 부품의 내부 쇼트로 인한 경우에도 쉽고 정확히 쇼트 부품을 찾아낼 수 있음으로써 PWB나 PWA의 회로 쇼트를 단시간 내에 찾아 제거 작업이 가능하므로 제품 양산시 수리시간이 대폭 절감되고 비용을 절감할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention, the position of the shorted pattern can be easily and accurately known in just a few probe operations, and the short part can be easily and accurately found even when the internal short of the part is found. Since work is possible, repair time can be greatly reduced and cost can be reduced when mass production.

Description

Short presence tester and method

본 발명은 PWB 또는 PWA 상에서 발생하는 패턴 쇼트나 내부 쇼트를 발생시킨 부품의 위치를 쉽게 발견할 수 있도록 하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and a method for facilitating the detection of the position of a component that caused a pattern short or an internal short that occurs on a PWB or PWA.

종래의 기술에 대하여 살펴보면 다음과 같다. 도 1 은 종래의 기술에 따른 PWB 패턴의 쇼트 유무 검사기 이다. 통상적으로 PWB(A) 상의 패턴이나 부품의 내부 쇼트는 테스터기를 사용하여 저항값이 2[]이하인 경우를 대부분 쇼트로 측정하여 상기 저항값이 2[]이하인 부분에 대한 쇼트 제거 작업을 수행한다.Looking at the prior art as follows. 1 is a short circuit checker of the PWB pattern according to the prior art. Typically, the internal short of the pattern or the part on the PWB (A) is measured by a short measure of the case where the resistance value is 2 [] or less using a tester, and the short removal operation is performed on the part where the resistance value is 2 [] or less.

그러나 상기와 같은 방법은 쇼트가 발생한 위치가 정확하지 않으므로 쇼트 제거 작업을 하는데 있어서 비효율적이며 정상적인 회로를 고장나게 할 수도 있는 문제점이 있다.However, the method described above has a problem that an inefficient short circuit may cause a normal circuit to fail due to an inaccurate position of a short.

상기 도 1 에 도시된 바와 같이 PWB(A) 패턴(11)과 PWB(A) 패턴(12)이 쇼트를 발생시킨 경우에는 테스터기(15)의 '+' 탐침(8)과 '-' 탐침(9)을 사용하여 탐지가 되지만 PWB(A) 패턴(11)과 PWB(A) 패턴(12)의 모든 길이의 패턴이 쇼트 제거 작업의 대상이 된다.As shown in FIG. 1, when the PWB (A) pattern 11 and the PWB (A) pattern 12 generate a short, the '+' probe 8 and the '-' probe ( 9) is detected, but patterns of all lengths of the PWB (A) pattern 11 and the PWB (A) pattern 12 are subjected to the short elimination operation.

상기와 같은 이유는 상기 테스터기(15)로는 상기 '+' 탐침(8)과 상기 '-' 탐침(9)을 상기 PWB(A) 패턴(11)과 상기 PWB(A) 패턴(12)에서 이동하여도 정확한 저항의 변화값을 얻기가 힘들어 쇼트가 발생한 위치를 정확하게 찾기가 거의 불가능하기 때문이다.The reason for this is that the tester 15 moves the '+' probe 8 and the '-' probe 9 from the PWB (A) pattern 11 and the PWB (A) pattern 12. Even though it is difficult to obtain the exact value of the resistance change, it is almost impossible to find the exact location where the short occurred.

상기와 같은 종래의 기술에 따른 PWB(A) 패턴의 쇼트 유무 측정 방법을 사용하여 상기 도 1 에 도시된 바와 같이 쇼트가 발생한 부위를 발견하여도 정확한 위치를 알 수 없으므로 수십 [cm] 이상의 패턴 구간에서는 상기 구간마다 상기 패턴을 끊어서 측정해야 하고 또한, 쇼트가 발생한 패턴에 여러 개의 부품이 연결되고 상기 부품 중에서 부품의 내부 쇼트로 인한 회로 쇼트가 발생하였을 경우에는 몇 개의 부품을 교체해가면서 쇼트 제거를 해야함으로써 오히려 정상적인 회로까지 고장을 일으키게 할 수도 있다는 문제점이 있었다.Using the PWB (A) pattern short measuring method according to the related art as described above, even if the short occurs, as shown in FIG. In the above section, the pattern should be cut off and measured.In addition, when several parts are connected to a pattern in which a short occurs, and a short circuit occurs due to the internal short of the parts, a few parts must be replaced while the short is removed. By doing so, there was a problem that even a normal circuit may cause a failure.

