KR100451587B1 - Test Handler - Google Patents
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Abstract
제품 가격을 감소시키고 테스트의 신뢰성을 향상시킬 수 있도록 한 테스트 핸들러에 관한 것으로, 테스트 대상물을 테스트 과정에 따라 해당 위치로 이동시키고 테스트 결과에 따라 분류 및 적재하는 핸들러와, 부팅시 LAN(Local Area Network) 통신망을 이용하여 외부에서 해당 테스트 프로그램을 복사하여 기삽입된 테스트 대상물에 대해 일련의 테스트를 수행하고 테스트 결과를 전송하기 위한 적어도 하나 이상의 테스트 PC와, 각 테스트 PC의 전원 온/오프를 위한 테스트 PC 전원 스위치와, LAN 통신망을 통해 테스트 PC로부터 테스트 결과 및 모듈의 상태를 전송받고 테스트 과정에 맞도록 핸들러와 테스트 PC 전원 스위치를 제어하는 핸들러 PC를 포함하므로 제품의 가격을 낮출 수 있어 가격 경쟁력을 향상시킬 수 있고 통신망을 이용하여 데이터 전송이 이루어지므로 신뢰성 및 테스트 효율을 향상시킬 수 있다.It relates to test handlers that help reduce product prices and improve test reliability.These handlers move test objects to their locations throughout the test process, sort and load them according to test results, and local area networks at boot time. At least one test PC for performing a series of tests on the inserted test object and transmitting the test results by copying the corresponding test program from the outside using a communication network, and a test for powering on / off each test PC It includes a PC power switch and a handler PC that receives test results and module status from a test PC through a LAN network, and controls the handler and the test PC power switch to meet the test process. Can improve data transmission using network Since it is possible to improve the reliability and efficiency tests.
Description
본 발명은 모듈 IC를 테스트하는 테스트 핸들러에 관한 것이다.The present invention relates to a test handler for testing a module IC.
일반적으로 테스트 핸들러는 반도체 소자를 이용한 각종 메모리 또는 비메모리 분야의 제품들을 대량으로 핸들링 및 테스트하기 위한 장비로서, 로직 IC 또는 여러가지의 반도체 소자가 하나의 칩에 실장된 모듈램 등 테스트 대상물에 따라 구성상의 차이를 나타낼 수 있다.In general, a test handler is a device for handling and testing a large amount of products in various memory or non-memory fields using semiconductor devices. The test handler is configured according to a test object such as a logic IC or a module mounted on a single chip. This may indicate a difference in phase.
종래의 기술에 따른 테스트 핸들러는 도 1에 도시된 바와 같이, 테스트 대상물 예를 들어, 모듈 IC를 테스트 과정에 따라 해당 위치로 이동시키고 테스트 결과에 따라 분류 및 적재하는 핸들러(10), 상기 모듈 IC가 삽입되어 일련의 테스트를 수행하기 위한 다수의 테스트 PC(11), 상기 핸들러(10)의 동작과 상기 테스트 PC(11)의 파워 온/오프 동작을 제어하는 핸들러 PC(12), 상기 테스트 PC(11)에서 핸들러 PC(12)로 테스트 결과를 송신하기 위한 포토 커플러(13), 각 테스트 PC(11)별로 연결되어 상기 핸들러 PC(12)의 명령에 따라 해당 테스트 PC의 전원을 제어하고 테스트 PC의 테스트 결과에 맞도록 상기 포토 커플러(13)의 동작을 제어하는 제어보드(14)를 포함하여 구성된다.As shown in FIG. 1, the test handler according to the related art includes a handler 10 for moving a test object, for example, a module IC to a corresponding position according to a test procedure, sorting and loading the module IC according to a test result, and the module IC. Is inserted into a plurality of test PCs 11 for performing a series of tests, the handler PC 12 controlling the operation of the handler 10 and the power on / off operation of the test PC 11, the test PC A photo coupler 13 for transmitting a test result to the handler PC 12 at 11, connected to each test PC 11 to control and test the power of the test PC according to the command of the handler PC 12. It is configured to include a control board 14 for controlling the operation of the photo coupler 13 to match the test results of the PC.
이와 같이 구성된 종래기술의 테스트 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to the test operation of the prior art configured as described above is as follows.
먼저, 핸들러 PC(12)는 핸들러(10)를 제어하여 테스트 대상물 예를 들어, 모듈 IC를 해당 테스트 PC(11)에 삽입하고, 해당 테스트 PC(11)의 제어보드(14)로 테스트 PC 파워 '온'명령을 전송한다.First, the handler PC 12 controls the handler 10 to insert a test object, for example, a module IC into the test PC 11, and to test the power of the test PC with the control board 14 of the test PC 11. Send an 'on' command.
이어서 해당 제어보드(14)는 테스트 PC의 전원스위치를 제어하여 테스트 PC(11)가 부팅되도록 한다.Subsequently, the control board 14 controls the power switch of the test PC so that the test PC 11 is booted.
그리고 테스트 PC(11)는 부팅됨과 동시에 자동실행파일(Autoexec.bat)에 정해진 순서에 따라 기 삽입된 모듈 IC에 대해 일련의 테스트를 수행하고 그 결과신호를 제어보드(14)로 송신한다.The test PC 11 is booted and performs a series of tests on the module ICs inserted in the order specified in the autoexec file (Autoexec.bat) and transmits the result signal to the control board 14.
이어서 제어보드(14)는 포토 커플러(13)를 제어하여 핸들러 PC(12)로 리테스트(Retest)/굳(Good)/패일(Fail) 등의 테스트 결과를 알린다. 즉, 테스트 PC 측에 연결된 포토 커플러(13)의 발광 다이오드중 해당 결과를 정의하는 발광 다이오드를 '온' 또는 '오프'시키고 이를 핸들러 PC(12) 측에 연결된 포토 트랜지스터에서 검출하여 핸들러 PC(12)가 인식하도록 한다.Subsequently, the control board 14 controls the photo coupler 13 to inform the handler PC 12 of the test result such as Retest / Good / Fail. That is, among the light emitting diodes of the photo coupler 13 connected to the test PC side, the light emitting diodes defining the corresponding results are turned 'on' or 'off' and detected by the photo transistors connected to the handler PC 12 side so as to detect the handler PC 12. ) To be recognized.
따라서 핸들러 PC(12)는 포토 커플러(13)를 통해 해당 테스트 결과를 인식하고 핸들러(10)를 제어하여 상기 모듈 IC를 테스트 PC(11)에서 분리시키고 테스트 결과에 맞도록 분류, 이송 및 적재한다. 그리고 테스트가 종료되면 제어보드(14)를 통해 테스트 PC(11)의 파워를 '오프'시킨다.Therefore, the handler PC 12 recognizes the test result through the photo coupler 13 and controls the handler 10 to separate the module IC from the test PC 11 and sort, transfer and load the module IC to match the test result. . When the test is finished, the power of the test PC 11 is 'off' through the control board 14.
종래의 기술에 따른 테스트 핸들러는 다음과 같은 문제점이 있다.The test handler according to the prior art has the following problems.
첫째, 테스트 결과를 전송하기 위한 다수의 포토 커플러, 그리고 포토 커플러의 동작 및 전원제어 동작을 위한 제어보드를 구비하므로 제품의 가격이 상승한다.First, the cost of the product increases because a plurality of photo couplers for transmitting test results and a control board for operation and power control operation of the photo couplers are provided.
둘째, 포토 커플러를 사용하므로 작업장의 형광등 불빛 등 외부 노이즈로 인한 오동작이 발생할 수 있다.Second, since the photo coupler is used, a malfunction may occur due to external noise such as a fluorescent light of a workplace.
따라서 본 발명은 상기한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로서, 제품 가격을 감소시키고 테스트의 신뢰성을 향상시킬 수 있도록 한 테스트 핸들러를 제공함에 그 목적이 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a test handler capable of reducing the price of a product and improving the reliability of a test.
도 1은 종래의 기술에 따른 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블록도1 is a block diagram showing the configuration of a test handler according to the prior art.
도 2는 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블록도2 is a block diagram showing the configuration of a test handler according to the present invention.