본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 창안된 것으로서, PWB(A) 패턴에서 쇼트가 발생한 위치를 정확하게 발견하기 위해 미세한 저항 변화에 비례하여 변화하는 전압을 측정하여 상기 미세한 저항 변화를 표시해 주는 OP-AMP를 사용하고 LED를 사용하여 상기 쇼트 위치가 근접하는 것을 표시할 수 있도록 하는, 피더블유비 패턴의 쇼트 유무 검사기 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.The present invention was devised to solve the problems of the prior art as described above, in order to accurately detect the position where the short occurs in the PWB (A) pattern, the voltage is changed in proportion to the minute resistance change to measure the minute resistance change. It is an object of the present invention to provide a short presence tester and a method for using a short-circuit pattern, by using an OP-AMP to display and using an LED to indicate that the short position is close.

본 발명의 다른 목적과 장점은 아래의 발명의 상세한 설명을 읽고 아래의 도면을 참조하면 보다 명백해질 것이다.Other objects and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description of the invention and the accompanying drawings.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른, PWB 패턴상의 쇼트 유무 검사기의 바람직한 일 실시예는,According to the present invention for achieving the above object, a preferred embodiment of the short presence tester on the PWB pattern,

PWB 패턴상의 쇼트 유무를 검사하는 소정 행위에 따른 동작 상태에 따라 점등 또는 소등되는 두 개의 LED(D1,D2)와Two LEDs (D1, D2) that are turned on or off depending on the operation state according to a predetermined action of checking for shorts on the PWB pattern and

상기 PWB 패턴상의 쇼트 위치를 찾기 위한 '-' 탐침 및 '+'탐침과'-' Probe and '+' probe to find the short position on the PWB pattern

상기 탐침의 각각 '-' 입력측과 '+' 입력측에 연결되며 상기 탐침으로부터 입력받은 전압값을 증폭하고 상기 입력받은 전압값에 따라 출력전압을'-'출력측 또는 '+'출력측으로 발생하는 OP-AMP와OP- which is connected to the '-' input side and the '+' input side of the probe, respectively, and amplifies the voltage value received from the probe and generates an output voltage to the '-' output side or '+' output side according to the input voltage value. AMP and

상기 PWB 패턴에 흐르는 전류를 조정하는 두 개의 연동 가변저항 및Two interlocking variable resistors for adjusting a current flowing in the PWB pattern;

상기 PWB 패턴에 흐르는 전류를 제한하는 두 개의 전류 제한 저항을 포함한다.Two current limiting resistors limiting the current flowing through the PWB pattern.

본 발명에 있어서, 상기 OP-AMP가 의 증폭율을 갖는 것이 바람직하며, 상기 연동 가변저항값은 3[]인 것이 바람직하며, 상기 연동 가변저항이 상기 PWB 패턴에 흐르는 전류를 조정함으로써 패턴에 유입되는 과전류로 인한 열화를 막아주는 것이 바람직하며, 상기 PWB 패턴상의 쇼트 유무 검사기의 전체 저항은 상기 두 개의 연동 가변저항과 상기 두 개의 전류 제한 저항을 모두 더한 값과 상기 쇼트 패턴의 저항값으로 계산되는 것이 바람직하다.In the present invention, it is preferable that the OP-AMP has an amplification factor of. The interlocking variable resistance value is preferably 3 [], and the interlocking variable resistance flows into the pattern by adjusting a current flowing through the PWB pattern. It is desirable to prevent deterioration due to overcurrent, and the total resistance of the short / absence checker on the PWB pattern is calculated by adding the two interlocking variable resistors and the two current limiting resistors and the resistance of the short pattern. It is preferable.

상기한 다른 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른, PWB 패턴상의 쇼트 유무 검사 방법의 바람직한 일 실시예는, PWB 패턴 쇼트가 발생한 패턴을 발견하는 단계According to an embodiment of the present invention for achieving the above object, a preferred embodiment of the method for checking the presence or absence of a short on the PWB pattern, the step of finding a pattern in which the PWB pattern short occurs

상기 PWB 패턴에 대하여 두 개의 탐침을 이용하여 프로빙해 가는 단계Probing using two probes for the PWB pattern

상기 프로빙에 대한 두 개의 LED(D1, D2)의 동작 상태를 통해 쇼트가 발생한 지점을 판단하는 단계 및Determining a point at which a short occurs through an operating state of two LEDs D1 and D2 for probing; and

상기 쇼트가 발생한 지점에 대하여 쇼트를 발견하고 상기 쇼트를 제거하는 단계를 포함한다.Finding a short relative to the point where the short occurred and removing the short.