도면의 주요부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for main parts of the drawings
20: 핸들러 21: 핸들러 PC20: handler 21: handler PC
22: 테스트 PC 23, 24: LAN 카드22: test PC 23, 24: LAN card
25: 테스트 PC 전원 스위치25: test PC power switch
본 발명은 테스트 대상물을 테스트 과정에 따라 해당 위치로 이동시키고 테스트 결과에 따라 분류 및 적재하는 핸들러와, 부팅시 LAN(Local Area Network) 통신망을 이용하여 외부에서 해당 테스트 프로그램을 복사하여 기삽입된 테스트 대상물에 대해 일련의 테스트를 수행하고 테스트 결과를 전송하기 위한 적어도 하나 이상의 테스트 PC와, 각 테스트 PC의 전원 온/오프를 위한 테스트 PC 전원 스위치와, LAN 통신망을 통해 테스트 PC로부터 테스트 결과 및 모듈의 상태를 전송받고 테스트 과정에 맞도록 핸들러와 테스트 PC 전원 스위치를 제어하는 핸들러 PC를 포함함을 특징으로 한다.According to the present invention, a test object is moved to a corresponding location according to a test process, classified and loaded according to a test result, and a test inserted by copying a corresponding test program from the outside using a LAN (Local Area Network) network at boot time. At least one test PC for performing a series of tests on the object and transmitting the test results, a test PC power switch for powering on / off each test PC, and a test result and module from the test PC via a LAN network. It includes a handler PC that receives status and controls the handler and the test PC power switch to match the test process.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 바람직한 일실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a preferred embodiment of a test handler according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 따른 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 블록도이다.2 is a block diagram showing the configuration of a test handler according to the present invention.
본 발명에 따른 테스트 핸들러는 도 2에 도시된 바와 같이, 테스트 대상물 예를 들어, 모듈 IC를 테스트 과정에 따라 해당 위치로 이동시키고 테스트 결과에 따라 분류 및 적재하는 핸들러(20), 부팅시 LAN(Local Area Network) 통신망을 이용하여 외부에서 해당 테스트 프로그램을 복사하여 기삽입된 테스트 대상물에 대해 일련의 테스트를 수행하고 테스트중인 대상물의 상태와 테스트 결과를 상기 LAN 통신망을 이용하여 전송하기 위한 다수의 테스트 PC(21), 상기 각 테스트 PC(21)의 전원 온/오프를 위한 테스트 PC 전원 스위치(25), LAN 통신망을 통해 상기 테스트 PC(21)로부터 테스트 결과 및 모듈의 상태를 전송받고 테스트 과정에 맞도록 상기 핸들러(20)와 상기 테스트 PC 전원 스위치(25)를 제어하는 핸들러 PC(22)를 포함하여 구성된다.As illustrated in FIG. 2, the test handler according to the present invention includes a handler 20 for moving a test object, for example, a module IC to a corresponding position according to a test procedure, sorting and loading the module IC according to a test result, and a LAN at boot. Local Area Network) A plurality of tests for copying the corresponding test program from the outside using a communication network to perform a series of tests on the inserted test object and transmitting the state and the test result of the test object using the LAN network. PC 21, a test PC power switch 25 for power on / off of each of the test PCs 21, the test result and the status of the module are transmitted from the test PC 21 through a LAN communication network And a handler PC 22 that controls the handler 20 and the test PC power switch 25 to fit.
이때 테스트 PC(21)와 핸들러 PC(22)는 각각 LAN 카드(23)(24)를 구비하고 이를 통한 LAN 통신망이 구축된다.At this time, the test PC 21 and the handler PC 22 are provided with LAN cards 23 and 24, respectively, and a LAN communication network is established.
그리고 테스트 PC 전원 스위치(25)는 SSR(Solid State Relay)을 포함하는 기계적 스위치로 구성된다.The test PC power switch 25 is composed of a mechanical switch including a solid state relay (SSR).
또한 핸들러 PC(22)의 데이터 저장수단인 하드 디스크에는 각 테스트 PC(21)별 할당된 디렉토리(Directory)에 테스트 PC(21)의 부팅 정상여부/테스트 프로그램/테스트 결과 데이터가 예를 들어, 표 1과 같이 저장되어 있다.In addition, in the hard disk which is the data storage means of the handler PC 22, the normal booting / test program / test result data of the test PC 21 is stored in a directory allocated to each test PC 21, for example. It is stored as 1.
이와 같이 구성된 본 발명의 테스트 동작을 상세히 설명하면 다음과 같다.Referring to the test operation of the present invention configured as described in detail as follows.
먼저, 핸들러 PC(22)는 핸들러(20)를 제어하여 테스트 대상물 예를 들어, 모듈 IC를 해당 테스트 PC(21)에 삽입하고, 테스트 PC 전원스위치(25)를 제어하여 해당 테스트 PC(21)의 파워를 '온'시킴으로서 테스트 PC(21)가 부팅되도록 한다.First, the handler PC 22 controls the handler 20 to insert a test object, for example, a module IC into the test PC 21, and controls the test PC power switch 25 to test the test PC 21. The test PC 21 is booted by turning the power on.
그리고 테스트 PC(21)는 부팅됨과 동시에 정상적인 부팅여부를 LAN 통신망을 통해 상기 표 1과 같이 정의된 핸들러 PC(22)의 해당 디렉토리로 전송한다.At the same time as the test PC 21 is booted, normal booting is transmitted to the corresponding directory of the handler PC 22 defined as shown in Table 1 through the LAN communication network.
이어서 테스트 PC(21)는 상기 LAN 통신망을 이용하여 핸들러 PC(22)의 해당 디렉토리에서 테스트 프로그램을 복사한다.The test PC 21 then copies the test program from the corresponding directory of the handler PC 22 using the LAN communication network.
그리고 테스트 프로그램을 실행시켜 기 삽입된 모듈 IC에 대해 일련의 테스트를 수행한다.The test program is executed to perform a series of tests on the inserted module IC.
이때 테스트 수행중 모듈 IC의 상태정보를 상술한 LAN 통신망을 이용하여 핸들러 PC(22)의 해당 디렉토리에 전송한다.At this time, the state information of the module IC during the test is transmitted to the corresponding directory of the handler PC 22 using the above-described LAN communication network.
이어서 테스트 PC(21)에서 모듈 IC에 대한 테스트가 종료되면 테스트 종료정보와 테스트 결과 데이터를 상기 LAN 통신망을 통해 핸들러 PC(22)의 해당 디렉토리에 전송한다.Subsequently, when the test for the module IC is completed in the test PC 21, the test end information and the test result data are transmitted to the corresponding directory of the handler PC 22 via the LAN communication network.
이때 핸들러 PC(22)는 계속 테스트 컴퓨터의 상태를 체크한다.At this time, the handler PC 22 continuously checks the state of the test computer.
그리고 핸들러 PC(22)는 상기 테스트 결과 데이터에 따라 모듈 IC가 해당 테스트 PC(21)로부터 분리되고 분류, 이송 및 적재되도록 핸들러(20)를 제어한다.The handler PC 22 then controls the handler 20 so that the module IC is separated from the corresponding test PC 21 and sorted, transported and stacked according to the test result data.
이어서 핸들러 PC(22)는 테스트 완료를 인식하고 상기 테스트 PC 전원 스위치(25)를 제어하여 테스트 PC(21)의 파워가 '오프'되도록 한다.The handler PC 22 then recognizes the test completion and controls the test PC power switch 25 so that the power of the test PC 21 is 'off'.
한편, 모든 테스트 PC(21)에서 전송되는 데이터는 테스트 PC 별로 다른 파일명을 갖도록 하여 동일한 통신망을 이용하여도 핸들러 PC(22)에서 구분가능하도록 한다.On the other hand, the data transmitted from all the test PC (21) has a different file name for each test PC to be distinguishable in the handler PC 22 even using the same communication network.
본 발명에 따른 테스트 핸들러는 다음과 같은 효과가 있다.The test handler according to the present invention has the following effects.
첫째, 제어보드 및 포토 커플러가 필요없으므로 제품의 가격을 낮출 수 있어 제품의 경쟁력을 향상시킬 수 있다.First, since the control board and the photo coupler are not needed, the price of the product can be lowered, thereby improving the competitiveness of the product.
둘째, LAN 통신망을 이용하여 데이터 전송이 이루어지고, 테스트 결과는 물론이며 테스트 PC의 상태, 테스트되는 모듈 IC의 상태 등을 신속하게 파악할 수 있으므로 신뢰성 및 테스트 효율을 향상시킬 수 있다.Second, data transmission is performed using LAN communication network, and it is possible to quickly understand not only the test result but also the state of the test PC and the state of the module IC to be tested, thereby improving reliability and test efficiency.
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