본 발명에 있어서, 상기 PWB 패턴을 프로빙해 나가지 전에 패턴 접속침을 쇼트 패턴 양단간에 접속시켜 300[mA] 정도의 전류를 흘려주는 것이 바람직하며,In the present invention, it is preferable to connect a pattern connecting needle between both ends of the short pattern before flowing the PWB pattern to flow a current of about 300 mA.

상기 두 개의 탐침을 일정한 간격으로 벌린 후 상기 PWB 패턴을 프로빙해 가는 것이 바람직하며, 상기 두 개의 탐침은 각각 OP-AMP의 '-' 측과 '+' 측에 연결되며 PWB 패턴 저항에 의해 상기 OP-AMP의 '-' 측 입력이 상기 OP-AMP '+' 측 입력보다 높은 경우 상기 OP-AMP의 출력측에서는 '-' 측에서만 전압이 발생되며 LED D1만이 점등되어지는 것이 바람직하며, 상기 LED D1을 점등하여 아직 쇼트 패턴에 의한 폐회로 내에 상기 탐침이 있음을 나타내는 것이 바람직하며, 상기 PWB 패턴에서의 쇼트된 위치의 쇼트 저항보다 부품 내부 저항이 큰 경우에는 상기 두 개의 LED가 모두 소등되어지는 것이 바람직하며, 상기 쇼트된 위치의 쇼트 저항보다 상기 부품 내부 저항이 큰 경우에는 부품 내부 저항 폐회로에 전류가 거의 흐르지 않으며 상기 두 개의 탐침에도 전압이 발생하지 않는 것이 바람직하며, 상기 두 개의 LED를 소등하여 쇼트된 패턴의 폐회로를 탐침이 벗어났음을 나타내는 것이 바람직하며, 상기 OP-AMP의 '-' 측 입력이 상기 OP-AMP '+' 측 입력보다 작은 경우 상기 OP-AMP의 출력측에서는 '+' 측에서만 전압이 발생되며 LED D2만이 점등되어지는 것이 바람직하며, 상기 LED D2를 점등하여 쇼트된 패턴의 위치에서 탐침이 벗어났음을 나타내는 것이 바람직하다.It is preferable to probe the PWB pattern after opening the two probes at regular intervals, and the two probes are connected to the '-' side and the '+' side of the OP-AMP, respectively, and the OP is connected by the PWB pattern resistance. When the '-' input of the -AMP is higher than the OP-AMP '+' input, voltage is generated only at the '-' side at the output side of the OP-AMP, and only LED D1 is turned on. Is turned on to indicate that the probe is still present in the closed circuit due to the short pattern, and when the component internal resistance is larger than the short resistance at the shorted position in the PWB pattern, the two LEDs are preferably turned off. When the component internal resistance is larger than the short resistance of the shorted position, almost no current flows in the component internal resistance closed circuit, and no voltage is generated in the two probes. Preferably, the two LEDs are turned off to indicate that the probe is out of the closed circuit of the shorted pattern, and the '-' side input of the OP-AMP is smaller than the OP-AMP '+' side input. On the output side of the OP-AMP, a voltage is generated only at the '+' side, and only the LED D2 is turned on, and the LED D2 is turned on to indicate that the probe is out of the position of the shorted pattern.

이하 본 발명의 상세한 동작 원리에 대하여 도면을 참조하여 설명한다. 도 2 는 본 발명에 따른 PWB 패턴의 쇼트 유무 검사기이다. 상기 도 2 에 도시된 바와 같이 소정 행위에 따른 동작 상태를 LED(D1,D2)로 디스플레이 하기 위하여 탐침으로부터 받은 전압값을OP-AMP로 증폭한다.Hereinafter, a detailed operation principle of the present invention will be described with reference to the drawings. 2 is a short tester of the PWB pattern according to the present invention. As shown in FIG. 2, the voltage value received from the probe is amplified by the OP-AMP to display the operation state according to the predetermined action as the LEDs D1 and D2.

상기 PWB의 패턴은 저항값이 아주 작으므로 탐침 A와 탐치 B 사이의 전압도 수백 마이크로 볼트에서 수십 밀리볼트로 발생한다.Since the pattern of the PWB has a very small resistance value, the voltage between probe A and probe B also occurs at several hundred microvolts to tens of millivolts.

상기와 같이 아주 작은 전압을 10의 증폭율을 갖는 OP-AMP로 증폭하여 D1과 D2가 LED로 표시한다.As described above, a very small voltage is amplified by an OP-AMP having an amplification factor of 10, and D1 and D2 are displayed as LEDs.

상기와 같은 이유는 일반적으로 사용되는 종래의 기술에 따른 방법으로는0.01[]에서 0.03[] 정도 되는 저항의 변화값과 이로 인한 미소전압의 변화를 인지하기가 매우 어렵기 때문에 본 발명에서는 고증 폭율을 갖는 OP-AMP를 사용하여 상기 도 2 에 도시된 바와 같이 상기 PWB 패턴상의 쇼트의 위치를 탐침으로 찾는다.The reason for the above is the high amplification factor in the present invention because it is very difficult to recognize the change value of the resistance of 0.01 [] to 0.03 [] and the resulting small voltage change by the conventionally used method. Using the OP-AMP having a probe to find the position of the short on the PWB pattern as shown in FIG.

상기 PWB 패턴상의 쇼트 위치를 찾는 방법은 PWB 패턴(30)과 PWB 패턴(40) 쇼트가 발생한 패턴을 발견하고 탐침 A와 탐침 B를 일정한 간격으로 벌린 후 계속 상기 PWB 패턴(30)과 PWB 패턴(40)의 패턴을 프로 빙해가면 상기 D1, D2, LED가 발광을 교차하는 위치가 있고 상기 LED가 발광하지 않는 위치가 있다.The method for finding the short position on the PWB pattern includes finding a pattern in which the PWB pattern 30 and the PWB pattern 40 are shorted, spreading the probe A and the probe B at regular intervals, and then continuing the PWB pattern 30 and the PWB pattern ( Probing the pattern of 40), there is a position where the D1, D2, and the LED cross the light emission, and there is a position where the LED does not emit light.

상기 위치가 바로 쇼트가 발생한 지점으로 판단하고 상기 위치를 집중하여 자세히 조사하면 쇼트가 발견되고 상기 쇼트가 발견된 위치에 대하여 제거 작업을 하면 된다.If the position is determined to be the point where the short occurred, and the position is concentrated and examined in detail, the short is found and the removal operation is performed on the position where the short is found.

또한 상기의 작업 전에는 반드시 패턴 접속침(80,90)을 상기 쇼트 패턴의 양단에 접속하여 300[mA]정도의 전류를 흘려야 하며 쇼트 패턴 저항에 의해 탐침 A와 탐침 B 양단간에는 전압이 발생한다.In addition, before the above operation, the pattern connection needles 80 and 90 must be connected to both ends of the short pattern to flow a current of about 300 mA, and a voltage is generated between the probe A and the probe B by the short pattern resistance.

상기 도 2 에 제시된 PWB(A) 상에서 쇼트된 패턴을 테스터기 등을 사용하여 발견하고 패턴 접속침(80,90)을 쇼트 패턴 양단간에 접속시켜 300[mA]정도의 전류를 흘려준다. 이때 VR1과 VR2는 상기 패턴에 흐르는 전류를 조정하여 상기 패턴에 유입되는 과전류로 인한 열화를 막아주며 R1과 R2는 전류 제한 저항으로 동작한다. 그리고 회로 전체의 저항값은 R1, R2, VR1, VR2를 모두 더한 값과 상기 쇼트 패턴의 저항값으로 계산된다.The pattern shorted on the PWB (A) shown in FIG. 2 is found by using a tester or the like, and the pattern connecting needles 80 and 90 are connected between both ends of the short pattern to flow a current of about 300 mA. At this time, VR1 and VR2 adjust the current flowing in the pattern to prevent deterioration due to overcurrent flowing into the pattern, and R1 and R2 operate as current limiting resistors. The resistance value of the entire circuit is calculated from the sum of R1, R2, VR1, and VR2 plus the resistance value of the short pattern.

상기 쇼트 패턴에 전류가 흐르고 상기 쇼트 패턴에 일정 간격으로 벌린 탐침 A(60)와 탐침 B(70)를 프로 빙하면 상기 패턴 저항에 의해 상기 탐침 A(60)는 상기 탐침 B(70)보다 약간 높은 전압이 발생한다. 그러면 상기 탐침 A(60)에 연결된 OP-AMP의 '-' 입력이 상기 탐침 B(70)에 연결된 '+' 입력보다 높고 이것의 OP-AMP 출력값으로 '-' 전압이 발생하며 LED D1이 점등된다. 상기 LED가 점등된 의미는 아직 쇼트 패턴에 의한 폐회로 내에 탐침이 있음을 의미한다.When a current flows in the short pattern and probes the probe A 60 and the probe B 70 that are spaced at a predetermined interval from the short pattern, the probe A 60 is slightly smaller than the probe B 70 due to the pattern resistance. High voltage occurs. Then, the '-' input of the OP-AMP connected to the probe A (60) is higher than the '+' input connected to the probe B (70), and a '-' voltage is generated as its OP-AMP output value, and the LED D1 is turned on. do. The lighting of the LED means that there is still a probe in a closed circuit due to a short pattern.

계속해서 탐침 A(130)와 탐침 B(140)를 프로빙했을 때는 패턴에서 쇼트된 위치(50)의 쇼트 저항보다 부품 내부저항(170) 폐회로는 거의 전류가 흐르지 않고 탐침 A(130)와 탐침 B(140)에도 전압이 발생하지 않으며 상기 LED D1, D2 모두가 점등되지 않는다. 상기의 의미는 쇼트된 패턴의 폐회로를 탐침이 벗어났음을 의미한다.When the probe A 130 and the probe B 140 were subsequently probed, the closed circuit of the component internal resistance 170 is almost no current than the short resistance at the position 50 shorted in the pattern, and the probe A 130 and the probe B Voltage is also not generated at 140, and neither of the LEDs D1 and D2 is turned on. The above means that the probe is out of the closed circuit of the shorted pattern.

계속해서 탐침 A(150)와 탐침 B(160)를 프로빙했을 경우에는 탐침의 극성이 바뀌면서 상기 OP-AMP의 B의 전압이 A의 전압보다 높고 상기 D2 LED가 발광하게 되면 상기 의미는 쇼트된 패턴을 지나간 위치를 표시한다.When the probe A 150 and the probe B 160 are probed continuously, the polarity of the probe is changed, and when the voltage of B of the OP-AMP is higher than the voltage of A and the D2 LED emits light, the meaning is a shorted pattern. Mark the location past.

상기에서 설명한 바와 같이 상기 3가지 상태에 의하여 몇 번의 탐침 프로빙 작업으로 쇼트된 패턴의 위치를 종래의 기술보다 쉽고 빠르게 알 수 있다.As described above, the position of the pattern shorted by several probe probing operations by the three states can be easily and quickly known than in the prior art.

본 발명은 다양하게 변형될 수 있고, 여러 가지 형태를 취할 수 있지만, 상기 발명의 상세한 설명에서는 그에 따라 특별한 실시예에 대해서만 기술하였다. 하지만, 본 발명은 명세서에서 언급된 특별한 형태로 한정되는 것이 아닌 것으로 이해되어야 하며, 오히려 본 발명은 첨부된 청구범위에 의해 정의된, 본 발명의 정신과 범위 내에 있는 모든 변형물, 균등물 및 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.While the invention is susceptible to various modifications and alternative forms, the disclosure thereof has been described with reference to specific embodiments only. It is to be understood, however, that the present invention is not limited to the specific forms referred to in the specification, but rather that the invention is intended to cover all modifications, equivalents, and substitutions within the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It should be understood to include.

상기와 같이 구성된 본 발명은, 단지 몇 번의 탐침 작업으로 쇼트된 패턴의 위치를 쉽고 정확하게 알 수 있으며 부품의 내부 쇼트로 인한 경우에도 쉽고 정확히 쇼트 부품을 찾아낼 수 있음으로써 PWB나 PWA의 회로 쇼트를 단시간 내에 찾아 제거 작업이 가능하므로 제품 양산시 수리시간이 대폭 절감되고 비용을 절감할 수 있는 효과가 있다.According to the present invention configured as described above, it is possible to easily and accurately know the position of the shorted pattern by only a few probe operations, and to find the short part easily and accurately even when it is caused by the internal short of the part, thereby reducing the circuit short circuit of PWB or PWA. Since it can be found and removed in a short time, repair time can be greatly reduced and cost can be reduced when mass production.

도 1 은 종래의 기술에 따른 PWB 패턴의 쇼트 유무 검사기.1 is a short check of the PWB pattern according to the prior art.

도 2 는 본 발명에 따른 PWB 패턴의 쇼트 유무 검사기.Figure 2 is a PWB pattern short tester according to the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>

1, 2, 3, 4, 20 : 부품. 60, 130, 150 : 탐침 A.1, 2, 3, 4, 20: parts. 60, 130, 150: probe A.

5 : 쇼트 부위. 70, 140, 160 : 탐침 B.5: Short part. 70, 140, 160: probe B.

6 : 내부 쇼트 부위. 80, 90 : 패턴 접속침.6: internal short part. 80, 90: pattern connecting needle.

7, 10 : PWB(A). 100 : OP-AMP(Al 10).7, 10: PWB (A). 100: OP-AMP (Al 10).

8 : 테스터기 '+' 탐침. 110 : 붉은 LED(D1).8: Tester '+' probe. 110: red LED (D1).

9 : 테스터기 '-' 탐침. 120 : 푸른 LED(D2).9: Tester '-' probe. 120: blue LED (D2).

15 : 테스터기. 170 : 부품내부저항( 50∼300 []).15: tester. 170: internal resistance of the component (50 to 300 []).

11, 12, 13, 14, 30, 40 : PWB 패턴. VR1, VR2 : 연동 3[] 가변저항.11, 12, 13, 14, 30, 40: PWB pattern. VR1, VR2: Linked 3 [] variable resistor.

50 : 패턴에서 쇼트된 위치. R1, R2 : 전류 제한 저항(1[]).50: Shorted position in the pattern. R1, R2: current limiting resistor (1 []).

Claims

Two LEDs (D1, D2) that are turned on or off depending on the operation state according to a predetermined action of checking for shorts on the PWB pattern and

'-' Probe and '+' probe to find the short position on the PWB pattern

OP- which is connected to the '-' input side and the '+' input side of the probe, respectively, and amplifies the voltage value received from the probe and generates an output voltage to the '-' output side or '+' output side according to the input voltage value. AMP and

Two interlocking variable resistors for adjusting a current flowing in the PWB pattern;

And a current limiting resistor for limiting a current flowing in the PWB pattern.

The tester according to claim 1, wherein the OP-AMP has an amplification factor of 10.

The test device according to claim 1, wherein the linkage variable resistance value is 3 [].

4. The short circuit checker according to claim 3, wherein the linkage variable resistor prevents deterioration due to overcurrent flowing into the pattern by adjusting a current flowing through the PWB pattern.

The short resistance on the PWB pattern according to claim 1, wherein the total resistance of the short presence tester on the PWB pattern is calculated as the sum of the two interlocking variable resistances and the two current limiting resistances and the resistance value of the short pattern. Checker.

Steps to Detect Patterns with PWB Pattern Short

Probing using two probes for the PWB pattern

Determining a point at which a short occurs through an operating state of two LEDs D1 and D2 for probing; and

And detecting the short with respect to the point where the short occurred and removing the short.

The method according to claim 6, wherein a current of about 300 mA is flowed by connecting a pattern connecting needle between both ends of the short pattern before probing the PWB pattern.

7. The method according to claim 6, wherein the PWB pattern is probed after opening the two probes at regular intervals.

The method of claim 6, wherein the two probes are respectively connected to the '-' and '+' sides of the OP-AMP, and the '-' input of the OP-AMP is connected to the OP-AMP '+ by a PWB pattern resistor. If the voltage is higher than the input side, the output side of the OP-AMP generates voltage only on the '-' side, and only LED D1 is turned on.

10. The method of claim 9, wherein the LED D1 is turned on to indicate that the probe is still in a closed circuit due to a short pattern.

7. The method of claim 6, wherein the two LEDs are turned off when the component internal resistance is greater than the short resistance at the shorted position in the PWB pattern.

The PWB pattern of claim 11, wherein when the component internal resistance is greater than the short resistance at the shorted position in the PWB pattern, little current flows in the component internal resistance closed circuit, and no voltage is generated in the two probes. How to check for short.

12. The method of claim 11, wherein the two LEDs are off to indicate that the probe is out of the closed circuit of the shorted pattern.

The method of claim 6, wherein the two probes are respectively connected to the '-' and '+' sides of the OP-AMP, and the '-' input of the OP-AMP is connected to the OP-AMP '+ by a PWB pattern resistor. When it is lower than the 'side input, voltage is generated only at the' + 'side at the output side of the OP-AMP, and only LED D2 is turned on.

15. The method according to claim 14, wherein the probe is out of position at the position of the shorted pattern by lighting the LED D2.